JP2005063978A - リチウム金属アノードの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 a)離型成分5を含む基材6上に集電体1を形成する段階と、b)前記集電体上にリチウム金属2を蒸着する段階と、c)蒸着された集電体とリチウム金属とを前記基材から剥離する段階を含む、リチウム金属アノードの製造方法である。これにより、リチウム金属アノードで表面が清潔なリチウム層を得られることにより、集電体を画期的に薄くでき、電池の体積当たりのエネルギー密度を非常に高められる。
【選択図】 図1
Description
厚さ25μmのポリエチレンテレフタレートフィルム上に、ダウコーニング社のSyl−off 7900 22.5重量%、Syl−off 7922 2.5重量%及び水75重量%からなるシリコン樹脂組成物を、メイヤーバーコーティング方式によってコーティングした後、180℃で2分間乾燥させて、シリコン樹脂層の厚さが約0.3μmになるようにした。前記離型層上に銅を3,000Åの厚さまで10Å/秒の速度で蒸着した後、リチウム金属を15μmの厚さに蒸着した後、リチウム金属アノードをポリエチレンテレフタレート基材から剥離させた。
銅の蒸着速度を50Å/秒としたこと以外は前記実施例1と同じ方法でリチウム金属アノードを製造した。
蒸着される銅の厚さを6,000Åとしたこと以外は前記実施例1と同じ方法で、リチウム金属アノードを製造した。
蒸着される銅の厚さを6,000Åとして蒸着速度を50Å/秒としたこと以外は前記実施例1と同じ方法でリチウム金属アノードを製造した。
下部基材としてポリエチレンテレフタレートの代わりに厚さ25μmのアルミニウムホイルを使用したこと以外は、前記実施例1と同じ方法でリチウム金属アノードを製造した。
厚さ25μmのポリエチレンテレフタレートフィルム上にダウコーニング社のSyl−off 7900 22.5重量%、Syl−off 7922 2.5重量%及び水75重量%からなるシリコン樹脂組成物を、メイヤーバーコーティング方式によってコーティングした後、180℃で2分間乾燥させて、シリコン樹脂層の厚さが約0.3μmになるようにした。前記離型層上に銅を3,000Åの厚さまで10Å/秒の速度で蒸着した後、リチウム金属を15μmの厚さに蒸着した。次に、19gのアセトニトリル溶液に非晶質ポリエチレンオキシド1.25gとLiN(CF3SO2)2 0.545gとを混合した後、均一な状態になるまで撹拌した。このようにして得られた高分子溶液を、前記で製造されたリチウムが蒸着された試片上にディッピング法でコーティングし、真空で1時間乾燥させて有機膜を形成させた後、リチウム金属アノードをポリエチレンテレフタレート基材から剥離させた。
有機膜を形成させた後でその表面に厚さ15μmのポリエチレンセパレータを覆って密着させたこと以外は、前記実施例6と同じ方法でリチウム金属アノードを製造した。
25μmの厚さのポリエチレンテレフタレートフィルムを基材として使用し、集電体に使われる銅を3,000Åの厚さまで10Å/秒の速度で蒸着した後、リチウム金属を15μmの厚さに蒸着した。最後に、前記リチウム金属アノードを剥離して、銅がポリエチレンテレフタレートフィルムから正しく剥離されたか否かを確認した。
剥離テスト
前記実施例1〜7及び比較例1で製造された、リチウム金属アノード剥離後の基材の表面状態を観察して、下記表1に示し、実施例7により製造されたリチウム金属アノードの写真を図2に示した。左側の最下部は、実施例7によりセパレータまで付着させた後の剥離時以前の状態を示し、その上には剥離させた後の基材面が示されている。また図2の右側にあるリチウム金属アノードは、実施例7により製造されて剥離段階まで完了した、リチウム金属アノードの正面と背面とを示す写真である。
○:清潔に剥離される
△:銅膜の微細な一部が残っている
×:剥離がほとんどない
剥離面の表面元素分析
実施例7で製造されたリチウム金属アノードの銅層面と、ポリエチレンテレフタレートの剥離面とを、XPS(X−ray Photoelectron Spectroscopy)で元素分析し、その結果を図3に示した。ポリエチレンテレフタレート表面ではSi、C、Oと微量のCuとが検出され、リチウム金属アノードの銅層面でも多量のC、Oと少量のSiとが検出されるが、Cuの検出量は微量である。このことから推測すると本発明の剥離段階では、セパレータ/有機膜/リチウム金属/銅/Si樹脂膜とSi樹脂膜/PET基材形態で剥離されると見られる。一方、銅集電体の背面に残っているSi樹脂膜の厚さは、Cuの検出量が非常に微量であるということから推測して、100Å以上であると判断される。一方、前記剥離面の表面元素の定量分析結果を次の表2に示した。
2 リチウム金属層
3 保護膜
4 セパレータ
5 離型層
6 下部基材
7 剥離されたPET表面
8 蒸着されたリチウム金属表面
Claims (20)
- a)離型成分を含む基材上に集電体を形成する段階と、
b)前記集電体上にリチウム金属を蒸着する段階と、
c)蒸着された集電体とリチウム金属とを前記基材から剥離する段階
を含む、リチウム金属アノードの製造方法。 - 前記b)段階後に前処理段階または保護膜をリチウム金属上に蒸着させる段階をさらに含むことを特徴とする、請求項1に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 前記離型成分を含む基材が上部の離型剤と下部の高分子膜または金属膜からなることを特徴とする、請求項1に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 前記離型剤は、シリコン含有化合物、ポリオレフィン、ポリフルオロカーボン、ポリアミド、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリウレタン、ポリスチレン、ポリカプロラクトン、それらの混合物またはそれらの共重合体であることを特徴とする、請求項2に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 前記離型成分を含む基材の下部高分子膜は、ポリエステル、ポリエチレン、ポリプロピレンまたはポリイミドであることを特徴とする、請求項2に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 前記離型成分を含む基材の下部金属膜は、Ni、Ti、Cu、Ag、Au、Pt、Fe、Co、Cr、W、Mo、Al、Mg、K、Na、Ca、Sr、Ba、Si、Ge、Sb、Pb、InまたはZnであることを特徴とする、請求項2に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 前記集電体、はNi、Ti、Cu、Ag、Au、Pt、Fe、Co、Cr、W、Mo、Al、Mg、K、Na、Ca、Sr、Ba、Si、Ge、Sb、Pb、InまたはZnであることを特徴とする、請求項1に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 前記集電体は、蒸着によるか、あるいは金属ホイルの付着により形成されることを特徴とする、請求項1に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 前記集電体の厚さは100Å〜5μmであることを特徴とする、請求項1に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 前記集電体を蒸着により形成する場合に、集電体の蒸着速度は0.1〜1,000Å/秒であることを特徴とする、請求項9に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 前記リチウム金属の蒸着厚さは1〜200μmであることを特徴とする、請求項1に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 前記前処理段階は酸素、窒素または二酸化炭素プラズマ処理;単純ガス露出;イオン伝導性の低い無機物蒸着;または金属蒸着によるものであることを特徴とする、請求項2に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 前記金属蒸着に使われる金属は銅またはニッケルであることを特徴とする、請求項13に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 前記保護膜蒸着段階で使用できる保護膜は、金属、有機物、無機物、有機物/無機物、無機物/有機物、無機物/有機物/無機物または有機物/無機物/有機物保護膜であることを特徴とする、請求項2に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 前記有機物は、PEO系、シロキサン系、フォスファジン系高分子またはそれらの混合物であることを特徴とする、請求項15に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 前記無機物は、窒化リチウム、炭酸リチウム、珪酸リチウム、ホウ酸リチウム、アルミン酸リチウム、リン酸リチウム、リン酸リチウムオキシ窒化物、珪素硫化リチウム、硫化ゲルマノイド・リチウム、酸化ランタン・リチウム、酸化チタン・リチウム、硫化ホウ素リチウム、硫化アルミノリチウム、硫化リン酸リチウムまたはそれらの混合物であることを特徴とする、請求項13または15に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 前記前処理段階または保護膜蒸着段階後に、その表面にセパレータを付着させる段階をさらに含むことを特徴とする、請求項2に記載のリチウム金属アノードの製造方法。
- 請求項1〜18のうちいずれか1項に記載の方法により製造されたリチウム金属アノード。
- 集電体の背面にSiまたはFが含まれることを特徴とする、請求項19に記載のリチウム金属アノード。
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