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JP4121890B2 - 眼底観察装置及び眼底観察方法 - Google Patents

眼底観察装置及び眼底観察方法 Download PDF

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JP4121890B2
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、眼底観察装置及び眼底観察方法に係り、特に、測定した被検眼の収差を補償光学素子を用いて補正し、細胞レベルまでの観察を可能とする眼底観察装置及び眼底観察方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の眼底観察においては、眼の収差を極力少なくなるように調整して眼底が観察されていた。また、変形可能な鏡のような補正用光学部材を変形することにより、視力及び網膜画像の解像を改善する方法及びその装置が開示されている(例えば、特許文献1参照)。この装置は、例えば、ハルトマン−シャック波面センサが眼の波面収差の測定値を与え、この測定値により変形可能な鏡が収差を矯正するように駆動される。この過程は、例えば、測定された波面収差における誤差のRMSが漸近値に到達するまで、変形可能な鏡が変形を継続するように繰り返され、変形可能な鏡は、眼の収差を補正する波面を与える適切な形状に変形されている。
【特許文献1】
特表2001−507258号公報
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、補償光学素子(例えば、変形可能な鏡)における収差補正が完全であればよいが、実際にはこれ以上の収差が残ることがある。例えば、残存収差RMSが0.08波長以下(実用上無収差)であることが望ましいが、低コストの人眼の補償光学素子では、0.2波長程度の収差が残る場合がある。この程度の波面収差が残存した場合、収差の影響を受けて眼底画像の画質を向上することが困難であった。また、補償光学素子を変形させることにより誤差のRMSが漸近値に到達したとしても、残存収差の如何によっては、必ずしも最適な画像が得られない場合がある。
【0004】
本発明は、以上の点に鑑み、眼底画像の質を良くするように補償光学素子の補正量を調整し、適正な補正量を求めることを目的とする。また、本発明は、被検眼での視標の見え具合と所定のパターンテンプレートとのパターンマッチングによる値、又は、MTF(Modulation Transfer Function)に基づき、像の質を良くする適正な補正量を求めることを目的とする。さらに、本発明は、適正な補正量により補正された眼底画像を取得することを目的とする。本発明は、補償光学素子の補正量を調整するための電圧変化テンプレートを用いて、眼底画像の画質を向上させることも目的のひとつである。また、本発明は、眼底の細胞の大きさを考慮して画像の質を評価し、細胞レベルまでの観察を可能とすることを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明の第1の解決手段によると、
被検眼眼底を観察するための照明光を眼底に照明する眼底照明系と、
上記眼底照明系の照明による眼底の像を与えられた補正量に従い補正する補償光学部と、
上記補償光学部により補正された眼底の像を受光し、眼底画像を形成するための眼底画像形成用光学系と、
上記眼底画像形成用光学系で形成された眼底画像を受光する眼底画像受光部と、
少なくとも被検眼の波面収差及び/又は上記補償光学部により補正される収差を含む波面測定データを測定する波面測定系と、
上記波面測定系から波面測定データを得て、被検眼の高次収差を含む光学特性を求める光学特性測定部と、
上記光学特性測定部で求められた光学特性に基づき、眼底における像の見え具合のシミュレーションを行い、見え具合を示すデータを算出する画像データ形成部と、
上記補償光学部を調整するための複数の電圧変化テンプレートを記憶する記憶部と、
上記記憶部に記憶されている電圧変化テンプレートを選択し、該テンプレートに基づき上記補償光学部の補正量を決定して上記補償光学部に出力し、さらに、複数の電圧変化テンプレートに基づく補正量に対して、上記画像データ形成部により求められた像の見え具合を示すデータに基づき、像の質を評価するための評価データを算出し、該評価データに従い上記補償光学部の適正な補正量を決定して上記補償光学部に出力するための補正量決定部と
を備えた眼底観察装置が提供される。
【0006】
本発明の第2の解決手段によると、
被検眼眼底を観察するための照明光を眼底に照明するステップと、
該照明による眼底の像を与えられた補正量に従い補正するステップと、
補正された眼底の像を受光し、眼底画像を形成するステップと、
少なくとも被検眼の波面収差及び/又は補正される収差を示す波面測定データを測定するステップと、
波面測定データを得て、被検眼の高次収差を含む光学特性を求めるステップと、
求められた光学特性に基づき、眼底における像の見え具合のシミュレーションを行い、見え具合を示すデータを算出するステップと、
補正量を調整するための電圧変化テンプレートを選択し、該テンプレートに基づき補正量を決定して出力するステップと、
複数の電圧変化テンプレートに基づく補正量に対して、像の見え具合を示すデータに基づき像の質を評価するための評価データを算出し、該評価データに従い適正な補正量を決定するステップと、
上記決定するステップで決定された補正量を出力するステップと
を含む眼底観察方法が提供される。
【0007】
【発明の実施の形態】
1.ハード構成
図1は、眼底観察装置の構成図である。眼底観察装置は、波面補正系1と、眼底照明系2と、眼底観察系3と、アライメント系4と、固視系5と、補償光学部70とを備える。波面補正系1は、点像投影光学系11、点像受光光学系12、点像受光部13を備える波面測定系10と、コンピュータ14と、制御部15を有する。眼底観察系3は、眼底画像形成用光学系31と眼底画像受光部32を有する。また、コンピュータ14は、光学特性測定部14−1と、画像データ形成部14−2と、補償量決定部14−3と、メモリ14−4とを備える。コンピュータ14は、さらに、表示部14−5、入力部等を備えても良い。なお、被検眼60については、図中、網膜(眼底)61、角膜(前眼部)62が示されている。
【0008】
第1照明光学系(点像投影光学系)11は、例えば第1光源部を備え、第1光源部からの光束で被検眼眼底上で微小な領域を照明するためのものである。また、第1照明光学系11は、例えば、集光レンズ、リレーレンズを備える。
【0009】
第1光源部は、空間コヒーレンスが高く、時間コヒーレンスは高くないものが望ましい。ここでは、一例として、第1光源部には、SLD(スーパールミネセンスダイオード)が採用されており、輝度が高い点光源を得ることができる。なお、第1光源部は、SLDに限られるものではなく、レーザーの様に空間、時間ともコヒーレンスが高いものでも、回転拡散板などを挿入することにより、適度に時間コヒーレンスを下げることで利用できる。そして、LEDの様に、空間、時間ともコヒーレンスが高くないものでも、光量さえ充分であれば、ピンホール等を光路の光源の位置に挿入することで、使用可能になる。また、照明用の第1光源部の第1波長は、例えば、赤外域の波長、例えば780nmを使用することができる。
【0010】
第1受光光学系(点像受光光学系)12は、例えば、被検眼網膜から反射して戻ってきた光束を受光し、第1受光部(点像受光部)13に導くためのものである。第1受光光学系12は、リレーレンズと、ビームスプリッタと、反射光束を少なくとも17本のビームに変換するための変換部材(分割素子)とを備える。ビームスプリッタは、第1光源部からの光束を反射し、被検眼60の網膜で反射しアフォーカルレンズ81を介して戻ってくる反射光束を透過するミラー(例えば、偏光ビームスプリッタ)で構成されている。変換部材は、反射光束を複数のビームに変換する波面変換部材である。なお、変換部材には、光軸と直交する面内に配置された複数のマイクロフレネルレンズを用いることができる。眼底61からの反射光は、変換部材を介して第1受光部13上に集光する。
【0011】
第1受光部13は、変換部材を通過した第1受光光学系12からの光を受光し、第1信号を生成するためのものである。なお、アフォーカルレンズ81の前側焦点は、被検眼60の瞳孔と略一致している。
【0012】
第1照明光学系11と第1受光光学系12とは、第1光源部からの光束が集光する点で反射されたとして、その反射光による第1受光部13での信号ピークが最大となる関係を維持して、第1受光部13での信号ピークが強くなる方向にプリズム72が移動し、強度が最大となる位置で停止することができる。この結果、第1光源部からの光束が、被検眼上で集光することとなる。
【0013】
第2照明光学系(眼底照明系)2は、例えば、第2光源部と集光レンズとビームスプリッタとを備え、第2光源部からの第2光束で被検眼網膜上の所定の領域を照明するためのものである。第2光源部は、例えば波長630nmの第2波長の赤色の光束を発する。第2光源部は、眼底61への点光源又は面光源で、赤色領域とすることができる。また、例えば、ハルトマン測定用の第1光源部の波長が840nm、図示しない前眼部照射用の光源部の波長が赤外又は近赤外光である850〜930nm(現状では、例えば、860〜880nm)等の適宜の波長を選択することができる。ビームスプリッタは、例えば、第2光源部からの光束を反射し、被検眼60で反射して戻ってくる光束を透過するような偏光ビームスプリッタを用いることができる。
【0014】
眼底61の照明については、例えば、穴あきミラーを用いて眼底61の観察領域の照明光を形成してもよい。穴あきミラーを用いる場合は、角膜頂点での反射を防ぐため、穴あきミラーと瞳を共役関係にする。その他にも、リング状絞りの中心を100%透過とし、その周辺の透過率を例えば10%程度とし、周辺が眼底61の全体を照明してもよい。
【0015】
第2受光光学系(眼底画像形成用光学系)31は、例えば、アフォーカルレンズ81と、補償光学部70と、ビームスプリッタと、集光レンズとを備える。第2受光光学系は、眼底61で反射した第2波長の光を、補償光学部70を介して第2受光部(眼底画像受光部)32に導く。ビームスプリッタは、例えば、第1波長の光束を反射し、第2波長の光束を通過するダイクロイックミラーで構成されている。第2受光部32は、第2受光光学系31で形成された眼底像を受光し、第2信号を生成する。また、第2受光部32は、第2波長(赤色光)に感度を有する受光素子で形成することができる。
【0016】
補償光学部70は、測定光の収差を補償する適応光学系(アダプティブオプティクス、Adaptive Optics)などの補償光学素子71と、光軸方向に移動して球面成分を補正する移動プリズム72及び/又は球面レンズを有する。補償光学部70は、第1及び第2受光光学系12及び31中に配置され、例えば、被検眼60から反射して戻ってくる反射光束の収差を補償する。また、補償光学部70は、第1光源部から発した光束に対して収差を補償し、収差補償された光束で被検眼眼底上の微小な領域を照明するようにしてもよい。
【0017】
補償光学素子71としては、例えば、可変形鏡(ディフォーマブルミラー、可変鏡)や液晶等の空間光変調器を用いることができる。なお、その他、測定光の収差を補償可能な適宜の光学系を用いてもよい。可変形鏡は、鏡の内部に備えられたアクチュエータによって鏡を変形させることで、光束の反射方向を変化させる。また、静電容量によって変形させる方法や、ピエゾを用いて変形させる方法等もあるが、これ以外にも適宜の方法を用いることができる。液晶空間光変調器は、液晶の配光性を利用して位相を変調させるもので、鏡と同様に反射させて使用する。なお、液晶空間変調器を用いる場合、光路の途中で偏光子が必要な場合がある。また、補償光学素子71は、反射させて使用するもの以外に、透過型の光学系を用いてもよい。補償光学素子71は、制御部15からの出力に従い、例えば変形等することで収差を補償する。
【0018】
なお、これら補償光学素子71には、それに限られるわけではないが、平行光束を入射させるようにしたほうがよい。例えば、被検眼60が無収差の場合、補償光学素子71には被検眼60の網膜からの反射光束が平行光として入射する。また、例えば、第1光源部からの光束は平行光として補償光学素子71に入射するようになっている。
【0019】
移動プリズム72は、コンピュータ14からの出力に基づき光軸方向に移動する。例えば、移動プリズム72は、適宜の駆動部により駆動される。移動プリズム72が移動することで球面成分の補償を行うことができる。なお、移動プリズム72を移動させる以外にも球面レンズを用いて補償することもできる。
【0020】
アライメント系4は、集光レンズ、アライメント受光部を備える。アライメント系4は、光源部から発せられ被検眼60の角膜62から反射して戻ってくる光束をアライメント受光部に導く。光源部としては、アライメント用の光源を備えても良いし、被検眼60を照明する適宜の光源を用いても良い。また、アライメント系4は、図示しない光学系から照明された適宜のパターン(例えば、プラチドリング)が、被検眼60の前眼部又は角膜62から反射して戻ってくる光束を、アライメント受光部に導くこともできる。この時、アライメント受光部は、前眼部像を得ることができる。なお、アライメントに使用する光束の波長は、例えば、第1波長(ここでは、780nm)と異なる長い波長を選択できる(例えば、940nm)。
【0021】
第3照明用光学系(固視系)5は、例えば、被検眼60の固視や雲霧をさせる為の視標を投影する光路を含むものであって、第3光源部(例えば、ランプ)51、固視標52、リレーレンズを備える。第3光源部51からの光束で固視標を眼底61に照射することができ、被検眼60にその像を観察させる。
【0022】
コンピュータ14の光学特性測定部14−1は、第1受光部13からの出力に基づき、被検眼60の高次収差を含む光学特性を求める。なお、光学特性測定部14−1は、第1受光部13からの出力以外にも、少なくとも被検眼60の波面収差を示す波面測定データを受け取り、光学特性を求めても良い。
【0023】
画像データ形成部14−2は、光学特性に基づき視標の見え具合のシミュレーションを行い、シミュレーション画像データ、又は、見え具合を示すMTF等の被検眼特性データを算出する。
メモリ14−4は、補償光学素子を調整するための複数の電圧変化テンプレートを記憶する。
【0024】
補正量決定部14−3は、メモリ14−4に記憶されている電圧変化テンプレートを選択し、選択したテンプレートに基づき補償光学素子の補正量を決定して、補正量を制御部15に出力する。また、補正量決定部は、複数の電圧変化テンプレートに対して求められたシミュレーション画像データ又は被検眼特性データに基づき、眼底画像の質を評価するための評価データを算出し、評価データに基づいて補償光学素子の適正な補正量を決定する。評価データとしては、例えば、シミュレーション画像と所定のパターンテンプレートのマッチング度合いを示す値や、MTFを用いることができる。
【0025】
制御部15は、コンピュータ14からの出力に基づいて可変形鏡71を変形させる。また、制御部15は、コンピュータ14からの出力に基づき移動プリズム72を光軸方向に移動させる。移動プリズム72を移動させることにより、球面成分を補正することができる。
【0026】
(共役関係)
被検眼60の眼底61、固視系5の固視標52、第1光源部、第1受光部13が共役である。また、被検眼60の眼の瞳(虹彩)、第1受光光学系12の変換部材(ハルトマン板)が共役である。第2光源部は、瞳と共役であり(瞳で結像)、眼底61の大部分を全体的に一様に照明可能である。
【0027】
(アライメント調整)
次に、アライメント調整について説明する。アライメント調整は、主に、アライメント系4により実施される。
【0028】
まず、光源部からの光束は、集光レンズ、ビームスプリッタ、アフォーカルレンズ81を介して、対象物である被検眼60を平行な光束で照明する。被検眼60の角膜62で反射した反射光束は、あたかも角膜62の曲率半径の1/2の点から射出したような発散光束として射出される。この発散光束は、アフォーカルレンズ81、ビームスプリッタ及び集光レンズを介して、アライメント受光部にスポット像として受光される。
【0029】
ここで、このアライメント受光部上のスポット像が光軸上から外れている場合、眼底観察装置本体を、上下左右に移動調整し、スポット像を光軸上と一致させる。このように、スポット像が光軸上と一致すると、アライメント調整は完了する。なお、アライメント調整は、被検眼60の角膜62を照明する図示しない光源部による被検眼60の像がアライメント受光部上に形成されるので、この像を利用して瞳中心が光軸と一致するようにしてもよい。
【0030】
(補償光学素子71)
図2に、補償光学素子71の構成図を示す。可変形鏡を用いる場合、例えば、複数の素子が並んでおり、これらがそれぞれアクチュエータにより変動することで可変形鏡が変形する。各素子には、例えば各素子を識別するための素子番号が予め割り当てられている。制御部15は、コンピュータ14が出力した素子番号に対応する電圧値に従い、アクチュエータによって各素子を駆動する。なお、素子の数は、図に示す数に限られるものではなく、適宜の数を用いることができる。素子番号は、図に示す以外にも適宜割り当てることができる。また、素子番号は、番号以外にも文字、座標等、各素子を識別可能な適宜の識別情報を用いることができる。
【0031】
図3は、電圧変化の基準電圧値を記憶する基準電圧値テーブルのフォーマットである。補償光学素子71の各素子番号に対応して、素子に与える電圧を変化させるための基準電圧値が記憶されている。コンピュータ14は、記憶された基準電圧値と後述する電圧値変化テンプレートが示す電圧変化とに基づき、補償光学素子71に与える電圧値を決定し、制御部15に出力する。基準電圧値テーブルは、例えば、電圧変化テンプレートによる補正量の調整前に補償光学素子71に与えられた電圧値が記憶される。また、コンピュータ14により、補正量調整後の電圧値に更新される。
【0032】
図4は、同心円テンプレートのテーブルフォーマットである。図4に示すテーブルは、素子数が37個の補償光学素子71に対して、9個のテンプレートが記憶されている例である。各テンプレートには、素子番号に対応した電圧変化の値が記憶される。一般に、補償光学素子71の中心付近の素子の方が画質に影響しやすいため、同心円テンプレートは内側の電圧変化を大きく設定しておくことができる。本実施の形態では、電圧変化がすべて0のテンプレートを用意しているが、これにより例えば、電圧変化なしの場合と電圧変化時の評価データの比較が可能である。
【0033】
図5は、対称テンプレートのテーブルフォーマットである。各テンプレートには、素子番号に対応した電圧変化の値が記憶される。対称テンプレートでは、補償光学素子71の中心点に対して対称な電圧変化の値を設定しておくことができる。また、対称テンプレートには、x軸、y軸等適宜の軸に対して対称な電圧変化の値を設定してもよい。
【0034】
図6は、非対称テンプレートのテーブルフォーマットである。各テンプレートには、素子番号に対応した電圧変化の値が記憶される。非対称テンプレートでは、中心又は軸に対して非対称な適宜の電圧変化の値を設定する。
なお、テンプレートの数及び素子数は、図4〜図6に示す数に限られるものではなく、適宜の数を含むことができる。また、電圧変化の値は、適宜の値を設定することができる。
【0035】
図7は、テンプレートマッチングによるマッチング数値データのフォーマットである。後述するテンプレートマッチングによるマッチング数値と、その測定に用いられた補償光学素子71の各素子に与えられた電圧値と、テンプレート番号が対応して記憶される。また、マッチング数値の変わりに、MTF等のデータをテンプレート番号と対応して記憶しても良い。なお、各素子に与えられた電圧値は省略することもできる。この場合、コンピュータ14は、テンプレート番号に基づき、基準電圧値テーブルと電圧変化テンプレートを参照し、補償光学素子71の各素子に与えられた電圧値を計算できる。
【0036】
2.ゼルニケ解析
次に、ゼルニケ解析について説明する。一般に知られているゼルニケ多項式からゼルニケ係数c 2j−iを算出する方法について説明する。ゼルニケ係数c 2j−iは、例えば、ハルトマン板などの変化部材を介して第1受光部13で得られた光束の傾き角に基づいて被検眼60の光学特性を把握するための重要なパラメータである。
【0037】
被検眼60の波面収差W(X,Y)は、ゼルニケ係数c 2j−i、ゼルニケ多項式Z 2j−iを用いて次式で表される。
【0038】
【数1】
Figure 0004121890
【0039】
ただし、(X,Y)はハルトマン板の縦横の座標である。
【0040】
また、波面収差W(X,Y)は、第1受光部13の縦横の座標を(x、y)、ハルトマン板と第1受光部13の距離をf、第1受光部13で受光される点像の移動距離を(△x、△y)とすると、次式の関係が成り立つ。
【0041】
【数2】
Figure 0004121890
【0042】
ここで、ゼルニケ多項式Z 2j−iは、以下の数式で表される(より具体的な式は、例えば特開2002−209854を参照)。
【0043】
【数3】
Figure 0004121890
【0044】
【数4】
Figure 0004121890
【0045】
なお、ゼルニケ係数c 2j−iは、以下の数式で表される自乗誤差を最小にすることにより具体的な値を得ることができる。
【0046】
【数5】
Figure 0004121890
【0047】
ただし、W(X、Y):波面収差、(X、Y):ハルトマン板座標、(△x、△y):第1受光部13で受光される点像の移動距離、f:ハルトマン板と第1受光部13との距離。
【0048】
コンピュータ14は、ゼルニケ係数c 2j−iを算出し、これを用いて球面収差、コマ収差、非点収差等の眼光学特性を求める。また、コンピュータ14は、ゼルニケ係数c 2j−iを用いて次式により収差量RMS 2j−iを算出する。
【0049】
【数6】
Figure 0004121890
【0050】
3.フローチャート
図8は、眼底観察のフローチャートである。まず、眼底観察装置は、被検眼60のアライメントをする(S101)。
【0051】
コンピュータ14(例えば、演算部)は、黄斑を原点とて、第1光源部からの光軸が眼底61にあたる位置を(Xre、Yre)とする(S103)。コンピュータ14は、例えば、第2受光部から眼底画像を取得し、画像処理により黄斑の位置及び光軸が眼底61にあたる位置を検出することができる。黄斑の位置は、例えば、予め黄斑のテンプレートを作成してメモリに記憶しておき、正規化相関法を用いて検出することができる。また、コンピュータ14は、取得した画像を表示部に表示し、眼底観察装置の操作者により黄斑の位置及び光軸が眼底61にあたる位置をポインティングデバイス等の適宜の入力部から入力するようにしてもよい。
【0052】
次に、コンピュータ14は、第1受光部13からの信号に基づき被検眼60の波面収差を測定する(S105)。コンピュータ14は、測定した収差が予め定められた閾値より小さいか判断する(S107)。例えば、コンピュータ14は、ステップS105で得られたゼルニケ係数c 2j−iから収差量RMS 2j−iを算出し、収差量RMSが閾値よりも小さいか判断することができる。
【0053】
コンピュータ14は、収差が閾値よりも大きい場合(S107)、測定した波面収差(波面データ)に基づき、収差を打ち消すように可変形鏡71を変形させる(S109)。例えば、コンピュータ14は、測定した波面収差に基づいて可変形鏡71の各素子に与える電圧値を決定し、決定した電圧値を制御部15へ出力する。また、コンピュータ14は、出力した電圧値を素子番号に対応してメモリの基準電圧値テーブルに記憶する。その後、コンピュータ14は、ステップS105の処理へ戻る。
【0054】
一方、コンピュータ14は、収差量RMSが閾値よりも小さい場合(S107)、フラグの初期設定を行う(S111)。例えば、コンピュータ14は、FlagA=0、FlagB=0、FlagC=0とする。各Flagについての詳細は、後述のフローチャートで説明する。
【0055】
次に、コンピュータ14は、電圧変化テンプレートを選択する(S113)。例えば、コンピュータ14は、フラグ及び/又は収差量に基づき、同心円テンプレート、対称テンプレート、非対称テンプレートのいずれかを選択する。なお、テンプレートの選択の詳細処理については後述する。
【0056】
コンピュータ14は、FlagC=2であるかを判断する(S115)。コンピュータ14は、FlagC=2ではないと判断した場合(S115)、MTF最適化又はパターン最適化の処理を行う(S117)。コンピュータ14は、ステップS113で選択した電圧変化テンプレートに従って可変形鏡71に与える電圧値を変化させ、MTFが最大、又は、所定のパターンの網膜像シミュレーション結果とパターンテンプレートとのマッチング数値が最大となるような電圧値Vを求める。なお、MTF最適化及びパターン最適化の詳細については後述する。
【0057】
コンピュータ14は、可変形鏡71にステップS117で得られた電圧値Vを出力する(S119)。また、コンピュータ14は、可変形鏡71が変形する時間を考慮し、例えば電圧値の出力から所定時間経過後に波面収差を測定する。なお、コンピュータ14は、波面収差を測定する以外にも既に測定され、電圧値Vに対応して記憶されている波面データをメモリから読み込んでも良い。次に、コンピュータ14は、ステップS113の処理に戻り、電圧変化テンプレートの選択の後、ステップS115以下の処理を実行する。
【0058】
一方、コンピュータ14は、ステップS115でFlagC=2と判断した場合、第2受光部32から眼底像を取得する(S121)。また、コンピュータ14は、取得した眼底像をメモリに記憶し(S123)、処理を終了する。
【0059】
図9は、電圧変化テンプレート選択のフローチャートである。
まず、コンピュータ14は、分岐条件としてRMS値の閾値thを設定する(S201)。コンピュータ14は、閾値th値を収差の十分小さい値(例えば、0.1)とする。コンピュータ14は、収差からゼルニケ係数c 2j−iを算出し、収差量R 2j−iに変換する(S203)。収差量R 2j−iは、次式で求めることができる。
【0060】
【数7】
Figure 0004121890
【0061】
なお、コンピュータ14は、上式を用いる以外にも、数式6に示す式を用いて算出したRMSをR 2j−iとしてもよい。
【0062】
次に、コンピュータ14は、FlagA=1か判断する(S205)。コンピュータ14は、FlagA=1の場合(S205)、ステップS213の処理へ移る。一方、コンピュータ14は、FlagA=1ではない場合(S205)、球面収差量R −2、R −4、R −6・・の総量がth以上であるか判断する(S207)。コンピュータ14は、ステップS207でYesの場合、電圧変化テンプレートとして「同心円テンプレート」を設定する(S209)。また、コンピュータ14は、FlagA=1とし(S211)、電圧変化テンプレート選択の処理を終了して、図8のステップS115の処理へ進む。一方、コンピュータ14は、ステップS207でNoの場合、ステップS215の処理へ移る。
【0063】
ステップS213では、コンピュータ14は、FlagB=1か判断する(S213)。コンピュータ14は、FlagB=1の場合(S213)、ステップS221の処理へ移り、一方、コンピュータ14は、FlagB=1ではない場合(S213)、ステップS215の処理へ移る。
【0064】
ステップS215では、コンピュータ14は、非点収差成分に対応するR 2j−i(i:偶数、かつj≠0)の総量がth以上であるか判断する(S215)。コンピュータ14は、ステップS215でYesの場合、電圧変化テンプレートとして「対称テンプレート」を設定する(S217)。また、コンピュータ14は、FlagB=1とし(S219)、電圧変化テンプレート選択の処理を終了する。一方、コンピュータ14は、ステップS215でNoの場合、ステップS221の処理へ移る。
【0065】
ステップS221では、コンピュータ14は、FlagC=1か判断する(S221)。コンピュータ14は、FlagC=1の場合(S221)、ステップS229の処理へ移る。一方、コンピュータ14は、FlagC=1ではない場合(S221)、コマ様収差成分に対応するR 2j−i(i:奇数)の総量がth以上であるか判断する(S223)。コンピュータ14は、ステップS223でYesの場合、電圧変化テンプレートとして「非対称テンプレート」を設定する(S225)。また、コンピュータ14は、FlagC=1とし(S227)、電圧変化テンプレート選択の処理を終了する。
【0066】
ステップS223でNoの場合又はステップS221でFlagC=1と判断した場合、コンピュータ14は、FlagC=2とし(S229)、電圧変化テンプレート選択の処理を終了する。
【0067】
(MTF最適化)
図10に、MTFの変化による最良画像の判断についての説明図を示す。MTFを用いることで、ある細かさでどの程度の解像力があるかを調べることができる。図には、縦軸は見分けうる尺度であるMTFの値、横軸は細かさの尺度である空間周波数として、可変形鏡71をA、Bの2つのケースで変形させた時のグラフを示す。空間周波数の単位には、主に[lines/mm]や[cycles/degree]などが使われている。
【0068】
図に示すグラフにおいて、ケースBは、ケースAよりもRMS値が小さく、MTFの値も400[lines/mm]以下ではAよりBの方が高いことが分かる、しかし、アダプティブオプティクスのように解像限界付近まで像を見たい場合には、ケースBのようなグラフよりも400[lines/mm]以上の高周波の領域にも解像力があるケースAのようなグラフが望ましい。
【0069】
本実施の形態では、電圧変化テンプレートに従い可変形鏡71に何種類かの電圧を与えて動かしたときに、例えば500[lines/mm](これはおおよそ2μmの物を解像できる値)でのMTFの値を算出する。算出したMTFが一番高くなる電圧値を選択すれば、細かい物像を観測できる。
【0070】
図11は、MTF最適化のフローチャートである。
まず、コンピュータ14は、被検眼60の眼底61を照明する光の光軸が眼底61にあたる位置(Xre、Yre)から黄斑(座標原点)までの距離を算出し、細胞の空間周波数のテーブルを用いて、算出した距離に対する空間周波数cfを求める(S301)。
【0071】
図12に、黄斑からの距離と細胞の空間周波数との関係図を示す。人眼の場合、図12に示すように黄斑からの距離が大きくなると、細胞の空間周波数が小さくなる。例えば、このグラフに示す関係を黄斑からの距離と空間周波数が対応したテーブルとして予めメモリに記憶しておき、コンピュータ14は、算出した距離に基づきメモリから対応する空間周波数cfを読み出すことができる。また、図12に示すような黄斑からの距離と空間周波数の関係を表す近似式をメモリに記憶し、コンピュータ14は、算出した距離に基づき近似式を用いて空間周波数cfを算出しても良い。
【0072】
次に、コンピュータ14は、初期の電圧をV(V:i=1〜n)とする(S303)。ここで、nは、可変形鏡71の素子数である。コンピュータ14は、例えば、メモリに記憶された基準電圧値テーブルから各素子番号に対応する電圧値をそれぞれ読み出し、初期の電圧Vとすることができる。
【0073】
コンピュータ14は、テンプレート番号kの値を、例えばk=1とする(S305)。テンプレート番号は、複数のテンプレートに対してMTFを算出するためのカウンタの役割を果たす。
【0074】
コンピュータ14は、上述のステップS113で選択した電圧変化テンプレートをv(k)としてメモリから読み込む(S307)。例えば、コンピュータ14は、テンプレート番号1の各電圧変化量をv(1)として、また、テンプレート番号2の各電圧変化量をv(2)として、メモリに記憶されているテンプレートの数だけ読み込む。また、コンピュータ14は、テンプレート数mをメモリから読み込む。なお、コンピュータ14は、テンプレート数を読み込む代わりに、読み込んだテンプレートの数をカウントしてテンプレート数mとしてもよい。
【0075】
コンピュータ14は、電圧値Tを次式により設定する(S309)。
=V+v (k) (i=1〜n)
コンピュータ14は、可変形鏡71の各素子に与える電圧値をTに変更し、制御部15に出力する。(S311)。制御部15は、コンピュータ14から出力された電圧値Tに応じて可変形鏡71の各素子を駆動し、可変形鏡71を変形させる。コンピュータ14は、可変形鏡71が変形した後(例えば所定時間経過後)に、波面収差W(x、y)を測定する(S313)。
【0076】
コンピュータ14は、測定した波面収差に基づき、MTF(cf)を算出する(S315)。MTF(cf)は、例えば、細胞の空間周波数cfに応じた全角度でのMTFの平均値である。MTF(cf)の算出については後述する。コンピュータ14は、算出されたMTF(cf)をMとする(S317)。また、コンピュータ14は、テンプレート番号kに対応してMをメモリに記憶する。なお、コンピュータ14は、適宜のタイミングで、測定した波面収差及び収差に基づくデータ、電圧値Tをテンプレート番号kに対応して記憶しても良い。
【0077】
コンピュータ14は、テンプレート番号kがテンプレート数mより小さいか判断する(S319)。すなわち、コンピュータ14は、全てのテンプレートについてMを求めたか判断する。コンピュータ14は、テンプレート番号kがテンプレート数mより小さい場合(S319)、k=k+1とし(S321)、ステップS309以下の処理を実行する。
【0078】
一方、コンピュータ14は、テンプレート番号kがテンプレート数mより大きい場合(S319)、M(k=1〜m)が最大の値を持つときのkの値をaに代入する(S323)。例えば、コンピュータ14は、メモリに記憶されたMの中から最大の値を持つMを検索し、該当するMに対応するテンプレート番号kを読み出し、aの値に代入する。
【0079】
コンピュータ14は、次式により電圧値Vを設定する(S325)。
=V+v (a) (i =1〜n)
また、コンピュータ14は、設定した電圧値Vをメモリの基準電圧値テーブルに記憶する。なお、メモリにMに対応した電圧値が記憶されている場合、コンピュータ14はステップS323の処理において、メモリに記憶されたMの中から最大の値を持つMを検索し、該当するMに対応する電圧値を読み出し、これをVとしても良い。この場合、ステップS325の処理を省略することができる。コンピュータ14は、MTF最適化の処理を終了し、図8のステップS119の処理へ移る。以上の処理により、電圧値Vは、MTF(cf)が最大となるように設定される。
【0080】
図13は、MTF(cf)算出のフローチャートである。
まず、コンピュータ14は、波面収差W(x、y)から瞳関数f(x,y)を以下のように求める(S401)。
f(x,y)=eikW(x,y)
(i:虚数、k:波数ベクトル(2π/λ)、λ:波長)
次に、コンピュータ14は、瞳関数に基づき眼球の空間周波数分布OTF(u,v)を計算する(S403)。以下に、眼球の空間周波数分布OTFの算出について説明する。
【0081】
まず、コンピュータ14は、瞳関数f(x,y)をフーリエ変換することにより点像の振幅分布U(u,v)を次式のように求める。
【0082】
【数8】
Figure 0004121890
【0083】
(λ:波長
R:瞳から像点(網膜)までの距離
(u,v):像点Oを原点とし,光軸に直行する面内での座標値
(x,y):瞳面内の座標値 )
次に、コンピュータ14は、U(u,v)とその複素共役を掛けて、次式により点像強度分布(PSF)であるI(u,v)を求める。
I(u,v)=U(u,v)U(u,v)
コンピュータ14は、次式のように、PSFをフーリエ変換(又は自己相関)して規格化することによりOTFを求める。
【0084】
【数9】
Figure 0004121890
【0085】
次に、コンピュータ14は、OTF(u,v)から以下の式を用いてMTF(u,v)を計算する(S405)。
MTF(u,v)=|OTF(u,v)|
コンピュータ14は、パラメータの初期設定を行う(S407)。例えば、コンピュータ14は、角度θ=0°、MTFの合計ALLMTF=0とする。また、分割数dに任意の値(例えばd=36)を代入する。分割数dは、MTF算出において、0〜180度の角度をいくつに分割するかを示し、例えばd=36とすれば5度おきの角度θを設定できる。なお、dの値としては、適宜の数を用いることができるが2の倍数が望ましい。
【0086】
コンピュータ14は、uとvを次式により計算する(S409)。
u=cf×cos(θ)
v=cf×sin(θ)
ここで、cfは、ステップS301で求められた空間周波数である。
【0087】
コンピュータ14は、計算したu、vの値に基づきMTF(u、v)を求め、次式によりALLMTFを計算する(S411)。
ALLMTF=ALLMTF+MTF(u,v)
次に、コンピュータ14は、角度θを例えば次式により変化させる(S413)。
θ=θ+180/d
【0088】
コンピュータ14は、θが180度より大きいか判断する(S415)。コンピュータ14は、θが180度より小さい場合(S415)、ステップS409の処理へ戻る。一方、コンピュータ14は、θが180度より大きい場合(S415)、次式によりMTF(cf)を計算する(S417)。
MTF(cf)=ALLMTF/d
また、コンピュータ14は、MTF(cf)算出の処理を終了し、図11のステップS317の処理へ移る。
【0089】
(パターン最適化)
図14は、パターン最適化のフローチャートである。
まず、コンピュータ14は、ステップS303〜313の処理を実行する。各ステップの処理は上述と同様であるので、その詳細な説明を省略する。次に、コンピュータ14は、パターンマッチング値Pを算出する(S515)。コンピュータ14は、所定のパターンの網膜像をシミュレーションし、当該パターンに対応するパターンテンプレートとシミュレーションにより得られた網膜像をパターンマッチングにより比較し、パターンマッチング値Pを算出する。なお、パターンマッチング値Pの具体的な算出方法については後述する。また、コンピュータ14は、算出したパターンマッチング値Pをテンプレート番号k及び/又は電圧値Vに対応してメモリに記憶する(S517)。
【0090】
次に、コンピュータ14は、上述と同様に、テンプレート番号kがテンプレート数mより小さいか判断し(S319)、テンプレート番号kがテンプレート数mより小さい場合、k=k+1とし(S321)、ステップS309以下の処理を実行する。一方、コンピュータ14は、テンプレート番号kがテンプレート数mより大きい場合(S319)、P(k=1〜m)が最大の値を持つときのkの値をaに代入する(S523)。例えば、コンピュータ14は、メモリに記憶されたPの中から最大の値を持つPを検索し、該当するPに対応するテンプレート番号kを読み出し、aの値に代入する。
【0091】
コンピュータ14は、上述と同様にステップS325の処理を実行し、電圧値Vを設定し、設定した電圧値Vをメモリの基準電圧値テーブルに記憶する。なお、メモリにPに対応した電圧値が記憶されている場合、コンピュータ14はステップS523の処理において、メモリに記憶されたPの中から最大の値を持つPを検索し、該当するPに対応する電圧値を読み出し、これをVとしても良い。この場合、ステップS325の処理を省略することができる。以上の処理により、電圧値Vはパターンマッチング値Pが最大となるように設定される。
【0092】
図15は、パターンマッチング値Pの算出についてのフローチャートである。
まず、コンピュータ14は、被検眼60の眼底61を照明する光の光軸が眼底61にあたる位置(Xre,Yre)から黄斑までの距離を算出し、算出した距離とパターンの種類が対応して記憶されたテーブルを参照して、パターン及びパターンテンプレートの種類を選定する(S601)。
【0093】
図16に、黄斑からの距離と細胞の大きさの関係図を示す。図に示すように、人眼の眼底部にある細胞は、黄斑からの距離によって大きさが異なっている。本実施の形態におけるパターンマッチングでは、黄斑からの距離に応じた大きさのパターンを選択する。
【0094】
まず、コンピュータ14は、(Xre、Yre)の黄斑からの距離を算出し、算出した距離に基づき、細胞の大きさcsを求める。例えば、黄斑からの距離と細胞の大きさが対応付けられたテーブルが予めメモリに記憶され、コンピュータ14は、このテーブルを参照して算出した距離に対応する細胞の大きさcsを読み込むことができる。また、図16に示すグラフの近似式をメモリに記憶し、コンピュータ14は、算出した距離に基づき近似式を用いて細胞の大きさを求めても良い。コンピュータ14は、求めた細胞の大きさcsに基づき、パターン原画像Pat(x,y)を選択する。
【0095】
図17に、パターン原画像の説明図を示す。パターンの線部は画素値を1とし、細胞の大きさcsに比べてある程度小さな大きさで作成する。また、パターンの線部以外は、画素値を0とする。パターン原画像は、細胞の大きさcsに応じた適宜の数のパターンが予め作成され、そのパターンを選択するための細胞の大きさcsの範囲に対応させてメモリに記憶される。コンピュータ14は、メモリに記憶された細胞の大きさcsの範囲を参照して、求めた細胞の大きさcsが該当するパターンを選択することができる。
【0096】
図18に、パターンテンプレート画像PT(x、y)の説明図を示す。上述のパターン原画像に対応するパターンテンプレート画像として、パターン原画像と同様に細胞の大きさcsの応じた格子状の画像を作成し、さらに、線の部分の画素数をN1とすると、内部の点状で示した部分を画素数がN2、画素値は−N1/N2となるように作成する。これらパターンテンプレート画像は、上述のパターンに対応してメモリに記憶される。
【0097】
なお、パターン原画像及びパターンテンプレート画像は、これに限らず細胞の大きさに応じた適宜のパターン、画素値を設定することができる。上述の例ではパターンとして正方形の格子を挙げたが、パターンは細胞に見立て球形の物等を用いるのも良い。また、予め作成され、メモリに記憶されたパターン及びパターンテンプレートを選択する以外にも、求められた細胞の大きさに基づきパターン等を適時作成することもできる。
【0098】
図15のフローチャートに戻り、コンピュータ14は、波面収差W(X、Y)に基づき瞳関数f(x,y)を次式により計算する(S603)。
【0099】
【数10】
Figure 0004121890
【0100】
(i:虚数、k:波数ベクトル(2π/λ)、λ:波長)
コンピュータ14は、選択されたパターンの輝度分布関数Pat(x,y)をメモリを参照して計算する(S607)。また、コンピュータ14は、Pat(x,y)を2次元フーリエ変換して空間周波数分布FPat(u,v)を求める(S609)。
【0101】
次に、コンピュータ14は、瞳関数に基づき眼球の空間周波数分布OTFを算出し、パターンの空間周波数分布FPat(u,v)と眼球の空間周波数分布OTF(u,v)を次式のように掛け合わせることで、眼の光学系通過後の(網膜像の)周波数分布OR(u,v)を求める(S611)。
FPat(u,v)×OTF(u,v)→OR(u,v)
【0102】
また、コンピュータ14は、パターンテンプレートの輝度分布関数PT(x,y)をメモリを参照して計算する(S613)。コンピュータ14は、PT(x,y)の2次元フーリエ変換FPT(u,v)を求める(S615)。
【0103】
コンピュータ14は、波面から算出された網膜像の空間周波数分布OR(u,v)とパターンの空間周波数分布FPT(u,v)を掛け合わせOTmp(u,v)を求める(S617)。
OR(u,v)×FT(u,v)→OTmp(u,v)
次に、コンピュータ14は、OTmp(u,v)を二次元逆フーリエ変換し、TmpIm(X,Y)を求める(S619)。コンピュータ14は、TmpIm(X,Y)の絶対値の最大値を取得してパターンマッチング値Pとする(S621)。また、コンピュータ14は、パターンマッチング値算出の処理を終了し、図14のステップS517の処理へ移る。
【0104】
4.比較例
図19は、パターン最適化により得られる画像の比較図である。図には、補正なし、収差量RMSが小さくなるように補正した場合(RMS最適化)、本実施の形態におけるパターン最適化により補正した場合ついて、それぞれ波面収差、ランドルト環画像シミュレーション、縞画像シミュレーション、RMSを示している。パターン最適化では、RMS最適化よりもRMSが大きくなるが、像の見えは良くなっていることが示されている。
【0105】
5.付記
本発明の眼底観察装置・システムは、その各手順をコンピュータに実行させるための眼底観察プログラム、眼底観察プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、眼底観察プログラムを含みコンピュータの内部メモリにロード可能なプログラム製品、そのプログラムを含むサーバ等のコンピュータ、等により提供されることができる。
【0106】
なお、被検眼60の光学特性は、光学特性測定部14−1が、図1に示す第1受光光学系12からの出力により求めているが、これに限定されるものでなく、適宜の光学系、装置からの波面収差を含む波面測定データにより求めるように構成することができる。
【0107】
【発明の効果】
本発明によると、眼底画像の質を良くするように補償光学素子の補正量を調整し、適正な補正量を求めることができる。また、本発明によると、被検眼での視標の見え具合と所定のパターンテンプレートとのパターンマッチングによる値、又は、MTF(Modulation Transfer Function)に基づき、像の質を良くするような適正補正量を求めることができる。さらに、本発明によると、適正な補正量により補正された眼底画像を取得することができる。本発明よると、補償光学素子の補正量を調整するための電圧変化テンプレートを用いて、眼底画像の画質を向上させることができる。また、本発明によると、眼底の細胞の大きさを考慮して画像の質を評価し、細胞レベルまでの観察を可能とするができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】眼底観察装置の構成図。
【図2】可変形鏡の構成図。
【図3】電圧変化の基準電圧値を記憶する基準電圧値テーブルのフォーマット。
【図4】同心円テンプレートのテーブルフォーマット。
【図5】対称テンプレートのテーブルフォーマット。
【図6】非対称テンプレートのテーブルフォーマット。
【図7】テンプレートマッチングによるマッチング数値データのフォーマット。
【図8】眼底観察のフローチャート。
【図9】電圧変化テンプレート選択のフローチャート。
【図10】MTFの変化による最良の判断についての説明図。
【図11】MTF最適化のフローチャート。
【図12】黄斑からの距離と細胞の空間周波数との関係図。
【図13】MTF(cf)算出のフローチャート。
【図14】パターン最適化のフローチャート。
【図15】パターンマッチング値Pの算出についてのフローチャート。
【図16】黄斑からの距離と細胞の大きさの関係図。
【図17】パターン原画像の説明図。
【図18】パターンテンプレート画像PT(x、y)の説明図。
【図19】パターン最適化により得られる画像の比較図。
【符号の説明】
1 波面補正系
2 眼底照明系(第2照明光学系)
3 眼底観察系
4 アライメント系
5 固視系
11 点像投影光学系(第1照明光学系)
12 点像受光光学系(第1受光光学系)
13 点像受光部(第1受光部)
14 コンピュータ
15 制御部
31 眼底画像形成用光学系(第2受光光学系)
32 眼底画像受光部(第2受光部)
51 ランプ
52 固視標
60 被検眼
61 網膜(眼底)
62 角膜(前眼部)
70 補償光学部
71 可変形鏡
72 移動プリズム

Claims (13)

  1. 被検眼眼底を観察するための照明光を眼底に照明する眼底照明系と、
    上記眼底照明系の照明による眼底の像を与えられた補正量に従い補正する補償光学部と、
    上記補償光学部により補正された眼底の像を受光し、眼底画像を形成するための眼底画像形成用光学系と、
    上記眼底画像形成用光学系で形成された眼底画像を受光する眼底画像受光部と、
    少なくとも被検眼の波面収差及び/又は上記補償光学部により補正される収差を含む波面測定データを測定する波面測定系と、
    上記波面測定系から波面測定データを得て、被検眼の高次収差を含む光学特性を求める光学特性測定部と、
    上記光学特性測定部で求められた光学特性に基づき、眼底における像の見え具合のシミュレーションを行い、見え具合を示すデータを算出する画像データ形成部と、
    上記補償光学部を調整するための複数の電圧変化テンプレートを記憶する記憶部と、
    上記記憶部に記憶されている電圧変化テンプレートを選択し、該テンプレートに基づき上記補償光学部の補正量を決定して上記補償光学部に出力し、さらに、複数の電圧変化テンプレートに基づく補正量に対して、上記画像データ形成部により求められた像の見え具合を示すデータに基づき、像の質を評価するための評価データを算出し、該評価データに従い上記補償光学部の適正な補正量を決定して上記補償光学部に出力するための補正量決定部と
    を備えた眼底観察装置。
  2. 上記補償光学部は、多数の可動式ミラー又は空間光変調器を有するアダプティブオプティクスを含む請求項1に記載の眼底観察装置。
  3. 上記補償光学部は、光軸方向に移動可能に構成される移動プリズム、及び/又は、球面レンズ部をさらに含む請求項2に記載の眼底観察装置。
  4. 上記波面測定系は、
    被検眼眼底に点像を投影するための点像投影光学系と、
    被検眼眼底で反射された上記点像投影光学系からの光束を、少なくとも17本の光束に分割する分割素子を介して点像を形成するための点像受光光学系と、
    上記点像受光光学系で形成された点像を受光する点像受光部と
    を有し、
    上記光学特性測定部は、上記点像受光部の出力を、波面測定データとして得て、被検眼の高次収差を含む光学特性を求めるように構成されている請求項1に記載の眼底観察装置。
  5. 上記記憶部に記憶される電圧変化テンプレートは、上記補償光学部の中心付近の電圧変化が周辺部に対して大きく設定された同心円テンプレート、電圧変化が上記補償光学部の中心又は所望の軸に対して対称に設定された対称テンプレート、電圧変化が上記補償光学部の中心又は所望の軸に対して非対称に設定された非対称テンプレートのいずれか又は複数を含む請求項1に記載の眼底観察装置。
  6. 上記補正量決定部は、上記光学特性測定部により求められた収差量に基づき、球面収差量が所定値以上の場合には同心円テンプレートを、非点収差成分が所定値以上の場合には対称テンプレートを、コマ様収差成分が所定値以上の場合には非対称テンプレートを選択する請求項5に記載の眼底観察装置。
  7. 上記画像データ形成部は、所定の視標の眼底での見え具合をシミュレーションして、シミュレーション画像データを算出し、
    上記補正量決定部は、該視標に対応したパターンテンプレートデータと該シミュレーション画像データとをパターンマッチングにより比較し、マッチングの度合いを示す値に従い適正な補正量を決定するように構成されている請求項1に記載の眼底観察装置。
  8. 上記補正量決定部は、シミュレーションに用いられた視標に対応するパターンテンプレートデータの輝度分布関数に2次元フーリエ変換を施し、該変換結果とシミュレーション画像データの空間周波数分布とを掛け合わせてパターンマッチングし、マッチングの度合いを示す値に基づき適正な補正量であるかを判断するように構成されている請求項7に記載の眼底観察装置。
  9. 上記画像データ形成部は、波面収差から眼球の空間周波数分布を演算し、及び、所定の視標の輝度分布関数を2次元フーリエ変換し、該眼球の空間周波数分布と該変換結果を掛け合わせてシミュレーション画像データの空間周波数分布を算出するように構成されている請求項8に記載の眼底観察装置。
  10. 上記画像データ形成部は、被検眼の眼底を照明する光の光軸が眼底にあたる点と黄斑との距離を算出し、算出した距離に応じた視標を用いるように構成されている請求項7に記載の眼底観察装置。
  11. 上記画像データ形成部は、上記光学特性測定部で求められた光学特性に基づき、像の見え具合を示すデータとして、MTF(Modulation Transfer Function)のデータを算出し、
    上記補正量決定部は、算出されたMTFのデータに基づき適正な補正量を決定するように構成されている請求項1に記載の眼底観察装置。
  12. 上記補正量決定部は、被検眼の眼底を照明する光の光軸が眼底にあたる点と黄斑との距離を算出し、予め上記記憶部に記憶された黄斑からの距離と空間周波数の関係を示すデータを参照して、算出された距離に対応する空間周波数を求め、求められた空間周波数及び上記画像データ形成部により算出されたMTFのデータに基づき、該空間周波数に応じたMTFの値を算出し、該MTFの値に従い適正な補正量を決定する請求項11に記載の眼底測定装置。
  13. 上記補正量決定部は、弱矯正方向から補正を行うように補正量を決定する請求項1に記載の眼底観察装置。
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