JP6513747B2 - 眼科装置 - Google Patents

Description

この発明は、眼科装置に関する。

白内障は、レンズの役目を担う水晶体が混濁することにより徐々に視力が低下していく眼疾患である。白内障が進行した被検眼に対しては、一般的に、白内障手術が行われる。たとえば、白内障手術では、混濁した水晶体を取り除き、代わりに眼内レンズ（Ｉｎｔｒａｏｃｕｌａｒ Ｌｅｎｓ：以下、ＩＯＬ）を挿入することが行われる。ＩＯＬには、球面度のみを有するものや、乱視の矯正が可能なトーリックＩＯＬや、遠方と近方の双方に焦点を合わせることが可能な多焦点ＩＯＬなどがある。白内障手術の前には、眼軸長などの被検眼の構造を表す眼球情報を眼科装置により測定し、測定された眼球情報からＩＯＬの度数を決定する必要がある。

このような眼科装置は、たとえば、特許文献１に開示されている。特許文献１には、眼軸長を測定するための光学系と、被検眼の屈折力を測定するための光学系とを備え、被検眼の眼軸長と屈折力との測定を実行可能な眼科装置が開示されている。

特許第４５２３３３８号公報

白内障を伴う被検眼においては混濁によって水晶体の透過率が低下するため、当該被検眼に照射された測定用の光が拡散され、十分な光量が眼底に到達しなかったり、眼底からの戻り光を十分に検出することができなかったりする。それにより、従来の眼科装置では、白内障が進行した被検眼に光を照射しても測定すらできず、ＩＯＬの度数を決定することができない場合があった。

本発明は、上記の問題点を解決するためになされたものであり、白内障が進行した被検眼であってもＩＯＬの度数を求めることが可能な眼科装置を提供することを目的とする。

実施形態に係る眼科装置は、レフ測定投影系と、レフ測定受光系と、処理部とを含む。レフ測定投影系は、レフ測定光源から出力された光を測定パターン光束として被検眼の眼底に投影する。レフ測定受光系は、レフ測定投影系により眼底に投影された測定パターン光束の戻り光を受光する。処理部は、レフ測定受光系により受光された戻り光に基づく像を解析して被検眼の屈折力を求める。レフ測定光源は、被検眼の眼底と光学的に略共役な位置に配置される。レフ測定投影系は、円錐プリズムと、リレーレンズと、パターン部分が形成された絞りとを含む。円錐プリズムは、レフ測定光源から出力された光を、リレーレンズを介して絞りのパターン部分に集光させる。絞りのパターン部分を通過した光が測定パターン光束となる。

この発明に係る眼科装置によれば、白内障が進行した被検眼であってもＩＯＬの度数を求めることが可能になる。

実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の光学系の動作例を示す動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の光学系の動作例を示す動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の光学系の動作例を示す動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の光学系の動作例を示す動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の制御系の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の制御系の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図である。 実施形態の変形例に係る眼科装置の動作例を示すフロー図である。 実施形態の変形例に係る眼科装置の動作説明図である。 実施形態の変形例に係る眼科装置の動作説明図である。

実施形態に係る眼科装置は、他覚測定と自覚測定とを１台で実行可能な装置である。他覚測定は、被検者からの応答を参照することなく、主として物理的な手法を用いて被検眼に関する情報を取得するものである。他覚測定には、被検眼に関する値を測定するための測定と、被検眼の画像を取得するための撮影とが含まれる。このような他覚測定には、たとえば、他覚屈折測定、角膜形状測定、眼圧測定、眼底撮影、光コヒーレンストモグラフィ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：以下、ＯＣＴ）の手法を用いたＯＣＴ計測などがある。自覚測定は、被検者からの応答に基づいて結果を取得するものである。自覚測定には、たとえば、遠用検査、近用検査、コントラスト検査、グレアー検査などの自覚屈折測定や、視野検査などがある。自覚測定では、被検者に情報（視標など）が呈示され、その情報に対する被検者の応答に基づいて結果が取得される。

この実施形態では、ＯＣＴ計測においてフーリエドメインタイプのＯＣＴの手法を用いる場合について説明する。特に、実施形態に係る眼科装置は、スペクトラルドメインＯＣＴの手法を用いてＯＣＴ計測を行うことが可能である。なお、ＯＣＴ計測は、スペクトラルドメイン以外のタイプ、たとえばスウェプトソースＯＣＴの手法を用いてもよい。また、実施形態におけるＯＣＴ計測は、タイムドメインタイプのＯＣＴの手法を用いることも可能である。

また、実施形態に係る眼科装置は、任意の自覚測定および任意の他覚測定の少なくとも一方を実行することが可能である。以下、実施形態に係る眼科装置は、自覚測定として、遠用検査、近用検査などを実行可能であり、且つ、他覚測定として、他覚屈折測定、角膜形状測定、ＯＣＴ計測などを実行可能な装置であるものとする。ＯＣＴ計測では、眼軸長、角膜厚、前房深度、水晶体厚などの被検眼の構造を表す眼球情報の取得が行われる。以下、ＯＣＴ計測では眼球情報として眼軸長を取得する場合について説明する。なお、実施形態に係る眼科装置の構成は、以下に説明する構成に限定されるものではない。たとえば、他覚屈折測定を他の装置で行い、その測定結果の入力を受けて眼軸長測定を実行するよう構成してよい。

＜外観構成＞
図１に、実施形態に係る眼科装置の外観構成を示す。眼科装置１０００は、ベース２００と、架台３００と、ヘッド部４００と、顔受け部５００と、ジョイスティック８００と、表示部１０とを有する。

架台３００は、ベース２００に対して前後左右に移動可能とされる。ヘッド部４００は、架台３００と一体的に構成されている。顔受け部５００は、ベース２００と一体的に構成されている。

顔受け部５００には、顎受け６００と額当て７００とが設けられている。顔受け部５００により被検者（図示を略す）の顔が固定される。検者は、たとえば、眼科装置１０００を挟んで被検者の反対側に位置して検査を行う。ジョイスティック８００および表示部１０は、検者側の位置に配置されている。ジョイスティック８００は、架台３００上に設けられている。表示部１０は、ヘッド部４００の検者側の面に設けられている。表示部１０は、たとえば、液晶ディスプレイなどのフラットパネルディスプレイである。表示部１０は、タッチパネル式の表示画面１０ａを有する。

ヘッド部４００は、ジョイスティック８００の傾倒操作によって前後左右に移動される。また、ヘッド部４００は、ジョイスティック８００をその軸に対して回転させることにより上下方向に移動される。これら操作によって、顔受け部５００に保持されている被検者の顔に対するヘッド部４００の位置が変わる。なお、左右方向の移動は、たとえば、眼科装置１０００による検査対象を左眼から右眼にまたは右眼から左眼に切り替えるために行われる。

眼科装置１０００には外部装置９００が接続されている。外部装置９００は、任意の装置であってよく、また、眼科装置１０００と外部装置９００との間の接続態様（通信形態など）も任意であってよい。外部装置９００は、たとえば、レンズの光学特性を測定するための眼鏡レンズ測定装置を含む。眼鏡レンズ測定装置は、被検者が装用する眼鏡レンズの度数などを測定し、この測定データを眼科装置１０００に入力する。また、外部装置９００は、他の任意の眼科装置であってよい。また、外部装置９００は、記録媒体から情報を読み取る機能を有する装置（リーダ）や、記録媒体に情報を書き込む機能を有する装置（ライタ）であってよい。

外部装置９００の他の例として、当該医療機関内にて使用されるコンピュータがある。このような院内コンピュータは、たとえば、病院情報システム（Ｈｏｓｐｉｔａｌ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ：ＨＩＳ）サーバ、ＤＩＣＯＭ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｉｍａｇｉｎｇ ａｎｄ Ｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎｓ ｉｎ Ｍｅｄｉｃｉｎｅ）サーバ、医師端末などを含む。外部装置９００は、当該医療機関の外部にて使用されるコンピュータを含んでよい。このような院外コンピュータは、たとえば、モバイル端末、個人端末、眼科装置１０００のメーカ側のサーバや端末、クラウドサーバなどがある。

＜光学系の構成＞
眼科装置１０００は被検眼の検査を行うための光学系を有する。この光学系の構成例について図２〜図７を参照して説明する。光学系はヘッド部４００内に設けられている。光学系は、Ｚアライメント投影系１と、ＸＹアライメントスポット投影系２と、ケラト測定用リング投影系３と、固視および自覚測定系４と、観察系５と、レフ測定投影系６と、レフ測定受光系７と、眼軸長測定系８とを含む。処理部９は、各種の処理を実行する。

Ｚアライメント投影系１およびＸＹアライメントスポット投影系２は、被検眼Ｅに対する光学系の位置合わせ（ＸＹＺアライメント）を行うために必要な光を投影するための光学系である。Ｚアライメント投影系１は、観察系５の光軸に沿う方向（前後方向）のアライメントを行うための機能を有する。ＸＹアライメントスポット投影系２は、観察系５の光軸に直交する方向（上下方向、左右方向）のアライメントを行うためのスポットを投影する機能を有する。ケラト測定用リング投影系３は、被検眼Ｅの角膜Ｋの形状を測定するための測定用リング状光束を被検眼Ｅに投影する機能を有する。固視および自覚測定系４は、被検眼Ｅに固視標および自覚測定用の視標を呈示するための光学系である。観察系５は、被検眼Ｅの前眼部を観察するための光学系である。レフ測定投影系６は、眼屈折力を他覚的に測定するための光束を被検眼に投影するための光学系である。レフ測定受光系７は、レフ測定投影系６により被検眼に投影された光の眼底反射光を受光するための光学系である。眼軸長測定系８は、ＯＣＴ計測により被検眼Ｅの眼軸長を測定するための光学系である。眼軸長測定系８は、ＯＣＴ光源から出力された測定光を眼底Ｅｆに投影する機能と、この測定光の戻り光を検出する機能とを有する。

（観察系５）
観察系５は、対物レンズ５１と、ダイクロイックミラー５２、５３と、絞り５４と、ハーフミラー５５と、リレーレンズ５６、５７と、結像レンズ５８と、撮像素子（ＣＣＤ）５９とを含む。観察系５は、更に、被検眼Ｅの前眼部を照明するための照明光源を含んで構成されていてもよい。撮像素子５９の出力は、処理部９に入力される。処理部９は、撮像素子５９から入力された信号に基づいて、表示部１０に前眼部像Ｅ’を表示させる。

対物レンズ５１と被検眼Ｅとの間には、ケラト板３１が設けられている。ケラト板３１は、角膜形状を測定するためのリング状光束を被検眼Ｅの角膜Ｋに投影するために用いられる。

（Ｚアライメント投影系１およびＸＹアライメントスポット投影系２）
ケラト板３１の周辺にはＺアライメント投影系１が設けられている。前述したように、Ｚアライメント投影系１は、観察系５の光軸前後方向のアライメントに用いられる。Ｚアライメント投影系１は、Ｚアライメント光源１１を有する。Ｚアライメント光源１１からの光は、角膜Ｋに投影される。角膜Ｋに投影された光は、角膜Ｋで反射し、結像レンズ１２を経由してラインセンサー１３上に投影される。角膜頂点の位置が観察系５の光軸上に対し前後方向に移動するとラインセンサー１３上に投影された光束の位置が変化する。この位置の変化を解析することにより、対物レンズ５１に対する被検眼Ｅの角膜頂点の位置を計測し、その計測値に基づいてアライメントすることができる。

ＸＹアライメントスポット投影系２は、ハーフミラー５５を介して観察系５から分岐した光路を形成している。前述したように、ＸＹアライメントスポット投影系２は、上下方向および左右方向のアライメントに用いられる。ＸＹアライメントスポット投影系２は、ＸＹアライメント光源２１を有する。ＸＹアライメント光源２１から出力された光は、その一部がハーフミラー５５にて反射されて絞り５４を通過し、ダイクロイックミラー５３、５２を透過し、対物レンズ５１を通過して被検眼Ｅに投影される。被検眼Ｅに投影された光は、角膜Ｋで反射され、対物レンズ５１を通過して、観察系５と同じ光路を経由して撮像素子５９に投影される。

図２などに示すように、表示画面１０ａには、前眼部像Ｅ’とともに、アライメントマークＡＬと角膜Ｋで反射した輝点像Ｂｒとが表示される。手動でアライメントを行う場合、ユーザは、たとえば、表示画面１０ａに表示されている情報を参照しつつジョイスティック８００を操作してヘッド部４００の位置調整を行う。このとき、処理部９は、たとえば、アライメントマークＡＬと角膜Ｋで反射した輝点像Ｂｒのずれ量で上下左右方向のずれ量を算出し、表示画面１０ａに表示させてよい。また、Ｚアライメント投影系１からの処理情報を基に光軸方向のずれ量を表示画面１０ａに表示させてよい。処理部９は、アライメントが完了したことに対応して測定を開始するように制御を行うことができる。

自動でアライメントを行う場合、上述のずれ量がキャンセルされるように電動の機構を制御してヘッド部４００を移動させる。この機構は、駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力をヘッド部４００に伝達する部材とを含む。処理部９は、アライメントが完了したことに対応して測定を開始するように制御を行うことができる。

（固視および自覚測定系４）
固視および自覚測定系４は、光源４１と、透過型の視標チャート４２と、合焦レンズ４３と、バリアブルクロスシリンダ（以下、ＶＣＣ）レンズ４４と、反射ミラー４５とを含む。合焦レンズ４３は、固視および自覚測定系４の光軸に沿って移動可能に構成されている。固視および自覚測定系４は、更に、ダイクロイックミラー５３、５２と、対物レンズ５１とを含んで構成されていてもよい。

固視および自覚測定系４は、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに視力測定用の視標を投影することが可能である。

光源４１から出力された光（可視光）は、視標チャート４２に照射される。視標チャート４２は、視力測定用の視標や風景チャートなどの固視標を表示し、光源４１から出力された光を透過させる。視標チャート４２は、透過型の液晶パネルを含んで構成されていてもよい。この場合、液晶パネルに視力測定用の視標や固視標が表示される。視標チャート４２を透過した光は、合焦レンズ４３、ＶＣＣレンズ４４を透過し、反射ミラー４５にて反射され、ダイクロイックミラー５３にて反射される。ダイクロイックミラー５３にて反射された光源４１からの光は、ダイクロイックミラー５２を透過し、対物レンズ５１を通過して、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに投影される。それにより、視標チャート４２に表示された視力測定用の視標や固視標が被検眼Ｅに呈示される。他覚屈折測定においては、眼底Ｅｆに投影された風景チャートを被検者に凝視させつつアライメントが行われ、雲霧視状態で眼屈折力が測定される。

（レフ測定投影系６およびレフ測定受光系７）
レフ測定投影系６とレフ測定受光系７とによりレフ測定系が構成される。レフ測定投影系６は、レフ測定光源６１から出力された光（赤外光）をリング状の測定パターン光束として被検眼Ｅの眼底Ｅｆに投影する機能を有する。レフ測定受光系７は、レフ測定投影系６により被検眼Ｅに投影された測定パターン光束の戻り光を受光する機能を有する。

レフ測定投影系６は、レフ測定光源６１と、コンデンサレンズ６２と、反射ミラー６３と、円錐プリズム６４Ａと、リレーレンズ６４Ｂと、リング絞り６４Ｃと、穴開きプリズム６５と、ロータリープリズム６６と、クイックリターンミラー６７とを含む。レフ測定投影系６は、更に、ダイクロイックミラー５２と、対物レンズ５１とを含んで構成されていてもよい。レフ測定光源６１は、レフ測定投影系６の光軸に沿って移動可能に構成される。レフ測定光源６１は、被検眼Ｅの眼底Ｅｆと光学的に略共役な位置に配置されている。それにより、レフ測定光源６１からの光が混濁した水晶体を通過し、眼底Ｅｆに到達しやすくなる。

レフ測定受光系７は、リレーレンズ７１と、合焦レンズ７２と、結像レンズ７３と、撮像素子（ＣＣＤ）７４とを含む。レフ測定受光系７は、更に、対物レンズ５１と、ダイクロイックミラー５２と、クイックリターンミラー６７と、ロータリープリズム６６と、穴開きプリズム６５とを含んで構成されていてもよい。合焦レンズ７２は、レフ測定受光系７の光軸に沿って移動可能に構成される。合焦レンズ７２とレフ測定光源６１と後述の眼軸長測定系８の合焦レンズ８５とは、連係してそれぞれの光軸方向に移動される。撮像素子７４の出力は、処理部９に入力される。対物レンズ５１と、ダイクロイックミラー５２と、クイックリターンミラー６７と、ロータリープリズム６６と、穴開きプリズム６５とは、レフ測定投影系６と共用される。

レフ測定光源６１から出力された光は、コンデンサレンズ６２を通過し、反射ミラー６３にて反射され、円錐プリズム６４Ａ、リレーレンズ６４Ｂを透過してリング絞り６４Ｃに導かれる。リング絞り６４Ｃに導かれた光は、リング状のパターン部分を通過してリング状の測定パターン光束となる。円錐プリズム６４Ａは、コンデンサレンズ６２によって集光されたレフ測定光源６１からの光をリング絞り６４Ｃのリング状のパターン部分に集光させる。この測定パターン光束は、穴開きプリズム６５の反射面にて反射され、ロータリープリズム６６を通過し、クイックリターンミラー６７に導かれる。ロータリープリズム６６を用いることにより、眼底Ｅｆにおける血管や疾患部位への測定パターン光束の光量分布を平均化させることが可能になる。

クイックリターンミラー６７は、他覚屈折測定と眼軸長測定とを切り換えるために用いられる。他覚屈折測定を実行するとき、クイックリターンミラー６７の反射面は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路上に配置される。それにより、レフ測定投影系６の光路およびレフ測定受光系７の光路の双方は、観察系５の光路に結合される。眼軸長測定を実行するとき、クイックリターンミラー６７は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路から退避される。それにより、眼軸長測定系８の光路は、観察系５の光路に結合される。

ここでは、クイックリターンミラー６７の反射面は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路上に配置される。穴開きプリズム６５からロータリープリズム６６を通過してクイックリターンミラー６７に導かれた測定パターン光束は、クイックリターンミラー６７にて反射され、ダイクロイックミラー５２にて反射され、対物レンズ５１を通過して被検眼Ｅに投影される。

被検眼Ｅに投影された測定パターン光束の戻り光は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックミラー５２およびクイックリターンミラー６７にて反射され、ロータリープリズム６６を通過し、穴開きプリズム６５の中心部を通過する。穴開きプリズム６５の中心部を通過した光は、リレーレンズ７１、合焦レンズ７２を透過し、結像レンズ７３により撮像素子７４の撮像面に結像される。

（眼軸長測定系８）
眼軸長測定系８は、ＯＣＴユニット８０と、コリメータレンズ８４と、合焦レンズ８５と、リレーレンズ８６と、ＸＹスキャナ８７と、瞳レンズ８８とを含む。眼軸長測定系８は、更に、ダイクロイックミラー５２と、対物レンズ５１とを含んで構成されていてもよい。ダイクロイックミラー５２と、対物レンズ５１とは、観察系５と共用される。

ＸＹスキャナ８７は、１次元的にまたは２次元的に光を偏向する。ＸＹスキャナ８７に対する偏向制御を行うことにより、被検眼Ｅに対する後述の測定光ＬＳの入射位置を変更することができる。２次元的に光を偏向する場合、ＸＹスキャナ８７として第１方向に偏向する第１偏向部材と第２方向に偏向する第２偏向部材とを用いることが可能である。第１方向は、第２方向に略直交（交差）する方向である。ＸＹスキャナ８７に用いられる偏向部材の例として、ガルバノミラー、ポリゴンミラー、回転ミラーなどがある。また、ダボプリズム（Ｄｏｖｅ Ｐｒｉｓｍ）、ダブルダボプリズム（Ｄｏｕｂｌｅ Ｄｏｖｅ Ｐｒｉｓｍ）、ローテーションプリズム（Ｒｏｔａｔｉｏｎ Ｐｒｉｓｍ）、ＭＥＭＳミラースキャナーなどが用いられてもよい。ＸＹスキャナ８７は、被検眼Ｅの眼底Ｅｆと光学的に略共役な位置に配置されている。

ＯＣＴユニット８０は、ＯＣＴ光源８１と、ファイバーカプラー８２と、光路長変更ユニット９０とを含む。ＯＣＴユニット８０は、更に、分光器８３を含んで構成されていてもよい。合焦レンズ８５は、眼軸長測定系８の光軸に沿って移動可能に構成される。

ＯＣＴ光源８１から出力された光（赤外光）は、ファイバーカプラー８２により測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。測定光ＬＳは、ＯＣＴユニット８０から出力され、光ファイバーによりコリメータレンズ８４に導光される。参照光ＬＲは、光ファイバーにより光路長変更ユニット９０に導光される。光路長変更ユニット９０は、参照光ＬＲの光路長を変更する。

ここでは、クイックリターンミラー６７は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路から退避される。測定光ＬＳは、コリメータレンズ８４により平行光束とされ、合焦レンズ８５、リレーレンズ８６を通過し、ＸＹスキャナ８７により偏向され、瞳レンズ８８を通過し、ダイクロイックミラー５２に導かれる。ダイクロイックミラー５２に導かれたＯＣＴユニット８０からの測定光ＬＳは、ダイクロイックミラー５２にて反射され、対物レンズ５１を通過して被検眼Ｅの眼底Ｅｆに投影される。

眼底Ｅｆに投影された測定光の戻り光は、対物レンズ５１を通過し、測定光と同じ経路でＯＣＴユニット８０に導かれる。ＯＣＴユニット８０は、ファイバーカプラー８２によって光路長変更ユニット９０により光路長が変更された参照光と測定光の戻り光とを干渉させて干渉光ＬＣを生成する。光路長変更ユニット９０は、コリメータレンズ９１と、ビームスプリッター９２と、網膜用シャッター９３と、網膜用参照ミラーユニット９４と、角膜用シャッター９５と、角膜用参照ミラーユニット９６とを含む。網膜用参照ミラーユニット９４は、結像レンズ９４Ａと、参照ミラー９４Ｂとを含む。角膜用参照ミラーユニット９６は、結像レンズ９６Ａと、参照ミラー９６Ｂとを含む。ビームスプリッター９２は、ファイバーカプラー８２によって分割された参照光ＬＲが導かれた参照光路を網膜測定用の参照光路と角膜測定用の参照光路とに分割する。干渉光ＬＣは、光ファイバーにより分光器８３に導光される。分光器８３では、空間的に波長分離された光がラインセンサーに投影される。処理部９は、このラインセンサーから出力された信号に対し公知のＦＦＴ（Ｆａｓｔ Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ：以下、ＦＦＴ）等の信号処理を施すことにより深さ方向の情報を取り出すことができる。

眼科装置１０００の各部は処理部９によって制御される。処理部９は、Ｚアライメント光源１１、ＸＹアライメント光源２１、ケラト板３１のケラトリング光源３２、光源４１、レフ測定光源６１、ＯＣＴ光源８１、視標チャート４２、合焦レンズ４３、７２、８５を制御する。処理部９は、更に、ＶＣＣレンズ４４、クイックリターンミラー６７、光路長変更ユニット９０、表示部１０などを制御する。

（角膜形状測定機能）
ケラト測定を行う場合、処理部９は、ケラトリング光源３２を点灯させる。角膜Ｋに投影された角膜形状測定用リング状光束の角膜による反射光束は、観察系５により撮像素子５９に前眼部像とともに投影される。処理部９は、撮像素子５９によって取得された像に対して所定の演算処理を施すことにより、角膜の形状を表すパラメータを算出する。

（レフ測定機能）
レフ測定（他覚屈折測定）を行う場合、処理部９は、レフ測定光源６１を点灯させる。レフ測定光源６１からの光は、前述のようにリング状の測定パターン光束となって被検眼Ｅに投影される。被検眼Ｅが正視（＝０Ｄ（ディオプター））の場合には、レフ測定光源６１と被検眼Ｅの眼底Ｅｆが共役となる位置がレフ測定光源６１と合焦レンズ７２の基準位置となっている。この状態で眼底Ｅｆに投影された光束は眼底Ｅｆで反射され、眼底Ｅｆからの戻り光に基づくリング像が撮像素子７４に結像される。また、結像されたリング像から算出される測定値（屈折値）に基づき、レフ測定光源６１と眼底Ｅｆが略共役となる位置にレフ測定光源６１と合焦レンズ７２とが移動される。処理部９は、撮像素子７４により検出された眼底Ｅｆからの戻り光に基づく像を解析し、レフ測定光源６１の移動量を加味することにより、被検眼Ｅの屈折力として球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ、および乱視軸角度Ａを求める。

レフ測定光源６１は、たとえばＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ Ｄｉｏｄｅ）のような広帯域の低コヒーレンス光を出力する。レフ測定光源６１は、たとえば、中心波長が８２０ｎｍ〜８８０ｎｍの範囲に含まれる低コヒーレンス光源である。これにより、測定光が視認されることによる被検者の負担を軽減しつつ、他覚屈折測定が可能になる。

（眼軸長測定機能）
眼軸長測定は、ＯＣＴ計測機能を用いて実行される。眼軸長測定を実行する場合、処理部９は、光路長変更ユニット９０を制御しつつ被検眼Ｅの角膜頂点から網膜までの距離を眼軸長として測定する。まず、処理部９は、ＯＣＴ光源８１を点灯させる。ＯＣＴ光源８１の点灯に同期して、光路長変更ユニット９０が制御される。具体的には、角膜用シャッター９５がビームスプリッター９２と角膜用参照ミラーユニット９６との間の光路に挿入され、網膜用シャッター９３がビームスプリッター９２と網膜用参照ミラーユニット９４との間の光路から退避される。ＯＣＴ光源８１からの光Ｌ０は、ファイバーカプラー８２により測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。測定光ＬＳは、上記のように被検眼Ｅの眼底Ｅｆに投影される。このとき、クイックリターンミラー６７は、光路外に退避されている。また、前述の被検眼Ｅの屈折力測定結果より、ファイバー８０ａの端面は被検眼Ｅの眼底Ｅｆと共役となるように合焦レンズ８５が移動されている。眼底Ｅｆで反射された光は同光路を戻りファイバー端面に投影され、ファイバーカプラー８２に到達する。

一方、参照光ＬＲは、コリメータレンズ９１により平行光となり、５０：５０のビームスプリッター９２により２つの光束（角膜用、網膜用）に分割される。ビームスプリッター９２により分割された網膜用の光束は、結像レンズ９４Ａにより参照ミラー（反射ミラー）９４Ｂに集光される。ビームスプリッター９２により分割された角膜用の光束は、結像レンズ９６Ａにより参照ミラー（反射ミラー）９６Ｂに集光される。ここで、前述のように、角膜用シャッター９５が光路に挿入され、且つ、網膜用シャッター９３が光路から退避されているので、参照ミラー９４Ｂから反射した光のみが、同光路を戻りファイバーカプラー８２に到達する。眼底Ｅｆおよび参照ミラー９４Ｂで反射した光は、ファイバーカプラー８２で合波され干渉信号（干渉光ＬＣ）として、分光器８３に導かれる。分光器８３では、空間的に波長分離された光がラインセンサーに投影される。処理部９は、このラインセンサーから出力された信号に対し公知のＦＦＴ等の信号処理を施すことにより深さ方向の情報を取り出すことができる。

網膜用参照ミラーユニット９４と角膜用参照ミラーユニット９６とは、被検眼Ｅの眼軸長に合わせて、干渉信号の位置が深さ方向で所定位置となるように移動される。たとえば、深さ方向に対するＦＦＴ後の干渉信号の強度変化を図５のように表す。この場合、図４に示すように網膜用参照ミラーユニット９４を光軸方向に移動させることにより、図５に示すように所定範囲内の所定位置となるように網膜による干渉信号ＳＣ０の位置を移動することができる。ここで、参照ミラー９６Ｂの位置については、固定されていてもよい。

更に、前述のＺアライメント投影系１を用いて角膜頂点座標が検出されるため、角膜頂点と対物レンズ５１の距離（作動距離）を常に一定距離内に合わせることが可能となる。ここで、角膜用シャッター９５が光路から退避されると、被検眼Ｅに投影された光のうち、被検眼Ｅの角膜Ｋで反射した光との干渉信号が分光器８３に同時に投影される。作動距離が所定範囲内である場合、参照ミラー９６Ｂは、網膜による干渉信号ＳＣ１と重ならないように角膜位置とは距離ｄだけ離れた位置になるように配置されている（図６）。したがって、図７（図５と同様に深さ方向に対するＦＦＴ後の干渉信号の強度変化を表す）に示すように、干渉信号計測範囲Ｒ内で、同時に２つの干渉信号（網膜による干渉信号ＳＣ１および角膜による干渉信号ＳＣ２）を取得することが可能となる。特に、図７に示すように信号感度ＳＣが変化する場合、信号成分の弱い網膜による干渉信号ＳＣ１を信号感度の高い計測範囲Ｒ１で検出し、信号成分の強い角膜による干渉信号ＳＣ２を信号感度の弱い計測範囲Ｒ２で検出する。それにより、２つの干渉信号を高精度に同時に取得することができる。

なお、ＯＣＴユニット８０がスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様の構成を有する場合、低コヒーレンス光を出力するＯＣＴ光源８１の代わりに波長掃引光源が設けられるとともに、干渉光をスペクトル分解する光学部材が設けられない。ＯＣＴユニット８０の構成については、ＯＣＴのタイプに応じた公知の技術を任意に適用することができる。

ＯＣＴ光源８１は、たとえばＳＬＤのような広帯域の低コヒーレンス光Ｌ０を出力する。ＯＣＴ光源８１は、たとえば、中心波長が８２０ｎｍ〜８８０ｎｍまたは１０４０〜１０６０ｎｍの範囲に含まれる低コヒーレンス光源である。これにより、測定光が視認されることによる被検者の負担を軽減しつつ、ＯＣＴ計測が可能になる。

なお、コリメータレンズ９１と参照ミラー９４Ｂ、９６Ｂとの間の参照光ＬＲの光路に、ガラスブロックや濃度フィルターが配置されていてもよい。ガラスブロックや濃度フィルターは、参照光ＬＲと測定光ＬＳの光路長（光学距離）を合わせるための遅延手段として作用する。また、ガラスブロックや濃度フィルターは、参照光ＬＲと測定光ＬＳの分散特性や網膜用参照ミラーユニット９４と角膜用参照ミラーユニット９６との分散特性を合わせるための手段として作用する。

分光器８３は、たとえば、コリメータレンズ、回折格子、結像レンズ、ＣＣＤを含んで構成される。分光器８３に入射した干渉光ＬＣは、コリメータレンズにより平行光束とされた後、回折格子によって分光（スペクトル分解）される。分光された干渉光ＬＣは、結像レンズによってＣＣＤの撮像面上に結像される。ＣＣＤは、この干渉光ＬＣを受光して電気的な検出信号に変換し、この検出信号を処理部９に出力する。処理部９は、ＣＣＤからの検出信号に基づいて、被検眼Ｅの断層のＯＣＴ情報（たとえば、画像データなど）を生成する。この処理には、従来のスペクトラルドメインタイプのＯＣＴと同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルター処理、ＦＦＴなどの処理が含まれている。

また、ＯＣＴユニット８０がスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様の構成を有する場合、分光器８３は、たとえば、光分岐器と、バランスドフォトダイオード（Ｂａｌａｎｃｅｄ Ｐｈｏｔｏ Ｄｉｏｄｅ：ＢＰＤ）とを含んで構成される。分光器８３に入射した干渉光ＬＣは、光分岐器により分割され、一対の干渉光に変換される。ＢＰＤは、一対の干渉光をそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを有し、これらによる検出信号（検出結果）の差分を処理部９に出力する。

なお、この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用したが、たとえばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜採用することが可能である。

（自覚測定機能）
自覚測定を行う場合、処理部９は視標チャート４２を制御し、所望の視標を表示させる。また、処理部９は、他覚測定の結果に応じた位置に合焦レンズ４３を移動させる。同様に、処理部９は、他覚測定で得られた被検眼Ｅの乱視状態（乱視度数、乱視軸角度）に基づいて、この乱視状態が矯正されるようにＶＣＣレンズ４４を制御することが可能である。乱視度数は、ＶＣＣレンズ４４を構成する２つのシリンダレンズを独立に互いに逆方向に回転させることにより変更可能である。乱視軸角度は、ＶＣＣレンズ４４を構成する２つのシリンダレンズを同方向に同じ角度だけ回転させることにより変更可能である。

検者または処理部９により視標が選択されると、処理部９は、視標チャート４２を制御し、所望の視標を表示させる。この視標からの光は、合焦レンズ４３、ＶＣＣレンズ４４、反射ミラー４５、ダイクロイックミラー５３および５２、対物レンズ５１を経由して眼底Ｅｆに投影される。

被検者は、眼底Ｅｆに投影された視標に対する応答を行う。たとえば、視力測定用の視標の場合には、被検者の応答により被検眼の視力値が決定される。たとえば、乱視検査の場合には、ドットチャートが駆動、表示され、被検者の応答により被検眼の乱視度数が決定される。視標の選択とそれに対する被検者の応答が、検者または処理部９の判断により繰り返し行われる。検者または処理部９は、被検者からの応答に基づいて視力値或いは処方値（Ｓ、Ｃ、Ａ）を決定する。

固視および自覚測定系４の構成、Ｚアライメント投影系１およびＸＹアライメントスポット投影系２の構成、ケラト系の構成、眼屈折力（レフ）の測定原理、自覚測定の測定原理、角膜形状の測定原理などは公知である。したがって、この実施形態では、これらについての詳細な説明は省略する。

（情報処理系の構成）
眼科装置１０００の情報処理系について説明する。眼科装置１０００の情報処理系の機能的構成の例を図８および図９に示す。情報処理系は、制御部１１０と、演算処理部１２０と、表示部１７０と、操作部１８０と、通信部１９０とを含む。制御部１１０は、演算処理部１２０、Ｚアライメント投影系１、ＸＹアライメントスポット投影系２、ケラト測定用リング投影系３、固視および自覚測定系４、観察系５、レフ測定投影系６、レフ測定受光系７、眼軸長測定系８を制御する。また、制御部１１０は、表示部１７０および通信部１９０を制御する。Ｚアライメント投影系１に対する制御として、Ｚアライメント光源１１に対する制御や、ラインセンサー１３に対する制御などがある。ＸＹアライメントスポット投影系２に対する制御として、ＸＹアライメント光源２１に対する制御などがある。ケラト測定用リング投影系３に対する制御として、ケラトリング光源３２に対する制御などがある。処理部９は、たとえば、制御部１１０と、演算処理部１２０とを含んで構成される。

（制御部１１０）
制御部１１０は、主制御部１１１と、記憶部１１２とを有する。制御部１１０は、たとえば、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ハードディスクドライブ等を含んで構成される。

（主制御部１１１）
主制御部１１１は、眼科装置１０００の各種制御を行う。主制御部１１１は、Ｚアライメント投影系１のＺアライメント光源１１やラインセンサー１３、ＸＹアライメントスポット投影系２のＸＹアライメント光源２１、ケラト測定用リング投影系３のケラトリング光源３２を制御する。それにより、Ｚアライメント光源１１やＸＹアライメント光源２１やケラトリング光源３２から出力される光の光量が変更されたり、点灯や非点灯が切り換えられたりする。また、ラインセンサー１３により検出された信号が取り込まれ、取り込まれた信号に基づくアライメント制御等が行われる。

主制御部１１１は、固視および自覚測定系４の光源４１、視標チャート４２、合焦レンズ４３、ＶＣＣレンズ４４を制御する。それにより、光源４１から出力される光の光量が変更されたり、点灯や非点灯が切り換えられたり、視標チャート４２に視標や固視標が表示されたり、合焦レンズ４３の光軸方向の位置が変更されたりする。また、ＶＣＣレンズ４４により被検眼Ｅの乱視状態が矯正されたりする。

主制御部１１１は、観察系５の撮像素子５９を制御する。それにより、撮像素子５９により取得された信号が取り込まれ、演算処理部１２０により画像の形成等が行われたりする。なお、観察系５が照明光源を含んで構成されている場合、主制御部１１１は照明光源を制御することが可能である。

主制御部１１１は、レフ測定投影系６のレフ測定光源６１、ロータリープリズム６６、クイックリターンミラー６７を制御する。それにより、レフ測定光源６１がレフ測定投影系６の光軸に沿って移動されたり、レフ測定光源６１から出力される光の光量が変更されたり、点灯や非点灯が切り換えられたりする。また、ロータリープリズム６６が回転されたり、クイックリターンミラー６７により光路が切り換えられたりする。

主制御部１１１は、レフ測定受光系７の合焦レンズ７２や撮像素子７４を制御する。それにより、合焦レンズ７２の光軸方向の位置が変更されたり、撮像素子７４により取得された信号が取り込まれ、演算処理部１２０により画像の形成等が行われたりする。

主制御部１１１は、レフ測定光源６１から出力される光の光量、撮像素子７４の検出感度、露光時間、および撮像素子７４により検出された光に基づく像の重ね合わせ枚数のうち少なくとも１つを変更することが可能である。それにより、レフ測定投影系６およびレフ測定受光系７を用いる測定の条件が変更される。

主制御部１１１は、眼軸長測定系８のＯＣＴ光源８１、分光器８３、合焦レンズ８５、ＸＹスキャナ８７、網膜用シャッター９３、角膜用シャッター９５、網膜用参照ミラーユニット９４、および角膜用参照ミラーユニット９６を制御する。それにより、ＯＣＴ光源８１から出力される光の光量が変更されたり、点灯や非点灯が切り換えられたり、分光器８３により取得された信号が取り込まれ、演算処理部１２０により画像の形成等が行われたり、合焦レンズ８５の光軸方向の位置が変更されたりする。また、被検眼Ｅに対する測定光ＬＳの入射位置が変更されたり、参照ミラーの位置が変更されたりする。主制御部１１１は、合焦レンズ８５をレフ測定光源６１および合焦レンズ７２に連動して眼軸長測定系８の光軸に沿って移動させてもよい。また、主制御部１１１は、更に合焦レンズ８５に連動して合焦レンズ４３を光軸に沿って移動させてもよい。

主制御部１１１は、ＯＣＴ光源８１から出力される光の光量、分光器８３の検出感度、露光時間、および分光器８３により検出された光に基づく像の重ね合わせ枚数のうち少なくとも１つを変更することが可能である。それにより、眼軸長測定系８を用いる測定の条件が変更される。

また、主制御部１１１は、記憶部１１２にデータを書き込む処理や、記憶部１１２からデータを読み出す処理を行う。

（記憶部１１２）
記憶部１１２は、各種のデータを記憶する。記憶部１１２に記憶されるデータとしては、たとえば、ＯＣＴ情報の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。測定情報は、眼科装置１０００の内部または外部にて被検眼Ｅの眼屈折力測定が行われたときに記憶部１１２に記憶される。また、記憶部１１２には、眼科装置１０００を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。

（表示部１７０、操作部１８０）
表示部１７０は、制御部１１０による制御を受けて情報を表示する。表示部１７０は、図１などに示す表示部１０を含む。

操作部１８０は、眼科装置１０００を操作するために使用される。操作部１８０は、眼科装置１０００に設けられた各種のハードウェアキー（ジョイスティック８００、ボタン、スイッチなど）を含む。また、操作部１８０は、タッチパネル式の表示画面１０ａに表示される各種のソフトウェアキー（ボタン、アイコン、メニューなど）を含む。

表示部１７０および操作部１８０の少なくとも一部が一体的に構成されていてもよい。その典型例として、タッチパネル式の表示画面１０ａがある。

（通信部１９０）
通信部１９０は、図１に示す外部装置９００と通信するための機能を有する。通信部１９０は、たとえば処理部９に設けられていてもよい。通信部１９０は、外部装置９００との通信の形態に応じた構成を有する。

（演算処理部１２０）
演算処理部１２０は、図９に示すように、眼屈折力算出部１２１と、眼軸長算出部１２２と、ＩＯＬ度数算出部１２３とを含む。眼屈折力算出部１２１は、第１屈折力算出部１２１Ａと、第２屈折力算出部１２１Ｂとを含む。また、演算処理部１２０は、ラインセンサー１３や撮像素子５９、７４や分光器８３により取得された信号を取り込み、各種の制御や画像の形成や解析等を行う。

眼屈折力算出部１２１は、被検眼Ｅの屈折力を算出する。眼屈折力算出部１２１は、レフ測定投影系６およびレフ測定受光系７を用いた屈折力測定において被検眼Ｅの屈折力を求めたり、眼軸長測定系８を用いた屈折力測定において被検眼Ｅの屈折力を求めたりする。主制御部１１１は、レフ測定投影系６およびレフ測定受光系７を用いた屈折力測定の測定結果に基づいて、眼軸長測定系８を用いて被検眼Ｅの屈折力測定を実行させることが可能である。レフ測定投影系６およびレフ測定受光系７を用いて屈折力測定が行われたとき、第１屈折力算出部１２１Ａにより被検眼Ｅの屈折力が求められる。眼軸長測定系８を用いて屈折力測定が行われたとき、第２屈折力算出部１２１Ｂにより被検眼Ｅの屈折力が求められる。

第１屈折力算出部１２１Ａは、被検眼Ｅに投影されたリング状の測定パターン光束の眼底Ｅｆからの戻り光に基づくリング像の形状を解析することにより被検眼Ｅの眼球光学系の屈折力を算出する。第１屈折力算出部１２１Ａは、たとえば、戻り光に基づくリング像が描出された画像を解析し、リング像の重心位置を求める。第１屈折力算出部１２１Ａは、画像内の画素値（輝度値）の分布を求めることによりリング像の重心に位置を求めることが可能である。次に、第１屈折力算出部１２１Ａは、求められた重心位置を中心にリング像の外周方向に延びる複数の走査方向について画素値（輝度値）を走査し、各走査方向の輝度分布を求める。第１屈折力算出部１２１Ａは、各走査方向の輝度分布から所定の輝度値の範囲内の中心位置を求めることによりリング像を特定し、特定されたリング像に対して楕円近似処理を行うことにより近似楕円を特定する。第１屈折力算出部１２１Ａは、特定された近似楕円の長径の長さと短径の長さとを用いた公知の式にしたがって、球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ、および乱視軸角度Ａを求める。また、第１屈折力算出部１２１Ａは、撮像素子７４によって取得されたリング像の基準パターンからの変形や変位を求め、求められた変形や変位から被検眼Ｅの屈折力を求めることが可能である。

第２屈折力算出部１２１Ｂは、眼軸長測定系８を用いたＯＣＴ計測により被検眼Ｅの少なくとも球面度数を求める。この実施形態では、第２屈折力算出部１２１Ｂは、球面度数として等価球面度数を求めることが可能である。第２屈折力算出部１２１Ｂは、ＯＣＴ計測において参照ミラー（たとえば、参照ミラー９４Ｂ）を移動させることにより干渉光ＬＣの検出信号のピーク値を探索してピーク位置を特定する。第２屈折力算出部１２１Ｂは、０Ｄの基準位置からの参照ミラーの移動量と、特定されたピーク位置の基準位置からのずれ量とに基づいて等価球面度数を求める。

また、眼屈折力算出部１２１は、観察系５の撮像素子５９によって取得されたケラトリング像を解析することにより、角膜屈折力や角膜乱視度や角膜乱視軸角度を算出することが可能である。たとえば、眼屈折力算出部１２１は、取得されたケラトリング像に対して演算処理を施すことにより角膜前面の強主経線や弱主経線の角膜曲率半径を算出し、算出された角膜曲率半径から角膜屈折力や角膜乱視度や角膜乱視軸角度を算出する。

眼軸長算出部１２２は、眼軸長測定系８を用いて取得された図７に示す２つの干渉信号を用いて被検眼Ｅの眼軸長を算出する。

ＩＯＬ度数算出部１２３は、被検眼Ｅの眼屈折力と眼軸長とを用いて、公知の計算式によりＩＯＬの度数を求める。なお、ＩＯＬ度数算出部１２３は、眼屈折力や眼軸長以外の眼球情報を用いて、ＩＯＬの度数を求めてもよい。このような眼球情報として、角膜厚、前房深度、水晶体厚などがある。

レフ測定投影系６、レフ測定受光系７、および演算処理部１２０（第１屈折力算出部１２１Ａ）は、この実施形態に係る「第１測定部」の一例である。レフ測定投影系６およびレフ測定受光系７は、この実施形態に係る「測定光学系」の一例である。撮像素子７４は、この実施形態に係る「第１検出部」の一例である。眼軸長測定系８および演算処理部１２０（第２屈折力算出部１２１Ｂ）は、この実施形態に係る「第２測定部」の一例である。ＯＣＴユニット８０は、この実施形態に係る「干渉光学系」の一例である。分光器８３は、この実施形態に係る「第２検出部」の一例である。

＜動作例＞
実施形態に係る眼科装置１０００の動作例について説明する。この実施形態では、被検眼Ｅに対する他覚屈折測定により得られた測定結果を用いてＩＯＬ度数を決定することができない場合に、眼軸長測定系８を用いたＯＣＴ計測により被検眼Ｅの少なくとも球面度数を求める。以下では、ＩＯＬ度数を決定することができない場合として、被検眼Ｅに対して投影されたリング状の測定パターン光束の戻り光に基づくリング像を取得することができないと判断された場合を例に説明するが、実施形態はこれに限定されるものではない。

図１０〜図１２に、この実施形態に係る眼科装置１０００の動作例のフロー図を示す。

（Ｓ１）
まず、被検者の顔を顔受け部５００で固定した後、操作部１８０に対する検者の操作を受け、制御部１１０は、Ｚアライメント光源１１やＸＹアライメント光源２１や光源４１を点灯させる。処理部９は、撮像素子５９の撮像面上に結像された前眼部像の撮像信号を取得し、表示部１７０（表示部１０の表示画面１０ａ）に前眼部像Ｅ’を表示させる。その後、ヘッド部４００が被検眼Ｅの検査位置に移動される。検査位置とは、被検眼Ｅの検査を行うことが可能な位置である。前述のアライメント（Ｚアライメント投影系１およびＸＹアライメントスポット投影系２と観察系５とによるアライメント）を介して被検眼Ｅが検査位置に配置される。ヘッド部４００の移動は、ユーザによる操作若しくは指示または制御部１１０による指示にしたがって、制御部１１０によって実行される。すなわち、被検眼Ｅの検査位置へのヘッド部４００の移動と、他覚測定を行うための準備とが行われる。

また、制御部１１０は、レフ測定光源６１と合焦レンズ７２、合焦レンズ８５、合焦レンズ４３が連動して、光軸に沿って原点、たとえば、０Ｄの位置に移動される。原点への移動は、ユーザによる操作若しくは指示または制御部１１０による指示にしたがって、制御部１１０によって実行される。ユーザによってフォーカス調整のための操作または指示が終了したとき、または制御部１１０によって公知の手法によりフォーカス調整が適正であると判定されたとき、眼科装置１０００の動作はＳ２に移行する。

（Ｓ２）
制御部１１０は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路上にクイックリターンミラー６７の反射面を配置させる。Ｓ２では、前述のようにレフ測定のためのリング状の測定パターン光束が被検眼Ｅに投影される。被検眼Ｅからの測定パターン光束の戻り光に基づくリング像が、撮像素子７４の結像面に結像される。

（Ｓ３）
制御部１１０は、Ｓ２において撮像素子７４により検出された眼底Ｅｆからの戻り光に基づくリング像を取得できたか否かを判定する。たとえば、制御部１１０は、撮像素子７４により検出された戻り光に基づく像のエッジの位置（画素）を検出し、像の幅（外径と内径との差）が所定値以上であるか否かを判定する、もしくは強度が所定の高さ以上の点（像）に基づいてリングを形成できるか否かを判定することにより、リング像を取得できたか否かを判定する。リング像を取得できたと判定されたとき（Ｓ３：Ｙ）、眼科装置１０００の動作はＳ４に移行する。原点、たとえば０Ｄの位置でリング像を取得できない場合、レフ測定光源６１と合焦レンズ７２、合焦レンズ８５、合焦レンズ４３を連動させて、たとえば＋１０Ｄ、−１０Ｄの位置へ移動し、同様の判定を行う。どの位置でもリング像を取得できないと判定されたとき（Ｓ３：Ｎ）、眼科装置１０００の動作はＳ１０に移行する。

（Ｓ４）
リング像を取得できたと判定されたとき（Ｓ３：Ｙ）、制御部１１０は、レフ測定を実行する。レフ測定では、第１屈折力算出部１２１Ａが、Ｓ２において投影された測定パターン光束、またはＳ４において新たに投影された測定パターン光束の戻り光に基づくリング像が前述のように解析される。それにより、球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ、および乱視軸角度Ａが求められる。制御部１１０では、算出された球面度数などが記憶部１１２に記憶される。制御部１１０からの指示、または操作部１８０に対するユーザの操作若しくは指示により、眼科装置１０００の動作はＳ５に移行する。

（Ｓ５）
制御部１１０は、ケラトリング光源３２を点灯させる。ケラトリング光源３２から光が出力されると、角膜Ｋに角膜形状測定用リング状光束光が投影される。眼屈折力算出部１２１は、撮像素子５９によって取得された像に対して演算処理を施すことにより、角膜曲率半径を算出し、算出された角膜曲率半径から角膜屈折力、角膜乱視度および角膜乱視軸角度を算出する。制御部１１０では、算出された角膜屈折力などが記憶部１１２に記憶される。制御部１１０からの指示、または操作部１８０に対するユーザの操作若しくは指示により、眼科装置１０００の動作はＳ６に移行する。

（Ｓ６）
制御部１１０は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー６７を退避させる。続いて、制御部１１０は、ＯＣＴ光源８１を点灯させ、前述のように眼軸長測定を実行させる。眼軸長算出部１２２は、眼軸長を算出する。制御部１１０では、算出された眼球情報が記憶部１１２に記憶される。眼軸長測定が終了したとき、眼科装置１０００の動作はＳ７に移行する。Ｓ７への移行は、制御部１１０からの指示、または操作部１８０に対するユーザの操作若しくは指示により行われる。

（Ｓ７）
制御部１１０は、たとえば、操作部１８０に対するユーザの指示に基づき、視標チャート４２を制御することにより所望の視標を表示させる。また、制御部１１０は、他覚測定の結果に応じた位置に合焦レンズ４３を移動させる。被検者は、眼底Ｅｆに投影された視標に対する応答を行う。たとえば、視力測定用の視標の場合には、被検者の応答により被検眼の視力値が決定される。視標の選択とそれに対する被検者の応答が、検者または制御部１１０の判断により繰り返し行われる。自覚測定が終了したとき、眼科装置１０００の動作はＳ８に移行する。Ｓ８への移行は、制御部１１０からの指示、または操作部１８０に対するユーザの操作若しくは指示により行われる。

（Ｓ８）
制御部１１０は、他覚測定で得られた被検眼Ｅの乱視状態（乱視度数、乱視軸角度）に基づいて、この乱視状態が矯正されるようにＶＣＣレンズ４４を制御する。被検者は、眼底Ｅｆに投影された視標に対する応答を行う。たとえば、視力測定用の視標の場合には、被検者の応答により被検眼の視力値が決定される。視標の選択とそれに対する被検者の応答が、検者または制御部１１０の判断により繰り返し行われる。検者または制御部１１０は、被検者からの応答に基づいて視力値或いは処方値（Ｓ、Ｃ、Ａ）を決定する。矯正が終了したとき、眼科装置１０００の動作はＳ９に移行する。Ｓ９への移行は、制御部１１０からの指示、または操作部１８０に対するユーザの操作若しくは指示により行われる。

（Ｓ９）
制御部１１０は、ＩＯＬ度数算出部１２３において、前述の測定で求められた被検眼Ｅの屈折力とＳ６において求められた眼軸長とを用いて、ＩＯＬの度数を求める。制御部１１０では、求められたＩＯＬ度数が記憶部１１２に記憶される。以上で、眼科装置１０００の動作は終了となる（エンド）。

（Ｓ１０）
Ｓ３においてリング像を取得できないと判定されたとき（Ｓ３：Ｎ）、制御部１００は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー６７を退避させ、ＯＣＴ光源８１を点灯させる。このとき、合焦レンズ８５は、たとえば０Ｄの位置に配置される。

（Ｓ１１）
制御部１１０は、網膜用参照ミラーユニット９４の参照ミラー９４Ｂを光軸に沿って移動させつつ、被検眼Ｅの眼底Ｅｆからの測定光ＬＳの戻り光により生成された干渉光ＬＣの検出信号の所定の波高値以上のピーク値を探索する。

（Ｓ１２）
ピーク値の探索によりピーク値が検出されたと判定されたとき（Ｓ１２：Ｙ）、眼科装置１０００の動作はＳ１３に移行する。原点、たとえば０Ｄの位置でピーク値が検出されない場合、レフ測定光源６１と合焦レンズ７２、合焦レンズ８５、合焦レンズ４３を連動させて、たとえば＋１０Ｄ、−１０Ｄの位置へ移動し、同様の判定を行う。どの位置でもピーク値の探索によりピーク値が検出されないと判定されたとき（Ｓ１２：Ｎ）、眼科装置１０００の動作はＳ１９に移行する。

（Ｓ１３）
Ｓ１２においてピーク値が検出されたと判定されたとき（Ｓ１２：Ｙ）、制御部１１０は、波高値がより高いピーク値が検出されるように合焦レンズ８５を移動させる。合焦レンズ８５に連動して、レフ測定受光系７の光軸に沿って合焦レンズ７２、レフ測定光源６１も移動される。

（Ｓ１４）
制御部１１０は、Ｓ１３における合焦レンズ８５等の移動により得られた新たなピーク値から白内障の進行度を示す評価値を算出する。

たとえば、白内障の進行度を水晶体の混濁状態に応じて複数の段階にあらかじめ分割することが可能である。各段階には、あらかじめ評価値が割り当てられている。水晶体の混濁状態はＳ１３において得られたピーク値に反映されるものと推定される。そこで、制御部１１０は、Ｓ１３において得られたピーク値が前述の複数の段階のいずれの段階であるかを特定することにより白内障の進行度を示す評価値を求めることができる。

（Ｓ１５）
次に、制御部１１０は、レフ測定条件を変更する。たとえば、制御部１１０は、Ｓ１５における第１変更制御として、第１変更量だけ検出感度を上げるように撮像素子７４を制御する。第１変更量は、あらかじめ決められた量であってもよいし、Ｓ１４において求められた評価値に基づいて決定されてもよい。検出感度を上げることにより、被検眼Ｅの眼底Ｅｆからの戻り光を検出しやすくなり、リング像を取得しやすくなる。

また、制御部１１０は、Ｓ１５における第２変更制御として、撮像素子７４に対して第１変更時間だけ露光時間が長くなるように制御したり、撮像素子７４により検出された光に基づく像の重ね合わせ枚数を第１変更枚数だけ増やすように制御してもよい。たとえば、第１変更時間や第１変更枚数は、あらかじめ決められた時間や枚数であってもよいし、Ｓ１４において求められた評価値に基づいて決定されてもよい。露光時間を長くしたり像の重ね合わせ枚数を増やすことにより、被検眼Ｅの眼底Ｅｆからの戻り光を検出しやすくなり、リング像を取得しやすくなる。

更に、制御部１１０は、Ｓ１５における第３変更制御として、第２変更量だけ光の光量を上げるようにレフ測定光源６１を制御してもよい。たとえば、第２変更量は、あらかじめ決められた量であってもよいし、Ｓ１４において求められた評価値に基づいて決定されてもよい。光源の光量を上げることにより、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに到達する光量を上げ、戻り光の光量を上げることができる。

Ｓ１５では、第１変更制御、第２変更制御、および第３変更制御の少なくとも１つが実行される。また、第１変更制御、第２変更制御、および第３変更制御のうち実行される制御内容が、Ｓ１４において求められた評価値に基づいて決定されてもよい。たとえば、第１変更制御、第２変更制御、および第３変更制御が、評価値に基づいて択一的に選択される。また、たとえば、第１変更制御、第２変更制御、および第３変更制御の優先順序でＳ１５の制御内容が決定されてもよい。

（Ｓ１６）
次に、制御部１１０は、Ｓ１５において測定条件が変更されたレフ測定により眼底Ｅｆからの戻り光に基づくリング像を取得できたか否かをＳ３と同様に判定する。リング像を取得できたと判定されたとき（Ｓ１６：Ｙ）、眼科装置１０００の動作はＳ４に移行し、再びレフ測定を実行する。一方、リング像を取得できないと判定されたとき（Ｓ１６：Ｎ）、眼科装置１０００の動作はＳ１７に移行する。

（Ｓ１７）
リング像を取得できないと判定されたとき（Ｓ１６：Ｎ）、制御部１１０は、リトライを実行するか否かを判定する。たとえば、制御部１１０は、Ｓ１７において過去にリトライが実行された回数が所定回数以下であるか否かを判定することにより、リトライを実行するか否かを判定する。リトライを実行すると判定されたとき（Ｓ１７：Ｙ）、眼科装置１０００の動作はＳ１５に移行する。リトライを実行しないと判定されたとき（Ｓ１７：Ｎ）、眼科装置１０００の動作はＳ１８に移行する。

（Ｓ１８）
リトライを実行しないと判定されたとき（Ｓ１７：Ｎ）、制御部１１０は、第２屈折力算出部１２１Ｂにおいて、前述の通り、少なくとも球面度数を求める。Ｓ１８の詳細については後述する。眼科装置１０００の動作はＳ５に移行する。

（Ｓ１９）
Ｓ１２においてピーク値が検出されないと判定されたとき（Ｓ１２：Ｎ）、制御部１１０は、ＯＣＴ計測条件を変更する。たとえば、制御部１１０は、Ｓ１９における第４変更制御として、第２変更量だけ検出感度を上げるよう分光器８３を制御する。第２変更量は、あらかじめ決められた量であってもよいし、Ｓ１１において探索されたピーク値の最大値に基づいて決定されてもよい。検出感度を上げることにより、被検眼Ｅの眼底Ｅｆからの戻り光に基づく干渉光を検出しやすくなる。

また、制御部１１０は、Ｓ１９における第５変更制御として、分光器８３に対して第２変更時間だけ露光時間が長くなるように制御したり、分光器８３により検出された光に基づく像の重ね合わせ枚数を第２変更枚数だけ増やすように制御してもよい。たとえば、第２変更時間や第２変更枚数は、あらかじめ決められた時間や枚数であってもよいし、Ｓ１１において探索されたピーク値の最大値に基づいて決定されてもよい。露光時間を長くしたり像の重ね合わせ枚数を増やすことにより、被検眼Ｅの眼底Ｅｆからの戻り光に基づく干渉光を検出しやすくなる。

更に、制御部１１０は、Ｓ１９における第６変更制御として、第３変更量だけ光の光量を上げるようにＯＣＴ光源８１を制御するようにしてもよい。たとえば、第３変更量は、あらかじめ決められた量であってもよいし、Ｓ１１において探索されたピーク値の最大値に基づいて決定されてもよい。光源の光量を上げることにより、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに到達する光量を上げ、戻り光に基づく干渉光の光量を上げることができる。

Ｓ１９では、第４変更制御、第５変更制御、および第６変更制御の少なくとも１つが実行される。また、第４変更制御、第５変更制御、および第６変更制御のうち実行される制御内容が、Ｓ１１において探索されたピーク値の最大値に基づいて決定されてもよい。たとえば、第４変更制御、第５変更制御、および第６変更制御が、探索されたピーク値の最大値に基づいて択一的に選択される。また、たとえば、第４変更制御、第５変更制御、および第６変更制御の優先順序でＳ１９の制御内容が決定されてもよい。

（Ｓ２０）
制御部１１０は、Ｓ１２と同様に、網膜用参照ミラーユニット９４の参照ミラー９４Ｂを光軸に沿って移動させつつ、被検眼Ｅの眼底Ｅｆからの測定光ＬＳの戻り光により生成された干渉光ＬＣの検出信号の所定の波高値以上のピーク値を探索する。

（Ｓ２１）
ピーク値の探索によりピーク値が検出されたと判定されたとき（Ｓ２１：Ｙ）、眼科装置１０００の動作はＳ１３に移行する。ピーク値の探索によりピーク値が検出されないと判定されたとき（Ｓ２１：Ｎ）、眼科装置１０００の動作はＳ２２に移行する。

（Ｓ２２）
ピーク値が検出されないと判定されたとき（Ｓ２１：Ｎ）、制御部１１０は、Ｓ２２において過去にリトライが実行された回数が所定回数以下であるか否かを判定することにより、リトライを実行するか否かを判定する。リトライを実行すると判定されたとき（Ｓ２２：Ｙ）、眼科装置１０００の動作はＳ１９に移行する。リトライを実行しないと判定されたとき（Ｓ２２：Ｎ）、眼科装置１０００の動作はＳ２３に移行する。

（Ｓ２３）
リトライを実行しないと判定されたとき（Ｓ２２：Ｎ）、制御部１１０は、測定エラー処理を実行する。測定エラー処理は、測定エラーである旨を表示部１７０に表示する処理を含む。測定エラー処理は、当該測定により信頼性の高い値の取得が不可能であった旨を表示部１７０に表示する処理を含んでもよい。以上で、眼科装置１０００の動作は終了する（エンド）。

図１３に、図１２のＳ１８の球面度数の算出処理の処理例のフロー図を示す。

（Ｓ３１）
眼科装置１０００の動作がＳ１８に移行すると、制御部１１０は、Ｓ１１において探索された干渉光ＬＣの検出信号のピーク値のうち所定の波高値以上のピーク値を取得する。なお、所定の波高値以上のピーク値を取得できない場合には、探索されたピーク値の最大値を取得するようにしてもよい。

（Ｓ３２）
制御部１１０は、第２屈折力算出部１２１Ｂにおいて、球面度数として等価球面度数を求める。第２屈折力算出部１２１Ｂは、Ｓ３１においてピーク値が最大となる合焦ミラー８５の位置を特定し、０Ｄの基準位置からの合焦ミラー８５の移動量に基づいて等価球面度数を求める。以上で、制御部１１０は球面度数の算出処理の処理を終了する（エンド）。

Ｓ１０〜Ｓ２２、Ｓ３１〜Ｓ３２は、実施形態に係る「新たな測定」の一例である。Ｓ１３〜Ｓ１７は、実施形態に係る「第１測定制御」の一例である。

［効果］
実施形態に係る眼科装置１０００の効果について説明する。

実施形態に係る眼科装置（たとえば、眼科装置１０００）は、第１測定部（たとえば、レフ測定投影系６、レフ測定受光系７、第１屈折力算出部１２１Ａ）と、第２測定部（たとえば、眼軸長測定系８、第２屈折力算出部１２１Ｂ）と、制御部（たとえば、制御部１１０）とを含む。第１測定部は、第１光源（たとえば、レフ測定光源６１）からの光を被検眼（たとえば、被検眼Ｅ）に照射し、その戻り光を検出することにより被検眼の屈折力を測定する。第２測定部は、第２光源（たとえば、ＯＣＴ光源８１）からの光を参照光（たとえば、参照光ＬＲ）と測定光（たとえば、測定光ＬＳ）とに分割し、測定光を被検眼に照射し、測定光の戻り光と参照光との干渉光（たとえば、干渉光ＬＣ）を検出することにより被検眼の少なくとも球面度数を求める。制御部は、第１測定部による測定結果に基づいて、第２測定部に新たな測定を実行させる。

このような構成によれば、第１測定部で被検眼Ｅの屈折力を測定することができない場合であっても、第２測定部を用いて少なくとも球面度数を求めることができる。それにより、白内障が進行した場合であってもＩＯＬの度数を決定することが可能である。

また、第１測定部は、被検眼に測定パターンを投影し、被検眼からの戻り光に基づくパターン像の形状を解析することにより屈折力を測定し、制御部は、パターン像の形状の解析結果に基づいて新たな測定を第２測定部に実行させてもよい。

このような構成によれば、測定パターンの戻り光に基づくパターン像を解析することにより第１測定部による測定ができたか否かを判定することができる。それにより、測定パターンの戻り光に基づくパターン像を用いて被検眼Ｅの屈折力を測定することができない場合であっても、少なくとも球面度数を求めることができる。それにより、白内障が進行した場合であってもＩＯＬの度数を決定することが可能である。

また、制御部は、新たな測定を第２測定部に実行させる前に、第１測定部の測定条件を変更して屈折力の測定を再実行させることにより得られたパターン像の形状を解析する第１測定制御を実行し、第１測定制御におけるパターン像の形状の解析結果に応じて、第１測定部による再測定または第２測定部による新たな測定を実行させてもよい。

このような構成によれば、第１測定部の測定条件を変更しつつ第１測定部による測定が可能か否かを判定し、可能であると判定されたとき第１測定部による再測定を実行させるようにしたので、第１測定部を用いてできるだけ正確な測定値を取得することできる。

また、制御部は、新たな測定を第２測定部に実行させる前に、測定光の戻り光のピーク位置の検出を行い、ピーク位置が検出された場合に第１測定制御を実行し、ピーク位置が検出されない場合に、第２測定部の測定条件を変更して少なくとも球面度数の測定を再実行させることにより得られた新たな戻り光のピーク位置が検出されたとき第１測定制御を実行するようにしてもよい。

このような構成によれば、第２測定部の測定条件を変更しつつ第２測定部による測定が可能か否かを判定し、可能であると判定されたとき第２測定部による再測定を実行させるようにしたので、第２測定部を用いてできるだけ正確な測定値を取得することができる。

また、第１測定部は、測定光学系（たとえば、レフ測定投影系６、レフ測定受光系７）と、第１検出部（たとえば、撮像素子７４）と、第１屈折力算出部（たとえば、第１屈折力算出部１２１Ａ）とを含んでもよい。測定光学系は、第１光源からの光を被検眼に照射し、被検眼からの戻り光を導く。第１検出部は、測定光学系により導かれた戻り光を検出する。第１屈折力算出部は、第１検出部により得られた戻り光の検出結果に基づいて被検眼の屈折力を求める。制御部は、第１光源からの光の光量、第１検出部による戻り光の検出感度、第１検出部における戻り光の露光時間、および第１検出部により検出された戻り光に基づく像の重ね合わせ枚数のうち少なくとも１つを変更することにより、第１測定部の測定条件を変更する。

このような構成によれば、第１光源や第１検出部などを制御することにより第１測定部の測定条件を変更するようにしたので、白内障が進行した場合に簡素な制御でＩＯＬの度数を決定することができる。

また、第２測定部は、干渉光学系（たとえば、ＯＣＴユニット８０）と、第２検出部（たとえば、分光器８３）と、第２屈折力算出部（たとえば、第２屈折力算出部１２１Ｂ）とを含んでもよい。干渉光学系は、第２光源からの光を参照光と測定光とに分割し、測定光を被検眼に照射し、その戻り光と参照光との干渉光を生成する。第２検出部は、干渉光を検出する。第２屈折力算出部は、第２検出部により得られた干渉光の検出結果に基づいて少なくとも球面度数を求める。制御部は、第２光源からの光の光量、第２検出部による干渉光の検出感度、第２検出部における干渉光の露光時間、および第２検出部により検出された干渉光に基づく像の重ね合わせ枚数のうち少なくとも１つを変更することにより、第２測定部の測定条件を変更する。

このような構成によれば、第２光源や第２検出部などを制御することにより第２測定部の測定条件を変更するようにしたので、白内障が進行した場合に簡素な制御でＩＯＬの度数を決定することができる。

また、測定パターンは、リング状のパターンであってもよい。

このような構成によれば、第１測定部によりリング上の測定パターンを用いて被検眼の屈折力を測定するようにしたので、一般的なレフ測定を利用しつつ、白内障が進行した場合であってもＩＯＬの度数を決定することができる。

また、第２測定部は、眼軸長算出部（たとえば、眼軸長算出部１２２）を含んでもよい。眼軸長算出部は、干渉光を検出することにより被検眼の眼軸長を求める。

このような構成によれば、第１測定部で被検眼Ｅの屈折力を測定することができない場合に、ＩＯＬの度数の算出に用いられる眼軸長の測定系を流用しつつ少なくとも球面度数を求めるようにしたので、ＩＯＬの度数を決定するための装置の小型化が可能になる。

＜変形例＞
前述の実施形態では、第２屈折力算出部１２１Ｂが眼軸長測定系８を用いて球面度数（等価球面度数）だけを求める場合について説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。実施形態の変形例に係る第２屈折力算出部は、眼軸長測定系を用いて球面度数、乱視度数、および乱視軸角度を求める。

実施形態の変形例に係る眼科装置の構成および動作は、実施形態に係る眼科装置の構成および動作とほぼ同様である。以下では、前述の実施形態と同様の部分について符号をそのまま用い、本変形例について実施形態との相違点を中心に説明する。

本変形例に係る眼科装置は、図１２のＳ１８において、以下のように眼軸長測定系を用いて球面度数、乱視度数、および乱視軸角度を求めることができる。

図１４に、本変形例に係る図１２のＳ１８の処理例のフロー図を示す。図１５および図１６に、図１４のＳ４３、Ｓ４４の動作説明図を示す。

（Ｓ４１）
本変形例では、眼科装置の動作がＳ１８に移行すると、制御部１１０は、Ｓ１１において探索された干渉光ＬＣの検出信号のピーク値のうち所定の波高値以上のピーク値を取得する。なお、所定の波高値以上のピーク値を取得できない場合には、ピーク値の最大値を取得するようにしてもよい。

（Ｓ４２）
制御部１１０は、ＸＹスキャナ８７により測定光ＬＳを偏向することにより、当該測定光ＬＳで被検眼Ｅの瞳上を円形スキャンする（たとえば、直径３ｍｍの円周上）。たとえば、図１５に示すように、スキャン位置Ｐ１〜Ｐ８でスキャンされる。

（Ｓ４３）
第２屈折力算出部１２１Ｂは、スキャン位置Ｐ１〜Ｐ８の各スキャン位置で合焦レンズ８５をピーク値が最大となる位置に移動し、その位置から球面度数を求める。Ｓ４３では、たとえばＳ３１〜Ｓ３２と同様に、各スキャン位置において球面度数（等価球面度数）が求められる。

（Ｓ４４）
第２屈折力算出部１２１Ｂは、Ｓ４３において求められた各スキャン位置での球面度数の分布から球面度数、乱視度数、および乱視軸角度（レフ値）を求める。

各スキャン位置では、前述の合焦レンズ８５の位置、すなわち球面度数が乱視度数分だけずれる。第２屈折力算出部１２１Ｂは、スキャン位置Ｐ１〜Ｐ８の各スキャン位置で取得された球面度数を解析することにより被検眼Ｅの球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ、および乱視軸角度Ａを求めることが可能である。たとえば、第２屈折力算出部１２１Ｂは、Ｓ４３で求められた各スキャン位置での球面度数の平均値を求め、求められた平均値を光軸中心位置（重心位置）Ｃ１からの各位置までの距離（円形スキャンの半径）と対応付ける。第２屈折力算出部１２１Ｂは、各スキャン位置における球面度数と当該平均値との差分を求める。第２屈折力算出部１２１Ｂは、中心位置Ｃ１を基準に、各スキャン位置での差分を加味した新たな位置Ｐ１´〜Ｐ８´を特定し、特定された新たな位置に対して楕円近似処理を行うことにより近似楕円ＡＥを特定する（図１６）。第２屈折力算出部１２１Ｂは、特定された近似楕円ＡＥの長径ＤＬの長さと短径ＤＳの長さとを用いた公知の式にしたがって、球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ、および乱視軸角度Ａを求める。

以上で、制御部１１０は本変形例に係る図１２のＳ１８の処理を終了する（エンド）。

このような構成によれば、レフ測定で被検眼Ｅの屈折力を測定することができない場合であっても、眼軸長測定系を用いて球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ、および乱視軸角度Ａを求めることができる。それにより、白内障が進行した場合であってもＩＯＬの度数を従来より高精度に求めることが可能になる。

（その他の変形例）
以上に示された実施形態またはその変形例は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。

上記の実施形態またはその変形例では、眼軸長測定系を用いて眼軸長を求める例について説明したが、眼軸長測定系を用いて角膜厚や前房深度や水晶体厚についても同様に求めることが可能である。

上記の実施形態またはその変形例において説明した光学素子やその配置に限定されるものではない。たとえば、上記の実施形態またはその変形例におけるハーフミラーに代えてビームスプリッターが設けられてもよい。

眼圧測定機能、眼底撮影機能、前眼部撮影機能、光干渉断層撮影（ＯＣＴ）機能、超音波検査機能など、眼科分野において使用可能な任意の機能を有する装置に対して、上記の実施形態またはその変形例に係る発明を適用することが可能である。なお、眼圧測定機能は眼圧計等により実現され、眼底撮影機能は眼底カメラや走査型検眼鏡（ＳＬＯ）等により実現され、前眼部撮影機能はスリットランプ等により実現される。ＯＣＴ機能は光干渉断層計等により実現され、超音波検査機能は超音波診断装置等により実現される。また、このような機能のうち２つ以上を具備した装置（複合機）に対してこの発明を適用することも可能である。

また、上記の実施形態とその変形例の適用が可能なシステムにおいて、動作モードの切り替えにより上記の実施形態とその変形例を択一的に適用にすることが可能である。

１ Ｚアライメント投影系
２ ＸＹアライメントスポット投影系
３ ケラト測定用リング投影系
４ 固視および自覚測定系
５ 観察系
６ レフ測定投影系
７ レフ測定受光系
８ 眼軸長測定系
９ 処理部
１０、１７０ 表示部
８０ ＯＣＴユニット
１１０ 制御部
１１１ 主制御部
１１２ 記憶部
１２０ 演算処理部
１２１ 眼屈折力算出部
１２１Ａ 第１屈折力算出部
１２１Ｂ 第２屈折力算出部
１２２ 眼軸長算出部
１２３ ＩＯＬ度数算出部
１０００ 眼科装置

Claims (4)

1. レフ測定光源から出力された光を測定パターン光束として被検眼の眼底に投影するレフ測定投影系と、
   前記レフ測定投影系により前記眼底に投影された前記測定パターン光束の戻り光を受光するレフ測定受光系と、
   前記レフ測定受光系により受光された前記戻り光に基づく像を解析して前記被検眼の屈折力を求める処理部と
   を含み、
   前記レフ測定光源は、前記被検眼の前記眼底と光学的に略共役な位置に配置され、
   前記レフ測定投影系は、円錐プリズムと、リレーレンズと、パターン部分が形成された絞りとを含み、
   前記円錐プリズムは、前記レフ測定光源から出力された前記光を、前記リレーレンズを介して前記絞りの前記パターン部分に集光させ、
   前記絞りの前記パターン部分を通過した前記光が前記測定パターン光束となる
   ことを特徴とする眼科装置。
2. 前記レフ測定光源は、前記レフ測定投影系の光軸に沿って移動可能であり、
   前記レフ測定光源が前記眼底と光学的に略共役な位置に配置されるように前記レフ測定光源が移動される
   ことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
3. 前記戻り光に基づく像から前記処理部により算出された測定値に基づき前記レフ測定光源が移動される
   ことを特徴とする請求項２に記載の眼科装置。
4. 前記レフ測定光源は、中心波長が８２０ｎｍ〜８８０ｎｍの範囲に含まれる低コヒーレンス光源である
   ことを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の眼科装置。

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