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JP2018072155A - 半導体スイッチ制御装置 - Google Patents

半導体スイッチ制御装置 Download PDF

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JP2018072155A JP2016212143A JP2016212143A JP2018072155A JP 2018072155 A JP2018072155 A JP 2018072155A JP 2016212143 A JP2016212143 A JP 2016212143A JP 2016212143 A JP2016212143 A JP 2016212143A JP 2018072155 A JP2018072155 A JP 2018072155A
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Abstract

【課題】半導体スイッチの故障を判定する場合に大型化を抑制することができる半導体スイッチ制御装置を提供する。【解決手段】半導体スイッチ制御装置1は、高電圧バッテリHVと高電圧負荷2との間で双方向に流れる電流を通電又は遮断する双方向遮断回路10と、双方向遮断回路10の電圧を検出するための抵抗Rと、抵抗Rに印加される電圧を検出する第一電圧検出部30と、第一電圧検出部30により検出された第一検出電圧Vdに基づいて、双方向遮断回路10の故障を判定する制御部50とを備える。双方向遮断回路10は、ソース端子同士が直列に接続されるFET10B及びFET10Aと、ソース端子同士が直列に接続されるFET10D及びFET10Cとを有する。抵抗Rは、FET10B及びFET10Aのソース端子間に一端が接続され、FET10D及びFET10Cのソース端子間に他端が接続される。【選択図】図1

Description

本発明は、半導体スイッチ制御装置に関する。
従来、電気自動車やハイブリッド電気自動車等は、例えば、駆動モータ等の高電圧負荷と、当該高電圧負荷を駆動するための高電圧バッテリとが搭載され、保安を目的として高電圧バッテリから高電圧負荷に流れる電流を通電又は遮断するスイッチが設けられている。このスイッチは主に機械式リレーが用いられるが、近年、半導体スイッチを用いることが増えてきている。特許文献1には、システムの信頼性を向上させるために半導体スイッチの故障を検出する半導体スイッチの故障検出回路が開示されている。
特開2007−285969号公報
ところで、半導体スイッチの故障検出回路は、回路の構成要素が増加して大型化する傾向がある。
そこで、本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、半導体スイッチの故障を判定する場合に大型化を抑制することができる半導体スイッチ制御装置を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る半導体スイッチ制御装置は、電源と負荷との間に設置され、前記電源と前記負荷との間で双方向に流れる電流を通電又は遮断する半導体スイッチモジュールと、前記半導体スイッチモジュールの電圧を検出するための抵抗と、前記抵抗に印加される電圧を検出する第一電圧検出部と、前記第一電圧検出部により検出された第一検出電圧に基づいて前記半導体スイッチモジュールを制御する制御部と、を備え、前記半導体スイッチモジュールは、第一半導体スイッチモジュールと、前記第一半導体スイッチモジュールに並列に接続される第二半導体スイッチモジュールとを有し、前記第一半導体スイッチモジュールは、前記電流が流れる方向である順方向にボディダイオードが配置される第一順方向スイッチと、前記第一順方向スイッチと隣接して配置され、前記順方向とは逆の方向である逆方向にボディダイオードが配置される第一逆方向スイッチと、を有し、前記第一順方向スイッチと前記第一逆方向スイッチとは、ソース端子同士が直列に接続され、一方のドレイン端子が前記電源に接続され、他方のドレイン端子が前記負荷に接続され、前記第二半導体スイッチモジュールは、前記順方向にボディダイオードが配置される第二順方向スイッチと、前記第二順方向スイッチと隣接して配置され、前記逆方向にボディダイオードが配置される第二逆方向スイッチと、を有し、前記第二順方向スイッチと前記第二逆方向スイッチとは、ソース端子同士が直列に接続され、一方のドレイン端子が前記電源に接続され、他方のドレイン端子が前記負荷に接続され、前記抵抗は、前記第一順方向スイッチと前記第一逆方向スイッチとの間の前記ソース端子間に一端が接続され、前記第二順方向スイッチと前記第二逆方向スイッチとの間の前記ソース端子間に他端が接続され、前記制御部は、前記第一電圧検出部により検出された前記第一検出電圧に基づいて、前記半導体スイッチモジュールの故障を判定することを特徴とする。
また、本発明に係る半導体スイッチ制御装置は、電源と負荷との間に設置され、前記電源と前記負荷との間で双方向に流れる電流を通電又は遮断する半導体スイッチモジュールと、前記半導体スイッチモジュールの電圧を検出するための抵抗と、前記抵抗に印加される電圧を検出する第一電圧検出部と、前記第一電圧検出部により検出された第一検出電圧に基づいて前記半導体スイッチモジュールを制御する制御部と、を備え、前記半導体スイッチモジュールは、第一半導体スイッチモジュールと、前記第一半導体スイッチモジュールに並列に接続される第二半導体スイッチモジュールとを有し、前記第一半導体スイッチモジュールは、前記電流が流れる方向である順方向にボディダイオードが配置される第一順方向スイッチと、前記第一順方向スイッチと隣接して配置され、前記順方向とは逆の方向である逆方向にボディダイオードが配置される第一逆方向スイッチと、を有し、前記第一順方向スイッチと前記第一逆方向スイッチとは、ドレイン端子同士が直列に接続され、一方のソース端子が前記電源に接続され、他方のソース端子が前記負荷に接続され、前記第二半導体スイッチモジュールは、前記順方向にボディダイオードが配置される第二順方向スイッチと、前記第二順方向スイッチと隣接して配置され、前記逆方向にボディダイオードが配置される第二逆方向スイッチと、を有し、前記第二順方向スイッチと前記第二逆方向スイッチとは、ドレイン端子同士が直列に接続され、一方のソース端子が前記電源に接続され、他方のソース端子が前記負荷に接続され、前記抵抗は、前記第一順方向スイッチと前記第一逆方向スイッチとの間の前記ドレイン端子間に一端が接続され、前記第二順方向スイッチと前記第二逆方向スイッチとの間の前記ドレイン端子間に他端が接続され、前記制御部は、前記第一電圧検出部により検出された前記第一検出電圧に基づいて、前記半導体スイッチモジュールの故障を判定することを特徴とする。
また、上記半導体スイッチ制御装置において、前記制御部は、前記第一順方向スイッチ、前記第一逆方向スイッチ、前記第二順方向スイッチ、及び、前記第二逆方向スイッチを全てオン指令している場合において、前記第一検出電圧と予め定められた第一基準電圧とのずれ量に基づいて、前記第一順方向スイッチ、前記第一逆方向スイッチ、前記第二順方向スイッチ、又は、前記第二逆方向スイッチのいずれかがオフ状態であるオフ状態故障と判定することが好ましい。
また、上記半導体スイッチ制御装置において、前記制御部は、前記第一検出電圧と前記第一基準電圧との前記ずれ量が正電圧である場合、前記第一順方向スイッチ、又は、前記第二逆方向スイッチのいずれかがオフ状態故障と判定し、前記第一検出電圧と前記第一基準電圧との前記ずれ量が負電圧である場合、前記第一逆方向スイッチ、又は、前記第二順方向スイッチのいずれかがオフ状態故障と判定することが好ましい。
また、上記半導体スイッチ制御装置において、前記負荷に印加される電圧を検出する第二電圧検出部を備え、前記制御部は、前記第二電圧検出部により検出された第二検出電圧に基づいて、前記半導体スイッチモジュールの故障を判定することが好ましい。
また、上記半導体スイッチ制御装置において、前記制御部は、前記半導体スイッチモジュールの前記オフ状態故障において、前記第二電圧検出部により検出された第二検出電圧と、前記第一順方向スイッチ、前記第一逆方向スイッチ、前記第二順方向スイッチ、及び、前記第二逆方向スイッチをオンオフする指令値とに基づいて、前記第一順方向スイッチ、前記第一逆方向スイッチ、前記第二順方向スイッチ、又は、前記第二逆方向スイッチのいずれが前記オフ状態故障であるかを特定することが好ましい。
また、上記半導体スイッチ制御装置において、前記制御部は、前記第一順方向スイッチ、前記第一逆方向スイッチ、前記第二順方向スイッチ、及び、前記第二逆方向スイッチを全てオフ指令している場合において、前記第二検出電圧が基準電圧を超過する場合、前記第一逆方向スイッチ、又は、前記第二逆方向スイッチの少なくとも一方がオン状態であるオン状態故障と判定することが好ましい。
また、上記半導体スイッチ制御装置において、前記制御部は、前記第一逆方向スイッチ及び前記第二逆方向スイッチを全てオン指令し、かつ、前記第一順方向スイッチ及び前記第二順方向スイッチを全てオフ指令している場合において、前記第二検出電圧が前記電源の電圧と同等である場合、前記第一順方向スイッチ、又は、前記第二順方向スイッチの少なくとも一方が前記オン状態故障であると判定することが好ましい。
また、上記半導体スイッチ制御装置において、前記制御部は、前記半導体スイッチモジュールの前記オン状態故障において、前記第一電圧検出部により検出された前記第一検出電圧と、前記第一順方向スイッチ、前記第一逆方向スイッチ、前記第二順方向スイッチ、及び、前記第二逆方向スイッチをオンオフする指令値とに基づいて、前記第一順方向スイッチ、前記第一逆方向スイッチ、前記第二順方向スイッチ、又は、前記第二逆方向スイッチのいずれが前記オン状態故障であるかを特定することが好ましい。
本発明に係る半導体スイッチ制御装置は、電源と負荷との間に設置され、電源と負荷との間で双方向に流れる電流を通電又は遮断する半導体スイッチモジュールと、半導体スイッチモジュールの電圧を検出するための抵抗と、抵抗に印加される電圧を検出する第一電圧検出部と、第一電圧検出部により検出された第一検出電圧に基づいて、半導体スイッチモジュールの故障を判定する制御部と、を備える。半導体スイッチモジュールは、ソース端子同士が直列に接続される第一順方向スイッチ及び第一逆方向スイッチと、ソース端子同士が直列に接続される第二順方向スイッチ及び第二逆方向スイッチとを有する。抵抗は、第一順方向スイッチ及び第一逆方向スイッチのソース端子間に一端が接続され、第二順方向スイッチ及び第二逆方向スイッチのソース端子間に他端が接続される。これにより、半導体スイッチ制御装置は、1つの抵抗を用いて半導体スイッチモジュールの故障を判定することができるので装置の大型化を抑制することができる。
図1は、実施形態1に係る半導体スイッチ制御装置の構成例を示すブロック図である。 図2は、実施形態1に係る半導体スイッチモジュールの動作例を示す回路図である。 図3は、実施形態1に係る半導体スイッチモジュールのFET10BのOFF状態故障例を示す回路図である。 図4は、実施形態1に係る半導体スイッチモジュールのFET10CのOFF状態故障例を示す回路図である。 図5は、実施形態1に係る半導体スイッチモジュールのFET10DのOFF状態故障例を示す回路図である。 図6は、実施形態1に係る半導体スイッチモジュールのFET10AのOFF状態故障例を示す回路図である。 図7は、実施形態1に係る半導体スイッチモジュールのON状態故障の判定例を示す回路図である。 図8は、実施形態1に係る半導体スイッチモジュールのON状態故障の判定例を示す回路図である。 図9は、実施形態1に係る半導体スイッチ制御装置の動作例を示すフローチャートである。 図10は、実施形態1に係る半導体スイッチ制御装置の動作例(第一故障判定モード)を示すフローチャートである。 図11は、実施形態1に係る半導体スイッチ制御装置の動作例(第二故障判定モード)を示すフローチャートである。 図12は、実施形態1に係る半導体スイッチ制御装置の動作例(第三故障判定モード)を示すフローチャートである。 図13は、実施形態2に係る半導体スイッチ制御装置の構成例を示すブロック図である。 図14は、実施形態3に係る半導体スイッチ制御装置の構成例を示すブロック図である。
本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。
〔実施形態1〕
電気自動車やハイブリッド電気自動車等の車両電源システム100は、図1に示すように、直流を交流に変換し電力を駆動モータに供給するインバータ等の高電圧負荷2と、当該高電圧負荷2を駆動するための電源である高電圧バッテリHVとが搭載され、保安を目的として高電圧バッテリHVと高電圧負荷2との間で双方向に流れる電流を通電又は遮断する半導体スイッチ制御装置1が設けられている。
半導体スイッチ制御装置1は、双方向遮断回路10と、駆動部20A〜20Dと、抵抗Rと、第一電圧検出部30と、第二電圧検出部40と、制御部50とを備える。
双方向遮断回路10は、高電圧バッテリHVと高電圧負荷2との間で双方向に流れる電流を通電又は遮断するものである。双方向遮断回路10は、高電圧バッテリHVのプラス電極と高電圧負荷2との間に設置され、高電圧バッテリHVのプラス電極から高電圧負荷2に流れる電流を通電又は遮断する。また、双方向遮断回路10は、高電圧バッテリHVを充電する充電経路の場合、高電圧負荷2から高電圧バッテリHVのプラス電極に流れる電流を通電又は遮断する。
双方向遮断回路10は、第一半導体スイッチモジュールとしての第一双方向遮断回路11と、第二半導体スイッチモジュールとしての第二双方向遮断回路12とを備える。第一双方向遮断回路11と第二双方向遮断回路12とは、並列に接続されている。このように、半導体スイッチ制御装置1は、双方向遮断回路10が冗長構成であるので信頼性を向上することができる。第一双方向遮断回路11は、FET(Field-effect transistor;電界効果トランジスタ)10Aと、FET10Bとを備える。
FET10A、10Bは、例えば、Nチャネル型のMOS(Metal-Oxide-Semiconductor)FETである。FET10Aは、電流が流れる方向に応じて第一順方向スイッチ又は第一逆方向スイッチとして機能する。ここで、第一順方向スイッチは、電流が流れる方向である順方向にボディダイオード(寄生ダイオード)が配置されるスイッチである。また、第一逆方向スイッチは、電流の順方向とは逆の方向である逆方向にボディダイオードが配置されるスイッチである。FET10Aは、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に電流が流れる場合には第一逆方向スイッチとして機能し、高電圧負荷2から高電圧バッテリHVに電流が流れる場合には第一順方向スイッチとして機能する。実施形態1では、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に電流が流れる例について説明し、FET10Aは、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に流れる電流の方向とは逆方向にボディダイオードDAが配置される第一逆方向スイッチとして説明する。FET10AのボディダイオードDAは、アノード端子が高電圧負荷2側に接続され、カソード端子が高電圧バッテリHVのプラス電極に接続される。FET10Aは、後述する駆動部20Aにより駆動され、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に流れる電流を通電又は遮断する。
FET10Bは、FET10Aと隣接して配置され、電流が流れる方向に応じて第一順方向スイッチ又は第一逆方向スイッチとして機能する。FET10Bは、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に電流が流れる場合には第一順方向スイッチとして機能し、高電圧負荷2から高電圧バッテリHVに電流が流れる場合には第一逆方向スイッチとして機能する。実施形態1では、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に流れる例について説明するので、FET10Bは、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に流れる電流の方向である順方向にボディダイオードDBが配置される第一順方向スイッチとして説明する。FET10BのボディダイオードDBは、アノード端子が高電圧バッテリHVのプラス電極側に接続され、カソード端子が高電圧負荷2に接続される。FET10Bは、後述する駆動部20Bにより駆動される。FET10BとFET10Aとは、ソース端子同士が直列に接続され、FET10Aのドレイン端子が高電圧バッテリHVに接続され、FET10Bのドレイン端子が高電圧負荷2に接続される。
第二双方向遮断回路12は、FET10Cと、FET10Dとを備える。FET10C、10Dは、例えば、Nチャネル型のMOSFETである。FET10Cは、電流が流れる方向に応じて第二順方向スイッチ又は第二逆方向スイッチとして機能する。FET10Cは、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に電流が流れる場合には第二逆方向スイッチとして機能し、高電圧負荷2から高電圧バッテリHVに電流が流れる場合には第二順方向スイッチとして機能する。実施形態1では、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に流れる例について説明するので、FET10Cは、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に流れる電流の方向とは逆方向にボディダイオードDCが配置される第二逆方向スイッチとして説明する。FET10CのボディダイオードDCは、アノード端子が高電圧負荷2側に接続され、カソード端子が高電圧バッテリHVのプラス電極に接続される。FET10Cは、後述する駆動部20Cにより駆動され、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に流れる電流を通電又は遮断する。
FET10Dは、FET10Cと隣接して配置され、電流が流れる方向に応じて第二順方向スイッチ又は第二逆方向スイッチとして機能する。FET10Dは、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に電流が流れる場合には第二順方向スイッチとして機能し、高電圧負荷2から高電圧バッテリHVに電流が流れる場合には第二逆方向スイッチとして機能する。実施形態1では、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に流れる例について説明するので、FET10Dは、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に流れる電流の方向である順方向にボディダイオードDDが配置される第二順方向スイッチとして説明する。FET10DのボディダイオードDDは、アノード端子が高電圧バッテリHVのプラス電極側に接続され、カソード端子が高電圧負荷2に接続される。FET10Dは、後述する駆動部20Dにより駆動される。FET10DとFET10Cとは、ソース端子同士が直列に接続され、FET10Cのドレイン端子が高電圧バッテリHVに接続され、FET10Dのドレイン端子が高電圧負荷2に接続される。FET10A〜10Dは、熱の集中を抑制するために全て同じ電界効果トランジスタが使用されることが好ましいが、これに限定されない。
駆動部20Aは、FET10Aのゲート端子に接続され、後述する制御部50からのON(オン)/OFF(オフ)指令に基づいてFET10Aを駆動するものである。駆動部20Aは、制御部50からFET10AのスイッチをONするON指令が出力された場合、FET10Aのゲート端子にON電圧を印加してドレイン端子からソース端子に電流を流す。また、駆動部20Aは、制御部50からFET10AのスイッチをOFFするOFF指令が出力された場合、FET10Aのゲート端子にOFF電圧を印加し、ドレイン端子からソース端子に流れる電流を遮断する。
駆動部20Bは、FET10Bのゲート端子に接続され、制御部50からのON/OFF指令に基づいてFET10Bを駆動するものである。駆動部20Bは、制御部50からFET10BのスイッチをONするON指令が出力された場合、FET10Bのゲート端子にON電圧を印加してソース端子からドレイン端子に電流を流す。また、駆動部20Bは、制御部50からFET10BのスイッチをOFFするOFF指令が出力された場合、FET10Bのゲート端子にOFF電圧を印加し、ソース端子からドレイン端子に流れる電流を遮断する。
駆動部20Cは、FET10Cのゲート端子に接続され、制御部50からのON/OFF指令に基づいてFET10Cを駆動するものである。駆動部20Cは、制御部50からFET10CのスイッチをONするON指令が出力された場合、FET10Cのゲート端子にON電圧を印加してドレイン端子からソース端子に電流を流す。また、駆動部20Cは、制御部50からFET10CのスイッチをOFFするOFF指令が出力された場合、FET10Cのゲート端子にOFF電圧を印加し、ドレイン端子からソース端子に流れる電流を遮断する。
駆動部20Dは、FET10Dのゲート端子に接続され、制御部50からのON/OFF指令に基づいてFET10Dを駆動するものである。駆動部20Dは、制御部50からFET10DのスイッチをONするON指令が出力された場合、FET10Dのゲート端子にON電圧を印加してソース端子からドレイン端子に電流を流す。また、駆動部20Dは、制御部50からFET10DのスイッチをOFFするOFF指令が出力された場合、FET10Dのゲート端子にOFF電圧を印加し、ソース端子からドレイン端子に流れる電流を遮断する。
抵抗Rは、半導体スイッチモジュールの電圧を検出するためのものである。抵抗Rは、FET10BとFET10Aとの間のソース端子間の第一接続点Xで一端が接続され、FET10DとFET10Cとの間のソース端子間の第二接続点Yで他端が接続される。
第一電圧検出部30は、抵抗Rに印加される電圧を検出するものである。第一電圧検出部30は、抵抗Rに印加される電圧を検出した第一検出電圧Vdを制御部50に出力する。
第二電圧検出部40は、高電圧負荷2に印加される電圧を検出するものである。第二電圧検出部40は、高電圧負荷2に印加される電圧を検出した第二検出電圧Voutを制御部50に出力する。
制御部50は、駆動部20A〜20Dを介して双方向遮断回路10を制御するものである。制御部50は、CPU、記憶部を構成するROM、RAM及びインターフェースを含む周知のマイクロコンピュータを主体とする電子回路を含んで構成される。制御部50は、例えば、外部機器から出力された半導体駆動信号に基づいて、駆動部20A〜20DにON/OFF指令を出力して駆動部20A〜20Dを制御する。また、制御部50は、第一電圧検出部30により検出された第一検出電圧Vdに基づいて双方向遮断回路10を制御する。例えば、制御部50は、第一電圧検出部30により検出された第一検出電圧Vdに基づいて、双方向遮断回路10の故障を判定する。また、制御部50は、第二電圧検出部40により検出された第二検出電圧Voutに基づいて、双方向遮断回路10の故障を判定する。制御部50は、例えば、双方向遮断回路10が故障していると判定した場合、異常検知信号を図示しない電源管理手段等に送信し、当該電源管理手段等により高電圧バッテリHVから供給される電力を停止する等、フェールセーフ処理を行う。なお、制御部50は、双方向遮断回路10の故障を判定する故障判定部と、双方向遮断回路10を駆動制御する駆動制御部とを別々に備える構成としてもよい。
次に、半導体スイッチ制御装置1による故障判定例について説明する。半導体スイッチ制御装置1は、図2に示すように、FET10A〜10Dに対してON指令を出力し、FET10A〜10Dを全てONにする。このとき、半導体スイッチ制御装置1は、FET10A〜10Dが全て正常にONに設定されると、抵抗Rの第一接続点Xと第二接続点Yとが同電位となるため、抵抗Rに印加される電圧Vが0Vとなる。この場合、半導体スイッチ制御装置1は、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に流れる電流Iの1/2が第一双方向遮断回路11に流れ、当該電流Iの1/2が第二双方向遮断回路12に流れる。
次に、図3に示すように、FET10BがONに設定されずにOFF状態を維持するOFF状態故障である例について説明する。半導体スイッチ制御装置1は、FET10A〜10Dに対してON指令を出力し、FET10A、10C、10Dが正常にONに設定されFET10BがONに設定されずにOFF状態を維持するOFF状態故障である場合、抵抗Rの第一接続点Xと第二接続点Yとが異なる電位となるため、抵抗Rに第一検出電圧Vdが印加される。つまり、半導体スイッチ制御装置1は、抵抗Rの電圧降下とFET10Dの電圧降下とを加算した電圧降下が、FET10BのボディダイオードDBの電圧降下よりも小さくなる。このため、半導体スイッチ制御装置1は、抵抗Rの第一接続点Xが抵抗Rの第二接続点Yよりも電位が高くなり、電流I”が抵抗Rの第一接続点Xから抵抗Rの第二接続点Yに向けて流れる。このとき、半導体スイッチ制御装置1は、抵抗Rに印加された第一検出電圧Vdを検出した場合、OFF状態故障が生じていると判定する。例えば、半導体スイッチ制御装置1は、第一検出電圧Vdと予め定められた第一基準電圧とのずれ量が正電圧である場合、FET10BがOFF状態故障であると判定する。なお、電流I”は、「(Ron/(Ron+R+Ron))×I」として求められる。ここで、Rは抵抗であり、RonはFET10A〜10DがONのときの抵抗であり、Iは高電圧バッテリHVから供給される電流である。
次に、図4に示すように、FET10CがONに設定されずにOFF状態を維持するOFF状態故障である例について説明する。半導体スイッチ制御装置1は、FET10A〜10Dに対してON指令を出力し、FET10A、10B、10Dが正常にONに設定されるがFET10CがOFF状態故障である場合、抵抗Rの第一接続点Xと第二接続点Yとが異なる電位となるため、抵抗Rに第一検出電圧Vdが印加される。つまり、半導体スイッチ制御装置1は、FET10Cに電流が流れないので抵抗Rの第一接続点Xが抵抗Rの第二接続点Yよりも電位が高くなり、電流I”が抵抗Rの第一接続点Xから抵抗Rの第二接続点Yに向けて流れる。この場合、半導体スイッチ制御装置1は、抵抗Rに印加された第一検出電圧Vdを検出した場合、OFF状態故障が生じていると判定する。例えば、半導体スイッチ制御装置1は、第一検出電圧Vdと第一基準電圧とのずれ量が正電圧である場合、FET10CがOFF状態故障であると判定する。なお、半導体スイッチ制御装置1は、図3及び図4に示すように、正電圧としてプラスの第一検出電圧Vdを検出することにより、FET10B又はFET10CのいずれかがOFF状態故障であることを判定することができるが、FET10B又はFET10CのいずれがOFF状態故障であるかまでは特定できない。半導体スイッチ制御装置1は、後述するON状態故障の判定方法を組み合わせて、FET10B又はFET10CのいずれがOFF状態故障であるかを特定する。
次に、図5に示すように、FET10DがONに設定されずにOFF状態を維持するOFF状態故障である例について説明する。半導体スイッチ制御装置1は、FET10A〜10Dに対してON指令を出力し、FET10A、10B、10Cが正常にONに設定されるが、FET10DがOFF状態故障である場合、抵抗Rの第一接続点Xと第二接続点Yとが異なる電位となるため、抵抗Rに第一検出電圧Vdが印加される。つまり、半導体スイッチ制御装置1は、抵抗Rの電圧降下とFET10Bの電圧降下とを加算した電圧降下がFET10DのボディダイオードDDの電圧降下よりも小さいので、抵抗Rの第二接続点Yが抵抗Rの第一接続点Xよりも電位が高くなり、電流I”が抵抗Rの第二接続点Yから抵抗Rの第一接続点Xに向けて流れる。この場合、半導体スイッチ制御装置1は、抵抗Rに印加された第一検出電圧Vdを検出した場合、OFF状態故障が生じていると判定する。例えば、半導体スイッチ制御装置1は、第一検出電圧Vdと第一基準電圧とのずれ量が負電圧である場合、FET10DがOFF状態故障であると判定する。
次に、図6に示すように、FET10AがONに設定されずにOFF状態を維持するOFF状態故障である例について説明する。半導体スイッチ制御装置1は、FET10A〜10Dに対してON指令を出力し、FET10B、10C、10Dが正常にONに設定されるがFET10AがOFF状態故障である場合、抵抗Rの第一接続点Xと第二接続点Yとが異なる電位となるため、抵抗Rに第一検出電圧Vdが印加される。つまり、半導体スイッチ制御装置1は、FET10Aに電流が流れないので抵抗Rの第二接続点Yが抵抗Rの第一接続点Xよりも電位が高くなり、電流I”が抵抗Rの第二接続点Yから抵抗Rの第一接続点Xに向けて流れる。この場合、半導体スイッチ制御装置1は、抵抗Rに印加された第一検出電圧Vdを検出した場合、OFF状態故障が生じていると判定する。例えば、半導体スイッチ制御装置1は、第一検出電圧Vdと第一基準電圧とのずれ量が負電圧である場合、FET10AがOFF状態故障であると判定する。なお、半導体スイッチ制御装置1は、図5及び図6に示すように、負電圧としてマイナスの第一検出電圧Vdを検出することにより、FET10A又はFET10DのいずれかがOFF状態故障であると判定することができるが、FET10A又はFET10DのいずれがOFF状態故障であるかまでは特定できない。半導体スイッチ制御装置1は、後述するON状態故障の判定方法を組み合わせて、FET10A又はFET10DのいずれがOFF状態故障であるかを特定する。
次に、第二電圧検出部40により検出される第二検出電圧Voutを用いて、FET10A〜10DがOFFに設定されずにON状態を維持するON状態故障であるか否かを判定する例について説明する。半導体スイッチ制御装置1は、図7に示すように、FET10A〜10Dに対してOFF指令を出力し、第二検出電圧Voutが基準電圧(例えば0V)を超過する場合、FET10A又はFET10Bの少なくとも一方がOFFに設定されずにON状態を維持するON状態故障と判定する。また、半導体スイッチ制御装置1は、FET10A〜10Dに対してOFF指令を出力し、第二検出電圧Voutが基準電圧(例えば0V)である場合、FET10A及びFET10BがOFFに設定されているので当該FET10A、10Bが正常であると判定する。なお、図7は、ON状態故障を判定する処理に関連する部分を図示し、その他の図示は省略している。
また、半導体スイッチ制御装置1は、図8に示すように、FET10A及びFET10Cに対してON指令を出力し、かつ、FET10B及びFET10Dに対してOFF指令を出力し、第二検出電圧Voutが基準電圧(高電圧バッテリHVの電圧)と同等である場合、FET10B又はFET10Dの少なくとも一方がOFFに設定されずにON状態を維持するON状態故障であると判定する。また、半導体スイッチ制御装置1は、FET10A及びFET10Cに対してON指令を出力し、かつ、FET10B及びFET10Dに対してOFF指令を出力し、第二検出電圧Voutが基準電圧(例えば高電圧バッテリHVの電圧)と同等ではなくFET10B、10DのボディダイオードDB、DDの電圧降下が生じている場合、FET10B、10Dが正常にOFFに設定されていると判定する。なお、図8は、ON状態故障を判定する処理に関連する部分を図示し、その他の図示は省略している。
次に、図9〜図12を参照して、半導体スイッチ制御装置1の動作例について説明する。半導体スイッチ制御装置1の制御部50は、FET10A〜FET10DをOFFに設定する(ステップS1)。次に、制御部50は、第二検出電圧Voutが0Vであるか否かを判定する。制御部50は、第二検出電圧Voutが0Vである場合(ステップS2;Yes)、FET10A、10CがOFFに設定されずにON状態を維持するON状態故障が生じていないと判定する。制御部50は、FET10A、10CをONに設定する(ステップS3)。ここで、ステップS3では、FET10A、10CがONに設定されており、FET10B、10DがOFFに設定されている。次に、制御部50は、ステップS4で、第二検出電圧Voutが高電圧バッテリHVの電圧である電源電圧EからFET10B、10Dのボディダイオードの順方向電圧VFを引いた電圧と等しいか否かを判定する(「Vout=E−VF」が成立するか否かを判定する)。制御部50は、「Vout=E−VF」が成立する場合(ステップS4;Yes)、FET10B、10DはON状態故障が生じていないと判定する。次に、制御部50は、FET10B、10DをONに設定する(ステップS5)。ここで、ステップS5では、FET10A〜10DがONに設定されている。次に、制御部50は、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しいか否かを判定する(ステップS6)。制御部50は、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しい場合(ステップS6;Yes)、第一検出電圧Vdが0Vであるか否かを判定する(ステップS7)。制御部50は、第一検出電圧Vdが0Vである場合(ステップS7;Yes)、FET10DをOFFに設定する(ステップS8)。ここで、ステップS8では、FET10A〜10CがONに設定され、FET10DがOFFに設定されている。次に、制御部50は、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しいか否かを判定する(ステップS9)。制御部50は、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しい場合(ステップS9;Yes)、FET10DをONに設定しFET10BをOFFに設定する(ステップS10)。ここで、ステップS10では、FET10A、10C、10DがONに設定され、FET10BがOFFに設定されている。次に、制御部50は、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しいか否かを判定する(ステップS11)。制御部50は、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しい場合(ステップS11;Yes)、FET10A〜10Dは全て正常と判定し、FET10BをONに設定し(ステップS12)、故障判定処理を終了する。
なお、上述のステップS6で、制御部50は、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しくない場合(ステップS6;No)、FET10BかつFET10DがOFF状態故障と判定する(ステップS15)。ステップS15では、FET10B、10DがOFF状態故障となり、FET10B、10Dのボディダイオードの順方向電圧VFが生じているため、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しくならない。次に、制御部50は、FET10B、10Dが故障しているので、フェールセーフ処理を行う(ステップS19)。例えば、制御部50は、異常検知信号を電源管理手段等に送信し、当該電源管理手段等により高電圧バッテリHVから供給される電力を停止する。
また、上述のステップS9で、制御部50は、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しくない場合(ステップS9;No)、FET10A及びFET10BがOFF状態故障であると特定する(ステップS17)。ステップS17では、FET10A、10BがOFF状態故障となり、FET10B、10Dのボディダイオードの順方向電圧VFが生じているため、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しくならない。
また、上述のステップS11で、制御部50は、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しくない場合(ステップS11;No)、FET10C及びFET10DがOFF状態故障であると特定する(ステップS18)。ステップS18では、FET10C、10DがOFF状態故障となり、FET10B、10Dのボディダイオードの順方向電圧VFが生じているため、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しくならない。
〔第一故障判定モード〕
また、上述のステップS2で、制御部50は、第二検出電圧Voutが0Vでない場合(ステップS2;No)、FET10A又はFET10CがON状態故障であると判定し、第一故障判定モードを実施する(ステップS13)。第一故障判定モードは、図10に示すフローチャートに従って実行される。制御部50は、ステップS13aで、第二検出電圧Voutが電源電圧EからFET10B、10Dのボディダイオードの順方向電圧VFを引いた電圧と等しいか否かを判定する(「Vout=E−VF」が成立するか否かを判定する)。制御部50は、「Vout=E−VF」が成立する場合(ステップS13a;Yes)、FET10BをONに設定する(ステップS13b)。ここで、ステップS13bでは、FET10A、10C、10DがOFFに設定され、FET10BがONに設定されている。次に、制御部50は、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しいか否かを判定する(ステップS13c)。制御部50は、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しい場合(ステップS13c;Yes)、FET10AがON状態故障であると推定する(ステップS13d)。また、制御部50は、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しくない場合(ステップS13c;No)、第一検出電圧Vdがマイナス電圧であるか否かを判定する(ステップS13e)。制御部50は、第一検出電圧Vdがマイナス電圧である場合(ステップS13e;Yes)、FET10CがON状態故障であると推定する(ステップS13f)。制御部50は、第一検出電圧Vdがマイナス電圧でなく0Vである場合(ステップS13e;No)、FET10BがOFF状態故障であることを特定する(ステップS13g)。次に、制御部50は、FET10BをOFFに設定し、FET10DをONに設定する(ステップS13h)。ここで、ステップS13hでは、FET10A、10B、10CがOFFに設定され、FET10DがONに設定されている。次に、制御部50は、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しいか否かを判定する(ステップS13i)。制御部50は、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しい場合(ステップS13i;Yes)、FET10CがON状態故障であることを特定する(ステップS13j)。また、制御部50は、第二検出電圧Voutが電源電圧Eと等しくない場合(ステップS13i;No)、第一検出電圧Vdがプラス電圧であるか否かを判定する(ステップS13k)。制御部50は、第一検出電圧Vdがプラス電圧である場合(ステップS13k;Yes)、FET10AがON状態故障であることを特定する(ステップS13l)。また、制御部50は、第一検出電圧Vdがプラス電圧でない場合(ステップS13k;No)、FET10A、10CがON状態故障であり、FET10B、10DがOFF状態故障であると推定する(ステップS13m)。また、上述のステップS13aで、制御部50は、「Vout=E−VF」が成立しない場合(ステップS13a;No)、FET10A、10CがON状態故障であるか、又は、FET10B、10DがON状態故障であると推定する(ステップS13n)。
〔第二故障判定モード〕
また、上述のステップS4で、制御部50は、「Vout=E−VF」が成立しない場合(ステップS4;No)、FET10A及びFET10CがOFF状態故障であるか、又は、FET10B又はFET10DがON状態故障であると推定し、第二故障判定モードを実施する(ステップS14)。第二故障判定モードは、図11に示すフローチャートに従って実行される。制御部50は、第二検出電圧Voutが0Vであるか否かを判定する(ステップS14a)。制御部50は、第二検出電圧Voutが0Vである場合(ステップS14a;Yes)、FET10A、10CがOFF状態故障であると特定する(ステップS14b)。また、制御部50は、第二検出電圧Voutが0Vでない場合(ステップS14a;No)、第一検出電圧Vdがプラス電圧であるか否かを判定する(ステップS14c)。制御部50は、第一検出電圧Vdがプラス電圧である場合(ステップS14c;Yes)、FET10DはON状態故障であると特定する(ステップS14d)。また、制御部50は、第一検出電圧Vdがプラス電圧でない場合(ステップS14c;No)、第一検出電圧Vdがマイナス電圧であるか否かを判定する(ステップS14e)。制御部50は、第一検出電圧Vdがマイナス電圧である場合(ステップS14e;Yes)、FET10BがON状態故障であると特定する(ステップS14f)。また、制御部50は、第一検出電圧Vdがマイナス電圧でない場合(ステップS14e;No)、FET10B、10DがON状態故障であると特定する(ステップS;14g)。制御部50は、第二故障判定モードでFET10A〜10Dに故障が特定されると、図9に示すフェールセーフ処理を実行する(ステップS19)。
〔第三故障判定モード〕
また、上述のステップS7で、制御部50は、第一検出電圧Vdが0Vでない場合(ステップS7;No)、FET10A、10B、10C、又は、10DがOFF状態故障であると推定し、第三故障判定モードを実施する(ステップS16)。第三故障判定モードは、図12に示すフローチャートに従って実行される。制御部50は、第一検出電圧Vdがプラス電圧であるか否かを判定する(ステップS16a)。制御部50は、第一検出電圧Vdがプラス電圧である場合(ステップS16a;Yes)、FET10DをOFFに設定する(ステップS16b)。ここで、ステップS16bでは、FET10A〜10CがONに設定されており、FET10DがOFFに設定されている。次に、制御部50は、ステップS16cで、第二検出電圧Voutが電源電圧EからFET10B、10Dのボディダイオードの順方向電圧VFを引いた電圧と等しいか否かを判定する(「Vout=E−VF」が成立するか否かを判定する)。制御部50は、「Vout=E−VF」が成立する場合(ステップS16c;Yes)、FET10BがOFF状態故障であると特定する(ステップS16d)。また、制御部50は、「Vout=E−VF」が成立しない場合(ステップS16c;No)、FET10CがOFF状態故障であると特定する(ステップS16e)。
なお、上述のステップS16aで、制御部50は、第一検出電圧Vdがプラス電圧でない場合(ステップS16a;No)、FET10bをOFFに設定する(ステップS16f)。ここで、ステップS16fでは、FET10A、10C、10DがONに設定されており、FET10BがOFFに設定されている。次に、制御部50は、ステップS16gで、第二検出電圧Voutが電源電圧EからFET10B、10Dのボディダイオードの順方向電圧VFを引いた電圧と等しいか否かを判定する(「Vout=E−VF」が成立するか否かを判定する)。制御部50は、「Vout=E−VF」が成立する場合(ステップS16g;Yes)、FET10DがOFF状態故障であると特定する(ステップS16h)。また、制御部50は、「Vout=E−VF」が成立しない場合(ステップS16g;No)、FET10AがOFF状態故障であると特定する(ステップS16i)。制御部50は、第三故障判定モードでFET10A〜10Dの故障が特定されると、図9に示すフェールセーフ処理を実行する(ステップS19)。
以上のように、実施形態1に係る半導体スイッチ制御装置1は、高電圧バッテリHVと高電圧負荷2との間に設置され、高電圧バッテリHVと高電圧負荷2との間で双方向に流れる電流を通電又は遮断する双方向遮断回路10と、双方向遮断回路10の電圧を検出するための抵抗Rと、抵抗Rに印加される電圧を検出する第一電圧検出部30と、第一電圧検出部30により検出された第一検出電圧Vdに基づいて、双方向遮断回路10の故障を判定する制御部50とを備える。双方向遮断回路10は、ソース端子同士が直列に接続されるFET10B及びFET10Aと、ソース端子同士が直列に接続されるFET10D及びFET10Cとを有する。抵抗Rは、FET10B及びFET10Aのソース端子間に一端が接続され、FET10D及びFET10Cのソース端子間に他端が接続される。これにより、半導体スイッチ制御装置1は、抵抗Rに印加される電圧を検出することにより、FET10A〜10DのいずれかがOFF状態故障していることを判定することができる。従って、半導体スイッチ制御装置1は、1つの抵抗Rを用いて双方向遮断回路10の故障を判定することができるので装置の大型化を抑制することができる。また、半導体スイッチ制御装置1は、電流が流れるメインの電流経路に抵抗Rが配置されていないので、通電による損失を抑制することができる。また、半導体スイッチ制御装置1は、FET10A〜10Dの故障判定により車両電源システム100の信頼性を向上させることができる。
また、半導体スイッチ制御装置1において、制御部50は、FET10A〜10Dを全てオン指令している場合において、第一検出電圧Vdと予め定められた第一基準電圧とのずれ量とに基づいて、FET10A〜10Dのいずれかがオフ状態であるオフ状態故障と判定する。これにより、半導体スイッチ制御装置1は、FET10A〜10Dのいずれかがオフ状態故障と判定することができるので、FET10A〜10Dを個々に故障判定する場合と比較して故障を判定する時間を短縮することができる。
また、半導体スイッチ制御装置1において、制御部50は、第一検出電圧Vdと第一基準電圧とのずれ量が正電圧である場合、FET10B又はFET10Cのいずれかがオフ状態故障と判定し、第一検出電圧Vdと第一基準電圧とのずれ量が負電圧である場合、FET10A又はFET10Dのいずれかがオフ状態故障と判定する。これにより、半導体スイッチ制御装置1は、オフ状態故障であるFET10A〜10Dを絞り込むことができるので、オフ状態故障であるFET10A〜10Dを容易に特定することができる。
また、半導体スイッチ制御装置1において、制御部50は、第二電圧検出部40により検出された第二検出電圧Voutに基づいて、双方向遮断回路10の故障を判定する。半導体スイッチ制御装置1は、例えば、第二検出電圧Voutに基づいて、FET10A〜10Dのいずれかがオン状態であるオン状態故障を判定する。これにより、半導体スイッチ制御装置1は、オン状態故障を判定することができるので、FET10A〜10Dの故障をより詳細に判定することができる。
また、半導体スイッチ制御装置1において、制御部50は、双方向遮断回路10のオフ状態故障において、第二電圧検出部40により検出された第二検出電圧Voutと、FET10A〜10Dをオンオフする指令値とに基づいて、FET10A〜10Dのいずれがオフ状態故障であるかを特定する。これにより、半導体スイッチ制御装置1は、オフ状態故障であるFET10A〜10Dのいずれかを特定することができるので、復旧作業を容易にすることができる。
なお、半導体スイッチ制御装置1において、双方向遮断回路10を複数備えて冗長化させ、車両電源システム100の信頼性を向上させてもよい。
〔実施形態2〕
次に、実施形態2に係る半導体スイッチ制御装置1Aについて説明する。実施形態2に係る半導体スイッチ制御装置1Aは、ドレイン端子同士が接続される点で実施形態1の半導体スイッチ制御装置1と異なる。なお、実施形態2は、実施形態1と同等の構成には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。半導体スイッチ制御装置1Aは、第一双方向遮断回路71と、第二双方向遮断回路72とを有する双方向遮断回路70を備える。第一双方向遮断回路71と第二双方向遮断回路72とは、並列に接続されている。第一双方向遮断回路71は、FET11Aと、FET11Bとを備え、第二双方向遮断回路72は、FET11Cと、FET11Dとを備える。
FET11Aは、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に電流が流れる場合には第一順方向スイッチとして機能し、高電圧負荷2から高電圧バッテリHVに電流が流れる場合には第一逆方向スイッチとして機能する。FET11AのボディダイオードDaは、アノード端子が高電圧バッテリHVのプラス電極に接続され、カソード端子が高電圧負荷2側に接続される。
FET11Bは、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に電流が流れる場合には第一逆方向スイッチとして機能し、高電圧負荷2から高電圧バッテリHVに電流が流れる場合には第一順方向スイッチとして機能する。FET11BのボディダイオードDbは、アノード端子が高電圧負荷2に接続され、カソード端子が高電圧バッテリHVのプラス電極側に接続される。FET11BとFET11Aとは、ドレイン端子同士が直列に接続され、FET11Aのソース端子が高電圧バッテリHVに接続され、FET11Bのソース端子が高電圧負荷2に接続される。
FET11Cは、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に電流が流れる場合には第一順方向スイッチとして機能し、高電圧負荷2から高電圧バッテリHVに電流が流れる場合には第一逆方向スイッチとして機能する。FET11CのボディダイオードDcは、アノード端子が高電圧バッテリHVのプラス電極に接続され、カソード端子が高電圧負荷2側に接続される。
FET11Dは、高電圧バッテリHVから高電圧負荷2に電流が流れる場合には第一逆方向スイッチとして機能し、高電圧負荷2から高電圧バッテリHVに電流が流れる場合には第一順方向スイッチとして機能する。FET11DのボディダイオードDdは、アノード端子が高電圧負荷2に接続され、カソード端子が高電圧バッテリHVのプラス電極側に接続される。FET11CとFET11Dとは、ドレイン端子同士が直列に接続され、FET11Cのソース端子が高電圧バッテリHVに接続され、FET11Dのソース端子が高電圧負荷2に接続される。
抵抗Rは、FET11BとFET11Aとの間のドレイン端子間の第一接続点Xで一端が接続され、FET11DとFET11Cとの間のドレイン端子間の第二接続点Yで他端が接続される。第一電圧検出部30は、抵抗Rに印加される電圧を検出した第一検出電圧Vdを制御部50に出力する。
以上のように、実施形態2に係る半導体スイッチ制御装置1Aは、高電圧バッテリHVと高電圧負荷2との間に設置され、高電圧バッテリHVと高電圧負荷2との間で双方向に流れる電流を通電又は遮断する双方向遮断回路70と、双方向遮断回路70の電圧を検出するための抵抗Rと、抵抗Rに印加される電圧を検出する第一電圧検出部30と、第一電圧検出部30により検出された第一検出電圧Vdに基づいて、双方向遮断回路70の故障を判定する制御部50とを備える。双方向遮断回路70は、ドレイン端子同士が直列に接続されるFET11B及びFET11Aと、ドレイン端子同士が直列に接続されるFET11D及びFET11Cとを有する。抵抗Rは、FET11B及びFET11Aのドレイン端子間に一端が接続され、FET11D及びFET11Cのドレイン端子間に他端が接続される。このように、半導体スイッチ制御装置1Aは、ドレイン端子同士を直列に接続する構成であっても、実施形態1の半導体スイッチ制御装置1と同等の効果を有する。
〔実施形態3〕
次に、実施形態3に係る半導体スイッチ制御装置1Bについて説明する。実施形態3に係る半導体スイッチ制御装置1Bは、2つのバッテリE1、E2を備える点で実施形態1の半導体スイッチ制御装置1と異なる。バッテリE1、E2は、例えば、車両用の12V系のバッテリである。なお、実施形態3は、実施形態1と同等の構成には同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。半導体スイッチ制御装置1Bは、双方向遮断回路10がバッテリE1のプラス電極とバッテリE2のプラス電極との間に配置されている。半導体スイッチ制御装置1Bは、バッテリE1又はバッテリE2から負荷4に流れる電流を通電又は遮断する。このように、半導体スイッチ制御装置1Bは、2つのバッテリE1、E2を備える車両電源システム100に適用してもよい。なお、オルタネータ(ALT)5は、バッテリE1、E2を充電するものである。
1、1A、1B 半導体スイッチ制御装置
2 高電圧負荷(負荷)
4 負荷
10、70 双方向遮断回路(半導体スイッチモジュール)
11、71 第一双方向遮断回路(第一半導体スイッチモジュール)
12、72 第二双方向遮断回路(第二半導体スイッチモジュール)
10A、10B FET(第一順方向スイッチ、第一逆方向スイッチ)
10C、10D FET(第二順方向スイッチ、第二逆方向スイッチ)
30 第一電圧検出部
40 第二電圧検出部
50 制御部
DA、DB、DC、DD ボディダイオード
E 高電圧バッテリ(電源)
E1、E2 バッテリ(電源)
R 抵抗
Vd 第一検出電圧
Vout 第二検出電圧

Claims (6)

  1. 電源と負荷との間に設置され、前記電源と前記負荷との間で双方向に流れる電流を通電又は遮断する半導体スイッチモジュールと、
    前記半導体スイッチモジュールの電圧を検出するための抵抗と、
    前記抵抗に印加される電圧を検出する第一電圧検出部と、
    前記第一電圧検出部により検出された第一検出電圧に基づいて前記半導体スイッチモジュールの故障を判定する制御部と、を備え、
    前記半導体スイッチモジュールは、
    第一半導体スイッチモジュールと、前記第一半導体スイッチモジュールに並列に接続される第二半導体スイッチモジュールとを有し、
    前記第一半導体スイッチモジュールは、
    前記電流が流れる方向である順方向にボディダイオードが配置される第一順方向スイッチと、
    前記第一順方向スイッチと隣接して配置され、前記順方向とは逆の方向である逆方向にボディダイオードが配置される第一逆方向スイッチと、を有し、
    前記第一順方向スイッチと前記第一逆方向スイッチとは、
    ソース端子同士が直列に接続され、一方のドレイン端子が前記電源に接続され、他方のドレイン端子が前記負荷に接続され、
    前記第二半導体スイッチモジュールは、
    前記順方向にボディダイオードが配置される第二順方向スイッチと、
    前記第二順方向スイッチと隣接して配置され、前記逆方向にボディダイオードが配置される第二逆方向スイッチと、を有し、
    前記第二順方向スイッチと前記第二逆方向スイッチとは、
    ソース端子同士が直列に接続され、一方のドレイン端子が前記電源に接続され、他方のドレイン端子が前記負荷に接続され、
    前記抵抗は、
    前記第一順方向スイッチと前記第一逆方向スイッチとの間の前記ソース端子間に一端が接続され、前記第二順方向スイッチと前記第二逆方向スイッチとの間の前記ソース端子間に他端が接続され、
    前記制御部は、
    前記第一電圧検出部により検出された前記第一検出電圧に基づいて、前記半導体スイッチモジュールの故障を判定することを特徴とする半導体スイッチ制御装置。
  2. 電源と負荷との間に設置され、前記電源と前記負荷との間で双方向に流れる電流を通電又は遮断する半導体スイッチモジュールと、
    前記半導体スイッチモジュールの電圧を検出するための抵抗と、
    前記抵抗に印加される電圧を検出する第一電圧検出部と、
    前記第一電圧検出部により検出された第一検出電圧に基づいて前記半導体スイッチモジュールの故障を判定する制御部と、を備え、
    前記半導体スイッチモジュールは、
    第一半導体スイッチモジュールと、前記第一半導体スイッチモジュールに並列に接続される第二半導体スイッチモジュールとを有し、
    前記第一半導体スイッチモジュールは、
    前記電流が流れる方向である順方向にボディダイオードが配置される第一順方向スイッチと、
    前記第一順方向スイッチと隣接して配置され、前記順方向とは逆の方向である逆方向にボディダイオードが配置される第一逆方向スイッチと、を有し、
    前記第一順方向スイッチと前記第一逆方向スイッチとは、
    ドレイン端子同士が直列に接続され、一方のソース端子が前記電源に接続され、他方のソース端子が前記負荷に接続され、
    前記第二半導体スイッチモジュールは、
    前記順方向にボディダイオードが配置される第二順方向スイッチと、
    前記第二順方向スイッチと隣接して配置され、前記逆方向にボディダイオードが配置される第二逆方向スイッチと、を有し、
    前記第二順方向スイッチと前記第二逆方向スイッチとは、
    ドレイン端子同士が直列に接続され、一方のソース端子が前記電源に接続され、他方のソース端子が前記負荷に接続され、
    前記抵抗は、
    前記第一順方向スイッチと前記第一逆方向スイッチとの間の前記ドレイン端子間に一端が接続され、前記第二順方向スイッチと前記第二逆方向スイッチとの間の前記ドレイン端子間に他端が接続され、
    前記制御部は、
    前記第一電圧検出部により検出された前記第一検出電圧に基づいて、前記半導体スイッチモジュールの故障を判定することを特徴とする半導体スイッチ制御装置。
  3. 前記制御部は、
    前記第一順方向スイッチ、前記第一逆方向スイッチ、前記第二順方向スイッチ、及び、前記第二逆方向スイッチを全てオン指令している場合において、前記第一検出電圧と予め定められた第一基準電圧とのずれ量に基づいて、前記第一順方向スイッチ、前記第一逆方向スイッチ、前記第二順方向スイッチ、又は、前記第二逆方向スイッチのいずれかがオフ状態であるオフ状態故障と判定する請求項1又は2に記載の半導体スイッチ制御装置。
  4. 前記制御部は、
    前記第一検出電圧と前記第一基準電圧との前記ずれ量が正電圧である場合、前記第一順方向スイッチ、又は、前記第二逆方向スイッチのいずれかがオフ状態故障と判定し、
    前記第一検出電圧と前記第一基準電圧との前記ずれ量が負電圧である場合、前記第一逆方向スイッチ、又は、前記第二順方向スイッチのいずれかがオフ状態故障と判定する請求項3に記載の半導体スイッチ制御装置。
  5. 前記負荷に印加される電圧を検出する第二電圧検出部を備え、
    前記制御部は、
    前記第二電圧検出部により検出された第二検出電圧に基づいて、前記半導体スイッチモジュールの故障を判定する請求項1〜4のいずれか1項に記載の半導体スイッチ制御装置。
  6. 前記制御部は、
    前記半導体スイッチモジュールのオフ状態故障において、前記第二電圧検出部により検出された第二検出電圧と、前記第一順方向スイッチ、前記第一逆方向スイッチ、前記第二順方向スイッチ、及び、前記第二逆方向スイッチをオンオフする指令値とに基づいて、前記第一順方向スイッチ、前記第一逆方向スイッチ、前記第二順方向スイッチ、又は、前記第二逆方向スイッチのいずれが前記オフ状態故障であるかを特定する請求項5に記載の半導体スイッチ制御装置。
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