TP11.4 Grupo I
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Consignas
1. Con respecto a los índices Cp y Cpk, explique:
b) Estime, con un intervalo de confianza de 95%, los índices Cp, Cpk y Cpm, e
interprete cada uno de ellos.
c) ¿Hay seguridad de que la capacidad del proceso es satisfactoria?
d) ¿Por qué fue necesario estimar por intervalo?
7. En la elaboración de una bebida se desea garantizar que el porcentaje de CO2
(gas) esté entre 2.5 y 3.0. En el monitoreo del proceso se obtuvieron los
siguientes 115 datos:
Resolución
1. a)
𝑉𝑎𝑟𝑖𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 𝑡𝑜𝑙𝑒𝑟𝑎𝑑𝑎
𝐶𝑝 =
𝑉𝑎𝑟𝑖𝑎𝑐𝑖𝑜𝑛 𝑟𝑒𝑎𝑙
b) Es cuando el valor del Índice Cpk es mucho más pequeño que el Cp, significa
que la media del proceso está alejada del centro de las especificaciones.
Ejemplo:
2. Datos:
• µ= 29.3
• σ=0.5
• N=30
• ±=2
• ES=30+2=32
• EI=30-2=28
ES − EI
𝐶𝑝 =
6σ
32−28
𝐶𝑝 = = 1.33
6(0.5)
6σ
Cr =
𝐸𝑆 − 𝐸𝐼
6 (0.5)
Cr = = 0.75 = 75%
32−28
µ − 𝐸𝐼
𝐶𝑃𝑆 =
3σ
29.3 − 28 1.3
𝐶𝑃𝑆 = = = 0.86
3(0.5) 1.5
𝐸𝑆−µ µ−𝐸𝐼
Cpk= mínimo 𝐶𝑃𝑆 = , 𝐶𝑃𝑆 =
3σ 3σ
29.3 − 28 1.3
𝐶𝑃𝑆 = = = 0.86
3(0.5) 1.5
Como el proceso Cpk es menor a 1, por lo cual el proceso no cumple con una de
las especificaciones.
µ−N
𝐾=1 *100
(ES−EI)
2
29.3 − 30 −0.7
𝐾= = = −0.35 (100) = 35%
1 2
2 (32 − 28)
Cuando el valor es negativo significa que la media del proceso es menor que el
valor nominal.
𝐸𝑆 − 𝐸𝐼
𝐶𝑝𝑚 =
6τ
𝜏 = √𝜎 2+ + (µ − 𝑁)2
32 − 28 4
𝐶𝑝𝑚 = = = 0.775
6(0.8602) 5.1612
𝐶𝑝𝑚 = 0,775
Como el Cpm es menor que uno, significa que el proceso no cumple con
especificaciones, ya sea problemas de centrado o por exceso de variabilidad.
𝐶𝑝 = 1,21
𝐶𝑝𝑘 = 0,92
𝐶𝑝𝑚 = 0,93
Como el Cpm es menor que uno, significa que el proceso no cumple con
especificaciones, ya sea problemas de centrado o por exceso de variabilidad.
4. Datos:
• 𝑬𝑰 = 𝟑
• 𝝁 = 𝟒, 𝟏
• 𝝈 = 𝟎, 𝟑𝟖
a) Se calcula mediante la siguiente formula:
𝝁 − 𝑬𝑰
𝑪𝒑𝒊 =
𝟑𝝈
𝟒, 𝟏 − 𝟑
𝑪𝒑𝒊 = = 𝟎, 𝟗𝟔𝟓
𝟑 ∗ 𝟎, 𝟑𝟖
Al ser el valor de cpi menor que 1 se interpreta que el proceso no cumple con
por lo menos una de las especificaciones.
(𝜇 − 𝐸𝐼) (𝐸𝑆 − 𝜇)
𝑐𝑝𝑘 = 𝑚𝑖𝑛𝑖𝑚𝑜 [ ; ]
3𝜎 3𝜎
(318 − 310) (330 − 318)
𝑐𝑝𝑘 = 𝑚𝑖𝑛𝑖𝑚𝑜 [ ; ]
3∙4 3∙4
𝑐𝑝𝑘 = 𝑚𝑖𝑛𝑖𝑚𝑜[0,66 ; 1]
𝑐𝑝𝑘 = 0,66
Como el 𝑐𝑝𝑘 = 0,66 quiere decir que por lo menos uno de los limites no cumple
con las especificaciones, por lo tanto este proceso no funciona bien en cuanto al
volumen de envasado y esta descentrado a la izquierda.
Este análisis nos permite entender mejor como es la capacidad del proceso, con
un intervalo de confianza del 95% podemos estimar el valor de nuestros
parámetros anteriores, el 𝑐𝑝 podría ser de 0,88 indicando que el proceso no es
adecuado pero también podría tener un valor del 1,32 lo cual haría que el
proceso sea adecuado, como vemos hay una variación importante entre los
limites de los intervalos para este parámetro, el 𝑐𝑝𝑘 tiene valores próximos al 𝑐𝑝
indicando que la capacidad real y la potencial son similares, y por último el 𝑐𝑝𝑚
puede ser de 0,89 indicando que no se cumple con las especificaciones o puede
tener un valor de 1,10 con lo cual el proceso si cumpliría con las especificaciones.
c) Como se observo con el análisis anterior no hay seguridad de que la capacidad
del proceso sea satisfactoria, ya que existe mucha incertidumbre del valor de los
parámetros, esto se podría solucionar tomando un número mayor de muestras
para realizar un mejor análisis.
d) Fue necesario estimar por intervalos debido a que no se sabía la media ni el
desvió estándar de la población, estos datos fueron inferidos a partir de una
muestra poblacional de 48 mediciones, y como el tamaño de la muestra no fue
muy grande, impacto en la incertidumbre de los índices de capacidad.
𝑍𝑐 = 2.9032
𝑍𝐿 = 2.25
Se obtiene una diferencia entre estos dos valores de 0.6532, lo cual nos indica
que el proceso presenta cambia desde el corto al largo plazo. Esto es debido a
varios factores que no se tienen en cuenta en el corto plazo, como son los
cambios de temperatura, la materia prima utilizada, la calibración de las
herramientas y la mano de obra, entre otros.
36 − 34 2
𝑃𝑝 = = = 0.83 𝐷𝑒𝑠𝑒𝑚𝑝𝑒ñ𝑜 𝑃𝑜𝑡𝑒𝑛𝑐𝑖𝑎𝑙
6(0.40) 2.4
35.1 − 34 36 − 35.1
𝑃𝑝𝑘 = 𝑀í𝑛𝑖𝑚𝑜 [ , ] = 0.15 𝐷𝑒𝑠𝑒𝑚𝑝𝑒ñ𝑜 𝑅𝑒𝑎𝑙 𝑑𝑒𝑙 𝑃𝑟𝑜𝑐𝑒𝑠𝑜
3(0.40) 3(0.40)
36 − 34
𝐶𝑝 = = 1.07
6(0.31)
35.1 − 34 36 − 35.1
𝐶𝑝𝑘 = [ , ] = 0.21
3(0.31) 3(0.31)
𝑈𝑛𝑖𝑑𝑎𝑑𝑒𝑠 𝑖𝑛𝑠𝑝𝑒𝑐𝑐𝑖𝑜𝑛𝑎𝑑𝑎𝑠 = 𝑈
𝐷𝑒𝑓𝑒𝑐𝑡𝑜𝑠 = 𝑑
𝑂𝑝𝑜𝑟𝑡𝑢𝑛𝑖𝑑𝑎𝑑𝑒𝑠 𝑑𝑒 𝑒𝑟𝑟𝑜𝑟 𝑝𝑜𝑟 𝑢𝑛𝑖𝑑𝑎 = 𝑂
𝐷𝑃𝑈 = 𝑑/𝑈
𝐷𝑃𝑈 = 1000/2000
𝐷𝑃𝑈 = 0,5
𝐷𝑃𝑂 = 𝑑/𝑈 ∗ 𝑂
𝑈 = 2000
𝑑 = 1000
𝑂 = 50
En promedio cada tarjeta producida tiene 50 % de defectos
𝑃(𝑍𝑍𝑦) = 1 − 𝑌
𝑃(𝑍 > 𝑍𝑦) = 1 − 0,6065
𝑃(𝑍 > 𝑍𝑦) = 0,2703
Suponiendo un desplazamiento de 1,5 sigmas .
𝑍𝑐 = 𝑍𝑦 + 1,5
𝑍𝑐 = 0,2703 + 1,5
𝑍𝑐 = 1,7703