JPWO2017150388A1 - 露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、デバイス製造方法、遮光装置、及び露光方法 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (42)
- 所定パターンを物体に投影する投影光学系に対して、前記物体を第1方向に相対移動させて露光する露光装置であって、
前記投影光学系を介して前記物体上に投影される投影領域のうち、前記第1方向の位置に応じて、前記物体上の照明量が前記第1方向に交差する前記第2方向に沿って変化する所定領域を遮光する遮光部と、
前記遮光部を、前記照明量を変化させるように駆動する駆動部と、を備える露光装置。 - 前記駆動部は、前記第2方向に関する前記所定領域の位置を変更するように、前記遮光部を駆動する請求項1に記載の露光装置。
- 前記遮光部は、前記第2方向に関して、前記物体上の照明量が連続的に変化するように前記投影領域の一部を遮光する請求項1又は2に記載の露光装置。
- 前記駆動部は、前記第1及び第2方向に交差する第3方向を軸として、前記遮光部を回転させる請求項1〜3の何れか一項に記載の露光装置。
- 前記駆動部は、前記第3方向を軸とし、前記投影領域に対する前記遮光部の角度を切替えるように、前記遮光部を駆動する請求項4に記載の露光装置。
- 前記駆動部は、前記遮光部を前記第2方向へ駆動する請求項1〜5の何れか一項に記載の露光装置。
- 前記遮光部は、前記第2方向に関して前記投影領域の端部を遮光する請求項1〜6の何れか一項に記載の露光装置。
- 前記物体を保持し、移動可能な移動体と、
前記第2方向に関する前記遮光部の位置に応じて、前記第2方向への前記移動体の移動を制御する制御部と、を更に備える請求項1〜7の何れか一項に記載の露光装置。 - 前記駆動部は、前記制御部により前記移動体が第2方向へ移動されると、前記投影領域の一端部を遮光する前記遮光部を、他端部を遮光するように駆動する請求項8に記載の露光装置。
- 前記制御部は、前記投影光学系により前記所定パターンのうち第1パターンが投影された前記物体上に、前記第1パターンと一部領域が重なる第2パターンが投影されるように、前記移動体を前記第2方向へ移動させる請求項8又は9に記載の露光装置。
- 前記遮光部は、前記一部領域である前記所定領域を遮光する請求項10に記載の露光装置。
- 前記投影光学系は、前記第1方向に関して、複数設けられ、
前記遮光部は、前記第1方向の異なる位置に設けられた前記投影光学系のそれぞれに設けられる請求項1〜11の何れか一項に記載の露光装置。 - 前記第1方向の異なる位置に設けられた前記投影光学系は、前記第2方向に関して、前記投影領域が一部異なる請求項12に記載の露光装置。
- 前記第1方向に複数設けられた前記投影光学系は、前記投影領域が重なる前記所定領域を照射する請求項12又は13に記載の露光装置。
- 前記物体は、フラットパネルディスプレイの製造に用いられる基板である請求項1〜14の何れか一項に記載の露光装置。
- 前記物体は、少なくとも一辺の長さ又は対角長が500mm以上である請求項1〜15の何れか一項に記載の露光装置。
- 請求項15に記載の露光装置を用いて、前記基板を露光することと、
露光された前記基板を現像することと、を含むフラットパネルディスプレイの製造方法。 - 請求項1〜16の何れか一項に記載の露光装置を用いて、前記基板を露光することと、
露光された前記基板を現像することと、を含むデバイス製造方法。 - 所定パターンを物体に投影する投影光学系に対して前記物体を第1方向に相対移動させて走査露光する露光装置に用いられる遮光装置であって、
前記投影光学系を介して前記物体上に投影される投影領域のうち、前記第1方向の位置に応じて、前記物体上の照明量が前記第1方向に交差する前記第2方向に沿って変化する所定領域を遮光する遮光部と、
前記遮光部を、前記照明量を変化させるように駆動する駆動部と、を備える遮光装置。 - 前記駆動部は、前記第2方向に関する前記所定領域の位置を変更するように、前記遮光部を駆動する請求項19に記載の遮光装置。
- 前記遮光部は、前記第2方向に関して、前記物体上の照明量が連続的に変化するように前記投影領域の一部を遮光する請求項19又は20に記載の遮光装置。
- 前記駆動部は、前記第1及び第2方向に交差する第3方向を軸として、前記遮光部を回転させる請求項19〜21の何れか一項に記載の遮光装置。
- 前記駆動部は、前記第3方向を軸とし、前記投影領域に対する前記遮光部の角度を切替えるように駆動する請求項22に記載の遮光装置。
- 前記駆動部は、前記遮光部を前記第2方向へ駆動する請求項19〜23の何れか一項に記載の遮光装置。
- 前記遮光部は、前記第2方向に関して前記投影領域の一端部を遮光する請求項19〜24の何れか一項に記載の遮光装置。
- 前記遮光部は、前記第2方向に関して前記投影領域の他端部を遮光する請求項25に記載の遮光装置。
- 前記遮光部は、前記露光装置に着脱可能に設けられる請求項19〜26の何れか一項に記載の遮光装置。
- 前記遮光部は、前記投影光学系に着脱可能に設けられる請求項19〜27の何れか一項に記載の遮光装置。
- 所定パターンを物体に投影する投影光学系に対して前記物体を第1方向に相対移動させて走査露光する露光方法であって、
前記投影光学系を介して前記物体上に投影される投影領域のうち、前記第1方向の位置に応じて、前記物体上の照明量が前記第1方向に交差する前記第2方向に沿って変化する所定領域を、遮光部によって遮光することと、
前記遮光部を、前記照明量を変化させるように駆動することと、を含む露光方法。 - 前記駆動することでは、前記遮光部を駆動し、前記第2方向に関する前記所定領域の位置を変更する請求項29に記載の露光方法。
- 前記遮光することでは、前記第2方向に関して、前記物体上の照明量が連続的に変化するように前記投影領域の一部を遮光する請求項29又は30に記載の露光方法。
- 前記駆動することでは、前記第1及び第2方向に交差する第3方向を軸として、前記遮光部を回転させる請求項29〜31の何れか一項に記載の露光方法。
- 前記駆動することでは、前記第3方向を軸とし、前記投影領域に対する前記遮光部の角度を切替えるように駆動する請求項32に記載の露光方法。
- 前記駆動することでは、前記遮光部を前記第2方向へ駆動する請求項29〜33の何れか一項に記載の露光方法。
- 前記遮光することでは、前記第2方向に関して前記投影領域の端部を遮光する請求項29〜34の何れか一項に記載の露光方法。
- 前記物体を保持する移動体を、前記第2方向に関する前記遮光部の位置に応じて、前記第2方向へ移動することと、を更に含む請求項29〜35の何れか一項に記載の露光方法。
- 前記駆動することで、前記移動体が前記第2方向へ移動されると、前記投影領域の一端部を遮光する前記遮光部を、他端部を遮光するように駆動する請求項36に記載の露光方法。
- 前記移動することでは、前記投影光学系により前記所定パターンのうち第1パターンが投影された前記物体上に、前記第1パターンと一部領域が重なる第2パターンが投影されるように、前記移動体を前記第2方向へ移動する請求項36又は37に記載の露光方法。
- 前記遮光することでは、前記一部領域である前記所定領域を遮光する請求項38に記載の露光方法。
- 請求項29〜39の何れか一項に記載の露光方法を用いて前記基板を露光することと、
露光された前記基板を現像することと、を含むフラットパネルディスプレイの製造方法。 - 前記基板は、少なくとも一辺の長さ又は対角長が500mm以上の基板である請求項40に記載のフラットパネルディスプレイの製造方法。
- 請求項29〜39の何れか一項に記載の露光方法を用いて前記基板を露光することと、
露光された前記基板を現像することと、を含むデバイス製造方法。
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Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08330220A (ja) * | 1995-06-02 | 1996-12-13 | Nikon Corp | 走査露光装置 |
JP2003151880A (ja) * | 2001-11-12 | 2003-05-23 | Nikon Corp | 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 |
JP2004335864A (ja) * | 2003-05-09 | 2004-11-25 | Nikon Corp | 露光装置及び露光方法 |
WO2009088004A1 (ja) * | 2008-01-09 | 2009-07-16 | Nikon Corporation | 露光方法及び露光装置 |
JP2011248125A (ja) * | 2010-05-27 | 2011-12-08 | Nikon Corp | 露光方法、露光装置、マスク及びデバイス製造方法 |
JP2015102699A (ja) * | 2013-11-25 | 2015-06-04 | 株式会社ニコン | 露光方法及びデバイス製造方法 |
Family Cites Families (12)
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JP2001044099A (ja) * | 1999-07-26 | 2001-02-16 | Nikon Corp | 露光装置及び露光方法 |
JP2001201867A (ja) * | 2000-01-21 | 2001-07-27 | Nikon Corp | 露光方法及び露光装置、デバイス製造方法 |
EP1843204A1 (en) * | 2005-01-25 | 2007-10-10 | Nikon Corporation | Exposure device, exposure method, and micro device manufacturing method |
JPWO2007055199A1 (ja) * | 2005-11-09 | 2009-04-30 | 株式会社ニコン | 露光装置及び方法、並びにデバイス製造方法 |
KR20080071555A (ko) * | 2005-12-06 | 2008-08-04 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광 장치, 노광 방법, 투영 광학계 및 디바이스 제조방법 |
WO2008108423A1 (ja) * | 2007-03-08 | 2008-09-12 | Nikon Corporation | 位置計測モジュール、位置計測装置、ステージ装置、露光装置及びデバイス製造方法 |
JP5105155B2 (ja) | 2007-07-13 | 2012-12-19 | Nskテクノロジー株式会社 | 露光装置及び露光方法 |
TW201001091A (en) * | 2008-04-17 | 2010-01-01 | Nikon Corp | Lighting device, exposure device, and device production method |
JP5392549B2 (ja) * | 2009-05-12 | 2014-01-22 | 株式会社ニコン | 露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法 |
JP5836848B2 (ja) * | 2012-03-06 | 2015-12-24 | 東京エレクトロン株式会社 | 補助露光装置 |
JP2013238670A (ja) * | 2012-05-11 | 2013-11-28 | Canon Inc | 露光装置、露光方法、デバイスの製造方法及び開口板 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH08330220A (ja) * | 1995-06-02 | 1996-12-13 | Nikon Corp | 走査露光装置 |
JP2003151880A (ja) * | 2001-11-12 | 2003-05-23 | Nikon Corp | 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 |
JP2004335864A (ja) * | 2003-05-09 | 2004-11-25 | Nikon Corp | 露光装置及び露光方法 |
WO2009088004A1 (ja) * | 2008-01-09 | 2009-07-16 | Nikon Corporation | 露光方法及び露光装置 |
JP2011248125A (ja) * | 2010-05-27 | 2011-12-08 | Nikon Corp | 露光方法、露光装置、マスク及びデバイス製造方法 |
JP2015102699A (ja) * | 2013-11-25 | 2015-06-04 | 株式会社ニコン | 露光方法及びデバイス製造方法 |
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