JP7000187B2 - 基準電圧回路及び半導体装置 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の第1の実施形態の基準電圧回路10を説明するための回路図である。基準電圧回路10は、基準端子2を基準とした一定の基準電圧Vrefを出力端子3に出力する回路である。
デプレッション型NMOSトランジスタ11aは、ドレインが電源端子1に接続され、ソースがデプレッション型NMOSトランジスタ11bのドレインに接続され、ゲートがデプレッション型NMOSトランジスタ11bのゲートに接続される。デプレッション型NMOSトランジスタ11bは、ゲートとソースがエンハンスメント型NMOSトランジスタ12のゲートとドレインに接続される。エンハンスメント型NMOSトランジスタ12は、ソースが基準端子2に接続される。コンデンサ13は、一方の端子がデプレッション型NMOSトランジスタ11bのドレインに接続され、他方の端子がデプレッション型NMOSトランジスタ11bのソースに接続される。出力端子3は、デプレッション型NMOSトランジスタ11bのソースとエンハンスメント型NMOSトランジスタ12のドレインとの接続ノードに接続される。
基準電圧回路10は、動作するのに十分な電源電圧が電源端子1に与えられている場合、デプレッション型NMOSトランジスタ11aとエンハンスメント型NMOSトランジスタ12は飽和領域で動作し、デプレッション型NMOSトランジスタ11bは非飽和領域で動作する。そして、デプレッション型NMOSトランジスタ11a及び11bは、ゲート・ソース間電圧がしきい値電圧よりも大きいので共にオンする。従って、デプレッション型NMOSトランジスタ11a及び11bのドレイン電流がエンハンスメント型NMOSトランジスタ12に流れるので、エンハンスメント型NMOSトランジスタ12はゲートに基準電圧Vrefを発生させる。
図2は、第2の実施形態の基準電圧回路20を説明するための回路図である。なお、図1に示す第1の実施形態の基準電圧回路10と同一の構成要素には同一の符号を付し、重複する説明は適宜省略する。
定常状態ではコンデンサ13及び負荷容量は充電されており、デプレッション型NMOSトランジスタ11aに流れる電流は、カレントミラー回路によって折り返されて、エンハンスメント型NMOSトランジスタ12に流れることによって基準電圧Vrefを発生させる。以上の動作は、基準電圧回路10と同様である。
図3は、本発明の第3の実施形態の基準電圧回路30を説明するための回路図である。なお、図1に示す第1の実施形態の基準電圧回路10と同一の構成要素には同一の符号を付し、重複する説明は適宜省略する。
11、11a、11b、31 デプレッション型NMOSトランジスタ
12 エンハンスメント型NMOSトランジスタ
13 コンデンサ
24、25 PMOSトランジスタ
Claims (11)
- ゲートが共通に接続され、直列に接続されたデプレッション型MOSトランジスタとエンハンスメント型MOSトランジスタを備え、前記エンハンスメント型MOSトランジスタのドレインから基準電圧を出力する基準電圧回路であって、
前記デプレッション型MOSトランジスタは、少なくとも、ゲートとソースが前記エンハンスメント型MOSトランジスタのゲートとドレインに接続された第一のデプレッション型MOSトランジスタと、ゲートが前記第一のデプレッション型MOSトランジスタのゲートに接続され、ソースが前記第一のデプレッション型MOSトランジスタのドレインに接続された第二のデプレッション型MOSトランジスタと、で構成され、
一端が前記第一のデプレッション型MOSトランジスタのドレインに接続され、他端が前記第一のデプレッション型MOSトランジスタのソースに接続されたコンデンサを備えたことを特徴とする基準電圧回路。 - 前記基準電圧回路は、第三のデプレッション型MOSトランジスタを備え、
前記第三のデプレッション型MOSトランジスタは、ゲートが前記第二のデプレッション型MOSトランジスタのソースに接続され、ソースが前記第二のデプレッション型MOSトランジスタのドレインに接続されたことを特徴とする請求項1に記載の基準電圧回路。 - デプレッション型MOSトランジスタとエンハンスメント型MOSトランジスタとカレントミラー回路を備え、前記エンハンスメント型MOSトランジスタのドレインから基準電圧を出力する基準電圧回路であって、
前記デプレッション型MOSトランジスタは、少なくとも、ゲートとソースが前記エンハンスメント型MOSトランジスタのソースに接続された第一のデプレッション型MOSトランジスタと、ゲートが前記第一のデプレッション型MOSトランジスタのゲートに接続され、ソースが前記第一のデプレッション型MOSトランジスタのドレインに接続された第二のデプレッション型MOSトランジスタと、で構成され、
一端が前記第一のデプレッション型MOSトランジスタのドレインに接続され、他端が前記第一のデプレッション型MOSトランジスタのソースに接続されたコンデンサを備え、
前記カレントミラー回路は、入力端子が前記デプレッション型MOSトランジスタに接続され、出力端子が前記エンハンスメント型MOSトランジスタのゲートとドレインに接続され、前記デプレッション型MOSトランジスタが流す電流に比例した電流を前記エンハンスメント型MOSトランジスタのドレインに流すことを特徴とする基準電圧回路。 - 前記基準電圧回路は、第三のデプレッション型MOSトランジスタを備え、
前記第三のデプレッション型MOSトランジスタは、ゲートが前記第二のデプレッション型MOSトランジスタのソースに接続され、ソースが前記第二のデプレッション型MOSトランジスタのドレインに接続され、ドレインが前記カレントミラー回路の入力端子に接続されたことを特徴とする請求項3に記載の基準電圧回路。 - ゲートが共通に接続され、直列に接続されたデプレッション型MOSトランジスタとエンハンスメント型MOSトランジスタを備え、前記エンハンスメント型MOSトランジスタのドレインから基準電圧を出力する基準電圧回路であって、
前記デプレッション型MOSトランジスタは、少なくとも、ゲートとソースが前記エンハンスメント型MOSトランジスタのゲートとドレインに接続された第一のデプレッション型MOSトランジスタと、ゲートが前記第一のデプレッション型MOSトランジスタのゲートに接続され、ソースが前記第一のデプレッション型MOSトランジスタのドレインに接続された第二のデプレッション型MOSトランジスタと、で構成され、
ゲートが前記第二のデプレッション型MOSトランジスタのソースに接続され、ソースが前記第二のデプレッション型MOSトランジスタのドレインに接続された第三のデプレッション型MOSトランジスタと、
一端が前記第三のデプレッション型MOSトランジスタのソースに接続され、他端が前記第一のデプレッション型MOSトランジスタのソースに接続されたコンデンサを備えたことを特徴とする基準電圧回路。 - デプレッション型MOSトランジスタとエンハンスメント型MOSトランジスタとカレントミラー回路を備え、前記エンハンスメント型MOSトランジスタのドレインから基準電圧を出力する基準電圧回路であって、
前記デプレッション型MOSトランジスタは、少なくとも、ゲートとソースが前記エンハンスメント型MOSトランジスタのソースに接続された第一のデプレッション型MOSトランジスタと、ゲートが前記第一のデプレッション型MOSトランジスタのゲートに接続され、ソースが前記第一のデプレッション型MOSトランジスタのドレインに接続された第二のデプレッション型MOSトランジスタと、で構成され、
ゲートが前記第二のデプレッション型MOSトランジスタのソースに接続され、ソースが前記第二のデプレッション型MOSトランジスタのドレインに接続された第三のデプレッション型MOSトランジスタと、
一端が前記第三のデプレッション型MOSトランジスタのソースに接続され、他端が前記第一のデプレッション型MOSトランジスタのソースに接続されたコンデンサを備え、
前記カレントミラー回路は、入力端子が前記第三のデプレッション型MOSトランジスタのドレインに接続され、出力端子が前記エンハンスメント型MOSトランジスタのゲートとドレインに接続され、前記デプレッション型MOSトランジスタが流す電流に比例した電流を前記エンハンスメント型MOSトランジスタのドレインに流すことを特徴とする基準電圧回路。 - 前記第二のデプレッション型MOSトランジスタは、前記第一のデプレッション型MOSトランジスタよりも電流供給能力が高いことを特徴とする請求項1または3に記載の基準電圧回路。
- 前記第二のデプレッション型MOSトランジスタは、前記第一のデプレッション型MOSトランジスタよりもゲート・ドレイン間耐圧、及び、ソース・ドレイン間耐圧が高いことを特徴とする請求項1、3、7のいずれかに記載の基準電圧回路。
- 前記第三のデプレッション型MOSトランジスタは、前記第一及び第二のデプレッション型MOSトランジスタよりも電流供給能力が高いことを特徴とする請求項2、4、5、6のいずれかに記載の基準電圧回路。
- 前記第三のデプレッション型MOSトランジスタは、前記第二のデプレッション型MOSトランジスタよりもゲート・ドレイン間耐圧、及び、ソース・ドレイン間耐圧が高いことを特徴とする請求項2、4、5、6、9のいずれかに記載の基準電圧回路。
- 請求項1から10のいずれかに記載の基準電圧回路を備えた半導体装置。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020035307A (ja) * | 2018-08-31 | 2020-03-05 | エイブリック株式会社 | 定電流回路 |
JP6887457B2 (ja) * | 2019-03-01 | 2021-06-16 | 力晶積成電子製造股▲ふん▼有限公司Powerchip Semiconductor Manufacturing Corporation | 基準電圧発生回路及び不揮発性半導体記憶装置 |
CN115202430B (zh) * | 2021-04-13 | 2024-05-24 | 拓尔微电子股份有限公司 | 基准电压产生电路和振荡器 |
CN114115420B (zh) * | 2021-11-25 | 2022-11-29 | 合肥宽芯电子技术有限公司 | 一种e/d_nmos基准电压源 |
FR3131481A1 (fr) * | 2021-12-23 | 2023-06-30 | Wise Integration | Circuit de reference de tension |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007266715A (ja) | 2006-03-27 | 2007-10-11 | Seiko Instruments Inc | カスコード回路および半導体装置 |
JP2011029912A (ja) | 2009-07-24 | 2011-02-10 | Seiko Instruments Inc | 基準電圧回路及び電子機器 |
JP2011113321A (ja) | 2009-11-26 | 2011-06-09 | Torex Semiconductor Ltd | 基準電圧回路 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56108258A (en) * | 1980-02-01 | 1981-08-27 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Semiconductor device |
JPS61117915A (ja) * | 1984-11-13 | 1986-06-05 | Fujitsu Ltd | 遅延回路 |
JPH08335122A (ja) * | 1995-04-05 | 1996-12-17 | Seiko Instr Inc | 基準電圧用半導体装置 |
JPH09162713A (ja) * | 1995-12-11 | 1997-06-20 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
JP4084872B2 (ja) * | 1997-08-28 | 2008-04-30 | 株式会社リコー | ボルテージレギュレータ |
US6005378A (en) * | 1998-03-05 | 1999-12-21 | Impala Linear Corporation | Compact low dropout voltage regulator using enhancement and depletion mode MOS transistors |
JP2002328732A (ja) * | 2001-05-07 | 2002-11-15 | Texas Instr Japan Ltd | 基準電圧発生回路 |
JP2008234584A (ja) * | 2007-03-23 | 2008-10-02 | Toshiba Corp | 基準電圧発生回路 |
US7948220B2 (en) * | 2007-04-11 | 2011-05-24 | International Rectifier Corporation | Method and apparatus to reduce dynamic Rdson in a power switching circuit having a III-nitride device |
CN101667050B (zh) * | 2009-08-14 | 2011-11-30 | 西安龙腾微电子科技发展有限公司 | 高精度电压基准电路 |
IN2012DN01823A (ja) * | 2009-10-16 | 2015-06-05 | Semiconductor Energy Lab | |
JP5695392B2 (ja) * | 2010-03-23 | 2015-04-01 | セイコーインスツル株式会社 | 基準電圧回路 |
JP5762205B2 (ja) * | 2011-08-04 | 2015-08-12 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 半導体集積回路 |
JP5952035B2 (ja) * | 2012-03-12 | 2016-07-13 | エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 | ローパスフィルタ回路及びボルテージレギュレータ |
US9184243B2 (en) * | 2013-07-12 | 2015-11-10 | Infineon Technologies Americas Corp. | Monolithic composite III-nitride transistor with high voltage group IV enable switch |
CN204166421U (zh) * | 2014-09-10 | 2015-02-18 | 成都星芯微电子科技有限公司 | 一种低功耗低噪声高电源电压抑制比的电压基准源电路 |
-
2018
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- 2018-12-29 CN CN201811633844.4A patent/CN110134175B/zh active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007266715A (ja) | 2006-03-27 | 2007-10-11 | Seiko Instruments Inc | カスコード回路および半導体装置 |
JP2011029912A (ja) | 2009-07-24 | 2011-02-10 | Seiko Instruments Inc | 基準電圧回路及び電子機器 |
JP2011113321A (ja) | 2009-11-26 | 2011-06-09 | Torex Semiconductor Ltd | 基準電圧回路 |
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