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Die
Erfindung bezieht sich auf eine Mikroskopanordnung, umfassend eine
Beleuchtungsquelle, optische Baugruppen zur Erzeugung eines Beleuchtungsstrahlengangs,
ein Objektiv, durch das der Beleuchtungsstrahlengang auf eine Probe
gerichtet ist, die sich in der Objektebene des Objektivs oder in
deren Nähe
befindet, sowie optische Baugruppen zur Erzeugung eines auf die
Empfangsfläche
einer Kamera gerichteten Abbildungsstrahlengangs.
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Mikroskopanordnungen,
insbesondere zur Auflichtmikroskopie im Zusammenhang mit radiometrischen
Messungen an der Oberfläche
von Biochips, sind an sich bereits bekannt. Derartigen Anordnungen
liegen im wesentlichen zwei unterschiedliche Funktionsprinzipien
zugrunde.
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So
sind beispielsweise Laserscanningmikroskope bekannt, bei denen lediglich
eine kleine Fläche von
einigen μm2 der Probe beleuchtet wird und demzufolge
im Augenblick der Beleuchtung auch nur dieselbe kleine Fläche auswertbar
ist. Um bei der Auswertung Falschlicht zu unterdrücken und
die Abbildungsgüte
zu erhöhen,
werden „konfokale" Scanverfahren angewendet,
indem in den Mikroskopstrahlengang Lochblenden gestellt werden.
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Nachteil
der Laserscanningmikroskopie insbesondere bei Biochip-Untersuchungen
ist die Gefahr des Ausbleichens aufgrund der hohen Intensität der auf
die kleine betrachtete Fläche
fokussierten Laserstrahlung. Außerdem
ist die Wahl der Wellenlänge des
Beleuchtungslichts stark eingeschränkt. Weiterhin erfordern Laserscanner
mechanisch bewegte Bau gruppen, wie beispielsweise galvanische Scaneinrichtungen,
was einen verhältnismäßig hohen
mechanischen Verschleiß und
auch hohen Justageaufwand zur Folge hat. Nachteilig ist auch die
geringe Quanteneffizienz des Detektors, der in der Regel als Fotomultiplier
ausgebildet ist, wovon insbesondere Beleuchtungslicht mit Wellenlängen oberhalb
von 600 nm betroffen ist.
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Ein
weiteres Prinzip beruht auf der Weitfeld-Detektion. Dabei wird ein
großflächigeres
Feld auf der Probe ausgeleuchtet, und mittels eines Objektivs und
gegebenenfalls weiterer Optiken wird ein entsprechender Abschnitt
der Probe auf einen ortsauflösenden
Empfänger,
beispielsweise eine CCD-Kamera, abgebildet.
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Sofern
es sich dabei um fluoreszenzmikroskopische Untersuchungen handelt,
sind in den Beleuchtungs- bzw. Anregungsstrahlengang und in den Detektions-
bzw. Fluoreszenzstrahlengang Spektralfilter gestellt, die für Licht
der jeweiligen Wellenlänge durchlässig sind.
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Nachteiligerweise
ist die Qualität
von Bild zu Bild innerhalb einer Bildfolge, die mit einer der bisher bekannten,
mit einer Kamera arbeitenden Mikroskopanordnungen von einer Probenoberfläche aufgenommen
wird, nicht ausreichend gleichmäßig, so daß sich beim
Aneinanderfügen
mehrerer Kamerabilder eine kachelartige Struktur im Gesamtbild ergibt. Insbesondere
beim Auslesen von Biochips ist dieses Aneinanderfügen von
Bildern jedoch unerläßlich, und die
kachelartige Struktur ist im Hinblick auf eine genaue Auswertung
unbedingt zu vermeiden.
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Weiterhin
ist nachteilig, daß die
Gleichmäßigkeit
der Ausleuchtung des Objektfeldes bzw. des abzubildenden Probenabschnittes
für hochgenaue Untersuchungen
nicht ausreicht und außerdem
die begrenzte Lebensdauer der Beleuchtungsquellen bzw. deren Wartung
und wiederholt notwendige Justage eine kontinuierliche Bewertung
wechselnder Proben, wie dies beispielsweise bei Messungen von Biochips
mit hohem Durchsatz erforderlich ist, behindert.
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Eine
weitere Störquelle
sind unerwünschte Reflexe
im Beleuchtungs- und Abbildungsstrahlengang.
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Davon
ausgehend liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine Mikroskopanordnung,
die nach dem Prinzip der Weitfeld-Detektion arbeitet, dahingehend weiterzubilden,
daß Meßergebnisse
mit höherer
Genauigkeit erzielt werden, als dies im bisherigen Stand der Technik
möglich
ist.
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Erfindungsgemäß ist bei
einer solchen Mikroskopanordnung eine Homogenisierungseinrichtung
zur Vergleichmäßigung der
Intensität
des Beleuchtungslichts, das auf den zu untersuchenden Probenabschnitt
trifft, vorhanden.
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Mit
der Homogenisierungseinrichtung wird vorteilhaft erreicht, daß die Objektebene
der Mikroskopanordnung und damit der sich in der Objektebene oder
in deren Nähe
befindende Teilabschnitt einer Probe homogen ausgeleuchtet und dadurch
eine verbesserte Qualität
der Abbildung dieses Probenabschnitts erzielt wird, wodurch im Ergebnis
schließlich eine
höhere
quantitative Meßgenauigkeit
zu bestimmender Intensitätswerte
erzielt wird.
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Als
Beleuchtungsquellen kommen Halogenlampen, Bogenlampen, LED's und Laser in Betracht, die
Licht im sichtbaren, im UV- und/oder im IR-Spektralbereich emittieren.
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Die
Homogenisierungseinrichtung ist vorteilhaft als Lichtleiter ausgebildet,
welcher eine der Beleuchtungsquelle zugewandte Einstrahlfläche und eine
dem Objektiv zugewandte Abstrahlfläche für das Beleuchtungslicht aufweist.
Dabei kann der Lichtleiter als innen verspiegelter Hohlstab, als
innen total-reflektierender, transparenter Vollstab, als Flüssigkeitslichtleiter
oder auch in Form eines Glasfaserbündels ausgeführt sein.
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Besteht
der Lichtleiter aus einem Glasfaserbündel, so ist es empfehlenswert,
die Abstrahlfläche selbst
als Lichtstreuscheibe auszugestalten oder der Abstrahlfläche eine
Lichtstreuscheibe nachzuordnen, die Lichtstreuscheibe unscharf in
die Objektebene abzubilden und dadurch die Ausleuchtung zu homogenisieren.
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Der
optisch wirksame Querschnitt des Lichtleiters kann entweder kreisrund,
quadratisch oder rechteckig ausgeführt sein. Weiterhin kann der
Lichtleiter so ausgestaltet sein, daß die Einstrahlfläche, die
Abstrahlfläche
oder auch beide dieser Flächen mit
einer Mikrolinsenstruktur versehen sind, wobei eine Vielzahl runder,
quadratischer, wabenförmiger oder
zylinderförmiger
Mikrolinsen auf der jeweiligen Fläche nebeneinander angeordnet
sind und jede dieser Linsen einen Linsenradius von etwa 100 μm bis 1000 μm senkrecht
zur optischen Achse des Beleuchtungsstrahlengangs hat.
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Die
Homogenisierung der Strahlungsintensität erfolgt, indem das Licht
innerhalb des Lichtleiters durch Reflexion fortgeleitet wird und
dabei aufgrund der Vielfachreflexionen einzelner Strahlungsanteile an
der innen hochreflektierenden Wandung eine Durchmischung erfährt. Dadurch
wird über
den Lichtweg im Lichtleiter hinweg eine Vergleichmäßigung der
Strahlungsintensität,
auf den Strahlquerschnitt bezogen, erzielt.
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Wird
zusätzlich
noch die Ein- und/oder die Abstrahlfläche mit einer Mikrolinsenstruktur
versehen, wird das Beleuchtungslicht beim Durchgang durch diese
Struktur in eine der Vielzahl der Mikrolinsen entsprechende Anzahl
von Teilstrahlen aufgespaltet, wodurch eine noch bessere Durchmischung bzw.
Homogenisierung der Intensitätsverteilung
erzielt wird.
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Dabei
muß die
Mikrostruktur nicht, wie beispielhaft dargestellt, auf der Ein-
und/oder Abstrahlfläche
vorhanden sein, sondern es ist denkbar und führt zu vergleichbar guten Ergebnissen,
wenn die Mikrolinsenstruktur auf gesonderten optischen Bauelementen
vorhanden ist und diese der Einstrahlfläche vorgeordnet und/oder der
Abstrahlfläche
nachgeordnet sind.
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Im
Rahmen der Erfindung liegt es auch, die Homogenisierung durch gekreuzte
Mikrozylinderlinsen zu erzielen, wobei zwei im Beleuchtungsstrahlengang
aufeinander folgende optische Bauelemente mit Mikrozylinderlinsen
strukturiert sind, deren Längsrichtungen
senkrecht zur optischen Achse des Beleuchtungsstrahlengangs orientiert
sind, wobei jedoch die Längsrichtung
der Mikrozylinderlinsen auf dem einen Bauele ment mit der Längsrichtung
der Mikrozylinderlinsen auf dem anderen Bauelement einen Winkel
von 90° einschließt.
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Um
die homogenisierte Beleuchtungsstrahlung für die Abbildung der Probe nutzbar
zu machen, sind Mittel zur Abbildung der Abstrahlfläche der
Homogenisierungseinrichtung in die Feldblendenebene der Mikroskopanordnung
vorgesehen sowie Mittel zur Abbildung der Feldblendenebene in die
Objektebene. Damit wird erreicht, daß das an der Abstrahlfläche homogenisiert
austretende Beleuchtungslicht mit vergleichmäßigter Intensitätsverteilung
in die Objektebene gelangt.
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In
einer vereinfachten Ausführung
wird die Abstrahlfläche
der Homogenisierungseinrichtung nicht in die Feldblendenebene abgebildet,
sondern direkt in der Feldblendenebene bzw. in deren unmittelbarer
Nähe positioniert.
Hierdurch ist eine Reduzierung der Anzahl an optischen Baugruppen
möglich.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen,
daß die
optisch wirksame Fläche
einer in der Feldblendenebene angeordneten Feldblende streifenartig
oder schachbrettartig strukturiert ist, wobei in der Struktur transparente
und intransparente Teilflächen
alternieren. In diesem Fall ist unmittelbar vor der Feldblende ein
Shutter zur teilweisen Abblockung des Lichts angeordnet. Der Shutter
ist vorzugsweise ansteuerbar und dient zur Verdunklung auswählbarer
Flächenbereiche
der Feldblende. Damit wird insbesondere erreicht, daß ein gegebenenfalls
vorhandener Autofokussensor nicht von gestreutem Anregungslicht überstrahlt
wird.
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Eine
so strukturierte Feldblende wird beispielsweise erzeugt, indem die
gewünschte
streifen- oder schachbrettartige Struktur zunächst als Metallschicht auf
eine Glasplatte aufgedampft und dann eine zweite Glasplatte auf
diese Struktur aufklebt wird. Die beiden nach außen, zur Luft hin hingerichteten
Grenzflächen
der Glasplatten werden vorzugsweise entspiegelt.
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In
einer ebenfalls bevorzugten Ausführung der
erfindungsgemäßen Mikroskopanordnung
ist der Feldblende im Beleuchtungsstrahlengang ein erster teildurchlässiger Umlenkspiegel
nachgeordnet, von dem der überwiegende
Teil des Beleuchtungslichts durch einen den Beleuchtungsstrahlengang
parallelisierenden Beleuchtungstubus hindurch und nachfolgend je
nach Anwendungsfall noch durch ein Spektralfilter zur Auswahl eines
zur Anregung vorgesehenen Spektralanteils auf einen Farbteiler,
beispielsweise einen dichroitischen Spiegel, oder einen teildurchlässigen Spiegel
trifft und von dessen Teilerfläche
durch das Objektiv hindurch auf die Probe gelenkt wird.
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Ein
an dem vor dem Beleuchtungstubus angeordneten teiltransparenten
Umlenkspiegel abgezweigter geringerer Teil des Beleuchtungsstrahlengangs
kann beispielsweise auf einen Monitordetektor gerichtet sein, der
zur Kontrolle der Intensität
des Beleuchtungslichts dient. Das Ausgangssignal des Monitordetektors
kann dann zur Nachregelung oder Normierung der Intensität genutzt
werden.
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Von
der Probe tritt das reflektierte oder, im Falle der Fluoreszenzmikroskopie
emittierte Licht wieder durch das Objektiv, passiert den Farbteiler bzw.
den teildurchlässi gen
Spiegel sowie ein nachgeordnetes zweites Spektralfilter, das für das Emissions-
bzw. Reflexionslicht durchlässig
ist, und gelangt anschließend
durch einen Abbildungstubus hindurch zu der Kamera.
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Vorteilhaft
sind der Beleuchtungstubus und der Abbildungstubus aus identischen
optischen Baugruppen ausgeführt,
wodurch die Herstellungskosten gering gehalten werden können. Außerdem ist
es so möglich,
die Mikroskopanordnung mit einer definierten optischen Schnittstelle
zur Kopplung des Objektivs sowohl mit dem Beleuchtungs- als auch
mit dem Abbildungstubus zu versehen. Dies hat den Vorteil, daß verschiedene
Objektive in einfacher Weise bei geringem Justageaufwand gegeneinander
ausgetauscht und je nach Wahl Objektive genutzt werden können, die
entweder ein hohe optische Auflösung von
kleiner 1 μm
ermöglichen
oder ein großes
Objektfeld mit bis zu einigen Zentimetern Durchmesser ausleuchten.
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Zu
diesem Zweck sind mindestens zwei Objektive, die sich bezüglich ihrer
optischen Eigenschaften unterscheiden, auf einer Wechseleinrichtung,
bevorzugt einem Objektivrevolver, angeordnet.
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Außerdem ist
vorgesehen, daß dem
Objektiv bzw. den Objektiven jeweils ein abnehmbares Ausgleichsglas
vorgeordnet ist, wodurch wahlweise mit Ausgleichsglas auf einer
dem Objektiv zugewandten Luft/Festkörper-Grenzfläche an der
Probe oder, ohne Ausgleichsglas, durch einen transparenten Probenträger hindurch
gemessen werden kann.
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Weiterhin
ist vorteilhaft vorgesehen, daß die Flächennormalen
der Spektralfilter im Beleuchtungs- und/oder im Abbildungsstrahlengang
mit der optischen Achse des jeweiligen Strahlengangs einen Winkel
im Bereich von 1° bis
20°, bevorzugt
von 5°, einschließen. Diese
Neigung gegen die jeweilige optische Achse verhindert, daß Falschlicht
zur Auswertung gelangt, wobei insbesondere die Neigung des Spektralfilters
im Beleuchtungsstrahlengang im Hinblick auf eine Autofokussiereinrichtung
von Bedeutung ist, wie weiter unten noch näher erläutert wird.
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Vorteilhaft
ist vorgesehen, daß das
Spektralfilter im Beleuchtungsstrahlengang und das Spektralfilter
im Abbildungsstrahlengang gemeinsam mit dem Farbteiler als Filterwürfel ausgebildet
sind. Dieser Filterwürfel
kann in ergänzender
Ausgestaltung mit mindestens einem weiteren Filterwürfel, der
sich vom ersten Filterwürfel
hinsichtlich der gefilterten Wellenlängen, bei der Fluoreszenzmikroskopie
zum Beispiel hinsichtlich der Anregungs- und Emissionswellenlängen unterscheidet,
auf einer Wechseleinrichtung angeordnet sein, die beispielsweise
als Wechselrad ausgebildet ist.
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Im
Rahmen der Erfindung liegt es weiterhin, daß in den Beleuchtungsstrahlengang
ein gegen die optische Achse des Beleuchtungsstrahlengangs geneigtes
Graufilter einschwenkbar ist, wobei die Flächennormale des Graufilters
mit der optischen Achse des Beleuchtungsstrahlengangs einen Winkel
im Bereich von 5° bis
15° einschließt. Dieses
Graufilter dient zur Abschwächung
der Strahlung, wobei die Neigung des Filters gegen die optische
Achse verhindert, daß von
der Eintrittsfläche
des Graufilters zuviel Beleuchtungslicht zur Beleuchtungsquelle
zurückreflektiert
und dadurch eine unzulässige
Aufheizung die Beleuchtungsquelle vermieden wird.
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Als
besonders vorteilhaft ist eine Ausgestaltung zu bewerten, bei der
die Beleuchtungsquelle über
eine lösbare
mechanische Verbindung mit den übrigen
Baugruppen der Mikroskopanordnung gekoppelt ist. Da die Beleuchtungsquelle
aufgrund der Homogenisierungseinrichtung von den übrigen optischen
Baugruppen, die der Erzeugung des Beleuchtungsstrahlengangs dienen,
entkoppelt ist und die mit der Homogenisierungseinrichtung erreichte
gleichmäßige Intensitätsverteilung
im Beleuchtungsstrahlengang auch dann erhalten bleibt, wenn die
Beleuchtungsquelle gewechselt wird, ist die technische Grundlage
für die
justagefreie Auswechslung verschiedener Beleuchtungsquellen gegeneinander
gegeben.
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Dabei
können
sich die ausgewechselten Beleuchtungsquellen sowohl hinsichtlich
der technischen Ausstattung (Halogenlampe, Bogenlampe, LED usw.)
als auch hinsichtlich der Wellenlängen des abgestrahlten Lichts
(VIS, UV, IR) unterscheiden.
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Weiterhin
besteht eine Ausführungsoption darin,
das Objektiv auf einer Geradführung
in Richtung seiner optischen Achse verschiebbar anzuordnen und zu
diesem Zweck mit einer motorisch angetriebenen Stelleinrichtung
zu koppeln. Die Verschiebbarkeit des Objektivs in Richtung der optischen
Achse ist zur Veränderung
des Abstandes zwischen der Probe und dem Objektiv und damit zur
Fokussierung nutzbar.
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So
ist optional eine Autofokussiereinrichtung vorgesehen, die einen
Autofokussensor, eine Autofokusaktorik sowie Mit tel zur Einkopplung
eines Autofokus-Laserstrahls in den Beleuchtungsstrahlengang umfaßt.
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Die
Kamera kann wahlweise als CCD- oder als CMOS-Kamera ausgebildet
sein.
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In
einer besonders bevorzugten Ausführung der
erfindungsgemäßen Mikroskopanordnung
ist die optische Achse des Objektivs senkrecht zur Schwerkraftrichtung
ausgerichtet. Dadurch können
sich Luftblasen, die sich häufig
an Glas/Flüssigkeits-Grenzflächen kartuschenartiger
Proben absetzen, oberhalb des Flüssigkeitspegels
sammeln. Sie verfälschen dann
nicht mehr die Abbildung, wodurch die Meßgenauigkeit weiterhin erhöht wird.
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Zur
Aufnahme der Probe ist ein in den Koordinatenrichtungen X und/oder
Y senkrecht zur optischen Achse des Objektivs verstellbarer Probentisch vorgesehen.
Der Probentisch kann vorteilhaft mit einem Piezoantrieb und/oder
mit einem Spindelantrieb gekoppelt sein. Bevorzugt ist zur Verstellung
des Probentisches in der Koordinatenrichtung X der Piezoantrieb
und zur Verstellung des Probentisches in der Koordinatenrichtung
Y, die bevorzugt der Schwerkraftrichtung entspricht, der Spindelantrieb
vorgesehen.
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Außerdem kann
der Probentisch mit einer Nivelliereinrichtung gekoppelt sein, die
zur Einstellung der Neigung der Probenoberfläche relativ zur optischen Achse
des Objektivs dient. Die Probe ist mittels eines Probenhalters auf
dem Probentisch angeordnet, wobei der Probenhalter und der Probentisch lösbar miteinander
verbunden sind.
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Die
Erfindung wird nachfolgend anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert. In
den zugehörigen
Zeichnungen zeigen:
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1 das Grundprinzip der Erfindung
anhand einer Mikroskopanordnung für die Fluoreszenzmikroskopie,
wobei die Homogenisierungseinrichtung als Vollglasstab ausgebildet
ist,
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2 das Grundprinzip der erfindungsgemäßen Mikroskopanordnung,
bei dem die Homogenisierungseinrichtung flexibel als Glasfaserbündel ausgebildet
ist,
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3 das Grundprinzip der erfindungsgemäßen Mikroskopanordnung,
bei dem die Homogenisierungseinrichtung aus zwei optischen Elementen besteht,
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4 eine in die erfindungsgemäßen Mikroskopanordnung
integrierte Autofokussiereinrichtung,
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5 das Prinzip der Autofokusaktorik
innerhalb der erfindungsgemäßen Mikroskopanordnung,
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6 eine besonders im Hinblick
auf die Autofokussierung vorteilhafte Ausgestaltungsvariante der
erfindungsgemäßen Mikroskopanordnung,
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7 die Neigung der Flächennormalen
eines Spektralfilters gegen die optische Achse des Abbildungsstrahlengangs,
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8 die Kopplung des Probentisches
der erfindungsgemäße Mikroskopanordnung
an eine Antriebseinrichtung,
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8a die Antriebseinrichtung
für den
Probentisch, der in den Koordinatenrichtungen X und Y senkrecht
zur optischen Achse des Objektivs verstellbar ist, wobei die optische
Achse des Objektivs senkrecht zur Schwerkraftrichtung ausgerichtet
ist,
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8b einen Blick in Richtung
A aus 8a auf die Probe,
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9 die Ausrichtung einer
kartuschenartigen Probe, die ein Reservoir für eine Flüssigkeit aufweist, in der erfindungsgemäßen Mikroskopanordnung.
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In 1 ist das Grundprinzip der
Erfindung anhand einer Mikroskopanordnung für die Fluoreszenzmikroskopie
dargestellt.
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Dabei
ist eine Beleuchtungsquelle 1 vorgesehen, die beispielsweise
Licht im sichtbaren, im UV- und/oder im IR-Spektralbereich emittiert. In besonderen
Ausführungen
kann die Beleuchtungsquelle 1 mehrere gesondert ansteuerbare
Strahlungsquellen umfassen, die Licht in verschiedenen Wellenlängenbereichen
emittieren.
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Zur
Formung eines Beleuchtungsstrahlengangs entlang der optischen Achse 2 sind
der Beleuchtungsquelle 1 ein Graufilter 3, eine
erste optische Baugruppe 4, eine Homogenisierungseinrichtung 5 und
eine zweite optische Baugruppe 6 nachgeordnet.
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Wie
zeichnerisch angedeutet, schließt
die Normale auf die Lichteintrittsfläche 7 des Graufilters mit
der optischen Achse 2 des Beleuchtungsstrahlengangs einen
Winkel im Bereich von 5° bis
15°, bevorzugt
von 5° ein,
so daß der
von der Lichteintrittsfläche 7 reflektierte
Anteil des Beleuchtungslichts nicht oder nur in einem geringen Maße in sich
bzw. zur Beleuchtungsquelle 1 zurückreflektiert wird, wo durch
vermieden wird, daß sich
die Beleuchtungsquelle 1 zu sehr aufheizt.
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Das
Graufilter 3 selbst dient zur Abschwächung der Beleuchtungsstrahlung
und ist vorteilhafterweise auf einer Schwenkeinrichtung angeordnet, die
es ermöglicht,
das Graufilter 3 nach Bedarf in den Beleuchtungsstrahlengang
ein- bzw. aus diesem
herauszuschwenken. Die Schwenkeinrichtung ist zeichnerisch nicht
dargestellt.
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Optional
kann auch vorgesehen sein, mehrere Graufilter 3, die aufgrund
unterschiedlicher Transparenz in der Lage sind, das Beleuchtungslicht
mehr oder weniger abzuschwächen,
auf einem Wechselrad anzuordnen, so daß es möglich ist, wahlweise je nach
gewünschter
Abschwächung
eines dieser Filter in den Beleuchtungsstrahlengang zu stellen.
Die Wechseleinrichtung ist zeichnerisch nicht dargestellt, bezüglich ihrer
Bauweise jedoch aus dem Stand der Technik bekannt.
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Die
Homogenisierungseinrichtung 5 ist in dem Ausführungsbeispiel
nach 1 als innen total-reflektierender,
transparenter Vollglasstab mit rechteckigem Querschnitt ausgeführt.
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Die
Homogenisierungseinrichtung 5 weist eine Einstrahlfläche 8 und
eine Abstrahlfläche 9 auf. Das
durch die Einstrahlfläche 8 in
die Homogenisierungseinrichtung 5 eintretende Licht wird
auf dem Weg durch die Homogenisierungseinrichtung 5 vielfach
nach innen total-reflektiert, was zu einer Durchmischung einzelner
Strahlungsanteile führt
und zum Ergebnis hat, daß das
Beleuchtungslicht an der Ab strahlfläche 9 mit weitestgehend
gleichmäßig verteilter
Intensität
austritt.
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Anstelle
des Vollstabes kann auch ein innenverspiegelter Hohlstab vorgesehen
sein, wobei statt der Totalreflexion normale Reflexion an den verspiegelten
Innenflächen
auftritt.
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Die
erste optische Baugruppe 4 hat die Aufgabe, das von der
Beleuchtungsquelle 1 kommende Licht möglichst verlustfrei auf die
Einstrahlfläche 8 zu fokussieren.
Die zweite optische Baugruppe 6 dient dazu, die homogen
leuchtende Abstrahlfläche 9 in die
Feldblendenebene 10 der Mikroskopanordnung abzubilden.
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In
der Feldblendenebene 10 befindet sich eine Feldblende 11,
die mit Hilfe von transparenten und intransparenten Flächenabschnitten
eine Ausleuchtung des Objektfeldes mit hohem Kontrast ermöglicht.
Unmittelbar vor der Feldblende 11 ist ein Shutter 12 angeordnet,
der dazu dient, je nach Ansteuerung ausgewählte Teilbereiche der Feldblende 11 zu
verdunkeln. Hierdurch wird die Überstrahlung des
Autofokussensors 32 mit zu viel von der Probe 20 reflektiertem
Anregungslicht vermieden.
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Die
Ansteuerung des Shutters 12 erfolgt über einen Rotationsmotor 13,
der es ermöglicht,
unterschiedliche Shutter-Einstellungen
in den Beleuchtungsstrahlengang einzubringen, wodurch die Überstrahlung
des Autofokussensors 32 mit zu viel von der Probe 20 reflektiertem
Anregungslicht effektiv verhindert werden kann.
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Der
Feldblende 11 ist ein teiltransparenter Umlenkspiegel 14 nachgeordnet,
durch den ein überwiegender
Strahlungsanteil 2.1 des Beleuchtungsstrahlengangs in Richtung
auf einen Beleuchtungstubus 15 gelenkt wird. Ein geringerer
Strahlungsanteil 2.2 des Beleuchtungsstrahlengangs tritt
durch den teiltransparenten Umlenkspiegel 15 hindurch und trifft
auf einen Monitordetektor 16, der zur Kontrolle der Intensität des Beleuchtungslichts
dient.
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Der
Monitordetektor 16 kann mit einer Anzeigeeinrichtung für die Strahlungsintensität und/oder über eine
Auswerteschaltung mit einer Nachstelleinrichtung zur Veränderung
der Strahlungsintensität verbunden
sein, wobei die Strahlungsintensität des von der Beleuchtungsquelle 1 ausgehenden
Lichts beispielsweise über
die Betriebsspannung beeinflußt werden
kann. Die Rückkopplung
des Signalausgangs des Monitordetektors 16 zur Beleuchtungsquelle 1 ist
zeichnerisch nicht dargestellt, kann jedoch in einer aus der Regelungstechnik
bekannten Weise vorgenommen werden.
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Beim
Durchtritt durch den Beleuchtungstubus 15 wird der Strahlungsanteil 2.1 parallelisiert
und trifft dann auf einen nachgeordneten Filterwürfel 17. Der Filterwürfel 17 ist
eintrittsseitig mit einem ersten Spektralfilter 18 versehen,
das dafür
sorgt, daß nur Beleuchtungslicht
mit Wellenlängen
zum Strahlteiler 19 des Filterwürfels 17 gelangt,
die zur Anregung einer Probe 20 vorgesehen sind.
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Das
ausgewählte
Anregungslicht wird von dem Strahlteiler 19, der bevorzugt
als teildurchlässige
Platte ausgebildet ist, in Richtung auf die Probe 20 umgelenkt,
tritt dabei durch ein Objektiv 21 hindurch und wird durch
dieses auf die Probe 20 fokussiert.
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Die
Probe 20 wird zur Fluoreszenz angeregt. Das von der Probe 20 kommende
Fluoreszenzlicht wird vom Objektiv 21 gesammelt und tritt
nach Passieren des Objektivs 21 durch den Strahlteiler 19 des Filterwürfels 17 hindurch.
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Die
in Richtung auf eine Kamera 22 weisende Austrittsfläche des
Filterwürfels 17 ist
mit einem zweiten Spektralfilter 23 versehen, welches nur
das von der Probe 20 kommende Fluoreszenzlicht hindurchläßt. Zwischen
dem Filterwürfel 17 und
der Kamera 22 ist ein Abbildungstubus 24 vorhanden,
der die Probenoberfläche
auf eine ortsauflösende
Empfangsfläche
in der Kamera 22 abbildet. Überlicherweise ist der Kamera 22 eine
Blende 25 vorgeordnet.
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Das
hier gewählte
Ausführungsbeispiel
wird für
die Fluoreszenzmikroskopie beschrieben. Deshalb ist der Filterwürfel 17 hinsichtlich
seiner Gesamtfunktion als Farbteiler ausgeführt. Wird mindestens eines
der Spektralfilter 18 bzw. 23 entfernt und der Strahlteiler 19 als
nicht-dichroitischer Teiler ausgeführt, so ist diese Mikroskopanordnung
auch zur Abbildung und Vermessung reflektierender Proben geeignet.
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Die
Probe 20 ist auf einem Probentisch 38 positioniert,
der in den Koordinatenrichtungen X und Y senkrecht zur optischen
Achse des Objektivs 21 verstellbar ist. Dabei ist die optische
Achse des Objektivs 21 senkrecht zur Schwerkraftrichtung
ausgerichtet, während
die Koordinatenrichtung Y parallel zur Schwerkraftrichtung ausgerichtet
ist.
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Mit
dieser Mikroskopanordnung sind die Voraussetzungen für hochgenaue
Messungen insbesondere an Biochips geschaffen, da der zu untersuchende
Probenabschnitt weitestgehend homogen ausgeleuchtet wird.
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Die
Homogenität
des Beleuchtungslichts wird erfindungsgemäß noch weiter verbessert, wenn beispielsweise
die Einstrahlfläche 8 und/oder
die Abstrahlfläche 9 der
Homogenisierungseinrichtung 5, wie weiter oben bereits
dargelegt, mit einer Struktur aus Mikrolinsen versehen sind.
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Die
Ausführung
der Homogenisierungseinrichtung 5 als innen total-reflektierender
transparenter Vollglasstab oder als innen verspiegelter Hohlstab,
wie in 1 dargestellt,
ist beispielhaft gewählt. In
einer anderen Ausführungsform,
wie in 2 gezeigt, kann
die Homogenisierungseinrichtung 5 auch flexibel als Glasfaserbündel 26 ausgeführt sein.
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Auch
in diesem Fall können
dem Glasfaserbündel 26 eine
Einstrahlfläche 8 und
eine Abstrahlfläche 9 zugeordnet
und diese ebenfalls wie oben dargestellt mit Mikrolinsen strukturiert
sein.
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Zusätzlich oder
auch anstelle der Abstrahlfläche 9 kann
eine Lichtstreuscheibe (zeichnerisch nicht dargestellt) vorhanden
sein, wodurch die Homogenisierung der Strahlungsintensität weiter
beeinflußt
wird.
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Aus
Gründen
der Übersichtlichkeit
sind in 1 und 2 für jeweils dieselben Baugruppen auch
dieselben Bezugszeichen verwendet worden.
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Dies
trifft auch für
die 3 zu, die im wesentlichen
den Aufbau der Mikroskopanordnung wie in 1 und 2 zeigt,
jedoch mit dem Unterschied, daß hier
die Homogenisierungseinrichtung 5 aus zwei optischen Elementen 27 und 28 gebildet
ist, die beide an ihrer der Beleuchtungsquelle 1 zugewandten
Lichteintrittsfläche
eine Struktur aus Mikrozylinderlinsen aufweisen. Dabei sind die
Mikrozylinderlinsen mit ihrer Längsrichtung
in beiden Fällen senkrecht
zur optischen Achse 2 des Beleuchtungsstrahlengangs ausgerichtet,
wobei allerdings die Längsrichtung
der Mikrozylinderlinsen auf dem optischen Element 27 zur
Längsrichtung
der Mikrozylinderlinsen auf dem optischen Element 28 um
90° verdreht
sind.
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Auch
hierdurch wird, wie bereits weiter oben beschrieben, eine Homogenisierung
der Intensität des
Beleuchtungslichts erzielt und damit die der Erfindung zugrundeliegende
Aufgabe gelöst.
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Aus 1, 2 und 3 geht
weiterhin hervor, daß die
erfindungsgemäße Mikroskopanordnung
mit einer Autofokussiereinrichtung ausgestattet ist, die im wesentlichen
einen Autofokuslaser 29, eine Glasplatte 30 zur
Einkopplung der vom Autofokuslaser 29 ausgehenden Laserstrahlung 31 in
den Beleuchtungsstrahlengang, eine Autofokusaktorik, die weiter
unten anhand 5 näher erläutert wird,
sowie einen Autofokussensor 32 umfaßt.
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Anhand 4 soll zunächst das
Funktionsprinzip der Autofokussiereinrichtung näher erläutert werden. Wie aus 4 ersichtlich ist, befindet
sich zwischen dem Filterwürfel 17 und
dem Objektiv 21 die Glasplatte 30, von welcher
der zur Fokussierung genutzte Laserstrahl 31 durch das
Objektiv 21 hindurch auf die Probe 20 gelenkt
wird. Die Glasplatte 30 ist vorzugsweise auf der dem Autofokuslaser 29 abgewandten
Seite entspiegelt. Der Glasweg der Glasplatte 30 wird im
Gesamt-Optik-Design rechnerisch berücksichtigt.
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Die
Laserstrahlung 31 wird von der Oberfläche der Probe 20 reflektiert,
tritt in entgegengesetzter Richtung wieder durch das Objektiv 21 hindurch,
passiert die Glasplatte 30 und wird an dem Strahlteiler 19 des
Filterwürfels 17 in
Richtung auf den Beleuchtungstubus 15 umgelenkt, tritt
durch den Beleuchtungstubus 15 und den teiltransparenten
Umlenkspiegel 14 hindurch und trifft danach auf den Autofokussensor 32,
dem üblicherweise
eine Blende 33 vorgeordnet ist.
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Der
Laserstrahl 31 besitzt eine Wellenlänge, die von dem Strahlteiler 19 des
Filterwürfels 17 zumindest überwiegend
reflektiert wird. Der teiltransparente Umlenkspiegel 14 ist
für die
Wellenlänge
des Laserstrahls 31 hinreichend transparent, so daß ein ausreichender
Strahlungsanteil zum Autofokussensor 32 gelangt. Der Autofokussensor 32 beinhaltet beispielsweise
eine ortsauflösende
Empfangsfläche (Position
Sensitive Detector), eine Vier-Quadranten-Fotodiode, eine CCD-Empfangszeile
oder einen flächigen
CCD-Empfänger.
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Wird
das Objektiv 21 in der dargestellten Richtung R verschoben,
so ändert
sich auf der Empfangsfläche
des Autofokussensors 32 die räumliche Verteilung der von
der Probenoberfläche
reflektierten Laserstrahlung. Dies ist ein Kriterium für die aktuelle Fokusposition
der Probe 20 relativ zum Objektiv 21.
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Zum
Zweck der Verschiebung in Richtung R ist das Objektiv 21 mit
einer parallel zur optischen Achse 2 des Beleuchtungsstrahlengangs
ausgerichteten Geradführung 34 verbunden,
die einen positionsgenau ansteuerbaren Antrieb 37 aufweist
(vgl. 5). Dabei ist
der Signaleingang des Antriebes über
eine Auswerte- und Ansteuereinrichtung (ebenso wie der Antrieb nicht
zeichnerisch dargestellt) mit dem Signalausgang des Autofokussensors 32 verbunden.
Ein zu diesem Zweck zu schaffender Regelkreis ist aus dem Gebiet
der Regelungstechnik hinreichend bekannt und muß demzufolge hier nicht näher erläutert werden.
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Der
Vollständigkeit
halber sei darauf hingewiesen, daß zur Autofokussierung anstelle
des eingekoppelten Laserstrahls 31 prinzipiell auch die
Beleuchtungsstrahlung zur Bestimmung der Fokuslage genutzt werden
kann.
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In 5 ist das Prinzip der Autofokusaktorik dargestellt.
Diese dient dazu, das Objektiv 21 in Abhängigkeit
von einem Stellbefehl in Richtung R der optischen Achse 2 des
Beleuchtungsstrahlengangs zu verschieben und dabei den Abstand zwischen
der Probe 20 und dem Objektiv 21 zu verändern, um
den Fokuspunkt des Objektivs 21 in die gewünschte Lage relativ
zur Probe 20 zu bringen. Die Geradführung 34 ist in 5 symbolisch dargestellt.
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Das
Objektiv 21 ist dabei mit einem beweglichen Teil der Geradführung 34 fest
verbunden. Über eine
Wippe 35, die um ein Drehgelenk 36 schwenkbar
ist, ist das Objektiv 21 mit einem Antrieb 37,
hier beispielsweise als Linearantrieb ausgebildet, verbunden. Als
Linearantriebe sind geeignete Antriebsmechanismen einsetzbar, wie
beispielsweise motorisierte Spindelantriebe, Piezo-Aktuatoren, Magnetkern/Magnetspul-Stelleinrichtungen
u.ä.
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Wie
bereits weiter oben beschrieben, ist der Signalausgang des Autofokussensors 32 in 4 mit einer zeichnerisch
nicht dargestellten Auswerte- und Steuereinheit verbunden, die in
Abhängigkeit von
der aktuell ermittelten Fokuslage einen Steuerbefehl für den Antrieb 37 generiert.
Damit bewirkt das Zusammenspiel von Autofokussensor 32 und
Antrieb 37 eine automatisierte Einstellung der optimalen
Fokuslage, so daß sich
die Probe 20 exakt in der Objektebene befindet und scharf
auf die Empfangsfläche der
Kamera 22 abgebildet wird.
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In 6 ist eine besonders im
Hinblick auf die Autofokussierung vorteilhafte Ausgestaltungsvariante
der erfindungsgemäßen Mikroskopanordnung dargestellt.
Die Zeichnung deutet an, daß die
Flächennormale
des Spektralfilters 18 nicht parallel zur optischen Achse
des Beleuchtungstubus 15 ausgerichtet ist, sondern mit
dieser optischen Achse einen Winkel α von beispielsweise 5° einschließt.
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Damit
wird erreicht, daß das
an der Eintrittsfläche
reflektierte Beleuchtungslicht nicht zum Autofokussensor 32 gelangt,
so daß eine Übersteuerung des
Autofokussensors 32 durch dieses in Bezug auf die Autofokussierung
Falschlicht vermieden wird.
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In
einer besonders bevorzugten Ausgestaltung, die zeichnerisch nicht
dargestellt ist, ist das erste Spektralfilter 18 auf einer
Halterung angeordnet, welche die Änderung der Neigung seiner
Flächennormalen
und damit die Beeinflussung des am ersten Spektralfilter 18 reflektierten
Lichts ermöglicht.
Beim Betreiben der Mikroskopanordnung werden die Neigungsrichtung
und der Winkel α dann
so eingestellt, daß störende Reflexe
den Autofokussensor 32 minimal belasten und so eine optimale
Ermittlung der aktuellen Fokusposition möglich ist.
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Wie
in 7 dargestellt kann
in ähnlicher Weise
vorgesehen sein, daß auch
die Flächennormale
des zweiten Spektralfilters 23 mit der optischen Achse 42 des
Abbildungsstrahlengangs einen Winkel einschließt, der im Bereich von 1° bis 20°, vorzugsweise
bei 5° liegt.
Der Zweck der Neigung des zweiten Spektralfilters 23 besteht
darin zu verhindern, daß der
von der Empfangsfläche
in der Kamera 22 reflektierte Anteil des Abbildungslichts
wieder zum zweiten Spektralfilter 23 und von dort wiederum
zurückgeworfen
nochmals zur Empfangsfläche
gelangt, wodurch Sekundärbilder
bzw. Fehlabbildungen entstehen könnten.
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Dabei
kann wie bereits anhand des ersten Spektralfilters 18 in 6 erläutert, das zweite Spektralfilter 23 auf
einer Kippeinrichtung angeordnet sein, welche die Verstellung des
Neigungswinkels und der Neigungsrichtung ermöglicht, so daß auch hier
während
des Betriebes der Mikroskopeinrichtung eine Einstellung des Neigungswinkels
gefunden werden kann, bei der störende
Reflexe das Empfangssignal der Kamera 22 gar nicht oder
nur minimal verfälschen.
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Die
erfindungsgemäße Mikroskopanordnung zeichnet
sich weiterhin durch eine besonders vorteilhafte Antriebseinrichtung
aus, mit welcher der Probentisch 38 gekoppelt ist. Dies
ist in 8 symbolisch
dargestellt.
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In 8a befindet sich beispielsweise
neben dem Objektiv 21, dessen optische Achse senkrecht zur
Schwerkraftrichtung ausgerichtet ist, der Probentisch 38,
der in den Koordinatenrichtungen X und Y senkrecht zur optischen
Achse des Objektivs 21 verstellbar ist. Dabei stimmt die
Koordinatenrichtung Y mit der Schwerkraftrichtung überein.
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8b zeigt einen Blick in
Richtung A (vgl. 8a),
d.h. in Richtung der optischen Achse auf die Probe 20,
die beispielsweise in einem nicht dargestellten Probenträger aufgenommen
sein kann.
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In 8b sind die Verstellrichtungen
in den Koordinaten Y und X eingezeichnet, in denen mittels einer
Stelleinrichtung eine definierte Positionsänderung des Probentisches 38 und
somit der Probe 20 senkrecht zur optischen Achse des Objektivs 21 erfolgt.
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Dabei
hat sich bewährt,
daß die
Verstelleinrichtung einen Spindelantrieb zur Positionsänderung des
Probentisches 38 in der Koordinatenrichtung Y und einen
Piezoantrieb zur Positionsänderung
des Probentisches 38 in der Koordinatenrichtung X aufweist.
Der Spindelantrieb ist vorteilhaft mit einem Schrittmotor gekoppelt,
der ebenso wie der Piezoantrieb eine definierte elektronische Ansteuerung
ermöglicht.
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Da
die Verstellung in der Koordinate Y in Richtung der Schwerkraft
erfolgt, muß die
auf den Probentisch 38 wirkende Schwerkraft kompensiert werden,
wozu ein Spindelantrieb vorteilhaft geeignet ist. Dagegen ermöglicht der
für die
Verstellung in der Koordinate X gewählte Piezoantrieb eine verhältnismäßig schnelle
Linearbewegung, die im gewählten Ausführungsbeispiel
auch der Tatsache entgegenkommt, daß die Probe in X-Richtung eine
größere Ausdehnung
aufweist als in Y-Richtung. Lineare Piezoantriebe, die auf der Basis
piezokeramischer Schwingstäbe
arbeiten, sind aus der Technik bekannt und müssen deshalb hier nicht näher erläutert werden.
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Der
Spindelantrieb und der Piezoantrieb werden so angesteuert, daß die Verschiebung
in den Richtungen X und Y in Schritten erfolgt, die der Größe des Objektfeldes
des Objektivs 21 entsprechen. Auf diese Weise wird eine
Vielzahl von Einzelaufnahmen der Probenoberfläche gewonnen, die in einer Auswerteelektronik
gespeichert und zu einem Gesamtbild zusammengesetzt werden, was
auch sukzessive nach jeder Einzelaufnahme vorgenommen werden kann.
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Anhand 9 ist dargestellt, wie eine
kartuschenartige Probe 20, die ein Reservoir für eine Flüssigkeit 39 aufweist,
mit der erfindungsgemäßen Mikroskopanordnung
vermessen werden kann. Dabei befinden sich an der Glas/Flüssigkeits-Grenzfläche zu untersuchende
fluoreszierende Substanzen, z.B. fluoreszenzmarkierte DNA oder Proteine.
Der Fokuspunkt des Objektivs 21 wird mit Hilfe der Autofokussiereinrichtung
exakt auf diese Grenzfläche
eingestellt.
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Aufgrund
der horizontalen, d.h. senkrecht zur Schwerkraftrichtung ausgerichteten
optischen Achse des Objektivs 21 können sich Luftblasen, die sich
häufig
an Glas/Flüssigkeits-Grenzflächen bilden, am
Ort 40 oberhalb des Flüssigkeitspegels
sammeln.
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Da
kartuschenartige Proben 20 oftmals aus unpräzise hergestellten
Kunststoffteilen bestehen, ist erfindungsgemäß eine Nivelliervorrichtung 41 vorgesehen,
die es gestattet, die Glas/Flüssigkeits-Grenzfläche exakt
senkrecht zur optischen Achse des Objektivs 21 auszurichten,
indem die Probenoberfläche gegen
die Auflagefläche
des Probentisches 38 verkippt wird und damit die Flächennormale
der zu untersuchenden Grenzfläche
an der Probe 20 parallel zur optischen Achse des Objektiv 21 ausgerichtet wird.
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Die
Erfindung ist in besonderem Maße
für fluoreszenzmikroskopische
Anwendungen geeignet, sie kann, wie bereits dargelegt, ohne weiteres
aber auch für
reflektive Oberflächenuntersuchungen
verwendet werden.
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- 1
- Beleuchtungsquelle
- 2
- optische
Achse des Beleuch
-
- tungsstrahlengangs
- 3
- Graufilter
- 4
- erste
optische Baugruppe
- 5
- Homogenisierungseinrichtung
- 6
- zweite
optische Baugruppe
- 7
- Lichteintrittsfläche
- 8
- Einstrahlfläche
- 9
- Abstrahlfläche
- 10
- Feldblendenebene
- 11
- Feldblende
- 12
- Shutter
- 13
- Rotationsmotor
- 14
- teiltransparenter
Umlenkspiegel
- 15
- Beleuchtungstubus
- 16
- Monitor-Detektor
- 17
- Filterwürfel
- 18
- erstes
Spektralfilter
- 19
- Strahlteiler
- 20
- Probe
- 21
- Objektiv
- 22
- Kamera
- 23
- zweites
Spektralfilter
- 24
- Abbildungstubus
- 25
- Blende
- 26
- Glasfaserbündel
- 27
- optisches
Element
- 28
- optisches
Element
- 29
- Autofokuslaser
- 30
- Glasplatte
- 31
- Laserstrahlung
- 32
- Autofokussensor
- 33
- Blende
- 34
- Geradführung
- 35
- Wippe
- 36
- Drehgelenk
- 37
- Antrieb
- 38
- Probentisch
- 39
- Flüssigkeit
- 40
- Ort
- 41
- Nivelliervorrichtung
- 42
- optische
Achse des Abbildungs
-
- strahlengangs