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CN111148624A - 光学膜附接系统 - Google Patents

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Abstract

本发明的示例性实施方案提供了光学膜附接系统，所述光学膜附接系统连接至下游装置并且包括面板供应单元和面板传送路径，所述光学膜附接系统包括：连接单元，所述连接单元连接所述面板传送路径和所述下游装置并传送面板；第一检查单元，所述第一检查单元位于所述面板传送路径上并找出具有附接的光学膜的面板是否具有缺陷；第二检查单元，所述第二检查单元位于与面板传送路径间隔开的位置处并再检查由通过所述第一检查单元的检查被确定为缺陷面板的确定有缺陷的面板；以及控制单元，所述控制单元控制所述连接单元以调节面板的传送，其中所述连接单元包括：主传送路径，其中第一传送单元和第二传送单元顺序地布置在所述面板传送路径的传送方向上；第一辅助传送路径，所述第一辅助传送路径连接所述第一传送单元和所述第二检查单元并从主传送路径绕过；以及第二辅助传送路径，所述第二辅助传送路径连接至第二传送单元并从所述主传送路径绕过，所述控制单元控制所述连接单元使得当通过所述第一检查单元检查的面板被确定为缺陷面板时，确定有缺陷的面板从所述第一传送单元沿所述第一辅助传送路径传送至所述第二检查单元；以及所述控制单元控制所述连接单元使得当难以将确定良好品质的面板传送至下游装置时，通过所述第一检查单元被确定为良好品质面板的确定良好品质的面板从所述第二传送单元沿所述第二辅助传送路径传送。

Description

光学膜附接系统
技术领域
本发明涉及将光学膜附接至面板并传送面板的光学膜附接系统。
背景技术
近来，正在积极进行研究以提高通过将光学膜附接至面板来制造光学显示元件的光学膜附接系统的生产效率。
同时，可能需要在光学显示元件上进行后处理，例如安装驱动芯片的过程，所述光学显示元件通过将光学膜附接至面板来制造并通过用电力操作来执行显示功能。
为了满足该要求，光学膜附接系统可以连接至用于进行前述后处理的下游装置，但附接光学膜的过程的速度和通过下游装置进行的后处理的速度可以彼此不同。
为了连续地进行所述过程，附接光学膜的过程和通过下游装置进行的后处理伴随面板的传送，但过程之间的速度差异不利地影响面板的连续和平稳的传送，因此，可能出现两个过程中的任一者的效率劣化的问题。
同时，光学膜附接系统除了附接光学膜的过程之外，还进行检查附接有光学膜的面板的过程，并且在附接光学膜的整个过程期间，面板的传送受到面板的检查速度和将良好品质/有缺陷的产品分类的速度的影响。
发明内容
技术问题
本发明的示例性实施方案提供了光学膜附接系统，所述光学膜附接系统连续地连接至光学显示单元制造装置并且通过考虑检查附接有光学膜的面板的速度和/或光学显示单元制造装置的处理能力来实现面板的有效传送。
技术方案
本发明的示例性实施方案提供了光学膜附接系统，所述光学膜附接系统连接至下游装置并且包括：用于供应面板的面板供应单元；和用于传送从面板供应单元供应的面板并将光学膜附接至面板的面板传送路径，所述光学膜附接系统包括：连接单元，所述连接单元连接面板传送路径和下游装置并传送面板；第一检查单元，所述第一检查单元位于面板传送路径上并找出具有附接的光学膜的面板是否具有缺陷；第二检查单元，所述第二检查单元位于与面板传送路径间隔开的位置处并再检查由通过第一检查单元的检查被确定为缺陷面板的确定有缺陷的面板；以及控制单元，所述控制单元控制连接单元以调节面板的传送，其中连接单元包括：主传送路径，其中第一传送单元和第二传送单元顺序地布置在面板传送路径的传送方向上；第一辅助传送路径，所述第一辅助传送路径连接第一传送单元和第二检查单元并从主传送路径绕过；以及第二辅助传送路径，所述第二辅助传送路径连接至第二传送单元并从主传送路径绕过，控制单元控制连接单元使得当通过第一检查单元检查的面板被确定为缺陷面板时，确定有缺陷的面板从第一传送单元沿第一辅助传送路径传送至第二检查单元；以及控制单元控制连接单元使得当难以将确定良好品质的面板传送至下游装置时，通过第一检查单元被确定为良好品质面板的确定良好品质的面板从第二传送单元沿第二辅助传送路径传送。
在本示例性实施方案中，第一辅助传送路径可以包括第一缓冲单元，所述第一缓冲单元在通过第二检查单元的再检查暂停时，储存从第一传送单元传送的确定有缺陷的面板。
在本示例性实施方案中，当第二检查单元处于空闲状态时，从第一传送单元传送的确定有缺陷的面板可以经由第一缓冲单元传送至第二检查单元；当通过第二检查单元的再检查暂停时，从第一传送单元传送的确定有缺陷的面板可以储存在第一缓冲单元中；以及当位于第一缓冲单元的上游侧处的面板的传送延迟时，储存在第一缓冲单元中的确定有缺陷的面板可以传送至第二检查单元。
在本示例性实施方案中，当下游装置处于空闲状态时，位于第二传送单元上的面板可以传送至下游装置；当下游装置暂停时，位于第二传送单元上的面板可以沿第二辅助传送路径传送；以及当位于第二传送单元的上游侧处的面板的传送延迟时，位于第二辅助传送路径上的面板可以传送至第二传送单元。
在本示例性实施方案中，由通过第二检查单元的再检查被确定为良好品质面板的确定良好品质的面板可以沿第二辅助传送路径传送至第二传送单元。
在本示例性实施方案中，第二辅助传送路径可以包括第二缓冲单元，所述第二缓冲单元储存从第二传送单元传送的面板。
在本示例性实施方案中，第二缓冲单元可以储存由通过第二检查单元的再检查被确定为良好品质面板的确定良好品质的面板。
在本示例性实施方案中，在面板从第一传送单元传送至第二传送单元的同时，从第二检查单元传送的确定良好品质的面板可以储存在第二缓冲单元中。
在本示例性实施方案中，在面板从第二传送单元沿第二辅助传送路径传送的同时，确定良好品质的面板从第二检查单元向第二辅助传送路径的传送可以停止。
有益效果
根据本发明的示例性实施方案，光学膜附接系统经由连接单元连接至下游装置，确定有缺陷的面板通过连接单元的至少第一传送单元传送至第二检查单元，确定良好品质的面板通过位于第一传送单元的下游侧处的连接单元的第二传送单元传送至下游装置，使得具有附接的光学膜的面板的检查可靠性得以改善，并且不妨碍确定良好品质的面板的传送，因此，可以充分确保传送面板的效率。
此外，即使基于面板的传送速度，光学膜附接系统的过程速度高于位于光学膜附接系统的下游侧处的光学显示单元制造装置的过程速度，也可以通过使用第二辅助传送路径暂时将确定良好品质的面板从主传送路径转移，因此，可以充分表现出光学膜附接系统的处理能力。
附图说明
图1是用于说明根据本发明的一个示例性实施方案的光学膜附接系统的概念图。
图2是用于说明根据第一示例性实施方案的第一检查单元、连接单元和第二检查单元的概念图。
图3a和图3b是简要示出操作根据示例性实施方案的第一传送单元和第二传送单元的状态的概念图。
图4是简要示出操作根据另一个示例性实施方案的第一传送单元和第二传送单元的状态的概念图。
图5是用于说明根据第二示例性实施方案的第一检查单元、连接单元和第二检查单元的概念图。
※附图标记说明
100：光学膜附接系统
110：面板供应单元
120：面板传送路径
130：第一光学膜传送路径
140：第二光学膜传送路径
150：第一检查单元
160：连接单元
161：主传送路径
162：第一辅助传送路径
162b：第一缓冲单元
163：第二辅助传送路径
163b：第二缓冲单元
170：第二检查单元
200：下游装置
P_a：确定良好品质的面板
P_d：确定有缺陷的面板
P_a'：确定良好品质的面板
P_d'：确定有缺陷的面板
具体实施方式
参照以下将结合附图详细描述的示例性实施方案，本发明将变得显而易见。然而，本发明不限于本文公开的示例性实施方案，而是将以各种形式实施。提供示例性实施方案使得本发明被充分公开，并且本领域普通技术人员可以完全理解本发明的范围。因此，本发明将仅由所附权利要求书的范围来限定。同时，本说明书中使用的术语用于说明示例性实施方案，而不是用于限制本发明。除非在本说明书中另外特别说明，否则单数形式也包括复数形式。此外，本说明书中使用的诸如“包括”和/或“包含”的术语除了提及的构成要素、步骤、操作和/或元件之外，不排除存在或添加一个或更多个其他构成要素、步骤、操作和/或元件。诸如“第一”和“第二”的术语可以用于描述不同的构成要素，但构成要素不应受到术语的限制。这些术语仅用于将一个构成要素与另一个构成要素区分开。
图1是用于说明根据本发明的一个示例性实施方案的光学膜附接系统的概念图，图2是用于说明根据第一示例性实施方案的第一检查单元、连接单元和第二检查单元的概念图。
参照图1和图2，根据本发明的示例性实施方案的光学膜附接系统100是通过将光学膜附接至液晶面板来制造光学显示元件的系统。光学膜附接系统100可以通过连续地连接至作为下游装置的光学显示单元制造装置200而构成连续光学显示单元制造系统1000。在此，作为下游装置，光学显示单元制造装置200可以为例如用于在光学显示元件上安装光学显示元件驱动芯片(带自动粘合(tape automated bonding，TAB))的装置。
光学膜附接系统100可以包括：用于供应面板的面板供应单元110、面板传送路径120、第一光学膜传送路径130、第二光学膜传送路径140和连接单元160。在此，面板供应单元110、面板传送路径120和以下将描述的连接单元160的主传送路径161顺序地依次连接，使得光学膜可以附接至从面板供应单元110供应的面板，然后面板可以连续地传送至作为下游装置的光学显示单元制造装置200。
面板传送路径120可以为设置成传送从面板供应单元110供应的面板并将光学膜附接至面板的传送路径。面板传送路径120可以包括：第一光学膜附接单元121，所述第一光学膜附接单元121将第一光学膜附接至面板；面板转动/翻转单元122，所述面板转动/翻转单元122设置在第一光学膜附接单元121的下游侧处并且水平地上下旋转和/或翻转具有附接至其一个表面的光学膜的面板；第一光学膜附接位置测量单元123，所述第一光学膜附接位置测量单元123设置在面板转动/翻转单元122的下游侧处并测量第一光学膜的附接位置；第二光学膜附接单元124，所述第二光学膜附接单元124设置在第一光学膜附接位置测量单元123的下游侧处并将第二光学膜附接至面板；面板翻转单元125，所述面板翻转单元125设置在第二光学膜附接单元124的下游侧处并翻转具有附接至其两个表面的光学膜的面板；以及第二光学膜附接位置测量单元126，所述第二光学膜附接位置测量单元126设置在面板翻转单元125的下游侧处并测量第二光学膜的附接位置。
第一光学膜传送路径130可以包括：第一光学膜供应单元131，所述第一光学膜供应单元131设置在第一光学膜传送路径130的最上游侧处并供应第一光学膜；第一光学膜切割单元132，所述第一光学膜切割单元132设置在第一光学膜供应单元131的下游侧处并切割从第一光学膜供应单元131供应的第一光学膜；以及第一载体膜卷绕单元133，所述第一载体膜卷绕单元133设置在第一光学膜传送路径130的最下游侧处并卷绕从第一光学膜分离的第一载体膜以将第一光学膜附接至面板。
第二光学膜传送路径140可以包括：第二光学膜供应单元141，所述第二光学膜供应单元141设置在第二光学膜传送路径140的最上游侧处并供应第二光学膜；第二光学膜切割单元142，所述第二光学膜切割单元142设置在第二光学膜供应单元141的下游侧处并切割从第二光学膜供应单元141供应的第二光学膜；以及第二载体膜卷绕单元143，所述第二载体膜卷绕单元143设置在第二光学膜传送路径140的最下游侧处并卷绕从第二光学膜分离的第二载体膜以将第二光学膜附接至面板。
光学膜附接系统100可以包括第一检查单元150、连接单元160、第二检查单元170和控制单元(未示出)。
第一检查单元150位于面板传送路径120上并且可以找出具有附接的光学膜的面板P是否具有缺陷。例如，第一检查单元150可以通过基于预定的光学检查基准自动确定面板是否具有缺陷的自动光学检查(automatic optical inspection，AOI)来找出具有附接的光学膜的面板P是否具有缺陷。此外，第一检查单元150可以将确定结果(即，确定被检查的面板是确定良好品质的面板P_a还是确定有缺陷的面板P_d的结果)发送至预定的控制单元。
连接单元160可以连接面板传送路径120和作为下游装置的光学显示单元制造装置200并提供预定路径，所述预定路径可以在将附接有光学膜的面板P通过面板传送路径120传送至作为下游装置的光学显示单元制造装置200之前临时储存或转移面板P。
由于光学膜附接系统100经由连接单元160连接至下游装置200，因此通过面板传送路径120传送的面板可以通过连接单元160临时储存或转移，使得即使光学膜附接系统100的过程速度高于作为下游侧处的下游装置的光学显示单元制造装置200的过程速度，光学膜附接系统100的过程速度也不需要降低至与作为下游装置的光学显示单元制造装置200的过程速度相匹配。因此，可以充分表现出连续光学显示单元制造系统1000的处理能力。
具体地，例如，在下游装置200的过程速度低于光学膜附接系统100的过程速度的情况下，可以通过使用安装在第一检查单元150与下游装置200之间的连接单元160临时储存或转移已经附接有光学膜的面板。因此，可以防止以下问题：因为光学膜附接系统100的过程速度高于下游装置200的过程速度，所以下游装置200无法跟上光学膜附接系统100的过程速度，因此完全附接有光学膜的面板保留在第一检查单元150中，使得光学膜附接系统100的过程速度降低并且无法充分表现出光学膜附接系统100的处理能力。
同时，第一检查单元150基于预定的光学检查基准自动确定面板是否具有缺陷，并且在实际的批量生产期间基于良好品质基准可能被分类为良好品质面板的面板可能包括在被确定为缺陷面板的确定有缺陷的面板P_d中。
第二检查单元170位于与面板传送路径120间隔开的位置处并且可以再检查已经通过第一检查单元150确定为缺陷面板的确定有缺陷的面板P_d。例如，在第二检查单元170中，设置操作者以对确定有缺陷的面板P_d进行光学检查，从而用操作者的肉眼确定是否存在缺陷。通过再检查，可以将通过第一检查单元150确定为缺陷面板的确定有缺陷的面板P_d分类并确定为在实际的批量生产期间基于良好品质基准被分类为良好品质面板的面板(在下文中，称为确定良好品质的面板P_a')或者确定为被分类为缺陷面板的确定有缺陷的面板P_d'。操作者可以手动输入结果并将结果发送至预定的控制单元。
控制单元(未示出)控制连接单元160以调节面板的传送环境。例如，控制单元可以使通过第一检查单元150确定为缺陷面板的确定有缺陷的面板P_d通过连接单元160传送至第二检查单元170，或者控制单元可以在难以将确定良好品质的面板P_a传送至下游装置的情况下(例如，在下游装置忙碌或停止的情况下)防止通过第一检查单元150确定为良好品质面板的确定良好品质的面板P_a通过连接单元160直接传送至下游装置。根据示例性实施方案，控制单元可以以各种形式(例如电路板、集成电路芯片、安装在硬件、固件和软件中的一系列计算机程序)实现以控制连接单元160。
同时，连接单元160可以包括主传送路径161、第一辅助传送路径162和第三辅助传送路径163。
主传送路径161被配置成使得第一传送单元161a和第二传送单元161b顺序地布置在面板传送路径120的传送方向上，使得附接有光学膜并且通过第一检查单元150确定为良好品质面板的确定良好品质的面板P_a可以传送至下游装置200。
第一传送单元161a安装在面板传送路径120的下游侧处并且可以将通过第一检查单元150确定为良好品质面板的确定良好品质的面板P_a传送至安装在第一传送单元161a的下游侧处的第二传送单元161b。此外，第一传送单元161a还连接至以下将描述的第一辅助传送路径162并且可以将通过第一检查单元150确定为缺陷面板的确定有缺陷的面板P_b传送至第二检查单元170。
如图3a和图3b所示，第一传送单元161a可以包括具有双辊结构的传送装置，其中辊具有彼此正交的中心轴并且旋转。具体地，第一传送单元161a可以包括构成双辊结构的第一传送装置16a和第二传送装置16b。
第一传送装置16a是包括传送辊的传送装置并且可以将被确定为良好品质面板的确定良好品质的面板P_a传送至第二传送单元161b。第一传送装置16a被配置成使得多个传送辊可旋转地安装在传送辊轴上以构成一排传送辊，并且多排传送辊平行地设置成在面板传送路径120的传送方向上以预定间隔彼此间隔开。因此，第一传送装置16a可以将确定良好品质的面板P_a在面板传送路径120的传送方向上传送至第二传送单元161b。
第二传送装置16b是包括传送辊的传送装置并且可以将被确定为缺陷面板的确定有缺陷的面板P_b经由第一辅助传送路径162传送至第二检查单元170。第二传送装置16b被配置成使得多个传送辊可旋转地安装在传送辊轴上以构成一排传送辊，并且多排传送辊平行地设置成在与面板传送路径120的传送方向水平地正交的方向上以预定间隔彼此间隔开。因此，第二传送装置16b可以将确定有缺陷的面板P_d在与面板传送路径120的传送方向水平地正交的方向上经由第一辅助传送路径162传送至第二检查单元170。
更具体地，当在俯视图中从顶侧观察时，第一传送装置16a的传送辊的排和第二传送装置16b的传送辊的排可以被设置成彼此正交。
此外，第一传送装置16a的传送辊的排之间的间隔至少大于第二传送装置16b的传送辊的厚度，使得第二传送装置16b的传送辊可以在第一传送装置16a的传送辊的排之间通过。
此外，第二传送装置16b的传送辊之间的间隔至少大于第一传送装置16a的传送辊的直径，使得第一传送装置16a的传送辊可以在第二传送装置16b的传送辊的排之间通过。
因此，第二传送装置16b可以在不干扰第一传送装置16a的情况下向上和向下移动。
在此，构成第二传送装置16b的传送辊的直径可以大于构成第一传送装置16a的传送辊的直径。
第一传送单元161a还可以包括用于切换第一传送装置16a和第二传送装置16b的第一切换装置。
当通过第一检查单元150检查的面板被确定为良好品质面板时，控制单元可以控制连接单元160使得确定良好品质的面板P_a可以经由第一传送单元161a传送至第二传送单元161b。在这种情况下，如图3a所示，第一传送装置16a位于第二传送装置16b上方，即，构成第一传送装置16a的传送辊的表面高于构成第二传送装置16b的传送辊的表面。因此，可以通过使用第一传送装置16a将面板传送至下游侧，即第二传送单元161b。
当通过第一检查单元150检查的面板被确定为缺陷面板时，控制单元可以控制连接单元160使得确定有缺陷的面板P_d可以从第一传送单元161a沿第一辅助传送路径162传送至第二检查单元170。在这种情况下，如图3b所示，控制单元通过使用第一切换装置来升高第二传送装置16b的位置，使得构成第二传送装置16b的传送辊的表面变得高于第一传送装置16a的传送辊的表面，因此，可以通过使用第二传送装置16b将确定有缺陷的面板P_d从主传送路径161的第一传送单元161a沿第一辅助传送路径162传送至第二检查单元170。
控制单元还允许将确定有缺陷的面板P_d从第一传送单元161a沿第一辅助传送路径162传送至第二检查单元170。然后，当通过第一检查单元150检查的后续面板被确定为良好品质面板时，控制单元通过使用第一切换装置(未示出)切换第一传送单元161a的双辊结构，即，控制单元通过使用第一切换装置升高第一传送装置16a的位置使得构成第一传送装置16a的传送辊的表面变得高于第二传送装置16b的传送辊的表面，使得可以通过使用第一传送装置16a将确定良好品质的面板P_a从主传送路径161的第一传送单元161a传送至主传送路径161的第二传送单元161b。
因此，可以使用第一传送单元161a，同时，可以实现沿主传送路径161的传送和沿第一辅助传送路径162的传送。
作为另一个示例性实施方案，第一传送单元161a可以包括图3a和图3b中示出的第一传送装置16a和图4中示出的第二传送装置16b。例如，第一传送装置16a包括传送辊以将确定良好品质的面板P_a从第一传送单元161a传送至第二传送单元161b。第二传送装置16b可以通过使用机械臂16b_x和安装在机械臂16b_x上的面板固定单元16b_y将确定有缺陷的面板P_d通过第一辅助传送路径162传送至第二检查单元170。
在下文中，为了便于描述，假设第一传送单元161a包括构成双辊结构的第一传送装置16a和第二传送装置16b，如图3a和图3b所示。
第二传送单元161b安装在第一传送单元161a的下游侧处并且可以将从第一传送单元161a经由面板传送路径120传送的确定良好品质的面板P_a传送至下游装置200。此外，第二传送单元161b还连接至以下将描述的第二辅助传送路径162并且可以将确定良好品质的面板P_a传送至第二辅助传送路径163。
第二传送单元161a的结构类似于第一传送单元161a的结构，并且第二传送单元161a包括第一传送装置16a和第二传送装置16b并且可以通过使用第二切换装置切换第一传送装置16a和第二传送装置16b。例如，第二传送单元161b的第一传送装置16a包括传送辊并且可以将确定良好品质的面板P_a传送至下游装置200。第二传送单元161b的第二传送装置16b包括传送辊并且可以将确定良好品质的面板P_a传送至第二辅助传送路径162。
当比较第二传送单元161b和第一传送单元161a的操作原理时，操作原理基本上彼此类似，不同之处在于第一传送单元161a将确定有缺陷的面板P_d传送至第一辅助传送路径162，第二传送单元161b将确定良好品质的面板P_a传送至第二辅助传送路径163或者从第二辅助传送路径163中返回面板(例如，确定良好品质的面板P_a或确定良好品质的面板P_a')。因此，将省略其详细描述。
同时，在下游装置200处于空闲状态时传送面板的典型过程期间，控制单元可以控制连接单元160使得从第一传送单元161a传送的确定良好品质的面板P_a经由第二传送单元161b传送至下游装置200。在这种情况下，如图3a所示，第一传送装置16a位于第二传送装置16b上方，即，构成第一传送装置16a的传送辊的表面高于构成第二传送装置16b的传送辊的表面。因此，可以通过使用第一传送装置16a将面板传送至下游侧，即下游装置200。
在下游装置200暂停(例如，下游装置200忙碌或停止)的情况下，控制单元可以控制连接单元160使得从第一传送单元161a传送并位于第二传送单元161b上的确定良好品质的面板P_a可以沿第二辅助传送路径163传送。在这种情况下，如图3b所示，控制单元通过使用第二切换装置升高第二传送装置16b的位置使得构成第二传送装置16b的传送辊的表面变得高于第一传送装置16a的传送辊的表面，因此，可以通过使用第二传送装置16b将确定良好品质的面板P_a从主传送路径161的第二传送单元161b传送至第二辅助传送路径162。
此外，在位于第二传送单元161b的上游侧处的面板的传送延迟的情况下，控制单元可以控制连接单元160使得位于第二辅助传送路径163上的面板(例如，确定良好品质的面板P_a或确定良好品质的面板P_a')可以传送至第二传送单元161b。在这种情况下，控制单元通过使用第二切换装置(未示出)切换第二传送单元161b的双辊结构，即，控制单元通过使用第二切换装置升高第一传送装置16a的位置使得构成第一传送装置16a的传送辊的表面变得高于第二传送装置16b的传送辊的表面，因此，可以通过使用第一传送装置16a将确定良好品质的面板P_a或确定良好品质的面板P_a'从第二辅助传送路径163返回至主传送路径161的第二传送单元161b。
因此，可以使用第二传送单元161b，同时，可以实现沿主传送路径161的传送和沿第二辅助传送路径163的传送。
第一辅助传送路径162连接第一传送单元161a和第二检查单元170，从而形成从主传送路径161绕过的传送路径。第一辅助传送路径162可以包括至少一个第一辅助传送单元162a。
多个第一辅助传送单元162a可以彼此串联连接以形成确定有缺陷的面板P_d可以通过其在第一传送单元161a与第二检查单元170之间传送的传送路径。第一辅助传送单元162a可以被配置为辊传送装置。
如图2所示，位于第一辅助传送路径162的最下游侧处的第一辅助传送单元162a_f可以具有连接至第二检查单元170的一侧和连接至以下将描述的第二辅助传送路径163的第二辅助传送单元163a的另一侧。
第一辅助传送路径162可以包括第一缓冲单元162b，所述第一缓冲单元162b在通过第二检查单元170的再检查暂停的情况下(例如，在第二检查单元170忙碌或停止的情况下)储存从第一传送单元161a传送的确定有缺陷的面板P_d。第一缓冲单元162b可以为具有多个分隔空间以储存多个确定有缺陷的面板P_d的盒装置。第一缓冲单元162b可以代替第一辅助传送单元162a中的至少一者，或者第一缓冲单元162b可以设置在第一辅助传送单元162a上以向上和向下移动。本发明的描述将基于其中第一缓冲单元162b为设置在第一辅助传送单元162a上的盒装置以向上和向下移动的配置进行。
同时，在第二检查单元170处于空闲状态时传送确定有缺陷的面板P_d的典型过程期间，控制单元可以控制连接单元160使得从第一传送单元161a传送的确定有缺陷的面板P_d可以经由第一缓冲单元162b传送至第二检查单元170。
此外，在通过第二检查单元170的再检查暂停的情况下(例如，在第二检查单元170忙碌或停止的情况下)，控制单元可以控制连接单元160使得从第一传送单元161a传送的确定有缺陷的面板P_d可以储存在第一缓冲单元162b中。通过第二检查单元170的再检查暂停的实例可以包括以下实例：其中通过第一检查单元150检查的面板被连续地确定为缺陷面板，然后确定有缺陷的面板P_d通过第一辅助传送路径162被连续地引入。通常的原因是，第一检查单元150的检查速度或确定有缺陷的面板P_d的传送速度通常高于第二检查单元170的再检查速度。
此外，在位于第一缓冲单元162b的上游侧处的面板的传送延迟的情况下(例如，在面板传送路径120中的面板的传送延迟或停止、通过第一检查单元150的检查延迟或停止、或者通过第一检查单元150检查的面板被连续地确定为良好品质面板的情况下)，控制单元可以控制连接单元160使得储存在第一缓冲单元162b中的确定有缺陷的面板P_d可以传送至第二检查单元170。在这种情况下，因为确定有缺陷的面板P_d向第一缓冲单元162b的引入延迟，所以通过第二检查单元170的再检查不暂停而是可以平稳地进行，因此，控制单元可以通过将储存在第一缓冲单元162b中的确定有缺陷的面板P_d供应至第二检查单元170来使通过第二检查单元170的再检查连续进行。
同时，由通过第二检查单元170的再检查被分类为缺陷面板的确定有缺陷的面板P_d'被送至单独空间。可以将被分类为良好品质面板的确定良好品质的面板P_a'传送至下游装置200，然后经由第二辅助传送路径163传送至第二传送单元161b使得可以在确定良好品质的面板P_a'上进行后处理。
图2中示出的第一示例性实施方案被配置成使得由通过第二检查单元170的再检查被确定为良好品质面板的确定良好品质的面板P_a'经由位于第一辅助传送路径163的最下游侧处的第一辅助传送单元162a_f传送至第二辅助传送路径163上的第二辅助传送单元163a。
第二辅助传送路径163连接至第二传送单元161b，从而形成从主传送路径161绕过的传送路径。第二辅助传送路径163可以包括至少一个第二辅助传送单元163a。
多个第二辅助传送单元163a可以彼此串联连接以形成确定良好品质的面板P_a可以通过其从第二传送单元161b传送的传送路径。第二辅助传送单元163a可以被配置为辊传送装置。
如图2所示，用于形成第二辅助传送路径163的第二辅助传送单元163a中的任一者可以具有连接至第一辅助传送路径162的最下游侧处的第一辅助传送单元162a_f的第一侧。因此，通过第二检查单元170被确定为良好品质面板的确定良好品质的面板P_a'可以经由最下游侧处的第一辅助传送单元162a_f引入到第二辅助传送路径162上。
第二辅助传送路径163可以包括第二缓冲单元163b，所述第二缓冲单元163b储存从第二传送单元161b传送的确定良好品质的面板P_a。第二缓冲单元163b可以为具有多个分隔空间以储存多个确定良好品质的面板P_a的盒装置。第二缓冲单元163b可以代替第二辅助传送单元163a中的至少一者，或者第二缓冲单元163b可以设置在第二辅助传送单元163a上以向上和向下移动。本发明的描述将基于第二缓冲单元163b为设置在第二辅助传送单元163a上的盒装置以向上和向下移动的配置进行。
第二缓冲单元163b可以储存由通过第二检查单元170的再检查被确定为良好品质面板的确定良好品质的面板P_a'。具体地，控制单元可以控制连接单元160使得在面板(例如，确定良好品质的面板P_a)从第一传送单元161a传送至第二传送单元161b的同时，从第二检查单元170传送的确定良好品质的面板P_a'可以储存在第二缓冲单元163b中。由于第二缓冲单元163b储存确定良好品质的面板P_a'，因此在需要将被确定为良好品质面板的确定良好品质的面板P_a'连续地引入第二辅助传送路径163的情况下，可以使第二检查单元170连续地再检查确定有缺陷的面板P_d而不妨碍确定良好品质的面板P_a从第一传送单元161a向第二传送单元161b的传送。
控制单元可以控制连接单元160以在面板从第二传送单元161b传送至第二辅助传送路径163的同时，停止确定良好品质的面板P_a'从第二检查单元170向第二辅助传送路径163的传送。具体地，如果当下游装置200暂停时，确定良好品质的面板P_a通过第一传送单元161a引入至第二传送单元161b，则需要将确定良好品质的面板P_a从第二传送单元161b沿第二辅助传送路径163传送。同时，如果存在由通过第二检查单元170的再检查被分类为确定良好品质的面板P_a'的面板，则需要将确定良好品质的面板P_a'引入至第二辅助传送路径163以进行通过第二检查单元170的连续再检查。然而，如果第二辅助传送路径163短并且确定良好品质的面板P_a和确定良好品质的面板P_a'无法在两个方向上同时引入至第二缓冲单元163b，则需要优先选择用于将确定良好品质的面板P_a引入至第二辅助传送路径163的第一控制和用于将确定良好品质的面板P_a'引入至第二辅助传送路径163的第二控制中的任一者。在通过光学膜附接系统100传送的全部面板中，通过第一检查单元150确定的确定良好品质的面板P_a的数量可以大于通过第一检查单元150和第二检查单元170确定的确定良好品质的面板P_a'的数量，因此，用于将确定良好品质的面板P_a引入至第二辅助传送路径的第一控制可以相对于用于将确定良好品质的面板P_a'引入至第二辅助传送路径163的第二控制优先进行以使面板的传送的整体流动平稳。如果选择第一控制，则停止确定良好品质的面板P_a'从第二检查单元170向第二辅助传送路径163的传送，同时根据需要，可以停止通过第二检查单元170的再检查。
图5是用于说明根据第二示例性实施方案的第一检查单元、连接单元和第二检查单元的概念图。与第一示例性实施方案中的构成要素基本相同的构成要素由相同的附图标记表示，并且将省略其重复描述。
在第二示例性实施方案中，第二检查单元170可以具有连接至位于第一辅助传送路径162的最下游侧处的第一辅助传送单元162a_f的第一侧170a和连接至位于第二辅助传送路径163的最下游侧处的第二辅助传送单元162b的第二侧170b。即，第一辅助传送路径162和第二辅助传送路径163可以通过第二检查单元170连接。因此，在第二示例性实施方案中，通过再检查通过第一辅助传送路径162引入的确定有缺陷的面板P_d被分类和确定为良好品质面板的确定良好品质的面板P_a'可以直接引入至第二辅助传送路径163而不通过第一辅助传送路径162。
根据如上所述配置的光学膜附接系统100，连接面板传送路径120和下游装置200并传送面板的连接单元160包括主传送路径161、从主传送路径161绕过传送确定有缺陷的面板P_d的第一辅助传送路径162、以及在难以将确定良好品质的面板P_a传送至下游装置200时从主传送路径161绕过传送确定良好品质的面板P_a的第二辅助传送路径163。因此，可以使向用于再检查确定有缺陷的面板P_d的第二检查单元170的传送和确定良好品质的面板P_a向下游装置200的传送不彼此妨碍，并且可以在附接光学膜的过程的速度高于下游装置200中的过程速度的情况下平稳地管理面板的传送的流动而不降低附接光学膜的过程的速度。
此外，在光学膜附接系统100中，第一辅助传送路径162包括第一缓冲单元162b，所述第一缓冲单元162b在通过第二检查单元170的再检查暂停的情况下储存从第一传送单元161a传送的确定有缺陷的面板P_d，因此，即使在通过第二检查单元170的再检查忙碌地进行或停止的情况下，在通过第一检查单元150检查的面板被连续确定为缺陷面板的情况下，也可以管理确定有缺陷的面板P_d使得确定有缺陷的面板P_d可以通过第一辅助传送路径162连续地引入。
此外，在光学膜附接系统100中，当第二检查单元170处于空闲状态时，从第一传送单元161a传送的确定有缺陷的面板P_d可以经由第一缓冲单元162b传送至第二检查单元170；当通过第二检查单元170的再检查暂停时，从第一传送单元161a传送的确定有缺陷的面板P_d可以储存在第一缓冲单元162b中；以及当位于第一缓冲单元162b的上游侧处的面板的传送延迟时，储存在第一缓冲单元162b中的确定有缺陷的面板可以传送至第二检查单元170，使得通过第二检查单元170的再检查和确定有缺陷的面板P_d向第一辅助传送路径162的引入可以连续进行而不彼此妨碍。
此外，在光学膜附接系统100中，当下游装置200处于空闲状态时，位于第二传送单元161b上的面板可以传送至下游装置200；当下游装置200暂停时，位于第二传送单元161b上的面板可以沿第二辅助传送路径162传送；以及当位于第二传送单元161b的上游侧处的面板的传送延迟时，位于第二辅助传送路径162上的面板可以传送至第二传送单元161b，使得面板传送路径120上的面板的传送和附接光学膜的过程可以连续进行而不受下游装置200的状况的影响。
此外，在光学膜附接系统100中，由于通过第二检查单元170的再检查被确定为良好品质面板的确定良好品质的面板P_a'可以沿第二辅助传送路径163传送至第二传送单元161b，因此通过第一检查单元150确定为良好品质面板的确定良好品质的面板P_a和通过第二检查单元170确定为良好品质面板的确定良好品质的面板P_a'通过同一第二辅助传送路径163供应至主传送路径161，从而容易地管理面板的供应。
虽然已经参照前述示例性实施方案描述了本发明，但在不脱离本发明的主题和范围的情况下，可以做出各种修改或变更。因此，所附权利要求书包括这些修改或变更，只要这些修改或变更落入本发明的主题之内即可。

Claims (9)

1.一种光学膜附接系统，所述光学膜附接系统连接至下游装置并且包括：用于供应面板的面板供应单元；和用于传送从所述面板供应单元供应的所述面板并将光学膜附接至所述面板的面板传送路径，所述光学膜附接系统包括：
连接单元，所述连接单元连接所述面板传送路径和所述下游装置并传送所述面板；
第一检查单元，所述第一检查单元位于所述面板传送路径上并找出具有附接的光学膜的所述面板是否具有缺陷；
第二检查单元，所述第二检查单元位于与所述面板传送路径间隔开的位置处并再检查由通过所述第一检查单元的检查被确定为缺陷面板的确定有缺陷的面板；以及
控制单元，所述控制单元控制所述连接单元以调节所述面板的传送，
其中所述连接单元包括：主传送路径，其中第一传送单元和第二传送单元顺序地布置在所述面板传送路径的传送方向上；第一辅助传送路径，所述第一辅助传送路径连接所述第一传送单元和所述第二检查单元并从所述主传送路径绕过；以及第二辅助传送路径，所述第二辅助传送路径连接至所述第二传送单元并从所述主传送路径绕过，所述控制单元控制所述连接单元使得当通过所述第一检查单元检查的所述面板被确定为缺陷面板时，确定有缺陷的面板从所述第一传送单元沿所述第一辅助传送路径传送至所述第二检查单元，以及所述控制单元控制所述连接单元使得当难以将确定良好品质的面板传送至所述下游装置时，通过所述第一检查单元被确定为良好品质面板的确定良好品质的面板从所述第二传送单元沿所述第二辅助传送路径传送。
2.根据权利要求1所述的光学膜附接系统，其中所述第一辅助传送路径包括第一缓冲单元，所述第一缓冲单元在通过所述第二检查单元的所述再检查暂停时，储存从所述第一传送单元传送的所述确定有缺陷的面板。
3.根据权利要求2所述的光学膜附接系统，其中当所述第二检查单元处于空闲状态时，从所述第一传送单元传送的所述确定有缺陷的面板经由所述第一缓冲单元传送至所述第二检查单元；当通过所述第二检查单元的所述再检查暂停时，从所述第一传送单元传送的所述确定有缺陷的面板储存在所述第一缓冲单元中；以及当位于所述第一缓冲单元的上游侧的所述面板的传送延迟时，储存在所述第一缓冲单元中的所述确定有缺陷的面板传送至所述第二检查单元。
4.根据权利要求1所述的光学膜附接系统，其中当所述下游装置处于空闲状态时，位于所述第二传送单元上的所述面板传送至所述下游装置；当所述下游装置暂停时，位于所述第二传送单元上的所述面板沿所述第二辅助传送路径传送；以及当位于所述第二传送单元的上游侧的所述面板的传送延迟时，位于所述第二辅助传送路径上的所述面板传送至所述第二传送单元。
5.根据权利要求1所述的光学膜附接系统，其中由通过所述第二检查单元的再检查被确定为良好品质面板的确定良好品质的面板沿所述第二辅助传送路径传送至所述第二传送单元。
6.根据权利要求1或5所述的光学膜附接系统，其中所述第二辅助传送路径包括第二缓冲单元，所述第二缓冲单元储存从所述第二传送单元传送的面板。
7.根据权利要求6所述的光学膜附接系统，其中所述第二缓冲单元储存由通过所述第二检查单元的再检查被确定为良好品质面板的确定良好品质的面板。
8.根据权利要求8所述的光学膜附接系统，其中在所述面板从所述第一传送单元传送至所述第二传送单元的同时，从所述第二检查单元传送的所述确定良好品质的面板储存在所述第二缓冲单元中。
9.根据权利要求7所述的光学膜附接系统，其中在所述面板从所述第二传送单元沿所述第二辅助传送路径传送的同时，所述确定良好品质的面板从所述第二检查单元向所述第二辅助传送路径的传送停止。
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050063791A1 (en) * 2003-09-05 2005-03-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Inline transfer system and method
JP2007086578A (ja) * 2005-09-26 2007-04-05 Seiko Epson Corp 電気光学装置の検査方法及び検査装置
WO2008047712A1 (fr) * 2006-10-17 2008-04-24 Nitto Denko Corporation Procédé d'adhésion d'élément optique et appareil utilisant le procédé
KR20100115677A (ko) * 2009-04-20 2010-10-28 이세용 대형필름 검사 및 적재장치
KR20130007224A (ko) * 2011-06-30 2013-01-18 엘아이지에이디피 주식회사 검사유닛을 포함하는 ｏｌｅｄ 제조장치
WO2014129353A1 (ja) * 2013-02-20 2014-08-28 住友化学株式会社 光学表示デバイスの生産システム及び生産方法
CN204264991U (zh) * 2014-11-19 2015-04-15 日东电工株式会社 缓冲设备
CN204296163U (zh) * 2014-11-19 2015-04-29 日东电工株式会社 内置式光学膜贴合系统
CN105247409A (zh) * 2014-02-28 2016-01-13 Lg化学株式会社 光学膜层叠系统和使用该系统制备的显示部件

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4599740A (en) * 1983-01-06 1986-07-08 Cable Arthur P Radiographic examination system
JPS5927877U (ja) * 1983-02-02 1984-02-21 キユーピー株式会社 不良品自動選別装置
JP2003315527A (ja) 2002-04-19 2003-11-06 Dainippon Printing Co Ltd カラーフィルタ欠陥修正一貫ライン
TWI249058B (en) * 2004-07-15 2006-02-11 Hannstar Display Corp Apparatus and method of attaching optical films
JP2007069061A (ja) * 2005-09-02 2007-03-22 Yanmar Co Ltd 青果物選別システム
JP2008051784A (ja) * 2006-08-28 2008-03-06 I-Pulse Co Ltd 基板の検査システム
JP4503691B1 (ja) * 2009-10-13 2010-07-14 日東電工株式会社 液層表示素子の連続製造方法及び装置
KR101215371B1 (ko) * 2009-12-16 2012-12-26 (주) 루켄테크놀러지스 엘시디 패널의 자동 비젼검사 장치
KR101435126B1 (ko) 2009-12-25 2014-09-01 닛토덴코 가부시키가이샤 액정표시소자의 연속제조방법 및 장치
JP5246187B2 (ja) * 2010-03-15 2013-07-24 オムロン株式会社 Ｘ線検査装置、ｘ線検査方法およびプログラム
KR20120015172A (ko) * 2010-08-11 2012-02-21 엘지디스플레이 주식회사 표시장치의 검사장치 및 그의 검사방법
JP2012073459A (ja) * 2010-09-29 2012-04-12 Toppan Printing Co Ltd 共通形状欠陥の検査方法
JP5427929B2 (ja) * 2012-08-10 2014-02-26 日東電工株式会社 光学表示パネルの連続製造方法及び光学表示パネルの連続製造システム
JP5616494B1 (ja) * 2013-07-04 2014-10-29 日東電工株式会社 積層体基板の形成方法および装置
JP6156820B2 (ja) 2013-08-22 2017-07-05 住友化学株式会社 欠陥検査装置、光学部材の製造システム及び光学表示デバイスの生産システム
JP2015049349A (ja) 2013-08-30 2015-03-16 住友化学株式会社 光学部材貼合体の製造方法
JP6196116B2 (ja) 2013-10-08 2017-09-13 イーデーエム株式会社 空袋供給検査装置
KR20160005243A (ko) 2014-07-04 2016-01-14 (주)에스에이치엔지니어링 인라인형 패널 검사 및 분류 시스템
KR101554276B1 (ko) 2015-01-13 2015-09-18 엘지전자 주식회사 불량영역을 자동으로 배출하는 필름 라미네이트 장치
KR102012701B1 (ko) * 2015-06-30 2019-08-21 주식회사 엘지화학 편광필름 라미네이팅 장치 및 이를 포함하는 디스플레이 유닛 제조 시스템

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050063791A1 (en) * 2003-09-05 2005-03-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Inline transfer system and method
JP2007086578A (ja) * 2005-09-26 2007-04-05 Seiko Epson Corp 電気光学装置の検査方法及び検査装置
WO2008047712A1 (fr) * 2006-10-17 2008-04-24 Nitto Denko Corporation Procédé d'adhésion d'élément optique et appareil utilisant le procédé
KR20100115677A (ko) * 2009-04-20 2010-10-28 이세용 대형필름 검사 및 적재장치
KR20130007224A (ko) * 2011-06-30 2013-01-18 엘아이지에이디피 주식회사 검사유닛을 포함하는 ｏｌｅｄ 제조장치
WO2014129353A1 (ja) * 2013-02-20 2014-08-28 住友化学株式会社 光学表示デバイスの生産システム及び生産方法
CN105247409A (zh) * 2014-02-28 2016-01-13 Lg化学株式会社 光学膜层叠系统和使用该系统制备的显示部件
CN204264991U (zh) * 2014-11-19 2015-04-15 日东电工株式会社 缓冲设备
CN204296163U (zh) * 2014-11-19 2015-04-29 日东电工株式会社 内置式光学膜贴合系统

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