WO2021250507A1 - 表示装置の駆動方法 - Google Patents
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- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/042—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by opto-electronic means
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V40/00—Recognition of biometric, human-related or animal-related patterns in image or video data
- G06V40/10—Human or animal bodies, e.g. vehicle occupants or pedestrians; Body parts, e.g. hands
- G06V40/12—Fingerprints or palmprints
- G06V40/13—Sensors therefor
- G06V40/1318—Sensors therefor using electro-optical elements or layers, e.g. electroluminescent sensing
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09F—DISPLAYING; ADVERTISING; SIGNS; LABELS OR NAME-PLATES; SEALS
- G09F9/00—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09F—DISPLAYING; ADVERTISING; SIGNS; LABELS OR NAME-PLATES; SEALS
- G09F9/00—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements
- G09F9/30—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09F—DISPLAYING; ADVERTISING; SIGNS; LABELS OR NAME-PLATES; SEALS
- G09F9/00—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements
- G09F9/30—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements
- G09F9/33—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements being semiconductor devices, e.g. diodes
- G09F9/335—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements being semiconductor devices, e.g. diodes being organic light emitting diodes [OLED]
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
- G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
- G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
- G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
- G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K65/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element and at least one organic radiation-sensitive element, e.g. organic opto-couplers
Definitions
- One aspect of the present invention relates to a display device.
- One aspect of the present invention relates to an image pickup device.
- One aspect of the present invention relates to a touch panel.
- One aspect of the present invention relates to a non-contact touch panel.
- One aspect of the present invention relates to an electronic device authentication method.
- a semiconductor device refers to a device in general that can function by utilizing semiconductor characteristics.
- Patent Document 1 discloses an electronic device provided with a fingerprint sensor in a push button switch section.
- One aspect of the present invention is to provide a display device having a novel configuration.
- one of the tasks is to provide a new driving method for the display device.
- One aspect of the present invention is a method of driving a display device having a first pixel, a second pixel, and a sensor pixel.
- the sensor pixel has a photoelectric conversion element having sensitivity to the light of the first color exhibited by the first pixel and the light of the second color exhibited by the second pixel.
- the first period in which the first image is taken with the first pixel turned on and the second pixel turned off, and the first pixel and the second pixel are turned off.
- a second period in which the first reading is performed with the pixel turned off, and a third period in which the second image is taken with the second pixel turned on and the first pixel turned off. It has a fourth period in which the second reading is performed with the first pixel and the second pixel turned off.
- Another aspect of the present invention is a method of driving a display device having a first pixel, a second pixel, and a sensor pixel.
- the first pixel has a first light emitting element exhibiting light of the first color
- the second pixel has a second light emitting element exhibiting light of the second color
- the sensor pixel has a second light emitting element. It has a photoelectric conversion element having sensitivity to light of a first color and light of a second color.
- the sensor pixel is in a state where the first light emitting element is lit in the first period in which the first data is written in the first pixel and in the state where the first light emitting element is lit based on the first data.
- the display device has a third pixel.
- the third pixel has a third light emitting element that exhibits light of a third color.
- a fifth period in which the second light emitting element is lit based on the second data and the second image is taken by the sensor pixel, and the first light emitting element, the second light emitting element, the second.
- the first light emitting element and the photoelectric conversion element are provided on the same surface.
- the first light emitting element has a first pixel electrode, a light emitting layer, and a first electrode.
- the photoelectric conversion element preferably has a second pixel electrode, an active layer, and a first electrode.
- the first electrode preferably has a portion that overlaps with the first pixel electrode via the light emitting layer and a portion that overlaps with the second pixel electrode via the active layer. At this time, it is preferable that the first pixel electrode and the second pixel electrode are formed by processing the same conductive film.
- the first electrode is given a first potential
- the first pixel electrode is given a second potential higher than the first potential. It is preferable that the second pixel electrode is given a third potential lower than the first potential.
- a touch panel having high position detection accuracy or a non-contact type touch panel it is possible to provide a touch panel having high position detection accuracy or a non-contact type touch panel.
- the cost of an electronic device having an authentication function can be reduced.
- the number of parts of electronic devices can be reduced.
- a non-contact type touch panel and a driving method thereof can be provided.
- a display device having a novel configuration it is possible to provide a display device having a novel configuration.
- a new display device driving method can be provided.
- FIG. 1A is a diagram showing a configuration example of a display device.
- 1B and 1C are diagrams for explaining an example of a driving method of a display device.
- FIG. 2A is a diagram showing a configuration example of the display device.
- 2B and 2C are circuit diagrams of a pixel circuit.
- 3A and 3B are timing charts illustrating a method of driving the display device.
- 4A, 4B and 4D are cross-sectional views showing an example of a display device.
- 4C and 4E are diagrams showing an example of an image captured by the display device.
- 4F to 4H are top views showing an example of pixels.
- FIG. 5A is a cross-sectional view showing a configuration example of the display device.
- 5B to 5D are top views showing an example of pixels.
- FIGS. 6A and 6B are diagrams showing a configuration example of a display device.
- 7A to 7C are diagrams showing a configuration example of a display device.
- 8A to 8C are diagrams showing a configuration example of the display device.
- FIG. 9 is a diagram showing a configuration example of the display device.
- FIG. 10A is a diagram showing a configuration example of the display device.
- 10B and 10C are diagrams showing a configuration example of a transistor.
- 11A and 11B are diagrams showing a configuration example of pixels.
- 11C to 11E are diagrams showing a configuration example of a pixel circuit.
- 12A and 12B are diagrams showing a configuration example of an electronic device.
- 13A to 13D are diagrams showing configuration examples of electronic devices.
- 14A to 14F are diagrams showing configuration examples of electronic devices.
- the display device of one aspect of the present invention has a plurality of display elements, a plurality of light receiving elements (also referred to as light receiving devices), and a touch sensor.
- the display element is preferably a light emitting element (also referred to as a light emitting device).
- the light receiving element is preferably a photoelectric conversion element.
- a light emitting element is used as the display element and a photoelectric conversion element is used as the light receiving element will be described.
- the display device has a function of displaying an image on the display surface side by means of display elements arranged in a matrix.
- the display device has a light receiving element and a light emitting element in the display unit.
- light emitting elements are arranged in a matrix on the display unit, and an image can be displayed on the display unit.
- the light receiving elements are arranged in a matrix in the display unit, and the display unit has one or both of the imaging function and the sensing function. For example, a part of the light emitted by the light emitting element is reflected by the object, and the reflected light is incident on the light receiving element. Further, the light receiving element can output an electric signal according to the intensity of the incident light. Therefore, since the display device has a plurality of light receiving elements arranged in a matrix, it is possible to acquire (also referred to as imaging) the position information, shape, and the like of the object as data. That is, the display unit can be used for an image sensor, a touch sensor, or the like.
- the light emitting element can be used as a light source of the sensor. Therefore, it is not necessary to provide a light receiving unit and a light source separately from the display device, and the number of parts of the electronic device can be reduced.
- the display device can take an image of an object that touches or approaches the display surface by using a light receiving element. That is, the display device can function as an image sensor panel or the like. In particular, the display device can capture the fingerprint of the fingertip touching the display surface.
- the electronic device to which the display device of one aspect of the present invention is applied can acquire data related to biological information such as fingerprints and palm prints by using the function as an image sensor. That is, the display device can incorporate a biometric authentication sensor. By incorporating the biometric authentication sensor in the display device, the number of parts of the electronic device can be reduced, and the size and weight of the electronic device can be reduced as compared with the case where the biometric authentication sensor is provided separately from the display device. ..
- the light receiving element when the object reflects (or scatters) the light emitted by the light emitting element of the display unit, the light receiving element can detect the reflected light (or scattered light) in a dark place.
- the light receiving element can detect the reflected light (or scattered light) in a dark place.
- the display device can function as a touch panel.
- the position can be detected by using the reflected light from the object, the object does not necessarily have to come into contact with the object, and the position information, shape, etc. of the object away from the display surface can be obtained. Can be obtained. Therefore, one aspect of the present invention functions as a non-contact type touch panel.
- the non-contact type touch panel can also be referred to as a near touch panel or a non-touch panel.
- an electronic device to which a touch panel is applied for example, a smartphone
- a touch panel it is necessary to directly touch the screen to operate it. Therefore, the screen may become dirty due to sebum, sweat, etc. of the fingers.
- a virus or fungus adheres to the screen, there is a problem that the risk of infection increases.
- one aspect of the present invention can be used as a non-contact type touch panel, it is possible to provide an electronic device that can be used extremely hygienically.
- the electronic device to which the non-contact touch panel of one aspect of the present invention is applied can be suitably used, for example, in a medical monitor device in which hygiene is a problem.
- a medical monitor device in which hygiene is a problem.
- it can be used for home electronic devices (for example, smartphones, tablet terminals, notebook PCs), etc. Can also be preferably used.
- an EL element such as an OLED (Organic Light Emitting Diode) or a QLED (Quantum-dot Light Emitting Diode).
- the light emitting substances of the EL element include a substance that emits fluorescence (fluorescent material), a substance that emits phosphorescence (phosphorescent material), and a substance that exhibits thermal activated delayed fluorescence (Thermally activated delayed fluorescent (TADF) material). ), Inorganic compounds (quantum dot materials, etc.) and the like.
- an LED such as a micro LED (Light Emitting Diode) can also be used.
- the light receiving element for example, a pn type or pin type photodiode can be used.
- the light receiving element functions as a photoelectric conversion element that detects light incident on the light receiving element and generates an electric charge.
- the amount of electric charge generated is determined according to the amount of incident light.
- Organic photodiodes can be easily made thinner, lighter, and have a larger area, and have a high degree of freedom in shape and design, so that they can be applied to various display devices.
- the light emitting element can have, for example, a laminated structure having a light emitting layer between a pair of electrodes. Further, the light receiving element may have a laminated structure in which an active layer is provided between the pair of electrodes.
- a semiconductor material can be used for the active layer of the light receiving element. For example, an organic semiconductor material containing an organic compound or an inorganic semiconductor material such as silicon can be used.
- an organic compound for the active layer of the light receiving element.
- the other electrode of the light emitting element and the light receiving element is an electrode (also referred to as a common electrode) formed by one continuous conductive layer.
- the light emitting element and the light receiving element have a common layer.
- one aspect of the present invention can be configured to include two or more types of pixels including light emitting elements exhibiting different colors, and a sensor pixel including a photoelectric conversion element.
- a display device capable of color display can be realized by configuring the pixels of three colors of red, green, and blue and the sensor pixels in a matrix.
- color display is performed based on the time-addition color mixing method. Specifically, color display is performed by lighting red, green, and blue pixels in order. Further, after the pixels of each color are turned on, it is preferable to provide a period for turning off all the pixels (also referred to as a period for displaying black). This makes it possible to realize a smooth moving image display.
- a drive method can also be called a time division display method (also referred to as a field sequential drive method).
- At least an exposure period is provided during the period in which the red, green, or blue pixels are lit. Further, it is driven so as to provide a read period during the period when the red, green, or blue pixels are turned off. That is, it is possible to perform imaging three times in one frame period. This makes it possible to perform smooth sensing. Further, since the imaging (exposure) is performed during the lighting period, it is possible to suitably suppress the influence of electrical noise generated when driving the pixels, and it is possible to capture a clear image.
- FIG. 1A shows a schematic view of a display device 50 according to an aspect of the present invention.
- the display device 50 includes a light emitting element 51R that emits red light 55R, a light emitting element 51G that emits green light 55G, a light emitting element 51B that emits blue light 55B, and a light receiving element 52.
- the light receiving element 52 is a photoelectric conversion element having sensitivity to red, blue, and green light.
- a pixel is composed of a light emitting element 51R, a light emitting element 51G, a light emitting element 51B, and a light receiving element 52.
- the display device 50 has a configuration in which a plurality of the pixels are arranged in a matrix.
- the light emitting element 51R, the light emitting element 51G, the light emitting element 51B, and the light receiving element 52 are arranged on the same surface.
- the light 55R, the light 55G, and the light 55B are emitted from each light emitting element toward the display surface side.
- FIG. 1A shows a state in which the finger 59 is held over the display device 50.
- a part of the light 55R, the light 55G, and the light 55B is reflected by the finger 59, and a part of the reflected light 56 is incident on the light receiving element 52.
- the light receiving element 52 can receive the incident reflected light 56, convert it into an electric signal, and output it.
- FIG. 1B schematically shows a driving method of the display device 50.
- the period 60R, the period 60G, and the period 60B are repeated, so that an image can be displayed and an image can be taken.
- one or more periods 60R, 60G, and 60B are provided within one frame period.
- the light emitting element 51R emits light (lights up). At this time, the light emitting element 51G and the light emitting element 51B are in a state of being turned off. A part of the light 55R emitted from the light emitting element 51R is reflected by the finger 59, and a part of the reflected light 56 is incident on the light receiving element 52. In the period 60R, one image can be obtained by exposing with the light receiving element 52.
- the light emitting element 51G emits light.
- the light emitting element 51R and the light emitting element 51B are in a state of being turned off.
- the green light 55G emitted from the light emitting element 51G is reflected by the finger 59, and one image reflecting the intensity distribution of the reflected light 56 can be obtained.
- the light emitting element 51B emits light, and the light emitting element 51R and the light emitting element 51G are turned off.
- the blue light 55B is reflected by the finger 59, and one image reflecting the intensity distribution of the reflected light 56 can be obtained.
- the plurality of light emitting elements 51R, the light emitting element 51G, and the light emitting element 51B arranged in a matrix sequentially emit light during one frame period, so that a red image, a green image, and a blue image are sequentially displayed.
- color display can be performed based on the time-addition color mixing method.
- the frame frequency of the display device 50 is low, so-called color breaks in which images of each color are visually recognized individually without being combined are likely to occur. Therefore, the frame frequency is, for example, 60 Hz or higher, preferably 90 Hz or higher, more preferably 120 Hz. That is all.
- a plurality of light receiving elements 52 arranged in a matrix can perform image pickup three times in one frame period. This makes it possible to acquire the position information of the finger 59 three times in one frame period. For example, when the frame frequency is 60 Hz, the position information can be acquired at a frequency three times as high, so that the position information can be accurately acquired even when the finger 59 moves quickly. It is also possible to acquire the position information of the finger 59 based on the combined image of the three images acquired during one frame period. As a result, accurate position information can be obtained even for an object having a low reflectance with respect to light of a specific color. For example, when the color of the object does not reflect the red light, the shape, position information, etc. of the object can be acquired by using two images captured by the green light 55G and the blue light 55B. ..
- a plurality of light receiving elements 52 arranged in a matrix can capture three images in one frame period. Since the three images are images corresponding to the red reflected light, the green reflected light, and the blue reflected light from the object, respectively, it is possible to acquire a color image by synthesizing these three images. can. That is, the display device 50 according to one aspect of the present invention can be made to function as a full-color image scanner. For example, by arranging a paper, a printed matter, or the like to be imaged on the display surface of the display device 50, the printed matter can be converted into data as an image.
- a pixel (sub-pixel) having a light emitting element 51R is referred to as an R pixel
- a pixel having a light emitting element 51G is referred to as a G pixel
- a pixel having a light emitting element 51B is referred to as a B pixel.
- FIG. 1C the operation of each pixel having a light emitting element is shown in the upper stage of the two stages, and the operation of the sensor pixel having a light receiving element 52 is shown in the lower stage.
- the period of R lighting shown in FIG. 1C corresponds to the above period 60R. At this time, imaging (exposure) using the light receiving element 52 is performed at the same time.
- the light emitting element 51R, the light emitting element 51G, and the light emitting element 51B are turned off, respectively. It is preferable to provide a turn-off period because afterimages are less likely to occur and a smooth moving image can be displayed. Then, after the extinguishing period, data is written to all G pixels (G writing).
- R read Data is read from the sensor pixels during the turn-off period and the G writing period.
- R read since the R pixel is turned on and the captured data is read, it is referred to as R read.
- the imaging operation is similarly performed during the G lighting period (corresponding to the period 60G). Subsequently, after the extinguishing period, data is written to the B pixel in the B writing period. During the turn-off period and the B write period, the data captured by turning on the G pixel first is read (G read).
- the image pickup operation is performed in the B lighting period (corresponding to the period 60B), and in the subsequent extinguishing period and the R writing period, the B pixel is turned on first and the imaged data is read out (B reading).
- display and imaging can be performed at the same time. Furthermore, by performing imaging during the lighting period, it is possible to acquire a clear image with less noise.
- FIG. 2A shows a block diagram of the display device 10.
- the display device 10 includes a display unit 11, a drive circuit unit 12, a drive circuit unit 13, a drive circuit unit 14, a circuit unit 15, and the like.
- the display unit 11 has a plurality of pixels 30 arranged in a matrix.
- the pixel 30 has a sub-pixel 21R, a sub-pixel 21G, a sub-pixel 21B, and an image pickup pixel 22.
- the sub-pixel 21R, the sub-pixel 21G, and the sub-pixel 21B each have a light emitting element that functions as a display element.
- the image pickup pixel 22 has a light receiving element that functions as a photoelectric conversion element.
- the image pickup pixel 22 provided with the light receiving element is one aspect of the sensor pixel.
- the pixel 30 is electrically connected to wiring GL, wiring SLR, wiring SLG, wiring SLB, wiring TX, wiring SE, wiring RS, wiring WX, and the like.
- the wiring SLR, wiring SLG, and wiring SLB are electrically connected to the drive circuit unit 12.
- the wiring GL is electrically connected to the drive circuit unit 13.
- the drive circuit unit 12 functions as a source line drive circuit (also referred to as a source driver).
- the drive circuit unit 13 functions as a gate line drive circuit (also referred to as a gate driver).
- the pixel 30 has a sub-pixel 21R, a sub-pixel 21G, and a sub-pixel 21B.
- the sub-pixel 21R is a sub-pixel exhibiting red
- the sub-pixel 21G is a sub-pixel exhibiting green
- the sub-pixel 21B is a sub-pixel exhibiting blue.
- the display device 10 can perform full-color display.
- the pixel 30 has three color sub-pixels is shown here, it may have four or more color sub-pixels.
- the sub-pixel 21R has a light emitting element that exhibits red light.
- the sub-pixel 21G has a light emitting element that exhibits green light.
- the sub-pixel 21B has a light emitting element that exhibits blue light.
- the pixel 30 may have a sub-pixel having a light emitting element that exhibits other light.
- the pixel 30 may have, in addition to the above three sub-pixels, a sub-pixel having a light emitting element exhibiting white light, a sub-pixel having a light emitting element exhibiting yellow light, and the like.
- the wiring GL is electrically connected to the sub-pixel 21R, the sub-pixel 21G, and the sub-pixel 21B arranged in the row direction (extending direction of the wiring GL).
- the wiring SLR, the wiring SLG, and the wiring SLB are electrically connected to the sub-pixel 21R, the sub-pixel 21G, or the sub-pixel 21B (not shown) arranged in the column direction (extending direction of the wiring SLR or the like), respectively. ..
- the image pickup pixel 22 included in the pixel 30 is electrically connected to the wiring TX, the wiring SE, the wiring RS, and the wiring WX.
- the wiring TX, the wiring SE, and the wiring RS are each electrically connected to the drive circuit unit 14, and the wiring WX is electrically connected to the circuit unit 15.
- the drive circuit unit 14 has a function of generating a signal for driving the image pickup pixel 22 and outputting the signal to the image pickup pixel 22 via the wiring SE, the wiring TX, and the wiring RS.
- the circuit unit 15 has a function of receiving a signal output from the image pickup pixel 22 via the wiring WX and outputting it as image data to the outside.
- the circuit unit 15 functions as a read circuit.
- the display resolution (number of pixels) and the imaging resolution (number of pixels) can be made the same.
- the image pickup pixel 22 is used only for the function as a touch panel, high resolution may not be required.
- the pixel 30 including the image pickup pixel 22 and the pixel not included that is, the pixel composed of the sub-pixel 21R, the sub-pixel 21G, and the sub-pixel 21B) may be mixed.
- FIG. 2B shows an example of a circuit diagram of the pixel 21 that can be applied to the sub-pixel 21R, the sub-pixel 21G, and the sub-pixel 21B.
- the pixel 21 has a transistor M1, a transistor M2, a transistor M3, a capacitance C1, and a light emitting element EL.
- the wiring GL and the wiring SL are electrically connected to the pixel 21.
- the wiring SL corresponds to any one of the wiring SLR, the wiring SLG, and the wiring SLB shown in FIG. 2A.
- the gate is electrically connected to the wiring GL, one of the source and the drain is electrically connected to the wiring SL, and the other is electrically connected to one electrode of the capacitance C1 and the gate of the transistor M2.
- Ru In the transistor M2, one of the source and the drain is electrically connected to the wiring AL, and the other of the source and the drain is connected to one electrode of the light emitting element EL, the other electrode of the capacitance C1, and one of the source and the drain of the transistor M3. It is electrically connected.
- the gate is electrically connected to the wiring GL, and the other of the source and the drain is electrically connected to the wiring RL.
- the other electrode is electrically connected to the wiring CL.
- Transistor M1 and transistor M3 function as switches.
- the transistor M2 functions as a transistor for controlling the current flowing through the light emitting element EL.
- LTPS transistor low-temperature polysilicon
- OS transistor an OS transistor to the transistor M1 and the transistor M3, and apply an LTPS transistor to the transistor M2.
- the OS transistor a transistor using an oxide semiconductor in the semiconductor layer on which the channel is formed can be used.
- the semiconductor layers include, for example, indium and M (M is gallium, aluminum, silicon, boron, yttrium, tin, copper, vanadium, berylium, titanium, iron, nickel, germanium, zirconium, molybdenum, lantern, cerium, neodymium, etc. It is preferred to have one or more selected from hafnium, tantalum, tungsten, and gallium) and zinc.
- M is preferably one or more selected from aluminum, gallium, yttrium, and tin.
- an oxide containing indium (In), gallium (Ga), and zinc (Zn) also referred to as IGZO
- a transistor using an oxide semiconductor having a wider bandgap and a smaller carrier density than silicon can realize an extremely small off-current. Therefore, due to the small off-current, it is possible to retain the charge accumulated in the capacitance connected in series with the transistor for a long period of time. Therefore, it is particularly preferable to use a transistor to which an oxide semiconductor is applied for the transistor M1 and the transistor M3 connected in series with the capacitance C1.
- a transistor having an oxide semiconductor as the transistor M1 and the transistor M3 it is possible to prevent the electric charge held in the capacitance C1 from leaking through the transistor M1 or the transistor M3. Further, since the electric charge held in the capacitance C1 can be held for a long period of time, the still image can be displayed for a long period of time without rewriting the data of the pixel 21.
- a data potential D is given to the wiring SL.
- a selection signal is given to the wiring GL.
- the selection signal includes a potential that causes the transistor to be in a conductive state and a potential that causes the transistor to be in a non-conducting state.
- a reset potential is given to the wiring RL.
- An anode potential is given to the wiring AL.
- a cathode potential is given to the wiring CL.
- the anode potential is set to be higher than the cathode potential.
- the reset potential given to the wiring RL can be set so that the potential difference between the reset potential and the cathode potential becomes smaller than the threshold voltage of the light emitting element EL.
- the reset potential can be a potential higher than the cathode potential, a potential equal to the cathode potential, or a potential lower than the cathode potential.
- the pixels 30 are arranged in a matrix of M rows and N columns. That is, the display device 10 is provided with M wiring GLs and the like and N wiring SLRs and the like. Further, in the following, when distinguishing a plurality of wirings, the reference numerals are clearly indicated by adding numbers and the like. Unless otherwise specified, when a plurality of wirings are not distinguished, or when matters common to a plurality of wirings are explained, the reference numerals are specified without adding numbers or the like.
- FIG. 3A shows an example of signals input to each of the wiring GL [1] on the first line, the wiring GL [M] on the Mth line, the wiring SLR, the wiring SLG, and the wiring SLB.
- the period from the time T11 to the time T12 corresponds to the data writing period (R writing period) to the sub-pixel 21R.
- the wiring GL [1] to the given (high level potential in this case) the potential at which the transistor M1 and the transistor M2 in a conductive state, the respective wiring SLR, the data potential D R is given.
- the transistor M1 in the sub-pixel 21R is in a conductive state, and a data potential is given to the gate of the transistor M2 from the wiring SLR.
- the transistor M3 is in a conductive state, and a reset potential is given to one electrode of the light emitting element EL from the wiring RL. Therefore, it is possible to prevent the light emitting element EL from emitting light during the writing period.
- R writing period are sequentially selected from the first row to the M-th row, the sub-pixels 21R in each row, the data potential D R is written from the wiring SLR.
- ⁇ Period T12-T13> The period from the time T12 to the time T13 corresponds to the display period (R lighting period) by the sub-pixel 21R. In the period T12-T13, a red image based on the written data is displayed.
- ⁇ Period T13-T14> The period from the time T13 to the time T14 corresponds to a period (extinguishing period) in which the light emitting elements of all the pixels are turned off.
- a high level potential is applied to everything from the wiring GL [1] to the wiring GL [M].
- the wiring SLR, the wiring SLG, and the wiring SLB are in a state where the low level potential is applied, the low level potential is written to all the pixels.
- the period after the time T14 corresponds to the data writing period (G writing period) to the sub-pixel 21G.
- the G write period except that sequential data potential D G is applied to the wiring SLG, is the same as the R address period.
- FIG. 2C shows an example of a circuit diagram of the image pickup pixel 22.
- the image pickup pixel 22 includes a transistor M5, a transistor M6, a transistor M7, a transistor M8, a capacitance C2, and a light receiving element PD.
- the gate is electrically connected to the wiring TX, one of the source and the drain is electrically connected to the anode electrode of the light receiving element PD, and the other of the source and the drain is one of the source and the drain of the transistor M6.
- the first electrode of the capacitance C2, and the gate of the transistor M7 are electrically connected.
- the gate is electrically connected to the wiring RS, and the other of the source and the drain is electrically connected to the wiring V1.
- one of the source and the drain is electrically connected to the wiring V3, and the other of the source and the drain is electrically connected to one of the source and the drain of the transistor M8.
- the gate is electrically connected to the wiring SE, and the other of the source and the drain is electrically connected to the wiring WX.
- the cathode electrode is electrically connected to the wiring CL.
- the second electrode is electrically connected to the wiring V2.
- the transistor M5, the transistor M6, and the transistor M8 function as switches.
- the transistor M7 functions as an amplification element (amplifier).
- LTPS transistors it is preferable to apply LTPS transistors to all of the transistors M5 to M8. Alternatively, it is preferable to apply an OS transistor to the transistor M5 and the transistor M6, and to apply an LTPS transistor to the transistor M7. At this time, either the OS transistor or the LTPS transistor may be applied to the transistor M8.
- charge retention period the period from the end of the charge transfer operation to the start of the read operation.
- an output signal having the same height potential is ideally obtained in all the pixels.
- the OS transistor as the transistor M5 and the transistor M6
- the potential change of the node can be made extremely small. That is, even if the image is taken by using the global shutter method, the change in the gradation of the image data due to the difference in the charge retention period can be suppressed to a small value, and the quality of the captured image can be improved.
- the transistor M7 it is preferable to apply an LTPS transistor using low-temperature polysilicon for the semiconductor layer to the transistor M7.
- the LTPS transistor can realize higher field effect mobility than the OS transistor, and is excellent in drive capability and current capability. Therefore, the transistor M7 can operate at a higher speed than the transistor M5 and the transistor M6.
- the LTPS transistor for the transistor M7 it is possible to quickly output to the transistor M8 according to a minute potential based on the amount of light received by the light receiving element PD.
- the transistor M5 and the transistor M6 have a small leakage current, and the transistor M7 has a high drive capability, so that the light is received by the light receiving element PD and the electric charge transferred via the transistor M5 leaks. It can be held without any pressure and can be read at high speed.
- the transistor M8 functions as a switch for flowing the output from the transistor M7 to the wiring WX, a small off-current and high-speed operation are not always required as in the transistors M5 to M7. Therefore, low-temperature polysilicon may be applied to the semiconductor layer of the transistor M8, or an oxide semiconductor may be applied.
- the transistor is shown as an n-channel type transistor in FIGS. 2B and 2C, a p-channel type transistor can also be used.
- the transistors of the pixel 21 and the image pickup pixel 22 are formed side by side on the same substrate.
- FIG. 3B shows signals input to the wiring TX, the wiring SE [1] on the first line, the wiring SE [M] on the Mth line, the wiring RS, and the wiring WX.
- a low level potential is applied to the wiring TX, the wiring SE, and the wiring RS. Further, the wiring WX is in a state where no data is output, and is shown here as a low level potential. A predetermined potential may be applied to the wiring WX.
- ⁇ Period T21-T22> The period from time T21 to time T22 corresponds to an initialization period (also referred to as a reset period).
- the wiring TX and the wiring RS are given a potential (here, a high level potential) that makes the transistor conductive.
- the wiring SE is given a potential (here, a low level potential) that makes the transistor non-conducting.
- the potential of the wiring V1 is also supplied to the first electrode of the capacitance C2, and the capacitance C2 is in a charged state.
- ⁇ Period T22-T23> The period from the time T22 to the time T23 corresponds to the exposure period. At time T22, the wiring TX and the wiring RS are given a low level potential. As a result, the transistor M5 and the transistor M6 are in a non-conducting state.
- the light receiving element PD Since the transistor M5 is in a non-conducting state, the light receiving element PD is held in a state where a reverse bias voltage is applied. Here, photoelectric conversion occurs due to the light incident on the light receiving element PD, and charges are accumulated in the anode electrode of the light receiving element PD.
- the length of the exposure period may be set according to the sensitivity of the light receiving element PD, the amount of incident light, and the like, but it is preferable to set at least a sufficiently long period as compared with the initialization period.
- the transistor M5 and the transistor M6 are in a non-conducting state during the period T22-T23, the potential of the first electrode of the capacitance C2 is held at the low level potential supplied from the wiring V1.
- ⁇ Period T23-T24> The period from time T23 to time T24 corresponds to the transfer period.
- a high level potential is applied to the wiring TX.
- the transistor M5 becomes conductive, and the electric charge accumulated in the light receiving element PD is transferred to the first electrode of the capacitance C2 via the transistor M5.
- the potential of the node to which the first electrode of the capacitance C2 is connected rises according to the amount of electric charge accumulated in the light receiving element PD.
- the gate of the transistor M7 is in a state where a potential corresponding to the exposure amount of the light receiving element PD is applied.
- ⁇ Period T24-T25> At time T24, a low level potential is applied to the wiring TX. As a result, the transistor M5 is in a non-conducting state, and the node to which the gate of the transistor M7 is connected is in a floating state. Since the exposure of the light receiving element PD is constantly occurring, the potential of the node to which the gate of the transistor M7 is connected changes by putting the transistor M5 in a non-conducting state after the transfer operation in the period T23-T24 is completed. Can be prevented.
- ⁇ Period T25-T26> The period from the time T25 to the time T26 corresponds to the reading period. At time T25, a high level potential is first applied to the wiring SE [1], whereby the transistor M8 in the image pickup pixel 22 in the first row becomes conductive.
- a source follower circuit can be formed by the transistor M7 and the transistor included in the circuit unit 15, and data can be read out.
- the data potential D S which is output to the wiring WX is determined according to the gate potential of the transistor M7. Specifically, the gate potential of the transistor M7, the potential obtained by subtracting the threshold voltage of the transistor M7, is output as the data potential D S to the wiring WX, read by the read circuit having the potential circuit 15.
- a source grounded circuit can be formed by the transistor M7 and the transistor of the circuit unit 15, and data can be read by the read circuit of the circuit unit 15.
- the reading operation is performed in order from the first line to the Mth line.
- the wiring WX would M data potential D S is outputted in order.
- the exposure period and the readout period can be set separately by using the driving method illustrated in FIG. 3B, all the imaging pixels 22 provided on the display unit 11 are simultaneously exposed, and then the data is sequentially read out. be able to. As a result, so-called global shutter drive can be realized.
- a transistor to which an oxide semiconductor having an extremely low leakage current in a non-conducting state is applied is used for the transistor (particularly the transistor M5 and the transistor M6) that functions as a switch in the image pickup pixel 22. Is preferable.
- At least the exposure period shown in FIG. 3B corresponds to the imaging period in FIG. 1C.
- at least the read period shown in FIG. 3B corresponds to the R read period, the G read period, and the B read period in FIG. 1C.
- the initialization period shown in FIG. 3B is preferably included in the imaging period.
- the transfer period shown in FIG. 3B may be included in the R reading period or the like, but it is preferable to include it in the imaging period because the influence of electrical noise can be suppressed even in the transfer period.
- This embodiment can be carried out by appropriately combining at least a part thereof with other embodiments described in the present specification.
- an organic EL element (also referred to as an organic EL device) is used as a light emitting element, and an organic photodiode is used as a light receiving element.
- the organic EL element and the organic photodiode can be formed on the same substrate. Therefore, an organic photodiode can be built in a display device using an organic EL element.
- one of the pair of electrodes can be a common layer for the light receiving element and the light emitting element.
- the light receiving element and the light emitting element may have the same configuration except that the light receiving element has an active layer and the light emitting element has a light emitting layer. That is, a light receiving element can be manufactured only by replacing the light emitting layer of the light emitting element with an active layer.
- a display device having a light receiving element can be manufactured by using the existing manufacturing device and manufacturing method of the display device.
- the layer common to the light receiving element and the light emitting element may have different functions in the light emitting element and those in the light receiving element.
- the components are referred to based on the function in the light emitting element.
- the hole injection layer functions as a hole injection layer in a light emitting device and as a hole transport layer in a light receiving element.
- the electron injection layer functions as an electron injection layer in the light emitting device and as an electron transport layer in the light receiving element.
- the layer common to the light receiving element and the light emitting element may have the same function in the light emitting element and the function in the light receiving element.
- the hole transport layer functions as a hole transport layer in both the light emitting element and the light receiving element
- the electron transport layer functions as an electron transport layer in both the light emitting element and the light receiving element.
- the sub-pixel exhibiting any color has a light emitting / receiving element instead of the light emitting element, and the sub-pixel exhibiting another color may have a light emitting element.
- the light receiving / receiving element is an element having both a function of emitting light (light emitting function) and a function of receiving light (light receiving function). For example, when a pixel has three sub-pixels, a red sub-pixel, a green sub-pixel, and a blue sub-pixel, at least one sub-pixel has a light-receiving element and the other sub-pixel has a light-emitting element. It is composed. Therefore, the display unit of the display device according to one aspect of the present invention has a function of displaying an image by using both the light receiving / receiving element and the light emitting element.
- the light receiving / receiving element also serves as a light emitting element and a light receiving element, it is possible to impart a light receiving function to the pixels without increasing the number of sub-pixels included in the pixels.
- one or both of the imaging function and the sensing function can be added to the display unit of the display device while maintaining the aperture ratio of the pixels (aperture ratio of each sub-pixel) and the fineness of the display device. .. Therefore, in the display device of one aspect of the present invention, the aperture ratio of the pixel can be increased and the definition can be easily increased as compared with the case where the sub-pixel having the light receiving element is provided separately from the sub-pixel having the light emitting element. be.
- the light receiving / receiving element can be manufactured by combining an organic EL element and an organic photodiode.
- a light receiving / receiving element can be manufactured by adding an active layer of an organic photodiode to a laminated structure of an organic EL element.
- the increase in the film forming process can be suppressed by forming a film in a batch of layers having the same configuration as the organic EL element.
- FIG. 4A shows a schematic view of the display panel 200.
- the display panel 200 includes a substrate 201, a substrate 202, a light receiving element 212, a light emitting element 211R, a light emitting element 211G, a light emitting element 211B, a functional layer 203, and the like.
- the light emitting element 211R, the light emitting element 211G, the light emitting element 211B, and the light receiving element 212 are provided between the substrate 201 and the substrate 202.
- the light emitting element 211R, the light emitting element 211G, and the light emitting element 211B emit red (R), green (G), or blue (B) light, respectively.
- R red
- G green
- B blue
- the light emitting element 211R, the light emitting element 211G, and the light emitting element 211B when not distinguished, they may be referred to as a light emitting element 211.
- the display panel 200 has a plurality of pixels arranged in a matrix.
- One pixel has one or more sub-pixels.
- One sub-pixel has one light emitting element.
- the pixel has a configuration having three sub-pixels (three colors of R, G, B, or three colors of yellow (Y), cyan (C), and magenta (M), etc.), or sub-pixels. (4 colors of R, G, B, white (W), 4 colors of R, G, B, Y, etc.) can be applied.
- the pixel has a light receiving element 212.
- the light receiving element 212 may be provided on all pixels or may be provided on some pixels. Further, one pixel may have a plurality of light receiving elements 212.
- FIG. 4A shows how the finger 220 is approaching the surface of the substrate 202.
- a part of the light emitted by the light emitting element 211G is reflected by the finger 220.
- the display panel 200 can function as a non-contact type touch panel. Since the finger 220 can be detected even when it comes into contact with the substrate 202, the display panel 200 also functions as a contact type touch panel (also simply referred to as a touch panel).
- the functional layer 203 has a circuit for driving the light emitting element 211R, the light emitting element 211G, the light emitting element 211B, and a circuit for driving the light receiving element 212.
- the functional layer 203 is provided with a switch, a transistor, a capacitance, wiring, and the like.
- a switch, a transistor, or the like may not be provided.
- FIG. 4B schematically shows an enlarged view of the contact portion in a state where the finger 220 is in contact with the substrate 202. Further, FIG. 4B shows the light emitting elements 211 and the light receiving elements 212 arranged alternately.
- Fingerprints are formed on the finger 220 by the concave portions and the convex portions. Therefore, as shown in FIG. 4B, the convex portion of the fingerprint touches the substrate 202.
- Light reflected from a certain surface or interface includes specular reflection and diffuse reflection.
- the positively reflected light is highly directional light having the same incident angle and reflected angle
- the diffusely reflected light is light having low angle dependence of intensity and low directional light.
- the light reflected from the surface of the finger 220 is dominated by the diffuse reflection component of the specular reflection and the diffuse reflection.
- the light reflected from the interface between the substrate 202 and the atmosphere is dominated by the specular reflection component.
- the intensity of the light reflected by the contact surface or the non-contact surface between the finger 220 and the substrate 202 and incident on the light receiving element 212 located directly under these is the sum of the specular reflected light and the diffuse reflected light. ..
- the specular reflected light (indicated by the solid line arrow) becomes dominant, and since these contact with each other in the convex portion, the diffuse reflected light from the finger 220 (indicated by the solid line arrow) becomes dominant. (Indicated by the dashed arrow) becomes dominant. Therefore, the intensity of the light received by the light receiving element 212 located directly below the concave portion is higher than that of the light receiving element 212 located directly below the convex portion. This makes it possible to capture the fingerprint of the finger 220.
- a clear fingerprint image can be obtained by setting the arrangement interval of the light receiving element 212 to be smaller than the distance between the two convex portions of the fingerprint, preferably the distance between the adjacent concave portions and the convex portions. Since the distance between the concave portion and the convex portion of the human fingerprint is approximately 200 ⁇ m, for example, the arrangement spacing of the light receiving element 212 is 400 ⁇ m or less, preferably 200 ⁇ m or less, more preferably 150 ⁇ m or less, still more preferably 100 ⁇ m or less, still more preferably. It is 50 ⁇ m or less, 1 ⁇ m or more, preferably 10 ⁇ m or more, and more preferably 20 ⁇ m or more.
- FIG. 4C shows an example of a fingerprint image captured by the display panel 200.
- the contour of the finger 220 is shown by a broken line and the contour of the contact portion 221 is shown by a long-dotted line within the imaging range 223.
- a fingerprint 222 with high contrast can be imaged by the difference in the amount of light incident on the light receiving element 212 in the contact portion 221.
- the fingerprint can be captured by capturing the uneven shape of the fingerprint of the finger 220.
- the display panel 200 can also function as a touch panel, a pen tablet, or the like.
- FIG. 4D shows a state in which the tip of the stylus 225 is slid in the direction of the broken line arrow with the tip of the stylus 225 close to the substrate 202.
- the diffuse reflected light diffused at the tip of the stylus 225 is incident on the light receiving element 212 located at the portion overlapping the tip, so that the position of the tip of the stylus 225 is detected with high accuracy. Can be done.
- FIG. 4E shows an example of the locus 226 of the stylus 225 detected by the display panel 200. Since the display panel 200 can detect the position of the object to be detected such as the stylus 225 with high position accuracy, it is also possible to perform high-definition drawing in a drawing application or the like. Further, unlike the case of using a capacitance type touch sensor, an electromagnetic induction type touch pen, etc., the position can be detected even with a highly insulating object to be detected, so that the material of the tip of the stylus 225 is used. However, various writing instruments (for example, a brush, a glass pen, a quill pen, etc.) can be used.
- various writing instruments for example, a brush, a glass pen, a quill pen, etc.
- FIGS. 4F to 4H show an example of pixels applicable to the display panel 200.
- the pixels shown in FIGS. 4F and 4G have a red (R) light emitting element 211R, a green (G) light emitting element 211G, a blue (B) light emitting element 211B, and a light receiving element 212, respectively.
- Each pixel has a pixel circuit for driving a light emitting element 211R, a light emitting element 211G, a light emitting element 211B, and a light receiving element 212.
- FIG. 4F is an example in which three light emitting elements and one light receiving element are arranged in a 2 ⁇ 2 matrix.
- FIG. 4G is an example in which three light emitting elements are arranged in a row and one horizontally long light receiving element 212 is arranged below the three light emitting elements.
- the pixel shown in FIG. 4H is an example having a white (W) light emitting element 211W.
- W white
- four light emitting elements are arranged in a row, and a light receiving element 212 is arranged below the four light emitting elements.
- the pixel configuration is not limited to the above, and various arrangement methods can be adopted.
- the display panel 200A shown in FIG. 5A has a light emitting element 211IR in addition to the configuration exemplified in FIG. 4A.
- the light emitting element 211IR is a light emitting element that emits infrared light IR.
- the infrared light IR emitted from the light emitting element 211IR is reflected by the finger 220, and a part of the reflected light is incident on the light receiving element 212.
- the position information of the finger 220 can be acquired.
- 5B to 5D show an example of pixels applicable to the display panel 200A.
- FIG. 5B is an example in which three light emitting elements are arranged in a row, and the light emitting element 211IR and the light receiving element 212 are arranged side by side below the three light emitting elements.
- FIG. 5C is an example in which four light emitting elements including the light emitting element 211IR are arranged in a row, and the light receiving element 212 is arranged below the four light emitting elements.
- FIG. 5D is an example in which three light emitting elements and a light receiving element 212 are arranged on all sides around the light emitting element 211IR.
- the positions of the light emitting elements and the light emitting element and the light receiving element can be exchanged with each other.
- pixels of various arrangements can be applied to the display device of the present embodiment.
- the display device of one aspect of the present invention is a top emission type that emits light in the direction opposite to the substrate on which the light emitting element is formed, a bottom emission type that emits light on the substrate side on which the light emitting element is formed, and both sides. It may be any of the dual emission types that emit light to the light.
- a top emission type display device will be described as an example.
- the display device 280A shown in FIG. 6A includes a light receiving element 270PD, a light emitting element 270R that emits red (R) light, a light emitting element 270G that emits green (G) light, and a light emitting element 270B that emits blue (B) light.
- a light receiving element 270PD includes a light receiving element 270PD, a light emitting element 270R that emits red (R) light, a light emitting element 270G that emits green (G) light, and a light emitting element 270B that emits blue (B) light.
- Each light emitting element has a pixel electrode 271, a hole injection layer 281, a hole transport layer 282, a light emitting layer, an electron transport layer 284, an electron injection layer 285, and a common electrode 275 stacked in this order.
- the light emitting element 270R has a light emitting layer 283R
- the light emitting element 270G has a light emitting layer 283G
- the light emitting element 270B has a light emitting layer 283B.
- the light emitting layer 283R has a light emitting substance that emits red light
- the light emitting layer 283G has a light emitting substance that emits green light
- the light emitting layer 283B has a light emitting substance that emits blue light.
- the light emitting element is an electroluminescent element that emits light to the common electrode 275 side by applying a voltage between the pixel electrode 271 and the common electrode 275.
- the light receiving element 270PD has a pixel electrode 271, a hole injection layer 281, a hole transport layer 282, an active layer 273, an electron transport layer 284, an electron injection layer 285, and a common electrode 275 stacked in this order.
- the light receiving element 270PD is a photoelectric conversion element that receives light incident from the outside of the display device 280A and converts it into an electric signal.
- the pixel electrode 271 functions as an anode and the common electrode 275 functions as a cathode in both the light emitting element and the light receiving element. That is, the light receiving element can detect the light incident on the light receiving element, generate an electric charge, and take it out as a current by driving the light receiving element by applying a reverse bias between the pixel electrode 271 and the common electrode 275.
- an organic compound is used for the active layer 273 of the light receiving element 270PD.
- the light receiving element 270PD can have a layer other than the active layer 273 having the same configuration as the light emitting element. Therefore, the light receiving element 270PD can be formed in parallel with the formation of the light emitting element only by adding the step of forming the active layer 273 to the manufacturing process of the light emitting element. Further, the light emitting element and the light receiving element 270PD can be formed on the same substrate. Therefore, the light receiving element 270PD can be built in the display device without significantly increasing the manufacturing process.
- the display device 280A shows an example in which the light receiving element 270PD and the light emitting element have a common configuration except that the active layer 273 of the light receiving element 270PD and the light emitting layer 283 of the light emitting element are separately made.
- the configuration of the light receiving element 270PD and the light emitting element is not limited to this.
- the light receiving element 270PD and the light emitting element may have layers that are separated from each other.
- the light receiving element 270PD and the light emitting element preferably have one or more layers (common layers) that are commonly used. As a result, the light receiving element 270PD can be built in the display device without significantly increasing the manufacturing process.
- a conductive film that transmits visible light is used for the electrode on the side that extracts light. Further, it is preferable to use a conductive film that reflects visible light for the electrode on the side that does not take out light.
- a micro-optical resonator (microcavity) structure is applied to the light emitting element of the display device of the present embodiment. Therefore, it is preferable that one of the pair of electrodes of the light emitting element has an electrode having transparency and reflectivity for visible light (semi-transmissive / semi-reflecting electrode), and the other is an electrode having reflectivity for visible light (semi-transmissive / semi-reflecting electrode). It is preferable to have a reflective electrode). Since the light emitting element has a microcavity structure, the light emitted from the light emitting layer can be resonated between both electrodes to enhance the light emitted from the light emitting element.
- the semi-transmissive / semi-reflective electrode can have a laminated structure of a reflective electrode and an electrode having transparency to visible light (also referred to as a transparent electrode).
- the light transmittance of the transparent electrode shall be 40% or more.
- the reflectance of visible light of the semi-transmissive / semi-reflective electrode is 10% or more and 95% or less, preferably 30% or more and 80% or less.
- the reflectance of visible light of the reflecting electrode is 40% or more and 100% or less, preferably 70% or more and 100% or less.
- the resistivity of these electrodes is preferably 1 ⁇ 10 ⁇ 2 ⁇ cm or less.
- the transmittance or reflectance of the near-infrared light of these electrodes is the same as the transmittance or reflectance of visible light. It is preferable to satisfy the above numerical range.
- the light emitting element has at least a light emitting layer 283.
- the light emitting element includes a substance having a high hole injecting property, a substance having a high hole transporting property, a hole blocking material, a substance having a high electron transporting property, a substance having a high electron injecting property, and an electron blocking material.
- a layer containing a bipolar substance (a substance having high electron transport property and hole transport property) and the like may be further provided.
- the light emitting element and the light receiving element may have a common configuration of one or more of the hole injection layer, the hole transport layer, the electron transport layer, and the electron injection layer. Further, the light emitting element and the light receiving element can form one or more of the hole injection layer, the hole transport layer, the electron transport layer, and the electron injection layer.
- the hole injection layer is a layer that injects holes from the anode into the hole transport layer, and is a layer that contains a material having high hole injection properties.
- a material having high hole injectability a composite material containing a hole transporting material and an acceptor material (electron accepting material), an aromatic amine compound (a compound having an aromatic amine skeleton), or the like can be used. can.
- the hole transport layer is a layer that transports holes injected from the anode to the light emitting layer by the hole injection layer.
- the hole transport layer is a layer that transports holes generated based on the light incident in the active layer to the anode.
- the hole transport layer is a layer containing a hole transport material.
- As the hole transporting material a substance having a hole mobility of 1 ⁇ 10 -6 cm 2 / Vs or more is preferable. It should be noted that any substance other than these can be used as long as it is a substance having a higher hole transport property than electrons.
- the hole-transporting material a material having high hole-transporting property such as a ⁇ -electron-rich heteroaromatic compound (for example, a carbazole derivative, a thiophene derivative, a furan derivative, etc.) or an aromatic amine compound is preferable.
- a ⁇ -electron-rich heteroaromatic compound for example, a carbazole derivative, a thiophene derivative, a furan derivative, etc.
- an aromatic amine compound is preferable.
- the electron transport layer is a layer that transports electrons injected from the cathode to the light emitting layer by the electron injection layer.
- the electron transport layer is a layer that transports electrons generated based on the light incident in the active layer to the cathode.
- the electron transport layer is a layer containing an electron transport material.
- the electron transporting material a substance having an electron mobility of 1 ⁇ 10 -6 cm 2 / Vs or more is preferable. In addition, any substance other than these can be used as long as it is a substance having a higher electron transport property than holes.
- the electron transporting material examples include a metal complex having a quinoline skeleton, a metal complex having a benzoquinoline skeleton, a metal complex having an oxazole skeleton, a metal complex having a thiazole skeleton, and the like, as well as an oxadiazole derivative, a triazole derivative, and an imidazole derivative.
- ⁇ electron deficiency including oxazole derivative, thiazole derivative, phenanthroline derivative, quinoline derivative having quinoline ligand, benzoquinoline derivative, quinoxalin derivative, dibenzoquinoxalin derivative, pyridine derivative, bipyridine derivative, pyrimidine derivative, and other nitrogen-containing heteroaromatic compounds.
- a material having high electron transport property such as a type heteroaromatic compound can be used.
- the electron injection layer is a layer for injecting electrons from the cathode into the electron transport layer, and is a layer containing a material having high electron injectability.
- a material having high electron injectability an alkali metal, an alkaline earth metal, or a compound thereof can be used.
- a composite material containing an electron transporting material and a donor material (electron donating material) can also be used.
- the light emitting layer 283 is a layer containing a light emitting substance.
- the light emitting layer 283 can have one or more kinds of light emitting substances.
- a substance exhibiting a luminescent color such as blue, purple, bluish purple, green, yellowish green, yellow, orange, and red is appropriately used.
- a substance that emits near-infrared light can also be used.
- Examples of the light emitting substance include fluorescent materials, phosphorescent materials, TADF materials, quantum dot materials, and the like.
- fluorescent material examples include pyrene derivative, anthracene derivative, triphenylene derivative, fluorene derivative, carbazole derivative, dibenzothiophene derivative, dibenzofuran derivative, dibenzoquinoxalin derivative, quinoxalin derivative, pyridine derivative, pyrimidine derivative, phenanthrene derivative, naphthalene derivative and the like. Be done.
- an organic metal complex having a 4H-triazole skeleton, a 1H-triazole skeleton, an imidazole skeleton, a pyrimidine skeleton, a pyrazine skeleton, or a pyridine skeleton (particularly an iridium complex), or a phenylpyridine derivative having an electron-withdrawing group is arranged.
- examples thereof include an organic metal complex (particularly an iridium complex), a platinum complex, and a rare earth metal complex as a rank.
- the light emitting layer 283 may have one or more kinds of organic compounds (host material, assist material, etc.) in addition to the light emitting substance (guest material).
- organic compounds host material, assist material, etc.
- guest material As one or more kinds of organic compounds, one or both of a hole transporting material and an electron transporting material can be used. Further, a bipolar material or a TADF material may be used as one or more kinds of organic compounds.
- the light emitting layer 283 preferably has, for example, a phosphorescent material and a hole transporting material and an electron transporting material which are combinations that easily form an excited complex.
- ExTET Exciplex-Triplet Energy Transfer
- a combination that forms an excited complex that emits light that overlaps with the wavelength of the absorption band on the lowest energy side of the luminescent material energy transfer becomes smooth and light emission can be obtained efficiently.
- high efficiency, low voltage drive, and long life of the light emitting element can be realized at the same time.
- the HOMO level (maximum occupied orbital level) of the hole transporting material is equal to or higher than the HOMO level of the electron transporting material.
- the LUMO level (minimum empty orbital level) of the hole transporting material is a value equal to or higher than the LUMO level of the electron transporting material.
- the LUMO and HOMO levels of a material can be derived from the electrochemical properties (reduction potential and oxidation potential) of the material as measured by cyclic voltammetry (CV) measurements.
- the emission spectrum of the hole transporting material, the emission spectrum of the electron transporting material, and the emission spectrum of the mixed film in which these materials are mixed are compared, and the emission spectrum of the mixed film is the emission spectrum of each material. It can be confirmed by observing the phenomenon of shifting the wavelength longer than the spectrum (or having a new peak on the long wavelength side).
- the transient photoluminescence (PL) of the hole-transporting material, the transient PL of the electron-transporting material, and the transient PL of the mixed membrane in which these materials are mixed are compared, and the transient PL lifetime of the mixed membrane is the transient of each material.
- transient PL may be read as transient electroluminescence (EL). That is, the formation of the excited complex was confirmed by comparing the transient EL of the hole transporting material, the transient EL of the material having electron transporting property, and the transient EL of the mixed membrane of these, and observing the difference in the transient response. can do.
- EL transient electroluminescence
- the active layer 273 contains a semiconductor.
- the semiconductor include an inorganic semiconductor such as silicon and an organic semiconductor containing an organic compound.
- an organic semiconductor is used as the semiconductor included in the active layer 273 is shown.
- the light emitting layer 283 and the active layer 273 can be formed by the same method (for example, vacuum vapor deposition method), and the manufacturing apparatus can be shared, which is preferable.
- n-type semiconductor material contained in the active layer 273 examples include electron-accepting organic semiconductor materials such as fullerenes (for example, C 60 , C 70, etc.) and fullerene derivatives.
- Fullerenes have a soccer ball-like shape, and the shape is energetically stable. Fullerenes are deep (low) in both HOMO and LUMO levels. Since fullerenes have a deep LUMO level, they have extremely high electron acceptor properties. Normally, when ⁇ -electron conjugation (resonance) spreads on a plane like benzene, the electron donating property (donor property) increases, but since fullerenes have a spherical shape, ⁇ -electrons are widely spread.
- C 60 and C 70 have a wide absorption band in the visible light region, and C 70 is particularly preferable because it has a larger ⁇ -electron conjugated system than C 60 and has a wide absorption band in the long wavelength region.
- Examples of the material for the n-type semiconductor include a metal complex having a quinoline skeleton, a metal complex having a benzoquinoline skeleton, a metal complex having an oxazole skeleton, a metal complex having a thiazole skeleton, an oxadiazole derivative, a triazole derivative, and an imidazole derivative.
- Examples of the material of the p-type semiconductor contained in the active layer 273 include copper (II) phthalocyanine (Cupper (II) phthalocyanine; CuPc), tetraphenyldibenzoperichanhene (DBP), zinc phthalocyanine (Zinc Phthalocyanine; CuPc), and zinc phthalocyanine (Zinc Phthalocyanine; CuPc).
- Examples thereof include electron-donating organic semiconductor materials such as phthalocyanine (SnPc) and quinacridone.
- Examples of the material for the p-type semiconductor include a carbazole derivative, a thiophene derivative, a furan derivative, a compound having an aromatic amine skeleton, and the like. Further, as the material of the p-type semiconductor, naphthalene derivative, anthracene derivative, pyrene derivative, triphenylene derivative, fluorene derivative, pyrrole derivative, benzofuran derivative, benzothiophene derivative, indole derivative, dibenzofuran derivative, dibenzothiophene derivative, indolocarbazole derivative, Examples thereof include porphyrin derivative, phthalocyanine derivative, naphthalocyanine derivative, quinacridone derivative, polyphenylene vinylene derivative, polyparaphenylene derivative, polyfluorene derivative, polyvinylcarbazole derivative, polythiophene derivative and the like.
- the HOMO level of the electron-donating organic semiconductor material is preferably shallower (higher) than the HOMO level of the electron-accepting organic semiconductor material.
- the LUMO level of the electron-donating organic semiconductor material is preferably shallower (higher) than the LUMO level of the electron-accepting organic semiconductor material.
- spherical fullerene As the electron-accepting organic semiconductor material and to use an organic semiconductor material having a shape close to a plane as the electron-donating organic semiconductor material. Molecules with similar shapes tend to gather together, and when molecules of the same type aggregate, the energy levels of the molecular orbitals are close, so carrier transportability can be improved.
- the active layer 273 is preferably formed by co-depositing an n-type semiconductor and a p-type semiconductor.
- the active layer 273 may be formed by laminating an n-type semiconductor and a p-type semiconductor.
- Either a low molecular weight compound or a high molecular weight compound can be used for the light emitting element and the light receiving element, and may contain an inorganic compound.
- the layers constituting the light emitting element and the light receiving element can be formed by a vapor deposition method (including a vacuum vapor deposition method), a transfer method, a printing method, an inkjet method, a coating method, or the like, respectively.
- the display device 280B shown in FIG. 6B is different from the display device 280A in that the light receiving element 270PD and the light emitting element 270R have the same configuration.
- the light receiving element 270PD and the light emitting element 270R have an active layer 273 and a light emitting layer 283R in common.
- the light receiving element 270PD has a common configuration with a light emitting element that emits light having a longer wavelength than the light to be detected.
- the light receiving element 270PD having a configuration for detecting blue light can have the same configuration as one or both of the light emitting element 270R and the light emitting element 270G.
- the light receiving element 270PD having a configuration for detecting green light can have the same configuration as the light emitting element 270R.
- the number of film forming steps and the number of masks are compared with the configuration in which the light receiving element 270PD and the light emitting element 270R have layers separately formed from each other. Can be reduced. Therefore, it is possible to reduce the manufacturing process and manufacturing cost of the display device.
- the margin for misalignment can be narrowed as compared with the configuration in which the light receiving element 270PD and the light emitting element 270R have layers that are separately formed from each other. ..
- the aperture ratio of the pixels can be increased, and the light extraction efficiency of the display device can be increased.
- the life of the light emitting element can be extended.
- the display device can express high brightness. It is also possible to increase the definition of the display device.
- the light emitting layer 283R has a light emitting material that emits red light.
- the active layer 273 has an organic compound that absorbs light having a wavelength shorter than that of red (for example, one or both of green light and blue light).
- the active layer 273 preferably has an organic compound that does not easily absorb red light and absorbs light having a wavelength shorter than that of red. As a result, red light is efficiently extracted from the light emitting element 270R, and the light receiving element 270PD can detect light having a wavelength shorter than that of red with high accuracy.
- the display device 280B an example in which the light emitting element 270R and the light receiving element 270PD have the same configuration is shown, but the light emitting element 270R and the light receiving element 270PD may have optical adjustment layers having different thicknesses.
- Display device configuration example 2 Hereinafter, a detailed configuration of the display device according to one aspect of the present invention will be described. Here, in particular, an example of a display device having a light receiving element and a light emitting element will be described.
- FIG. 7A shows a cross-sectional view of the display device 300A.
- the display device 300A includes a substrate 351 and a substrate 352, a light receiving element 310, and a light emitting element 390.
- the light emitting element 390 has a pixel electrode 391, a buffer layer 312, a light emitting layer 393, a buffer layer 314, and a common electrode 315 stacked in this order.
- the buffer layer 312 can have one or both of the hole injecting layer and the hole transporting layer.
- the light emitting layer 393 has an organic compound.
- the buffer layer 314 can have one or both of an electron injecting layer and an electron transporting layer.
- the light emitting element 390 has a function of emitting visible light 321.
- the display device 300A may further have a light emitting element having a function of emitting infrared light.
- the light receiving element 310 has a pixel electrode 311, a buffer layer 312, an active layer 313, a buffer layer 314, and a common electrode 315 stacked in this order.
- the active layer 313 has an organic compound.
- the light receiving element 310 has a function of detecting visible light.
- the light receiving element 310 may further have a function of detecting infrared light.
- the buffer layer 312, the buffer layer 314, and the common electrode 315 are layers common to the light emitting element 390 and the light receiving element 310, and are provided over these layers.
- the buffer layer 312, the buffer layer 314, and the common electrode 315 have a portion that overlaps with the active layer 313 and the pixel electrode 311 and a portion that overlaps with the light emitting layer 393 and the pixel electrode 391, and a portion that does not overlap with each other.
- the pixel electrode functions as an anode and the common electrode 315 functions as a cathode. That is, by driving the light receiving element 310 by applying a reverse bias between the pixel electrode 311 and the common electrode 315, the display device 300A detects the light incident on the light receiving element 310, generates an electric charge, and causes a current. Can be taken out as.
- the pixel electrode 311 and the pixel electrode 391, the buffer layer 312, the active layer 313, the buffer layer 314, the light emitting layer 393, and the common electrode 315 may each have a single layer structure or a laminated structure.
- the pixel electrode 311 and the pixel electrode 391 are located on the insulating layer 414, respectively. Each pixel electrode can be formed of the same material and in the same process. The ends of the pixel electrode 311 and the pixel electrode 391 are covered with a partition wall 416. Two pixel electrodes adjacent to each other are electrically isolated from each other (also referred to as being electrically separated) by a partition wall 416.
- An organic insulating film is suitable as the partition wall 416.
- Examples of the material that can be used for the organic insulating film include acrylic resin, polyimide resin, epoxy resin, polyamide resin, polyimideamide resin, siloxane resin, benzocyclobutene resin, phenol resin, and precursors of these resins. ..
- the partition wall 416 is a layer that transmits visible light. Instead of the partition wall 416, a partition wall that blocks visible light may be provided.
- the common electrode 315 is a layer commonly used for the light receiving element 310 and the light emitting element 390.
- the material and film thickness of the pair of electrodes included in the light receiving element 310 and the light emitting element 390 can be made the same. This makes it possible to reduce the manufacturing cost of the display device and simplify the manufacturing process.
- the display device 300A has a light receiving element 310, a light emitting element 390, a transistor 331, a transistor 332, and the like between a pair of substrates (board 351 and substrate 352).
- the buffer layer 312, the active layer 313, and the buffer layer 314 located between the pixel electrode 311 and the common electrode 315 can also be said to be an organic layer (a layer containing an organic compound).
- the pixel electrode 311 preferably has a function of reflecting visible light.
- the common electrode 315 has a function of transmitting visible light.
- the common electrode 315 has a function of transmitting infrared light.
- it is preferable that the pixel electrode 311 has a function of reflecting infrared light.
- the light receiving element 310 has a function of detecting light.
- the light receiving element 310 is a photoelectric conversion element that receives light 322 incident from the outside of the display device 300A and converts it into an electric signal.
- the light 322 can also be said to be light reflected by an object from the light emitted by the light emitting element 390. Further, the light 322 may be incident on the light receiving element 310 via a lens or the like provided in the display device 300A.
- the buffer layer 312, the light emitting layer 393, and the buffer layer 314 located between the pixel electrode 391 and the common electrode 315 can be collectively referred to as an EL layer.
- the EL layer has at least a light emitting layer 393.
- the pixel electrode 391 preferably has a function of reflecting visible light.
- the common electrode 315 has a function of transmitting visible light.
- the display device 300A has a configuration having a light emitting element that emits infrared light
- the common electrode 315 has a function of transmitting infrared light.
- it is preferable that the pixel electrode 391 has a function of reflecting infrared light.
- a micro-optical resonator (microcavity) structure is applied to the light emitting element of the display device of the present embodiment.
- the light emitting element 390 may have an optical adjustment layer between the pixel electrode 391 and the common electrode 315.
- the light emitting element 390 has a function of emitting visible light.
- the light emitting element 390 is an electroluminescent element that emits light (here, visible light 321) to the substrate 352 side by applying a voltage between the pixel electrode 391 and the common electrode 315.
- the pixel electrode 311 of the light receiving element 310 is electrically connected to the source or drain of the transistor 331 via an opening provided in the insulating layer 414.
- the pixel electrode 391 of the light emitting element 390 is electrically connected to the source or drain of the transistor 332 through an opening provided in the insulating layer 414.
- the transistor 331 and the transistor 332 are in contact with each other on the same layer (the substrate 351 in FIG. 7A).
- At least a part of the circuit electrically connected to the light receiving element 310 is formed of the same material and the same process as the circuit electrically connected to the light emitting element 390.
- the thickness of the display device can be reduced and the manufacturing process can be simplified as compared with the case where the two circuits are formed separately.
- the light receiving element 310 and the light emitting element 390 are each covered with a protective layer 395.
- the protective layer 395 is provided in contact with the common electrode 315.
- impurities such as water can be suppressed from entering the light receiving element 310 and the light emitting element 390, and the reliability of the light receiving element 310 and the light emitting element 390 can be improved.
- the protective layer 395 and the substrate 352 are bonded to each other by the adhesive layer 342.
- a light-shielding layer 358 is provided on the surface of the substrate 352 on the substrate 351 side.
- the light-shielding layer 358 has an opening at a position where it overlaps with the light-emitting element 390 and at a position where it overlaps with the light-receiving element 310.
- the light receiving element 310 detects the light emitted by the light emitting element 390 and reflected by the object.
- the light emitted from the light emitting element 390 may be reflected in the display device 300A and may be incident on the light receiving element 310 without passing through the object.
- the light-shielding layer 358 can suppress the influence of such stray light.
- the light shielding layer 358 is not provided, the light 323 emitted by the light emitting element 390 may be reflected by the substrate 352, and the reflected light 324 may be incident on the light receiving element 310.
- the light-shielding layer 358 it is possible to suppress the reflected light 324 from being incident on the light receiving element 310. As a result, noise can be reduced and the sensitivity of the sensor using the light receiving element 310 can be increased.
- the light-shielding layer 358 a material that blocks light emitted from the light-emitting element can be used.
- the light-shielding layer 358 preferably absorbs visible light.
- a metal material, a resin material containing a pigment (carbon black or the like) or a dye, or the like can be used to form a black matrix.
- the light-shielding layer 358 may have a laminated structure of a red color filter, a green color filter, and a blue color filter.
- the display device 300B shown in FIG. 7B is mainly different from the display device 300A in that it has a lens 349.
- the lens 349 is provided on the substrate 351 side of the substrate 352.
- the light 322 incident from the outside is incident on the light receiving element 310 via the lens 349. It is preferable to use a material having high transparency to visible light for the lens 349 and the substrate 352.
- the range of light incident on the light receiving element 310 can be narrowed. As a result, it is possible to suppress the overlap of the imaging ranges between the plurality of light receiving elements 310, and it is possible to capture a clear image with less blurring.
- the lens 349 can collect the incident light. Therefore, the amount of light incident on the light receiving element 310 can be increased. This makes it possible to increase the photoelectric conversion efficiency of the light receiving element 310.
- the display device 300C shown in FIG. 7C is mainly different from the display device 300A in that the shape of the light-shielding layer 358 is different.
- the light-shielding layer 358 is provided so that the opening overlapping with the light-receiving element 310 is located inside the light-receiving region of the light-receiving element 310 in a plan view.
- the area of the opening of the light-shielding layer 358 is 80% or less, 70% or less, 60% or less, 50% or less, or 40% or less of the area of the light-receiving area of the light-receiving element 310, and is 1% or more and 5 It can be% or more, or 10% or more.
- the smaller the area of the opening of the light-shielding layer 358 the clearer the image can be captured.
- the area of the opening is too small, the amount of light reaching the light receiving element 310 may decrease, and the light receiving sensitivity may decrease. Therefore, it is preferable to set appropriately within the above-mentioned range.
- the above-mentioned upper limit value and lower limit value can be arbitrarily combined.
- the light receiving region of the light receiving element 310 can be rephrased as an opening of the partition wall 416.
- the center of the opening overlapping the light receiving element 310 of the light shielding layer 358 may be deviated from the center of the light receiving region of the light receiving element 310 in a plan view. Further, in a plan view, the opening of the light-shielding layer 358 may not overlap with the light-receiving region of the light-receiving element 310. As a result, only the obliquely oriented light transmitted through the opening of the light shielding layer 358 can be received by the light receiving element 310. As a result, the range of light incident on the light receiving element 310 can be more effectively limited, and a clear image can be captured.
- the display device 300D shown in FIG. 8A is mainly different from the display device 300A in that the buffer layer 312 is not a common layer.
- the light receiving element 310 has a pixel electrode 311, a buffer layer 312, an active layer 313, a buffer layer 314, and a common electrode 315.
- the light emitting element 390 has a pixel electrode 391, a buffer layer 392, a light emitting layer 393, a buffer layer 314, and a common electrode 315.
- the active layer 313, the buffer layer 312, the light emitting layer 393, and the buffer layer 392 each have an island-shaped upper surface shape.
- the buffer layer 312 and the buffer layer 392 may contain different materials or may contain the same material.
- the buffer layer By forming the buffer layer separately for the light emitting element 390 and the light receiving element 310 in this way, the degree of freedom in selecting the material of the buffer layer used for the light emitting element 390 and the light receiving element 310 is increased, so that optimization becomes easier. .. Further, by using the buffer layer 314 and the common electrode 315 as the common layer, the manufacturing process can be simplified and the manufacturing cost can be reduced as compared with the case where the light emitting element 390 and the light receiving element 310 are manufactured separately.
- the display device 300E shown in FIG. 8B is mainly different from the display device 300A in that the buffer layer 314 is not a common layer.
- the light receiving element 310 has a pixel electrode 311, a buffer layer 312, an active layer 313, a buffer layer 314, and a common electrode 315.
- the light emitting element 390 has a pixel electrode 391, a buffer layer 312, a light emitting layer 393, a buffer layer 394, and a common electrode 315.
- the active layer 313, the buffer layer 314, the light emitting layer 393, and the buffer layer 394 each have an island-shaped upper surface shape.
- the buffer layer 314 and the buffer layer 394 may contain different materials or may contain the same material.
- the buffer layer By forming the buffer layer separately for the light emitting element 390 and the light receiving element 310 in this way, the degree of freedom in selecting the material of the buffer layer used for the light emitting element 390 and the light receiving element 310 is increased, so that optimization becomes easier. .. Further, by using the buffer layer 312 and the common electrode 315 as the common layer, the manufacturing process can be simplified and the manufacturing cost can be reduced as compared with the case where the light emitting element 390 and the light receiving element 310 are manufactured separately.
- the display device 300F shown in FIG. 8C is mainly different from the display device 300A in that the buffer layer 312 and the buffer layer 314 are not common layers.
- the light receiving element 310 has a pixel electrode 311, a buffer layer 312, an active layer 313, a buffer layer 314, and a common electrode 315.
- the light emitting element 390 has a pixel electrode 391, a buffer layer 392, a light emitting layer 393, a buffer layer 394, and a common electrode 315.
- the buffer layer 312, the active layer 313, the buffer layer 314, the buffer layer 392, the light emitting layer 393, and the buffer layer 394 each have an island-shaped upper surface shape.
- the buffer layer By forming the buffer layer separately for the light emitting element 390 and the light receiving element 310 in this way, the degree of freedom in selecting the material of the buffer layer used for the light emitting element 390 and the light receiving element 310 is increased, so that optimization becomes easier. .. Further, by using the common electrode 315 as a common layer, the manufacturing process can be simplified and the manufacturing cost can be reduced as compared with the case where the light emitting element 390 and the light receiving element 310 are manufactured separately.
- Display device configuration example 3 Hereinafter, a more specific configuration of the display device according to one aspect of the present invention will be described.
- FIG. 9 shows a perspective view of the display device 400
- FIG. 10A shows a cross-sectional view of the display device 400.
- the display device 400 has a configuration in which a substrate 353 and a substrate 354 are bonded together.
- the substrate 354 is clearly indicated by a broken line.
- the display device 400 has a display unit 362, a circuit 364, wiring 365, and the like.
- FIG. 9 shows an example in which an IC (integrated circuit) 373 and an FPC 372 are mounted on the display device 400. Therefore, the configuration shown in FIG. 9 can be said to be a display module having a display device 400, an IC, and an FPC.
- a scanning line drive circuit can be used.
- the wiring 365 has a function of supplying signals and electric power to the display unit 362 and the circuit 364.
- the signal and power are input to the wiring 365 from the outside via the FPC 372, or are input to the wiring 365 from the IC 373.
- FIG. 9 shows an example in which the IC 373 is provided on the substrate 353 by the COG (Chip On Glass) method, the COF (Chip On Film) method, or the like.
- the IC 373 an IC having, for example, a scanning line drive circuit or a signal line drive circuit can be applied.
- the display device 400 and the display module may be configured without an IC. Further, the IC may be mounted on the FPC by the COF method or the like.
- 10A shows a part of the area including the FPC 372, a part of the area including the circuit 364, a part of the area including the display unit 362, and one of the areas including the end portion of the display device 400 shown in FIG. An example of the cross section when each part is cut is shown.
- the display device 400 shown in FIG. 10A has a transistor 408, a transistor 409, a transistor 410, a light emitting element 390, a light receiving element 310, and the like between the substrate 353 and the substrate 354.
- the substrate 354 and the protective layer 395 are adhered to each other via the adhesive layer 342, and a solid sealing structure is applied to the display device 400.
- the substrate 353 and the insulating layer 412 are bonded to each other by an adhesive layer 355.
- a manufacturing substrate provided with an insulating layer 412, each transistor, a light receiving element 310, a light emitting element 390, etc., and a substrate 354 provided with a light shielding layer 358 or the like are bonded by an adhesive layer 342. to paste together.
- the substrate 353 is attached to the exposed surface by peeling off the fabrication substrate by using the adhesive layer 355, so that each component formed on the fabrication substrate is transposed to the substrate 353. It is preferable that the substrate 353 and the substrate 354 each have flexibility. This makes it possible to increase the flexibility of the display device 400.
- the light emitting element 390 has a laminated structure in which the pixel electrode 391, the buffer layer 312, the light emitting layer 393, the buffer layer 314, and the common electrode 315 are laminated in this order from the insulating layer 414 side.
- the pixel electrode 391 is connected to one of the source and the drain of the transistor 408 via an opening provided in the insulating layer 414.
- the transistor 408 has a function of controlling the current flowing through the light emitting element 390.
- the light receiving element 310 has a laminated structure in which the pixel electrode 311, the buffer layer 312, the active layer 313, the buffer layer 314, and the common electrode 315 are laminated in this order from the insulating layer 414 side.
- the pixel electrode 311 is connected to one of the source and the drain of the transistor 409 via an opening provided in the insulating layer 414.
- the transistor 409 has a function of controlling the transfer of the electric charge stored in the light receiving element 310.
- the light emitted by the light emitting element 390 is emitted to the substrate 354 side. Further, light is incident on the light receiving element 310 via the substrate 354 and the adhesive layer 342. It is preferable to use a material having high transparency to visible light for the substrate 354.
- the pixel electrode 311 and the pixel electrode 391 can be manufactured by the same material and the same process.
- the buffer layer 312, the buffer layer 314, and the common electrode 315 are commonly used in the light receiving element 310 and the light emitting element 390.
- the light receiving element 310 and the light emitting element 390 can all have the same configuration except that the configurations of the active layer 313 and the light emitting layer 393 are different. As a result, the light receiving element 310 can be built in the display device 400 without significantly increasing the manufacturing process.
- a light-shielding layer 358 is provided on the surface of the substrate 354 on the substrate 353 side.
- the light-shielding layer 358 has an opening at a position overlapping each of the light-emitting element 390 and the light-receiving element 310.
- the range in which the light-receiving element 310 detects light can be controlled. As described above, it is preferable to control the light incident on the light receiving element 310 by adjusting the position and area of the opening of the light shielding layer provided at the position overlapping with the light receiving element 310.
- the light-shielding layer 358 it is possible to suppress the direct incident of light from the light-emitting element 390 to the light-receiving element 310 without the intervention of an object. Therefore, it is possible to realize a sensor with low noise and high sensitivity.
- the ends of the pixel electrode 311 and the pixel electrode 391 are covered with a partition wall 416.
- the pixel electrode 311 and the pixel electrode 391 include a material that reflects visible light, and the common electrode 315 contains a material that transmits visible light.
- FIG. 10A shows an example having a region where a part of the active layer 313 and a part of the light emitting layer 393 overlap.
- the portion where the active layer 313 and the light emitting layer 393 overlap is preferably overlapped with the light shielding layer 358 and the partition wall 416.
- the transistor 408, the transistor 409, and the transistor 410 are all formed on the substrate 353. These transistors can be manufactured by the same material and the same process.
- an insulating layer 412, an insulating layer 411, an insulating layer 425, an insulating layer 415, an insulating layer 418, and an insulating layer 414 are provided in this order via an adhesive layer 355.
- a part of the insulating layer 411 and the insulating layer 425 functions as a gate insulating layer of each transistor.
- the insulating layer 415 and the insulating layer 418 are provided so as to cover the transistor.
- the insulating layer 414 is provided so as to cover the transistor and has a function as a flattening layer.
- the number of gate insulating layers and the number of insulating layers covering the transistors are not limited, and may be a single layer or two or more layers, respectively.
- the insulating layer can function as a barrier layer.
- an inorganic insulating film as the insulating layer 411, the insulating layer 412, the insulating layer 425, the insulating layer 415, and the insulating layer 418, respectively.
- the inorganic insulating film for example, a silicon nitride film, a silicon nitride film, a silicon oxide film, a silicon nitride film, an aluminum oxide film, an aluminum nitride film, or the like can be used.
- hafnium oxide film hafnium oxide film, hafnium oxide film, hafnium nitride oxide film, yttrium oxide film, zirconium oxide film, gallium oxide film, tantalum oxide film, magnesium oxide film, lanthanum oxide film, cerium oxide film, neodymium oxide film, etc. You may use it. Further, two or more of the above-mentioned insulating films may be laminated and used.
- the organic insulating film often has a lower barrier property than the inorganic insulating film. Therefore, it is preferable that the organic insulating film has an opening near the end of the display device 400. In the region 428 shown in FIG. 10A, an opening is formed in the insulating layer 414. As a result, it is possible to prevent impurities from entering from the end of the display device 400 via the organic insulating film.
- the organic insulating film may be formed so that the end portion of the organic insulating film is inside the end portion of the display device 400 so that the organic insulating film is not exposed at the end portion of the display device 400.
- the insulating layer 418 and the protective layer 395 are in contact with each other through the opening of the insulating layer 414.
- the inorganic insulating film of the insulating layer 418 and the inorganic insulating film of the protective layer 395 are in contact with each other.
- An organic insulating film is suitable for the insulating layer 414 that functions as a flattening layer.
- the material that can be used for the organic insulating film include acrylic resin, polyimide resin, epoxy resin, polyamide resin, polyimideamide resin, siloxane resin, benzocyclobutene resin, phenol resin, and precursors of these resins. ..
- the protective layer 395 that covers the light emitting element 390 and the light receiving element 310 By providing the protective layer 395 that covers the light emitting element 390 and the light receiving element 310, impurities such as water can be suppressed from entering the light emitting element 390 and the light receiving element 310, and the reliability of these can be improved.
- the protective layer 395 may be a single layer or a laminated structure.
- the protective layer 395 may have a laminated structure of an organic insulating film and an inorganic insulating film. At this time, it is preferable that the end portion of the inorganic insulating film extends outward rather than the end portion of the organic insulating film.
- FIG. 10B shows a cross-sectional view of a transistor 408, a transistor 409, and a transistor 401a that can be used for the transistor 410.
- the transistor 401a is provided on the insulating layer 412 (not shown) as a conductive layer 421 that functions as a first gate, an insulating layer 411 that functions as a first gate insulating layer, a semiconductor layer 431, and a second gate insulating layer. It has an insulating layer 425 that functions, and a conductive layer 423 that functions as a second gate.
- the insulating layer 411 is located between the conductive layer 421 and the semiconductor layer 431.
- the insulating layer 425 is located between the conductive layer 423 and the semiconductor layer 431.
- the semiconductor layer 431 has a region 431i and a pair of regions 431n.
- the region 431i functions as a channel forming region.
- One of the pair of regions 431n functions as a source and the other functions as a drain.
- the region 431n has a higher carrier concentration and higher conductivity than the region 431i.
- the conductive layer 422a and the conductive layer 422b are connected to the region 431n, respectively, via openings provided in the insulating layer 418 and the insulating layer 415.
- FIG. 10C shows a cross-sectional view of a transistor 408, a transistor 409, and a transistor 401b that can be used for the transistor 410. Further, FIG. 10C shows an example in which the insulating layer 415 is not provided. In the transistor 401b, the insulating layer 425 is processed in the same manner as the conductive layer 423, and the insulating layer 418 and the region 431n are in contact with each other.
- the transistor structure of the display device of the present embodiment is not particularly limited.
- a planar type transistor, a stagger type transistor, an inverted stagger type transistor and the like can be used.
- either a top gate type or a bottom gate type transistor structure may be used.
- gates may be provided above and below the semiconductor layer on which the channel is formed.
- Transistors may be driven by connecting two gates and supplying them with the same signal.
- the threshold voltage of the transistor may be controlled by giving a potential for controlling the threshold voltage to one of the two gates and giving a potential for driving to the other.
- the crystallinity of the semiconductor material used for the transistor is also not particularly limited, and is an amorphous semiconductor, a single crystal semiconductor, or a semiconductor having crystallinity (a microcrystalline semiconductor, a polycrystalline semiconductor, or a semiconductor having a partially crystalline region). Either may be used. It is preferable to use a semiconductor having crystallinity because deterioration of transistor characteristics can be suppressed.
- the semiconductor layer of the transistor preferably has a metal oxide (also referred to as an oxide semiconductor).
- the semiconductor layer of the transistor may have silicon. Examples of silicon include amorphous silicon and crystalline silicon (low temperature polysilicon, single crystal silicon, etc.).
- transistors to which different semiconductor layers are applied may be used in combination.
- a circuit may be configured by combining a transistor to which low temperature polysilicon (LTPS) is applied and a transistor to which an oxide semiconductor (OS) is applied.
- LTPS low temperature polysilicon
- OS oxide semiconductor
- Such LTPO Low Temperature Polycrystalline Oxide, or Low Temperature Polyssilicon and Oxide
- the semiconductor layers include, for example, indium and M (M is gallium, aluminum, silicon, boron, yttrium, tin, copper, vanadium, berylium, titanium, iron, nickel, germanium, zirconium, molybdenum, lantern, cerium, neodymium, etc. It is preferred to have one or more selected from hafnium, tantalum, tungsten, and gallium) and zinc.
- M is preferably one or more selected from aluminum, gallium, yttrium, and tin.
- an oxide containing indium (In), gallium (Ga), and zinc (Zn) also referred to as IGZO
- IGZO oxide containing indium (In), gallium (Ga), and zinc (Zn)
- the atomic number ratio of In in the In-M-Zn oxide is equal to or higher than the atomic number ratio of M.
- the atomic number ratio of In is 4
- the atomic number ratio of Ga is 1 or more and 3 or less.
- the case where the atomic number ratio of Zn is 2 or more and 4 or less is included.
- the atomic number ratio of Ga is larger than 0.1 when the atomic number ratio of In is 5. This includes cases where the number of atoms is 2 or less and the atomic number ratio of Zn is 5 or more and 7 or less.
- the atomic number ratio of Ga is larger than 0.1 when the atomic number ratio of In is 1. This includes the case where the number of atoms of Zn is 2 or less and the atomic number ratio of Zn is larger than 0.1 and 2 or less.
- the transistor 410 included in the circuit 364 and the transistor 408 and the transistor 409 included in the display unit 362 may have the same structure or different structures.
- the structures of the plurality of transistors included in the circuit 364 may all be the same, or may have two or more types.
- the structures of the plurality of transistors included in the display unit 362 may be all the same, or may have two or more types.
- connection portion 404 is provided in a region of the substrate 353 where the substrates 354 do not overlap.
- the wiring 365 is electrically connected to the FPC 372 via the conductive layer 366 and the connection layer 442.
- the upper surface of the connecting portion 404 is exposed to the conductive layer 366 obtained by processing the same conductive film as the pixel electrode 311 and the pixel electrode 391.
- the connection portion 404 and the FPC 372 can be electrically connected via the connection layer 442.
- optical members can be arranged on the outside of the substrate 354.
- the optical member include a polarizing plate, a retardation plate, a light diffusing layer (diffusing film, etc.), an antireflection layer, a light collecting film, and the like.
- an antistatic film for suppressing the adhesion of dust, a water-repellent film for preventing the adhesion of dirt, a hard coat film for suppressing the occurrence of scratches due to use, a shock absorbing layer, etc. are arranged on the outside of the substrate 354. You may.
- the present invention is not limited to this, and glass, quartz, ceramic, sapphire, resin and the like can be used for the substrate 353 and the substrate 354, respectively.
- various curable adhesives such as a photocurable adhesive such as an ultraviolet curable type, a reaction curable adhesive, a thermosetting adhesive, and an anaerobic adhesive can be used.
- these adhesives include epoxy resin, acrylic resin, silicone resin, phenol resin, polyimide resin, imide resin, PVC (polyvinyl chloride) resin, PVB (polyvinyl butyral) resin, EVA (ethylene vinyl acetate) resin and the like.
- a material having low moisture permeability such as an epoxy resin is preferable.
- a two-component mixed type resin may be used.
- an adhesive sheet or the like may be used.
- an anisotropic conductive film (ACF: Anisotropic Conducive Film), an anisotropic conductive paste (ACP: Anisotropic Connective Paste), or the like can be used.
- ACF Anisotropic Conducive Film
- ACP Anisotropic Connective Paste
- Materials that can be used for conductive layers such as gates, sources and drains of transistors, as well as various wiring and electrodes that make up display devices include aluminum, titanium, chromium, nickel, copper, yttrium, zirconium, molybdenum, and silver. Examples thereof include metals such as tantanium and tungsten, and alloys containing the metal as a main component. A film containing these materials can be used as a single layer or as a laminated structure.
- a conductive oxide such as indium oxide, indium tin oxide, indium zinc oxide, zinc oxide, zinc oxide containing gallium, or graphene can be used.
- metal materials such as gold, silver, platinum, magnesium, nickel, tungsten, chromium, molybdenum, iron, cobalt, copper, palladium, and titanium, alloy materials containing the metal materials, and the like can be used.
- a nitride of the metal material for example, titanium nitride
- the laminated film of the above material can be used as the conductive layer.
- a laminated film of an alloy of silver and magnesium and an indium tin oxide because the conductivity can be enhanced.
- conductive layers such as various wirings and electrodes constituting the display device, and conductive layers (conductive layers functioning as pixel electrodes, common electrodes, etc.) of light emitting elements and light receiving elements (or light receiving and emitting elements). Can be done.
- Examples of the insulating material that can be used for each insulating layer include resins such as acrylic resin and epoxy resin, and inorganic insulating materials such as silicon oxide, silicon oxide, silicon nitride, silicon nitride, and aluminum oxide.
- This embodiment can be carried out by appropriately combining at least a part thereof with other embodiments described in the present specification.
- FIG. 11A shows a block diagram of the pixels of the display device according to one aspect of the present invention.
- the pixel has an OLED, an OPD (Organic Photo Diode), a sensor circuit (denoted as a Sensing Circuit), a driving transistor (denoted as a Driving Transistor), and a selection transistor (denoted as a Switching Transistor).
- the light emitted from the OLED is reflected by the object (denoted as Object), and the reflected light is received by the OPD, so that the object can be imaged.
- One aspect of the present invention can function as a touch sensor, an image sensor, an image scanner, or the like.
- One aspect of the present invention can be applied to biometric authentication by imaging fingerprints, palm prints, blood vessels (veins, etc.) and the like. It is also possible to capture an image of the surface of a printed matter or an article on which a photograph, characters, etc. are described and acquire it as image information.
- the drive transistor and the selection transistor form a drive circuit for driving the OLED.
- the drive transistor has a function of controlling the current flowing through the OLED, and the OLED can emit light with a brightness corresponding to the current.
- the selection transistor has a function of controlling the selection and non-selection of pixels.
- the magnitude of the current flowing through the drive transistor and the OLED is controlled by the value (for example, voltage value) of the video data (denoted as Video Data) input from the outside via the selection transistor, and the OLED is made to emit light with the desired emission brightness. be able to.
- the sensor circuit corresponds to a drive circuit for controlling the operation of OPD.
- a reset operation that resets the potential of the electrodes of the OPD by the sensor circuit, an exposure operation that accumulates an electric charge in the OPD according to the amount of emitted light, and a transfer operation that transfers the electric charge accumulated in the OPD to a node in the sensor circuit.
- the operation of outputting a signal (for example, voltage or current) according to the magnitude of the electric charge to an external readout circuit as sensing data (denoted as Sensoring Data) can be controlled.
- the pixel shown in FIG. 11B is mainly different from the above in that it has a memory unit (denoted as Memory) connected to the drive transistor.
- Weight data (denoted as Weight Data) is given to the memory unit.
- the drive transistor is given data obtained by adding the video data input via the selection transistor and the weight data held in the memory unit.
- the brightness of the OLED can be changed from the brightness when only the video data is given. Specifically, it is possible to increase or decrease the brightness of the OLED. For example, by increasing the brightness of the OLED, it is possible to increase the light receiving sensitivity of the sensor.
- FIG. 11C shows an example of a pixel circuit that can be used in the sensor circuit.
- the pixel circuit PIX1 shown in FIG. 11C has a light receiving element PD, a transistor M1, a transistor M2, a transistor M3, a transistor M4, and a capacitance C1.
- a photodiode is used as the light receiving element PD.
- the cathode is electrically connected to the wiring V1 and the anode is electrically connected to either the source or the drain of the transistor M1.
- the gate is electrically connected to the wiring TX, and the other of the source or drain is electrically connected to one electrode of the capacitance C1, one of the source or drain of the transistor M2, and the gate of the transistor M3.
- the gate is electrically connected to the wiring RES, and the other of the source or the drain is electrically connected to the wiring V2.
- one of the source and the drain is electrically connected to the wiring V3 and the other of the source and the drain is electrically connected to one of the source and the drain of the transistor M4.
- the gate is electrically connected to the wiring SE, and the other of the source or the drain is electrically connected to the wiring OUT1.
- a constant potential is supplied to the wiring V1, the wiring V2, and the wiring V3, respectively.
- the transistor M2 is controlled by a signal supplied to the wiring RES, and has a function of resetting the potential of the node connected to the gate of the transistor M3 to the potential supplied to the wiring V2.
- the transistor M1 is controlled by a signal supplied to the wiring TX, and has a function of controlling the timing of transferring the electric charge accumulated in the light receiving element PD to the node.
- the transistor M3 functions as an amplification transistor that outputs according to the potential of the node.
- the transistor M4 is controlled by a signal supplied to the wiring SE, and functions as a selection transistor for reading an output corresponding to the potential of the node by an external circuit connected to the wiring OUT1.
- the light receiving element PD corresponds to the above OPD. Further, the potential or current output from the wiring OUT1 corresponds to the sensing data.
- FIG. 11D shows an example of a pixel circuit for driving the OLED.
- the pixel circuit PIX2 shown in FIG. 11D has a light emitting element EL, a transistor M5, a transistor M6, a transistor M7, and a capacitance C2.
- a light emitting diode is used as the light emitting element EL.
- the light emitting element EL corresponds to the OLED
- the transistor M5 corresponds to the selection transistor
- the transistor M6 corresponds to the drive transistor.
- the wiring VS corresponds to the wiring to which the video data is input.
- the gate is electrically connected to the wiring VG, one of the source or the drain is electrically connected to the wiring VS, and the other of the source or the drain is the one electrode of the capacitance C2 and the gate of the transistor M6. Connect electrically.
- One of the source or drain of the transistor M6 is electrically connected to the wiring V4, and the other is electrically connected to the anode of the light emitting element EL and one of the source or drain of the transistor M7.
- the gate is electrically connected to the wiring MS, and the other of the source or the drain is electrically connected to the wiring OUT2.
- the cathode of the light emitting element EL is electrically connected to the wiring V5.
- a constant potential is supplied to the wiring V4 and the wiring V5, respectively.
- the anode side of the light emitting element EL can have a high potential, and the cathode side can have a lower potential than the anode side.
- the transistor M5 is controlled by a signal supplied to the wiring VG, and functions as a selection transistor for controlling the selection state of the pixel circuit PIX2. Further, the transistor M6 functions as a drive transistor that controls the current flowing through the light emitting element EL according to the potential supplied to the gate. When the transistor M5 is in a conductive state, the potential supplied to the wiring VS is supplied to the gate of the transistor M6, and the emission luminance of the light emitting element EL can be controlled according to the potential.
- the transistor M7 is controlled by a signal supplied to the wiring MS, and has a function of setting a potential between the transistor M6 and the light emitting element EL as a potential given to the wiring OUT2 and a potential between the transistor M6 and the light emitting element EL. It has one or both of the functions of outputting to the outside via the wiring OUT2.
- FIG. 11E shows an example of a pixel circuit including a memory unit, which can be applied to the configuration illustrated in FIG. 11B.
- the pixel circuit PIX3 shown in FIG. 11E has a configuration in which the transistor M8 and the capacitance C3 are added to the pixel circuit PIX2. Further, in the pixel circuit PIX3, the wiring VS in the pixel circuit PIX2 is the wiring VS1 and the wiring VG is the wiring VG1.
- the gate is electrically connected to the wiring VG2
- one of the source and the drain is electrically connected to the wiring VS2
- the other is electrically connected to one electrode of the capacitance C3.
- the other electrode is electrically connected to the gate of the transistor M6, one electrode of the capacitance C2, and the other of the source and drain of the transistor M5.
- Wiring VS1 corresponds to the wiring to which the above video data is given.
- the wiring VS2 corresponds to the wiring to which the weight data is given.
- the node to which the gate of the transistor M6 is connected corresponds to the memory unit.
- the first potential is written from the wiring VS1 to the node to which the gate of the transistor M6 is connected via the transistor M5. After that, by putting the transistor M5 in a non-conducting state, the node is in a floating state. Subsequently, a second potential is written from the wiring VS2 to one electrode of the capacitance C3 via the transistor M8. As a result, due to the capacitive coupling of the capacitance C3, the potential of the node changes from the first potential to the third potential according to the second potential. Then, a current corresponding to the third potential flows through the transistor M6 and the light emitting element EL, so that the light emitting element EL emits light with brightness corresponding to the potential.
- an image may be displayed by causing the light emitting element to emit light in a pulse shape.
- the organic EL element is suitable because it has excellent frequency characteristics.
- the frequency can be, for example, 1 kHz or more and 100 MHz or less.
- a driving method also referred to as a Duty drive in which the pulse width is changed to emit light may be used.
- a channel is formed in each of the transistor M1, the transistor M2, the transistor M3, and the transistor M4 of the pixel circuit PIX1, the transistor M5, the transistor M6, and the transistor M7 of the pixel circuit PIX2, and the transistor M8 of the pixel circuit PIX3. It is preferable to apply a transistor using a metal oxide (oxide semiconductor) to the semiconductor layer to be formed.
- a metal oxide oxide semiconductor
- transistor M1 it is also possible to use a transistor in which silicon is applied to a semiconductor in which a channel is formed for the transistor M1 to the transistor M8.
- highly crystalline silicon such as single crystal silicon and polycrystalline silicon because high field effect mobility can be realized and higher speed operation is possible.
- a transistor to which an oxide semiconductor is applied to one or more of the transistors M1 to be used, and a transistor to which silicon is applied may be used in addition to the transistor M1 to the transistor M8.
- the configuration corresponds to the LTPO described above.
- a transistor to which an oxide semiconductor having a remarkably low off-current is applied to the transistor M1, the transistor M2, the transistor M5, the transistor M7, and the transistor M8 which function as a switch for holding an electric charge it is preferable to use a transistor to which an oxide semiconductor having a remarkably low off-current is applied to the transistor M1, the transistor M2, the transistor M5, the transistor M7, and the transistor M8 which function as a switch for holding an electric charge.
- a transistor in which silicon is applied to one or more other transistors can be used.
- the transistor is described as an n-channel type transistor in the pixel circuit PIX1, the pixel circuit PIX2, and the pixel circuit PIX3, a p-channel type transistor can also be used.
- the configuration may be a mixture of n-channel type transistors and p-channel type transistors.
- This embodiment can be carried out by appropriately combining at least a part thereof with other embodiments described in the present specification.
- the metal oxide preferably contains at least indium or zinc. In particular, it is preferable to contain indium and zinc. In addition to them, it is preferable that aluminum, gallium, yttrium, tin and the like are contained. It may also contain one or more selected from boron, silicon, titanium, iron, nickel, germanium, zirconium, molybdenum, lanthanum, cerium, neodymium, hafnium, tantalum, tungsten, magnesium, cobalt and the like. ..
- a sputtering method a chemical vapor deposition (CVD) method such as a metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD) method, and an atomic layer deposition (ALD) method can be used.
- CVD chemical vapor deposition
- MOCVD metalorganic chemical vapor deposition
- ALD atomic layer deposition
- the crystal structure of the oxide semiconductor includes amorphous (including compactly atomous), CAAC (c-axis-aligned crystalline), nc (nanocrystalline), CAC (crowd-aligned crystal), single crystal (single crystal), and single crystal (single crystal). (Poly crystal) and the like.
- the crystal structure of the film or substrate can be evaluated using an X-ray diffraction (XRD: X-Ray Diffraction) spectrum.
- XRD X-Ray Diffraction
- it can be evaluated using the XRD spectrum obtained by GIXD (Grazing-Incidence XRD) measurement.
- GIXD Gram-Incidence XRD
- the GIXD method is also referred to as a thin film method or a Seemann-Bohlin method.
- the shape of the peak of the XRD spectrum is almost symmetrical.
- the shape of the peak of the XRD spectrum is asymmetrical.
- the asymmetrical shape of the peaks in the XRD spectrum indicates the presence of crystals in the membrane or substrate. In other words, the film or substrate cannot be said to be in an amorphous state unless the shape of the peak of the XRD spectrum is symmetrical.
- the crystal structure of the film or the substrate can be evaluated by a diffraction pattern (also referred to as a microelectron diffraction pattern) observed by a micro electron diffraction method (NBED: Nano Beam Electron Diffraction).
- a diffraction pattern also referred to as a microelectron diffraction pattern
- NBED Nano Beam Electron Diffraction
- halos are observed, and it can be confirmed that the quartz glass is in an amorphous state.
- a spot-like pattern is observed instead of a halo. Therefore, it is presumed that the IGZO film formed at room temperature is neither in a crystalline state nor in an amorphous state, is in an intermediate state, and cannot be concluded to be in an amorphous state.
- oxide semiconductors may be classified differently from the above.
- oxide semiconductors are divided into single crystal oxide semiconductors and other non-single crystal oxide semiconductors.
- the non-single crystal oxide semiconductor include the above-mentioned CAAC-OS and nc-OS.
- the non-single crystal oxide semiconductor includes a polycrystal oxide semiconductor, a pseudo-amorphous oxide semiconductor (a-like OS: atomous-like oxide semiconductor), an amorphous oxide semiconductor, and the like.
- CAAC-OS CAAC-OS
- nc-OS nc-OS
- a-like OS the details of the above-mentioned CAAC-OS, nc-OS, and a-like OS will be described.
- CAAC-OS is an oxide semiconductor having a plurality of crystal regions, the plurality of crystal regions having the c-axis oriented in a specific direction.
- the specific direction is the thickness direction of the CAAC-OS film, the normal direction of the surface to be formed of the CAAC-OS film, or the normal direction of the surface of the CAAC-OS film.
- the crystal region is a region having periodicity in the atomic arrangement. When the atomic arrangement is regarded as a lattice arrangement, the crystal region is also a region in which the lattice arrangement is aligned. Further, the CAAC-OS has a region in which a plurality of crystal regions are connected in the ab plane direction, and the region may have distortion.
- the strain refers to a region in which a plurality of crystal regions are connected in which the orientation of the lattice arrangement changes between a region in which the lattice arrangement is aligned and a region in which another grid arrangement is aligned. That is, CAAC-OS is an oxide semiconductor that is c-axis oriented and not clearly oriented in the ab plane direction.
- Each of the plurality of crystal regions is composed of one or a plurality of minute crystals (crystals having a maximum diameter of less than 10 nm).
- the maximum diameter of the crystal region is less than 10 nm.
- the size of the crystal region may be about several tens of nm.
- CAAC-OS has indium (In) and oxygen. It tends to have a layered crystal structure (also referred to as a layered structure) in which a layer (hereinafter, In layer) and a layer having elements M, zinc (Zn), and oxygen (hereinafter, (M, Zn) layer) are laminated. There is. Indium and element M can be replaced with each other. Therefore, the (M, Zn) layer may contain indium. In addition, the In layer may contain the element M. The In layer may contain Zn.
- the layered structure is observed as a lattice image in, for example, a high-resolution TEM (Transmission Electron Microscope) image.
- the position of the peak indicating the c-axis orientation may vary depending on the type and composition of the metal elements constituting CAAC-CS.
- a plurality of bright spots are observed in the electron diffraction pattern of the CAAC-OS film. Note that a certain spot and another spot are observed at point-symmetrical positions with the spot of the incident electron beam passing through the sample (also referred to as a direct spot) as the center of symmetry.
- the lattice arrangement in the crystal region is based on a hexagonal lattice, but the unit lattice is not limited to a regular hexagon and may be a non-regular hexagon. Further, in the above strain, it may have a lattice arrangement such as a pentagon or a heptagon.
- a clear grain boundary cannot be confirmed even in the vicinity of strain. That is, it can be seen that the formation of grain boundaries is suppressed by the distortion of the lattice arrangement. This is because CAAC-OS can tolerate distortion due to the fact that the arrangement of oxygen atoms is not dense in the ab plane direction and the bond distance between the atoms changes due to the replacement of metal atoms. it is conceivable that.
- CAAC-OS for which no clear crystal grain boundary is confirmed, is one of the crystalline oxides having a crystal structure suitable for the semiconductor layer of the transistor.
- a configuration having Zn is preferable.
- In-Zn oxide and In-Ga-Zn oxide are more suitable than In oxide because they can suppress the generation of grain boundaries.
- CAAC-OS is an oxide semiconductor with high crystallinity and no clear grain boundaries can be confirmed. Therefore, it can be said that CAAC-OS is unlikely to cause a decrease in electron mobility due to grain boundaries. Further, since the crystallinity of the oxide semiconductor may be deteriorated due to the mixing of impurities, the generation of defects, etc., CAAC-OS can be said to be an oxide semiconductor having few impurities and defects (oxygen deficiency, etc.). Therefore, the oxide semiconductor having CAAC-OS has stable physical properties. Therefore, the oxide semiconductor having CAAC-OS is resistant to heat and has high reliability. CAAC-OS is also stable against high temperatures (so-called thermal budgets) in the manufacturing process. Therefore, if CAAC-OS is used for the OS transistor, the degree of freedom in the manufacturing process can be expanded.
- nc-OS has periodicity in the atomic arrangement in a minute region (for example, a region of 1 nm or more and 10 nm or less, particularly a region of 1 nm or more and 3 nm or less).
- nc-OS has tiny crystals. Since the size of the minute crystal is, for example, 1 nm or more and 10 nm or less, particularly 1 nm or more and 3 nm or less, the minute crystal is also referred to as a nanocrystal.
- nc-OS has no regularity in crystal orientation between different nanocrystals. Therefore, no orientation is observed in the entire film.
- nc-OS may be indistinguishable from a-like OS or amorphous oxide semiconductor depending on the analysis method.
- a peak indicating crystallinity is not detected in the Out-of-plane XRD measurement using a ⁇ / 2 ⁇ scan.
- electron beam diffraction also referred to as selected area electron diffraction
- a diffraction pattern such as a halo pattern is performed. Is observed.
- electron diffraction also referred to as nanobeam electron diffraction
- an electron beam having a probe diameter for example, 1 nm or more and 30 nm or less
- An electron diffraction pattern in which a plurality of spots are observed in a ring-shaped region centered on a direct spot may be acquired.
- the a-like OS is an oxide semiconductor having a structure between nc-OS and an amorphous oxide semiconductor.
- the a-like OS has a void or low density region. That is, a-like OS has lower crystallinity than nc-OS and CAAC-OS. In addition, a-like OS has a higher hydrogen concentration in the membrane than nc-OS and CAAC-OS.
- CAC-OS relates to the material composition.
- CAC-OS is, for example, a composition of a material in which the elements constituting the metal oxide are unevenly distributed in a size of 0.5 nm or more and 10 nm or less, preferably 1 nm or more and 3 nm or less, or in the vicinity thereof.
- the metal oxide one or more metal elements are unevenly distributed, and the region having the metal element has a size of 0.5 nm or more and 10 nm or less, preferably 1 nm or more and 3 nm or less, or a size in the vicinity thereof.
- the mixed state is also called a mosaic shape or a patch shape.
- the CAC-OS has a structure in which the material is separated into a first region and a second region to form a mosaic, and the first region is distributed in the film (hereinafter, also referred to as a cloud shape). It is said.). That is, the CAC-OS is a composite metal oxide having a structure in which the first region and the second region are mixed.
- the atomic number ratios of In, Ga, and Zn with respect to the metal elements constituting CAC-OS in the In-Ga-Zn oxide are expressed as [In], [Ga], and [Zn].
- the first region is a region where [In] is larger than [In] in the composition of the CAC-OS film.
- the second region is a region in which [Ga] is larger than [Ga] in the composition of the CAC-OS film.
- the first region is a region where [In] is larger than [In] in the second region and [Ga] is smaller than [Ga] in the second region.
- the second region is a region in which [Ga] is larger than [Ga] in the first region and [In] is smaller than [In] in the first region.
- the first region is a region in which indium oxide, indium zinc oxide, or the like is the main component.
- the second region is a region containing gallium oxide, gallium zinc oxide, or the like as a main component. That is, the first region can be rephrased as a region containing In as a main component. Further, the second region can be rephrased as a region containing Ga as a main component.
- CAC-OS in In-Ga-Zn oxide is a region containing Ga as a main component and a part of In as a main component in a material composition containing In, Ga, Zn, and O. Each of the regions is a mosaic, and these regions are randomly present. Therefore, it is presumed that CAC-OS has a structure in which metal elements are non-uniformly distributed.
- CAC-OS can be formed by a sputtering method, for example, under the condition that the substrate is not heated.
- a sputtering method one or more selected from an inert gas (typically argon), an oxygen gas, and a nitrogen gas may be used as the film forming gas. good.
- an inert gas typically argon
- oxygen gas typically argon
- a nitrogen gas may be used as the film forming gas. good.
- the flow rate ratio of the oxygen gas to the total flow rate of the film-forming gas at the time of film formation is low. Is preferably 0% or more and 10% or less.
- EDX Energy Dispersive X-ray spectroscopy
- the first region is a region having higher conductivity than the second region. That is, when the carrier flows through the first region, the conductivity as a metal oxide is exhibited. Therefore, high field effect mobility ( ⁇ ) can be realized by distributing the first region in the metal oxide in a cloud shape.
- the second region is a region having higher insulating properties than the first region. That is, the leakage current can be suppressed by distributing the second region in the metal oxide.
- the CAC-OS when used for a transistor, the conductivity caused by the first region and the insulating property caused by the second region act complementarily to switch the function (On / Off). Function) can be added to the CAC-OS. That is, the CAC-OS has a conductive function in a part of the material and an insulating function in a part of the material, and has a function as a semiconductor in the whole material. By separating the conductive function and the insulating function, both functions can be maximized. Therefore, by using CAC-OS for the transistor, high on-current ( Ion ), high field effect mobility ( ⁇ ), and good switching operation can be realized.
- Ion on-current
- ⁇ high field effect mobility
- CAC-OS is most suitable for various semiconductor devices including display devices.
- Oxide semiconductors have various structures, and each has different characteristics.
- the oxide semiconductor of one aspect of the present invention has two or more of amorphous oxide semiconductor, polycrystalline oxide semiconductor, a-like OS, CAC-OS, nc-OS, and CAAC-OS. You may.
- the oxide semiconductor as a transistor, a transistor with high field effect mobility can be realized. In addition, a highly reliable transistor can be realized.
- the carrier concentration of the oxide semiconductor is 1 ⁇ 10 17 cm -3 or less, preferably 1 ⁇ 10 15 cm -3 or less, more preferably 1 ⁇ 10 13 cm -3 or less, and more preferably 1 ⁇ 10 11 cm ⁇ . It is 3 or less, more preferably less than 1 ⁇ 10 10 cm -3 , and more preferably 1 ⁇ 10 -9 cm -3 or more.
- the impurity concentration in the oxide semiconductor film may be lowered to lower the defect level density.
- a low impurity concentration and a low defect level density is referred to as high-purity intrinsic or substantially high-purity intrinsic.
- An oxide semiconductor having a low carrier concentration may be referred to as a high-purity intrinsic or substantially high-purity intrinsic oxide semiconductor.
- the trap level density may also be low.
- the charge captured at the trap level of the oxide semiconductor takes a long time to disappear, and may behave as if it were a fixed charge. Therefore, a transistor in which a channel forming region is formed in an oxide semiconductor having a high trap level density may have unstable electrical characteristics.
- Impurities include hydrogen, nitrogen, alkali metals, alkaline earth metals, iron, nickel, silicon and the like.
- the concentration of silicon or carbon in the oxide semiconductor and the concentration of silicon or carbon near the interface with the oxide semiconductor are 2 ⁇ 10 18 atoms / cm 3 or less, preferably 2 ⁇ 10 17 atoms / cm 3 or less.
- the oxide semiconductor contains an alkali metal or an alkaline earth metal
- defect levels may be formed and carriers may be generated. Therefore, a transistor using an oxide semiconductor containing an alkali metal or an alkaline earth metal tends to have a normally-on characteristic. Therefore, the concentration of the alkali metal or alkaline earth metal in the oxide semiconductor obtained by SIMS is set to 1 ⁇ 10 18 atoms / cm 3 or less, preferably 2 ⁇ 10 16 atoms / cm 3 or less.
- the nitrogen concentration in the oxide semiconductor obtained by SIMS is less than 5 ⁇ 10 19 atoms / cm 3 , preferably 5 ⁇ 10 18 atoms / cm 3 or less, and more preferably 1 ⁇ 10 18 atoms / cm 3 or less. , More preferably 5 ⁇ 10 17 atoms / cm 3 or less.
- hydrogen contained in an oxide semiconductor reacts with oxygen bonded to a metal atom to become water, which may form an oxygen deficiency.
- oxygen deficiency When hydrogen enters the oxygen deficiency, electrons that are carriers may be generated.
- a part of hydrogen may be combined with oxygen that is bonded to a metal atom to generate an electron as a carrier. Therefore, a transistor using an oxide semiconductor containing hydrogen tends to have a normally-on characteristic. Therefore, it is preferable that hydrogen in the oxide semiconductor is reduced as much as possible.
- the hydrogen concentration obtained by SIMS is less than 1 ⁇ 10 20 atoms / cm 3 , preferably less than 1 ⁇ 10 19 atoms / cm 3 , and more preferably 5 ⁇ 10 18 atoms / cm. Less than 3 , more preferably less than 1 ⁇ 10 18 atoms / cm 3 .
- This embodiment can be carried out by appropriately combining at least a part thereof with other embodiments described in the present specification.
- the electronic device of one aspect of the present invention can perform imaging on the display unit, detect a touch operation, and the like. As a result, the functionality and convenience of the electronic device can be enhanced.
- the electronic device of one aspect of the present invention includes, for example, a television device, a desktop or notebook personal computer, a monitor for a computer, a digital signage, a large game machine such as a pachinko machine, or the like, and a relatively large screen.
- a television device for example, a television device, a desktop or notebook personal computer, a monitor for a computer, a digital signage, a large game machine such as a pachinko machine, or the like, and a relatively large screen.
- digital cameras, digital video cameras, digital photo frames, mobile phones, portable game machines, mobile information terminals, sound reproduction devices, and the like can be mentioned.
- the electronic device of one aspect of the present invention includes sensors (force, displacement, position, speed, acceleration, angular velocity, rotation speed, distance, light, liquid, magnetism, temperature, chemical substance, voice, time, hardness, electric field, current, It may have the ability to measure voltage, power, radiation, flow rate, humidity, gradient, vibration, odor or infrared rays).
- the electronic device of one aspect of the present invention can have various functions. For example, a function to display various information (still images, moving images, text images, etc.) on the display unit, a touch panel function, a calendar, a function to display a date or time, a function to execute various software (programs), wireless communication. It can have a function, a function of reading a program or data recorded on a recording medium, and the like.
- the electronic device 6500 shown in FIG. 12A is a portable information terminal that can be used as a smartphone.
- the electronic device 6500 has a housing 6501, a display unit 6502, a power button 6503, a button 6504, a speaker 6505, a microphone 6506, a camera 6507, a light source 6508, and the like.
- the display unit 6502 has a touch panel function.
- the display device shown in the second embodiment can be applied to the display unit 6502.
- FIG. 12B is a schematic cross-sectional view including the end portion of the housing 6501 on the microphone 6506 side.
- a translucent protective member 6510 is provided on the display surface side of the housing 6501, and a display panel 6511, an optical member 6512, a touch sensor panel 6513, and a print are provided in a space surrounded by the housing 6501 and the protective member 6510.
- a substrate 6517, a battery 6518, and the like are arranged.
- a display panel 6511, an optical member 6512, and a touch sensor panel 6513 are fixed to the protective member 6510 by an adhesive layer (not shown).
- the FPC 6515 is connected to the folded back portion.
- the IC6516 is mounted on the FPC6515.
- the FPC6515 is connected to a terminal provided on the printed circuit board 6517.
- a flexible display according to one aspect of the present invention can be applied to the display panel 6511. Therefore, an extremely lightweight electronic device can be realized. Further, since the display panel 6511 is extremely thin, it is possible to mount a large-capacity battery 6518 while suppressing the thickness of the electronic device. Further, by folding back a part of the display panel 6511 and arranging the connection portion with the FPC 6515 on the back side of the pixel portion, an electronic device having a narrow frame can be realized.
- the display unit 6502 can perform imaging.
- the display panel 6511 can capture a fingerprint and perform fingerprint authentication.
- the display unit 6502 further includes the touch sensor panel 6513, so that the display unit 6502 can be provided with a touch panel function.
- the touch sensor panel 6513 various methods such as a capacitance method, a resistance film method, a surface acoustic wave method, an infrared method, an optical method, and a pressure sensitive method can be used.
- the display panel 6511 may function as a touch sensor, in which case the touch sensor panel 6513 may not be provided.
- FIG. 13A shows an example of a television device.
- the display unit 7000 is incorporated in the housing 7101.
- a configuration in which the housing 7101 is supported by the stand 7103 is shown.
- the display device shown in the second embodiment can be applied to the display unit 7000.
- the operation of the television device 7100 shown in FIG. 13A can be performed by an operation switch included in the housing 7101, a separate remote control operation machine 7111, or the like.
- the display unit 7000 may be provided with a touch sensor, and the television device 7100 may be operated by touching the display unit 7000 with a finger or the like.
- the remote control operation machine 7111 may have a display unit for displaying information output from the remote control operation machine 7111.
- the channel and volume can be operated by the operation keys or the touch panel provided on the remote controller 7111, and the image displayed on the display unit 7000 can be operated.
- the television device 7100 is configured to include a receiver, a modem, and the like.
- a general television broadcast can be received by the receiver.
- information communication is performed in one direction (sender to receiver) or two-way (sender and receiver, or between receivers, etc.). It is also possible.
- FIG. 13B shows an example of a notebook personal computer.
- the notebook personal computer 7200 has a housing 7211, a keyboard 7212, a pointing device 7213, an external connection port 7214, and the like.
- a display unit 7000 is incorporated in the housing 7211.
- the display device shown in the second embodiment can be applied to the display unit 7000.
- FIGS. 13C and 13D show an example of digital signage.
- the digital signage 7300 shown in FIG. 13C has a housing 7301, a display unit 7000, a speaker 7303, and the like. Further, it may have an LED lamp, an operation key (including a power switch or an operation switch), a connection terminal, various sensors, a microphone, and the like.
- FIG. 13D is a digital signage 7400 attached to a columnar pillar 7401.
- the digital signage 7400 has a display unit 7000 provided along the curved surface of the pillar 7401.
- the wider the display unit 7000 the more information that can be provided at one time. Further, the wider the display unit 7000 is, the easier it is to be noticed by people, and for example, the advertising effect of the advertisement can be enhanced.
- the touch panel By applying the touch panel to the display unit 7000, not only the image or moving image can be displayed on the display unit 7000, but also the user can operate it intuitively, which is preferable. In addition, when used for the purpose of providing information such as route information or traffic information, usability can be improved by intuitive operation.
- the digital signage 7300 or the digital signage 7400 can be linked with the information terminal 7311 or the information terminal 7411 such as a smartphone owned by the user by wireless communication.
- the information of the advertisement displayed on the display unit 7000 can be displayed on the screen of the information terminal 7311 or the information terminal 7411. Further, by operating the information terminal 7311 or the information terminal 7411, the display of the display unit 7000 can be switched.
- the display device shown in the second embodiment can be applied to the display unit of the information terminal 7311 or the information terminal 7411.
- the digital signage 7300 or the digital signage 7400 can be made to execute a game using the screen of the information terminal 7311 or the information terminal 7411 as an operation means (controller). As a result, an unspecified number of users can participate in and enjoy the game at the same time.
- the electronic devices shown in FIGS. 14A to 14F include a housing 9000, a display unit 9001, a speaker 9003, an operation key 9005 (including a power switch or an operation switch), a connection terminal 9006, and a sensor 9007 (force, displacement, position, speed). Measures acceleration, angular velocity, rotation speed, distance, light, liquid, magnetism, temperature, chemical substance, voice, time, hardness, electric field, current, voltage, power, radiation, flow rate, humidity, slope, vibration, odor or infrared rays. It has a function to perform), a microphone 9008, and the like.
- the electronic devices shown in FIGS. 14A to 14F have various functions. For example, a function to display various information (still images, moving images, text images, etc.) on the display unit, a touch panel function, a function to display a calendar, date or time, etc., a function to control processing by various software (programs), It can have a wireless communication function, a function of reading and processing a program or data recorded on a recording medium, and the like.
- the functions of the electronic device are not limited to these, and can have various functions.
- the electronic device may have a plurality of display units. In addition, it has a function to provide a camera or the like in an electronic device, shoot a still image, a moving image, etc. and save it on a recording medium (external or built in the camera), a function to display the shot image on a display unit, and the like. May be good.
- FIGS. 14A to 14F The details of the electronic devices shown in FIGS. 14A to 14F will be described below.
- FIG. 14A is a perspective view showing a mobile information terminal 9101.
- the mobile information terminal 9101 can be used as, for example, a smartphone.
- the mobile information terminal 9101 may be provided with a speaker 9003, a connection terminal 9006, a sensor 9007, and the like. Further, the mobile information terminal 9101 can display characters, image information, and the like on a plurality of surfaces thereof.
- FIG. 14A shows an example in which three icons 9050 are displayed. Further, the information 9051 indicated by the broken line rectangle can be displayed on the other surface of the display unit 9001. Examples of information 9051 include notification of incoming calls such as e-mail, SNS, and telephone, titles such as e-mail and SNS, sender name, date and time, time, remaining battery level, and antenna reception strength. Alternatively, an icon 9050 or the like may be displayed at the position where the information 9051 is displayed.
- FIG. 14B is a perspective view showing a mobile information terminal 9102.
- the mobile information terminal 9102 has a function of displaying information on three or more surfaces of the display unit 9001.
- information 9052, information 9053, and information 9054 are displayed on different surfaces.
- the user can check the information 9053 displayed at a position that can be observed from above the mobile information terminal 9102 with the mobile information terminal 9102 stored in the chest pocket of the clothes.
- the user can check the display without taking out the mobile information terminal 9102 from the pocket, and can determine, for example, whether or not to receive a call.
- FIG. 14C is a perspective view showing a wristwatch-type mobile information terminal 9200.
- the mobile information terminal 9200 can be used, for example, as a smart watch.
- the display unit 9001 is provided with a curved display surface, and can display along the curved display surface.
- the mobile information terminal 9200 can also make a hands-free call by, for example, communicating with a headset capable of wireless communication.
- the mobile information terminal 9200 can also perform data transmission and charge with other information terminals by means of the connection terminal 9006.
- the charging operation may be performed by wireless power supply.
- 14D to 14F are perspective views showing a foldable mobile information terminal 9201.
- 14D is a perspective view of the mobile information terminal 9201 in an unfolded state
- FIG. 14F is a folded state
- FIG. 14E is a perspective view of a state in which one of FIGS. 14D and 14F is in the process of changing to the other.
- the mobile information terminal 9201 is excellent in portability in the folded state, and is excellent in the listability of the display due to the wide seamless display area in the unfolded state.
- the display unit 9001 included in the portable information terminal 9201 is supported by three housings 9000 connected by a hinge 9055.
- the display unit 9001 can be bent with a radius of curvature of 0.1 mm or more and 150 mm or less.
- This embodiment can be carried out by appropriately combining at least a part thereof with other embodiments described in the present specification.
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Abstract
位置検出精度の高いタッチパネル、または非接触型のタッチパネルを提供する。 表示装置は、第1及び第2の画素と、センサ画素とを有する。センサ画素は、第1の画素が呈する第1の色の光、及び第2の画素が呈する第2の色の光に感度を有する光電変換素子を有する。表示装置の駆動方法は、第1の画素を点灯し、第2の画素を消灯した状態で、第1の撮像を行う第1の期間と、第1の画素と第2の画素を消灯した状態で、第1の読出しを行う第2の期間と、第2の画素を点灯し、第1の画素を消灯した状態で、第2の撮像を行う第3の期間と、第1の画素と第2の画素を消灯した状態で、第2の読出しを行う第4の期間と、を有する。
Description
本発明の一態様は、表示装置に関する。本発明の一態様は、撮像装置に関する。本発明の一態様は、タッチパネルに関する。本発明の一態様は、非接触式タッチパネルに関する。本発明の一態様は、電子機器の認証方法に関する。
なお、本発明の一態様は、上記の技術分野に限定されない。本明細書等で開示する本発明の一態様の技術分野としては、半導体装置、表示装置、発光装置、蓄電装置、記憶装置、電子機器、照明装置、入力装置、入出力装置、それらの駆動方法、又はそれらの製造方法、を一例として挙げることができる。半導体装置は、半導体特性を利用することで機能しうる装置全般を指す。
近年、スマートフォンなどの携帯電話、タブレット型情報端末、ノート型PC(パーソナルコンピュータ)などの情報端末機器が広く普及している。このような情報端末機器は、個人情報などが含まれることが多く、不正な利用を防止するための様々な認証技術が開発されている。
例えば、特許文献1には、プッシュボタンスイッチ部に、指紋センサを備える電子機器が開示されている。
情報端末機器として機能する電子機器に、指紋認証などの認証機能を付加する場合、タッチセンサとは別に、指紋を撮像するためのモジュールを電子機器に実装する必要がある。そのため、部品点数の増加に伴い、電子機器のコストが増大してしまう。
本発明の一態様は、位置検出精度の高いタッチパネル、または非接触型のタッチパネルを提供することを課題の一とする。または、認証機能を有する電子機器のコストを低減することを課題の一とする。または、電子機器の部品点数を削減することを課題の一とする。または、指紋等を撮像することのできる表示装置、及びその駆動方法を提供することを課題の一とする。または、タッチ検出機能と指紋の撮像機能を兼ね備えた表示装置、及びその駆動方法を提供することを課題の一とする。または、非接触型のタッチパネル及びその駆動方法を提供することを課題の一とする。
本発明の一態様は、新規な構成を有する表示装置を提供することを課題の一とする。または、新たな表示装置の駆動方法を提供することを課題の一とする。
なお、これらの課題の記載は、他の課題の存在を妨げるものではない。なお、本発明の一態様は、これらの課題の全てを解決する必要はないものとする。なお、これら以外の課題は、明細書、図面、請求項などの記載から抽出することが可能である。
本発明の一態様は、第1の画素、第2の画素、及びセンサ画素を有する表示装置の駆動方法である。センサ画素は、第1の画素が呈する第1の色の光、及び第2の画素が呈する第2の色の光に感度を有する光電変換素子を有する。本発明の一態様の表示装置の駆動方法は、第1の画素を点灯し、第2の画素を消灯した状態で、第1の撮像を行う第1の期間と、第1の画素と第2の画素を消灯した状態で、第1の読出しを行う第2の期間と、第2の画素を点灯し、第1の画素を消灯した状態で、第2の撮像を行う第3の期間と、第1の画素と第2の画素を消灯した状態で、第2の読出しを行う第4の期間と、を有する。
本発明の他の一態様は、第1の画素、第2の画素、及びセンサ画素を有する表示装置の駆動方法である。第1の画素は、第1の色の光を呈する第1の発光素子を有し、第2の画素は、第2の色の光を呈する第2の発光素子を有し、センサ画素は、第1の色の光及び第2の色の光に感度を有する光電変換素子を有する。本発明の一態様の表示装置の駆動方法は、第1の画素に第1のデータを書き込む第1の期間と、第1のデータに基づいて第1の発光素子が点灯した状態で、センサ画素による第1の撮像を行う第2の期間と、第1の発光素子及び第2の発光素子を消灯する第3の期間と、第2の画素に第2のデータを書き込む第4の期間と、を有する。さらに、第3の期間及び第4の期間の一方または双方において、センサ画素から第1の読出しを行う。
また、上記において、表示装置は、第3の画素を有することが好ましい。第3の画素は、第3の色の光を呈する第3の発光素子を有する。さらに、第4の期間の後に、第2のデータに基づいて第2の発光素子が点灯した状態で、センサ画素による第2の撮像を行う第5の期間と、第1の発光素子、第2の発光素子、及び第3の発光素子を消灯する第6の期間と、第3の画素に第3のデータを書き込む第7の期間と、を有することが好ましい。このとき、第6の期間及び第7の期間の一方または双方において、センサ画素から第2の読出しを行うことが好ましい。
また、上記いずれかにおいて、第1の発光素子と光電変換素子とは、同一面上に設けられることが好ましい。
また、上記いずれかにおいて、第1の発光素子は、第1の画素電極、発光層、及び第1の電極を有することが好ましい。さらに光電変換素子は、第2の画素電極、活性層、及び第1の電極を有することが好ましい。また、第1の電極は、発光層を介して第1の画素電極と重なる部分と、活性層を介して第2の画素電極と重なる部分と、を有することが好ましい。このとき第1の画素電極と、第2の画素電極とは、同一の導電膜を加工して形成されることが好ましい。
また、上記において、第1の期間において、第1の電極には、第1の電位が与えられ、第1の画素電極には、第1の電位よりも高い第2の電位が与えられ、第2の画素電極には、第1の電位よりも低い第3の電位が与えられることが好ましい。
本発明の一態様によれば、位置検出精度の高いタッチパネル、または非接触型のタッチパネルを提供できる。または、認証機能を有する電子機器のコストを低減することができる。または、電子機器の部品点数を削減できる。または、指紋等を撮像することのできる表示装置、及びその駆動方法を提供できる。または、タッチ検出機能と指紋の撮像機能を兼ね備えた表示装置、及びその駆動方法を提供できる。または、非接触型のタッチパネル及びその駆動方法を提供できる。
また、本発明の一態様によれば、新規な構成を有する表示装置を提供できる。または、新たな表示装置の駆動方法を提供できる。
なお、これらの効果の記載は、他の効果の存在を妨げるものではない。なお、本発明の一態様は、必ずしも、これらの効果の全てを有する必要はない。なお、これら以外の効果は、明細書、図面、請求項などの記載から抽出することが可能である。
図1Aは、表示装置の構成例を示す図である。図1B、図1Cは、表示装置の駆動方法例を説明する図である。
図2Aは、表示装置の構成例を示す図である。図2B及び図2Cは、画素回路の回路図である。
図3A及び図3Bは、表示装置の駆動方法を説明するタイミングチャートである。
図4A、図4B及び図4Dは、表示装置の一例を示す断面図である。図4C、図4Eは、表示装置で撮像した画像の例を示す図である。図4F乃至図4Hは、画素の一例を示す上面図である。
図5Aは、表示装置の構成例を示す断面図である。図5B乃至図5Dは、画素の一例を示す上面図である。
図6A及び図6Bは、表示装置の構成例を示す図である。
図7A乃至図7Cは、表示装置の構成例を示す図である。
図8A乃至図8Cは、表示装置の構成例を示す図である。
図9は、表示装置の構成例を示す図である。
図10Aは、表示装置の構成例を示す図である。図10B及び図10Cは、トランジスタの構成例を示す図である。
図11A及び図11Bは、画素の構成例を示す図である。図11C乃至図11Eは、画素回路の構成例を示す図である。
図12A及び図12Bは、電子機器の構成例を示す図である。
図13A乃至図13Dは、電子機器の構成例を示す図である。
図14A乃至図14Fは、電子機器の構成例を示す図である。
図2Aは、表示装置の構成例を示す図である。図2B及び図2Cは、画素回路の回路図である。
図3A及び図3Bは、表示装置の駆動方法を説明するタイミングチャートである。
図4A、図4B及び図4Dは、表示装置の一例を示す断面図である。図4C、図4Eは、表示装置で撮像した画像の例を示す図である。図4F乃至図4Hは、画素の一例を示す上面図である。
図5Aは、表示装置の構成例を示す断面図である。図5B乃至図5Dは、画素の一例を示す上面図である。
図6A及び図6Bは、表示装置の構成例を示す図である。
図7A乃至図7Cは、表示装置の構成例を示す図である。
図8A乃至図8Cは、表示装置の構成例を示す図である。
図9は、表示装置の構成例を示す図である。
図10Aは、表示装置の構成例を示す図である。図10B及び図10Cは、トランジスタの構成例を示す図である。
図11A及び図11Bは、画素の構成例を示す図である。図11C乃至図11Eは、画素回路の構成例を示す図である。
図12A及び図12Bは、電子機器の構成例を示す図である。
図13A乃至図13Dは、電子機器の構成例を示す図である。
図14A乃至図14Fは、電子機器の構成例を示す図である。
以下、実施の形態について図面を参照しながら説明する。ただし、実施の形態は多くの異なる態様で実施することが可能であり、趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本発明は、以下の実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。
なお、以下に説明する発明の構成において、同一部分又は同様な機能を有する部分には同一の符号を異なる図面間で共通して用い、その繰り返しの説明は省略する。また、同様の機能を指す場合には、ハッチパターンを同じくし、特に符号を付さない場合がある。
なお、本明細書で説明する各図において、各構成要素の大きさ、層の厚さ、または領域は、明瞭化のために誇張されている場合がある。よって、必ずしもそのスケールに限定されない。
なお、本明細書等における「第1」、「第2」等の序数詞は、構成要素の混同を避けるために付すものであり、数的に限定するものではない。
(実施の形態1)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置の構成例、及びその駆動方法の例について説明する。
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置の構成例、及びその駆動方法の例について説明する。
本発明の一態様の表示装置は、複数の表示素子と、複数の受光素子(受光デバイスともいう)と、タッチセンサと、を有する。表示素子は、発光素子(発光デバイスともいう)であることが好ましい。受光素子は、光電変換素子であることが好ましい。以下では、表示素子として、発光素子を用い、受光素子として光電変換素子を用いる場合について説明する。
表示装置は、マトリクス状に配列された表示素子により、表示面側に画像を表示する機能を有する。
本発明の一態様の表示装置は、表示部に、受光素子と発光素子とを有する。本発明の一態様の表示装置は、表示部に、発光素子がマトリクス状に配置されており、当該表示部で画像を表示することができる。
また、当該表示部には、受光素子がマトリクス状に配置されており、表示部は、撮像機能及びセンシング機能の一方または双方も有する。例えば、発光素子が発した光の一部は、対象物により反射し、その反射光が受光素子に入射される。また、受光素子は、入射される光の強度に応じて電気信号を出力することができる。そのため、表示装置が、マトリクス状に配列した複数の受光素子を有することで、対象物の位置情報、形状などをデータとして取得する(撮像するともいう)ことができる。すなわち、表示部は、イメージセンサ、タッチセンサ等に用いることができる。表示部で光を検出することで、画像を撮像すること、対象物(指、ペンなど)のタッチ操作を検出すること、などができる。さらに、本発明の一態様の表示装置は、発光素子をセンサの光源として利用することができる。したがって、表示装置と別に受光部及び光源を設けなくてよく、電子機器の部品点数を削減することができる。
また、表示装置は、受光素子を用いて表示面に触れる、または近づく対象物を撮像することができる。すなわち、表示装置は、イメージセンサパネルなどとして機能させることができる。特に、表示装置は、表示面に触れた指先の指紋を撮像することができる。本発明の一態様の表示装置が適用された電子機器は、イメージセンサとしての機能を用いて、指紋、掌紋などの生体情報に係るデータを取得することができる。つまり、表示装置に、生体認証用センサを内蔵させることができる。表示装置が生体認証用センサを内蔵することで、表示装置とは別に生体認証用センサを設ける場合に比べて、電子機器の部品点数を少なくでき、電子機器の小型化及び軽量化が可能である。
本発明の一態様の表示装置では、表示部が有する発光素子が発した光を対象物が反射(または散乱)した際、受光素子がその反射光(または散乱光)を検出できるため、暗い場所でも、撮像、タッチ操作の検出などが可能である。
また上述のように、表示装置は、タッチパネルとして機能させることができる。本発明の一態様は、対象物からの反射光を利用して位置検出を行うことができるため、必ずしも対象物が接触する必要はなく、表示面から離れた対象物の位置情報、形状なども取得することができる。そのため、本発明の一態様は、非接触型のタッチパネルとして機能する。非接触型のタッチパネルは、ニアタッチパネルまたはノンタッチパネルなどともいうことができる。
ここで、タッチパネルが適用された電子機器(例えばスマートフォンなど)では、画面に直接触れて操作する必要がある。そのため、指の皮脂、汗などにより画面が汚れてしまうといった場合がある。また、画面にウィルス、菌などが付着している場合には、感染リスクが高まるといった問題もある。しかしながら本発明の一態様は、非接触型のタッチパネルとして用いることができるため、極めて衛生的に使用することのできる電子機器を提供できる。
本発明の一態様の非接触型のタッチパネルが適用された電子機器は、例えば衛生面が問題となる医療向けのモニタ装置に好適に用いることができる。また、料理中、掃除中などに手が濡れている場合、手が汚れている場合などであっても操作ができるため、家庭用の電子機器(例えばスマートフォン、タブレット端末、ノート型PC)などにも好適に用いることができる。
表示素子として発光素子を用いる場合には、OLED(Organic Light Emitting Diode)、QLED(Quantum−dot Light Emitting Diode)などのEL素子を用いることが好ましい。EL素子が有する発光物質としては、蛍光を発する物質(蛍光材料)、燐光を発する物質(燐光材料)、熱活性化遅延蛍光を示す物質(熱活性化遅延蛍光(Thermally activated delayed fluorescence:TADF)材料)、無機化合物(量子ドット材料など)などが挙げられる。また、発光素子として、マイクロLED(Light Emitting Diode)などのLEDを用いることもできる。
受光素子としては、例えば、pn型またはpin型のフォトダイオードを用いることができる。受光素子は、受光素子に入射する光を検出し電荷を発生させる光電変換素子として機能する。光電変換素子は、入射する光量に応じて、発生する電荷量が決まる。特に、受光素子として、有機化合物を含む層を有する有機フォトダイオードを用いることが好ましい。有機フォトダイオードは、薄型化、軽量化、及び大面積化が容易であり、また、形状及びデザインの自由度が高いため、様々な表示装置に適用できる。
発光素子は、例えば一対の電極間に発光層を備える積層構造とすることができる。また、受光素子は、一対の電極間に活性層を備える積層構造とすることができる。受光素子の活性層には、半導体材料を用いることができる。例えば、有機化合物を含む有機半導体材料、またはシリコンなどの無機半導体材料を用いることができる。
特に、受光素子の活性層に、有機化合物を用いることが好ましい。このとき、発光素子と受光素子の一方の電極(画素電極ともいう)を、同一面上に設けることが好ましい。さらに、発光素子と受光素子の他方の電極を、連続した一の導電層により形成される電極(共通電極ともいう)とすることがより好ましい。さらに、発光素子と受光素子とが、共通層を有することがより好ましい。これにより、発光素子と受光素子とを作製する際の、作製工程の一部を共通化できるため、作製工程を簡略化でき、製造コストを低減すること、及び、製造歩留りを向上させることができる。
ここで、本発明の一態様は、異なる色を呈する発光素子を備える2種類以上の画素と、光電変換素子を備えるセンサ画素と、を有する構成とすることができる。例えば、赤色、緑色、及び青色の3色の画素と、センサ画素とが、それぞれマトリクス状に配置される構成とすることで、カラー表示が可能な表示装置を実現できる。
さらに、表示装置の駆動方法として、継時加法混色法に基づいてカラー表示を行う。具体的には、赤色、緑色、青色の画素を順に点灯することにより、カラー表示を行う。さらに、各色の画素の点灯後には、全ての画素を消灯させる期間(黒を表示する期間ともいう)を設けることが好ましい。これにより、滑らかな動画表示を実現できる。なお、このような駆動方法を、時間分割表示方式(フィールドシーケンシャル駆動方式ともいう)と呼ぶこともできる。
さらに、センサ画素の駆動において、赤色、緑色、または青色の画素が点灯している期間に少なくとも露光期間を設けるように駆動する。さらに、赤色、緑色、または青色の画素が消灯している期間に読出し期間を設けるように駆動する。すなわち、1フレーム期間中に3回撮像を実行することができる。これにより、滑らかなセンシングを実行することができる。また、撮像(露光)は点灯期間中に行うため、画素を駆動する際に生じる電気的なノイズの影響を好適に抑制することが可能で、明瞭な画像の撮像を行うことができる。
以下ではより具体的な例について、図面を参照して説明する。
[構成例1]
図1Aに、本発明の一態様の表示装置50の概略図を示す。表示装置50は、赤色の光55Rを発する発光素子51R、緑色の光55Gを発する発光素子51G、青色の光55Bを発する発光素子51B、及び受光素子52を有する。受光素子52は、赤色、青色及び緑色の光に感度を有する光電変換素子である。
図1Aに、本発明の一態様の表示装置50の概略図を示す。表示装置50は、赤色の光55Rを発する発光素子51R、緑色の光55Gを発する発光素子51G、青色の光55Bを発する発光素子51B、及び受光素子52を有する。受光素子52は、赤色、青色及び緑色の光に感度を有する光電変換素子である。
発光素子51R、発光素子51G、発光素子51B、及び受光素子52により、一つの画素を構成する。表示装置50は、当該画素がマトリクス状に複数配列した構成を有する。
発光素子51R、発光素子51G、発光素子51B、及び受光素子52は、同一面上に配置される。光55R、光55G、及び光55Bは、各発光素子から表示面側に向かって射出される。
図1Aでは、指59を表示装置50にかざしている様子を示している。光55R、光55G、及び光55Bの一部は、指59で反射され、その反射光56の一部が受光素子52に入射する。受光素子52は、入射される反射光56を受光し、電気信号に変換して出力することができる。
〔駆動方法例1〕
図1Bには、表示装置50の駆動方法を模式的に示している。本駆動方法では、期間60R、期間60G、及び期間60Bが繰り返されることにより、画像の表示、及び撮像を行うことができる。本駆動方法において、1フレーム期間内に、期間60R、期間60G、及び期間60Bが1以上設けられる。
図1Bには、表示装置50の駆動方法を模式的に示している。本駆動方法では、期間60R、期間60G、及び期間60Bが繰り返されることにより、画像の表示、及び撮像を行うことができる。本駆動方法において、1フレーム期間内に、期間60R、期間60G、及び期間60Bが1以上設けられる。
期間60Rでは、発光素子51Rが発光(点灯)する。このとき、発光素子51G及び発光素子51Bは、消灯した状態である。発光素子51Rから射出された光55Rの一部は、指59により反射され、その反射光56の一部が受光素子52に入射する。期間60Rにおいて、受光素子52で露光することにより、1つの画像を得ることができる。
続いて、期間60Gでは、発光素子51Gが発光する。このとき、発光素子51R及び発光素子51Bは消灯した状態である。期間60Gでは、発光素子51Gから射出された緑色の光55Gが指59により反射され、その反射光56の強度分布を反映した1つの画像を得ることができる。
続いて、期間60Bでは、発光素子51Bが発光し、発光素子51R及び発光素子51Gが消灯した状態である。期間60Bでは、青色の光55Bが指59により反射され、その反射光56の強度分布を反映した1つの画像を得ることができる。
マトリクス状に配置された複数の発光素子51R、発光素子51G、発光素子51Bが、1フレーム期間中に順次発光することにより、赤色の画像、緑色の画像、青色の画像が順次表示される。これにより、継時加法混色法に基づいてカラー表示を行うことができる。表示装置50のフレーム周波数が低いと、各色の画像が合成されずに個別に視認される、いわゆるカラーブレイクが生じやすくなるため、フレーム周波数は、例えば60Hz以上、好ましくは90Hz以上、より好ましくは120Hz以上とする。
また、画像の表示と合わせて、マトリクス状に配置された複数の受光素子52により、1フレーム期間中に3回撮像を行うことができる。これにより、指59の位置情報を1フレーム期間中に3回取得することが可能となる。例えば、フレーム周波数が60Hzである場合には、3倍の周波数で位置情報を取得できるため、指59の動きが速い場合であっても、正確に位置情報を取得することができる。また、1フレーム期間中に取得した3つの画像を合成した画像に基づいて、指59の位置情報を取得することもできる。これにより、特定の色の光に対して反射率の低い物体であっても、正確な位置情報を取得することができる。例えば、対象物の色が赤色の光を反射しない場合には、緑色の光55G及び青色の光55Bで撮像した2つの画像を用いて、対象物の形状、位置情報などを取得することができる。
また、画像の表示と合わせて、マトリクス状に配置された複数の受光素子52により、1フレーム期間中に3つの画像を撮像することができる。3つの画像は、それぞれ対象物からの赤色の反射光、緑色の反射光、及び青色の反射光に対応する画像であるため、これら3つの画像を合成することにより、カラー画像を取得することができる。すなわち、本発明の一態様の表示装置50を、フルカラーのイメージスキャナとして機能させることもできる。例えば、表示装置50の表示面に撮像したい紙、印刷物などを配置することで、当該印刷物を画像としてデータ化することができる。
続いて、図1Cを用いて、表示装置50のより具体的な駆動方法の例について説明する。なお以下では、発光素子51Rを有する画素(副画素)をR画素、発光素子51Gを有する画素をG画素、発光素子51Bを有する画素をB画素と呼ぶ。図1Cにおいて、2つの段のうち上の段には発光素子を有する画素の各動作について、下の段には受光素子52を有するセンサ画素の動作について示している。
図1Cに示すR点灯の期間は、上記期間60Rに対応する。このとき、受光素子52を用いた撮像(露光)を同時に行う。
続いて、消灯期間では、発光素子51R、発光素子51G、発光素子51Bをそれぞれ消灯させる。消灯期間を設けることにより、残像が生じにくく、滑らかな動画表示を行うことができるため好ましい。そして、消灯期間ののちに、全てのG画素に対してデータの書き込みを行う(G書込み)。
消灯期間及びG書込み期間において、センサ画素からのデータの読出し動作を行う。ここでは、R画素を点灯して撮像したデータの読出しを行うため、R読出しと表記する。
以降は、同様に、G点灯期間(期間60Gに対応)において、撮像動作を行う。続いて、消灯期間ののちに、B書込み期間でB画素へのデータの書き込みが行われる。消灯期間及びB書込み期間で、先にG画素を点灯して撮像したデータの読出し(G読出し)が行われる。
その後、B点灯期間(期間60Bに対応)において撮像動作を行い、その後の消灯期間及びR書込み期間において、先にB画素を点灯して撮像したデータの読出し(B読出し)が行われる。
上記動作を繰り返すことにより、表示と撮像を同時に行うことができる。さらに、点灯期間中に撮像を行うことで、ノイズが少ない鮮明な画像を取得することができる。
以上が駆動方法例1についての説明である。
[構成例2]
以下では、より具体的な表示装置の構成例について説明する。
以下では、より具体的な表示装置の構成例について説明する。
図2Aに、表示装置10のブロック図を示す。表示装置10は、表示部11、駆動回路部12、駆動回路部13、駆動回路部14、及び回路部15等を有する。
表示部11は、マトリクス状に配置された複数の画素30を有する。画素30は、副画素21R、副画素21G、副画素21B、及び撮像画素22を有する。副画素21R、副画素21G、副画素21Bは、それぞれ表示素子として機能する発光素子を有する。撮像画素22は、光電変換素子として機能する受光素子を有する。受光素子を備える撮像画素22は、センサ画素の一態様である。
画素30は、配線GL、配線SLR、配線SLG、配線SLB、配線TX、配線SE、配線RS、及び配線WX等と電気的に接続されている。配線SLR、配線SLG、配線SLBは、駆動回路部12と電気的に接続されている。配線GLは、駆動回路部13と電気的に接続されている。駆動回路部12は、ソース線駆動回路(ソースドライバともいう)として機能する。駆動回路部13は、ゲート線駆動回路(ゲートドライバともいう)として機能する。
画素30は、副画素21R、副画素21G、及び副画素21Bを有する。例えば、副画素21Rは赤色を呈する副画素であり、副画素21Gは緑色を呈する副画素であり、副画素21Bは青色を呈する副画素である。これにより、表示装置10はフルカラーの表示を行うことができる。なお、ここでは画素30が3色の副画素を有する例を示したが、4色以上の副画素を有していてもよい。
副画素21Rは、赤色の光を呈する発光素子を有する。副画素21Gは、緑色の光を呈する発光素子を有する。副画素21Bは、青色の光を呈する発光素子を有する。なお、画素30は、他の光を呈する発光素子を有する副画素を有していてもよい。例えば画素30は、上記3つの副画素に加えて、白色の光を呈する発光素子を有する副画素、または黄色の光を呈する発光素子を有する副画素などを有していてもよい。
配線GLは、行方向(配線GLの延伸方向)に配列する副画素21R、副画素21G、及び副画素21Bと電気的に接続されている。配線SLR、配線SLG、及び配線SLBは、それぞれ、列方向(配線SLR等の延伸方向)に配列する副画素21R、副画素21G、または副画素21B(図示しない)と電気的に接続されている。
画素30が有する撮像画素22は、配線TX、配線SE、配線RS、及び配線WXが電気的に接続されている。配線TX、配線SE、配線RSは、それぞれ駆動回路部14に電気的に接続され、配線WXは、回路部15に電気的に接続される。
駆動回路部14は、撮像画素22を駆動させるための信号を生成し、配線SE、配線TX、及び配線RSを介して撮像画素22に出力する機能を有する。回路部15は、撮像画素22から配線WXを介して出力される信号を受信し、画像データとして外部に出力する機能を有する。回路部15は、読出し回路として機能する。
図2Aに示すように、撮像画素22を含む画素30をマトリクス状に配置することで、表示の解像度(画素数)と、撮像の解像度(画素数)とを同じにすることができる。なお、撮像画素22をタッチパネルとしての機能のみに用いる場合などでは、高い解像度は必要ない場合がある。その場合、撮像画素22を含む画素30と、含まない画素(すなわち、副画素21R、副画素21G、副画素21Bからなる画素)とを混在させた構成としてもよい。
〔画素回路の構成例2−1〕
図2Bに、上記副画素21R、副画素21G、及び副画素21Bに適用することのできる画素21の回路図の一例を示す。画素21は、トランジスタM1、トランジスタM2、トランジスタM3、容量C1、及び発光素子ELを有する。また、画素21には、配線GL及び配線SLが電気的に接続される。配線SLは、図2Aで示した配線SLR、配線SLG、及び配線SLBのうちのいずれかに対応する。
図2Bに、上記副画素21R、副画素21G、及び副画素21Bに適用することのできる画素21の回路図の一例を示す。画素21は、トランジスタM1、トランジスタM2、トランジスタM3、容量C1、及び発光素子ELを有する。また、画素21には、配線GL及び配線SLが電気的に接続される。配線SLは、図2Aで示した配線SLR、配線SLG、及び配線SLBのうちのいずれかに対応する。
トランジスタM1は、ゲートが配線GLと電気的に接続され、ソース及びドレインの一方が配線SLと電気的に接続され、他方が容量C1の一方の電極、及びトランジスタM2のゲートと電気的に接続される。トランジスタM2は、ソース及びドレインの一方が配線ALと電気的に接続され、ソース及びドレインの他方が発光素子ELの一方の電極、容量C1の他方の電極、及びトランジスタM3のソース及びドレインの一方と電気的に接続される。トランジスタM3は、ゲートが配線GLと電気的に接続され、ソース及びドレインの他方が配線RLと電気的に接続される。発光素子ELは、他方の電極が配線CLと電気的に接続される。
トランジスタM1及びトランジスタM3は、スイッチとして機能する。トランジスタM2は、発光素子ELに流れる電流を制御するためのトランジスタとして機能する。
ここで、トランジスタM1乃至トランジスタM3の全てに、チャネルが形成される半導体層に低温ポリシリコン(LTPS)が適用されたトランジスタ(LTPSトランジスタ)を適用することが好ましい。または、トランジスタM1及びトランジスタM3にOSトランジスタを適用し、トランジスタM2にLTPSトランジスタを適用することが好ましい。
OSトランジスタとしては、チャネルが形成される半導体層に酸化物半導体を用いたトランジスタを用いることができる。半導体層は、例えば、インジウムと、M(Mは、ガリウム、アルミニウム、シリコン、ホウ素、イットリウム、スズ、銅、バナジウム、ベリリウム、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、及びマグネシウムから選ばれた一種または複数種)と、亜鉛と、を有することが好ましい。特に、Mは、アルミニウム、ガリウム、イットリウム、及びスズから選ばれた一種または複数種であることが好ましい。特に、OSトランジスタの半導体層として、インジウム(In)、ガリウム(Ga)、及び亜鉛(Zn)を含む酸化物(IGZOとも記す)を用いることが好ましい。または、インジウム(In)、スズ(Sn)、及び亜鉛(Zn)を含む酸化物を用いることが好ましい。または、インジウム(In)、ガリウム(Ga)、スズ(Sn)、及び亜鉛(Zn)を含む酸化物を用いることが好ましい。
シリコンよりもバンドギャップが広く、かつキャリア密度の小さい酸化物半導体を用いたトランジスタは、極めて小さいオフ電流を実現することができる。そのため、その小さいオフ電流により、トランジスタと直列に接続された容量に蓄積した電荷を長期間に亘って保持することが可能である。そのため、特に容量C1に直列に接続されるトランジスタM1及びトランジスタM3には、それぞれ、酸化物半導体が適用されたトランジスタを用いることが好ましい。トランジスタM1及びトランジスタM3として酸化物半導体を有するトランジスタを適用することで、容量C1に保持される電荷が、トランジスタM1またはトランジスタM3を介してリークされることを防ぐことができる。また、容量C1に保持される電荷を長時間に亘って保持できるため、画素21のデータを書き換えることなく、静止画を長期間に亘って表示することが可能となる。
配線SLには、データ電位Dが与えられる。配線GLには、選択信号が与えられる。当該選択信号には、トランジスタを導通状態とする電位と、非導通状態とする電位が含まれる。
配線RLには、リセット電位が与えられる。配線ALには、アノード電位が与えられる。配線CLには、カソード電位が与えられる。画素21において、アノード電位はカソード電位よりも高い電位とする。また、配線RLに与えられるリセット電位は、リセット電位とカソード電位との電位差が、発光素子ELのしきい値電圧よりも小さくなるような電位とすることができる。リセット電位は、カソード電位よりも高い電位、カソード電位と同じ電位、または、カソード電位よりも低い電位とすることができる。
〔駆動方法例2−1〕
続いて、図2Aに示す副画素21R、副画素21G、及び副画素21Bに、図2Bに示す画素21の構成を適用した場合の駆動方法の一例について、図3Aに示すタイミングチャートを用いて説明する。
続いて、図2Aに示す副画素21R、副画素21G、及び副画素21Bに、図2Bに示す画素21の構成を適用した場合の駆動方法の一例について、図3Aに示すタイミングチャートを用いて説明する。
なお以下では、画素30がM行N列のマトリクス状に配置されているとして説明する。すなわち、表示装置10には、配線GL等がM本、配線SLR等がN本設けられている。また以下では、複数の配線を区別する場合には符号に番号等を添えて明示する。なお、特に断りのない場合、複数の配線を区別しない場合、複数の配線に共通する事項を説明する場合などには、符号に番号等を添えることなく明示する。
図3Aには、1行目の配線GL[1]、M行目の配線GL[M]、配線SLR、配線SLG、配線SLBのそれぞれに入力される信号の例を示している。
〈時刻T11以前〉
時刻T11以前は、副画素21R、副画素21G、及び副画素21Bが非選択状態である期間となる。時刻T11以前では、全ての配線GLにトランジスタM1を非導通状態とする電位(ここではローレベル電位)が与えられる。図3Aの左端に示す時刻T11以前の状態は、消灯期間に相当する。
時刻T11以前は、副画素21R、副画素21G、及び副画素21Bが非選択状態である期間となる。時刻T11以前では、全ての配線GLにトランジスタM1を非導通状態とする電位(ここではローレベル電位)が与えられる。図3Aの左端に示す時刻T11以前の状態は、消灯期間に相当する。
〈期間T11−T12〉
時刻T11から時刻T12の期間は、副画素21Rへのデータの書き込み期間(R書込み期間)に相当する。時刻T11において、配線GL[1]にトランジスタM1及びトランジスタM2を導通状態とする電位(ここではハイレベル電位)が与えられ、各配線SLRに、データ電位DRが与えられる。このとき、副画素21RにおけるトランジスタM1が導通状態となり、トランジスタM2のゲートに配線SLRからデータ電位が与えられる。また、トランジスタM3が導通状態となり、発光素子ELの一方の電極に配線RLからリセット電位が与えられる。そのため、書き込み期間中に発光素子ELが発光することを防ぐことができる。
時刻T11から時刻T12の期間は、副画素21Rへのデータの書き込み期間(R書込み期間)に相当する。時刻T11において、配線GL[1]にトランジスタM1及びトランジスタM2を導通状態とする電位(ここではハイレベル電位)が与えられ、各配線SLRに、データ電位DRが与えられる。このとき、副画素21RにおけるトランジスタM1が導通状態となり、トランジスタM2のゲートに配線SLRからデータ電位が与えられる。また、トランジスタM3が導通状態となり、発光素子ELの一方の電極に配線RLからリセット電位が与えられる。そのため、書き込み期間中に発光素子ELが発光することを防ぐことができる。
R書き込み期間において、1行目からM行目まで順次選択され、各行の各副画素21Rに、配線SLRからデータ電位DRが書き込まれる。
〈期間T12−T13〉
時刻T12から時刻T13の期間は、副画素21Rによる表示期間(R点灯期間)に相当する。期間T12−T13では、書き込まれたデータに基づく赤色の画像が表示される。
時刻T12から時刻T13の期間は、副画素21Rによる表示期間(R点灯期間)に相当する。期間T12−T13では、書き込まれたデータに基づく赤色の画像が表示される。
〈期間T13−T14〉
時刻T13から時刻T14の期間は、全ての画素の発光素子が消灯する期間(消灯期間)に相当する。時刻T13において、配線GL[1]から配線GL[M]までの全てにハイレベル電位が与えられる。このとき、配線SLR、配線SLG、及び配線SLBには、ローレベル電位が与えられた状態であるため、全ての画素に、ローレベル電位が書き込まれる。
時刻T13から時刻T14の期間は、全ての画素の発光素子が消灯する期間(消灯期間)に相当する。時刻T13において、配線GL[1]から配線GL[M]までの全てにハイレベル電位が与えられる。このとき、配線SLR、配線SLG、及び配線SLBには、ローレベル電位が与えられた状態であるため、全ての画素に、ローレベル電位が書き込まれる。
〈時刻T14以降〉
時刻T14以降の期間は、副画素21Gへのデータの書き込み期間(G書込み期間)に相当する。G書込み期間では、配線SLGに順次データ電位DGが与えられる以外は、R書込み期間と同様である。
時刻T14以降の期間は、副画素21Gへのデータの書き込み期間(G書込み期間)に相当する。G書込み期間では、配線SLGに順次データ電位DGが与えられる以外は、R書込み期間と同様である。
以降は上記と同様に、G点灯期間、消灯期間、B書込み期間、B点灯期間、消灯期間、と続き、R書込み期間に戻る。
以上が、画素21の駆動方法例についての説明である。
〔画素回路の構成例2−2〕
図2Cに、撮像画素22の回路図の一例を示す。撮像画素22は、トランジスタM5、トランジスタM6、トランジスタM7、トランジスタM8、容量C2、及び受光素子PDを有する。
図2Cに、撮像画素22の回路図の一例を示す。撮像画素22は、トランジスタM5、トランジスタM6、トランジスタM7、トランジスタM8、容量C2、及び受光素子PDを有する。
トランジスタM5は、ゲートが配線TXと電気的に接続され、ソース及びドレインの一方が、受光素子PDのアノード電極と電気的に接続され、ソース及びドレインの他方が、トランジスタM6のソース及びドレインの一方、容量C2の第1の電極、及びトランジスタM7のゲートと電気的に接続されている。トランジスタM6は、ゲートが配線RSと電気的に接続され、ソース及びドレインの他方が、配線V1と電気的に接続されている。トランジスタM7は、ソース及びドレインの一方が、配線V3と電気的に接続され、ソース及びドレインの他方が、トランジスタM8のソース及びドレインの一方と電気的に接続されている。トランジスタM8は、ゲートが配線SEと電気的に接続され、ソース及びドレインの他方が配線WXに電気的に接続されている。受光素子PDは、カソード電極が配線CLと電気的に接続されている。容量C2は、第2の電極が配線V2と電気的に接続されている。
トランジスタM5、トランジスタM6、及びトランジスタM8は、スイッチとして機能する。トランジスタM7は、増幅素子(アンプ)として機能する。
トランジスタM5乃至トランジスタM8の全てに、LTPSトランジスタを適用することが好ましい。または、トランジスタM5及びトランジスタM6に、OSトランジスタを適用し、トランジスタM7に、LTPSトランジスタを適用することが好ましい。このとき、トランジスタM8は、OSトランジスタ及びLTPSトランジスタのどちらを適用してもよい。
トランジスタM5及びトランジスタM6にOSトランジスタを適用することで、受光素子PDに発生する電荷に基づき、トランジスタM7のゲートに保持される電位が、トランジスタM5またはトランジスタM6を介してリークされるのを防ぐことができる。
例えば、グローバルシャッタ方式を用いた撮像を行う場合、画素によって電荷の転送動作が終了してから読出し動作が開始されるまでの期間(電荷保持期間)が異なる。例えば全ての画素で階調値が等しくなる画像を撮像すると、理想的には全ての画素において同じ高さの電位を有する出力信号が得られる。しかし、電荷保持期間の長さが行毎に異なる場合、各行の画素のノードに蓄積されている電荷が時間の経過と共にリークしてしまうと、画素の出力信号の電位が行毎に異なってしまい、行毎にその階調数が変化した画像データが得られてしまう。そこで、トランジスタM5及びトランジスタM6としてOSトランジスタを適用することで、ノードの電位変化を極めて小さくすることができる。すなわち、グローバルシャッタ方式を用いて撮像を行っても、電荷保持期間が異なることに起因する画像データの階調の変化を小さく抑え、撮像された画像の品質を向上させることができる。
一方で、トランジスタM7には、半導体層に低温ポリシリコンを用いたLTPSトランジスタを適用することが好ましい。LTPSトランジスタは、OSトランジスタよりも、高い電界効果移動度を実現することができ、駆動能力及び電流能力に優れる。そのため、トランジスタM7では、トランジスタM5及びトランジスタM6に比較して、より高速な動作が可能となる。トランジスタM7にLTPSトランジスタを用いることで、受光素子PDの受光量に基づく微小の電位に応じた出力を、トランジスタM8に対して素早く行うことができる。
つまり、撮像画素22において、トランジスタM5及びトランジスタM6はリーク電流が少なく、かつ、トランジスタM7は駆動能力が高いことで、受光素子PDで受光し、トランジスタM5を介して転送された電荷がリークすることなく保持でき、かつ、高速で読出しを行うことができる。
トランジスタM8は、トランジスタM7からの出力を配線WXに流すスイッチとして機能するため、トランジスタM5乃至トランジスタM7のように、小さいオフ電流及び高速動作等は必ずしも求められない。そのため、トランジスタM8の半導体層には、低温ポリシリコンを適用してもよいし、酸化物半導体を適用してもよい。
なお、図2B、図2Cにおいて、トランジスタをnチャネル型のトランジスタとして表記しているが、pチャネル型のトランジスタを用いることもできる。
また、画素21及び撮像画素22が有する各トランジスタは、同一基板上に並べて形成されることが好ましい。
〔駆動方法例2−2〕
図2Cに示す撮像画素22の駆動方法の一例について、図3Bに示すタイミングチャートを用いて説明する。図3Bには、配線TX、1行目の配線SE[1]、M行目の配線SE[M]、配線RS、及び配線WXに入力される信号を示している。
図2Cに示す撮像画素22の駆動方法の一例について、図3Bに示すタイミングチャートを用いて説明する。図3Bには、配線TX、1行目の配線SE[1]、M行目の配線SE[M]、配線RS、及び配線WXに入力される信号を示している。
〈時刻T21以前〉
時刻T21以前において、配線TX、配線SE、及び配線RSにはローレベル電位が与えられる。また、配線WXはデータが出力されていない状態であり、ここではローレベル電位として示している。なお、配線WXに所定の電位が与えられていてもよい。
時刻T21以前において、配線TX、配線SE、及び配線RSにはローレベル電位が与えられる。また、配線WXはデータが出力されていない状態であり、ここではローレベル電位として示している。なお、配線WXに所定の電位が与えられていてもよい。
〈期間T21−T22〉
時刻T21から時刻T22までの期間は、初期化期間(リセット期間ともいう)に相当する。時刻T21において、配線TXと配線RSに、トランジスタを導通状態とする電位(ここではハイレベル電位)が与えられる。また配線SEには、トランジスタを非導通状態とする電位(ここではローレベル電位)が与えられる。
時刻T21から時刻T22までの期間は、初期化期間(リセット期間ともいう)に相当する。時刻T21において、配線TXと配線RSに、トランジスタを導通状態とする電位(ここではハイレベル電位)が与えられる。また配線SEには、トランジスタを非導通状態とする電位(ここではローレベル電位)が与えられる。
このとき、トランジスタM5とトランジスタM6とが導通状態となることで、配線V1からトランジスタM6及びトランジスタM5を介して、受光素子PDのアノード電極に、カソード電極の電位よりも低い電位が与えられる。すなわち、受光素子PDに逆バイアス電圧が印加された状態となる。
また、容量C2の第1の電極にも、配線V1の電位が供給され、容量C2が充電された状態となる。
〈期間T22−T23〉
時刻T22から時刻T23までの期間は、露光期間に相当する。時刻T22において、配線TX及び配線RSに、ローレベル電位が与えられる。これにより、トランジスタM5とトランジスタM6とが互いに非導通状態となる。
時刻T22から時刻T23までの期間は、露光期間に相当する。時刻T22において、配線TX及び配線RSに、ローレベル電位が与えられる。これにより、トランジスタM5とトランジスタM6とが互いに非導通状態となる。
トランジスタM5が非導通状態となるため、受光素子PDには逆バイアス電圧が印加された状態で保持される。ここで、受光素子PDに入射される光によって光電変換が起こり、受光素子PDのアノード電極に電荷が蓄積される。
露光期間の長さは、受光素子PDの感度、入射光の光量などに応じて設定すればよいが、少なくとも初期化期間と比較して十分に長い期間を設定することが好ましい。
また、期間T22−T23において、トランジスタM5及びトランジスタM6が非導通状態となるため、容量C2の第1の電極の電位は、配線V1から供給されるローレベル電位に保持された状態となる。
〈期間T23−T24〉
時刻T23から時刻T24までの期間は、転送期間に相当する。時刻T23において、配線TXにハイレベル電位が与えられる。これにより、トランジスタM5が導通状態となり、受光素子PDに蓄積された電荷が、トランジスタM5を介して容量C2の第1の電極に転送される。これにより、容量C2の第1の電極が接続されるノードの電位は、受光素子PDに蓄積された電荷量に応じて上昇する。その結果、トランジスタM7のゲートには、受光素子PDの露光量に応じた電位が与えられた状態となる。
時刻T23から時刻T24までの期間は、転送期間に相当する。時刻T23において、配線TXにハイレベル電位が与えられる。これにより、トランジスタM5が導通状態となり、受光素子PDに蓄積された電荷が、トランジスタM5を介して容量C2の第1の電極に転送される。これにより、容量C2の第1の電極が接続されるノードの電位は、受光素子PDに蓄積された電荷量に応じて上昇する。その結果、トランジスタM7のゲートには、受光素子PDの露光量に応じた電位が与えられた状態となる。
〈期間T24−T25〉
時刻T24において、配線TXにローレベル電位が与えられる。これにより、トランジスタM5が非導通状態となり、トランジスタM7のゲートが接続されるノードがフローティング状態となる。受光素子PDの露光は常に生じているため、期間T23−T24における転送動作が完了した後に、トランジスタM5を非導通状態とすることで、トランジスタM7のゲートが接続されるノードの電位が変化することを防ぐことができる。
時刻T24において、配線TXにローレベル電位が与えられる。これにより、トランジスタM5が非導通状態となり、トランジスタM7のゲートが接続されるノードがフローティング状態となる。受光素子PDの露光は常に生じているため、期間T23−T24における転送動作が完了した後に、トランジスタM5を非導通状態とすることで、トランジスタM7のゲートが接続されるノードの電位が変化することを防ぐことができる。
〈期間T25−T26〉
時刻T25から時刻T26までの期間は、読出し期間に相当する。時刻T25において、まず配線SE[1]にハイレベル電位が与えられ、これにより、1行目の撮像画素22におけるトランジスタM8が導通状態となる。
時刻T25から時刻T26までの期間は、読出し期間に相当する。時刻T25において、まず配線SE[1]にハイレベル電位が与えられ、これにより、1行目の撮像画素22におけるトランジスタM8が導通状態となる。
例えば、トランジスタM7と回路部15が有するトランジスタとでソースフォロワ回路を構成し、データを読み出すことができる。この場合、配線WXに出力されるデータ電位DSは、トランジスタM7のゲート電位に応じて決定される。具体的には、トランジスタM7のゲート電位から、トランジスタM7のしきい値電圧を差し引いた電位が、データ電位DSとして配線WXに出力され、当該電位を回路部15が有する読出し回路により読み出される。
なお、トランジスタM7と回路部15が有するトランジスタとでソース接地回路を構成し、回路部15が有する読出し回路により、データを読み出すこともできる。
読出し動作は、1行目からM行目まで順に行われる。配線WXには、M個のデータ電位DSが順に出力されることになる。
〈時刻T26以降〉
時刻T26において、配線SEにローレベル電位が与えられる。これにより、トランジスタM8が非導通状態となる。これにより、撮像画素22のデータの読出しが完了する。時刻T26以降は、次の行以降のデータの読出し動作が順次行われる。
時刻T26において、配線SEにローレベル電位が与えられる。これにより、トランジスタM8が非導通状態となる。これにより、撮像画素22のデータの読出しが完了する。時刻T26以降は、次の行以降のデータの読出し動作が順次行われる。
図3Bで例示した駆動方法を用いることで、露光期間と読出し期間を別々に設定することができるため、表示部11に設けられた全ての撮像画素22で同時に露光し、その後、データを順次読み出すことができる。これにより、いわゆるグローバルシャッタ駆動を実現できる。グローバルシャッタ駆動を実行する場合には、撮像画素22内のスイッチとして機能するトランジスタ(特にトランジスタM5及びトランジスタM6)に、非導通状態におけるリーク電流が極めて低い、酸化物半導体が適用されたトランジスタを用いることが好ましい。
ここで、少なくとも図3Bで示した露光期間が、図1Cにおける撮像期間に相当する。また、少なくとも図3Bで示した読出し期間が、図1CにおけるR読出し期間、G読出し期間、及びB読出し期間に相当する。なお、図3Bで示した初期化期間は、撮像期間に含めることが好ましい。また、図3Bで示した転送期間は、R読出し期間等に含めてもよいが、撮像期間に含めることで、転送期間においても電気的なノイズの影響を抑制することができるため好ましい。
なお、上記ではM×N個の全ての撮像画素22について、データの読出しを行う例を示したが、タッチパネルとしての動作、すなわち対象物の位置情報の検出を目的とする場合など、高い解像度が不要となる場合がある。そのときには、データを読み出す行、列、または行及び列を間引くことで、少ないデータの読出しを行うことができる。これにより、読出しにかかる時間を短縮することが可能となり、高いフレーム周波数を実現できる。例えば、奇数行または偶数行のみを読み出すことで、読出し期間を半分にすることができる。また、高精細な画像を撮像するとき(例えばイメージスキャンなど)と、タッチセンシングを行うときとで、読出し方法を切り替えられる構成とすることが好ましい。
以上が、撮像画素22の駆動方法の例についての説明である。
本実施の形態は、少なくともその一部を本明細書中に記載する他の実施の形態と適宜組み合わせて実施することができる。
(実施の形態2)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置について説明する。以下で例示する表示装置には、実施の形態1で説明した表示装置の駆動方法を好適に適用することができる。
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置について説明する。以下で例示する表示装置には、実施の形態1で説明した表示装置の駆動方法を好適に適用することができる。
本発明の一態様では、発光素子として有機EL素子(有機ELデバイスともいう)を用い、受光素子として有機フォトダイオードを用いる。有機EL素子及び有機フォトダイオードは、同一基板上に形成することができる。したがって、有機EL素子を用いた表示装置に有機フォトダイオードを内蔵することができる。
有機EL素子及び有機フォトダイオードを構成する全ての層を作り分ける場合、成膜工程数が膨大になってしまう。しかしながら有機フォトダイオードは、有機EL素子と共通の構成にできる層が多いため、共通の構成にできる層は一括で成膜することで、成膜工程の増加を抑制することができる。
例えば、一対の電極のうち一方(共通電極)を、受光素子及び発光素子で共通の層とすることができる。また、例えば、正孔注入層、正孔輸送層、電子輸送層、及び電子注入層の少なくとも1つを、受光素子及び発光素子で共通の層とすることが好ましい。また、例えば、受光素子が活性層を有し、発光素子が発光層を有する以外は、受光素子と発光素子とで同一の構成にすることもできる。つまり、発光素子の発光層を、活性層に置き換えるのみで、受光素子を作製することもできる。このように、受光素子及び発光素子が共通の層を有することで、成膜回数及びマスクの数を減らすことができ、表示装置の作製工程及び作製コストを削減することができる。また、表示装置の既存の製造装置及び製造方法を用いて、受光素子を有する表示装置を作製することができる。
なお、受光素子と発光素子に共通する層は、発光素子における機能と受光素子における機能とが異なる場合がある。本明細書中では、発光素子における機能に基づいて構成要素を呼称する。例えば、正孔注入層は、発光素子において正孔注入層として機能し、受光素子において正孔輸送層として機能する。同様に、電子注入層は、発光素子において電子注入層として機能し、受光素子において電子輸送層として機能する。また、受光素子と発光素子に共通する層は、発光素子における機能と受光素子における機能とが同一である場合もある。正孔輸送層は、発光素子及び受光素子のいずれにおいても、正孔輸送層として機能し、電子輸送層は、発光素子及び受光素子のいずれにおいても、電子輸送層として機能する。
また、本発明の一態様の表示装置において、いずれかの色を呈する副画素は、発光素子の代わりに受発光素子を有し、その他の色を呈する副画素は、発光素子を有する構成としてもよい。受発光素子は、光を発する機能(発光機能)と、受光する機能(受光機能)と、の双方を有する素子である。例えば、画素が、赤色の副画素、緑色の副画素、青色の副画素の3つの副画素を有する場合、少なくとも1つの副画素が受発光素子を有し、他の副画素は発光素子を有する構成とする。したがって、本発明の一態様の表示装置の表示部は、受発光素子と発光素子との双方を用いて画像を表示する機能を有する。
受発光素子が、発光素子と受光素子を兼ねることで、画素に含まれる副画素の数を増やさずに、画素に受光機能を付与することができる。これにより、画素の開口率(各副画素の開口率)、及び、表示装置の精細度を維持したまま、表示装置の表示部に、撮像機能及びセンシング機能の一方または双方を付加することができる。したがって、本発明の一態様の表示装置は、発光素子を有する副画素とは別に、受光素子を有する副画素を設ける場合に比べ、画素の開口率を高くでき、また、高精細化が容易である。
受発光素子は、有機EL素子と有機フォトダイオードを組み合わせて作製することができる。例えば、有機EL素子の積層構造に、有機フォトダイオードの活性層を追加することで、受発光素子を作製することができる。さらに、有機EL素子と有機フォトダイオードを組み合わせて作製する受発光素子は、有機EL素子と共通の構成にできる層を一括で成膜することで、成膜工程の増加を抑制することができる。
以下では、本発明の一態様の表示装置について、図面を用いてより具体的に説明する。
[表示装置の構成例1]
〔構成例1−1〕
図4Aに、表示パネル200の模式図を示す。表示パネル200は、基板201、基板202、受光素子212、発光素子211R、発光素子211G、発光素子211B、機能層203等を有する。
〔構成例1−1〕
図4Aに、表示パネル200の模式図を示す。表示パネル200は、基板201、基板202、受光素子212、発光素子211R、発光素子211G、発光素子211B、機能層203等を有する。
発光素子211R、発光素子211G、発光素子211B、及び受光素子212は、基板201と基板202の間に設けられている。発光素子211R、発光素子211G、発光素子211Bは、それぞれ赤色(R)、緑色(G)、または青色(B)の光を発する。なお以下では、発光素子211R、発光素子211G及び発光素子211Bを区別しない場合に、発光素子211と表記する場合がある。
表示パネル200は、マトリクス状に配置された複数の画素を有する。1つの画素は、1つ以上の副画素を有する。1つの副画素は、1つの発光素子を有する。例えば、画素には、副画素を3つ有する構成(R、G、Bの3色、または、黄色(Y)、シアン(C)、及びマゼンタ(M)の3色など)、または、副画素を4つ有する構成(R、G、B、白色(W)の4色、または、R、G、B、Yの4色など)を適用できる。さらに、画素は、受光素子212を有する。受光素子212は、全ての画素に設けられていてもよく、一部の画素に設けられていてもよい。また、1つの画素が複数の受光素子212を有していてもよい。
図4Aには、基板202の表面に指220が近づいている様子を示している。発光素子211Gが発する光の一部は、指220で反射される。そして、反射光の一部が、受光素子212に入射されることにより、指220が基板202の上方に近づいていることを検出することができる。すなわち、表示パネル200は非接触型のタッチパネルとして機能することができる。なお、指220が基板202に接触した場合でも検出できるため、表示パネル200は、接触型のタッチパネル(単にタッチパネルともいう)としても機能する。
機能層203は、発光素子211R、発光素子211G、発光素子211Bを駆動する回路、及び、受光素子212を駆動する回路を有する。機能層203には、スイッチ、トランジスタ、容量、配線などが設けられる。なお、発光素子211R、発光素子211G、発光素子211B、及び受光素子212をパッシブマトリクス方式で駆動させる場合には、スイッチ、トランジスタなどを設けない構成としてもよい。
表示パネル200は、指220の指紋を検出する機能を有することが好ましい。図4Bには、基板202に指220が触れている状態における接触部の拡大図を模式的に示している。また、図4Bには、交互に配列した発光素子211と受光素子212を示している。
指220は凹部及び凸部により指紋が形成されている。そのため、図4Bに示すように指紋の凸部が基板202に触れている。
ある表面または界面から反射される光には、正反射と拡散反射とがある。正反射光は入射角と反射角が一致する、指向性の高い光であり、拡散反射光は、強度の角度依存性が低い、指向性の低い光である。指220の表面から反射される光は、正反射と拡散反射のうち拡散反射の成分が支配的となる。一方、基板202と大気との界面から反射される光は、正反射の成分が支配的となる。
指220と基板202との接触面または非接触面で反射され、これらの直下に位置する受光素子212に入射される光の強度は、正反射光と拡散反射光とを足し合わせたものとなる。上述のように指220の凹部では基板202と指220が接触しないため、正反射光(実線矢印で示す)が支配的となり、凸部ではこれらが接触するため、指220からの拡散反射光(破線矢印で示す)が支配的となる。したがって、凹部の直下に位置する受光素子212で受光する光の強度は、凸部の直下に位置する受光素子212よりも高くなる。これにより、指220の指紋を撮像することができる。
受光素子212の配列間隔は、指紋の2つの凸部間の距離、好ましくは隣接する凹部と凸部間の距離よりも小さい間隔とすることで、鮮明な指紋の画像を取得することができる。人の指紋の凹部と凸部の間隔は概ね200μmであることから、例えば受光素子212の配列間隔は、400μm以下、好ましくは200μm以下、より好ましくは150μm以下、さらに好ましくは100μm以下、さらに好ましくは50μm以下であって、1μm以上、好ましくは10μm以上、より好ましくは20μm以上とする。
表示パネル200で撮像した指紋の画像の例を図4Cに示す。図4Cには、撮像範囲223内に、指220の輪郭を破線で、接触部221の輪郭を一点鎖線で示している。接触部221内において、受光素子212に入射する光量の違いによって、コントラストの高い指紋222を撮像することができる。
なお、指220と基板202とが接していない場合であっても、指220の指紋の凹凸形状を撮像することで、指紋の撮像を行うこともできる。
表示パネル200は、タッチパネル、ペンタブレットなどとしても機能させることができる。図4Dには、スタイラス225の先端を基板202に近づけた状態で、破線矢印の方向に滑らせている様子を示している。
図4Dに示すように、スタイラス225の先端で拡散される拡散反射光が、当該先端と重なる部分に位置する受光素子212に入射することで、スタイラス225の先端の位置を高精度に検出することができる。
図4Eには、表示パネル200で検出したスタイラス225の軌跡226の例を示している。表示パネル200は、高い位置精度でスタイラス225等の被検出体の位置検出が可能であるため、描画アプリケーション等において、高精細な描画を行うことも可能である。また、静電容量式のタッチセンサ、電磁誘導型のタッチペン等を用いた場合とは異なり、絶縁性の高い被検出体であっても位置検出が可能であるため、スタイラス225の先端部の材料は問われず、様々な筆記用具(例えば筆、ガラスペン、羽ペンなど)を用いることもできる。
ここで、図4F乃至図4Hに、表示パネル200に適用可能な画素の一例を示す。
図4F、及び図4Gに示す画素は、それぞれ赤色(R)の発光素子211R、緑色(G)の発光素子211G、青色(B)の発光素子211Bと、受光素子212を有する。画素は、それぞれ発光素子211R、発光素子211G、発光素子211B、及び受光素子212を駆動するための画素回路を有する。
図4Fは、2×2のマトリクス状に、3つの発光素子と1つの受光素子が配置されている例である。図4Gは、3つの発光素子が一列に配列し、その下側に、横長の1つの受光素子212が配置されている例である。
図4Hに示す画素は、白色(W)の発光素子211Wを有する例である。ここでは、4つの発光素子が一列に配置され、その下側に受光素子212が配置されている。
なお、画素の構成は上記に限られず、様々な配置方法を採用することができる。
〔構成例1−2〕
以下では、可視光を呈する発光素子と、赤外光を呈する発光素子と、受光素子と、を備える構成の例について説明する。
以下では、可視光を呈する発光素子と、赤外光を呈する発光素子と、受光素子と、を備える構成の例について説明する。
図5Aに示す表示パネル200Aは、図4Aで例示した構成に加えて、発光素子211IRを有する。発光素子211IRは、赤外光IRを発する発光素子である。またこのとき、受光素子212には、少なくとも発光素子211IRが発する赤外光IRを受光することのできる素子を用いることが好ましい。また、受光素子212として、可視光と赤外光の両方を受光することのできる素子を用いることがより好ましい。
図5Aに示すように、基板202に指220が近づくと、発光素子211IRから発せられた赤外光IRが指220により反射され、当該反射光の一部が受光素子212に入射されることにより、指220の位置情報を取得することができる。
図5B乃至図5Dに、表示パネル200Aに適用可能な画素の一例を示す。
図5Bは、3つの発光素子が一列に配列し、その下側に、発光素子211IRと、受光素子212とが横に並んで配置されている例である。また、図5Cは、発光素子211IRを含む4つの発光素子が一列に配列し、その下側に、受光素子212が配置されている例である。
また、図5Dは、発光素子211IRを中心にして、四方に3つの発光素子と、受光素子212が配置されている例である。
なお、図5B乃至図5Dに示す画素において、発光素子同士、及び発光素子と受光素子とは、それぞれの位置を交換可能である。
以上のように、本実施の形態の表示装置には、様々な配列の画素を適用することができる。
[デバイス構造]
次に、本発明の一態様の表示装置に用いることができる、発光素子、及び受光素子の詳細な構成について説明する。
次に、本発明の一態様の表示装置に用いることができる、発光素子、及び受光素子の詳細な構成について説明する。
本発明の一態様の表示装置は、発光素子が形成されている基板とは反対方向に光を射出するトップエミッション型、発光素子が形成されている基板側に光を射出するボトムエミッション型、両面に光を射出するデュアルエミッション型のいずれであってもよい。
本実施の形態では、トップエミッション型の表示装置を例に挙げて説明する。
なお、本明細書等において、特に説明のない限り、要素(発光素子、発光層など)を複数有する構成を説明する場合であっても、各々の要素に共通する事項を説明する場合には、アルファベットを省略して説明する。例えば、発光層283R及び発光層283G等に共通する事項を説明する場合に、発光層283と記す場合がある。
図6Aに示す表示装置280Aは、受光素子270PD、赤色(R)の光を発する発光素子270R、緑色(G)の光を発する発光素子270G、及び、青色(B)の光を発する発光素子270Bを有する。
各発光素子は、画素電極271、正孔注入層281、正孔輸送層282、発光層、電子輸送層284、電子注入層285、及び共通電極275をこの順で積層して有する。発光素子270Rは、発光層283Rを有し、発光素子270Gは、発光層283Gを有し、発光素子270Bは、発光層283Bを有する。発光層283Rは、赤色の光を発する発光物質を有し、発光層283Gは、緑色の光を発する発光物質を有し、発光層283Bは、青色の光を発する発光物質を有する。
発光素子は、画素電極271と共通電極275との間に電圧を印加することで、共通電極275側に光を射出する電界発光素子である。
受光素子270PDは、画素電極271、正孔注入層281、正孔輸送層282、活性層273、電子輸送層284、電子注入層285、及び共通電極275をこの順で積層して有する。
受光素子270PDは、表示装置280Aの外部から入射される光を受光し、電気信号に変換する、光電変換素子である。
本実施の形態では、発光素子及び受光素子のいずれにおいても、画素電極271が陽極として機能し、共通電極275が陰極として機能するものとして説明する。つまり、受光素子は、画素電極271と共通電極275との間に逆バイアスをかけて駆動することで、受光素子に入射する光を検出し、電荷を発生させ、電流として取り出すことができる。
本実施の形態の表示装置では、受光素子270PDの活性層273に有機化合物を用いる。受光素子270PDは、活性層273以外の層を、発光素子と共通の構成にすることができる。そのため、発光素子の作製工程に、活性層273を成膜する工程を追加するのみで、発光素子の形成と並行して受光素子270PDを形成することができる。また、発光素子と受光素子270PDとを同一基板上に形成することができる。したがって、作製工程を大幅に増やすことなく、表示装置に受光素子270PDを内蔵することができる。
表示装置280Aでは、受光素子270PDの活性層273と、発光素子の発光層283と、を作り分ける以外は、受光素子270PDと発光素子が共通の構成である例を示す。ただし、受光素子270PDと発光素子の構成はこれに限定されない。受光素子270PDと発光素子は、活性層273と発光層283のほかにも、互いに作り分ける層を有していてもよい。受光素子270PDと発光素子は、共通で用いられる層(共通層)を1層以上有することが好ましい。これにより、作製工程を大幅に増やすことなく、表示装置に受光素子270PDを内蔵することができる。
画素電極271と共通電極275のうち、光を取り出す側の電極には、可視光を透過する導電膜を用いる。また、光を取り出さない側の電極には、可視光を反射する導電膜を用いることが好ましい。
本実施の形態の表示装置が有する発光素子には、微小光共振器(マイクロキャビティ)構造が適用されていることが好ましい。したがって、発光素子が有する一対の電極の一方は、可視光に対する透過性及び反射性を有する電極(半透過・半反射電極)を有することが好ましく、他方は、可視光に対する反射性を有する電極(反射電極)を有することが好ましい。発光素子がマイクロキャビティ構造を有することで、発光層から得られる発光を両電極間で共振させ、発光素子から射出される光を強めることができる。
なお、半透過・半反射電極は、反射電極と可視光に対する透過性を有する電極(透明電極ともいう)との積層構造とすることができる。
透明電極の光の透過率は、40%以上とする。例えば、発光素子には、可視光(波長400nm以上750nm未満の光)の透過率が40%以上である電極を用いることが好ましい。半透過・半反射電極の可視光の反射率は、10%以上95%以下、好ましくは30%以上80%以下とする。反射電極の可視光の反射率は、40%以上100%以下、好ましくは70%以上100%以下とする。また、これらの電極の抵抗率は、1×10−2Ωcm以下が好ましい。なお、発光素子が近赤外光(波長750nm以上1300nm以下の光)を発する場合、これらの電極の近赤外光の透過率または反射率は、可視光の透過率または反射率と同様に、上記の数値範囲を満たすことが好ましい。
発光素子は少なくとも発光層283を有する。発光素子は、発光層283以外の層として、正孔注入性の高い物質、正孔輸送性の高い物質、正孔ブロック材料、電子輸送性の高い物質、電子注入性の高い物質、電子ブロック材料、またはバイポーラ性の物質(電子輸送性及び正孔輸送性が高い物質)等を含む層をさらに有していてもよい。
例えば、発光素子及び受光素子は、正孔注入層、正孔輸送層、電子輸送層、及び電子注入層のうち1層以上を共通の構成とすることができる。また、発光素子及び受光素子は、正孔注入層、正孔輸送層、電子輸送層、及び電子注入層のうち1層以上を互いに作り分けることができる。
正孔注入層は、陽極から正孔輸送層に正孔を注入する層であり、正孔注入性の高い材料を含む層である。正孔注入性の高い材料としては、正孔輸送性材料とアクセプター性材料(電子受容性材料)とを含む複合材料、または芳香族アミン化合物(芳香族アミン骨格を有する化合物)などを用いることができる。
発光素子において、正孔輸送層は、正孔注入層によって、陽極から注入された正孔を発光層に輸送する層である。受光素子において、正孔輸送層は、活性層において入射した光に基づき発生した正孔を陽極に輸送する層である。正孔輸送層は、正孔輸送性材料を含む層である。正孔輸送性材料としては、1×10−6cm2/Vs以上の正孔移動度を有する物質が好ましい。なお、電子よりも正孔の輸送性の高い物質であれば、これら以外のものも用いることができる。正孔輸送性材料としては、π電子過剰型複素芳香族化合物(例えばカルバゾール誘導体、チオフェン誘導体、フラン誘導体など)、芳香族アミン化合物等の正孔輸送性の高い材料が好ましい。
発光素子において、電子輸送層は、電子注入層によって、陰極から注入された電子を発光層に輸送する層である。受光素子において、電子輸送層は、活性層において入射した光に基づき発生した電子を陰極に輸送する層である。電子輸送層は、電子輸送性材料を含む層である。電子輸送性材料としては、1×10−6cm2/Vs以上の電子移動度を有する物質が好ましい。なお、正孔よりも電子の輸送性の高い物質であれば、これら以外のものも用いることができる。電子輸送性材料としては、キノリン骨格を有する金属錯体、ベンゾキノリン骨格を有する金属錯体、オキサゾール骨格を有する金属錯体、チアゾール骨格を有する金属錯体等の他、オキサジアゾール誘導体、トリアゾール誘導体、イミダゾール誘導体、オキサゾール誘導体、チアゾール誘導体、フェナントロリン誘導体、キノリン配位子を有するキノリン誘導体、ベンゾキノリン誘導体、キノキサリン誘導体、ジベンゾキノキサリン誘導体、ピリジン誘導体、ビピリジン誘導体、ピリミジン誘導体、その他含窒素複素芳香族化合物を含むπ電子不足型複素芳香族化合物等の電子輸送性の高い材料を用いることができる。
電子注入層は、陰極から電子輸送層に電子を注入する層であり、電子注入性の高い材料を含む層である。電子注入性の高い材料としては、アルカリ金属、アルカリ土類金属、またはそれらの化合物を用いることができる。電子注入性の高い材料としては、電子輸送性材料とドナー性材料(電子供与性材料)とを含む複合材料を用いることもできる。
発光層283は、発光物質を含む層である。発光層283は、1種または複数種の発光物質を有することができる。発光物質としては、青色、紫色、青紫色、緑色、黄緑色、黄色、橙色、赤色などの発光色を呈する物質を適宜用いる。また、発光物質として、近赤外光を発する物質を用いることもできる。
発光物質としては、蛍光材料、燐光材料、TADF材料、量子ドット材料などが挙げられる。
蛍光材料としては、例えば、ピレン誘導体、アントラセン誘導体、トリフェニレン誘導体、フルオレン誘導体、カルバゾール誘導体、ジベンゾチオフェン誘導体、ジベンゾフラン誘導体、ジベンゾキノキサリン誘導体、キノキサリン誘導体、ピリジン誘導体、ピリミジン誘導体、フェナントレン誘導体、ナフタレン誘導体などが挙げられる。
燐光材料としては、例えば、4H−トリアゾール骨格、1H−トリアゾール骨格、イミダゾール骨格、ピリミジン骨格、ピラジン骨格、またはピリジン骨格を有する有機金属錯体(特にイリジウム錯体)、電子吸引基を有するフェニルピリジン誘導体を配位子とする有機金属錯体(特にイリジウム錯体)、白金錯体、希土類金属錯体等が挙げられる。
発光層283は、発光物質(ゲスト材料)に加えて、1種または複数種の有機化合物(ホスト材料、アシスト材料等)を有していてもよい。1種または複数種の有機化合物としては、正孔輸送性材料及び電子輸送性材料の一方または双方を用いることができる。また、1種または複数種の有機化合物として、バイポーラ性材料、またはTADF材料を用いてもよい。
発光層283は、例えば、燐光材料と、励起錯体を形成しやすい組み合わせである正孔輸送性材料及び電子輸送性材料と、を有することが好ましい。このような構成とすることにより、励起錯体から発光物質(燐光材料)へのエネルギー移動であるExTET(Exciplex−Triplet Energy Transfer)を用いた発光を効率よく得ることができる。発光物質の最も低エネルギー側の吸収帯の波長と重なるような発光を呈する励起錯体を形成するような組み合わせを選択することで、エネルギー移動がスムーズとなり、効率よく発光を得ることができる。この構成により、発光素子の高効率、低電圧駆動、長寿命を同時に実現できる。
励起錯体を形成する材料の組み合わせとしては、正孔輸送性材料のHOMO準位(最高被占有軌道準位)が電子輸送性材料のHOMO準位以上の値であると好ましい。正孔輸送性材料のLUMO準位(最低空軌道準位)が電子輸送性材料のLUMO準位以上の値であると好ましい。材料のLUMO準位及びHOMO準位は、サイクリックボルタンメトリ(CV)測定によって測定される材料の電気化学特性(還元電位及び酸化電位)から導出することができる。
励起錯体の形成は、例えば正孔輸送性材料の発光スペクトル、電子輸送性材料の発光スペクトル、及びこれら材料を混合した混合膜の発光スペクトルを比較し、混合膜の発光スペクトルが、各材料の発光スペクトルよりも長波長シフトする(または長波長側に新たなピークを持つ)現象を観測することにより確認することができる。または、正孔輸送性材料の過渡フォトルミネッセンス(PL)、電子輸送性材料の過渡PL、及びこれら材料を混合した混合膜の過渡PLを比較し、混合膜の過渡PL寿命が、各材料の過渡PL寿命よりも長寿命成分を有する、または遅延成分の割合が大きくなるなどの過渡応答の違いを観測することにより、確認することができる。また、上述の過渡PLは過渡エレクトロルミネッセンス(EL)と読み替えても構わない。すなわち、正孔輸送性材料の過渡EL、電子輸送性を有する材料の過渡EL、及びこれらの混合膜の過渡ELを比較し、過渡応答の違いを観測することによっても、励起錯体の形成を確認することができる。
活性層273は、半導体を含む。当該半導体としては、シリコンなどの無機半導体、及び、有機化合物を含む有機半導体が挙げられる。本実施の形態では、活性層273が有する半導体として、有機半導体を用いる例を示す。有機半導体を用いることで、発光層283と、活性層273と、を同じ方法(例えば、真空蒸着法)で形成することができ、製造装置を共通化できるため好ましい。
活性層273が有するn型半導体の材料としては、フラーレン(例えばC60、C70等)、フラーレン誘導体等の電子受容性の有機半導体材料が挙げられる。フラーレンは、サッカーボールのような形状を有し、当該形状はエネルギー的に安定である。フラーレンは、HOMO準位及びLUMO準位の双方が深い(低い)。フラーレンは、LUMO準位が深いため、電子受容性(アクセプター性)が極めて高い。通常、ベンゼンのように、平面にπ電子共役(共鳴)が広がると、電子供与性(ドナー性)が高くなるが、フラーレンは球体形状であるため、π電子が大きく広がっているにも関わらず、電子受容性が高くなる。電子受容性が高いと、電荷分離を高速に効率よく起こすため、受光素子として有益である。C60、C70ともに可視光領域に広い吸収帯を有しており、特にC70はC60に比べてπ電子共役系が大きく、長波長領域にも広い吸収帯を有するため好ましい。
また、n型半導体の材料としては、キノリン骨格を有する金属錯体、ベンゾキノリン骨格を有する金属錯体、オキサゾール骨格を有する金属錯体、チアゾール骨格を有する金属錯体、オキサジアゾール誘導体、トリアゾール誘導体、イミダゾール誘導体、オキサゾール誘導体、チアゾール誘導体、フェナントロリン誘導体、キノリン誘導体、ベンゾキノリン誘導体、キノキサリン誘導体、ジベンゾキノキサリン誘導体、ピリジン誘導体、ビピリジン誘導体、ピリミジン誘導体、ナフタレン誘導体、アントラセン誘導体、クマリン誘導体、ローダミン誘導体、トリアジン誘導体、キノン誘導体等が挙げられる。
活性層273が有するp型半導体の材料としては、銅(II)フタロシアニン(Copper(II) phthalocyanine;CuPc)、テトラフェニルジベンゾペリフランテン(Tetraphenyldibenzoperiflanthene;DBP)、亜鉛フタロシアニン(Zinc Phthalocyanine;ZnPc)、スズフタロシアニン(SnPc)、キナクリドン等の電子供与性の有機半導体材料が挙げられる。
また、p型半導体の材料としては、カルバゾール誘導体、チオフェン誘導体、フラン誘導体、芳香族アミン骨格を有する化合物等が挙げられる。さらに、p型半導体の材料としては、ナフタレン誘導体、アントラセン誘導体、ピレン誘導体、トリフェニレン誘導体、フルオレン誘導体、ピロール誘導体、ベンゾフラン誘導体、ベンゾチオフェン誘導体、インドール誘導体、ジベンゾフラン誘導体、ジベンゾチオフェン誘導体、インドロカルバゾール誘導体、ポルフィリン誘導体、フタロシアニン誘導体、ナフタロシアニン誘導体、キナクリドン誘導体、ポリフェニレンビニレン誘導体、ポリパラフェニレン誘導体、ポリフルオレン誘導体、ポリビニルカルバゾール誘導体、ポリチオフェン誘導体等が挙げられる。
電子供与性の有機半導体材料のHOMO準位は、電子受容性の有機半導体材料のHOMO準位よりも浅い(高い)ことが好ましい。電子供与性の有機半導体材料のLUMO準位は、電子受容性の有機半導体材料のLUMO準位よりも浅い(高い)ことが好ましい。
電子受容性の有機半導体材料として、球状のフラーレンを用い、電子供与性の有機半導体材料として、平面に近い形状の有機半導体材料を用いることが好ましい。似た形状の分子同士は集まりやすい傾向にあり、同種の分子が凝集すると、分子軌道のエネルギー準位が近いため、キャリア輸送性を高めることができる。
例えば、活性層273は、n型半導体とp型半導体と共蒸着して形成することが好ましい。または、活性層273は、n型半導体とp型半導体とを積層して形成してもよい。
発光素子及び受光素子には低分子系化合物及び高分子系化合物のいずれを用いることもでき、無機化合物を含んでいてもよい。発光素子及び受光素子を構成する層は、それぞれ、蒸着法(真空蒸着法を含む)、転写法、印刷法、インクジェット法、塗布法等の方法で形成することができる。
図6Bに示す表示装置280Bは、受光素子270PDと発光素子270Rが同一の構成である点で、表示装置280Aと異なる。
受光素子270PDと発光素子270Rは、活性層273と発光層283Rを共通して有する。
ここで、受光素子270PDは、検出したい光よりも長波長の光を発する発光素子と共通の構成にすることが好ましい。例えば、青色の光を検出する構成の受光素子270PDは、発光素子270R及び発光素子270Gの一方または双方と同様の構成にすることができる。例えば、緑色の光を検出する構成の受光素子270PDは、発光素子270Rと同様の構成にすることができる。
受光素子270PDと、発光素子270Rと、を共通の構成にすることで、受光素子270PDと、発光素子270Rと、が互いに作り分ける層を有する構成に比べて、成膜工程の数及びマスクの数を削減することができる。したがって、表示装置の作製工程及び作製コストを削減することができる。
また、受光素子270PDと、発光素子270Rと、を共通の構成にすることで、受光素子270PDと、発光素子270Rと、が互いに作り分ける層を有する構成に比べて、位置ずれに対するマージンを狭くできる。これにより、画素の開口率を高めることができ、表示装置の光取り出し効率を高めることができる。これにより、発光素子の寿命を延ばすことができる。また、表示装置は、高い輝度を表現することができる。また、表示装置の高精細度化も可能である。
発光層283Rは、赤色の光を発する発光材料を有する。活性層273は、赤色よりも短波長の光(例えば、緑色の光及び青色の光の一方または双方)を吸収する有機化合物を有する。活性層273は、赤色の光を吸収しにくく、かつ、赤色よりも短波長の光を吸収する有機化合物を有することが好ましい。これにより、発光素子270Rからは赤色の光が効率よく取り出され、受光素子270PDは、高い精度で赤色よりも短波長の光を検出することができる。
また、表示装置280Bでは、発光素子270R及び受光素子270PDが同一の構成である例を示すが、発光素子270R及び受光素子270PDは、それぞれ異なる厚さの光学調整層を有していてもよい。
[表示装置の構成例2]
以下では、本発明の一態様の表示装置の詳細な構成について説明する。ここでは特に、受光素子と発光素子を有する表示装置の例について説明する。
以下では、本発明の一態様の表示装置の詳細な構成について説明する。ここでは特に、受光素子と発光素子を有する表示装置の例について説明する。
〔構成例2−1〕
図7Aに、表示装置300Aの断面図を示す。表示装置300Aは、基板351、基板352、受光素子310、及び発光素子390を有する。
図7Aに、表示装置300Aの断面図を示す。表示装置300Aは、基板351、基板352、受光素子310、及び発光素子390を有する。
発光素子390は、画素電極391、バッファ層312、発光層393、バッファ層314、及び共通電極315をこの順で積層して有する。バッファ層312は、正孔注入層及び正孔輸送層の一方または双方を有することができる。発光層393は、有機化合物を有する。バッファ層314は、電子注入層及び電子輸送層の一方または双方を有することができる。発光素子390は、可視光321を発する機能を有する。なお、表示装置300Aは、さらに、赤外光を発する機能を有する発光素子を有していてもよい。
受光素子310は、画素電極311、バッファ層312、活性層313、バッファ層314、及び共通電極315をこの順で積層して有する。活性層313は、有機化合物を有する。受光素子310は、可視光を検出する機能を有する。なお、受光素子310は、さらに、赤外光を検出する機能を有していてもよい。
バッファ層312、バッファ層314、及び共通電極315は、発光素子390及び受光素子310に共通の層であり、これらに亘って設けられる。バッファ層312、バッファ層314、及び共通電極315は、活性層313及び画素電極311と重なる部分と、発光層393及び画素電極391と重なる部分と、いずれとも重ならない部分と、を有する。
本実施の形態では、発光素子390及び受光素子310のいずれにおいても、画素電極が陽極として機能し、共通電極315が陰極として機能するものとして説明する。つまり、受光素子310を、画素電極311と共通電極315との間に逆バイアスをかけて駆動することで、表示装置300Aは、受光素子310に入射する光を検出し、電荷を発生させ、電流として取り出すことができる。
画素電極311、画素電極391、バッファ層312、活性層313、バッファ層314、発光層393、及び共通電極315は、それぞれ、単層構造であってもよく、積層構造であってもよい。
画素電極311及び画素電極391は、それぞれ絶縁層414上に位置する。各画素電極は、同一の材料及び同一の工程で形成することができる。画素電極311及び画素電極391の端部は、隔壁416によって覆われている。互いに隣り合う2つの画素電極は隔壁416によって互いに電気的に絶縁されている(電気的に分離されている、ともいう)。
隔壁416としては、有機絶縁膜が好適である。有機絶縁膜に用いることができる材料としては、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイミドアミド樹脂、シロキサン樹脂、ベンゾシクロブテン系樹脂、フェノール樹脂、及びこれら樹脂の前駆体等が挙げられる。隔壁416は、可視光を透過する層である。隔壁416のかわりに、可視光を遮る隔壁を設けてもよい。
共通電極315は、受光素子310と発光素子390に共通で用いられる層である。
受光素子310及び発光素子390が有する一対の電極の材料及び膜厚等は等しくすることができる。これにより、表示装置の作製コストの削減及び作製工程の簡略化ができる。
表示装置300Aは、一対の基板(基板351及び基板352)間に、受光素子310、発光素子390、トランジスタ331、及びトランジスタ332等を有する。
受光素子310において、画素電極311及び共通電極315の間に位置するバッファ層312、活性層313、及びバッファ層314は、有機層(有機化合物を含む層)ということもできる。画素電極311は可視光を反射する機能を有することが好ましい。共通電極315は可視光を透過する機能を有する。なお、受光素子310が赤外光を検出する構成である場合、共通電極315は赤外光を透過する機能を有する。さらに、画素電極311は赤外光を反射する機能を有することが好ましい。
受光素子310は、光を検出する機能を有する。具体的には、受光素子310は、表示装置300Aの外部から入射される光322を受光し、電気信号に変換する、光電変換素子である。光322は、発光素子390の発光を対象物が反射した光ということもできる。また、光322は、表示装置300Aに設けられたレンズなどを介して受光素子310に入射してもよい。
発光素子390において、画素電極391及び共通電極315の間に位置するバッファ層312、発光層393、及びバッファ層314は、まとめてEL層ということもできる。なお、EL層は、少なくとも発光層393を有する。上述の通り、画素電極391は可視光を反射する機能を有することが好ましい。また、共通電極315は可視光を透過する機能を有する。なお、表示装置300Aが、赤外光を発する発光素子を有する構成である場合、共通電極315は赤外光を透過する機能を有する。さらに、画素電極391は赤外光を反射する機能を有することが好ましい。
本実施の形態の表示装置が有する発光素子には、微小光共振器(マイクロキャビティ)構造が適用されていることが好ましい。発光素子390は、画素電極391と共通電極315との間に光学調整層を有していてもよい。微小共振器構造が適用されることで、各発光素子から、特定の色の光を強めて取り出すことができる。
発光素子390は、可視光を発する機能を有する。具体的には、発光素子390は、画素電極391と共通電極315との間に電圧を印加することで、基板352側に光(ここでは可視光321)を射出する電界発光素子である。
受光素子310が有する画素電極311は、絶縁層414に設けられた開口を介して、トランジスタ331が有するソースまたはドレインと電気的に接続される。発光素子390が有する画素電極391は、絶縁層414に設けられた開口を介して、トランジスタ332が有するソースまたはドレインと電気的に接続される。
トランジスタ331とトランジスタ332とは、同一の層(図7Aでは基板351)上に接している。
受光素子310と電気的に接続される回路の少なくとも一部は、発光素子390と電気的に接続される回路と同一の材料及び同一の工程で形成されることが好ましい。これにより、2つの回路を別々に形成する場合に比べて、表示装置の厚さを薄くすることができ、また、作製工程を簡略化できる。
受光素子310及び発光素子390は、それぞれ、保護層395に覆われていることが好ましい。図7Aでは、保護層395が、共通電極315上に接して設けられている。保護層395を設けることで、受光素子310及び発光素子390に水などの不純物が入り込むことを抑制し、受光素子310及び発光素子390の信頼性を高めることができる。また、接着層342によって、保護層395と基板352とが貼り合わされている。
基板352の基板351側の面には、遮光層358が設けられている。遮光層358は、発光素子390と重なる位置、及び、受光素子310と重なる位置に開口を有する。
ここで、発光素子390の発光が対象物によって反射された光を受光素子310は検出する。しかし、発光素子390の発光が、表示装置300A内で反射され、対象物を介さずに、受光素子310に入射されてしまう場合がある。遮光層358は、このような迷光の影響を抑制することができる。例えば、遮光層358が設けられていない場合、発光素子390が発した光323は、基板352で反射され、反射光324が受光素子310に入射することがある。遮光層358を設けることで、反射光324が受光素子310に入射することを抑制できる。これにより、ノイズを低減し、受光素子310を用いたセンサの感度を高めることができる。
遮光層358としては、発光素子からの発光を遮る材料を用いることができる。遮光層358は、可視光を吸収することが好ましい。遮光層358として、例えば、金属材料、又は、顔料(カーボンブラックなど)もしくは染料を含む樹脂材料等を用いてブラックマトリクスを形成することができる。遮光層358は、赤色のカラーフィルタ、緑色のカラーフィルタ、及び青色のカラーフィルタの積層構造であってもよい。
〔構成例2−2〕
図7Bに示す表示装置300Bは、レンズ349を有する点で、上記表示装置300Aと主に相違している。
図7Bに示す表示装置300Bは、レンズ349を有する点で、上記表示装置300Aと主に相違している。
レンズ349は、基板352の基板351側に設けられている。外部から入射される光322は、レンズ349を介して受光素子310に入射される。レンズ349及び基板352には、可視光に対する透過性が高い材料を用いることが好ましい。
レンズ349を介して受光素子310に光が入射することで、受光素子310に入射する光の範囲を狭くすることができる。これにより、複数の受光素子310間で、撮像範囲が重なることを抑制でき、ぼやけの少ない鮮明な画像を撮像できる。
また、レンズ349は、入射された光を集光できる。したがって、受光素子310に入射される光の量を増やすことができる。これにより、受光素子310の光電変換効率を高めることができる。
〔構成例2−3〕
図7Cに示す表示装置300Cは、遮光層358の形状が異なる点で、上記表示装置300Aと主に相違している。
図7Cに示す表示装置300Cは、遮光層358の形状が異なる点で、上記表示装置300Aと主に相違している。
遮光層358は、平面視において、受光素子310と重なる開口部が、受光素子310の受光領域よりも内側に位置するように設けられている。遮光層358の受光素子310と重なる開口部の径が小さいほど、受光素子310に入射する光の範囲を狭くすることができる。これにより、複数の受光素子310間で、撮像範囲が重なることを抑制でき、ぼやけの少ない鮮明な画像を撮像できる。
例えば、遮光層358の開口部の面積を、受光素子310の受光領域の面積の80%以下、70%以下、60%以下、50%以下、または40%以下であって、1%以上、5%以上、または10%以上とすることができる。遮光層358の開口部の面積が小さいほど鮮明な画像を撮像することができる。一方、当該開口部の面積が小さすぎると、受光素子310に到達する光の光量が減少し、受光感度が低下する恐れがある。そのため、上述した範囲内で適宜設定することが好ましい。なお、上述した上限値及び下限値は、任意に組み合わせることができる。また、受光素子310の受光領域は、隔壁416の開口部と言い換えることができる。
なお、遮光層358の受光素子310と重なる開口部の中心が、平面視において、受光素子310の受光領域の中心からずれていてもよい。さらには、平面視において、遮光層358の開口部が、受光素子310の受光領域と重ならない構成としてもよい。これにより、遮光層358の開口部を透過した斜め向きの光のみを、受光素子310で受光することができる。これにより、受光素子310に入射する光の範囲をより効果的に限定することができ、鮮明な画像を撮像できる。
〔構成例2−4〕
図8Aに示す表示装置300Dは、バッファ層312が共通層でない点で、上記表示装置300Aと主に相違している。
図8Aに示す表示装置300Dは、バッファ層312が共通層でない点で、上記表示装置300Aと主に相違している。
受光素子310は、画素電極311、バッファ層312、活性層313、バッファ層314、及び共通電極315を有する。発光素子390は、画素電極391、バッファ層392、発光層393、バッファ層314、共通電極315を有する。活性層313、バッファ層312、発光層393、及びバッファ層392は、それぞれ島状の上面形状を有する。
バッファ層312と、バッファ層392とは、異なる材料を含んでもよいし、同じ材料を含んでもよい。
このように、発光素子390と受光素子310とでバッファ層を作り分けることで、発光素子390及び受光素子310に用いるバッファ層の材料の選択の自由度が高まるため、より最適化が容易となる。また、バッファ層314及び共通電極315を共通層とすることで、発光素子390と受光素子310とを別々に作製する場合に比べて、作製工程が簡略化され、製造コストを削減できる。
〔構成例2−5〕
図8Bに示す表示装置300Eは、バッファ層314が共通層でない点で、上記表示装置300Aと主に相違している。
図8Bに示す表示装置300Eは、バッファ層314が共通層でない点で、上記表示装置300Aと主に相違している。
受光素子310は、画素電極311、バッファ層312、活性層313、バッファ層314、及び共通電極315を有する。発光素子390は、画素電極391、バッファ層312、発光層393、バッファ層394、共通電極315を有する。活性層313、バッファ層314、発光層393、及びバッファ層394は、それぞれ島状の上面形状を有する。
バッファ層314と、バッファ層394とは、異なる材料を含んでもよいし、同じ材料を含んでもよい。
このように、発光素子390と受光素子310とでバッファ層を作り分けることで、発光素子390及び受光素子310に用いるバッファ層の材料の選択の自由度が高まるため、より最適化が容易となる。また、バッファ層312及び共通電極315を共通層とすることで、発光素子390と受光素子310とを別々に作製する場合に比べて、作製工程が簡略化され、製造コストを削減できる。
〔構成例2−6〕
図8Cに示す表示装置300Fは、バッファ層312及びバッファ層314が共通層でない点で、上記表示装置300Aと主に相違している。
図8Cに示す表示装置300Fは、バッファ層312及びバッファ層314が共通層でない点で、上記表示装置300Aと主に相違している。
受光素子310は、画素電極311、バッファ層312、活性層313、バッファ層314、及び共通電極315を有する。発光素子390は、画素電極391、バッファ層392、発光層393、バッファ層394、共通電極315を有する。バッファ層312、活性層313、バッファ層314、バッファ層392、発光層393、及びバッファ層394は、それぞれ島状の上面形状を有する。
このように、発光素子390と受光素子310とでバッファ層を作り分けることで、発光素子390及び受光素子310に用いるバッファ層の材料の選択の自由度が高まるため、より最適化が容易となる。また、共通電極315を共通層とすることで、発光素子390と受光素子310とを別々に作製する場合に比べて、作製工程が簡略化され、製造コストを削減できる。
[表示装置の構成例3]
以下では、本発明の一態様の表示装置の、より具体的な構成について説明する。
以下では、本発明の一態様の表示装置の、より具体的な構成について説明する。
図9に表示装置400の斜視図を示し、図10Aに、表示装置400の断面図を示す。
表示装置400は、基板353と基板354とが貼り合わされた構成を有する。図9では、基板354を破線で明示している。
表示装置400は、表示部362、回路364、配線365等を有する。図9では表示装置400にIC(集積回路)373及びFPC372が実装されている例を示している。そのため、図9に示す構成は、表示装置400、IC、及びFPCを有する表示モジュールということもできる。
回路364としては、例えば走査線駆動回路を用いることができる。
配線365は、表示部362及び回路364に信号及び電力を供給する機能を有する。当該信号及び電力は、FPC372を介して外部から配線365に入力されるか、またはIC373から配線365に入力される。
図9では、COG(Chip On Glass)方式またはCOF(Chip On Film)方式等により、基板353にIC373が設けられている例を示す。IC373は、例えば走査線駆動回路または信号線駆動回路などを有するICを適用できる。なお、表示装置400及び表示モジュールは、ICを設けない構成としてもよい。また、ICを、COF方式等により、FPCに実装してもよい。
図10Aに、図9で示した表示装置400の、FPC372を含む領域の一部、回路364を含む領域の一部、表示部362を含む領域の一部、及び、端部を含む領域の一部をそれぞれ切断したときの断面の一例を示す。
図10Aに示す表示装置400は、基板353と基板354の間に、トランジスタ408、トランジスタ409、トランジスタ410、発光素子390、受光素子310等を有する。
基板354と保護層395とは接着層342を介して接着されており、表示装置400には、固体封止構造が適用されている。
基板353と絶縁層412とは接着層355によって貼り合わされている。
表示装置400の作製方法としては、まず、絶縁層412、各トランジスタ、受光素子310、発光素子390等が設けられた作製基板と、遮光層358等が設けられた基板354とを接着層342によって貼り合わせる。そして、作製基板を剥離し露出した面に、接着層355を用いて基板353を貼り合わせることで、作製基板上に形成した各構成要素を、基板353に転置する。基板353及び基板354は、それぞれ、可撓性を有することが好ましい。これにより、表示装置400の可撓性を高めることができる。
発光素子390は、絶縁層414側から画素電極391、バッファ層312、発光層393、バッファ層314、及び共通電極315の順に積層された積層構造を有する。画素電極391は、絶縁層414に設けられた開口を介して、トランジスタ408のソース及びドレインの一方と接続されている。トランジスタ408は、発光素子390に流れる電流を制御する機能を有する。
受光素子310は、絶縁層414側から画素電極311、バッファ層312、活性層313、バッファ層314、及び共通電極315の順に積層された積層構造を有する。画素電極311は、絶縁層414に設けられた開口を介して、トランジスタ409のソース及びドレインの一方と接続されている。トランジスタ409は、受光素子310に蓄積された電荷の転送を制御する機能を有する。
発光素子390が発する光は、基板354側に射出される。また、受光素子310には、基板354及び接着層342を介して、光が入射する。基板354には、可視光に対する透過性が高い材料を用いることが好ましい。
画素電極311と画素電極391は同一の材料及び同一の工程で作製することができる。バッファ層312、バッファ層314、及び共通電極315は、受光素子310及び発光素子390に共通して用いられる。受光素子310と発光素子390とは、活性層313と発光層393の構成が異なる以外は全て共通の構成とすることができる。これにより、作製工程を大幅に増やすことなく、表示装置400に受光素子310を内蔵することができる。
基板354の基板353側の面には、遮光層358が設けられている。遮光層358は、発光素子390、受光素子310のそれぞれと重なる位置に開口を有する。遮光層358を設けることで、受光素子310が光を検出する範囲を制御することができる。上述の通り、受光素子310と重なる位置に設けられる遮光層の開口の位置及び面積を調整することで、受光素子310に入射する光を制御することが好ましい。また、遮光層358を有することで、対象物を介さずに、発光素子390から受光素子310に光が直接入射することを抑制できる。したがって、ノイズが少なく感度の高いセンサを実現できる。
画素電極311及び画素電極391の端部は、隔壁416によって覆われている。画素電極311及び画素電極391は可視光を反射する材料を含み、共通電極315は可視光を透過する材料を含む。
図10Aでは、活性層313の一部と発光層393の一部とが重なる領域を有する例を示している。活性層313と発光層393とが重なる部分は、遮光層358及び隔壁416と重なることが好ましい。
トランジスタ408、トランジスタ409、及びトランジスタ410は、いずれも基板353上に形成されている。これらのトランジスタは、同一の材料及び同一の工程により作製することができる。
基板353上には、接着層355を介して絶縁層412、絶縁層411、絶縁層425、絶縁層415、絶縁層418、及び絶縁層414がこの順で設けられている。絶縁層411及び絶縁層425は、それぞれその一部が各トランジスタのゲート絶縁層として機能する。絶縁層415及び絶縁層418は、トランジスタを覆って設けられる。絶縁層414は、トランジスタを覆って設けられ、平坦化層としての機能を有する。なお、ゲート絶縁層の数及びトランジスタを覆う絶縁層の数は限定されず、それぞれ単層であっても2層以上であってもよい。
トランジスタを覆う絶縁層の少なくとも一層に、水、水素などの不純物が拡散しにくい材料を用いることが好ましい。これにより、絶縁層をバリア層として機能させることができる。このような構成とすることで、トランジスタに外部から不純物が拡散することを効果的に抑制でき、表示装置の信頼性を高めることができる。
絶縁層411、絶縁層412、絶縁層425、絶縁層415、及び絶縁層418としては、それぞれ、無機絶縁膜を用いることが好ましい。無機絶縁膜としては、例えば、窒化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、酸化シリコン膜、窒化酸化シリコン膜、酸化アルミニウム膜、窒化アルミニウム膜などを用いることができる。また、酸化ハフニウム膜、酸化窒化ハフニウム膜、窒化酸化ハフニウム膜、酸化イットリウム膜、酸化ジルコニウム膜、酸化ガリウム膜、酸化タンタル膜、酸化マグネシウム膜、酸化ランタン膜、酸化セリウム膜、及び酸化ネオジム膜等を用いてもよい。また、上述の絶縁膜を2以上積層して用いてもよい。
ここで、有機絶縁膜は、無機絶縁膜に比べてバリア性が低いことが多い。そのため、有機絶縁膜は、表示装置400の端部近傍に開口を有することが好ましい。図10Aに示す領域428では、絶縁層414に開口が形成されている。これにより、表示装置400の端部から有機絶縁膜を介して不純物が入り込むことを抑制することができる。または、有機絶縁膜の端部が表示装置400の端部よりも内側にくるように有機絶縁膜を形成し、表示装置400の端部に有機絶縁膜が露出しないようにしてもよい。
表示装置400の端部近傍の領域428において、絶縁層414の開口を介して、絶縁層418と保護層395とが互いに接することが好ましい。特に、絶縁層418が有する無機絶縁膜と保護層395が有する無機絶縁膜とが互いに接することが好ましい。これにより、有機絶縁膜を介して外部から表示部362に不純物が入り込むことを抑制することができる。したがって、表示装置400の信頼性を高めることができる。
平坦化層として機能する絶縁層414には、有機絶縁膜が好適である。有機絶縁膜に用いることができる材料としては、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ポリアミド樹脂、ポリイミドアミド樹脂、シロキサン樹脂、ベンゾシクロブテン系樹脂、フェノール樹脂、及びこれら樹脂の前駆体等が挙げられる。
発光素子390、受光素子310を覆う保護層395を設けることで、発光素子390、受光素子310に水などの不純物が入り込むことを抑制し、これらの信頼性を高めることができる。
保護層395は単層であっても積層構造であってもよい。例えば、保護層395は、有機絶縁膜と無機絶縁膜との積層構造であってもよい。このとき、有機絶縁膜の端部よりも無機絶縁膜の端部を外側に延在させることが好ましい。
図10Bに、トランジスタ408、トランジスタ409、及びトランジスタ410に用いることのできるトランジスタ401aの断面図を示す。
トランジスタ401aは絶縁層412(図示しない)上に設けられ、第1のゲートとして機能する導電層421、第1のゲート絶縁層として機能する絶縁層411、半導体層431、第2のゲート絶縁層として機能する絶縁層425、並びに、第2のゲートとして機能する導電層423を有する。絶縁層411は、導電層421と半導体層431との間に位置する。絶縁層425は、導電層423と半導体層431との間に位置する。
半導体層431は、領域431iと、一対の領域431nとを有する。領域431iはチャネル形成領域として機能する。一対の領域431nは、一方がソースとして機能し、他方がドレインとして機能する。領域431nは、領域431iよりもキャリア濃度が高く、導電性が高い。導電層422a及び導電層422bは、絶縁層418及び絶縁層415に設けられた開口を介して、領域431nとそれぞれ接続されている。
図10Cには、トランジスタ408、トランジスタ409、及びトランジスタ410に用いることのできるトランジスタ401bの断面図を示している。また図10Cでは、絶縁層415が設けられない例を示している。トランジスタ401bは、絶縁層425が導電層423と同様に加工され、絶縁層418と領域431nとが接している。
なお、本実施の形態の表示装置が有するトランジスタの構造は特に限定されない。例えば、プレーナ型のトランジスタ、スタガ型のトランジスタ、逆スタガ型のトランジスタ等を用いることができる。また、トップゲート型またはボトムゲート型のいずれのトランジスタ構造としてもよい。または、チャネルが形成される半導体層の上下にゲートが設けられていてもよい。
トランジスタ408、トランジスタ409、及びトランジスタ410には、チャネルが形成される半導体層を2つのゲートで挟持する構成が適用されている。2つのゲートを接続し、これらに同一の信号を供給することによりトランジスタを駆動してもよい。または、2つのゲートのうち、一方に閾値電圧を制御するための電位を与え、他方に駆動のための電位を与えることで、トランジスタの閾値電圧を制御してもよい。
トランジスタに用いる半導体材料の結晶性についても特に限定されず、非晶質半導体、単結晶半導体、または結晶性を有する半導体(微結晶半導体、多結晶半導体、または一部に結晶領域を有する半導体)のいずれを用いてもよい。結晶性を有する半導体を用いると、トランジスタ特性の劣化を抑制できるため好ましい。
トランジスタの半導体層は、金属酸化物(酸化物半導体ともいう)を有することが好ましい。または、トランジスタの半導体層は、シリコンを有していてもよい。シリコンとしては、アモルファスシリコン、結晶性のシリコン(低温ポリシリコン、単結晶シリコンなど)などが挙げられる。または、異なる半導体層が適用されたトランジスタを組み合わせて用いてもよい。例えば、低温ポリシリコン(LTPS)が適用されたトランジスタと、酸化物半導体(OS)が適用されたトランジスタとを組み合わせて、回路を構成してもよい。このような技術を、LTPO(Low Temperature Polycrystalline Oxide、または、Low Temperature Polysilicon and Oxide)とも呼ぶことができる。
半導体層は、例えば、インジウムと、M(Mは、ガリウム、アルミニウム、シリコン、ホウ素、イットリウム、スズ、銅、バナジウム、ベリリウム、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、及びマグネシウムから選ばれた一種または複数種)と、亜鉛と、を有することが好ましい。特に、Mは、アルミニウム、ガリウム、イットリウム、及びスズから選ばれた一種または複数種であることが好ましい。
特に、半導体層として、インジウム(In)、ガリウム(Ga)、及び亜鉛(Zn)を含む酸化物(IGZOとも記す)を用いることが好ましい。
半導体層がIn−M−Zn酸化物の場合、当該In−M−Zn酸化物におけるInの原子数比はMの原子数比以上であることが好ましい。このようなIn−M−Zn酸化物の金属元素の原子数比として、In:M:Zn=1:1:1またはその近傍の組成、In:M:Zn=1:1:1.2またはその近傍の組成、In:M:Zn=2:1:3またはその近傍の組成、In:M:Zn=3:1:2またはその近傍の組成、In:M:Zn=4:2:3またはその近傍の組成、In:M:Zn=4:2:4.1またはその近傍の組成、In:M:Zn=5:1:3またはその近傍の組成、In:M:Zn=5:1:6またはその近傍の組成、In:M:Zn=5:1:7またはその近傍の組成、In:M:Zn=5:1:8またはその近傍の組成、In:M:Zn=6:1:6またはその近傍の組成、In:M:Zn=5:2:5またはその近傍の組成、等が挙げられる。なお、近傍の組成とは、所望の原子数比の±30%の範囲を含む。
例えば、原子数比がIn:Ga:Zn=4:2:3またはその近傍の組成と記載する場合、Inの原子数比を4としたとき、Gaの原子数比が1以上3以下であり、Znの原子数比が2以上4以下である場合を含む。また、原子数比がIn:Ga:Zn=5:1:6またはその近傍の組成と記載する場合、Inの原子数比を5としたときに、Gaの原子数比が0.1より大きく2以下であり、Znの原子数比が5以上7以下である場合を含む。また、原子数比がIn:Ga:Zn=1:1:1またはその近傍の組成と記載する場合、Inの原子数比を1としたときに、Gaの原子数比が0.1より大きく2以下であり、Znの原子数比が0.1より大きく2以下である場合を含む。
回路364が有するトランジスタ410と、表示部362が有するトランジスタ408及びトランジスタ409は、同じ構造であってもよく、異なる構造であってもよい。回路364が有する複数のトランジスタの構造は、全て同じであってもよく、2種類以上あってもよい。同様に、表示部362が有する複数のトランジスタの構造は、全て同じであってもよく、2種類以上あってもよい。
基板353の、基板354が重ならない領域には、接続部404が設けられている。接続部404では、配線365が導電層366及び接続層442を介してFPC372と電気的に接続されている。接続部404の上面は、画素電極311及び画素電極391と同一の導電膜を加工して得られた導電層366が露出している。これにより、接続部404とFPC372とを接続層442を介して電気的に接続することができる。
基板354の外側には各種光学部材を配置することができる。光学部材としては、偏光板、位相差板、光拡散層(拡散フィルムなど)、反射防止層、及び集光フィルム等が挙げられる。また、基板354の外側には、ゴミの付着を抑制する帯電防止膜、汚れを付着しにくくする撥水性の膜、使用に伴う傷の発生を抑制するハードコート膜、衝撃吸収層等を配置してもよい。
基板353及び基板354に、可撓性を有する材料を用いると、表示装置の可撓性を高めることができる。また、これに限られず、基板353及び基板354にそれぞれ、ガラス、石英、セラミック、サファイア、樹脂などを用いることができる。
接着層としては、紫外線硬化型等の光硬化型接着剤、反応硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、嫌気型接着剤などの各種硬化型接着剤を用いることができる。これら接着剤としてはエポキシ樹脂、アクリル樹脂、シリコーン樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、イミド樹脂、PVC(ポリビニルクロライド)樹脂、PVB(ポリビニルブチラル)樹脂、EVA(エチレンビニルアセテート)樹脂等が挙げられる。特に、エポキシ樹脂等の透湿性が低い材料が好ましい。また、二液混合型の樹脂を用いてもよい。また、接着シート等を用いてもよい。
接続層としては、異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)、異方性導電ペースト(ACP:Anisotropic Conductive Paste)などを用いることができる。
トランジスタのゲート、ソース及びドレインのほか、表示装置を構成する各種配線及び電極などの導電層に用いることのできる材料としては、アルミニウム、チタン、クロム、ニッケル、銅、イットリウム、ジルコニウム、モリブデン、銀、タンタル、及びタングステンなどの金属、並びに、当該金属を主成分とする合金などが挙げられる。これらの材料を含む膜を単層で、または積層構造として用いることができる。
また、透光性を有する導電材料としては、酸化インジウム、インジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛、ガリウムを含む酸化亜鉛などの導電性酸化物またはグラフェンを用いることができる。または、金、銀、白金、マグネシウム、ニッケル、タングステン、クロム、モリブデン、鉄、コバルト、銅、パラジウム、及びチタンなどの金属材料、該金属材料を含む合金材料などを用いることができる。または、該金属材料の窒化物(例えば、窒化チタン)などを用いてもよい。なお、金属材料、合金材料(またはそれらの窒化物)を用いる場合には、透光性を有する程度に薄くすることが好ましい。また、上記材料の積層膜を導電層として用いることができる。例えば、銀とマグネシウムの合金とインジウムスズ酸化物の積層膜などを用いると、導電性を高めることができるため好ましい。これらは、表示装置を構成する各種配線及び電極などの導電層、発光素子及び受光素子(または受発光素子)が有する導電層(画素電極、共通電極などとして機能する導電層)などにも用いることができる。
各絶縁層に用いることのできる絶縁材料としては、例えば、アクリル樹脂、エポキシ樹脂などの樹脂、酸化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、窒化シリコン、酸化アルミニウムなどの無機絶縁材料が挙げられる。
本実施の形態は、少なくともその一部を本明細書中に記載する他の実施の形態と適宜組み合わせて実施することができる。
(実施の形態3)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置に用いることのできる回路について説明する。
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置に用いることのできる回路について説明する。
図11Aに、本発明の一態様の表示装置の画素にかかるブロック図を示す。
画素は、OLEDと、OPD(Organic Photo Diode)と、センサ回路(Sensing Circuitと表記)と、駆動トランジスタ(Driving Transistorと表記)と、選択トランジスタ(Switching Transistorと表記)を有する。
OLEDから発せられた光は、対象物(Objectと表記)で反射され、その反射光をOPDにより受光することで、対象物を撮像することができる。本発明の一態様は、タッチセンサ、イメージセンサ、イメージスキャナ等として機能することができる。本発明の一態様は、指紋、掌紋、血管(静脈等)などを撮像することで、生体認証に適用することができる。また、写真、文字などが記載された印刷物、または物品などの表面を撮像し、画像情報として取得することもできる。
駆動トランジスタと選択トランジスタは、OLEDを駆動するための駆動回路を構成する。駆動トランジスタは、OLEDに流れる電流を制御する機能を有し、OLEDは当該電流に応じた輝度で発光することができる。選択トランジスタは、画素の選択、非選択を制御する機能を有する。外部から選択トランジスタを介して入力されるビデオデータ(Video Dataと表記)の値(例えば電圧値)により、駆動トランジスタ及びOLEDに流れる電流の大きさが制御され、所望の発光輝度でOLEDを発光させることができる。
センサ回路は、OPDの動作を制御するための駆動回路に相当する。センサ回路により、OPDの電極の電位をリセットするリセット動作、照射される光の光量に応じてOPDに電荷を蓄積させる露光動作、OPDに蓄積された電荷をセンサ回路内のノードに転送する転送動作、及び当該電荷の大きさに応じた信号(例えば電圧または電流)を外部の読出し回路に、センシングデータ(Sensing Dataと表記)として出力する読出し動作、などの動作を制御することができる。
図11Bに示す画素は、駆動トランジスタに接続されるメモリ部(Memoryと表記)を有する点で、上記と主に相違している。
メモリ部には、重みデータ(Weight Dataと表記)が与えられる。駆動トランジスタには、選択トランジスタを介して入力されるビデオデータと、メモリ部に保持される重みデータとを足し合わせたデータが与えられる。メモリ部に保持する重みデータにより、OLEDの輝度を、ビデオデータのみが与えられるときの輝度から変化させることができる。具体的には、OLEDの輝度を高める、または輝度を低下させることが可能となる。例えば、OLEDの輝度を高めることで、センサの受光感度を高めることが可能となる。
図11Cに、上記センサ回路に用いることのできる画素回路の一例を示している。
図11Cに示す画素回路PIX1は、受光素子PD、トランジスタM1、トランジスタM2、トランジスタM3、トランジスタM4、及び容量C1を有する。ここでは、受光素子PDとして、フォトダイオードを用いた例を示している。
受光素子PDは、カソードが配線V1と電気的に接続し、アノードがトランジスタM1のソースまたはドレインの一方と電気的に接続する。トランジスタM1は、ゲートが配線TXと電気的に接続し、ソースまたはドレインの他方が容量C1の一方の電極、トランジスタM2のソースまたはドレインの一方、及びトランジスタM3のゲートと電気的に接続する。トランジスタM2は、ゲートが配線RESと電気的に接続し、ソースまたはドレインの他方が配線V2と電気的に接続する。トランジスタM3は、ソースまたはドレインの一方が配線V3と電気的に接続し、ソースまたはドレインの他方がトランジスタM4のソースまたはドレインの一方と電気的に接続する。トランジスタM4は、ゲートが配線SEと電気的に接続し、ソースまたはドレインの他方が配線OUT1と電気的に接続する。
配線V1、配線V2、及び配線V3には、それぞれ定電位が供給される。受光素子PDを逆バイアスで駆動させる場合には、配線V2に、配線V1の電位よりも低い電位を供給する。トランジスタM2は、配線RESに供給される信号により制御され、トランジスタM3のゲートに接続するノードの電位を、配線V2に供給される電位にリセットする機能を有する。トランジスタM1は、配線TXに供給される信号により制御され、受光素子PDに蓄積された電荷を上記ノードに転送するタイミングを制御する機能を有する。トランジスタM3は、上記ノードの電位に応じた出力を行う増幅トランジスタとして機能する。トランジスタM4は、配線SEに供給される信号により制御され、上記ノードの電位に応じた出力を配線OUT1に接続する外部回路で読み出すための選択トランジスタとして機能する。
ここで、受光素子PDが、上記OPDに相当する。また、配線OUT1から出力される電位または電流が、上記センシングデータに相当する。
図11Dに、上記OLEDを駆動させるための画素回路の一例を示す。
図11Dに示す画素回路PIX2は、発光素子EL、トランジスタM5、トランジスタM6、トランジスタM7、及び容量C2を有する。ここでは、発光素子ELとして、発光ダイオードを用いた例を示している。特に、発光素子ELとして、有機EL素子を用いることが好ましい。
発光素子ELが、上記OLEDに相当し、トランジスタM5が、上記選択トランジスタに相当し、トランジスタM6が、上記駆動トランジスタに相当する。また配線VSが、上記ビデオデータが入力される配線に相当する。
トランジスタM5は、ゲートが配線VGと電気的に接続し、ソースまたはドレインの一方が配線VSと電気的に接続し、ソースまたはドレインの他方が、容量C2の一方の電極、及びトランジスタM6のゲートと電気的に接続する。トランジスタM6のソースまたはドレインの一方は配線V4と電気的に接続し、他方は、発光素子ELのアノード、及びトランジスタM7のソースまたはドレインの一方と電気的に接続する。トランジスタM7は、ゲートが配線MSと電気的に接続し、ソースまたはドレインの他方が配線OUT2と電気的に接続する。発光素子ELのカソードは、配線V5と電気的に接続する。
配線V4及び配線V5には、それぞれ定電位が供給される。発光素子ELのアノード側を高電位に、カソード側をアノード側よりも低電位にすることができる。トランジスタM5は、配線VGに供給される信号により制御され、画素回路PIX2の選択状態を制御するための選択トランジスタとして機能する。また、トランジスタM6は、ゲートに供給される電位に応じて発光素子ELに流れる電流を制御する駆動トランジスタとして機能する。トランジスタM5が導通状態のとき、配線VSに供給される電位がトランジスタM6のゲートに供給され、その電位に応じて発光素子ELの発光輝度を制御することができる。トランジスタM7は配線MSに供給される信号により制御され、トランジスタM6と発光素子ELとの間の電位を配線OUT2に与えられる電位とする機能と、トランジスタM6と発光素子ELとの間の電位を、配線OUT2を介して外部に出力する機能の、一方または双方を有する。
図11Eに、図11Bで例示した構成に適用可能な、メモリ部を備える画素回路の一例を示す。
図11Eに示す画素回路PIX3は、上記画素回路PIX2に、トランジスタM8と容量C3を加えた構成を有する。また、画素回路PIX3では、上記画素回路PIX2における配線VSを配線VS1に、配線VGを配線VG1としている。
トランジスタM8は、ゲートが配線VG2と電気的に接続し、ソース及びドレインの一方が配線VS2と電気的に接続し、他方が容量C3の一方の電極と電気的に接続する。容量C3は、他方の電極がトランジスタM6のゲート、容量C2の一方の電極、及びトランジスタM5のソース及びドレインの他方と電気的に接続する。
配線VS1が、上記ビデオデータが与えられる配線に相当する。配線VS2が、上記重みデータが与えられる配線に相当する。トランジスタM6のゲートが接続されるノードが、上記メモリ部に相当する。
画素回路PIX3の動作方法の例について説明する。まず、配線VS1から、トランジスタM5を介してトランジスタM6のゲートが接続されるノードに第1の電位を書き込む。その後、トランジスタM5を非導通状態とすることで、当該ノードがフローティング状態となる。続いて、配線VS2から、トランジスタM8を介して容量C3の一方の電極に第2の電位を書き込む。これにより、容量C3の容量結合によって、第2の電位に応じて上記ノードの電位が第1の電位から変化して第3の電位となる。そして、トランジスタM6及び発光素子ELには、第3の電位に応じた電流が流れることで、当該電位に応じた輝度で発光素子ELが発光する。
なお、本実施の形態の表示装置では、発光素子をパルス状に発光させることで、画像を表示してもよい。発光素子の駆動時間を短縮することで、表示パネルの消費電力の低減、及び、発熱の抑制を図ることができる。特に、有機EL素子は周波数特性が優れているため、好適である。周波数は、例えば、1kHz以上100MHz以下とすることができる。また、パルス幅を変化させて発光させる駆動方法(Duty駆動ともいう)を用いてもよい。
ここで、画素回路PIX1が有するトランジスタM1、トランジスタM2、トランジスタM3、及びトランジスタM4、画素回路PIX2が有するトランジスタM5、トランジスタM6、及びトランジスタM7、画素回路PIX3が有するトランジスタM8には、それぞれチャネルが形成される半導体層に金属酸化物(酸化物半導体)を用いたトランジスタを適用することが好ましい。
また、トランジスタM1乃至トランジスタM8に、チャネルが形成される半導体にシリコンを適用したトランジスタを用いることもできる。特に単結晶シリコン、多結晶シリコンなどの結晶性の高いシリコンを用いることで、高い電界効果移動度を実現することができ、より高速な動作が可能となるため好ましい。
また、トランジスタM1乃至トランジスタM8のうち、一以上に酸化物半導体を適用したトランジスタを用い、それ以外にシリコンを適用したトランジスタを用いる構成としてもよい。当該構成は、上述したLTPOに相当する。
例えば、電荷を保持するためのスイッチとして機能するトランジスタM1、トランジスタM2、トランジスタM5、トランジスタM7、トランジスタM8には、オフ電流が著しく低い酸化物半導体を適用したトランジスタを用いることが好ましい。このとき、他の一以上のトランジスタにシリコンを適用したトランジスタを用いる構成とすることができる。
なお、画素回路PIX1、画素回路PIX2、画素回路PIX3において、トランジスタをnチャネル型のトランジスタとして表記しているが、pチャネル型のトランジスタを用いることもできる。または、nチャネル型のトランジスタとpチャネル型のトランジスタが混在した構成としてもよい。
本実施の形態は、少なくともその一部を本明細書中に記載する他の実施の形態と適宜組み合わせて実施することができる。
(実施の形態4)
本実施の形態では、上記の実施の形態で説明したトランジスタに用いることができる金属酸化物(酸化物半導体ともいう)について説明する。
本実施の形態では、上記の実施の形態で説明したトランジスタに用いることができる金属酸化物(酸化物半導体ともいう)について説明する。
金属酸化物は、少なくともインジウムまたは亜鉛を含むことが好ましい。特にインジウム及び亜鉛を含むことが好ましい。また、それらに加えて、アルミニウム、ガリウム、イットリウム、スズなどが含まれていることが好ましい。また、ホウ素、シリコン、チタン、鉄、ニッケル、ゲルマニウム、ジルコニウム、モリブデン、ランタン、セリウム、ネオジム、ハフニウム、タンタル、タングステン、マグネシウム、コバルトなどから選ばれた一種、または複数種が含まれていてもよい。
また、金属酸化物は、スパッタリング法、有機金属化学気相成長(MOCVD:Metal Organic Chemical Vapor Deposition)法などの化学気相成長(CVD:Chemical Vapor Deposition)法、原子層堆積(ALD:Atomic Layer Deposition)法などにより形成することができる。
<結晶構造の分類>
酸化物半導体の結晶構造としては、アモルファス(completely amorphousを含む)、CAAC(c−axis−aligned crystalline)、nc(nanocrystalline)、CAC(cloud−aligned composite)、単結晶(single crystal)、及び多結晶(poly crystal)等が挙げられる。
酸化物半導体の結晶構造としては、アモルファス(completely amorphousを含む)、CAAC(c−axis−aligned crystalline)、nc(nanocrystalline)、CAC(cloud−aligned composite)、単結晶(single crystal)、及び多結晶(poly crystal)等が挙げられる。
なお、膜または基板の結晶構造は、X線回折(XRD:X−Ray Diffraction)スペクトルを用いて評価することができる。例えば、GIXD(Grazing−Incidence XRD)測定で得られるXRDスペクトルを用いて評価することができる。なお、GIXD法は、薄膜法またはSeemann−Bohlin法ともいう。
例えば、石英ガラス基板では、XRDスペクトルのピークの形状がほぼ左右対称である。一方で、結晶構造を有するIGZO膜では、XRDスペクトルのピークの形状が左右非対称である。XRDスペクトルのピークの形状が左右非対称であることは、膜中または基板中の結晶の存在を明示している。別言すると、XRDスペクトルのピークの形状で左右対称でないと、膜または基板は非晶質状態であるとは言えない。
また、膜または基板の結晶構造は、極微電子線回折法(NBED:Nano Beam Electron Diffraction)によって観察される回折パターン(極微電子線回折パターンともいう)にて評価することができる。例えば、石英ガラス基板の回折パターンでは、ハローが観察され、石英ガラスは、非晶質状態であることが確認できる。また、室温成膜したIGZO膜の回折パターンでは、ハローではなく、スポット状のパターンが観察される。このため、室温成膜したIGZO膜は、結晶状態でもなく、非晶質状態でもない、中間状態であり、非晶質状態であると結論することはできないと推定される。
<<酸化物半導体の構造>>
なお、酸化物半導体は、構造に着目した場合、上記とは異なる分類となる場合がある。例えば、酸化物半導体は、単結晶酸化物半導体と、それ以外の非単結晶酸化物半導体と、に分けられる。非単結晶酸化物半導体としては、例えば、上述のCAAC−OS、及びnc−OSがある。また、非単結晶酸化物半導体には、多結晶酸化物半導体、擬似非晶質酸化物半導体(a−like OS:amorphous−like oxide semiconductor)、非晶質酸化物半導体、などが含まれる。
なお、酸化物半導体は、構造に着目した場合、上記とは異なる分類となる場合がある。例えば、酸化物半導体は、単結晶酸化物半導体と、それ以外の非単結晶酸化物半導体と、に分けられる。非単結晶酸化物半導体としては、例えば、上述のCAAC−OS、及びnc−OSがある。また、非単結晶酸化物半導体には、多結晶酸化物半導体、擬似非晶質酸化物半導体(a−like OS:amorphous−like oxide semiconductor)、非晶質酸化物半導体、などが含まれる。
ここで、上述のCAAC−OS、nc−OS、及びa−like OSの詳細について、説明を行う。
[CAAC−OS]
CAAC−OSは、複数の結晶領域を有し、当該複数の結晶領域はc軸が特定の方向に配向している酸化物半導体である。なお、特定の方向とは、CAAC−OS膜の厚さ方向、CAAC−OS膜の被形成面の法線方向、またはCAAC−OS膜の表面の法線方向である。また、結晶領域とは、原子配列に周期性を有する領域である。なお、原子配列を格子配列とみなすと、結晶領域とは、格子配列の揃った領域でもある。さらに、CAAC−OSは、a−b面方向において複数の結晶領域が連結する領域を有し、当該領域は歪みを有する場合がある。なお、歪みとは、複数の結晶領域が連結する領域において、格子配列の揃った領域と、別の格子配列の揃った領域と、の間で格子配列の向きが変化している箇所を指す。つまり、CAAC−OSは、c軸配向し、a−b面方向には明らかな配向をしていない酸化物半導体である。
CAAC−OSは、複数の結晶領域を有し、当該複数の結晶領域はc軸が特定の方向に配向している酸化物半導体である。なお、特定の方向とは、CAAC−OS膜の厚さ方向、CAAC−OS膜の被形成面の法線方向、またはCAAC−OS膜の表面の法線方向である。また、結晶領域とは、原子配列に周期性を有する領域である。なお、原子配列を格子配列とみなすと、結晶領域とは、格子配列の揃った領域でもある。さらに、CAAC−OSは、a−b面方向において複数の結晶領域が連結する領域を有し、当該領域は歪みを有する場合がある。なお、歪みとは、複数の結晶領域が連結する領域において、格子配列の揃った領域と、別の格子配列の揃った領域と、の間で格子配列の向きが変化している箇所を指す。つまり、CAAC−OSは、c軸配向し、a−b面方向には明らかな配向をしていない酸化物半導体である。
なお、上記複数の結晶領域のそれぞれは、1つまたは複数の微小な結晶(最大径が10nm未満である結晶)で構成される。結晶領域が1つの微小な結晶で構成されている場合、当該結晶領域の最大径は10nm未満となる。また、結晶領域が多数の微小な結晶で構成されている場合、当該結晶領域の大きさは、数十nm程度となる場合がある。
また、In−M−Zn酸化物(元素Mは、アルミニウム、ガリウム、イットリウム、スズ、チタンなどから選ばれた一種、または複数種)において、CAAC−OSは、インジウム(In)、及び酸素を有する層(以下、In層)と、元素M、亜鉛(Zn)、及び酸素を有する層(以下、(M,Zn)層)とが積層した、層状の結晶構造(層状構造ともいう)を有する傾向がある。なお、インジウムと元素Mは、互いに置換可能である。よって、(M,Zn)層にはインジウムが含まれる場合がある。また、In層には元素Mが含まれる場合がある。なお、In層にはZnが含まれる場合もある。当該層状構造は、例えば、高分解能TEM(Transmission Electron Microscope)像において、格子像として観察される。
CAAC−OS膜に対し、例えば、XRD装置を用いて構造解析を行うと、θ/2θスキャンを用いたOut−of−plane XRD測定では、c軸配向を示すピークが2θ=31°またはその近傍に検出される。なお、c軸配向を示すピークの位置(2θの値)は、CAAC−CSを構成する金属元素の種類、組成などにより変動する場合がある。
また、例えば、CAAC−OS膜の電子線回折パターンにおいて、複数の輝点(スポット)が観測される。なお、あるスポットと別のスポットとは、試料を透過した入射電子線のスポット(ダイレクトスポットともいう)を対称中心として、点対称の位置に観測される。
上記特定の方向から結晶領域を観察した場合、当該結晶領域内の格子配列は、六方格子を基本とするが、単位格子は正六角形とは限らず、非正六角形である場合がある。また、上記歪みにおいて、五角形、七角形などの格子配列を有する場合がある。なお、CAAC−OSにおいて、歪み近傍においても、明確な結晶粒界(グレインバウンダリー)を確認することはできない。即ち、格子配列の歪みによって、結晶粒界の形成が抑制されていることがわかる。これは、CAAC−OSが、a−b面方向において酸素原子の配列が稠密でないこと、金属原子が置換することで原子間の結合距離が変化することなどによって、歪みを許容することができるためと考えられる。
なお、明確な結晶粒界が確認される結晶構造は、いわゆる多結晶(polycrystal)と呼ばれる。結晶粒界は、再結合中心となり、キャリアが捕獲されトランジスタのオン電流の低下、電界効果移動度の低下などを引き起こす可能性が高い。よって、明確な結晶粒界が確認されないCAAC−OSは、トランジスタの半導体層に好適な結晶構造を有する結晶性の酸化物の一つである。なお、CAAC−OSを構成するには、Znを有する構成が好ましい。例えば、In−Zn酸化物、及びIn−Ga−Zn酸化物は、In酸化物よりも結晶粒界の発生を抑制できるため好適である。
CAAC−OSは、結晶性が高く、明確な結晶粒界が確認されない酸化物半導体である。よって、CAAC−OSは、結晶粒界に起因する電子移動度の低下が起こりにくいといえる。また、酸化物半導体の結晶性は不純物の混入、欠陥の生成などによって低下する場合があるため、CAAC−OSは不純物及び欠陥(酸素欠損など)の少ない酸化物半導体ともいえる。従って、CAAC−OSを有する酸化物半導体は、物理的性質が安定する。そのため、CAAC−OSを有する酸化物半導体は熱に強く、信頼性が高い。また、CAAC−OSは、製造工程における高い温度(所謂サーマルバジェット)に対しても安定である。従って、OSトランジスタにCAAC−OSを用いると、製造工程の自由度を広げることが可能となる。
[nc−OS]
nc−OSは、微小な領域(例えば、1nm以上10nm以下の領域、特に1nm以上3nm以下の領域)において原子配列に周期性を有する。別言すると、nc−OSは、微小な結晶を有する。なお、当該微小な結晶の大きさは、例えば、1nm以上10nm以下、特に1nm以上3nm以下であることから、当該微小な結晶をナノ結晶ともいう。また、nc−OSは、異なるナノ結晶間で結晶方位に規則性が見られない。そのため、膜全体で配向性が見られない。従って、nc−OSは、分析方法によっては、a−like OSまたは非晶質酸化物半導体と区別が付かない場合がある。例えば、nc−OS膜に対し、XRD装置を用いて構造解析を行うと、θ/2θスキャンを用いたOut−of−plane XRD測定では、結晶性を示すピークが検出されない。また、nc−OS膜に対し、ナノ結晶よりも大きいプローブ径(例えば50nm以上)の電子線を用いる電子線回折(制限視野電子線回折ともいう。)を行うと、ハローパターンのような回折パターンが観測される。一方、nc−OS膜に対し、ナノ結晶の大きさと近いかナノ結晶より小さいプローブ径(例えば1nm以上30nm以下)の電子線を用いる電子線回折(ナノビーム電子線回折ともいう。)を行うと、ダイレクトスポットを中心とするリング状の領域内に複数のスポットが観測される電子線回折パターンが取得される場合がある。
nc−OSは、微小な領域(例えば、1nm以上10nm以下の領域、特に1nm以上3nm以下の領域)において原子配列に周期性を有する。別言すると、nc−OSは、微小な結晶を有する。なお、当該微小な結晶の大きさは、例えば、1nm以上10nm以下、特に1nm以上3nm以下であることから、当該微小な結晶をナノ結晶ともいう。また、nc−OSは、異なるナノ結晶間で結晶方位に規則性が見られない。そのため、膜全体で配向性が見られない。従って、nc−OSは、分析方法によっては、a−like OSまたは非晶質酸化物半導体と区別が付かない場合がある。例えば、nc−OS膜に対し、XRD装置を用いて構造解析を行うと、θ/2θスキャンを用いたOut−of−plane XRD測定では、結晶性を示すピークが検出されない。また、nc−OS膜に対し、ナノ結晶よりも大きいプローブ径(例えば50nm以上)の電子線を用いる電子線回折(制限視野電子線回折ともいう。)を行うと、ハローパターンのような回折パターンが観測される。一方、nc−OS膜に対し、ナノ結晶の大きさと近いかナノ結晶より小さいプローブ径(例えば1nm以上30nm以下)の電子線を用いる電子線回折(ナノビーム電子線回折ともいう。)を行うと、ダイレクトスポットを中心とするリング状の領域内に複数のスポットが観測される電子線回折パターンが取得される場合がある。
[a−like OS]
a−like OSは、nc−OSと非晶質酸化物半導体との間の構造を有する酸化物半導体である。a−like OSは、鬆または低密度領域を有する。即ち、a−like OSは、nc−OS及びCAAC−OSと比べて、結晶性が低い。また、a−like OSは、nc−OS及びCAAC−OSと比べて、膜中の水素濃度が高い。
a−like OSは、nc−OSと非晶質酸化物半導体との間の構造を有する酸化物半導体である。a−like OSは、鬆または低密度領域を有する。即ち、a−like OSは、nc−OS及びCAAC−OSと比べて、結晶性が低い。また、a−like OSは、nc−OS及びCAAC−OSと比べて、膜中の水素濃度が高い。
<<酸化物半導体の構成>>
次に、上述のCAC−OSの詳細について、説明を行う。なお、CAC−OSは材料構成に関する。
次に、上述のCAC−OSの詳細について、説明を行う。なお、CAC−OSは材料構成に関する。
[CAC−OS]
CAC−OSとは、例えば、金属酸化物を構成する元素が、0.5nm以上10nm以下、好ましくは、1nm以上3nm以下、またはその近傍のサイズで偏在した材料の一構成である。なお、以下では、金属酸化物において、一つまたは複数の金属元素が偏在し、該金属元素を有する領域が、0.5nm以上10nm以下、好ましくは、1nm以上3nm以下、またはその近傍のサイズで混合した状態をモザイク状、またはパッチ状ともいう。
CAC−OSとは、例えば、金属酸化物を構成する元素が、0.5nm以上10nm以下、好ましくは、1nm以上3nm以下、またはその近傍のサイズで偏在した材料の一構成である。なお、以下では、金属酸化物において、一つまたは複数の金属元素が偏在し、該金属元素を有する領域が、0.5nm以上10nm以下、好ましくは、1nm以上3nm以下、またはその近傍のサイズで混合した状態をモザイク状、またはパッチ状ともいう。
さらに、CAC−OSとは、第1の領域と、第2の領域と、に材料が分離することでモザイク状となり、当該第1の領域が、膜中に分布した構成(以下、クラウド状ともいう。)である。つまり、CAC−OSは、当該第1の領域と、当該第2の領域とが、混合している構成を有する複合金属酸化物である。
ここで、In−Ga−Zn酸化物におけるCAC−OSを構成する金属元素に対するIn、Ga、及びZnの原子数比のそれぞれを、[In]、[Ga]、及び[Zn]と表記する。例えば、In−Ga−Zn酸化物におけるCAC−OSにおいて、第1の領域は、[In]が、CAC−OS膜の組成における[In]よりも大きい領域である。また、第2の領域は、[Ga]が、CAC−OS膜の組成における[Ga]よりも大きい領域である。または、例えば、第1の領域は、[In]が、第2の領域における[In]よりも大きく、且つ、[Ga]が、第2の領域における[Ga]よりも小さい領域である。また、第2の領域は、[Ga]が、第1の領域における[Ga]よりも大きく、且つ、[In]が、第1の領域における[In]よりも小さい領域である。
具体的には、上記第1の領域は、インジウム酸化物、インジウム亜鉛酸化物などが主成分である領域である。また、上記第2の領域は、ガリウム酸化物、ガリウム亜鉛酸化物などが主成分である領域である。つまり、上記第1の領域を、Inを主成分とする領域と言い換えることができる。また、上記第2の領域を、Gaを主成分とする領域と言い換えることができる。
なお、上記第1の領域と、上記第2の領域とは、明確な境界が観察できない場合がある。
また、In−Ga−Zn酸化物におけるCAC−OSとは、In、Ga、Zn、及びOを含む材料構成において、一部にGaを主成分とする領域と、一部にInを主成分とする領域とが、それぞれモザイク状であり、これらの領域がランダムに存在している構成をいう。よって、CAC−OSは、金属元素が不均一に分布した構造を有していると推測される。
CAC−OSは、例えば基板を加熱しない条件で、スパッタリング法により形成することができる。また、CAC−OSをスパッタリング法で形成する場合、成膜ガスとして、不活性ガス(代表的にはアルゴン)、酸素ガス、及び窒素ガスの中から選ばれたいずれか一つまたは複数を用いればよい。また、成膜時の成膜ガスの総流量に対する酸素ガスの流量比は低いほど好ましく、例えば、成膜時の成膜ガスの総流量に対する酸素ガスの流量比を0%以上30%未満、好ましくは0%以上10%以下とすることが好ましい。
また、例えば、In−Ga−Zn酸化物におけるCAC−OSでは、エネルギー分散型X線分光法(EDX:Energy Dispersive X−ray spectroscopy)を用いて取得したEDXマッピングにより、Inを主成分とする領域(第1の領域)と、Gaを主成分とする領域(第2の領域)とが、偏在し、混合している構造を有することが確認できる。
ここで、第1の領域は、第2の領域と比較して、導電性が高い領域である。つまり、第1の領域を、キャリアが流れることにより、金属酸化物としての導電性が発現する。従って、第1の領域が、金属酸化物中にクラウド状に分布することで、高い電界効果移動度(μ)が実現できる。
一方、第2の領域は、第1の領域と比較して、絶縁性が高い領域である。つまり、第2の領域が、金属酸化物中に分布することで、リーク電流を抑制することができる。
従って、CAC−OSをトランジスタに用いる場合、第1の領域に起因する導電性と、第2の領域に起因する絶縁性とが、相補的に作用することにより、スイッチングさせる機能(On/Offさせる機能)をCAC−OSに付与することができる。つまり、CAC−OSとは、材料の一部では導電性の機能と、材料の一部では絶縁性の機能とを有し、材料の全体では半導体としての機能を有する。導電性の機能と絶縁性の機能とを分離させることで、双方の機能を最大限に高めることができる。よって、CAC−OSをトランジスタに用いることで、高いオン電流(Ion)、高い電界効果移動度(μ)、及び良好なスイッチング動作を実現することができる。
また、CAC−OSを用いたトランジスタは、信頼性が高い。従って、CAC−OSは、表示装置をはじめとするさまざまな半導体装置に最適である。
酸化物半導体は、多様な構造をとり、それぞれが異なる特性を有する。本発明の一態様の酸化物半導体は、非晶質酸化物半導体、多結晶酸化物半導体、a−like OS、CAC−OS、nc−OS、CAAC−OSのうち、二種以上を有していてもよい。
<酸化物半導体を有するトランジスタ>
続いて、上記酸化物半導体をトランジスタに用いる場合について説明する。
続いて、上記酸化物半導体をトランジスタに用いる場合について説明する。
上記酸化物半導体をトランジスタに用いることで、高い電界効果移動度のトランジスタを実現することができる。また、信頼性の高いトランジスタを実現することができる。
トランジスタには、キャリア濃度の低い酸化物半導体を用いることが好ましい。例えば、酸化物半導体のキャリア濃度は1×1017cm−3以下、好ましくは1×1015cm−3以下、さらに好ましくは1×1013cm−3以下、より好ましくは1×1011cm−3以下、さらに好ましくは1×1010cm−3未満であり、1×10−9cm−3以上である。なお、酸化物半導体膜のキャリア濃度を低くする場合においては、酸化物半導体膜中の不純物濃度を低くし、欠陥準位密度を低くすればよい。本明細書等において、不純物濃度が低く、欠陥準位密度の低いことを高純度真性または実質的に高純度真性と言う。なお、キャリア濃度の低い酸化物半導体を、高純度真性または実質的に高純度真性な酸化物半導体と呼ぶ場合がある。
また、高純度真性または実質的に高純度真性である酸化物半導体膜は、欠陥準位密度が低いため、トラップ準位密度も低くなる場合がある。
また、酸化物半導体のトラップ準位に捕獲された電荷は、消失するまでに要する時間が長く、あたかも固定電荷のように振る舞うことがある。そのため、トラップ準位密度の高い酸化物半導体にチャネル形成領域が形成されるトランジスタは、電気特性が不安定となる場合がある。
従って、トランジスタの電気特性を安定にするためには、酸化物半導体中の不純物濃度を低減することが有効である。また、酸化物半導体中の不純物濃度を低減するためには、近接する膜中の不純物濃度も低減することが好ましい。不純物としては、水素、窒素、アルカリ金属、アルカリ土類金属、鉄、ニッケル、シリコン等がある。
<不純物>
ここで、酸化物半導体中における各不純物の影響について説明する。
ここで、酸化物半導体中における各不純物の影響について説明する。
酸化物半導体において、第14族元素の一つであるシリコン、炭素などが含まれると、酸化物半導体において欠陥準位が形成される。このため、酸化物半導体におけるシリコンまたは炭素の濃度と、酸化物半導体との界面近傍のシリコンまたは炭素の濃度(二次イオン質量分析法(SIMS:Secondary Ion Mass Spectrometry)により得られる濃度)を、2×1018atoms/cm3以下、好ましくは2×1017atoms/cm3以下とする。
また、酸化物半導体にアルカリ金属またはアルカリ土類金属が含まれると、欠陥準位を形成し、キャリアを生成する場合がある。従って、アルカリ金属またはアルカリ土類金属が含まれている酸化物半導体を用いたトランジスタはノーマリーオン特性となりやすい。このため、SIMSにより得られる酸化物半導体中のアルカリ金属またはアルカリ土類金属の濃度を、1×1018atoms/cm3以下、好ましくは2×1016atoms/cm3以下にする。
また、酸化物半導体において、窒素が含まれると、キャリアである電子が生じ、キャリア濃度が増加し、n型化しやすい。この結果、窒素が含まれている酸化物半導体を半導体に用いたトランジスタはノーマリーオン特性となりやすい。または、酸化物半導体において、窒素が含まれると、トラップ準位が形成される場合がある。この結果、トランジスタの電気特性が不安定となる場合がある。このため、SIMSにより得られる酸化物半導体中の窒素濃度を、5×1019atoms/cm3未満、好ましくは5×1018atoms/cm3以下、より好ましくは1×1018atoms/cm3以下、さらに好ましくは5×1017atoms/cm3以下にする。
また、酸化物半導体に含まれる水素は、金属原子と結合する酸素と反応して水になるため、酸素欠損を形成する場合がある。該酸素欠損に水素が入ることで、キャリアである電子が生成される場合がある。また、水素の一部が金属原子と結合する酸素と結合して、キャリアである電子を生成することがある。従って、水素が含まれている酸化物半導体を用いたトランジスタはノーマリーオン特性となりやすい。このため、酸化物半導体中の水素はできる限り低減されていることが好ましい。具体的には、酸化物半導体において、SIMSにより得られる水素濃度を、1×1020atoms/cm3未満、好ましくは1×1019atoms/cm3未満、より好ましくは5×1018atoms/cm3未満、さらに好ましくは1×1018atoms/cm3未満にする。
不純物が十分に低減された酸化物半導体をトランジスタのチャネル形成領域に用いることで、安定した電気特性を付与することができる。
本実施の形態は、少なくともその一部を本明細書中に記載する他の実施の形態と適宜組み合わせて実施することができる。
(実施の形態5)
本実施の形態では、本発明の一態様の電子機器について、図12~図14を用いて説明する。
本実施の形態では、本発明の一態様の電子機器について、図12~図14を用いて説明する。
本発明の一態様の電子機器は、表示部で撮像を行うこと、タッチ操作を検出することなどができる。これにより、電子機器の機能性、利便性などを高めることができる。
本発明の一態様の電子機器としては、例えば、テレビジョン装置、デスクトップ型もしくはノート型のパーソナルコンピュータ、コンピュータ用などのモニタ、デジタルサイネージ、パチンコ機などの大型ゲーム機などの比較的大きな画面を備える電子機器の他、デジタルカメラ、デジタルビデオカメラ、デジタルフォトフレーム、携帯電話機、携帯型ゲーム機、携帯情報端末、音響再生装置、などが挙げられる。
本発明の一態様の電子機器は、センサ(力、変位、位置、速度、加速度、角速度、回転数、距離、光、液、磁気、温度、化学物質、音声、時間、硬度、電場、電流、電圧、電力、放射線、流量、湿度、傾度、振動、においまたは赤外線を測定する機能を含むもの)を有していてもよい。
本発明の一態様の電子機器は、様々な機能を有することができる。例えば、様々な情報(静止画、動画、テキスト画像など)を表示部に表示する機能、タッチパネル機能、カレンダー、日付または時刻などを表示する機能、様々なソフトウェア(プログラム)を実行する機能、無線通信機能、記録媒体に記録されているプログラムまたはデータを読み出す機能等を有することができる。
図12Aに示す電子機器6500は、スマートフォンとして用いることのできる携帯情報端末機である。
電子機器6500は、筐体6501、表示部6502、電源ボタン6503、ボタン6504、スピーカ6505、マイク6506、カメラ6507、及び光源6508等を有する。表示部6502はタッチパネル機能を備える。
表示部6502に、実施の形態2で示した表示装置を適用することができる。
図12Bは、筐体6501のマイク6506側の端部を含む断面概略図である。
筐体6501の表示面側には透光性を有する保護部材6510が設けられ、筐体6501と保護部材6510に囲まれた空間内に、表示パネル6511、光学部材6512、タッチセンサパネル6513、プリント基板6517、バッテリ6518等が配置されている。
保護部材6510には、表示パネル6511、光学部材6512、及びタッチセンサパネル6513が接着層(図示しない)により固定されている。
表示部6502よりも外側の領域において、表示パネル6511の一部が折り返されており、当該折り返された部分にFPC6515が接続されている。FPC6515には、IC6516が実装されている。FPC6515は、プリント基板6517に設けられた端子に接続されている。
表示パネル6511には本発明の一態様のフレキシブルディスプレイを適用することができる。そのため、極めて軽量な電子機器を実現できる。また、表示パネル6511が極めて薄いため、電子機器の厚さを抑えつつ、大容量のバッテリ6518を搭載することもできる。また、表示パネル6511の一部を折り返して、画素部の裏側にFPC6515との接続部を配置することにより、狭額縁の電子機器を実現できる。
表示パネル6511に、実施の形態2で示した表示装置を用いることで、表示部6502で撮像を行うことができる。例えば、表示パネル6511で指紋を撮像し、指紋認証を行うことができる。
表示部6502が、さらに、タッチセンサパネル6513を有することで、表示部6502に、タッチパネル機能を付与することができる。タッチセンサパネル6513としては、静電容量方式、抵抗膜方式、表面弾性波方式、赤外線方式、光学方式、感圧方式など様々な方式を用いることができる。または、表示パネル6511を、タッチセンサとして機能させてもよく、その場合、タッチセンサパネル6513を設けなくてもよい。
図13Aにテレビジョン装置の一例を示す。テレビジョン装置7100は、筐体7101に表示部7000が組み込まれている。ここでは、スタンド7103により筐体7101を支持した構成を示している。
表示部7000に、実施の形態2で示した表示装置を適用することができる。
図13Aに示すテレビジョン装置7100の操作は、筐体7101が備える操作スイッチ、別体のリモコン操作機7111などにより行うことができる。または、表示部7000にタッチセンサを備えていてもよく、指等で表示部7000に触れることでテレビジョン装置7100を操作してもよい。リモコン操作機7111は、当該リモコン操作機7111から出力する情報を表示する表示部を有していてもよい。リモコン操作機7111が備える操作キーまたはタッチパネルにより、チャンネル及び音量の操作を行うことができ、表示部7000に表示される映像を操作することができる。
なお、テレビジョン装置7100は、受信機及びモデムなどを備えた構成とする。受信機により一般のテレビ放送の受信を行うことができる。また、モデムを介して有線または無線による通信ネットワークに接続することにより、一方向(送信者から受信者)または双方向(送信者と受信者間、あるいは受信者間同士など)の情報通信を行うことも可能である。
図13Bに、ノート型パーソナルコンピュータの一例を示す。ノート型パーソナルコンピュータ7200は、筐体7211、キーボード7212、ポインティングデバイス7213、外部接続ポート7214等を有する。筐体7211に、表示部7000が組み込まれている。
表示部7000に、実施の形態2で示した表示装置を適用することができる。
図13C、図13Dに、デジタルサイネージの一例を示す。
図13Cに示すデジタルサイネージ7300は、筐体7301、表示部7000、及びスピーカ7303等を有する。さらに、LEDランプ、操作キー(電源スイッチ、または操作スイッチを含む)、接続端子、各種センサ、マイクロフォン等を有することができる。
図13Dは円柱状の柱7401に取り付けられたデジタルサイネージ7400である。デジタルサイネージ7400は、柱7401の曲面に沿って設けられた表示部7000を有する。
表示部7000が広いほど、一度に提供できる情報量を増やすことができる。また、表示部7000が広いほど、人の目につきやすく、例えば、広告の宣伝効果を高めることができる。
表示部7000にタッチパネルを適用することで、表示部7000に画像または動画を表示するだけでなく、ユーザーが直感的に操作することができ、好ましい。また、路線情報もしくは交通情報などの情報を提供するための用途に用いる場合には、直感的な操作によりユーザビリティを高めることができる。
また、図13C、図13Dに示すように、デジタルサイネージ7300またはデジタルサイネージ7400は、ユーザーが所持するスマートフォン等の情報端末機7311または情報端末機7411と無線通信により連携可能であることが好ましい。例えば、表示部7000に表示される広告の情報を、情報端末機7311または情報端末機7411の画面に表示させることができる。また、情報端末機7311または情報端末機7411を操作することで、表示部7000の表示を切り替えることができる。
図13C、図13Dにおいて、情報端末機7311または情報端末機7411の表示部に、実施の形態2で示した表示装置を適用することができる。
また、デジタルサイネージ7300またはデジタルサイネージ7400に、情報端末機7311または情報端末機7411の画面を操作手段(コントローラ)としたゲームを実行させることもできる。これにより、不特定多数のユーザーが同時にゲームに参加し、楽しむことができる。
図14A~図14Fに示す電子機器は、筐体9000、表示部9001、スピーカ9003、操作キー9005(電源スイッチ、または操作スイッチを含む)、接続端子9006、センサ9007(力、変位、位置、速度、加速度、角速度、回転数、距離、光、液、磁気、温度、化学物質、音声、時間、硬度、電場、電流、電圧、電力、放射線、流量、湿度、傾度、振動、においまたは赤外線を測定する機能を含むもの)、マイクロフォン9008、等を有する。
図14A~図14Fに示す電子機器は、様々な機能を有する。例えば、様々な情報(静止画、動画、テキスト画像など)を表示部に表示する機能、タッチパネル機能、カレンダー、日付または時刻などを表示する機能、様々なソフトウェア(プログラム)によって処理を制御する機能、無線通信機能、記録媒体に記録されているプログラムまたはデータを読み出して処理する機能、等を有することができる。なお、電子機器の機能はこれらに限られず、様々な機能を有することができる。電子機器は、複数の表示部を有していてもよい。また、電子機器にカメラ等を設け、静止画、動画などを撮影し、記録媒体(外部またはカメラに内蔵)に保存する機能、撮影した画像を表示部に表示する機能、等を有していてもよい。
図14A~図14Fに示す電子機器の詳細について、以下説明を行う。
図14Aは、携帯情報端末9101を示す斜視図である。携帯情報端末9101は、例えばスマートフォンとして用いることができる。なお、携帯情報端末9101は、スピーカ9003、接続端子9006、センサ9007等を設けてもよい。また、携帯情報端末9101は、文字、画像情報などをその複数の面に表示することができる。図14Aでは3つのアイコン9050を表示した例を示している。また、破線の矩形で示す情報9051を表示部9001の他の面に表示することもできる。情報9051の一例としては、電子メール、SNS、電話などの着信の通知、電子メール、SNSなどの題名、送信者名、日時、時刻、バッテリの残量、アンテナ受信の強度などがある。または、情報9051が表示されている位置にはアイコン9050などを表示してもよい。
図14Bは、携帯情報端末9102を示す斜視図である。携帯情報端末9102は、表示部9001の3面以上に情報を表示する機能を有する。ここでは、情報9052、情報9053、情報9054がそれぞれ異なる面に表示されている例を示す。例えばユーザーは、洋服の胸ポケットに携帯情報端末9102を収納した状態で、携帯情報端末9102の上方から観察できる位置に表示された情報9053を確認することもできる。ユーザーは、携帯情報端末9102をポケットから取り出すことなく表示を確認し、例えば電話を受けるか否かを判断できる。
図14Cは、腕時計型の携帯情報端末9200を示す斜視図である。携帯情報端末9200は、例えばスマートウォッチとして用いることができる。また、表示部9001はその表示面が湾曲して設けられ、湾曲した表示面に沿って表示を行うことができる。また、携帯情報端末9200は、例えば無線通信可能なヘッドセットと相互通信することによって、ハンズフリーで通話することもできる。また、携帯情報端末9200は、接続端子9006により、他の情報端末と相互にデータ伝送を行うこと、充電を行うことなどもできる。なお、充電動作は無線給電により行ってもよい。
図14D~図14Fは、折り畳み可能な携帯情報端末9201を示す斜視図である。また、図14Dは携帯情報端末9201を展開した状態、図14Fは折り畳んだ状態、図14Eは図14Dと図14Fの一方から他方に変化する途中の状態の斜視図である。携帯情報端末9201は、折り畳んだ状態では可搬性に優れ、展開した状態では継ぎ目のない広い表示領域により表示の一覧性に優れる。携帯情報端末9201が有する表示部9001は、ヒンジ9055によって連結された3つの筐体9000に支持されている。例えば、表示部9001は、曲率半径0.1mm以上150mm以下で曲げることができる。
本実施の形態は、少なくともその一部を本明細書中に記載する他の実施の形態と適宜組み合わせて実施することができる。
10:表示装置:11:表示部:12、13、14:駆動回路部:15:回路部:21、21B、21G、21R:画素:22:撮像画素:30:画素:50:表示装置:51、51B、51G、51R:発光素子:52:受光素子:55B、55G、55R:光:56:反射光:59:指:60B、60G、60R:期間
Claims (6)
- 第1の画素、第2の画素、及びセンサ画素を有する表示装置の駆動方法であって、
前記センサ画素は、前記第1の画素が呈する第1の色の光、及び前記第2の画素が呈する第2の色の光に感度を有する光電変換素子を有し、
前記第1の画素を点灯し、前記第2の画素を消灯した状態で、第1の撮像を行う第1の期間と、
前記第1の画素と前記第2の画素を消灯した状態で、第1の読出しを行う第2の期間と、
前記第2の画素を点灯し、前記第1の画素を消灯した状態で、第2の撮像を行う第3の期間と、
前記第1の画素と前記第2の画素を消灯した状態で、第2の読出しを行う第4の期間と、を有する、
表示装置の駆動方法。 - 第1の画素、第2の画素、及びセンサ画素を有する表示装置の駆動方法であって、
前記第1の画素は、第1の色の光を呈する第1の発光素子を有し、
前記第2の画素は、第2の色の光を呈する第2の発光素子を有し、
前記センサ画素は、前記第1の色の光及び前記第2の色の光に感度を有する光電変換素子を有し、
前記第1の画素に第1のデータを書き込む第1の期間と、
前記第1のデータに基づいて前記第1の発光素子が点灯した状態で、前記センサ画素による第1の撮像を行う第2の期間と、
前記第1の発光素子及び前記第2の発光素子を消灯する第3の期間と、
前記第2の画素に第2のデータを書き込む第4の期間と、を有し、
前記第3の期間及び前記第4の期間の一方または双方において、前記センサ画素から第1の読出しを行う、
表示装置の駆動方法。 - 請求項2において、
前記表示装置は、第3の画素を有し、
前記第3の画素は、第3の色の光を呈する第3の発光素子を有し、
前記第4の期間の後に、前記第2のデータに基づいて前記第2の発光素子が点灯した状態で、前記センサ画素による第2の撮像を行う第5の期間と、
前記第1の発光素子、前記第2の発光素子、及び前記第3の発光素子を消灯する第6の期間と、
前記第3の画素に第3のデータを書き込む第7の期間と、を有し、
前記第6の期間及び前記第7の期間の一方または双方において、前記センサ画素から第2の読出しを行う、
表示装置の駆動方法。 - 請求項2または請求項3において、
前記第1の発光素子と前記光電変換素子とは、同一面上に設けられる、
表示装置の駆動方法。 - 請求項2乃至請求項4のいずれか一において、
前記第1の発光素子は、第1の画素電極、発光層、及び第1の電極を有し、
前記光電変換素子は、第2の画素電極、活性層、及び前記第1の電極を有し、
前記第1の電極は、前記発光層を介して前記第1の画素電極と重なる部分と、前記活性層を介して前記第2の画素電極と重なる部分と、を有し、
前記第1の画素電極と、前記第2の画素電極とは、同一の導電膜を加工して形成される、
表示装置の駆動方法。 - 請求項5において、
前記第1の期間において、
前記第1の電極には、第1の電位が与えられ、
前記第1の画素電極には、前記第1の電位よりも高い第2の電位が与えられ、
前記第2の画素電極には、前記第1の電位よりも低い第3の電位が与えられる、
表示装置の駆動方法。
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