SA516371519B1 - جهاز إلكتروني بصري - Google Patents
جهاز إلكتروني بصري Download PDFInfo
- Publication number
- SA516371519B1 SA516371519B1 SA516371519A SA516371519A SA516371519B1 SA 516371519 B1 SA516371519 B1 SA 516371519B1 SA 516371519 A SA516371519 A SA 516371519A SA 516371519 A SA516371519 A SA 516371519A SA 516371519 B1 SA516371519 B1 SA 516371519B1
- Authority
- SA
- Saudi Arabia
- Prior art keywords
- perovskite
- layer
- rrr
- type
- region
- Prior art date
Links
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 title abstract description 130
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 290
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 288
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims abstract description 123
- -1 halide anions Chemical class 0.000 claims description 228
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 claims description 192
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 160
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 claims description 154
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 131
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 131
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 103
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 71
- 150000002892 organic cations Chemical class 0.000 claims description 60
- 239000011135 tin Substances 0.000 claims description 40
- MUJIDPITZJWBSW-UHFFFAOYSA-N palladium(2+) Chemical compound [Pd+2] MUJIDPITZJWBSW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 38
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 33
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 32
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 30
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 29
- 229910001432 tin ion Inorganic materials 0.000 claims description 29
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 26
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 26
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 24
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 23
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 claims description 23
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N palladium Substances [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 23
- JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N Cu2+ Chemical compound [Cu+2] JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 22
- 150000004770 chalcogenides Chemical class 0.000 claims description 22
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 22
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 22
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 claims description 19
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 claims description 19
- 229910001431 copper ion Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 15
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims description 13
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 13
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 238000013461 design Methods 0.000 claims description 11
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 7
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 claims description 6
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 claims description 6
- ZZEMEJKDTZOXOI-UHFFFAOYSA-N digallium;selenium(2-) Chemical compound [Ga+3].[Ga+3].[Se-2].[Se-2].[Se-2] ZZEMEJKDTZOXOI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 235000015076 Shorea robusta Nutrition 0.000 claims description 3
- 244000191761 Sida cordifolia Species 0.000 claims description 2
- 241000196324 Embryophyta Species 0.000 claims 4
- 241000269435 Rana <genus> Species 0.000 claims 3
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N Furan Chemical compound C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 239000005083 Zinc sulfide Substances 0.000 claims 2
- 210000002683 foot Anatomy 0.000 claims 2
- AKUCEXGLFUSJCD-UHFFFAOYSA-N indium(3+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Se-2].[Se-2].[In+3].[In+3] AKUCEXGLFUSJCD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 239000003921 oil Substances 0.000 claims 2
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 claims 2
- DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N zinc;sulfide Chemical compound [S-2].[Zn+2] DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- ABYZSYDGJGVCHS-ZETCQYMHSA-N (2s)-2-acetamido-n-(4-nitrophenyl)propanamide Chemical compound CC(=O)N[C@@H](C)C(=O)NC1=CC=C([N+]([O-])=O)C=C1 ABYZSYDGJGVCHS-ZETCQYMHSA-N 0.000 claims 1
- GICIECWTEWJCRE-UHFFFAOYSA-N 3,4,4,7-tetramethyl-2,3-dihydro-1h-naphthalene Chemical compound CC1=CC=C2C(C)(C)C(C)CCC2=C1 GICIECWTEWJCRE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- OOLRAQKFMNOZBV-UHFFFAOYSA-N 8-n-[(4-aminophenyl)methyl]-3,6,10,13,16,19-hexazabicyclo[6.6.6]icosane-1,8-diamine Chemical compound C1=CC(N)=CC=C1CNC1(CNCCNC2)CNCCNCC2(N)CNCCNC1 OOLRAQKFMNOZBV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 101150011812 AADAC gene Proteins 0.000 claims 1
- 240000000972 Agathis dammara Species 0.000 claims 1
- 241000319138 Amauris niavius Species 0.000 claims 1
- 102100023245 Asparagine-tRNA ligase, cytoplasmic Human genes 0.000 claims 1
- 241001132374 Asta Species 0.000 claims 1
- 241000726103 Atta Species 0.000 claims 1
- 235000018185 Betula X alpestris Nutrition 0.000 claims 1
- 235000018212 Betula X uliginosa Nutrition 0.000 claims 1
- 101150075558 CHGA gene Proteins 0.000 claims 1
- 101100056288 Caenorhabditis elegans ark-1 gene Proteins 0.000 claims 1
- 101100388509 Caenorhabditis elegans che-3 gene Proteins 0.000 claims 1
- 101100063435 Caenorhabditis elegans din-1 gene Proteins 0.000 claims 1
- 101100348008 Caenorhabditis elegans nas-2 gene Proteins 0.000 claims 1
- 101100293605 Caenorhabditis elegans nas-8 gene Proteins 0.000 claims 1
- 101100190466 Caenorhabditis elegans pid-3 gene Proteins 0.000 claims 1
- 101100256358 Caenorhabditis elegans seb-2 gene Proteins 0.000 claims 1
- 241000070928 Calligonum comosum Species 0.000 claims 1
- 241000722731 Carex Species 0.000 claims 1
- 235000006693 Cassia laevigata Nutrition 0.000 claims 1
- 229920002871 Dammar gum Polymers 0.000 claims 1
- 235000017274 Diospyros sandwicensis Nutrition 0.000 claims 1
- 241000690623 Doras Species 0.000 claims 1
- 102000017914 EDNRA Human genes 0.000 claims 1
- 101150062404 EDNRA gene Proteins 0.000 claims 1
- 241000282326 Felis catus Species 0.000 claims 1
- 101000624939 Homo sapiens Asparagine-tRNA ligase, cytoplasmic Proteins 0.000 claims 1
- 101001018064 Homo sapiens Lysosomal-trafficking regulator Proteins 0.000 claims 1
- 101001047090 Homo sapiens Potassium voltage-gated channel subfamily H member 2 Proteins 0.000 claims 1
- 241000257303 Hymenoptera Species 0.000 claims 1
- 241000102542 Kara Species 0.000 claims 1
- 241000282838 Lama Species 0.000 claims 1
- 241000283986 Lepus Species 0.000 claims 1
- 102100033472 Lysosomal-trafficking regulator Human genes 0.000 claims 1
- 102100034184 Macrophage scavenger receptor types I and II Human genes 0.000 claims 1
- 101710134306 Macrophage scavenger receptor types I and II Proteins 0.000 claims 1
- 240000000233 Melia azedarach Species 0.000 claims 1
- 241001214257 Mene Species 0.000 claims 1
- 244000038561 Modiola caroliniana Species 0.000 claims 1
- 235000010703 Modiola caroliniana Nutrition 0.000 claims 1
- 101000867030 Myxine glutinosa Homeobox protein engrailed-like B Proteins 0.000 claims 1
- 101000800755 Naja oxiana Alpha-elapitoxin-Nno2a Proteins 0.000 claims 1
- 101100350775 Neurospora crassa (strain ATCC 24698 / 74-OR23-1A / CBS 708.71 / DSM 1257 / FGSC 987) prr-5 gene Proteins 0.000 claims 1
- 241000749985 Nites Species 0.000 claims 1
- 241001282736 Oriens Species 0.000 claims 1
- 101150034459 Parpbp gene Proteins 0.000 claims 1
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 claims 1
- 102100022807 Potassium voltage-gated channel subfamily H member 2 Human genes 0.000 claims 1
- 241000287531 Psittacidae Species 0.000 claims 1
- 241000568452 Sania Species 0.000 claims 1
- DYAHQFWOVKZOOW-UHFFFAOYSA-N Sarin Chemical compound CC(C)OP(C)(F)=O DYAHQFWOVKZOOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 241000522641 Senna Species 0.000 claims 1
- 239000004783 Serene Substances 0.000 claims 1
- 102000011990 Sirtuin Human genes 0.000 claims 1
- 108050002485 Sirtuin Proteins 0.000 claims 1
- 241000282887 Suidae Species 0.000 claims 1
- 208000003217 Tetany Diseases 0.000 claims 1
- WDLRUFUQRNWCPK-UHFFFAOYSA-N Tetraxetan Chemical compound OC(=O)CN1CCN(CC(O)=O)CCN(CC(O)=O)CCN(CC(O)=O)CC1 WDLRUFUQRNWCPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 241000130764 Tinea Species 0.000 claims 1
- 208000002474 Tinea Diseases 0.000 claims 1
- 235000014686 Trigonella arabica Nutrition 0.000 claims 1
- 240000004372 Trigonella arabica Species 0.000 claims 1
- YGSCHSPBVNFNTD-UHFFFAOYSA-N [S].[Sn].[Zn] Chemical compound [S].[Sn].[Zn] YGSCHSPBVNFNTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- IQTMWNQRJYAGDL-UHFFFAOYSA-N [SeH2]=[Se] Chemical compound [SeH2]=[Se] IQTMWNQRJYAGDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 235000015107 ale Nutrition 0.000 claims 1
- HIGRAKVNKLCVCA-UHFFFAOYSA-N alumine Chemical compound C1=CC=[Al]C=C1 HIGRAKVNKLCVCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 235000013405 beer Nutrition 0.000 claims 1
- 235000021028 berry Nutrition 0.000 claims 1
- AMOLYAKYUOOZIR-UHFFFAOYSA-N copper selanylidenetin Chemical compound [Cu].[Sn]=[Se] AMOLYAKYUOOZIR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- TVZPLCNGKSPOJA-UHFFFAOYSA-N copper zinc Chemical compound [Cu].[Zn] TVZPLCNGKSPOJA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 claims 1
- 235000005911 diet Nutrition 0.000 claims 1
- 230000037213 diet Effects 0.000 claims 1
- 230000005021 gait Effects 0.000 claims 1
- 239000010977 jade Substances 0.000 claims 1
- 235000012054 meals Nutrition 0.000 claims 1
- PSGAAPLEWMOORI-PEINSRQWSA-N medroxyprogesterone acetate Chemical compound C([C@@]12C)CC(=O)C=C1[C@@H](C)C[C@@H]1[C@@H]2CC[C@]2(C)[C@@](OC(C)=O)(C(C)=O)CC[C@H]21 PSGAAPLEWMOORI-PEINSRQWSA-N 0.000 claims 1
- 239000005332 obsidian Substances 0.000 claims 1
- 230000002165 photosensitisation Effects 0.000 claims 1
- 239000003504 photosensitizing agent Substances 0.000 claims 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims 1
- 230000001012 protector Effects 0.000 claims 1
- 150000004771 selenides Chemical class 0.000 claims 1
- MFIWAIVSOUGHLI-UHFFFAOYSA-N selenium;tin Chemical compound [Sn]=[Se] MFIWAIVSOUGHLI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229940124513 senna glycoside Drugs 0.000 claims 1
- IPQVTOJGNYVQEO-KGFNBKMBSA-N sennoside A Chemical compound O[C@@H]1[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](CO)O[C@H]1OC1=CC=CC2=C1C(=O)C1=C(O)C=C(C(O)=O)C=C1[C@@H]2[C@H]1C2=CC(C(O)=O)=CC(O)=C2C(=O)C2=C(O[C@H]3[C@@H]([C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](CO)O3)O)C=CC=C21 IPQVTOJGNYVQEO-KGFNBKMBSA-N 0.000 claims 1
- MTCFGRXMJLQNBG-UHFFFAOYSA-N serine Chemical compound OCC(N)C(O)=O MTCFGRXMJLQNBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- FESBVLZDDCQLFY-UHFFFAOYSA-N sete Chemical compound [Te]=[Se] FESBVLZDDCQLFY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 125000003003 spiro group Chemical group 0.000 claims 1
- 238000004416 surface enhanced Raman spectroscopy Methods 0.000 claims 1
- 235000013616 tea Nutrition 0.000 claims 1
- 238000000772 tip-enhanced Raman spectroscopy Methods 0.000 claims 1
- MBYLVOKEDDQJDY-UHFFFAOYSA-N tris(2-aminoethyl)amine Chemical compound NCCN(CCN)CCN MBYLVOKEDDQJDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 579
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 139
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 119
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 100
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 79
- 230000008569 process Effects 0.000 description 77
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 72
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 68
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 68
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 67
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 66
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 63
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 62
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 57
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 56
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical compound I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 54
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 53
- 239000004408 titanium dioxide Substances 0.000 description 48
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 45
- 229920000144 PEDOT:PSS Polymers 0.000 description 41
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 40
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 40
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 37
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 37
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 37
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 35
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 34
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 34
- 238000005424 photoluminescence Methods 0.000 description 34
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 31
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 31
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 30
- HWSZZLVAJGOAAY-UHFFFAOYSA-L lead(II) chloride Chemical compound Cl[Pb]Cl HWSZZLVAJGOAAY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 30
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 29
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 28
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 26
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 25
- XDXWNHPWWKGTKO-UHFFFAOYSA-N 207739-72-8 Chemical compound C1=CC(OC)=CC=C1N(C=1C=C2C3(C4=CC(=CC=C4C2=CC=1)N(C=1C=CC(OC)=CC=1)C=1C=CC(OC)=CC=1)C1=CC(=CC=C1C1=CC=C(C=C13)N(C=1C=CC(OC)=CC=1)C=1C=CC(OC)=CC=1)N(C=1C=CC(OC)=CC=1)C=1C=CC(OC)=CC=1)C1=CC=C(OC)C=C1 XDXWNHPWWKGTKO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 24
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 24
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical compound [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 23
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 23
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 23
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 23
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 23
- LLWRXQXPJMPHLR-UHFFFAOYSA-N methylazanium;iodide Chemical compound [I-].[NH3+]C LLWRXQXPJMPHLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 23
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 22
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 22
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 22
- CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M Bromide Chemical compound [Br-] CPELXLSAUQHCOX-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 21
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 21
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 21
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 20
- BHPQYMZQTOCNFJ-UHFFFAOYSA-N Calcium cation Chemical compound [Ca+2] BHPQYMZQTOCNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 229910001424 calcium ion Inorganic materials 0.000 description 19
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 19
- XLJKHNWPARRRJB-UHFFFAOYSA-N cobalt(2+) Chemical compound [Co+2] XLJKHNWPARRRJB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 18
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 18
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 18
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 18
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 18
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 18
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 18
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 17
- 238000003618 dip coating Methods 0.000 description 17
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 17
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 17
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 108091006149 Electron carriers Proteins 0.000 description 15
- MCEWYIDBDVPMES-UHFFFAOYSA-N [60]pcbm Chemical compound C123C(C4=C5C6=C7C8=C9C%10=C%11C%12=C%13C%14=C%15C%16=C%17C%18=C(C=%19C=%20C%18=C%18C%16=C%13C%13=C%11C9=C9C7=C(C=%20C9=C%13%18)C(C7=%19)=C96)C6=C%11C%17=C%15C%13=C%15C%14=C%12C%12=C%10C%10=C85)=C9C7=C6C2=C%11C%13=C2C%15=C%12C%10=C4C23C1(CCCC(=O)OC)C1=CC=CC=C1 MCEWYIDBDVPMES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N [Cu].[Se].[Se].[In] Chemical compound [Cu].[Se].[Se].[In] KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 15
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 15
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 15
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 15
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 15
- 150000003346 selenoethers Chemical class 0.000 description 15
- PWYYWQHXAPXYMF-UHFFFAOYSA-N strontium(2+) Chemical compound [Sr+2] PWYYWQHXAPXYMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N chlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=CC=C1 MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 14
- XSOKHXFFCGXDJZ-UHFFFAOYSA-N telluride(2-) Chemical compound [Te-2] XSOKHXFFCGXDJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical compound [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- WAEMQWOKJMHJLA-UHFFFAOYSA-N Manganese(2+) Chemical compound [Mn+2] WAEMQWOKJMHJLA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 13
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 13
- GNTDGMZSJNCJKK-UHFFFAOYSA-N divanadium pentaoxide Chemical compound O=[V](=O)O[V](=O)=O GNTDGMZSJNCJKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 239000010408 film Substances 0.000 description 13
- RVPVRDXYQKGNMQ-UHFFFAOYSA-N lead(2+) Chemical compound [Pb+2] RVPVRDXYQKGNMQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 229910001437 manganese ion Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 13
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 13
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 13
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 13
- LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N vanadium atom Chemical compound [V] LEONUFNNVUYDNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 239000012855 volatile organic compound Substances 0.000 description 13
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 230000008859 change Effects 0.000 description 12
- 229910001429 cobalt ion Inorganic materials 0.000 description 12
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 12
- 229910052752 metalloid Inorganic materials 0.000 description 12
- 238000004062 sedimentation Methods 0.000 description 12
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 12
- VXUYXOFXAQZZMF-UHFFFAOYSA-N titanium(IV) isopropoxide Chemical compound CC(C)O[Ti](OC(C)C)(OC(C)C)OC(C)C VXUYXOFXAQZZMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- UUIMDJFBHNDZOW-UHFFFAOYSA-N 2-tert-butylpyridine Chemical compound CC(C)(C)C1=CC=CC=N1 UUIMDJFBHNDZOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N Alumina Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- CWYNVVGOOAEACU-UHFFFAOYSA-N Fe2+ Chemical compound [Fe+2] CWYNVVGOOAEACU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-N Methylamine Chemical compound NC BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 11
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 11
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 11
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 11
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N iron Substances [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 10
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 9
- AOWKSNWVBZGMTJ-UHFFFAOYSA-N calcium titanate Chemical compound [Ca+2].[O-][Ti]([O-])=O AOWKSNWVBZGMTJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 9
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 9
- 229910000480 nickel oxide Inorganic materials 0.000 description 9
- GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N oxonickel Chemical compound [Ni]=O GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 9
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 9
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000005751 Copper oxide Substances 0.000 description 8
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 8
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 description 8
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 8
- 229910000431 copper oxide Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 8
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 8
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 8
- 229960004592 isopropanol Drugs 0.000 description 8
- RQQRAHKHDFPBMC-UHFFFAOYSA-L lead(ii) iodide Chemical compound I[Pb]I RQQRAHKHDFPBMC-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 8
- 125000002924 primary amino group Chemical group [H]N([H])* 0.000 description 8
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 8
- NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N ytterbium Chemical compound [Yb] NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229920001609 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polymers 0.000 description 7
- 229910052769 Ytterbium Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 7
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 7
- WLZRMCYVCSSEQC-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+) Chemical compound [Cd+2] WLZRMCYVCSSEQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 7
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 7
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 7
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 7
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 238000013086 organic photovoltaic Methods 0.000 description 7
- 229920000301 poly(3-hexylthiophene-2,5-diyl) polymer Polymers 0.000 description 7
- 229910001427 strontium ion Inorganic materials 0.000 description 7
- PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N tantalum pentoxide Inorganic materials O=[Ta](=O)O[Ta](=O)=O PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229950011008 tetrachloroethylene Drugs 0.000 description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 6
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- ODWXUNBKCRECNW-UHFFFAOYSA-M bromocopper(1+) Chemical compound Br[Cu+] ODWXUNBKCRECNW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- LSXDOTMGLUJQCM-UHFFFAOYSA-M copper(i) iodide Chemical compound I[Cu] LSXDOTMGLUJQCM-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- GBRBMTNGQBKBQE-UHFFFAOYSA-L copper;diiodide Chemical compound I[Cu]I GBRBMTNGQBKBQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 6
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 6
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 6
- 150000002738 metalloids Chemical class 0.000 description 6
- PLDDOISOJJCEMH-UHFFFAOYSA-N neodymium(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Nd+3].[Nd+3] PLDDOISOJJCEMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- ZKATWMILCYLAPD-UHFFFAOYSA-N niobium pentoxide Inorganic materials O=[Nb](=O)O[Nb](=O)=O ZKATWMILCYLAPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 6
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 239000000047 product Substances 0.000 description 6
- 230000000979 retarding effect Effects 0.000 description 6
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 6
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 6
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 6
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910001934 tungsten pentoxide Inorganic materials 0.000 description 6
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- SNFCXVRWFNAHQX-UHFFFAOYSA-N 9,9'-spirobi[fluorene] Chemical compound C12=CC=CC=C2C2=CC=CC=C2C21C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C21 SNFCXVRWFNAHQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N C60 fullerene Chemical class C12=C3C(C4=C56)=C7C8=C5C5=C9C%10=C6C6=C4C1=C1C4=C6C6=C%10C%10=C9C9=C%11C5=C8C5=C8C7=C3C3=C7C2=C1C1=C2C4=C6C4=C%10C6=C9C9=C%11C5=C5C8=C3C3=C7C1=C1C2=C4C6=C2C9=C5C3=C12 XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- VEQPNABPJHWNSG-UHFFFAOYSA-N Nickel(2+) Chemical compound [Ni+2] VEQPNABPJHWNSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- CYTYCFOTNPOANT-UHFFFAOYSA-N Perchloroethylene Chemical group ClC(Cl)=C(Cl)Cl CYTYCFOTNPOANT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 5
- QHJPGANWSLEMTI-UHFFFAOYSA-N aminomethylideneazanium;iodide Chemical compound I.NC=N QHJPGANWSLEMTI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- PCRGAMCZHDYVOL-UHFFFAOYSA-N copper selanylidenetin zinc Chemical compound [Cu].[Zn].[Sn]=[Se] PCRGAMCZHDYVOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 5
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 5
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 5
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 5
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- URLJKFSTXLNXLG-UHFFFAOYSA-N niobium(5+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Nb+5].[Nb+5] URLJKFSTXLNXLG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 5
- HLLICFJUWSZHRJ-UHFFFAOYSA-N tioxidazole Chemical compound CCCOC1=CC=C2N=C(NC(=O)OC)SC2=C1 HLLICFJUWSZHRJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910001935 vanadium oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 5
- 108010078791 Carrier Proteins Proteins 0.000 description 4
- 229910021591 Copper(I) chloride Inorganic materials 0.000 description 4
- PNKUSGQVOMIXLU-UHFFFAOYSA-N Formamidine Chemical compound NC=N PNKUSGQVOMIXLU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000370 acceptor Substances 0.000 description 4
- 239000003929 acidic solution Substances 0.000 description 4
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 4
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 4
- 239000007767 bonding agent Substances 0.000 description 4
- CXKCTMHTOKXKQT-UHFFFAOYSA-N cadmium oxide Inorganic materials [Cd]=O CXKCTMHTOKXKQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 4
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 4
- HVMJUDPAXRRVQO-UHFFFAOYSA-N copper indium Chemical compound [Cu].[In] HVMJUDPAXRRVQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- WILFBXOGIULNAF-UHFFFAOYSA-N copper sulfanylidenetin zinc Chemical compound [Sn]=S.[Zn].[Cu] WILFBXOGIULNAF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OXBLHERUFWYNTN-UHFFFAOYSA-M copper(I) chloride Chemical compound [Cu]Cl OXBLHERUFWYNTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- BQVVSSAWECGTRN-UHFFFAOYSA-L copper;dithiocyanate Chemical compound [Cu+2].[S-]C#N.[S-]C#N BQVVSSAWECGTRN-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 4
- UIPVMGDJUWUZEI-UHFFFAOYSA-N copper;selanylideneindium Chemical compound [Cu].[In]=[Se] UIPVMGDJUWUZEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 4
- 229940045803 cuprous chloride Drugs 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 description 4
- 229940071870 hydroiodic acid Drugs 0.000 description 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 4
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 4
- 229910003473 lithium bis(trifluoromethanesulfonyl)imide Inorganic materials 0.000 description 4
- QSZMZKBZAYQGRS-UHFFFAOYSA-N lithium;bis(trifluoromethylsulfonyl)azanide Chemical compound [Li+].FC(F)(F)S(=O)(=O)[N-]S(=O)(=O)C(F)(F)F QSZMZKBZAYQGRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ISWNAMNOYHCTSB-UHFFFAOYSA-N methanamine;hydrobromide Chemical compound [Br-].[NH3+]C ISWNAMNOYHCTSB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- NQMRYBIKMRVZLB-UHFFFAOYSA-N methylamine hydrochloride Chemical compound [Cl-].[NH3+]C NQMRYBIKMRVZLB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 4
- YEXPOXQUZXUXJW-UHFFFAOYSA-N oxolead Chemical compound [Pb]=O YEXPOXQUZXUXJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920001197 polyacetylene Polymers 0.000 description 4
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 4
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 4
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 4
- GGYFMLJDMAMTAB-UHFFFAOYSA-N selanylidenelead Chemical compound [Pb]=[Se] GGYFMLJDMAMTAB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 4
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 4
- WRTMQOHKMFDUKX-UHFFFAOYSA-N triiodide Chemical compound I[I-]I WRTMQOHKMFDUKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ZXMGHDIOOHOAAE-UHFFFAOYSA-N 1,1,1-trifluoro-n-(trifluoromethylsulfonyl)methanesulfonamide Chemical compound FC(F)(F)S(=O)(=O)NS(=O)(=O)C(F)(F)F ZXMGHDIOOHOAAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 3-(oxolan-2-yl)propanoic acid Chemical compound OC(=O)CCC1CCCO1 WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N Acetonitrile Chemical compound CC#N WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 241000125205 Anethum Species 0.000 description 3
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 3
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- NPNMHHNXCILFEF-UHFFFAOYSA-N [F].[Sn]=O Chemical compound [F].[Sn]=O NPNMHHNXCILFEF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000003463 adsorbent Substances 0.000 description 3
- 125000003282 alkyl amino group Chemical group 0.000 description 3
- WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N alpha-terpineol Chemical compound CC1=CCC(C(C)(C)O)CC1 WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229940022504 aluminum oxide paste Drugs 0.000 description 3
- QWANGZFTSGZRPZ-UHFFFAOYSA-N aminomethylideneazanium;bromide Chemical compound Br.NC=N QWANGZFTSGZRPZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 3
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052980 cadmium sulfide Inorganic materials 0.000 description 3
- CFEAAQFZALKQPA-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Cd+2] CFEAAQFZALKQPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000012876 carrier material Substances 0.000 description 3
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 3
- SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N delta-terpineol Natural products CC(C)(O)C1CCC(=C)CC1 SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N digallium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Ga+3].[Ga+3] AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XIMIGUBYDJDCKI-UHFFFAOYSA-N diselenium Chemical compound [Se]=[Se] XIMIGUBYDJDCKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 229910003472 fullerene Inorganic materials 0.000 description 3
- QZQVBEXLDFYHSR-UHFFFAOYSA-N gallium(III) oxide Inorganic materials O=[Ga]O[Ga]=O QZQVBEXLDFYHSR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000000623 heterocyclic group Chemical group 0.000 description 3
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 3
- 229910003455 mixed metal oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 229940112824 paste Drugs 0.000 description 3
- 125000002080 perylenyl group Chemical group C1(=CC=C2C=CC=C3C4=CC=CC5=CC=CC(C1=C23)=C45)* 0.000 description 3
- CSHWQDPOILHKBI-UHFFFAOYSA-N peryrene Natural products C1=CC(C2=CC=CC=3C2=C2C=CC=3)=C3C2=CC=CC3=C1 CSHWQDPOILHKBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000001443 photoexcitation Effects 0.000 description 3
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 3
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 3
- 239000002491 polymer binding agent Substances 0.000 description 3
- 230000001376 precipitating effect Effects 0.000 description 3
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 3
- IRPLSAGFWHCJIQ-UHFFFAOYSA-N selanylidenecopper Chemical compound [Se]=[Cu] IRPLSAGFWHCJIQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 3
- 229940116411 terpineol Drugs 0.000 description 3
- 150000003568 thioethers Chemical class 0.000 description 3
- 238000001161 time-correlated single photon counting Methods 0.000 description 3
- LTSUHJWLSNQKIP-UHFFFAOYSA-J tin(iv) bromide Chemical compound Br[Sn](Br)(Br)Br LTSUHJWLSNQKIP-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 3
- 241000258740 Abia Species 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229940126062 Compound A Drugs 0.000 description 2
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000001856 Ethyl cellulose Substances 0.000 description 2
- QUSNBJAOOMFDIB-UHFFFAOYSA-N Ethylamine Chemical compound CCN QUSNBJAOOMFDIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 2
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 description 2
- VTLYFUHAOXGGBS-UHFFFAOYSA-N Fe3+ Chemical compound [Fe+3] VTLYFUHAOXGGBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NLDMNSXOCDLTTB-UHFFFAOYSA-N Heterophylliin A Natural products O1C2COC(=O)C3=CC(O)=C(O)C(O)=C3C3=C(O)C(O)=C(O)C=C3C(=O)OC2C(OC(=O)C=2C=C(O)C(O)=C(O)C=2)C(O)C1OC(=O)C1=CC(O)=C(O)C(O)=C1 NLDMNSXOCDLTTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021578 Iron(III) chloride Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002841 Lewis acid Substances 0.000 description 2
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-O Methylammonium ion Chemical compound [NH3+]C BAVYZALUXZFZLV-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 2
- BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N Orthosilicate Chemical compound [O-][Si]([O-])([O-])[O-] BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910019142 PO4 Inorganic materials 0.000 description 2
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ABLZXFCXXLZCGV-UHFFFAOYSA-N Phosphorous acid Chemical compound OP(O)=O ABLZXFCXXLZCGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N Pyrrole Chemical compound C=1C=CNC=1 KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SDBOUNNVMSZUHW-UHFFFAOYSA-N S=[Cu]=[Se] Chemical class S=[Cu]=[Se] SDBOUNNVMSZUHW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 2
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 238000001720 action spectrum Methods 0.000 description 2
- 125000002252 acyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000004423 acyloxy group Chemical group 0.000 description 2
- XCSGPAVHZFQHGE-UHFFFAOYSA-N alachlor Chemical compound CCC1=CC=CC(CC)=C1N(COC)C(=O)CCl XCSGPAVHZFQHGE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 2
- 125000004414 alkyl thio group Chemical group 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 125000001691 aryl alkyl amino group Chemical group 0.000 description 2
- 125000005110 aryl thio group Chemical group 0.000 description 2
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 125000002619 bicyclic group Chemical group 0.000 description 2
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- FSIONULHYUVFFA-UHFFFAOYSA-N cadmium arsenide Chemical compound [Cd].[Cd]=[As].[Cd]=[As] FSIONULHYUVFFA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 2
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 2
- 238000001246 colloidal dispersion Methods 0.000 description 2
- 235000009508 confectionery Nutrition 0.000 description 2
- KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N copper tin Chemical compound [Cu].[Sn] KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RPYFZMPJOHSVLD-UHFFFAOYSA-N copper vanadium Chemical compound [V][V][Cu] RPYFZMPJOHSVLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 2
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 2
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 2
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 2
- 229920001249 ethyl cellulose Polymers 0.000 description 2
- 229910001447 ferric ion Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001448 ferrous ion Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000009472 formulation Methods 0.000 description 2
- 238000003958 fumigation Methods 0.000 description 2
- 125000001188 haloalkyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000004051 hexyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-O hydron;1h-pyrrole Chemical compound [NH2+]1C=CC=C1 KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 2
- 125000004356 hydroxy functional group Chemical group O* 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 150000002484 inorganic compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000002608 ionic liquid Substances 0.000 description 2
- RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K iron trichloride Chemical compound Cl[Fe](Cl)Cl RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- 229910000464 lead oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000007517 lewis acids Chemical class 0.000 description 2
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 2
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 2
- 125000002950 monocyclic group Chemical group 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- BSIDXUHWUKTRQL-UHFFFAOYSA-N nickel palladium Chemical compound [Ni].[Pd] BSIDXUHWUKTRQL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 2
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KYKLWYKWCAYAJY-UHFFFAOYSA-N oxotin;zinc Chemical compound [Zn].[Sn]=O KYKLWYKWCAYAJY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000001147 pentyl group Chemical group C(CCCC)* 0.000 description 2
- 239000010452 phosphate Substances 0.000 description 2
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 229920001467 poly(styrenesulfonates) Polymers 0.000 description 2
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 2
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 2
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 2
- 125000001436 propyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 2
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 2
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 2
- 238000004626 scanning electron microscopy Methods 0.000 description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 239000000344 soap Substances 0.000 description 2
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000000547 substituted alkyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000003107 substituted aryl group Chemical group 0.000 description 2
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009210 therapy by ultrasound Methods 0.000 description 2
- 238000002233 thin-film X-ray diffraction Methods 0.000 description 2
- 150000003573 thiols Chemical class 0.000 description 2
- HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J tin(iv) chloride Chemical compound Cl[Sn](Cl)(Cl)Cl HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 2
- YUOWTJMRMWQJDA-UHFFFAOYSA-J tin(iv) fluoride Chemical compound [F-].[F-].[F-].[F-].[Sn+4] YUOWTJMRMWQJDA-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 2
- ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N triphenylamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 ODHXBMXNKOYIBV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 2
- 238000001429 visible spectrum Methods 0.000 description 2
- 125000004169 (C1-C6) alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- OLRBYEHWZZSYQQ-VVDZMTNVSA-N (e)-4-hydroxypent-3-en-2-one;propan-2-ol;titanium Chemical compound [Ti].CC(C)O.CC(C)O.C\C(O)=C/C(C)=O.C\C(O)=C/C(C)=O OLRBYEHWZZSYQQ-VVDZMTNVSA-N 0.000 description 1
- POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M (z)-4-oxopent-2-en-2-olate Chemical compound C\C([O-])=C\C(C)=O POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M 0.000 description 1
- POKOASTYJWUQJG-UHFFFAOYSA-M 1-butylpyridin-1-ium;chloride Chemical compound [Cl-].CCCC[N+]1=CC=CC=C1 POKOASTYJWUQJG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- YBYIRNPNPLQARY-UHFFFAOYSA-N 1H-indene Natural products C1=CC=C2CC=CC2=C1 YBYIRNPNPLQARY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IEUQLXVHBHEVSJ-UHFFFAOYSA-N 2-(1h-pyrrol-2-yloxy)-1h-pyrrole Chemical compound C=1C=CNC=1OC1=CC=CN1 IEUQLXVHBHEVSJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SJNXLFCTPWBYSE-UHFFFAOYSA-N 2-(4-phenylphenyl)-5-[5-(4-phenylphenyl)thiophen-2-yl]thiophene Chemical compound C=1C=C(C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC=CC=2)SC=1C(S1)=CC=C1C(C=C1)=CC=C1C1=CC=CC=C1 SJNXLFCTPWBYSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HZAXFHJVJLSVMW-UHFFFAOYSA-N 2-Aminoethan-1-ol Chemical compound NCCO HZAXFHJVJLSVMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FKJSFKCZZIXQIP-UHFFFAOYSA-N 2-bromo-1-(4-bromophenyl)ethanone Chemical compound BrCC(=O)C1=CC=C(Br)C=C1 FKJSFKCZZIXQIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ADSOSINJPNKUJK-UHFFFAOYSA-N 2-butylpyridine Chemical compound CCCCC1=CC=CC=N1 ADSOSINJPNKUJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZDAWFMCVTXSZTC-UHFFFAOYSA-N 2-n',7-n'-dinaphthalen-1-yl-2-n',7-n'-diphenyl-9,9'-spirobi[fluorene]-2',7'-diamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(C=2C(=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C23C4=CC=CC=C4C4=CC=CC=C43)C2=C1 ZDAWFMCVTXSZTC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BMYNFMYTOJXKLE-UHFFFAOYSA-N 3-azaniumyl-2-hydroxypropanoate Chemical compound NCC(O)C(O)=O BMYNFMYTOJXKLE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WPUSEOSICYGUEW-UHFFFAOYSA-N 4-[4-(4-methoxy-n-(4-methoxyphenyl)anilino)phenyl]-n,n-bis(4-methoxyphenyl)aniline Chemical compound C1=CC(OC)=CC=C1N(C=1C=CC(=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC(OC)=CC=1)C=1C=CC(OC)=CC=1)C1=CC=C(OC)C=C1 WPUSEOSICYGUEW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 4-n-(3-methylphenyl)-1-n,1-n-bis[4-(n-(3-methylphenyl)anilino)phenyl]-4-n-phenylbenzene-1,4-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)=C1 DIVZFUBWFAOMCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NXVNUSIHWZLMGF-UHFFFAOYSA-N 4-phenyl-N-(4-phenylphenyl)-N-[4-[9-[4-(4-phenyl-N-(4-phenylphenyl)anilino)phenyl]fluoren-9-yl]phenyl]aniline Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=C(N(C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)C2(C3=CC=CC=C3C3=CC=CC=C32)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=C1 NXVNUSIHWZLMGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M Acetate Chemical compound CC([O-])=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 241001136792 Alle Species 0.000 description 1
- 108700028369 Alleles Proteins 0.000 description 1
- 241001116389 Aloe Species 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- 101000878595 Arabidopsis thaliana Squalene synthase 1 Proteins 0.000 description 1
- 235000016068 Berberis vulgaris Nutrition 0.000 description 1
- 241000335053 Beta vulgaris Species 0.000 description 1
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M Bisulfite Chemical compound OS([O-])=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002971 CaTiO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 101100394230 Caenorhabditis elegans ham-1 gene Proteins 0.000 description 1
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000761389 Copa Species 0.000 description 1
- 101000622004 Crotalus atrox Snake venom metalloproteinase atrolysin-C Proteins 0.000 description 1
- 229910002475 Cu2ZnSnS4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000016936 Dendrocalamus strictus Nutrition 0.000 description 1
- BWGNESOTFCXPMA-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen disulfide Chemical compound SS BWGNESOTFCXPMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101100234002 Drosophila melanogaster Shal gene Proteins 0.000 description 1
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 1
- ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N Ethyl cellulose Chemical compound CCOCC1OC(OC)C(OCC)C(OCC)C1OC1C(O)C(O)C(OC)C(CO)O1 ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000212941 Glehnia Species 0.000 description 1
- WTDRDQBEARUVNC-LURJTMIESA-N L-DOPA Chemical compound OC(=O)[C@@H](N)CC1=CC=C(O)C(O)=C1 WTDRDQBEARUVNC-LURJTMIESA-N 0.000 description 1
- 240000008415 Lactuca sativa Species 0.000 description 1
- UUIQMZJEGPQKFD-UHFFFAOYSA-N Methyl butyrate Chemical compound CCCC(=O)OC UUIQMZJEGPQKFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101100045395 Mus musculus Tap1 gene Proteins 0.000 description 1
- 229910004064 NOBF4 Inorganic materials 0.000 description 1
- KEJOCWOXCDWNID-UHFFFAOYSA-N Nitrilooxonium Chemical compound [O+]#N KEJOCWOXCDWNID-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XOJVVFBFDXDTEG-UHFFFAOYSA-N Norphytane Natural products CC(C)CCCC(C)CCCC(C)CCCC(C)C XOJVVFBFDXDTEG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000265 Polyparaphenylene Polymers 0.000 description 1
- LNFMWAFDXQJIKB-UHFFFAOYSA-L S1C(C=CC=CC=C1)C(=O)[O-].[Cu+2].S1C(C=CC=CC=C1)C(=O)[O-] Chemical compound S1C(C=CC=CC=C1)C(=O)[O-].[Cu+2].S1C(C=CC=CC=C1)C(=O)[O-] LNFMWAFDXQJIKB-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical group [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 244000166071 Shorea robusta Species 0.000 description 1
- 241000534944 Thia Species 0.000 description 1
- ZMZDMBWJUHKJPS-UHFFFAOYSA-M Thiocyanate anion Chemical compound [S-]C#N ZMZDMBWJUHKJPS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 1
- 208000024780 Urticaria Diseases 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VCMKVXMHPZSMQR-UHFFFAOYSA-N [Cd].[Zn].[Cu].[Sn] Chemical compound [Cd].[Zn].[Cu].[Sn] VCMKVXMHPZSMQR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SEUJAMVVGAETFN-UHFFFAOYSA-N [Cu].[Zn].S=[Sn]=[Se] Chemical compound [Cu].[Zn].S=[Sn]=[Se] SEUJAMVVGAETFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PDYXSJSAMVACOH-UHFFFAOYSA-N [Cu].[Zn].[Sn] Chemical compound [Cu].[Zn].[Sn] PDYXSJSAMVACOH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PTIFCVSJPBLOQP-UHFFFAOYSA-N [O-2].[Yb+3].[O-2].[Yb+3] Chemical compound [O-2].[Yb+3].[O-2].[Yb+3] PTIFCVSJPBLOQP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QRSFFHRCBYCWBS-UHFFFAOYSA-N [O].[O] Chemical group [O].[O] QRSFFHRCBYCWBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DSSYDPGRYHVFLK-UHFFFAOYSA-N [S--].[S--].[Zn++].[Zn++] Chemical compound [S--].[S--].[Zn++].[Zn++] DSSYDPGRYHVFLK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PHPKKGYKGPCPMV-UHFFFAOYSA-N [SeH-]=[Se].[In+3].[SeH-]=[Se].[SeH-]=[Se] Chemical compound [SeH-]=[Se].[In+3].[SeH-]=[Se].[SeH-]=[Se] PHPKKGYKGPCPMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011481 absorbance measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 1
- XPOLVIIHTDKJRY-UHFFFAOYSA-N acetic acid;methanimidamide Chemical compound NC=N.CC(O)=O XPOLVIIHTDKJRY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MQRWBMAEBQOWAF-UHFFFAOYSA-N acetic acid;nickel Chemical compound [Ni].CC(O)=O.CC(O)=O MQRWBMAEBQOWAF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 1
- 125000004183 alkoxy alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004171 alkoxy aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 125000002877 alkyl aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000002947 alkylene group Chemical group 0.000 description 1
- 235000011399 aloe vera Nutrition 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- WPPDFTBPZNZZRP-UHFFFAOYSA-N aluminum copper Chemical compound [Al].[Cu] WPPDFTBPZNZZRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VXAUWWUXCIMFIM-UHFFFAOYSA-M aluminum;oxygen(2-);hydroxide Chemical compound [OH-].[O-2].[Al+3] VXAUWWUXCIMFIM-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 125000003368 amide group Chemical group 0.000 description 1
- STFSECMHVCFKFX-UHFFFAOYSA-N aminotin Chemical compound [Sn]N STFSECMHVCFKFX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 125000006615 aromatic heterocyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 125000001769 aryl amino group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004104 aryloxy group Chemical group 0.000 description 1
- 208000027697 autoimmune lymphoproliferative syndrome due to CTLA4 haploinsuffiency Diseases 0.000 description 1
- 230000002567 autonomic effect Effects 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 210000000941 bile Anatomy 0.000 description 1
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 1
- 235000010290 biphenyl Nutrition 0.000 description 1
- 125000006267 biphenyl group Chemical group 0.000 description 1
- NFMAZVUSKIJEIH-UHFFFAOYSA-N bis(sulfanylidene)iron Chemical compound S=[Fe]=S NFMAZVUSKIJEIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002114 biscuit porcelain Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 1
- HQABUPZFAYXKJW-UHFFFAOYSA-N butan-1-amine Chemical group CCCCN HQABUPZFAYXKJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZIXVIWRPMFITIT-UHFFFAOYSA-N cadmium lead Chemical compound [Cd].[Pb] ZIXVIWRPMFITIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- VAWSWDPVUFTPQO-UHFFFAOYSA-N calcium strontium Chemical compound [Ca].[Sr] VAWSWDPVUFTPQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001720 carbohydrates Chemical class 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000000224 chemical solution deposition Methods 0.000 description 1
- 239000004927 clay Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000010549 co-Evaporation Methods 0.000 description 1
- 229940125773 compound 10 Drugs 0.000 description 1
- 229920000547 conjugated polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 1
- BWFPGXWASODCHM-UHFFFAOYSA-N copper monosulfide Chemical class [Cu]=S BWFPGXWASODCHM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OMZSGWSJDCOLKM-UHFFFAOYSA-N copper(II) sulfide Chemical compound [S-2].[Cu+2] OMZSGWSJDCOLKM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RKTYLMNFRDHKIL-UHFFFAOYSA-N copper;5,10,15,20-tetraphenylporphyrin-22,24-diide Chemical compound [Cu+2].C1=CC(C(=C2C=CC([N-]2)=C(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(N=2)=C(C=2C=CC=CC=2)C2=CC=C3[N-]2)C=2C=CC=CC=2)=NC1=C3C1=CC=CC=C1 RKTYLMNFRDHKIL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 125000000753 cycloalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 125000002704 decyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 229920006237 degradable polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 239000003599 detergent Substances 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 125000004986 diarylamino group Chemical group 0.000 description 1
- ZASWJUOMEGBQCQ-UHFFFAOYSA-L dibromolead Chemical compound Br[Pb]Br ZASWJUOMEGBQCQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- ZZVUWRFHKOJYTH-UHFFFAOYSA-N diphenhydramine Chemical group C=1C=CC=CC=1C(OCCN(C)C)C1=CC=CC=C1 ZZVUWRFHKOJYTH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 1
- 239000002001 electrolyte material Substances 0.000 description 1
- 238000001493 electron microscopy Methods 0.000 description 1
- LZCVHHFGMKXLBU-UHFFFAOYSA-N ethanamine;hydrofluoride Chemical compound [F-].CC[NH3+] LZCVHHFGMKXLBU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNZDZRMOBIIQTC-UHFFFAOYSA-N ethanamine;hydron;bromide Chemical compound Br.CCN PNZDZRMOBIIQTC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XWBDWHCCBGMXKG-UHFFFAOYSA-N ethanamine;hydron;chloride Chemical compound Cl.CCN XWBDWHCCBGMXKG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DZGCGKFAPXFTNM-UHFFFAOYSA-N ethanol;hydron;chloride Chemical compound Cl.CCO DZGCGKFAPXFTNM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000019325 ethyl cellulose Nutrition 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 1
- 125000003983 fluorenyl group Chemical group C1(=CC=CC=2C3=CC=CC=C3CC12)* 0.000 description 1
- 239000003517 fume Substances 0.000 description 1
- 125000002541 furyl group Chemical group 0.000 description 1
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 1
- 229910001195 gallium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- PQTCMBYFWMFIGM-UHFFFAOYSA-N gold silver Chemical compound [Ag].[Au] PQTCMBYFWMFIGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 125000001072 heteroaryl group Chemical group 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- ZMZDMBWJUHKJPS-UHFFFAOYSA-N hydrogen thiocyanate Natural products SC#N ZMZDMBWJUHKJPS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 1
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 125000002768 hydroxyalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 125000003392 indanyl group Chemical group C1(CCC2=CC=CC=C12)* 0.000 description 1
- 125000003454 indenyl group Chemical group C1(C=CC2=CC=CC=C12)* 0.000 description 1
- RHZWSUVWRRXEJF-UHFFFAOYSA-N indium tin Chemical compound [In].[Sn] RHZWSUVWRRXEJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-M iodide Chemical compound [I-] XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- HVTICUPFWKNHNG-UHFFFAOYSA-N iodoethane Chemical compound CCI HVTICUPFWKNHNG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000339 iron disulfide Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000005956 isoquinolyl group Chemical group 0.000 description 1
- ZLVXBBHTMQJRSX-VMGNSXQWSA-N jdtic Chemical compound C1([C@]2(C)CCN(C[C@@H]2C)C[C@H](C(C)C)NC(=O)[C@@H]2NCC3=CC(O)=CC=C3C2)=CC=CC(O)=C1 ZLVXBBHTMQJRSX-VMGNSXQWSA-N 0.000 description 1
- 238000002386 leaching Methods 0.000 description 1
- HTUMBQDCCIXGCV-UHFFFAOYSA-N lead oxide Chemical compound [O-2].[Pb+2] HTUMBQDCCIXGCV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YAFKGUAJYKXPDI-UHFFFAOYSA-J lead tetrafluoride Chemical compound F[Pb](F)(F)F YAFKGUAJYKXPDI-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- NKNMIHKFACHDJZ-UHFFFAOYSA-N lead;methylazanium;iodide Chemical compound [I-].[Pb].[NH3+]C NKNMIHKFACHDJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000011244 liquid electrolyte Substances 0.000 description 1
- UGEOMRBXRFUYJH-UHFFFAOYSA-N lithium;1,1,1-trifluoro-n-(trifluoromethylsulfonyl)methanesulfonamide Chemical compound [Li].FC(F)(F)S(=O)(=O)NS(=O)(=O)C(F)(F)F UGEOMRBXRFUYJH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000013035 low temperature curing Methods 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 229910052976 metal sulfide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001457 metallic cations Chemical class 0.000 description 1
- RRSMHQNLDRCPQG-UHFFFAOYSA-N methanamine;hydrofluoride Chemical compound [F-].[NH3+]C RRSMHQNLDRCPQG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004702 methyl esters Chemical class 0.000 description 1
- 230000011987 methylation Effects 0.000 description 1
- 238000007069 methylation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 1
- 238000004776 molecular orbital Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000004570 mortar (masonry) Substances 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N n-[4-[4-(n-naphthalen-1-ylanilino)phenyl]phenyl]-n-phenylnaphthalen-1-amine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=C1 IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004108 n-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- KKFHAJHLJHVUDM-UHFFFAOYSA-N n-vinylcarbazole Chemical compound C1=CC=C2N(C=C)C3=CC=CC=C3C2=C1 KKFHAJHLJHVUDM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 description 1
- 229940078494 nickel acetate Drugs 0.000 description 1
- MOFOBJHOKRNACT-UHFFFAOYSA-N nickel silver Chemical compound [Ni].[Ag] MOFOBJHOKRNACT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UQBLNFAAJGJKSC-UHFFFAOYSA-N nickel tetrahydrate Chemical compound O.O.O.O.[Ni] UQBLNFAAJGJKSC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RHDUVDHGVHBHCL-UHFFFAOYSA-N niobium tantalum Chemical compound [Nb].[Ta] RHDUVDHGVHBHCL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KJSMVPYGGLPWOE-UHFFFAOYSA-N niobium tin Chemical compound [Nb].[Sn] KJSMVPYGGLPWOE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000615 nonconductor Substances 0.000 description 1
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 1
- IOQPZZOEVPZRBK-UHFFFAOYSA-N octan-1-amine Chemical group CCCCCCCCN IOQPZZOEVPZRBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 description 1
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 1
- 229920000620 organic polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000000075 oxide glass Substances 0.000 description 1
- AHKZTVQIVOEVFO-UHFFFAOYSA-N oxide(2-) Chemical compound [O-2] AHKZTVQIVOEVFO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 1
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N phenylbenzene Natural products C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K phosphate Chemical compound [O-]P([O-])([O-])=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000000103 photoluminescence spectrum Methods 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- HTYPUNPKBFMFFO-UHFFFAOYSA-N platinum silver Chemical compound [Ag][Pt][Pt] HTYPUNPKBFMFFO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000767 polyaniline Chemical class 0.000 description 1
- 239000003755 preservative agent Substances 0.000 description 1
- 230000002335 preservative effect Effects 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N propan-1-ol Chemical compound CCCO BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HKJYVRJHDIPMQB-UHFFFAOYSA-N propan-1-olate;titanium(4+) Chemical compound CCCO[Ti](OCCC)(OCCC)OCCC HKJYVRJHDIPMQB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OGHBATFHNDZKSO-UHFFFAOYSA-N propan-2-olate Chemical compound CC(C)[O-] OGHBATFHNDZKSO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004549 pulsed laser deposition Methods 0.000 description 1
- 125000003373 pyrazinyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000002098 pyridazinyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000714 pyrimidinyl group Chemical group 0.000 description 1
- NIFIFKQPDTWWGU-UHFFFAOYSA-N pyrite Chemical compound [Fe+2].[S-][S-] NIFIFKQPDTWWGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000168 pyrrolyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000005493 quinolyl group Chemical group 0.000 description 1
- 150000003254 radicals Chemical class 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000005316 response function Methods 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 125000006413 ring segment Chemical group 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 235000012045 salad Nutrition 0.000 description 1
- 229930195734 saturated hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 229930000044 secondary metabolite Natural products 0.000 description 1
- 238000005204 segregation Methods 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- 230000001235 sensitizing effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 1
- 238000000527 sonication Methods 0.000 description 1
- 239000002594 sorbent Substances 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 241000894007 species Species 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000009718 spray deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010561 standard procedure Methods 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 125000005504 styryl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000472 sulfonyl group Chemical group *S(*)(=O)=O 0.000 description 1
- 239000008030 superplasticizer Substances 0.000 description 1
- 230000003319 supportive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- YBRBMKDOPFTVDT-UHFFFAOYSA-N tert-butylamine Chemical group CC(C)(C)N YBRBMKDOPFTVDT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 125000001544 thienyl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 description 1
- 125000003396 thiol group Chemical group [H]S* 0.000 description 1
- GZCWPZJOEIAXRU-UHFFFAOYSA-N tin zinc Chemical compound [Zn].[Sn] GZCWPZJOEIAXRU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AFNRRBXCCXDRPS-UHFFFAOYSA-N tin(ii) sulfide Chemical compound [Sn]=S AFNRRBXCCXDRPS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-DBXDQKISSA-N tin-110 Chemical compound [110Sn] ATJFFYVFTNAWJD-DBXDQKISSA-N 0.000 description 1
- 231100000331 toxic Toxicity 0.000 description 1
- 230000002588 toxic effect Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- 238000000108 ultra-filtration Methods 0.000 description 1
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 1
- 238000000870 ultraviolet spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000002371 ultraviolet--visible spectrum Methods 0.000 description 1
- 210000003934 vacuole Anatomy 0.000 description 1
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 1
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000004073 vulcanization Methods 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
- H01L31/036—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/10—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising heterojunctions between organic semiconductors and inorganic semiconductors
- H10K30/15—Sensitised wide-bandgap semiconductor devices, e.g. dye-sensitised TiO2
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/06—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0224—Electrodes
- H01L31/022466—Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. TCO, ITO layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
- H01L31/0352—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions
- H01L31/035272—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
- H01L31/072—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN heterojunction type
- H01L31/0725—Multiple junction or tandem solar cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/186—Particular post-treatment for the devices, e.g. annealing, impurity gettering, short-circuit elimination, recrystallisation
- H01L31/1864—Annealing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/1884—Manufacture of transparent electrodes, e.g. TCO, ITO
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/10—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising heterojunctions between organic semiconductors and inorganic semiconductors
- H10K30/15—Sensitised wide-bandgap semiconductor devices, e.g. dye-sensitised TiO2
- H10K30/151—Sensitised wide-bandgap semiconductor devices, e.g. dye-sensitised TiO2 the wide bandgap semiconductor comprising titanium oxide, e.g. TiO2
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/20—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising organic-organic junctions, e.g. donor-acceptor junctions
- H10K30/211—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising organic-organic junctions, e.g. donor-acceptor junctions comprising multiple junctions, e.g. double heterojunctions
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/40—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising a p-i-n structure, e.g. having a perovskite absorber between p-type and n-type charge transport layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/50—Photovoltaic [PV] devices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic radiation-sensitive element covered by group H10K30/00
- H10K39/10—Organic photovoltaic [PV] modules; Arrays of single organic PV cells
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/50—Organic perovskites; Hybrid organic-inorganic perovskites [HOIP], e.g. CH3NH3PbI3
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K2102/00—Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/40—Thermal treatment, e.g. annealing in the presence of a solvent vapour
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/10—Organic polymers or oligomers
- H10K85/111—Organic polymers or oligomers comprising aromatic, heteroaromatic, or aryl chains, e.g. polyaniline, polyphenylene or polyphenylene vinylene
- H10K85/113—Heteroaromatic compounds comprising sulfur or selene, e.g. polythiophene
- H10K85/1135—Polyethylene dioxythiophene [PEDOT]; Derivatives thereof
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/541—CuInSe2 material PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/542—Dye sensitized solar cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/547—Monocrystalline silicon PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/549—Organic PV cells
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Sustainable Energy (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
- Undergarments, Swaddling Clothes, Handkerchiefs Or Underwear Materials (AREA)
- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
- Heterocyclic Carbon Compounds Containing A Hetero Ring Having Oxygen Or Sulfur (AREA)
Abstract
يتعلق الاختراع الحالي بتوفير جهاز إلكتروني بصري optoelectronic device يشتمل على منطقة متفاعلة ضوئيًا photoactive region, تشتمل المنطقة المتفاعلة ضوئيًا هذه على: منطقة من نوع n تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع n؛ منطقة من نوع p تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع p؛ و, يتم فيما بين المنطقة من النوع n والمنطقة من النوع p وضع: طبقة من مادة شبه موصلة semiconductor من بروفسكيت perovskite بدون مسام مفتوحة. تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت بشكل عام ماصة للضوء light-absorbing. في بعض النماذج, يتم فيما بين المنطقة من النوع n والمنطقة من النوع p وضع: (1) طبقة أولى تشتمل على مادة دعم مؤقتة, تكون مسامية بشكل نمطي, ومادة شبه موصلة من البروفسكيت, يتم وضعها نمطيًا في مسام مادة الدعم المؤقتة scaffold material؛ و(2) طبقة تغطية capping layer موضوعة على الطبقة الأولى المذكورة, حيث تكون طبقة التغطية هي الطبقة المذكورة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة, حيث تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في طبقة التغطية في حالة تلامس مع المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في الطبقة الأولى. تُشك
Description
— \ — جهاز إلكتروني بصري Optoelectronic devices الوصف الكامل خلفية الاختراع إن هذا الطلب عبارة عن طلب جزئي من الطلب رقم 2١97710974 والذي تم ايداعه في المملكة العربية السعودية بتاريخ 70/5/7١ ١ه ه والموافق VO YY م. يتعلق الاختراع بجهاز إلكتروني coptoelectronic device (spar وتحديدًا بجهاز إلكتروني © بصري به وصلة مسطحة. يتعلق الاختراع أيضنًا بعملية لإنتاج هذا الجهاز الإلكتروني البصري. تعتبر الخلايا الفلطاثية الضوئية photovoltaics ذات الغشاء الرقيق 1010-1100 رفيع lll بديلاً واعدًا لنظائرها أحادية monocrystalline counterparts lal بفضل كفاءتها العالية؛ ثباتها القابل للمقارنة comparable stability وتكلفة التصنيع المنخفضة المحتملة. تتضمن مواد الغشاء الرقيق رفيع materials cle) 110-710 التي تمت دراستها على النحو الأوسع ٠ الخاضعة للفحض حاليًا التطبيقات الفلطائية الضوئية photovoltaic applications المواد شبه الموصلة للمركب :
CdTe [X. Wu, Solar Energy, vol. 77, 0.6803, 2004], ©0101 كادميوم تيلوريد- xGaxSe2 (CIGS) [Chirila et al.
Nature Materials, vol. 10, .م 857, 2011], Cu2ZnSnS4 (CZTS) [D.
Barkhouse et al., Progress in Photovoltaics, vol. 20, .م 6, 2012]; ٠ الخلايا الشمسية الحساسة للأصباغ Yalla .A] dye-sensitized solar cells وآخرينء ([Science, vol. 334, p. 629, 2011 والخلايا الشمسية شبه الموصلة العضوية organic Advanced Energy Materials, بآخرين Liang .Y] semiconductor solar cells p. E135, 2010 ,22 .01”/]. يتم نمطيًا تصنيع المواد شبه الموصلة لمركب غير عضوي inorganic compound semiconductors ٠ التي تشتمل على خلايا شمسية Alle الكفاءة ovvY
لاد high-efficiency solar cells باستخدام الترسيب المعتمد على الوسط المفرغ vacuum المكلف بالرغم من أن الأساليب حديثة تجاه معالجة المحلول الخاص ب نحاس الانديوم الغاليوم سيلينيد copper indium gallium selenide (CIGS) وكبريت قصدير نحاس الزنك Copper zinc tin sulfide (CZTS) قد عرضت أدوات عالية الكفاءة [/ا. Graetzel W[Nature, vol. 488, p. 304, 2012 «uals © يتم Glass تصنيع الخلايا الشمسية الحساسة للأصباغ والعضوية ذات قيم كفاءة التسجيل المنخفضة باستخدام إجراءات ترسيب معتمد على محلول ولكنها تعاني من ثبات ضعيف على المدى البعيد. بالإضافة إلى ذلك؛ تؤدي القدرة على الإنتاج المنخفضة نسبيًا الخاصة بالتَيلُوزْيُوم tellurium والإنديوم indium إلى احتمالية جعل كادميوم تيلوريد CdTe ونحاس الانديوم الغاليوم سيلينيد CIGS غير جذابين تجاريًا. ٠ تعتبر مواد البروفسكيت Mitzi .D] perovskites وآخرين» ,1473 Science, vol. 267, p. bile [1995 بديلة من المواد شبه الموصلة التي قد تم فحصها لتطبيقات الجهاز Mitzi .D] وآخرين: 2001 ,29 .م ,45 [IBM Journal of Research and Development, vol. بالنسبة للخلايا الفلطائية الضوئية؛ لقد تم استخدام مواد البروفسكيت باعتبارها العامل المثير للحساسية في Yo الخلايا الضوئية الكهربائية الكيميائية الإلكتروليتية السائلة liquid electrolyte photoelectrochemical cells A.
Kojima et al., ;2011 ,4088 .م ,3 [J.—H.
Im et al., Nanoscale, vol. Journal of the American Chemical Society, vol. 131, p. 6050, 2009] بالرغم من أنه في نظام الإلكتروليت electrolyte system الموضح Buss هذاء تتحلل المواد ٠ الماصة للبروفسكيت سريعًا وانخفض أداء الخلايا الشمسية solar cells بعد ٠١ دقائق فقط. لقد تم أيضًا استخدام مواد البروفسكيت في الخلايا الضوئية الكهربائية الكيميائية في الحالة الصلبة cells [H.-S.
Kim et al., Scientific Reports, doi:10.1038/srep00591; A. ]2007 ,352 .م Kojima et al., ECS Meeting Abstracts, vol.
MA2007-02, لات
وه وباعتبارها ناقل الثتقب hole transporter في الخلايا الشمسية الحساسة للأصباغ في الحالة الصلبة : Chung, Nature, vol. 485, p. 486, 2012] .!]. يتمتل مبدأ التشغيل الرئيسي main operating principle الخاص بالخلايا الشمسية الحساسة «sensitized solar cells أنه © يتم فصل دور امتصاص co pal) ونقل الشحنة إلى مواد مختلفة في الخلية الشمسية solar cell يسمح هذا لمواد امتصاص oo pall التي قد تّلد شحنة غير فعالة إذا تم إظهار الضوء على غشاء رقيق صلب solid film من المادة؛ بالعمل بكفاءة كبيرة في خلية شمسية حساسة sensitized cell +5018. ومن ثم حيث إنه توجد أمثلة على مواد البروفسكيت المستخدمة كعوامل إكساب حساسية sensitizers في الخلايا الشمسية متوسطة التركيب meso-structured solar ccells ٠ أو كعوامل نقل للثقب في الخلايا الشمسية الحساسة للأصباغ؛ ولكن بدون تقارير عن أغشية رقيقة صلبة من مواد البروفسكيت عاملة بكفاءة في الخلايا الشمسية؛ قد يكون من المقبول افتراض أن مواد البروفسكيت لا تعتبر عائلة مثالية من المواد ليتم استخدامها كأغشية رقيقة رفيعة ele) صلبة solid thin films في الخلايا الفلطائية الضوئية ذات الغشاء الرقيق رفيع السمك. الوصف العام للاختراع No يوفر الاختراع أجهزة إلكترونية بصرية تشتمل على غشاء رقيق رفيع Al) من بروفسكيت ماص للضوء light-absorbing perovskite أو باعث للضوء light-emitting موضوع فيما بين طبقات من نوع N (موصلة للإلكترون (electron conducting ومن نوع Pp (موصلة للفجوة (hole conducting لقد وجد المخترعون على نحو غير متوقع أنه (So الحصول على قيم كفاءة الجهاز الجيد عن طريق استخدام غشاء رقيق رفيع السمك مضغوط من البروفسكيت ٠ المتفاعل ضوئيًا cphotoactive perovskite في مقابل متطلبات المادة المركبة متوسطة المسام .mesoporous composite بينما يمكن نمطيًا أن يتم ترشيح بروفسكيت بهيكل مفتوح المسام open porous perovskite structure باستخدام مادة من نوع أو نوع 0 لتكوين وصلة غير متجانسة كتلية bulk heterojunction باستخدام تلك Gala) ستُكوّن طبقة البروفسكيت الكثيفة dense perovskite المستخدمة في الاختراع الحالي بشكل عام وصلة غير متجانسة مستوية مع Yo الطبقة من النوع 0 و / أو الطبقة من النوع 0. ovvY
El تكون مواد البروفسكيت المستخدمة في الأجهزة الإلكترونية البصرية الخاصة بالاختراع جذابة لتطبيقات جهاز إلكتروني بصري لأنه يمكن تكوينها من العناصر الوفيرة في الأرض عن Gob معالجة محلول والمعالجة الخوائية «vacuum processing ولها هياكل نطاق قابلة للضبط
Wb (وبالتالي الخصائص الضوئية والإلكترونية)؛ ويمكن أن تكون tunable band structures o في الظروف الجوية. لقد عرض المخترعون أنه يمكن استزراع الغشاء الرقيق من البروفسكيت المتفاعل Wan على مادة دعم مؤقت رفيعة Gl) أو طبقة بذور تكوين؛ أو في ظل غياب sale الدعم المؤقت coda عن طريق ترسيب محلول. يمكن معالجة الأجهزة المتضمنة طبقة بذور التكوين thin seed layer oli) dag, بشكل تام عند درجات حرارة لا تتجاوز ١5١ درجة مئوية؛ الأمر الذي يعتبر مهمًا لتقليل تكلفة التصنيع؛ وللسماح بمعالجة على طبقات أساسية من البلاستيك ٠ ا لتوفير أجهزة مرنة؛ Waly للسماح بالمعالجة أعلى الطبقات الأخرى للسماح بإنتاج Seal بوصلات مترادفة ومتعددة. يمكن Wal على نحو مفيد تكوين الغشاء الرقيق رفيع SLL من البروفسكيت عن طريق التبخير من مسحوق كتلي bulk powder أو عن طريق التبخير المشترك لمركبات المادة .perovskite precursor المنتجة للبروفسكيت Won يوفر الاختراع جهاز إلكتروني بصري يشتمل على منطقة متفاعلة ld على dl تشتمل المنطقة المتفاعلة ضوئيًا هذه على: (photoactive region Yo منطقة من نوع Jilin على طبقة واحدة على الأقل من نوع N منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0؛ و» يتم فيما بين المنطقة من النوع 7 والمنطقة من النوع 0 وضع: طبقة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت perovskite semiconductor بدون مسام مفتوحة. ٠ نمطيًّاء يكون الجهاز الإلكتروني البصري عبارة عن أداة فلطائية ضوئية. على نحو بديل؛ يمكن أن يكون الجهاز الإلكتروني البصري شيئًا آخر بخلاف أداة فلطائية ضوئية. يمكن أن يكون الجهاز الإلكتروني البصري على سبيل JE عبارة عن أداة باعثة للضوء light— .emitting device ovvY
Ce في بعض النماذج؛ تشتمل المنطقة المتفاعلة ضوئيًا على: المذكورة؛ N المنطقة من النوع والمنطقة من النوع م0 وضع: Nog gill المنطقة من النوع م المذكورة؛ و؛ يتم فيما بين المنطقة من ومادة شبه موصلة من scaffold material طبقة أولى تشتمل على مادة دعم مؤقتة 0 البروفسكيت؛ و 0 طبقة تغطية موضوعة على الطبقة الأولى المذكورة؛» حيث تكون طبقة التغطية هي الطبقة (Y) من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ Alia ge شبه Sale المذكورة من حيث تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في طبقة التغطية في حالة تلامس مع المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في الطبقة الأولى. يوفر الاختراع عملية لإنتاج جهاز إلكتروني بصري يشتمل على منطقة متفاعلة AT في جانب ٠ تشتمل المنطقة المتفاعلة ضوئيًا هذه على: (pun
N على طبقة واحدة على الأقل من نوع Jain منطقة من نوع منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0؛ و؛ يتم فيما بين المنطقة من النوع © والمنطقة من النوع 0 وضع: طبقة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة, ١ تشتمل هذه العملية على: (أ) توفير منطقة أولى؛ (ب) وضع منطقة ثانية على المنطقة الأولى؛ تشتمل المنطقة الثانية هذه على طبقة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ و (ج) وضع منطقة ثالثة على المنطقة الثانية؛ ٠٠ حيث: CAAA
تكون المنطقة الأولى عبارة عن منطقة من نوع ٠ تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع ©
وتكون المنطقة الثالثة عبارة عن منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع م؛
أو
تكون المنطقة الأولى عبارة عن منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع م © وتكون المنطقة الثالثة عبارة عن منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0.
(Glad تكون العملية الخاصة بالاختراع لإنتاج أداة فلطائية ضوئية تشتمل على المنطقة المتفاعلة
ضوئيًا المذكورة.
على نحو day يمكن استخدام العملية لإنتاج جهاز إلكتروني بصري بخلاف أداة فلطائية ضوئية؛
يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري هذا على المنطقة المتفاعلة ضوئيًا المذكورة. يمكن استخدام
٠ العملية على سبيل المثال لإنتاج أداة باعثة للضوء مشتملة على المنطقة المتفاعلة ضوئيًا المذكورة. في بعض النماذج الخاصة بالعملية الخاصة بالاختراع تشتمل المنطقة المتفاعلة ضوئيًا على: المنطقة من Ng gill المذكورة؛ المنطقة من النوع م المذكورة؛ و؛ يتم فيما بين المنطقة من النوع N والمنطقة من النوع 0 وضع: daha ( ١ ) أولى تشتمل على مادة د عم مؤقتة ومادة شبه موصلة من البروفسكيت ؛و
(Y) ٠ طبقة تغطية موضوعة على الطبقة الأولى المذكورة» حيث تكون طبقة التغطية هي الطبقة المذكورة من مادة شبه Abia ge من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ حيث تكون المادة شبه Alia gall من البروفسكيت في طبقة التغطية في حالة تلامس مع المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في الطبقة الأولى. في هذه oz dill تشتمل العملية الخاصة بالاختراع على:
٠٠ (أ) توفير المنطقة الأولى المذكورة؛
(ب) وضع المنطقة الثانية المذكورة على المنطقة JY) ( حيث تشتمل المنطقة الثانية على: daha ( ١ ) أولى wi تشتما 1 على مادة د عم مؤقتة ومادة شبه موصلة من البروة د فسكبت؛ و ovvy
A —_ _ (Y) طبقة تغطية على الطبقة الأولى المذكورة» حيث تكون طبقة التغطية هي الطبقة المذكورة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ حيث تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في طبقة التغطية في حالة تلامس مع المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في الطبقة الأولى؛ و © (ج) وضع المنطقة الثالثة المذكورة على المنطقة الثانية. يوفر الاختراع بشكل إضافي جهاز إلكتروني بصري يمكن الحصول عليه بواسطة العملية الخاصة بالاختراع لإنتاج جهاز إلكتروني بصري. (Bass يكون الجهاز الإلكتروني البصري عبارة عن أداة فلطائية ضوئية. على نحو بديل؛ يمكن أن يكون الجهاز الإلكتروني البصري شيئًا آخر بخلاف أداة فلطائية ضوئية. Ve يمكن أن يكون الجهاز الإلكتروني البصري على سبيل المثال عبارة عن أداة باعثة للضوء. شرح مختصر للرسومات الشكل ١ يوفر رسومات تخطيطة ل: (أ) الهيكل العام الخاص بنموذج من الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع الحالي؛ و(ب) الخلايا الفلطائية الضوئية الموضحة بأمثلة في هذا الطلب (يتم Unf فحص الصور المغايرة حيث يتم حذف الطبقة رفيعة المثمك من أكسيد الألومنيوم Aluminium oxide (Aluminium oxide) Yo أو ثاني أكسيد Titanium dioxide asst (1102). يكون واحد على الأقل من الإلكترودات الفلزية metallic electrodes شبه شفاف عبر المنطقة المرئية حتى القريبة من الأشعة تحت الحمراء من الطيف الشمسي spectrum +5018. يكون شبه الشفاف بنسبة شفافية تبلغ نمطيًا JA ويتراوح من 4 إلى AR الشكل ¥ يعرض (أ) أطياف حيود الأشعة السينية X-ray diffraction (XRD) لأغشية رقيقة Ye 0 البروفسكيت تم استزراعها على كل من الصور المغايرة للطبقة التحتية underlayer 05 التي تم بحثها في الأمثلة Led يلي في هذا الطلب؛ و(ب) aga cada أشعة إكس (XRD) للبروفسكيت المتكون عن طريق التبخير. CAAA
الشكل ¥ يعرض أطياف الأشعة فوق البنفسجية المرئية الطبيعية UV-vis spectra الخاصة
بأغشية رقيقة من البروفسكيت تم استزراعها على كل من الصور المغايرة للطبقة التحتية التي تم
بحثها في الأمثلة فيما يلي في هذا الطلب.
الشكل ؛ يعرض السمات المميزة /١-ل النموذجية الخاصة بالأجهزة بالصور المغايرة التالية: (أ) © درجة حرارة مرتفعة أكسيد الألومنيوم A203 (ب) درجة حرارة مرتفعة SB أكسيد التيتانيوم
dap (7) (TIO2 حرارة مرتفعة أكسيد الألومنيوم 8203 (د) درجة حرارة مرتفعة ثاني أكسيد
التيتانيوم 1102 (ه) درجة حرارة مرتفعة» (و) درجة حرارة منخفضة أكسيد الألومنيوم 1203
(ز) درجة حرارة منخفضة ثاني أكسيد التيتانيوم 1102» (ح) درجة حرارة منخفضة؛ و (ط) الصورة
المتبخرة.
scanning electron microscope (SEM) الشكل © يعرض صور ماسح الإلكترون الدقيق ٠ دقيقة لالقطاعات العرضية لخلية شمسية بالصور المغايرة التالية: (أ) درجة حرارة مرتفعة أكسيد (ب) درجة حرارة مرتفعة ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 (ج) درجة حرارة A203 الألومنيوم مرتفعة أكسيد الألومنيوم 8203 (د) درجة حرارة مرتفعة ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 (ه) درجة حرارة مرتفعة؛ و(و) درجة مرتفعة منخفضة.
١ الشكل + يعرض صور مامح الإلكترون الدقيق (SEM) دقيقة مستوية من مسقط أفقي لعمليات معالجة الطبقة التحتية بالصور المغايرة التالية: (أ) درجة حرارة مرتفعة أكسيد الألومنيوم 1203 (ب) درجة حرارة مرتفعة ثاني أكسيد التيتانيوم 1102؛ (ج) درجة حرارة مرتفعة أكسيد الألومنيوم 83 رد) درجة حرارة منخفضة ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 (ه) درجة حرارة مرتفعة؛ و(و) درجة حرارة منخفضة.
٠ الشكل ١ يعرض صور ماسح الإلكترون الدقيق (SEM) دقيقة مستوية لعمليات معالجة الطبقة التحتية بالصور المغايرة التالية: (أ) درجة حرارة منخفضة أكسيد الألومنيوم 81203 و(ب) درجة حرارة منخفضة ثاني أكسيد التيتانيوم 1102. الشكل A يعرض مخططًً لجهاز للخلايا الشمسية لغشاء رقيق رفيع السمك من النوع 0-أ-م المعكوس.
ovvy
=« \ _ الشكل 40 يعرض أطياف وميض ضوئي في الحالة الثابتة لطبقات ثنائية من sale ماصة للبروفسكيت Gy ل أ) طبقات من نوع (QP طبقات من نوع 0. يكون الانبعاث متمركرًا على قمة الويض الضوئي الخاصة بالمادة الماصة للبروفسكيت .CH3NH3PbI3-xXCIx الشكل ٠١ يعرض أ) صورة لقطاع عرضي لماسح الإلكترون الدقيق (SEM) خاصة بتصميم الجهاز المعكوس الأمثل. Jie عمود القياس You نانو متر. لقد تم تلوين الطبقات المختلفة باستخدام مخطط اللون الخاص بالرسم التخطيطي للجهاز المعروض في ب). الشكل ١١ يعرض مسقطا أفقياً لماسح الإلكترون الدقيق (SEM) للطبقات التحتية بعد الترسيب PEDOT:PSS متبوعًا dad, البروفسكيت للطبقات التحتية المحتوية على أ) وج) 5 ملدن عند Vou درجة مئوية لمدة ٠١ دقيقة وب) ود) PEDOT:PSS المرتبط ٠ تشابكيًا مع محلول مائي Yo ,+ مولار من كلوريد الحديد NAN 6613. تناظر أعمدة القياس في أ) وج) YO ميكرو ie وفي ب) ود) 7,5 ميكرو متر. الشكل ١١ يعرض أ) منحنيات JV وب) طيف امتصاص Sead النمطية التي تتكون من كلا طبقات PEDOT:PSS المرتبطة تشابكيًا (الدوائر) والملدنة (المربعة). تعرض الوليجة كثافة تيار دائرة القصر (50ل؛ ملي أمبير / سم-7)؛ كفاءة تحويل القدرة (Eff) 7)؛ فلطية الدائرة المفتوحة ١٠ (المركبات العضوية المتطايرة VOC فاناديوم )١/ ومعامل التعبئة (FF) للأجهزة النمطية ذات كلا البنيتين. الشكل ١١ يعرض صورة ماسح الإلكترون الدقيق SEM لمسقط أفقي خاص بالطبقات التحتية بعد الترسيب «NiO (zs (I وب) (2s خامس أكسيد الفاناديوم 705 مع daha البروفسكيت المتكونة على القمة. أعمدة القياس في أ) وب) تناظر YO ميكرو متر وفي ج) ود) Y,0 ميكرو متر. ٠ الشكل VE يعرض منحنيات JV من الأجهزة المحتوية على أكسيد فاناديوم vanadium oxide (المربعات) وأكسيد النيكل NiO (الدوائر) التلامس من نوع م. الشكل ١١ يعرض أ) التطور المؤقت لمنحنيات JV من نفس الجهاز مع زمن الإضاءة. يتم sha) عمليات المسح كل دقيقة مع وجود عملية المسح الأولى في الترتيب الأدنى وعملية المسح الأخيرة في الترتيب الأعلى. ب) منحنيات JV للأجهزة الفائقة ذات التصميم المنتظم (المثلثات) والمعكوس ovvy
— \ \ —
(الدواثر). تعرض الوليجة كثافة تيار دائرة القصر «Jsc) short circuit current density ملي أمبير | سم-7)؛ كفاءة تحويل القدرة Eff) #)؛ فلطية الدائرة المفتوحة (المركبات العضوية المتطايرة (VOC فاناديوم )١/ ومعامل التعبئة Sill factor (FF) بنيتي الجهاز.
الشكل ١١ يعرض Bly تخطيطيًا لبنية خلية شمسية ترادفية متدة hybrid tandem solar cell
carchitecture © في هذا التخطيط يتم استخدام خلية:
rear باعتبارها الخلية الخلفية 0-51 HIT (Heterojunction with Intrinsic Thin layer) حيث أ = ذاتية؛ 8 = غير متبلرة» 6 = متبلرة؛ tandem junction في الوصلة الترادفية cell يكون ضوء الشمس ساقطًا .13015021+©01 conducting oxide أكسيد موصل شفاف = TCO من القمة.
٠ الشكل ١١7 يعرض Bly تخطيطيًا لبنية خلية شمسية ترادفية مؤّلدة؛ في هذا الطلب يتم استخدام خلية شمسية من البروفسكيت باعتبارها خلية القمة؛ مع خلية شمسية بغشاء رقيق رفيع lll conventional thin film solar cell تقليدي باعتبارها الخلية الخلفية في الوصلة الترادفية؛ حيث 160 - أكسيد موصل شفاف. بشكل ملحوظ لتوليد التيار الخاص بتقنيات الغشاء الرقيق رفيع السمك Jo) سبيل المثال؛ WAN الشمسية غاليوم انديوم نحاس سيلنيد 0165) هناك
١ متطلب لتحقيق خلايا شمسية من البروفسكيت 'معكوسة” لاثنين من الأجهزة الترادفية الطرفية أحادية الطبقة monolithic terminal tandem devices يكون ضوء الشمس ساقطًا من القمة. الشكل VA يعرض صورة فوتوغرافية لغرفة تبخير لترسيب البخار مزدوج المصادر من بروفسكيت. الشكل ١9 يعرض law) تخطيطيًا لغرفة تبخير مزدوجة المصادر.
٠ الشكل ٠١0 يعرض أ) خلية شمسية من البروفسكيت متبخرة مزدوجة المصادر مكمتلة؛ ب) بيان لصورة القطاع العرضي؛ ج) صورة ماسح الإلكترون الدقيق SEM لقطاع عرضي من الجهاز المكتمل.
ovvY
— \ \ — الشكل 7١ يعرض أ) عينة معالجة على زجاج مطلي ب أكسيد الفلور القصدير fluorine tin oxide (FTO) مع طبقة ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 مدمجة وبروفسكيت مطلي spin— Wie coated perovskite فقط؛ (oo ج) صورة ماسح الإلكترون الدقيق SEM سطحية من البروفسكيت المطلي مغلليًا؛ د) عينة مع زجاج مطلي ب أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO
© وطبقة ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 مدمجة وبروفسكيت متبخر evaporated perovskite فقط؛ ه)؛ و) صورة ماسح الإلكترون الدقيق SEM سطحية من البروفسكيت المتبخر. YY JRA يعرض منحى /١-ل مقاس تحت ضوء الشمس 0 AMY المستحث البالغ ١٠٠ملي واط / سم-؟ من الخلية الشمسية من البروفسكيت المتبخر مزدوج المصادر الأفصل. تعطي الوليجة متغيرات أداء الخلية الشمسية المستقة من منحى JV هذا.
٠ الشكل 77 يعرض قياس حيود أشعة إكس XRD الخاص بالبروفسكيت المتبخر مقارنة مع البروفسكيت المطلي (K330 awd) Wie يوديد ميثيل أمونيوم methylammonium iodide (MAI) يوديد الرصاص lead iodide (Pbl2) وزجاج أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO مطلي ب ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 . الشكل YE يعرض مقارنة للامتصاص لأغشية رقيقة بُسمك ٠٠١ نانو متر من بروفسكيت متبخر
. Wire ومطلب ١ o بين الطبقات غير الملدنة والملدنة من البروفسكيت المترسب عن Lad يعرض مقارنة Yo الشكل على اليسار: سطح :10/0© source vapour deposition طريق ترسيب البخار مزدوج المصادر oie by) 1080068160 evaporated perovskite surface بروفسكيت متبخر غير ملدن annealed evaporated perovskite متبخرًا)؛ على اليمين: سطح بروفسكيت متبخر ملدن
surface | ٠ (بعد التلدين عند ٠٠١ درجة مثوية لمدة £0 دقيقة في صندوق قفازات من النيتروجين .(nitrogen الشكل V1 يعرض مقارنة للتغطية السطحية surface coverage عن طريق ترسيب بخار مزدوج المصادر وعن طريق ترسيب محلول: على اليسار: أغشية رقيقة من البروفسكيت المتبخر والملدن؛
ovvY
Ad —_ \ _ على اليمين: غشاء رقيق من البروفسكيت المطلي مغزليًا والملدن المطلي على الزجاج /أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO / ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 مدمج. الشكل 7١7 يعرض مقارنة فيما بين قطاعات ماسح الإلكترون الدقيق SEM عرضية: على اليسار: جهاز بوصلة مستوية متبخر مزدوج المصادر؛ على اليمين: جهاز بوصلة مستوية مطلي مغزليًا. © الشكل YA يعرض مقارنة حيود أشعة إكس led XRD بين طبقة من البروفسكيت متكونة عن
طريق ترسيب بخار مزدوج المصادر وطبقة من البروفسكيت متكونة عن طريق الطلاء المغزلي لمحلول مادة منتجة من البروفسكيت. لكلا الأغشية الرقيقة كانت المواد المنتجة البادئة هي يوديد ميثيل أمونيوم MAI وكلوريد الرصاص 65012. الشكل 79 يعرض صور دقيقة بالمسح بالإلكترون لقطاع عرضي من الأجهزة تعرض (من القاع
٠ إلى القمة) الطبقة التحتية من الزجاج؛ أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO طبقة ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 الحساسة للإلكترون؛ الطبقة المتفاعلة .piro-OMeTAD «ign تكون الطبقات المتفاعلة ضوئيًا photoactive layers هي 0 كلوريد الرصاص 5012© و(ب) CH3NH3PbI3-xClx بعد طلاء غشاء رقيق من كلوريد الرصاص 50012 بالغمس في محلول propan-2-ol من ١113ل01131.
No الشكل To يعرض صور دقيقة بالمسح بالإلكترون لقطاع عرضي من الأجهزة التي تعرض؛ من القاع إلى القمة؛ الطبقة التحتية من الزجاج؛ أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO طبقة ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 الحساسة للإلكترون؛ الطبقة المتفاعلة «li su 180 100-01/8م8. تكون الطبقات المتفاعلة ضوئيًا هي (أ) PbI2 و(ب) 0113000130513 بعد طلاء غشاء رقيق من كلوريد الرصاص 76012 بالغمس في محلول propan—-2-ol من .CH3NH3I
aba yl من 0 كلوريد SL dad) يعرض أطياف حيود أشعة إكس لأغشية رقيقة YY الشكل A) الطلاء ax .CH3NH3PbI3 (3, Pbl2 (z) «CH3NH3PbI3-xClx (ب) +2 بالغمس؛ تعرض الأغشية الرقيقة من كلا المواد المنتجة انخفاض شدة نسبي للقمم التي تناظر شبكة المادة المنتجة وزيادة نسبية لشبكة البروفسكيت (غير الموجودة في أطياف حيود أشعة إكس المنتجة في البروفسكيت. sald) للمادة المنتجة) دالة على تحوّل سائد للأغشية الرقيقة من (XRD)
oVVY
-؟١- الشكل YY يعرض Glew مميزة لشدة - فلطية تيار خاصة بجهاز تم إعداده باستخدام Pbl2 باعتبارها الطبقة النشطة (الخط المتقطع) وجهاز حيث تم تحويل يوديد الرصاص 7012 المتبخر إلى 001308101300513 (الخط المصمت) عن طريق الطلاء بالغمس في محلول يوديد ميثيل أمونيوم في .propan—2-ol متغيرات الأداء ليوديد الرصاص 0512 هي 56ل - ٠,1 ملي أمبير (Yau / بير كلورو إيثيلين ov, Av = PCE المركبات العضوية المتطايرة ١,597 = Voc فولط؛ معامل التعبئة FF = 57,.. متغيرات الأداء ل 0113111130513 هي 56ل - 5,9 ملي أمبير / «Yau بير كلورو إيثيلين PCE = 27,4؛ المركبات العضوية المتطايرة alg AY = Voc معامل التعبئة ..,1١ = FF الشكل YY يعرض سمات مميزة لشدة - فلطية تيار خاصة بجهاز تم إعداده باستخدام كلوريد ٠ الرصاص 06012 باعتبارها الطبقة النشطة (الخط المتقطع) وجهاز حيث تم تحويل كلوريد الرصاص 206012 المتبخر إلى #ا0*-0113111130013(الخط المصمت) عن طريق الطلاء بالغمس في محلول يوديد ميثيل أمونيوم في ا000080-2-0. متغيرات الأداء لكلوريد الرصاص 2 هي 56ل - AY ملي أمبير / «Yau بير كلورو إيثيلين PCE = 071 المركبات العضوية المتطايرة ١,79 = Voc فولط؛ معامل التعبئة ..,7١7 = FF تكون متغيرات ١ الأداء ل CH3NH3PbI3-xClx هي 56ل - ١.١ ملي أمبير / Yau بير كلورو إيثيلين PCE (ZV, 0 = المركبات العضوية المتطايرة Voc = 860 فولط؛ معامل التعبئة FF = 445 .. الشكل VE يعرض قياسات وميض ضوئي photoluminescence measurements وتوافقات لنموذج انتشار غشاء بروفسكيت رقيق من تراي هاليد رصاص عضوي alld مختلط mixed CH3NH3PbI3-xClIx halide organolead trihalide وغشاء بروفسكيت رقيق من تراي Yo يوديد ctrifodide CH3NH3PbI3 في وجود عوامل إخماد من نوع م- أو 0. قياسات اللمعان الضوئي Photoluminescence (PL) المحللة زمنيًا المأخوذة عند طول موجة انبعاث لقمة خاص بالبروفسكيت من الهاليد المختلط مع طبقة عامل إخماد من إلكترون (وصلة غير متجانسة كتلية /081©؛ المثلثات) أو ثقب ¢Spiro—OMeTAD) الدوائر)؛ مع بيانات توافقات أسية ممدة للأغشية الرقيقة المطلية باستخدام بولي (ميثاكريليت الميثيل) PMMA عازل (مربعات سوداء) Yo وتوافقات لعينات الإخماد باستخدام نموذج الانتشار الموصف في النص. مصدر استثارة بنبضة ovvY
اج \ — (من ٠, إلى Ye ميجا هرتز) عند 9 5 نانو متر مع تدفق يبلغ nd ٠ / سم Y يصطدم على جانب الطبقة التحتية من الزجاج. الوليجة في الشكل 4 7: مقارنة تحلل اللمعان الضوئي PL لاثنتين من مواد البروفسكيت (مع طلاء بولي (ميثاكريليت الميثيل) (PMMA على مقياس زمني أطول؛ مع متوسطات أعمار Te المستشهد بها باعتبارها الزمن المستغرق للوصول إلى ١ / © من fo} الشدة الأولية. الشكل 5 7 يعرض قياسات وميض ضوئي وتوافقات لنموذ d انتشار لغشا & بروفسكيت رقيق من تراي يوديد رصاص عضوي 0]1310113051؛ في وجود عوامل إخماد من نوع م- أو 0. قياسات اللمعان الضوئي PL المحللة زمنيًا المأخوذة عند طول موجة انبعاث لقمة خاص بالبروفسكيت من الهاليد المختلط مع إلكترون (وصلة غير متجانسة كتلية (PCBM المثلثات) أو ثقب Spiro—) 0٠ 1/00 0/6 ؛ الدوائر) طبقة عامل ld) مع بيانات توافقات أسية ممدة للأغشية الرقيقة المطلية باستخدام بولي (ميثاكريليت الميثيل) PMMA عازل (مربعات سوداء) وتوافقات لعينات الإخماد باستخدام نموذج الانتشار الموصف في النص ٠ مصدر استثارة بنبضة (من 7 ٠ إلى Ve ميجا هرتز) عند ©0١97 نانو متر مع تدفق يبلغ Yau [nd Ve يصطدم على جانب الطبقة التحتية من الزجاج. ١ الشكل + يعرض صورة ماسح الإلكترون الدقيق SEM لقطاع عرضي من طبقة مادة Lak clay 76 - نانو fe من هاليد مختلط مع طبقة عامل إخماد بثقب علوي من Spiro— .OMeTAD الشكل TV يعرض تحلل وميض ضوئي لغشاء بروفسكيت رقيق من تزاي هاليا رصاص عضوي لهاليد مختلط CH3NH3PbI3—xClx (مربعات سوداء) وغشاء بروفسكيت رقيق من تراي يوديد ٠ ا ala) عضوي 0113101130513 (مربعات رمادية)؛ Mas باستخدام بولي (ميثاكريليت الميثيل) PMMA الأزمنة te المستشهد بها باعتبارها الزمن المستغرق للوصول إلى ١ / © الخاصة بالشدة الأولية. الوصف التفصيلىي: ovvY
_ أ \ _ يوفر الاختراع lea إلكتروني بصري يشتمل على منطقة متفاعلة ضوئيًا. تشتمل المنطقة المتفاعلة ضوئيًا على: منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع tn منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0؛ و» يتم فيما بين المنطقة من النوع 7 والمنطقة من النوع 0 وضع: طبقة من Sale شبه Alia ge من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة. © يشير المصطلح "المنطقة المتفاعلة (gn كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ إلى منطقة في الجهاز الإلكتروني البصري )١( تمتص الضوء؛ ثم يمكن أن AF مواد حاملة بشحنة مطلقة «generate free charge carriers أو (7) تقبل شحنة؛ كل من الإلكترونات والثتقوب؛ يمكن أن تقوم بعد ذلك sale ly دمج واتبعاث الضوء. يشير المصطلح '"شبه موصل" كما هو مستخدم في هذا الطلب إلى مادة بموصلية كهربائية ٠ متوسطة المقدار lad بين تلك الخاصة بموصل وعازل. يمكن أن يكون شبه موصل Sle عن sale شبه موصلة من نوع شبه موصل من نوع م أو sale شبه موصلة أصيلة . كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ يشير المصطلح "منطقة من نوع 77 إلى منطقة من واحدة أو أكثر من المواد الناقلة للإلكترون electron-transporting (أيء النوع ©). بالمثل؛ يشير المصطلح "طبقة من نوع (JN طبقة من مادة ناقلة للإلكترون esl) النوع 0( يمكن أن تكون Vo مادة ناقلة للإلكترون (أي؛ النوع (N عبارة عن مركب ناقل للإلكترون فردي أو sale أساسية؛ أو خليط من اثنين أو أكثر من المركبات الناقلة للإلكترون أو المواد الأساسية. يمكن أن يكون مركب ناقل للإلكترون أو مادة أساسية غير مشاب أو مشاب بواحد أو أكثر من عناصر الإشابة. كما هو مستخدم في هذا alll يشير المصطلح "منطقة من نوع 0 إلى منطقة من واحدة أو أكثر من المواد الناقلة للتقب hole—transporting (أيء النوع م). بالمثل؛ يشير المصطلح ٠ "طبقة من نوع 0" إلى طبقة من مادة ناقلة El (أي؛ نوع 0). يمكن أن تكون مادة ناقلة للثقب (أي؛ نوع م) عبارة عن مركب ناقل CEN فردي أو مادة أساسية؛ أو خليط من اثنين أو أكثر من المركبات الناقلة للثقب أو مواد أساسية. يمكن أن يكون مركب ناقل للثقب أو sale أساسية غير مشاب أو مشاب بواحد أو BST من عناصر الإشابة. ovvy yy يشير المصطلح "بروفسكيت"؛ كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ إلى sale ذات بنية بلورية ثلاثية الأبعاد لها علاقة بتلك الخاصة بكالسيوم تيتانات 681103 أو مادة مشتملة على طبقة من مادة؛ حيث يكون للطبقة بنية لها علاقة بتلك الخاصة بكالسيوم تيتانات 081103. يمكن تمثيل بنية كالسيوم تيتانات 6871103 بواسطة الصيغة 0863 حيث A و8 تكون كتيونات بأحجام مختلفة وك تكون أنيون. في خلية الوحدة؛ تكون كاتيونات 8/ عند ¢(vever) تكون كاتيونات B cations عند (Y/Y ١” / ١ 7 / ١( وتكون أنيونات ل عند .)٠ 7 / ١ 7 / ١( عادةً ما يكون الكاتيون A أكبر من الكاتيون 8. سيدرك أحد ذوي المهارة أنه عندما يتم تنويع eA 8 و يمكن أن تتسبب أحجام الأيون المختلفة في تشوه بنية مادة البروفسكيت بعيدًا عن البنية المختارة بواسطة كالسيوم تيتانات 0871103 وصولاً إلى بنية مشوهة ذات تناسبق أقل. سيكون التناسق أيضًا أقل إذا ٠ اشتملت المادة على طبقة لها بنية لها علاقة بتلك الخاصة بكالسيوم تيتانات 0871103. تكون المواد المشتملة على طبقة من مادة البروفسكيت معروفة جيدًا. على سبيل المثال؛ تشتمل بنية مواد تختار البنية من نوع 218174>ا على طبقة من sale البروفسكيت. سيدرك أحد ذوي المهارة أنه (Sa تمثيل sale بروفسكيت بواسطة الصيغة ([A]B]IX]3 حيث [A] تكون كتيون aly على الأقل؛ [8] تكون كتيون واحد على الأقل [XD تكون أنيون واحد على الأقل. عندما يشتمل Vo البروفسكيت على أكثر من كاتيون cals A يمكن توزيع كاتيونات A المختلفة على المواقع A بطريقة مرتبة أو غير مرتبة. عندما يشتمل البروفسكيت على أكثر من كاتيون 8 واحد؛ يمكن توزيع كاتيونات 8 المختلفة على المواقع 8 بطريقة مرتبة أو غير مرتبة. عندما يشتمل البروفسكيت على أكثر من أنيون ل واحد؛ يمكن توزيع أنيونات ل المختلفة على المواقع X بطريقة مرتبة أو غير مرتبة. سيكون تناسق بروفسكيت مشتمل على أكثر من كاتيون A واحد؛ أكثر من كاتيون 8 .CaTiO3 واحد؛ أقل من ذلك الخاص بكالسيوم تيتانات X واحد أو أكثر من كاتيون ٠ يشير المصطلح "بروفسكيت”؛ كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ ASL كما هو مذكور في الفقرةٍ ذات بنية بلورية ثلاثية الأبعاد لها علاقة بتلك الخاصة بكالسيوم تيتانات 681103 أو sake إلى (أ) حيث يكون للطبقة بنية لها علاقة بتلك الخاصة بكالسيوم Bale (ب) مادة مشتملة على طبقة من تيتانات 087103. بالرغم من أنه يمكن استخدام كلا هاتين الفئتين من البروفسكيت في الأجهزة للاختراع؛ فإنه من المفضل في بعض الظروف استخدام بروفسكيت من الفئة الأولى» (أ)؛ أي؛ Ey Yo
CAAA
-١م
بروفسكيت له بنية بلورية ثلاثية الأبعاد .three—dimensional (3D) crystal structure تشتمل مواد البروفسكيت هذه نمطيًا على شبكة ثلاثية الأبعاد من WIA وحدة بروفسكيت بدون أي فصل فيما بين الطبقات. تتضمن مواد البروفسكيت من الفئة AED (ب)؛ من ناحية أخرى؛ مواد البروفسكيت المشتملة على بنية طبقية ثنائية الأبعاد two dimensions (2D) يمكن أن تشتمل 0 مواد البروفسكيت التي لها بنية ثنائية الأبعاد على طبقات من DIA وحدة بروفسكيت التي يتم فصلها بواسطة جزيئات (مقحمة)؛ يكمن مثال على البروفسكيت الطبقي ثنائي الأبعاد هذا في -2] .00000100020684 18/ا1©(ا/ا1-076100©6*60)._تميل مواد البروفسكيت الطبقية ثنائية الأبعاد إلى الاشتمال على طاقات ربط عالية الاستثارة <high exciton binding energies تفضل توليد أزواج من الثقب - الإلكترون مرتبطة (إكسيتونات) bound electron-hole pairs Ya «(excitons) ٠ من مواد حاملة بشحنة مطلقة than free charge carriers تحت الاستثارة الضوئية photoexcitation قد لا تكون الأزواج من الثقب - الإلكترون المرتبطة قابلة للحركة بالقدر الكافي للصوول إلى التلامس من نوع 0 أو من نوع ١ حيث يمكن أن تنقل بعد ذلك (تأين) وتؤلد شحنة مطلقة. بناءً على ذلك؛ من أجل توليد شحنة مطلقة؛ ينبغي التغلب على طاقة ربط الإكسيتون cexciton binding energy التي تمثل تكلفة متعلقة بالطاقة لعملية توليد الشحنة ٠ وتؤدي إلى فلطية Jil voltage في خلية فلطائية ضوئية photovoltaic cell وكفاءة منخفضة. على pail تمثل مواد البروفسكيت التي لها بنية بلورية ثلاثية الأبعاد إلى أن تشتمل على طاقات ربط إكسيتون أقل (بمقدار الطاقة الحرارية) وعلى هذا يمكن أن تلد مواد حاملة حرة بشكل مباشرة بعد الاستثارة الضوئية photoexcitation بناءً على ذلك؛ يُفضل أن تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت المستخدمة في الأجهزة والعمليات الخاصة بالاختراع هي بروفسكيت من ٠ الفئة الأولى» of) أي بروفسكيت له بنية بلورية ثلاثية الأبعاد three—dimensional crystal ©50000001. يكون هذا مفضلاً بشكل خاص عندما يكون الجهاز الإلكتروني البصري عبارة عن
أداة فلطائية ضوئية. تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت المستخدمة في الاختراع الحالي؛ في الطبقة المذكورة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت perovskite semiconductor بدون مسام مفتوحة؛ نمطيًا sale Yo قادرة على )١( امتصاص الضوءء وبالتالي توليد مواد حاملة بشحنة مطلقة؛ و / أو (V) ovvY
-١4- عن طريق قبول شحنة؛ كلا الإلكترونات والثقوب؛ التي تعود للاندماج بعد ذلك cepa Glan) وتبعث ضوء. وبالتالي؛ يكون البروفسكيت المستخدم نمطيًا ماصًا للضوء و / أو بروفسكيت باعث light-emitting perovskite للضرء كما سيدرك أحد ذوي المهارة؛ يمكن أن تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت المستخدمة في الاختراع الحالي؛ في الطبقة المذكورة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ 0
Blie عندما يكون N للإلكترون من نوع BU عبارة عن بروفسكيت يعمل باعتباره شبه موصل للإلكترون BL بالضوء. على نحو بديل؛ قد يكون عبارة عن بروفسكيت يعمل باعتباره شبه موصل نوع 0؛ أو قد IN من نوع م عندما يكون مشابًا بالضوء. وبالتالي؛ قد يكون البروفسكيت من نوع يكون مادة شبه موصلة أصيلة. في نماذج مفضلة؛ يكون البروفسكيت المستخدم عبارة عن عندما يكون مشابًا بالضوء. N بروفسكيت يعمل باعتباره شبه موصل ناقل للإلكترون من نوع ٠ نمطيًا؛ تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت المستخدمة في الاختراع الحالي عبارة عن مادة حساسة للضوء»؛ أي؛ مادة تكون قادرة على إجراء كل من توليد الضوء ونقل الشحنة (الإلكترون أو الثقب). داخلها يتم وضع مسام. sale كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ يشير المصطلح 'مسامية" إلى sale وبالتالي؛ على سبيل المثال؛ في مادة دعم مؤقتة مسامية تكون المسام عبارة عن أحجام داخل ١ الدعم المؤقتة حيث لا توجد مادة دعم مؤقتة. يمكن أن تكون المسام الفردية بنفس الحجم أو بأحجام مختلفة. حجم المسام يتم تعريف باعتباره "حجم المسام”. يكون الحجم المحدد الخاص بأحد ذلك الخاص بأصغر بُعد تتم؛ A المسام؛ لغالبية الظواهر حيث يتم تضمين مواد صلبة مسامية؛ بإعتباره عرض أحد المسام (أي؛ عرض مسام على a) في ظل غياب أي تدقيق إضافي؛ الإشارة أسطوانية أو كروية؛... إلى غير ذلك). لتجنب حدوث تغير مضلل في aloe شكل شق؛ قطر ٠ المقياس عند مقارنة المسام الأسطوانية والتي على شكل 38( ينبغي استخدام قطر مسام أسطوانية : (بدلاً من نصف قطره) باعتاره "عرض المسام” الخاص به (J. Rouquerol et al., “Recommendations for the Characterization of
Porous Solids”, Pure & Appl. Chem., Vol. 66, No. 8, pp.1739-1758, ovvY
=« \ _ The following distinctions and definitions were adopted in previous .)1994 IUPAC documents (K.S.W.
Sing, et al, Pure and Appl.
Chem., vol.57, n04, pp 603-919, 1985; and IUPAC 'Manual on Catalyst Characterization", J.
Haber, Pure and Appl.
Chem., 701.63, pp. 1227 - © :)1991 ,1246 -- مسام دقيقة لها قيم عرض (أي؛ أحجام المسام) أصغر من Y نانو متر. -- مسام متوسطة لها af عرض (أي؛ أحجام المسام) تبلغ من ؟ نانو متر إلى ٠ نانو متر. -- مسام كبيرة لها قيم عرض (أي؛ أحجام المسام) تكون أكبر من 5٠ نانو متر. (Say أن تتضمن المسام في Sale مسام 'مغلقة” إضافة إلى مسام مفتوحة. يكون أحد المسام المغلقة ٠ هو أحد المسام في مادة يعتبر تجويقًا غير متصل؛ أي؛ أحد المسام الذي يكون معزولاً داخل المادة وغير متصل بأي من المسام الأخرى ولا يمكن sl على هذا الوصول إليه بواسطة مائع (على سبيل المثال؛ سائل؛ Jie محلول) يتم تعريض المادة إليه. سيكون "أحد المسام المفتوحة"' من ناحية (gal قابلاً للوصول إليه بواسطة هذا المائع. تتم مناقشة المفاهيم الخاصة بالمسامية المفتوحة وال ally Jaks 8 في : J.
Rouqueroal et al., “Recommendations for the Characterization of Porous Yo Solids”, Pure & Appl.
Chem., Vol. 66, No. 8, pp.1739-1758, 1994. تشير المسام da gid) لهذاء إلى الجزء الخاص بإجمالي حجم المادة المسامية حيث يمكن أن يحدث تدفق المائع بفعالية. وعلى هذاء يستثني المسام المغلقة. يكون المصطلح ald مفتوحة" SL للتبادل مع المصطلحات "المسامية المتصلة connected porosity " و"المسامية الفاعلة effective porosity | ٠ وفي الفن يتم اختزاله Sale ببساطة إلى "المسامية". (لهذاء لا يمكن القول بأن المادة شبه الموصلة من البروفسكيت الموجودة في "طبقة من Sale شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة” في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ تكون "بروفسكيت مسامي porous perovskite ".) oVVY yy يشير المصطلح "بدون مسام مفتوحة"؛ كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ لهذا إلى مادة بدون مسامية فاعلة. يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع الحالي على طبقة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة. تكون تلك الطبقة؛ والمادة شبه الموصلة من البروفسكيت الموجودة فيهاء بدون مسام مفتوحة. لا تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في الطبقة بناءً على هذا © لا تكون Sally en المنطقة من النوع AN مترشحة بواسطة؛ أو أي منء المادة (المواد) من نوع المنطقة من النوع م. بدلاً من ذلك؛ تكوّن BN مترشحة بواسطة أي منء المادة (المواد) من نوع وصلة غير متجانسة مستوية مع Ghat المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في تلك الطبقة أو المنطقة من النوع 0؛ أو في بعض الحالات تُكوّن وصلات غير متجانسة ٠“ المنطقة من نوع والمنطقة من النوع م. Nog ill مستوية مع كل من المنطقة من Vo عندما تكون الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة عبارة Lad عن "طبقة تغطية"؛ يتم وضعها على طبقة أولى تشتمل على مادة دعم مؤقتة ومادة شبه موصلة الدعم المؤقتة إماء لأن طبقة التغطية ale من البروفسكيت؛ لا يتم ترشيح طبقة التغطية بواسطة والمادة شبه الموصلة من البروفسكيت داخل طبقة التغطية تكون بدون مسام مفتوحة. يتم نمطيًا وضع البروفسكيت في الطبقة الأولى؛ على الجانب الآخر (التي تكون بشكل عام عبارة عن نفس VO مركب البروفسكيت في الطبقة التغطية)؛ في مسام مادة الدعم المؤقتة Jie مركب البروفسكيت ويمكن بناء على هذا القول بأنه 'مترشح” بواسطة مادة الدعم المؤقتة. في بعض النماذج الخاصة بالجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع الحالي؛ تكون الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة غير مسامية. يشير المصطلح "غير مسامية"” كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ إلى مادة بدون أية مسامية؛ أي؛ بدون مسام ٠ مفتوحة وأيضًا بدون مسامية مغلقة. بشكل عام؛ تتكون الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة بشكل
Sie أساسي من المادة شبه الموصلة من البروفسكيت. يكون بروفسكيت عبارة عن مركب تتكون الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من Gly, crystalline compound ovvy
_— \ \ _ البروفسكيت بدون مسام مفتوحة نمطيًا بشكل أساسي من نواتج تبر من البروفسكيت. في بعض النماذج» تتكون الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة من المادة شبه الموصلة من البروفسكيت. وبالتالي؛ نمطيًا تتكون الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة من نواتج تبلر من البروفسكيت. تكون الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة بشكل عام في Alla تلامس مع واحدة على الأقل من المنطقة من النوع ٠“ أو المنطقة من النوع م. تُكوّن الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة las وصلة غير متجانسة مستوية مع المنطقة من النوع ٠“ أو المنطقة من النوع م0. يمكن وضع إما المنطقة من النوع © أو المنطقة من النوع م على الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون ١١ مسام مفتوحة ولكن كما هو موضح بالشرح فيما سبق حيث إن الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت تكون بدون مسام مفتوحة لا ترشح المادة من نوع أو من نوع م المادة شبه الموصلة من البروفسكيت لتكوين وصلة غير متجانسة كتلية؛ Yay من ذلك فإنها Bale ما oS وصلة غير متجانسة مستوية مع المادة شبه الموصلة من البروفسكيت. نمطيًاء تُكوّن الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة وصلة غير متجانسة مستوية مع ١ المنطقة من Nell في بعض النماذج؛ تكون الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة في حالة تلاتمس مع كل من المنطقة من Nog ll والمنطقة من النوع م. في هذه النماذج؛ لن تكون هناك طبقة أخرى i) "طبقة أولى” تشتمل على sale دعم مؤقتة ومادة شبه موصلة من البروفسكيت) تفصل الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة عن ٠ المنطقة من النوع ٠“ أو المنطقة من النوع م. كما هو موضح بالشرح lad سبق؛ حيث إن الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت تكون بدون مسام مفتوحة؛ في هذه النماذج لا ترشح مادة المنطقة من النوع أو المنطقة من النوع م المادة شبه الموصلة من البروفسكيت لتكوين وصلة غير متجانسة كتلية؛ Slay من ذلك فإنها Bale ما ثكوّن وصلة غير متجانسة مستوية مع sald شبه الموصلة من البروفسكيت. وبالتالي؛ يمكن أن تُكوّن الطبقة الخاصة بالمادة شبه © الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة وصلات غير متجانسة مستوية مع كل من المناطق CAAA
الوب من نوع 0 ومن نوع م على أي من جانبي الطبقة. gly على ذلك؛ في بعض النماذج الخاصة بالجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ تكون الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت وصلة غير متجانسة مستوية أولى مع المنطقة من النوع N ووصلة غير متجانسة مستوية ثانية مع المنطقة من النوع م. © يكون الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع نمطيًا عبارة عن جهاز بغشاء رقيق رفيع REF dale يبلغ oll الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة من ٠١ نانو متر إلى ٠٠١ ميكرو متر. بصورة أكثر نمطية؛ يبلغ مثمك الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة من ٠١ نانو متر إلى ٠١ ميكرو متر. يُفضل؛ يبلغ
Jie نانو 5٠ الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة من dl نانو متر. غالبًا ما يكون 0٠0 نانو متر إلى ٠٠١ من JE نانو مترء على سبيل ٠٠٠١ إلى نانو متر. قد يبلغ ٠٠١ الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت أكبر من eld ميكرو مترء أو على سبيل المثال من ٠٠١ نانو متر إلى ٠٠١ على سبيل المثال من ell نانو متر. 70١0 نانو متر إلى ٠ 5 .من أجل توفير أدوات فلطائية ضوئية عالية الفعالية؛ ينبغي زيادة امتصاص المادة الممتصة / المنطقة المتفاعلة ضوئيًا على نحو نموذجي إلى أقصى حد بحيث يتم توليد مقدار Jil من التيار. بناءً على ذلك؛ عند استخدام بروفسكيت باعتباره المادة الممتصة في خلية شمسية؛ ينبغي على نحو نموذجي أن يكون ْمك طبقة البروفسكيت بقيمة من 700 إلى 600 نانو ete من أجل امتصاص غالبية ضوء الشمس عبر الطيف المرئي. بشكل محدد؛ في خلية شمسية ينبغي أن ٠ تكون طبقة البروفسكيت بشكل عام أكثر po Kd عمق الامتصاص (الذي يتم تعريف باعتباره ol, الغشاء الرقيق المطلوب لامتصاص 790 من الضوء الساقط بطول موجة معين؛ يبلغ نمطيً لمواد البروفسكيت محل الاهتمام أعلى من ٠٠١ نانو متر إذا كان من المطلوب امتصاص ضوء كبير عبر الطيف المرئي بأكمله (من 0860© إلى 800 نانو متر))؛ حيث إن استخدام طبقة متفاعلة ضوئيًا في الأدوات الفلطائية الضوئية old يبلغ أقل من ٠٠١ نانو متر يمكن أن يكون ضارًا Yo لأداء الجهاز. CAAA
و على النقيض؛ لا تحتاج الأجهزة الوامضة كهربائيًا (الباعثة للضوء) electroluminescent (light-emitting) devices إلى امتصاص الضوء Jog هذا ليس مقيدة بعمق الامتصاص. علاوة على ذلك؛ عمليًا يتم اختيار حالات التلامس من النوع م ومن النوع © الخاصة بالأجهزة الوامضة كهربائيًا electroluminescent devices نمطيًا بحيث بمجرد أن يتم حقن إلكترون أو ثقب على جانب واحد من الجهاز لن يتدفق خارج DAY (أي؛ يتم اختيارها بحيث يتم فقط حقن أو تجميع مادة حاملة فردية)؛ بغض النظر عن ells الطبقة المتفاعلة ضوئيًا. بشكل أساسي؛ تتم إعاقة المواد الحاملة للشحنات عن النقل خارج المنطقة المتفاعلة ضوئيًا وبالتالي ستكون متاحة sale الدمج وتوليد فوتونات؛ وعلى هذا يمكن الاستفادة من منطقة متفاعلة ضوئيًا تكون Bal Jal إلى حدٍ كبير.
٠ تمطيًاء لهذاء عندما يكون الجهاز الإلكتروني البصري عبارة عن أداة فلطائية ضوئية؛ يكون لمك الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت أكبر من ٠٠١ نانو متر. يمكن على سبيل المثال أن يكون eld الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت في الأداة الفلطائية الضوئية device 000107018106 من ٠٠١ نانو متر إلى ٠٠١ ميكرو مترء؛ أو على سبيل JE من ٠٠١ نانو متر إلى 70١6 نانو متر. يمكن على سبيل المثال أن يكون مك الطبقة الخاصة
٠٠١ بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت في الأداة الفلطائية الضوئية من 7060 نانو متر إلى ١ نانو متر. 70٠0 ميكرو مترء أو على سبيل المثال من 7050 نانو متر إلى كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ يشير المصطلح "لمك" إلى متوسط لمك مكون خاص بجهاز إلكتروني بصري. لوضع بذور لنمو طبقة Gl) استخدام مادة دعم مؤقتة رفيعة (Ko لقد عرض المخترعون أنه
(JE سبيل Jo) Wan حيث يحدث غالبية نشاط التفاعل Wan البروفسكيت المتفاعل ٠ امتصاص الضوء) في طبقة تغطية تتكون أعلى مادة الدعم المؤقتة. تكون طبقة التغطية هذه هي سبق من المادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ و؛ في Led الطبقة المذكورة أو المنطقة من ٠ هذه النماذج» تفصل "طبقة أولى" طبقة التغطية تلك عن إما المنطقة من النوع النوع م.
CAAA
اج \ _
بناءً على ذلك في بعض النماذج؛ تشتمل المنطقة المتفاعلة ضوئيًا المذكورة الخاصة بالجهاز
على:
المنطقة من النوع N المذكورة؛
المنطقة من النوع 0 المذكورة؛ 5 يتم فيما بين المنطقة من Ng all والمنطقة من النوع م0 وضع: daha ( ١ ) o أولى تشتمل على مادة د عم مؤقتة ومادة شبه موصلة من البروفسكيت ؛و
(Y) طبقة تغطية موضوعة على الطبقة الأولى المذكورة؛» حيث تكون طبقة التغطية هي الطبقة
المذكورة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة.
تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في طبقة التغطية في حالة تلامس مع المادة شبه
الموصلة من البروفسكيت في الطبقة الأولى.
٠ حيث إنه غالبًا ما يتم ترسيب البروفسكيت في الطبقة الأولى والبروفسكيت في طبقة التغطية معاً في نفس الخطوة؛ نمطيًا بواسطة نفس خطوة ترسيب المحلول أو ترسيب البخار؛ عادةً ما يتم إعداد المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في طبقة التغطية من نفس مركب البروفسكيت مثل المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في الطبقة الأولى. على النقيض من الطبقة الأولى؛ التي تشتمل على كل من مادة الدعم المؤقتة والمادة شبه الموصلة
ge VO البروفسكيت؛ لا تشتمل طبقة التغطية على Sale الدعم المؤقتة. كما هو موضح بالشرح فيما سبق؛ تتكون طبقة التغطية التي تعتبر الطبقة المذكورة من مادة شبه lia ge من بروفضكيت بدون مسام مفتوحة؛ نمطيًا بشكل أساسي من؛ أو تتكون من نواتج تبلّر من المادة شبه الموصلة من البروفسكيت. وعلى هذا Sale ما تتكون طبقة التغطية بشكل أساسي من المادة شبه الموصلة من البروفسكيت. في بعض النماذج تتكون من طبقة التغطية المادة شبه الموصلة من البروفسكيت.
٠ تشتمل الطبقة الأولى على sale الدعم المؤقتة المذكورة وشبه الموصل من البروفسكيت المذكور المترسب على سطح sale الدعم المؤقتة. يشير المصطلح sale’ دعم مؤقتة" كما هو مستخدم في هذا الطلب إلى مادة تتضمن وظيفتها (وظائفها) العمل كدعامة فيزيائية لمادة أخرى. في الحالة الحالية؛ تعمل مادة الدعم المؤقتة كدعامة للمادة شبه الموصلة من البروفسكيت الموجودة في
ovvy
Cy الطبقة الأولى. يتم وضع المادة شبه الموصلة من البروفسكيت؛ أو دعمها على؛ سطح مادة الدعم على بنية مسامية Ghat مسامية؛ مما يعني أنها تشتمل Bale الدعم المؤقتة sale المؤقتة. تكون sale مفتوحة. بناءً على ذلك؛ يشير "سطح” مادة الدعم المؤقتة هنا نمطيًا إلى أسطح المسام داخل وضع المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في الطبقة الأولى Gla الدعم المؤقتة. وبالتالي؛ يتم الدعم المؤقتة. sale على أسطح المسام داخل 5 الدعم المؤقتة مسامية ويتم وضع المادة شبه الموصلة من sale في بعض النماذج» تكون البروفسكيت في الطبقة الأولى في مسام مادة الدعم المؤقتة. عادة ما تكون المسامية الفاعلة على سبيل المثال؛ يمكن أن تبلغ المسامية .75 ٠ الخاصة بمادة الدعم المؤقتة المذكورة على الأقل أحد النماذج؛ تبلغ المسامية الفاعلة على الأقل SAY حوالي effective porosity الفاعلة JV على الأقل JED على سبيل 210 YS كما هو مستخدم (Alan sie متوسطة. يعني المصطلح 'مسام alae Sale تكون مادة الدعم المؤقتة ov المادة يبلغ من ؟ نانو متر إلى Jah في هذا الطلب؛ أن متوسط حجم المسام الخاص بالمسام نانو متر. يمكن أن تكون المسام الفردية بأحجام ختلافة وبأي شكل. على نحو بديل؛ يمكن أن تكون مادة الدعم المؤقتة كبيرة المسام. يعني المصطلح "كبيرة المسام”؛ كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ أن متوسط حجم المسام الخاص بالمسام داخل المادة يكون أكبر VO تكون كبيرة Laie من ؟ نانو متر. في بعض النماذج؛ حجم المسام في مادة الدعم المؤقتة؛ ميكرو مترء أو على سبيل المثال؛ أكبر ١ متر وتساوي أو أقل من UY المسام؛ يكون أكبر من متر وتساوي أو أقل SY نانو مترء الأفضل أكبر من 9٠٠0 نانو متر وتساوي أو أقل من Y من ثانو متر. ٠٠١ من charge- لشحنة BL يمكن أن تكون مادة الدعم المؤقتة عبارة عن مادة دعم مؤقتة Ye electron— ناقلة لإلكترون sale سبيل المثال؛ Je) transporting scaffold material hole أو على نحو بديل مادة ناقلة لتقب ctitania مثل التيتانيا transporting material ألومينا 80100108. يشير المصطلح "المادة Jie عازلة؛ sale أو (transporting material electrical العازلة"؛ كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ إلى مادة تكون عبارة عن عازل كهربائي ovvy
insulator أو موصل ضعيف للغاية للتيار الكهربائي. يستثني المصطلح عازل بناءً على هذا المواد شبه الموصلة مثل التيتانيا. يشير المصطلح عازل؛ كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ Glas إلى مواد بها فجوة نطاق تساوي أو أكبر من 4,٠ إلكترون فولط. (تبلغ فجوةٍ النطاق الخاصة بالتيتانيا حوالي 3,7 إلكترون فولط.) سيكون الشخص ذو Seal) قادرًا بالفعل على قياس فجوة © النطاق الخاصة بشبه موصل؛ عن طريق استخدام الإجراءات المعروفة جيدًا التي لا تتطلب تجريبًا غير ضروري. على سبيل المثال؛ يمكن تقدير فجوة النطاق الخاصة بشبه الموصل عن طريق تكوين صمام ثنائي فلطائي ضوئي photovoltaic diode أو خلية شمسية من شبه الموصل وتحديد طيف الإجراء الفلطائي (Sa photovoltaic action spectrum pall اعتبار طاقة الفوتون أحادي اللون monochromatic photon energy التي عندها يبدأ توليد تيار الخلية ٠ الكهروضوئية بواسطة الصمام الثنائي بمثابة فجوة النطاق الخاصة بشبه الموصل؛ تم استخدام هذه الطريقة بواسطة : .Barkhouse et al., Prog.
Photovolt: Res.
Appl. 2012; 20:6-11. تعني الإشارات المرجعية في هذا الطلب إلى فجوةٍ النطاق الخاصة بشبه الموصل فجوة النطاق باعتبارها مقاسة بواسطة هذه الطريقة؛ أي؛ فجوة النطاق كما هو محدد عن طريق تسجيل طيف الإجراء ١ الفلطائي الضوئي لصمام ثنائي فلطائي ضوئي أو خلية شمسية متكون من شبه الموصل وملاحظة طاقة الفوتون أحادي اللون التي عندها يبدأ توليد تيار الخلية الكهروضوئية photocurrent المؤثر. dale تلامس المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في الطبقة الأولى (تشتمل هذه الطبقة أيضنًا على مادة الدعم المؤقتة) واحدة من المنطقة من النوع م والمنطقة من نوع oN وتلامس المادة شبه ٠ الموصلة من البروفسكيت في طبقة التغطية المنطقة الأخرى من المنطقة من النوع | والمنطقة من نوع ©. chai تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في طبقة التغطية وصلة غير متجانسة مستوية مع المنطقة التي تتلامس معهاء أي؛ مع المنطقة من النوع م أو المنطقة من النوع 0. في نموذج مفضل؛ تلامس ald) شبه الموصلة من البروفسكيت في طبقة التغطية المنطقة من النوع op وتلامس المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في الطبقة الأولى المنطقة من النوع 0. Bae YO في هذا النموذج؛ تكون sale الدعم المؤقتة عبارة عن إما مادة ناقلة لإلكترون دعم مؤقتة أو بابلا
م \ _ مادة دعم مؤقتة عازلة. نمطيًّاء تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في طبقة التغطية وصلة غير متجانسة مستوية مع المنطقة من النوع م. في نموذج AT مع ذلك؛ تلامس المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في طبقة التغطية المنطقة من النوع on وتلامس المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في الطبقة الأولى المنطقة من النوع م. © تمطيّاء في هذا النموذج؛ تكون مادة الدعم المؤقتة عبارة عن مادة دعم مؤقتة ناقلة لثقب أو sale دعم مؤقتة عازلة. نمطيّاء تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في طبقة التغطية وصلة غير متجانسة مستوية مع المنطقة من النوع 0. Bale ما يكون Gl طبقة التغطية أكبر من eld الطبقة الأولى. بناءً على هذا عادةً ما يحدث غالبية نشاط التفاعل ضوئيًا (على سبيل (Jd) امتصاص الضوء) في طبقة تغطية. Ye يبلغ dle طبقة التغطية نمطيًا من ٠١ نانو متر إلى ٠٠١ ميكرو متر. بصورة أكثر نمطية؛ يبلغ مثمك طبقة التغطية من ٠١ نانو متر إلى ٠١ ميكرو متر. يُفضل؛ يبلغ ll طبقة التغطية من Cu نانو متر إلى ٠١ نانو مثرء؛ أو على سبيل المثال من ٠٠١ نانو متر إلى You نانو متر. يمكن على سبيل المثال أن يكون سُمك طبقة التغطية من ٠٠١ نانو متر إلى ٠٠١ ميكرو مترء أو على سبيل المثال من ٠٠١ نانو متر إلى 70٠6 نانو متر. عادةً ما يتم تفضيل طبقة تغطية لها Yo ملك يبلغ على الأقل ٠٠١ نانو متر. عادةً ما يبلغ dd الطبقة الأولى؛ من ناحية أخرى؛ من © نانو متر إلى ٠٠٠١ نانو متر. بصورة أكثر نمطية؛ يكون من © نانو متر إلى 50٠ نانو مترء أو على سبيل JB من ST متر إلى Yeo نانو متر. تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت المستخدمة في الاختراع Jal) في الطبقة المذكورة Yo من مادة شبه موصلة من بروضسكيت بدون مسام مفتوحة و6 عند وجوده؛ في الطبقة | لأولى المذكورة؛ نمطيًا عبارة عن مادة تكون 508 على (V) امتصاص الضوءء وبالتالي توليد مواد حاملة بشحنة مطلقة؛ و / أو (7) انبعاث ضوء؛ عن طريق قبول شحنة؛ كل من الإلكترونات والثتقوب؛ التي تعيد الاندماج Bal وتبعث ضوءًا. ovvy v4 وبالتالي؛ يكون البروفسكيت المستخدم نمطيًا عبارة عن بروفسكيت ماص للضوء و / أو بروفسكيت باعث للضوء. على Bl يتم استخدام بروفسكيت يكون Gla ماصة للضوء. sale البروفسكيت dale
DAB نانو متر (أي؛ بروفسكيت يكون ٠0050 امتصاص ضوء لها طول موجة يبلغ من 900 إلى على امتصاص ضوء له طول موجة يقع في أي مكان في هذا النطاق). بصورة أكثر نمطية؛ يكون 5 في النطاق البالغ wavelength dase البروفسكيت المستخدم قادرًا على امتصاص ضوء له طول قادر على امتصاص ضوء له طول موجة (JB أو؛ على سبيل cia نانو ١8٠١ من 0860© إلى نانو متر. بصورة أكثر نمطية؛ يكون البروفسكيت المستخدم قادرًا على ٠٠٠١ يبلغ من 9080 إلى واقع في أي مكان في النطاق البالغ من 3080 إلى 800 نانو متر. dase امتصاص ضوء له طول يفضل أن يكون للمادة شبه الموصلة من البروفسكيت المستخدم في الجهاز الإلكتروني البصري ٠ الخاص بالاختراع فجوة نطاق تكون محدودة بالقدر الكافي للسماح باستثارة الإلكترونات بواسطة الضوء الساقط. يتم تحديذًا تفضيل فجوة نطاق تبلغ 3,0 إلكترون فولط أو أقل؛ بخاصة عندما يكون الجهاز الإلكتروني البصري عبارة عن أداة فلطائية ضوئية؛ لأن فجوةٍ النطاق هذه تكون منخفضة بالقدر الكافي لكي يقوم ضوء الشمس باستثارة الإلكترونات عبره. يكون لمواد بروفسكيت معينة؛ متضمنة بعض من مواد بروفسكيت لأكسيد ومواد بروفسكيت ثنائية الأبعاد؛ فجوات نطاق VO وتكون بناءً على هذا أقل تفضيلاً للاستخدام في الأدوات ald تكون أوسع من 3,0 إلكترون إلكترون فولط أو أقل. 3,٠ الفلطائية الضوئية عن مواد البروفسكيت التي لهت فجوة نطاق تبلغ
Strontium تتضمن مواد البروفسكيت هذه كالسيوم تيتانات 081103 سترونتيوم تيتانات التي لها «Strontium titanate :Pr3+ وكالسيوم سترونتيوم تيتانات titanate (SrTiO3) إلكترون فولط و*,؟ إلكترون فولط على التوالي. Vo إلكترون فولط؛ VY فجوات نطاق تبلغ تقريبًا ٠ على ذلك؛ نمطيًا يكون للمادة شبه الموصلة من البروفسكيت المستخدم في الجهاز الإلكتروني gly إلكترون فولط. في بعض النماذج؛ 7,٠ البصري الخاص بالاختراع فجوة نطاق تساوي أو أقل من على سبيل المثال chal تبلغ فجوة النطاق الخاصة بالبروفسكيت أقل من أو تساوي 7,8 إلكترون تساوي أو أقل من 7,5 إلكترون فولط. يمكن على سبيل المثال أن تكون فجوة النطاق أقل من أو إلكترون فولط. 7,٠ إلكترون فولط» أو على سبيل المثال أقل من أو تساوي YY تساوي Yo
CAAA
ل dale تبلغ فجوة النطاق على الأقل ١,5 إلكترون فولط. وبالتالي؛ قد تبلغ فجوة النطاق الخاصة بالبروفسكيت من ١,5 إلكترون فولط إلى 7,8 إلكترون فولط. في بعض النماذج تكون من ٠,5 إلكترون فولط إلى 7,5 إلكترون فولط» أو على سبيل JB من ١,5 إلكترون فولط إلى 7,3 إلكترون فولط. قد تبلغ فجوة النطاق الخاصة بالبروفسكيت على سبيل المثال من ١,5 إلكترون 0 فولط إلى ٠,0 إلكترون فولط. في نماذج (Al قد تبلغ فجوة النطاق الخاصة بالبروفسكيت من ٠ إلكترون فولط إلى ٠ ,7 إلكترون فولط؛ أو على سبيل المثال من ٠١ إلكترون فولط إلى YA إلكترون فولط. في بعض النماذج تكون من ٠١ إلكترون فولط إلى 7,5 إلكترون فولط» أو على سبيل المثال من ٠١ إلكترون فولط إلى 7,7 إلكترون فولط. قد تبلغ فجوة النطاق الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت على سبيل المثال من ٠.١ إلكترون فولط إلى 7,٠ إلكترون فولط. ٠ تبلغ فجوةٍ النطاق الخاصة بالبروفسكيت بصورة أكثر نمطية من ٠,7 إلكترون فولط إلى VA إلكترون فولط. تكون فجوات النطاق الخاصة بالمواد شبه الموصلة من البروفسكيت لهاليد فلز عضوي؛ على سبيل المثال؛ نمطيًا واقعة في هذا النطاق ويمكن على سبيل المثال؛ أن تبلغ حوالي إلكترون فولط أو حوالي ١,6 إلكترون فولط. وبالتالي؛ في أحد النماذج تبلغ فجوة النطاق الخاصة بالبروفسكيت من ٠,١ إلكترون فولط إلى ١,7 إلكترون فولط. Vo تشتمل المادة شبه الموصلة من البروفسكيت المستخدم في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع hat على أنيون واحد على الأقل مختار من أنيونات هاليد وأنيونات كالكوجنيد. يشير المصطلح halide al’ " إلى أنيون لعنصر مجموعة اء أي؛ لهالوجين. نمطيًّاء يشير هاليد إلى أنيون فلوريد fluoride anion أنيون كلوريد «chloride anion أنيون بروميد bromide anion أنيون يوديد iodide anion أو أنيون أستاتيد .astatide anion يشير ٠ المصطلح "أنيون كالكوجنيد chalcogenide anion " كما هو مستخدم في هذا الطلب إلى أنيون anion لعنصر مجموعة 1( أي؛ لكالكوجنيد 008100960. (Gla يشير كالكوجنيد chalcogenide إلى أنيون أكسيد coxide anion أنيون سلفيد coxide anion أنيون سينيليد selenide anion أو أنيون تيلوريد telluride anion باللا
في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ Le Wie يشتمل البروفسكيت على كاتيون أول؛ كاتيون ثان» والأنيون الواحد على الأقل المذكور. كما سيدرك أحد ذوي dled يمكن أن يشتمل البروفسكيت بشكل la) على كاتيونات أو أنيونات إضافية. على سبيل JE يمكن أن يشتمل البروفسكيت على اثنين» ADE أربعة من oo كاتيونات أولى مختلفة؛ اثنين» ADE أربعة من كاتيونات ثانية مختلفة؛ أو اثنين» ثلاثة من أربعة أنيونات مختلفة. نمطيًّا؛ في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ يكون الكاتيون الثاني في البروفسكيت عبارة عن كاتيون فلز. يمكن اختيار SHI من القصدير؛ الرصاص والنحاس؛ وِيُفضل أن يتم اختياره من القصدير والرصاص. بصورة أكثر نمطية؛ يكون الكاتيون الثاني عبارة عن كاتيون فلز ثنائي التكافو. على سبيل JE يمكن اختيار الكاتيون الثاني من أيون الكالسيوم (Calcium ions (Ca2+) أيون سترونتيوم Strontium lon (Sr2) أيون الكاديون «Cadmium ion (Cd2+) أيون النحاس copper dion (Cu2+) أيون النيتروجين nitrogen ion (Ni2+) أيون المنجنيز Manganese ion (Mn2+) أيون الحديدي (ferrous ion (Fe2+) أيون الكوبالت «cobalt ion (Co2+) أيون ١ البالديوم «palladium ion (Pd2+) أيون الجرمانيوم «germanium ion (Ge2+) أيون القصدير dtin ion (Sn2+) أيون الرصاص dead ion (Pb2+) أيون القصدير tin ion ((Sn2+) أيون الايتربيوم Ytterbium ion (YB2+) وأيون الأوربيوم .europium (u2+) يمكن اختيار الكاتيون الثاني من أيون القصدير ctin ion (SN2+) أيون البالديوم (Pd2+) و أيون النحاس (+602). عادةً؛ يتم اختيار الكاتيون الثاني من أيون القصدير +502 وأيون ٠ البالديوم (+Pd2) في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ يكون الكاتيون الأول في البروفسكيت عبارة عن Tale كاتيون عضوي. باللا
_— \ اذ يشير المصطلح "كاتيون عضوي organic cation " إلى كاتيون مشتمل على كربون carbon يمكن أن يشتمل الكاتيون على عناصر إضافية؛ على سبيل المثال؛ يمكن أن يشتمل الكاتيون على هيدروجين؛ نيتروجين أو أكسجين. Gale في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ يكون للكاتيون العضوي الصيغة ه (RIR2R3R4N)+ حيث: 1 تكون هيدروجين» 61-620 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال»؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ 2 تكون هيدروجين» 61-0620 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ 83 تكون هيدروجين» 61-020 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ و 4 تكون هيدروجين» 61-0620 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال. على نحو ca يمكن أن يكون للكاتيون العضوي الصيغة «(R5NH3)+ حيث: RS تكون ١ مهيدروجين؛ أو 61-020 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال. على سبيل RS (Jal يمكن أن تكون ميثيل methyl أو إيثيل الا10©. RS (Gas تكون ميثيل. في بعض النماذج؛ يكون للكاتيون العضوي الصيغة «(RSR6N=CH-NR7R8)+ حيث: RS تكون هيدروجين» 61-020 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ RE تكون هيدروجين» 61-620 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال» أو أريل به ٠ استبدال أو ليس به استبدال؛ RT تكون هيدروجين؛ 01-020 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال» أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ و8 تكون هيدروجين» 61-020 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال. ovvy
الا _ RS (Gha في الكاتيون (RSRON=CH-NRTR8)+ تكون هيدروجين؛ ميثيل أو إيثيل» RO تكون هيدروجين؛ ميثيل أو إيثيل» RT تكون هيدروجين؛ ميثيل أو إيثيل؛ و48 تكون هيدروجين؛ ميثيل أو إيثيل. على سبيل المثال45 يمكن أن تكون هيدروجين أو ميثيل؛ 46 يمكن أن تكون هيدروجين أو ميثيل؛ RT يمكن أن تكون هيدروجين أو ميثيل؛ و 48ايمكن أن تكون هيدروجين أو © ميثيل. يمكن أن يكون للكاتيون العضوي؛ على سبيل JB) الصيغة (H2N=CH-NH2)+ كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ يمكن أن تكون مجموعة ألكيل عبارة عن شق مشبع به استبدال أو لا يكون به استبدال؛ بسلسلة خطية أو متفرعة؛ We ما تكون شق مشبع بسلسلة خطية به استبدال أو ليس به استبدال؛ الأغلب شق مشبع بسلسلة خطية ليس به استبدال. تكون مجموعة ٠ 601-020 ألكيل عبارة عن شق هيدروكربون مشبع ليس به استبدال أو به استبدال؛ بسلسلة مستقيمة أو متفرعة. نمطيًا تكون 61-010 (JS على سبيل المثال ميثيل؛ إيثيل؛ بروبيل butyl Js su «propyl بنتيل (pentyl هكسيل cheptyl Jia hexyl أوكتيل octyl نونيل nonyl أو ديسيل «decyl أو C1-C6 ألكيل؛ على سبيل المثال eine إيثيل؛ بروبيل؛ بيوتيل» بنتيل أو هكسيل؛ أو 01-64 ألكيل؛ على سبيل المثال ميثيل؛ إيثيل؛ أ - بروبيل» 7 - بروبيل؛ ؟ ١ - بيوتيل؛ 5 - بيوتيل أو © - بيوتيل. عندما يكون بمجموعة ألكيل استبدال فإنها تحمل نمطيًا واحدة أو أكثر من مجموعات الاستبدال المختارة من 61-020 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أريل به استبدال أو ليس به استبدال WS) هو Gre في هذا الطلب)؛ سيانوء أمينو؛* 61-010 ألكيل sud 061-010 Jif (C1-C10) la calkylamino أمينو «di(C1-Cl0)alkylamino أريل sid carylamino ٠ داي أريل diarylamino sud أريل ألكيل أمينو sud carylalkylamino camido أسيل أميدو cacylamido هيدروكسي chydroxy أوكسو 0*0؛ هالو halo كربوكسي carboxy إستر cester أسيل cacyl أسيل أوكسي لا*«0الا80؛ 01-020 ألكوكسي 01-020 «alkoxy أريل أوكسي caryloxy هالو ألكيل haloalkyl حمض سلفونيك «sulfonic acid سلفهيدريل sulfhydryl (أي؛ ثيول «(=SH «thiol 61-0 ألكيل تير «C1-C10 alkylthio Yo أريل ثيو carylthio سلفونيل sulfonyl حمض فوسفوريك (phosphoric acid إستر فوسفات بالا
ديه phosphate ester حمض فوسفونيك phosphonic acid واستر فوسفونات phosphonate Lester تتضمن أمثلة على مجموعات ألكيل بها استبدال: مجموعات هالو ألكيل؛ هيدروكسي ألكيل؛ أمينو ألكيل؛ ألكوكسي ألكيل وألك أريل ٠. يتعلق المصطلح ألك أريل ؛ كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ بمجموعة 61-620 ألكيل حيث تم استبدال ذرة هيدروجين واحدة على الأقل © بمجموعة أريل. تتضمن أمثلة على هذه المجموعات؛ إلا أن الأمر ليس قاصرًا على؛ بنزيل benzyl (فينيل ميثيل phenylmethyl -000112)؛ بنزهيدريل «(Ph2CH -( benzhydryl ترايتيل trityl (تراي فينيل ميثيل phenethyl (Ph3C - driphenylmethyl (فينيل (Ph—CH2CH2- (Ji) ستايريل cinnamyl Juli. «(Ph-CH=CH-) styryl .(Ph—-CH=CH-CH2-) Ghat ٠ تحمل مجموعة ألكيل به استبدال ٠ ؟ أو ؟ مجموعات استبدال؛ على سبيل المثال ١ أو ل مجموعة أريل تكون Ble عن مجموعة عطرية بها استبدال أو ليس بها استبدال؛ أحادية الحلقة أو ثنائية الحلقات تشمل نمطيًا من > إلى VE ذرة كربون؛ يُفضل من ١ إلى ٠١ ذرةٍ كربون في الجزء الحلقي. تتضمن الأمثلة مجموعات (iid الا060. نافقيل indenyl (sx) naphthyl واندانيل Vo الا10080. تكون مجموعة الأريل ليس بها استبدال أو بها استبدال. عندما مجموعة أريل كما هو معرّف Lad سبق يكون بها استبدال فإنها تحمل نمطيًا واحدة أو أكثر من مجموعات الاستبدال المختارة من 61-06 ألكيل الذي ليس به استبدال (لتكوين مجموعة أرألكيل)؛ أريل ليس به استبدال» : cyano, amino, 1-610 alkylamino, di(C1-Cl0)alkylamino, arylamino, diarylamino, arylalkylamino, amido, acylamido, hydroxy, halo, carboxy, Y. ester, acyl, acyloxy, 01-020 alkoxy, aryloxy, haloalkyl, sulfhydryl (i.e. thiol, —SH), C1-10 alkylthio, arylthio, sulfonic acid, phosphoric acid, phosphate ester, phosphonic acid and phosphonate ester and sulfonyl. ovvY
—yvo- تحمل نمطيًا hn )6 7 أو © مجموعات استبدال. يمكن أن تكون مجموعة أريل بها استبدال بها استبدال في اثنين من المواضع بمجموعة 61-06 ألكيلين فردية؛ أو بمجموعة باي دينتات ممثلة بواسطة : الصيغة ©61-66(81/7/160)-)ل-,؛ أو -4(-61-06(807/1606)-)-» حيث يتم اختيار X © من 0 5 NR وحيث »ا تكون (H أريل أو C1-C6 ألكيل. ومن of يمكن أن تكون مجموعة أريل بها استبدال عبارة عن مجموعة أريل ملتحمة مع مجموعة سيكلو ألكيل cycloalkyl أو مع مجموعة حلقية غير متجانسة heterocyclyl يمكن أن تتضمن الذرات الحلقية ring atoms الخاصة بمجموعة أريل واحدة أو أكثر من الذرات غير المتجانسة (كما في مجموعة أريل غير متجانس ا/6180807). تكون مجموعة الأريل هذه (مجموعة أريل غير متجانس) عبارة عن ٠ مجموعة عطرية غير متجانسة أحادية الحلقة أو ثنائية الحلقات بها استبدال أو ليس بها استبدال تشمل نمطيًا من ١ إلى ٠١ ذرات في all الحلقي بما في ذلك واحدة أو أكثر من الذرات غير المتجانسة. بشكل عام تكون عبارة عن حلقة غير متجانسة تتكون من © أو + ذرات؛ محتوية على ذرة غير متجانسة واحدة على الأقل مختارة من Sis 58 (PN (S(O يمكن أن تحتوي؛ على سبيل (JED على ١ ؟ أو © ذرات غير متجانسة. تتضمن أمثلة على مجموعات أريل غير VO متجانس : pyrazinyl, pyrimidinyl, pyridazinyl, furanyl, thienyl, pyr ,الاأالامأكسيد قصدير مشاب AZOlidingl, pyrrolyl, oXasiesl أكسيد قصدير مشاب بألومنيوم AZOlyl, أ0*80أكسيد قصدير مشاب بألومنيوم*150 AZOlYI, أكسيد قصدير مشاب بألومنيوم AZOlYl, AZOlyl, أكسيد قصدير مشاب بألومنيوم AZOlYI, thia sie lie قصدير asSthiadi
AZOlyl, بألومنيوم lie أكسيد قصدير AZOIYI, imid 50101اأكسيد قصدير مشاب بألومنيوم ٠ الا أكسيد قصدير مشاب بألومتيوم quinolyl and isoquinolyl. ,الإا0ع2م يمكن أن تكون مجموعة أريل غير متجانس ليس بها استبدال أو بها استبدال» على سبيل (JED كما هو محدد فيما سبق للأريل. تحمل ١ hia Ghat ؟ أو ؟ مجموعات استبدال. ovvY pr بشكل أساسي؛ في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع» 1+ في الكاتيون العضوي تكون تكون هيدروجين؛ ميثيل أو R3 ei) تكون هيدروجين؛ ميثيل أو R2 هيدروجين؛ ميثيل أو إيثيل؛ يمكن أن تكون هيدروجين أو RT تكون هيدروجين؛ ميثيل أو إيثيل. على سبيل المثال RA إيثيل؛ RAs يمكن أن تكون هيدروجين أو ميثيل؛ R3 يمكن أن تكون هيدروجين أو ميثيل؛ R2 ميثيل؛ يمكن أن تكون هيدروجين أو ميثيل. © تكون RS حيث: (RENH3)+ على نحو بديل؛ يمكن أن يكون للكاتيون العضوي الصيغة يمكن أن RS (Jd هيدروجين؛ أو 01-020 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال. على سبيل تكون ميثيل. RS clas تكون ميثيل أو إيثيل. في أحد النماذج؛ يكون البروفسكيت عبارة عن بروفسكيت لأنيون مختلط مشتمل على اثنين أو وأنيونات كالكوجنيد halide anions أكثر من الأنيونات المختلفة المختارة من هاليد ٠ يكون الاثنين أو أكثر من الأنيونات المختلفة المذكورة عبارة dale chalcogenide anions عن اثنين أو أكثر من أنيونات هاليد مختلفة. وبالتالي؛ قد يكون البروفسكيت المستخدم عبارة عن بروفسكيت لأنيون مختلط مشتمل على كاتيون وأنيونات alla واثنين أو أكثر من الأنيونات المختلفة المختارة من أنيونات (of أول» كاتيون mixed—anion يمكن أن يشتمل البروفسكيت لأنيون مختلط Jd كالكوجنيد. على سبيل ١ على اثنين من الأنيونات المختلفة و؛ على سبيل المثال؛ يمكن أن تكون الأنيونات perovskite عبارة عن أنيون هاليد وأنيون كالكوجنيد؛ اثنين من أنيونات الهاليد المختلفة أو اثنين من الأنيونات المختلفة كالكوجنيد. قد تكون الكاتيونات الأول والثاني كما هو مُعرّف بشكل إضافي فيما سبق في هذا الطلب. ومن ثم؛ يمكن أن يكون الكاتيون الأول عبارة عن كاتيون عضوي؛ الذي قد يكون كما في هذا الطلب. على سبيل المثال قد يكون كاتيون بالصيغة ala) هو مُعرّف بشكل Yo كما هو مُعرّف فيما سبق. على نحو بديل؛ (RSNH3)+ أو الصيغة (RIR2R3R4AN)+ كما [R5R6N=CH-NRT7R8]+ يمكن أن يكون الكاتيون العضوي عبارة عن كاتيون بالصيغة هو مُعرّف فيما سبق. يمكن أن يكون الكاتيون الثاني عبارة عن كاتيون فلز ثنائي التكافؤ. على : سبيل المثال؛ يمكن اختيار الكاتيون الثاني من
CAAA
_ 7 اذ أيون الكالسيوم (Ca2+) أيون سترونتيوم (522)؛ أيون الكاديون (+602)؛ أيون النحاس ((Cu2+) أيون النيتروجين ((Ni2+) أيون المنجنيز (MN2+) أيون الحديدي (+62)؛ أيون الكوبالت ((Co2+) أيون البالديوم (+002)؛ أيون الجرمانيوم (Ge2+) أيون القصدير (5027)؛ أيون «(Pb2+) aba) أيون القصدير (5027)؛ أيون الايتربيوم (YB2+) وأيون © الأوربيوم (+6027). يمكن اختيار الكاتيون الثاني من أيون القصدير (+502)؛ أيون البالديوم (+002) و أيون النحاس (+602). dale يتم اختيار الكاتيون الثاني من أيون القصدير +502 وأيون البالديوم (+Pd2) في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ fale ما يكون البروفسكيت عبارة عن بروفسكيت لهاليد مختلط» حيث يكون الاثنين أو أكثر من الأنيونات المختلفة المذكورة عبارة عن ٠ - اثنين أو أكثر من أنيونات هاليد مختلفة. نمطيّا؛ تكون عبارة عن اثنين أو ثلاثة من أنيونات cally بصورة أكثر نمطية؛ اثنين من أنيونات الهاليد المختلفة. Sale يتم اختيار أنيونات الهاليد من فلوريد؛ كلوريد؛ بروميد ويوديد؛ على سبيل المثال كلوريد؛ بروميد ويوديد. غالبا في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص AVL @ يكون البروفسكيت عبارة عن مركب بروفسكيت بالصيغة (ا): (I) ١٠٠ 8[]703][م] حيث: [A] تكون كاتيون عضوي واحد على الأقل؛
[8] تكون كاتيون فلزي metal cation واحد على الأقل؛ و [X] تكون الأنيون الواحد على الأقل المذكور. Yo يمكن أن يشتمل البروفسكيت بالصيغة (ا) على candy اثنين؛ ADE أربعة من كاتيونات فلز مختلفة؛ نمطيًا واحد أو اثنين من كاتيونات فلز مختلفة. al يمكن؛ على سبيل JE أن يشتمل البروفسكيت بالصيغة ) | ( 3 على واحد 3 اثنين »+ ثلاثة أربعة من كاتيونات iy gua مختلفة ovvy
م اذ نمطيًا candy اثنين من كاتيونات عضوية مختلفة. Jill يمكن أن يشتمل البروفسكيت بالصيغة (ا)» على واحد؛ اثنين؛ ثلاثة؛ أربعة من أنيونات مختلفة؛ نمطيًا اثنين أو ثلاثة من أنيونات مختلفة. قد تكون الكاتيونات العضوية والفلزية في مركب البروفسكيت بالصيغة )1( كما هو مُعززف بشكل إضافي Led سبق في هذا الطلب. ومن of يمكن اختيار الكاتيونات العضوية من كاتيونات © بالصيغة (RIR2R3RAN)+ وكاتيونات بالصيغة ((RSNH3)+ كما هو مُعرّف lad سبق. يمكن اختيار الكاتيونات الفلزية من كاتيونات فلزية ثنائية التكافو. على سبيل JB) يمكن اختيار الكاتيونات الفلزية من أيون الكالسيوم (682©+)؛ أيون سترونتيوم (532)؛ أيون الكاديون (+Cd2) أيون النحاس (602©+)؛ أيون النيتروجين (+Ni2) أيون المنجنيز (1/02+)؛ أيون الحديدي (+Fe2) أيون الكوبالت ((+C02) أيون البالديوم (502+)؛ أيون الجرمانيوم ((+Ge2) أيون ٠ القصدير (502+)؛ أيون الرصاص يمكن؛ على سبيل المثال؛ اختيار الكاتيون العضوي من كاتيونات بالصيغة (RSRON=CH~ (NRTR8)+ وكاتيونات بالصيغة ((HZN=CH-NH2)+ كما هو مُعرّف led سبق. يمكن اختيار الكاتيونات الفلزية من كاتيونات فلزية ثنائية التكافو. على سبيل (JB يمكن اختيار الكاتيونات الفلزية من أيون الكالسيوم (682©+)؛ أيون سترونتيوم (532)؛ أيون الكاديون (+Cd2) Ve أيون النحاس (602©+)؛ أيون النيتروجين (12ل1+)؛ أيون المنجنيز (1/02+)؛ أيون الحديدي (+Fe2) أيون الكوبالت ((+C02) أيون البالديوم (502+)؛ أيون الجرمانيوم ((+Ge2) أيون القصدير (502+)؛ أيون الرصاص نمطيّاء [7] في الصيغة (ا) تكون اثنين أو أكثر من الأنيونات المختلفة المختارة من أنيونات هاليد وأنيونات كالكوجنيد. بصورة أكثر نمطية؛ DA تكون اثنين أو أكثر من أنيونات هاليد مختلفة. ٠ - في أحد النماذج؛ يكون البروفسكيت عبارة عن مركب بروفسكيت بالصيغة (ها): AB[X]3 (IA) حيث: تكون كاتيون عضوي؛ ovVY
q —_ اذ 8 تكون كاتيون فلز؛ و [X] تكون اثنين أو أكثر من أنيونات هاليد مختلفة. نمطيّاء [X] في الصيغة (1A) تكون اثنين أو أكثر من الأنيونات المختلفة المختارة من أنيونات هاليد وأنيونات كالكوجنيد. [X] Bale تكون اثنين أو أكثر من أنيونات هاليد مختلفة. يُفضل» [X] © تكون اثنين أو ثلاثة من أنيونات هاليد مختلفة. الأفضل؛ IX] تكون اثنين من أنيونات الهاليد المختلفة. في نموذج [X] AT تكون ثلاثة من أنيونات هاليد مختلفة. قد تكون الكاتيونات العضوية والفلزية في مركب البروفسكيت بالصيغة (JA) كما هو مُعرّف بشكل إضافي فيما سبق في هذا الطلب. ومن od يمكن اختيار الكاتيون العضوي من كاتيونات بالصيغة (RIR2R3RAN)+ وكاتيونات بالصيغة (RONH3)+ كما هو مُعرّف led سبق. يمكن أن 9 يكون كاتيون الفلز عبارة عن كاتيون فلز ثنائي التكافو. على سبيل JE يمكن اختيار كاتيون lal من أيون الكالسيوم (082©+)؛ أيون سترونتيوم (522)؛ أيون الكاديون (002©+)؛ أيون النحاس ((+CU2) أيون النيتروجين (1112+)؛ أيون المنجنيز (1/92+)؛ أيون الحديدي (+Fe2) أيون الكوبالت (+C02) أيون البالديوم (02©+)؛ أيون الجرمانيوم (+Ge2) أيون القصدير (502+)؛ أيون الرصاص Vo يمكن؛ على سبيل المثال؛ اختيار الكاتيون العضوي من كاتيونات بالصيغة (RSRON=CH~— (NRTR8)+ وكاتيونات بالصيغة ((H2N=CH-NH2)+ كما هو مُعرّف lad سبق. يمكن أن يكون كاتيون الفلز عبارة عن كاتيون فلز ثنائي التكافو. على سبيل JE يمكن اختيار كاتيون الفلز من أيون الكالسيوم (082+)؛ أيون سترونتيوم (532)؛ أيون الكاديون ((+Cd2) أيون النحاس ((+CU2) أيون النيتروجين (1112+)؛ أيون المنجنيز (1/92+)؛ أيون الحديدي (+Fe2) Yo أيون الكوبالت (+C02) أيون البالديوم (502+)؛ أيون الجرمانيوم (+Ge2) أيون القصدير (502+)؛ أيون الرصاص نمطيّاء في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛» يكون البروفسكيت عبارة عن مركب بروفسكيت بالصيغة :)١١( ABX3-yXy (Il) ovvy
=« _ تكون كاتيون عضوي؛ 8 تكون كاتيون فلز؛ X تكون أنيون هاليد أول؛ ”ل تكون أنيون هاليد ثان يكون مختلقًا عن أنيون الهاليد الأول؛ و لا تكون من ٠.05 إلى Xiao Bale لا تكون من ٠,5 إلى م على سبيل المثال من دلت إلى laa .Y,¥0 ¢ لا تكون من ١ إلى 3. مرة أخرى؛ في الصيغة oI) قد تكون الكاتيونات العضوية والفلزية كما هو مُعرّف بشكل إضافي فيما سبق في هذا الطلب. ومن ثَم؛ يمكن أن يكون الكاتيون العضوي عبارة عن كاتيون بالصيغة (RIR2R3RAN)+ أو؛ بصورة أكثر نمطية؛ كاتيون بالصيغة ((RSNH3)+ كما هو مُعرّف فيما سبق. يمكن أن يكون كاتيون الفلز عبارة عن كاتيون فلز ثنائي التكافؤ. على سبيل المثال؛ يمكن اختيار كاتيون الفلز من أيون الكالسيوم (0682+)؛ أيون سترونتيوم (S12) أيون الكاديون (602©+)؛ أيون النحاس (602©+)؛ أيون النيتروجين (12ل1+)؛ أيون المنجنيز (1/02+)؛ أيون (+Ge2) أيون الجرمانيوم (+PA2) أيون البالديوم ((+C02) _الحديدي (5©2+)؛ أيون الكوبالت Vo أيون القصدير (502+)؛ أيون الرصاص tla) في بعض النماذج؛ يكون البروفسكيت عبارة عن مركب بروفسكيت بالصيغة
ABX3zX’3(1-z) (lla) ٠ ل تكون كاتيون عضوي بالصيغة ((RSRON=CH-NRT7R8)+ حيث: RS تكون هيدروجين؛ 61-0 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ R6 تكون هيدروجين» 61-020 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو ليس به ovvy
استبدال؛ 7 تكون هيدروجين» 61-620 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال» أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ و88 تكون هيدروجين» 01-020 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ 8 تكون كاتيون فلز؛ * تكون أنيون alla أول؛ تكون أنيون هاليد ثان يكون مختلقًا عن أنيون الهاليد الأول؛ و 2 تكون أكبر من صفر وأقل من .١ Gale 2 تكون من ٠.٠9 إلى a0 Sale 27 تكون من 1 إلى Zz.
A يمكن أن تكونء على سبيل NT IA BEET SI JE كرف Yo ,+ 6 1 , يا لا , ٠ A co أو 9 6*1 أو و يمكن أن تكون Blas من أي من هذه القيم إلى أي YPN أخرى من هذه القيم (على سبيل JE من ٠,١ إلى و أو من ٠,١ إلى ب 0 8 © يمكن أن تكون كما هو معرّف Led سبق في هذا الطلب. يمكن أن يكون الكاتيون العضوي؛ على سبيل Sle JE عن «(RSR6N=CH-NR7R8)+ حيث: يتم اختيار R5 (R6 7ن و88 كل على حدة من هيدروجين وبه استبدال أو ليس به استبدال 61-66 ألكيل. Vo على سبيل المثال؛ يمكن أن يكون الكاتيون العضوي عبارة عن (HIN=CH-NH2)+ غالبًاء في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ يكون البروفسكيت Bho عن مركب بروفسكيت lise من «CH3NH3PbCI3 (CH3NH3PbBr3 (CH3NH3PbI3 «CH3NH3PbIBr2 («CH3NH3PbBrCl2 (CH3NH3PbBrl2 (CH3NH3PbF3 «CH3NH3SnBrl2 (CH3NH3PbI2Cl (CH3NH3PbCIBr2 (CH3NH3PbICI2 «CH3NH3SnICI2 (CH3NH3SnIBr2 (CH3NH3SnF2Br (CH3NH3SnBrCI2 ٠٠ .CH3NH3SnF2CIl CH3NH3SnI2Cl («CH3NH3SnCIBr2 «CH3NH3SnF2I يباه
_— \ _ على سبيل المثال؛ في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ يمكن اختيار مواد البروفسكيت من 1130113058012 «CH3NH3PbIBr2 (CH3NH3PbBrCl2 «CH3NH3SnBrl2 011313051261 (CH3NH3PbCIBr2 (CH3NH3PbICI2 «CH3NH3SnICI2 (CH3NH3SnIBr2 (CH3NH3SnF2Br (CH3NH3SnBrCI2 CH3NH3SnI2Cl («CH3NH3SNnCIBr2 (CH3NH3SnF2l © و .CH3NH3SnF2Cl نمطيّاء .يتم اختيار البروفسكيت من «CH3NH3PbBrCI2 (CH3NH3PbBrl2 0113011305126١ (CH3NH3PbCIBr2 113113001612 (CH3NH3PbIBr2 CH3NH3SnI2Cl 13001390721 138013501612 (CH3NH3SnF2Br و .CH3NH3SnF2ClI ٠ بصورة أكثر نمطية؛ يتم اختيار البروفسكيت من 011310113058112 «CH3NH3PbBrCI2 0113011305126١ (CH3NH3PbCIBr2 113113001612 (CH3NH3PbIBr2 «CH3NH3SnF2Br 1131011350172 و .CH3NH3SnF2Cl dak .يتم اختيار البروفسكيت من «CH3NH3PbBrCI2 (CH3NH3PbBri2 «CH3NH3PbICI2 (CH3NH3PbIBr2 +113101390728 و .CH3NH3SnF2I Vo غالبًاء يكون البروفسكيت المستخدم عبارة عن .CH3NH3PbCI2I في بعض Ela يمكن أن يكون البروفسكيت Phe عن بروفسكيت بالصيغة «(H2ZN=CH-NH2)Pbl3zBr3(1-z) حيث 2 تكون أكبر من صفر أو أقل من .١ 27 قد تكون كما هو مُعرّف بشكل إضافي فيما سبق في هذا الطلب. يمكن أن تشتمل المادة شبه الموصلة من البروفسكيت المستخدمة في الجهاز الإلكتروني البصري ٠ -_ الخاص بالاختراع على البروفسكيت من أنيون مختلط المذكور وبروفسكيت من أنيون فردي؛ على سبيل المثال في مزيج ¢ Cua يشتمل البروفسكيت من الأنيون الفردي المذكور على كاتيون أول كاتيون ثان وأنيون مختار من أنيونات هاليد وأنيونات كالكوجنيد؛ حيث تكون الكاتيونات الأول والثاني كما هو مُعرّف في هذا الطلب للبروفسكيت من الأنيون المختلط المذكور. على سبيل ofa (JG أن يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري على: 011301113051012 CAAA
-." _ و CH3NH3PbBrCl2 ¢«CH3NH3PbBr3, CH3NH3PbICI2 ¢«CH3NH3PbI3 و <CH3NH3PbI3 أو CH3NH3PbBrCI2 و .CH3NH3PbBr3 J Se يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري على بروشضكيت بالصيغة ((H2N=CH-NH2)PbI3zBr3(1-z) حيث 2 تكون كما هو Gee في هذا الطلب؛ © وبروفسكيت من أنيون فردي (H2N=CH-NH2)PbI3 (ic أو .(H2N=CH-NH2)PbBr3 على نحو بديل؛ يمكن أن تشتمل المادة شبه الموصلة من البروفسكيت المستخدمة في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع على أكثر من بروفسكيت واحد؛ حيث يكون كل بروفسكيت عبارة عن بروفسكيت من أنيون مختلط» وحيث يكون البروفسكيت من أنيون مختلط المذكور كما هو مُعرّف في هذا الطلب. على سبيل (JB يمكن أن يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري على ٠ اثنين أو ثلاثة مواد البروفسكيت المذكورة. يمكن أن يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ على سبيل المثال؛ على اثنين من مواد البروفسكيت حيث تكون كلا مواد البروفسكيت عبارة عن مواد بروفسكيت من أنيون مختلط. على سبيل المثال؛ يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري على: «CH3NH3PbBrl2 ;, CH3NH3PbICI2 ¢«CH3NH3PbIBr2 ;, CH3NH3PbICI2 «CH3NH3PbIBr2 CH3NH3PbBrCI2 ٠ أو CH3NH3PbBrCI2 و .CH3NH3PbIBr2 يمكن أن يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري على اثنين من مواد البروفسكيت Al) حيث كل sak بروفسكيت تكون عبارة عن بروفسكيت بالصيغة «(H2N=CH-NH2)PbI3zBr3(1-z) حيث 2 تكون كما هو معرّف في هذا الطلب. في بعض النماذج الخاصة بالجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ عندما [8] تكون Sle ٠ عن كاتيون فلز فردي يكون أيون البالديوم (PAD) يكون واحد من الاثنين أو أكثر من أنيونات الهاليد المختلفة المذكورة عبارة عن يوديد أو فلوريد؛ وعندما [8] تكون عبارة عن كاتيون فلز فردي يكون +502 يكون aad واحد من الاثنين أو BST من أنيونات الهاليد المختلفة المختلفة عبارة عن فلوريد . Gale في بعض النماذج الخاصة بالجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ يكون واحد من الاثنين أو أكثر من أنيونات الهاليد المختلفة المذكورة عبارة عن يوديد أو فلوريد. (Gani CAAA
في بعض النماذج الخاصة بالجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ يكون واحد من الاثنين أو أكثر من أنيونات الهاليد المختلفة المذكورة Ble عن يوديد ويكون الآخر من الاثنين أو أكثر من أنيونات الهاليد المختلفة المذكورة عبارة عن فلوريد أو كلوريد. We في بعض النماذج الخاصة بالجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ يكون واحد من الاثنين أو أكثر من أنيونات الهاليد 0 المختلفة المذكورة عبارة عن فلوريد. asi في بعض النماذج الخاصة بالجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ إما: (أ) يكون واحد من الاثنين أو أكثر من الأنيونات المختلفة المذكورة عبارة عن فلوريد ويكون الآخر من الاثنين أو أكثر من الأنيونات المختلفة المذكورة عبارة عن كلوريد؛ بروميد أو يوديد؛ أو (ب) يكون واحد من الاثنين أو أكثر من الأنيونات المختلفة المذكورة عبارة عن يوديد ويكون الآخر من الاثنين أو أكثر من الأنيونات المختلفة المذكورة عبارة عن فلوريد أو ٠ كلوريد. نمطيّاء [X] تكون اثنين من أنيونات الهاليد المختلفة XC X غالبًا؛ في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ يكون كاتيون الفلز المذكور ثنائي التكافؤ عبارة عن أيون القصدير (502+). على نحو بديل؛ في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ يمكن أن يكون كاتيون الفلز المذكور ثنائي التكافؤ عبارة عن أيون البالديوم (+Pd2) تشتمل المنطقة من النوع 7 في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع على واحدة أو أكثر ge VO طبقات من نوع WE WN تكون المنطقة من النوع 7 عبارة عن طبقة من نوع ©؛ أي؛ طبقة فردية من نوع 7. في نماذج أخرى؛ مع cll يمكن أن تشتمل المنطقة من النوع ١ على طبقة من نوع ١7 وطبقة معيقة للإكسيتون من نوع 7. في الحالات حيث يتم استخدام طبقة معيقة للإكسيتون من نوع oN عادةً ما يتم وضع الطبقة المعيقة للإكسيتون من النوع Led Nis بين الطبقة من النوع n والطبقة (الطبقات) المشتملة على المادة شبه الموصلة من البروفسكيت. Ys تكون طبقة معيقة للإكسيتون عبارة عن مادة ذات فجوة نطاق أوسع من البروفسكيت؛ ولكن يتطابق إما نطاق التوصيل أو نطاق التكافؤ الخاص بها على نحو وثيق مع تلك الخاصة بالبروفسكيت. إذا كان نطاق التوصيل (أو مستويات الطاقة النطاقية الجزيئية غير المشغولة unoccupied molecular orbital energy levels الدنيا) للطبقة المعيقة للكسيتون exciton blocking layer متحاذيًا على نحو وثيق مع نطاق التوصيل الخاص بالبروفسكيت؛ فإنه يمكن أن تمر Yo الإلكترونات من البروفسكيت إلى ومن خلال الطبقة المعيقة للإكسيتون؛ أو من خلال الطبقة ovvy
اج ¢ —
المعيقة للإكسيتون وإلى البروفسكيت؛ ويُطلق على هذا طبقة معيقة للإكسيتون من نوع 7. يمكن
مثال عليها في باثوأوكيوبروين 0817000000106 كما هو موصف في :
{P.
Peumans, A.
Yakimov, and 5. R.
Forrest, “Small molecular weight organic thin—film photodetectors and solar cells” J.
Appl.
Phys. 93, 3693
(2001)} and {Masaya Hirade, and Chihaya Adachi, “Small molecular ٠ organic photovoltaic cells with exciton blocking layer at anode interface for improved device performance” Appl.
Phys.
Lett. 99, 153302 (2011)}}.
تكون طبقة من Ng عبارة عن طبقة من مادة ABU للإلكترون (أي؛ (Nga يمكن أن تكون
المادة من نوع © Ble عن مركب من نوع © فردي أو مادة أساسية؛ أو خليط من اثنين أو أكثر .من المركبات من نوع JN المواد الأساسية؛ يمكن أن تكون غير مشابة أو مشابة بواحد أو أكثر
من عناصر الإشابة.
يمكن أن تشتمل الطبقة من النوع © المستخدمة في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع
على مادة من نوع n غير iy gua أو عضوية.
يمكن اختيار Af مادة من نوع ١ غير عضوية من أكسيد فلز cmetal oxide سلفيد فلز metal sulphide Yo سيلينيد فلز cmetal selenide تيلوريد فلز metal telluride بروفسكيت
Si «perovskite لابلوري camorphous Si شبه موصل من المجموعة IV من نوع iN شبه
موصل من المجموعة /١-ااا من نوع iN شبه موصل من المجموعة ا/١-ا١ من نوع 9 ad
موصل من المجموعة |//ا-ا من نوع in شبه موصل من المجموعة VV من نوع ad iN
موصل من المجموعة |/١-/ا من نوع iN وشبه موصل من المجموعة -١/ اا من نوع <n يمكن أن ٠ تكون أية منها مشابة أو غير مشابة.
يمكن اختيار المادة من نوع © من أكسيد فلزء سلفيد فلزء سيلينيد فلزء تيلوريد فلزء 5 لابلوري؛
شبه موصل من المجموعة IV من نوع iN شبه موصل من المجموعة /١-ااا من ad Nes
موصل من المجموعة [I-VI] من نوع iN شبه موصل من المجموعة VIE من نوع ad nN
ovvY gt موصل من المجموعة IV-V من نوع iN شبه موصل من المجموعة VV من نوع in وشبه موصل من المجموعة /١-اا من نوع ©؛ يمكن أن تكون أية منها مشابة أو غير مشابة. بصورة أكثر نمطية؛ يتم اختيار المادة من نوع © من أكسيد OB سلفيد فلزء سيلينيد فلزء وتيلوريد © وبالتالي؛ يمكن أن يشتمل الطبقة من النوع ١ على مادة غير عضوية مختارة من أكسيد تيتانيوم؛ قصدير؛ زنك؛ نيوبيوم؛ all تنجستين؛ إنديوم؛ جاليوم؛ نيوداينيوم؛ بالاديوم؛ أو كادميوم؛ أو أكسيد خليط من اثنين أو أكثر من الفلزات المذكورة. على سبيل (JB يمكن أن يشتمل الطبقة من النوع © على ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 ثاني أكسيد القصدير (5002) «dioxide Tin اكسيد الزنك Zinc oxide (ZnO) خامس أكسيد النيوبيوم «Niobium pentoxide (Nb205) (WO3 ثالث أكسيد التنجستن (Tantalum pentoxide (Ta205) خامس أكسيد التنتالوم ٠ ثالث dndium(ll) oxide (IN203) ثالث أكسيد الانديوم (W205 خامس أكسيد التنجستن !16007/0010100)11(( (!1007)11ال68؛ ثالث أكسيد النيوديميوم oxide (Ga203) أكسيد الجاليوم
Cadmium أو أكسيد الكادميوم (Lead oxide (Pbo) أكسيد الرصاص coxide (Nd203) .oxide (CdO) ١ تتضمن المواد من Nps الملائمة الأخرى التي يمكن استخدامها مركبات سلفيد من كادميوم؛ القصدير؛ نحاس؛ أو زنك؛ بما في ذلك مركبات سلفيد من خليط من اثنين أو أكثر من الفلزات المذكورة. على سبيل المثال؛ يمكن أن يكون السلفيد عبارة عن ثاني كبريتيد الحديد Cadmium coxide (FeS2) كبريد الكادميوم «Cadmium sulfide (CdS) كبريت الزنك Zinc sulfide .Cu2ZnSns4 4 (ZnS) Yo يمكن على سبيل JB أن تشتمل الطبقة من النوع © على سيلينيد من كادميوم؛ زنك؛ إنديوم» أو جاليوم أو سيلينيد من خليط من اثنين أو أكثر من الفلزات المذكورة؛ أو تيلوريد من كادميوم؛ زنك؛ كادميوم أو قصدير؛ أو تيلوريد من خليط من اثنين أو أكثر من الفلزات المذكورة. على سبيل (J يمكن أن يكون السيلينيد عبارة عن 00)10,68(982. نمطيًا؛ يكون التيلوريد عبارة عن بالا
— ¢ 7 —
تيلوريد من كادميوم؛ زنك؛ كادميوم أو قصدير. على سبيل المثال؛ يمكن أ؛ يكون التيلوريد عبارة
عن كادميوم تيلوريد CdTe
يمكن على سبيل المثال أن تشتمل الطبقة من النوع © على مادة غير عضوية مختارة من أكسيد
تيتانيوم؛ قصديرء RELY نيوبيوم» تانتالوم؛ تنجستين ؛ إنديوم؛ جاليوم؛ نيود أينيوم؛ بالاديوم؛ كادميوم؛
أو أكسيد خليط من اثنين أو أكثر من الفلزات المذكورة؛ سلفيد من (asad قصدير»؛ clad زنك
أو سلفيد من خليط من اثنين أو أكثر من الفلزات المذكورة؛ سيلينيد من كادميوم؛ زنك؛ إنديوم؛
جاليوم أو سيلينيد من خليط من اثنين أو أكثر من الفلزات المذكورة؛ أو تيلوريد من كادميوم؛ زنك؛
كادميوم أو قصديرء أو تيلوريد من خليط من اثنين أو أكثر من الفلزات المذكورة.
تتضمن أمثلة على مواد شبه موصلة أخرى يمكن أن تكون عبارة عن مواد من نوع AN على Vo سبيل JB إذا كانت مشابة ب nN مواد شبه موصلة لمركب من المجموعة /ا؛ أ5 لابلوري؛ مواد
شبه موصلة من المجموعة /١-ااا (على سبيل المثال؛ أرسنيد جاليوم ¢(gallium arsenide مواد
شبه موصلة من المجموعة ا/١-اا (على سبيل (JB سيلينيد كادميوم ¢(cadmium selenide
مواد شبه موصلة من المجموعة Je) [VIE سبيل (JB كلوريد كبروس cuprous
6 مواد شبه موصلة من المجموعة ١/١-/ا (على سبيل المثال؛ سيلينيد الرصاص lead ¢(selenide | ١ مواد شبه موصلة من المجموعة Je) VV سبيل المثال؛ تيلوريد البزموت
¢(bismuth telluride ومواد شبه موصلة من المجموعة /١-اا (على سبيل المثال؛ أرسنيد
.(cadmium arsenide كادميوم
.1102 على ثاني أكسيد التيتانيوم Nn تشتمل الطبقة من النوع las
Lae تكون الطبقة من النوع © Sle عن مادة غير عضوية؛ على سبيل المثال ثاني أكسيد ٠ التيتانيوم 1102 أو أي من المواد الأخرى المذكورة فيما سبق؛ فإنها قد تكون طبقة مضغوطة من
المادة غير العضوية المذكورة. يُفضل تكون الطبقة من النوع 7 عبارة عن طبقة مضغوطة من Sb
أكسيد التيتانيوم 1102 .
يمكن أيضنًا استخدام المواد الأخرى من نوع 0 متضمنة المواد الناقلة للإلكترون العضوية
والبوليمرية؛ ومواد الإلكتروليت. تتضمن الأمثلة الملائمة؛ إلا أن الأمر ليس قاصرًا على فوليرين
ovvY
A organic electron transporting أو مشتق فوليرين؛ مادة ناقلة للإلكترون عضوية fullerene : أو مشتق منه؛ أو perylene مشتملة على بيرلين material poly{[N,NO-bis(2-octyldodecyl)-naphthalene-1,4,5,8-bis(dicarboximide)- 2,6—diyl]-alt-5,50-(2,20-bithiophene)} (P(NDI2OD-T2)). تشتمل المنطقة من النوع م في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع على واحدة أو أكثر © عن طبقة من نوع 0؛ أي؛ طبقة Sle من الطبقات من نوع م. غالبًا؛ تكون المنطقة من النوع م فردية من نوع 0. في نماذج أخرى؛ مع ذلك؛ يمكن أن تشتمل المنطقة من النوع م على طبقة من الحالات حيث يتم استخدام طبقة معيقة للإكسيتون BLP نوع 0 وطبقة معيقة للإكسيتون من نوع يتم وضع الطبقة المعيقة للإكسيتون من النوع م فيما بين الطبقة من النوع م Sale Pp من نوع والطبقة (الطبقات) المشتملة على المادة شبه الموصلة من البروفسكيت. إذا كان نطاق التكافؤ (أو ٠ مستويات الطاقة النطاقية الجزيئية المشغولة الأعلى) للطبقة المعيقة للإكسيتون متحاذيًا على نحو وثيق مع نطاق التكافؤ الخاص بالبروفسكيت؛ فإنه يمكن أن تمر الثقوب من البروفسكيت إلى ومن
Gly البروفسكيت؛ (My خلال الطبقة المعيقة للإكسيتون؛ أو من خلال الطبقة المعيقة للإكسيتون tris[4—(5- معيقة للإكسيتون من نوع م يكمن مثال عليها في db على هذا كما هو موصف في: phenylthiophen-2-yl)phenyllamine ٠ {Masaya Hirade, and Chihaya Adachi, “Small molecular organic photovoltaic cells with exciton blocking layer at anode interface for improved device performance” Appl. Phys. Lett. 99, 153302 (2011)}. نوع 0). يمكن أن تكون esl) يمكن أن تكون طبقة من نوع م عبارة عن طبقة من مادة ناقلة للثقب مادة أساسية؛ أو خليط من اثنين أو أكثر SP المادة من نوع م عبارة عن مركب فردي من نوع ٠ من AS من المركبات من نوع | أو المواد الأساسية؛ التي قد تكون غير مشابة أو مشابة بواحد أو عناصر الإشابة. يمكن أن تشتمل الطبقة من النوع م المستخدمة في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع على مادة من نوع 0 غير عضوية أو عضوية. ovvY
يمكن اختيار المواد من نوع م ASL من مواد ناقلة للققب بوليمرية أو جزيئية. يمكن على سبيل المثال أن تشتمل الطبقة من النوع م المستخدمة في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع على : spiro-OMeTAD (2,2°,7,7’ —tetrakis—(N,N-di-p—methoxyphenylamine)9,9’ - spirobifluorene)), P3HT (poly(3—hexylthiophene)), PCPDTBT (Poly[2,1,3- ©
AZOle-4,7-diyl[4,4-bis(2-ethylhexyl)—a sie ily 0أكسيد قصدير مشاب 60201180 الفلطائية الضوئية WIAN4H-cyclopenta[2,1-b:3,4-b’]dithiophene-2,6-diyl]]),
AZOle)), HTM-TFSI قصدير مشاب بألومنيوم-1) 2.SIPVK (poly(N-vinylcarb
AZOlium مشاب | بألومنيوم pad aSthexyl-3-methylimid bis (trifluoromethylsulfonyl)imide), Li-TFSI (lithium | ٠ bis (trifluoromethanesulfonyl)imide) or tBP (tert-butylpyridine). والخلايا PCPDTBT (P3HT (spiro-OMeTAD يتم اختيار المادة من نوع م من dale يُفضل؛ تشتمل الطبقة من النوع م المستخدمة في الجهاز الإلكتروني (PVK الفلطائية الضوئية .spiro-OMeTAD البصري الخاص بالاختراع على : يمكن على سبيل المثال أن تشتمل الطبقة من النوع م على VO spiro-OMeTAD (2,2°,7,7’ —tetrakis—(N,N-di-p—methoxyphenylamine)9,9’ - spirobifluorene)), P3HT (poly(3-hexylthiophene)), PCPDTBT (Poly[2,1,3-
AZOle-4,7-diyl[4,4-bis(2-ethylhexyl)—a sie ily 0أكسيد قصدير مشاب 60201180 الفلطائية الضوئية IAN4H-cyclopenta[2,1-b:3,4-b'ldithiophene-2,6-diyl]]), or ١/16 (poly(N-vinylcarb ٠ اأكسيد قصدير مشاب بألومنيوم.((8ا20/ ded Gens من نوع م الملائمة Way مواد ناقلة للثقب جزيئية molecular hole ctransporters مواد ناقلة ill بوليمرية polymeric hole transporters ومواد ناقلة للتقب من بوليمر مشترك .copolymer hole transporters يمكن أن تكون المادة من نوع 0 على oVVY
ير - سبيل JE عبارة عن مادة ناقلة للثقب جزيئية؛ بوليمر أو بوليمر مشترك مشتمل على واحد أو أكثر من الشقوق التالية: ausithiophenyl, phenelenyl, dithi قصدير مشاب بألومنيوم 5602011 AZOlyl, أكسيد AZOlyl, diketopyrrolopyrrolyl, ethoxydithiophenyl, amino, قصدير مشاب بألومنيوم triphenyl amino, carbozolyl, ethylene dioxythiophenyl, dioxythiophenyl, or © fluorenyl. وبالتالي ٠» يمكن على سبيل المثال أن تشتمل الطبقة من النوع م المستخدمة في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع على أي من المواد الناقلة للثقب الجزيئية المذكورة فيما سبق, البوليمرات أو البوليمرات المشتركة. : Leal تتضمن المواد من نوع م الملائمة ٠ m-MTDATA (4,4',4"—tris(methylphenylphenylamino)triphenylamine),
MeOTPD (N,N,N’,N'-tetrakis(4-methoxyphenyl)-benzidine), BP2T (5,5'- di(biphenyl-4-yl)-2,2'-bithiophene), Di-NPB (N,N'-Di-[(1-naphthyl)-
N,N'=diphenyl]-1,1'-biphenyl)-4,4'-diamine), o—NPB (N,N di(naphthalen—1-yl)-N,N’—diphenyl-benzidine), TNATA (4,4, 4'-tris—(N- ‘eo (naphthylen—2-yl)-N-phenylamine)triphenylamine), BPAPF (9,9-bis[4- (N,N-bis—biphenyl-4-yl-amino)phenyl]-9H-fluorene), spiro-NPB (N2,N7- Di—1-naphthalenyl-N2 ,N7-diphenyl-9,9'-spirobi[9H—-fluorene]-2,7- diamine), 4P-TPD (4,4'-bis—(N,N-diphenylamino)-tetraphenyl),
PEDOT:PSS and spiro-OMeTAD. ٠ يمكن أن تكون الطبقة من النوع 0 مشابة بملح أيوني أو قاعدة. يمكن أن تكون الطبقة من النوع م على سبيل المثال مشابة بملح أيوني مختار من : AZOlium 1/01-1751لاأكسيد قصدير مشاب بألومنيوم (1-hexyl-3-methylimid bis(trifluoromethylsulfonyljimide) و: ovvY
-١ه- (Li-TFSI (lithium bis(trifluoromethanesulfonyl)imide) أو بقاعدة هي: tBP (tert-butylpyridine) بشكل إضافي أو على نحو بديل؛ يمكن أن تكون الطبقة من النوع م مشابة لزيادة كثافة الثقب. يمكن على سبيل المثال أن تكون الطبقة من النوع م مشابة ب نيتروسونيوم تترا فلورو بورات «Nitrosonium tetrafluoroborate (NOBF4) © لزيادة كثافة الثقب. في نماذج أخرى؛ يمكن أن تشتمل الطبقة من النوع م على مادة ناقلة للتقب غير عضوية. على سبيل المثال؛ يمكن أن تشتمل الطبقة من النوع م على sale ناقلة lll غير عضوية مشتملة على أكسيد نيكل؛ فاناديوم» نحاس أو موليبدنيوم؛ أيدوديد النحاس ««Copper(l) iodide (Cul) بروميد النحاس «Copper(l) bromide (CuBr) ثيوسينات النحاس Copper(l) thiocyanate ((CUSCN) ٠ أكسيد النحاس cCopper(l) oxide (Cu20) أكسيد النحاس Copper(ll) oxide (CUO) ¢ بروفسكيت؛ Si لابلوري؛ مادة شبه موصلة من المجموعة IV من النوع Pp مادة شبه موصلة من المجموعة /١-ااا من النوع Pp مادة شبه موصلة من المجموعة |/١-ا١ من النوع م؛ مادة شبه موصلة من المجموعة |//ا-ا من النوع Pp مادة شبه موصلة من المجموعة |/1-/اا من النوع 0؛ مادة شبه موصلة من المجموعة VV من النوع Pp ومادة شبه موصلة من المجموعة ١ /-اا من النوع 0؛ يمكن أن تكون هذه المادة غير العضوية مشابة أو غير مشابة. يمكن أن تكون الطبقة من النوع م عبارة عن طبقة مضغوطة من المادة الناقلة ill غير العضوية المذكورة. يمكن على سبيل المثال أن تشتمل الطبقة من النوع 0 على Sale ناقلة alll غير عضوية مشتملة على أكسيد نيكل؛ فاناديوم؛ نحاس أو موليبدنيوم؟ أيدوديد النحاس (Cul) بروميد النحاس «CuBr تيوسينات النحاس 005611؛ أكسيد النحاس 0020؛ asl النحاس CuO أو Si «CIS ٠ الابلوري؛ مادة شبه موصلة من المجموعة ا من (Pg ill مادة شبه موصلة من المجموعة ١١! -١/ من النوع op مادة شبه موصلة من المجموعة II-VI من النوع 0؛ مادة شبه موصلة من المجموعة [VI من النوع op مادة شبه موصلة من المجموعة |/١-/ا من النوع م؛ مادة شبه موصلة من المجموعة VV من النوع 0؛ ومادة شبه موصلة من المجموعة /١-اا من النوع p يمكن أن تكون هذه المادة غير العضوية مشابة أو غير مشابة. يمكن على سبيل المثال أن تشتمل الطبقة ovvY
وه
من النوع م على مادة ناقلة GEL غير عضوية مختارة من أيدوديد النحاس ((CUl) بروميد النحاس +008؛ ثيوسينات النحاس (CUSCN أكسيد النحاس 0020؛ أكسيد CuO ual) يمكن أن تكون الطبقة من النوع م عبارة عن طبقة مضغوطة من المادة الناقلة El غير العضوية المذكورة.
© تمطيًاء تشتمل الطبقة من النوع م على مادة ناقلة للثتقب بوليمرية أو جزيئية؛ وتشتمل الطبقة من النوع ١ على مادة من نوع © غير عضوية. يمكن أن تكون المادة الناقلة للتقب البوليمرية أو الجزيئية من النوع P عبارة عن أية مادة ناقلة BU بوليمرية أو جزيئية ملائمة؛ على سبيل المثال أي من تلك المذكورة Lad سبق. cally يمكن أن تكون المادة من نوع N غير العضوية عبارة عن أية مادة من نوع ١ غير عضوية ملائمة؛ على سبيل المثال أي من تلك المذكورة فيما سبق. في
٠ أحد النماذج؛ على سبيل المثال؛ تشتمل الطبقة من النوع م على spiro-OMeTAD وتشتمل الطبقة من النوع © على ثاني أكسيد التيتانيوم 1102. نمطيًّاء في ذلك النموذج؛ تكون الطبقة من النوع © التي تشتمل على SB أكسيد التيتانيوم 1102 عبارة عن طبقة مضغوطة من ثاني أكسيد التيتانيوم 1102. في نماذج أخرى؛ تشتمل كل من الطبقة من النوع ٠“ والطبقة من النوع م على مواد غير عضوية.
١ وبالتالي؛ يمكن أن تشتمل الطبقة من النوع 9 على مادة من نوع ١ غير عضوية ويمكن أن تشتمل الطبقة من النوع م على مادة من نوع 0 غير عضوية. يمكن أن تكون المادة من النوع م غير العضوية عبارة عن A) مادة من نوع م غير عضوية ملائمة؛ على سبيل JB أي من تلك المذكورة Lad سبق. بالمثل؛ يمكن أن تكون المادة من نوع © غير العضوية عبارة عن أية مادة من نوع ١ غير عضوية ملائمة؛ على سبيل المثال أي من تلك المذكورة Lad سبق.
sale تشتمل الطبقة من النوع م على مادة من نوع م غير عضوية (أي؛ (lay gal في نماذج ٠ ناقلة للتقب غير عضوية) وتشتمل الطبقة من النوع © على مادة ناقلة للتقب بوليمرية أو جزيئية. يمكن أن تكون المادة من النوع م غير العضوية عبارة عن أية مادة من نوع م غير عضوية يمكن أن تكون المادة الناقلة (Jilly ملائمة؛ على سبيل المثال أي من تلك المذكورة فيما سبق. للثقب البوليمرية أو الجزيئية من النوع عبارة عن أية مادة ناقلة للتقب بوليمرية أو جزيئية من النوع
Yo ©« ملائمة؛ على سبيل المثال أي من تلك المذكورة فيما سبق.
ovvYyY
ارج على سبيل (JE يمكن أن تشتمل الطبقة من النوع م على مادة ناقلة للتقب غير عضوية ويمكن أن تشتمل الطبقة من النوع © على مادة ناقلة للإلكترون» حيث تشتمل المادة الناقلة للإلكترون على فوليرين أو مشتق فوليرين؛ إلكتروليت؛ أو مادة ناقلة للإلكترون عضوية؛ يُفضل حيث تشتمل المادة الناقلة للإلكترون العضوية على بيرلين أو مشتق منه؛ أو : poly{[N,NO-bis(2-octyldodecyl)-naphthalene-1,4,5,8-bis(dicarboximide)- © 2,6—diyl]-alt-5,50-(2,20-bithiophene)} (P(NDI2OD-T2)). يمكن على سبيل المثال أن تشتمل المادة الناقلة للتقب غير العضوية على أكسيد نيكل؛ فاناديوم؛ نحاس أو موليبدنيوم؛ أيدوديد النحاس (Cul) بروميد النحاس CUBr ثيوسينات النحاس (CUSCN أكسيد النحاس 0020؛ أكسيد النحاس CUO أو CIS بروفسكيت؛ Si لابلوري؛ مادة ٠ شبه موصلة من المجموعة IV من النوع 0 مادة شبه موصلة من المجموعة /١-ا!! من النوع P مادة شبه موصلة من المجموعة ا/ا-اا من النوع op مادة شبه موصلة من المجموعة IVI من النوع 0؛ مادة شبه موصلة من المجموعة IVI من النوع 0؛ مادة شبه موصلة من المجموعة VV من النوع 0؛ ومادة شبه موصلة من المجموعة /١-اا من النوع op يمكن أن تكون هذه المادة غير العضوية مشابة أو غير مشابة. بصورة أكثر نمطية؛ تشتمل المادة الناقلة للثقب غير Vo العضوية على أكسيد نيكل؛ فاناديوم؛ نحاس أو موليبدنيوم؛ أيدوديد النحاس (Cul) بروميد النحاس «CuBr ثيوسينات النحاس (CUSCN أكسيد النحاس (CU20 أكسيد النحاس CuO أو (CIS مادة شبه موصلة من المجموعة IV من النوع op مادة شبه موصلة من المجموعة -١/ ااا من النوع م مادة شبه موصلة من المجموعة ا/١-ا! من النوع op مادة شبه موصلة من المجموعة I-VI من النوع op مادة شبه موصلة من المجموعة |/١-/ا من النوع Pp مادة شبه موصلة من ٠ المجموعة ا/١-/ا من النوع 0؛ ومادة شبه موصلة من المجموعة /١-اا من النوع p يمكن أن تكون هذه المادة غير العضوية مشابة أو غير مشابة. وبالتالي, المادة الناقلة للثقب غير العضوية يمكن أن يشتمل على أكسيد نيكل؛ فاناديوم» نحاس أو موليبدنيوم؛ أيدوديد النحاس (Cul) بروميد النحاس +008؛ ثيوسينات النحاس 005611؛ أكسيد النحاس 002©0؛ أكسيد النحاس CuO تتعلق الفقرات التالية باستخدام بروفسكيت ثان من نوع © في الطبقة من النوع © أو بروفسكيت YO ثان من نوع ©؛ في الطبقة من النوع on (في نماذج مفضلة؛ بالرغم من أن؛ لا تشتمل الطبقة من بابلا
يوه النوع م أو الطبقة من النوع ١ على بروفسكيت. وبالتالي؛ يُفضل؛ ألا تشتمل المنطقة من النوع م أو المنطقة من النوع 7 على بروفسكيت.) عندما تشتمل الطبقة من النوع م على مادة ناقلة للتقب غير عضوية تكون بروفسكيت؛ يكون البروفسكيت hae عن البروفسكيت المستخدم في الطبقة المذكورة من مادة شبه موصلة من © بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ و؛ عند وجوده؛ في "الطبقة الأولى" المذكورة التي تشتمل أيضًا على مادة الدعم المؤقتة. وبالتالي؛ عندما تشتمل الطبقة من النوع م على مادة ناقلة للثقب غير عضوية تكون بروفسكيت؛ يُطلق على البروفسكيت الخاص بالطبقة من النوع م في هذا الطلب مسمى "بروفسكيت ثان" (والبروفسكيت في الطبقة المذكورة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ و؛ عند وجوده؛ في الطبقة الأولى المذكورة؛ تتم الإشارة إلأيه في هذا الطلب Vs باعتباره "البروفسكيت الأول"). بالمثل؛ عندما تشتمل الطبقة من النوع 7" على مادة ناقلة للإلكترون غير عضوية تكون بروفسكيت؛ سيكون البروفسكيت مختلقًا عن البروفسكيت المستخدم في الطبقة المذكورة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ و؛ عند وجوده؛ في "الطبقة الأولى” المذكورة التي تشتمل أيضنًا على مادة الدعم المؤقتة. Jilly عندما تشتمل الطبقة من النوع © على مادة ناقلة للإلكترون 0 غير عضوية تكون بروفسكيت؛ يُطلق على البروفسكيت في هذا الطلب مسمى "بروفسكيت ثان" (والبروفسكيت في الطبقة المذكورة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ 5( عند وجوده؛ في "الطبقة الأولى" المذكورة؛ تتم الإشارة إليه في هذا الطلب باعتباره "البروفسكيت الأول"). سيدرك أحد ذوي المهارة أنه يمكن استخدام إضافة عامل إشابة إلى البروفسكيت للتحكم في Yo خصائص تقل الشحنة الخاصة بذلك البروفسكيت. وبالتالي؛ على سبيل المثال؛ يمكن أن يكون بروفسكيت يعتبر مادة متأصلة مشابًا لتكوين Bale من نوع أو من نوع 0. بناءً على ذلك؛ يمكن أن يشتمل البروفسكيت الأول و / أو البروفسكيت الثاني على واحد أو أكثر من عوامل الإشابة. نمطيًا يكون عامل الإشابة عبارة عن عنصر إشابة.
CAAA
يمكن أن تؤدي إضافة عوامل الإشابة المختلفة إلى عينات مختلفة من نفس المادة إلى العينات المختلفة التي لها خصائص نقل شحنة مختلفة. على سبيل (JB يمكن أن تؤدي إضافة عامل إشابة واحد إلى عينة أولى من مادة البروفسكيت إلى أن تصبح العينة الأولى Bale من نوع en بينما يمكن أن تؤدي إضافة عامل إشابة مختلف إلى عينة ثانية من نفس المادة البروفسكيت إلى أن © تصبح العينة الثانية مادة من نوع م. وبالتالي» يمكن أن تشتمل واحدة على الأقل من مواد البروفسكيت الأولى والثانية على عامل إشابة. يمكن على سبيل المثال أن يشتمل البروفسكيت الأول على عامل إشابة غير موجود في البروفسكيت الثاني أو كل بروفسكيت ثان. بشكل إضافي أو على نحو بديل؛ يمكن أن تشتمل مواد البروفسكيت الثانية أو واحدة منهاء على عامل إشابة غير موجود في البروفسكيت الأول. ومن ثم ٠ قد يكون الفارق lad بين مواد البروفسكيت الأولى والثانية هو وجود أو عدم وجود عامل إشابة؛ أو قد يكون استخدام عامل إشابة مختلف في كل بروفسكيت. على نحو بديل؛ قد لا يكمن الفارق فيما بين مواد البروفسكيت الأولى والثانية في عامل الإشابة ولكن بدلاً من ذلك قد يكمن الفارق في إجمالي بنية مواد البروفسكيت الأولى والثانية. قد يكون البروفسكيت الثاني » عند وجوده؛ عبارة عن بروفسكيت مشتمل على كاتيون أول كاتيون Yo ثانء وأنيون واحد على الأقل. في بعض النماذج؛ يكون البروفسكيت الثاني الذي يتم استخدامه في الطبقة من نوع م أو الطبقة من النوع in الذي يكون مختلقًا عن البروفسكيت الأول؛ عبارة عن مركب بروفسكيت بالصيغة :(IB) [AIIBIIX]3 (IB) Yo حيث: [A] تكون كاتيون عضوي واحد على الأقل أو كاتيون فلز من المجموعة | واحد على الأقل؛
[8] تكون كاتيون فلزي واحد على الأقل؛ و IX] تكون أنيون واحد على الأقل. CAAA
h —_ جم
كما سيدرك أحد ذوي المهارة؛ [A] يمكن أن تشتمل على +05.
[Bl Aas JS على +062 أو أيون القصدير (502+). بصورة Jam [B] dae
000055 أيون البالديوم (+Pd2)
[X] (Was تشتمل على أنيون هاليد أو العديد من أنيونات هاليد مختلفة.
d= على Jam [X] dale ©
في بعض النماذج؛ [X] تكون اثنين أو أكثر أنيونات مختلفة؛ على سبيل المثال؛ اثنين أو أكثر من
أنيونات alla مختلفة. على سبيل [X] Ji يمكن أن تشتمل على -ا و-ح» -ا و-82 أو -ا
. Cl لس
dale يكون مركب البروفسكيت بالصيغة IB عبارة عن CsPbI3 أو 085013. على سبيل ٠ المثال؛ يمكن أن يكون مركب البروفسكيت بالصيغة (IB) عبارة عن .CsPbI3
على نحو بديل؛ يمكن أن يكون مركب البروفسكيت بالصيغة (IB) عبارة عن:
«CsPbIBr2 (CsPbl2Br 6001-2 6805127 (CsPbICI2 (CsPbl2Cl
CsSnl2Br (CsSnIF2 (CsSnlI2F (CsSnICI2 (CsSnl2Cl أو .CsSnIBr2 على سبيل
المثال» يمكن أن يكون مركب البروفسكيت بالصيغة (IB) عبارة عن CsPbI2CI أو .CsPbICI2 ١ نمطيّاء يكون مركب البروفسكيت بالصيغة (IB) هو .CsPbICI2
في مركب البروفسكيت بالصيغة (18): [X] يمكن أن تكون عبارة عن واحد؛ اثنين أو أكثر أنيونات
مختلفة كما هو معرّف في هذا الطلب؛ على سبيل المثال؛ اثنين أو أكثر أنيونات مختلفة كما هو
معزف في هذا الطلب للبروفسكيت الأول؛ Sale [A] تشتمل على كاتيون عضوي كما هو Cire
في هذا الطلب؛ للبروفسكيت الأول؛ و[8] نمطيًا تشتمل على كاتيون فلز كما هو معرّف في هذا ٠ _ الطلب. يمكن تعريف كاتيون الفلز كما هو موضح فيما سبق في هذا الطلب للبروفسكيت الأول.
ovvy
—ov-— في بعض النماذج؛ يكون البروفسكيت الثاني عبارة عن بروفسكيت كما هو معرّف للبروفسكيت عن البروفسكيت lide سبق في هذا الطلب؛ شريطة أن يكون البروفسكيت الثاني Led الأول الأول. يمكن أن تكون مادة الدعم المؤقتة التي يتم استخدامها في النماذج الخاصة بالجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع الذي يشتمل على الطبقة الأولى المذكورة؛ عبارة عن مادة دعم مؤقتة الدعم المؤقتة العازلة فجوة نطاق تساوي أو أكبر من £0 إلكترون فولط. sald يكون Bale عازلة. في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع» تشتمل مادة الدعم المؤقتة العازلة على dale إيتربيوم YHrium 000101000ا8؛_زركونيوم»؛ سيليكون» إتريوم oxide أكسيد ألومنيوم الدعم المؤقتة العازلة على أكسيد زركونيوم؛ sale يمكن أن تشتمل JB 00©])ل2. على سبيل ؛ أو yttrium oxide أو أكسيد إتريوم ytterbium oxide ميليكاء ألوميناء أكسيد إيتربيوم ٠ تشتمل المادة العازلة دعم مؤقتة على سيليكاء أو (We alumina silicate سيليكات ألومينا porous الدعم المؤقتة العازلة على ألومينا مسامية sale ألومينا. بصورة أكثر نمطية؛ تشتمل .alumina الدعم المؤقتة العازلة sale نمطيّاء في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع» تكون sale متوسطة المسام. وبالتالي؛ نمطيًا؛ في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ تشتمل Vo الدعم المؤقتة العازلة على ألومينا متوسطة المسام. لإلكترون غير عضوية؛ AL يمكن أن تكون مادة الدعم المؤقتة عبارة عن مادة diy على نحو الدعم المؤقتة ale يمكن أن تشتمل (Jal التيتانيا. وبالتالي؛ على سبيل (JB مثل؛ على سبيل على أكسيد تيتانيوم» قصدير؛ زنك؛ نيوبيوم؛ تانتالوم؛ تنجستين؛ إنديوم؛ جاليوم؛ نيوداينيوم؛ بالاديوم الدعم المؤقتة على ثاني أكسيد التيتانيوم sale يمكن أن تشتمل (JB أو كادميوم. على سبيل ٠ ((ND205) خامس أكسيد النيوبيوم ZNO ثاني أكسيد القصدير 5002؛ اكسيد الزنك 2 (W205 خامس أكسيد التنجستن (WO3 ثالث أكسيد التنجستن (Ta205 خامس أكسيد التنتالوم (Nd203 ثالث أكسيد الجاليوم 68203؛ ثالث أكسيد النيوديميوم (IN203 ثالث أكسيد الانديوم الدعم المؤقتة على sale تشتمل (We .)600( أو أكسيد الكادميوم (PbO) الرصاص aus ovvy
A —_ جم أكسيد تيتانيوم +٠ قصديرء زنك ؛ نيوبيوم» تانتالوم؛ تنجستين ؛ PEIN جاليوم نيوداينيوم بالاديوم أو كادميوم متوسط المسام أو خليط منها. يتم تفضيل التيتانيا؛ التيتانيا المسامية؛ وتيتانيا متوسطة المسامية. نمطيًا في هذه النماذج؛ تشتمل مادة الدعم المؤقتة على التيتانيا المسامية؛ يُفضل تيتانيا متوسطة المسامية. © يمكن على سبيل المثال أن تشتمل sale الدعم المؤقتة على مادة ناقلة Cll غير عضوية.
يمكن أن تكون sale الدعم المؤقتة على الجانب AY) عبارة عن مادة ناقلة Cll غير عضوية. وبالتالي؛ يمكن على سبيل المثال أن تشتمل مادة الدعم المؤقتة على أكسيد نيكل؛ فاناديوم» نحاس أو موليبدنيوم؛ أيدوديد النحاس (Cul) بروميد النحاس +008؛ ثيوسينات النحاس «CUSCN أكسيد النحاس 002©0؛ أكسيد النحاس CuO
Ve تكون المسامية الخاصة بمادة الدعم المؤقتة المستخدمة في النماذج الخاصة بالجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع الذي يشتمل على الطبقة الأولى المذكورة؛ fale مساوية ل أو أكبر من . على سبيل (JE قد تبلغ المسامية حوالي 7976. في أحد النماذج؛ تكون المسامية مساوية J أو أكبر من A Te ¢ على سبيل المثال تساوي أو أكبر من A Ye . نمطيّاء في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع» يكون elas المنطقة dle lid) ضوئيً
Yo من ٠٠١ نانو متر إلى Yeon نانو مثرء؛ على سبيل المثال من ٠٠١ نانو متر إلى Yoon نانو مثرء؛ أو على سبيل المثال قد يبلغ الملمك من Vee نانو متر إلى 5 i متر. Qe يكون ْمك الطبقة المتفاعلة ضوئيًا من 5060 نانو متر إلى 600 نانو متر. Sale السمك تبلغ حوالي Ou نانو متر. عادةً ما يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع على إلكترود أول والكترود ثان.
Yo وبالتالي؛ نمطيًا يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع على إلكترود Jf إلكترود ثان؛ و» يتم Led بين الإلكترودات الأول والثاني وضع؛ المنطقة المتفاعلة ضوئيًا المذكورة. تكون الإلكترودات الأول والثاني عبارة عن آنود وكاثود؛ Bales يكون واحد من أو كلا الآنود والكاثود شفاقًا للسماح بدخول الضوء. fale يكون واحد على الأقل من الإلكترودات شبه شفاف عبر المنطقة المرئية حتى القريبة من الأشعة تحت الحمراء من الطيف الشمسي. يكون شبه
ovvy oh الشفاف بشفافية نمطيًا dA وتتراوح من 50 إلى L790 قد يعتمد اختيار الإلكترودات الأول والثاني للأجهزة الإلكترونية البصرية الخاصة بالاختراع الحالي على نوع البنية. ha يتم ترسيب الطبقة الأولى الخاصة بالجهاز على الإلكترود الأول الذي يشتمل على أكسيد قصدير؛ بصورة أكثر نمطية على آنود من أكسيد قصدير مشاب بالفلورين Sale (FTO) ما يكون مادة شفافة أو © شبه شفافة. وبالتالي؛ Bale يكون الإلكترود الأول شفاقًا Gas يشتمل على أكسيد قصدير» بصورة أكثر نمطية أكسيد قصدير مشاب بالفلورين dale (FTO) يكون مثمك الإلكترود الأول من ٠٠١ نانو متر إلى 0٠0 نانو le بصورة أكثر نمطية من 00 إلى 0٠0 نانو متر. على سبيل المثال قد يبلغ cll) 5080 نانو متر. نمطيًّاء يتم طلاء أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO على لوح من الزجاج. dale يشتمل الإلكترود الثاني على فلز وظيفي عالي التشغيل؛ على سبيل المثال ٠ ذهبء فضة؛ نيكل؛ بالاديوم أو بلاتين؛ ونمطيًا فضة. Bale يكون Ell الإلكترود الثاني من ov نانو متر إلى YOu نانو مترء بصورة أكثر اعتيادية من ٠٠١ نانو متر إلى 7٠00 نانو متر. على سبيل المثال؛ قد يبلغ سْمك الإلكترود الثاني Yoo نانو متر. (Ble سوف يشتمل الإلكترود الأول على sale موصلة كهربائيًا شفافة أو شبه شفافة. على سبيل (Ja يمكن أن يشتمل الإلكترود الأول على أكسيد موصل شفاف. تتضمن الأكاسيد الموصلة ١ الشفافة أكسيد قصدير؛ أكسيد زنك؛ أكسيد قصدير مشاب وأكسيد زنك مشاب. على سبيل (JED يمكن أن يشتمل الإلكترود الأول على الإنديوم أكسيد قصدير To (الإنديوم أكسيد قصدير FTO )100000 tin oxide (أكسيد قصدير مشاب بالفلورين) أو أكسيد قصدير مشاب بألومنيوم AZO (أكسيد قصدير مشاب بألومنيوم tin oxide 81110110107-2400©0)؛ يفضل أكسيد قصدير مشاب بالفلورين (FTO يمكن أن يشمل الإلكترود الأول من 90 إلى 77٠٠0 بالوزن من الإنديوم ٠ أكسيد قصدير (TO أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO أو أكسيد قصدير مشاب بألومنيوم dy (AZO بعض الحالات يمكن أن يتكون الإلكترود الأول بشكل أساسي من الإنديوم أكسيد قصدير (ATO أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO أو أكسيد قصدير مشاب بألومنيوم AZO عادةً؛ يكون مك الإلكترود الأول من ٠٠١ نانو متر إلى ٠0١0 نانو Jie بصورة أكثر نمطية من إلى gio متر. على سبيل المثال؛ قد يبلغ cll) 50860 نانو متر. سيتم We ترسيب Yo الإلكترود الأول على طبقة تحتية من الزجاج. على سبيل المثال؛ يمكن أن يشتمل الإلكترود الأول
CAAA
h «= _ على أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO ويمكن ترسيبه على طبقة تحتية من الزجاج. في الأجهزة الإلكترونية البصرية الخاصة بالاختراع» يحدث دخول و / أو خروج الضوء Ghat من خلال الإلكترود الأول إذا أنه غالبًا ما يكون شفاقًا أو شبه شفاف. قد يكون من الممكن للضوء الدخول إلى جهاز من خلال إلكترود من فلز (مثل الإلكترود الثاني غالبًا ما يكون كذلك)؛ تحديدًا 0 إذا كو الإلكترود من فلز طبقة رفيعة CLL (We يشتمل الإلكترود الثاني على فلز. عادةً؛ Jas الإلكترود الثاني على فلز وظيفي عالي التشغيل على سبيل المثال ألومنيوم J هب ¢ فضة نيكل بالاديوم أو بلاتين؛ ونمطيًا Aad أو ذهب. عادةً؛ يكون eld الإلكترود الثاني من 5٠ نانو متر إلى You نانو مترء بصورة أكثر اعتيادية من ٠٠١ نانو fe إلى ٠00 نانو متر. على سبيل المثال؛ قد يبلغ ll الإلكترود الثاني You Yo نانو متر. في أحد النماذج الخاصة بالاختراع» يمكن أن يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع على إلكترود JS إلكترود ثان؛ op يتم فيما بين الإلكترودات الأول والثاني وضع المنطقة المتفاعلة ضوئيًا المذكورة؛ حيث يكون الإلكترود الأول في Alla تلامس مع المنطقة من النوع © الخاصة بالمنطقة المتفاعلة ضوئيًا المذكورة ويكون الإلكترود الثاني في حالة تلامس مع المنطقة VO من النوع م الخاصة بالمنطقة المتفاعلة ضوئيًا المذكورة. بناءً على ذلك؛ يمكن أن يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري Gy للاختراع على المناطق التالية بالترتيب التالي: .١ إلكترود أول؛ ". منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0؛ Ye ؟. طبقة من Bale شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ ؛. منطقة من نوع P تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0؛ و Le إلكترود ثان. CAAA
h \ —_ _ يعني المصطلح "لمناطق التالية بالترتيب التالي؛ كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ أن كل من المناطق المدرجة ستوجد؛ وأن ترتيب كل من الطبقات الموجودة سيكون بالترتيب المحدد. على سبيل JB في الحالة السابقة ell ell ol) /ااء فاناديوم /١)؛ اا يخلف اء ويسبق !اا وا بمفرده يكون فيما بين ١ وااا (أي؛ لا يكون أي من ا أو Wd ١/ بين ١ واااء ولكن ١! تكون كذلك). 0 يعتبر هذا هو الإدراك الطبيغي J "بالترتيب J Sal لا يحدد الترتيب ؛ مع «lla الاتجاه في حيز من مجموعة من المناطق: اء !ا NE تكون مكافئة ل ell ااء ١ (أي؛ يتم تعريف el و"أسفل” أو "على اليسار” و"على اليمين"). قد توجد طبقات أو مناطق إضافية Lad بين كل من هذه المناطق. على سبيل "cll «<l JE تتضمن لقا os ١١١ <a «dl قا طال لل JM نمطبًاء مع ذلك تكون كل منطقة Jo) سبيل المثال؛ من ١ إلى فاناديوم /ا) في حالة تلامس مع كل من المنطقة ٠ السابقة والمنطقة التالية. قد توجد طبقات أو مناطق إضافية الطبقات Led بين كل من هذه المناطق. Ghai مع ذلك؛ تكون كل منطقة من | إلى ١/ في Alla تلامس مع كل من المنطقة السابقة والمنطقة التالية. قد تكون كل من المناطق (إلكترود أول منطقة من نوع 9؛ طبقة من مادة شبه Alia ge من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ منطقة من نوع 8 والكترود ثان) كما هو Care في أي مكان في هذا الطلب. على Vo سبيل المثال؛ ofa أن يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري Gy للاختراع على المناطق التالية بالترتيب التالي: -١ إلكترود أول يشتمل على أكسيد موصل شفاف»؛ يفضل أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO "- منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0؛ Aa -* من Bale شبه Alia go من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ Yo 4- منطقة من نوع 0 تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع SP —o إلكترود ثان يشتمل على فلزء يُفضل فضة أو ذهب. في بعض النماذج؛ يمكن على نحو بديل أن يشتمل الإلكترود الثاني على أكسيد موصل شفاف. على سبيل المثال يمكن اختيار كل من الإلكترود الأول والإلكترود الثاني من الإنديوم أكسيد oVVY ty 13) LAZO وأكسيد قصدير مشاب بألومنيوم FTO أكسيد قصدير مشاب بالفلورين (ITO قصدير ١ الإلكترود الثاني أحيائًا من eld فضة أو ذهب؛ قد يبلغ Jie اشتمل الإلكترود الثاني على فلز نانو متر. على سبيل المثال؛ يمكن أن يشتمل الإلكترود الأول على الإنديوم أكسيد ٠١ إلى ويمكن أن يشتمل FTO أو أكسيد قصدير مشاب بالفلورين ITO قصدير الإنديوم أكسيد قصدير نانو مترء على سبيل المثال من ٠١ إلى ١ يبلغ من cl الإلكترود الثاني على طبقة من فضة 0 نانو متر. يمكن أن تكون طبقة رفيعة السك من الفضة شبه شفافة. ٠١ إلى © به وصلة غير متجانسة AL من بروفسكيت بغشاء رقيق رفيع Blea Und يوفر الاختراع يمكن أن يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع riled) معكوسة. لهذاء في أحد وضع؛ المنطقة (SE على إلكترود أول؛ إلكترود ثان؛ وء يتم فيما بين الإلكترودات الأول © تلامس مع المنطقة من النوع Alla المتفاعلة ضوئيًا المذكورة؛ حيث يكون الإلكترود الثاني في ٠ تلامس مع المنطقة Alla الخاصة بالمنطقة المتفاعلة ضوئيًا المذكورة ويكون الإلكترود الأول في من النوع م الخاصة بالمنطقة المتفاعلة ضوئيًا المذكورة. تؤدي هذه البنية إلى ما هو معروف باعتباره جهاز معكوس. يمكن أن يكون لهذه الأجهزة التصميم المعروض على نحو تخطيطي في الشكل 8. في بعض الظروف قد يكون من المرغوب فيه توافر بنية جهاز معكوس حيث يتم تجميع بشكل محدد؛ قد تكون بنى الجهاز المعكوس lead) التثقوب من خلال جانب الطبقة التحتية من ١ مطلوبة للتطبيقات المترادفة. تتضمن التطبيقات المترادفة الاستخدام مع عدد من الخلايا ذات فجوة
CIGS النطاق المنخفضة الفلطائية الضوئية غير العضوية مثل نحاس الانديوم الغاليوم سيلينيد لقد قم المخترحون بتطوير خلية فلطائية ضوئية منخفضة الحرارة يمكن الوصول إليها من الهواء يمكن أن تكون مواد (lle المحيط ومحلول اعتمادًا على مادة ماصة للبروفسكيت شبه موصلة. و/5066081 على التوالي. PEDOT:PSS الانتقائية في صورة N ومن نوع P التلامس من نوع ٠ للغاية لذلك المستخدم في الخلايا lie جدير بالملاحظة؛ يكون تصميم الإلكترود النهائي حتى مع تبديل الطبقة المتفاعلة CLE الشمسية من البوليمر ذات "الوصلة غير المتجانسة ضوئيًا حيث يتم استبدال الوصلة غير المتجانسة الكتلية بغشاء رقيق من بروفسكيت صلب ويتم تحقيق كفاءة تحويل قدرة شمسية تامة تبلغ 717,5 مع نطاق أكبر لتحسين إضافي. ovvy ty توفر الخلايا الفلطائية الضوئية ذات الغشاء الرقيق رفيع السمك المعتمدة على تقنيات وصول من ضرورية لإشباع الاحتياجات AA خلال المحلول التعهد بأجهزة قابلة للتصنيع سهلة ومنخفضة العالمية المتزايدة للطاقة. تعتبر البنى المرشحة الملائمة هي الخلايا الفلطائية الضوئية المعتمدة على بنى عضوية؛ غير عضوية؛ ومختلطة. تعاني الخلايا الفلطائية الضوئية المعتمدة على بنى تقدم تقنية قابلية للوصول يسيرة ومنخفضة التكلفة؛ من أداء منخفض مقارنة بتقنيات Lay عضوية؛ © الأخرى بسبب حالات الفقد الأساسية في توليد الشحنة حيث تكون إزاحة Sl) الغشاء الرقيق رفيع ضروريًا لتحقيق فصل فعال للشحنة؛ ما يحد من أقصى Bad كبيرة نوعًا فيما بين الواهب والمتلقي مباشرة في وصلة فردية. يمكن أن تتطلب #7 ١١ كفاءة تحويل القدرة قابلة للتحقيق إلى ما دون المعتمدة على بنى غير عضوية استخدام CLL الخلايا الفلطائية الضوئية ذات الغشاء الرقيق رفيع مذيبات عالية السمية ودرجات حرارة عالية تبلغ أعلى من 500 درجة مئوية؛ مما يجعلها غير _- ٠ مرغوب فيها للإنتاج الكتلي. لهذه الأسباب؛ تعتبر الخلايا الفلطائية الضوئية ذات البنى المختلطة التي أساسها البروفسكيت بديلاً صلبة بشكل تام Alla درجة مئوية؛ وتكون في ١5١ جذابًا إذ يمكن معالجتها في ظل درجة حرارة لقد تم استخدام المواد LY وتُظهر بالفعل قيم كفاءة تحوّل قدرة عالية تصل إلى أعلى من الماصة للبروفسكيت من قبل في لبخلايا الشمسية الحساسة إضافة إلى بنى الغشاء الرقيق ذي ١
CH3NH3PbI3-XCIX الرفعيع. تحديدًاء في تصميم لاحق؛ يمكن أن يعمل البروفسكيت SLL باعتباره عامل مثير للحساسية وناقل للإلكترون عند المعالجة على مادة دعم مؤقتة متوسطة البنية من الألوميناء مما يؤدي إلى تقليل حالات فقد الطاقة إلى الحد الأدنى ببساطة لأنه يتم بشكل مباشر نقل الإلكترونات إلى الطبقة التحتية الموصلة من خلال نطاق ال توصيل الخاص بالبروفسكيت. بهذه الطريقة؛ يمكن تحقيق قيم الفلطية الخاصة بدائرة مفتوحة العالية للغاية البالغة ٠ فولط. ٠,١ أعلى من في الخلايا الفلطائية الضوئية المعتمدة على البروفسكيت؛ يتم تجميع الإلكترونات من الطبقة Wie بينما تم تجميع التقوب عند كاثود الفلز. يكون هذا FTO التحتية أكسيد قصدير مشاب بالفلورين التصميم غير مرغوبًا فيه لبعض التطبيقات المترادفة حيث يتحتم تجميع الثقوب عند سطح أكسيد بنية جهاز mung بيني (أكسيد موصل شفاف). في هذا الطلب»؛ يتم TCO موصل شفاف YO ovvy
— أ —
معكوس جديدة. غالبًا؛ يعتمد على المواد من النوع 7 ومن النوع م المستخدمة على نحو شائع
لتجميع الشحنة في الخلايا الفلطائية الضوئية العضوية؛ تحديدًا [6,6]-Phenyl C61 butyric
: و 8010 methyl ester (PC60BM)
«poly(3,4-ethylenedioxythiophene) poly(styrenesulfonate) (PEDOT:PSS)
© إضافة إلى أكسيد الفاناديوم V205
في أحد النماذج؛ يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع على إلكترود أول؛ إلكترود
ثان؛ وء يتم Lad بين الإلكترودات الأول والثاني وضع المنطقة المتفاعلة ضوئيًا المذكورة؛ حيث
يكون الإلكترود الثاني في حالة تلامس مع المنطقة من ng ill الخاصة بالمنطقة المتفاعلة ضوئيًا
المذكورة ويكون الإلكترود الأول في حالة تلامس مع المنطقة من النوع م الخاصة بالمنطقة ٠ المتفاعلة ضوئيًا المذكورة» حيث يشتمل الإلكترود الأول على sale موصلة كهربائيًا شفافة أو شبه
شفافة وحيث يشتمل الإلكترود الثاني على ألومنيوم "ع هب » فضة نيكل 3 بالاديوم أو بلاتين .
بناءًٌ على ذلك؛ يمكن أن يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري Gy للاختراع على المناطق التالية
بالترتيب التالي:
-١ إلكترود ثان؛ Vo ؟- منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0؛
*- طبقة من مادة شبه Alia go من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛
— منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0؛ و
—o إلكترود أول.
يمكن أن تكون كل من المناطق (إلكترود ثان؛ منطقة من نوع 0 طبقة من مادة شبه موصلة من ٠٠ - بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ منطقة من نوع م والكترود أول) كما هو معرزف في أي مكان في
هذا الطلب.
ovvY
اج h _ على سبيل المثال» يمكن أن يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري وفقًا للاختراع على المناطق التالية بالترتيب التالي: -١ إلكترود ثان يشتمل على فلز؛ "- منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0؛ © ”- طبقة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ — منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0؛ و -٠ إلكترود أول يشتمل على أكسيد موصل شفاف. على سبيل المثال» يمكن أن يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري وفقًا للاختراع على المناطق التالية بالترتيب التالي: -١ ٠ إلكترود of يشتمل على فلزء يُفضل فضة أو ذهب؛ "- منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0؛ Aa -* من Bale شبه Alia go من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ — منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0؛ و 0— إلكترود أول يشتمل على أكسيد موصل شفاف؛ يفضل أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO Ne يمكن أن تكون أي من المكونات في جهاز معكوس وفقًا للاختراع كما هو معرّف في أي مكان في هذا الطلب. على سبيل المثال؛ يمكن أن يكون البروفسكيت عبارة عن بروفسكيت By لأي من الصيغ da dl اا أو Ha السابقة. على سبيل (JB يمكن أن يكون البروفسكيت عبارة عن مركب بروفسكيت مختار من : «CH3NH3PbF3 | (CH3NH3PbCI3 ~~ (CH3NH3PbBr3 (CH3NH3PbI3 «CH3NH3PbICI2 (CH3NH3PbIBr2 (CH3NH3PbBrCl2 (CH3NH3PbBri2 ٠٠ «CH3NH3SnBrCI2 (CH3NH3SnBrl2 (CH3NH3PbI2CI (CH3NH3PbCIBr2 CAAA
«CH3NH3SnF2I 1130113501012 (CH3NH3SnIBr2 («CH3NH3SnF2Br .CH3NH3SnF2CIl CH3NH3SnI12Cl («CH3NH3SnCIBr2 في بعض النماذج؛ يمكن على نحو بديل أن يشتمل الإلكترود الثاني على أكسيد موصل شفاف. على سبيل المثال يمكن اختيار كل من الإلكترود الأول والإلكترود الثاني من الإنديوم أكسيد ٠ قصدير (TO أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO وأكسيد قصدير مشاب بألومنيوم LAZO إذا يشتمل الإلكترود الثاني على فلز Jie فضة أو ذهب؛ قد يبلغ eld الإلكترود الثاني أحيائًا من ١ إلى ٠١ نانو متر. على سبيل المثال؛ يمكن أن يشتمل الإلكترود الأول على الإنديوم أكسيد قصدير الإنديوم أكسيد قصدير ITO أو أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO ويمكن أن يشتمل الإلكترود الثاني على طبقة من فضة مك يبلغ من ١ إلى ٠١ نانو ia على سبيل المثال من ٠ © إلى ٠١ نانو متر. يمكن أن تكون طبقة رفيعة SL من الفضة شبه شفافة. يمكن أن تشتمل المنطقة من النوع ١ في جهاز معكوس على طبقة واحدة على الأقل من نوع N كما هو معرّف في أي مكان في هذا الطلب لجهاز قياسي غير معكوس. على سبيل المثال؛ يمكن أن تشتمل طبقة من نوع 7 على SB أكسيد التيتانيوم 1102؛ ثاني أكسيد القصدير 5002؛ اكسيد الزنك (ZnO خامس أكسيد النيوبيوم (Niobium pentoxide (ND205) خامس أكسيد التنتالوم (Ta205 ١ ثالث aud التنجستن (WO3 خامس أكسيد التنجستن (W205 ثالث أكسيد الانديوم 3 + ثالث أكسيد الجاليوم 68203؛ ثالث أكسيد النيوديميوم 810203 أكسيد الرصاص (050)؛ أو أكسيد الكادميوم (000). في أحد النماذج؛ يمكن أن تشتمل المنطقة من النوع ١ على طبقة مضغوطة من ثاني أكسيد التيتانيوم. (We يمكن أن تشتمل المنطقة من النوع Jon طبقة مضغوطة من ثاني أكسيد التيتانيوم وطبقة من [60] وصلة غير متجانسة كتلية PCBM -[6,6]) Laie .phenyl-C61-butyric acid methyl ester) | ٠ تشتمل المنطقة من النوع ١ على طبقة من Gb أكسيد التيتانيوم وطبقة من ]60 dla غير متجانسة كتلية (PCBM تكون الطبقة المضغوطة من أكسيد التيتانيوم نمطيًا مجاورة للإلكترود الثاني وتكون الطبقة الخاصة ب ]60[ dla غير متجانسة كتلية PCBM نمطيًا مجاورة للطبقة الخاصة بمادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة. ovvy
يمكن أن تشتمل المنطقة من النوع م في جهاز معكوس على طبقة واحدة على الأقل من نوع م كما هو معرّف في أي مكان في هذا الطلب لجهاز قياسي غير معكوس. على سبيل المثال؛ يمكن أن Ja طبقة من نوع 0 على : spiro-OMeTAD (2,2°,7,7’ —tetrakis—(N,N-di-p—methoxyphenylamine)9,9’ - spirobifluorene)), P3HT (poly(3—hexylthiophene)), PCPDTBT (Poly[2,1,3- © benzothiadiazole-4,7-diyl[4,4-bis(2-ethylhexyl)-4H-cyclopenta[2,1-
PVK الفلطائية الضوئية-ل8)/را0م) alb:3,4-bldithiophene-2,6-diyl]]), vinylcarbazole)), PEDOT (poly(3,4-ethylenedioxythiophene)), or
PEDOT:PSS (poly(3,4-ethylenedioxythiophene) poly(styrenesulfonate)). على نحو بديل؛ يمكن على سبيل المثال أن تشتمل الطبقة من النوع م على مادة ناقلة للثقب غير ٠ بشكل محدد؛ .molybdenum عضوية مشتملة على أكسيد نيكل؛ فاناديوم؛ نحاس أو موليبدنيوم و / أو طبقة من Spiro-OMeTAD يمكن أن تشتمل المنطقة من النوع م على طبقة من .PEDOT:PSS على طبقة من p في أحد النماذج؛ تشتمل المنطقة من النوع -PEDOT:PSS أو (PEDOT Ji) إذا تشتمل المنطقة من النوع م على طبقة من مادة بوليمرية من نوع م يمكن أن تكون الطبقة من النوع م مرتبطة تشابكيًا. تكون الطبقة مرتبطة «(PEDOT:PSS ٠ lead ذوبانها في محلول المادة المنتجة للبروفسكيت أثناء تصنيع sae تشابكيًا من أجل الحد من من أجل جعله غير قابل USL Gas je (PEDOT:PSS أي؛ يكون البوليمر (على سبيل المثال»
Aas للذوبان. على سبيل المثال؛ يمكن أن تشتمل المنطقة من النوع م على طبقة من نوع على مادة بوليمرية حيث تكون الطبقة من النوع م مرتبطة تشابكيًا. في بعض الأحيان؛ يمكن أن حيث تكون الطبقة مرتبطة تشابكيًا. PEDOT:PSS على طبقة من p تشتمل المنطقة من النوع ٠ يمكن أن تكون الطبقة من النوع م مرتبطة تشابكيًّا عن طريق استخدام حمض لويس؛ على سبيل حيث تكون PEDOT:PSS يمكن أن تشتمل المنطقة من النوع م على طبقة من JFE3+ JE الطبقة مرتبطة ULES باستخدام كلوريد الحديد الثلاثي FeClI3 يمكن أن يشتمل جهاز إلكتروني بصري By للاختراع على المناطق التالية بالترتيب التالي: ااا
م -١ إلكترود ثان يشتمل على فلز؛ "- منطقة من نوع ١ تشتمل على طبقة مضغوطة من ثاني أكسيد التيتانيوم وطبقة من [60]|وصلة غير متجانسة كتلية (PCBM — طبقة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ © ؛- منطقة من نوع م تشتمل على طبقة من (PEDOT:PSS اختياريًا حيث تكون الطبقة مرتبطة تشابكيًا؛ و 5- إلكترود أول يشتمل على أكسيد موصل شفاف. يمكن أن يشتمل جهاز إلكتروني بصري وفقًا للاختراع على المناطق التالية بالترتيب التالي: -١ إلكترود ثان يشتمل على Gl يُفضل ألومنيوم؛ فضة أو ذهب؛
٠ 7*- منطقة من نوع JEN على طبقة مضغوطة من ثاني أكسيد التيتانيوم وطبقة من [60]|وصلة غير متجانسة كتلية (PCBM — طبقة من Bale شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ ؛- منطقة من نوع م تشتمل على طبقة من (PEDOT:PSS اختياريًا حيث تكون الطبقة مرتبطة تشابكيًا؛ و
FTO إلكترود أول يشتمل على أكسيد موصل شفاف؛ يفضل أكسيد قصدير مشاب بالفلورين -« ١ للاختراع على المناطق التالية Ey يمكن أن يشتمل جهاز إلكتروني بصري (JB على سبيل بالترتيب التالي:
-١ إلكترود ثان يشتمل على ألومنيوم؛ 7- طبقة مضغوطة من ثاني أكسيد التيتانيوم؛ ٠ *#- طبقة من [60]وصلة غير متجانسة كتلية (PCBM ovvYyY
h q —_ _ ؛- طبقة من مادة شبه Abia go من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ -٠ طبقة من PEDOT:PSS مرتبط تشابكيًا؛ و = إلكترود أول يشتمل أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO يمكن أن تكون المنطقة المتفاعلة ضوئيًا المذكورة هي المنطقة المتفاعلة ضوئيًا الوحيدة في الجهاز 0 ويمكن بناءً على هذا أن يكون الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع عبارة عن جهاز بوصلة فردية. على نحو بديل؛ يمكن أن يكون الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع عبارة عن جهاز إلكتروني بصري بوصلة ترادفية أو جهاز إلكتروني بصري متعدد الوصلات. ely على ذلك Sas أن يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري على الكترود أول الكترود 50( ٠ يتم فيما بين الإلكترودات الأول والثاني وضع: المنطقة المتفاعلة ضوئيًا المذكورة؛ و منطقة متفاعلة ضوئيًا أخرى واحدة على الأقل. يمكن أن تكون المنطقة أو المناطق المتفاعلة ضوئيًا الأخرى متشابهة Jie أو مختلفة عن المنطقة المتفاعلة ضوئيًا المعرّفة فيما سبق في هذا الطلب. V0 في بعض النماذج؛ تكون المنطقة أو المناطق المتفاعلة ضوئيًا الأخرى مشابهة مثل المنطقة المتفاعلة ضوئيًا المعرّفة فيما سبق في هذا الطلب. وبالتالي» يمكن أن يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع على: إلكترود أول؛ إلكترود ثان؛ oy يتم Led بين الإلكترودات الأول والثاني وضع: العديد من المناطق المتفاعلة ضوئيًا المذكورة. ٠ عندما يكون الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع عبارة عن جهاز بوصلة ترادفية أو بوصلات متعددة؛ كما سيدرك أحد ذوي المهارة؛ يمكن أن يشتمل على واحدة أو أكثر من CAAA
١ «= الوصلات النفقية. ble ما يتم وضع كل وصلة نفقية led بين اثنتين من المناطق المتفاعلة يمكن أن يشتمل Sle إلكتروني بصري Alay ترادفية (أو جهاز إلكتروني بصري متعدد الوصلات) وفقًا للاختراع على تقنية الغشاء الرقيق رفيع Sl من البروفسكيت التي تم الكشف عنها في هذا الطلب مع تقنيات معروفة لتوصيل الأداء الأمثل. تكون خلية متعددة الوصلات "كلها من البروفسكيت” جاذبة للغاية؛ مع ذلك حتى بدون الحاجة إلى تطوير مواد ماصة جديدة؛ يكون النظام الحالي الذي يستخدم CH3NH3PDIZ-XCIX مضبوط جيدًا بالفعل ليتطابق مع تقنيات السيليكون المتبلّر والغشاء الرقيق رفيع السك الأخرى CIS Jie نحاس الانديوم الغاليوم سيلينيد CIGS و©02155؛ إذا تم استخدامها باعتبارها خلية علوية في ٠ وصلة ترادفية. هناك إمكانية لإنتاج أجهزة إلكترونية بصرية بقيم كفاءة تزيد عن Judy WAY الجانب الجدير بالملاحظة من هذا الأمر في أنه لا يتطلب "قفزة كمية” في التقنية المقدمة حاليًاء فقط القليل من الوصول إلى الحد الأمثل والتكامل الفعال. هناك العديد من الفوائد المميزة الخاصة ب "التدعيم الكبير” على التقنيات الموجودة؛ يصبح الانخفاض المستمر في تكلفة الخلايا الفلطائية الضوئية Photovoltaics (PV) الموجودة أمرًا مفيدًاء سيكون السوق أكثر قابلية لاختيار 'تقنية 5 سيليكون معززة” بدلاً من تقنية بروفسكيت جديدة (Ale وأخيرًا وليس TAT يكمن تحدي رئيسي لمجتمع الخلايا الفلطائية الضوئية PV أوسع في تطوير خلية علوية بفجوة واسعة لتقنيات السيليكون والغشاء الرقيق رفيع المثمك. في الأشكال OV VT يتم توضيح رسومات تخطيطة لتصميمات جهاز Lag ترادفية محتملة لبروفسكيت على c-Si وبروضسكيت على غشاء رقيق رفيع المثمك تقليدي. Yo في أحد النماذ ج؛ يوفر الاختراع جهاز إلكتروني بصري يشتمل على إلكترود أول إلكترود ثان» وء يتم فيما بين الإلكترودات الأول والثاني وضع: المنطقة المتفاعلة ضوئيًا المذكورة كما هو معرّف led سبق في هذا الطلب؛ و منطقة متفاعلة ضوئيًا أخرى واحدة على الأقل, CAAA
١ \ —_ حيث تشتمل المنطقة المتفاعلة ضوئيًا الأخرى الواحدة على الأقل على طبقة واحدة على الأقل من مادة شبه موصلة. يمكن أن تكون المنطقة المتفاعلة ضوئيًا الأخرى الواحدة على الأقل عبارة عن منطقة متفاعلة ضوئيًا أخرى واحدة على الأقل من المناطق المتفاعلة ضوئيًا المستخدمة في الأدوات الإلكترونية oo البصرية أو الفلطائية الضوئية التقليدية التقليدية أو المعروفة. على سبيل المثال؛ قد تكون She عن منطقة متفاعلة ضوئيًا من خلية فلطائية ضوئية من سيليكون متبلّر أو منطقة متفاعلة ضوئيً من أداة فلطائية ضوئية ذات غشاء رقيق رفيع SLL تقليدي من أرسنيد جاليوم؛ نحاس الانديوم الغاليوم سيلينيد CIS (CIGS أو .CZTSSe (Ble يشتمل جهاز إلكتروني بصري بوصلة ترادفية على المناطق التالية بالترتيب التالي: -١ ٠ إلكترود أول؛ — منطقة متفاعلة ضوئيًا أولى كما هو معرّف في أي مكان Led سبق في هذا الطلب؛ *- تشتمل منطقة متفاعلة ضوئيًا ثانية على طبقة من مادة شبه موصلة؛ و ؛- إلكترود ثان. يمكن أن تكون المادة شبه الموصلة في المنطقة !اا ple عن أية sale شبه موصلة. يشير ١ المصطلح 50d شبه موصلة"؛ كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ إلى sale بموصلية كهربائية متوسطة المقد ار فيما بين تاك الخاصة بموصل dies . نمطيًا تكون sale شبه lage عبارة عن مادة لها موصلية تبلغ من ٠١ ؟ إلى 8-٠١ سيمينز mas يمكن استخدام التقنيات القياسية Jie قياس موصلية بمسبار رباعي النقاط لقياس الموصلية. تتضمن أمثلة على المواد شبه الموصلة أكسيد أو كالكوجنيد من فلز أو عنصر شبيه بالفلز؛ مركب من المجموعة مجموعة IV مركب A) مشتمل على عنصر من المجموعة ل وعنصر من المجموعة Vv مركب مشتمل على عنصر من المجموعة I وعنصر من المجموعة «VI مركب مشتمل على عنصر من المجموعة | وعنصر من المجموعة «VII مركب مشتمل على عنصر من المجموعة AY} وعنصر من المجموعة VI مركب CAAA
المجموعة !اا وعنصر من المجموعة /ا؛ شبه موصل من مركب ثلاثي أو رباعي؛ مادة شبه موصلة من بروفسكيت أو شبه موصل عضوي. تتضمن أمثلة نمطية على المواد شبه الموصلة أكاسيد من تيتانيوم»؛ نيوبيوم؛ قصدير؛ زنك؛ كادميوم؛ نحاس أو الرصاص؛ مركبات كالكوجنيد من أنتيمون أو البزموت؛ كبريتيد القصدير والزنك والتنحاس copper zinc tin sulphide ؛ سيلينيد © القصدير والزنك والنحاس copper zinc tin selenide ؛ كبريتيد سيلينيد القصدير والزنك والنحاس copper zinc tin selenide sulphide « سيلينيد الجاليوم والإنديوم والنحاس copper indium gallium selenide ¢ وداي سيلينيد الجاليوم والإنديوم والنحاس copper indium gallium diselenide تتضمن الأمثلة الإضافية مواد شبه موصلة لمركب من المجموعة IV (على سبيل المثال؛ كربيد سيليكون ¢(silicon carbide مواد شبه موصلة من ٠ المجموعة /١-ااا (على سبيل المثال؛ أرسنيد جاليوم ¢(gallium arsenide مواد شبه موصلة من المجموعة ا/١-ا! (على سبيل المثال؛ سيلينيد كادميوم (cadmium selenide مواد شبه موصلة من المجموعة Je) I-VI سبيل (JB كلوريد كبروس ¢(cuprous chloride مواد شبه موصلة من المجموعة |/١-/ا (على سبيل المثال؛ سيلينيد الرصاص selenide 680ا)؛ مواد شبه موصلة من المجموعة Je) VV سبيل المثال؛ تيلوريد البزموت ¢(bismuth telluride ومواد Vo شبه موصلة من المجموعة /١-ا١ (على سبيل المثال؛ أرسنيد كادميوم ¢(cadmium arsenid مواد شبه موصلة ثلاثية أو رباعية (على سبيل المثال؛ سيلينيد الإنديوم والنحاس copper indium selenide ؛ gla سيلينيد الجاليوم والإتديوم والتحاس copper indium gallium diselenide « أو كبريتيد القصدير والزنك والنحاس (copper zine tin sulphide بروفسكيت المواد شبه الموصلة Jus Je) perovskite semiconductor materials المثال؛ Jsly ¢(CH3NH3PDLI2Cl; CH3NH3PbI3 ٠ _شبه الموصلة العضوية | organic semiconductor materials (على سبيل المثال؛ مركبات بوليمرية مترافقة conjugated polymeric compounds متضمنة بوليمرات Jie مركبات بولي أسيتيلين polyacetylenes « مركبات بولي فينيلين polyphenylenes ومركبات بولي ثيوفين polythiophenes ). تتضمن
AB على مواد شبه موصلة عضوية:
ovvY
السلا poly(3,4-ethylenedioxythiophene), 2,2-17,7-tetrakis—N,N-di-p— methoxyphenylamine-9,9-spirobifluorene (spiro—OMeTAD) وبوليمرات عضوية مترافقة مثل مركبات بولي أسيتيلين؛ مركبات بولي فينيلين؛ مركبات بولي ثيوفين أو مركبات بولي أنيلين. تتضمن أمثلة على مواد ليست مواد شبه موصلة؛ على سبيل المثال فلزات © طبيعية؛ تكون بالطبع موصلات؛ ومواد Ale كهربائية أو مواد عازلة مثل سيليكا أو سيليكات. يشير المصطلح Cand) كما هو مستخدم في هذا الطلب؛ إلى مركب مشتمل على أيون أكسيد واحد على الأقل (أي؛ -02) أو 53 أكسجين ثنائية التكافؤ oxygen atom 017/81601. ينبغي إدراك أن المصطلحات "أكسيد فلز" و”"عنصر أكسيد فلز” المستخدمة في هذا الطلب تشتمل على كل من أكاسيد مشتملة على فلز واحد؛ وأيضنًا أكاسيد فلزية مختلطة. لتجنب الشك؛ يشير أكسيد ٠ فلز مختلط mixed—-metal oxide إلى مركب أكسيد فردي single oxide compound مشتمل على أكثر من عنصر فلز واحد. تتضمن أمثلة على أكاسيد فلزية مختلطة أكسيد زنك قصدير وأكسيد إنديوم قصدير. بالمثل؛ ينبغي إدراك أن المصطلحات أكسيد شبه فلز' و'"عنصر أكسيد شبه فلز” المستخدمة في هذا lll تتضمن أكاسيد مشتملة على عنصر شبيه بالفلز واحد وأيضًا أكاسيد أشباه فلزات مختلطة. لتجنب الشك؛ يشير أكسيد شبه فلز مختلط إلى مركب أكسيد Vo فردي مشتمل على أكثر من عنصر apd بالفلز واحد. يشير المصطلح chalcogenide ayia SIT " المستخدم في هذا الطلب؛ إلى مركب مشتمل على واحد على الأقل من أيون سلفيد 1007 5010108 » سيلينيد أو تيلوريد selenide or telluride ion (أي؛ -82؛ -862؛ أو (Te2- أو كبريت ثنائي (IS ذرة سيلينيوم أو aol ينبغي إدراك أن المصطلحات aia SIC فلز” و”"عنصر كالكوجنيد فلز" تشمل مركبات كالكوجنيد مشتملة ٠ على فلز واحد وأيضًا مركبات كالكوجنيد فلز مختلطة. لتجنب الشك؛ يشير كالكوجنيد فلز مختلط إلى مركب كالكوجنيد فردي مشتمل على أكثر من عنصر فلز واحد. بالمثل؛ ينبغي إدراك أن المصطلحات كالكوجنيد شبه فلز وكالكوجنيد من عنصر شبه فلز" المستخدمة في هذا الطلب تشمل مركبات كالكوجنيد مشتملة على شبه فلز واحد وأيضامركبات كالكوجنيد من شبه فلز مختلطة. لتجنب الشك؛ يشير كالكوجنيد شبه فلز مختلط إلى مركب كالكوجنيد فردي مشتمل على YO أكثر من عنصر شبيه بالفلز واحد. امد
يول في بعض الأحيان؛ تشتمل المادة شبه الموصلة على أكسيد أو كالكوجنيد من فلز أو عنصر شبيه بالفلز. على سبيل المثال؛ تتكون المادة شبه الموصلة من أكسيد أو كالكوجنيد من فلز أو عنصر شبيه بالفلز. على سبيل المثال؛ تشتمل sald) شبه الموصلة على أكسيد تيتانيوم؛ نيوبيوم» قصدير؛ زنك؛ كادميوم؛ نحاس أو الرصاص أو أية توليفة منها؛ أو كالكوجنيد من أنتيمون؛ البزموت أو 0 كادميوم أو أية توليفة منها. على سبيل المثال يمكن أن تشتمل المادة شبه الموصلة على أكسيد زنك قصدير؛ كبريتيد القصدير والزنك والنحاس؛ سيلينيد الجاليوم والإنديوم والنحاس؛ أو داي سيلينيد الجاليوم والإنديوم والنحاس. في أحد النماذج يمكن أن تكون المادة شبه الموصلة عبارة عن شبه موصل مشاب؛ حيث يوجد عنصر شائبة بتركيز يتراوح فيما بين 509 حتى 450 5. إذا يعمل عنصر الشائبة باعتباره واهب ٠ إلكترون؛ فإن sald) شبه الموصلة ستكون مشابة لتصبح من النوع on إذا عمل عنصر الشائبة باعتباره متلقي إلكترون؛ فإن المادة شبه الموصلة ستكون مشابة لتصبح من النوع م. يُلاحظ أنه لأكاسيد فلز مشابة بعناصر أشباه فلزات بشائبة تحل محل العنصر الشبيه بالفلز الأساسي؛ إذا كان تكافو عامل الإشابة أكبر من تكافؤ العنصر الشبيه بالفلز الأساسي فإن أكسيد الفلز سيكون مشابًً من النوع Yn كان BS عامل الإشابة عنصر شبيه بالفلز J من ذلك الخاص بالعنصر ١ الشبيه بالفلز الأساسي فإن أكسيد الفلز سيكون مشابًا من النوع م. يمكن استخدام أي من العناصر المذكورة من قبل لإشابة أي من المواد شبه الموصلة المذكورة lad سبق وصلاً إلى مستويات مختلفة من الكفاءة والتأثير. Uy على ذلك؛ في بعض الحالات تشتمل sald) شبه الموصلة على أكسيد أو كالكوجنيد من فلز أو عنصر شبيه بالفلز؛ مركب من المجموعة مجموعة HV مركب مشتمل على عنصر من ٠ المجموعة ااا وعنصر من المجموعة /ا؛ مركب مشتمل على عنصر من المجموعة Il وعنصر من المجموعة $V] مركب مشتمل على عنصر من المجموعة | وعنصر من المجموعة VI مركب مشتمل على عنصر من المجموعة IV وعنصر من المجموعة $V] مركب مشتمل على عنصر من المجموعة V وعنصر من المجموعة $V] مركب مشتمل على عنصر من المجموعة ll وعنصر من المجموعة /ا؛ شبه موصل من مركب ثلاثي أو رباعي؛ أو شبه موصل عضوي. CAAA
اج 7 _ (We تشتمل المادة شبه الموصلة على سيليكون؛ أكسيد تيتانيوم ؛ نيوبيوم +٠ قصديرء زنك كادميوم نحاس أو الرصاص؛ كالكوجنيد من أنتيمون أو البزنموت؛ كبريتيد القصدير والزنك والنحاس؛ سيلينيد القصدير والزنك والنحاس؛ كبريتيد سيلينيد القصدير والزنك والنحاس؛ سيلينيد الجاليوم والإنديوم والنحاس؛ داي سيلينيد الجاليوم والإنديوم والنحاس؛ كربيد سيليكون؛ win جاليوم؛ سيلينيد 0 كادميوم؛ كلوريد كبروس» سيلينيد الرصاص»؛ تيلوريد البزموت؛ أو أرسنيد كادميوم. إذا اشتملت sald) شبه الموصلة على سيليكون؛ يمكن أن يكون السيليكون أحادي lal متعدد Soka لامتبلّر. يمكن أن تكون المنطقة المتفاعلة ضوئيًا وفقًا للاختراع مترادفة مع خلية شمسية من السيليكون تقليدية. على سبيل المثال؛ يمكن أن تشتمل المادة شبه الموصلة على طبقة من سيليكون متبلّر . Ys في بعض النماذج يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري على المناطق التالية بالترتيب التالي: -١ إلكترود أول؛ "- منطقة متفاعلة ضوئيًا أولى كما هو معزف IN أي مكان في هذا الطلب؛ aha —Y 0 من مادة شبه موصلة من نوع م؛ daha —¢ أولى من مادة شبه موصلة أصيلة ¢ ١ 0— طبقة (ب) من مادة شبه موصلة من نوع SP طبقة (ب) من مادة شبه موصلة من نوع N daha 1 ثانية من مادة شبه موصلة أصيلة ¢ -١ طبقة (ج) من مادة شبه موصلة من نوع ؛ و =A إلكترود ثان. في بعض lal) يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري على المناطق التالية بالترتيب التالي: -١ ٠ إلكترود أول؛ Y — هذ منطقة أولى؛ CAAA
١ h —_ *- طبقة من بروفسكيت شبه موصل بدون مسام مفتوحة؛ ؛- منطقة ثالثة؛ 0 طبقة (أ) من مادة شبه موصلة من نوع م؛ daha 1 أولى من مادة شبه موصلة أصيلة ¢ #- طبقة (ب) من مادة شبه موصلة من نوع م أو طبقة (ب) من مادة شبه موصلة من نوع N daha -A ثانية من مادة شبه موصلة أصيلة ¢ 4- طبقة (ج) من مادة شبه موصلة من نوع ؛ و -٠ إلكترود ثان؛ حيث تكون المنطقة الأولى عبارة عن منطقة من نوع JAN على طبقة واحدة على الأقل من Ve نوع “" وتكون المنطقة الثالثة عبارة عن منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع Sep تكون المنطقة الأولى عبارة عن منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع م وتكون المنطقة الثالثة عبارة عن منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0. يمكن أن تكون أي من المكونات Jo) سبيل المثال؛ البروفسكيت؛ المنطقة الأولى أو المنطقة Vo الثالثة) في هذا الجهاز المترادف كما هو معرّف في أي مكان في هذا الطلب. يمكن أن يشتمل أي شبه موصل من النوع 0؛ من النوع أو متأصل مشار إليه على أي شبه موصل معرزف في أي مكان في هذا الطلب قد يكون على نحو ملائم مشاب من النوع 0؛ مشاب من النوع © أو غير مشابة. (lle تكون المنطقة الأولى عبارة عن منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من Ye نوع 0 وتكون المنطقة الثالثة عبارة عن منطقة من نوع ١ تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0. بناءً على ذلك؛ ستكون الطبقة من النوع م مجاورة للإلكترود الأول وسيتم عكس المنطقة المتفاعلة ضوئيًا من البروفسكيت By للاختراع. ia يكون الضوء الذي يسقط على الجهاز ovvy
لل
abl من خلال الإلكترود الأول. يمكن أن تكون المنطقة من النوع ٠ المشتملة على طبقة واحدة على الأقل من نوع WSN هو معرّف في هذا الطلب و / أو يمكن أن تكون المنطقة من النوع م
المشتملة على طبقة واحدة على الأقل من نوع LSP هو معرّف في هذا الطلب. غالبًا؛ في جهاز إلكتروني بصري ترادفي By للاختراع؛ تكون الطبقة (أ) من مادة شبه موصلة من © نوع م Hle عن طبقة من سيليكون لابلوري amorphous silicon من النوع م و / أو تكون الطبقة (ج) من مادة شبه موصلة من نوع 7 عبارة عن طبقة من سيليكون لابلوري من النوع 0. نمطيًا؛ تكون الطبقة (أ) من مادة شبه موصلة من نوع م عبارة عن طبقة من سيليكون لابلوري من النوع م وتكون الطبقة (ج) من مادة شبه موصلة من نوع ٠ عبارة عن طبقة من سيليكون لابلوري من النوع ٠ غالبًا؛ تكون الطبقة الأولى من مادة شبه موصلة أصيلة عبارة عن طبقة من سيليكون ٠ الابلوري متأصل intrinsic amorphous silicon و | أو تكون الطبقة الثانية من مادة شبه موصلة أصيلة عبارة عن طبقة من سيليكون لابلوري متأصل. في بعض الأحيان؛ تكون الطبقة الأولى من مادة شبه موصلة أصيلة عبارة عن طبقة من سيليكون لابلوري متأصل وتكون الطبقة الثانية من مادة شبه موصلة أصيلة عبارة عن طبقة من سيليكون لابلوري متأصل. في الجهاز المترادف؛ يمكن أن تكون الطبقة (ب) من مادة شبه موصلة من نوع م أو الطبقة (ب) من مادة VO شبه موصلة من نوع N عبارة عن طبقة من نوع م سيليكون متبلّر أو طبقة من نوع 0 سيليكون كما هو معرّف في أي مكان آخر في هذا الطلب؛ يشتمل الإلكترود الأول نمطيًا على أكسيد موصل شفاف و / أو يشتمل الإلكترود الثاني على فلز. غالبًا يشتمل الإلكترود الأول نمطي على أكسيد موصل شفاف ويشتمل الإلكترود الثاني على فلز. يمكن أن يكون الأكسيد الموصل الشفاف WS ٠ هو led Cie سبق Wes يكون أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO الإنديوم أكسيد قصدير dTo أو أكسيد قصدير مشاب بألومنيوم ITO Ghay AZO قد يكون الفلز عبارة عن أي فلز. بشكل عام يشتمل الإلكترود الثاني على فلز مختار من فضة؛ cand نحاسء ألومنيوم؛ بلاتين؛ بالاديوم؛ أو تنجستين. يمكن أن تنطبق هذه القائمة من الفلزات أيضًا على حالات أخرى من الإلكترود الثاني في هذا الطلب. (We تشتمل sale الإلكترود الأول على الإنديوم أكسيد
CAAA
A —_ 7 _ قصدير 110 5 أو يشتمل الإلكترود الثاني على فضة. نمطيًاء تشتمل مادة الإلكترود الأول على الإنديوم أكسيد قصدير ITO ويشتمل الإلكترود الثاني على فضة. بدلاً من أن تكون المنطقة المتفاعلة ضوئيًا Gy للاختراع المشتملة على طبقة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة في حالة ترداف مع منطقة متفاعلة ضوئيًا من السيليكون؛ قد تكون في Ala ترادف © مع منطقة متفاعلة ضوئيًا لغشاء رقيق رفيع السمك. على سبيل (Jad) يمكن أن يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري على المناطق التالية بالترتيب التالي: -١ إلكترود أول؛ "- منطقة متفاعلة ضوئيًا أولى كما هو معرّف في أي مكان Led سبق في هذا الطلب؛ *- تشتمل منطقة متفاعلة ضوئيًا ثانية على طبقة من Sale شبه موصلة؛ و ٠ 0 ¢— إلكترود ثان؛ حيث تشتمل sald) شبه الموصلة على طبقة من كبريتيد القصدير والزنك والنحاس»؛ سيلينيد القصدير والزنك والنحاس؛ كبريتيد سيلينيد القصدير والزنك والنحاس؛ سيلينيد الجاليوم والإنديوم والنحاس؛ داي سيلينيد الجاليوم والإنديوم والنحاس أو سيلينيد الإنديوم والنحاس. يمكن أن تكون الطبقة الخاصة بمادة شبه موصلة عبارة عن غشاء رقيق رفيع SLL لمادة شبه موصلة. Vo في أحد النماذج؛ يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري على المناطق التالية بالترتيب التالي: -١ إلكترود أول؛ — منطقة متفاعلة ضوئيًا أولى كما هو معرّف Led سبق في هذا الطلب؛ *- طبقة من أكسيد موصل شفاف؛ ؛؟- طبقة (د) من مادة شبه موصلة من نوع tN CAAA
0— طبقة من كبريتيد القصدير والزنك والنحاس؛ سيلينيد القصدير والزنك والنحاس؛ كبريتيد سيلينيد القصدير والزنك والنحاس؛ سيلينيد الجاليوم والإنديوم والنحاس؛ داي سيلينيد الجاليوم والإنديوم والنحاس أو سيلينيد الإنديوم والنحاس؛ و ١ -- 1 لكترود ثان. على سبيل المثال؛ يمكن أن يشتمل الجهاز الإلكتروني البصري بناءً على ذلك على المناطق التالية
بالترتيب التالي: -١ إلكترود أول؛ Y — هذ منطقة أولى؛ *- طبقة من بروفسكيت شبه موصل بدون مسام مفتوحة؛
٠ 0 4- منطقة ثالثة؛ 0— طبقة من أكسيد موصل شفاف؛ -١ طبقة (د) من مادة شبه موصلة من نوع N -١ طبقة من كبريتيد القصدير والزنك والنحاس؛ سيلينيد القصدير والزنك والنحاس؛ كبريتيد سيلينيد القصدير والزنك والنحاس؛ سيلينيد الجاليوم والإنديوم والنحاس؛ داي سيلينيد الجاليوم والإنديوم
٠ والنحاس أو سيلينيد الإنديوم والنحاس؛ و 8- إلكترود ثان؛ حيث تكون المنطقة الأولى عبارة عن منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع © وتكون المنطقة الثالثة عبارة عن منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع Sep
٠ - تكون المنطقة الأولى عبارة عن منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على JY من نوع م وتكون المنطقة الثالثة عبارة عن منطقة من نوع Jasin على طبقة واحدة على الأقل من نوع 7.
بالا
=« - يمكن أن تشتمل الطبقة (د) من مادة شبه موصلة من نوع ١7 على أي شبه موصل من أكسيد فلز أو كالكوجنيد. غالبًا؛ تشتمل الطبقة (د) من مادة شبه موصلة من نوع 7 على سلفيد كادميوم. (Glas في الجهاز المترادف المشتمل على غشاء رقيق رفيع ld) لشبه (Junge تكون المنطقة الأولى عبارة عن منطقة من نوع ١ تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 7 وتكون المنطقة © الثالثة عبارة عن منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0. يمكن أن تكون المنطقة من النوع ٠ المشتملة على طبقة واحدة على الأقل من نوع 7 كما هو معرّف في أي Oe في هذا الطلب و / أو يمكن أن تكون المنطقة من النوع م المشتملة على طبقة واحدة على الأقل من نوع م كما هو معرّف في أي مكان في هذا الطلب. يمكن أن يكون الإلكترود الأول و / أو الإلكترود الثاني كما هو مُعرّفِ فيما سبق. نمطيًّا؛ يشتمل ٠ الإلكترود الأول على أكسيد موصل شفاف و / أو يشتمل الإلكترود الثاني على فلز. (Wie يشتمل الإلكترود الأول على أكسيد موصل شفاف ويشتمل الإلكترود الثاني على فلز. Ghai يشتمل الإلكترود الأول على الإنديوم أكسيد قصدير 110 و / أو يشتمل الإلكترود الثاني على تنجستين؛ أو يشتمل الإلكترود الأول على الإنديوم أكسيد قصدير 110 ويشتمل الإلكترود الثاني على VO يمكن أن يكون الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع عبارة عن أداة فلطائية ضوئية؛ صمام ثنائي ذي موصلية ضوئية ¢ ترانزستور ضوئي ؛ مضاعف ضوئي ¢ مقاوم ضوئي ؛ كاشف ضوئي؛ كاشف حساس للضوء؛ صمام ثلاثي في حالة صلبة؛ إلكترود بطارية؛ أداة باعثة للضوء؛ صمام ثنائي باعث للضوء؛ ترانزستور؛ خلية شمسية؛ ليزر؛ أو ليزر حقن لصمام ثنائي. في نموذج (Junie يكون الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع عبارة عن أداة فلطائية ٠ ضوئية؛ على سبيل المثال خلية شمسية. قد يكون الجهاز الإلكتروني البصري وفقًا للاختراع عبارة عن خلية شمسية. في نموذج AT مفضل؛ يكون الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع عبارة عن أداة باعثة للضوء؛ على سبيل المثال صمام ثنائي باعث للضوء. ovvy
_— \ - يمكن إنتاج مركب البروفسكيت المستخدم في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع» في الطبقة المذكورة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ و / أو في الطبقة الأولى المذكورة؛ بواسطة عملية مشتملة على خلط: (أ) مركب أول مشتمل على )١( كاتيون أول و(١) أنيون أول؛ مع © (ب) مركب ثان مشتمل على )١( كاتيون ثان و(١) أنيون ثان؛ حيث: تكون الكاتيونات الأول والثاني كما هو معرّف في هذا الطلب للبروفسكيت؛ و يمكن أن تكون الأنيونات الأول والثاني عبارة عن أنيونات متشابهة أو مختلفة. يمكن؛ على سبيل (JB مواد البروفسكيت التي تشتمل على أنيون واحد على الأقل مختار من أنيونات هاليد وأنيونات كالكوجنيد؛ إنتاج عن طريق عملية مشتملة على خلط: أ 0 مركب أول مشتمل على ) ١ ( كاتيون أول و ) Y ( أنيون أول 3 مع (ب) مركب ثان مشتمل على )١( كاتيون ثان و(؟) أنيون ثان؛ حيث: تكون الكاتيونات الأول والثاني كما هو مُعرّف في هذا الطلب للبروفسكيت؛ و يمكن أن تكون الأنيونات الأول والثاني عبارة عن أنيونات متشابهة أو مختلفة مختارة من أنيونات ١ هاليد وأنيونات كالكوجنيد. (aa تكون الأنيونات الأول والثاني عبارة عن أنيونات مختلفة. بصورة أكثر نمطية؛ تكون الأنيونات الأول والثاني عبارة عن أنيونات مختلفة مختارة من أنيونات هاليد. يمكن أن يشتمل البروفسكيت المنتج بواسطة العملية على كاتيونات إضافية أو أنيونات إضافية. على سبيل JB يمكن أن يشتمل البروفسكيت على اثنين» ثلاثة؛ أربعة من الكاتيونات المختلفة؛ ٠ أو اثنين؛ ثلاثة من أربعة من أنيونات مختلفة. يمكن ply على هذا أن تشتمل العملية لإنتاج البروفسكيت على خلط مركبات إضافية مشتملة على كاتيون إضافي أو أنيون إضافي. بشكل ovvy
إضافي أو على نحو بديل؛ يمكن أن تشتمل العملية لإنتاج البروفسكيت على خلط (أ) و(ب) مع:
(ج) مركب ثالث مشتمل على )١( الكاتيون الأول و(7) الأنيون الثاني؛ أو (د) مركب رابع مشتمل
على )١( الكاتيون الثاني و(١) الأنيون الأول.
Glas في العملية لإنتاج البروفسكيت؛ يكون الكاتيون الثاني في بروفسكيت الأنيون المختلط
5 عبارة عن كاتيون فلز. بصورة أكثر نمطية؛ يكون الكاتيون الثاني عبارة عن كاتيون فلز ثنائي
التكافو. على سبيل المثال؛ يمكن اختيار الكاتيون الثاني من
أيون الكالسيوم Calcium ions (Ca2+) أيون سترونتيوم «Strontium lon (Sr2) أيون
الكاديون «Cadmium ion (Cd2+) أيون النحاس copper ion (Cu2+) أيون النيتروجين
ferrous أيون الحديدي (Manganese ion (Mn2+) أيون المنجنيز cnitrogen ion (Ni2+) «palladium ion (Pd2+) أيون البالديوم ccobaltion (Co2+) أيون الكوبالت dion (Fe2+) ٠
أيون الجرمانيوم germanium ion (Ge2+) أيون القصدير ctinion (Sn2+) أيون الرصاص
Ytterbium (YB2+) أيون الايتربيوم ctin ion (Sn2+) أيون القصدير dead ion (Pb2+)
0 وأيون الأوربيوم europium (eu2+) يمكن اختيار الكاتيون الثاني من أيون القصدير 150
don (Sn2+) أيون البالديوم (PA2+) و أيون النحاس (+602). dale يتم اختيار الكاتيون ١٠ . الثاني من أيون القصدير +502 وأيون البالديوم (+Pd2)
غالبًا؛ في العملية لإنتاج البروفسكيت؛ يكون الكاتيون الأول في بروفسكيت الأنيون المختلط عبارة
عن كاتيون عضوي.
عاد يكون للكاتيون العضوي الصيغة «(R1 R2R3R4N)+ حيث:
1 تكون هيدروجين؛ أو C20 - 61 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال»؛ أو أريل به استبدال Yo أو ليس به استبدال؛
2 تكون هيدروجين»؛ أو 620 - 61 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال» أو أريل به استبدال
أو ليس به استبدال؛
بالا
A Ad —_ _ R3 تكون هيدروجين؛ أو C1 - C20 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال»؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ و 4 تكون هيدروجين»؛ أو 620 - 61 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال» أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال.
0 بشكل أساسي؛ في الكاتيون العضوي؛ 81 تكون هيدروجين؛ ميثيل أو i) 2 تكون هيدروجين؛ ميثيل أو di) 43 تكون هيدروجين؛ ميثيل أو إيثيل؛ RA تكون هيدروجين؛ ميثيل أو إيثيل. على سبيل المثال 41 يمكن أن تكون هيدروجين أو ميثيل؛ R2 يمكن أن تكون هيدروجين أو ميثيل؛ R3 يمكن أن تكون هيدروجين أو ميثيل؛ RA يمكن أن تكون هيدروجين أو
١١ على نحو ca يمكن أن يكون للكاتيون العضوي الصيغة «(R5NH3)+ حيث: RS تكون copa jaa أو 620 - 61 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال. على سبيل RS (JE يمكن أن تكون ميثيل أو إيثيل. نمطيّاء 45 تكون ميثيل. على نحو ca يمكن أن يكون للكاتيون العضوي الصيغة «(R5R6N=CH-NRT7RS)+ حيث: RS تكون هيدروجين؛ C20 - 61 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو Vo ليس به استبدال؛ RO تكون هيدروجين» C20 - 61 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال» أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ RT تكون هيدروجين؛ C20 - 61 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ R8 تكون هيدروجين» Cl - C20 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال. RS (Gha في الكاتيون (RSRON=CH-NRTR8)+ تكون هيدروجين؛ ميثيل أو إيثيل» RO Yo تكون هيدروجين؛ ميثيل أو RT Ji تكون هيدروجين؛ ميثيل أو إيثيل؛ و48 تكون هيدروجين؛ ميثيل أو إيثيل. على سبيل RSE يمكن أن تكون هيدروجين أو ميثيل؛ RE يمكن أن تكون هيدروجين أو ميثيل؛ RT يمكن أن تكون هيدروجين أو ميثيل؛ و48 يمكن أن تكون هيدروجين أو يمكن أن يكون للكاتيون العضوي؛ على سبيل المثال؛ الصيغة (H2N=CH-NH2)+ CAAA
A ¢ —_ _ في العملية لإنتاج البروفسكيت؛ file ما يكون البروفسكيت عبارة عن بروفسكيت لهاليد مختلط حيث يكون الاثنين أو أكثر من الأنيونات المختلفة المذكورة عبارة عن اثنين أو أكثر من أنيونات هاليد مختلفة. (Ga في العملية لإنتاج البروفسكيت؛ يكون البروفسكيت عبارة عن مركب بروفسكيت بالصيغة oe (): )1( 8[]170[3][] حيث: [A] تكون كاتيون عضوي واحد على الأقل؛
[8] تكون كاتيون فلزي واحد على الأقل؛ و [©] تكون الاثنين أو أكثر من الأنيونات المختلفة المذكورة؛ و تشتمل العملية على خلط: (أ) مركب أول مشتمل على )١( كاتيون فلز و(7) أنيون أول؛ مع (ب) مركب ثان مشتمل على )١( كاتيون عضوي و(؟) أنيون ثان؛ حيث: Ye تكون الأنيونات الأول والثاني عبارة عن أنيونات مختلفة مختارة من أنيونات هاليد أو أنيونات كالكوجنيد. يمكن 3 على سبيل المثال 3 أن يشتمل البروفسكيت بالصيغة ) | ( على واحد 3 اثنين »+ ثلاث أربعة من كاتيونات فلز مختلفة؛ نمطيًا واحد أو اثنين من كاتيونات فلز مختلفة. يمكن؛ على سبيل المثال» أن يشتمل البروفسكيت بالصيغة ) | ( على alg اثنين »+ ثلاثة أربعة من كاتيونات iy gua مختلفة Glass ٠ واحد؛ اثنين من كاتيونات عضوية مختلفة. يمكن؛ على سبيل المثال؛ أن يشتمل البروفسكيت بالصيغة ol) على اثنين؛ ثلاثة؛ أربعة من أنيونات مختلفة؛ نمطيًا اثنين أو ثلاثة من أنيونات ovvy
هم مختلفة. يمكن أن تشتمل العملية؛ ply على هذاء على خلط مركبات إضافية مشتملة على كاتيون وأنيون. نمطيّاء [X] تكون اثنين أو أكثر من أنيونات هاليد مختلفة. تكون الأنيونات الأول والثاني نمطيًً عبارة عن أنيونات هاليد. على نحو بديل [X] يمكن أن تكون ثلاثة أيونات هاليد مختلفة. ومن ثم؛ 0 يمكن أن تشتمل العملية على خلط مركب ثالث مع المركب الأول والمركب الثاني؛ حيث يشتمل المركب الثالث على )١( كاتيون و(7) أنيون هاليد ثالث؛ حيث يكون الأنيون الثالث عبارة عن أنيون هاليد مختلف عن أنيونات الهاليد الأول والثاني. غالبًاء في العملية لإنتاج البروفسكيت؛ يكون البروفسكيت عبارة عن مركب بروفسكيت بالصيغة (ما):
AB[X]3 (IA) ٠ حيث: تكون كاتيون عضوي؛ تكون كاتيون فلز؛ و 8 تكون الاثنين أو أكثر من الأنيونات المختلفة المذكورة. [X] تشتمل العملية على خلط: Vo كاتيون فلز و(7) أنيون هاليد أول؛ مع )١( (أ) مركب أول مشتمل على كاتيون عضوي و(١) أنيون هاليد ثان: )١( (ب) مركب ثان مشتمل على حيث: تكون أنيونات الهاليد الأول والثاني عبارة عن أنيونات هاليد مختلفة. ovVY
_ أ A _ عادةً؛ [X] تكون اثنين أو أكثر من أنيونات هاليد مختلفة. يُفضل؛ [*] تكون اثنين أو ثلاثة من أنيونات هاليد مختلفة. الأفضل؛ [X] تكون اثنين من أنيونات الهاليد المختلفة. في نموذج [X] AT تكون ثلاثة من أنيونات هاليد مختلفة. (Ga في العملية لإنتاج البروفسكيت؛ يكون البروفسكيت عبارة عن مركب بروفسكيت بالصيغة (I) ٠ ABX3-yX’y (II) حيث: تكون كاتيون عضوي؛ 8 تكون كاتيون فلز؛ * تكون أنيون alla أول؛ تكون أنيون هاليد ثان يكون مختلقًا عن أنيون الهاليد الأول؛ و لا تكون من ٠.05 إلى 15,؛ و تشتمل العملية على خلط: (أ) مركب أول مشتمل على )١( كاتيون فلز 5 OX (Y) مع ١٠ (ب) مركب ثان مشتمل على )١( كاتيون عضوي 5 DX (Y) حيث تكون النسبة الخاصة ب ل إلى ”ل في الخليط تساوي (YF) : لا من أجل تحقيق النسبة المذكورة الخاصة ب )ل إلى ”ل التي تساوي YF) - لا) : ay يمكن أن تشتمل العملية على خلطمركب إضافي مع المركب الأول والمركب الثاني. على سبيل JB يمكن أن تشتمل العملية على خلط مركب ثالث مع المركب الأول والمركب SE حيث يشتمل المركب ٠ الثالث على )١( كاتيون الفلز و() WX على نحو بديل؛ يمكن أن تشتمل dled على خلط ovvy
A 7 _ _ مركب ثالث مع المركب الأول والمركب الثاني؛ حيث يشتمل المركب الثالث على )١( الكاتيون العضوي X (Y)s Bale لا تكون من ٠,5 إلى م على سبيل المثال من دلت إلى laa .Y,¥0 ¢ لا تكون من ١ Ape clas © العملية لإنتاج البروفسكيت؛ يكون المركب الأول عبارة عن BX2 ويكون المركب الثاني
عبارة عن AX Wie يتم إنتاج المركب الثاني عن طريق تفاعل مركب بالصيغة (RSNH2) حيث: RS تكون هيدروجين؛ أو C20 - 61 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال» مع مركب بالصيغة HX RS (lass يمكن أن تكون ميثيل أو إيثيل؛ RS We تكون ميثيل.
: ١ بنسبة مولارية HX والمركب بالصيغة (RSNH2) يتم إجراء تفاعل للمركب بالصيغة dale) يكون الإيثانول Gast ALY غالبًا؛ يحدث التفاعل في جو من النيتروجين وعادةً في إيثانول .١ مل من المركب ١0 إلى ١١5 مرة واقي. بصورة أكثر نمطية يتم تفاعل من ٠00 اللامائي حوالي في جو من النيتروجين في من Zale (HX مل من ٠ إلى Yo مع حوالي (R5NH2) بالصيغة 05ا0+0/ا1ا80. يمكن أن تشتمل العملية أيضًا على ethanol مل إيثانول لامائي Yor إلى ٠
Vo خطوة لاستخلاص البروفسكيت لأنيون مختلط المذكور. We ما يتم استخدام مبخر دوّار لاستخلاص AX متبأر. dale تعتبر الخطوة الخاصة بخلط المركبات الأول والثاني خطوة لإذابة المركبات الأول والثاني في مذيب. يمكن أن تكون المركبات الأول والثاني مذابة بنسبة من ٠١0 : ١ إلى Ghat ١ : ٠١ نسبة .١ : ١ نمطيًا يكون المذيب lie عن داي ميثيل فورماميد (DMF) أو الماء. عندما يكون
٠ كاتيون الفلز هو أيون البالديوم +062 عادةٌ ما يكون المذيب هو داي ميثيل فورماميد. عندما يكون كاتيون الفلز +502 Sale ما يكون المذيب هو الماء. يكون استخدام داي ميثيل فورماميد DMF أو الماء كمذيب مفيدًا إذ أن هذه المذيبات تكون غير متطايرة لحد كبير. يمكن تحضير المادة شبه الموصلة من طبقة البروفسكيت في الأجهزة المبتكرة عن طريق معالجة محلول أو عن طريق التبخير في وسط خوائي. تكون درجة حرارة المعالجة المنخفضة أمرًا مهمًا
ovvy
A A —_ _ لتقليل تكلفة التصنيع؛ مما يسمح بالمعالجة على طبقات أساسية من البلاستيك والمعالجة على قمة الطبقات الأخرى للسماح بإنتاج خلايا شمسية مترادفة ومتعددة الوصلات. في هذا الطلب» يوضح المخترعون أن الأجهزة الخاصة بالاختراع يمكن أن تعمل مع كل الطبقات المعالجة عند درجة حرارة منخفضة متضمنة مادة الدعم المؤقتة القابلة للمعالجة بمحلول. © يوفر ا لاختراع عملية لإنتا z جهاز إلكتروني بصري يشتمل على منطقة متفاعلة ضوئيًا »٠ تشتمل
المنطقة المتفاعلة ضوئيًا هذه على: منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0؛ منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع ©؛ و يتم فيما بين المنطقة من النوع 7 والمنطقة من النوع 0 وضع:
daha ١١ من مادة شيه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة تشتمل هذه العملية على: (أ) توفير منطقة أولى؛ (ب) وضع منطقة ثانية على المنطقة الأولى؛ تشتمل المنطقة الثانية هذه على طبقة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ و
VO (ج) وضع منطقة ثالثة على المنطقة الثانية؛ حيث: تكون المنطقة الأولى عبارة عن منطقة من نوع Jilin على طبقة واحدة على الأقل من نوع © وتكون المنطقة الثالثة عبارة عن منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع م؛ أو
٠ تتكون المنطقة الأولى عبارة عن منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع م وتكون المنطقة الثالثة عبارة عن منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0.
CAAA
A q —_ _ lle تكون المنطقة الأولى عبارة عن منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع © وتكون المنطقة الثالثة عبارة عن منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع P في العملية الخاصة بالاختراع؛ يمكن أن تكون المنطقة من النوع in الطبقة من النوع in المنطقة من النوع م والطبقة من النوع م كما هو ae بشكل إضافي في هذا الطلب من قبل للجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع. (Wal قد تكون الطبقة الخاصة بالمادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ والمادة شبه الموصلة من البروفسكيت نفسهاء كما هو Cape بشكل إضافي فيما سبق في هذا الطلب. في أحد النماذج الخاصة بالعملية الخاصة بالاختراع؛ تشتمل الخطوة (ب)؛ الخاصة بوضع المنطقة ٠ الثانية على المنطقة الأولى» على: إنتاج طبقة صلبة من البروفسكيت على المنطقة الأولى عن طريق ترسيب البخار. في هذا النموذج؛ تشتمل الخطوة الخاصة بإنتاج طبقة صلبة عن طريق ترسيب البخار نمطيًا على: )١( تعريض المنطقة الأولى إلى بخارء يشتمل هذا البخار على البروفسكيت المذكور أو واحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة لإنتاج البروفسكيت المذكور؛ و )١( ١ السماح بترسيب البخار على المنطقة الأولى؛ لإنتاج طبقة صلبة من البروفسكيت المذكور عليها. يمكن أن يكون البروفسكيت في البخار عبارة عن أي من مواد البروفسكيت التي تمت مناقشتها في هذا lhl) من قبل للجهاز الإلكتروني البصري الخاص fall ويكون Bad بروفسكيت بالصيغة (ا)؛ (IA) أو (اا) كما هو معرّف فيما سبق في هذا الطلب. Yo يمكن أن تشتمل الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة لإنتاج البروفسكيت المذكور على أنواع المادة المتفاعلة التي تمت مناقشتها فيما سبق للعملية الخاصة بتخليق مركبات البروفسكيت. وبالتالي؛ يمكن أن تشتمل الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة على: CAAA
q «= _ 0 مركب أول مشتمل على ) ١ ( كاتيون أول و ) Y ( أنيون Js ¢ و (ب) مركب ثان مشتمل على )١( كاتيون ثان و(7) أنيون ثان؛ كما هو معرّف lad سبق في هذا الطلب للعملية لإنتاج مركب البروفسكيت المستخدم في الجهاز بشكل أكثر diag يمكن أن تشتمل الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة على: (أ) مركب أول مشتمل على )١( كاتيون فلز و(7) أنيون أول؛ مع (ب) مركب ثان مشتمل على )١( كاتيون عضوي و(١) أنيون ثان؛ حيث تكون الأنيونات الأول والثاني عبارة عن أنيونات مختلفة مختارة من أنيونات هاليد أو أنيونات كالكوجنيد؛ كما هو معرّف فيما سبق في هذا الطلب للعملية لإنتاج مركب البروفسكيت المستخدم على سبيل (JE يمكن أن تشتمل الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة على: (أ) مركب أول مشتمل على )١( كاتيون فلز و(7) أنيون هاليد أول؛ مع (ب) مركب ثان مشتمل على )١( كاتيون عضوي و(١) أنيون هاليد ثان؛ حيث تكون أنيونات الهاليد الأول والثاني عبارة عن أنيونات هاليد مختلفة؛ VO كما هو معزرّف فيما سبق في هذا الطلب للعملية لإنتاج مركب البروفسكيت المستخدم في الجهاز الواحدة أو أكثر من ddl المتفاعلة Gla على )( يوديد الرصاص PbI2 و(ب) .CH3NH3CI YS بشكل عام تشتمل العملية بشكل إضافي على إنتاج البخار في المقام الأول عن طريق تبخير البروفسكيت المذكور أو تبخير الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة المذكورة لإنتاج البروفسكيت ovvy
Cay المذكور. في هذه الخطوة؛ يتم نمطيًا نقل البروفسكيت أو الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة لإنتاج البروفسكيت إلى غرفة تبخير يتم تفريغها لاحقًا. بعد ذلك؛ يتم نمطيًا تسخين البروفسكيت أو الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة لإنتاج البروفسكيت. ثم يتم تعريض البخار الناتج إلى؛ وبالتالي؛ ترسيبه على المنطقة الأولى؛ لإنتاج طبقة صلبة من البروفسكيت المذكور عليها. إذا تم استخدام المواد المتفاعلة؛ فإنها تتفاعل معًا في الموقع لإنتاج 5 البروفسكيت على المنطقة الأولى. elas يتم السماح لترسيب البخار بالاستمرار حتى يكون للطبقة الصلبة من البروفسكيت (Bla ميكرو مترء أو بصورة أكثر ٠٠١ نانو متر إلى ٠١ يبلغ من oll مرغوب فيه؛ على سبيل المثال ميكرو متر. يُفضل؛ يتم السماح لترسيب البخار بالاستمرار حتى ٠١ نانو متر إلى ٠١ نمطية من نانو مترء أو على ٠٠٠١ نانو متر إلى 5٠ يكون للطبقة الصلبة من البروفسكيت مك يبلغ من ٠ نانو متر. على سبيل المثال؛ يمكن الاستمرار في 70١0 نانو متر إلى ٠٠١ سبيل المثال من من المسحوق على المنطقة jie نانو 70٠0 نانو متر إلى ٠٠١ الترسيب حتى يتم ترسيب تقريبًا من الأولى. يبلغ على الأقل old يمكن أن يستمر ترسيب البخار حتى يكون للطبقة الصلبة من البروفسكيت نمطيّاء على سبيل المثال يستمر حتى يكون للطبقة الصلبة من البروفسكيت سمك jie نانو ٠٠١ ١ 700 نانو متر إلى ٠٠١ ميكرو مترء أو على سبيل المثال من ٠٠١ نانو متر إلى ٠٠١ يبلغ من نانو متر. لقد المخترعون أن عملية ترسيب بخار مزدوج المصادر تسمح بترسيب طبقات متناسقة من البروفسكيت. يعتبر ترسيب البخار واحدًا من أكثر الطرق شيوعًا في التصنيع على صعيد كبير بُِمك مقنن ويشير تقليديًا إلى ترسيب أغشية رقيقة رفيعة SL) لترسيب أغشية رقيقة رفيعة ٠ عن طريق تكثيف صورة متبخرة من مادة الغشاء الرقيق المرغوب فيها على سطح في وسط lal) الترسيب Jie din خوائي. لقد تم بحث طرق الترسيب الخاصة بالبروفسكيت غير العضوي بالليزر النبضي وترسيب محلول كيميائي. لقد تم ترسيب البروفسكيت غير العضوي - العضوي أو (C6H5C2HANH3)2Pbi4 يوديد الرصاص Jie BALE
CAAA
q \ —_ _ ((COHSC2H4NH3)2PbBr4 _بنجاح oe خلال الترسيب الحراري لمصدر فردي. مع ذلك؛ نحو نادر بسبب الاختلاف المؤثر الخصائص الفيزيائية والكيميائية فيما بين المواد غير العضوية والعضوية؛ تم تطبيق الترسيب الحراري مزدوج المصادر لتبخير المصدر العضوي والمصدر غير o العضوي في نفس الوقت ولكن مع تحكم مستقل (V.
K.
Dwivedi, J.
J.
Baumberg, and G.
V.
Prakash, “Direct deposition of inorganic—organic hybrid semiconductors and their template —assisted microstructures,” Materials Chemistry and Physics, vol. 137, no. 3, pp. Jan. 2013). ,941-946 Baa) تم اقتراح الترسيب الكهروكيميائي المعزز بقالب للحصول على فئة جديدة من بروفسكيت مختلط (C12H25NH3)2Pbl4 في بنى جيدة متعددة المقادير مع إنبعاث قوي للإكسيتون. لقد تم أيضًا اقتراح أنه يمكن بشكل مباشر قطع هذه المواد إلى بنى فوتونية ثنائية الأبعاد قد تكون sade للغاية في الأدوات الفلطائية الضوئية. دائمًا ما Jie ترسيب مواد البروفسكيت العضوية - غير العضوية المختلطة (Gand لأن غاليبة المواد العضوية تكون متطايرة للغاية وتتحلل سريعًاء VO ويؤدي هذا إلى جعل التحكم في عملية الترسيب أكثر تعقيدًا. في أحد النماذج؛ تشتمل الخطوة (ب) الخاصة بوضع المنطقة الثانية على المنطقة الأولى على: إنتاج طبقة صلبة من البروفسكيت عن طريق ترسيب البخارء حيث يكون ترسيب البخار عبارة عن ترسيب بخار مزدوج المصادر. يشير المصطلح 'ترسيب بخار مزدوج المصادر"؛ كما هو مستخدم في هذا الطلب إلى عملية ٠ ترسيب بخار حيث يشتمل البخار الذي يتم ترسيبه على طبقة تحتية على اثنين أو أكثر من المكونات التي تنشاً من اثنين من المصادر المتميزة. Ghat سينتج مصدر أول بخارًا مشتملاً على مكون أول وسينتج مصدر ثان بخارًا مشتملاً على مكون ثان. يمكن أيضنًا أن يتم تمديد ترسيب البخار مزدوج المصادر ليتضمن ترسيب بخار ثلاثي أو رباعي المصادر؛ بالرغم من أن الترسيب مزدوج المصادر يكون مفضلاً بشكل طبيعي. ovvY
_ q —
في أحد النماذج؛ تشتمل الخطوة (ب) الخاصة بوضع المنطقة الثانية على المنطقة الأولى على:
)١( تعريض المنطقة الأولى إلى lay يشتمل هذا البخار على اثنتين من المواد المتفاعلة لإنتاج
البروفسكيت المذكور؛ و
(7) السماح بترسيب البخار على المنطقة الأولى؛ لإنتاج طبقة صلبة من البروفسكيت المذكور © عليها؛
حيث )١( يشتمل بشكل إضافي على إنتاج البخار المذكور المشتمل على اثنتين من المواد
المتفاعلة لإنتاج البروفسكيت المذكور عن طريق تبخير مادة متفاعلة أولى من مصدر أول وتبخير
مادة متفاعلة ثانية من مصدر Ob
يمكن أن تكون المواد المتفاعلة كما هو معرّف في هذا الطلب لإنتاج بروفسكيت. يمكن أن يشتمل
٠ البخار على نحو بديل على ثلاثة أو أكثر من المواد المتفاعلة. يتم Ghd وضع الاثنين من المصادر عند نفس المسافة من المنطقة الأولى؛ غالبًا من ٠١ إلى 560 سم. We ما تشتمل المادة المتفاعلة الأولى على مركب أول مشتمل على )١( كاتيون أول و(7) أنيون أول؛ وتشتمل sald) المتفاعلة الثانية على مركب ثان مشتمل على )١( كاتيون ثان و(١) أنيون ثان. في بعض الحالات؛ سيكون الكاتيون الأول هنا عبارة عن كاتيون فلز. في بعض الحالات
Vo سيكون الكاتيون الثاني هنا عبارة عن كاتيون عضوي. بناءً على ذلك؛ يمكن أن تشتمل المادة المتفاعلة الأولى على مركب أول مشتمل على )١( كاتيون فلز 5 (V) أنيون أول؛ ويمكن أن تشتمل المادة المتفاعلة الثانية على مركب ثان مشتمل على )١( كاتيون عضوي و(١) أنيون ثان. يُفضل يكون كاتيون الفلز كاتيون فلز ثنائي التكافو. على سبيل (JB يمكن أن يكون كاتيون الفلز عبارة عن كاتيون مختار من :
٠ أيون الكالسيوم (Ca2+) أيون سترونتيوم (522)؛ أيون الكاديون (+602)؛ أيون النحاس ((Cu2+) أيون النيتروجين ((Ni2+) أيون المنجنيز (MN2+) أيون الحديدي (+62)؛ أيون الكوبالت ((Co2+) أيون البالديوم (+002)؛ أيون الجرمانيوم (Ge2+) أيون القصدير (5027)؛ أيون «(Pb2+) aba) أيون القصدير (5027)؛ أيون الايتربيوم (YB2+) وأيون الأوربيوم (+602). يمكن اختيار الكاتيون الثاني من أيون القصدير (SN2+4) أيون البالديوم
ovvy
q ¢ —_ _ (P24) و أيون النحاس (+602). dale يتم اختيار الكاتيون الثاني من أيون القصدير +502 وأيون البالديوم (+Pd2) من هذه الكاتيونات؛ فإنه من المفضل أن يكون كاتيون الفلز ثنائي التكافؤ هو +552 أو أيون القصدير (502+). We fo] ما يكون للكاتيون العضوي الصيغة «(R1 R2R3R4N)+ حيث: 1 تكون هيدروجين؛ أو C1 - C20 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال»؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ 2 تكون هيدروجين»؛ أو 620 - 61 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال» أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ Ys 83 تكون هيدروجين» أو 620 - C1 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ و 4 تكون هيدروجين»؛ أو 620 - 61 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال. يمكن أن يكون الكاتيون العضوي كما هو معرّف في أي مكان في هذا الطلب. We يكون Yo للكاتيون العضوي الصيغة «(RSNH3)+ حيث: RS تكون هيدروجين» أو 620 - 61 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال. على سبيل المثال؛ يكون للكاتيون العضوي الصيغة ((RSNH3)+ حيث: RS تكون ميثيل؛ إيثيل؛ بروبيل أو بيوتيل؛ يُفضل ميثيل أو إيثيل. في بعض الحالات يمكن أن يكون الكاتيون العضوي عبارة عن كاتيون ميثيل أمونيوم. على نحو ca يكون للكاتيون العضوي الصيغة «(R5R6N=CH-NR7RS)+ حيث: RS Yo تكون هيدروجين؛ C20 - 61 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ 6 تكون هيدروجين» C20 - 61 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ RT تكون هيدروجين؛ C20 - 61 ألكيل به استبدال أو ليس به ovvy
اج q _ استبدال» أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال؛ و8 تكون هيدروجين» C20 - 61 ألكيل به استبدال أو ليس به استبدال؛ أو أريل به استبدال أو ليس به استبدال. R5 «Glas في الكاتيون +(6584611-611-118788) تكون هيدروجين» ميثيل أو R6 «Ji تكون هيدروجين؛ ميثيل أو RT edi) تكون هيدروجين؛ ميثيل أو إيثيل؛ و48 تكون هيدروجين؛ © ميثيل أو إيثيل. على سبيل المثال45 يمكن أن تكون هيدروجين أو ميثيل؛ RE يمكن أن تكون هيدروجين أو ميثيل؛ RT يمكن أن تكون هيدروجين أو ميثيل؛ و48 يمكن أن تكون هيدروجين أو يمكن أن يكون للكاتيون العضوي؛ على سبيل (JE الصيغة (H2N=CH-NH2)+ يمكن أن تكون الأنيونات الأول والثاني عبارة عن أية أنيونات؛ ولكن يتم اختيارها نمطيًا من أيونات ٠ هاليد (على سبيل المثال؛ فلوريد؛ كلوريد؛ بروميد ويوديد) أو أيونات كالكوجنيد (على سبيل المثال؛ سلفيد؛ سيلينيد وتيلوريد). le سيكون البروفسكيت عبارة عن بروفسكيت من هاليد مختلط أو كالكوجنيد مختلط وتكون الأنيونات الأول والثاني عبارة عن أنيونات مختلفة مختارة من أيونات هاليد أو أيونات كالكوجنيد. يُفضل تكون الأنيونات الأول والثاني عبارة عن أنيونات هاليد. نمطي ؛ تكون الأنيونات الأول والثاني عبارة عن أنيونات مختلفة مختارة من أنيونات هاليد. على سبيل Ve المثال؛ يكون الأنيون الأول والأنيون الثاني عبارة عن واحد من الأزواج التالية باعتبارها (الأنيون الأول : الأنيون الثاني) : (فلوريد : كلوريد)؛ (كلوريد : فلوريد)؛ (فلوريد : بروميد)؛ (بروميد : فلوريد)» (فلوريد : يوديد)؛ (يوديد : فلوريد)؛ (كلوريد : بروميد)؛ (بروميد : كلوريد)؛ (كلوريد : يوديد)؛ (يوديد : كلوريد)؛ (بروميد : يوديد) أو (يوديد : بروميد). في بعض النماذج؛ ستشتمل المادة المتفاعلة الأولى على داي هاليد «JB وستشتمل sald) المتفاعلة ٠ الثانية على ملح هاليد من حمض عضوي. على سبيل (JB يمكن أن تشتمل المادة المتفاعلة الأولى على مركب أول يكون عبارة عن BX2 ويمكن أن تشتمل المادة المتفاعلة الثانية على مركب ثان يكون عبارة عن AX حيث 8 تكون كاتيون أول؛ X تكون أنيون أول؛ A تكون كاتيون ثان وكأ © أنيون ثان. يمكن أن تكون كل من الكاتيونات والأنيونات كما هو مُعرّف فيما CAAA
_ أ q _ سبق. في بعض الأحيان؛ تشتمل المادة المتفاعلة الأولى على مركب أول يكون عبار عن BX2 وتشتمل sald) المتفاعلة الثانية على مركب ثان يكون عبارة عن AX حيث 8 تكون كاتيون مختار من أيون الكالسيوم (Ca2+) أيون سترونتيوم (522)؛ أيون الكاديون (+602)؛ أيون النحاس © (+602)؛ أيون النيتروجين ((Ni24) أيون المنجنيز (+1/02)؛ أيون الحديدي (+62)؛ أيون الكوبالت ((Co2+) أيون البالديوم (+002)؛ أيون الجرمانيوم (Ge2+) أيون القصدير (5027)؛ أيون «(Pb2+) aba) أيون القصدير (5027)؛ أيون الايتربيوم (YB2+) وأيون الأوربيوم (+602). يمكن اختيار الكاتيون الثاني من أيون القصدير (SN2+4) أيون البالديوم (+002) و أيون النحاس (+602). dale يتم اختيار الكاتيون الثاني من أيون القصدير +502 ٠ وأيون البالديوم (+Pd2) تكون أنيون مختار من ل -ان Br- و- ol A تكون كاتيون بالصيغة ((RSNH3)+ حيث: RS تكون هيدروجين؛ أو C20 - 61 ألكيل به استيدال أو ليس به استيدال, xX’ تكون أنيون مختار من ل -ان Br- و-ا 9% X Yo و كل تكون عبارة عن أنيونات مختلفة. يمكن أن تشتمل المادة المتفاعلة الأولى على هاليد رصاص أو هاليد قصدير ويمكن أن تشتمل المادة المتفاعلة الثانية على هاليد ميثيل أمونيوم أو هاليد إيثيل أمونيوم» حيث أيون الهاليد في sald) المتفاعلة الأولى والمادة المتفاعلة الثانية يكون مختلقًا. غالبًا؛ تشتمل salad) المتفاعلة الأولى على فلوريد قصدير وتشتمل المادة المتفاعلة الثانية على كلوريد ميثيل أمونيوم « بروميد ميثيل AK أمونيوم أو يوديد ميثيل أمونيوم تشتمل المادة المتفاعلة الأولى على كلوريد رصاص أو كلوريد قصدير وتشتمل المادة المتفاعلة الثانية على بروميد ميثيل أمونيوم أو يوديد ميثيل أمونيوم ovvy
q 7 _ _ تشتمل المادة المتفاعلة الأولى على بروميد رصاص أو بروميد قصدير وتشتمل المادة المتفاعلة الثانية على كلوريد ميثيل أمونيوم أو يوديد ميثيل أمونيوم؛ أو تشتمل المادة المتفاعلة الأولى على يوديد رصاص أو بروميد قصدير وتشتمل المادة المتفاعلة الثانية على كلوريد ميثيل أمونيوم أو بروميد ميثيل أمونيوم . © يُفضل؛ تشتمل المادة المتفاعلة الأولى على كلوريد رصاص وتشتمل المادة المتفاعلة الثانية على يوديد ميثيل أمونيوم. تنطبق هذه الأزواج من المركب Wad على طرق الترسيب GAY الخاصة ببروفسكيت؛ على سبيل المثال؛ ترسيب محلول. على نحو A diy يمكن أن تكون كاتيون أحادي التكافؤ غير عضوي. على سبيل المثال؛ A Yo يمكن أن تكون كاتيون من فلز مجموعة ١ مثل +08. AY كانت غير عضوية؛ يمكن أن يكون الاثنين من أنيونات الهاليد في كل sale متفاعلة متشابهين أو مختلفين. على سبيل (JE يمكن أن تشتمل sald) المتفاعلة الأولى على مركب أول BX2 ويمكن أن تشتمل sald) المتفاعلة الثانية على مركب ثان يكون عبارة عن AX حيث أيون الكالسيوم (Ca2+) أيون سترونتيوم (522)؛ أيون الكاديون (+602)؛ أيون النحاس ((Cu2+) ١ أيون النيتروجين (+8012)؛ أيون المنجنيز (MN2+) أيون الحديدي (+62)؛ أيون الكوبالت ((Co2+) أيون البالديوم (+002)؛ أيون الجرمانيوم (Ge2+) أيون القصدير (5027)؛ أيون «(Pb2+) aba) أيون القصدير (5027)؛ أيون الايتربيوم (YB2+) وأيون الأوربيوم (+602). يمكن اختيار الكاتيون الثاني من أيون القصدير (SN2+4) أيون البالديوم (+002) و أيون النحاس (+602). dale يتم اختيار الكاتيون الثاني من أيون القصدير +502 ٠ وأيون البالديوم (+Pd2) تكون أنيون مختار من ل -ان Br- و- ol ,Cs+ KA xX’ تكون أنيون مختار من ل -ان Br- و-ا 9% CAAA
-م4- X و ”)ل تكونا متشابهتين أو مختلفتين. يمكن أن ينتج ترسيب البخار المزدوج باستخدام هذه المواد المتفاعلة طبقات من بروفسكيت بالصيغة (IB) كما هو مُعرّف فيما سبق؛ على سبيل المثال 0550863. على نحو بديل؛ يمكن إنتاج CsSNBr3-yly (حيث لا تكون كما هو معرٌّف في الصيغة || السابقة). © يسمح ترسيب البخار المزدوج بتقنين معدل التبخير (الموضح هنا بالأنجستروم لكل ثانية) من كل مكون؛ وبالتالي يؤدي الأمر إلى ترسيب أكثر تقنيئًا. (Bans يكون معدل التبخير الخاص بالمادة المتفاعلة الأولى (اختياريًا المشتملة على كاتيون فلز) من ١.١ إلى ٠١ أنجستروم / ثانية؛ أو من ١ إلى © أنجستروم / ثانية ويكون معدل التبخير الخاص بالمادة المتفاعلة الثانية (اختياريًا المشتملة على كاتيون عضوي) من ١ إلى ٠١0 أنجستروم / ثانية أو من ١ إلى ٠١ أنجستروم / ٠ ثانية. يمكن التحكم في مقدار البروفسكيت المترسب عن طريق تغيير مقدار الزمن الذي يتم تفعيل الترسيب له. cia يمكن إجراء ترسيب البخار (إما في الحالات ذات المصدر الفردي أو الحالات مزدوجة المصادر) لمدة من © إلى 60 دقيقة أو من ٠١ إلى £0 دقيقة. سيعتمد زمن الترسيب على معدل التبخير المستخدم. (We يتم تفضيل مقدار زائد من المكون الثاني؛ ويمكن أن تبلغ النسبة المولارية الخاصة بالمادة المتفاعلة الأولى والمادة المتفاعلة الثانية المترسبة من ١ : ١ إلى 11:١ Ye أو من ١ : ؟؛ إلى NTs) يمكن إيقاف ترسيب البخار عندما يتم الحصول على Ss الطبقة المرغوب فيه. يتم بشكل عام إجراء ترسيب البخار في غرفة بضغط يبلغ أقل من 000٠ باسكال؛ على سبيل المثال أقل من 0000801 باسكال. fale ما تشتمل الخطوة الخاصة بوضع المنطقة الثانية على المنطقة الأولى عن طريق ترسيب البخار بشكل إضافي على: (7) تسخين الطبقة الصلبة من ٠ البروفسكيت المنتج. fale ما تشتمل الخطوة الخاصة بتسخين الطبقة الصلبة من البروفسكيت على تسخين الطبقة الصلبة من البروفسكيت في جو خامل. نمطيًاء لا تتجاوز درجة الحرارة التي عندها يتم تسخين الطبقة الصلبة من البروفسكيت ١560 درجة مثوية. (Jilly يمكن تسخين الطبقة الصلبة من البروفسكيت عند درجة حرارة تبلغ من Tr درجة Asie إلى ١5١0 درجة مئوية؛ ويُفضل أن يتم ovvy
التسخين عند درجة حرارة تبلغ من 50 درجة مثوية إلى ٠١١ درجة مثوية. يمكن تسخين الطبقة الصلبة من البروفسكيت عند درجة الحرارة المذكورة حتى يكون لها الخصائص شبه الموصلة المرغوب فيها. عادةً؛ يتم تسخين الطبقة الصلبة من البروفسكيت sad على الأقل ١0 دقيقة؛ يُفضل لمدة على الأقل ١ ساعة. في بعض zal يتم تسخين الطبقة الصلبة من البروفسكيت 0 حتى يتم الحصول على الخصائص شبه الموصلة المرغوب clad التي يمكن قياسها بواسطة الطرق الروتينية لقياس الموصلية والمقاومية. يتم في بعض الحالات تسخين الطبقة الصلبة من البروفسكيت حتى تتم ملاحظة تغير في اللون؛ يدلل التغير في اللون على أنه تم الحصول على الخصائص شبه الموصلة المرغوب فيها. في Alla البروفسكيت ا©0113111135512؛ يكون التغير
في اللون Glass من الأصفر إلى البني.
٠ يمكن ترسيب المنطقة الثانية على المنطقة الأولى بواسطة طريقة مشتملة على وضع طبقة صلبة من مركب أول (مادة منتجة لبروفسكيت أولى) على المنطقة الأولى؛ ثم معالجة الطبقة المترسبة بمحلول من مركب ثان (مادة منتجة لبروفسكيت ثانية). يمكن الإشارة إلى هذا باعتباره "الطريقة ذات الخطوتين”. يمكن ترسيب الطبقة الصلبة من sale منتجة لبروفسكيت أولى عن طريق الترسيب في وسط خوائي. ثم تتم معالجة هذه الطبقة الصلبة بمحلول من مادة منتجة لبروفسكيت ثانية. بعد
١ ذلك تتفاعل sald) المنتجة الثانية في المحلول مع الطبقة الصلبة الموجودة من المادة المنتجة للبروفسكيت الأولى لإنتاج طبقة صلبة من البروفسكيت. يمكن معالجة الطبقة الصلبة من محلول مادة منتجة لبروفسكيت أولى باستخدام محلول مشتمل على المادة المنتجة للبروفسكيت الثانية؛ على سبيل المثال عن طريق غمس الطبقة الصلبة من مادة منتجة لبروفسكيت أولى في محلول مشتمل على sald) المنتجة للبروفسكيت الثانية. يمكن Wall معالجة الطبقة الصلبة من مادة منتجة
٠ البروفسكيت أولى عن طريق وضع المحلول المشتمل على sald) المنتجة للبروفسكيت الثانية على الطبقة الصلبة من المادة المنتجة للبروفسكيت الأولى. تكون المادة المنتجة للبروفسكيت الأولى عبارة عن مركب أول مشتمل على )١( كاتيون أول (Y)s أنيون أول وتكون المادة المنتجة للبروفسكيت الثانية عبارة عن مركب ثان مشتمل على )١( كاتيون ثان و(7) أنيون ثان. Bale ما تكون الكاتيونات الأول والثاني كما هو معرّف في هذا الطلب
CAAA
_ \ a= للبروفسكيت؛ ويمكن أن تكون الأنيونات الأول والثاني متشابهين أو مختلفين ويمكن أن تكون كما هو معرّف في هذا الطلب للأنيونات الأول والثاني. في أحد النماذج؛ تشتمل الخطوة الخاصة ب (ب) وضع المنطقة الثانية على المنطقة الأولى على: تعريض المنطقة الأولى إلى بخارء يشتمل هذا البخار على مركب منتج للبروفسكيت أول؛ )١( والسماح بترسيب البخار على المنطقة الأولى؛ لإنتاج طبقة صلبة من المركب المنتج للبروفسكيت © الأول عليها؛ و معالجة الطبقة الصلبة الناتجة من المركب المنتج للبروفسكيت الأول باستخدام محلول مشتمل (Y)
Sly وبالتالي تفاعل المركبات المنتجة للبروفسكيت الأول (of على مركب منتج للبروفسكيت لإنتاج الطبقة المذكورة من المادة شبه الموصلة من البروفسكيت بدون مسام مفتوحة, حيث ٠ كاتيون أول و(١) أنيون أول ويشتمل المركب )١( يشتمل المركب المنتج للبروفسكيت الأول على أنيون ثان. (Y)5 كاتيون ثان )١( المنتج للبروفسكيت الثاني على يمكن أن يكون الكاتيون الأول, الأنيون الأول الكاتيون الثاني والأنيون الثاني كما هو مؤصف في أي مكان في هذا الطلب للبروفسكيت. في بعض الحالات؛ سيكون الكاتيون الأول هنا عبارة عن كاتيون فلز. في بعض الحالات سيكون VO الكاتيون الثاني هنا عبارة عن كاتيون عضوي. بناءً على ذلك؛ يمكن أن يشتمل المركب الأول على كاتيون عضوي و(7) )١( كاتيون فلز و(7) أنيون أول؛ ويمكن أن يشتمل المركب الثاني على )١( أنيون ثان. يُفضل أن يكون كاتيون الفلز عبارة عن كاتيون فلز ثنائي التكافؤ. على سبيل المثال؛ أيون (Ca2+) يمكن أن يكون كاتيون الفلز عبارة عن كاتيون مختار من أيون الكالسيوم (Ni2+) سترونتيوم (522)؛ أيون الكاديون (+602)؛ أيون النحاس (+602)؛ أيون النيتروجين Yo أيون الحديدي (+62)؛ أيون الكوبالمن هذه الكاتيونات؛ من المفضل (MN2+) أيون المنجنيز .)+502( أن يكون كاتيون الفلز ثنائي التكافؤ هو +062 أو أيون القصدير ovvy
٠ \ —_ \ _ يمكن أن تكون الأنيونات الأول والثاني؛ التي قد تكون متشابهة أو مختلفة؛ عبارة عن أية أنيونات؛ ولكن يتم laa اختيارها من أيونات هاليد (على سبيل المثال؛ فلوريد؛ كلوريد؛ بروميد ويوديد) أو أيونات كالكوجنيد (على سبيل المثال؛ سلفيد؛ سيلينيد وتيلوريد). غالبًا؛ سيكون البروفسكيت المنتج عبارة عن بروفسكيت من هاليد مختلط أو كالكوجنيد مختلط 0 وتكون الأنيونات الأول والثاني عبارة عن أنيونات مختلفة مختارة من أيونات هاليد أو أيونات كالكوجنيد. يُفضل أن تكون الأنيونات الأول والثاني عبارة عن أنيونات هاليد. Glas تكون الأنيونات الأول والثاني عبارة عن أنيونات مختلفة مختارة من أنيونات هاليد. على سبيل المثال؛ يمكن أن يكون الأنيون الأول والأنيون الثاني عبارة عن واحد من الأزواج التالية باعتبارها (الأنيون الأول : الأنيون ٠ - الثاني) : (فلوريد : كلوريد)؛ (كلوريد : فلوريد)؛ (فلوريد : بروميد)؛ (بروميد : فلوريد)؛ (فلوريد : (as (يوديد : فلوريد)؛ (كلوريد : بروميد)؛ (بروميد : كلوريد)؛ (كلوريد : يوديد)؛ (يوديد : كلوريد)؛ (بروميد : يوديد) أو (يوديد : بروميد). يمكن اختيار الكاتيون العضوي من ((R5NH3)+ (RIR2R3RAN)+ أر (RSRON=CH- NRTR8)+ حيث من RT إلى R8 يمكن أن تكون كما هو مُعرّف فيما سبق. (lle ١ يكون للمركب الأول الصيغة BX2 ويكون للمركب الثاني الصيغة (AX حيث 8 تكون كاتيون مختار من (Ca2+ +2اي (Cu2+ (Cd2+ قال +2ملل (Fe2+ +02 +202 +662 +502 أيون البالديوم «(+Pd2) +752 و+2ناط؛ تكون أنيون مختار من ل -ان Br- و- ol A تكون كاتيون بالصيغة ((RSNH3)+ حيث: RS تكون هيدروجين؛ أو C20 - 61 ألكيل به ٠ استبدال أو ليس به استبدال, xX’ تكون أنيون مختار من ل -ان Br- و-ا 9% X75 X تكون عبارة عن أنيونات متشابهة أو مختلفة. CAAA
١ يمكن اختيار المركب المنتج للبروفسكيت الأول من فلوريد رصاص؛ كلوريد رصاص؛ (le فلوريد قصدير؛ كلوريد قصدير؛ بروميد قصدير؛ أو يوديد alia) يوديد (pala) بروميد يتم اختيار المركب المنتج lle يكون كلوريد رصاص أو يوديد رصاص. Bhat. aad للبروفسكيت الثاني من فلوريد ميثيل أمونيوم؛ كلوريد ميثيل أمونيوم؛ بروميد ميثيل أمونيوم؛ يوديد ميثيل أمونيوم؛ فلوريد إيثيل أمونيوم؛ كلوريد إيثيل أمونيوم؛ بروميد إيثيل أمونيوم؛ أو يوديد إيثيل © . يكون يوديد ميثيل أمونيوم (Ghai ٠ أمونيوم يتم السماح باستمرار ترسيب البخار من المركب المنتج للبروفسكيت الأول حتى يكون (Glas نانو متر ٠١ مرغوب فيه؛ على سبيل المثال مك يبلغ من dle للطبقة الصلبة من المركب الأول ميكرو متر. يُفضل؛ يتم ٠١ نانو متر إلى ٠١ ميكرو متر؛ أو بصورة أكثر نمطية من ٠٠١ إلى Ov يبلغ من dh السماح باستمرار ترسيب البخار حتى يكون للطبقة الصلبة من المركب الأول ٠ نانو متر. على 70١ نانو متر إلى ٠٠١ نانو مترء أو على سبيل المثال من ٠٠٠١ نانو متر إلى ٠٠١0 نانو متر إلى ٠٠١ سبيل المثال؛ يمكن الاستمرار في الترسيب حتى يتم ترسيب تقريبًا من نانو متر من المركب الأول على المنطقة الأولى. يمكن أن يستمر ترسيب البخار حتى يكون للطبقة الصلبة من المركب المنتج للبروفسكيت الأول نانو متر. 70١8 نانو متر إلى ٠٠١ ميكرو متر أو من ٠٠١ نانو متر إلى ٠٠١ يبلغ من elds 5 أنجستروم / ثانية؛ أو من ٠١ إلى ١.١ يمكن أن يكون معدل التبخير الخاص بالمركب الأول من إلى 5 أنجستروم / ثانية. يتم إجراء ترسيب البخار بشكل عام في غرفة بضغط يبلغ أقل من ١ باسكال. قد تبلغ درجة الحرارة التي eens) باسكال؛ على سبيل المثال أقل من 8600 درجة You درجة مئوية؛ أو من ٠0٠0 درجة مئوية إلى Yoo يتم ترسيب المركب الأول من baie درجة مئوية. to. مثوية إلى ٠ نمطيّاء تشتمل الخطوة )7( الخاصة بتعريض الطبقة الصلبة الناتجة من المركب الأول إلى محلول مشتمل على مركب ثان للسماح بتكوين المنطقة الثانية على غمس الطبقة التحتية المشتملة على الطبقة الصلبة من المركب الأول في المحلول المشتمل على المركب الثاني لوقت كافي لتكوين المنطقة الثانية؛ أي؛ الطبقة الخاصة ببروفسكيت شبه موصل بدون مسام مفتوحة. يمكن أن تشتمل
CAAA
٠ ".- \ _ الخطوة (3) على غمس الطبقة التحتية المشتملة على الطبقة الصلبة من المركب الأول في المحلول المشتمل على المركب الثاني لمدة من ١ إلى ٠١0 دقيقة؛ أو من © إلى ١١5 دقيقة. يمكن الإشارة إلى غمس الطبقة التحتية المشتملة على الطبقة الصلبة من المركب الأول في المحلول المشتمل على المركب الثاني باعتباره طلاء بالغمس. © يشتمل المحلول المشتمل على المركب المنتج للبروفسكيت الثاني على مذيب والمركب الثاني.
يمكن أن يكون المذيب عبارة عن أي مذيب معرّف في هذا الطلب. يمكن أن يكون المذيب عبارة عن داي ميثيل فورماميد؛ إيثانول أو أيزو بروبانول. يمكن أن يكون المذيب عبارة عن أيزو بروبانول. يمكن أن يكون تركيز المركب الثاني في المذيب من © إلى 5٠ مجم / مل أو من ٠١ إلى ١ مجم Jef
٠ - بعد تعريض الطبقة الصلبة الناتجة من المركب المنتج للبروفسكيت الأول إلى محلول مشتمل على مركب ثان للسماح بتكوين المنطقة الثانية (على سبيل المثال عن طريق الطلاء بالغمس)؛ يمكن تلدين الطبقة التحتية. على سبيل JE يمكن تسخين الطبقة التحتية عند من 80 درجة مئوية إلى ٠ درجة مئوية أو من ٠٠١ درجة مئوية إلى ١٠5١ درجة مئوية. يمكن تسخين الطبقات التحتية لمدة من ١ إلى ٠0 دقيقة؛ أو من © إلى ١١5 دقيقة. يمكن تلدين الطبقات التحتية في جو من
٠5 . النيتروجين. يمكن استخدام طرق الترسيب بمحلول لترسيب المنطقة الثانية على المنطقة الأولى. وبالتالي؛ في بعض النماذج؛ تشتمل الخطوة الخاصة ب (ب) وضع المنطقة الثانية على المنطقة الأولى على: )١( وضع واحد أو أكثر من محاليل sold) المنتجة على المنطقة الأولى؛ يشتمل الواحد أو أكثر من محاليل sald) المنتجة هذا على: البروفسكيت المذكور المذاب في مذيب؛ أو واحدة أو أكثر من
٠ المواد المتفاعلة لإنتاج البروفسكيت المذكور المذاب في واحد أو أكثر من المذيبات؛ و (Y) إزالة الواحد أو أكثر من المذيبات لإنتاج على المنطقة الأولى طبقة صلبة من البروفسكيت. مرة أخرى؛ يمكن أن يكون البروفسكيت Ble عن أي من مواد البروفسكيت التي تمت مناقشتها في هذا lhl) من قبل للجهاز الإلكتروني البصري الخاص fall ويكون Bad بروفسكيت بالصيغة (ا)؛ (IA) أو )11( كما هو معرّف فيما سبق في هذا الطلب.
ovvy
٠ _ \ _ (Kay lay أن تشتمل الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة لإنتاج البروفسكيت المذكور على أنواع المادة المتفاعلة التي تمت مناقشتها فيما سبق للعملية الخاصة بتخليق مركبات البروفسكيت. وبالتالي؛ يمكن أن تشتمل الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة على: 0 مركب أول مشتمل على ) ١ ( كاتيون أول و ) Y ( أنيون Js ¢ و © (ب) مركب ثان مشتمل على )١( كاتيون ثان و(١) أنيون ثان؛
كما هو معرّف فيما سبق في هذا الطلب للعملية لإنتاج مركب البروفسكيت المستخدم في الجهاز بشكل أكثر تحديدًا؛ يمكن أن تشتمل الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة على: (أ) مركب أول مشتمل على )١( كاتيون فلز و(7) أنيون أول؛ مع
Vo (ب) مركب ثان مشتمل على )١( كاتيون عضوي و(7) أنيون ثان؛ حيث تكون الأنيونات الأول والثاني عبارة عن أنيونات مختلفة مختارة من أنيونات هاليد أو أنيونات كالكوجنيد؛ كما هو معرّف فيما سبق في هذا الطلب للعملية لإنتاج مركب البروفسكيت المستخدم في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع. يمكن أن يكون الكاتيون العضوي كما هو معرّف Lad سبق في هذا الطلب للعملية لإنتاج البروفسكيت.
Vo على سبيل (JB يمكن أن تشتمل الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة على: (أ) مركب أول مشتمل على )١( كاتيون فلز و(7) أنيون هاليد أول؛ مع (ب) مركب ثان مشتمل على )١( كاتيون عضوي و(١) أنيون هاليد ثان؛ حيث تكون أنيونات الهاليد الأول SBI عبارة عن أنيونات alle مختلفة؛ كما هو معرّف فيما سبق في هذا الطلب للعملية لإنتاج مركب البروفسكيت المستخدم في الجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع.
A) على سبيل JE عندما يكون البروفسكيت الذي يتم ترسيبه هو «CH3NH3PbI2CI تشتمل الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة نمطيًا على )7( يوديد البالديوم PbI2 و(ب) .CH3NH3CI
ovvy
مج \ _ (Glas تشتمل الخطوة الخاصة ب (ب) وضع المنطقة الثانية على المنطقة الأولى على: )١( وضع محلول sale منتجة على المنطقة الأولى؛ يشتمل محلول sald) المنتجة هذا على A) (Y) المذيب لإنتاج على المنطقة الأولى طبقة صلبة من البروفسكيت. يمكن أن يكون البروفسكيت عبارة عن أي من مواد البروفسكيت التي تمت مناقشتها في هذا الطلب من قبل للجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ ويكون Ghai بروفسكيت بالصيغة (I) (IA) أو (ال) كما هو معرّف Led سبق في هذا الطلب. dale تشتمل الخطوات الخاصة ب )١( وضع محلول مادة منتجة على المنطقة الأولى» و() إزالة المذيب؛ على الطلاء المغزلي أو الطلاء بخضاب من خلال شق لمحلول أو محاليل المادة المنتجة Ys على المنطقة الأولى؛ لإنتاج على المنطقة الأولى الطبقة الصلبة المذكورة من البروفسكيت. نمطيًّاء يتم إجراء عملية الطلاء المذكورة في جو TEMES على سبيل المثال في جو من النيتروجين . dae ما يتم إجراء الطلاء المغزلي عند سرعة تبلغ من ٠٠٠١ إلى Youn لفة في الدقيقة. يتم نمطيًا إجراء الطلاء المغزلي AW من Ye ثانية إلى Y دقيقة. يمكن ترسيب محلول أو محاليل المادة المنتجة عن طريق الطلاء المغزلي على المنطقة الأولى Vo الإنتاج على المنطقة الأولى الطبقة الصلبة المذكورة من البروفسكيت. يتم إجراء الخطوات الخاصة بوضع محلول أو محاليل المادة المنتجة على المنطقة الأولى وازالة المذيب أو المذيبات حتى يكون للطبقة الصلبة من البروفسكيت dd مرغوب cad على سبيل المثال نمك يبلغ من ٠١ نانو متر إلى ٠٠١ ميكرو Jie بصورة أكثر نمطية من ٠١ نانو متر إلى ٠١ ميكرو متر. على سبيل المثال؛ يمكن إجراء الخطوات الخاصة بوضع محلول أو محاليل ٠ المادة المنتجة على المنطقة الأولى وإزالة المذيب أو المذيبات حتى يكون للطبقة الصلبة من البروفسكيت eld يبلغ من ٠٠ نانو متر إلى ٠٠٠١ نانو مترء أو على سبيل المثال من ٠٠١ gl متر إلى 70١0 نانو متر. ovvy
_ \ ٠ h —_
يمكن إجراء الخطوات الخاصة بوضع محلول أو محاليل المادة المنتجة على المنطقة الأولى وإزالة
المذيب أو المذيبات حتى يكون للطبقة الصلبة من البروفسكيت eld يبلغ من ٠٠١ نانو متر إلى
٠ ميكرو مترء أو من ٠٠١ نانو متر إلى 70١6 نانو متر.
dale ما تشتمل الخطوة الخاصة بوضع المنطقة الثانية على المنطقة الأولى (عن طريق ترسيب
© محلول) بشكل إضافي على: (7) تسخين الطبقة الصلبة من البروفسكيت المنتج.
fale ما تشتمل الخطوة الخاصة بتسخين الطبقة الصلبة من البروفسكيت على تسخين الطبقة
الصلبة من البروفسكيت في جو خامل. نمطيّاء لا تتجاوز درجة الحرارة التي عندها يتم تسخين
الطبقة الصلبة من البروفسكيت ١5١0 درجة مئوية. وبالتالي؛ يمكن تسخين الطبقة الصلبة من
البروفسكيت عند درجة حرارة تبلغ من Vo درجة Audie إلى ٠50 درجة مئوية؛ ويُفضل أن يتم ٠ تشسخين عند درجة حرارة تبلغ من 5٠0 درجة مثوية إلى ٠١١ درجة مثوية. يمكن تسخين الطبقة
الصلبة من البروفسكيت عند درجة الحرارة المذكورة حتى يكون لها الخصائص شبه الموصلة
المرغوب فيها. عادةً؛ يتم تسخين الطبقة الصلبة من البروفسكيت sad على الأقل ١0 دقيقة؛
يُفضل لمدة على الأقل ١ ساعة. في بعض النماذج؛ يتم تسخين الطبقة الصلبة من البروفسكيت
حتى يتم الحصول على الخصائص شبه الموصلة المرغوب clad التي يمكن قياسها بواسطة الطرق Ve الروتينية لقياس الموصلية والمقاومية. يتم في بعض الحالات تسخين الطبقة الصلبة من
البروفسكيت حتى تتم ملاحظة تغير في اللون؛ يدلل التغير في اللون على أنه يتم الحصول على
الخصائص شبه الموصلة المرغوب فيها. في Alla البروفسكيت ا©0113111135512؛ يكون التغير
في اللون Glass من الأصفر إلى البني.
في بعض النماذج الخاصة بالعملية الخاصة بالاختراع lo) سبيل المثال؛ عندما لا يكون ٠ بالمنطقة المتفاعلة Gian الخاصة بالجهاز التي يتم إنتاجها مادة دعم مؤقتة)؛ تتكون المنطقة
الثانية من الطبقة المذكورة من شبه الموصل من البروفسكيت المذكور بدون مسام مفتوحة.
في نموذج AT من العملية الخاصة بالاختراع» مع ذلك؛ تشتمل المنطقة المتفاعلة ضوئيًا المذكورة
على:
المنطقة من النوع N المذكورة؛
CAAA
٠ 7 _ \ _ المنطقة من النوع 0 المذكورة؛ و؛ يتم فيما بين المنطقة من Ng all والمنطقة من النوع م0 وضع: daha ( ١ ) أولى تشتمل على مادة د عم مؤقتة ومادة شبه موصلة من البروفسكيت ؛و (Y) طبقة تغطية موضوعة على الطبقة الأولى المذكورة؛» حيث تكون طبقة التغطية هي الطبقة المذكورة من مادة شبه Alia ge من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ © حيث تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في طبقة التغطية في Alla تلامس مع المادة شبه
الموصلة من البروفسكيت في الطبقة الأولى؛ ون تشتما ( | لعملية على: (أ) توفير المنطقة الأولى المذكورة؛ (ب) وضع المنطقة الثانية المذكورة على المنطقة الأولى» حيث تشتمل المنطقة الثانية على:
daha ( ١ ) Yo أولى تشتمل على مادة د عم مؤقتة ومادة شبه موصلة من البروفسكيت 3 و (V) طبقة تغطية على الطبقة الأولى المذكورة؛. حيث تكون طبقة التغطية هي الطبقة المذكورة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ حيث تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في طبقة التغطية في حالة تلامس مع المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في الطبقة الأولى؛ و
VO (ج) وضع المنطقة الثالثة المذكورة على المنطقة الثانية. بشكل عام؛ تكون مادة الدعم المؤقتة مسامية وتشتمل الطبقة الأولى المذكورة على شبه موصل من البروفسكيت المذكور موضوع في مسام مادة الدعم المؤقتة. وبالتالي؛ نمطيًا ¢ في هذا النموذج؛ تشتمل الخطوة الخاصة ب (ب) وضع المنطقة الثانية المذكورة على المنطقة الأولى على: (V) وضع مادة دعم مؤقتة على المنطقة الأولى؛ و
(Y) ٠٠ وضع البروفسكيت المذكور في مسام مادة الدعم المؤقتة من أجل إنتاج الطبقة الأولى المذكورة ووضع بشكل إضافي البروفسكيت المذكور على الطبقة الأولى لإنتاج طبقة التغطية المذكورة.
CAAA
م ٠ \ _ dale يتم إجراء "وضع البروفسكيت المذكور في مسام مادة الدعم المؤقتة واوضع بشكل إضافي" البروفسكيت المذكور على الطبقة الأولى Ge في خطوة فردية؛ على سبيل JB عن طريق ترسيب محلول الخطوة أو عن طريق ترسيب البخار. نمطيًا يتم إجراؤهما عن طريق ترسيب محلول. (Gla تشتمل الخطوة )١( الخاصة بوضع مادة دعم مؤقتة على المنطقة الأولى على: © وضع تركيبة مادة دعم مؤقتة على المنطقة الأولى؛ تشتمل تركيبة مادة الدعم المؤقتة هذه على sake الدعم المؤقتة؛ واحد أو أكثر من المذيبات؛ واختياريًا عامل ربط؛ و إزالة الواحد أو أكثر من المذيبات و؛ عند وجوده؛ عامل الربط. نمطيًا يكون عامل الربط عبارة عن بوليمر عامل ربط؛ مثل؛ على سبيل المثال؛ إيثيل سيليلوز. تشتمل هذه اللخطوة نمطيًا على الطباعة من شاشة؛ تركيب النصال الخاصة بالأطباء؛ الطلاء ٠ بخضاب من خلال شق أو الطلاء المغزلي تركيبة مادة الدعم المؤقتة على المنطقة الأولى. يتم نمطيًا تسخين الأغشية الرقيقة لاحقًاء إما وصولاً إلى درجة حرارة تبلغ حوالي 5٠٠ درجة مئوية (وعادةً ما يتم الحفاز عليها sad حوالي 9٠ دقيقة) من أجل تحليل وازالة أي أي عامل ربط من بوليمر موجود (التلبيد عند درجة حرارة عالية)؛ أو؛ في ظل غياب عامل ربط؛ تم تسخينها نمطي وصولاً لحوالي ٠7١ درجة مئوية والحفاظ عليها sad حوالي 0 دقيقة (التلبيد عند dap حرارة VO منخفضة). ثم تم نمطيًا تبريد الطبقات التحتية لترسيب محلول البروفسكيت. وبالتالي؛ تشتمل Sale الخطوة )١( الخاصة بوضع مادة الدعم المؤقتة على المنطقة الأولى بشكل إضافي على تسخين تركيبة مادة الدعم المؤقتة. هناك أمر مهم فيما يتعلق بالمعالجة منخفضة درجة الحرارة لطبقة مادة الدعم المؤقتة متوسطة المسام يكمن في عدم وجود عامل ربط من بوليمر قابل للتحلل حراريًا في عحين بجسيمات بحجم YL النانو أثناء الترسيب. بدلاً ن ذلك؛ يتم ترسيب الجسيمات بحجم النانو من مشتت غراوني في واحد أو أكثر من المذيبات. عند درجات حرارة منخفضة؛ يُعتقد أن الالتصاق فيما بين الجسيمات وبالطبقة التحتية يستمر عن طريق AY) الماء من مجموعات الهيدروكسيد السطحية surface hydroxide groups : ovvy
٠ q —_ \ _ [T.
Miyasaka et al., Journal of the Electrochemical Society, vol. 154, p. A455, 2007]. عرض المخترعون أيضنًا أنه يمكن ضبط المسامية عن طريق خلط اثنين من المذيبات solvents في المشتت dispersion بقيم لزوجة ونقاط غليان مختلفة. © وبالتالي؛ في نموذج مفضل؛ لا تشتمل تركيبة sale الدعم المؤقتة على عامل ربط ولا تتجاوز درجة الحرارة التي عندها يتم تسخين تركيبة مادة الدعم المؤقتة Yoo درجة مثوية. وبالتالي؛ Glas تشتمل الخطوة )١( الخاصة بوضع مادة دعم مؤقتة على المنطقة الأولى على: وضع تركيبة مادة دعم مؤقتة على المنطقة الأولى؛ تشتمل تركيبة sale الدعم المؤقتة هذه على مادة الدعم المؤقتة وواحد أو أكثر من المذيبات؛ و ٠ إزالة الواحد أو أكثر من المذيبات. dale تشتمل الخطوة )١( الخاصة بوضع مادة الدعم المؤقتة على المنطقة الأولى بشكل إضافي على تسخين تركيبة مادة الدعم dnd وصولاً إلى درجة حرارة لا تتجاوز 150 درجة مئوية. نمطيّاء يتم تسخين تركيبة مادة الدعم المؤقتة وصولاً إلى درجة حرارة تبلغ من 60 درجة مئوية إلى dap ٠ مئوية. يتم تسخين تركيبة مادة الدعم المؤقتة وصولاً إلى درجة الحرارة المذكورة لوقت De Yo على سبيل المثال حتى تتم إزالة كل المذيبات. laa يتم تسخين تركيبة مادة الدعم المؤقتة وصولاً إلى درجة الحرارة المذكورة لمدة على الأقل To دقيقة؛. بصورة أكثر نمطية لمدة على الأقل ١ ساعة؛ أو لمدة على الأقل 90 دقيقة. dale يتم إجراء الخطوة )١( الخاصة بوضع sale الدعم المؤقتة على المنطقة الأولى حتى يكون لمادة الدعم المؤقتة التي يتم وضعها على المنطقة الأولى oles مرغوب cad على سبيل المثال elds Yo يبلغ من © نانو ie إلى 50٠0 نانو fle يُفضل من UY متر إلى 700 نانو متر. يمكن أن تكون مادة الدعم المؤقتة المستخدمة في تركيبة مادة الدعم المؤقتة كما هو معرّف فيما سبق للجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع. We تكون sale الدعم المؤقتة المستخدمة عبارة عن التيتانيا أو ألومينا. CAAA
AY
الدعم المؤقتة على خليط sale يمكن أن يشتمل الواحد أو أكثر من المذيبات المستخدمة في تركيبة من اثنين أو أكثر المذيبات بقيم لزوجة ونقاط غليان مختلفة؛ على سبيل المثال خليط من اثنين من المذيبات بقيم لزوجة ونقاط غليان مختلفة. يكون استخدام اثنين أو أكثر المذيبات بقيم لزوجة ونقاط غليان مختلفة مفيدًاء إذ قد عرض المخترعون أنه يمكن ضبط المسامية الخاصة بمادة الدعم المؤقتة الموضوعة على المنطقة الأولى عن طريق تنويع النسبة الخاصة بالاثنين أو أكثر من © المذيبات. يمكن على سبيل المثال أن يشتمل الاثنين أو أكثتر من المذيبات على اثنين أو أكثر من مواد كحولية مختلفة؛ على سبيل المثال اثنين من مواد كحولية مختلفة. وبالتالي؛ على سبيل يمكن أن يشتمل الاثنين أو أكثر من المذيبات على اثنين من المذيبات المختارة من (JE إيثانول؛ بروبانول؛ بيوتانول وتربينيول؛ أو من إيثانول» أيزو - بروبانول؛ ؟ - بيوتانول وتربينيول. الخاصة بوضع البروفسكيت المذكور في مسام مادة الدعم المؤقتة oY) يتم إجراء الخطوة (Ghat ٠ من أجل إنتاج الطبقة الأولى المذكورة ووضع بشكل إضافي البروفسكيت المذكور على الطبقة على سبيل cad مرغوب eles الأولى لإنتاج طبقة التغطية المذكورة حتى يكون لطبقة التغطية يبلغ من ld ميكرو مترء أو بصورة أكثر نمطية ٠٠١ نانو متر إلى ٠١ مثمك يبلغ من JE مترء أو على سبيل sli ٠٠٠١ نانو متر إلى ٠ يُفضل من cle ميكرو ٠١ نانو متر إلى ٠ نانو متر. 7٠0٠9 نانو متر إلى ٠٠١ يبلغ من eld المثال Yo يمكن استخدام طرق الترسيب بمحلول لترسيب البروفسكيت المذكور في مسام مادة الدعم المؤقتة من أجل إنتاج الطبقة الأولى المذكورة ووضع البروفسكيت المذكور الإضافي على الطبقة الأولى في بعض النماذج؛ تشتمل الخطوة (7)؛ الخاصة بوضع oo Jills لإنتاج طبقة التغطية المذكورة. البروفسكيت المذكور في مسام مادة الدعم المؤقتة من أجل إنتاج الطبقة الأولى المذكورة ووضع بشكل إضافي البروفسكيت المذكور على الطبقة الأولى لإنتاج طبقة التغطية المذكورة» على: ٠ وضع واحد أو أكثر من محاليل المادة المنتجة على مادة الدعم المؤقتة؛ يشتمل الواحد أو أكثر من المنتجة هذا على: البروفسكيت المذكور المذاب في مذيب؛ أو واحدة أو أكثر من sald) محاليل المواد المتفاعلة لإنتاج البروفسكيت المذكور المذاب في واحد أو أكثر من المذيبات؛ و ovvy
ARR
إزالة الواحد أو أكثر من المذيبات لإنتاج البروفسكيت الصلب في مسام مادة الدعم المؤقتة وطبقة تغطية صلبة من البروفسكيت موضوعة على الطبقة الأولى. يمكن أن يكون البروفسكيت عبارة عن أي من مواد البروفسكيت التي تمت مناقشتها في هذا الطلب (I) من قبل للجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع؛ ويكون نمطيًا بروفسكيت بالصيغة سبق في هذا الطلب. Led كما هو معرّف (I) (IA) 0 (Kay lay أن تشتمل الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة لإنتاج البروفسكيت المذكور على أنواع المادة المتفاعلة التي تمت مناقشتها فيما سبق للعملية الخاصة بتخليق مركبات البروفسكيت. وبالتالي؛ يمكن أن تشتمل الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة على: 0 مركب أول مشتمل على ) ١ ( كاتيون أول و ) Y ( أنيون Js ¢ و Ve (ب) مركب ثان مشتمل على )١( كاتيون (Y)s ob أنيون ثانء كما هو معرّف فيما سبق في هذا الطلب للعملية لإنتاج مركب البروفسكيت المستخدم في الجهاز بشكل أكثر تحديدًاء يمكن أن تشتمل الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة على: (أ) مركب أول مشتمل على )١( كاتيون فلز و(7) أنيون أول؛ مع Vo (ب) مركب ثان مشتمل على )١( كاتيون عضوي و(١) أنيون ثان؛ حيث تكون الأنيونات الأول والثاني عبارة عن أنيونات مختلفة مختارة من أنيونات هاليد أو أنيونات كالكوجنيد؛ كما هو معرّف فيما سبق في هذا الطلب للعملية لإنتاج مركب البروفسكيت المستخدم على سبيل (JE يمكن أن تشتمل الواحدة أو أكثر من المواد المتفاعلة على: ٠٠ () مركب أول مشتمل على )١( كاتيون فلز و(7) أنيون هاليد أول؛ مع ovvy
-١١١- كاتيون عضوي و(١) أنيون هاليد ثان؛ حيث تكون أنيونات )١( (ب) مركب ثان مشتمل على الهاليد الأول والثاني عبارة عن أنيونات هاليد مختلفة؛ كما هو معرّف فيما سبق في هذا الطلب للعملية لإنتاج مركب البروفسكيت المستخدم في الجهاز تشتمل «CH3NH3PbI2CI على سبيل المثال» عندما يكون البروفسكيت الذي يتم ترسيبه هو 2 و(ب) PbI2 أو أكثر من المواد المتفاعلة نمطيًا على (أ) ليوديد الرصاص saad .CH3NH3CI تشتمل الخطوة (7)؛ الخاصة بوضع البروفسكيت المذكور في مسام مادة الدعم المؤقتة من Glad أجل إنتاج الطبقة الأولى المذكورة ووضع بشكل إضافي البروفسكيت المذكور على الطبقة الأولى على: Sad) الإنتاج طبقة التغطية ٠ يشتمل محلول المادة المنتجة هذا على Asal الدعم ale وضع محلول مادة منتجة على إزالة المذيب لإنتاج البروفسكيت الصلب في مسام مادة الدعم المؤقتة وطبقة تغطية صلبة من البروفسكيت موضوعة على الطبقة الأولى. يمكن أن يكون البروفسكيت عبارة عن أي من مواد البروفسكيت التي تمت مناقشتها في هذا الطلب Vo من قبل للجهاز الإلكتروني البصري الخاص بالاختراع» ويكون نمطيًا بروفسكيت بالصيغة (ا)؛ سبق في هذا الطلب. Led أو (ال) كما هو معرّف (IA) منتجة على مادة الدعم المؤقتة؛ وازالة المذيب Sale تشتمل الخطوات الخاصة بوضع محلول dale أو المذيبات؛ على الطلاء المغزلي أو الطلاء بخضاب من خلال شق لمحلول أو محاليل المادة الدعم المؤقتة؛ لإنتاج البروفسكيت الصلب المذكور في مسام مادة الدعم المؤقتة sale المنتجة على ٠ sha) يتم (ast وطبقة التغطية الصلبة المذكورة من البروفسكيت الموضوعة على الطبقة الأولى. عملية الطلاء في جو خامل؛ على سبيل المثال في جو من النيتروجين. يمكن إجراء الطلاء ovvy
-7؟١- المغزلي على سبيل المثال عند سرعة تبلغ من ٠٠٠١ إلى ٠008١ لفة في الدقيقة. الطلاء المغزلي يتم نمطيًا إجراء لمدة من 5١0 ثانية إلى ؟ دقيقة. يتم إجراء الخطوات الخاصة بوضع محلول أو محاليل المادة المنتجة على مادة الدعم المؤقتة وإزالة المذيب أو المذيبات حتى يكون لطبقة التغطية الصلبة من البروفسكيت لمك مرغوب فيه؛ على
0 سبيل المثال مك يبلغ من ٠١ نانو متر إلى ٠٠١ ميكرو مترء أو بصورة أكثر نمطية من ٠١ نانو متر إلى ٠١ ميكرو مترء off على سبيل dla من glo متر إلى SB ٠٠٠١ مترء يُفضل من ٠٠١ نانو متر إلى 0١0 نانو متر. dale تشتمل الخطوة الخاصة ب (ب) وضع المنطقة الثانية المذكورة على المنطقة الأولى بشكل إضافي على: () تسخين البروفسكيت.
٠ عادةً ما تشتمل الخطوة الخاصة بتسخين البروفسكيت على تسخين البروفسكيت في جو خامل؛ على سبيل JB في جو من النيتروجين. نمطيّاء لا تتجاوز درجة الحرارة التي عندها يتم تسخين البروفسكيت ١5١ درجة مثوية. وبالتالي» يمكن تسخين البروفسكيت عند درجة حرارة تبلغ من Vo درجة مئوية إلى ١٠5١ درجة مئوية؛ ويُفضل أن يتم تسخينه عند درجة حرارة تبلغ من 50 درجة مثوية إلى ٠١١ درجة مثوية. يمكن تسخين البروفسكيت عند درجة الحرارة المذكورة حتى يكون لها
Vo يتم تسخين البروفسكيت لمدة على الأقل dale الخصائص شبه الموصلة المرغوب فيها. ١5 ساعة. في بعض النماذج؛ يتم تسخين البروفسكيت حتى يتم ١ دقيقة؛ يُفضل لمدة على الأقل التي يمكن قياسها بواسطة الطرق الروتينية ded الحصول على الخصائص شبه الموصلة المرغوب لقياس الموصلية والمقاومية. يتم في بعض الحالات تسخين البروفسكيت حتى تتم ملاحظة تغير في اللون؛ يدلل التغير في اللون على أنه قد تم الحصول على الخصائص شبه الموصلة المرغوب
٠ فيهاء في حالة البروفسكيت ا0113180113505126؛ يكون التغير في اللون نمطيًا من الأصفر إلى البني. dale في العملية الخاصة بالاختراع لإنتاج جهاز إلكتروني بصري يتم وضع المنطقة الأولى على إلكترود أول. أي؛ عادةً ما يتم وضع المنطقة الأولى بالفعل على إلكترود أول.
CAAA
-١٠؟- يمكن أن تشتمل العملية الخاصة بالاختراع لإنتاج جهاز إلكتروني بصري؛ مع ذلك؛ بشكل إضافي على خطوة ل: وضع المنطقة الأولى على إلكترود أول. يتم إجراء هذه الخطوة بشكل عام قبل الخطوة الخاصة بوضع المنطقة الثانية على المنطقة الأولى. 0 تكون الإلكترودات الأول والثاني عبارة عن آنود وكاثود؛ يكون واحد منهما أو كلاهما Glas للسماح بدخول الضوء. يمكن أن يعتمد اختيار الإلكترودات الأول والثاني على نوع البنية. نمطيّاء يكون الإلكترود الأول الذي يتم وضه المنطقة الثانية عليه عبارة عن أكسيد قصدير» بصورة أكثر نمطية أكسيد قصدير مشاب بالفلورين Sale (FTO) ما يكون sale شفافة أو شبه شفافة. وبالتالي؛ dale ما يكون الإلكترود الأول Blas أو شبه شفاف ونمطيًا يشتمل أكسيد قصدير Clie A بالفلورين Gale FTO يكون سلمك الإلكترود الأول من Yeu نانو متر إلى ٠ تأنو مترء بصورة أكثر اعتيادية من ٠٠١ إلى Ou نانو متر. على سبيل المثال قد يبلغ الملمك 5660 نانو متر. نمطيّاء يتم طلاء أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO على لوح من الزجاج. (dle يتم تنميش الزجاج المطلي بألواح رقيقة من FTO باستخدام مسحوق زنك وحمض لإنتاج نموذج الإلكترود المطلوب. Sale ما يكون الحمض هو حمض الهيدروكلوريك ا16. We يبلغ تركيز ٠ حمض الهيدروكلوريك ا10ا. حوالي 7 مولار. نمطيًّاء يتم تنظيف الألواح الرقيقة ثم fale ما تتم معالجتها في جو من بلازما الأكسجين لإزالة أية مواد متبقية عضوية. dale تون المعالجة في جو من بلازما الأكسجين لمدة أقل من أو تساوي ١ ساعة؛ نمطيًا حوالي © دقائق. يمكن أن تكون الإلكترودات الأول والثاني كما هو مؤصف في أي مكان في هذا الطلب من odd على سبيل المثال يمكن أن يشتمل الإلكترود الأول على أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO الإنديوم أكسيد Yo قصدير ITO أو أكسيد قصدير مشاب بألومنيوم AZO تشتمل الخطوات الخاصة بوضع المنطقة الأولى على إلكترود أول ووضع المنطقة الثالثة على المنطقة الثانية على ترسيب المناطق من النوع م ومن النوع 10 أي؛ ترسيب الواحدة أو أكثر من الطبقات من النوع 0 وترسيب الواحدة أو أكثر من الطبقات من النوع 0. قد تكون المناطق من
CAAA
-ه١١- النوع © ومن ng sill والواحدة أو أكثر من الطبقات من النوع | والواحدة أو أكثر من الطبقات من النوع an كما هو Cajal بشكل إضافي Led سبق في هذا الطلب. يمكن؛ على سبيل (JB أن تشتمل الخطوة الخاصة بترسيب طبقة من مركب غير عضوي من نوع 0 أو من نوع ١ على ترسيب الطبقة عن طريق الطلاء المغزلي أو عن طريق الطلاء بخضاب © .من خلال شق لمركب أو مادة منتجة cal أو عن طريق التحليل المائي بالرش. على سبيل المثال؛ يمكن إنتاج طبقة مضغوطة من Wl بواسطة الطلاء المغزلي لمحلول (معتدل) من تيتانيوم - أيزو بروبوكسيد حمض في مذيب ملائم؛ مثل إيثانول. يمكن تحضير هذا المحلول عن طريق خلط تيتانيوم أيزو بروبوكسيد وإيثانول لامائي مع محلول من حمض الهيدروكلوريك BHO إيثانول لامائي. بعد الطلاء المغزلي؛ يتم نمطيًا تجفيف الطبقة عند درجة حرارة لا تتجاوز dap Vor مئثوية. اختياريًا؛ تم تسخين الطبقة المضغوطة لاحقًا وصولاً إلى 50٠ درجة مئوية لمدة 9١ دقيقة على طبق ساخن في الهواء. على نحو بديل؛ يمكن إنتاج هذه الطبقة المضغوطة عن Gob الترسيب بالتحليل Sl بالرش. سيشتمل هذا Blasi على ترسيب محلول مشتمل على titanium ale «diisopropoxide bis(acetylacetonate) عند درجة حرارة تبلغ من ٠٠9 إلى ٠٠١0 درجة مئوية؛ Ble عند درجة حرارة تبلغ حوالي +75 درجة مئوية. file يشتمل المحلول على «J sills titanium diisopropoxide bis(acetylacetonate) ١٠ نمطيًا بنسبة من ١ : * إلى ١ ٠0: بصورة أكثر نمطية بنسبة حوالي .٠١ : ١ يمكن تطبيق هذه الطرق على مواد غير عضوية من النوع م أو من النوع © أخرى؛ لإنتاج طبقات من نوع 7 ومن نوع | في الأجهزة الإلكترونية البصرية الخاصة بالاختراع. يمكن تنفيذ ترسيب مادة AB لثقب أو مادة ناقلة لإلكترون عضوية؛ جزيئية؛ أو بوليمرية عن طريق ٠ الطلاء المغزلي لمحلول من المادة في مذيب ملائم. تتم نمطيًا إذابة المادة الناقلة للثقب من النوع م «spiro-OMeTAD على سبيل المثال؛ في كلورو بنزين. Sale يبلغ تركيز spiro— OMeTAD في كلورو بنزين من ١٠5١ إلى YYO مجم / cde بصورة أكثر اعتيادية يبلغ التركيز حوالي VAY مجم / مل. يمكن إضافة مادة إضافة إلى sale ناقلة للتقب أو sale ناقلة لإلكترون. يمكن أن تكون dla) sale على سبيل (Jil عبارة عن «BP (tert-butylpyridine) نا Yo :175 سائل أيوني أو سائل أيوني مع alla مختلط (مركبات هاليد مختلط). بابلا
-١١1- يمكن أن تشتمل العملية الخاصة بالاختراع لإنتاج جهاز إلكتروني بصري بشكل إضافي على: (د) وضع إلكترود ثان على المنطقة الثالثة. يشتمل الإلكترود الثاني على فلز وظيفي عالي التشغيل؛ على سبيل المثال ذهب؛ فضة؛ dale نانو متر إلى ٠٠ يكون مك الإلكترود الثاني من Bale نيكل؛ بالاديوم أو بلاتين؛ ونمطيًا فضة. نانو متر. على سبيل المثال؛ ٠00 نانو متر إلى ٠٠١ مترء بصورة أكثر اعتيادية من sil YOu 0 نانو متر. Yoo قد يبلغ لمك الإلكترود الثاني تشتمل (We وضع الإلكترود الثاني على المنطقة الثالثة عن طريق ترسيب البخار. Ga يتم على وضع غشاء رقيق مشتمل على المادة الناقلة للتقب في of الخطوة الخاصة بإنتاج إلكترود الكترود ثان على ترسيب الإلكترود الثاني من z تشتمل الخطوة الخاصة بإنتا Gale . مبخر حراري خلال قناع إخفا ءِِ في وسط عالي التفريغ. نمطيًا 3 يبلغ الوسط الخوائي حوالي م :يي باسكال. A ٠٠١ إلى ٠٠١ من dd يمكن أن يكون الإلكترود الثاني؛ على سبيل المثال؛ عبارة عن إلكترود نانو متر. ١5١ يكون الإلكترود الثاني عبارة عن إلكترود بسك يبلغ Bad نانو متر. على نحو بديل؛ يمكن أن تكون العملية الخاصة بالاختراع لإنتاج جهاز إلكتروني بصري عبارة عن عملية لإنتاج جهاز إلكتروني بصري معكوس. على ذلك؛ يوفر الاختراع عملية لإنتاج جهاز إلكتروني بصري معكوس يشتمل على منطقة sly Yo متفاعلة ضوئيًا؛ تشتمل المنطقة المتفاعلة ضوئيًا هذه على: منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع 0؛ بين المنطقة من led منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع ©؛ و يتم والمنطقة من النوع 0 وضع: nog gl طبقة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة, ٠ تشتمل هذه العملية على: (أ) توفير منطقة أولى؛ ovvy
-١١- (ب) وضع منطقة ثانية على المنطقة الأولى؛ تشتمل المنطقة الثانية هذه على طبقة من مادة شبه موصلة من بروفسكيت بدون مسام مفتوحة؛ و (ج) وضع منطقة ثالثة على المنطقة الثانية؛ حيث: تكون المنطقة الأولى عبارة عن منطقة من نوع م تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من نوع م ©
Nes وتكون المنطقة الثالثة عبارة عن منطقة من نوع © تشتمل على طبقة واحدة على الأقل من والمنطقة الأولى يتم وضع على إلكترود أول. شفافة أو شبه شفافة. نمطيًّا؛ يشتمل الإلكترود الأول على sale يشتمل الإلكترود الأول على (Gas الإنديوم أكسيد FTO أكسيد موصل شفاف»؛ على سبيل المثال أكسيد قصدير مشاب بالفلورين يفضل يشتمل الإلكترود الأول أكسيد AZ0 أو أكسيد قصدير مشاب بألومنيوم ITO أ قصدير يمكن وضع الإلكترود الأول على طبقة تحتية من الزجاج. (FTO قصدير مشاب بالفلورين aie يمكن أن تكون كل من الخطوات في العملية لإنتاج جهاز إلكتروني بصري معكوس كما هو في أي مكان في هذا الطلب لعملية وفقًا للاختراع لإنتاج جهاز إلكتروني بصري. يمكن أن يكون
By كل من المكونات المستخدمة أو الموجودة في العملية كما هو معرّف لجهاز إلكتروني بصري للاختراع. Vo هو معرّزف في أي مكان في هذا LSP يمكن أن تكون المنطقة الأولى ؛ التي تعتبر منطقة من نوع يمكن .PEDOT:PSS غالبًاء تشتمل المنطقة الأولى على طبقة من .p الطلب لمنطقة من نوع إجراء الترابط التشابكي لجعل المنطقة من النوع م غير قابلة للذوبان بحيث لا تتم إذابتها بشكل جزئي أثناء ترسيب المنطقة الثانية؛ إذا أدت عملية الترسيب إلى كون الطبقة من النوع م مذابة. مرتبط PEDOT:PSS على PEDOT:PSS لهذا تشتمل الطبقة الخاصة ب (lal في بعض Yo
Jie تشابكيًا. يمكن إجراء الترابط التشابكي باستخدام حمض لويس؛ على سبيل المثال كاتيون فلز على سبيل المثال؛ (أ) يمكن أن يشتمل على Mg2+ أو Fe3+ و PEDOT:PSS توفير منطقة أولى مشتملة على طبقة من )١(
CAAA
-١ ١م
(7) معالجة الطبقة باستخدام كلوريد الحديد الثلاثي (8013) Iron(lll) chloride مائي لإنتاج
طبقة من PEDOT:PSS مشتملة على PEDOT:PSS مرتبط تشابكيًا .
يمكن أن تكون المنطقة الثانية؛ تكون منطقة من نوع WSN هو معزف في أي مكان في هذا
lll) لمنطقة من نوع «. غالبًاء تشتمل المنطقة من النوع © على طبقة مضغوطة من شبه © موصل غير عضوي من نوع dN مثل تلك التي تم تعريقها في هذا الطلب. Gas تشتمل المنطقة
من النوع ١ على طبقة مضغوطة من ثاني أكسيد التيتانيوم. في بعض النماذج؛ تشتمل المنطقة من
النوع © بشكل إضافي على طبقة من [60]وصلة غير متجانسة كتلية PCBM
لهذا في بعض النماذج؛ (z) تشتمل على
)١( وضع على المنطقة الثانية طبقة من [60]وصلة غير متجانسة كتلية /681©؛ و
(Y) ٠ وضع على الطبقة الخاصة ب [60]وصلة غير متجانسة كتلية PCBM طبقة مضغوطة من ثاني أكسيد التيتانيوم. في جهاز معكوس؛ يمكن وضع إلكترود ثان على المنطقة الثالثة التي تكون منطقة من نوع 7. Ely على ذلك؛ يمكن أن تشتمل العملية بشكل إضافي على (د) وضع إلكترود ثان على المنطقة الثالثة.
١ ._يمكن ترسيب الإلكترود الثاني بشكل مباشر على المنطقة AE أو يمكن أن تكون بشكل إضافي طبقات متداخلة. cae يكون الإلكترود الثاني في Alla تلامس مع المنطقة الثالثة. يمكن أن يكون الإلكترود الثاني كما هو معرّف في أي مكان في هذا الطلب ونمطيًا يشتمل على فلز. على سبيل Sas ¢ JE أن يشتمل الإلكترود الثاني على ألومنيوم ؛» ذهب؛ فضة نيكل بالاديوم أو بلاتين؛ ونمطيًا ألومنيوم ¢ Aad أو 3 هب. في أحد النماذ z يشتمل | لإلكترود الثاني على (dad ذ هب أو
"٠ ألومنيوم. على سبيل المثال؛ إذا اشتملت المنطقة من النوع © على طبقة مضغوطة من تيتانيوم وطبقة من [60]وصلة غير متجانسة كتلية (PCBM يمكن أن يشتمل الإلكترود الثاني على ألومنيوم. يمكن ترسيب الإلكترود الثاني بواسطة أية تقنية Jie تلك الموصفة في هذا الطلب؛ بالرغم من أنه يتم نمطيًّا وضعه عن طريق الترسيب في وسط خوائي. بناءً على ذلك؛ يمكن ترسيب
SVVY
-١١- الإلكترود الثاني عن طريق الترسيب في وسط خوائي. على نحو بديل؛ يمكن أن تكون العملية الخاصة بالاختراع لإنتاج جهاز إلكتروني بصري عبارة عن عملية لإنتاج جهاز إلكتروني بصري بوصلة ترادفية أو متعدد الوصلات يشتمل بشكل إضافي على: (د) وضع وصلة نفقية على المنطقة الثالثة؛ إضافية على الوصلة النفقية؛ تكون مشابهة ل أو مختلفة عن Wan (ه) وضع منطقة متفاعلة © المنطقة المتفاعلة ضوئيًا المعرّفة فيما سبق في هذا الطلب؛ تكرار الخطوات (د) و(ه)؛ و Glas) (و) (ز) وضع إلكترود ثان على المنطقة المتفاعلة ضوئيًا الإضافية الموضوعة في الخطوة السابقة. للاختراع» يمكن أن تكون المنطقة By في عملية لإنتاج جهاز بوصلة ترادفية أو متعدد الوصلات سبق في هذا الطلب للأجهزة led الإضافية كما هو معرّف في أي مكان Wan المتفاعلة ٠ الإلكترونية البصرية ذات الوصلة الترادفية وفقًا للاختراع. بشكل محدد؛ يمكن أن تشتمل المنطقة أو يمكن أن تشتمل على غشاء رقيق Oli المتفاعلة ضوئيًا الإضافية على طبقة من سيليكون .CZTSSe أو CIS (CIGS من نحاس الانديوم الغاليوم سيلينيد lll رفيع في نموذج مفضل من العملية الخاصة بالاختراع لإنتاج جهاز إلكتروني بصري؛ يتم إجراء العملية درجة مئوية. ٠5٠١ بأكملها عند درجة حرارة أو درجات حرارة لا تتجاوز ٠ في العملية الخاصة بالاختراع لإنتاج جهاز إلكتروني بصري؛ قد يكون الجهاز الإلكتروني البصري سبق في هذا الطلب للجهاز الإلكتروني البصري الخاص Led كما هو مُعرّف بشكل إضافي بالاختراع. إلكترونيًا بصريًا يمكن الحصول عليه بواسطة العملية الخاصة Plea يوفر الاختراع بشكل إضافي بالاختراع لإنتاج جهاز إلكتروني بصري. - ٠ يتم بشكل إضافي توضيح الاختراع الحالي في الأمثلة التالية: الأمثلة ovvy
=« \ \ — الطريق التجريبية لتحضير الجهاز تحضير عجينة أكسيد الألومنيوم 3 لم باستخدام عامل ربط من بوليمر تم شراء مشتت من أكسيد الألومنيوم من ZV +) Sigma-Aldrich بالوزن في ماء) وتم غسيله بالطريقة التالية: تم إجراء طرد مركز centrifuged له عند 75050 لفة في الدقيقة لمدة 1 © ساعات؛ ولإعادة تشتيته في إيثانول مطلق (Fisher Chemicals) باستخدام مسبار بالموجات فوق الصوتية؛ تم تشغيله لفترة معالجة بالموجات الصوتية تبلغ © دقائق؛ التدوير 7 ثانية تشغيل؛ Y ثانية إيقاف تشغيل. تم تكرار هذه العملية ؟ مرات. لكل ٠١ جم من المشتت الأصلي ١( original dispersion جم من إجمالي أكسيد الألومنيوم 3) تمت إضافة ما يلي: 7,77 جم من aterpineol و٠ جم من خليط Ov : 5٠0 من ٠ إيثيل - سيليلوز ١0٠ باسكال / ثانية و0047 باسكال/ ثانية تم شراؤه من مؤسسة SIGMA Aldrich في إيثانول» 7٠١ بالوزن. بعد إضافة كل مكون؛ تم تقليب الخليط لمدة 7 دقيقة ومعالجته بالموجات الصوتية باستخدام مسبار الموجات فوق الصوتية لمدة ١ دقيقة من المعالجة بالموجات الصوتية؛ باستخدام دورة من * ثانية تشغيل 7 ثانية إيقاف تشغيل. أخيرًاء تم إدخال الخليط الناتج في مبخر دوّار لإزالة الإيثانول الزائد وتحقيق clan) المطلوب عندما تركيب النصال ١ الخاصة بالأطباء؛ الطلاء المغزلي أو الطباعة من شاشة. تحضير عجينة ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 باستخدام عامل ربط من بوليمر تم شراء مشتت من ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 محتوي على عامل ربط من بوليمر ( DSL (18NR-T من ا071650. تم تخفيفه عند نسبة وزنية ؟ : ١ من إيثانول مطلق absolute ethanol : (Fisher Chemicals):DSL 18NR-T ٠ باستخدام bes بالموجات 38 الصوتية ultrasonic probe ¢ تم تشغيله لفترة معالجة بالموجات الصوتية تبلغ © دقائق؛ التدوير 7 ثانية تشغيل؛ ١ ثانية إيقاف تشغيل. تحضير عجينة أكسيد الألومنيوم A203 بدون عامل ربط من بوليمر ovvY
AAR
بالوزن في أيزو بروبانول). تم 7 Y ١( Sigma-Aldrich تم شراء مشتت من أكسيد الألومنيوم من حجم مكافئ من أيزو بروبانول. ١6 تخفيف هذا في تحضير عجينة 0 أكسيد التيتانيوم 1102 بدون عامل ربط من بوليمر (Degussa) من titanium dioxide (P25) تم شراء مسحوق من ثاني أكسيد التيتانيوم . تخفيف هذا في 1 حجم مكافئ من (يثانول x al’ ثم . Je / مجم Ye عند Jot) ثيته في vif’ Io) ومحلول مادة منتجةٌ methylammonium iodide تحضير مادة منتجة ليوديد ميثيل أمونيوم yu, بالوزن في إيثانول مطلق 777 Methylamine (CH3NH2) تم تفاعل محلول ميثيل أمين بالوزن في ماء 7 oY hydroiodic acid مع حمض هيدرويوديك (Sigma-Aldrich) في جو من النيتروجين في إيثانول لامائي ١ : ١ (00100ل-5908)_بنسبة_مولارية ٠ مل YE كانت الكميات النمطية . (Sigma-Aldrich) مرة واقي ٠٠0١ anhydrous ethanol مل حمض هيدرويوديك و١٠٠ مل إيثانول. تم تحقيق تبر ليوديد ميثيل أمونيوم ٠١ ميثيل أمين؛
Sl (60480013)_باستخدام مبخر دوّار. تم تكوين راسب ملون بلون أبيض دلالة على الناجح. 80 : يمكن استبدال الميثيل أمين بمركبات أمين أخرى؛ مثل Vo إلى غير ذلك من أجل ...ethylamine, n—butylamine, tert-butylamine, octylamine استبدال حمض الهيدرويوديك (Say خصائص البروفسكيت التالي. بالإضافة إلى ذلك؛ nad حمض هيدروكلوريك. Jie بأحماض أخرى لتكوين مواد بروفسكيت مختلفة؛ (CHNH3I) لتحضير محلول المادة المنتجة تمت إذابة ناتج الترسيب من يوديد ميثيل أمونيوم فورماميد Jie gla في (Sigma-Aldrich) lead (Il) chloride وكلوريد الرصاص ٠ عند 770 بالحجم. ١ : ١ بنسبة مولارية (Sigma-Aldrich) (C3HTNO) تنظيف وتنميش الطبقة التحتية والإلكترود الشفاف ovvY
تم تنميش ألواح رقيقة من الزجاج المطلي بأكسيد قصدير مشاب بالفلورين (:"آثاني أكسيد القصدير 2 إ[أكسيد قصدير مشاب بالفلورين Yo Yo (TEC (FTO أوم / المربع» Pilkington الإلكترود المطلوب. تم بعد ذلك تنظيف الألواح الرقيقة باستخدام الصابون (1161/0180©*77 في © ماء)؛ ماء تم نزع الأيونات منه؛ أسيتون» إيثانول وأخيرًا معالجته في جو من بلازما الأكسجين لمدة © دقائق لإزالة أية مواد متبقية عضوية. ترسيب طبقة ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 المضغوطة ثم تم طلاء ألواح أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO الرقيقة ذات النموذج باستخدام طبقة مضغوطة من ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 عن طريق الطلاء المغزلي باستخدام محلول تيتانيوم - ٠ أيزو بروبوكسيد (Sigma-Aldrich) معتدل الحمضية في إيثانول. تم تحضير المحلول عن طريق خلط تيتانيوم أيزو بروبوكسيد : إيثانول SLY بنسبة وزنية تبلغ ١,79 : 4 باستخدام محلول حمضي من حمض الهيدروكلوريك ١ .HCI مولار : إيثانول WY بنسبة وزنية تبلغ LE ,v VY بعد الطلاء المغزلي (السرعة = ٠... لفة في الدقيقة التسارع = Yer. في الدقيقة / ثانية الزمن = Te ثانية)؛ تم تجفيف الطبقات التحتية عند ١5١ درجة مثوية على طبق ساخن لمدة ٠١ Vo دقائق. اختياريّاء تم بعد ذلك تسخين الطبقة المضغوطة وصولاً إلى 50٠0 درجة مئوية لمدة 3١ دقيقة على طبق ساخن في الهواء. ترسيب طبقة أكسيد الفلز رفيعة المثمك متوسطة المسام تم وضع العجينة العازلة من أكسيد الفلز (على سبيل المثال؛ عجينة أكسيد الألومنيوم 81203) أعلى طبقة أكسيد الفلز المضغوطة عبر الطباعة من شاشة؛ طلاء نصل طبي أو الطلاء المغزلي؛ ٠ .من خلال شبكة ملائمة؛ ارتفاع نصل طبي ملائم أو سرعة مغزلية ملائمة لتكوين غشاء رقيق بسك يبلغ ٠٠١- انو متر. تم إما تسخين الأغشية الرقيقة بعد ذلك وصولاً إلى ٠0١ درجة مئوية والحفاظ عليها عند درجة الحرارة هذه لمدة 20 دقيقة من أجل التحلل وازالة عامل الربط من البوليمر (التلبيد عند درجة حرارة عالية)؛ أو؛ في ظل غياب عامل da) تسخينها وصولاً إلى
CAAA
RAR
Sha درجة مثوية والحفاظ عليها عند درجة الحرارة هذه لمدة 90 دقيقة (التلبيد عند درجة ٠ منخفضة). ثم تم تبريد الطبقات التحتية بالفعل لترسيب محلول بروفسكيت. ترسيب محلول من المادة المنتجة للبروفسكيت وتكوين الغشاء الرقيق رفيع السمك من البروفسكيت شبه الموصل "تم تشتيت 560 ميكرو لتر من محلول المادة المنتجة للبروفسكيت في داي ميثيل فورماميد (يوديد © (methylammonium iodide lead (Il) chloride ala ميثيل أمونيوم كلوريد إلى كل غشاء رقيق لإلكترود متوسط المسام 7 Ye بتركيز حجم يبلغ (CH3NH3PDCI2I)) لفة في الدقيقة لمدة ١5٠١ عند spin—coated مغزليًا oa ymesoporous electrode film ثم تم وضع الأغشية الرقيقة المطلية inert nitrogen ثانية في بيئة من النيتروجين الخامل ٠ دقيقة في جو من النيتروجين» ٠١ درجة مثوية وتركه لمدة ٠٠١ على طبق ساخن تم ضبطه عند ٠ مئوية؛ تغير لون الإلكترود المطلي من الضوء الأصفر ٠٠١ قبل التبريد. أثناء إجراء التجفيف عند إلى البني الداكن؛ دلالة على تكوين الغشاء الرقيق من بروفسكيت المرغوب فيه بخصائص شبه الموصلية. الترسيب المتبخر للمادة المنتجة للبروفسكيت وتكوين الغشاء الرقيق رفيع السمك من البروفسكيت شبه الموصل Vo من يوديد الرصاص 0012 وكلوريد اليوديد الميثيل أمونيوم ١ : ١ تم طحن نسبة مولارية دقيقة لتكوين مسحوق بروفسكيت كتلي. أدى هذا ١5 باستخدام هاون ومدقة لمدة 011301130١ ساعة. تم نقل بوتقة من مسحوق VY > إلى تكوين مسحوق تم تجفيفه في بيئة نيتروجين لمدة درجة Tov البروفسكيت إلى غرفة تبخير تم تفريغها فيما بعد. تم تسخين البوتقة ببطء وصولاً إلى تم فتح أداة إغلاق لبدء الترسيب (Aggie درجة ٠٠١ مئثوية. عندما وصلت درجة حرارة المصدر إلى Yo
JEL 800٠01١ السخان للحفاظ على ضغط يبلغ Ben على الطبقات التحتية. تم إيقاف تشغيل نانو 300 - ٠٠١ يبلغ تقريبًا LL في الغرفة. استمر التبخير حتى تم ترسيب غشاء رقيق رفيع or متر على الطبقات التحتية. بعد التبخير تم تسخين الطبقة التحتية بالمادة المتبخرة وصولاً إلى ساعة في بيئة من النيتروجين. ١ درجة مثئوية لمدة ovvY
-١74- formamidinium cation تحضير مواد البروفسكيت المشتملة على كاتيون فورماميدينيوم يمكن استخدام كاتيونات الفورماميدينيوم. تم تخليق يوديد فورماميدينيوم capped) كبديل لأيونات formamidinium bromide وبروميد فورماميدينيوم Formamidinium iodide (FOI) formamidinium مولار من أسيتات فورماميدينيوم ١,5 عن طريق تفاعل محلول (FOB) مولار زائدة عن حمض الهيدرويوديك (ليوديد فورماميدينيوم) أو XY في إيثانول بنسبة acetate © حمض هيدروبروميك (لبروميد فورماميدينيوم). تمت إضافة الحمض قطرة بقطرة بينما يتم التقليب درجة ١٠٠١ دقائق أخرى. عند التجفيف عند ٠ عند درجة حرارة الغرفة؛ ثم يتم ترك التقليب لمدة يتم تجفيفه بعد ذلك طوال الليل في فرن خوائي cand - يتم تكوين مسحوق بلون أصفر sie تمت إذابة يوديد (FOPPBR3 5 FOPDI3 قبل الاستخدام. لتكوين محاليل مواد منتجة ل في 058142 were أو بروميد فورماميدينيوم و PbI2 ويوديد الرصاص FOI فورماميدينيوم ٠ ملي مول من كل منها لكل GAN مولاريف ١ : ١ لاماني بنسبة N,N-dimethylformamide مولار. لتكوين مواد منتجةٌ للبروفسكيت +, AA مل؛ للحصول على محاليل مادة منتجة لبروفسكيت و 006843 مي مولار FOPDI3 خلائط من محاليل dae) 8 (FOPDI3ZBr3(1-z) .١ بالنسب المطلوبة؛ حيث 7 تتراوح من صفر إلى تم طلاء الأغشية الرقيقة لتمييز أو تصنيع الجهاز مغزليًا في صندوق قفازات معباً بالنيتروجين؛ ٠5 . دقيقة في جو من النيتروجين Yo لمدة YEP درجة ١٠١١6 وملدن عند ترسيب المادة الناقلة للتقب وتجميعة الجهاز : كانت المادة الناقلة للثقب المستخدمة هي 2,2(,7,7(—tetrakis—(N,N-di-methoxyphenylamine)9,9(-spirobifluorene)) (spiro-OMeTAD, Lumtec, Taiwan) 9٠. - 1 مجم / مل. تمت إضافة YA الذي تمت إذابتها في كلورو بنزين عند تركيز نمطي يبلغ / ميكرولتر 77 : ١ بشكل مباشر إلى المحلول بنسبة حجم إلى كتلة تبلغ (BP) بيوتيل بيريدين : مجم من ovvY
-ه؟١- (BP (tert-butylpyridine):spiro-MeOTAD تمت LY عامل LU) أيوني ionic 1 ملح: Lithium bis(trifluoromethylsulfonyl)amine salt (Li—TFSI) مسيقًا في أسيتو نيتريل عند ١١7١0 مجم / cde ثم إضافته إلى محلول المادة الناقلة للتقب عند VY : ١ ميكرو لتر / مجم © .من محلول ا175-نا : .spiro-MeOTAD تم تشتيت كمية صغيرة Av) ميكرو لتر) من محلول spiro-OMeTAD على كل غشاء رقيق مطلي بالبروفسكيت وطلاوه lie عند ١505١ Ad في الدقيقة لمدة Te ثانية في الهواء. ثم تم وضع الأغشية الرقيقة في مبخر حراري حيث تم ترسيب إلكترودات سميكة من الفضة ٠٠0١0 نانو jie من خلال قناع إخفاء في وسط عالي التفريغ even) باسكال). Ve الصور المغايرة الخاصة بالجهاز التي تم فحصها يتم عرض مخطط عام لبنية الجهاز في الشكل ١أ. يمكن تركيب هذا الجهاز على أية مادة طبقة تحتية صلبة (من oz lal) البلاستيك؛ رقاقة فلزء شبكة فلز... إلى غير ذلك). في الشكل ١أ يتحتم أن يكون واحد على الأقل من الإلكترودات الفلزية شفاقًا / شبه شفاف (على سبيل المثال: أكسيد فلز مشاب أو غير مشاب؛ بروفسكيت؛ aly فلز رفيع المثمك؛ شبكة فلز... إلى غير ذلك) Vo بينما يمكن أن يكون الإلكترود المقابل شفاقًا / شبه شفاف أو انعكاسي. تتم إحاطة البروفسكيت الماص للضوء؛ يمكن أن يكون من النوع en من نوع P أو متأصل؛ فيما بين طبقة شبه موصلة واحدة من نوع © وطبقة شبه موصلة واحدة من نوع 0 (عضوية؛ غير عضوية؛ Si لامتبلّر؛ بروفسكيت؛ عضوية / غير عضوية مختلطة... إلى غير ذلك) للاستخلاص SEY) للإلكترون ill على التوالي. يمكن أن تكون البنية المعروضة معكوسة. يمكن إنتاج الخلايا متعددة ٠ الوصلات عن طريق رص بنية تكررة. يكون لنماذج معينة من الأجهزة الخاصة بالاختراع البنية النوعية المعروضة في الشكل ١ب. عند الاستخدام؛ تكون طبقة أكسيد الفلز رفيعة ld) بشكل عام قابلة للإنفاذ إلى البروفسكيت المعالج بالمحلول؛ لضمان التلامس المباشر للبروفسكيت مع التلامس الانتقائي للإلكترون. يتم تلخيص كل من الصور المغايرة لعملية التحضير الت يتم فحصها في هذا الطلب في جدول .١ CAAA
-6؟١- جدول .١ ملخص الصور المغايرة للطبقات التي ثم فحصها. ظروف | تسخين . ظروف - تلبيد : أكسيد متوسط رقعة التغيير ثانى أكسيد | متوسط المسام البروفسكيت 0 المسام التيتانيوم 1102 HT B- أكسيد ا لألومنيوم أكسيد ١ On م Own م محلول . 3 لمم مع عامل ربط الألومنيوم 3 لم . -8 1 لاثانى ثاني أكسيد التيتانيوم : ا Vo ٠ م Own م محلول أكسيد التيتانيوم 1102 مع عامل ربط 1102 أكسيد ١ لألومنيوم اأكسيد Yoo م 203 Al بدون عامل Own م محلول الألومنيوم ربط A203 ١ . اثانى ثاني أكسيد التيتانيوم . ١ You م Owe م محلول أكسيد التيتانيوم 2 بدون عامل ربط 1102 أكسيد ١ لألومنيوم 2ST aon 3ه بدون عامل | AY محلول الألومنيوم ربط A203 ثاني أكسيد التيتانيوم ELT م ANY محلول « 1102 بدون عامل ربط أكسيد التيتانيوم ovvyY
-yYV-
HT C / LT }
R أكسيد أ لالومنيوم أكسيد م + 6م 3 لم بدون عامل ٠٠م محلول . إ: ربط 3م النتائج والمناقشة متوسط المسام الملبد عند درجة حرارة منخفضة A203 التحكم في مسامية أكسيد الألومنيوم عن طريق خلط A203 يمكن التحكم في مسامية طبقة متوسطة المسام من أكسيد الألومنيوم اثنين من المذيبات بقيم لزوجة مختلفة ومعدلات تبخير مختلفة في عملية ترسيب الجسيمات بحجم النانو. بعد الترسيب من المشتت وازالة المذيب؛ يعتمد معامل الانكسار الخاص بالغشاء الرقيق 0 en من المادة المركبة متوسطة المسام من أكسيد الألومنيوم 81203 والهواء على Sl) رفيع الحجم الخاص بالمكونين أي؛ المسامية. يتم تقديم مؤشرات الانكسار الخاصة بالأغشية الرقيقة المتكونة عن طريق مشتتات الطلاء المغزلي بمحتوى متغير من تربينيول و1 - بيوتانول على شرائح زجاجية في الجدول ؟ فيما يلي؛ باعتبارها مكافئات حجمية. يكون معامل انكسار منخفض عام أن إضافة J, وجد al دالا على جزء حجم كبير من الهوا ءِِ أي » غشاء رقيق أكثر مسامية. A مذيب ثانوي تزيد من مسامية الغشاء الرقيق متوسط المسام الناتج. جدول ". ملخص التغير في المسامية بمقدار متغير من حجم مكافئ مضاف من مذيب ثانوي إلى مشتت الألومينا كما هو موضح بواسطة معامل الانكسار المقاس الخاص بالغشاء الرقيق الناتج.
CAAA
-١ ١0 بالوزن أكسيد ٠ بيوتانول - TT تربينيول . المضاف معامل الانكسار IPA | الألومنيوم 81203 في المضاف المضاف (مكافئ) IPA : : في (مكافئ) (مكافئ) : (مكافئ) سن ا حيود أشعة إكس من البروفسكيت Sl) الخاصة بالأغشية الرقيقة رفيعة XRD يتم عرض نماذج حيود أشعة إكس المعتمدة على الصور المغايرة للطبقة التحتية المختلفة التي تم فحصها في الشكل ؟أ. تم تحضير متوسطة المسام؛ بدون GL) كل العينات على زجاج أملس و؛ حيث يتم تخصيص أكاسيد رفيعة و7780 بارزة بالتوافق مع التوضيح ٠١١ البروفسكيت ad الطبقات المضغوطة. تكون كل من 0 "ب JEN يعرض .]50160706, Submitted 2012 وآخرين» Lee] السابق لهذا البروفسكيت الخاص بالبروفسكيت عند تبخيره. توجد القمم التي تناظر XRD نموذج حيود أشعة إكس .6512 البروفسكيت من الهاليد المختلط بالإضافة إلى تلك الحادثة من يوديد الرصاص القياس الطيفي للأشعة فوق البنفسجية المرئية ovvy
-4؟١- يتم عرض نماذج الأشعة فوق البنفسجية المرئية للأغشية الرقيقة رفيعة السك من البروفسكيت المعتمدة على الصور المغايرة للطبقة التحتية المختلفة التي تم فحصها في الشكل 7. تم تحضير كل العينات على زجاج أملس و؛ حيث يتم تخصيص أكاسيد رفيعة SLL) متوسطة المسام؛ بدون الطبقات المضغوطة. تعرض الأطياف الإخماد الطبيعي ([10910]10/11 = ع). تعرض كل © الأطياف نقطة بداية امتصاص عند طول موجة aly -800 نانو متر يؤكد وجود البروفسكيت. بالرغم من أنه تمت ملاحظة ad حيود XRD التي تناظر يوديد الرصاص 5512 للبروفسكيت المتبخرء يوضح Cada الأشعة فوق البنفسجية المرئي أنه تم امتصاص غالبية الضوء بواسطة البروفسكيت. تكون أشكال الأطياف متوافقة مع التوضيح السابق لهذا البروفسكيت Lee .M] وآخرين» 2012 .[Science, Submitted ٠ السمات المميزة لفلطية التيار current-voltage characteristics يتم تقديم سمات شدة - فلطية التيار (/1-ل) المميزة الخاصة ببعض من الأجهزة التي تمثل كل صورة مغايرة تم فحصها في الشكل 4 . يتم تقديم ملخص للمتغيرات المستخلصة من هذه النتائج في جدول WF يتم Wad عرض طبقة الأكسيد رفيعة (tmesoporous) cll) وطبقة التغطية من البروفسكيت (tperovskite cap) كما هو مقاس باستخدام مقياس وعورة السطح في جدول ؟. Vo لقياسات measurements clad) 171060655 تم تحضير العينات على زجاج أملس و؛ حيث يتم تخصيص أكاسيد رفيعة السمك متوسطة المسام mesoporous oxides (لطاء_بدون الطبقات المضغوطة. تقترح النسبة الخاصة بقيم lll هذه أن غالبية امتصاص الضوء سيحدث في طبقة التغطية التي تكوّن Alay غير متجانسة مستوية مع المادة الناقلة للثقب. جدول “. ملخص المتغيرات المستخلصة من السمات المميزة J-V الخاصة بالأجهزة الأكثر فعالية المركبات : لمر بير كلورو ean) tperovski | tmesoporo بنية Jsc (ملي معامل إيثيلين te cap us | المتطايرة الجهاز أمبير / (You التعبئة PCE Voc - Ae - 3 (نانو (Se !| )5 متر) )%( (فاناديوم ovvY
١. نا ا أ HT B- أكسيد 7" ١ ا ١٠4 ARR AY . لالومنيوم
A203
HT B- ثاني 47 ند VIA AY YY. Yo أكسيد التيتانيوم 102 HT أكسيد 9, اكد ay YY, 104 a) . لالومنيوم
A203 ١ الثاني أكسيد 3 على امد 5 YaA Yeo التيتانيوم 102 EEE HT CJ
LT
$,00 YY 1 7 7ص اف أكسيد لألومنيوم امد
-١؟١- LT أكسيد . لا ف 41 ,q¢ نا اما لالومنيوم A203 آ الثاني أكسيد You AERA با 9+ ve ا التيتانيوم 1102 سس ١ ٠٠ _ متبخر 2,7 YY أ ال Ag [3 يتم عرض صور ماسح الإلكترون الدقيق (SEM) دقيقة للقطاعات العرضية لخلية شمسية في الشكل o 0 - (و). تكون الطبقات المتميزة المعروضة في القطاعات العرضية؛ من اليمين إلى اليسار : زجا z أكسيد قصدير مشاب بالفلورين (FTO طبقة مضغوطة؛ طبقة متوسطة المسام؛ © طبقة تغطية من البروفسكيت؛ spiro—OMeTAD والفضة silver (Ag) يتم عرض صور أفقية للطبقات متوسطة المسام في الشكل 16 0 - (و) والشكل ل 0 و(ب). حيث يتم استخدام أكسيد الألومنيوم ¢AI203 مع وبدون عامل ربط وتلبيدها عند كل من درجات الحرارة العالية والمنخفضة؛ تعرض الصور بوضوح بنية متوسطة المسام تسمح بالارتشاح ووضع بذور تكوين البروفسكيت. تظهر الطبقات المضغوطة المعروضة في الأشكال ١(ه) و١ (و) بدون معالم عند تحليل الأداة. Yo حيث يتم استخدام ثاني أكسيد التيتانيوم 71102 مع عامل الربط يبدو الغشاء الرقيق متوسط المسام. مع ذلك؛ في ظل غياب عامل الربط تتكتل الجسيمات بحجم النانو مكونة طبقة أحادية فرعية. oVvVY
-١©7- الاستنتاج إلكترونية بصرية ببنية مستوية من مادة ماصة Seal تعرض الأمثلة أنه من الممكن تكوين من النوع 0. تم تحقيق نمو مادة ماصة للضوء من البروفسكيت على / ٠ للبروفسكيت من النوع يمكن معالجة ٠ أو في ظل غياب مادة دعم مؤقتة من ترسيب محلول Sled مادة دعم مؤقتة رفيعة
Vou الأجهزة المتضمنة طبقة بذور تكوين رفيعة السك بشكل تام عند درجات حرارة لا تتجاوز © مئوية التي تعتبر مهمة للأجهزة مترادفة الوصلات و / أو متعددة الوصلات المرنة. بشكل dap إضافي لقد تم عرض أنه يمكن تكوين البروفسكيت عن طريق التبخير من مسحوق كتلي. inverted الشمسية من البروفسكيت ذات الوصلة غير المتجانسة المعكوسة WAN heterojunction perovskite solar cells تحضير الطبقة التحتية: | ٠ 1؟ / 0 Vv) ألو ح رقيقة من الزجاج المطلي (FTO) ثم تنميش أكسيد قصدير مشاب بالفلورين مولار) للحصول على 7( HCI باستخدام مسحوق زنك وحمض الهيدروكلوريك (Pilkington في Hellmanex 77( نموذج الإلكترود المطلوب. ثم تم غسيل الألواح الرقيقة باستخدام الصابون ماء)؛ ماء تم نزع الأيونات منه؛ أسيتون» ميثانول وأخيرًا معالجتها في جو من بلازما أكسجين لمدة بقايا للمواد المتبقية العضوية. AT دقائق لإزالة © ١ 110« محلول المادة المنتجة للغشاء الرقيق المسطح من ثاني أكسيد التيتانيوم ٠,77 يتكون محلول المادة المنتجة للغشاء الرقيق المسطح من ثاني أكسيد التيتانيوم *110 من (44,444 Sigma Aldrich) titanium isopropoxide مولار تيتانيوم أيزو بروبوكسيد
Fisher 744,34 >( في إيثانول HCl ومحلول 0,007 مولار من حمض الهيدروكلوريك ٠,51 عند Jat لتحضير هذا المحلول؛ ثم تخفيف تيتانيوم أيزو برويوكسيد في .) 00065 A) باستخدام (يثانول HCI حمض الهيدروكلوريك Ysa مولار . على نحو منفصل؟؛ ثم تخفيف محلول قطرة acidic solution تمت إضافة المحلول الحمضي cal مولار. ١.077 لتحقيق تركيز بقطرة محلول المادة المنتجة للتيتانيوم في ظل تقليب بطيء. ovvY
م I Ce بنية نجل 3: تم طلاء طبقات أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO التحتية التي تم تنميشها باستخدام طبقة مضغوطة من ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 المترسبة عن طريق الطلاء المغزلي لمحلول المادة المنتجة للغشاء الرقيق المسطح من SB أكسيد التيتانيوم TIOX عند 700١0 لفة في الدقيقة لمدة ثانية وبناءً على ذلك تسخينها عند 00© درجة مثوية لمدة 70 دقيقة لتكوين أناتاز تيتانيا
متكافئ ٠ بعد ذلك ثم ترسيب مادة الدعم المؤقتة متوسطة المسام عن طريق الطلاء المغزلي لمشتت غراوني من الجسيمات بحجم النانو من Yom نانو fe أكسيد الألومنيوم 81203 في أيزو بروبانول 3 متبوحًا بالتجفيف عند Yo. درجة YEP لمدة ٠١ دقائق ٠. بعد التبريد وصولاً إلى درجة حرارة الغرفة؛ تم ترسيب البروفسكيت عن طريق الطلاء المغزلي لمحلول داي ميثيل فورماميد
DMF ٠ من يوديد ميثيل أمونيوم وكلوريد الرصاص 56012 (النسبة المولارية ؟ : ٠ )١ أدى لتكوين البروفسكيت بعد التسخين وصولاً إلى ٠٠١ درجة مئوية لمدة £0 دقيقة. تم ترسيب طبقة المادة الناقلة dill عن طريق الطلاء المغزلي ل ZV بالحجم من محلول : spiro-OMeTAD (2,2',7,7'-tetrakis—(N,N-di-p-methoxyphenylamine)9,9'- spirobifluorene)
في كلورو بنزين مع Av ملي مولار من 1 - بيوتيل بيريدين Yo 5 (BP) ملي مولار ليثيوم بيس (تراي فلورو ميثان سلفونيل) إيميد lithium bis(trifluoromethanesulfonyl)imide (LITFSI) المضاف عند ٠٠٠١ لفة في الدقيقة sad ©؟ ثانية. أخيرًاء تم إكمال الأجهزة باستخدام التبخير في وسط Je التفريغ من إلكترودات تلامس الفضة Ag من خلال Jala مثقب. تصنيع بنية معكوسة:
:PEDOT:PSS ٠٠ التحتية التي تم تنميشها باستخدام غشاء FTO تم طلاء طبقات أكسيد قصدير مشاب بالفلورين 775 : Yo مترسب بواسطة الطلاء المغزلي لمحلول PEDOT:PSS رقيق رفيع السمك من (Fisher Chemicals 44,95 <) أيزو بروبانول : (PEDOT:PSS (Clevios بالحجم من دقيقة ٠١ درجة مئوية لمدة ١5١0 ثانية وتلدينه بعد ذلك عند ٠١ لفة في الدقيقة لمدة ٠0606 عند
ovvY
“ve aM ١,75 أو ترابطه تشابكيًا عن طريق غمر الطبقات التحتية لمدة © دقائق في محلول الحديد الثلاثني 6013 مائي؛ ثم غسيلها في ؟ من الحمامات المتتابعة من الماء الذي تم نزع الأيونات منه ثم أخيرًا تجفيفه باستخدام النيتروجين. :NiO من أكسيد النيكل من Sl تم تحضير الطلاء المغزلي للمادة المنتجة للغشاء الرقيق رفيع 5 nickel acetate إذابة أسيتات تترا هيدرات النيكل Gob عن Nickel(ll) oxide (NiO) ٠١ في إيثانول عند تركيز يبلغ monoethanolamine ومونو إيثانول أمين tetrahydrate
YEP درجة Vo مولار مع التقليب في قارورة محكمة الإغلادق في الهوا عِِ على طبق ساخن عند لمدة ؛ ساعات. ظهر المحلول متجانسًا وبلون أخضر داكن. أ أكسيد الفاناديوم :V205 تم طلاء طبقات أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO التحتية التي تم تنميشها باستخدام غشاء رقيق رفيع lll من خامس أكسيد الفاناديوم 1/205 مترسب بواسطة الطلاء المغزلي لمحلول ١ ١ : بالحجم من فاناديوم (فاناديوم 0 أوكسي تراي أيزو برويبوكسيد (Sigma Aldrich) في أيزو بروبانول وتسخينه بعد ذلك وصيلاً إلى 5٠٠0 درجة مئوية للحصول على طبقات أكسيد ٠ فاناديوم متبأرة. بروفسكيت والترسيب بالتلامس من نوع 7: بعد التبريد / التجفيف؛ تم طلاء محلول sald) المنتجة للبروفسكيت Bae عند ٠00860 لفة في الدقيقة لمدة ٠١ ثانية ثم تم تسخينه ليصل إلى dan ٠٠١ مئوية لمدة £0 دقيقة لتكوين البنية. تم ترسيب التلامس الانتقائي للإلكترون عن طريق الطلاء المغزلي لمحلول Yo. مجم / مل ١- من (Sigma Aldrich (Anhydrous) في )5 بنزين PCBM وصلة غير متجانسة كتلية ]60[ ٠٠ لفة في الدقيقة لمدة £0 ثانية. تم طلاء محلول المادة المنتجة للغشاء الرقيق المسطح ٠٠٠١ عند ثانية وتم تلدين Te sad مغزليًا عند 200860 لفة في الدقيقة TIOX من ثاني أكسيد التيتانيوم الأجهزة باستخدام التبخير Jl) تم Baal دقائق. ٠١ sad درجة مئوية ١١ الأغشية الرقيقة عند من خلال حاجز مثقب. Al في وسط عالي التفريغ لإلكترودات تلامس ovvY
اج Ad \ _ النتائج والمناقشة تم توضيح الأدوات الفلطائية الضوئية ذات الغشاء الرقيق رفيع Sle) من البروفسكيت Ban ببنية ناشئة من الخلايا الشمسية الحساسة للأصباغ في الحالة الصلبة؛ حيث يتم تجميع الثقوب من خلال كاثود الفلز والإلكترونات من خلال آنود أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO : (Ball, J. M.; Lee, M. M.; Hey, A.; Snaith, H. Low-Temperature Processed © Mesosuperstructured to Thin-Film Perovskite Solar Cells. Energy & Environmental Science 2013). في هذا التصميم؛ يتم ترسيب غشاء رقيق رفيع السلمك من ألومينا متوسطة المسام على طبقات تحتية من FTO مغطاة ب ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 مضغوطة للمساعدة في تكوين الغشاء Yo الرقيق من البروفسكيت ثم يتم ترسيب مادة ناقلة للتقب عضوية على البنية المتكونة لتوفير تلادمس انتقائي لثقب ٠. مع ذلك ٠ حيث )43 يتم تجميع التقوب من خلال كاثود الفلز العلوي؛ يكون لهذا التصميم تطبيقات محدودة في الخلايا الشمسية AIAN حيث يمكن تحقيق تحسينات فورية عن طريق استخدام مواد البروفسكيت ذات 'فجوة النطاق الواسعة" مع خلية YELLIN غير iy gua بفجوةة نطاق منخفضة؛ : (Beiley, Z. M.; McGehee, M. D. Modeling low cost hybrid tandem Yo photovoltaics with the potential for efficiencies exceeding 20%. Energy &
Environmental Science 2012, 5, 9173-9179) يتم تكوينها بشكل عام في تصميم "طبقة تحتية" مع تجميع الإلكترونات عند إلكترودات التلامس الفلزية العلوية. Cll تكون المواد النمطية المستخدمة في الخلايا الفلطائية الضوئية العضوية كمواد تلامس انتقائي Ye بينما (NiO خامس أكسيد الفاناديوم 5 أوأكسيد النيكل (PEDOT:PSS للخلائط عبارة عن : By 5060810 ما يتم استخدام Sale ovvY
-؟- poly[(9,9-bis(3' —(N,N-dimethylamino)propyl)-2,7-fluorene)-alt-2,7-(9,9- dioctylfiuorene)] (PFN) كمتلقيات للإلكترون .electron acceptors من أجل تحديد ما إذا كانت هذه المواد ستعمل في Jia ab lea خطوة أولى جيدة لفحص ما إذا كان نقل الشحنة إلى هذه لطبقات الداخلية Sac © في قياس كفاءة الإخماد الخاصة باللمعان الضوئي PL في الحالة nll على نحو مشابه لما أصبح روتيئًا في كل الخلايا الشمسية العضوية. يتم تقديم هذه البيانات في الشكل 9 ويتم تلخيص النتائج في جدول ؛. يمكن بوضوح رؤية أن كل الطبقات من النوع م المختارة في هذا العمل تخمد بروفسكيت PL بكفاءة أكبر من نموذج 5010-01/67/0_النموذجي» af مشابهة لأت PEDOT:PSS وخامس أكسيد الفاناديوم 7205 التي تبلغ 794,89 من كفاءة الإخماد. تُظهر ٠ كل الطبقات من النوع © معدلات إخماد أعلى بصورة كبيرة من نظام ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 النموذجي؛ الذي يُظهر فقط 745 من كفاءة الإخماد في الحالة الثابتة. تستخدم كل الخلايا المصنعة في هذا العمل طبقة PCO0BM مطلي مغزليًا باعتباره مادة التلامس من النوع 07 حيث إن الخلايا الشمسية المصنعة باستخدام طبقة PEN داخلية col إلى الحصول على أداء فلطائي ضوئي ضعيف للغاية. Alay غير PCBM| 4 NiO 4 أكسيد الفاناديوم V205 ارح PFN| 47 0 أكسيد التيتانيوم £0,V) TiO2| 7 PEDOT:PSS ovvy
١
Spiro— 4.71 OMeTAD 7 جدول 4. كفاءة إخماد وميض ضوئي في الحالة الثابتة لكل الطبقات من النوع م ومن النوع والمادة الماصة للبروفسكيت. باعتباره مادة التلامس من النوع م PEDOT:PSS يستخدم المثال الأول على بنية عكسية باستخدام البروفسكيت باعتباره كل من المادة الماصة كمادة تلامس من نوع 0 وطبقة Cll) رفيعة PEDOT:PSS للضوء والمادة الناقلة للشحنة طبقة © مضغوط كمادة تلامس من النوع . من أجل TIOX وثاني أكسيد التيتانيوم PCOOBM ثنائية من توافر القدرة على معالجة هذه البنى في الهواء؛ كانت الطبقة البينية العلوية من ثاني أكسيد ضرورية لتحقيق تلامس جيد مع الآنود العلوي من لل/. يتم تقديم صورة ماسح TIOX التيتانيوم .٠١ في الشكل JB لقطاع عرضي من البنية SEM الإلكترون الدقيق تكون التغطية المنتظمة لبنية البروفسكيت أساسية لتصنيع أدوات فلطائية ضوئية مثلى ويتم التأثير عليها بصورة كبيرة بواسطة الطبقة التحتية التي يتم تكوينها عليها. عند التجميع على الطبقات
Yo الملدن؛ يتم تكوين بلورات بحجم الماكرو من على مدى طول PEDOT:PSS التحتية من ميكرو متر من البروفسكيت؛ كما هو معروض في الشكل ١١ب) و١١د). بينما قد يكون هذا مفيدًا لنقل الشحنة من خلال الطبقة؛ توجد فجوات بحجم أكبر نوعًا بحجم الميكرو فيما بين البلورات التي الأمر الذي (PEDOT:PSS تسمح بالتلامس المباشر فيما بين 006081 والطبقة التحتية من ١ قد لا يكون مفيدًا لأداء الجهاز. يكون 06001:055 قابلاً للذوبان في داي ميثيل فورماميد مولار من كلوريد ١75 عن طريق الغمر في محلول مائي BSL ولهذا السبب تم ربطه DMF لتجنب إعادة ذوبان الطبقة عندما يتم ترسيب المادة المنتجة للبروفسكيت (FeCI3 الحديد الثلاثي تشابكيًا؛ من المثير للدهشة agi jo PEDOT:PSS عندما يكون (DMF في داي ميثيل فورماميد أن تغطية الغشاء الرقيق من البروفسكيت الناتج تزداد بصورة كبيرة بينما يكون قد تم تقليل متوسط ٠ حجم البلورة / المعلم لهذه المادة إلى حدٍ كبير. يتم عرض حجم البلورة والتغطية الناتجين في الشكل + الملدن و97 PEDOT:PSS للأغشية الرقيقة من 729 + Av الذي وجد أنه ؛)ج١١و )أ١١
CAAA
حم -١ ١ للأغشية الرقيقة المرتبطة تشابكيًا المقدر بشكل مباشر من صور ماسح الإلكترون الدقيق .(SEM) عند مقارنة أداء الأجهزة الناتجة؛ كما هو معروض في الشكل (NY وجد أن الأجهزة المعالجة على PEDOT:PSS مرتبط تشابكيًا تُظهر قيم فلطية لدائرة مفتوحة تبلغ تقريبًا A ,+ فولط؛ بينما © حققت الأجهزة على PEDOT:PSS الملدن فقط حوالي ١14 فولط. يكون هذا Bae مع انخفاض إعادة ارتباط الشحنة Led بين الشحنات في طبقة وصلة غير متجانسة كتلية PCBM والطبقة PEDOT:PSS _بسبب تغطية الغشاء الرقيق من البروفسكيت المحسنة. تعرض الأجهزة التي تستخدم PEDOT:PSS مرتبط تشابكيًا تيار دائرة قصر منخفض Bg يبلغ 116,7 ملي أمبير / سم-؟ مقارنة بالأجهزة ذات PEDOT:PSS الملدن التي تُظهر ١7,7 ملي أمبير / سم- Ye 31 بالرغم من أن الفارق يكون صغيرًاء وفي حدود صورة مغايرة تجريبية. ual وصلت كفاءة تحويل القدرة الخاصة بالأجهزة المثتلى إلى قيم تبلغ أعلى من ANY الأجهزة ذات PEDOT:PSS الملدن فائقة الأداء الذي وصل إلى 75,1. خامس أكسيد الفاناديوم 7205 وأكسيد النيكل NIO مواد تلامس من نوع م يكون كل من خامس أكسيد الفاناديوم 7205 وأكسيد النيكل NIO مواد من نوع P معتادة يتم ١ استخدامها Wa للأدوات الفلطائية الضوئية العضوية عالية الكفاءة والثابتة. cla قام المخترحعون بتصنيع الأجهزة عن طريق الطلاء المغزلي لمحلول المادة المنتجة الملائم أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO مع خطوة تلبيد تالية عند 50٠0 درجة مئوية لضمان طبقة أكسيد فلز متبلّر بشكل تام. يمكن أن تكون التغطية السطحية لمحلول البروفسكيت أمرًا لهذه sal كما يمكن أن يُشا هد في صور ماسح الإلكترون الدقيق (SEM) الخاصة بالشكل AY ٠ يتم عرض الأداء الفلطائية الضوئية الخاصة بالأجهزة المتضمنة هذه hese الطبقات في الشكل Ne المقارنة مع البنى المنتظمة أخيرًاء تتم مقارنة الجهاز المعكوس الممتازء الذي يتضمن PEDOT:PSS باعتباره الطبقة المتقبلة Cail و/066081 كطبقة استخلاص الإلكترون؛ في مقابل جهاز ببنية منتظمة متكون من طبقة CAAA
-١؟34- متقبلة للإلكترون من ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 و spPiro—OMeTAD باعتباره الطبقة الناقلة للتقب في الشكل (Yo يحقق كلا الجهازين تيارات il قصر مذهلة أعلى من ١7,5 ملي أمبير / Yan وقيم فلطية عالية لدائرة مفتوحة تبلغ أعلى من ١,4 فولط. يعتبر الفارق الأساسي في كفاءة تحويل القدرةٍ البالغة 771,8 للبنية المنتظمة و؛ 797,5 للأجهزة المعكوسة؛ هو معاملات © التعبئة المنخفضة الخاصة بالأخيرة. يكون هذا أمرًا محتملاً بسبب إما الأمور المتعلقة بالتسرّب فيما بين PEDOT:PSS ووصلة غير متجانسة كتلية PCBM كما هو معروض في الشكل Slo حالات الفقد في مقاومة التوال» على الأرجح بسبب ضرورة استخدام طبقة علوية من ثاني أكسيد التيتانيوم TIOX من أجل توافر القدرة على معالجة الأجهزة في ظروف الهواء المحيط. توفر الأجهزة الممثلة التي تم الكشف عنها أسلوب جديد بشكل تام لتصميم بنية؛ تحديدًا حيث إنه ٠ عادةً ما يتم استخدام المواد المستخدمة وانتاجها على نحو كتلي في الوقت الحالي لصناعة Wal الفلطائية الضوئية العضوية وينبغي بناءً على هذا زيادة بصورة كبيرة تطوير نظام قابل للإنتاج الاستنتاج تكون بنى الأجهزة المعكوسة؛ حيث يتم تجميع الثقوب من خلال أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO ١٠ ضرورية للتطبيقات المترادفة للاستخدام مع خلايا سفلية فلطائية ضوئية غير عضوية. في هذا الطلب يتم عرض خلية فلطائية ضوئية منخفضة الحرارة يمكن الوصول إليها من الهواء المحيط ومحلول اعتماذًا على sale ماصة للبروفسكيت شبه موصلة ومواد التلامس من نوع N ومن نوع م الانتقائية في صورة PEDOT:PSS و[60] وصلة غير متجانسة كتلية PCBM يتم تحقيق 797,5 من كفاءة تحويل القدرة لهذه البنية المعكوسة. في هذا المفهوم يوضح هذا تنوّع تقنية ٠ الغشاء الرقيق رفيع SLL من البروفسكيت لمجموعة واسعة التنوع من تصميمات الجهاز الممكنة؛ وعلى نحو مهم بشكل مساوي؛ يؤدي هذا إلى إزالة أية عوائق لاختيار تقنية البروفسكيت بواسطة المجموعة الفلطائية الضوئية العضوية. ترسيب بخار SU المصادر تحضير الطبقة التحتية
CAAA
-١؟.-
تم إجراء عملية تحضير الطبقة التحتية في الهواء. تم وضع نموذج للزجاج المطلي بأكسيد قصدير
مشاب بالفلورين (FTO) عن طريق التنميش باستخدام مسحوق فلز ZN وحمض الهيدروكلوريك hellmanex من ZY ؟ مولار مخفف في ماء 01/16 ثم تم تنظيفه باستخدام محلول HC
مخفف في ماء milliQ شطفه باستخدام ماء ©001//1؛ أسيتون وايثانول وتجفقيفه باستخدام هواء
© جاف نظيف. تمت BAY معالجة بلازما أكسجين لمدة ٠١ دقائق. تم طلاء طبقة مضغوطة من
ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 مغزليًا بمحلول حمضي من تيتانيوم أيزو بروبوكسيد في إيثانول؛ ثم
تلبيده عند ١5١ درجة مئوية لمدة ٠١ دقائق ثم ٠00 درجة مئوية لمدة ٠١ دقيقة.
ترسيب البخار
يكون النظام المستخدم عبارة عن تبخير مزدوج المصادر للتعامل بصورة أفضل مع المصدر ٠ العضوي والمصدر غير العضوي على نحو متفصل. كان المبخر Kurt J.
Lesker Mini sa
Deposition System 5060005 _ببوتقات خزفية (مصادر الصمام الثاني باعث الضوء
العضوي ¢(organic light-emitting diode (OLED) مبيتة في صندوق قفازات جاف Lae
بالنيتروجين (الشكل .)١8 لهذاء تم تشغيل كل عمليات في بيئة خالية من الأكسجين. يتم تصميم
غرفة التشغيل للعمل تحت ضغط يبلغ 9560 - 00 باسكال حيث تكون جسيمات البخار قادرة على الانتقال بشكل مباشر إلى الطبقة التحتية. تم الحفاظ على العينات سطحها لأسفل في حامل
أعلى البوتقات المحتوية على مساحيق المصدر. وحدة يتم وضع مراقبة باثنين من المستشعرات
البلورية ٠١ crystal sensors سم أعلى البوتقات مباشرة لمراقبة معدل الترسيب الخاص بكل
مصدر على نحو منفصل بدون التدخل من بعضها البعض. يتم اعتبار القياسات الخاصة بها
بمثابة تغذية استرجاعية لضبط درجة حرارة التسخين للمواد الكيميائية الخاصة بالمصدر. يكون Yo مستشعر بلوري AT متاحًا بالقرب من حامل الطبقة التحتية الذي يمكن استخدامه لقياس إجمالي
Sl المترسب.
tooling factor measurement قياس معامل التشكيل
ovvY
-١؟١- حيث إن المشافة من المصدر إلى وحدة المراقبة تكون مختلفة عن المسافة من المصدر إلى الطبقة التحتية؛ تمت معايرة معامل التشكيل (نسبة المواد المترسبة على المستشعرات إلى تلك على العينات) لكل مصدر بشكل فردي. تم افتراض أن كتثافة 0113001131 تبلغ ١ جم / Yaw بسبب عدم إتاحتها. يتم عرض الإعداد والنتائج في جدول © ail على معدل زمن SL الفعلى | معامل المصدر الكثافة المستشعرا ١ التبخير | التبخير في المتوسط | التشكيل تت 1 المصدر ١ : :ِ "© كيلو ٠,48 ١ ميكرو ١ جم/ Vou أمبير / YY دقيقة . ا ثانية المصدر . 1:7 5,85 of faa أمبير ٠ كيلو | ١85 نثانو "© دقيقة | 5,51 2 سم / ثانية أمبير متر © جدول 10 قياس معامل التشكيل لاحظ أنه كان من العسير تبخير المصدر العضوي 0113101131 على نحو ثابت بسبب عدم ثباته أثناء عملية التبخير وتضمن معدل ترسيبه ما يصل إلى + / = 770 من الاشتقاق من قيمة المجموعة. تم قياس elds الفيزيائي physical thickness بواسطة مسبار ele الغشاء الرقيق .Veeco DekTak 0 A ترسيب البروفسكيت ثنائي المصادر يهدف المخترجون إلى فحص WIA شمسية من البروفسكيت ذات الوصلة المسطحة عن طريق التبخير في نظام الترسيب مزدوج المصادر. يمكن ترسيب البروفسكيت المتبخر أعلى الطبقة المضغوطة من ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 بشكل مباشر بدون طبقة متوسطة المسام (الشكل ٠ “ب 3 ٠ لله . دف
AEA
تم وزن المصدر العضوي 0113111131 والمصدر غير العضوي كلوريد الرصاص 506012 Gs عند You مجم و١٠٠ مجم؛ ووضعهما في الاثنين من البوتقات على التوالي. تم إدخال العينات مع وضع سطحها لأسفل في حامل الطبقة التحتية. بمجرد أن تم تفريغ الضغط في الغرفة وصولاً إلى 85٠0 - 100 باسكال؛ تم فتح وسائل إغلاق الاثنين من مصادر الصمام الثاني باعث الضوء © العضوي OLED بينما يتم تسخين المصادر. بمجرد أن حقق الاثنين من المصادر قيم المجموعة؛ تم فتح وسيلة الإغلاق الخاصة بالطبقة التحتية عن طريق تدوير الحامل من أجل الحصول على غشاء رقيق رفيع السمك منتظم. بعد استكمال pal) تم تغيير لون العينات التي تناظر تركيبة الاثنين من المصادر. ثم تم وضع كل العينات عند طبق ساخن للتجفيف عند ٠٠١ درجة مئوية ٠٠ sad دقيقة لتبلّر بلورة بروفسكيت ٠ قبل الطلاء المغزلي لطبقة المادة الناقلة للثقب. يعرض الشكل 7١ صورة السطح بعد تلدين بلورة البروفسكيت على الطبق الساخن. حتى الآن في التجربة؛ تم استخدام 79 spiro—OMeTAD في محلول كلورو بنزين مع إضافة lithium, tert-butylpyridine (tBP) - t bis(trifluoromethanesulfonyl)imide (Li-TFSI) باعتباره المادة الناقلة dill وتم طلاؤه مغزليًا عند ٠00860 لفة في الدقيقة sad £0 ثانية. في النهاية؛ تم إكمال الأجهزة بتبخير إلكترودات Vo تلامس من الفضة Ag (الشكل (IY بمقارنة البروفسكيت المتبخر مع بروفسكيت hall مغزليًا التقليدي؛ كان للبروفسكيت المتبخر سطح أكثر انتظامًا وتسطيحًا مع ثقوب أقل (الشكل .)١١ لا تتلامس التغطية التامة للبروفسكيت المتبخر بشكل تام فقط مع الطبقة المضغوطة من ثاني أكسيد التيتانيوم 1102؛ ولكن Lay تعزل طبقة المادة الناقلة للتقب عن الطبقة المضغوطة. بالتأكيد سيساعد هذا الخلية الكهروضوئية إضافة ٠ إلى الفلطية خلال النظام. تمييز الجهاز بدأت التجربة بتركيبة متغيرة كلوريد الرصاص ١ : 4 CH3NH3I to PbCI2 إلى ١٠:١6 بنسبة مولارية JB من ea) مثمك ثابت. بمجرد أن يتم الوصول بالتركيبة إلى المستوى الأمثل؛ تم فحص Sl) المرغوب فيه في ظل أفضل تركيبة. ovvy
AEA
لقد تم تحقيق أفضل أداء وصولاً إلى 717 من كفاءة القدرة الكهربائية مع ضبط معدل الترسيب أنجستروم / ثانية لكلوريد الرصاص 50012 الذي ١و 611300113١ على 5,7 أنجستروم / ثانية ل بنسبة مولارية إذا تم أخذ معامل التشكيل في الاعتبار. مع ١ : 9,7 ينبغي بصورة مثالية إعطاؤه 011301113١ ما يكون لتبخير المصدر العضوي Wh إنه dua (Ji ذلك؛ كما هو مذكور من ل 6113011131 4,؟؛ كيلو أنجستروم ١ النهائي المعروض على المستشعر lll انحراف» بلغ © ينبغي أن يبلغ متوسط معدل الترسيب (al كيلو أنجستروم. بصياغة EYE بدلاً من المتوقع أنجستروم / ثانية بدلاً من قيمة الضبط 5,7 أنجستروم / ثانية. في 5,1 CH3NH3I الفعلي ل هذه الحالة؛ تم ترسيب الغشاء الرقيق بالفعل في ظل نسبة مولارية خاصة ب 6113101131 إلى مقاسًا jie نانو 77٠0 فيزيائي يبلغ elds تؤدي للحصول على ١ : 9,8 050612 كلوريد الرصاص .DekTak بواسطة مسبار ٠ ملي YY, EV أدى أفضل أداء إلى الحصول على تيار الخلية الكهروضوئية لدائرة قصر 56ل يبلغ فولط ومعامل ٠,١97 تبلغ VOC فلطية دائرة مفتوحة المركبات العضوية المتطايرة «Yau / أمبير مما يؤدي إلى الحصول على كفاءة تحويل كهربائي للقدرة تصل إلى ١,719 يبلغ (FF) تعبئة : قياس السمات المميزة للتيار - الفلطية YY كما هو معروض في الشكل 9 7 في ظل ضوء الشمس مستحث )2400 Series SourceMeter, Keithley Instruments) ٠٠ ملي واط ©٠سم-؟ وتم إخفاء الخلايا الشمسية باستخدام فتحة فلز ٠٠١ عند إشعاع 6١,5 صباحًا لتحديد المساحة النشطة بلغت نمطيًا 0,071 سم؟ وقياسها في حامل عينة محكمة الضوء لتقليل أية تأثيرات حدية.
XRD تم قياس نموذج حيود أشعة إكس and) من أجل تحديد المحتويات في الغشاء الرقيق التقليدي للبروفسكيت XRD لسطح البروفسكيت المتبخر ثم مقارنته مع نموذج حيود أشعة إكس Yo
YY المطلي مغزليًا والمواد الكيميائية الأساسية الأخرى كما هو معروض في الشكل فإنها تعرض بوضوح أن البروفسكيت المتبخر يكون مطاباً XRD وفقًً لنماذج حيود أشعة إكس في الغالب للمحلول المعالج الخاص بالغشاء الرقيق من البروفسكيت المعالج من المواد المنتجة (التذي يُطلق عليه DMF وكلوريد الرصاص 05012 في داي ميثيل فورماميد CH3NH3I ovvy
0)) الذي يوضح أن البروفسكيت المتبخر له نفس البنية البلورية Je البروفسكيت المطلي
مغزليًا.
تمت مقارنة القياس الأخير في الشكل YE بالامتصاص led بين 70٠0 نانو jie للغشاء الرقيق
المتبخر والغشاء الرقيق المطلي مغزليًا. يكون للامتصاص الخاص بالاثنين من مواد البروفسكيت
0 المتبخر ذي "الوصلة المسطحة" Yor نانو jie الشكل المشابه للامتصاص Jie البروفسكيت الذي
تم طلاؤه مغزليًا ذي "الوصلة المسطحة" ٠٠00 نانو Jie ولكن يكون للبروفسكيت المتبخر وحدات
أكبر في الامتصاص.
الاستنتاج
في هذا الطلب؛ يتم توضيح البروفسكيت المتبخر المختلط غير العضوي - العضوي على الخلايا ٠ الشمسية ذات الوصلة السطحة بأكثر من 715 كفاءة تحويل كهربائية للقدرة عن طريق التحكم
بشكل ملائم في معدل الترسيب الخاص ب 61131801131 وكلوريد الرصاص كلوريد الرصاص
2 والمُمك المترسب على الطبقة التحتية. يتغلب تحقيق استخدام تقنيات التبخير لإنتاج خلايا
شمسية من البروفسكيت على القيود الخاصة بعملية المحلول لإيجاد محلول ملاثم لإذابة المواد
الكيميائية ومن م تساعد أيضنًا في التسويق التجاري للخلايا الشمسية المختلطة غير العضوية - ١ العضوية.
بشكل عام؛ يعتبر من المفيد أن يتم الحفاظ على بنية بلورية ثلاثية الأبعاد في البروفسكيت؛ في
مقابل تكوين مواد بروفسكيت من طبقات التي ia سيكون لها قيم طاقة ربط إكسيتون أكبر :
energies (Journal of Luminescence 60861 (1994) 269 274). يكون من المفيد
أيضًا أن تتوافر القدرة على ضبط فجوة النطاق الخاصة بالبروفسكيت. يمكن تغيير فجوة النطاق إما ٠ عن طريق تغيير الكاتيونات الفلزية أو الهاليدات الخاصة بهاء الأمر الذي يؤثر بشكل مباشر على
كل من المدارات الإلكترونية والبنية البلورية. على نحو بديل؛ عن طريق تعديل الكاتيون العضوي
(Je) سبيل المثال من كاتيون ميثيل أمونيوم إلى كاتيون فورماميدينيوم)؛ يمكن تبديل البنية
البلورية. مع ذلك؛ من أجل المواءمة داخل بلورة البروفسكيت؛ يتحتم الإيفاء بالحالة الهندسية
التالية:
ovvy
-ه6١- Ry + قاد = (Rg + Ry) حيث تكون 4,8,424 هي أنصاف الأقطار الأيونية لأيونات LABX لقد وجد المخترع على نحو غير متوقع أن كاتيون فورماميدينيوم (FO) لا يحتاج تكوين بنية البروفسكيت في بنية بلورية ثلاثية الأبعاد في بروفسكيت FOPPBR3 (بلورة رباعية (tetragonal crystal أو 53 (بلورة © مكعبة (cubic crystal ومواد بروفسكيت من هاليد منها. إنتاج طبقة بروفسكيت من خطوتين ب ٠ ل i] لبقة A wll تم تنميش نموذج إلكترود على طبقات تحتية من الزجاج مطلية باستخدام أكسيد قصدير مشاب بالفلورين (FTO, TEC 7 Pilkington Glass) باستخدام خليط من مسحوق ZN وحمض ٠ الهيدروكلوريك HCL ؟ مولار. ثم تم تنظيفها تتابعيًا في (Hallmanex ماء تم نزع أيونات ie أسيتون» propan—2-ol وبلازما 02. ترسيب طبقة انتقائية للإلكترون تعمل طبقة Gla) dad) (تقريبًا 5٠ نانو (Jie من ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 باعتبارها الطبقة الانتقائية للإلكترون. يتم ترسيبها على الطبقة التحتية عن طريق الطلاء المغزلي (السرعة - ١٠ ١٠ لفة في الدقيقة؛ التسارح = Yorve لفة في الدقيقة / ثانية الزمن = (dnt Te من محلول مرشح (مرشح بولي تيترا فلورو إيثيلين ١40 polytetrafluoroethylene ميكرو (Jie محتوي على Ti - أيزو بروبوكسيد في إيثانول مع ا10! مضاف. تم تسخين هذه الأغشية الرقيقة وصئلاً إلى Cun درجة YEP لمدة ١ دقيقة. pas ليوديد الرصاص Lead iodide (PbI2) وكلوريد الرصاص PbCI2 ٠ .تم ترسيب الأغشية الرقيقة old) ded) (تقريبًا ١5١ نانو متر) أيدوديد الرصاص 0512 0f أو كلوريد الرصاص 56012 عن طريق التبخير الحراري من خلال قناع إخفاء على الطبقات التحتية عند ضغط يبلغ تقريبًا م يي باسكال عند معدل يبلغ تقريبًا Y أنجستروم / ثانية . بلغت ovvY
-6؟١- درجات حرارة التبخير تقريبًا 77١ درجة مئوية و١٠؟ درجة مئوية ليوديد الرصاص 0512 وكلوريد الرصاص 55012 على التوالي. تحويل البروفسكيت عن طريق الطلاء بالغمس للطلاء بالغمس؛ تم غمر الطبقات التحتية المطلية Base في يوديد الرصاص 5512 أو PbCI2 5 في محلول Yo مجم / مل من يوديد ميثيل أمونيوم في لامائي ا010080-2-0 في صندوق قفازات Lae بنيتروجين. كان زمن الغمس ثابثًا لكل الأجهزة عند ٠١ دقائق. بعد الطلاء بالغمس»؛ تم تلدين الطبقات التحتية عند ١7١ درجة مئوية في جو من النيتروجين لمدة ٠١ دقائق. يمكن أن تتراوح أزمنة الغمس من ٠١ ثوان إلى ؟ ساعة؛ للمثال المتوفر في هذه البراءة؛ بلغ زمن الغمس Yo دقائق. Yo ترسيب مادة ناقلة للتقب ثم ترسيب sald) الناقلة للقبء YY YY - تتراكيس - -N «N) داي -م ميثتوكسي فينيل أمين) 9, ’= سبيرو فلورين (100-01/87/80م5)؛ عن طريق الطلاء المغزلي dopa) = al ٠٠٠ في الدقيقة التسارع = ٠٠.١. لفة في الدقيقة / ثانية الزمن حا 51( من محلول كلورو بنزين Av ملي مولار محتوي على 780 بالمول t - بيوتيل بيريدين (BP) و0٠77 بالمول ٠ ليثيوم بيس (تراي فلورو ميثان سلفونيل) إيميد (LI=TFSI) كمواد إضافة في صندوق قفازات معباً ترسيب الإلكترود العلوي تم ترسيب الإلكترود العلوي من الفضة عن طريق التبخير الحراري (الضغط تقريبًا © ميكرو تور) وصولاً لثمك يبلغ ١٠١ نانو متر عند تقريبًا أنجستروم / ثانية. ٠ تمييز التيار - الفلطية للجهاز لقياس أداء الخلايا الشمسية؛ تم توليد ضوء الشمس مستحث صباحًا 1,0 باستخدام محاكي شمسي من فئة AAB ABET معاير للحصول على مستحث صباحًا 5,؛ بإشعاع مكافئ ٠١6,5 ملي واط / سم 31 باستخدام خلية مرجعية من سيليكون مرشح KG5 معاير ب NREL ثم حساب oVVY
AEA
إلى 9060 نانو مترء التي ٠٠ بين lad ٠.١66 ليكون mismatch factor معامل عدم التوافق وخلايا اختبار KGS تفوق نطاق التشغيل الخاص بكل من خلية مرجعية من سيليكون مرشح
Keithley 2400, ( البروفسكيت. تم تسجيل منحنيات التيار - الفلطية باستخدام مقياس مصدر (Yaw +, +170) ه5لا). تم إخفاء الخلايا الشمسية باستخدام فتحة فلز تحدد المساحة النشطة
YY لشدة - فلطية تيار خاصة بالأجهزة في الشكل shed) الشمسية. يتم عرض السمات DAL © (ليوديد الرصاص 0012 باعتباره الطبقة المتفاعلة ضوئيًا (الخط المتقطع) 5 CH3NH3PDI3 بعد الطلاء بالغمس باعتباره الطبقة المتفاعلة ضوئيًا (الخط المصمت)) والشكل ؟؟ (لكلوريد الرصاص 2 باعتباره الطبقة المتفاعلة ضوئيًا (الخط المتقطع) و CH3NH3PbI3-XCIX بعد الطلاء بالغمس باعتباره الطبقة المتفاعلة ضوئيًا (الخط المصمت)). ١٠ حيود أشعة إكس تم الحصول على أطياف حيود أشعة إكس (XRD) من الأجهزة بدون إلكترودات من الفضة (نجاج مطلي ب أكسيد قصدير مشاب بالفلورين أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO ثاني أكسيد التيتانيوم (TiO2 الطبقة المتفاعلة (spiro-OMeTAD (isa باستخدام مقياس حيود لأشعة إكس من نوع Pro 200811 ل08087/1068. يتم عرض النتائج في الشكل .7١ aad) ١٠ المجهري الإلكتروني الماسح تم الحصول على صور الفحص المجهري الإلكتروني الماسح (SEM) من Bead) بدون إلكترودات من الفضة (زجاج he ب أكسيد قصدير مشاب بالفلورين أكسيد قصدير مشاب بالفلورين FTO ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 الطبقة المتفاعلة (spiro—OMeTAD (isu باستخدام 5-4300 1118001. يتم عرض الصور بالميكروسكوب الإلكتروني في الشكل 795 (ل ٠١ بعد الطلاء بالغمس) والشكل CH3NH3PbI3—XCIxX كلوريد الرصاص 05012 و(ب) )( ٠ و(ب) 6113111130513 بعد الطلاء بالغمس). PbI2 (أ) ليوديد الرصاص J) النتائج والمناقشة تسمح الطريقة ذات الخطوتين بإنتاج أغشية رقيقة منتظمة من البروفسكيت باستخدام تقنيات اقتصادية التي تكون متاحة بالفعل في صناعة تركيب الألواح الزجاجية. بعد ترسيب أولي لداي ovvy
“VENA هاليد فلزء يمكن إنتاج أغشية )488 منتظمة مستوية من البروفسكيت بواسطة ترشيح داي هاليد
A) أطياف حيود أشعة إكس لأغشية رقيقة رفيعة TY الفلز مع الهاليد العضوي. يعرض الشكل
Pbl2 (ج) ليوديد الرصاص «CH3NH3PbI3—XCIx (ب) PbCI2 من (أ) كلوريد الرصاص و(د) 011300130513. بعد الطلاء بالغمس» تعرض الأغشية الرقيقة من كل المواد المنتجة انخفاض شدة نسبي للقمم التي تناظر شبكة المادة المنتجة وزيادة نسبية لشبكة البروفسكيت (غير oo للمادة المنتجة) مما يدل على تحوّل سائد للأغشية (XRD) موجود في أطياف حيود أشعة إكس الرقيقة من المادة المنتجة في البروفسكيت. يعرض الشكل 74 صور دقيقة بالمسح بالإلكترون لقطاع عرضي من الأجهزة تعرض» من القاع طبقة ثاني أكسيد FTO إلى القمة؛ الطبقة التحتية من الزجاج؛ أكسيد قصدير مشاب بالفلورين 10-01/8م8._تكون 17/0 (isn التيتانيوم 1102 الحساسة للإلكترون؛ الطبقة المتفاعلة ٠ بعد CH3NH3PbI3-XCIx الطبقات المتفاعلة ضوئيًا هي (أ) كلوريد الرصاص 05012؛ و(ب) صور دقيقة بالمسح بالإلكترون لقطاع عرضي من الأجهزة 7١0 الطلاء بالغمس. يعرض الشكل
FTO تعرض» من القاع إلى القمة؛ الطبقة التحتية من الزجاج؛ أكسيد قصدير مشاب بالفلورين
SPIro— «isa أكسيد التيتانيوم 1102 الحساسة للإلكترون؛ الطبقة المتفاعلة Sb طبقة هي )( ليوديد الرصاص 5512 و(ب) Wes ةلعافتملا wlll o& .OMeTAD ١ بعد الطلاء بالغمس. في كلا الحالتين» تعرض مواد البروفسكيت المنتجة عن CH3NH3PDI3 طريق الطلاء بالغمس انتظامًا نسبيًا. و؟3. في الشكل TY يتم عرض السمات المميزة لشدة - فلطية تيار خاصة بالأجهزة في الأشكال
Lal) باعتبارها الطبقة النشطة PbI2 يتم عرض السمات المميزة لجهاز تم إعداده باستخدام (FY المتقطع) وجهاز حيث تم تحويل يوديد الرصاص 0012 المتبخر إلى 6113111135513 (الخط Yo .propan—2-ol المصمت) عن طريق الطلاء بالغمس في محلول يوديد ميثيل أمونيوم في بير كلورو إيثيلين Yau / ملي أمبير ١,1 - متغيرات الأداء ليوديد الرصاص 09512 تكون 56ل = FF فولط؛ معامل التعبئة ١,97 = Voc المركبات العضوية المتطايرة 20,8602 = PCE بير كلورو Yaw / تكون 506ل = 5,9 ملي أمبير CH3NH3PDI3 متغيرات الأداء ل ..,2١ = FF فولط؛ معامل التعبئة +, AY = VOC المركبات العضوية المتطايرة 27,4 = PCE إيثيلين Yo ovvy
-4؟١- LT) في الشكل YY يتم عرض Shee Glew لشدة - فلطية تيار خاصة بجهاز تم إعداده باستخدام كلوريد الرصاص 06012 باعتبارها الطبقة النشطة (الخط المتقطع) وجهاز حيث تم تحويل كلوريد الرصاص 50012 المتبخر إلى CH3NH3PbI3-XCIx (الخط المصمت) عن طريق الطلاء بالغمس في محلول يوديد ميثيل أمونيوم في ا000080-2-0. متغيرات الأداء © لكلوريد الرصاص PbCI2 هي 56ل = Lev, AY أمبير / Yau بير كلورو إيثيلين PCE = 7 ا المركبات العضوية المتطايرة ١,795 = VOC فولط؛ معامل التعبئة FF = 77,.. متغيرات الأداء ل CH3NH3PbI3—XClx هي 56ل = ١5,0 ملي أمبير / Yau بير كلورو إيثيلين ٠ = PCE ,27؛ المركبات العضوية المتطايرة ١,8 = VOC فولط؛ معامل التعبئة FF = 4 ». في كلا الحالتين؛ يتم عرض أنه يتم إنتاج الأجهزة القابلة للتطبيق بواسطة هذه الطريقة ذات ٠ الخطوتين. تقدير طول انتشار المادة الحاملة للشحنة لشحنة (إما إلكترون أو ثقب) سيتم توليدها من امتصاص الضوء وتجميعها بكفاءة من غشاء رقيق صلب رفيع cold) يتحتم أن تكون فترة عمر أنواع الشحنات (الوقت الذي ستستمر فيه قبل sale) الدمج مع أنواع مشحونة على نحو مضاد) أطول من الزمن الذي تستغرقه للانتشار عبر الغشاء Vo الرقيق وتتدفق إلى الإلكترود. يمكن استخدام المنتج الخاص بمعامل الانتشار (De) وفترة عمر (Te) لتقييم طول الانتشار (LD) بإتباع ¥D7 ح وه لقد تم استخدام إخماد الوميض الضوئي (PL) من قبل بنجاح مع مواد شبه موصلة عضوية؛ من أجل تحديد طول الانتشار الخاص بزوج الإلكترون - الثقب لرابطة الضوء المستحث (الإكسيتون). عن طريق تصنيع بشكل مبسط أغشية رقيقة صلبة رفيعة (BSL وجود أو عدم وجود طبقة ٠ إخماد إكسيتون؛ وقولبة إضمحلال الوميض الضوئي على معادلة Olam من الممكن تحديد بدقة فترة عمر الإكسيتون؛ معدل الانتشار وطول الانتشار. يتم عرض صورة ماسح الإلكترون الدقيق SEM لقطاع عرضي من طبقة امتصاص هاليد مختلط eld 770- نانو jie مع طبقة إخماد ثقب علوية من Spiro-OMeTAD في الشكل .7١ ovvy
OW — \ _ تمت قولبة ديناميكيات إضمحلال PL عن طريق حساب العدد والتوزيع الخاص بحالات HELLY في الغشاء الرقيق © (x,t) وفقًا لمعادلة الانتشار 1-0 (المعادلة ,)١ E{tinix } - اس - ل \ ( 'ّ حيث D تكون معامل الانتشار 5 k(t) تكون معدل الإضمحلال PL في ظل غياب أية sale إخماد. 8 تم تحديد إجمالي معدل الإضمحلال K عن طريق مواعمة إضمحلال استثنائي ممدد مع بيانات PL المقاسة من طبقات البروفسكيت المطلية ب .Poly(methyl methacrylate) PMMA & تضمين تأثير طبقة الإخماد عن طريق افتراض أنه يتم إخماد كل المواد الحاملة المتولدة ضوئيًا التي تصل إلى السطح البيني؛ مما يؤدي إلى الحصول على Da الحد 1,0(7)- صفرء حيث X = صفر عند السطح البيني للزجاج / البروفسكيت وا تكون مك الغشاء الرقيق من البروفسكيت. ٠ عندما تتم استثارة العينات Wan من جانب الطبقة التحتية من الزجاج الخاصة بالعينات؛ تم إعطاء التوزيع الأولي لحالات استثارة الضوء بواسطة (004-)008*0-(0),0؛ حيث © تكون معامل الامتصاص. ثم تم تحديد طول الانتشار LD الخاص بالأنواع من 57“ = Lo حيث + k / ١< تكون فترة عمر إعادة الاندماج في ظل غياب عامل إخماد. إذا تم تكوين الشحنات المطلقة على نحو سائد عند استثارة الضوء؛ يمتل إضمحلال PL تفكيك مجموعات المواد الحاملة ١ للشحنات ويمكن تقدير معاملات الانتشار للثقوب أو الإلكترونات اعتمادًا على أي طبقة إخماد يتم استخدامها. يتم عرض النتائج من مواءمات نموذج الانتشار في الشكل YE والشكل To والمتغيرات الملخصة في جدول DY ١ تكون ثابت الانتشار 5 LD طول الانتشار). جدول + oe) O_o الإلكترونا:” 7٠١ + ٠١46| A en saci فا 7030443 د CH3NH3Pbl 3 ovvy
-١81- مختلط alley; (CH3NH3PDI3) يوديد lf تتم مقارنة مواد البروفسكيت من إضمحلال وميض ضوئي لغشاء gap الذي YY في الشكل (CH3NH3PbI3-xClx) عضوي لهاليد مختلط *ا0*-113001135513© (مربعات (ala) بروفسكيت رقيق من تراي هاليد سوداء) وغشاء بروفسكيت رقيق من تراي يوديد رصاص عضوي 0013011130513 (مربعات المستشهد بها باعتبارها الزمن المستغرق للوصول Te فترات العمر PMMA ب he رمادية)؛ © إلكترون الخاص بالشدة الأولية. / ١ إلى بشكل مثير للدهشة؛ تكون أطوال الانتشار لكل من الإلكترونات والثقوب في البروفسكيت من ميكرو مترء الذي يكون إلى حدٍ كبير أطول من عمق الامتصاص ١ الهاليد المختلط أكبر من إلى 7060 نانو متر. يوضح هذا أنه ينبغي ألا يكون هناك متطلبات للبنية متوسطة ٠٠١ البإلغ من المسام أو البنية بحجم النانو مع المادة الماصة للبروفسكيت النوعية هذه. يكون للأغشية الرقيقة من ٠ نانو متر لكل من ٠٠١ طول انتشار أقصر يبلغ تقريبًا CH3NH3PDIZ تراي يوديد البروفسكيت الإلكترونات والتقوب. تسمح أطوال الانتشار الأطول الخاصة بالبروفسكيت من الهاليد المختلط نانو ٠٠١ تزيد عن elds بتكوين الأدوات الفلطائية الضوئية ذات الطبقات من البروفسكيت بقيم متر تُظهر سمات مميزة فائقة لجهاز. الطرق Vo تحضير المادة المنتجة للبروفسكيت: عن طريق تفاعل ميثيل أمين» 777 بالوزن في إيثانول (MAI) تم تحضير ميثيل أمين يوديد «(Sigma-Aldrich) بالوزن في ماء 7897 (HI) مع حمض هيدرويوديك (Sigma-Aldrich) ٠٠١ قطرة بقطرة بينما يتم التقليب. عند التجفيف عند HI عند درجة حرارة الغرفة. تمت إضافة درجة مئوية؛ تم تكوين مسحوق أبيض» تم تجفيفه طوال الليل في فرن خوائي وإجراء إعادة تبلّر له ٠ أو محلول المادة المنتجة ل CH3NH3PDIZ-XCIX الاستخدام. لتكوين Jd من إيثانول
Sigma-) (Il) تمت إذابة يوديد ميثيل أمونيوم وإما كلوريد الرصاص «CH3NH3PbI3 داي ميثيل فورماميد لامائي - NN في (Sigma-Aldrich) يوديد (Y) أو الرصاص (Aldrich ovvy yoy إلى كلوريد الرصاص 85012 / 512©؛ بتركيزات MAL من ١ : ¥ عند نسبة مولارية (DMF) مولار من كلوريد / يوديد رصاص و7,14 مولار من يوديد ميثيل أمونيوم. +, AA نهائية تحضير الطبقة التحتية: تتابعيًا في 77 مظف من PL TA تم تنظيف الطبقات التحتية من الزجاج لقياسات الامتصاص؛ وبلازما أكسجين. تم تصنيع الأجهزة على جهاز مطلي propan—2-ol أسيتون» challmanex ٠ الأولي FTO تمت إزالة .)١0- af ١ (Pilkington) (FTO) بأكسيد قصدير مشاب بالفلورين الإغلاق عند التلامس مع أوتاد القياس» عن طريق aid من المناطق تحت منطقة تلامس الآنود؛ باستخدام حمض الهيدروكلوريك 7 مولار ومسحوق (FTO) تنميش أكسيد قصدير مشاب بالفلورين الزنك. ثم تم تنظيف الطبقات التحتية وتنميشها بالبلازما كما هو موضح من قبل. تم ترسيب طبقة إعاقة ثقب من ثاني أكسيد التيتانيوم 1102 مدمج عن طريق الطلاء المغزلي لمحلول حمضي ٠ shal م لمدة 0 دقيقة. تم 50٠0 معتدل من أيزو بروبوكسيد تيتانيوم في إيثانول؛ وملدن عند ثانية. 6١0 sad لفة في الدقيقة 700٠ الطلاء المغزلي عند ترسيب بروفسكيت: لتكوين طبقة البروفسكيت لقياسات الطيف؛ تم طلاء المادة المنتجة غير المتكافئة مغزليًا على الطبقة التحتية عند 70060 لفة في الدقيقة في الهواء. ل *ا0*-0113111130513؛ تم استخدام ١ تم تخفيف المادة المنتجة في داي ميثيل فورماميد «CH3NH3PDI3 المادة المنتجة كما هي؛ ل بعد الطلاء المغزلي؛ DMF نسبة محلول مادة منتجة إلى داي ميثيل فورماميد ١ : ١ عند DMF
Aid) £0 لمدة Age Aap ٠٠١ عند CH3NH3PbI3-xClx تم تلدين الأغشية الرقيقة دقيقة. ثم تم ترسيب عوامل الإخماد العلوية V0 درجة مئوية لمدة ١٠١ عند CH3NH3PDIZ في الهواء عبر الطلاء المغزلي لمحاليل كلورو بنزين بالشروط التالية: بولي (ميثيل ميثاكريلات) ٠ - عند ١٠مجم / مل وفينيل (Sigma-Aldrich ؛ Poly(methyl methacrylate) PMMA) 5016006فاناديوم 8 tPCBM ميثيل إستر لحمض بيوتيريك (وصلة غير متجانسة كتلية C61 لفة في الدقيقة؛ و: ٠٠٠١ مجم / مل؛ كلاهما تم طلاؤه مغزليًا عند To /ا) عند 2,2,7, —tetrakis—(N,N-di-p—methoxyphenylamine)9,9’-spirobifluorene بابلا
الج \ — (Borun Chemicals ¢spiro-OMeTAD) عند ١,47 مولار مطلي Uhre عند ٠٠٠68 لفة في الدقيقة. التمييز : © صور ماسح الإلكترون الدقيق (/581). تم قياس قيم Cll) العينة باستخدام مقياس وعورة سطح .Veeco DekTak 0 قياسات الوميض الضوئي والمواءعمات: تم الحصول على قياسات اللمعان الضوئي PL في الحالة الثابتة والمحللة ie) باستخدام إعداد عد فوتون فردي مرتبط بالزمن time-correlated single photon counting (TCSPC) cus. (FluoTime 300, PicoQuant GmbH) ٠ استثارة عينات الغشاء الرقيق ضوئيًا باستخدام رأس ليزر ov نانو متر (LDH-P-C-510, PicoQuant GmbH) تصدر نبضات عند ترددات فيما بين ٠١ - oF ميجا Jim بفترة نبضة تبلغ 0511١77 وتدفق جسيمات يبلغ Nd 7١- / سم7. تم تجميع PL باستخدام تجميعة كاشف بمضاعف ضوئي مختلط وأحادي اللون Je دقة .(PMA Hybrid 40, PicoQuant GmbH) ٠ تعتبر المتغيرات التي تصف ديناميكيات الوميض الضوئي في ظل غياب أي عامل إخماد الخلفية المقاس من أغشية رقيقة من البروفسكيت مغطاة ب Poly(methyl methacrylate) PMMA بدالة إضمحلال استثنائي ممدد لها الصورة, Y. ااا مج ح Hey تم تحديد الأخطاء في متغيرات المواءعمة عن طريق فحص الأسطح المختزلة 77 التي تم الحصول عليها عن طريق تغيير على نحو مستقل كل متغير مواعمة. تم استخدام dad اقتطاع تبلغ ١١ = 42 / )0( 4 في كل حالة للحصول على حدود عند مستوى ثقة يبلغ 48 7. لسهولة ovvY
o ¢ —_ \ _ مقارنة فترات العمر فيما بين العينات مع عوامل الإخماد المختلفة؛ يتم تعريف Te باعتبارها الزمن المستغرق بعد الاستثارة لشدة اللمعان الضوئي للانخفاض إلى ١ / إلكترون خاص بشدة القمة الخاصة بها. تم أخذ (dll في دقة فترةٍ العمر هذه باعتباره نصف نطاق النقاط التي تكمن قيمتها المتوسطة في انحراف قياسي لخط ١ / إلكترون. يتم عرض نتائج ديناميكيات الوميض الضوئي في الأشكال FY 35 ve قولبة الانتشار: تمت قولبة ديناميكيات إضمحلال PL عن طريق حساب الرقم والتوزيع الخاص بحالات HELLY في الغشاء الرقيق © (8,») Gy لمعادلة الانتشار 1-0, nin لطبت p 20 ٠ حيث D تكون معامل الانتشار 5 k(t) تكون معدل الإضمحلال PL في ظل غياب أية sabe إخماد. تم تحديد إجمالي معدل الإضمحلال» 818-1-+8 = ck - 1/16] + 1/knr عن طريق مواءمة إضمحلال استثنائي ممدد لبيانات PL المقاسة من طبقات البروفسكيت مع Poly(methyl methacrylate) PMMA وافتراضها على نحو مستقل عن مادة التغطية. تم تضمين تأثير طبقة الإخماد عن طريق افتراض أنه يتم إخماد كل الإكسيتونات التي تصل إلى السطح البيني بكفاءة Vo وحدة aa = (LN) حيث X = صفر عند السطح البيني للزجاج / البروفسكيت وا تكون لمك الغشاء الرقيق من البروفسكيت). حيث إن نبضة الاستثارة كانت من جانب الطبقة التحتية من الزجاج للعينات؛ تم أخذ التوزيع الأولي للإكسيتونات لتكون (000-)م»*«008-(0,»)؛ حيث a = AJL (الامتصاص عند ١7 © نانو oll / jie طبقة البروفسكيت). تم افتراض أي انحراف من «ذا التوزيع بسبب انعكاس نبضة الليزر عند السطح البيني للبروفسكيت / عامل الإخماد يكون غير ذي A) أهمية. من أجل حساب طول الانتشار LD ثم تنويع معامل الانتشار لتقليل YPN مربعة ل chi المختزلة ‘ ااا الاح تي Age [a s—13 sd rs ovvy
— \ 00 —
حيث (Hy و6لا(1) تكون قيم شدة اللمعان الضوئي المقاسة والمحسوبة عند الزمن ]؛ 7 تكون عدد
bi البيانات وم تكون عدد متغيرات المواعمة. تم حل المعادلة Gd) باستخدام اللوغاريتم
axes Crank-Nicholson إكسيتونات المتكاملة عبر الغشاء الرقيق بأكمله من أجل تحديد
إجمالي شدة اللمعان الضوئي PL عند الزمن Lb تمت مواءمة كل من النماذج الاستثنائية الممدة
fo} ونماذج الانتشار 1-D مع بيانات TCSPC التجريبية عن طريق إعادة الالتفاف المتكرر مع دالة
استجابة الأداة instrument response function (IRF) الذي تم تسجيله على نحو منفصل؛
بحيث تكون شدة اللمعان الضوئي ا الملاحظة,
و — (Of وز ح Ho
هي نتيجة منحنى الإضمحلال الفعلي real decay curve ؛ f(t) الملتف مع Aly استجابة ٠ الأداة عا g(t) متوسط طول الانتشار 0ا يكون متوفر بواسطة 525 < Eo حيث Te تكون
الزمن المستغرق ل اللمعان الضوئي PL ليقع إلى ١ / إلكترون لشدته الأولية في ظل غياب أي
عامل إخماد.
oVVY
Claims (1)
- -1ه١- عناصر الحماية.١ أداة فلطائية ضوئية photovoltaic device تشتمل على طبقة مدمجة layer 001110821 من مادة شبه semiconductor alia se من بروفسكيت متفاعلة ضوئيا photoactive (perovskite حيث يكون للمادة شبه الموصلة من البروفسكيت المتفاعلة ضوئيا بنية بلورية ثلاثية الأبعاد .three—dimensional crystal structure lo}". أداة فلطائية ضوئية photovoltaic device وفقا لعنصر الحماية )¢ حيث يتم وضع الطبقة المدمجة layer 0017108©1 من مادة شبه موصلة !561771001701010 من بروفسكيت ile lle ضوئيا photoactive perovskite بين منطقة من نوع N ومنطقة من نوع 0 وتشكل وصلة غير متجانسة heterojunction مستوية مع أحد أو كلا من المنطقة من النوع 7 والمنطقة من النوع م. ye حيث تشتمل الأداة ٠ لعنصر الحماية 8 photovoltaic device أداة فلطائية ضوئية ." على: منطقة من نوع ١ تشتمل على طبقة من نوع 7 واحدة على الأقل؛ و منطقة من نوع © تشتمل على واحدة على الأقل طبقة من نوع م؛ V0 حيث يتم وضع الطبقة المدمجة (compact layer مادة شبه موصلة semiconductor من بروفسكيت dle lite ضوئيا photoactive perovskite بين المنطقة من النوع 7 والمنطقة من النوع م0 وتشكل وصلة غير متجانسة heterojunction مستوية مع أحد أو كلا من المنطقة من nog gill والمنطقة من النوع Pp OF إلى ١ وفقا لأي من عناصر الحماية من 0001017014810 device أداة فلطائية ضوئية .4 ٠ من semiconductor من مادة شبه موصلة 0011082821 layer حيث تشتمل الطبقة المدمجة على طبقة من مادة شبه موصلة من photoactive perovskite بروفسكيت متفاعلة ضوئيا بدون مسام مفتوحة. photoactive perovskite بروفسكيت متفاعلة ضوئيا ovvY-/ه -١ Lo أداة فلطائية ضوئية device 00101017011816 وفقا لأي من عناصر الحماية من ١ إلى 4؛؛ حيث تتكون الطبقة المدمجة compact layer من مادة شبه موصلة 561710017000101 من بروفسكيت متفاعلة ضوئيا photoactive perovskite بصورة أساسية من المادة شبه الموصلة من البروفسكيت perovskite semiconductor المتفاعلة ضوئيا ؛ وتتكون بصورة مفضلة من © المادة شبه الموصلة من البروفسكيت المتفاعلة ضوئيا. . أداة فلطائية ضوئية photovoltaic device وفقا لأي من عناصر الحماية من ١ إلى 0 حيث تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت perovskite semiconductor المتفاعلة ضوئيا photoactive perovskite قادرة على امتصاص الضوء وبواسطة هذه الطريقة توليد ٠ تنواقل ذات شحنة مطلقة free charge carriers LY أداة فلطائية ضوئية device 0101017014810 وفقا لأي من عناصر الحماية من ١ إلى 6؛ حيث تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت perovskite semiconductor المتفاعلة ضوئيا photoactive perovskite عبارة عن مادة حساسة للضوء photosensitizing ١ ل07181©018 وتكون قادرة على تنفيذ كل من توليد الضوء ونقل الشحنة. A أداة فلطائية ضوئية device 00101017011816 وفقا لأي من عناصر الحماية من ١ إلى FV حيث يتراوح سمك الطبقة من sale شبه موصلة SEMiconductor من بروفسكيت متفاعلة ضوئيا perovskite 0001086176 من ٠١ نانومتر إلى ٠٠١ ميكرومتر؛ ويتراوح بصورة مفضلة من ٠١ Ye نانومتر إلى ٠١ ميكرومتر.4. أداة فلطائية ضوئية device 0101017014810 وفقا لأي من عناصر الحماية من ١ إلى A حيث تشتمل الأداة على: (i) طبقة أولى تشتمل على مادة مسامية porous material ومادة شبه موصلة Semiconductor Yo من بروفسكيت متفاعلة ضوئيا photoactive perovskite موضوعة في تقوب المادة المسامية ؛ و ovvYمه -١ (i) طبقة تغطية موضوعة على الطبقة الأولى المذكورة» حيث تكون طبقة تغطية هي الطبقة المدمجة compact layer المذكورة من مادة شبه Alia ge من بروفسكيت متفاعلة ضوئيا ؛ حيث تكون المادة شبه الموصلة من البروفسكيت perovskite semiconductor المتفاعلة ضوئيا في طبقة التغطية في تلامس مع المادة شبه الموصلة من البروفسكيت في الطبقة الأولى. lo}. أداة فلطائية ضوئية photovoltaic device وفقا لعنصر الحماية 4 عندما يعتمد على عنصر الحماية ١ أو عنصر الحماية oF حيث تتلامس المادة شبه الموصلة من البروفسكيت perovskite semiconductor المتفاعلة ضوئيا photoactive perovskite الطبقة الأولى مع إحدى المنطقتين من نوع P ومن النوع en وتتلامس المادة شبه الموصلة من Ye البروفسكيت المتفاعلة ضوئيا في طبقة التغطية مع المنطقة الأخرى من نوع م ومن النوع 0..١ أداة فلطائية ضوئية device 0010107011816 وفقا لعنصر الحماية 4 أو عنصر الحماية ٠ حيث تكون المادة المسامية متوسطة .Mesoporous alu).١ أداة فلطائية ضوئية photovoltaic device وفقا لأي من عناصر الحماية من 9 إلى OY Vo حيث تكون المادة المسامية porous material عبارة عن أي من: مادة ناقلة للشحنة s¢charge—transporting material sal عازلة كهربيا dielectric material بها فجوة نطاق gap 0800 تساوي أو أكبر من 4,٠ إلكترون فولط. NYY. أداة فلطائية ضوئية device 070101701816 وفقا لعنصر الحماية ١ أو عنصر الحماية ؟ حيث تشتمل المنطقة من النوع N على أي من: طبقة من نوع "؛ و طبقة من نوع ١ وطبقة معيقة للإكسيتون blocking layer 601100 من نوع 7 بصورة مفضلة حيث يتم وضع الطبقة معيقة للإكسيتون من نوع 7 بين الطبقة من نوع 7" وتشتمل الطبقة © (الطبقات) على المادة شبه الموصلة من البروفسكيت perovskite semiconductor المتفاعلة.photoactive perovskite Lisa ovvY-4ه١-6. أداة فلطائية ضوئية photovoltaic device 3 لعنصر الحماية ١ أو عنصر الحماية ؟ حيث تشتمل المنطقة من النوع م على أي من: طبقة من نوع 6؛ و. © طبقة من نوع 0 و8 من نوع p طبقة معيقة للإكسيتون c€Xciton blocking layer وبصورة مفضلة حيث يتم وضع الطبقة من pg sill المعيقة للإكسيتون بين الطبقة من نوع م وتشتمل الطبقة(الطبقات) على المادة شبه الموصلة من البروفسكيت perovskite semiconductor المتفاعلة ضوئيا .photoactive perovskite No ٠ أداة فلطائية ضوئية photovoltaic device وفقا لأحد عناصر الحماية dill) حيث تشتمل المادة شبه الموصلة من البروفسكيت perovskite semiconductor المتفاعلة ضوئيا photoactive perovskite على أنيون واحد على الأقل منتقى من أنيونات هاليد halide J anions أنيونات كالكرجنيد anions 1060996016 13ه؟؛ بصورة مفضلة حيث يشتمل البروفسكيت perovskite على كاتيون (Jl cation كاتيون ثان؛ ١ والأنيون الواحد على الأقل المذكورء بصورة اختيارية حيث يكون الكاتيون الثاني عبارة عن كاتيون فلزي cation 171618 منتقى من أيون النحاس copper ion (Cu2+) وأيون البالديوم ion (Pd2+) 0811801007 وأيون القصدير fon (Sn2+) 110؛ بصورة مفضلة حيث يكون الكاتيون الفلزي منتقى من أيون البالديوم (Pd2+) وأيون القصدير (+502)؛ و.organic cation بصورة اختيارية حيث يكون الكاتيون الأول عبارة عن كاتيون عضوي ٠ حيث يكون (V0 لعنصر الحماية photovoltaic device أداة فلطائية ضوئية . 7 mixed —anion perovskite عبارة عن بروفسكيت لأنيون مختلط perovskite البروفسكيت halide anions alla يشتمل على اثنين أو أكثر من الأنيونات المختلفة المنتقاه من أنيونات 5 وأنيونات anions aia SIS ©01181009©6010؛ وبصورة مفضلة حيث يكون البروفسكيت عبارة ovvY-١١- حيث يكون الاثنين أو الأكثر من cmixed—halide perovskite عن بروفسكيت لهاليد مختلط المختلفة. halide anions الأنيونات المختلفة المذكورة عبارة عن اثنين أو أكثر من أنيونات هاليد وفقا لأحد عناصر الحماية السابقة؛ حيث تكون photovoltaic device أداة فلطائية ضوئية VV المتفاعلة ضوئيا perovskite semiconductor المادة شبه الموصلة من البروفسكيت © :)١( عبارة عن مركب بروفسكيت وفقا للصيغة photoactive perovskite 3م( حيث: واحد على الأقل؛ 01098016 cation عبارة عن كاتيون عضوي [A] واحد على الأقل؛ و 016181 cation عبارة عن كاتيون فلزي [B] Ya عبارة عن أنيون 801007 واحد على الأقل. [X] Jia [X] حيث VY لعنصر الحماية 8 photovoltaic device أداة فلطائية ضوئية .٠ وأنيونات halide anions اثنين أو أكثر من الأنيونات المختلفة المنتقاه من أنيونات هاليد ويمثل بصورة مفضلة اثنين أو أكثر من أنيونات هاليد cChalcogenide anions كالكوجنيد Yo المختلفة. halide anions Sle وفقا لأحد عناصر الحماية السابقة تكون photovoltaic device فلطائية ضوئية 51d LY 4 تشتمل الأداة على الكترود Cua عن أداة فلطائية ضوئية بوصلة ترادفية أو متعددة الوصلات؛ الكترود ثاني؛ و» يتم وضعها بين الالكترودات الأولى والثانية: (J sf electrode ٠ compactlayer تشتمل على الطبقة المدمجة photoactive region منطقة متفاعلة ضوئيا photoactive من بروفضكيت متفاعلة ضوئيا semiconductor المذكورة من مادة شبه موصلة ؛ و (© 01/56 منطقة متفاعلة ضوئيا أخرى واحدة على الأقل؛ بصورة مفضلة حيث تشتمل المنطقة المتفاعلة ضوئيا الأخرى الواحدة على الأقل على واحدة على © «semiconductor الأقل طبقة من مادة شبه موصلة ovvY-١١١- crystalline lie بصورة أكثر تفضيلا حيث تشتمل المادة شبه الموصلة على طبقة من سيليكون ؛ سيلينيد القصدير copper والنحاس zine والزنك 117 sulphide كبريتيد القصدير 07 والزنك 1170 selenide sulphide والزنك والنحاس؛ كبريتيد سيلينيد القصدير tin selenide والإنديوم 170101177 والنحاس» داي سيلينيد الجاليوم gallium selenide والنحاس؛ سيلينيد الجاليوم indium selenide والإنديوم 0 والنحاس أو سيلينيد الإنديوم 981١000 selenide © والتحاس. NY وفقا لأي من عناصر الحماية من photovoltaic device أداة فلطائية ضوئية .٠ perovskite على طبقة من نوع | التي تشتمل على بروفضكيت p حيث تشتمل المنطقة من النوع وبصورة مفضلة حيث يكون بروفسكيت الطبقة من نوع م مختلف عن المادة شبه الموصلة من eV .photoactive perovskite المتفاعلة ضوئيا perovskite semiconductor البروفسكيت Yo وفقا لأي من عناصر الحماية من ؟ إلى photovoltaic device أداة فلطائية ضوئية LY) perovskite تشتمل على بروفضكيت An طبقة من نوع Jon حيث تشتمل المنطقة من النوع مختلف عن المادة شبه الموصلة من ١ مفضلة حيث يكون بروفسكيت الطبقة من نوع Haars V0 .photoactive perovskite المتفاعلة ضوئيا perovskite semiconductor البروفسكيت تشتمل cmulti—junction photovoltaic device أداة فلطائية ضوئية متعددة الوصلات LY Y على: أول؛ electrode الكترود ٠ الكترود ثاني؛ و موضوعة بين الالكترودات الأولى والثانية: من 60110321 layer dase تشتمل على طبقة photoactive region منطقة متفاعلة ضوئيا photoactive من بروفسكيت متفاعلة ضوئيا semiconductor alia se مادة شبه حيث يكون للمادة شبه الموصلة من البروفسكيت المتفاعلة ضوئيا بنية بلورية ثلاثية «perovskite Yo ,sthree—dimensional crystal structure الأبعاد ovvY-١١7- منطقة متفاعلة ضوئيا أخرى واحدة على الأقل. وفقا multi—junction photovoltaic device أداة فلطائية ضوئية متعددة الوصلات .»' حيث تشتمل المنطقة المتفاعلة ضوئيا الأخرى الواحدة على الأقل على واحدة (YY لعنصر الحماية semiconductor على الأقل طبقة من مادة شبه موصلة © حيث تشتمل المادة شبه (YY ؟». أداة فلطائية ضوئية متعددة الوصلات وفقا لعنصر الحماية : الموصلة على طبقة من والنحاس Zine والزنك 110 sulphide كبريتيد القصدير ccrystalline silicon سيليكون متبأر tin والزنك والنحاس؛ كبريتيد سيلينيد القصدير tin selenide سيلينيد القصدير copper)» indium والإنديوم gallium selenide والزنك والنحاس» سيلينيد الجاليوم selenide sulphide والنحاس أو سيلينيد 70 anxylsgallium selenide والنحاس؛ داي سيلينيد الجاليوم والنحاس. 001007 selenide الإنديوم وفقا multi—junction photovoltaic device ؟. أداة فلطائية ضوئية متعددة الوصلات © Yo semiconductor حيث تشتمل المادة شبه الموصلة (YE أو عنصر الحماية YF لعنصر الحماية .crystalline silicon Joie على طبقة من سيليكون material لأي 183 ymulti—junction photovoltaic device أداة فلطائية ضوئية متعددة الوصلات .71 photoactive حيث تشتمل المنطقة المتفاعلة ضوئيا «Yo .من عناصر الحماية من ؟؟ إلى Yo غير متجانسة 76161007010017 من سيليكون Alay الأخرى الواحدة على الأقل على 07 Intrinsic Thin laye Lil ذات طبقة رقيقة داخلية 01/518110 silicon متبأر ovvY١ - ESNN ..L. coe. SU شي موصل من النوخ 7[ ب" ا وا لمحت : من a = 111 a المتاصل أو Ps di | موصل من النو ng SE ov LT 00 ب : ١ ١ بالا-١164- سس | spiro -(ONeTAD لسكت 5 ات ليت لس ل[ Br.Hi NO SYS SOM CO SR Stإ بن والسحت موي على ALO, أو Ti, مسامي EER a I . "م 1 ١ or k ما 1 طقة THO, مضغوطة xe | مطللي FTO ] ا )&( 7 - ا \ با ف ا بات-١1؟0- 1 لبا : 3 EY 3 3 i يمتحي : إْ A 5. 1 * Ni x يسمي سه a | | بت : اا« اللا مان ااانا اانا لاا ااانا | re 5 — x.N — 3 om 3 i = i i i HES 8 : ابد ٍْ ٍْ ب Ty : 3 1 3 ) . ! بحيب i ااا A 0 مما أ 0 لات ااانا م ين ed ب 0 5: : THER ER 3 3 CN hy oF pti : سس لت hai 1 ا 1 أ سس PETRA, ححا حت حت ل الك - 1 ا Ye Yo Yeo ye fe £0 29 a= Cy LO I I RE FR : i ْ, I 1 0 3 { 3 8 ٍْ 2 1 إٍْ : : 0 1 hE 3 ; § 3 i ¥ { / : إ 8 1 1 : } 3 2 Yew i § i : i 3 3 : ٍ : : 1 0 1 i I 2 8 : 3 i 1 : : 3 SE J Yar 1 i Lo i 3 8 ا 8 RH = 3 3 $3 I # 1 خا iE + j 18 ا x 1 1 الل EW ا 3 od vs بالك ا 2 1 1 : SER EE 0 : % i 11 "م 1 ا 3 5 i : i j EE ال ا a EE I I a TT ne صفر BN بارا ا للش جا CRE RT athe لمكا اضيا ¥ 3 ™ * £ 0 Nn & * 1 + 5> : & يفف y=A] ل : ٍ ااام أ > 5 J ال د ا اد si الاي ااا > Ew 8 << HT BALL, oA 8 oF LW اياي BT, 0 Se. | 8 Ra 0 ٍْ ال سق ALO, ' لمي ل ب |e HT TG, hoa TY Un PO 5 *ّ 8 WN 8 1 : = : % * ام x الها BY Tale, ع لهت ٍ ب 0: EN 3 3 ak الا ا وض I إْ 0 ا الوا 1 حيس انب on . ل بج اي الم ٍ ب pr {or me LT ALES, : 3 ba + 7 | اسه TIO : CR A E "Ws أ ال ا نا hs 3 1 3 2 $f ES Ne Ea RRL FE اcoc TR AEA ل TR gi ب ) pat “Sn. 0 iy , 0 5 AN ب Si ba ES ha Ne y با 1 : * ل b Ns 8 Rs a ad 0 قل BE Ea SE 8s ا ki, ; بيغا 5 Ee - - : : ل“ . Sk 4 3 ل لاا اساي يس سس ألم سا hn Toes LE « Svs CGF دادج نان 5( ل 1 5 | nl ovvY١١ال- ا EE NL RE . 0 8 AR 8 5 al RN Sas ha : ag ; a : ل aa = . i 0 So : LL a 0 1 اا ا ا ا Lae EtXN . a : te > a \ a a 0 8 ا SON LL 8 ا ا ا ا . a \NE . . Co NN NN RX . : = Th 3 pari, 5 oe a SED NN 8 NN x a RR oe Ga : = ane SE NEN 8 RN Na SL oo ND SA TRE NN 1 ا ا 3 0 ا ا 4 oo LL NL a ah Se oo oo - ِ 3 5 ا : ا ا N No 1> . nn 3 i Poe? a 8 ل ا No i . NN > LL = fo oo ERY E 8 ا 2 os oS Do Ly 0 ا 0 ا ا ا SARE Na nN Re 8 8 a 1 a NN 0 DAR RR 8 RN oo So oo 8 RR LL k . ا ب NL WN PRS a 5 a LL ا: . TT Sn ا ا ٍ ا ا 0 ا ا ا 5 5 ا 5 NY LL NO x al he 1 oo 0 ا ا ا ا و : 0 1 ا ا Xe NL on nN pa Nu . LN xX NN a 58 اا ا ل" \ ho =. NN Nn Ne LL Lo . a XN a a MW Th a NN3 . = SN 0 ل اا ا ا ٍ . . 1 اا ااا ا ا ب AR : i Sa 0 ض ا 0 3 0 8 ا ا NER 0 = a i a 5 ا ل Nh RR 1 8 RE Pin SRN R TR nN RR nNNL . SAY 0 8 ا ِ ا ا ا ا :HR . oo . oo ل 0 TA NR NR Sw 8 1 x So oe a . oo ض ST ou > LL 8 ض ا 0 ا : ا ا ا ا ا ا 3 a wa SR 8 RAR 3 = RN a 8 ا i Boos 5) AA RR LL ox v . oo . . ا 0 0 ا 8 ا ا ا EE . 8 ا 3 ا ا 0 = ا Hoe . a. = NN EN B® Ne 8 ا ا ا ا ا : i RR NR . 8 ا 0 0 0 0 0 ا ا ِ 0 ا ا ا ا ا 0 0 ا 2 oo 55 5 ا 0 ب ا ِ 0 ا 0 ا ا ا 0 ا ا ا ا ا ا ا ب ا nn . . . LL . 0 ا ا \ a FN a : RN SN TR \ . NL - : Bo : 1 ا ا 0 0 ا ب A Nn a 3 ل ا 0 ا RY a a a Sen oh AN TN NL a a ; Ne 3 0 0 7 8 en: 0 A - 8 ا ا ا ا ا ا 88 8 R AAR NR 8 ا Se an Dl a 0 ب 1 اا (= 1 : 0 4 a aan 8 1 : a ض شكل ا oVVYتتشت اتا ات ل ا i oe i ea : SHEEN Tite EE ل الا aM DREN roa RRR A ERE RE dg SURI AREER SA RS SHEERS FEES RNR BERR Se ال ان SRR . SE Tae SRR REAR ات ا : SRE ARR RR A ARAN SER RARE TIRE ل 5 . A i TEIN Shades SENN SEER REET Fai ١ Shen aL : EE SERS en = 2 مد ا SE RE Se ad SEE SE a لاحي : اا ااا SA REN RRR محش EEE Ray FE Se RE RSa. الا اماس EE Ln ai fan) SEE 3 RRR CR aaa TERA 5 Se Wh ona a ae ERAT ا EY a SEE SRA A 0 ARAN BERRY TES a ae aa SERRE a a : RE Naa SRSA ا 4 ARN RR ERIN RANE RRR RR Hae ل hae hE RRR i EE Sea SRR aS Na fe NE a Nha. ae NE . La TRA Tm REE ; i San ER RPE Na. RRATERR Sha ا اال as RRR AAR SRNR RR RRA RRR Ty ا ee Nae et 3 ا 5 ا اا اا ل Na Sian ERS FRIAR RR aS Ra ay 3 HS NITES RR ل EER RRR a ER AEE ha aR RRR LE ae ESAS dy SEI 3 Nh EER Sans FEES = TETANY LEE « SHRED Sonny SEs و Ll NR ant ea NRE دا ااا SRE RRA ERR ERR i RR SR RR aR RR: IR د Salas ND ARAN RE TOO ER RN اجا د NR nN RRR RES Naa ا ا SEELEY 8 NaN HAE RNA Ra. RRR RA SETS NRE 2 RN AN IEE RRR RR AN ETERS RRA ل EERIE Haas Eas ORES EE ahaa RW EERE STE RRA Ne RETIRE HEIR ERTS ThE BR SN RRR NER ل Naw ham Raa aE LIN NE TRA RRNA RAGE a a AN Nhe NR RRR ENE 5 0 نهنا يي 1 عب RE § : اا ا 0 cok fe § mess Woe] Wn - ES k حي ا a 1 Pt ست SL ب" AEA لها ; i I 4 } Go i يه ل 3 ١ Wool RE IG oil م : RR = : ; مي F ee PRG EL es 3 ف 2 > ب م 0 2027 i You Ctese i 8 1 HES ar. on : ب ا 1 oe B ا لمع 8 1 Fy ان اا 5 oe HY a rr AF ow Bw 5 ES oF : 8 3 : 1 5 . na hk SN SO ES EY بحا ا إلا i LE OR =~ 0 ب ب ا اللا ل انح © RE § i ® : : & الدب xp Ae PRE ra MELE tA Pg “a : a Jr 5 Es 5 & 0 و :7 Obie TA, امسا م ١ RN بج RHE 5 = EY 3 v KF By - ل 8 ال 8 Ey 3 ااا ب نب » BY بال . ريا لخ 0 re Ts & ا 1 ا ab oo Eg 0 E'S LE | EN Remi PE a og ; ب حر ا “من . Fa Cink 1 ب + 01 iE رم اا ا مال SET CT ER يي : م RJ Ed Fit 8 _ نج ¥ $e hg Hg SRN § i = نب و * 5 بع RI ] Joa SE SE 546 أي ان الم 3 3 ا a > : NG By as 6 3 . foes He ل 8 إٍْ nA ا 8# ا جح يأو ل 1 0 1 ل ب a 3 & pd Fe Te A aaa LEY Wa, ب LER a 1 ا 8 Neb x x Wy 0" ا با ا + EA 5 ERR TE x . Eon Nod ads ا sede : : baie AA : hye (JA لحك ساد Paks Serena ah ci = 4 13“ نالع مح © اع JE A = > id هت كاذ ييا ١ Yale ا Ts Et كل ا 5 \ ولي elm gad إنأنو 20 lh i 3 > ’ oh ٍ. ovvYSeis, Sada Nii Siam Sema TREES 8 ae Se naa SE 2 1 ا اا ااا ا" AY اا and * Sian REEL i بي ; a : STR L ro Ea SEE EEN fr جات الاق ال 0 SEE FETIRERY CER i a SERRE i PERRI foo Gaba oa eo Shiv cats ERS SRL svn RE aman Saag Neu Sa ee SIE dod, Waa 8 ا ار EE Na. : TET ET Shi TREE NS Toa TS RE a اال الت با a Ni nam Gog EEE : HL aes as a a han 0 a Cele Shane 5 ih a LL 3 : SE Le “£1 Rk Eg ay Ne RR ee SARIN 8 : an RES Na Nn NRE : 0 0 ان = ae La eo Saab Gone NE RE .. Na nN RR.Nhe > ا ا 8 لد 3 RR NRE ae Sak 3 as a ARN Ne NANNY RARE Ra ل 5 BRR NX 0 ل ا ا اد اا 0 ا 3 LL Ta aaa Chan ا Nt San 8 ا 1 ا ٍ Nhe a Ran Nu NR 8 ا RAR NE SR ER RR Ra.RRNA 5 Lae > a Sea 8 ااا ا asta Nee Sa 3% a Ne aa امو RRR hh a La اد اد Naan ns GREE ER a A ا ا اد SERN a.ER RN NR RR Lo Ne Vaan AW RS To Ri RE WN LL NEN RR Nh SPAN Na 5 Shh NS RRS RRR NRE Raa 7% 0 RR NRE Na a A) RR d ROR JE aa TEES RR 1 nine SN a 8 Hanae: NR AR RRR a he Tn Co Rn a Ll Ca 8 ا aR TRE Nee TR RE a 0 Le Ra TREN 5 NN OAR NR aaa NR Le EER FON aE a AON RN SREREES LL Na RN aaa a RN NR اا HUAN 3 Nah on aE 8 ا 8 No 0 اد RRR Ga PAAR 8 SE PN 3 Nay San RNR RE Saou.AAR : ا \ NN ; . SHAR NN a.RR eRe RN RRR RE Sy SRD SE RE RAS Raia AAR faa Se hy . 8 0 RR sw Zo J Sa UN NEE Sa SE SAN NS RANE Rea AE 85 a a 55 Ne Nn 8 a ER Sex . vom 2 8 اا HR RR Ne a Si J ENR AE RN AE an RN NN oN § a RO EEN WR Ne aN 0 ل Sawa AR DN ل EX } 8 Ne RA iN NN NERS RANA SREY NN AEA 3 SH \ RY ب NK RNR ERS Lg ih 8 BR SOAR 8 ٠ . IRI % faa \ ¥ 1 _s الي تي 5 A لا a NN لال ee a ThE’: a الح ٠ ا : ا ا 0 ال x ee x RN RIN ARR REE SN RRR x a AN SER : 1 1 ا اا WN Lo 1 a TAR SRA ERNE RN RES Sa ] BR Gra oN SE Ra Senin RN as ay 1 ا ل SY RY SE STEN RRR XT ay Ce a Na . N RN Nv ae ERR RR ROS SRI NN: SN an Ne Sia Raa i AIR oo a a AN N a LL nN RYN Na Soa 8 NE SNE iE RAEN aE ا ALANA 8 SEE SR Se 3 oo . Nl SN LL 0 SE a RE 8 ا COTE NER 8 Nid : TE SAR ARE Sa 3 8 ay Waa HR N RR a BAN RR NN RRR oF XR IRAE 0 RY RN #3 SAL SIR SRR 3 a Lea EE Ra waa ERR N Shuey 8 ا ال ا NE Sn SN ا OR na EA NN Na Ra SA Ra Ca a RSE Na SR haan SR ERX SNE ey Na EN SS & RD 23 San Ra ha LL a See “A إ ا د" Con aa : 8 San ] ESR 5 ا SR NN 1 5 ee BR TR Na § Balin Ne aay Sn 5 NO Na 2 TY RN ا Fi 8 FRR PE Ra $5 SI 8 اا ER NN If amen RRR NR Rs An is mn SONY (Z aa 0 . إ ا TL ll 5 alts as 8 RR ns RNY or © NR TR NE STN NN SRR Soh Sa SN SoA aah Ran LOA 8 REE 5 ل م in ا ER Nh SAAN Na NN a SRNR AN RR SRR 5 = Nn REG ORIEN RRR RR Ne a A 3 Nn 8 0 To TRY RN 0 5 SORTA TREE AN NE Wy 1 ا TERR a SN Ne : Se a oan 8 ا 8 ا ا Na ا ل RAR Na NR Na he Ha 5 Na ا RN a Sit NY Tie EOE RR 8 SRE CE AEN 0 Saad 8 ARR Ha ns PI AR ER a RN NN 8 اا ا اد ا" د ا RS RRR 0 ي Rae an RRR ih 8 SE SEU 0 ل ا Na AAR TARR NN 3 cold Na 0 ا اد ا RRR E02 SR: AEA REY ERIN NE ne 8 ا RR Nd a ER RR a REN Nr ER He EA a SN ARAN i 0 Sa 0 =n NR SN . 0 SENN | &, 5 ا Ra \ ovVY“\W.— = EE a NS —' ٠. 3 1 ا ل م 3 1 ا هيج did هت 8 [ 3 J = SEN sania an pA 3 F 8 حم ا عل د ار اهمض Fgh ¥ : دا لي 5 : me 0 ماع أذ CERI Sty 2 م03 Tg | - Loe N x 5 TN 1 4c 4 مزلت 1 2 i CN 1 عا إلى * له fo SO : ES SK Sg Ter Te تعد تتبثا 1 of ا ل اا ل الا ال“ ل “x het x ® i PRS تب 0 %: م نات ب ووو يسع قز : = hy] L ey , 1 ١ cal: SEX FES NS. ا : > A 87 rw Reg ين SX SH : ) » h . i . = Havas 1 ال 3 كك ا اح 2 ١ 1 > ) i معد ماي RTE OWS R82 i hE : - ٍْ لاسر ض 162, 53 LEE 5] Js 2h = RE De Bt ee 3x ل v8 . : i Se د : ب ee : pe q WN *y A i EE و ا “ما ا م : al ALL Rae bg $e Te Tors >»: (da لاطي اللي فو اير مت A pid 3 ل \ Y | 5 & A ا 8 ; - يرن تحن سات ل ل AAP: GR (a io nN ل ا 1 8 0 IN A SEIS Re i لا ا We ال ا NN - الل EL Ne Raa aed Le a 0 NN ad EN RE Ne RRR 3 NaN a oo Ea nN Sa RR S00 a RT Noni NR 1 ا 0 ل ا ا 5 a RT 8 ل ا اد Na TEN Nandan SAREE 0 اا ا اا اد ا اد 3 Ne ER NEPEAN ا ا ا لا ا aan ا ا ا aaa Ne Sand a a ing NRE IES REE a RR Le en AN Shaw RE an Laan 5 8 ا ا ا ل ا ل NR Sa ادها حر ا م a RR RY jes HER RAR Ni SS دهم ال ا ا 8 اج ب 3 LL oa © | SRN REE ef Ea eRe © ين be + الي ا د أ 0 ا اد ا 0 3 Rs A A ال ا ا 0 ا اا 4 haa ااا re I REI SR a SA ل aE A x Na UE اد ا ا ل ا لا ا Rad ال ا ا ع اا اا ا ب ٍ ا ا ا ee oh a a Ra. Ck a ETRE ANN 0 3 Sp a oo LL Sf Ne 0 ا ! ل ا اد 5 al SRE ES oo Suan Ri EES 8 ا NR RAR ORE a Ln oo SAR RN Rb Sha ARE a a FATE 8 SA ER ل ما ا اد LN oe a wo 3 . oo RR aN - . og . hn 8 SE SEER RAY ry oa & N Sa Ra 0 SS cra 2 Le ns جب : Safe 1 Sk 3 Se ا RE 3 - RENEE SRA SY ١ \if 1 ا : , ovvYyYARAL 3 : : ’ F} 1 3 + : aN اسهد 0لا ا 3 3 = <> 3 با سأ MHD بسحا .ا " : 1 - د ال Sy ¥ ل 5 الح 1 Be ل اليد Se, TR هاف Br VCR. 1 _— 1 ند RE لج وو 1 i الح لد GRE ال ا اتيت مسي لالش ا فر 13 oF Sn ht oF Ea I OP: Load لط ody المنطية \ v4 | 5 : ا 8 (hy {Uns تت SE A | ليا ILA I A A Ea LL 3 شق تداعا د ددا ا oi ١ > اوش س1 — J oF 3 o L i اذ 3 vl ب- ا 3 i الأول التاق ا > + & & 3 v § S Fi 0 5 للَا : —— SA i t ب 3 AE I Wy <7 حم 7 " = ® = 7 ا الس 1 ph Rn 4 L Ne 4 لكر 5 8: i a = 3 8 3 { a 8 + 3 ا > ا ا a أ ET LANE | ENN : a NEC ا ل ل ا ا ا EN i ¥ | Chie Doras ys Vere FL ua Bed 4 ا ددا EE خلال d i صقر oe) o,f 3 a, A 1 رد مقر أ i a xo i ند مكو : : Ca i ذا . 0 3. JOR. م ني 1 1 م00 لط و ody الفنطية فو لط الشاحلة Vo شكل ovvYyYpied وجح اس راجن a امم م ل ا Ea : 1 ا 2% mad للع LU PRR 5 ا 0 LE Raid a = Set BT SE RRO GR ا Lae تي اس وما الع مسا Shiny ا ) لبا CEBU 5 ل sae $e 7 oo 5 للم [ERE ا I 0-0 # اال ا RRR 8 ا TRI, 0 ] ادر مارم لاد م حا : ب كج foot ey ل اي تح تا احا ات ا ee aos أ ل لعي ل ل ل Raa 3 Les ay ا we ا ال ا ل ا Nae Re ا RR 2% RRR 6 Ee مد ل ا ل 8 Ra CE a NE AN a ا TE Ne : I a) ae ل A RC ya EEE EE RS Ry SENET SE Sh A SE EE ER RR AA ens a ae ل Ee Re ل a pa eo Hoan 0 الع ا قلا اه BEE AY a BEES Ea LS oon ee RNR ا ا RT NAAN RE SA 0 وم ا ا الج حو لجو ا EE SIE See Tera aE ae A EE AEA ER ASAE an) EEE ee ا ل ا RR I 0 a aN ل ا ا ااا ER RA i SR 3 Saas ا ا ا ا ا ا fas ThE Lo RRR NN RRA SR SR Nn a os 1 3 A وا ا رت ا 5 Tam 811 PQ ge ort HENRY Nae 8 الم ا ل ا جا ا ا ا و سا اجا دحج ا RR RE ا a A RR rs BENGE} RR Enns 7 5 " \ a 1 4 A 1 أ ا ا ا ا : : تله سخ لات ا ل اا اي لاا اا ree TE ليج 7 112 : ARSENATE RE rE co SE Re = Re ENTERS BR NR ne ف RR eS PR NA Sd iri RRS Th Nh أذ فا nt Ns [ASI NEE FES ERE OF ا اب 9 NR NN EN MAS ERA 30 ل SLT أ pre ER © andl RTE Ty a " mene : SARIS ا م ا ات مح اج ا ا 5 So 4 ا الو ات EE NN RNa ل ل PR ISS a a TRE DE eel i ER SEE EE RE Ba Sa) ER I RR Be ا 0 و ل ا ا ل EA a RS CR REE A SANT REE a ل ا ا a ل ا I SAX RE RSA] SrA ل SLE Te BE SS PR ey ENE : Sa الات SHEN EE LS EER Cis art 288 م Cana NR pe EE اهعد CGS CiS or 0 5 RD SR RE a Bi i LE EEE ER eR ae NN RE RR RR SEEN RR ns RR ay I A as pr a A EE ا Br ل ا ل ا ا ل EI SRE ES See A ee aR A A A a A A Sha NY ا AA hae ا ا ال TIA RRR Sr A Se Tn pode A TN ل op ae ا ال ا EA RNR اا سحب Tae V | : 8 \ CAAA8 ل EE الاي لاجس و ARN Ra AN CER re Te ENE Ea et " 0 BAER ROARS Spay No SA الا ENE ag ١ ل و ا ل SRA DG) ea Sie a aaa Tianhe aa Be SRE Den ا Tay RN ا اب EER الا ee Re 1 ا ال جود ال اذ ميب 7 in STR aaa TN Sv = سا © ai ١ KC RR SRE NER FN LEIP simi 3 ا اه ات ا ee بي ا ال دا اليد الا ااا 0 ال ا ا ا NE NT NN aE اا WN NCAR a RNR EN Ra Na a RES So ne RE a EAR. 1 ea RN SR 0 1 ا Tat OE Nae ae =a J ATHENA ae ١ RE CANE TE AN Sadao aR Aaa NN BN URE ea Ba OER Na oR TRATION SRR ل Ne CUBR ha aes Nagai Tee اا اللا ل Shady REE ا ا RE ل YA الل ل ل | SANE JR الج مد DERE tie a TERT Hii 1 2 3 ا ا Ha ا ل ERY ا 1 ل جا ل ل لاس ل ا ال SA الس د يا ا ل ل ا ا RI TE REAR THERE Sa SRE EEG ER EY PRR HE aE NATIT Ie SHI ل 0 3 ويب 1 ee BARE Rida 8 ل EY) تشع بلاوري TA Le HEIN 0 ry 2 emi a HELE ot سب 2 Sa lanai MEE a SEER RR et CEE FRR aad hr EERE : لي FEAR: SA ا ا SEE Ho fan 1 1 مغ لالد 1 1 \ q | < (=) ta ع 4 0 (= a i ) Co i 7 ATE 0 ne | امد يه اعم جم لج 3 Ls IIE conn satis Bl CORE I اج كسد ميت ا اا ا 5 : : ا ا را تع ب Sy = TEL EEE ل EA RE ل. LA \ PRE ChE 3 ih ا ae ا nd NE 5 YD \ Ea NG Ne rite ال ا ee ا ا ات لاا ل Le Nn الم ا أ جنا الا Cha 3 hs الا A ANN AS RNR 8 en ا ا ان ا 2 ل ا Ei Re ae ENN CORNER ae Cn ل ا ا ا ير ا ا ل ا ا 0 : NN aa ERNE RY Ran EL LR EE NS fossa ل a a - لاما eS Con URL SE Cnty © ee SENNA ا ARE SNE A SR A ER 0 ا ل ا RARE IN 8 ANE Wo Ne aa ae Ee Tis Tn Lo o LL CIR ا SL RE Ei CUTER 0 aN Soa aN ل ا ا ee ا AN La a ا ا BR سه ا ا BEG د ان معد ل ا ا ل Farrer ENR Na RN ANN > ا LET RRR i a SENET ا 5 NE NN Ne Wan اد اد د اتن اا 0 0 : Nae Co ins la NOAA NN aa 2SO. ae fo is ARN ل a NV wd ae Nees AA RARER TREE BR ARRAS 1 : * Y * ١ 5 ES ovvy-١١/4- رج - اتا aaa nt _—_ ا ل oo ا ا ا ERR WR ER REAR BN 5 ا 8 Sa 30 oe La CUR sea LN a ا RES EARN 2 ا 8 aR AR 5 8 3 RRR EX 3 RN {EER RR NE 1 : 7 ا اد اا ااا ا a ا اا ا NN a a 0 a NS 3 2 2 ا aan J Na Oa 3 : NN Te a TER al LL ا 3 Na WR Sh 9 5 اد 5 ا 3 2 8 Ne La Than 8 TR 3 nN : ; R22 hE XX XX 0 Na RENN NaN HER on 0 Meal ال الي امس NN Naa TA LL x Lh 0 . د ااا اد ااا ا ا ا a a. TREES AE Na ا ا ا Sl NT 23 اد ا ا NR NC PES ANREY SR { 1) : ws So أ أ AHR WORRY A RS. 5 اا ل ا ا الل دي DN ا Nan = FO SEN aan a :A. ا ل SR ARN RN NARS ARR 8 RENNER a Le; . La a CF ER Nas a TEAR a Nas 2 2 ا 8 ا ا ا AN Na a ا ا ا اا د > ا ا اد ا م ; LL LL CO LL LL Ey FLAN ee NEY an aa a اد 0 أ اللا 3 LL Nn La a =) ان La a ANN Ta La RECT I .. aN as LL di La Nah a ا ا ا ا ا سس RQ LL Na Eo) a a a a ARAN A 8 SE NR 3 NN RN RY TN CER NL ANE AN 5 Na 8 8 ب ا ا ا 0 ا ت- ER SE مسح 0 ا WRN EI NNR EONAR 2 RARE RAR . ORR a > ARN SENS ’ 0. الإ بوسر ارس : 1 JH سني 3 Zz الست : ل ل med i ! ا ا ا ٍ ادا الا ا ا ¥ - 3 : AY : 8 عا اا FRAY ا وما : Yawn أي ممالا ا 1 : مي افير i iF FY ةق Ha % wy A Adi gd * 4 won § ® } LIA Ey أ ع اج : i CD oN 1 ٍ ب i 2 ye Ra = . مسي wa بنجةة7 فعضت حم 83 ل ض ال 5 Ey o k bo \ er i beso HA ١ يج dy ou 3 : . 0 ا ايه 4 i LIT IB: . سبج ¥ SE NT J : $ : Kk ¥ oF oe = wy > i >11 SEA ne p . valk ea i RE 3 Jail لا ًّ 1 اراد ” j يفف— \ 7 اج Fess ~~ " بح تعيب x PEI - 8 j ER لس 0 Fi 1 احفر wo 1 ; 1 : Fors pa j “ Pa ep ved 1 3 R : 1 ] عا w oc} ] 1 : ال ا : 3 j a weed بوه جج بي ههجوو بجي جوج ججوي لوا َب جد يج وجو يجبي Rianne TK د everett hy x * : Tg . : pe BA i . ] i Ter ww —3 ; dct ered i : . j bs R 3 يال ج ax ie] i a R id ; ! Pi BE = ] ps k i i ~ hoc 3 I & 1 لاط ed AAA AAA AAA AAAS يسيس ب i Bk 0 حي امد احم الاج 4 i i N i 1 ER 4+ i 1 oo BR ae 1» 7 : cd + د اد باج 1 1 8 i J i +, x Hd a موف : لهي Rina Ngan 1 i i 2 Bao TRON فك Shinde 3 k "م 1 SIDI WF YO. 9 a eck ب 4 SE 8 3 ks عله AREER 4 ky AA IN 4 i 1 i Teen أ bi i i ® i Yee rand i 5 E] wn 3 1 = 1 0: E wn Aras - § i J ل 3 4 يق ص 0 wy, A A AA A A A لدي A A A A A A A A A AA AA AA A AA AAA AAI SA A AA AAA NAAN AA AN ANA NAAN AANA NAAR ARIANA, El : ابا Trad اج ةمج ~ SR FE £4 ب i | SIRT. = - : 3 الدب اند د حا : i i i od : 1 سم ألا .ضر x i 1 4 i 3 i 5 ا امس ا يك T ; ال الس الس اس عا اا د ان N 4 5 | 1 . kil ¥ & Fa - N+] Pd & ¥ % ¥ oe & "1 % / * a ES 4 Sore ; % SEN ترج 7 Y ™ | 5 ا 3 0 8 rig CAAA3 ام ا يل ا ل ل ع در لب غشاء رفق ghar لبك Den ah Tr ب i R 7 : : لجحلا عن الاج ا ل ا ااا 8 :8 ٍٍ Vo oe FL BEE + Edd i اجا انام رفبق مطلي gh يماك < + لانو مد ب ااا ا ات سنا : 0 ام \ Je 5 3 a AS - 4 ¥ £ ارد ER Wer Ts % ب 3“ a, > Te > Sn fe . 2 4 وج ا الس “a EN SN Ha EN SRA Sma Go? rn حيتت a, ب Era, احاح ايا . الستدحت ايت المح لضا 8 اج SER ٍ - تسافا الفا اماق ال اا ا : ل" Hide Yer Yar Ass يك وح وو .تدج طول الموجة ناو هع Cn jE i 2 3 " ‘ ٍ اجا ما ١ Hw) و Cd : 0 $ 3 am ey A A Er . “أ 8 AE ae ا AME EEE TH SEE Nha. RN EEE 8 Na 0 HTH RN ht ا 8 8 AR WN RR a NN NN ا إ_ أ _ rR ا 555 RR NRRER RE a Nan Nh She اد الا اا x La RD an Raa nN RE TR RE SAE : TaN NW 8 NN RE 8 RR. 2 RR Shaan SRR = JN hh. DER RNR NIN ل ا ا ا ال ال ل ا EE BARRON 5 0 SHEE aE EES a RE NE RONEN EE ERR ETUC TR il iN A RR FR a TRE SEAN NN A 8 a 8 ل YO با ا A a a ay NS RR RR RRR eae PORN RR NE Rr Tha... ل ا ا BERR RN: NH ا ا ا أ 1 Re mR AN RRR RRR NTR ا ARATE. BR RN NH HAN Nae ORY RR FERRE a Rh ل 5 ا ا 8 حا 3 SIE EE Nun TR RR a rR ra eee RRS 8 ARN 2 RN Ra Rt RE RRR Rey R 5 ER RR = hE 8 NT I a A LR aa ل Ni 1 5 RN ARR RNR ا 1 Th Las Nh Jn ا 0 0 Ra NER RNS ER hl a ا ا ا اا ا ا جا : RN RRR اج ا ا ا ا 8 AAR 3 Ah RR SR La Naa ae اا ا ااا ا ا ا RR a 5 “الم م 53 ا RS REED NRE ل Le EER NE Nn ae Ln : aE SHIRES ولا حت ال حمية اتا RR ال RR: ER RR 2 RRR wa REI na RR RRR ARE MER EE ER Ea a RR a Rae ل Bae SRB RE RENE Yo |S ER EA Es se ea Nh ha Aas 1 Lea ال ل Rea الاج ال حا ال لا ا ER REE ا ا ا ae RR RR ARR ARR RRR RA ARR ا ايان ااا اا ال ل ا A يك ا ARR Rt 0) FR 5 a Sa RR Lae اا ا ا ا ل ا ا ا A Te و و اك ور و NA RRS a aR ET aE aa aa ا ا ل ا ا م ل RRC RE RE EE NUR RR RE ARE TRIAD EN A a a Naa A RE EA I RTI ل SETe AREER ER SEE TI ee ER ER eta SORE SERENE NN الاج يجن ا ل 5 1 Th ay مح ا ل وحكي من ار جحي اج جني نوا ناج واج اموجه مجك جو جا را الج د اج كيني حا كج يا امج جا م Nhe En aN aE ل الال الي REA 5 ay ا ITI aie an REE ES RR RRR Ea RRR Re ل RR Ree ATR LL a La ا ا ا ا ا ل ل ا ل RSA AR RE I AREY A RR ا Nas a RN اا AE A ET A RAN RT a Sey Raa RR RR a RE EEE 5 A FR HER RE ERR Eran RE 8 RR RY NEN EERE HERE EES TR RR ND a... aa Sa Rt Ta TSS ا a ا SRI I ER a RRR ا ال اجيج جا ات مت جا مر ا ا ا A SR A Eo Daa dN ا ل ل ا و ا اج لا Ll aE :الم جع موي ا اذ ل 3 SEE 0 RR RE ERR aya. ا ay ا IE EE EE ET TE EC RY I EE AT Y 4 1 4 EY ovvYyYRRR tes اج ا 3 ل ica 5 5 ل مج سج AT BR aa - REI SRR A Se N Naa. aan اليب ام سح مض 0 : RR RR NaN 3 Ln SR BY tad RR RR RR RRR RRR حب تحت ERY aw I MIN ERTIES ER HARES im RE Shan REE aR ومست ممح SRE Nha. RRR." ahaha. : 8 Hn = La hh ا اا ل ا اا RX HRN RRR REAR REE RRR RAN SRR RN ARR Re 3 8B NRE NE Naa, She rma SRE Wha ER Nhe LL a - Naan Na RARE ES TITER Ata RRR 0 RR REN REN NEN Nal 3 La : a SRR SEES as a LL 0 ا ا 0 اا لا اا ا a. NE aaa SHER Lh a SRS SR Soa TREE RE rai RANE ا ب ha Ln Nh RAR ا 5 ا RAR TRICE TRERR RRS RAN AN Eo a an Ba Nas ER 8 اا Sa Eine FURAN RR SEE RR RRR RRR SEES RRR RR RRS ل | - NN DIRE Sa NE aa SIRE RRS SEN RR SR RN AR RRA NE NE RI 0 Nae ا ااا لا ال ا ا NHR 0 الا ال RAL TIN RRS 8 ال EER RA BREE RR A RS aR 0 ل ا ا RE ا 8 Sn SERRE RR. RRR RRR AN NEE RAT RRS ae 5 Ny aaa Se ا ا RE EU REY ل Rh. SX nn a RE ER REE RN RR ARR RR. WR Sh 5 8 8 a 1 RENE TREE RRR CHEER Mktr RNG RRR EERE RSS HRN X Le NEAT REN Nk RNR RN HR RENE 5 RRR a SER 3 SRN a 4 ا TARE NR Tae RN RR RET اتا RANA SERRE Na Tae PRE EN NR RE SER DOTA REE maa ا Nas Re aR NEE aE ahaa Nha ا ااا RRR : ل SATEEN SR REE RARER RE RRR ARR aaa RAR EY RRR RRR 0 1 - a ae 3 Lae The DIESER سس ا اللا as TREE AER ا ل ا FR ا ا ا ل FERRER REN SEER RN Si SERNA: RRR TREE NER NT SR جحي اجا RRR ERNE RENE aaa = pa. La Lb ال ARE RRR ENN RRR RR aR. RRR داجن جد RUN Nh a 3 SANE BARR RARER SEER Tha RN _ RR NRE ا اد اال ا دل ا 3 ا ا BAN 88 AEE SHER SERIA RE RR RNA 8 ا a RN TRARY LL Ni a LE ha a Te ا ا ا SEO ا aa NRHN Th aa hE. ENR AROS a RARE RN RRR HERR ا ا 0 0 ا 0 ا 8 Nia : = ha Lane SOTA ERNE ON IRENE 5 x ERR RS ا اد Ra SRT tiie 0 0 ب ِ ا ٍ ا ا ا ال ا LL RRO oR Sahara eR RRR hse 8 SREY RP URE a Ne a Hakan SEER NN ERENT Ee DRA fy Na RR Sh RRR AO 5 HE HIER ل 1 BN MRIS ERE SRE A SRvaiisd SRE SEER Rg a La a THEW 5 REARS ض . : ض لمت ب ب ا lon مد JG J. أ سا كن ب ؛ clin مس 1 : لجح جح ددح دح الت د ا ادح حك Yo oa amy 3 اج ا« با عم اج اا + ب be GPE دج ماي اج جناب انا الج د ا | ne ro] 3 WD SP 8 : 4 1 % نتححد. سبلي بيت ١ + ا : ام yale sedges TRE - : i LEE 5 =a - i وجججم جوج لمج جمد ججح بجا x ohms] Ts I RE FA x 0 5 SCONES من يروف nds سس حلي ْ | | i a sl Red يه ين ابن اليل الام ال ا اجام اج £ اجا ox, a لك JE جا اعقو اجاج يا xX fo REESE AE TRIE ض ا ض ض عام ١ i ض : : ض ض ¥ اج اج 'ٍ ا اح دج : ض ~ | | by + لاه 2 4 + & 5 td . ١ ء) CE د 5 N ض و ّ | 5 i Pd Fg am 5 ; {3 Y } be 5 poy CAAA_ SR 2 tt Na سو RRR NR - 1 RARE RRR Sr AN AR REAR Nk i CN NY 8 ا ا SEAN وضع ١ ا ا 1 RT aa [ يا ) oN 8 ae RAE SRE a J RR Nn ra FRI SS EEN SEN 0 : - LL 2 oe a —— a ARR RE TR a eat 0 a Nu Gia Se 8 SR a. = SHINY A aN RE SRR ا RR a FEE RANA nt 3 RE Saas 3 DER he NN SNS AEROS AR SRS TR NR Shee Ga = RRR . nN a SRR SR RR Ry ANG 2 As IN a 3 ND Ria XR Na SAAN RN Nas SRR i FY IRAN RI RA oo RE a Ne aaa NRE S Ha i } 8 8 ا CRIN NRA NT SESE ON RNa Sten 3 RAE LL SON 8 Ns RN SN WN NN RNR Rae Th 5 OS TRAE a Nee Nae 3 RRR Nee Saas RR NS Xu N ( aioe = NN a SEN Steg 8 NS Ra SEEN ae RR RR ]om . HR SSRN RN SRE Ss 0 8 ا Ry SN LL NAR RR Sd ARN Tl. ER OAR TR NER Ne 2a SE Nn Naa SRR 8 8 2 a HA RR NE REC SEA aN 1 اد REE Sa 8 Na RAR REE RR Sano SRR 8 ل اد SE Wo SRR SR So SUR HR a 5A SAE LL 8 8 ل ا ل IHR Nas 2 Ta NA No ZAIN RR a 0 RR . oa : 8 RR ~~ oo NY 8 اد 0 x WR NN 3 N 8 ا 0 3 3 SNE I a BENE ARR : WB ny ERR REN Na ASIAN =. RA a TORRY NN Lo CE as No LEON N AES - TR Na SAT RAR Nua uaa AR pi NAAR aan 5 ا Ne San SEY RD & Ho NN NN 8 nt NS SR an hy Se 5 Sn RR - SHIR RR ra a NN NEE Yen Ta 0 a IES 8 NR RR NL hn RRR NN TR INR RR TER oR FE SR SRN nn La LL NL Sa Ne a Lo nN a . Nh So ae a a 3% 3 NR GAIT CSR ha Sa TERS RRR RS hae SE RNAR EN A Sane NL ha a NN Sinan RNR WN COONAN Ne HEN NR va Wan SN Nhe aaa Na HA aan 0 ااا x Ne Ne NA ARN Ne SNES NN Na ARR pay 5 SR EIA RY RRR SR RRRCo . Ane Na . LL La § La 5 NN RS 5 ا ا0 . aa San N = Na UN Na a LL 5 an SN 1 . ip R: SR NER 3 % had 8 0 3 b Co RRR q 1 a . 1 RRM. 5 0 SN ¥ 9 ا - - ا ا ARR NRK NeNR . NA Re ا ووو : ووو ا ا dR .. RR RN Na RN SAN RRR : ا aR NR . 8 8 8 ا ا NEN . ¥ NY SS = 00 IR 2D 8 SOARES sa SOAR REN 8 Si PRIN 3 AS NN Ne NE LL ae EE Son EER 3 Reon SRA: . RRR XR Nan RY RRR SR X 0 0 DIN 1 ا eng = NN R ae EN ps | NN Nae oY NN RH Na 5 SN a NR 5 0 Baa 8 8 ا SN a 8 RR Lae SENN 2 SA RA ا AE RRL Sane Aan NON oa . he a lian ا ا ا asain NR NaS 8 ا SER RN NR No an 2 HEE . Tne Sh an NN Na oy UREN ANE Sear Seine RHR a. TRA Ln TERE al NR Sera aa Ra Ron oe 8 ا aa RR a AR RR RR 3 ; SRA DN Ne SR TNS 355 a SEA RR Nemo AN SHEEN . SEEN 8 Sa 3 ا 8 XN 3 HE es iy SERN NN RN LL NR Si ay RS aa Re an RN Ny SE ARS I RE YN NG Sa SEN Na ARAN Nae oan 0 8 ا د ARRAN RR Na SEAN RSS RD 8 CE 8 na ERR 8 ل LEANNA - EE oan ARR 8 RE 7 SER ED ER a Na ANN a SRE Nw 3 ay oe : Ree - NN a: A SE oN BR SARAR SAN Naa SE AE Na Sa Ne SHEE Na ا SRR No ER PRN RAR R NEES Na Nw SRE RN . aa es So TINEA RR Ne a wn . RR NN an ENE Nou Shan RN No a-. IN SRNR 5 Se SAN RRR 4 Sarton 8 Ro BRN Nh 35 SREE . RR SE NN RK 8 Ns 8 ل N RR AR RTS E a aa 8 Lo DR aaa NaN 8 RRR SENN SRR . NN Rew Nh HR ENN NR Ra LL a Nha SY SRR RE eh EN TTA NN SER a NR LL RR AN 88 SRNNa . 8 Nh 2 Te SE AE SR SANE 3 AER SN TE SER a . NRE a ل : ل aa : TR . NN ل 2 a hE .. ANN 3 NaN Naa SNE SRR NS noua SR SRR . No XUN SRNR i FRA 8 Wad RRR Sa BOARS RAs ERATE 3 Shia RA a LL ; ae HR HE LL ARE RN 8 RA RA NER Na RR a | 5 ARN SORE Caan aa ae FEE RG SE [ ا REN of N 1 0 J ovVY-١١8- عاج : pr I oI pg [ETT 3 مغ Ce : 7ج 7 ناعذج نا ا ااا الا 8 بج يرا i ال" TTI و IA A لدي ل hal i = 4 by : ب + : k | 0 1 ب ~ ] Troe L 0:1 i y & + b 3 iJe. CF ve. : fi TA Cire om : Eo id : Yas د ٍ : 1 i ب wk : 1 % i H i 2 8 § : 8 1 i iH Pol إٍْ Be : bo N La H 8 8 و HERG SU Pod ل 2 : : Hoa ل eRe adie reac i الجا WR ERNE TI ل ج- ب VE PE a FUER ga marl ل اي ب وا EUR مام اواج جد لخاد CRE ارك 1 } ay 1 Cf 0 ta OE "0 ل TRL BO ay ; N ) ا i i § " : 3 TE TET 2 جا“ H ; 4 & دا i i : : i : i i : ا ٍْ : Lo : 0 ْ Co ; ْ ااال 0000 | 10 1000 : : الممط ل | | EO ; 2 : ! | ig ; : ; : fd : i i Lo ch : § 1 : ا : i Co : : Youd | | Lo dee | J ET : i . # i i 1 | 1 H ; by § : it i i 1ل 10 1 نل ل ال« ا ليك Rng i Sid id i i 0" لي ضف ا IF UE ليلا ااا ار Lidl ih ايت ل لت لايس ااا كارا مور لل حل ااا د اد حا ون لمات ا اد ل اد ل قا TR ER Ta 1 85 gy \el \ 1 | _S : __ a 53 ل لا EA 1 FE الج 8 رايا لاه حذاجه 1 .سيت ٍْ a] :راضخ لاجم 1 اليجنا اباك اردع .ب وات ا" ! iin ات اا اا aa بم > ا يجا CO 0 ا 0 8 93 ا نا ل 0 i أ ا 1 ] اتا ب ربب [gS Ss 8 i Fai TTT i mr § ee § 8 : . i . 0 رخ لبد 4ب ةا ص 1 ا ا ا دفو لطا diel al ™ ¥ | 5 ِ ب CAAA_ \ A «= 7 ٍ , ANAM mis : ال ب ا ا TT ٠٠ ER : - iy es ل لال باج OF Sy SET bY eat A X أ 1 تتا ضفر ٍ ' #4 an - TINT بد an 5 0 Tal ك8 ً ع ب ف ةا اا ً 3 0 > \ ٠ له EEUU UOC: ENO TUN اسلمسسش أ 3+ <* 1 صغير § الطقة «قولط) A A Ang 2 ١ 5 : ue اا ا ام نإ 33# * = ةا ا اا وس ووو لجا ا انا . Ee : : Sa = ا > Fo PMMA تاف Eat) N Set er ge OW SRY RR 5 القت اواو اورت اانا .ٍ 24 RR حيبت 8 4 5 1 3 دي ا 0 يحص POEM أ مير EN, نفل PY 2 : - oA he. CREO اا دام E 1 2 - 8 ابن ARR 8 LR دمر تيف ا ع ل حب 14 اع 1 8 TR E ا ءا EE الهجل - - ٍ © ا م EE i. ad SE SRE J خا لت ا rs 42. 0 متتو نا ا . 1 ا Ty, NI TT: ST I ae ei] ونال لاني © الها ا 3 da oe : SINE RPP Ch hd 8 اذ ؟ Ty + ل ا ا ل 9 i 2 R وهر ا § دي ف To» £ 3 IE IE REC TO J: {de ¥ Wi) 2 3 oem الومن ve فشكا CAAA1 الب NH Phi الب ورا * i FO iy SE 3 > ا Ry : ا ا الما ا اا ,5 وال FRR Te = الث 1 اما JER Re an pe RRS Today 1 از 8 3 5 po ERC Nd > mr FRIMA 1 جا مت 02 ٍ- han 1 حا ل ا جب Eons 0 5 ل ل لير : ل مم اح م Non ER £3 أ TAL ; سا لصوام ا Soe Ba WEE SRE TR 2 pa أ ايخ oN ho ok FN 8 ] o 4 £ OR > POEM [ian a.Be Bh MR LNs ER ال يط * ١ 8 ا i Wha Sah § pa RIN Sit و a.Ba CR Ted جره AT اش :8 Lid Rt 3 لك اادج 3 Nha, Re - oe 5 ER BORE igs 4 افد 8# i WR 1 ag = الام اا ا" BE ERE CORY We رح k= 3, EEN RE Lat JR pr Tadd 5 ha EN بع Po CRANE pe المي حا أ Ro لمحت اذ | : ى ايت ا ايت Be »= ب 3 ما ا ا ل ال : 1 ال« 3 I LL ال E NIE SNS تسد لسالس لسك تحت FEAR SSS SCOUT.J . Sa 4 ¥ & . Fas Ll 8 ot [aS ¥ SER NET bik NES i I} | ل من بعد الا اد Phe $Y أذ i hed #7 1 il o { 4 8 \ بلا ا 3 1 ا امي اا i AL EN 1 مجنو دحج مجح سح جح جات ا ل 17 ا ل ااا 1 ل اا RRR RTS AT LLL RE ا SOON A AR حت 0 8 سف 8 RR دا لد و ان الس oe ع ب ل اا لي اا اميا ! Sten. pS SIREN ا GTR TER TRAY Na WEEE RET يا Ee WRT NN. pas of : Sh ENN SAREE a Sand Senn CE en AE TE بج 5 TE Sei a Hwa ay Pita a He fo Ea ل ل الم ل ا ا ل ا SR EEN jE 0 ا ا لاق جا اسمن ER EOL NE u ee. 2 : ا 5 BES pi TRS ا 1 ا Ea Sa SEER a UR Ie aa ا ا جا = برش Se Ha EE Ee NT REE hn ا ل Cnn 5 ا ل HN Bl Leb . Na BEER ZR AID a RR AE ER na: NR a ae : aR ا ل XN ل RR NS Naa... SEs بال ال اك اتات ال NAS RAYE UE SSE aE 8 ا ل a 3 ا aaa Na ahaa PN Naa BA SNE NNN AN Ro AEE AE RR ERS LL Ca Naa HN AR ee SEVEN RR RRteese es Ree RR A RNIN 8 8 Re RRS aaa THR ل ل ZINN NN rR NEN Nees NE Naas N ا Renae ae RRR Te ORY RE a VO NS aa ا NN ل To aa RANGA Yaa 3 NR 8 RAS SIR RANE on RRR Na a RAR ses ERR NRE A AIA 8 AZ PAA RN EN ARRAS NRA NR BS ERE A TI SER ND RE RN NRE a RE Ve SONA RRR RR ht AR NR aa SER NY SS oy A 88 a LL ee NN ay اس : RENE ا ا ا اا ا ل ل REAL SENN م 5 RR ا 0 NE ee اا جام © لانو جم 0 - - - | .»© A ا ل a اا ل ا ا ا ا ل : ا ا RRA BEE NE أ تيت سس سس يي ae ل ل ا ا ا EE J SE EEE HERE EN RE HE SE ARES SER م Re . : ل RRR لج ا ا A a a a او اش ا( با 8 ovvy“YAY- chy ) ARE مخنط de E Wa 0 : ] es »ا ASG pow 7 لذ الا =7% =~ 3 0 ا الوا a . + أ ¢- . Sang. ] & i 3 I pT - د i Low SR SR 1 ا ا ملالا 8 ول 1 7 8 ليمي 0 Sager 4 § fox NO اا od > = 1 ES 1 1 أت 3 5 Ty eo3 . 8 م وا 3 al nN Ba م SRL RN : of ; Se ! Tho تت ‘ ف ; ; بحمقف Yew £40 hes Avsv Jean و : (i FE YL de vo i 3 3 7 hg ترا At VV | : ٍ CAAA0 د05 ااا اا اا ااا ال ااا يقر تميحيسا :ااا ا اا لضان ااا ادا امت HERR PER ١ لحب ST FP i Foe Lo 1 PEIN The BA : ار ا FE a ES ne ena Wel imal CS الحا اه ذا اللخ اك SET ES 3 ْ: ا Bahl تاق ل ا LN اس ب : Sh Ce HE $i - دخلا ET i PN : بت- 8 شا -_ 8 ا ب i د اا الك : LR : ب : اخ es ES : ما ب" : wan ب" : 4 wi FWA بت 0 :الم 0 E 1 Th Teas “ : 4 “oe اليد = 8 : =, : 0 hE - DB 2 3 he Wh H د ت- ا ااا الات صقر TH: SE BE TT SUE wo SL سا Sha ا الل لاسا ات م ا ااا حدقلا JOC SOOO SOI SPIE ل Sg 53 ER ow 4 : ; 5 1 . in 1 1 8 Wat ا 0X SRWASE LC ? يشم > LIS * حي § كي > X + 8 + i ا الا ~~ ال لانت لحا انيس asad . > 1 ١ ااا ااا ااانا # له ا اا ل لل ل ال للج وتوا _— mss DE اا ا poses الايد 8 ت- الا PUREE : fv Pl ! Aa BONNE: H 8 “a Frese $ = م i HES R ER # + - ول : Gove _ اله 5 2 بت ل A RPE tio Pp = See 3 : 3 To ب تب 3 Ea - > ل : he, mm— : & ER [3 : ب Hew TE Tee, : EL SE BR ER 7 =. ب ال 8 لا - ل ¥ : ha PX a, : ا - ا ا ور " : = ne ads Vi 3 34 =, SE - k Aa ee ne dy : i : و إل ا لاا رق es en 0 ا اا ل y - H Co اا : : ال“ اسمخ الا اذا : fo RES : Nh اا ا هه i ri ال 3 تسج ا ا TT STL 4% a i : . Le aa AS: *.ء مع + أ + حي + § + ايض 3 يض يي eo 4 8 ا 3 - ص : J Py 3 » 5 الي وف الحا حي الح LH Fee ne cay Eres EET TE للستت ل معي لاع 12 10 ب : اش هي ا © “a, i FAST : HE Po enn & - RE 20# بيني = ER : RI z 1 موسي جد LL اا ~. ERS mend Peal PEF الها >" ال Tre Ee : لحن SE Se he i en EE i : - الحا : LL LAR een 1 ب "م ا : 1 i Te HR : 3 PIETY : ا . : WE : by : o. a 3 dy ا : 1 i 0 on Dam Te 4 5 : : امغر 08١ اا د 0 سو 1 i يالا ل ا ا ا ات اا ست Arr ee FUE enn FET IR EES أي + يي i EINE SE ا + اع § & + ين نر & <A ا : 2 3 J 0 ا : 1 Sg Aad dnd ب FY Wh CAAA—\AE— NN Nt Na i a Fog ل | - ام ا NL oo \ Nn oo: . a . a . . \ oo LL . . LL LL 0 اد Nh = LL a LL LL Nh . =. = LL a Lo ae — LL x LL = LA LaLN . Lo a Lh gy 0 ب اا aaa رجز 0 ا 0 ا SN a . \ pT La = = Nn RAN Nk RN Nh NR aa aa a a a nnn aS NA aaa Nh LN Naa Na NN \ \ LL LL Le . \a . a Ny . ا ا ا ا ا ا ا ا ا ا 1 X LL LL a 1 ا ا Nh LL . TEEN i a ره."م ال ا a { 3 ur شكل ته يفف—\Ao—TT... SRR Se \ ee سس ا ا ااا اا ض ا ااا ا ا ا | LL NHR Nh . Ta : AHH LL Ca | \ LL A oo HY a. THT RNR NL nN 8 8 0 a tls 8 ب ¥ RRR 3 a ne oe 0 ا اه زج بت تتا ا\ =. LL NNR Nk ا ا ال .-.-. ITT, Nh La LL . Ll a NE . NE Nh LL TNH LL . NN 3 رقم NEE Ts NN LL LL =. ol - Jas. 6) > KS CAAAمدة سريان هذه البراءة عشرون سنة من تاريخ إيداع الطلب وذلك بشرط تسديد المقابل المالي السنوي للبراءة وعدم بطلانها أو سقوطها لمخالفتها لأي من أحكام نظام براءات الاختراع والتصميمات التخطيطية للدارات المتكاملة والأصناف النباتية والنماذج الصناعية أو لائحته التنفيذية صادرة عن مدينة الملك عبدالعزيز للعلوم والتقنية ؛ مكتب البراءات السعودي ص ب TAT الرياض 57؟؟١١ ¢ المملكة العربية السعودية بريد الكتروني: patents @kacst.edu.sa
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB201216605A GB201216605D0 (en) | 2012-09-18 | 2012-09-18 | Optoelectronic device |
GB201309409A GB201309409D0 (en) | 2013-05-24 | 2013-05-24 | Optoelectronic device |
PCT/GB2013/052425 WO2014045021A1 (en) | 2012-09-18 | 2013-09-17 | Optoelectronic device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SA516371519B1 true SA516371519B1 (ar) | 2018-02-28 |
Family
ID=49237502
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SA515360164A SA515360164B1 (ar) | 2012-09-18 | 2015-03-18 | جهاز إلكتروني بصري |
SA516371519A SA516371519B1 (ar) | 2012-09-18 | 2015-03-18 | جهاز إلكتروني بصري |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SA515360164A SA515360164B1 (ar) | 2012-09-18 | 2015-03-18 | جهاز إلكتروني بصري |
Country Status (14)
Country | Link |
---|---|
US (5) | US10069025B2 (ar) |
EP (4) | EP4102586B1 (ar) |
JP (4) | JP6263186B2 (ar) |
KR (5) | KR102607292B1 (ar) |
CN (3) | CN104769736B (ar) |
AU (3) | AU2013319979B2 (ar) |
BR (1) | BR112015005926B1 (ar) |
ES (2) | ES2707296T3 (ar) |
HU (1) | HUE059781T2 (ar) |
MY (1) | MY170170A (ar) |
PL (2) | PL3413365T3 (ar) |
SA (2) | SA515360164B1 (ar) |
WO (1) | WO2014045021A1 (ar) |
ZA (2) | ZA201501707B (ar) |
Families Citing this family (317)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9181475B2 (en) | 2012-02-21 | 2015-11-10 | Northwestern University | Photoluminescent compounds |
GB201208793D0 (en) | 2012-05-18 | 2012-07-04 | Isis Innovation | Optoelectronic device |
US10388897B2 (en) | 2012-05-18 | 2019-08-20 | Oxford University Innovation Limited | Optoelectronic device comprising porous scaffold material and perovskites |
US10079320B2 (en) | 2012-05-18 | 2018-09-18 | Oxford University Innovation Limited | Optoelectronic device comprising perovskites |
KR102607292B1 (ko) * | 2012-09-18 | 2023-11-29 | 옥스포드 유니버시티 이노베이션 리미티드 | 광전자 디바이스 |
JP6103183B2 (ja) * | 2012-10-10 | 2017-03-29 | ペクセル・テクノロジーズ株式会社 | ペロブスカイト化合物を用いた電界発光素子 |
JP6099036B2 (ja) * | 2012-10-17 | 2017-03-22 | ペクセル・テクノロジーズ株式会社 | ペロブスカイト化合物を用いた有機el素子 |
KR20150135202A (ko) * | 2012-12-20 | 2015-12-02 | 이슘 리서치 디벨롭먼트 컴퍼니 오브 더 히브루 유니버시티 오브 예루살렘, 엘티디. | 페로브스카이트 쇼트키 타입 태양 전지 |
JP2014236045A (ja) * | 2013-05-31 | 2014-12-15 | 積水化学工業株式会社 | 有機薄膜太陽電池 |
GB201310854D0 (en) * | 2013-06-18 | 2013-07-31 | Isis Innovation | Photoactive layer production process |
US20160218308A1 (en) * | 2013-09-04 | 2016-07-28 | Dyesol Ltd | Photovoltaic device |
JP6304980B2 (ja) * | 2013-09-10 | 2018-04-04 | 大阪瓦斯株式会社 | ペロブスカイト系材料を用いた光電変換装置 |
KR20160065926A (ko) | 2013-10-02 | 2016-06-09 | 메르크 파텐트 게엠베하 | 정공 수송 물질 |
US20150122316A1 (en) * | 2013-10-16 | 2015-05-07 | OmniPV, Inc. | Photovoltaic cells including halide materials |
US10403836B2 (en) | 2013-11-12 | 2019-09-03 | The Regents Of The University Of California | Sequential processing with vapor treatment of thin films of organic-inorganic perovskite materials |
US9136408B2 (en) | 2013-11-26 | 2015-09-15 | Hunt Energy Enterprises, Llc | Perovskite and other solar cell materials |
US9425396B2 (en) * | 2013-11-26 | 2016-08-23 | Hunt Energy Enterprises L.L.C. | Perovskite material layer processing |
US9416279B2 (en) | 2013-11-26 | 2016-08-16 | Hunt Energy Enterprises, L.L.C. | Bi- and tri-layer interfacial layers in perovskite material devices |
US9520512B2 (en) * | 2013-11-26 | 2016-12-13 | Hunt Energy Enterprises, L.L.C. | Titanate interfacial layers in perovskite material devices |
US11180660B2 (en) * | 2013-11-26 | 2021-11-23 | Cubic Perovskite Llc | Mixed cation perovskite material devices |
EP3667751A1 (en) | 2013-12-17 | 2020-06-17 | Oxford University Innovation Limited | Passivation of metal halide perovskites |
US20170025622A1 (en) * | 2014-03-12 | 2017-01-26 | The University Of Akron | Ultrasensitive solution-processed perovskite hybrid photodetectors |
CN104979421B (zh) * | 2014-04-11 | 2017-09-26 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种叠层太阳能电池 |
US20170125171A1 (en) * | 2014-04-23 | 2017-05-04 | Lg Chem, Ltd. | Organic-inorganic hybrid solar cell |
WO2015164731A1 (en) * | 2014-04-24 | 2015-10-29 | Northwestern University | Solar cells with perovskite-based light sensitization layers |
KR101757198B1 (ko) * | 2014-04-28 | 2017-07-11 | 성균관대학교산학협력단 | 페로브스카이트 제조용 전구체 및 그의 제조 방법, 그리고 페로브스카이트 태양전지 및 그의 제조 방법 |
TWI474992B (zh) * | 2014-04-29 | 2015-03-01 | Univ Nat Central | 鈣鈦礦薄膜及太陽能電池的製備方法 |
GB201407606D0 (en) * | 2014-04-30 | 2014-06-11 | Cambridge Entpr Ltd | Electroluminescent device |
CN103956431B (zh) * | 2014-04-30 | 2017-10-20 | 华南理工大学 | 一种溶液加工的有机‑无机平面异质结太阳电池及其制备 |
KR101864522B1 (ko) * | 2014-05-05 | 2018-06-04 | 각코호진 오키나와가가쿠기쥬츠다이가쿠인 다이가쿠가쿠엔 | 태양 전지 응용을 위한 페로브스카이트 필름을 제조하기 위한 시스템 및 방법 |
EP3149765B1 (en) | 2014-05-28 | 2019-03-13 | Alliance for Sustainable Energy, LLC | Methods for producing perovskite materials |
GB2528831A (en) * | 2014-06-05 | 2016-02-10 | Univ Swansea | Perovskite pigments for solar cells |
US9564593B2 (en) * | 2014-06-06 | 2017-02-07 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Solar cells comprising 2d-perovskites |
GB201410542D0 (en) * | 2014-06-12 | 2014-07-30 | Isis Innovation | Heterojunction device |
CN104051629B (zh) * | 2014-06-28 | 2017-10-20 | 福州大学 | 一种基于喷涂工艺制备钙钛矿型太阳能电池的方法 |
US20160005987A1 (en) * | 2014-07-01 | 2016-01-07 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Planar Structure Solar Cell with Inorganic Hole Transporting Material |
GB201412201D0 (en) * | 2014-07-09 | 2014-08-20 | Isis Innovation | Two-step deposition process |
EP2966703A1 (en) * | 2014-07-11 | 2016-01-13 | Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL) | Template enhanced organic inorganic perovskite heterojunction photovoltaic device |
US9349967B2 (en) | 2014-07-16 | 2016-05-24 | Industrial Technology Research Institute | Solar cell and method for manufacturing the same |
WO2016009450A2 (en) * | 2014-07-17 | 2016-01-21 | Indian Institute Of Technology Bombay | Photonic devices by organo-metallic halides based perovskites material and its method of preparation |
JP2016025170A (ja) * | 2014-07-18 | 2016-02-08 | 学校法人桐蔭学園 | 有機無機ハイブリッド構造からなる光電変換素子 |
WO2016012274A1 (en) | 2014-07-21 | 2016-01-28 | Basf Se | Organic-inorganic tandem solar cell |
WO2016014845A1 (en) * | 2014-07-23 | 2016-01-28 | The University Of Akron | Ultrasensitive solution-processed perovskite hybrid photodetectors |
CN104124291B (zh) * | 2014-07-24 | 2016-08-31 | 华中科技大学 | 一种钙钛矿太阳电池及其制备方法 |
CN104157786A (zh) * | 2014-07-31 | 2014-11-19 | 清华大学 | 钙钛矿型太阳能电池及其制备方法 |
US9305715B2 (en) | 2014-08-01 | 2016-04-05 | Hunt Energy Enterprises Llc | Method of formulating perovskite solar cell materials |
JP6521336B2 (ja) * | 2014-08-07 | 2019-05-29 | 学校法人沖縄科学技術大学院大学学園 | マルチソース堆積に基づくペロブスカイト膜の製造システムおよび製造方法 |
GB201414110D0 (en) | 2014-08-08 | 2014-09-24 | Isis Innovation | Thin film production |
TWI527259B (zh) * | 2014-08-13 | 2016-03-21 | 國立清華大學 | 鈣鈦礦太陽能電池的製造方法 |
CN106661729B (zh) * | 2014-08-21 | 2019-12-10 | 学校法人冲绳科学技术大学院大学学园 | 用于制造钙钛矿膜的基于低压化学气相沉积的系统和方法 |
CN104201284B (zh) * | 2014-08-29 | 2017-08-25 | 国家纳米科学中心 | 一种基于钙钛矿太阳电池和体异质结太阳电池的集成太阳电池及其制备方法 |
US10930442B2 (en) | 2014-09-02 | 2021-02-23 | University Of Tokyo | Light-transmitting electrode having carbon nanotube film, solar cell, method for producing light-transmitting electrode having carbon nanotube film, and method for manufacturing solar cell |
CN104269452A (zh) * | 2014-10-11 | 2015-01-07 | 中国科学院半导体研究所 | 硅基薄膜材料的钙钛矿太阳电池及其制备方法 |
JP2016082003A (ja) * | 2014-10-14 | 2016-05-16 | 積水化学工業株式会社 | 薄膜太陽電池の製造方法 |
DE112015004774T5 (de) | 2014-10-21 | 2017-07-06 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Organische photoelektrische Umwandlungsvorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
KR101969659B1 (ko) | 2014-11-05 | 2019-04-16 | 각코호진 오키나와가가쿠기쥬츠다이가쿠인 다이가쿠가쿠엔 | 페로브스카이트 기반 장치를 위한 도핑 조작 정공 수송층 |
JP2016096277A (ja) * | 2014-11-15 | 2016-05-26 | ペクセル・テクノロジーズ株式会社 | ペロブスカイト化合物を用いた光電変換素子およびその製造方法 |
KR20240006091A (ko) * | 2014-11-21 | 2024-01-12 | 큐빅피브이 인크. | 페로브스카이트 물질 디바이스에서의 이중- 및 삼중-층 계면 층 |
EP3249708A1 (en) | 2014-11-21 | 2017-11-29 | Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG | Pedot in perovskite solar cells |
CN104409642B (zh) * | 2014-11-21 | 2017-04-26 | 北京科技大学 | 一种钙钛矿/p型量子点复合结构太阳能电池的制备方法 |
GB201421133D0 (en) * | 2014-11-28 | 2015-01-14 | Cambridge Entpr Ltd | Electroluminescent device |
US10535791B2 (en) * | 2014-12-03 | 2020-01-14 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | 2-terminal metal halide semiconductor/C-silicon multijunction solar cell with tunnel junction |
WO2016088019A1 (en) * | 2014-12-03 | 2016-06-09 | Saule Sp. Z O.O. | A film-forming compostion and a method for manufacturnig a photoactive film |
JP2016119468A (ja) * | 2014-12-17 | 2016-06-30 | 積水化学工業株式会社 | 有機無機ハイブリッド太陽電池 |
JP2016115880A (ja) * | 2014-12-17 | 2016-06-23 | 積水化学工業株式会社 | 有機無機ハイブリッド太陽電池 |
KR102098123B1 (ko) * | 2014-12-19 | 2020-04-08 | 커먼웰쓰 사이언티픽 앤 인더스트리알 리서치 오거니제이션 | 광전자 장치의 광활성 층을 형성하는 공정 |
RU2697574C2 (ru) * | 2014-12-23 | 2019-08-15 | Недерландсе Органисати Вор Тугепаст-Натюрветенсхаппелейк Ондерзук Тно | Способ изготовления батареи взаимосвязанных солнечных элементов |
NL2014097B1 (en) * | 2015-01-08 | 2016-09-30 | Univ Delft Tech | Hole transport azomethine molecule. |
CN107210371A (zh) * | 2015-01-22 | 2017-09-26 | 住友化学株式会社 | 光电转换元件及其制造方法 |
TWI693732B (zh) * | 2015-01-29 | 2020-05-11 | 日商積水化學工業股份有限公司 | 太陽電池及太陽電池之製造方法 |
EP3051600A1 (en) * | 2015-01-30 | 2016-08-03 | Consejo Superior De Investigaciones Científicas | Heterojunction device |
JP2016149472A (ja) * | 2015-02-13 | 2016-08-18 | ペクセル・テクノロジーズ株式会社 | ペロブスカイト化合物を用いた光電変換素子およびその製造方法 |
US9997707B2 (en) * | 2015-02-26 | 2018-06-12 | Nanyang Technological University | Perovskite thin films having large crystalline grains |
US9701696B2 (en) | 2015-02-27 | 2017-07-11 | Alliance For Sustainable Energy, Llc | Methods for producing single crystal mixed halide perovskites |
JP6486719B2 (ja) * | 2015-03-03 | 2019-03-20 | 株式会社東芝 | 光電変換素子の製造方法 |
US10693071B2 (en) * | 2015-03-06 | 2020-06-23 | The Regents Of The University Of California | Efficient and stable perovskite solar cells with all solution processed metal oxide transporting layers |
CN104733618A (zh) * | 2015-03-06 | 2015-06-24 | 中国科学院大学 | 一种钙钛矿太阳电池吸收层的制备方法 |
JP6537850B2 (ja) * | 2015-03-09 | 2019-07-03 | 大阪瓦斯株式会社 | 光電変換装置における光吸収層の形成方法 |
JP6339037B2 (ja) * | 2015-03-18 | 2018-06-06 | 株式会社東芝 | 光電変換素子およびその製造方法 |
JP6486737B2 (ja) * | 2015-03-19 | 2019-03-20 | 株式会社東芝 | 光電変換素子 |
JP6110993B2 (ja) * | 2015-03-25 | 2017-04-05 | 積水化学工業株式会社 | 太陽電池 |
JP6554300B2 (ja) * | 2015-03-27 | 2019-07-31 | 株式会社カネカ | 光電変換装置の製造方法 |
US20180075978A1 (en) * | 2015-03-30 | 2018-03-15 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Photoelectric conversion device |
JP6434847B2 (ja) * | 2015-03-31 | 2018-12-05 | 株式会社東芝 | 光電変換素子の製造方法および製造装置 |
JPWO2016158838A1 (ja) * | 2015-03-31 | 2017-12-14 | 株式会社カネカ | 光電変換装置、光電変換装置の製造方法および光電変換モジュール |
WO2016157979A1 (ja) * | 2015-03-31 | 2016-10-06 | 株式会社カネカ | 光電変換装置および光電変換モジュール |
WO2016163985A1 (en) * | 2015-04-06 | 2016-10-13 | Tao Xu | Perovskite photovoltaic device |
US20180096796A1 (en) * | 2015-04-20 | 2018-04-05 | The Regents Of The University Of California | Perovskite-based optoelectronic device employing non-doped small molecule hole transport materials |
JP2018515931A (ja) * | 2015-05-13 | 2018-06-14 | エイチイーイーソーラー,エルエルシー | ペルブスカイト材料のチタン酸塩界面層 |
EP3298630B1 (en) * | 2015-05-19 | 2022-10-26 | Alliance for Sustainable Energy, LLC | Method of making organo-metal halide perovskite films |
CN104993059B (zh) * | 2015-05-28 | 2017-11-10 | 中山大学 | 一种硅基钙钛矿异质结太阳电池及其制备方法 |
KR101693192B1 (ko) * | 2015-05-29 | 2017-01-05 | 한국과학기술연구원 | 페로브스카이트 태양전지 및 이의 제조방법 |
WO2016200897A1 (en) * | 2015-06-08 | 2016-12-15 | The Florida State University Research Foundation, Inc. | Single-layer light-emitting diodes using organometallic halide perovskite/ionic-conducting polymer composite |
KR101654310B1 (ko) * | 2015-06-09 | 2016-09-05 | 포항공과대학교 산학협력단 | 양극산화법을 이용한 전극 적층체의 제조방법, 및 그의 제조방법을 포함하는 페로브스카이트 태양전지의 제조방법 |
US10622409B2 (en) * | 2015-06-12 | 2020-04-14 | Oxford Photovoltaics Limited | Photovoltaic device |
JP6489950B2 (ja) * | 2015-06-12 | 2019-03-27 | シャープ株式会社 | 光電変換素子およびその製造方法 |
CN104934503B (zh) * | 2015-06-12 | 2017-03-08 | 辽宁工业大学 | 一种钙钛矿太阳能电池光吸收层材料甲基胺溴化铅的制备方法 |
GB201510351D0 (en) * | 2015-06-12 | 2015-07-29 | Oxford Photovoltaics Ltd | Method of depositioning a perovskite material |
CN114613805A (zh) * | 2015-06-12 | 2022-06-10 | 牛津光电有限公司 | 多结光伏装置 |
EP3316327A4 (en) * | 2015-06-26 | 2018-07-04 | FUJI-FILM Corporation | Photoelectric conversion element, solar battery, metal salt composition, and manufacturing method for photoelectric conversion element |
EP3317905A1 (en) * | 2015-06-30 | 2018-05-09 | Cambridge Enterprise Limited | Luminescent device |
JP6352223B2 (ja) * | 2015-07-03 | 2018-07-04 | 国立大学法人京都大学 | ペロブスカイト型太陽電池の製造方法 |
EP3320571B1 (en) * | 2015-07-10 | 2020-09-02 | Hunt Perovskite Technologies, L.L.C. | Perovskite material layer processing |
JP2017028028A (ja) * | 2015-07-17 | 2017-02-02 | 積水化学工業株式会社 | 固体接合型光電変換素子および固体接合型光電変換素子用p型半導体層 |
JP2017028027A (ja) * | 2015-07-17 | 2017-02-02 | 積水化学工業株式会社 | 固体接合型光電変換素子および固体接合型光電変換素子用p型半導体層 |
KR102323243B1 (ko) * | 2015-07-22 | 2021-11-08 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 소자 및 이를 포함하는 유기 발광 표시 장치 |
JP6572039B2 (ja) * | 2015-07-22 | 2019-09-04 | 積水化学工業株式会社 | 薄膜太陽電池及び薄膜太陽電池の製造方法 |
JP2017028138A (ja) * | 2015-07-24 | 2017-02-02 | 公立大学法人 滋賀県立大学 | 太陽電池およびその太陽電池の製造方法 |
JP6725221B2 (ja) * | 2015-07-31 | 2020-07-15 | 積水化学工業株式会社 | 薄膜太陽電池 |
EP3331041B1 (en) * | 2015-07-31 | 2021-04-28 | Sekisui Chemical Co., Ltd. | Solar cell |
JP6725219B2 (ja) * | 2015-07-31 | 2020-07-15 | 積水化学工業株式会社 | 太陽電池 |
WO2017031193A1 (en) * | 2015-08-20 | 2017-02-23 | The Hong Kong University Of Science And Technology | Organic-inorganic perovskite materials and optoelectronic devices fabricated by close space sublimation |
CN105206749A (zh) * | 2015-08-31 | 2015-12-30 | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 | 钙钛矿太阳能电池及其制备工艺 |
KR101686342B1 (ko) * | 2015-09-01 | 2016-12-14 | 연세대학교 산학협력단 | 반투명 페로브스카이트 태양전지 및 제조 방법 |
US9911935B2 (en) * | 2015-09-04 | 2018-03-06 | International Business Machines Corporation | Transparent conducting oxide as top-electrode in perovskite solar cell by non-sputtering process |
KR20170029371A (ko) | 2015-09-07 | 2017-03-15 | 주식회사 레이언스 | X선 디텍터 |
WO2017043871A1 (ko) * | 2015-09-07 | 2017-03-16 | 주식회사 레이언스 | X선 디텍터 |
KR101629729B1 (ko) * | 2015-09-07 | 2016-06-13 | 한국기계연구원 | 페로브스카이트 태양전지 |
JP2017059647A (ja) * | 2015-09-15 | 2017-03-23 | 株式会社東芝 | 光電変換素子および太陽電池 |
JP6382781B2 (ja) | 2015-09-15 | 2018-08-29 | 株式会社東芝 | 半導体素子の製造方法および製造装置 |
JP2017059651A (ja) | 2015-09-16 | 2017-03-23 | 株式会社東芝 | 光電変換材料分散液とその製造方法、光電変換膜の製造方法と製造装置、および光電変換素子 |
EP3350836B1 (en) * | 2015-09-17 | 2021-11-10 | Koninklijke Philips N.V. | Method for producing a radiation detector and radiation detector |
WO2017057646A1 (ja) | 2015-09-30 | 2017-04-06 | 株式会社カネカ | 多接合型光電変換装置および光電変換モジュール |
JP6552368B2 (ja) * | 2015-10-02 | 2019-07-31 | 住友化学株式会社 | 光電変換素子及び光電変換素子の製造方法 |
US10476017B2 (en) | 2015-10-11 | 2019-11-12 | Northwestern University | Phase-pure, two-dimensional, multilayered perovskites for optoelectronic applications |
CN105374941B (zh) * | 2015-10-13 | 2018-06-12 | 上海科技大学 | 一种具有立方钙钛矿结构的半导体材料及其制备方法 |
WO2017083077A1 (en) | 2015-10-22 | 2017-05-18 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Solar cell comprising an oxide-nanoparticle buffer layer and method of fabrication |
CN106676474B (zh) * | 2015-11-11 | 2019-09-13 | 清华大学 | 真空蒸镀方法 |
CN106676476B (zh) * | 2015-11-11 | 2019-10-25 | 清华大学 | 真空蒸镀方法 |
CN106676475B (zh) * | 2015-11-11 | 2019-09-03 | 清华大学 | 真空蒸镀装置 |
EP3168877B1 (en) | 2015-11-13 | 2022-06-22 | SCEYE Inc | A wire shaped coaxial photovoltaic solar cell |
CN105226187B (zh) * | 2015-11-15 | 2018-01-30 | 河北工业大学 | 薄膜晶硅钙钛矿异质结太阳电池及其制备方法 |
CN105428535A (zh) * | 2015-11-15 | 2016-03-23 | 河北工业大学 | 薄膜晶硅钙钛矿异质结太阳电池的制备方法 |
CN105244442A (zh) * | 2015-11-15 | 2016-01-13 | 河北工业大学 | 一种薄膜晶硅钙钛矿异质结太阳电池的制备方法 |
CN105449103B (zh) * | 2015-11-15 | 2018-06-22 | 河北工业大学 | 一种薄膜晶硅钙钛矿异质结太阳电池及其制备方法 |
CN105405974A (zh) * | 2015-11-17 | 2016-03-16 | 华中科技大学 | 一种p型掺杂的钙钛矿光电功能材料及其应用 |
DE102015015017A1 (de) | 2015-11-19 | 2017-05-24 | Institut Für Solarenergieforschung Gmbh | Solarzelle und Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle mit mehreren durch ladungsträgerselektive Kontakte miteinander verbundenen Absorbern |
CN105470400B (zh) * | 2015-11-19 | 2018-06-22 | 华北电力大学 | 一种钙钛矿膜的制备方法和应用 |
EP3378101B1 (en) | 2015-11-20 | 2023-07-05 | Alliance for Sustainable Energy, LLC | Multi-layered perovskites, devices, and methods of making the same |
KR101853342B1 (ko) * | 2015-11-25 | 2018-04-30 | 재단법인 멀티스케일 에너지시스템 연구단 | 페로브스카이트 태양전지 및 이의 제조방법 |
GB201520972D0 (en) * | 2015-11-27 | 2016-01-13 | Isis Innovation | Mixed cation perovskite |
KR102651543B1 (ko) * | 2015-12-10 | 2024-03-28 | 삼성전자주식회사 | 광 전자 장치와 이를 포함하는 스마트 윈도우 |
ES2803026T3 (es) | 2015-12-14 | 2021-01-22 | Oxford Photovoltaics Ltd | Encapsulación de módulo fotovoltaico |
CN106910830A (zh) * | 2015-12-23 | 2017-06-30 | 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 | 一种有机电致发光器件及其制备方法 |
JP6431513B2 (ja) * | 2015-12-24 | 2018-11-28 | 旭化成株式会社 | 組成物 |
US10622161B2 (en) | 2016-01-06 | 2020-04-14 | Nutech Ventures | Narrow band perovskite single crystal photodetectors with tunable spectral response |
CN108417720B (zh) * | 2016-01-26 | 2020-03-27 | 南京工业大学 | 一种钙钛矿材料 |
US10714688B2 (en) | 2016-02-25 | 2020-07-14 | University Of Louisville Research Foundation, Inc. | Methods for forming a perovskite solar cell |
US10937978B2 (en) * | 2016-02-25 | 2021-03-02 | University Of Louisville Research Foundation, Inc. | Methods for forming a perovskite solar cell |
CN105655443A (zh) * | 2016-02-29 | 2016-06-08 | 苏州大学 | 一种基于光致场诱导效应增强太阳能电池效率的方法 |
CN105742507B (zh) * | 2016-02-29 | 2018-02-13 | 上海科技大学 | 具有立方钙钛矿结构的半导体材料及其制备方法 |
GB201604050D0 (en) * | 2016-03-09 | 2016-04-20 | Isis Innovation | A/M/X material production process with alkylamine |
JP6722007B2 (ja) * | 2016-03-14 | 2020-07-15 | 株式会社カネカ | 積層型光電変換装置およびその製造方法 |
WO2017160955A1 (en) | 2016-03-15 | 2017-09-21 | Nutech Ventures | Insulating tunneling contact for efficient and stable perovskite solar cells |
CN105826476B (zh) * | 2016-03-17 | 2018-07-31 | 华北电力大学 | 一种基于复合空穴传输层的钙钛矿太阳电池的制备方法 |
EP3223323A1 (en) * | 2016-03-24 | 2017-09-27 | Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL) | High efficiency large area perovskite solar cells and process for producing the same |
CN109155366B (zh) * | 2016-03-18 | 2023-04-11 | 洛桑联邦理工学院 | 高效率大面积钙钛矿太阳能电池及其生产工艺 |
WO2017165434A1 (en) | 2016-03-21 | 2017-09-28 | Nutech Ventures | Sensitive x-ray and gamma-ray detectors including perovskite single crystals |
WO2017175491A1 (ja) * | 2016-04-07 | 2017-10-12 | 株式会社カネカ | 多接合光電変換装置の製造方法 |
US20170330693A1 (en) * | 2016-05-11 | 2017-11-16 | Board Of Trustees Of Michigan State University | Interlayer Additives For Highly Efficient And Hysteresis-Free Perovskite-Based Photovoltaic Devices |
CN105826473B (zh) * | 2016-05-12 | 2019-06-21 | 东莞市联洲知识产权运营管理有限公司 | 一种钙钛矿型太阳能电池及其制备方法 |
CN105789449B (zh) * | 2016-05-12 | 2019-07-26 | 西安穿越光电科技有限公司 | 一种钙钛矿太阳电池及其制备方法 |
WO2017196782A1 (en) | 2016-05-13 | 2017-11-16 | University Of Pittsburgh-Of The Commonwealth System Of Higher Education | Highly stable electronic device employing hydrophobic composite coating layer |
US10453988B2 (en) * | 2016-06-03 | 2019-10-22 | University Of Utah Research Foundation | Methods for creating cadmium telluride (CdTe) and related alloy film |
CN105957975A (zh) * | 2016-06-13 | 2016-09-21 | 云南大学 | 高效率串联oled器件 |
WO2018005749A1 (en) * | 2016-06-29 | 2018-01-04 | Alliance For Sustainable Energy, Llc | Methods for making perovskite solar cells having improved hole-transport layers |
JP6708493B2 (ja) * | 2016-06-30 | 2020-06-10 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出器及びその製造方法 |
TWI626768B (zh) * | 2016-08-01 | 2018-06-11 | 國立成功大學 | 發光二極體及其製造方法 |
CN106252513A (zh) * | 2016-08-02 | 2016-12-21 | 天津工业大学 | 基于绒面光管理结构的钙钛矿太阳电池及其制备方法 |
CN106229411A (zh) * | 2016-08-02 | 2016-12-14 | 天津工业大学 | 一种背光基底的钙钛矿太阳电池及其制备方法 |
JP6297242B1 (ja) * | 2016-08-04 | 2018-03-20 | 花王株式会社 | 光吸収層、光電変換素子、分散液、光電変換素子、及び、太陽電池、並びに、光吸収層の製造方法 |
WO2018023192A1 (en) * | 2016-08-05 | 2018-02-08 | Visionary Semiconductor Inc. | Photodetector and method of manufacture |
US10889756B2 (en) * | 2016-08-11 | 2021-01-12 | Avantama Ag | Luminescent crystals and manufacturing thereof |
CN109563104B (zh) | 2016-08-22 | 2023-04-04 | 天光材料科技股份有限公司 | 有机半导体化合物 |
JP6843719B2 (ja) * | 2016-09-06 | 2021-03-17 | 旭化成株式会社 | 有機無機金属化合物 |
CN106282922A (zh) * | 2016-09-07 | 2017-01-04 | 中国工程物理研究院材料研究所 | 一种共蒸发制备无机非铅卤化物钙钛矿薄膜的方法 |
CN106252516B (zh) * | 2016-09-20 | 2019-05-14 | 华南理工大学 | 一种平面倒置半透明有机/无机杂化钙钛矿太阳电池器件及制备方法 |
WO2018057419A1 (en) | 2016-09-20 | 2018-03-29 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Solar cell comprising a metal-oxide buffer layer and method of fabrication |
WO2018056295A1 (ja) * | 2016-09-21 | 2018-03-29 | 積水化学工業株式会社 | 太陽電池 |
JP6530360B2 (ja) * | 2016-09-23 | 2019-06-12 | 株式会社東芝 | 光電変換素子 |
US10825996B2 (en) * | 2016-09-27 | 2020-11-03 | Massachusetts Institute Of Technology | Tunable light emitting diodes utilizing quantum-confined layered perovskite emitters |
KR102629585B1 (ko) * | 2016-10-04 | 2024-01-25 | 삼성전자주식회사 | 광전 변환 소자 및 이를 포함하는 촬상 장치 |
EP3306690B1 (en) | 2016-10-05 | 2022-09-07 | Raynergy Tek Inc. | Organic semiconducting compounds |
CN109790176B (zh) | 2016-10-05 | 2023-06-02 | 天光材料科技股份有限公司 | 有机半导体化合物 |
WO2018065356A1 (en) | 2016-10-05 | 2018-04-12 | Merck Patent Gmbh | Organic semiconducting compounds |
GB2554908A (en) * | 2016-10-13 | 2018-04-18 | Univ Of Kent | Photovoltaically active perovskite materials |
WO2018068102A1 (en) * | 2016-10-13 | 2018-04-19 | Newsouth Innovations Pty Limited | A photovoltaic cell and a method of forming a photovoltaic cell |
EP3907229A1 (en) * | 2016-10-14 | 2021-11-10 | Alliance for Sustainable Energy, LLC | Oriented perovskite crystals and methods of making the same |
CN106549106A (zh) * | 2016-10-21 | 2017-03-29 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 一种基于层状钙钛矿结构材料的薄膜太阳能电池及其制备方法 |
EP3533089A1 (en) | 2016-10-31 | 2019-09-04 | Merck Patent GmbH | Organic semiconducting compounds |
KR102006800B1 (ko) * | 2016-11-14 | 2019-08-02 | 보에 테크놀로지 그룹 컴퍼니 리미티드 | 양자점 발광 다이오드 및 그의 제조 방법, 디스플레이 패널 및 디스플레이 장치 |
EP3331029B1 (en) | 2016-12-02 | 2021-09-01 | LG Electronics Inc. | Tandem solar cell and method of manufacturing the same |
CN108148073B (zh) | 2016-12-06 | 2023-12-08 | 天光材料科技股份有限公司 | 有机半导体化合物 |
CN106653927B (zh) * | 2016-12-23 | 2018-01-02 | 济南大学 | 一种基于Cs2SnI6&CH3NH3PbI3体异质结的太阳能电池的制备方法 |
JPWO2018123402A1 (ja) * | 2016-12-28 | 2019-11-21 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 太陽電池、光吸収層および光吸収層の形成方法 |
CN108305949A (zh) * | 2017-01-11 | 2018-07-20 | 南京工业大学 | 一种多量子阱钙钛矿材料量子阱阱宽的调整方法及其应用和器件 |
JP2018117008A (ja) * | 2017-01-17 | 2018-07-26 | 積水化学工業株式会社 | 固体接合型光電変換素子および固体接合型光電変換素子用のp型半導体層 |
KR20180090116A (ko) * | 2017-02-02 | 2018-08-10 | 삼성전자주식회사 | 광 필터 및 이를 포함하는 광 분광기 |
GB2559800B (en) * | 2017-02-20 | 2019-06-12 | Oxford Photovoltaics Ltd | Multijunction photovoltaic device |
US10457148B2 (en) | 2017-02-24 | 2019-10-29 | Epic Battery Inc. | Solar car |
US10587221B2 (en) | 2017-04-03 | 2020-03-10 | Epic Battery Inc. | Modular solar battery |
JP6378383B1 (ja) | 2017-03-07 | 2018-08-22 | 株式会社東芝 | 半導体素子およびその製造方法 |
EP3592748A1 (en) | 2017-03-09 | 2020-01-15 | Merck Patent GmbH | Organic semiconducting compounds |
CN106684247A (zh) * | 2017-03-15 | 2017-05-17 | 中南大学 | 一种钙钛矿太阳能电池及其制备方法 |
CN107425122B (zh) * | 2017-03-20 | 2019-08-16 | 中节能万润股份有限公司 | 一种掺杂型钙钛矿太阳能电池及其制备方法 |
US11271123B2 (en) | 2017-03-27 | 2022-03-08 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Alloyed halide double perovskites as solar-cell absorbers |
US12046425B2 (en) * | 2017-04-14 | 2024-07-23 | Cubicpv Inc. | Photovoltaic device encapsulation |
GB201706285D0 (en) | 2017-04-20 | 2017-06-07 | Univ Oxford Innovation Ltd | Semiconductor device comprising halometallate |
TWI774767B (zh) | 2017-05-12 | 2022-08-21 | 瑞士商多蒂孔股份有限公司 | 茚烷衍生物及其在有機電子產品的用途 |
EP3401305A1 (en) | 2017-05-12 | 2018-11-14 | Dottikon Es Holding Ag | Indane derivatives and their use in organic electronics |
KR101895166B1 (ko) * | 2017-05-19 | 2018-10-18 | 울산과학기술원 | 무납 페로브스카이트 기반 홀전도체 조성물, 이를 포함하는 태양전지 및 이의 제조방법 |
WO2018213658A1 (en) * | 2017-05-19 | 2018-11-22 | Florida State University Research Foundation, Inc. | Halide perovskite thin films and methods of production thereof |
KR102457927B1 (ko) * | 2017-05-29 | 2022-10-25 | 상라오 징코 솔라 테크놀러지 디벨롭먼트 컴퍼니, 리미티드 | 페로브스카이트 실리콘 텐덤 태양전지의 제조 방법 |
JP7113254B2 (ja) | 2017-07-20 | 2022-08-05 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 光吸収材料及びそれを用いた太陽電池 |
EP3665729B1 (en) | 2017-08-11 | 2021-07-07 | Raynergy Tek Inc. | Organic semiconducting polymer |
WO2019043495A1 (en) * | 2017-09-01 | 2019-03-07 | King Abdullah University Of Science And Technology | METHODS AND APPARATUSES FOR MANUFACTURING PEROVSKITE DEVICES ON FLEXIBLE CONDUCTIVE SUBSTRATES |
EP3681889A1 (en) | 2017-09-13 | 2020-07-22 | Merck Patent GmbH | Organic semiconducting compounds |
KR102380360B1 (ko) * | 2017-09-28 | 2022-03-29 | 엘지디스플레이 주식회사 | 발광다이오드 및 이를 포함하는 발광장치 |
WO2019067724A1 (en) | 2017-09-29 | 2019-04-04 | Northwestern University | THICK ALKALINE METAL HALIDE FILTER PERVASKITE FILMS FOR LOW DOSE FLAT SCREEN X-RAY IMAGERS |
CN107742661A (zh) * | 2017-10-19 | 2018-02-27 | 辽宁科技大学 | 用物理气相沉积法制备无机锡基钙钛矿太阳能电池的方法 |
EP3474339B1 (en) * | 2017-10-20 | 2024-11-06 | Siemens Healthineers AG | X-ray image sensor with adhesion promotive interlayer and soft-sintered perovskite active layer |
KR102093718B1 (ko) * | 2017-10-27 | 2020-03-26 | 이화여자대학교 산학협력단 | 준-2 차원 페로브스카이트 필름을 포함하는 광 검출기 |
CN111315796B (zh) | 2017-11-02 | 2023-11-24 | 天光材料科技股份有限公司 | 有机半导体化合物 |
CN107749432A (zh) * | 2017-11-06 | 2018-03-02 | 成都中建材光电材料有限公司 | 一种CdTe薄膜太阳能电池及其制作方法 |
CN111315797A (zh) | 2017-11-10 | 2020-06-19 | 默克专利股份有限公司 | 有机半导体化合物 |
CN107768522A (zh) * | 2017-11-29 | 2018-03-06 | 湖南师范大学 | 一种以石墨烯作为导电材料的钙钛矿薄膜太阳能电池及其制备方法 |
CN107871820A (zh) * | 2017-12-11 | 2018-04-03 | 湖南师范大学 | 一种以硫化镉作为窗口材料的钙钛矿薄膜太阳能电池及其制备方法 |
GB201721066D0 (en) * | 2017-12-15 | 2018-01-31 | Oxford Photovoltaics Ltd | Multi-function photovoltaic device |
CN108023019B (zh) * | 2017-12-19 | 2024-01-02 | 北京大学深圳研究生院 | 一种钙钛矿光电晶体管及其制备方法 |
CN108230908A (zh) * | 2018-01-03 | 2018-06-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板及显示装置 |
WO2019154973A1 (en) | 2018-02-12 | 2019-08-15 | Merck Patent Gmbh | Organic semiconducting compounds |
CN108376745B (zh) | 2018-03-01 | 2020-08-18 | 京东方科技集团股份有限公司 | 量子点发光二极管及其制备方法、显示面板 |
KR102584087B1 (ko) * | 2018-03-19 | 2023-10-04 | 상라오 징코 솔라 테크놀러지 디벨롭먼트 컴퍼니, 리미티드 | 텐덤 태양전지의 제조 방법 |
WO2019185578A1 (en) | 2018-03-28 | 2019-10-03 | Merck Patent Gmbh | Organic semiconducting compounds |
WO2019185580A1 (en) | 2018-03-28 | 2019-10-03 | Merck Patent Gmbh | Organic semiconducting compounds |
CN108493341A (zh) * | 2018-03-30 | 2018-09-04 | 苏州大学 | 以五氧化二钽作为电子传输层的钙钛矿太阳能电池的制备 |
WO2019206926A1 (en) | 2018-04-27 | 2019-10-31 | Merck Patent Gmbh | Organic semiconducting polymers |
CN108649124B (zh) * | 2018-05-23 | 2020-03-17 | 中南大学 | 一种高效率无机钙钛矿太阳电池及其制备方法 |
EP3802484A4 (en) * | 2018-06-07 | 2022-03-30 | The Governing Council Of The University Of Toronto | DOPED METAL HALIDE PEROVSKITES HAVING ENHANCED STABILITY AND SOLAR CELLS COMPRISING THEM |
CN108816641B (zh) * | 2018-06-30 | 2024-05-14 | 浙江浙能科技环保集团股份有限公司 | 一种钙钛矿太阳能电池中钙钛矿吸光层的涂布工艺及装置 |
CN108855775A (zh) * | 2018-06-30 | 2018-11-23 | 浙江浙能技术研究院有限公司 | 一种钙钛矿太阳能电池中钙钛矿吸光层的涂布工艺及装置 |
JP7304517B2 (ja) * | 2018-07-10 | 2023-07-07 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 太陽電池 |
GB201811537D0 (en) | 2018-07-13 | 2018-08-29 | Univ Oxford Innovation Ltd | Turnable blue emitting lead halide perovskites |
GB201811539D0 (en) | 2018-07-13 | 2018-08-29 | Univ Oxford Innovation Ltd | Fabrication process for a/m/x materials |
WO2020011831A1 (en) | 2018-07-13 | 2020-01-16 | Merck Patent Gmbh | Organic semiconducting compounds |
GB201811538D0 (en) | 2018-07-13 | 2018-08-29 | Univ Oxford Innovation Ltd | Stabilised a/m/x materials |
WO2020018626A1 (en) | 2018-07-18 | 2020-01-23 | Massachusetts Institute Of Technology | Alternating multi-source vapor transport deposition |
DE102018212304A1 (de) | 2018-07-24 | 2020-01-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Metallorganische Perowskit-Solarzelle, Tandem-Solarzelle sowie Herstellungsverfahren dazu |
DE102018212305A1 (de) | 2018-07-24 | 2020-01-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Metallorganische Perowskit-Solarzelle, Tandem-Solarzelle sowie Herstellungsverfahren dazu |
WO2020048939A1 (en) | 2018-09-06 | 2020-03-12 | Merck Patent Gmbh | Organic semiconducting compounds |
US20200082995A1 (en) * | 2018-09-06 | 2020-03-12 | Ascent Solar Technologies, Inc. | Chalcopyrite-perovskite pn-junction thin-film photovoltaic device |
CN109346611B (zh) * | 2018-09-26 | 2022-04-08 | 杭州电子科技大学 | 一种光探测器原型器件的制备方法 |
EP3650438A1 (en) | 2018-11-09 | 2020-05-13 | Dottikon Es Holding Ag | Di-, tri- and tetraphenylindane derivatives and their use in organic electronics |
US10907050B2 (en) | 2018-11-21 | 2021-02-02 | Hee Solar, L.L.C. | Nickel oxide sol-gel ink |
KR102639857B1 (ko) * | 2018-12-12 | 2024-02-23 | 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 | 적층체의 제조 방법 및 페로브스카이트형 태양 전지의 제조 방법 |
GB201820427D0 (en) | 2018-12-14 | 2019-01-30 | Univ Oxford Innovation Ltd | Device interlayer |
EP3671868B1 (en) * | 2018-12-20 | 2023-03-08 | TotalEnergies OneTech | Three terminal tandem solar generation unit |
CN109904317A (zh) * | 2018-12-27 | 2019-06-18 | 北京铂阳顶荣光伏科技有限公司 | 一种钙钛矿层的制备方法、应用及装置 |
FI130068B (en) * | 2018-12-31 | 2023-01-31 | Aalto Univ Foundation Sr | Double-sided solar cell unit |
CN113383436A (zh) * | 2019-01-30 | 2021-09-10 | 纽泰克温图斯公司 | 将卤化物钙钛矿表面转化为不溶性宽带隙铅氧盐以增强太阳能电池的稳定性 |
CN109817731B (zh) * | 2019-02-02 | 2021-10-12 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种光电二极管及其制作方法、电子设备 |
WO2020161052A1 (en) | 2019-02-06 | 2020-08-13 | Merck Patent Gmbh | Organic semiconducting polymers |
JP2019071496A (ja) * | 2019-02-12 | 2019-05-09 | 株式会社東芝 | 光電変換素子とその製造方法 |
CN113544186B (zh) | 2019-03-07 | 2024-03-19 | 天光材料科技股份有限公司 | 有机半导体组合物 |
WO2020196288A1 (ja) | 2019-03-22 | 2020-10-01 | 株式会社カネカ | 太陽電池モジュール |
PL429454A1 (pl) * | 2019-04-02 | 2020-10-05 | Saule Spółka Z Ograniczoną Odpowiedzialnością | Sposób otrzymywania jodków organicznych, kompozycja perowskitotwórcza z jodkiem organicznym otrzymanym tym sposobem oraz ogniwo fotowoltaiczne z warstwą perowskitową wytworzoną z tej kompozycji |
CN110010724B (zh) * | 2019-04-03 | 2020-10-27 | 西安交通大学 | 一种在金属衬底上制备BaZrS3太阳能电池薄膜材料的方法 |
IT201900005114A1 (it) | 2019-04-04 | 2020-10-04 | Carlo Aldo Di | Doping con materiali 2D di dispositivi multi-giunzione fotovoltaici che includono un assorbitore con struttura a perovskite |
KR102182388B1 (ko) * | 2019-05-14 | 2020-11-24 | 한국화학연구원 | 와이드 밴드갭을 갖는 페로브스카이트 화합물 막의 후처리 방법 |
GB2583965A (en) | 2019-05-16 | 2020-11-18 | Oxford Photovoltaics Ltd | Photovoltaic device |
CA3142542A1 (en) * | 2019-06-12 | 2020-12-17 | Ivy Mawusi ASUO | Doped mixed cation perovskite materials and devices exploiting same |
RU2712151C1 (ru) * | 2019-06-19 | 2020-01-24 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова" (МГУ) | Способ получения полупроводниковой пленки на основе органо-неорганических комплексных галогенидов с перовскитоподобной структурой |
CN110323303B (zh) * | 2019-07-09 | 2021-05-11 | 北京镓族科技有限公司 | 一种Ga2O3-CuSCN核壳异质结日盲紫外探测器及其制备方法 |
EP3764406A1 (en) | 2019-07-11 | 2021-01-13 | Oxford Photovoltaics Limited | Multi-junction photovoltaic device |
US10608137B1 (en) * | 2019-07-17 | 2020-03-31 | Alfaisal University | Method of making a perovskite solar cell using a nanocomposite |
US11489082B2 (en) | 2019-07-30 | 2022-11-01 | Epic Battery Inc. | Durable solar panels |
US20220277902A1 (en) * | 2019-07-31 | 2022-09-01 | The Board Of Regents Of The University Of Oklahoma | Dichalcogenide composite electrode and solar cell and uses |
TWI690099B (zh) * | 2019-08-23 | 2020-04-01 | 台灣中油股份有限公司 | 鈣鈦礦太陽能電池模組的製造方法及鈣鈦礦太陽能電池模組 |
KR102284040B1 (ko) * | 2019-11-28 | 2021-07-29 | 광운대학교 산학협력단 | 이종접합 실리콘 태양전지 및 이를 제조하는 방법 |
JP2021089946A (ja) | 2019-12-03 | 2021-06-10 | 味の素株式会社 | 封止剤、封止シート、電子デバイスおよびペロブスカイト型太陽電池 |
KR102534569B1 (ko) * | 2019-12-30 | 2023-05-22 | 한국전자통신연구원 | 셀룰로오스 나노결정 반도체 물질 및 이의 제조방법 |
CN111370998A (zh) * | 2020-01-06 | 2020-07-03 | 武汉大学 | 利用飞秒激光制备钙钛矿阵列微型谐振腔激光器的方法 |
CN111211228A (zh) * | 2020-01-14 | 2020-05-29 | 天津大学 | 一种宽光谱探测器以及制备方法 |
JP2023515477A (ja) | 2020-02-19 | 2023-04-13 | ファースト・ソーラー・インコーポレーテッド | 蒸気搬送堆積によるペロブスカイトデバイス加工の方法 |
CN111293131B (zh) * | 2020-02-20 | 2021-06-04 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | X射线探测器及其制备方法 |
WO2021182431A1 (ja) * | 2020-03-09 | 2021-09-16 | 国立大学法人京都大学 | 高純度化スズ含有ペロブスカイト半導体材料 |
WO2021187341A1 (ja) | 2020-03-19 | 2021-09-23 | キヤノン株式会社 | 光電変換素子、該光電変換素子を有する光電変換装置 |
CN111446385B (zh) * | 2020-05-21 | 2022-05-17 | 中国科学技术大学 | 一种基于气刀和刮涂工艺制备钙钛矿发光二极管的方法 |
CN111628084A (zh) * | 2020-05-28 | 2020-09-04 | 华中科技大学 | 一种钙钛矿叠层太阳能电池及其制备方法 |
EP4169080A1 (en) | 2020-06-18 | 2023-04-26 | Oxford Photovoltaics Limited | Multijunction photovoltaic devices with metal oxynitride layer |
CN111710780B (zh) * | 2020-06-18 | 2022-03-01 | 西北工业大学 | 阴极原位修饰的无电子传输层钙钛矿太阳能电池的制备方法 |
CN111883664B (zh) * | 2020-06-30 | 2022-09-23 | 西安理工大学 | 一种双注入倍增型有机光电探测器及其制备方法 |
CN111834487B (zh) * | 2020-07-24 | 2022-06-03 | 西安电子科技大学 | 全无机钙钛矿纳米线自供能-短波光电探测器及制备方法 |
CN114864729B (zh) * | 2020-08-21 | 2023-08-01 | 隆基绿能科技股份有限公司 | 硅基异质结太阳电池及其制备方法 |
WO2022066707A1 (en) * | 2020-09-22 | 2022-03-31 | Caelux Corporation | Methods and devices for integrated tandem solar module fabrication |
KR102496956B1 (ko) * | 2020-10-28 | 2023-02-06 | 포항공과대학교 산학협력단 | 박막 트랜지스터 및 이의 제조 방법 |
CN112349849B (zh) * | 2020-11-13 | 2023-06-23 | 新余学院 | 一种快速蒸镀钙钛矿太阳电池电极的方法及其器件制备 |
KR20220077980A (ko) | 2020-12-02 | 2022-06-10 | 한화솔루션 주식회사 | 높은 효율을 갖는 페로브스카이트 태양전지 및 그 제조방법 |
FR3118297A1 (fr) * | 2020-12-18 | 2022-06-24 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Structure simplifiee de cellules solaires tandem a deux terminaux |
CN112242491B (zh) * | 2020-12-18 | 2021-03-09 | 河南工学院 | 一种无电子输运层钙钛矿太阳能电池的制备方法 |
KR102647777B1 (ko) * | 2020-12-24 | 2024-03-13 | 한화솔루션 주식회사 | 페로브스카이트 광전 변환 소자 제조방법, 이를 통해 제조된 페로브스카이트광전변환 소자, 및 이를 포함하는 태양전지 |
CN112736161B (zh) * | 2020-12-30 | 2022-04-26 | 中山大学 | 一种具有循环类量子阱结构的铜锌锡硫基薄膜前驱体及其制备方法 |
CN115101602B (zh) * | 2021-03-03 | 2023-09-01 | 隆基绿能科技股份有限公司 | 一种太阳能电池及光伏组件 |
CN113066889B (zh) * | 2021-03-15 | 2022-12-06 | 中国科学院半导体研究所 | 基于硅基PIN探测器的n-p-i-n光电三极管及其制备方法 |
EP4068363B1 (en) | 2021-03-30 | 2023-06-07 | Siemens Healthcare GmbH | Radiation detector with butted absorber tiles without dead areas |
GB202114040D0 (en) | 2021-09-30 | 2021-11-17 | Oxford Photovoltaics Ltd | Perovskite materials and their use in photocoltaic devices |
WO2023078824A1 (en) | 2021-11-04 | 2023-05-11 | Dottikon Es Holding Ag | Spiro-(indane-fluorene) type compounds and their use in organic electronics |
EP4180845A1 (en) | 2021-11-11 | 2023-05-17 | Siemens Healthcare GmbH | Radiation detector with laser cut absorber tiles |
US20230157158A1 (en) * | 2021-11-12 | 2023-05-18 | Kaunas University Of Technology | Photovoltaic Devices Containing Cyclobutane-Based Hole Transporting Materials |
WO2023170304A1 (en) | 2022-03-11 | 2023-09-14 | Oxford Photovoltaics Limited | Process for making multicomponent perovskites |
GB202203452D0 (en) | 2022-03-11 | 2022-04-27 | Oxford Photovoltaics Ltd | Sequential deposition of perovskites |
CN114695669A (zh) * | 2022-03-24 | 2022-07-01 | 江苏科技大学 | 引入pmma插层的钙钛矿太阳能电池及其制备方法 |
CN114583015A (zh) * | 2022-03-25 | 2022-06-03 | 安徽华晟新能源科技有限公司 | 一种异质结电池及其制备方法 |
TWI825657B (zh) * | 2022-04-07 | 2023-12-11 | 中華學校財團法人中華科技大學 | 鈣鈦礦平面太陽能電池製作方法 |
WO2023240059A2 (en) * | 2022-06-06 | 2023-12-14 | New York University | Lead-free ytterbium-doped double perovskite thin films |
WO2023247416A1 (en) | 2022-06-21 | 2023-12-28 | Dottikon Es Holding Ag | Tetraarylbenzidine type compounds and their use in organic electronics |
IL297568B2 (en) * | 2022-10-23 | 2024-06-01 | Green Capsula Solution Ltd | System and method for optical focusing and temperature stabilization of a photovoltaic cell |
Family Cites Families (91)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3323324B2 (ja) | 1993-06-18 | 2002-09-09 | 株式会社リコー | 発光ダイオードおよび発光ダイオードアレイ |
EP0895512B1 (de) | 1996-04-26 | 1999-10-20 | Forschungszentrum Jülich Gmbh | Pin-schichtenfolge auf einem perowskiten |
US5721634A (en) | 1996-10-09 | 1998-02-24 | Boeing North American, Inc. | Cesium-germanium halide salts forming nonlinear optical crystals |
US5882548A (en) | 1997-05-08 | 1999-03-16 | International Business Machines Corporation | Luminescent organic-inorganic perovskites with a divalent rare earth metal halide framework |
JP3693468B2 (ja) | 1997-07-23 | 2005-09-07 | シャープ株式会社 | 半導体発光素子 |
US5871579A (en) | 1997-09-25 | 1999-02-16 | International Business Machines Corporation | Two-step dipping technique for the preparation of organic-inorganic perovskite thin films |
US6027666A (en) | 1998-06-05 | 2000-02-22 | The Governing Council Of The University Of Toronto | Fast luminescent silicon |
US6180956B1 (en) | 1999-03-03 | 2001-01-30 | International Business Machine Corp. | Thin film transistors with organic-inorganic hybrid materials as semiconducting channels |
US6420056B1 (en) | 1999-07-08 | 2002-07-16 | International Business Machines Corporation | Electroluminescent device with dye-containing organic-inorganic hybrid materials as an emitting layer |
US6150536A (en) | 1999-07-08 | 2000-11-21 | International Business Machines Corporation | Dye doped organic-inorganic hybrid materials |
ATE324662T1 (de) * | 1999-08-04 | 2006-05-15 | Fuji Photo Film Co Ltd | Elektrolytzusammensetzung und photolektrochemische zelle |
AU739381B2 (en) | 1999-09-24 | 2001-10-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Electrolyte composition, photosensitized solar cell using said electrolyte composition, and method of manufacturing photosensitized solar cell |
JP2001148491A (ja) | 1999-11-19 | 2001-05-29 | Fuji Xerox Co Ltd | 光電変換素子 |
JP3505568B2 (ja) * | 1999-11-29 | 2004-03-08 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 太陽電池の光吸収層形成用材料 |
US6429318B1 (en) | 2000-02-07 | 2002-08-06 | International Business Machines Corporaiton | Layered organic-inorganic perovskites having metal-deficient inorganic frameworks |
US20050268962A1 (en) * | 2000-04-27 | 2005-12-08 | Russell Gaudiana | Flexible Photovoltaic cells, systems and methods |
JP3542077B2 (ja) | 2000-09-08 | 2004-07-14 | 独立行政法人 科学技術振興機構 | 有機アンモニウム・無機層状ペロブスカイト化合物とその製造方法 |
JP4278080B2 (ja) | 2000-09-27 | 2009-06-10 | 富士フイルム株式会社 | 高感度受光素子及びイメージセンサー |
US6599447B2 (en) * | 2000-11-29 | 2003-07-29 | Advanced Technology Materials, Inc. | Zirconium-doped BST materials and MOCVD process forming same |
JP2002198551A (ja) * | 2000-12-27 | 2002-07-12 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 光電変換素子とそれを用いた光電変換装置及び光電変換素子の製造方法 |
JP2002299063A (ja) * | 2001-04-03 | 2002-10-11 | Japan Science & Technology Corp | 臭化鉛系層状ペロブスカイト化合物を発光層とした電界発光素子 |
US6709929B2 (en) | 2001-06-25 | 2004-03-23 | North Carolina State University | Methods of forming nano-scale electronic and optoelectronic devices using non-photolithographically defined nano-channel templates |
JP4729203B2 (ja) * | 2001-07-25 | 2011-07-20 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ハロゲン化鉛系層状ペロブスカイト化合物の燐光を利用した電界発光素子 |
JP3779596B2 (ja) | 2001-11-16 | 2006-05-31 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ポジトロンエミッショントモグラフィ装置 |
US7105360B2 (en) | 2002-03-08 | 2006-09-12 | International Business Machines Corporation | Low temperature melt-processing of organic-inorganic hybrid |
JP4010170B2 (ja) | 2002-04-11 | 2007-11-21 | ソニー株式会社 | 光電変換素子の製造方法 |
EP1437790B1 (en) | 2002-06-14 | 2012-08-08 | Panasonic Corporation | Photoelectric transducer and its manufacturing method |
US20060162767A1 (en) * | 2002-08-16 | 2006-07-27 | Angelo Mascarenhas | Multi-junction, monolithic solar cell with active silicon substrate |
WO2004022637A2 (en) * | 2002-09-05 | 2004-03-18 | Nanosys, Inc. | Nanocomposites |
JP4259081B2 (ja) | 2002-10-10 | 2009-04-30 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP2004134577A (ja) | 2002-10-10 | 2004-04-30 | Seiko Epson Corp | 半導体薄膜の製造方法、薄膜トランジスタ、半導体装置、薄膜太陽電池、複合半導体装置の製造方法、電気光学装置及び電子機器 |
AU2003272969A1 (en) * | 2002-10-10 | 2004-05-04 | Kansai Paint Co., Ltd. | Method for forming semiconductor film and use of semiconductor film |
US6995445B2 (en) | 2003-03-14 | 2006-02-07 | The Trustees Of Princeton University | Thin film organic position sensitive detectors |
JP4598673B2 (ja) | 2003-06-13 | 2010-12-15 | パナソニック株式会社 | 発光素子及び表示装置 |
JP4191566B2 (ja) | 2003-09-12 | 2008-12-03 | アトミック エナジー カウンセル − インスティトゥート オブ ニュークリアー エナジー リサーチ | 電流ブロック構造を有する発光ダイオードおよびその製造方法 |
US7045205B1 (en) | 2004-02-19 | 2006-05-16 | Nanosolar, Inc. | Device based on coated nanoporous structure |
WO2005114748A2 (en) | 2004-04-13 | 2005-12-01 | Solaris Nanosciences, Inc. | Plasmon enhanced sensitized photovoltaic cells |
US8592680B2 (en) | 2004-08-11 | 2013-11-26 | The Trustees Of Princeton University | Organic photosensitive devices |
WO2006034561A1 (en) | 2004-09-27 | 2006-04-06 | The State Scientific Institution 'institute Of Molecular And Atomic Physics Of The National Academy Of Science Of Belarus' | High-efficient small-aperture light converter |
EP1724838A1 (en) | 2005-05-17 | 2006-11-22 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne | Tandem photovoltaic conversion device |
JP2007031178A (ja) | 2005-07-25 | 2007-02-08 | Utsunomiya Univ | CdTe系酸化物薄膜及びその形成方法 |
US8034745B2 (en) | 2005-08-01 | 2011-10-11 | Amit Goyal | High performance devices enabled by epitaxial, preferentially oriented, nanodots and/or nanorods |
US20070028961A1 (en) * | 2005-08-04 | 2007-02-08 | General Electric Company | Organic dye compositions and use thereof in photovoltaic cells |
JP2007095488A (ja) | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Toshiba Corp | 発光素子およびその製造方法 |
JP2009532839A (ja) | 2006-04-03 | 2009-09-10 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 有機エレクトロルミネッセント装置 |
JP5084730B2 (ja) | 2006-07-05 | 2012-11-28 | 日本化薬株式会社 | 色素増感太陽電池 |
KR100838158B1 (ko) | 2007-01-04 | 2008-06-13 | 한국과학기술연구원 | 메조 다공성 금속산화물 박막을 포함하는 염료감응태양전지용 광전극 및 이의 제조방법 |
JP2008189947A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-21 | National Institute For Materials Science | ペロブスカイト薄膜及びその製造方法 |
KR20080079894A (ko) | 2007-02-28 | 2008-09-02 | 삼성에스디아이 주식회사 | 염료감응 태양전지 및 이의 제조방법 |
JP2009006548A (ja) | 2007-06-27 | 2009-01-15 | Saga Univ | 有機無機層状ペロブスカイト化合物薄膜及びその作製方法 |
CN101802948B (zh) * | 2007-07-23 | 2014-01-15 | 巴斯夫欧洲公司 | 串列光伏电池 |
JP2010534394A (ja) | 2007-07-25 | 2010-11-04 | ポリマーズ シーアールシー リミテッド | 太陽電池、及びその製造方法 |
US20090032097A1 (en) | 2007-07-31 | 2009-02-05 | Bigioni Terry P | Enhancement of dye-sensitized solar cells using colloidal metal nanoparticles |
KR20090052696A (ko) | 2007-11-21 | 2009-05-26 | 한국전자통신연구원 | p-n 접합 다이오드를 포함하는 기판을 구비한 염료감응태양전지 |
US8193704B2 (en) | 2008-02-19 | 2012-06-05 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Perovskite oxide thin film EL element |
US20110011456A1 (en) | 2008-03-19 | 2011-01-20 | Liyuan Han | Photosensitizer and solar cell using the same |
JP2010009786A (ja) | 2008-06-24 | 2010-01-14 | Sharp Corp | 色素増感型太陽電池および色素増感型太陽電池モジュール |
CN101635203B (zh) | 2008-07-27 | 2011-09-28 | 比亚迪股份有限公司 | 一种半导体电极及制法和含有该半导体电极的太阳能电池 |
CA2737477A1 (en) | 2008-09-26 | 2010-04-01 | The Regents Of The University Of Michigan | Organic tandem solar cells |
TW201032340A (en) | 2009-02-26 | 2010-09-01 | Nat Applied Res Laboratories | A silicon quantum dot near-infrared phototransistor detector |
US20110089402A1 (en) | 2009-04-10 | 2011-04-21 | Pengfei Qi | Composite Nanorod-Based Structures for Generating Electricity |
KR101061970B1 (ko) | 2009-05-25 | 2011-09-05 | 한국과학기술연구원 | 전도성 비금속 필름을 이용한 광전극 및 이를 포함하는 염료감응 태양전지 |
GB0909818D0 (en) * | 2009-06-08 | 2009-07-22 | Isis Innovation | Device |
KR101174088B1 (ko) | 2009-06-25 | 2012-08-14 | 제일모직주식회사 | 유기광전소자용 화합물 및 이를 포함하는 유기광전소자 |
GB0916037D0 (en) | 2009-09-11 | 2009-10-28 | Isis Innovation | Device |
JP5489621B2 (ja) | 2009-09-29 | 2014-05-14 | ヤヱガキ醗酵技研株式会社 | 光電変換素子とその光電変換素子を用いた光発電装置 |
GB0920918D0 (en) | 2009-11-27 | 2010-01-13 | Isis Innovation | Device |
JP2013513016A (ja) | 2009-12-08 | 2013-04-18 | オムニピーブイ, インコーポレイテッド | 可視範囲または近赤外線範囲において光を放出する発光材料および形成方法 |
JP2011139978A (ja) | 2010-01-06 | 2011-07-21 | Panasonic Corp | 光励起半導体及びそれを用いたデバイス |
JP5775886B2 (ja) | 2010-02-18 | 2015-09-09 | コリア リサーチ インスティチュート オブ ケミカル テクノロジーKorea Research Institute Of Chemicaltechnology | ナノ構造無機−有機ヘテロ接合太陽電池の製造方法 |
GB201004106D0 (en) | 2010-03-11 | 2010-04-28 | Isis Innovation | Device |
JP5621488B2 (ja) | 2010-03-17 | 2014-11-12 | ソニー株式会社 | 光電変換装置 |
US8907205B2 (en) | 2010-06-18 | 2014-12-09 | Institut National De La Recherche Scientifique (Inrs) | Combined Pn junction and bulk photovoltaic device |
JP5548073B2 (ja) | 2010-09-13 | 2014-07-16 | パナソニック株式会社 | 太陽電池 |
CN102468413B (zh) * | 2010-11-09 | 2014-10-29 | 四川新力光源股份有限公司 | 一种交流led发光装置 |
GB201020209D0 (en) | 2010-11-29 | 2011-01-12 | Isis Innovation | Device |
KR101172374B1 (ko) * | 2011-02-14 | 2012-08-08 | 성균관대학교산학협력단 | 페로브스카이트계 염료를 이용한 염료감응 태양 전지 및 이의 제조방법 |
US20120048329A1 (en) * | 2011-06-02 | 2012-03-01 | Lalita Manchanda | Charge-coupled photovoltaic devices |
US9484475B2 (en) * | 2011-10-11 | 2016-11-01 | The Trustees Of The University Of Pennsylvania | Semiconductor ferroelectric compositions and their use in photovoltaic devices |
US9181475B2 (en) | 2012-02-21 | 2015-11-10 | Northwestern University | Photoluminescent compounds |
GB201203881D0 (en) | 2012-03-05 | 2012-04-18 | Isis Innovation | Mesoporous single crystal semiconductore |
US10079320B2 (en) | 2012-05-18 | 2018-09-18 | Oxford University Innovation Limited | Optoelectronic device comprising perovskites |
US10388897B2 (en) | 2012-05-18 | 2019-08-20 | Oxford University Innovation Limited | Optoelectronic device comprising porous scaffold material and perovskites |
GB201208793D0 (en) * | 2012-05-18 | 2012-07-04 | Isis Innovation | Optoelectronic device |
EP2693503A1 (en) * | 2012-08-03 | 2014-02-05 | Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL) | Organo metal halide perovskite heterojunction solar cell and fabrication thereof |
KR101547870B1 (ko) * | 2012-09-12 | 2015-08-27 | 한국화학연구원 | 광흡수 구조체가 구비된 태양전지 |
GB201216605D0 (en) | 2012-09-18 | 2012-10-31 | Isis Innovation | Optoelectronic device |
KR102607292B1 (ko) | 2012-09-18 | 2023-11-29 | 옥스포드 유니버시티 이노베이션 리미티드 | 광전자 디바이스 |
GB201309409D0 (en) | 2013-05-24 | 2013-07-10 | Isis Innovation | Optoelectronic device |
JP6553647B2 (ja) | 2014-02-03 | 2019-07-31 | ザ キュレイターズ オブ ザ ユニバーシティー オブ ミズーリ | アミンボラン及び多面体ボランの合成 |
GB2528831A (en) * | 2014-06-05 | 2016-02-10 | Univ Swansea | Perovskite pigments for solar cells |
-
2013
- 2013-09-17 KR KR1020217023616A patent/KR102607292B1/ko active IP Right Grant
- 2013-09-17 US US14/427,930 patent/US10069025B2/en active Active
- 2013-09-17 WO PCT/GB2013/052425 patent/WO2014045021A1/en active Application Filing
- 2013-09-17 ES ES13766635T patent/ES2707296T3/es active Active
- 2013-09-17 BR BR112015005926-0A patent/BR112015005926B1/pt active IP Right Grant
- 2013-09-17 KR KR1020187025360A patent/KR102296283B1/ko active IP Right Grant
- 2013-09-17 EP EP22187032.2A patent/EP4102586B1/en active Active
- 2013-09-17 PL PL18185861.4T patent/PL3413365T3/pl unknown
- 2013-09-17 KR KR1020227029143A patent/KR102698732B1/ko active IP Right Grant
- 2013-09-17 CN CN201380048666.8A patent/CN104769736B/zh active Active
- 2013-09-17 JP JP2015531644A patent/JP6263186B2/ja active Active
- 2013-09-17 EP EP13766635.0A patent/EP2898553B1/en active Active
- 2013-09-17 CN CN201610585145.1A patent/CN106684246B/zh active Active
- 2013-09-17 PL PL13766635T patent/PL2898553T3/pl unknown
- 2013-09-17 KR KR1020157010081A patent/KR102118475B1/ko active IP Right Grant
- 2013-09-17 HU HUE18185861A patent/HUE059781T2/hu unknown
- 2013-09-17 EP EP18185861.4A patent/EP3413365B1/en active Active
- 2013-09-17 ES ES18185861T patent/ES2924644T3/es active Active
- 2013-09-17 MY MYPI2015700714A patent/MY170170A/en unknown
- 2013-09-17 CN CN201610597085.5A patent/CN106206952B/zh active Active
- 2013-09-17 KR KR1020247027968A patent/KR20240129238A/ko active Application Filing
- 2013-09-17 AU AU2013319979A patent/AU2013319979B2/en active Active
- 2013-09-17 EP EP22181343.9A patent/EP4089753B1/en active Active
-
2015
- 2015-03-12 ZA ZA2015/01707A patent/ZA201501707B/en unknown
- 2015-03-18 SA SA515360164A patent/SA515360164B1/ar unknown
- 2015-03-18 SA SA516371519A patent/SA516371519B1/ar unknown
-
2016
- 2016-07-04 ZA ZA2016/04518A patent/ZA201604518B/en unknown
- 2016-07-08 AU AU2016204753A patent/AU2016204753B2/en active Active
-
2017
- 2017-05-30 AU AU2017203629A patent/AU2017203629B2/en active Active
- 2017-12-15 JP JP2017240862A patent/JP6660930B2/ja active Active
-
2018
- 2018-06-20 US US16/013,451 patent/US11527663B2/en active Active
-
2020
- 2020-02-10 JP JP2020020952A patent/JP7245527B2/ja active Active
- 2020-06-24 US US16/910,645 patent/US11469338B2/en active Active
-
2022
- 2022-08-08 US US17/818,187 patent/US20220393048A1/en not_active Abandoned
- 2022-11-03 US US18/052,325 patent/US20230197869A1/en active Pending
-
2023
- 2023-03-06 JP JP2023034101A patent/JP2023081962A/ja active Pending
Also Published As
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SA516371519B1 (ar) | جهاز إلكتروني بصري | |
Kung et al. | Lead‐free double perovskites for perovskite solar cells | |
Asghar et al. | Device stability of perovskite solar cells–A review | |
Wang et al. | Controlled synthesis of lead-free and stable perovskite derivative Cs2SnI6 nanocrystals via a facile hot-injection process | |
AU2016316984B2 (en) | Double perovskite | |
Manshor et al. | Humidity versus photo-stability of metal halide perovskite films in a polymer matrix | |
KR20170060184A (ko) | 혼합 음이온을 갖는 유기금속 페로브스카이트를 갖는 광전자 장치 | |
Park et al. | Simultaneous ligand exchange fabrication of flexible perovskite solar cells using newly synthesized uniform tin oxide quantum dots | |
KR101767968B1 (ko) | 나노와이어 페로브스카이트 태양전지 및 이의 제조 방법 | |
Thote et al. | High-working-pressure sputtering of ZnO for stable and efficient perovskite solar cells | |
Shen et al. | Stabilization of MAPbI3 nanocrystals by dual ligands for photodetectors | |
Hussein | Solvent engineering for highly-efficient tin perovskite solar cells | |
Chadaram | Improving the Performance of Perovskite Solar Cells Fabricated in Ambient Atmosphere | |
Zheng | Defect Passivation and Surface Modification for Efficient and Stable Organic-Inorganic Hybrid Perovskite Solar Cells and Light-Emitting Diodes | |
Aranda Alonso | Bulk and interfacial engineering to enhance photovoltaic properties of iodide and bromide perovskite solar cells | |
Li | Structural Studies of Perovskite Quantum Dot and Organic Photovoltaic Molecules in Thin Films Using Grazing Incidence Scattering Techniques | |
Ethar Yahya | Preparation and characterization of ZnO/ZnAl2O4 mixed metal oxide as an effective anode materials for dye-sensitized photodetector/Ethar Yahya Salih | |
Salih | Preparation and Characterization of ZnO/ZnAl2O4Mixed Metal Oxide as an Effective Anode Materials for Dye-Sensitized Photodetector | |
Kadro | Investigations on morphology and photophysical characteristics of CH3NH3PbI3 polycrystalline films |