KR970007151B1

KR970007151B1 - 전압테스터가 부착된 전자치솔

Info

Publication number: KR970007151B1
Application number: KR1019900014370A
Authority: KR
Inventors: 히로시 후꾸바
Original assignee: 히로시 후꾸바
Priority date: 1989-09-12
Filing date: 1990-09-12
Publication date: 1997-05-03
Also published as: DE69011251T2; JP2613667B2; AU634939B2; AU6221590A; EP0417963A2; KR910005805A; JPH03184504A; US5115533A; EP0417963B1; DE69011251D1; EP0417963A3

Abstract

내용없음

Description

전압테스터가 부착된 전자치솔

제1도는 본 발명의 제1실시예에 따른, 전압테스터를 가진 전자치솔의 평면도.

제2도는 제1실시예의 저면도.

제3도는 제1실시예의 전개도.

제4도는 제3도의 Ⅳ 위치에 따른 도면.

제5도는 제1실시예의 주요부에 대한 확대단면도.

제6도는 제5도의 Ⅵ-Ⅵ선 단면도.

제7도는 제5도의 Ⅶ-Ⅶ선 단면도.

제8도는 헤드부가 생략된 본 발명의 제2실시예의 평면도.

제9도는 제2실시예의 주요부에 대한 확대 단면도.

제10도는 제8도의 X-X선 단면도.

제11도는 제9도의 ⅩI-ⅩI선 단면도.

제12도는 전압의 유효성을 검사하고 있는 상태의 제2실시예의 부분 확대정면도.

제13도는 제12도 상태에 있는 제2실시예의 우측면도.

제14도는 제12도의 XⅣ 위치에 따른 도면.

제16도는 제15도의 XⅥ-XⅥ선 확대 단면도.

제17도는 제16도의 XⅦ-XⅦ선 단면도.

제18도는 제3실시예의 부분 확대 정면도.

제19도는 전압의 유효성을 검사하고 있는 상태의 제3실시예의 부분 확대 정면도.

제20도는 제3실시예에 사용되는 커버의 확대 사시도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 손잡이부 12 : 치솔모(毛)

14 : 헤드부 16 : 도체바아(bar)

18 : 전지 20 : 도체판

22,60,79,82 : 결합돌출부 30 : 결합요홈부

32 : 슬릿(slit) 34 : 바아 삽입부

36 : 연통홈 38 : 테스터(tester)

40 : 발광다이오드 42,44,54,56 : 단자

46 : 발광체 48 : 테스터본체

50 : 커버 57,73 : 요홈부

58 : 연결돌출부 61 : 안내홈

62 : 돌출편 63 : 요철부

64 : 파지아암 66,68 : 결합요홈부

67 : 안내용기부 68 : 노치

70 : 홀딩부재 74,75 : 홈

72 : 부착구멍 78 : 돌출핀

80 : 결합계단부

본 발명은 전자치솔에 관한 것으로서, 더 구체적으로는, 치아와 치솔 사이로 전류를 흐르게하여 치아의 박테리아성 프라그를 효과적으로 제거하는 전자치솔과 이 전자치솔의 전원전압을 검사하는 테스터(tester)의 조합에 관한 것이다.

종래, 치아의 프라그를 효과적으로 제거하고 치약에 함유되어 있는 불화물의 침투를 향상시키기 위해 치아와 치솔사이에 전류를 흐르게 하는 전자치솔에 관하여 많은 제안이 있었다(예컨대, 일본 특공소 27390/1973, 실공소 5092/1968). 그러나 이러한 종래의 전자치솔은 구조가 복잡하여 제조비용이 높고 취급이 불편하기 때문에 대중화에 성공하지 못하였다. 이러한 결점을 해소하기 위해 본 출원인은 일본국 특공소 1842/1988에 개시되어 있는 전자치솔을 이미 제안한바 있다.

전자치솔이 적절히 기능할 수 있도록 하기 위해서는 전압이 소정값으로 유지되어야 한다. 따라서, 전자치솔의 구조를 치솔의 손잡이부에 전지등의 전원을 배치하는 구조로 하면, 전원전압을 주기적으로 검사하여야 한다. 이와 같은 목적을 위해, 본 출원인은 일본 특원소 64968/1987에 개시되어 있는 전압테스터를 이미 제안하여 그 전압테스터로 전자치솔의 전원전압을 검사할 수 있도록 하였다.

본 출원인이 제안한 전압테스터는 조작이 용이하다는 장점이 있다. 따라서, 이 전압테스터는 그의 전원전압의 검사조작을 가능한한 간소화 하여, 사용자가 그의 조작을 실패하지 않도록 하기 위한 것이다. 그러나 전압테스터는 전자치솔과 분리되어 있고 양치질때마다 사용할 필요는 없기 때문에, 사용하지 않을 때는 어떤 장소에 넣어두고 필요시에만 꺼내 쓸 필요가 있다. 이는 사용자가 종종 일상의 양치질을 할 수 없는 경우도 있다는 점을 미루어보아, 전압 검사조작은 아직도 번거롭다는 것을 의미한다.

본 출원인은 일본 특원평 133053/1989(1989.5.26출원)에서, 전압 검사 기능을 전자치솔에 병합시키는 구조에 대해서 이미 많은 제안을 하였다. 그러나, 이러한 구조는 다소 복잡하고 제조비용의 상승을 가져왔다.

전술한 문제점을 감안하여, 본 발명의 목적은 구조를 복잡하게 하여 제조비용을 상승시킴없이, 전자치솔의 손잡이부에 배치된 전원의 유효성을 더욱 용이하게 검사할 수 있도록 하는데 있다.

본 발명에 의하면, 치솔모(毛)가 심어진 헤드부, 손잡이부, 한 극이 손잡이부의 외면에 접속되고 다른 극이 헤드부에 접속되는 전원 및 손잡이부에 분리가능하게 결합된 전압테스터로 구성되며, 상기 전압테스터가 손잡이부와 분리되어 전원으로부터의 전기경로에 배치되어 전원의 상태를 검사하는 것을 특징으로 하는 전자치솔이 제공된다.

이러한 구성에 의해, 전자치솔은 통상, 예컨대 손잡이부의 일부로서 기능하는 전압테스터를 구비한다. 전원의 유효성을 검사할때에는, 테스터를 손잡이부에서 분리하여 전자치솔에 대하여 소정의 위치에 실시하면 된다.

이하 첨부도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다.

제1 내지 7도는 본 발명의 제1실시예를 도시하고 있다. 이 실시예에 의한 치솔이 전자치솔로서 기능하기 위한 구성은, 일본 특공소 1842/1988 및 미국특허 제4,726,806호에 개시되어 있는 전자치솔의 구성과 거의 동일하다. 구체적으로 설명하면, 전자치솔은 주로 사용자가 잡을 수 있는 손잡이부(10)와 치솔모(12)가 심어진 헤드부(14)로 구성되며, 이 헤드부(14)는 손잡이부(10)와는 별개이고 손잡이부에 분리가능하게 부착된다. 손잡이부(10)에는, 도체물질로 만들어지는 바아(16)가 뻗어나가는 축선을 따르는 본체가 있고, 이 바아(16)의 일부는 상기 본체의 앞끝으로부터 돌출하여 있고, 나머지 부분은 본체속으로 뻗어있다. 전지(18)는 바아(16)의 뒷끈근처에서 손잡이부(10)의 본체에 배치된다. 도체바아(16)는 코일스프링(19)에 의해 전지(18)의 음극에 접속된다. 손잡이부(10)외 외면을 형성하는 도체물질의 도체판(20)은 전지(18)의 양극에 접속된다. 또한, 손잡이부(10)는 밀봉부재(21), 헤드부(14)를 손잡이부(10)에 부착하는 결합돌출부(22) 및 배수용 플랜지(24)를 갖고 있다.

헤드부(14)는 기본적으로 치솔모(12)가 심어진 헤드(26) 및 이 헤드(26)와 일체인 생크(28)로 구성된다. 제3도에서 우측에 있는 생크(28)의 후방단부의 중앙에는 결합요홈부(30)가 형성되어 있다. 이 결합요홈부(30)가 손잡이부(10)의 결합돌출부(22)와 결합할 수 있어, 헤드부(14)를 손잡이부(10)에 꼭 맞게 부착할 수 있다. 또한 헤드부(14)는, 결합요홈부(30)의 바닥으로부터 생크(28)의 거의 중앙부까지 축선방향으로 뻗어있는 1쌍의 슬릿(32)을 갖고 있으여, 이 슬릿(32)은 생크(28)의 밑면 또는 윗면쪽으로 개방되어 있다.

생크(28)에는 그의 축선을 따라 바아 삽입부(34)가 형성되어 있으며, 이 바아의 삽입부(34)는 생크(28)의 후방단부, 즉 결합요홈부(30)의 바닥에서 치솔모(12)의 뒷쪽끝까지 뻗어 있다. 제1,2도에서 보는 바와 같이, 헤드부(14)가 손잡이부(10)에 부착되면, 손잡이부(10)로부터 돌출한 도체바아(16)의 부분이, 삽입부(34)에 삽입된다.

바아(16)와 삽입부(34)의 치수는, 바아(16)부분이 삽입부(34)에 수용되면 바아(16)의 전단부가 삽입부(34)의 바닥에 위치하도록 설정된다. 슬릿(32)이 바아의 삽입부(34)와 연통하고 있기 때문에, 삽입부(34)에 수용된 바아(16)의 부분은 슬릿(32)을 통해 외부로 노출된다. 연통홈(36)은, 삽입부(34)에 부분적으로 수용된 바아(16)를 침같은 액체를 통해 치솔모(12)와 전기접속하기 위한 액체통로의 일부로서 기능한다. 연통홈(36)은 치솔모(12) 근처에서 소정의 길이만큼 축선방향으로 뻗어나가 바아 삽입부(34)와 연통한다. 연통홈(36)의 표면으로부터 작은 홈들(37)이 치솔모(12)의 기단부쪽으로 뻗어 있어, 치솔모(12)와 도체바아(16)의 침을 통한 전기접속을 확실하게 한다.

이 실시예에서, 상기한 구성의 전자치솔은 전지(18)의 유효성을 검사하는 테스터(38)를 가지며, 이 테스터(38)는 손잡이부(10)의 후단부에 분리가능하게 등축선으로 결합된다.

제5도에 상세히 도시된 바와 같이, 테스터(38)는 전술한 목적을 위해 발광다이오드(40)로 구성되는 발광체(46)와, 다이오드(40)로부터 거의 대칭으로 뻗어있는 1쌍의 단자(42,44)를 포함한다. 발광체(46)는 긴 케이싱을 형성하는 테스터본체(48)에 수용된다. 테스터본체(48)는 제5도와 같이 상방으로 개방되어 있꼬 커버(50)로 덮힌다. 커버(50)에는 발광다이오드(40)와 대향하는 위치에 창(52)이 형성되어 있으므로, 발광다이오드(40)를 윗쪽에서 눈으로 볼 수 있다. 본체(48)의 바닥과 본체(48)의 종단부 근처의 위치로부터 1쌍의 접속단자(54,56)가 부분적으로 돌출하여 있고, 각각의 단자(54,56)는 테스터본체(48) 안으로 연속적으로 뻗어나가, 납땜 등에 의해 발광체(46)의 단자(42,44)에 견고히 연결된다. 접속단자(54,56)에서 본체(48)로부터 돌출한 부위는 거의 U형으로 구부러져 있으며, 그의 말단부는 본체(48)의 밑면에 형성된 1쌍의 요홈부(57)에 수용된다.

테스터본체(48)의 전단부, 즉 손잡이부(10)쪽의 단부는 폭이 축소되어 있고, 손잡이부(10)와 결합할 수 있는 결합돌출부(58)(후술함)로서 기능하도록 되어 있다. 연결돌출부(58)의 측면에는 결합돌출부(60)와 안내홈(61)이 있다. 또한 연결돌출부(58)의 전단부의 하방위치에는 돌출편(62)이 있는데, 이 돌출편(62)은 그 윗면이 반원형으로 절단되어 있어(제4도), 손잡이부(10)내에서 바아(16)의 후단부의 하방위치와 결합된다. 또한 테스터(38)는 다수의 요철부(63)를 가지며, 이 테스터(38)를 손잡이부(10)에 부착 및 이로부터 분리하는 동안, 상기 요철부(63)는 손의 미끄러짐을 방지하는 기능을 한다.

한편, 손잡이부(10)의 후단부에는, 도체판(20)의 후단부의 위치에서 후방으로 돌출한 1쌍의 벽모양 파지아암(64)이 있다. 파지아암(64)의 내벽에는, 연결돌출부(58)의 결합돌출부(60)에 대응하는 결합요홈부(66)와, 안내홈(61)에 대응하는 안내용기부(67)가 형성되어 있으며, 이 기부는 축선방향으로 뻗어 있어 손잡이부(10)에 대한 테스터(38)의 회전을 방지하는 기능을 한다. 손잡이부(10)의 본체하부에는 노치(68)가 형성되어, 연결돌출부(58)의 돌출편(62)에 대응한다. 따라서, 테스터(38)가 손잡이부(10)에 부착되지 않을 때는, 도체바아(16)의 후단부의 하단이 외부로 노출된다.

제3도에서 보는 바와 같이, 부착되지 않은 상태의 테스터(38)는 손잡이부(10)의 후단부에 다음과 같은 방법으로 결합된다. 손잡이부(10)의 파지아암(64)의 안내용기부(67)를 테스터(38)의 연결돌출부(58)에 있는 대응 안내홈(61)과 정렬시킨 후, 테스터(38)를 전방으로 민다. 이렇게 하면, 연결돌출부(58)의 측면에 있는 결합돌출부(60)가 파지아암들(64)을 서로 멀리 밀어낸 다음, 파지아암(64)의 내벽에 있는 결합요홈부(66)안으로 탄성적으로 끼워진다. 이때, 연결돌출부(58)의 돌출편(62)이 노치(68)안으로 끼워진다. 이런식으로 하여, 테스터(38)가 손잡이부(10)에 꼭맞게 결합된다. 또한, 이미 노출되어 있는 도체바아(169)의 후단부의 하단을 돌출편(62)으로 덮는다. 반대로, 손잡이부(10)에서 테스터(38)를 분리시킬때는, 테스터(38)에서 요철부(63)가 있는 부위를 잡고 테스터(38)를 후방으로 당긴다.

전술한 구성의 실시예에 의하면, 테스터(38)가 손잡이부(10)에 결합되면, 테스터(38)는 손잡이부(10)의 일부로서 기능한다. 테스터(38)는 결합된 상태 그대로 양치질시에 사용할 수 있고, 또 보관 또는 운반될 수 있다. 전지(18)의 유효성을 검사할 필요가 있을 때는, 테스터(38)를 손잡이부(10)와 분리시킨 뒤 제3도의 2점쇄선으로 표시된 위치로 둔다. 테스터(38)의 이런 위치에서, 접속단자(54)는 도체바아(16)와 접속하는 반면, 다른 접속단자(56)는 도체판(20)과 접속한다. 전지(18)가 유효하면 발광체(46)의 발광다이오드(40)에 전기를 공급하여 발광시킨다. 발광은 테스터(38)의 커버(50)에 있는 창(52)을 통해 확인된다.

제3도에서는, 테스터(38)의 접속단자(54)가 바아(16)와 접속하였을때 헤드부(14)가 손잡이부(10)에서 분리된 채 도시되어 있지만, 헤드부(14)에 슬릿(32)이 형성되어 있기 때문에 헤드부(14)를 반드시 분리시키지 않고도 전압의 유효성을 검사할 수 있다.

제8 내지 14도는 본 발명의 다른 실시예를 도시한다. 이들 도면에서는 전술한 실시예의 대응부분은 동일한 참조부호를 붙이고, 그 부분들에 대한 설명을 생략한다. 제1실시예와 제2실시예의 주된 차이점은, 테스터(38)가, 발광체(46)를 지니고 있고 투명재료로 만들어지는 홀딩부재(70)를 포함하고 있는데 있다. 발광체(46)를 가진 홀딩부재(70)는 테스터(38)의 본체에 형성된 부착구멍(72)안으로 끼워진다.

더 구체적으로 설명하면, 홀딩부재(70)는 전체적으로, 박판형 부재로 되어 있으며. 발광체(46)의 발광다이오드(40)가 홀딩부재(70)의 한쪽으로부터 삽입되어 들어가는 요홈부(73), 발광다이오드(40)로부터 나온 단자(42,44)의 기단부를 각각 수용하는 상기 틈새에서 홈(74,75) 및 단자(42,44)의 기단부가 구부러진 상태로 상기 홀딩부재의 측벽과 테스터본체의 부착구멍(72)의 대응 내벽 사이에 수용된다. 홀딩부재(70)의 1쌍의 양측벽에 틈새를 형성하는 얇은 벽부분(76,77)이 형성되어 있으며, 홀딩부재(70)가 부착구멍(72)에서 이탈하는 것을 방지하기 위해, 홀딩부재(70)의 제2쌍의 양측벽중 한 측벽은, 제10도와 같이 상부위치에서 돌출편(78)과 하부위치에서 결합돌출부(79)를 갖고 있다. 한편, 부착구멍(72)은 돌출편(78) 및 결합돌출부(79)에 대응하여 형성된 상,하부 결합계단부(80)를 포함하고 있다. 발광체(46)를 홀딩부재(70)에 조립하고, 이들 조립체를 다음과 같은 식으로 부착구멍(72)에 부착한다.

발광다이오드(40)를 홀딩부재(70)의 요홈부(73)안으로 삽입하고, 단자(42,44)가 각각 홀딩부재(70)의 밑면(제9도)로부터 돌출할 때까지, 이 단자(42,44)를 홈(74,75)을 통해 삽입된다. 이런 상태에서 하방으로 돌출한 단자(42,44)의 부분을 홀딩부재(70)의 밑면을 따라 바깥쪽으로 구부려 그 구부러진 상태로 유지한다. 발광체(46)가 조립된 홀딩부재(70)를 제9,10도와 같이 위로부터 테스터본체의 부착구멍(72)안으로 삽입하여, 결합돌출부(79)가 하부 결합계단부(80)와 결합하면 부착이 완료된다. 돌출편(78)은 상부 결합계단부(80)와 결합하여 스탑퍼로서 기능한다. 홀딩부재(70)를 부착구멍(72)안으로 삽입할 때, 단자(42,44)의 말단부가 부착구멍(72)의 내벽에 의해 밀리어 U형으로 구부러져 각각 얇은 벽부(76,77)에 수용된다(제9도).

홀딩부재(70)의 높이는, 이 홀딩부재(70)의 윗면이 테스터본체의 인접면들과 같은 높이로 되면, 단자(42,44)의 거의 중간부분이 테스터(38)의 밑면으로부터 단자의 직경 또는 두께에 해당하는 크기만큼 돌출하도록 되어 있다. 또한 홀딩부재(70)에 구멍(81)이 형성되어 있어, 홀딩부재(70)에서 결합돌출부(79)가 형성되어있는 부분의 두께가 축소되어 있으므로, 홀딩부재(70)의 삽입중 파지부재(70)의 돌출부가 있는 부분이 안쪽으로 변형하여 결합계단부(80)와 탄성적으로 꼭맞게 결합된다.

제2실시예는, 테스터(38)가 손잡이부(10)에 대해 회전하거나 그로부터 떨어지지 않도록 하는 구성으로 되어 있으며, 이러한 구성은 제1실시예의 구조와 상이하다. 구체적으로 설명하면, 손잡이부(10)는, 후단부에서 후방으로 돌출한 결합돌출부(82)를 가진 1쌍의 홀딩아암(64)을 포함하는 반면, 테스터(38)는 상기 결합돌출부(82)에 대응하는 1쌍의 결합요홈부(84)를 포함한다. 또한, 테스터(38)는 그 전단부면의 상부위치에서 결합돌출부(86)를 갖고 있는 반면, 손잡이부(10)의 본체는 그 후단부면, 다시말해 도체판(20)으로 형성된 윗면의 한 부분에서 결합요홈부(88)를 갖고 있다.

테스터(38)는 또한, 그 본체의 후단부에 형성된 관통구멍(90)을 포함하며, 이 관통구멍(90)은 전자치솔을 고리(도시되지 않음)등에 거는데 이용된다.

또한 이 실시예에서는, 테스터(38)는 전단부의 연결돌출부(58)에서 손잡이부(10)의 1쌍의 파지아암(64)에 분리가능하게 결합되고, 테스터(38)는 평상시 손잡이부(10)의 일부로서 기능한다. 전지(18)의 유효성을 검사할 때는, 제12,13도와 같이 테스터(38)를 손잡이부(10)에서 분리시키고, 테스터(38)로부터 돌출한 발광체(46)의 단자(42,44)가 각각 도체판(20)과 도체바아(16)의 후단부와 접촉할 때까지, 연결돌출부(58)를 테스터(38)가 결합되는 위치로부터 거의 90°만큼 파지아암들(64)사이에 위치시킨다. 이때, 손잡이부(10)에 형성되어 있는 결합요홈부(88) 및 노치(68)가 도체판(20)의 후단부 일부와 도체바아(16)의 후단부 일부를 후방으로 노출시키므로, 이들 부분과 발광체(46)의 대응 단자들 사이에 확실히 전기접속이 이루어진다.

이 실시예에 의하면, 발광체(46)의 단자(42,44)는 그 자체로 접속단자의 기능을 하기 때문에, 제1실시예의 와이어형 접속단자(54,56)를 별도의 부재로 제공할 필요가 전혀 없다. 따라서, 발광다이오드로부터 돌출한 단자와 접속단자의 납땜이나 여타 관련 작업은 불필요하다. 그러므로, 제1실시예와 제2실시예를 비교해보면, 제2실시예가 제1실시예보다 구성부품수가 더 적으므로 전자치솔의 제조를 단순화하고 제조비용이 절감되는 잇점이 있다.

상기 실시예들에 의하면, 전자치솔의 헤드부(14), 손잡이부(10) 및 테스터(38)는 서로 분리가능하다. 따라서 이들을 분리하면 전자치솔이 매우 간소화되어 여행등시에 편리하게 갖고 다닐 수 있다.

전술한 각 실시예의 도체바아(16)는 손잡이부(10)의 성형시에 그와 일체화된다. 종래에는 이들의 성형시에, 바아(16)를 소정의 위치에서 지지하기 위한 핀이 통과하는 구멍을 형성할 필요가 있었다. 이때문에, 성형완료 후에 손잡이부(10)의 본체에 구멍이 잔존하게 되어 손잡이부(10)의 본체에 배치된 전지로 물이 들어가게 되는 물침투 구멍으로 작용할 문제점이 있었다. 이와는 달리, 상기 실시예들에서는 노치(68)가 제공되어 도체바아(16)의 후단부 하단을 노출시키는 구성으로 되어 있기 때문에, 노치(68)를 바아(16)를 지지하는 구조물로 이용하여 손잡이부(10)를 성형할 수 있으므로 전술한 핀구멍을 형성할 필요가 없다. 이는 또한 전지가 훼손될 가능성을 배제하는 동시에, 손잡이부(10)의 성형을 용이하게 한다.

제15 내지 20도는 본 발명의 또 다른 실시예를 도시한다. 제8 내지 14도에 도시된 제2실시예와 제3실시예의 차이점을 집중적으로 설명한다.

테스터(38)는 제15 및 17도와 같이 전체적으로 문(門)형태인 요홈부(92)를 가지고 있으며, 이 요홈부(92)는 테스터본체의 전면과 인접한 측면 사이의 모서리에 형성되어 있다. 요홈부(92)는 발광다이오드(40) 및 이로부터 뻗어있는 1쌍의 단자(42,44)부분을 수용한다. 단자(42,44)는 그의 중간부분이 테스터본체의 전면에 노출된 상태로 휘어져 있다. 요홈부(92)는 발광다이오드(40)를 수용하는 요홈(93)과, 대략 U형의 단자(42,44)를 안내하는 홈(94)을 포함한다. 발광체(46)를 수용하는 테스터(38)의 요홈부(92)는 그위에 배치되는 투명재의 커버(95)로 덮힌다. 제20도와 같이, 커버(95)는 대략 문형태이고, 홈부(92)를 덮어 테스터(38)의 외주면의 일부를 형성한다.

커버(95)의 중앙부에는 돌출부(96)가 형성되어 있는 반면, 테스터본체에는 돌출부(96)와 대응하여 결하구멍(97)이 형성되어 있다. 따라서, 요홈부(92)위에 커버(95)를 배치하면 돌출부(96)가 결합구멍(97)안으로 끼워져 커버(95)의 이탈을 방지한다. 경사부(98)(제16도)는 커버(95)를 장착할때 이 커버를 안내하는 기능을 한다. 테스터본체의 요홈부(92)가 형성된 부분의 면과 커버(95)의 한 면에, 두꺼운 벽부(99,100)가 형성되어 있으며, 이들 벽부는 서로 협동하여, 노출된 단자 부분이 전면으로부터 약각만 돌출되도록 테스터본체의 전면상에 노출된 단자(42,44)의 노출부분을 안내한다.

이 실시예에서, 전기의 유효성을 검사할때는, 테스터(38)를 손잡이부(10)에서 분리시킨 다음, 제19도와 같이 단자(44)가 도체바아(16)의 후단부와, 단자(42)가 도체판(20)의 후단부와 접속될 때까지, 테스터(38)를 그의 종축선을 중심으로 약 90°회전시킨다. 이러한 구성의 조작이 갖는 이점은, 단자의 접속 상태와 다이오드(40)의 발광상태를 한눈에 확인할 수 있고, 돌출하여 있는 단자의 노출부분을 용이하게 접속시킬 수 있다는 것이다. 전압 검사 조작은 또한, 제19도와 같이 단자(44)의 돌출한 만곡부가 도체바아(16)의 후단부상에 놓이면, 단자(42)가 도체판(20)의 후단부와 접속하도록 관련 부재들의 치수를 설정하면 특히 더 용이하다. 이 제3실시예를 상기 제2실시예와 비교해보면, 테스터(38)에 부착구멍같은 구멍을 형성할 필요가 없으며 ; 투명재로 만드는 커버의 체적이 작아지며 ; 또 발광다이오드(40)의 조립과 커버(95)의 장착이 더욱 용이하다는 점에서 제3실시예가 유용하다. 따라서, 제3실시예에 의한 전자치솔은 저렴한 비용으로 제조할 수 있는 동시에 전압 검사 조작을 더욱 확실하게 할 수 있다. 또한, 발광다이오드(40)와 커버(95)가 테스터(38)의 모서리부분에 위치하기 때문에, 테스터(38)를 최소한의 양만큼만 노치하면 되므로 테스터(38)의 강도가 더 개선된다.

또한 제3실시예에서, 사용자가 치솔을 가장 잘 잡을 수 있는 위치에서 단자(42,44)의 일부가 노출되기 때문에, 양치질시에 손으로 단자의 노출부위를 건드릴 때마다 단자에 들러붙으려고 하는 이물질을 제거할 수 있으므로, 전기접속부를 양호한 상태로 유지할 수 있다.

상기의 실시예들에서, 테스터(38)에 발광다이오드가 포함되어 있지만, 채용할 수 있는 구성은 이에 국한되지 않고, 전압의 유효성을 검사할 수만 있으면 어떠한 구성이라도 무방하다.

전술한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 테스터가 전자치솔의 손잡이부에 분리가능하게 결합되기 때문에 우수한 잇점을 제공한다. 테스터가 양치질시에 손잡이부의 일부로서 기능함으로써 테스터를 보관해둘 장소를 별도로 준비할 필요가 없다. 한편, 검사를 요할때는 테스터를 분리하여 전압의 유효성을 용이하게 검사하는데 사용할 수 있다.

Claims

치솔모가 심어진 헤드부; 손으로 잡을 수 있는 손잡이부 ; 한극이 손잡이부의 외면에, 다른 극이 헤드부에 접속되는 전원 ; 그리고 상기 손잡이부에 분리가능하게 결합되며, 이 손잡이부에서 분리되어 상기 전원의 전기경로상에 위치되어 이 전원의 상태를 검사하는 전압테스터로 구성되는 전자치솔.
제1항에서 있어서, 상기 전원이 상기 손잡이부에 배치되는 전지인 것을 특징으로 하는 전자치솔.
제1항에서 있어서, 상기 전압테스터를 상기 손잡이부에 분리가능하게 부착하기 위해, 이 손잡이부 및 전압테스터 양자에 있는 상호 결합식 결합수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자치솔.
제1항에서 있어서, 상기 전압테스터가, 상기 손잡이부의 끝에 결합되면 상기 전자치솔의 일단부를 형성하는 테스터본체와, 이 테스터본체의 내부에 부착되고 테스터본체의 외부쪽에서 볼 수 있는 발광부재, 그리고 상기 발광부재로부터 돌출하여 있고, 상기 테스터본체로부터 부분적으로 노출되는 1쌍의 전기도체로 구성되는 것을 특징으로 하는 전자치솔.
제4항에서 있어서, 상기 전원은 상기 손잡이부내에 배것치되며, 이 손잡이부는, 그의 외부에 부착되고 전원의 한 극에 전기접속되는 전기도체부재와, 치솔모까지 길이방향으로 뻗어 있고 전원의 다른 극에 전기접속되는 전기도체바아로 구성되며, 상기 바아의 일부가 외부에 노출되어 있으며, 이에 의해 전압테스터의 노출된 1쌍의 전기도체가 전기도체부재와 상기 바아의 노출부위를 건드릴때, 발광부재의 발광이 전원의 상태에 의해 결정되는 것을 특징으로 하는 전자치솔.
제1항에서 있어서, 상기 헤드부는 손잡이부에서 분리될 수 있음을 특징으로 하는 전자치솔.
치솔모가 심어진 전자치솔의 한 단부의 헤드부 ; 내부에 전지를 내장하는 전자치솔의 중간부의 손잡이부 ; 그리고 손잡이부에서 분리가능하게 전자치솔의 타단부에 배치되는 전압테스터로 구성되며, 상기 손잡이부는, 양치질시에 사용자가 건드려 상기 전지의 한 극에 전기접속되는 제1의 전기도체부재와, 양치질시에 상기 헤드부의 치솔모에 전기접속되고 전기의 다른 극에 전기접속되는 제2의 전기도체부재로 구성되며, 상기 전압테스터는, 손잡이부와 협동하여 테스터본체를 손잡이부에 분리가능하게 결합시키는 결합수단을 가진 테스터본체와, 테스터본체의 내부에 있고 그 외부쪽에서 볼 수 있는 발광부재와, 상기 발광부재로부터 돌출하여 있고 테스터본체로부터 부분적으로 노출되는 1쌍의 전기도체로 구성되며, 이에 의해 손잡이부에서 분리된 테스터의 상기 1쌍의 전기도체가 손잡이부의 제1 및 제2도체부재를 건드릴때, 발광부재의 발광이 전지의 상태에 의해 결정되는 것을 특징으로 하는 전자치솔.
제7항에서 있어서, 상기 제1전기도체부재가 상기 손잡이부의 외부에 부착되며, 상기 제2전기도체부재가 전지 근처에서부터 치솔모 근처까지 길이방향으로 뻗어있는 것을 특징으로 하는 전자치솔.
제8항에서 있어서, 상기 전기도체부재의 일부가, 상기 헤드부의 외부로 노출되어 있는 것을 특징으로 하는 전자치솔.
제9항에서 있어서, 상기 전압테스터의 노출된 1쌍의 전기도체는 상기 제1의 전기도체부재 및 제2의 노출된 전기도체부재의 위치와 대응하는 위치에 배치되기 때문에, 상기 테스터본체가 손잡이부의 소정부위에 위치하면, 상기 전압테스터의 노출된 1쌍의 전기도체가 제1및 제2의 전기도체부재를 동시에 건드릴 수 있는 것을 특징으로 하는 전자치솔.
제7항에서 있어서, 상기 결하수단이, 상기 테스터본체와 대향하고 외측으로 열 수 있으며 통상 내측으로 닫혀지려는 탄성을 가진, 손잡이부 단부상의 2개의 포크형 아암과, 이 아암과 대향하고 아암들 사이의 요홈부에 끼워지는, 상기 테스터본체의 단부상의 보스로 구성되는 것을 특징으로 하는 전자치솔.
제7항에서 있어서, 상기 테스터본체가, 그의 길이방향으로 뻗고 상기 발광부재가 배치되는 요홈부와, 이 요홈부를 폐쇄하고 발광부재를 테스터본체의 외부쪽에서 볼 수 있는 구멍을 가진 폐쇄부를 갖고 있는 것을 특징으로 하는 전자치솔.
제12항에서 있어서, 상기 각 전기도체가, 상기 테스터본체의 벽을 그의 외측까치 관통하는 도체바아에 접속되는 것을 특징으로 하는 전자치솔.
제11항에서 있어서, 상기 테스터본체는 관통구멍과, 상기 발광부재를 취부하는 투명한 홀딩부재를 가지며, 상기 1쌍의 전기도체가 상기 관통구멍에 끼워지는 것을 특징으로 하는 전자치솔.
제14항에서 있어서, 상기 투명 홀딩부재가 상기 테스터본체의 보스에 배치되는 것을 특징으로 하는 전자치솔.
제15항에서 있어서, 상기 전압테스터가 상기 손잡이부에서 분리되면, 상기 제1전기도체부재의 가장자리 일부분과 제2전기도체부재의 단부가 노출되며, 테스터의 상기 노출된 1쌍의 전기도체의 위치가 제1전기도체부재의 노출된 가장자리의 위치 및 제2전기도체부재의 노출된 단부의 위치와 일치하여, 상기 테스터를 상기 아암안에서 손잡이부의 길이방향에 대하여 수직으로 회전시키면, 테스터의 상기 1쌍의 노출된 전기도체가 상기 노출된 제1 및 제2전기도체부재를 동시에 건드릴 수 있는 것을 특징으로 하는 전자치솔.
제11항에서 있어서, 상기 테스터본체가 그 측면모서리에 요홈을 갖고 있으며, 상기 전기도체의 일부가 테스터본체의 외부로 노출되면서 상기 발광부재와 1쌍의 전기도체는 상기 요홈에 배치되며, 상기 요홈에 투명커버가 끼워지는 것을 특징으로 하는 전자치솔.
제17항에서 있어서, 상기 전압테스터가 손잡이부에서 분리되면, 제1전기도체부재의 가장자리 일부와 제2전기도체부재의 단부가 노출되며, 상기 테스터의 노출된 1쌍의 전기도체의 위치가, 제1전기도체부재의 상기 노출된 가장자리의 위치 및 제2전기도체부재의 상기 노출된 단부의 위치와 일치하여, 상기 테스터를 그의 종축선을 중심으로 아암내에서 수직하게 회전시키면, 테스터의 상기 노출된 1쌍의 전기도체가 상기 노출된 제1 및 제2전기도체부재를 동시에 건드릴 수 있는 것을 특징으로 하는 전자치솔.