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KR101427388B1 - Reinforcing Substrate for Supporting Printed Circuit Board and Method for Processing for the Same - Google Patents

Reinforcing Substrate for Supporting Printed Circuit Board and Method for Processing for the Same Download PDF

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KR101427388B1
KR101427388B1 KR1020130071600A KR20130071600A KR101427388B1 KR 101427388 B1 KR101427388 B1 KR 101427388B1 KR 1020130071600 A KR1020130071600 A KR 1020130071600A KR 20130071600 A KR20130071600 A KR 20130071600A KR 101427388 B1 KR101427388 B1 KR 101427388B1
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KR
South Korea
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layer
reinforcing plate
circuit board
printed circuit
plating
Prior art date
Application number
KR1020130071600A
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Korean (ko)
Inventor
이을규
우상수
황규호
Original Assignee
이을규
이춘식
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Publication date
Application filed by 이을규, 이춘식 filed Critical 이을규
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Abstract

Provided in the present invention is a reinforcing substrate for supporting a printed circuit board, which comprises a base plate made of copper alloy including zinc (Zn) or tin (Sn); a basal layer formed by Ni plating or Cu-Ni alloy plating on the base plate; and a nodule layer formed by Ni particles deposited on the basal layer. Moreover, provided are a method for manufacturing a reinforcing plate, a bonding material comprising the reinforcing plate, and a method for manufacturing the bonding material. According to the present invention, adhesion with a conductive film can be improved by maximizing the surface area even without a physical impact and a reinforcing substrate with overall excellent electrical conductivity can be obtained.

Description

인쇄회로기판 지지용 보강판 및 그 제조방법{Reinforcing Substrate for Supporting Printed Circuit Board and Method for Processing for the Same}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a reinforcing plate for supporting a printed circuit board,

본 발명은 인쇄회로기판 지지용 보강판 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는, 표면적을 극대화하여 FPC와 보강판의 밀착을 위한 도전성 이방성 필름과의 접착력이 우수하고, 전기 저항이 낮은 보강판 및 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a reinforcing plate for supporting a printed circuit board and a method of manufacturing the same, and more particularly, to a reinforcing plate for supporting a printed circuit board and a method of manufacturing the same, Plate and a manufacturing method thereof.

일반적으로 휴대전화 등과 같은 모바일 기기의 부품으로 사용되는 카메라 모듈이나, LCD 모듈 등은 부품실장을 동반한 회로기판을 지지하기 위해 보강판을 필요로 한다. 상기 보강판의 재료로는 통상 SUS 304 또는 SUS 301과 같은 스테인리스 스틸이나 인청동 또는 양백과 같은 동합금 등이 사용되고 있다. 실장되는 각각의 모듈의 하중을 지탱하기 위해 소정의 강도 및 경도가 요구되며, 이에 따라 보강대의 재질 및 두께가 결정된다.
In general, a camera module or an LCD module used as a component of a mobile device such as a cellular phone requires a reinforcing plate to support a circuit board with component mounting. As the material of the reinforcing plate, stainless steel such as SUS 304 or SUS 301 or a copper alloy such as phosphor bronze or nickel silver is generally used. A predetermined strength and hardness are required to support the loads of the respective modules to be mounted, thereby determining the material and thickness of the reinforcing bars.

한편, 상기 회로기판과 보강판은 그 사이에 열경화성 전도성 필름을 삽입하고 고온의 조건하에서 프레싱함으로써 접착된다.
On the other hand, the circuit board and the reinforcing plate are bonded together by inserting a thermosetting conductive film therebetween and pressing under high temperature conditions.

이때, 전도성 필름과 보강판과의 밀착성을 강화하고자 보강판의 표면적을 넓히는 표면처리를 수행하고 있다. 종래에 이와 같은 표면적 증대를 위해 통상적으로 수행되고 있는 표면처리 방법으로는, 예를 들어, 세정, 에칭 처리, 헤어라인 가공, 샌드 블라스트(sand blast) 가공 등을 들 수 있다. 이와 같은 종래의 방법들은 보강판 표면에 존재하는 이물질이나 유분 및 산화막을 제거하여 보강판과 전도성 필름과의 접착력을 증대시키거나, 또는 보강판 표면의 표면적을 크게 하여 전도성 필름과의 접착력을 증대시키고자 하는 것이다.
At this time, in order to enhance the adhesion between the conductive film and the reinforcing plate, surface treatment is performed to widen the surface area of the reinforcing plate. Conventionally, surface treatment methods conventionally performed for the purpose of increasing the surface area include, for example, cleaning, etching, hair line processing, sand blast processing, and the like. In such conventional methods, the adhesion between the reinforcing plate and the conductive film is increased by removing foreign matter, oil and oxide present on the surface of the reinforcing plate, or the surface area of the reinforcing plate is increased to increase the adhesive force with the conductive film It is.

그러나, 보강판 표면을 단순히 세정하는 방법에 의해서는 단지 보강판 표면에 존재하는 이물질만을 제거할 뿐, 보강판 표면에 존재하는 산화막은 제거되지 않은 채 그대로 잔류하여 비극성 폴리머로 된 필름이나 소수성이 높은 전도성 필름을 사용하는 경우에는 보강판과의 높은 밀착성을 얻을 수 없다.
However, according to the method of simply cleaning the surface of the reinforcing plate, only the foreign substances present on the surface of the reinforcing plate are removed, and the oxide film existing on the surface of the reinforcing plate remains as it is without being removed and the film made of non- When a conductive film is used, high adhesion with the reinforcing plate can not be obtained.

또한, 보강판 표면을 산 용액 등을 사용하여 에칭 처리하는 경우에는 보강판 표면에 존재하는 산화막을 제거하는 데에는 효과적이나, 보강판 표면이 균일하지 않고, 산화 과정에서 발생되는 수소의 영향으로 취성이 발생될 수 있는 가능성이 높은 단점을 가지게 된다.
When the surface of the reinforcing plate is etched using an acid solution or the like, it is effective to remove the oxide film present on the surface of the reinforcing plate. However, since the surface of the reinforcing plate is not uniform and the brittleness There is a high disadvantage that it is likely to occur.

한편, 상기 헤어라인 가공은 보강판 표면에 스크레치를 형성함으로써 일정 범위 내에서 표면적을 증대시킬 수 있으나, 헤어라인 가공을 통해서는 전도성 필름과의 밀착력을 향상시키는 데에는 한계가 있다.
On the other hand, the hairline processing can increase the surface area within a certain range by forming a scratch on the surface of the reinforcing plate, but there is a limit to improve the adhesion with the conductive film through hairline processing.

상기와 같은 문제점으로 인해 현재 샌드 블라스트 가공이 가장 보편적으로 이용되고 있다. 이와 같은 샌드 블라스트 가공에 의해 보강판 표면을 처리하는 경우, 표면적을 효과적으로 증대시킬 수 있어, 전도성 필름과의 밀착력을 증대시킬 수 있으나, 고압 분사에 의해 소재의 피로도를 증대시킴으로써 보강판의 변형, 변색 및 산화 등을 유발할 수 있어 보강대로서 요구되는 소정의 강도, 경도 등을 저해할 수 있으며, 표면처리 중에 발생되는 미세 먼지 및 미세 금속 입자로 인해 작업 환경을 오염시킬 수 있다.
Due to the above-mentioned problems, sandblasting is currently most commonly used. When the surface of the reinforcing plate is treated by such a sand blasting process, the surface area can be effectively increased and the adhesion with the conductive film can be increased. However, by increasing the fatigue of the material by high pressure injection, Oxidation and the like can be caused. Therefore, the predetermined strength, hardness, and the like required as the reinforcing bar can be inhibited, and the working environment can be contaminated by fine dust and fine metal particles generated during the surface treatment.

한편, 한국특허공개 제2001-0108078호, 제2004-0047263호 및 제2011-0071434호 등에는 PCB용 동박이나 FPCB용 동박의 경우, 전도성이 우수한 전해동 모재 표면 상에 일정한 크기의 전해산과 전해 노듈 등을 포함하는 표면 처리층을 형성하고, 상기 표면 처리층 상에 수지필름을 부착하는 기술이 개시되어 있다. 그러나, 이들 선행문헌들에는 모두 인쇄회로 기판용으로 사용되는 전해 동박 표면에 일정한 표면처리를 행함으로써 수지 필름과의 접착력을 향상시키고자 하는 것으로서, 보강판 자체와 수지 필름과의 접착력 향상을 도모하는 본 발명과는 구별되며, 나아가, 이들 선행문헌들은 상기 전해산과 전해 노듈층을 모두 동(Cu)으로 형성하고 있다.On the other hand, Korean Patent Laid-Open Nos. 2001-0108078, 2004-0047263 and 2011-0071434 disclose copper foils for PCBs and copper foils for FPCBs, in which electrolytic acid having a certain size and electrolytic nodules And a resin film is adhered on the surface treatment layer. However, in these prior art documents, all the surfaces of the electrolytic copper foil used for a printed circuit board are subjected to a certain surface treatment to improve the adhesion with the resin film, and the adhesion between the reinforcing plate itself and the resin film is improved These prior art documents are distinguished from the present invention, and both of the electrolytic acid and the electrolytic node layer are formed of copper (Cu).

본 발명의 일 구현예에 의해 보강판으로 제공되는 소재의 표면에 물리적인 충격을 가하지 않은 상태로 표면적을 증대시킴으로써 보강판과 전도성 필름의 밀착성을 향상시킬 수 있는 보강판을 제공하고자 한다.
According to an embodiment of the present invention, there is provided a reinforcing plate capable of improving the adhesion between a reinforcing plate and a conductive film by increasing the surface area without applying a physical impact to the surface of the reinforcing plate.

또, 본 발명의 보강판으로 모듈을 지지함으로써 저항을 낮추고, 모듈과 결합된 전체 부품의 전기전도성을 향상시켜 전자파 차폐 효과를 증대시킬 수 있는 보강판을 제공하고자 한다.
It is another object of the present invention to provide a reinforcing plate capable of increasing the electromagnetic wave shielding effect by reducing the resistance by supporting the module with the reinforcing plate of the present invention and improving the electrical conductivity of all the components coupled with the module.

나아가, 본 발명은 상기와 같은 보강판을 제조하는 방법, 상기 보강판을 포함하는 접합재 및 상기 접합재 제조방법을 제공하고자 한다.Further, the present invention is to provide a method of manufacturing a reinforcing plate, a bonding material including the reinforcing plate, and a method of manufacturing the bonding material.

본 발명은 인쇄회로기판 지지용 보강판에 관한 것으로서, 본 발명의 보강판은 아연(Zn) 또는 주석(Sn)을 포함하는 구리 합금으로 된 모판; 상기 모판 상에 Ni 도금 또는 Cu-Ni 합금 도금에 의한 기저층; 및 상기 기저층 상에 Ni 입자가 석출되어 형성된 노듈층을 포함한다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a reinforcing plate for supporting a printed circuit board, wherein the reinforcing plate of the present invention comprises a base plate made of a copper alloy containing zinc (Zn) or tin (Sn); A base layer formed on the base plate by Ni plating or Cu-Ni alloy plating; And a nodule layer formed by precipitating Ni particles on the base layer.

상기 Ni 노듈층은 5 내지 300nm의 Ni 입자가 석출되어 형성된 것이 바람직하며, 이때, 상기 Ni 노듈층은 0.5 내지 10㎛의 두께를 갖는 것이 바람직하다.The Ni layer is preferably formed by precipitating Ni particles of 5 to 300 nm, wherein the Ni layer has a thickness of 0.5 to 10 탆.

또, 상기 기저층은 0.1 내지 3㎛의 두께를 갖는 것이 바람직하다.It is preferable that the base layer has a thickness of 0.1 to 3 탆.

한편, 상기 모판은 Cu-Zn 합금, Cu-Zn-Ni 합금, Cu-Sn 합금, Cu-Sn-P 합금 또는 Cu-Sn-Ni 합금으로부터 선택된 것일 수 있으며, 10 내지 500㎛의 두께를 가지며, 0.1 내지 20㎛의 표면조도를 갖는 것을 사용할 수 있다.The base plate may be selected from a Cu-Zn alloy, a Cu-Zn-Ni alloy, a Cu-Sn alloy, a Cu-Sn-P alloy or a Cu-Sn-Ni alloy, Those having a surface roughness of 0.1 to 20 mu m can be used.

나아가, 상기 모판은 표면에 헤어라인 가공된 것을 사용할 수 있다.
Further, the base plate may be a hairline-processed surface.

본 발명은 또한 인쇄회로기판이 지지되는 접합재에 관한 것으로서, 상기 접합재는 상기 인쇄회로기판 지지용 보강판; 및 상기 보강판의 모듈층 상에 접합된 전도성 필름을 포함하며, 상기 전도성 필름 상에 인쇄회로기판이 지지될 수 있다.The present invention also relates to a bonding material on which a printed circuit board is supported, wherein the bonding material comprises a reinforcing plate for supporting the printed circuit board; And a conductive film bonded on the module layer of the reinforcing plate, wherein the printed circuit board can be supported on the conductive film.

이때, 상기 전도성 필름은 두께가 10 내지 100㎛일 수 있다.
At this time, the conductive film may have a thickness of 10 to 100 mu m.

또한, 인쇄회로기판 지지용 보강판 제조방법에 관한 것으로서, 본 발명의 방법은 아연 또는 주석을 포함하는 구리합금의 모판 상에 Ni 또는 Ni-Cu 합금을 도금하여 기저층을 형성하는 단계; 및 상기 기저층 상에 Ni을 석출하여 노듈층을 형성하는 단계를 포함한다. The present invention also relates to a method for manufacturing a reinforcing plate for supporting a printed circuit board, comprising the steps of: forming a base layer by plating Ni or a Ni-Cu alloy on a base plate of a copper alloy containing zinc or tin; And depositing Ni on the base layer to form a nodular layer.

이때, 상기 기저층은 상기 모판 상에 스트라이크 도금에 의해 형성될 수 있다.At this time, the base layer may be formed by strike plating on the base plate.

또한, 상기 노듈층은 10 내지 30A/dm2의 고전류밀도 하에서 도금한 후, 1 내지 5A/dm2의 저전류밀도 하에서 도금하여 형성할 수 있다. 이때, 상기 저전류 밀도 하에서의 도금은 2 내지 5회 반복하여 수행하는 것이 바람직하다.Also, the nodular layer can be formed by plating under a high current density of 10 to 30 A / dm 2 and then plating under a low current density of 1 to 5 A / dm 2 . At this time, the plating under the low current density is preferably repeated 2 to 5 times.

또한, 본 발명의 방법은 상기 모판 표면에 헤어라인을 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method of the present invention may further comprise the step of forming a hairline on the surface of the base plate.

나아가, 본 발명은 접합재 제조방법을 제공하며, 상기 방법은 상기 방법에 의해 제조된 보강판의 모듈층 상에 전도성 필름을 순차적으로 적층하고, 상기 보강판과 전도성 필름을 접합 및 가접하여 접합재를 제조할 수 있다. Further, the present invention provides a method for manufacturing a bonding material, which comprises sequentially laminating a conductive film on a module layer of a reinforcing plate manufactured by the above method, bonding the reinforcing plate to the conductive film, can do.

본 발명에 따르면, 전기도금에 의해 모판 표면의 표면적을 증대시킴으로써 전도성 필름과의 접합력을 증대시킬 수 있다.
According to the present invention, the bonding force with the conductive film can be increased by increasing the surface area of the base plate surface by electroplating.

또한, 모판의 표면적 증대를 위해 모판에 대한 물리적 충격을 가하지 않으므로 모판에 대한 피로도 증가에 따른 모판의 변형, 변색 또는 산화와 같은 모판에 대한 악영향을 최소화시킬 수 있다.
In addition, since no physical impact is applied to the base plate in order to increase the surface area of the base plate, adverse effects on the base plate such as deformation, discoloration or oxidation of the base plate due to increase in fatigue to the base plate can be minimized.

나아가, 보강판 모판으로서 전도성이 높은 구리 합금을 사용함으로써 전체적 전도성을 증가시킬 수 있으며, 이로 인해 전자파 차단효과를 높일 수 있다.Furthermore, by using a copper alloy having high conductivity as a reinforcing plate, it is possible to increase the overall conductivity, thereby increasing the electromagnetic wave shielding effect.

도 1은 본 발명에 따른 보강판의 단면 구조를 개략적으로 나타낸 단면도이다.
도 2는 본 발명에 의한 보강판을 포함하는 접합재와 인쇄회로기판 및 이들의 접합에 의해 얻어지는 모형을 개략적으로 나타낸 단면도이다.
도 3의 (a), (b) 및 (c)는 실시예 1 및 2에 사용된 양백 소재의 표면을 전자 현미경으로 촬영한 사진으로서, 각각 1000, 5000 및 30,000 배율로 촬영한 사진이다.
도 4는 실시예 1의 도금층의 표면을 전자 현미경으로 촬영한 사진으로서, 5,000 배율로 촬영한 사진이다.
도 5의 (a) 및 (b)는 실시예 2의 도금층의 표면을 전자 현미경으로 촬영한 사진으로서, 각각 5,000 및 30,000 배율로 촬영한 사진이다.
도 6의 (a)는 비교예 1의 소재층의 표면을, 그리고 (b)는 비교예 2의 소재층의 표면을 각각 5,000 배율로 전자 현미경으로 촬영한 사진이다.
1 is a cross-sectional view schematically showing a cross-sectional structure of a reinforcing plate according to the present invention.
2 is a cross-sectional view schematically showing a bonding material including a reinforcing plate according to the present invention, a printed circuit board, and a model obtained by joining the same.
3 (a), 3 (b) and 3 (c) are photographs taken on an electron microscope of the surfaces of the light and dark materials used in Examples 1 and 2, respectively, at a magnification of 1000, 5000 and 30,000.
4 is a photograph of the surface of the plated layer of Example 1 taken by an electron microscope and taken at 5,000 magnification.
5 (a) and 5 (b) are photographs taken on an electron microscope of the surface of the coating layer of Example 2 at a magnification of 5,000 and 30,000, respectively.
6A is a photograph of the surface of the material layer of Comparative Example 1, and FIG. 6B is a photograph of the surface of the material layer of Comparative Example 2 taken at 5,000 magnification by an electron microscope.

본 발명은 카메라 모듈이나 LCD 모듈과 같은 부품의 실장을 하기 위하여 사용되는 보강판에 관한 것으로서, 본 발명의 보강판은 도 1에 나타낸 바와 같이, 모판, 기저층 및 노듈층을 포함한다.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a reinforcing plate used for mounting components such as a camera module and an LCD module. The reinforcing plate of the present invention includes a base plate, a base layer and a module layer as shown in Fig.

이하, 본 발명을 보다 상세하게 설명한다.
Hereinafter, the present invention will be described in more detail.

본 발명은 보강대로서 통상적으로 사용되는 소재 중 높은 전기전도도 및 강도를 유지할 수 있는 소재를 모판으로 사용하고, 상기 모판 표면에 전기적으로 니켈 금속입자를 코팅하여 미세 모폴로지(mopology)를 형성함으로써 보강판 표면의 표면적을 극대화하면서 전기적 특성인 저항을 낮추고자 하는 것이다.
The present invention uses a material that can maintain high electrical conductivity and strength among materials commonly used as reinforcing bars, and forms a fine morphology by coating nickel metal particles electrically on the surface of the base plate, To maximize the surface area of the device and to lower the electrical resistance.

본 발명에 있어서, 상기 보강판의 모판으로는 보강판 상에 실장되는 각 모듈의 하중을 지탱하기 위한 강도 및 경도를 제공하기 위한 것으로서, 통상적으로 사용되는 재질이라면 본 발명에서도 적합하게 사용될 수 있다. 예를 들면, SUS 301, SUS 304와 같은 스테인리스 스틸이나, 양백 또는 인청동과 같은 구리 합금 등을 사용할 수 있다. 이들 중에서, 높은 전기전도도를 제공하면서 보강판으로서 요구되는 일정한 강도를 유지할 수 있는 점에서 구리 합금을 사용하는 것이 보다 바람직하다. 상기 구리 합금으로는, 예를 들어, Cu-Zn 합금, Cu-Zn-Ni 합금(양백), Cu-Sn 합금, Cu-Sn-P 합금(인청동), Cu-Sn-Ni 합금 등을 들 수 있다.
In the present invention, the base plate of the reinforcing plate serves to provide strength and hardness for supporting the load of each module mounted on the reinforcing plate, and may be suitably used in the present invention as long as it is a commonly used material. For example, stainless steel such as SUS 301 and SUS 304, or copper alloy such as nickel silver or phosphor bronze can be used. Of these, it is more preferable to use a copper alloy in that it can maintain a constant strength required as a reinforcing plate while providing a high electrical conductivity. Examples of the copper alloy include a Cu-Zn alloy, a Cu-Zn-Ni alloy, a Cu-Sn alloy, a Cu-Sn-P alloy (phosphor bronze) have.

상기 모판은 필요에 따라 전처리 단계를 수행할 수 있다. 상기 전처리 단계는 모판 표면에 존재하는 이물질, 유분 및 산화막을 제거하기 위한 것으로, 통상적으로 사용되는 방법이라면 특별히 한정하지 않으며, 탈지 및 전해탈지 등으로 수행될 수 있다.
The base plate may be subjected to a pretreatment step as required. The pretreatment step is for removing foreign matter, oil, and oxide film existing on the surface of the base plate, and is not particularly limited as long as it is a commonly used method, and may be performed by degreasing and electrolytic degreasing.

상기 모판은 표면조도가 0.1 내지 20 미크론인 것이 바람직하다. 모판의 표면조도가 상기 범위를 갖는 경우 모판 표면에 기저층의 형성을 용이하게 수행할 수 있으며, 이로 인해 니켈 도금에 의한 모듈층이 용이하게 성장시킬 수 있어 바람직하다.
The base plate preferably has a surface roughness of 0.1 to 20 microns. When the surface roughness of the base plate has the above range, the base layer can be easily formed on the base plate surface, and thus the module layer by nickel plating can be easily grown.

한편, 상기 모판에는 필요에 따라 표면에 헤어라인을 가공할 수 있다. 이와 같은 헤어라인은 모판 표면에 기저층의 형성을 보다 용이하게 할 수 있다.
On the other hand, hair lines can be formed on the surface of the base plate as required. Such a hair line can more easily form the base layer on the surface of the base plate.

상기 소재층은 그 위에 지지되는 각 모듈의 하중을 지탱하기 위해 필요한 강도 및 경도에 따라 두께를 선택할 수 있는 것으로서, 그 두께는 특별히 한정하지 않으나, 모판의 두께는 예를 들어, 10 내지 500 미크론일 수 있다. 다만, 최근 기기의 소형화 및 박막화의 경향을 고려할 때, 상기 범위를 초과하는 경우에는 회로기판의 보강판으로 상용화하기 어려운 바, 문제점이 있다.
The thickness of the material layer may be selected according to the strength and hardness required to support the load of each module supported on the material layer. The thickness of the material layer is, for example, 10 to 500 microns . However, considering the tendency of downsizing and thinning of the device in recent years, when it exceeds the above range, it is difficult to commercialize it as a reinforcing plate of a circuit board.

본 발명의 보강판은 상기 모판의 일면 또는 필요에 따라 양면에 기저층을 포함한다. 상기 기저층은 보강판 표면의 표면적을 부여하기 위해 노듈층을 전기도금에 의해 형성함에 있어서 금속 입자가 용이하게 전해 석출되어 성장하도록 하는 핵으로서 제공되며, 모판과 모듈층간의 밀착성을 향상시킨다.
The reinforcing plate of the present invention includes a base layer on one side of the base plate or on both sides as needed. The base layer is provided as a nucleus for facilitating electrolytic deposition and growth of metal particles in the formation of the nodular layer by electroplating to give the surface area of the reinforcing plate surface, and improves the adhesion between the base plate and the module layer.

또한, 모판이 Cu-Zn 또는 Cu-Zn-Ni와 같은 아연을 포함하는 구리 합금인 경우에는 전해시 도금용액 내에서 아연성분이 급속한 산화 또는 용출로 도금층의 밀착이 견고하게 형성되지 못하며, 또 용출된 아연이 다른 부위로 확산되는 문제를 유발할 수 있다. 그러나, 상기와 같이 모판 상에 스트라이크 도금을 수행하여 모판 중의 아연 성분과 합금층을 형성시킴으로써 이와 같은 문제를 방지할 수 있다.
Further, when the base plate is a copper alloy containing zinc such as Cu-Zn or Cu-Zn-Ni, the zinc component in the plating solution during electrolysis can not be firmly adhered to the plating layer due to rapid oxidation or elution, Zinc may diffuse to other parts. However, such a problem can be prevented by performing strike plating on the base plate as described above to form an alloy layer and a zinc component in the base plate.

상기 기저층은 Ni 또는 Ni-Cu 합금으로 이루질 수 있으며, 보다 바람직하게는 Ni-Cu 합금일 수 있다. 이에 의해 형성된 기저층은 특별히 한정하지 않으나, 0.1 내지 3㎛의 두께 범위로 형성하는 것이 바람직하다. 상기 기저층의 두께가 0.1 미크론 미만일 경우, 도금층 성장을 위한 핵이 부족하여 모듈층의 충분한 Ni 성장을 도모하기 어려우며, 따라서, 모판과 모듈층간의 충분한 밀착력이 얻어지지 않을 우려가 있다. 한편 3㎛를 초과하는 경우에는 전체적인 보강판의 두께 증대를 초래할 수 있는바, 상기 범위의 두께로 기저층을 형성하는 것이 바람직하다.
The base layer may be made of Ni or Ni-Cu alloy, and more preferably Ni-Cu alloy. The base layer thus formed is not particularly limited, but is preferably formed in a thickness range of 0.1 to 3 占 퐉. If the thickness of the base layer is less than 0.1 micron, it is difficult to achieve sufficient Ni growth of the module layer due to lack of nuclei for plating layer growth, and there is a possibility that sufficient adhesion between the base plate and the module layer may not be obtained. On the other hand, if it exceeds 3 탆, the thickness of the reinforcing plate as a whole may increase, so that it is preferable to form the base layer with the thickness within the above range.

이와 같은 기저층은 스트라이크 도금에 의해 형성하는 것이 바람직하다. 상기 스트라이크 도금은 통상적으로 수행되는 방법으로 행할 수 있는 것으로서, 본 발명에서는 특별히 한정하지 않으나, 예를 들면, 모판 상에 스트라이크 도금에 의해 기저층을 형성하는 경우, 황산니켈, 염화니켈 등의 니켈 전구체 및 필요에 따라 황산 구리 등의 구리 전구체를 포함하는 도금욕 중에 모판을 침지하고, pH 1.5 내지 4.5, 온도 10 내지 30℃ 조건 하에서 2초 내지 60초간 0.5 내지 15 A/dm2의 전류밀도를 인가함으로써 수행할 수 있다.Such a base layer is preferably formed by strike plating. The strike plating can be performed by a conventionally performed method and is not particularly limited in the present invention. For example, in the case of forming a base layer by strike plating on a base plate, nickel precursors such as nickel sulfate and nickel chloride, by applying the current density of the immersion of the bed in the plating bath containing a copper precursor, pH 1.5 to 4.5, at a temperature from 10 to 30 ℃ condition 2 seconds to 60 seconds of 0.5 to 15 a / dm 2, such as copper sulfate, as needed Can be performed.

본 발명의 보강판은 모판 표면에 도금 핵으로서 제공된 기저층 상에 Ni이 전해 석출되어 형성된 모듈층을 포함한다. 이와 같은 모듈층에 의해 보강판에 넓은 표면적을 제공할 수 있으며, 이에 의해 전도성 필름과의 밀착성을 향상시킬 수 있다.
The reinforcing plate of the present invention includes a module layer formed by electrolytically depositing Ni on a base layer provided as plating nuclei on a surface of a base plate. Such a modular layer can provide a large surface area to the reinforcing plate, thereby improving the adhesion with the conductive film.

상기 모듈층은 전기도금에 의해 도금액 중의 니켈이 도금 핵으로 제공된 기저층 상에 전해석출되어 성장함으로써 형성된다. 이와 같은 전해 석출은 니켈 전구체를 포함하는 도금액 내에 기저층이 형성된 모판을 침지하고, 전류를 인가함으로써 수행될 수 있다. 본 발명에서 상기 모듈층의 전해석출은 니켈 도금을 위해 통상적으로 사용되는 것이라면 본 발명에서도 적절하게 적용될 수 있는 것으로서, 특별히 한정하지 않는다.
The module layer is formed by electrolytically depositing and growing nickel on the base layer provided as plating nuclei in the plating liquid by electroplating. Such electrolytic precipitation can be performed by immersing a base plate in which a base layer is formed in a plating solution containing a nickel precursor and applying an electric current. The electrolytic deposition of the module layer in the present invention is not particularly limited as long as it is suitably applied to the present invention as long as it is conventionally used for nickel plating.

이때, 전해석출함에 있어서는 인가되는 전류밀도를 조절함으로써 석출되는 금속 입자 사이즈를 조절할 수 있다. 즉, 고전류 밀도 하에서는 상대적으로 입자 사이즈가 큰 금속의 석출을 도모할 수 있다. 이후, 저전류 밀도를 인가하여 전해석출함으로써 입자와 입자간을 연결하고, 이로 인해 큰 입자사이즈 간의 결합을 도모할 수 있다. 이와 같이 고전류 밀도 하에서 전해석출을 행한 후, 저전류 밀도 하에서 추가적으로 전해석출을 수행함으로써 조밀하게 니켈 입자를 석출할 수 있으며, 전체적으로 30 내지 500㎚ 사이즈의 입자가 전해석출된 모폴로지를 형성할 수 있다. 이를 통해, 결국 보강판 표면의 표면적을 최대화할 수 있는 것이다.
At this time, in the electrolytic deposition, the size of the metal particles to be precipitated can be controlled by adjusting the applied current density. That is, under a high current density, precipitation of a metal having a relatively large particle size can be achieved. Thereafter, a low current density is applied and electrolytic deposition is performed to connect the particles and the particles, thereby enabling bonding between large particle sizes. After performing electrolytic deposition under such a high current density, electrolytic deposition is further performed under a low current density, whereby nickel particles can be densely precipitated and a morphology in which particles having a size of 30 to 500 nm as a whole are electrolytically deposited can be formed. As a result, the surface area of the reinforcing plate surface can be maximized.

나아가, 고전류 밀도 하에서 석출된 각 노듈 사이의 간극이 저전류 밀도 하에서 전해 석출되는 미세한 금속 입자에 의해 채워져 미세하게 형성됨으로써 그 위에 접합되는 전도성 폴리머와 금속 입자간의 접촉영역을 확대할 수 있다. 따라서, 간극에서의 미접촉으로 인한 전체적인 저항을 낮출 수 있으므로, 전체적인 전기전도성을 높일 수 있으며, 따라서 전자파에 대한 차단효과를 더욱 향상시킬 수 있다.
Furthermore, the gap between each nodule deposited under a high current density is filled with fine metal particles electrolytically deposited under a low current density, so that the contact area between the conductive polymer and the metal particle can be enlarged. Therefore, the overall resistance due to non-contact with the gap can be lowered, so that the overall electrical conductivity can be increased, and the blocking effect against electromagnetic waves can be further improved.

상기 모듈층을 형성함에 있어서, 상기 고전류 밀도는 10 내지 30A/dm2의 범위를 갖는 것이 바람직하며, 저전류 밀도는 1 내지 5A/dm2의 범위를 갖는 것이 바람직하다.
In forming the module layer, the high current density is preferably in the range of 10 to 30 A / dm 2 , and the low current density is preferably in the range of 1 to 5 A / dm 2 .

이때, 전해석출을 수행하는 시간은 얻고자 하는 모듈층의 두께에 따라 적절히 조절할 수 있는 것으로서, 특별히 한정하지 않으나, 상기 모듈층은 통상 3 내지 10㎛의 두께로 형성되는 것이 전도성 필름과의 견고한 밀착을 위해 바람직하다. 따라서, 고전류밀도 하에서의 전해석출은 1 내지 30초 동안 수행하는 것이 바람직하며, 이후, 고전류 밀도 하에서 석출된 금속 입자간의 결합을 위한 저전류밀도 하에서의 전해 석출은 1 내지 30초 동안 수행하는 것이 바람직하다. 이와 같은 모폴로지 형성은 특별히 한정하는 것은 아니나, 상기 저전류 밀도 하에서의 도금 공정은 2회 내지 5회 이상 반복하는 것이 바람직하며, 보다 바람직하게는 2 내지 4회, 더 바람직하게는 3회 반복할 수 있다.
At this time, the time for performing the electrolytic deposition is not particularly limited, and can be appropriately adjusted according to the thickness of the module layer to be obtained. However, the module layer is usually formed to have a thickness of 3 to 10 탆, . Therefore, electrolytic precipitation under a high current density is preferably performed for 1 to 30 seconds, and then electrolytic precipitation under a low current density for bonding between the metal particles precipitated under a high current density is preferably performed for 1 to 30 seconds. The formation of such a morphology is not particularly limited, but the plating process under the low current density is preferably repeated two to five times, more preferably two to four times, more preferably three times .

이와 같이 구리 합금 모판 상에 기저층을 형성하여 도금 핵을 제공하고, 그 위에 니켈 도금을 수행하여 인쇄회로기판 지지용 보강판을 제조함으로써, 보강판의 모판에 대하여 표면적을 높이기 위한 물리적 처리가 필요하지 않아 모판의 물리적 특성을 저해하지 않고도 넓은 표면적을 갖는 보강판을 얻을 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 보강판 상에 접합되는 전도성 필름과의 접촉 현저히 향상시킬 수 있으며, 이로 인해 보강판과 전도성 필름과의 미접합으로 인한 불량을 현저히 개선할 수 있다. 나아가, 전도성 폴리머가 보강판 표면의 미세한 간극에서의 미접촉되는 부분을 줄일 수 있어 전체적인 전기적 저항을 낮출 수 있으며, 결국 전자파 차폐 효과를 향상시킬 수 있다.
Thus, by providing a base layer on a copper alloy base plate to provide plating nuclei and nickel plating thereon to produce a reinforcing plate for supporting a printed circuit board, a physical treatment is required to increase the surface area of the base plate of the reinforcing plate It is possible to obtain a reinforcing plate having a large surface area without impairing the physical properties of the base plate. In addition, the contact with the conductive film bonded on the reinforcing plate according to the present invention can be remarkably improved, and the defect due to the non-bonding between the reinforcing plate and the conductive film can be remarkably improved. Further, since the conductive polymer can reduce the non-contact portion of the surface of the reinforcing plate at the minute gap, the overall electrical resistance can be lowered, and as a result, the electromagnetic wave shielding effect can be improved.

상기와 같은 보강대는, 도 2에 나타낸 바와 같이, 상기 보강판 표면에 형성된 노듈층 상에 전도성 필름이 적층됨으로써 접합재를 제공할 수 있다. 이와 같은 접합재는 도 2에 나타낸 바와 같이, 인쇄회로기판이 실장된 전자부품과 상기 전도성 필름을 매개로 접합 및 가접 공정을 거쳐 접합됨으로써 인쇄회로기판을 지지하는 보강판으로서 기능하게 된다.
As shown in FIG. 2, the above-described reinforcing bar can provide a bonding material by laminating a conductive film on a nodular layer formed on the surface of the reinforcing plate. As shown in Fig. 2, such a bonding material functions as a reinforcing plate for supporting the printed circuit board by bonding the electronic parts on which the printed circuit board is mounted and the conductive film through the joining and joining process.

도 2에 나타낸 바와 같이 라미네이팅과 가접 처리된 FPC는 가압과 적정온도에서 전도성 필름과 접착된다. 이때 상기 전도성 필름은 일반적으로 사용되는 전도성 필름을 본 발명에서도 적합하게 사용할 수 있는 것으로서, 열경화형의 수지와 금속분말로 이루어질 수 있으며, 보강대 또는 회로와의 최대한의 밀착성을 주기 위하여 기타 다른 첨가제가 혼합될 수 있다. 또한, 상기 전도성 필름은 예를 들어, 10 내지 100㎛ 범위의 두께를 갖는 것을 사용할 수 있다.
As shown in FIG. 2, the FPC that has undergone the laminating and the adhesion treatment is bonded to the conductive film at a pressing temperature and an appropriate temperature. The conductive film may be a thermally curable resin and a metal powder. In order to provide maximum adhesion to the reinforcing bar or circuit, the conductive film may be mixed with other additives . The conductive film may have a thickness in the range of 10 to 100 mu m, for example.

실시예Example

본 발명을 이하의 실시예를 통해 보다 구체적으로 설명한다. 그러나, 이하의 실시예는 본 발명의 이해를 돕기 위한 것으로서, 이에 의해 본 발명이 한정되는 것은 아니다.
The present invention will be described in more detail through the following examples. However, the following examples are provided to aid understanding of the present invention, and the present invention is not limited thereto.

실시예Example 1 One

탈지, 전해탈지, 및 산 활성화 처리에 의해 표면이 청정화된 100㎛의 양백(Cu-Zn-Ni) 소재의 일면에 도금을 방지하기 위해 표면을 마스킹 처리하였다. 상기 양백 소재의 표면을 전자현미경을 사용하여 촬영하고, 그 결과를 도 3의 (a), (b) 및 (c)에 나타내었다. (a)는 1000 배율로 촬영한 사진이며, (b)는 5,000 배율로 촬영한 사진이며, (c)는 30,000 배율로 촬영한 사진이다.The surface was masked to prevent plating on one side of a 100 mu m positive (Cu-Zn-Ni) material whose surface was cleaned by degreasing, electrolytic degreasing, and acid activation treatment. The surface of the nickel silver material was photographed using an electron microscope, and the results are shown in Figs. 3 (a), 3 (b) and 3 (c). (a) is a photograph taken at a magnification of 1000, (b) is a photograph taken at a magnification of 5,000, and (c) is a photograph taken at a magnification of 30,000.

상기 양백 소재를 황산니켈 100g/L, 염화암모늄 30g/L 및 붕산 10g/L를 포함하는 도금욕(pH 1.5, 온도 25℃)에 침지하고, 전류밀도 3A/dm2를 인가하여 30초의 시간 동안 니켈 스트라이크 도금을 행하였다. The above nickel-base material was immersed in a plating bath (pH 1.5, temperature 25 ° C.) containing 100 g / L of nickel sulfate, 30 g / L of ammonium chloride and 10 g / L of boric acid, applying a current density of 3 A / dm 2 for 30 seconds Nickel strike plating was performed.

이에 의해 상기 양백 소재의 마스킹 처리가 되지 않은 표면에 Ni 기저층을 형성하였다. 얻어진 기저층은 두께 0.6㎛이었다.
Thereby, a Ni base layer was formed on the surface of the above-mentioned nickel base material which was not subjected to the masking treatment. The obtained base layer had a thickness of 0.6 mu m.

상기 기저층이 형성된 양백 소재를 NiSO4 150g/l, NiCl2 40g/l, HBO3 15g/l 및 계면활성제 0.5g/l를 포함하는 도금욕(pH 4.5, 온도 20℃)에 침지하여 전류를 인가하여 기저층 상에 니켈 입자를 전해석출하여 노듈층을 형성하였다. 이때, 도금액에는 30A/dm2의 전류밀도를 30초간 인가하고, 이어서, 3A/dm2의 전류밀도를 30초간 인가하였으며, 이를 3회 반복 수행하였다.
The base material was immersed in a plating bath (pH 4.5, temperature 20 ° C) containing 150 g / l of NiSO 4 , 40 g / l of NiCl 2 , 15 g / l of HBO 3 and 0.5 g / l of a surfactant, Nickel particles were electrolytically deposited on the base layer to form a nodular layer. At this time, a current density of 30 A / dm 2 was applied to the plating solution for 30 seconds, a current density of 3 A / dm 2 was applied for 30 seconds, and this was repeated three times.

이에 의해 얻어진 도금 표면(노듈층)을 전자현미경을 사용하여 5000배의 배율로 촬영하고, 그 결과를 도 4에 나타내었다.
The plating surface (the layered bed) thus obtained was photographed at a magnification of 5000 times using an electron microscope, and the results are shown in Fig.

실시예Example 2 2

실시예 1과 동일한 양백 소재를 황산구리 30g/l, 염화니켈 15g/l, 구연산 소다 15g/l 및 티오요소 3g/l를 포함하는 도금욕 pH 5.5, 온도: 25℃ 중에 침지하고, 전류밀도 3A/dm2를 인가하여 30sec초간 스트라이크 도금을 수행하였다.The same white cloth as in Example 1 was immersed in a plating bath at a pH of 5.5 and a temperature of 25 占 폚 containing 30 g / l of copper sulfate, 15 g / l of nickel chloride, 15 g / l of sodium citrate and 3 g / dm < 2 > was applied to perform strike plating for 30 seconds.

이에 의해 양백의 표면에 Ni-Cu 기저층을 형성하였다. 얻어진 기저층은 두께 0.6㎛이었다.
Thereby forming a Ni-Cu base layer on the surface of the nickel silver. The obtained base layer had a thickness of 0.6 mu m.

상기 기저층이 형성된 양백 소재를 NiSO4 150g/l, NiCl2 40g/l, HBO3 15g/l 및 계면활성제 0.5g/l를 포함하는 도금욕(pH 4.5, 온도 15℃)에 침지하여 전류를 인가하여 기저층 상에 니켈 입자를 전해석출함으로써 노듈층을 형성하였다. 이때, 도금액에는 30A/dm2의 전류밀도를 30초간 인가하고, 이어서, 3A/dm2의 전류밀도를 30초간 인가하였으며, 이를 3회 반복 수행하였다.
The base material was immersed in a plating bath (pH 4.5, temperature: 15 ° C) containing 150 g / l of NiSO 4 , 40 g / l of NiCl 2 , 15 g / l of HBO 3 and 0.5 g / l of a surfactant, Nickel particles were electrolytically deposited on the base layer to form a nickel layer. At this time, a current density of 30 A / dm 2 was applied to the plating solution for 30 seconds, a current density of 3 A / dm 2 was applied for 30 seconds, and this was repeated three times.

이에 의해 얻어진 도금 표면(노듈층)을 전자현미경을 사용하여 촬영하고, 그 결과를 도 5에 나타내었다. 도 5의 (a)는 상기 노듈층 표면을 5,000 배율로 촬영한 사진이며, (b)는 30,000 배율로 촬영한 사진이다.
The surface (plating layer) of the plating thus obtained was photographed using an electron microscope, and the results are shown in Fig. 5 (a) is a photograph of the surface of the nodular layer taken at a magnification of 5,000, and FIG. 5 (b) is a photograph taken at a magnification of 30,000.

비교예Comparative Example 1 및 2 1 and 2

실시예 1 및 2와의 비교를 위해 실시예 1과 동일한 Cu-Zn-Ni합금 소재의 표면에 헤어라인 가공(비교예 1) 및 샌드블라스트 처리(비교예 2)에 의해 표면 조도가 부여하고, 각각의 표면을 전자현미경을 사용하여 촬영하였다. 그 결과 사진을 도 6의 (a) 및 (b)에 각각 나타내었다. (a)는 헤어라인 가공된 표면의 사진이며, (b)는 샌드블라스트 처리된 표면의 사진으로서, 각각 5,000배율로 촬영된 것이다.
For comparison with Examples 1 and 2, the surface of the same Cu-Zn-Ni alloy material as in Example 1 was subjected to surface roughness treatment by hair line processing (Comparative Example 1) and sandblasting treatment (Comparative Example 2) Was photographed using an electron microscope. The resulting photographs are shown in Figs. 6 (a) and 6 (b), respectively. (a) is a photograph of a hairline-processed surface, and (b) is a photograph of a sandblasted surface, each of which was photographed at a magnification of 5,000.

표면 상태 관찰Observation of surface condition

상기 실시예 1 및 2에 의해 얻어진 노듈층의 표면상태를 나타내는 도 4 및 도 5의 (a) 및 (b)를 원소재인 양백의 표면을 촬영한 도 3의 (a) 내지 (c)와 헤어라인 가공된 표면 및 샌드블라스트 처리된 도 6의 (a) 및 (b)와 비교할 때, 실시예 1 및 2에서 얻어진 노듈층이 현저히 넓은 표면적을 가짐을 확인할 수 있다. Figs. 4 and 5 (a) and 5 (b) showing the surface state of the nodular layer obtained by the above Examples 1 and 2 are shown in Figs. 3 (a) to 3 It can be confirmed that the moduli obtained in Examples 1 and 2 have a remarkably large surface area when compared with the hair-lined surface and the sandblasted surface shown in Figs. 6 (a) and 6 (b).

구체적으로, 도 3으로부터 알 수 있는 바와 같이, 양백 소재의 표면에는 금속의 모폴로지가 존재하지 않고 단순히 소재층 표면의 스크래치와 유사한 형상만을 관찰할 수 있었으나, 도 4와 도 5의 (a) 및 (b)로부터 알 수 있는 바와 같이, 실시예 1 및 2에 의해 얻어진 노듈층은 니켈 입자의 전해 석출에 의해 균일하고 조밀한 모폴로지가 형성되어, 상기 소재의 표면에 비하여 넓은 표면적을 가짐을 확인할 수 있었다.3, no metal morphology was present on the surface of the white material, and only the shape similar to the scratch on the surface of the material layer could be observed. However, FIGS. 4 and 5 (a) and 5 b), it was confirmed that the nodular layer obtained by Examples 1 and 2 formed a uniform and dense morphology by electrolytic deposition of nickel particles, and had a larger surface area than the surface of the material .

또한, 도 6의 (a) 및 (b)와 비교할 때, 실시예 1 및 2에서 얻어진 노듈층의 표면적이 현저히 넓음을 알 수 있다. 또한 도 4 및 도 5의 결과로부터 알 수 있는 바와 같이, 각 노즐 사이의 간극이 미세함에 따라 접촉되는 전도성 폴리머에 대하여 접촉 영역이 증대하여 접착력 향상 효과를 동시에 얻을 수 있음을 알 수 있다.
Also, as compared with Figs. 6A and 6B, it can be seen that the surface area of the nodular layer obtained in Examples 1 and 2 is significantly wider. Also, as can be seen from the results of FIGS. 4 and 5, it can be seen that as the gap between the respective nozzles is finer, the contact area is increased with respect to the conductive polymer that is in contact with each other.

한편, 도 4로부터 알 수 있는 바와 같이, 니켈 도금의 기저층 상에 도금에 의해 형성된 노듈층의 도금 조직은 표면에 미세한 금속입자의 석출로 인해 넓은 표면적을 가짐을 알 수 있다. 다만, 일부 영역에 미성장층과 과성장층이 불균일하게 동시에 존재하는 것으로 나타났다. 이는 기저층 형성을 위해 Ni 스트라이크 도금시의 낮은 pH 조건으로 인해 양백 소재로부터 아연이 용출되어 균일한 핵 생성을 방해하기 때문인 것으로 보인다. On the other hand, as can be seen from FIG. 4, it can be seen that the plated structure of the nickel layer formed by plating on the base layer of nickel plating has a large surface area due to the precipitation of fine metal particles on the surface. However, it was found that un-grown and overgrowth layers were present in a non-uniform manner in some regions. This appears to be due to the low pH conditions of the Ni strike plating for the formation of the base layer, resulting in the elution of zinc from the nickel-based material, thereby preventing uniform nucleation.

반면, 도 5의 (a) 및 (b)로부터 실시예 2와 같이 Cu-Ni 기저층 상에 Ni 도금에 의한 노듈층을 형성하는 경우, 도 4에 비하여도 니켈 입자가 균일하고 조밀하게 형성되어 표면적이 넓고 매우 우수한 표면상태를 형성할 수 있음을 알 수 있다. On the other hand, in the case of forming a nickel layer by Ni plating on the Cu-Ni base layer as in Example 2 from FIGS. 5 (a) and 5 (b), nickel particles are formed uniformly and densely, It can be seen that a wide and highly excellent surface state can be formed.

이는 기저층을 구리와 니켈 전구체를 포함하는 높은 pH의 도금욕에서 스트라이크 도금을 수행한 결과로 보인다. 즉, 구리와 니켈 전구체를 포함하는 도금욕 중에서 스트라이크 도금을 수행하는 경우에는 니켈 전구체만을 포함하는 도금욕에서의 스트라이크 도금을 수행하는 경우에 비하여 도금욕의 pH를 높일 수 있고, 도금욕 중의 구리가 빠른 치환성을 가져 양백 소재로부터의 아연의 용출을 줄일 수 있다. 이로 인해 양백 소재 표면에 구리 및 니켈 이온의 흡착을 아연이 방해하는 것을 억제할 수 있으며, 결국, 양백 소재 표면에 구리 및 니켈이 강하게 밀착하여 균일한 핵 생성을 도모할 수 있어, 균일한 노듈층 형성이 가능한 것이다. This seems to be the result of strike plating in a high pH plating bath containing a copper and nickel precursor as the base layer. That is, in the case of performing strike plating in a plating bath containing a copper and nickel precursor, the pH of the plating bath can be increased as compared with the case of performing strike plating in a plating bath containing only a nickel precursor, It is possible to reduce the elution of zinc from the nickel base material because of the quick substitution. As a result, it is possible to inhibit zinc from interfering with the adsorption of copper and nickel ions on the surface of the nickel silver material. As a result, copper and nickel are firmly adhered to the nickel silver surface, .

따라서, 기저층 형성은 빠른 치환성을 갖는 구리를 포함하는 구리와 니켈의 합금 도금을 형성하는 것이 보다 바람직함을 알 수 있다.
Thus, it can be seen that the formation of the base layer is more preferable to form an alloy plating of copper and nickel containing copper having a quick substitution property.

상기와 같은 결과로부터, 실시예 1에 의해 얻어진 노듈층은 Ni 단독의 기저층이 형성된 경우로서, 실시예 2에 따른 Cu-Ni 합금의 기저층이 형성된 경우에 비하여 Ni 노듈의 성장이 다소 작게 나타남을 알 수 있으나, 도 4 및 도 5의 (a)와 (b)에서 나타난 표면 모폴로지 상태는 비슷한 형태를 나타냄을 알 수 있다. 또한, 이와 같은 표면에 형성된 모폴로지에 의해 양자 모두 종래의 샌드블라스트 처리 또는 헤어라인 가공 등에 비하여 현저히 넓은 표면적을 제공할 수 있는 것으로서, 실시예 1과 같이 Ni 기저층을 형성하고, Cu-Ni 도금의 노듈층을 형성하더라도 전도성 필름과의 우수한 밀착력을 제공할 수 있어, 본 발명의 효과를 얻을 수 있는 것이다.
From the above results, it can be seen that the nodular layer obtained by Example 1 has a base layer of Ni alone and the growth of Ni nodule is somewhat smaller than that of the base layer of Cu-Ni alloy according to Example 2 But the surface morphology states shown in FIGS. 4 and 5 (a) and 5 (b) are similar to each other. In addition, both of these morphologies formed on the surface can provide a significantly large surface area compared to the conventional sandblasting or hairline processing, and it is possible to form a Ni base layer as in Example 1, It is possible to provide an excellent adhesion with the conductive film even when a layer is formed, and the effect of the present invention can be obtained.

밀착성 측정Adhesion measurement

상기 비교예 1 및 2의 시편 및 실시예 2에서 제조된 시편 각각을 전도성 필름(타츠다사제 제품명 CBF-300, 두께 40㎛, 표면저항 1.4Ω)과 9.5MPa의 압력 및 150℃의 조건을 12초간 가하여 접착하여 접합재를 제조하였다.Each of the specimens prepared in Comparative Examples 1 and 2 and the specimen prepared in Example 2 were laminated on a conductive film (product name: CBF-300 manufactured by Tatsuda Corp., thickness 40 탆, surface resistance 1.4 Ω) at a pressure of 9.5 MPa and a temperature of 150 캜 Followed by bonding to produce a bonding material.

상기 접합재를 폭 1cm로 인장강도를 측정하여 각 시편과 전도성 필름간의 접합력을 측정하고, 그 결과를 표 1에 나타내었다.
The bonding material was measured for tensile strength at a width of 1 cm, and the bonding strength between each test piece and the conductive film was measured. The results are shown in Table 1.

비교예 1Comparative Example 1 비교예 2Comparative Example 2 실시예 1Example 1 접합력(kgf/cm)Bond strength (kgf / cm) 0.40.4 0.520.52 0.90.9

상기 표 1로부터 알 수 있는 바와 같이, 실시예 1에 의해 얻어진 시편을 사용하여 제조된 접합재는 비교예 1 및 비교예 2의 시편을 사용하여 제조된 접합재에 비하여 현저히 높은 접합력을 가짐을 알 수 있다.
As can be seen from the above Table 1, it can be seen that the bonding material produced using the test piece obtained in Example 1 has a significantly higher bonding force than the bonding material produced using the test pieces of Comparative Example 1 and Comparative Example 2 .

전기 전도율 측정Electrical conductivity measurement

상기 밀착성 측정에 사용된 접합재를 사용하여 전기 전도율을 측정하고, 그 결과는 하기 표 2에 나타내었다.
The electrical conductivity was measured using the bonding material used for the adhesion measurement, and the results are shown in Table 2 below.

비교예 1Comparative Example 1 비교예 2Comparative Example 2 실시예 1Example 1 측정 저항값(mΩ)Measured resistance value (mΩ) 16.516.5 16.216.2 13.413.4 체적저항률(uΩ/Cm)Volume resistivity (u? / Cm) 33.033.0 33.033.0 26.826.8 전기전도율(uΩ/Cm)Electrical conductivity (uΩ / Cm) 0.0303030.030303 0.0303030.030303 0.0373130.037313

상기 표 2로부터 알 수 있는 바와 같이, 실시예 1의 시편을 사용하여 얻어진 접합재는 비교예 1 및 비교예 2의 시편을 사용하여 얻어진 접합재에 비하여 낮은 저항값, 체적 저항값을 나타내며, 높은 전기전도율을 나타냄을 확인할 수 있다.
As can be seen from Table 2, the bonding material obtained using the test piece of Example 1 exhibited a lower resistance value and a volume resistance value as compared with the bonding material obtained using the test pieces of Comparative Example 1 and Comparative Example 2, As shown in FIG.

Claims (15)

아연(Zn) 또는 주석(Sn)을 포함하는 구리 합금으로 된 모판;
상기 모판 상에 Ni 도금 또는 Cu-Ni 합금 도금에 의한 기저층; 및
상기 기저층 상에 Ni 입자가 석출되어 형성된 노듈층을 포함하는 인쇄회로기판 지지용 보강판.
A base plate made of a copper alloy containing zinc (Zn) or tin (Sn);
A base layer formed on the base plate by Ni plating or Cu-Ni alloy plating; And
And a nodule layer formed by precipitating Ni particles on the base layer.
제 1항에 있어서, 상기 Ni 노듈층은 5 내지 300nm의 Ni 입자가 석출되어 형성된 것인 인쇄회로기판 지지용 보강판.
The reinforcing plate for supporting a printed circuit board according to claim 1, wherein the Ni layer is formed by precipitating Ni particles of 5 to 300 nm.
제 1항에 있어서, 상기 Ni 노듈층은 두께가 1 내지 10 미크론인 인쇄회로기판 지지용 보강판.
The reinforced plate for supporting a printed circuit board according to claim 1, wherein the Ni modulus layer is 1 to 10 microns in thickness.
제 1항에 있어서, 상기 기저층은 0.1 내지 3㎛의 두께를 갖는 것인 인쇄회로기판 지지용 보강판.
The reinforced plate for supporting a printed circuit board according to claim 1, wherein the base layer has a thickness of 0.1 to 3 占 퐉.
제 1항에 있어서, 상기 모판은 Cu-Zn 합금, Cu-Zn-Ni 합금, Cu-Sn 합금, Cu-Sn-P 합금 또는 Cu-Sn-Ni 합금인 인쇄회로기판 지지용 보강판.
The reinforcing plate for supporting a printed circuit board according to claim 1, wherein the base plate is a Cu-Zn alloy, a Cu-Zn-Ni alloy, a Cu-Sn alloy, a Cu-Sn-P alloy or a Cu-Sn-Ni alloy.
제 1항에 있어서, 상기 모판은 10 내지 500㎛의 두께를 가지며, 0.1 내지 20㎛의 표면조도를 갖는 것인 인쇄회로기판 지지용 보강판.
The reinforcing plate for supporting a printed circuit board according to claim 1, wherein the base plate has a thickness of 10 to 500 탆 and a surface roughness of 0.1 to 20 탆.
제 1항에 있어서, 상기 모판은 표면에 헤어라인 가공된 것인 인쇄회로기판 지지용 보강판.
The reinforcing plate for supporting a printed circuit board according to claim 1, wherein the base plate is hairline-processed on its surface.
제 1항 내지 제 7항 중 어느 한 항의 인쇄회로기판 지지용 보강판; 및
상기 보강판의 모듈층 상에 접합된 전도성 필름을 포함하며, 상기 전도성 필름 상에 인쇄회로기판이 지지되는 접합재.
A reinforcing plate for supporting a printed circuit board according to any one of claims 1 to 7; And
And a conductive film bonded on the module layer of the reinforcing plate, wherein the printed circuit board is supported on the conductive film.
제 8항에 있어서, 상기 전도성 필름은 두께가 10 내지 100 미크론인 접합재.
The bonding material according to claim 8, wherein the conductive film has a thickness of 10 to 100 microns.
아연 또는 주석을 포함하는 구리합금의 모판 상에 스트라이크 도금에 의해 Ni 또는 Ni-Cu 합금의 기저층을 형성하는 단계; 및
상기 기저층 상에 Ni을 전해 석출하여 노듈층을 형성하는 단계를 포함하는 인쇄회로기판 지지용 보강판 제조방법.
Forming a base layer of Ni or Ni-Cu alloy by strike plating on a base plate of a copper alloy containing zinc or tin; And
And electrolytically depositing Ni on the base layer to form a nodular layer.
제 10항에 있어서, 상기 기저층은 0.1 내지 3㎛의 두께로 형성되는 것인 인쇄회로기판 지지용 보강판 제조방법.
The method as claimed in claim 10, wherein the base layer is formed to a thickness of 0.1 to 3 탆.
제 10항에 있어서, 상기 노듈층은 10 내지 30A/dm2의 고전류밀도 하에서 도금한 후, 1 내지 5A/dm2의 저전류밀도 하에서 도금하여 형성하는 인쇄회로기판 지지용 보강판 제조방법.
The method of claim 10, wherein the nodular layer is formed by plating under a high current density of 10 to 30 A / dm 2 and then by plating under a low current density of 1 to 5 A / dm 2 .
제 12항에 있어서, 상기 저전류 밀도 하에서의 도금은 2 내지 5회 반복하여 수행하는 것인 인쇄회로기판 지지용 보강판 제조방법.
13. The method of claim 12, wherein the plating under the low current density is repeated two to five times.
제 10항에 있어서, 상기 모판 표면에 헤어라인을 형성하는 단계를 더 포함하는 인쇄회로기판 지지용 보강판 제조방법.
11. The method of claim 10, further comprising forming a hairline on the surface of the base plate.
제 10항 내지 제 14항 중 어느 한 항에 의해 제조된 보강판의 모듈층 상에 전도성 필름을 순차적으로 적층하고 상기 보강판과 전도성 필름을 접합 및 가접하여 접합재를 제조하는 접합재 제조방법. 15. A method for manufacturing a bonding material, comprising the steps of: sequentially laminating a conductive film on a module layer of a reinforcing plate produced by any one of claims 10 to 14, and joining and abutting the reinforcing plate and the conductive film.
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