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KR20070037323A - Method for manufacturing printed wiring board, and printed wiring board using the same - Google Patents

Method for manufacturing printed wiring board, and printed wiring board using the same Download PDF

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KR20070037323A
KR20070037323A KR1020060091099A KR20060091099A KR20070037323A KR 20070037323 A KR20070037323 A KR 20070037323A KR 1020060091099 A KR1020060091099 A KR 1020060091099A KR 20060091099 A KR20060091099 A KR 20060091099A KR 20070037323 A KR20070037323 A KR 20070037323A
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KR
South Korea
Prior art keywords
layer
base film
conductor pattern
nodule
wiring board
Prior art date
Application number
KR1020060091099A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
테루아키 야기
Original Assignee
미쓰이 긴조꾸 고교 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 미쓰이 긴조꾸 고교 가부시키가이샤 filed Critical 미쓰이 긴조꾸 고교 가부시키가이샤
Publication of KR20070037323A publication Critical patent/KR20070037323A/en

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Abstract

본 발명의 배선 기판의 제조 방법은, 지지 기재의 표면에 극박 도전성 금속층을 형성하고, 이 극박 도전성 금속층의 표면에 레지스트 패턴을 형성하고, 이 레지스트 패턴에 의해 피복되지 않은 극박 도전성 금속층의 표면에, 이 레지스트 패턴과 대략 동일한 두께의 도금층을 전기 도금에 의해 형성한 후, 이 형성된 도금층의 표면에 전기 도금에 노듈을 형성하고, 계속해서, 절연 필름의 표면에 접착제층을 갖는 기재 필름의 접착제층을 접촉하고, 이 접착제층에 상기 노듈을 침입시킨 후 지지 기재를 박리하여 지지 기재상에 형성된 레지스트 패턴 및 도금층을 기재 필름 측에 전사하고, 계속해서, 기재 필름측에 전사된 레지스트 패턴을 제거하여, 기재 필름의 표면에 구리제의 도체 패턴을 형성하는 것을 특징으로 하고 있다. 본 발명에 따르면, 절연 필름 표면의 볼록 형상에 도체 패턴을 형성할 수 있으며, 이 도체 패턴은 필 강도가 높다.The manufacturing method of the wiring board of this invention forms an ultra-thin conductive metal layer on the surface of a support base material, forms a resist pattern on the surface of this ultra-thin conductive metal layer, and on the surface of the ultra-thin conductive metal layer which is not covered by this resist pattern, After forming the plating layer of thickness substantially the same as this resist pattern by electroplating, a nodule is formed in the electroplating on the surface of this formed plating layer, and then the adhesive bond layer of the base film which has an adhesive bond layer on the surface of an insulating film After contacting, injecting the nodule into the adhesive layer, peeling off the supporting substrate, transferring the resist pattern and plating layer formed on the supporting substrate to the base film side, and then removing the resist pattern transferred to the base film side, It forms a copper conductor pattern on the surface of a base film, It is characterized by the above-mentioned. According to this invention, a conductor pattern can be formed in the convex shape of the insulating film surface, and this conductor pattern has high peeling strength.

Description

배선 기판의 제조 방법 및 배선 기판{METHOD FOR MANUFACTURING PRINTED WIRING BOARD, AND PRINTED WIRING BOARD USING THE SAME}Manufacturing method of wiring board and wiring board {METHOD FOR MANUFACTURING PRINTED WIRING BOARD, AND PRINTED WIRING BOARD USING THE SAME}

도 1은 본 발명의 배선 기판 제조 방법의 각 공정에서의 단면을 모식적으로 도시하는 단면도.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is sectional drawing which shows typically the cross section in each process of the wiring board manufacturing method of this invention.

도 2는 본 발명의 배선 기판의 제조 방법의 다른 형태에서의 각 공정에서의 단면을 모식적으로 도시하는 단면도.It is sectional drawing which shows typically the cross section in each process in the other aspect of the manufacturing method of the wiring board of this invention.

도 3은 본 발명의 배선 기판의 제조 방법의 다른 태양에서의 각 공정에서의 단면을 모식적으로 도시하는 단면도.It is sectional drawing which shows typically the cross section in each process in the other aspect of the manufacturing method of the wiring board of this invention.

[도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명][Description of Symbols for Main Parts of Drawing]

10: 지지 기재10: support substrate

12: 극박 도전성 금속층12: ultra-thin conductive metal layer

14: 감광성 수지의 경화체14: cured product of photosensitive resin

16: 오목부16: concave

18: 도체 패턴18: conductor pattern

20: 노듈20: nodule

22: 접착제층22: adhesive layer

24: 절연 필름24: insulation film

30: 기재 필름30: base film

32: 접착제층32: adhesive layer

[특허 문헌 1] 일본 특허공개 2000-71387호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-71387

[특허 문헌 2] 일본 특허공개 평9-64514호 공보[Patent Document 2] Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-64514

[특허 문헌 3] 일본 특허공개 평11-251722호 공보[Patent Document 3] Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-251722

[특허 문헌 4] 일본 특허공개 평4-260389호 공보[Patent Document 4] Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-260389

[특허 문헌 5] 일본 특허공개 평11-266069호 공보[Patent Document 5] Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-266069

[특허 문헌 6] 일본 특허공개 평11-266070호 공보[Patent Document 6] Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-266070

본 발명은 전사법에 의한 배선 기판의 제조 방법 및 이 제조 방법에 의해 형성되는 배선 기판에 관한 것이다.This invention relates to the manufacturing method of the wiring board by the transfer method, and the wiring board formed by this manufacturing method.

일반적으로, 배선 기판은 기재 표면에 적층된 금속층의 표면에 감광성 수지의 도막을 형성하고, 이 감광성 수지 도막을 노광·현상함으로써 감광성 수지 경화체를 원하는 형상으로 남긴 마스킹재를 형성하고, 계속해서, 이 마스킹재가 형성되지 않은 부분의 금속층을 에칭하는 방법(서브트랙티브법)에 의해 형성되고 있다. 이러한 종래의 방법에서는, 형성되는 배선 패턴의 상부 단면 길이가 짧고 절연 필름측(하부) 단면 길이가 긴, 소위 단면 형상이 사다리꼴의 배선 패턴이 형성되는 것이 일반적이다(언더 컷 현상). 또한, 상기와 같은 종래의 방법에서는, 형성되는 배선 패턴의 폭에 한도가 있어, 최근의 파인 피치의 배선 패턴보다 더 가는 배선 패턴을 형성하는 방법으로서는 한계에 가까워지고 있다.Generally, a wiring board forms the photosensitive resin coating film on the surface of the metal layer laminated | stacked on the base material surface, exposes and develops this photosensitive resin coating film, and forms the masking material which left the photosensitive resin hardened | cured body in the desired shape, and this It forms by the method (subtractive method) of etching the metal layer of the part in which the masking material is not formed. In such a conventional method, it is common that a so-called cross-sectional wiring pattern having a short upper cross-sectional length of the formed wiring pattern and a long insulating film side (lower) cross-sectional length are formed (undercut phenomenon). Moreover, in the conventional method as described above, there is a limit to the width of the wiring pattern to be formed, and the method of forming a wiring pattern thinner than the recent fine pitch wiring pattern is approaching a limit.

상기와 같은 서브트랙티브법에 의한 완전히 다른 방법으로서, 절연 필름과는 별체로서 형성된 도체 패턴을 절연 필름상에 접착하는 전사법이 알려져 있다.As a completely different method by the above subtractive method, the transfer method of adhering the conductor pattern formed as a separate body from the insulating film on the insulating film is known.

그러나, 이 전사법에서는, 예를 들면 특허 문헌 1(일본 특허공개 2000-71387호 공보) 혹은 특허 문헌 2(일본 특허공개 평9-64514호 공보)에 개시되는 바와 같이, 도체 패턴이 절연 기판 등의 기재에 매몰되어, 예를 들면 상기와 같은 전사법으로 제조된 배선 기판은 이방 도전성 접착을 할 수 없는 등, 종래의 배선 기판에서 확립되어 있는 방법을 채용할 수 없다는 문제가 있다.However, in this transfer method, for example, as disclosed in Patent Document 1 (Japanese Patent Laid-Open No. 2000-71387) or Patent Document 2 (Japanese Patent Laid-Open No. Hei 9-64514), the conductor pattern may be an insulating substrate or the like. There is a problem in that the wiring board which is buried in the base material of the substrate and manufactured by the transfer method as described above cannot adopt anisotropic conductive adhesion, for example, and a method established in the conventional wiring board cannot be employed.

또한, 특허 문헌 3(일본 특허공개 평11-251722호 공보) 혹은 특허 문헌 4(일본 특허공개 평4-260389호 공보)에 개시되는 바와 같이, 절연 기판의 표면에 볼록 형상으로 도체 패턴을 형성할 수 있었다고 하여도, 이러한 특허 문헌 3 혹은 특허 문헌 4에 기재되어 있는 방법에서는, 절연 기판에 대한 도체 패턴의 필 강도가 충분히 높아지지는 않는다. 또한, 특허 문헌 5(일본 특허공개 평11-266069호 공보) 및 특허 문헌 6(일본 특허공개 평11-266070호 공보)에는 필 강도에 착안한 전사법의 발명이 개시되고 있지만, 이들 공보에 기재되어 있는 방법에서는 파인 피치의 도체 패턴을 형성하는 것은 매우 곤란하다.Further, as disclosed in Patent Document 3 (Japanese Patent Application Laid-open No. Hei 11-251722) or Patent Document 4 (Japanese Patent Application Laid-open No. Hei 4-260389), a conductor pattern can be formed in a convex shape on the surface of an insulating substrate. Even if it can, the peeling strength of the conductor pattern with respect to an insulated substrate does not become high enough by the method described in such patent document 3 or patent document 4. In addition, Patent Document 5 (Japanese Patent Laid-Open No. 11-266069) and Patent Document 6 (Japanese Patent Laid-Open No. 11-266070) disclose inventions of a transfer method focusing on peel strength, but are described in these publications. In this method, it is very difficult to form a fine pitch conductor pattern.

본 발명은 신규 전사법에 의한 배선 기판 및 그 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.An object of the present invention is to provide a wiring board by a novel transfer method and a method of manufacturing the same.

더 자세하게는 본 발명은, 매우 미세한 피치의 도체 패턴을 형성할 수 있으며, 또한 절연 기판에 대해 전사된 도체 패턴의 필 강도가 높은 배선 기판 및 그 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.In more detail, an object of this invention is to provide the wiring board which can form the conductor pattern of very fine pitch, and has the high peeling strength of the conductor pattern transferred with respect to the insulated substrate, and its manufacturing method.

또한, 본 발명은, 매우 미세한 피치의 도체 패턴을 형성할 수 있으며, 또한 절연 기판에 대해 전사된 도체 패턴의 필 강도가 높은 배선 기판으로서, 도체 패턴이 절연 기판 표면에 볼록 형상으로 형성되어 있어, 종래의 배선 기판과 마찬가지로, 이방 도전 접착에 의해 전자 장치에 장착이 가능한 배선 기판 및 그 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.Moreover, this invention can form the conductor pattern of very fine pitch, and is a wiring board with high peeling strength of the conductor pattern transferred with respect to the insulated substrate, Comprising: The conductor pattern is formed in convex shape on the surface of an insulated substrate, It is an object to provide a wiring board which can be attached to an electronic device by anisotropic conductive adhesion and its manufacturing method similarly to the conventional wiring board.

본 발명의 배선 기판의 제조 방법은, 지지 기재의 표면에 극박 도전성 금속층을 형성하고, 이 극박 도전성 금속층의 표면에 레지스트 패턴을 형성하고, 이 레지스트 패턴에 의해 피복되지 않은 극박 도전성 금속층의 표면에 이 레지스트 패턴과 대략 동일한 두께의 도금층을 전기 도금에 의해 형성한 후, 이 형성된 도금층의 표면에 전기 도금에 의해 노듈을 형성하고, 계속해서, 절연 필름의 표면에 접착제층을 갖는 기재 필름의 접착제층을 접촉시키고, 이 접착제층에 상기 노듈을 침입시킨 후, 지지 기재를 박리하여 지지 기재상에 형성된 레지스트 패턴 및 도금층을 기재 필름측에 전사하고, 계속해서, 기재 필름측에 전사된 레지스트 패턴을 제거하여 기재 필름의 표면에 구리제의 도체 패턴을 형성하는 것을 특징으로 하고 있다.The manufacturing method of the wiring board of this invention forms an ultra-thin conductive metal layer on the surface of a support base material, forms a resist pattern on the surface of this ultra-thin conductive metal layer, and applies it to the surface of the ultra-thin conductive metal layer which is not covered by this resist pattern. After forming a plating layer having a thickness substantially the same as that of the resist pattern by electroplating, a nodule was formed by electroplating on the surface of the formed plating layer, and then the adhesive layer of the base film having the adhesive layer on the surface of the insulating film. After contacting and injecting the said nodule into this adhesive bond layer, the support base material was peeled off, the resist pattern and plating layer formed on the support base material were transferred to the base film side, and the resist pattern transferred to the base film side was then removed. It forms a copper conductor pattern on the surface of a base film, It is characterized by the above-mentioned.

상기와 같이 본 발명의 배선 기판의 제조 방법에서는, 도체 패턴의 표면에 노듈을 형성하고, 이 노듈이 기재 필름의 접착제층 내로 침입함으로써 접착제와의 접촉 표면이 커짐과 동시에, 이 노듈의 투묘(投錨) 효과에 의해 도체 패턴이 기재 필름에 대해 높은 필 강도를 갖는다.As mentioned above, in the manufacturing method of the wiring board of this invention, a nodule is formed in the surface of a conductor pattern, this nodule penetrates into the adhesive bond layer of a base film, and the contact surface with an adhesive becomes large, and the projection of this nodule ), The conductor pattern has a high peel strength with respect to the base film.

다음으로 본 발명의 배선 기판의 제조 방법 및 이와 같이 하여 얻어지는 배선 기판에 대해 구체적으로 설명한다.Next, the manufacturing method of the wiring board of this invention and the wiring board obtained in this way are demonstrated concretely.

도 1은, 본 발명의 배선 기판의 제조 방법에 있어서, 각 공정에서의 기판 단면의 예를 도시하는 단면도이다.1 is a cross-sectional view showing an example of a cross section of a substrate in each step in the method of manufacturing a wiring board of the present invention.

도 1의 (a), (b)에 도시하는 바와 같이, 본 발명의 배선 기판의 제조 방법에서는, 지지 기재(10)의 표면에 극박 도전성 금속층(12)을 형성한다.As shown to Fig.1 (a), (b), in the manufacturing method of the wiring board of this invention, the ultra-thin conductive metal layer 12 is formed in the surface of the support base material 10. As shown to FIG.

여기에서, 지지 기재(10)로서는, 통상적으로는 합성 수지 필름, 합성 수지판 등의 절연성 수지로 형성된 필름, 시트, 판 등을 사용할 수 있다. 이러한 지지 기재(10)의 두께, 형상에 특별히 제한은 없지만, 본 발명에서 연속적으로 배선 기판을 제조하는 경우에는, 자기 형태 지지성을 가짐과 동시에 가요성(可撓性)을 갖는 합성 수지 필름 혹은 시트가 바람직하고, 이러한 지지 기재(10)로서 합성 수지 시트 혹은 합성 수지 필름을 사용하는 경우에는, 이 지지 기재(10)의 두께는 통상적으로는 15 내지 50㎛, 바람직하게는 35 내지 70㎛의 범위 내에 있다. 또한, 이 지지 기재(10)의 표면에는 스퍼터링 등에 의해 극박 도전성 금속층(12)을 형성하는 것으로부터, 어느 정도의 내열성을 갖는 것이 바람직하고, 이러한 지지체 기재(10)를 형성하는 수지의 예로서 폴리이미드, 폴리이미드 아미드, 폴리아미드; PET 및 PEN 등의 폴리에스테르를 들 수 있다. 특히 본 발명에서는 PET 혹은 폴리이미드로 부터 형성된 필름 혹은 시트를 사용하는 것이 바람직하다.Here, as the support base material 10, the film, sheet | seat, board | plate, etc. which were formed from insulating resin, such as a synthetic resin film and a synthetic resin plate, can be used normally. Although there is no restriction | limiting in particular in the thickness and shape of such a support base material 10, When manufacturing a wiring board continuously in this invention, it has a synthetic resin film which has magnetic form supportability and has flexibility, or A sheet is preferable, and when using a synthetic resin sheet or a synthetic resin film as such support base material 10, the thickness of this support base material 10 is 15-50 micrometers normally, Preferably it is 35-70 micrometers. It is in range. Moreover, since the ultra-thin conductive metal layer 12 is formed on the surface of this support base material 10 by sputtering etc., it is preferable to have some heat resistance, and poly is an example of resin which forms such a support base material 10. Mid, polyimide amide, polyamide; Polyester, such as PET and PEN, is mentioned. In particular, in the present invention, it is preferable to use a film or sheet formed from PET or polyimide.

상기와 같은 지지 기재(10)의 표면에 극박 도전성 금속층(12)을 형성한다. 본 발명에 있어서 극박 도전성 금속층(12)은, 전기 도금에 의해 도체 패턴(16)을 형성할 때의 도체 금속을 석출시키는 전극이 되는 것으로서, 구리, 니켈, 크롬 등의 도전성 금속으로부터 형성되고 있다. 이러한 극박 도전성 금속층(12)은, 상기와 같은 도전성 금속을, 예를 들면 스퍼터링, 증착, 도금 등의 석출 방법을 이용하여 지지 기재(10)의 표면에 석출시킴으로써 형성할 수 있다. 이 극박 도전성 금속층(12)은, 후공정에서 도체 금속을 도금하는데 충분한 전력을 공급할 수 있는 것이면 되며, 그 두께에 특별히 제한은 없지만 통상적으로는 5×10-3 내지 5㎛, 바람직하게는 5×10-3 내지 3㎛정도이다. 특히 본 발명에서는, 이 극박 도전성 금속층(12)을 스퍼터링에 의해 형성하는 것이 바람직하고, 이와 같이 스퍼터링에 의해 극박 도전성 금속층(12)을 형성할 때에 있어서는, 도전성 금속으로서 구리 혹은 니켈을 이용하여 두께 5×10-3 내지 5㎛, 바람직하게는 5×10-3 내지 O.1㎛의 도전성 금속층으로 하는 것이 바람직하다.The ultrathin conductive metal layer 12 is formed on the surface of the supporting substrate 10 as described above. In the present invention, the ultra-thin conductive metal layer 12 is an electrode for depositing the conductor metal when the conductor pattern 16 is formed by electroplating, and is formed from conductive metals such as copper, nickel, and chromium. Such an ultra-thin conductive metal layer 12 can be formed by depositing the conductive metal as described above on the surface of the supporting substrate 10 using a deposition method such as sputtering, vapor deposition, plating, or the like. The ultra-thin conductive metal layer 12 may be one capable of supplying sufficient electric power to plate the conductor metal in a later step, and the thickness thereof is not particularly limited, but is usually 5 × 10 −3 to 5 μm, preferably 5 ×. 10-3 is to 3㎛ degree. Especially in this invention, it is preferable to form this ultra-thin conductive metal layer 12 by sputtering. When forming the ultra-thin conductive metal layer 12 by sputtering in this way, it is 5 thickness using copper or nickel as a conductive metal. × 10 -3 to 5㎛, preferably, it is preferable that the conductive metal layer of 5 × 10 -3 to O.1㎛.

이와 같이 하여 극박 도전성 금속층(12)을 형성한 후, 이 극박 도전성 금속층(12)의 표면에 감광성 수지층을 형성하고, 이 감광성 수지층을 노광·현상함으로써 오목부(16)를 형성한다. 감광성 수지에는, 노광함으로써 경화되는 타입의 감광성 수지와, 노광함으로써 용해성이 되는 타입의 감광성 수지가 있지만, 본 발명에서는 모든 타입의 감광성 수지를 사용할 수 있다. 이러한 감광성 수지의 도포 두께 는, 형성하고자 하는 도체 패턴의 두께와 대략 동일하게 하는 것이 바람직하고, 이렇게 하여 형성되는 감광성 수지층의 두께는 통상적으로는 5 내지 30㎛, 바람직하게는 8 내지 20㎛의 범위 내에 있다. 상기와 같은 감광성 수지층을 노광 현상한 상태의 단면을 도 1의 (c)에 도시한다. 도 1의 (c)에는, 감광성 수지층을 노광·현상함으로써 감광성 수지의 경화체(14)에 둘러싸여 오목부(16)가 형성되어 있고, 이 오목부(16)의 바닥부에는 상기의 극박 도전성 금속층(12)이 노출되고 있다.After forming the ultra-thin conductive metal layer 12 in this manner, the photosensitive resin layer is formed on the surface of the ultra-thin conductive metal layer 12, and the recessed part 16 is formed by exposing and developing this photosensitive resin layer. Although there exist photosensitive resin of the type hardened | cured by exposure and photosensitive resin of the type which becomes soluble by exposure, photosensitive resin can use all types of photosensitive resin in this photosensitive resin. It is preferable that the coating thickness of such photosensitive resin is made substantially the same as the thickness of the conductor pattern to be formed, and the thickness of the photosensitive resin layer formed in this way is 5-30 micrometers normally, Preferably it is 8-20 micrometers It is in range. The cross section of the state which exposed and developed the above photosensitive resin layer is shown in FIG.1 (c). In FIG.1 (c), the photosensitive resin layer is exposed and developed, and the recessed part 16 is formed in the bottom part of this recessed part 16, and the recessed part 16 is formed in the bottom part of this recessed part 16. FIG. (12) is exposed.

이와 같이 하여 감광성 수지를 노광·현상하여 오목부(16)를 형성한 후, 이 오목부(16)에 금속을 석출시켜 도체 패턴을 형성한다. 도 1의 (d)에는, 상기와 같이 하여 감광성 수지층을 노광·현상하여 형성된 오목부(16)에 도전성 금속이 전기 도금에 의해 석출되어 도체 패턴(18)을 형성한 상태의 단면이 도시되어 있다. 여기에서 도체 패턴(18)은, 예를 들면, 구리, 니켈 , 알루미늄, 은, 금 등의 여러 가지 도전성 금속으로 형성할 수 있지만, 본 발명에서는 구리 혹은 구리합금으로 형성하는 것이 바람직하다. 이때의 도체 패턴(18)의 두께는, 감광성 수지의 경화체(16)의 두께와 대략 동일하게 할 수 있지만, 후공정에서 도체 패턴(18)의 표면에 노듈(20)을 형성함으로써 도체 패턴(18)의 두께가 조금 두꺼워지는 것으로부터, 감광성 수지의 경화체(16)보다 조금 얇게 형성하는 것이 바람직하다.In this manner, the photosensitive resin is exposed and developed to form the recessed portion 16, and then metal is deposited on the recessed portion 16 to form a conductor pattern. FIG. 1D shows a cross section of a state in which a conductive metal is precipitated by electroplating to form a conductor pattern 18 in the recess 16 formed by exposing and developing the photosensitive resin layer as described above. have. Although the conductor pattern 18 can be formed with various electroconductive metals, such as copper, nickel, aluminum, silver, gold, for example, in this invention, it is preferable to form with copper or a copper alloy. Although the thickness of the conductor pattern 18 at this time can be made substantially the same as the thickness of the hardened body 16 of the photosensitive resin, the conductor pattern 18 is formed by forming the nodule 20 on the surface of the conductor pattern 18 in a later process. It is preferable to form a little thinner than the hardened | cured material 16 of photosensitive resin because the thickness of a) becomes a little thick.

이러한 도체 패턴(18)은, 전기 도금에 의해 형성된다. 즉, 극박 도전성 금속층(12)을 한쪽의 전극으로 하여, 이 극박 도전성 금속층(12)의 표면에 전기 도금에 의해 도전성 금속을 석출시킨다. 이때의 전기 도금 조건은, 예를 들면 도체 패턴(18)을 구리로 형성하는 경우, 도금 전류 밀도 O.5 내지 8A/d㎡, 도금액 중의 구 리 이온 농도 10 내지 100g/리터, 도금 온도 20 내지 60℃, 도금 시간 6 내지 80분간으로 하는 것이 바람직하다. 이와 같은 조건으로 전기 도금을 행함으로써, 치밀한 동도금층을 형성할 수 있다. 한편, 여기에서 사용하는 도체 패턴의 형성에 사용되는 도금액은, 일반적으로 사용되고 있는 도금액이다. 또한, 본 발명에 있어서, 이 도체 패턴(18)을 형성하는 금속과 극박 도전성 금속층(12)을 형성하는 금속은, 동일하거나 상이해도 무방하다.Such conductor pattern 18 is formed by electroplating. That is, using the ultrathin conductive metal layer 12 as one electrode, the conductive metal is deposited on the surface of the ultrathin conductive metal layer 12 by electroplating. The electroplating conditions at this time are, for example, when the conductor pattern 18 is formed of copper, the plating current density of 0.5 to 8 A / dm 2, the copper ion concentration of 10 to 100 g / liter in the plating solution, and the plating temperature of 20 to 20 It is preferable to set it as 60 degreeC and plating time 6 to 80 minutes. By electroplating on such conditions, a dense copper plating layer can be formed. In addition, the plating liquid used for formation of the conductor pattern used here is the plating liquid generally used. In addition, in this invention, the metal which forms this conductor pattern 18 and the metal which forms the ultra-thin conductive metal layer 12 may be same or different.

상기와 같이 하여 도체 패턴(18)을 형성한 후, 도 1의 (e)에 도시하는 바와 같이, 도체 패턴(18)의 표면에 노듈(20)을 형성한다. 노듈(20)은, 통상적으로는 O.1 내지 15㎛의 높이를 갖는 수지상의 금속 도금으로서, 상기의 도체 패턴(18)의 제조와 마찬가지로 전기 도금에 의해 형성할 수 있다. 이 노듈(20)은 도체 패턴(18)을 강고하게 고정하기 위한 것으로서, 상기 도체 패턴(18)을 형성하는 금속과 동일한 것을 특별히 필요로 하는 것은 아니지만, 노듈(20)과 도체 패턴(18)을 일체적으로 형성하기 위해서는 동일한 금속으로 형성하는 것이 바람직하다. 예를 들면, 도체 패턴을 구리 혹은 구리합금으로 형성하였을 경우에는, 이 노듈(20)도 구리 혹은 구리합금으로 형성하는 것이 바람직하다.After the conductor pattern 18 is formed as described above, the nodule 20 is formed on the surface of the conductor pattern 18 as shown in Fig. 1E. The nodule 20 is usually a dendritic metal plating having a height of 0.1 to 15 µm, and can be formed by electroplating in the same manner as in the production of the conductor pattern 18 described above. The nodule 20 is for firmly fixing the conductor pattern 18. The nodule 20 is not particularly required to be the same as the metal forming the conductor pattern 18. However, the nodule 20 and the conductor pattern 18 may not be required. In order to form integrally, it is preferable to form with the same metal. For example, when the conductor pattern is formed of copper or a copper alloy, it is preferable that the nodule 20 also be formed of copper or a copper alloy.

이 노듈(20)을 구리 혹은 구리합금으로 형성하는 경우의 도금 조건은, 도금 전류 밀도 3 내지 30A/d㎡, 도금액 중의 구리 이온 농도 1 내지 50g/리터, 도금 온도 20 내지 60℃, 도금 시간 5 내지 600시간, 바람직하게는 5 내지 480초간으로 하는 것이 바람직하다.Plating conditions in the case of forming this nodule 20 from copper or a copper alloy include a plating current density of 3 to 30 A / dm 2, a copper ion concentration of 1 to 50 g / liter in a plating solution, a plating temperature of 20 to 60 ° C., and a plating time of 5 To 600 hours, preferably 5 to 480 seconds.

노듈(20)을 구리 혹은 구리합금으로 형성하는 경우에 사용되는 동도금욕으로 서는, 황산 동도금욕, 필로린산 동도금욕 등이 매우 적합하다.As a copper plating bath used when the nodule 20 is formed of copper or a copper alloy, a copper sulfate bath, copper chloride copper plating bath and the like are very suitable.

상기와 같이 하여 전기 도금을 행함으로써, 구리가 수지상으로 석출되어 노듈(20)을 형성한다. 이 노듈(20)의 높이는 도체 패턴(18)을 접착제층(22) 내에 고정하는 것으로서, 통상적으로는 0.1 내지 15㎛, 바람직하게는 1 내지 10㎛의 범위 내에 있다. 이렇게 하여 형성된 노듈(20)은 다음 공정에서 접착되는 기재 필름의 접착제층 중에 침입하여 도체 패턴을 접착제층에 강고하게 고정하는 것이다.By electroplating as mentioned above, copper precipitates in resin form and the nodule 20 is formed. The height of this nodule 20 is to fix the conductor pattern 18 in the adhesive layer 22, and is usually in the range of 0.1 to 15 mu m, preferably 1 to 10 mu m. The nodule 20 thus formed penetrates into the adhesive layer of the base film to be bonded in the next step and firmly fixes the conductor pattern to the adhesive layer.

이와 같이 하여 노듈(20)을 형성한 후, 필요에 따라 형성된 노듈에 돌기 형성 도금 및 피복 도금을 행할 수도 있다. 돌기 형성 도금은 형성된 노듈(20)에 미세한 입자 형상의 금속을 석출시키는 도금 방법이고, 피복 도금은 이렇게 하여 돌기 도금에 의해 석출된 미세한 입자 형상 금속을 피복 고정하는 도금 방법이다.After forming the nodule 20 in this manner, protrusion forming plating and coating plating may be performed on the nodule formed as needed. Protrusion forming plating is a plating method of depositing a fine particle metal in the formed nodule 20, and coating plating is a plating method of coating and fixing the fine particle metal deposited in this way by projection plating.

상기와 같이 하여 노듈(20)을 형성한 후, 절연 필름(24)과 접착제층(22)을 갖는 기재 필름(30)을 접착하고, 접착제층(22) 내부에 상기와 같이 하여 형성한 노듈(20)을 침입시킨다.After forming the nodule 20 as described above, the nodule formed by bonding the insulating film 24 and the base film 30 having the adhesive layer 22 to the inside of the adhesive layer 22 as described above ( Invade 20).

도 1의 (f)에는, 노듈(20)이 형성된 면에 절연 필름(24) 및 이 절연 필름(24)의 표면에 접착제층(22)이 형성된 기재 필름(30)이 접착된 상태의 단면이 도시되어 있다. 여기에서 접착하는 기재 필름(30)은, 절연 필름(24)과 접착제층(22)을 갖고 있으며, 절연 필름(24)을 형성하는 수지 소재의 예로서는 폴리이미드, 폴리이미드 아미드, 폴리에스테르, 폴리페닐렌 설파이드, 폴리에테르 이미드, 불소 수지, 액정 폴리머, 에폭시 수지, 유리-에폭시 수지 복합체 등을 들 수 있다. 이러한 절연 필름(24)의 두께에는 특별히 제한은 없고, 판상이거나 가요성의 필름 형상 이라도 무방하다.In FIG. 1F, the cross section in which the insulating film 24 and the base film 30 having the adhesive layer 22 formed on the surface of the insulating film 24 are bonded to the surface on which the nodule 20 is formed is shown. Is shown. The base film 30 adhere | attached here has the insulating film 24 and the adhesive bond layer 22, As an example of the resin material which forms the insulating film 24, polyimide, polyimide amide, polyester, polyphenyl Lene sulfide, polyether imide, fluororesin, liquid crystal polymer, epoxy resin, glass-epoxy resin composite, and the like. There is no restriction | limiting in particular in the thickness of this insulating film 24, A plate-like or flexible film form may be sufficient.

이 기재 필름(30)이 판상인 경우에는, 예를 들면 에폭시 수지, 유리-에폭시 수지 복합체 등을 이용하여 판상의 기판을 형성할 수 있다.When this base film 30 is plate-shaped, a plate-shaped board | substrate can be formed using an epoxy resin, a glass-epoxy resin composite, etc., for example.

또한, 기재 필름(30)이 가요성을 갖는 필름 형상인 경우에는, 상기와 같은 수지로부터 필름을 형성하여 사용할 수 있다. 이때의 필름의 두께는 사용하는 수지에 따라 상이하지만, 통상적으로는 70㎛ 이하, 바람직하게는 5 내지 70㎛의 범위 내에 있다. 특히 본 발명에서는 폴리이미드 필름을 사용하는 것이 바람직하고, 이때에 사용되는 폴리이미드 필름은 통상적으로는 5 내지 70㎛, 바람직하게는 3 내지 70㎛, 특히 바람직하게는 30 내지 45㎛의 범위 내의 두께를 갖고 있다.In addition, when the base film 30 is a film shape which has flexibility, it can form and use a film from the above resin. Although the thickness of the film at this time changes with resin used, it is usually 70 micrometers or less, Preferably it exists in the range of 5-70 micrometers. Especially in this invention, it is preferable to use a polyimide film, and the polyimide film used at this time is 5-70 micrometers normally, Preferably it is 3-70 micrometers, Especially preferably, the thickness in the range of 30-45 micrometers Have

이 절연 필름(24)은, 단층이거나 또는 복수의 층이 적층된 적층체라도 된다. 또한, 이 절연 필름(24)이 복수의 층이 적층된 적층체인 경우, 복수의 층이 접착제 성분으로 적층되어 있어, 필요에 의해 적층된 최외층(도체 패턴이 형성되어 있지 않은 쪽의 최외층)을 박리하여 사용할 수도 있다. 이 경우에, 박리를 용이하게 하기 위해, 접착제에 의해 적층되는 절연 필름의 표면에 이형제로 이루어지는 층을 개재시켜, 절연 필름 본체/이형층/접착제/보강용 필름과 같은 복수의 층 구성을 갖는 절연 필름(24)을 이용할 수 있다.This insulating film 24 may be a single layer or a laminate in which a plurality of layers are laminated. In addition, when this insulating film 24 is a laminated body in which several layers were laminated | stacked, several layers are laminated | stacked by the adhesive agent component, and the outermost layer (the outermost layer in which the conductor pattern is not formed) laminated as needed. It can also peel and use it. In this case, in order to make peeling easy, the insulation which has a several layer structure like the insulation film main body / mold release layer / adhesive / reinforcement film is interposed through the layer which consists of a mold release agent on the surface of the insulation film laminated by an adhesive agent. The film 24 can be used.

이와 같이 보강용 필름을 박리하면, 접착제는 보강용 필름과 함께 박리되지만, 대부분의 경우, 규소 화합물 혹은 규소 수지로 이루어지는 이형층은 절연 필름 본체의 이면에 전사되어 절연 필름 본체측에 잔존하는 경우가 많다. 이와 같이 이형층을 잔존시킴으로써 본딩툴의 표면에 기재 필름 형성 성분이 융착하는 것을 방 지할 수 있다.When the reinforcing film is peeled off in this manner, the adhesive is peeled off together with the reinforcing film, but in most cases, the release layer made of a silicon compound or a silicon resin is transferred to the back surface of the insulating film main body and remains on the insulating film main body side. many. Thus, by leaving a mold release layer, the base film formation component can be prevented from fusion | melting on the surface of a bonding tool.

본 발명에서 사용하는 기재 필름(30)을 형성하는 접착제층(22)은, 전공정에서 형성한 노듈(20)을 침입시켜 도체 패턴(18)을 고정하는 것으로서, 이 때문에 기재 필름(30)에 형성되는 접착제층(22)은 노듈(20)의 높이를 참조하여 그 두께가 결정된다. 전술한 바와 같이 노듈(20)의 높이는, 통상적으로는 O.1 내지 15㎛, 바람직하게는 1 내지 10㎛의 범위 내에 있는 것으로부터, 접착제층(22)의 두께는 이 노듈의 높이와 동등하거나 또는 그 이상인 것이 바람직하고, 통상적으로는 1 내지 24㎛, 바람직하게는 2 내지 15㎛의 두께를 갖고 있다.The adhesive bond layer 22 which forms the base film 30 used by this invention penetrates the nodule 20 formed in the previous process, and fixes the conductor pattern 18, for this reason, The thickness of the adhesive layer 22 formed is determined by referring to the height of the nodule 20. As described above, since the height of the nodule 20 is usually in the range of 0.1 to 15 μm, preferably 1 to 10 μm, the thickness of the adhesive layer 22 is equal to the height of this nodule or Or more, it is preferable, and it has a thickness of 1-24 micrometers normally, Preferably it is 2-15 micrometers.

본 발명에 있어서, 이 기재 필름(30)을 구성하는 접착제층은 열경화성 접착제를 사용하는 것이 바람직하다. 이러한 열경화성 접착제로서는, 에폭시 수지계의 접착제, 폴리이미드계의 접착제, 아크릴계의 접착제, 우레탄계의 접착제 등을 들 수 있다. 특히 본 발명에서는 에폭시계의 접착제, 및/또는 폴리이미드계의 접착제를 사용하는 것이 바람직하다. 즉, 에폭시계의 접착제 및 폴리이미드계의 접착제는, 경화하기 전의 전구체 상태에서는 가열함으로써 노듈(20)이 침입할 정도로 연화되지만, 노듈(20)이 침입한 후 더 가열함으로써 이들 접착제가 경화되어 견고한 접착제의 경화체를 형성한다. 이러한 접착제의 경화체는, 양호한 내산성을 나타낼 뿐만 아니라, 후공정에서 가열하여도 연화되지 않고 노듈(20)의 엥커 효과에 의해 도체 패턴(18)을 강고하게 유지한다.In this invention, it is preferable that the adhesive layer which comprises this base film 30 uses a thermosetting adhesive agent. As such a thermosetting adhesive agent, an epoxy resin adhesive, a polyimide adhesive, an acrylic adhesive, a urethane adhesive, etc. are mentioned. In particular, in the present invention, it is preferable to use an epoxy adhesive and / or a polyimide adhesive. That is, the epoxy adhesive and the polyimide adhesive soften to the extent that the nodule 20 penetrates by heating in the precursor state before curing, but the adhesive is cured by further heating after the nodule 20 penetrates and is firm. The cured body of the adhesive is formed. The cured product of such an adhesive not only exhibits good acid resistance, but also softens even when heated in a later step, and firmly holds the conductor pattern 18 by the anchor effect of the nodule 20.

상기와 같은 기재 필름(30)을 노듈(20)이 형성된 지지 기재에 접착하려면, 기재 필름(30)의 접착제층(22)과 노듈(20)이 형성된 면이 대면하도록 기재 필 름(30)을 배치하고, 통상적으로는 가열하에서 가압하여 적층한다. 이와 같이 가열함으로써, 접착제층(22)은 연화되어 노듈(20)이 접착제층(22) 내에 침입하기 쉬워지며, 더 가압함으로써, 연화된 접착제층(22) 중에 노듈이 침입한다. 또한, 가열함으로써, 노듈(20)이 침입한 상태에서 접착제층(22)을 형성하는 접착제의 적어도 일부가 경화된다.In order to adhere the base film 30 as described above to the supporting substrate on which the nodule 20 is formed, the base film 30 is placed so that the surface on which the adhesive layer 22 of the base film 30 and the nodule 20 are formed faces each other. It arrange | positions and usually pressurizes under heating, and lamination | stacking. By heating in this way, the adhesive bond layer 22 softens, and the nodule 20 easily penetrates into the adhesive bond layer 22, and by further pressurizing, the nodule infiltrates the softened adhesive bond layer 22. Moreover, at least one part of the adhesive agent which forms the adhesive bond layer 22 in the state which the nodule 20 penetrated is hardened by heating.

한편, 접착제층(22)의 연화에 필요로 하는 온도는, 통상적으로는 100 내지 200℃이며, 이러한 접착제층(22)에 노듈(20)을 침입시키는데 필요로 하는 압력은, 선압(線壓)으로 O.5 내지 4.Okg/㎝의 범위 내에 있다. 한편, 접착제층(22)을 보다 확실히 경화시키기 위해 상기와 같이 하여 기재 필름을 접착한 후, 100 내지 300℃ 범위 내의 온도로 조정된 가열고에서 보존할 수도 있다.In addition, the temperature required for softening of the adhesive bond layer 22 is 100-200 degreeC normally, and the pressure required to intrude the nodule 20 into this adhesive bond layer 22 is linear pressure. In the range of 0.5 to 4.Okg / cm. On the other hand, in order to cure the adhesive bond layer 22 more reliably, after sticking a base film as mentioned above, it can also be preserve | saved in the heating furnace adjusted to the temperature within 100-300 degreeC range.

상기와 같이 하여 적층된 적층체는 도 1의 (f)에 도시하는 바와 같이, 지지 기재(10)/극박 도전성 금속층(12)/감광성 수지 경화체(14)·도체 패턴(18)(노듈(20) 부착)/접착제층(22)/기재 필름(24)의 층 구성을 갖고 있다.The laminated body laminated | stacked as mentioned above is a support base material 10 / ultra-thin conductive metal layer 12 / photosensitive resin hardened | cured material 14, conductor pattern 18 (nodule 20, as shown to FIG. 1 (f)). ), The adhesive layer 22, and the base film 24 has a laminated constitution.

본 발명의 배선 기판의 제조 방법에서는, 상기와 같이 하여 형성한 적층체로부터 지지 기재(10)를 박리한다. 도 1의 (g)에 지지 기재(10)가 박리된 단면도가 도시되어 있으며, 지지 기재(10)가 박리됨으로써 한 면에 극박 도전성 금속층(12)이 노출된다.In the manufacturing method of the wiring board of this invention, the support base material 10 is peeled from the laminated body formed as mentioned above. A cross-sectional view in which the support base material 10 is peeled off is shown in FIG. 1G, and the ultrathin conductive metal layer 12 is exposed on one surface by peeling off the support base material 10.

본 발명에서는, 이 극박 도전성 금속층(12)을 제거하기 위해, 도 1의 (g)에서 도시되는 적층체를 에칭하여 극박 도전성 금속층(12)을 용해 제거한다.In this invention, in order to remove this ultra-thin conductive metal layer 12, the laminated body shown by FIG.1 (g) is etched and the ultra-thin conductive metal layer 12 is dissolved and removed.

이 극박 도전성 금속층(12)은, 구리, 구리합금, 니켈 등으로 형성되어 있고, 또한 극박 도전성 금속층(12)은 매우 얇기 때문에, 일반적으로 사용되고 있는 에칭액을 이용하여 용이하게 제거할 수 있다. 도 1의 (h)에는, 극박 도전성 금속층(12)이 제거되어 도체 패턴(18)의 표면이 노출된 상태가 도시되어 있다. 이와 같이 극박 도전성 금속층(12)을 제거함으로써, 도체 패턴(18)은 각각이 전기적으로 독립한 상태가 된다.Since the ultra-thin conductive metal layer 12 is made of copper, a copper alloy, nickel, etc., and the ultra-thin conductive metal layer 12 is very thin, it can be easily removed using the etching liquid generally used. In FIG. 1H, the ultra-thin conductive metal layer 12 is removed to expose the surface of the conductor pattern 18. By removing the ultra-thin conductive metal layer 12 in this manner, the conductor patterns 18 are in an electrically independent state.

한편, 본 발명에 있어서, 기재 필름(30)의 도체 패턴(18)이 형성되어 있지 않은 면에는 규소 화합물 등의 이형제 수지로 이루어지는 층이 배치되어 있는 것이 바람직하다. 전자 부품을 실장할 때에 이러한 층이 있으면, 본딩툴 기재 필름 형성 성분의 융착을 방지할 수 있다.In addition, in this invention, it is preferable that the layer which consists of mold release agent resins, such as a silicon compound, is arrange | positioned at the surface in which the conductor pattern 18 of the base film 30 is not formed. If such a layer is present when mounting the electronic component, fusion of the bonding tool base film forming component can be prevented.

이와 같이 하여 극박 도전성 금속층(12)을 제거한 후, 도체 패턴(18)간에 있는 감광성 수지의 경화체(14)를 제거하여 도체 패턴(18)을 독립시킨다. 감광성 수지의 경화체(14)는 여러 가지의 방법으로 제거할 수 있지만, 용매를 이용하여 용출 하는 방법, 혹은 알칼리 세정액을 이용하여 박리 제거하는 방법이 유리하다. 여기에서 사용하는 유기 용매는, 기재 필름(30)을 구성하는 절연 필름(24) 및 접착제층(22)을 침범하지 않는 유기 용매를 사용할 수 있다. 또한, 감광성 수지의 경화체(14)는, 통상적으로는 알칼리 세정액을 이용하면 용이하게 박리되므로, 알칼리 세정액을 이용하여 제거하는 방법이 가장 현실적이고 또한 저비용으로 매우 유리하2다.After removing the ultra-thin conductive metal layer 12 in this manner, the cured body 14 of the photosensitive resin between the conductor patterns 18 is removed to make the conductor pattern 18 independent. Although the hardened | cured material 14 of the photosensitive resin can be removed by various methods, the method of eluting using a solvent or the method of peeling and removing using an alkaline washing liquid are advantageous. As an organic solvent used here, the organic solvent which does not invade the insulating film 24 and the adhesive bond layer 22 which comprise the base film 30 can be used. In addition, since the hardened | cured material 14 of the photosensitive resin is normally peeled easily using an alkaline washing liquid, the removal method using an alkaline washing liquid is the most realistic and very advantageous at low cost.

상기와 같이 하여 감광성 수지의 경화체(14)를 제거하여 도체 패턴이 독립된 상태의 배선 기판의 단면을 도 1의 (i)에 도시한다.The cross section of the wiring board in the state which removed the hardened | cured material 14 of the photosensitive resin and independent of a conductor pattern as shown above is shown to FIG. 1 (i).

본 발명의 방법에서는, 도 1의 (f) 단계로부터 지지 기재(10)를 박리할 때에 극박 도전성 금속층(12)을 지지 기재(10)와 함께 박리하여도 된다. 극박 도전성 금속층(12)은, 지지 기재(10)의 표면에 스퍼터링 등의 방법에 의해 형성되고 있는데, 이때의 지지 기재(10)에 대한 극박 도전성 금속층(12)의 밀착성이 높아지지 않도록 스퍼터링 조건 등을 바꾸거나, 혹은 극박 도전성 금속층(12)의 형성 조건을 바꿈으로써, 지지 기재(10)에 대해 극박 도전성 금속층(12)의 밀착성을 높일 수 있다. 이와 같이 극박 도전성 금속층(12)을 지지 기재(10)의 표면에 강고하게 접합시킴으로써, 지지 기재(10)를 박리하면 이 지지 기재(10)와 함께 극박 도전성 금속층(12)도 박리되어, 도 1의 (g) 상태를 통하지 않고 도 2의 (h')에서 도시하는 상태가 된다. 이와 같이 지지 기재(10)의 박리시에 극박 도전성 금속층(12)이 모두 박리되는 경우에는, 극박 도전성 금속층(12)을 제거하기 위한 에칭 공정을 생략하여도 도 2의 (i')에 나타내는 배선 기판을 제조할 수 있다.In the method of this invention, when peeling the support base material 10 from FIG.1 (f), you may peel the ultra-thin conductive metal layer 12 with the support base material 10. FIG. The ultra-thin conductive metal layer 12 is formed on the surface of the support base material 10 by sputtering or the like, but the sputtering conditions and the like do not increase the adhesion of the ultra-thin conductive metal layer 12 to the support base material 10 at this time. The adhesiveness of the ultra-thin conductive metal layer 12 with respect to the support base material 10 can be improved by changing the or the conditions for forming the ultra-thin conductive metal layer 12. Thus, when the ultra-thin conductive metal layer 12 is firmly bonded to the surface of the support base material 10, when the support base material 10 is peeled off, the ultra-thin conductive metal layer 12 also peels together with this support base material 10, FIG. It will be in the state shown by (h ') of FIG. 2, not through (g) state of (b). Thus, when all the ultra-thin conductive metal layers 12 are peeled at the time of peeling of the support base material 10, even if the etching process for removing the ultra-thin conductive metal layer 12 is abbreviate | omitted, the wiring shown to (i ') of FIG. Substrates can be prepared.

또한, 도 1의 (f)에 있어서, 접착제층(22) 및 절연 필름(24)으로 이루어지는 기재 필름(30)을 접착하는 대신에, 도 3의 (f")에 도시하는 바와 같이, 접착제층(32)을 두껍게 바르고 이 접착제층(32)을 경화시킴으로써 도 3의 (i")에 도시하는 바와 같이, 절연 필름으로 할 수 있다. 이 형태에서는 접착제층(32)의 경화체를 접착제층으로서 사용함과 동시에 절연 필름으로서도 사용하고 있어, 전술의 배선 기판보다 층 구성이 한층 적은 배선 기판으로 할 수 있다. 이러한 접착제층(32)을 형성하는 수지로서는, 예를 들면, 폴리이미드의 전구체 등을 이용할 수 있다.In addition, instead of adhering the base film 30 which consists of the adhesive bond layer 22 and the insulating film 24 in FIG.1 (f), as shown to FIG.3 (f "), an adhesive bond layer By thickening (32) and hardening this adhesive bond layer 32, it can be set as an insulating film as shown to (i ") of FIG. In this form, the hardened | cured material of the adhesive bond layer 32 is used as an adhesive bond layer, and it is also used as an insulation film, and it can be set as the wiring board which has a layer structure much smaller than the wiring board mentioned above. As resin which forms such an adhesive bond layer 32, the precursor of a polyimide, etc. can be used, for example.

상기와 같이 하여 형성된 본 발명의 배선 기판에 있어서는, 도 1의 (i), 도 2의 (i'), 도 3의 (i")에 도시하는 바와 같이 도체 패턴(18)이 기재 필름(30) 혹은 기재 필름(30)과 동등하게 작용하는 접착제층(32)의 경화체의 표면으로부터, 대략 직각으로 형성되고 있어 형성되는 도체 패턴이 언더 컷하지 않는다.In the wiring board of this invention formed as mentioned above, as shown to FIG. 1 (i), FIG. 2 (i '), and FIG. 3 (i "), the conductor pattern 18 is a base film 30 ) Or the conductor pattern formed from the surface of the hardened | cured material of the adhesive bond layer 32 which acts equivalently to the base film 30 at substantially right angle, does not undercut.

따라서, 본 발명의 방법에 따르면, 형성되는 도체 패턴의 구형도(矩形度)가 높고, 언더 컷에 의한 도체 패턴간 스페이스(26)의 좁아짐을 고려할 필요가 없기 때문에, 도체 패턴간에 여분의 스페이스를 확보할 필요가 없다. 또한, 본 발명에서는 감광성 수지를 노광하여 도체 패턴을 형성할 공간을 형성하고, 이 공간에 도전성 금속을 석출시켜 도체 패턴을 형성하고 있어, 감광성 수지의 노광 정밀도가 매우 높고 또한 도체 패턴이 감광성 수지의 경화체에 의해 형성된 공간에 금속이 석출됨으로써 형성되기 때문에, 감광성 수지의 노광은 노광에 이용하는 빛의 파장까지 세밀하게 형성하는 것이 가능하고, 이 점과, 감광성 수지가 지지 기재에 대해 대략 직각의 공간을 형성하는 것이 가능한 점으로부터, 종래의 방법에서는 제조할 수 없었던 선 폭이 1㎛를 크게 밑도는 매우 미세한 도체 패턴을 형성하는 것이 가능하게 된다.Therefore, according to the method of the present invention, since the sphericity of the conductor pattern to be formed is high, and it is not necessary to consider the narrowing of the space 26 between the conductor patterns due to the undercut, an extra space is provided between the conductor patterns. There is no need to secure it. Furthermore, in the present invention, a photosensitive resin is exposed to form a space for forming a conductor pattern, and a conductive metal is deposited in this space to form a conductor pattern. The exposure accuracy of the photosensitive resin is very high, and the conductor pattern is formed of the photosensitive resin. Since it forms by depositing a metal in the space formed by hardened | cured material, exposure of the photosensitive resin can be formed to the wavelength of the light used for exposure finely, and this point and the photosensitive resin make the space substantially perpendicular to a support base material. Since it can be formed, it becomes possible to form the very fine conductor pattern whose line | wire width which was not able to manufacture by the conventional method is much less than 1 micrometer.

게다가 이렇게 하여 형성된 도체 패턴(18)은, 노듈(20)의 엥커 효과에 의해 접착제층에 강고하게 고착되고 있으므로, 도체 패턴(18)이 매우 높은 필 강도를 가진다.Furthermore, since the conductor pattern 18 thus formed is firmly fixed to the adhesive layer by the anchor effect of the nodule 20, the conductor pattern 18 has a very high peel strength.

또한, 본 발명의 방법에 의해 얻어지는 배선 기판은, 기재 필름 표면에 도체 패턴이 볼록 형상으로 형성되어 있어, 종래의 프린트 배선 기판과 같이 이방 도전 접착제를 이용한 전자 장치에 장착하는 것이 가능해진다.Moreover, in the wiring board obtained by the method of this invention, the conductor pattern is formed in convex shape on the base film surface, and it can be attached to the electronic device using an anisotropic conductive adhesive like a conventional printed wiring board.

[실시예]EXAMPLE

다음으로 본 발명의 배선 기판의 제조 방법 및 이 방법에 의해 제조되는 배선 기판에 대해 실시예를 기술하여 본 발명을 더 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이들에 의해 한정되어서는 안 된다.Next, although an Example is described about the manufacturing method of the wiring board of this invention, and the wiring board manufactured by this method, this invention is demonstrated in detail, but this invention should not be limited by these.

[제1 실시예][First Embodiment]

지지 기재로서 두께 38㎛의 폴리이미드 필름 사용하여, 이 지지 기재인 폴리이미드 필름의 한쪽 표면에 스퍼터링에 의해 평균 두께 0.1㎛의 극박동층을 형성하였다.A polyimide film having a thickness of 38 µm was used as the supporting substrate, and an ultrathin layer having an average thickness of 0.1 µm was formed on one surface of the polyimide film that is the supporting substrate by sputtering.

계속해서, 이 극박동층의 표면에 감광성 수지층(평균 건조 두께: 13㎛)을 형성하고, 이 감광성 수지층을 노광·현상함으로써 소정 패턴을 형성하였다. 이렇게 하여 형성된 패턴의 감광성 수지층이 제거된 부분의 바닥부에는 상기 극박동층이 노출되어 있었다.Subsequently, the photosensitive resin layer (average dry thickness: 13 micrometers) was formed in the surface of this ultra-thin copper layer, and the predetermined pattern was formed by exposing and developing this photosensitive resin layer. The ultra-thin layer was exposed at the bottom of the portion where the photosensitive resin layer of the pattern thus formed was removed.

계속해서, 상기와 같이 패턴이 형성된 적층체를 시판하는 황산 동도금욕(구리 농도: 24g/리터)에 넣어 도금 전류 밀도 2.0A/d㎡, 도금 온도 300℃, 도금 시간 20분간의 조건으로 전기 동도금을 행하여, 감광성 수지가 형성되어 있지 않은 부분에 평균 두께 8㎛의 두께로 동을 석출시켜 도체 패턴을 형성하였다. 한편, 석출한 구리의 두께는, 감광성 수지층의 두께 13㎛보다 5㎛만큼 얇게 형성하였다.Subsequently, it puts into the commercially available copper sulfate plating bath (copper concentration: 24 g / liter) of the laminated body in which the pattern was formed as mentioned above, and electroplated by the conditions of plating current density 2.0A / dm <2>, plating temperature 300 degreeC, and plating time 20 minutes. Was carried out to deposit copper with a thickness of 8 占 퐉 on average in a portion where the photosensitive resin was not formed to form a conductor pattern. On the other hand, the thickness of the copper which precipitated was formed thinner by 5 micrometers than 13 micrometers in thickness of the photosensitive resin layer.

다음으로 얻어진 적층체를 황산 동도금욕(구리 농도: 8g/리터)에 넣어 도금 전류 밀도 1A/d㎡, 도금 온도 30℃, 도금 시간 480초간의 조건으로 전기 동도금을 행하여, 도체 패턴의 표면에 평균 높이 3㎛의 노듈을 형성하였다.Next, the obtained laminate was placed in a copper sulfate plating bath (copper concentration: 8 g / liter) and subjected to electrocopper plating under conditions of a plating current density of 1 A / dm 2, a plating temperature of 30 ° C., and a plating time of 480 seconds, and averaged on the surface of the conductor pattern. The nodule of 3 micrometers in height was formed.

계속해서, 이 노듈이 형성되어 있는 면에 기재 필름을 접착하였다. 이 기재 필름은, 두께 38㎛의 폴리이미드 필름과 이 폴리이미드 필름의 한쪽 면에 형성된 두께 8㎛의 에폭시계 접착제층을 갖고 있어, 가열함으로써 에폭시계 접착제가 연화되어 상기한 도체 패턴의 표면에 형성된 노듈이 에폭시계 접착제층 내에 침입 가능할 정도로 연화된다. 한편, 접착제층이 형성되어 있는 면과는 반대 면에 극히 얇은 규소 수지층이 형성되어 있다.Subsequently, the base film was adhere | attached on the surface in which this nodule is formed. This base film has a 38-micrometer-thick polyimide film and an 8-micrometer-thick epoxy adhesive layer formed in one side of this polyimide film, and the epoxy-based adhesive softens by heating and is formed in the surface of the said conductor pattern. The nodules are softened to such an extent that they penetrate into the epoxy-based adhesive layer. On the other hand, an extremely thin silicon resin layer is formed on the surface opposite to the surface on which the adhesive layer is formed.

이 에폭시계 점착제층과 노듈이 형성된 면이 대면하도록 기재 필름을 배치하여 온도 150℃×선압 2.Okgf/㎝의 조건으로 압착하고, 또한 가압하에 160℃의 온도에서 5시간 유지하였다.The base film was arrange | positioned so that the surface in which this epoxy pressure-sensitive adhesive layer and the nodule were formed may be faced and crimped under the conditions of a temperature of 150 ° C. × line pressure 2.Okgf / cm, and the mixture was maintained at 160 ° C. for 5 hours under pressure.

상기와 같이 하여 접착제층을 경화시킨 후 지지 기재를 박리함으로써, 이 박리면에 극박동층을 노출시켰다.After hardening an adhesive bond layer as mentioned above, the support base material was peeled off, and the ultra-thin layer was exposed to this peeling surface.

이 적층체를, 구리 에칭액을 이용하여 극박동층을 에칭하여 도체 패턴을 노출시켰다.This laminated body was etched by the ultra-thin layer using the copper etching liquid, and the conductor pattern was exposed.

계속해서, 알칼리 세정액을 이용하여 세정함으로써 감광성 수지의 경화체를 박리하여 도체 패턴을 독립시켰다.Subsequently, it wash | cleaned using alkali washing liquid, the hardened | cured material of the photosensitive resin was peeled off, and the conductor pattern was independent.

상기와 같이 하여 형성된 도체 패턴의 필 강도를 측정한 결과, 이 필 강도는 1.4kgf/㎝였다. 노듈을 형성하지 않는 이외에는 마찬가지로 하여 형성한 배선 기판의 도체 패턴의 필 강도가 O.33kgf/㎝였던 것과 대비하면, 본 발명에 의해 얻어진 배선 기판에서의 도체 패턴의 필 강도가 현저하게 높은 것을 알 수 있다. 또한 폴리이미드 필름 표면에 동박을 배치하고, 이 동박을 선택적으로 에칭하여 얻어지는 프린트 배선판에서의 배선 패턴의 필 강도는, 통상적으로는 1.0 내지 2.5kgf/㎝ 정도이며, 본 발명의 방법에 따르면, 이것과 동등 혹은 그 이상의 필 강도의 도체 패턴을 갖는 배선 기판을 제조할 수 있다.The peel strength of the conductor pattern formed as mentioned above was measured, and this peel strength was 1.4 kgf / cm. The peel strength of the conductor pattern in the wiring board obtained by the present invention was remarkably high, in contrast to the fact that the peeling strength of the conductor pattern of the wiring board formed in the same manner except that no nodule was formed was 0.33 kgf / cm. have. Moreover, the peeling strength of the wiring pattern in the printed wiring board obtained by arrange | positioning copper foil on the polyimide film surface and selectively etching this copper foil is about 1.0-2.5 kgf / cm normally, According to the method of this invention, The wiring board which has a conductor pattern of the peeling strength equivalent to or more than can be manufactured.

또한, 전술한 바와 같이 본 발명의 방법에서 형성되고 있는 도체 패턴은, 절연 필름의 표면으로부터 볼록 형상으로 튀어나와 형성되어 있다. 따라서, 상기와 같이 하여 얻어진 배선 패턴을 이용하여 이방 도전 접착을 행한 결과, 가압 방향으로 양호한 전기적 도통을 확보할 수 있고 또한 폭 방향에서의 절연성도 양호하였다.Moreover, as mentioned above, the conductor pattern formed by the method of this invention protrudes in convex shape from the surface of an insulating film, and is formed. Therefore, as a result of anisotropic conductive bonding using the wiring pattern obtained as described above, good electrical conduction was ensured in the pressing direction, and the insulation in the width direction was also good.

[제2 실시예]Second Embodiment

제1 실시예에 있어서, 지지 기재에 대한 스퍼터링 조건을 바꿈으로써 스퍼터링 금속과 지지 기재의 밀착성을 높게 한 이외에는 마찬가지로 조작하였다.In Example 1, it operated similarly except changing adhesiveness of a sputtering metal and a support base material by changing the sputtering conditions with respect to a support base material.

노듈 형성 후, 기재 필름을 접착한 후 지지 기재를 박리한 결과, 극박 동박층이 지지 기재와 함께 박리되었다. 따라서, 지지 기재를 박리함으로써 극박동층도 박리되고 그 박리면에 도체 패턴이 노출되었으므로, 극박동층을 제거하기 위한 에칭 공정의 실시를 생략하였다.After the nodule was formed, the supporting substrate was peeled off after the base film was bonded. As a result, the ultrathin copper foil layer was peeled off together with the supporting substrate. Therefore, since the ultra-thin layer was also peeled by exfoliating the support base material and the conductor pattern was exposed on the peeling surface, the implementation of the etching step for removing the ultra-thin layer was omitted.

계속해서, 알칼리 세정액을 이용하여 세정함으로써 감광성 수지의 경화체를 박리하여 도체 패턴을 독립시켰다.Subsequently, it wash | cleaned using alkali washing liquid, the hardened | cured material of the photosensitive resin was peeled off, and the conductor pattern was independent.

상기와 같이 하여 형성된 도체 패턴의 필 강도를 측정한 결과, 이 필 강도는 1.4kgf/㎝였다. 노듈을 형성하지 않는 이외에는 마찬가지로 하여 형성한 배선 기판의 도체 패턴의 필 강도가 O.33kgf/㎝였던 것과 대비하면, 본 발명에 의해 얻어진 배선 기판에서의 도체 패턴의 필 강도가 현저하게 높은 것을 알 수 있다. 또한 폴리이미드 필름 표면에 동박을 배치하고, 이 동박을 선택적으로 에칭하여 얻어지는 프린트 배선판에서의 배선 패턴의 필 강도는, 통상적으로는 1.0 내지 2.5kgf/㎝ 정도로서, 본 발명의 방법에 따르면, 이것과 동등 혹은 그 이상의 필 강도의 도체 패턴을 갖는 배선 기판을 제조할 수 있다.The peel strength of the conductor pattern formed as mentioned above was measured, and this peel strength was 1.4 kgf / cm. The peel strength of the conductor pattern in the wiring board obtained by the present invention was remarkably high, in contrast to the fact that the peeling strength of the conductor pattern of the wiring board formed in the same manner except that no nodule was formed was 0.33 kgf / cm. have. Moreover, the peeling strength of the wiring pattern in the printed wiring board obtained by arrange | positioning copper foil on the polyimide film surface and selectively etching this copper foil is about 1.0-2.5 kgf / cm normally, According to the method of this invention, The wiring board which has a conductor pattern of the equivalent or more peeling strength can be manufactured.

또한, 전술한 바와 같이 본 발명의 방법으로 형성되고 있는 도체 패턴은, 절연 필름의 표면으로부터 볼록 형상으로 튀어나와 형성되고 있다. 따라서, 상기와 같이 하여 얻어진 배선 패턴을 이용하여 이방 도전 접착을 행한 결과, 가압 방향으로 양호한 전기적 도통을 확보할 수 있고 또한 폭 방향에서의 절연성도 양호하였다.Moreover, as mentioned above, the conductor pattern formed by the method of this invention protrudes in convex shape from the surface of an insulating film, and is formed. Therefore, as a result of anisotropic conductive bonding using the wiring pattern obtained as described above, good electrical conduction was ensured in the pressing direction, and the insulation in the width direction was also good.

[산업상의 이용 가능성][Industry availability]

본 발명에 따르면, 전사법에 의해 매우 미세한 피치의 도체 패턴을 형성할 수 있다. 또한, 이 도체 패턴은, 전사법에 의해 형성되고 있음에도 불구하고, 기재 필름에 대해 높은 필 강도를 갖는다.According to the present invention, a very fine pitch conductor pattern can be formed by the transfer method. Moreover, although this conductor pattern is formed by the transfer method, it has high peel strength with respect to a base film.

또한, 도체 패턴이 기재 필름 표면으로부터 볼록 형상으로 형성되어 있는 것으로부터, 종래의 필름 캐리어 테이프와 마찬가지로 이방 도전 접착에 의해 전자 장치에 장착할 수 있다.Moreover, since a conductor pattern is formed in convex shape from the base film surface, it can be attached to an electronic device by anisotropic conductive adhesion similarly to the conventional film carrier tape.

또한, 본 발명의 방법에서는, 감광성 수지를 원하는 형상으로 노광·현상하여 형성된 오목부에 도금하여 도체 패턴을 형성하고, 이 도체 패턴의 표면에 노듈을 형성한 후 기재 필름에 도체 패턴을 전사하고 있으므로, 도체 패턴 단면의 측면 이 절연 필름의 표면에 대해 거의 직각으로 형성되고, 따라서 본 발명의 방법으로 제조된 배선 기판의 도체 패턴의 단면 형상은 직사각형으로 형성된다. 이와 같이 도체 패턴의 단면 형상이 직사각형으로서, 종래의 방법으로 제조한 배선 패턴에서와 같은 언더 컷 현상 등은 나타나지 않기 때문에, 매우 미세한 도체 패턴을 조밀하게 형성할 수 있다.In the method of the present invention, since the photosensitive resin is exposed and developed in a desired shape, the concave portion formed is plated to form a conductor pattern, and after the nodule is formed on the surface of the conductor pattern, the conductor pattern is transferred to the base film. The side surface of the cross section of the conductor pattern is formed almost perpendicular to the surface of the insulating film, so that the cross-sectional shape of the conductor pattern of the wiring board produced by the method of the present invention is formed into a rectangle. Thus, since the cross-sectional shape of a conductor pattern is rectangular, undercut phenomenon etc. like the wiring pattern manufactured by the conventional method do not appear, a very fine conductor pattern can be densely formed.

또한, 본 발명의 방법으로 얻어진 배선 기판은, 절연 필름 표면에 도체 패턴이 볼록 형상으로 돌출하여 형성되어 있기 때문에, 종래의 방법으로 제조한 프린트 배선 기판과 마찬가지로 이방 도전성 접착제를 이용하여 전자 장치에 장착할 수 있다.Moreover, since the wiring pattern obtained by the method of this invention protrudes in convex shape and is formed in the insulating film surface, it mounts to an electronic device using an anisotropic conductive adhesive similarly to the printed wiring board manufactured by the conventional method. can do.

본 발명에 따르면, 전사법에 의해 매우 미세한 피치의 도체 패턴을 형성할 수 있다. 또한, 이 도체 패턴은, 전사법에 의해 형성되고 있음에도 불구하고 기재 필름에 대해 높은 필 강도를 갖는다.According to the present invention, a very fine pitch conductor pattern can be formed by the transfer method. Moreover, this conductor pattern has a high peeling strength with respect to a base film, although it is formed by the transfer method.

또한, 본 발명의 방법에서는, 감광성 수지를 원하는 형상으로 노광·현상하여 형성된 오목부에 도금하여 도체 패턴을 형성하고, 이 도체 패턴의 표면에 노듈을 형성한 후 기재 필름에 도체 패턴을 전사하고 있으므로, 도체 패턴 단면의 측면이 절연 필름의 표면에 대해 거의 직각으로 형성되고, 따라서 본 발명의 방법으로 제조된 배선 기판의 도체 패턴의 단면 형상은 직사각형으로 형성된다. 이와 같이 도체 패턴의 단면 형상이 직사각형이며, 종래의 방법으로 제조한 배선 패턴에서와 같은 언더 컷 현상 등은 나타나지 않기 때문에, 매우 미세한 도체 패턴을 조밀하게 형성할 수 있다.In the method of the present invention, since the photosensitive resin is exposed and developed in a desired shape, the concave portion formed is plated to form a conductor pattern, and after the nodule is formed on the surface of the conductor pattern, the conductor pattern is transferred to the base film. , The side surface of the conductor pattern cross section is formed almost at right angles to the surface of the insulating film, so that the cross-sectional shape of the conductor pattern of the wiring board produced by the method of the present invention is formed into a rectangle. Thus, since the cross-sectional shape of a conductor pattern is rectangular and undercut phenomenon like the wiring pattern manufactured by the conventional method does not appear, a very fine conductor pattern can be formed densely.

Claims (9)

지지 기재의 표면에 극박 도전성 금속층을 형성하고, 이 극박 도전성 금속층의 표면에 레지스트 패턴을 형성하고, 이 레지스트 패턴에 의해 피복되지 않은 극박 도전성 금속층의 표면에 이 레지스트 패턴과 대략 동일한 두께의 도금층을 전기 도금에 의해 형성한 후, 이 형성된 도금층의 표면에 전기 도금에 의해 노듈을 형성하고, 계속해서, 절연 필름의 표면에 접착제층을 갖는 기재 필름의 접착제층을 접촉시키고 이 접착제층에 상기 노듈을 침입시킨 후, 지지 기재를 박리하여 지지 기재상에 형성된 레지스트 패턴 및 도금층을 기재 필름측에 전사하고, 계속해서, 기재 필름측에 전사된 레지스트 패턴을 제거하여 기재 필름의 표면에 구리제의 도체 패턴을 형성하는 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.An ultrathin conductive metal layer is formed on the surface of the supporting substrate, a resist pattern is formed on the surface of the ultrathin conductive metal layer, and a plating layer having a thickness substantially the same as that of the resist pattern is applied to the surface of the ultrathin conductive metal layer not covered by the resist pattern. After forming by plating, a nodule is formed on the surface of the formed plating layer by electroplating, and then the adhesive layer of the base film having an adhesive layer is brought into contact with the surface of the insulating film and the nodule is infiltrated into the adhesive layer. After that, the support substrate was peeled off, and the resist pattern and the plating layer formed on the support substrate were transferred to the base film side. Then, the resist pattern transferred to the base film side was removed, and a copper conductor pattern was placed on the surface of the base film. It forms, The manufacturing method of the wiring board characterized by the above-mentioned. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 극박 도전성 금속층이, 도전성 금속을 스퍼터링 혹은 석출 반응에 의해 지지 기재의 표면에 형성된 두께 5×10-3 내지 5㎛의 도전성층인 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.The ultra-thin conductive metal layer is a conductive layer having a thickness of 5 × 10 −3 to 5 μm formed on the surface of the supporting substrate by sputtering or precipitation reaction of the conductive metal. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 레지스트 패턴을, 극박 도전성 금속층의 표면에 감광성 수지층을 형성 하고 이 감광성 수지층을 노광·현상함으로써 형성하는 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.The said resist pattern is formed by forming a photosensitive resin layer on the surface of an ultra-thin conductive metal layer, and exposing and developing this photosensitive resin layer, The manufacturing method of the wiring board characterized by the above-mentioned. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 노듈은 구리 노듈이고, 이 노듈을 형성할 때의 전기 도금 조건은 전류 밀도 3 내지 30A/d㎡, 도금액 온도 20 내지 60℃, 도금액 중의 구리 이온 농도 1 내지 50g/리터, 도금 시간 5 내지 600초간인 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.The nodule is a copper nodule, and the electroplating conditions for forming this nodule are current density of 3 to 30 A / dm 2, plating liquid temperature of 20 to 60 ° C., copper ion concentration of 1 to 50 g / liter in plating liquid, and plating time of 5 to 600 It is for a second, The manufacturing method of the wiring board characterized by the above-mentioned. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 기재 필름은 평균 두께 15 내지 150㎛의 폴리이미드 필름이며, 이 기재 필름 표면에 에폭시계 열경화성 수지로 이루어지는 평균 두께 1 내지 24㎛의 접착제층이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.The said base film is a polyimide film of average thickness 15-150 micrometers, The adhesive layer of average thickness 1-24 micrometers which consists of an epoxy-type thermosetting resin is formed in the surface of this base film. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 지지 기재상에 형성된 레지스트 패턴 및 도금층을 기재 필름측에 전사하고, 이 지지체를 제거한 후, 전사된 레지스트 패턴 및 도금층의 표면에 잔존하는 극박 도전성 금속층을 에칭에 의해 제거하는 것을 특징으로 하는 배선 기판의 제조 방법.After transferring the resist pattern and the plating layer formed on the support substrate to the substrate film side and removing the support, the wiring substrate characterized in that the ultra-thin conductive metal layer remaining on the surface of the transferred resist pattern and the plating layer is removed by etching. Method of preparation. 배선 패턴의 기재 필름측 바닥부에 이 도체 패턴과 일체화한 노듈이 형성되어 있고, 이 노듈이 기재 필름을 구성하는 수지 경화체 내에 침입하여 이 도체 패턴이 기재 필름에 고정되어 있는 것을 특징으로 하는 배선 기판.The nodule integrated with this conductor pattern is formed in the base film side bottom part of a wiring pattern, This nodule penetrates into the resin cured body which comprises a base film, and this conductor pattern is fixed to the base film, The wiring board characterized by the above-mentioned. . 제7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 도체 패턴의 단면에서의 측면이, 기재 필름의 표면에 대해 대략 직각으로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 배선 기판.The side surface in the cross section of the said conductor pattern is formed in substantially perpendicular to the surface of a base film, The wiring board characterized by the above-mentioned. 제7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 기재 필름이 평균 두께 5 내지 70㎛의 폴리아미드 필름과 이 폴리이미드 필름상에 적층된 평균 두께 1 내지 24㎛의 열경화성 접착제로 이루어지는 것을 특징으로 하는 배선 기판.The said base film consists of a polyamide film of average thickness 5-70 micrometers, and the thermosetting adhesive of average thickness 1-24 micrometers laminated | stacked on this polyimide film.
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