JPH01279631A - 半導体集積回路の出力回路 - Google Patents
半導体集積回路の出力回路Info
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
- H01L27/06—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration
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- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/40—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/43—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed
- H01L29/435—Resistive materials for field effect devices, e.g. resistive gate for MOSFET or MESFET
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
この発明は半導体集積回路の出力回路に係り、特に複数
の出力回路が同時にスイッチング動作する際に発生する
電源ノイズの低減化を図るようにした改良に関する。
の出力回路が同時にスイッチング動作する際に発生する
電源ノイズの低減化を図るようにした改良に関する。
(従来の技術)
半導体集積回路(IC)内の電源ラインには抵抗性、容
量性及び誘導性の負荷が寄生的に財団することが知られ
ている。このような寄生負荷のうち、特に誘導性負荷は
電源ラインに流れる電流が急激に変化する際に大きなノ
イズを発生させる。
量性及び誘導性の負荷が寄生的に財団することが知られ
ている。このような寄生負荷のうち、特に誘導性負荷は
電源ラインに流れる電流が急激に変化する際に大きなノ
イズを発生させる。
一方、電源ラインに流れる電流が急激に変化する要因と
して、IC外部に信号を出力する出力回路が挙げられる
。すなわち、この出力回路ではIC外部の負荷容量を高
速で駆動するために電源ラインから充分に大きな電流を
取出して負荷容量を充、放電する必要がある。しかもI
C内ではこのような出力回路が複数個設けられており、
いくつかの出力回路が同時にスイッチング動作すること
がある。
して、IC外部に信号を出力する出力回路が挙げられる
。すなわち、この出力回路ではIC外部の負荷容量を高
速で駆動するために電源ラインから充分に大きな電流を
取出して負荷容量を充、放電する必要がある。しかもI
C内ではこのような出力回路が複数個設けられており、
いくつかの出力回路が同時にスイッチング動作すること
がある。
第6図はMOS−IC内に設けられる従来の出力回路の
構成を示す回路図である。IC内部の信号Inはインバ
ータからなるプリバッファ21を介してPチャネルMO
Sトランジスタ22及びNチャネルMO5+−ランジス
タ23からなるCMOSインバータで構成されたバッフ
ァ24に供給され、このバッファ24の出力端子から信
号Outが出力される。
構成を示す回路図である。IC内部の信号Inはインバ
ータからなるプリバッファ21を介してPチャネルMO
Sトランジスタ22及びNチャネルMO5+−ランジス
タ23からなるCMOSインバータで構成されたバッフ
ァ24に供給され、このバッファ24の出力端子から信
号Outが出力される。
このような出力回路ではバッファ24がそれぞれ1個の
Pチャネル及びNチャネルMO3+−ランジスタで構成
されている。このため、出力信号Outのスイッチング
時に電源電圧V。0から流れ出る電流及びアース電圧V
SSに流れ込む電流の値はそれぞれ両トランジスタのみ
の特性で決定される。
Pチャネル及びNチャネルMO3+−ランジスタで構成
されている。このため、出力信号Outのスイッチング
時に電源電圧V。0から流れ出る電流及びアース電圧V
SSに流れ込む電流の値はそれぞれ両トランジスタのみ
の特性で決定される。
ところで、最近では+Cの動作速度の高速化並びに高出
力電流化に伴い、出力回路の相互コンダクタンスを増大
させ、負荷に対する電流駆動能力を大きくする必要が生
しており、そのために上記バッファ24を構成するトラ
ンジスタ22及び23のオン抵抗が減少する傾向にある
。
力電流化に伴い、出力回路の相互コンダクタンスを増大
させ、負荷に対する電流駆動能力を大きくする必要が生
しており、そのために上記バッファ24を構成するトラ
ンジスタ22及び23のオン抵抗が減少する傾向にある
。
この結果、従来では電源電圧やアース電圧の電源ライン
に発生するノイズか増加し、しかもスイッチング動作し
ない出力回路の信号のノイズも増加する。
に発生するノイズか増加し、しかもスイッチング動作し
ない出力回路の信号のノイズも増加する。
(発明が解決しようとする課題)
従来では出力回路のバッファを電流駆動能力の大きなト
ランジスタで構成し、このトランジスタを高速にスイッ
チング動作させるようにしているので、電源ラインに発
生ずるノイズか増加し、これによりスイッチング動作し
ない出力回路の信号のノイズも増加するという欠点があ
る。
ランジスタで構成し、このトランジスタを高速にスイッ
チング動作させるようにしているので、電源ラインに発
生ずるノイズか増加し、これによりスイッチング動作し
ない出力回路の信号のノイズも増加するという欠点があ
る。
この発明は上記のような事情を考慮してなされたもので
あり、その1」的は、スイッチング動作する際に電源ラ
インに発生するノイズを低減することができる半導体集
積回路の出力回路を提供することにある。
あり、その1」的は、スイッチング動作する際に電源ラ
インに発生するノイズを低減することができる半導体集
積回路の出力回路を提供することにある。
[発明の構成コ
(課題を解決するための手段)
この発明の半導体集積回路の出力回路では、負荷に対す
る電流駆動能力が互いに異なる複数の出力トランジスタ
と、上記各出力トランジスタを駆動するための信号を互
いに異なる期間だけ遅延する複数の信号遅延手段とを設
けることにより、上記複数の出力トランジスタをその負
荷電流駆動能力が大きくなる順で信号遅延期間が長くな
る上記複数の信号遅延手段の出力で選択的に駆動してい
る。
る電流駆動能力が互いに異なる複数の出力トランジスタ
と、上記各出力トランジスタを駆動するための信号を互
いに異なる期間だけ遅延する複数の信号遅延手段とを設
けることにより、上記複数の出力トランジスタをその負
荷電流駆動能力が大きくなる順で信号遅延期間が長くな
る上記複数の信号遅延手段の出力で選択的に駆動してい
る。
(作用)
電流駆動能力が異なる複数の出力トランジスタは時間を
ずらせて順次駆動され、しかも電流駆動能力が大きな出
力トランジスタになる程、遅れて駆動される。これによ
り、電源ラインに流れる電流の時間的変化を小さく、か
つ一定とする。よって、スイッチングノイズの低減化か
図られる。
ずらせて順次駆動され、しかも電流駆動能力が大きな出
力トランジスタになる程、遅れて駆動される。これによ
り、電源ラインに流れる電流の時間的変化を小さく、か
つ一定とする。よって、スイッチングノイズの低減化か
図られる。
(実施例)
以下、図面を参照してこの発明を実施例により説明する
。
。
第1図はこの発明をMOS−ICの出力回路に実施した
場合の構成を示す回路図である。1はIC内部の信号I
nが供給されるインバータからなるプリバッファである
。20〜2 +1はこのプリバッファ1の出力を増幅し
、IC外部に信号Outとして出力するためのバッファ
を構成するPチャネル側の出力トランジスタであり、同
じく30〜3nはそれぞれバッファを構成するNチャネ
ル側の出力トランジスタである。
場合の構成を示す回路図である。1はIC内部の信号I
nが供給されるインバータからなるプリバッファである
。20〜2 +1はこのプリバッファ1の出力を増幅し
、IC外部に信号Outとして出力するためのバッファ
を構成するPチャネル側の出力トランジスタであり、同
じく30〜3nはそれぞれバッファを構成するNチャネ
ル側の出力トランジスタである。
上記(n + 1)個のPチャネル側の出力トランジス
タ20〜2uのソースは電源電位VCCにそれぞれ接続
され、各ドレインは出力信号Outのノードに共通に接
続されている。また、これら出力トランジスタ20〜2
ルのうちトランジスタ2oの電流駆動能力が最も大きく
設定されており、かつトランジスタ2゜、21.・・・
の順で電流駆動能力か小さくなるように設定されている
。上記(n + ]、 )個のNチャネル側の出力トラ
ンジスタ3o〜371のソースはアース電位VSSにそ
れぞれ接続され、各ドレインは出力信号OutのノーI
・に共通に接続されている。そしてPチャネル側と同様
にこれら(n+1)個のNチャネル側の出力トランジス
タ3o〜3nても、トランジスタ3oの電流駆動能力が
最も大きく設定されており、かつトランジスタ3o、3
.、 ・・の順で電流駆動能力か小さくなるように設定
されている。しかも、Pチャネル側の出力l・ランシス
タ20〜2 +1による全体の電流駆動能力は、従来の
出力回路のバッファにおけるPチャネルMO3+−ラン
ジス21個のものと等しくなるように設定されており、
Nチャネル側の出力トランジスタ30〜3nによる全体
の電流駆動能力も、従来の出力回路のバッファにおける
NチャネルMO3+−ランジス21個のものと等しくな
るように設定されている。
タ20〜2uのソースは電源電位VCCにそれぞれ接続
され、各ドレインは出力信号Outのノードに共通に接
続されている。また、これら出力トランジスタ20〜2
ルのうちトランジスタ2oの電流駆動能力が最も大きく
設定されており、かつトランジスタ2゜、21.・・・
の順で電流駆動能力か小さくなるように設定されている
。上記(n + ]、 )個のNチャネル側の出力トラ
ンジスタ3o〜371のソースはアース電位VSSにそ
れぞれ接続され、各ドレインは出力信号OutのノーI
・に共通に接続されている。そしてPチャネル側と同様
にこれら(n+1)個のNチャネル側の出力トランジス
タ3o〜3nても、トランジスタ3oの電流駆動能力が
最も大きく設定されており、かつトランジスタ3o、3
.、 ・・の順で電流駆動能力か小さくなるように設定
されている。しかも、Pチャネル側の出力l・ランシス
タ20〜2 +1による全体の電流駆動能力は、従来の
出力回路のバッファにおけるPチャネルMO3+−ラン
ジス21個のものと等しくなるように設定されており、
Nチャネル側の出力トランジスタ30〜3nによる全体
の電流駆動能力も、従来の出力回路のバッファにおける
NチャネルMO3+−ランジス21個のものと等しくな
るように設定されている。
」二記プリバッファ]の出力端と、上記(n+1)個の
Pチャネル側の出力トランジスタ2゜〜2I+のゲート
との間には(n +1)個の例えばポリシリコンで構成
された抵抗40〜4nがそれぞれ挿入されている。同様
に、プリバッファ1の出力端と、上記(n+1)個のN
チャネル側の出力トランジスタ3゜〜3+1のゲートと
の間には(n+1)個の例えばポリシリコンで構成され
た抵抗5゜〜5nがそれぞれ挿入されている。上記(n
+1)個の抵抗40〜4 rtのうち、抵抗4ルの値か
最も小さく設定されており、かつ、抵抗4n・・・、4
1゜4oの順で値が太き(なるように設定されている。
Pチャネル側の出力トランジスタ2゜〜2I+のゲート
との間には(n +1)個の例えばポリシリコンで構成
された抵抗40〜4nがそれぞれ挿入されている。同様
に、プリバッファ1の出力端と、上記(n+1)個のN
チャネル側の出力トランジスタ3゜〜3+1のゲートと
の間には(n+1)個の例えばポリシリコンで構成され
た抵抗5゜〜5nがそれぞれ挿入されている。上記(n
+1)個の抵抗40〜4 rtのうち、抵抗4ルの値か
最も小さく設定されており、かつ、抵抗4n・・・、4
1゜4oの順で値が太き(なるように設定されている。
同様に、上記(n + 1. )個の抵抗50〜5nの
うち、抵抗5nの値が最も小さく設定されており、かつ
、抵抗5n、・・・5]、50の順で値が大きくなるよ
うに設定されている。すなわち、抵抗4゜〜411及び
50〜5 nのそれぞれの値をrPO〜rP+(、rN
O−rNnとすると、これらの間には次式で示すような
大小関係が成立している。
うち、抵抗5nの値が最も小さく設定されており、かつ
、抵抗5n、・・・5]、50の順で値が大きくなるよ
うに設定されている。すなわち、抵抗4゜〜411及び
50〜5 nのそれぞれの値をrPO〜rP+(、rN
O−rNnとすると、これらの間には次式で示すような
大小関係が成立している。
rPi<rPi−1(たたし、1=1−n)
・−(1)rNi<rNi−1,(ただし、i = 1
−n) −(2)上記各抵抗4,5は、それぞ
れの一端が接続されているPチャネルMO8+・ランジ
スタ2もしくはNチャネルMO8+−ランジスタ3のゲ
ートに寄生的に存在している各ゲート入力容量と共にC
R時定数による信号遅延回路を構成している。ここで、
各遅延回路における信号の遅延期間は、その抵抗値に比
例したものとなり、Pチャネル側では抵抗40+41.
・・・4nの順で信号の遅延期間か短くなり、Nチャネ
ル側では抵抗50,5]、 ・5 rrの順で信号の
遅延期間が短くなる。
・−(1)rNi<rNi−1,(ただし、i = 1
−n) −(2)上記各抵抗4,5は、それぞ
れの一端が接続されているPチャネルMO8+・ランジ
スタ2もしくはNチャネルMO8+−ランジスタ3のゲ
ートに寄生的に存在している各ゲート入力容量と共にC
R時定数による信号遅延回路を構成している。ここで、
各遅延回路における信号の遅延期間は、その抵抗値に比
例したものとなり、Pチャネル側では抵抗40+41.
・・・4nの順で信号の遅延期間か短くなり、Nチャネ
ル側では抵抗50,5]、 ・5 rrの順で信号の
遅延期間が短くなる。
すなわち、この実施例回路ではPチャネル側及びNチャ
ネル側それぞれでバッファ内の複数個の出力トランジス
タを、その負荷電流駆動能力が大きくなる順で信号遅延
期間か長くなる」1記複数の信号遅延手段の出力で選択
的に駆動するように・したものである。なお、出力信号
Outのノートと、アース電圧VSSとの間に接続され
ている容量6はこの出力回路で駆動すべき外部負荷を等
測的に示したものである。
ネル側それぞれでバッファ内の複数個の出力トランジス
タを、その負荷電流駆動能力が大きくなる順で信号遅延
期間か長くなる」1記複数の信号遅延手段の出力で選択
的に駆動するように・したものである。なお、出力信号
Outのノートと、アース電圧VSSとの間に接続され
ている容量6はこの出力回路で駆動すべき外部負荷を等
測的に示したものである。
」二記構成でなる出力回路において、Nチャネル側のト
ランジスタ3かオフ状態からオン状態に変イつり、出力
信号Outが第2図の波形図の(a)に示すようにVC
CからVSSにスイッチングするときの動作を説明する
。出力信号OutがVCCからVSSにスイッチングす
るときは、入力信号1nか■。0からVssに変化する
。これにより、プリバッファ1の出力が■88からVc
cに変化すると、抵抗5 uとこの抵抗5nが接続され
ているNチャネルMOSトランジスタ3nのゲート入力
容量とからなる、遅延期間か最も短い信号遅延回路の出
力が、まず始めにVSSからVCCに変化する。これに
より、Nチャネル側で最も電流駆動能力が小さく設定さ
れているトラジスタ3 rtかオン状態になり、このト
ランジスタを介して出力信号Outがアース電圧VSS
に放電される。このとき、このトランジスタ3+1の電
流駆動能力か小さいため、アース電圧VSSの電源ライ
ンに流れ込む電流は急激には変化しない。
ランジスタ3かオフ状態からオン状態に変イつり、出力
信号Outが第2図の波形図の(a)に示すようにVC
CからVSSにスイッチングするときの動作を説明する
。出力信号OutがVCCからVSSにスイッチングす
るときは、入力信号1nか■。0からVssに変化する
。これにより、プリバッファ1の出力が■88からVc
cに変化すると、抵抗5 uとこの抵抗5nが接続され
ているNチャネルMOSトランジスタ3nのゲート入力
容量とからなる、遅延期間か最も短い信号遅延回路の出
力が、まず始めにVSSからVCCに変化する。これに
より、Nチャネル側で最も電流駆動能力が小さく設定さ
れているトラジスタ3 rtかオン状態になり、このト
ランジスタを介して出力信号Outがアース電圧VSS
に放電される。このとき、このトランジスタ3+1の電
流駆動能力か小さいため、アース電圧VSSの電源ライ
ンに流れ込む電流は急激には変化しない。
以下、遅延期間かより長い信号遅延回路の出力か順次V
SSからVCCに変化し、電流駆動能力か順次大きくさ
れたトランジスタ3か順次オン状態= 10− になり、アース電圧VSSの電源ラインに流れ込む電流
の時間的変化を小さく、かつ一定にすることができる。
SSからVCCに変化し、電流駆動能力か順次大きくさ
れたトランジスタ3か順次オン状態= 10− になり、アース電圧VSSの電源ラインに流れ込む電流
の時間的変化を小さく、かつ一定にすることができる。
第2図(b)の波形図では従来回路と上記実施例回路に
おける出力電流の変化を示し、図中の実線が上記実施例
回路のものであり、破線が従来回路のものである。また
、第2図(C)の波形図はこのような電流が流れる際に
電源ラインに発生する従来回路と上記実施例回路の場合
のノイズの変化を示したものであり、図中の実線か上記
実施例回路のものであり、破線が従来回路のものである
。
おける出力電流の変化を示し、図中の実線が上記実施例
回路のものであり、破線が従来回路のものである。また
、第2図(C)の波形図はこのような電流が流れる際に
電源ラインに発生する従来回路と上記実施例回路の場合
のノイズの変化を示したものであり、図中の実線か上記
実施例回路のものであり、破線が従来回路のものである
。
図示のように上記実施例回路における電源ノイズの発生
は破線で示される従来のものに比べて大幅に低減されて
いる。
は破線で示される従来のものに比べて大幅に低減されて
いる。
一方、出力信号OutがVccレベルからVSSレベル
に変化する際、その電圧値v outは前記負荷容ff
16の値をC6、アースに流れ込む電流をI (t)
とすると次式で表される。
に変化する際、その電圧値v outは前記負荷容ff
16の値をC6、アースに流れ込む電流をI (t)
とすると次式で表される。
出力信号Out自体のノイズをできる限り小さくし、ま
たスイッチング動作を高速にするためには、d i/d
t−K (Kは定数)、つまり、1(t)=Ktの条
件か必要である。上記実施例回路では、第2図(b)中
の実線で示す波形図のように、電流が増加する際の傾き
が時間tのほぼ1次関数、すなわち直線となっているた
め、上記の条件を満たすことができる。このとき、とな
り、出力電圧V outの時間tに対する変化は第3図
の特性曲線中の実線に示すように二次曲線となる。なお
、第3図の特性曲線中の破線は従来回路のものを示して
いる。すなわち、d2V/dt2の値が一定となるとき
に出力ノイズか最小になる。このような特性か得られる
ように前記抵抗4,5の値を決定すればよい。
たスイッチング動作を高速にするためには、d i/d
t−K (Kは定数)、つまり、1(t)=Ktの条
件か必要である。上記実施例回路では、第2図(b)中
の実線で示す波形図のように、電流が増加する際の傾き
が時間tのほぼ1次関数、すなわち直線となっているた
め、上記の条件を満たすことができる。このとき、とな
り、出力電圧V outの時間tに対する変化は第3図
の特性曲線中の実線に示すように二次曲線となる。なお
、第3図の特性曲線中の破線は従来回路のものを示して
いる。すなわち、d2V/dt2の値が一定となるとき
に出力ノイズか最小になる。このような特性か得られる
ように前記抵抗4,5の値を決定すればよい。
上記実施例回路において、Pチャネル側のトランジスタ
2がオフ状態からオン状態に変わり、出力信号Outが
VSSからVCCにスイッチングするときには電源電圧
V。0の電源ラインにノイズが発生するが、この場合に
も上記と同じ理由によりVCCの電源ラインに発生する
ノイズを低減することができる。
2がオフ状態からオン状態に変わり、出力信号Outが
VSSからVCCにスイッチングするときには電源電圧
V。0の電源ラインにノイズが発生するが、この場合に
も上記と同じ理由によりVCCの電源ラインに発生する
ノイズを低減することができる。
このように上記実施例回路によれば、バッファ内のPチ
ャネル側及びNチャネル側にそれぞれ複数個の出力トラ
ンジスタを設け、それらを時間をずらせて順次オン状態
にさせるようにしているので、電源ラインに発生するノ
イズを大幅に低減することができる。しかも、Pチャネ
ル側及びNチャネル側の出力トランジスタの負荷駆動能
力は従来と同じにすることができるので、動作の高速化
と、高電流出力化が損われることがない。また、電源ノ
イズの低減化を図ることができるので、スイッチング動
作しない出力回路の出力ノイズの低減化を図ることがで
きる。
ャネル側及びNチャネル側にそれぞれ複数個の出力トラ
ンジスタを設け、それらを時間をずらせて順次オン状態
にさせるようにしているので、電源ラインに発生するノ
イズを大幅に低減することができる。しかも、Pチャネ
ル側及びNチャネル側の出力トランジスタの負荷駆動能
力は従来と同じにすることができるので、動作の高速化
と、高電流出力化が損われることがない。また、電源ノ
イズの低減化を図ることができるので、スイッチング動
作しない出力回路の出力ノイズの低減化を図ることがで
きる。
第4図はこの発明をMOS−ICの出力回路に実施した
他の実施例の構成を示す回路図である。
他の実施例の構成を示す回路図である。
上記第1図の実施例回路は、各出力トランジスタ2もし
くは3のゲート入力容量と共にCR時定数による信号遅
延回路を構成する抵抗4もしくは5をプリバッファ]の
出力端と各出力トランジスタ2もしくは3のゲートとの
間にそれぞれ接続した例であった。これに対して、この
実施例回路ではプリバッファ1の出力端と、(n+1)
個のPチャネル側の出力l・ランシスタ2゜〜2nのう
ち電流駆動能力が最も大きく設定されているトランジス
タ2゜のゲートとの間に(n+1)個の抵抗70〜7n
を直列接続し、かつ、プリバッファ1の出力端と、(n
+1)個のNチャネル側の出力トランジスタ3゜〜3
nのうち電流駆動能力が最も大きく設定されているトラ
ンジスタ3oのゲートとの間に(n+1)個の抵抗8゜
〜8nを直列接、続するようにしたものである。そして
、Pチャネル側に接続された(n+1)個の抵抗7゜〜
7nの各接続点で得られ、遅延時間が順次長くなってい
く遅延信号は各出力トランジスタ2n。
くは3のゲート入力容量と共にCR時定数による信号遅
延回路を構成する抵抗4もしくは5をプリバッファ]の
出力端と各出力トランジスタ2もしくは3のゲートとの
間にそれぞれ接続した例であった。これに対して、この
実施例回路ではプリバッファ1の出力端と、(n+1)
個のPチャネル側の出力l・ランシスタ2゜〜2nのう
ち電流駆動能力が最も大きく設定されているトランジス
タ2゜のゲートとの間に(n+1)個の抵抗70〜7n
を直列接続し、かつ、プリバッファ1の出力端と、(n
+1)個のNチャネル側の出力トランジスタ3゜〜3
nのうち電流駆動能力が最も大きく設定されているトラ
ンジスタ3oのゲートとの間に(n+1)個の抵抗8゜
〜8nを直列接、続するようにしたものである。そして
、Pチャネル側に接続された(n+1)個の抵抗7゜〜
7nの各接続点で得られ、遅延時間が順次長くなってい
く遅延信号は各出力トランジスタ2n。
2rL1. ・21 (第4図ではトランジスタ21
は図示せず)のゲートに順次供給される。同様に、Nチ
ャネル側で接続された(n+1)個のや抵抗80〜8n
の各接続点で得られ、遅延時間が順次長くなっていく遅
延信号は各出力トランジスタ3+1.3+i++ ・・
31 (第4図ではトランジスタ31は図示せず)のゲ
ートに順次供給される。
は図示せず)のゲートに順次供給される。同様に、Nチ
ャネル側で接続された(n+1)個のや抵抗80〜8n
の各接続点で得られ、遅延時間が順次長くなっていく遅
延信号は各出力トランジスタ3+1.3+i++ ・・
31 (第4図ではトランジスタ31は図示せず)のゲ
ートに順次供給される。
このようにトランジスタの駆動能力を調節することによ
り、電源ラインの電流の時間的変化を抑えることができ
る。この実施例の場合には、抵抗70〜7rLそれぞれ
の値は必ずしも互いに異なる値に設定する必要はなく、
抵抗80〜8rLについても同様である。
り、電源ラインの電流の時間的変化を抑えることができ
る。この実施例の場合には、抵抗70〜7rLそれぞれ
の値は必ずしも互いに異なる値に設定する必要はなく、
抵抗80〜8rLについても同様である。
第5図はこの発明をMOS−ICの出力口に実施したさ
らに他の実施例の構成を示す回路図である。上記第1図
の実施例回路は、プリバッファの出力を抵抗とMOSト
ランジスタのゲート入力容量とを利用して信号遅延回路
を構成した例であったが、これに対してこの実施例回路
では、バッファを構成するPチャネル側のMOSトラン
ジスタ2゜〜2 +1それぞれとNチャネル側のMOS
トランジスタ30〜3nそれぞれとからなる各CMOS
インバータ90〜9社に対し、独立にプリバッファ10
.〜10aを設けるようにしたものである。そして、こ
れらプリバッファ10の電流駆動能力もしくは回路閾値
電圧が、対応するCMOS ’インバータ9を構成
するMOSトランジスタの負荷電流駆動能力に合わせて
設定される。例えば、プリバッファ10の電流駆動能力
を変える場合には、その電流駆動能力と、次段のCMO
Sインバータ9の入力容量に基づいて信号遅延時間が決
定される。プリバッファ10の回路閾値電圧を変える場
合には、その閾値レベルに基づいて信号遅延時間が決定
される。
らに他の実施例の構成を示す回路図である。上記第1図
の実施例回路は、プリバッファの出力を抵抗とMOSト
ランジスタのゲート入力容量とを利用して信号遅延回路
を構成した例であったが、これに対してこの実施例回路
では、バッファを構成するPチャネル側のMOSトラン
ジスタ2゜〜2 +1それぞれとNチャネル側のMOS
トランジスタ30〜3nそれぞれとからなる各CMOS
インバータ90〜9社に対し、独立にプリバッファ10
.〜10aを設けるようにしたものである。そして、こ
れらプリバッファ10の電流駆動能力もしくは回路閾値
電圧が、対応するCMOS ’インバータ9を構成
するMOSトランジスタの負荷電流駆動能力に合わせて
設定される。例えば、プリバッファ10の電流駆動能力
を変える場合には、その電流駆動能力と、次段のCMO
Sインバータ9の入力容量に基づいて信号遅延時間が決
定される。プリバッファ10の回路閾値電圧を変える場
合には、その閾値レベルに基づいて信号遅延時間が決定
される。
[発明の効果]
以上説明したようにこの発明によれば、スイッチング動
作する際に電源ラインに発生するノイズを低減すること
ができる半導体集積回路の出力回路を提供することかで
きる。
作する際に電源ラインに発生するノイズを低減すること
ができる半導体集積回路の出力回路を提供することかで
きる。
第1図はこの発明の一実施例の構成を示す回路図、第2
図は上記実施例回路の波形図、第3図は上記実施例回路
の特性図、第4−の発明の他さらに他の実施例の構成を
示す回路図、第6図は従来の半導体集積回路の出力回路
の構成を示す回路図である。 ]、10・・・プリバッファ、20〜2n・・・Pチャ
ネルMO3hランジスタ、30〜3n・・・Nチャネル
MOSトランジスタ、4o −4n 、 5o 〜5
n 。 7o 〜7rL、8o 〜8rL−抵抗。9− CM
OSインバータ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 VSS II5図 CC VSS 第 6図
図は上記実施例回路の波形図、第3図は上記実施例回路
の特性図、第4−の発明の他さらに他の実施例の構成を
示す回路図、第6図は従来の半導体集積回路の出力回路
の構成を示す回路図である。 ]、10・・・プリバッファ、20〜2n・・・Pチャ
ネルMO3hランジスタ、30〜3n・・・Nチャネル
MOSトランジスタ、4o −4n 、 5o 〜5
n 。 7o 〜7rL、8o 〜8rL−抵抗。9− CM
OSインバータ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 VSS II5図 CC VSS 第 6図
Claims (3)
- (1)負荷に対する電流駆動能力が互いに異なる複数の
出力トランジスタと、 上記各出力トランジスタを駆動するための信号を互いに
異なる期間だけ遅延する複数の信号遅延手段とを具備し
、 大きな遅延期間を持つ上記信号遅延手段の遅延信号で駆
動される出力トランジスタの電流駆動能力が、これより
も小さな遅延期間を持つ遅延信号で駆動される出力トラ
ンジスタのそれよりも大きくされてなることを特徴とす
る半導体集積回路の出力回路。 - (2)前記複数の出力トランジスタを、その負荷電流駆
動能力が大きくなる順に信号遅延期間が長くなる前記複
数の信号遅延手段の出力で選択的に駆動するように構成
した請求項1記載の半導体集積回路の出力回路。 - (3)前記複数の各信号遅延手段が、ポリシリコンで構
成された抵抗素子と、前記出力トランジスタの入力容量
とからなる時定数回路で構成されている請求項1記載の
半導体集積回路の出力回路。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63109312A JPH01279631A (ja) | 1988-05-02 | 1988-05-02 | 半導体集積回路の出力回路 |
US07/345,259 US5128567A (en) | 1988-05-02 | 1989-05-01 | Output circuit of semiconductor integrated circuit with reduced power source line noise |
DE89107943T DE68912640T2 (de) | 1988-05-02 | 1989-05-02 | Ausgangsschaltung für eine integrierte Halbleiterschaltung mit reduziertem Speiseleitungsrauschen. |
KR1019890005909A KR930000970B1 (ko) | 1988-05-02 | 1989-05-02 | 반도체 집적회로의 출력회로 |
EP89107943A EP0340731B1 (en) | 1988-05-02 | 1989-05-02 | Output circuit of semiconductor integrated circuit with reduced power source line noise |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63109312A JPH01279631A (ja) | 1988-05-02 | 1988-05-02 | 半導体集積回路の出力回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01279631A true JPH01279631A (ja) | 1989-11-09 |
Family
ID=14507016
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63109312A Pending JPH01279631A (ja) | 1988-05-02 | 1988-05-02 | 半導体集積回路の出力回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5128567A (ja) |
EP (1) | EP0340731B1 (ja) |
JP (1) | JPH01279631A (ja) |
KR (1) | KR930000970B1 (ja) |
DE (1) | DE68912640T2 (ja) |
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-
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- 1989-05-02 DE DE89107943T patent/DE68912640T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-05-02 EP EP89107943A patent/EP0340731B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-05-02 KR KR1019890005909A patent/KR930000970B1/ko not_active IP Right Cessation
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