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Technisches
Gebiet
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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Technik bezüglich eines Schaltreglers,
und insbesondere betrifft sie eine Technik zum Reduzieren der Schaltstörung.
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Hintergrund
der Technik
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In
letzter Zeit haben sich tragbare elektronische Geräte, wie
z.B. ein tragbares Telefon und ein Notebook-Personalcomputer merklich
verbreitet. Mit der Verbreitung derartiger Geräte wurde eine Technik zur Reduzierung
des Energieverbrauchs auf dem Gebiet der Halbleitertechnologie unverzichtbar.
Um den Energieverbrauch einer LSI zu verringern, ist es effektiv,
die Spannung der Energieversorgung der LSI selbst zu verringern,
und für
diesen Zweck ist eine hoch effiziente Spannungswandlerschaltung
für die
Energieversorgung erforderlich.
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Ein
Schaltregler hat aufgrund seines Arbeitsprinzips bekanntermaßen einen
wesentlich höheren Wirkungsgrad
als ein Linearregler, und es wurden bereits verschiedene Systeme
für einen
Schaltregler untersucht und entwickelt. Aufgrund einer Zunahme der
Betriebsgeschwindigkeit und Abnahme des Energieverbrauchs einer
LSI besteht ein zunehmender Bedarf für einen Schaltregler mit höherem Wirkungsgrad
und höherer
Schaltgeschwindigkeit.
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18 ist
eine Darstellung, welche eine Basisschaltkreiskonfiguration für einen
herkömmlichen Schaltregler
darstellt, d.h., für
eine Synchrongleichrichter-Abwärtsschaltregler-Energieversorgung (DC/DC-Wandler).
Eine DC-Energiequelle 1 ist eine Quelle zum Erzeugen der
Ausgangsenergie dieses Schaltreglers und ist ein zu zerhackendes
Objekt. Die DC-Energiequelle 1 ist an ihrem Energieausgabeanschluss
mit dem Source-Anschluss
eines aus einem P-MOS-Transistor aufgebauten Ausgangs-Schalttransistors 2 verbunden,
und ist mit ihrem GND-Anschluss mit dem Source-Anschluss eines aus
einem N-MOS-Transistor aufgebauten Gleichrichter-Schalttransistors 3 verbunden.
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19 ist
ein Zeitdiagramm, um den Betrieb des Schaltreglers von 18 darzustellen.
Eine Regelungseinrichtung 5 vergleicht eine Ausgangsspannung
Vout mit einer Referenzspannung Vref und steuert den Offen/Gesperrt-Betrieb
der Schalttransistoren 2 und 3 auf der Basis der
Ergebnisse des Vergleichs. Ein Spannungskomparator 4 vergleicht
die Ausgangsspannung Vout mit der Referenzspannung Vref und eine
Impulserzeugungsschaltung 6 gibt ein Impulssignal SC zum
Steuern des Offen/Gesperrt-Betriebs auf der Basis des Vergleichsergebnisses
aus. Das Signal SC wird Gate-Treiberpuffern 8 und 9 der
Schalttransistoren 2 und 3 zugeführt. Die Drain-Spannung
VD von jedem der Schalttransistoren 2 und 3 wird
durch den Offen/Gesperrt-Betrieb der Schalttransistoren 2 oder 3 und
einer Diode 11 zerhackt, und die zerhackte Spannung wird
durch eine Glättungsschaltung 10,
welche eine Induktivitätselement 12 und
einen Kondensator 13 enthält, geglättet, um so als eine Ausgangsspannung
Vout ausgegeben zu werden. Der Umwandlungswirkungsgrad ist wie folgt
definiert.
Umwandlungswirkungsgrad = (Ausgangsleistung)/(Eingangsleistung)
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Durch die Erfindung zu
lösende
Probleme
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Um
einen hohen Umwandlungswirkungsgrad in dem herkömmlichen Schaltregler zu erhalten, ist
es ertorderlich, einen Schaltumfang durch Verringerung der Offen-Widerstände der
Schalttransistoren 2 und 3 soweit wie möglich zu
reduzieren und/oder einen AC-Verlust durch Erhöhen einer Schaltfrequenz zu
verringern, um somit ein rasches Schalten durchzuführen. Es
entsteht jedoch ein Problem dahingehend, dass das rasche Schalten
eine große Schaltstörung bewirkt.
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Insbesondere
befindet sich eine so genannte parasitäre Induktivität 102 auf
einer Energieversorgungsleitung, wie es in 18 dargestellt
ist. Wenn die Source/Drain-Spannung VDS der Schaltransistoren 2 und 3 groß ist, führt eine
durch den Schaltvorgang bewirkte abrupte Stromänderung zu dem Auftreten einer
aus der parasitären
Induktivität 102 stammenden
di/dt-Störung.
Diese Störung
lässt den
Energieversorgungsspannungspegel bei jedem Schaltvorgang schwanken,
was dazu führt,
dass eine ähnliche
Störung
auch in der Ausgangsspannung Vout bewirkt wird. Demzufolge wird
eine aus der parasitären
Induktivität 102 der
Stromversorgungsleitung stammende L·di/dt-Schaltstörung unvermeidlich in der Ausgangsspannung
Vout bewirkt.
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Um
eine derartige Schaltstörung
zu reduzieren, wird in herkömmlicher
Weise z.B. ein eine Kapazität
einbeziehender Resonanz-Schaltregler verwendet. Der Resonanzschaltregler
führt eine
ZVC (zero voltage switching – Schalten
im Nulldurchgang) unter Nutzung der LC-Resonanz aus. Der Resonanzschaltregler
hat jedoch ein Problem einer sehr komplizierten Konfiguration seiner
Regeklungsschaltung und ist schwierig, zeitlich zu steuern. Ferner
hat dieser Resonanzschaltregler ein weiteres Problem, dass, wenn
der Ausgangsstrom größer ist,
der AC-Verlust größer ist,
was zu einer Verringerung des Umwandlungswirkungsgrades führt.
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EP
0 581 016-A1 beschreibt eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Aufteilung
von Schaltverlusten von parallelen Transistoren, die in einer vorbestimmten
Reihenfolge offen und gesperrt zu schalten sind. Die Transistoren
liefern Strom an eine Last mit einer Amplitude, die von der kollektiven
Impedanz aller im Offen-Zustand befindlichen Transistoren abhängt. Um
die Schaltverluste in der Vielzahl von Transistoren zu verteilen,
werden die Transistoren mit ausgewählten Zeitverzögerungen
offen und gesperrt geschaltet. Eine Schaltstörung auf der Versorgungsleitung
wird durch die beschriebene Schaltreihenfolge nicht verhindert.
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EP
0 340 731-A2 betrifft die Reduzierung der Energieversorgungsleitungsstörung, indem
selektiv parallele Transistoren der Reihe nach an eine Last geschaltet
werden, und allmählich
der Strom zu der Last erhöht
oder verringert wird. Für
diesen Zweck werden die Transistoren sequentiell mit ausgewählten Zeitverzögerungen,
die an die Treiberfähigkeiten der
Transistoren angepasst sind, offen und gesperrt geschaltet.
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EP
0 648 020-A2 beschreibt eine Ausgabepufferschaltung zum Reduzieren
von Masse/Vcc-Welligkeiten und der an eine integrierte Schaltung
gelieferten Signalspitzen. Die Schaltung enthält eine Vielzahl von Transistoren,
um ein Treiberpotential an dem Ausgang des Bauelementes bereitzustellen.
Die Transistoren sind so verbunden, dass sie in der Größe von dem
Eingang zu dem Ausgang der Ausgabepufferschaltung zunehmen. Eine Steuerschaltung
stellt Steuersignale zum sequentiellen gesperrt Schalten der Transistoren
von dem größten bis
zu dem kleinsten Bauelement bereit, um dadurch erheblich die Vcc-Welligkeiten
und Spitzen hinter Signalen zu verringern, die an die integrierte Schaltung
durch die Ausgabepufferschaltung geliefert wurden.
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EP
0 768 761-A2 beschreibt eine Schaltung für einen komplementären Synchron-Abwärtswandler,
welcher einen Dual-Gate-N-Kanal-MOSFET als einen N-Kanal Synchrongleichrichter
oder Nebenschlussschalter enthält.
Ein ähnlicher
Dual-Gate-P-Kanal-MOSFET
wird als ein Serienschalter verwendet. Dieser Schalter enthält ein kleines Gate
und ein großes
Gate. Eine PWM-Steuerung steuert die Gates und die Ausgangsgrösse des Wandlers
wird über
eine Rückführungsleitung
an die an die Regelungseinrichtung zurückgeführt. Die Regelungseinrichtung
erfasst die Lastbedingung in der Last und reduziert die Eingangskapazität, die durch die
Regelungseinrichtung gesteuert werden muss.
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Die
Aufgabe der Erfindung besteht in der Bereitstellung eines Schaltreglers
zum Reduzieren des Schaltgeräusches
und darin, eine einfache Konstruktion zu sein. Der Anspruch 1 stellt
eine Lösung
bereit. Bevorzugte Ausführungsformen
sind in den Unteransprüchen
angegeben.
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Kurzbeschreibung
der Zeichnungen
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1 ist
eine Darstellung, um die Konfiguration eines Schaltreglers gemäß einer
Ausführungsform
1 der Erfindung zu zeigen;
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2 ist
eine Darstellung, um den Innenaufbau einer Impulserzeugungsschaltung 16 von 1 zu
zeigen;
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3 ist
eine Darstellung, um eine zeitliche Veränderung von Signalen SG, SA1
bis SA3 und SB1 bis SB3 in der Konfiguration von 1 zu
zeigen;
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4 ist
eine Darstellung, um die Kennlinien von Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 von 1 zu
zeigen;
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5 ist
eine Darstellung, um eine weitere Konfiguration mehrerer Ausgangstransistoren
zu zeigen;
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6 ist
eine Darstellung, um die Kennlinien von Transistoren zu zeigen,
welche zu entsprechenden Gruppen 24 bis 26 gehören;
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7 ist
ein Schaltbild, um eine Innenkonfiguration einer Treiberschaltung 40 von 1 darzustellen;
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8 ist
ein Schaltbild, um eine weitere interne Konfiguration der Treiberschaltung 40 von 1 darzustellen;
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9 ist
ein Schaltbild, um noch eine weitere interne Konfiguration der Treiberschaltung 40 von 1 darzustellen;
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10 ist
eine Darstellung, um das erfindungsgemäße Layout der Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 und
der Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 von 1 zu
zeigen;
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11 ist
eine Darstellung, um die Konfiguration eines Schaltreglers gemäß Ausführungsform
2 der Erfindung zu zeigen;
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12(a) ist eine Darstellung, um die Innenkonfiguration
einer Flankendetektionsschaltung 60 von 11 zu
zeigen und
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12(b) ist ein Zeitdiagramm des Eingangs/Ausgangs
der Flankendetektionsschaltung 60 von 12(a);
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13 ist
eine Darstellung, um die Konfiguration eines Schaltreglers gemäß Ausführungsform
3 der Erfindung zu zeigen;
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14 ist
eine Darstellung, um einen Teil der Konfiguration eines Schaltreglers
gemäß Ausführungsform
4 der Erfindung zu zeigen;
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15 ist
eine Darstellung, um eine Modifikation eines Teils der Konfiguration
von 14 zu zeigen;
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16 ist
eine Darstellung, um die Konfiguration eines Schaltreglers gemäß Ausführungsform
5 der Erfindung zu zeigen;
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17 ist
eine Darstellung, um die Konfiguration eines LSI-Systems zu zeigen,
das mit einem Schaltregler dieser Erfindung ausgestattet ist;
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18 ist
eine Darstellung, um die Konfiguration eines herkömmlichen
Schaltreglers zu zeigen; und
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19 ist
ein Spannungswellenformdiagramm des herkömmlichen Schaltreglers.
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Beste Ausführungsart
der Erfindung
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(Ausführungsform 1)
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1 ist
ein Diagramm zum Darstellen der Konfiguration eines Schaltreglers
der Ausführungsform
1 der Erfindung. Der Schaltregler von 1 ist ein
Synchrongleichrichter-Abwärtsschaltregler (DC/DC-Wandler).
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Eine
DC-Energieversorgungsquelle 1 ist eine Quelle zum Erzeugen
der Ausgangsgröße des Schaltreglers.
Die DC-Energieversorgungsquelle 1 ist mit ihrem Energieversorgungsanschluss
mit den Source-Anschlüssen
mehrerer Ausgangs-Schalttransistoren 21, 22 und 23,
wovon jeder aus einem P-MOS-Transistor aufgebaut ist, verbunden
und ist mit ihrem GND-Anschluss mit den Source-Anschlüssen mehrerer
Gleichrichterschaltertransistoren 31, 32 und 33 verbunden,
wovon jeder aus einem N-MOS-Transistor aufgebaut ist. Die Drain-Anschlüsse der
Ausgangs-Schalttransistoren 21, 22 und 23 und
der Gleichrichter-Schalttransistoren 31, 32 und 33 sind
mit einer Diode 11 und einer Glättungsschaltung 10 verbunden,
die ein Induktivitätsbauteil 12 und einen
Kondensator 13 enthält.
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Eine
Regelungseinrichtung 15 steuert den Offen/Gesperrt-Betrieb
der Schalttransistoren 21 bis 23 und 31 bis 33 in
Abhängigkeit
von einer aus der Glättungsschaltung 10 ausgegebenen
Ausgangsspannung Vout des Schaltreglers. In der Regelungseinrichtung 15 vergleicht
ein Spannungskomparator 4 die Ausgangsspannung Vout mit
einer Bezugsspannung Vref und gibt ein Signal SG entsprechend dem
Vergleichsergebnis aus. Als Reaktion auf das Signal SG gibt eine
Impulserzeugungsschaltung 16 Signale SA1 bis SA3 und SB1
bis SB3 aus, um entsprechend den Offen/Gesperrt-Betrieb der Schalttransistoren 21 bis 23 und 31 bis 33 zu
steuern.
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Eine
Treiberschaltung 40 ist für jeden der Schalttransistoren 21 bis 23 und 31 bis 33 vorgesehen.
Jede Treiberschaltung 40 empfängt die Ausgangssignale SA1,
SA2, SA3, SB1, SB2 oder SB3 der Regelungseinrichtung 15 als
ein Treibersignal zum Ansteuern der entsprechenden Schalttransistoren 21, 22, 23, 31, 32 oder 33.
Die Spannung an dem Drain-Anschluss von jedem der Schalttransistoren 21 bis 23 und 31 bis 33 wird
durch die Glättungsschaltung 10 geglättet, um
als die Ausgangsspannung Vout ausgegeben zu werden.
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Die
entsprechenden Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 besitzen
unterschiedliche Transistorbreiten, welche in der Reihenfolge der
Schalttransistoren 21, 22 und 23 (21 < 22 < 23) größer werden. Demzufolge
sind deren Offen-Widerstände
in der Reihenfolge der Schalttransistoren 23, 22 und 21 (23 < 22 < 21) größer. In
gleicher Weise weisen die entsprechenden Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 unterschiedliche
Transistorbreiten auf, welche in der Reihenfolge der Gleichrichter-Schalttransistoren 31, 32 und 33 (31 < 32 < 33) größer werden.
Demzufolge sind deren Offen-Widerstände in der Reihenfolge der
Gleichrichterschaltertransistoren 33, 32 und 31 (33 < 32 < 31) größer.
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In
dieser Ausführungsform
werden die mehreren Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 und
die mehreren Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 in
einer vorbestimmten Reihenfolge in ihrem Offen- und Gesperrt-Betrieb
betrieben. Somit kann verhindert werden, dass sich ein Strom abrupt
in dem Schaltvorgang verändert,
so dass die Schaltstörung verringert
wird.
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2 ist
eine Darstellung, um die interne Konfiguration der Impulserzeugungsschaltung 16 zu zeigen,
und 3 ist eine Darstellung, um die zeitliche Veränderung
der Ausgangssignale SG des Spannungskomparators 4 und der
Ausgangssignale SA1 bis SA3 und SB1 bis SB3 der Impulserzeugungsschaltung 16 zu
zeigen.
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Wie
es in 3 dargestellt ist, fallen mit einem Abfall des
Signals SG die entsprechenden Signale SA1 bis SA3 und SB1 bis SB3
nacheinander in einer vorbestimmten Reihenfolge ab. Wenn hierin
angenommen wird, dass die Logik der Signale in jeder Schaltung 40 nicht
invertiert wird, führen
die Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23, d.h.,
die P-M0S-Transistoren den Offen-Betrieb als Antwort auf das Abfallen
der Signale SA1 bis SA3 aus, und die Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33,
d.h., die N-MOS-Tiansistoren führen
den Gesperrt-Betrieb als Antwort auf das Abfallen der Signale SB1
bis SB3 aus. Andererseits steigen mit dem Anstieg des Signals SG
die entsprechenden Signale SA1 bis SA3 und SB1 bis SB3 der Reihe
nach in einer vorbestimmten Reihenfolge an. Demzufolge führen die Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 den
Gesperrt-Betrieb
durch und die Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 führen den
Offen-Betrieb durch.
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In
dem Offen-Betrieb werden die Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 in
Abhängigkeit von
den Signalen SA1 bis SA3 in der aufsteigenden Reihenfolge der Transistorbreite,
nämlich
in der absteigenden Reihenfolge des Offen-Widerstandes betrieben.
Insbesondere wird der Ausgangs-Schalttransistor 21 mit
der kleinsten Transistorbreite zuerst offen geschaltet, der Ausgangs-Schalttransistor 22 wird
als nächster
offen geschaltet; und der Ausgangs-Schalttransistor 23 mit
der größten Transistorbreite
wird zuletzt offen geschaltet. Andererseits werden in dem Gesperrt-Betrieb
die Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 in der
absteigenden Reihenfolge der Transistorbreite, nämlich in der aufsteigenden Reihenfolge
des Offen-Widerstandes betrieben. Insbesondere wird der Ausgangs-Schalttransistor 23 mit der
größten Transistorbreite
zuerst gesperrt geschaltet, der Ausgangs-Schalttransistor 22 wird
als nächster
gesperrt geschaltet und der Ausgangs-Schalttransistor 21 mit
der kleinsten Transistorbreite wird zuletzt gesperrt geschaltet.
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Ebenso
werden im Offen-Betrieb die Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 gemäß den Signalen
SB1 bis SB3 in der aufsteigenden Reihenfolge der Transistorbreite,
nämlich
in der absteigenden Reihenfolge des Offen-Widerstandes (31 > 32 > 33) betrieben.
Andererseits werden in dem Gesperrt-Betrieb die Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 in der
absteigenden Reihenfolge der Transistorbreite, nämlich in der absteigenden Reihenfolge
des Offen-Widerstandes (33 > 32 > 31) betrieben.
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Derartige
Schaltvorgänge
können
eine abrupte Veränderung
des Drain-Stroms unterdrücken, was
zu einer Reduzierung der aus der parasitären Induktivität 102 stammenden
L·di/dt-Störung führt.
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Anschließend wird
die Bestimmung der Transistorbreiten der mehreren Schalttransistoren 20 dieser
Ausführungsform
beschrieben. 4 ist eine Darstellung, um die
Kennlinien der Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 zu
zeigen. In 4 wird zur Vereinfachung des
Verständnisses
angenommen, dass die Gate-Potentiale der entsprechenden Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 so
eingestellt sind, dass sie zum selben Zeitpunkt abfallen.
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Zuerst
wird die gesamte Größe, nämlich die gesamte
Transistorbreite der mehreren Ausgangs-Schalttransistoren ermittelt.
Um einen hohen Umwandlungswirkungsgrad in einem Schaltregler zu erzielen,
wird es bevorzugt, dass der Offen-Widerstand jedes Ausgangs-Schalttransistors
so klein wie möglich
ist. Um den Offen-Widerstand zu reduzieren, ist es erforderlich,
die Transistorbreite zu vergrößern, und
somit besteht eine Kompromissbeziehung zwischen dem hohen Wirkungsgrad
und der Fläche
des Transistors. Außerdem
wird, wenn die Transistorbreite groß ist, die parasitäre Kapazität des Transistors vergrößert, was
die Reaktionszeit des als ein Schaltelement dienenden Transistors
verlängert.
Daher werden ein großer
Schaltverlust und ein Lade/Entlade-Verlust durch die Schaltvorrichtung
selbst während
des Offen/Gesperrt-Betriebs bewirkt.
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Demzufolge
ist die Größenbestimmung
eines Ausgangs-Schalttransistors ein bedeutender Faktor bei der
Auslegung eines hoch effizienten Schaltreglers, und es ist ertorderlich,
eine optimale Größe im Hinblick
auf die vorstehend beschriebenen Gesichtspunkte auszuwählen. Nachdem
die Gesamtgröße der Ausgangs-Schalttransistoren
bestimmt ist, wird die Transistorbreite jedes Schalttransistors
bestimmt.
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Zuerst
wird die Transistorbreite des Ausgangs-Schalttransistors 21 an
der ersten Stufe so bestimmt, dass ein Stromwert in einem Nicht-Sättigungsbereich
der Spannungs/ Strom-Kennlinie der Drain größer als der maximale Laststrom
sein kann, der von dem Schaltregler auszugeben ist. In 4 entspricht
ein Punkt A einer Grenze zwischen einem Nicht-Sättigungsbereich und einem Sättigungsbereich
in der Kennlinie des Ausgangs-Schalttransistors 21, und
ein Stromwert an dem Punkt A ist größer als der maxi male Laststromwert
Imax des Schaltreglers. Hierin ist die Transistorbreite des Ausgangs-Schalttransistors 21 beispielsweise
auf 1 mm festgelegt. In dem Falle, in welchem sich der Ausgangs-Schalttransistor 21 bei
der ersten Stufe allein in einem Offen-Zustand befindet, ist, wenn der Laststromwert
des Schaltreglers größer als
der Drain-Strom
des Ausgangs-Schalttransistors 21 bei der ersten Stufe
ist, der Zuführungsstrom
aus der Diode 11 groß.
Wenn ein Ausgangs-Schalttransistor 22 bei der nächsten Stufe
unter dieser Bedingung offen geschaltet wird, wird eine abrupte
Stromänderung verursacht,
weiche die Störung
bewirkt. Um diese Störung
zu verhindern, wird es bevorzugt, dass der Ausgangs-Schalttransistor 21 bei
der ersten Stufe so aufgebaut ist, dass er einen Strom in dem Nicht-Sättigungsbereich
seiner Kennlinie besitzt, der größer als
der maximale Laststromwert des Schaltreglers ist.
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Anschließend wird
bezüglich
des Ausgangs-Schalttransistors 22 bei der nächsten Stufe ein
Schaltintervall so eingestellt, dass der Ausgangs-Schalttransistor 22 offen
geschaltet werden kann, wenn die Kennlinie des Ausgangs-Schalttransistors 21 den
Nicht-Sättigungsbereich
aus dem Sättigungsbereich
heraus erreicht. Dann wird die Transistorbreite des Ausgangs-Schalttransistors 22 so bestimmt,
dass ein Zeitveränderungsverhältnis eines Drain-Stroms
di/dt bei einer Drain/Source-Spannung VDS konstant sein kann, die
erzielt wird, wenn die Kennlinie des Ausgangs-Schalttransistors 21 bei
der ersten Stufe den Nicht-Sättigungsbereich
aus dem Sättigungsbereich
heraus erreicht. Hierin wird die Transistorbreite des Ausgangs-Schalttransistors 22 beispielsweise
mit 3 mm bestimmt.
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Ferner
wird bezüglich
des Ausgangs-Schalttransistors 23 in der nachfolgenden
Stufe die Transistorbreite so bestimmt, dass das Zeitveränderungsverhältnis des
Drain-Stroms di/dt konstant sein kann, wenn er offen geschaltet
wird. Hierin wird die Transistorbreite des Ausgangs-Schalttransistors 23 beispielsweise
auf 10 mm festgelegt.
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Auch
bezüglich
der Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 können die
Transistorenbreiten in derselben Weise wie vorstehend beschrieben
bestimmt werden.
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Auf
diese Weise werden gemäß dieser
Ausführungsform
die mehreren Ausgangs-Schalttransistoren
der Reihe nach in der absteigenden Reihenfolge des Offen-Widerstandes
offen geschaltet und in der ansteigenden Reihenfolge des Offen-Widerstandes
gesperrt geschaltet, und die Transistorbreiten der Ausgangs-Schalttransistoren
sind so optimiert, dass sie im Wesentlichen ein konstantes Zeitveränderungsverhältnis des
Stroms di/dt erzeugen. Demzufolge kann ein abrupter Stromwechsel
in dem Schaltvorgang der Ausgangs-Schalttransistoren verhindert
werden, was zu einer Verringerung der aus der parasitären Induktivität stammenden
Störung führt.
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Obwohl
sowohl die Ausgangs-Schalttransistoren als auch die Gleichrichter-Schalttransistoren
in mehreren Stufen in dieser Ausführungsform vorgesehen sind,
müssen
die Gleichrichter-Schalttransistoren nicht notwendigerweise in den
mehreren Stufen vorgesehen sein. Der Effekt der Reduzierung der Schaltstörung kann
sogar dann erzielt werden, wenn die Ausgangs-Schalttransistoren
alleine in den mehreren Stufen vorgesehen sind. Jedoch kann durch das
Bereitstellen mehrerer Gleichrichter-Schalttransistoren die Störung effektiver
reduziert werden.
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Ferner
können
die Ausgangs-Schalttransistoren oder die Gleichrichter-Schalttransistoren
in der vorbestimmten Reihenfolge lediglich in dem Offen- oder in
dem Gesperrt-Betrieb
betrieben werden.
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Alternativ
kann der Offen-Widerstand der Ausgangs-Schalttransistoren und der
Gleichrichter-Schalttransistoren durch Verwendung eines anderen
Faktors als der Transistorbreite unterschiedlich eingestellt werden.
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5 stellt
eine weitere exemplarische Konfiguration der mehreren Ausgangs-Schalttransistoren dar.
Die mehreren Ausgangs-Schalttransistoren 20a von 5 umfassen
acht Transistoren mit einem gleichen Transistor, welche in drei
Gruppen eingeteilt sind. Insbesondere besteht eine erste Gruppe 24 aus einem
Transistor 24a, eine zweite Gruppe 25 besteht aus
Transistoren 25a bis 25c und eine dritte Gruppe 26 besteht
aus Transistoren 26a bis 26e. In diesem Falle
schaltet die Regelungseinrichtung 15 die mehreren Ausgangs-Schalttransistoren 20a gruppenweise
ein oder aus. Insbesondere wird der Transistor 24a der
ersten Gruppe 24 gemäß dem Signal
SA1 gesteuert, die Transistoren 25a bis 25c der
zweiten Gruppe 25 werden gemäß dem Signal SA2 gesteuert,
und die Transistoren 26a bis 26e der dritten Gruppe 26 werden
gemäß dem Signal
SA3 gesteuert.
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Die
Anzahl der jeder Gruppe angehörenden Transistoren
wird wie folgt bestimmt: 6 ist eine Darstellung, um Kennlinien
der zu den Gruppen 24 bis 26 gehörenden Transistoren
zu zeigen. Auch in 6 wird zum Zwecke der Vereinfachung
des Verständnisses
angenommen, dass die Gate-Potentiale der entsprechenden Ausgangs-Schalttransistoren alle
zum gleichen Zeitpunkt abfallen.
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Zuerst
wird die Anzahl der Transistoren, die zu der ersten Gruppe 24 gehören, so
bestimmt, dass ein Drain-Stromwert in einem Nicht-Sättigungsbereich
der Spannungs/ Strom-Kennlinie der Drain größer als der von dem Schaltregler
auszugebende maximale Laststromwert sein kann. In 6 entspricht ein
Punkt A einem Grenzwert zwischen einem Nicht-Sättigungsbereich und einem Sättigungsbereich
in der Kennlinie des zu der ersten Gruppe 24 gehörenden Transistors,
und ein Stromwert an dem Punkt A ist größer als der maximale Laststromwert Imax
des Schaltreglers.
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Anschließend wird
bezüglich
Transistoren, die zu der zweiten Gruppe 25 gehören, ein
Schaltintervall so festgelegt, dass sie offen geschaltet werden können, wenn
die Kennlinie des zu der ersten Gruppe 24 gehörenden Transistors
den Nicht-Sättigungsbereich
aus dem Sättigungsbereich
heraus erreicht. Dann wird die Anzahl der zu der zweiten Gruppe 25 gehörenden Transistoren
als eine maximale Anzahl so bestimmt, dass ein Zeitveränderungsverhältnis di/dt
des gesamten Drain-Stroms bei der erzielten Drain/Source-Spannung
VDS konstant sein kann, wenn die Kennlinie des zu der ersten Gruppe 24 gehörenden Transistors
den Nicht-Sättigungsbereich aus
dem Sättigungsbereich
heraus erreicht. Hierin wird die Anzahl der zu der zweiten Gruppe
gehörenden
Transistoren mit 3 bestimmt.
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Ferner
wird die Anzahl der zu der dritten Gruppe 26 gehörigen Transistoren
so bestimmt, dass das Zeitveränderungsverhältnis di/dt
des gesamten Drain-Stroms konstant sein kann, wenn diese offen geschaltet
werden. Hierin wird die Anzahl der zu der dritten Gruppe gehörigen Transistoren
mit 5 ermittelt.
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Auf
diese Weise wird die Anzahl der zu jeder Gruppe gehörenden Transistoren
so bestimmt, dass das Zeitänderungsverhältnis di/dt
des Stroms konstant gemacht wird, und die Transistoren werden im Offen-Betrieb
so offen geschaltet, dass eine größere Anzahl von Transistoren
nacheinander offen geschaltet werden kann, und werden im Gesperrt- Betrieb so gesperrt
geschaltet, dass eine kleinere Anzahl von Transistoren nacheinander
gesperrt geschaltet werden kann. Demzufolge kann die abrupte Stromänderung
in den Schaltvorgang der Ausgangs-Schalttransistoren verhindert
werden, um so die von der parasitären Induktivität stammende
Störung
zu reduzieren.
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Obwohl
die Anzahl der zuerst offen zu schaltenden ersten Gruppe von Transistoren
in dem vorstehend beschriebenen Fall nur 1 ist, können mehrere
Transistoren zuerst offen geschaltet werden.
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Anschließend wird
der interne Aufbau der Treiberschaltung 40 von 1 beschrieben.
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7 ist
ein Schaltbild zum Darstellen einer internen Konfiguration der Treiberschaltung 40.
Die Treiberschaltung 40 von 7 steuert
den Ausgangs-Schalttransistor 23 und enthält einen
Inverter 41 zum Ansteuern des Gate des Ausgangs-Schalttransistors 23 gemäß dem Signal
SA3 und einen Konstantstromquellenschaltung 42, um einen
Konstantstrom E in den Inverter 41 fließen zu lassen. In der Beschreibung
des Betriebs des unter Bezugnahme auf 1 beschriebenen
Schaltreglers wird die Logik eines Signals als nicht invertiert
in jeder Treiberschaltung 40 angenommen, aber die Treiberschaltung 40 enthält nur einen
Inverter 41 in der sich auf 7 beziehenden
Beschreibung.
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Wenn
die Treiberschaltung 40 lediglich aus einem einen P-MOS-Transistor 23a und
einen N-MOS-Transistor 41b enthaltenden Inverter 41 aufgebaut
ist, ist die Stromänderung
während
der Ladung/Entladung des Gate so groß, dass die di/dt-Störung verursacht
werden kann. Daher enthält
die Treiberschaltung 40 die Konstantstromquellenschaltung 42,
um den durch den Inverter 41 fließenden Strom I so zu steuern,
dass er wie es in 7 dargestellt ist, konstant
ist. Somit kann das Auslösen
der abrupten Stromveränderung
während
der Ladung/Entladung des Gates verhindert werden, was zu einer Verhinderung
des Auftritts der Störung
führt.
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Die
Konstantstromquellenschaltung 42 gemäß Darstellung in 7 ist
nicht notwendigerweise in allen Treiberschaltungen 40 vorgesehen,
sondern kann lediglich in einem Teil der Treiberschaltungen 40 vorgesehen
sein. Die aus der Stromänderung stammende
di/dt-Störung,
die durch die Ladung/Entladung des Gates bewirkt wird, ist in einem
Transistor mit großer
Transistorbreite größer. Daher
kann der Effekt der Reduzierung der Störung am deutlichsten erzielt
werden, wenn die Konstantstromquellenschaltung 42 in der
Treiberschaltung 40 für
die Ansteuerung des Ausgangs-Schalttransistors 23 mit der größten Transistorbreite
vorgesehen wird. Selbstverständlich
kann sich der Effekt der Reduzierung der Störung auch dann zeigen, wenn
die Konstantstromquellenschaltung 42 in den anderen Treiberschaltungen 40 zum
Ansteuern aller Ausgangs-Schalttransistoren 21 und 23 und
der Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 vorgesehen
wird, und der Effekt der Reduzierung der Störung kann deutlicher in dem
gesamten Schaltregler erzielt werden, wenn die Konstantstromquellenschaltung 42 in
einer größeren Anzahl
von Treiberschaltungen 40 vorgesehen ist.
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8 ist
ein Schaltbild zur Darstellung einer weiteren exemplarischen internen
Konfiguration der Treiberschaltung 40. Eine Treiberschaltung 40A von 8 enthält zusätzlich zu
dem Inverter 41 und der Konstantstromquellenschaltung 42 eine
Laststrom-Überwachungsschaltung 43 und
eine Stromsteuerschaltung 44. Die Stromsteuerschaltung 44 enthält Transistoren 44a und 44b,
die in Reihe miteinander und parallel zu einem Widerstand 42a geschaltet
sind, der in der Konstantstromquellenschaltung 42 enthalten
ist. Die Laststrom-Überwachungsschaltung 43 steuert
die Offen/Gesperrt-Betrieb der Transistoren 44a und 44b der
Stromsteuerschaltung 44 gemäß der Amplitude eines Laststroms.
Somit wird der Widerstandwert des Widerstandes 42a im Wesentlichen
so gesteuert, dass die Amplitude des durch den Inverter 41 fließenden Stroms
I gesteuert wird.
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Wenn
der Laststrom klein ist, ist die Störung vergleichsweise klein.
Daher kann in dem Falle, in welchem die Gate-Ladung/Entladung des
Ausgangs-Schalttransistors oder des Gleichrichter-Schalttransistors
durch die Konstantstromquellenschaltung 42 verlangsamt
wird, der Wirkungsgrad des Schaltreglers natürlich verschlechtert werden.
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Demzufolge
wird, wenn der Laststrom klein ist, der Widerstand 42a der
Konstantstromquellenschaltung 42 teilweise durch die Stromsteuerschaltung 44 kurzgeschlossen,
um so den Versorgungsstrom I zu dem Inverter 41 zu erhöhen. Auf
diese Weise wird das Gate-Potential in der Gate-Ladung/Entladung
des Ausgangs-Schalttransistors 23 abrupt verändert, und
dadurch die Wirkungsgradverschlechterung verhindert.
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Die
Laststrom-Überwachungsschaltung 43 kann
in jeder von verschiedenen Konfigurationen realisiert werden. Beispielsweise
kann sie mehrere Komparatoren jeweils zum Vergleichen der Ausgangsspannung
Vout mit einer vorbestimmten Referenzspannung enthalten, um so die
Transistoren 44a und 44b der Stromsteuerschaltung 44 gemäß den Ausgangssignalen
der entsprechenden Komparatoren zu steuern. Alternativ kann sie
die Drain-Spannung des Ausgangs-Schalttransistors 23 überwachen.
Ferner kann sie alternativ die Amplitude des Laststroms gemäß dem Betriebszustand
des den Schaltregler enthaltenden Gerätes überwachen. Beispielsweise kann
sie in dem Falle, in welchem der Schaltregler in einem tragbaren
Telefon enthalten ist, ermitteln, dass der Laststrom während eines
Gesprächs
groß ist
und in einem Wartezustand klein ist.
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9 ist
ein Schaltbild, welche eine weitere exemplarische Konfiguration
der Treiberschaltung 40 darstellt. Eine Treiberschaltung 40B von 9 enthält zusätzlich zu
dem Inverter 41 und der Konstantstromquellenschaltung 42 eine
Nicht-Überlappungsschaltung 45.
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In
den Konfigurationen der 7 und 8 ist die
Konstantstromguellenschaltung 42 vorgesehen, um die Stromänderung
in der Gate-Ladung/Entladung des Ausgangs-Schalttransistors 23 zu
verlangsamen. Wenn der durch den Inverter 41 fließende Strom
I zu klein gemacht wird, ist jedoch eine längere Zeit für die Gate-Ladung/Entladung
erforderlich, und somit wird der Wirkungsgrad verschlechtert, obwohl
die Störung
reduziert werden kann. Um die Stromänderung in der Gate-Ladung/Entladung
des Ausgangs-Schalttransistors 23 zu verlangsamen sowie die
Wirkungsgradverschlechterung zu unterdrükken, kann das Schalten des
Inverters 41 verlangsamt werden.
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In
diesem Falle bestehen jedoch Bedenken bezüglich einer Zeitperiode, wenn
der P-MOS-Transistor 41a und
der N-MOS-Transistor 41b des Inverters 41 sich
beide in einem Offen-Zustand befinden, was ermöglichen kann, dass ein Querstrom
durch den Inverter 41 fließt.
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Demzufolge
wird in der Konfiguration von 9 die Nicht-Überlappungsschaltung 45 zur Gate-Steuerung
der Inverterelemente 41a und 41b des Inverters 41 so
vorgesehen, dass verhindert wird, dass die Inverterelemente 41a und 41b beide
in den Offen-Zu stand versetzt werden. Demzufolge kann das Auftreten
des Querstroms in dem Inverter 41 vermieden werden.
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Ferner
sind in Invertern 45a und 45b der Nicht-Überlappungsschaltung 45 die
Transistorbreiten der Transistoren darin bevorzugt asymmetrisch. Insbesondere
wird die Transistorbreite des Transistors in dem Inverter 45a so
eingestellt, dass sein Ausgangspotential langsam abfallen und schnell
ansteigen kann, um dadurch den P-MOS-Transistor 41a langsam
offen und schnell gesperrt zu schalten. In gleicher Weise wird die
Transistorbreite des Transistors in dem Inverter 45b so
eingestellt, dass dessen Ausgangspotential langsam ansteigen und
schnell abfallen kann, um dadurch den N-MOS-Transistor 41b langsam
offen zu schalten und schnell gesperrt zu schalten.
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10 ist
eine schematische Darstellung, um ein erfindungsgemäßes Layout
der Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 und
der Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 von 1 zu
zeigen. Gemäß Darstellung
in 10 sind die Transistoren 21 und 31 mit
vergleichsweise großen
Größen vergleichsweise
näher an
den I/O-Anschlussflächen angeordnet,
während
die Transistoren 23 und 33 mit relativ kleinen
Größen vergleichsweise
weiter weg von den I/O-Anschlussflächen angeordnet sind. Da die
Transistoren 21 und 31 mit großen Größen zur Erzielung eines hohen
Umwandlungswirkungsgrades versehen sind, sollten sie näher an den
I/O-Anschlussflächen
angeordnet sein, um somit die Leitungswiderstände zu verringern, indem die
Längen der
Leitungen verringert werden. Andererseits wird, da die Transistoren 23 und 33 mit
kleinen Größen für die Reduzierung
der Störung
unter Nutzung ihrer hohen Offen-Widerstände vorgesehen sind, eine Zunahme
der Leitungswiderstände
aufgrund ihrer längeren
Leitungen, indem diese weiter weg von den I/O-Anschlussflächen platziert
werden, eher bevorzugt.
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Außerdem arbeitet
jeder von den Transistoren 21 und 31 auch als
eine Diode zum Abgeben einer Ladung eines Stromstosses, und somit
wird es in Hinblick auf den Schutz vor dem Stromstoß bevorzugt,
dass die Transistoren 21 und 31 mit großen Größen näher an den
peripheren Abschnitt eines LSI-Chip angeordnet sind.
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(Ausführungsform 2)
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11 ist
eine Darstellung, um die Konfiguration eines Schaltreglers der Ausführungsform
2 der Erfindung zu zeigen. In 11 werden
gleiche Bezugszeichen verwendet, um gleiche wie in 1 verwendete
Elemente zu bezeichnen.
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In
der Konfiguration von 11 gibt eine Impulserzeugungsschaltung 16A einer
Regelungseinrichtung 15A als Reaktion auf ein Ausgangssignal SG
eines Spannungskomparators 4 zwei Signale SA und SB zum
Steuern des Offen/Gesperrt-Betriebs der Schalttransistoren 21 bis 23 und 31 bis 33 aus. Ferner
ist jeder von den Schalttransistoren 21 bis 23 und 31 bis 33 mit
einer Flankendetektionsschaltung 60 versehen, die in einer
vorhergehenden Stufe einer Treiberschaltung 40 angeordnet
ist. Jede Flankendetektionsschaltung 60 empfängt an ihren
Eingängen
A und B das Ausgangssignal der Impulserzeugungsschaltung 16A oder
ein von der Treiberschaltung 40 ausgegebenes Gate-Signal, das entsprechend
an einen anderen Schalttransistor geliefert wird.
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12(a) ist ein Diagramm zur Darstellung der
Innenkonfiguration der Flankendetektionsschaltung 60, und 12(b) ist ein Zeitdiagramm der Eingänge A und
B und des Ausgangs OUT der Flankendetektionsschaltung von 12(a). Wie es in 12(b) dargestellt
ist, wird das Ausgangssignal OUT der Flankendetektionsschaltung 60 mit
der Anstiegsflanke des Eingangssignals A hoch und wird mit der abfallenden
Flanke des Eingangssignals B niedrig.
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Nun
wird der Betrieb des Schaltreglers von 11 beschrieben.
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Die
Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 werden wie
folgt betrieben: In dem Offen-Betrieb
der Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 durchläuft das
Signal SA der Impulserzeugungsschaltung 16A einen Abwärtsübergang.
Als Reaktion auf diesen Abfall des Signals SA wird der Ausgangs-Schalttransistor 21 mit
dem größten Offen-Widerstand
zuerst offen geschaltet. Anschließend wird als Reaktion auf
den Abfall des Gate-Signals des Ausgangs-Schalttransistors 21 der
Ausgangs-Schalttransistor 22 der nächsten Stufe offen geschaltet.
Ebenso wird als Reaktion auf den Abfall des Gate-Signals des Ausgangs-Schalttransistors 22 der
Ausgangs-Schalttransistor 23 mit dem kleinsten Offen-Widerstand offen geschaltet.
Insbesondere werden die Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 der
Reihe nach in der abfallenden Reihenfolge des Offen-Widerstandes
als Reak tion auf den Abfall des Ausgangssignals SA der Impulserzeugungsschaltung 16A offen
geschaltet.
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Andererseits
durchläuft
in dem Gesperrt-Betrieb der Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 das Signal
SA der Impulserzeugungsschaltung 16A einen Aufwärtsübergang.
Als Reaktion auf diesen Anstieg des Signals SA wird der Ausgangs-Schalttransistor 23 mit
dem kleinsten Offen-Widerstand zuerst gesperrt geschaltet. Anschließend wird
als Reaktion auf den Anstieg des Gate-Signals des Ausgangs-Schalttransistors 23 der
Ausgangs-Schalttransistor 22 gesperrt geschaltet und in
gleicher Weise wird als Reaktion auf den Anstieg des Gate-Signals des
Ausgangs-Schalttransistors 22 der Ausgangs-Schalttransistor 21 gesperrt
geschaltet. Insbesondere werden die Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 der
Reihe nach in aufsteigender Reihenfolge des Often-Widerstandes als
Reaktion auf den Anstieg des Ausgangssignals SA der Impulserzeugungsschaltung 16A gesperrt
geschaltet.
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Die
Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 werden
in gleicher Weise betrieben. In dem Offen-Betrieb der Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 durchläuft das
Signal SB der Impulserzeugungsschaltung 16A einen Aufwärtsübergang.
Als Reaktion auf diesen Anstieg des Signals SB wird der Gleichrichter-Schalttransistor 31 mit
dem größten Offen-Widerstand
zuerst offen geschaltet. Als Reaktion auf den Anstieg des Gate-Signals des Gleichrichter-Schalttransistors 31 wird
der Gleichrichter-Schalttransistor 32 offen geschaltet,
und als Reaktion auf den Anstieg des Gate-Signals des Gleichrichter-Schalttransistors 32 wird
der Gleichrichter-Schalttransistor 33 mit dem kleinsten
Offen-Widerstand
offen geschaltet. Andererseits durchläuft in dem Gesperrt-Betrieb
der Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 das
Signal SB der Impulserzeugungsschaltung 16A einen Abwärtsübergang.
Als Reaktion auf diesen Abfall des Signals SB wird der Gleichrichter-Schalttransistor 33 mit
dem kleinsten Offen-Widerstand gesperrt geschaltet, und danach werden
die Gleichrichter-Schalttransistoren 32 und 33 nacheinander
gesperrt geschaltet. Insbesondere werden die Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 der
Reihe nach in der absteigenden Reihenfolge des Offen-Widerstandes
als Reaktion auf den Anstieg des Ausgangssignals SB der Impulserzeugungsschaltung 16A offen
geschaltet und werden der Reihe nach in der ansteigenden Reihenfolge
des Offen-Widerstandes
als Reaktion auf den Abfall des Signals SB gesperrt geschaltet.
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Auf
diese Weise wird der Offen/Gesperrt-Betrieb der Ausgangs- und Gleichrichter-Schalttransistoren
gemäß zwei Impulssignalen
SA und SB gesteuert, die von der Impulserzeugungsschaltung 16A in dieser
Ausführungsform
ausgegeben werden. Demzufolge besteht selbst dann, wenn die Anzahl
von Stufen der Schalttransistoren erhöht wird, keine Notwendigkeit,
die Anzahl der Gate-Steuersignale und Signalleitungen zu erhöhen.
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(Ausführungsform 3)
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13 ist
eine Darstellung, um die Konfiguration eines Schaltreglers der Ausführungsform
3 der Erfindung zu zeigen. In 13 werden
gleiche Bezugszeichen verwendet, um gleiche wie in 11 verwendete
Elemente zu bezeichnen.
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In
der Konfiguration von 13 gibt eine in einer Regelungseinrichtung 15B enthaltene
Impulserzeugungsschaltung 16B ein Ausgangssignal SX aus,
welches an einen Eingang A der Flankendetektionsschaltung 60,
die einem Ausgangs-Schalttransistor 23 mit dem kleinsten
Widerstand entspricht, an einen Eingang B einer Flankendetektionsschaltung 60,
die einem Gleichrichter-Schalttransistor 33 mit dem kleinsten
Offen-Widerstand entspricht, und an einen Eingang eines ODER-Gatters 65 geliefert
wird. An den anderen Eingang des ODER-Gatters 65 wird ein
Gate-Signal von einem Gleichrichter-Schalttransistor 31 mit
dem größten Offen-Widerstand
geliefert. Das Ausgangssignal des ODER-Gatters 65 wird
an einen Eingang B einer Flankendetektionsschaltung 60 geliefert,
die einem Ausgangs-Schalttransistor 21 mit dem größten Offen-Widerstand
entspricht. Außerdem
wird an einen Eingang A einer Flankendetektionsschaltung 60,
die dem Gleichrichter-Schalttransistor 31 mit dem größten Offen-Widerstand
entspricht, ein Gate-Signal des Ausgangs-Schalttransistors 21 geliefert.
Die Konfiguration von 13 ist dieselbe wie die von 11 mit der
vorstehenden Ausnahme.
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In
dem Offen-Betrieb der Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 und
dem Gesperrt-Betrieb
der Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 durchläuft das
Signal SX der Impulserzeugungsschaltung 16B einen Abwärtsübergang.
Demzufolge wird der Gleichrichter-Schalttransistor 33 zuerst
gesperrt geschaltet, und die Gleichrichter-Schalttransistoren 32 und 31 werden
der Reihe nach gesperrt geschaltet. Dann fällt das Ausgangssignal des
ODER-Gatters 65 als Reaktion auf einen Abfall des Gate-Signals
des Gleichrichter-Schalttransistors 31, um so den Ausgangs-Schalttransistor 21 offen
zu schalten. Danach werden die Ausgangs-Schalttransistoren 22 und 23 der
Reihe nach offen geschaltet.
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Andererseits
durchläuft
in dem Gesperrt-Betrieb der Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 und in
dem Offen-Betrieb der Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 das
Signal SX der Impulserzeugungsschaltung 16B einen Aufwärtsübergang.
Demzufolge werden der Ausgangs-Schalttransistor 33 gesperrt geschaltet,
und dann die Ausgangs-Schalttransistoren 22 und 21 der
Reihe nach gesperrt geschaltet. Dann wird der Gleichrichter-Schalttransistor 31,
als Reaktion auf den Anstieg des Gate-Signals des Ausgangs-Schalttransistors 21 offen
geschaltet. Danach werden die Gleichrichter-Schalttransistoren 22 und 23 der
Reihe nach offen geschaltet.
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Auf
diese Weise wird der Offen-Betrieb und der Gesperrt-Betrieb der
Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 kontinuierlich
bis zum dem Gesperrt-Betrieb und dem Offen-Betrieb der Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 in
dieser Ausführungsform
ausgeführt.
Ausserdem kann der Offen/Gesperrt-Betrieb der Ausgangs- und Gleichrichter-Schalttransistoren
gemäß einem
Signal SX ausgeführt
werden, das von der Impulserzeugungsschaltung 16B ausgegeben
wird. Demzufolge besteht selbst dann, wenn die Anzahl von Stufen
der Schalttransistoren erhöht
wird, keine Notwendigkeit, die Anzahl der Gate-Steuersignale und
Signalleitungen zu erhöhen.
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(Ausführungsform 4)
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14 ist
eine Darstellung, um einen Teil der Konfiguration eines Schaltreglers
von Ausführungsform
4 der Erfindung zu zeigen. 14 stellt
die Konfiguration in Bezug auf einen Ausgangs-Schalttransistor 21 alleine
dar, in welcher ein Bezugszeichen 71 eine Laststrom-Überwachungsschaltung
bezeichnet, Bezugszeichen 72a und 72b Verzögerungsschaltungen
bezeichnen, welche jeweils eine Inverterkette enthalten, und Bezugszeichen 73a und 73b Auswahlschaltungen
bezeichnen, jede für
die Ausgabe des Eingangssignals A als ein Ausgangssignal OUT, wenn
ein Auswahleingangssignal S sich auf einem niedrigen Pegel befindet,
und zum Ausgeben eines Eingangssignals B als das Ausgangssignal
OUT, wenn sich das Auswahlsignal S auf einem hohen Pegel be findet.
Die Verzögerungsschaltungen 72a und 72b und
die Auswahlschaltungen 73a und 73b bilden zusammen
eine Zeittakteinstellschaltung.
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Die
Laststrom-Überwachungsschaltung 71 überwacht
eine Laststromgröße des Schaltreglers, um
so ein Ausgangssignal mit niedrigem Pegel auszugeben, wenn die Laststromgröße klein
ist, und ein Signal mit hohem Ausgangspegel, wenn die Laststromgröße groß ist. Demzufolge
ist eine Verzögerung
zwischen einer Änderung
des Gate-Signals
eines Ausgangs-Schalttransistors 22 oder einer Änderung
des Signals SA und einer Änderung
des Gate-Signals des Ausgangs-Schalttransistors 21 klein,
wenn der Laststrom klein ist, und ist entsprechend einer durch die
Verzögerungsschaltungen 72a und 72b empfangenen
Verzögerung
größer, wenn der
Laststrom groß ist.
Demzufolge kann, wenn der Laststrom klein ist, ein sequentielles
Umschaltintervall reduziert werden, so dass die Verschlechterung des
Wirkungsgrades effektiver unterdrückt werden kann, wenn der Laststrom
klein ist.
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Die
Konfiguration von 14 kann auch für die anderen
Ausgangs-Schalttransistoren oder Gleichrichter-Schalttransistoren
bereitgestellt werden. Ferner können
zwei Arten von Verzögerungen gemäß der Amplitude
und dem Laststrom in der Konfiguration von 14 eingestellt
werden, wobei jedoch die Konfiguration so modifiziert werden kann, dass
mehr als zwei Arten von Verzögerungen
eingestellt werden können. 15 stellt
eine exemplarische Schaltung mit einer Konfiguration dar, in welcher
vier Arten von Verzögerungen
eingestellt werden können.
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Auf
diese Weise kann jedes sequentielle Schaltintervall in dieser Ausführungsform
geeignet eingestellt werden, und somit kann die Verschlechterung
des Wirkungsgrades unterdrückt
werden, wenn der Laststrom klein ist.
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(Ausführungsform 5)
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16 ist
ein Schaltbild, um die Konfiguration eines Schaltreglers von Ausführungsform
5 der Erfindung zu zeigen. In jeder von den vorstehend erwähnten Ausführungsformen
fließt,
wenn ein Ausgangs-Schalttransistor und ein Gleichrichter-Schalttransistor
beide sich im Offen-Zustand befinden, ein Querstrom durch diese
hindurch. In der Konfigurati on von 16 ist
eine Logikschaltung 80 vorgesehen, um das Auftreten des
Querstroms zu verhindern.
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In
der Logikschaltung 80 von 16 empfängt eine
UND-Schaltung 81 mit drei Eingängen an ihren Eingängen Treibersignale
SA1 bis SA3, um jeweils Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 anzusteuern.
UND-Schaltungen 82a bis 82c mit zwei Eingängen empfangen
an einem ihrer Eingänge
Treibersignale SB1 bis SB3, um jeweils Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 anzusteuern
und empfangen auch als die anderen Eingangssignale das Ausgangssignal
der UND-Schaltung 81 mit den drei Eingängen.
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Aufgrund
dieser Konfiguration befindet sich, wenn irgendeiner von den mehreren
Ausgangs-Schalttransistoren 21 bis 23 sich in
einem Offen-Zustand befindet, das Ausgangssignal der UND-Schaltung 81 mit
den drei Eingängen
auf einem niedrigen Pegel. Daher werden die mehreren Gleichrichter-Schalttransistoren 31 bis 33 alle
in einen Gesperrt-Zustand unabhängig
von den Logikpegeln der Steuersignale SB1 bis SB3 versetzt. Demzufolge kann
das Auftreten des Querstroms vermieden werden.
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In
dieser Ausführungsform
wird, da die Anzahl der Ausgangs-Schalttransistoren drei ist, die UND-Schaltung
mit drei Eingängen
verwendet. Selbstverständlich
kann die Anzahl der Eingänge
der UND-Schaltung gemäß der Anzahl
der Ausgangs-Schalttransistoren verändert werden. Ferner kann die
Logikschaltung in jeder Konfiguration vorliegen, sofern sie die
Schalttransistoren so steuern kann, dass wenn irgendeiner der mehreren
Ausgangs-Schalttransistoren sich in dem Offen-Zustand befindet,
die mehreren Gleichrichter-Schalttransistoren alle in einen Gesperrt-Zustand
versetzt werden.
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Nun
wird ergänzend
die Herstellung eines Schaltreglers als eine LSI beschrieben. Wie
es vorstehend beschrieben wurde, ist es, um einen Schaltregler mit
einem hohen Umwandlungswirkungsgrad zu realisieren, wichtig, die
Offen-Widerstände
der Schalttransistoren so weit wie möglich zu reduzieren. Auch der
Verlust aufgrund der Widerstandsanteile von Leitungen und Anschlussdrähten kann
nicht vernachlässigt
werden, wenn ein Laststrom groß ist. Ferner
sollten wenn der Schaltregler in einem tragbaren Gerät verwendet
wird, die äußeren Komponenten so
wenig wie möglich
und so klein wie möglich
sein, so dass das tragbare Gerät
in Form und Gewicht kleiner sein kann.
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In
Anbetracht der vorstehend erwähnten Punkte
wird ein Schalttransistor bevorzugt als ein auf dem Chip befindlicher
hergestellt, wobei dessen Offen-Widerstand so weit wie möglich reduziert
wird. Alternativ kann ein Schalttransistor mit einem kleinen Offen-Widerstand alleine
außerhalb
hergestellt werden, während
die anderen Transistoren als auf dem Chip befindliche aufgebaut
sind. Somit kann die Schaltstörung
reduziert werden, während
gleichzeitig ein hoher Umwandlungswirkungsgrad unter gleichzeitiger
Reduzierung der Anzahl der Außenkomponenten
beibehalten wird.
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17 ist
eine Darstellung, um ein Beispiel eines LSI-Systems zu zeigen, das
unter Verwendung des Schaltreglers dieser Erfindung aufgebaut ist.
In 17 enthält
eine LSI 90 einen LSI-Kernteil 91 und einen DC/DC-Wandler 92 und
ist mit einer Glättungsschaltung 10 als
einer Außenkomponente
versehen. Die Bezugszeichen 93a bis 93e bezeichnen
Anschlussflächen
des LSI 90. Der DC/DC-Wandler 92 enthält beispielsweise
mehrere Ausgangs-Schalttransistoren wie in irgendeiner der vorstehend
beschriebenen Ausführungsformen
beschrieben wurden, und der DC/DC-Wandler 92 und die Glättungsschaltung 10 bilden
zusammen den Schaltregler dieser Erfindung. Der DC/DC-Wandler 92 wandelt
den Anschlussflächen 93a und 93b zugeführte Energieversorgungspotentiale
Vdd und Vss, die an werden, in eine Spannung Vnd durch den in irgendeiner
der vorstehend beschriebenen Ausführungsformen beschriebenen
Betrieb um und gibt die Spannung an die Anschlussfläche 93e aus.
Die Glättungsschaltung 10 glättet die
Ausgangsspannung Vnd des DC/DC-Wandlers 92, um so die geglättete Spannung als
die Spannung Vout auszugeben. Die Ausgangsspannung Vout der Glättungsschaltung 10 wird
als eine interne Energieversorgungsspannung an den LSI-Kernteil 91 geliefert.