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JPH08512143A - 一体型光カプラー - Google Patents

一体型光カプラー

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Publication number
JPH08512143A
JPH08512143A JP7503486A JP50348695A JPH08512143A JP H08512143 A JPH08512143 A JP H08512143A JP 7503486 A JP7503486 A JP 7503486A JP 50348695 A JP50348695 A JP 50348695A JP H08512143 A JPH08512143 A JP H08512143A
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JP
Japan
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waveguide
substrate
housing
groove
cover
Prior art date
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Pending
Application number
JP7503486A
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English (en)
Inventor
ティー. ボイド,ゲイリー
リー,ツ−チェン
エー. スベンテク,ブルース
エム. クロス,エリザ
エー. ウェラー−ブロフィー,ローラ
Original Assignee
ミネソタ マイニング アンド マニュファクチャリング カンパニー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ミネソタ マイニング アンド マニュファクチャリング カンパニー filed Critical ミネソタ マイニング アンド マニュファクチャリング カンパニー
Publication of JPH08512143A publication Critical patent/JPH08512143A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 ファイバアライメント溝及び導波路を有する基板ならびに補足の溝及び任意にチャネルを有するカバーを含む一体型光カプラー。これらのカプラーは、複製可能なマスタ及びこれらのマスタから形成された電気メッキ金型から作製することができる。

Description

【発明の詳細な説明】 一体型光カプラー 発明の分野 本発明は、予め位置合わせ(アライメント)された導波路コア及びファイバ溝 を用いることによって入力側の光ファイバを出力側の光ファイバに結合する光カ プラーに関する。もう1つの面において、受動型の光カプラーが形成される金型 (モールド)と、これらの金型が作製されるマスタが開示される。このマスタを 製造する方法もまた開示される。 発明の背景 光カプラーは、1本もしくはそれ以上の入力側の光カプラーを1本もしくはそ れ以上の出力側の光カプラーに結合するものである。これらの光カプラーを使用 すると、入力側のファイバによって支持されている被伝送光を分割するかもしく は合流させて、単数もしくは複数の光ファイバに導くことができる。これらの光 カプラーは、ファイバ通信、ケーブルテレビジョン網及びデータ通信において重 要な役割を奏することができる。 現在のところ、カプラーは、光ファイバを融着させることによってかもくしは 、平板型のガラス一体化光デバイスであって、入力側のファイバからの光をデバ イスの反対側の端部に取り付けられた出力側のファイバに案内するためのデバイ スに取り付けることによって、製造されている。これらの方法のどちらも、非常 に骨のおれる作業であり、また、極めてコスト高である。このコストはまた、出 力側の所望とするファイバの数に比例している(入念に融着を行うかもしくは個 々 のファイバのそれぞれを結合させることに原因する)。これらの骨のおれるプロ セスは、また、これらのデバイスを大量生産することを阻止している。 チャネル型の導波路は、光カプラーとは異なって、広い範囲で使用されかつ容 易に製造されている。過去の20年においては、これらの光導波路を製造するた めの多数の方法が開発されている。例えば、マスタにニッケルを電気メッキして チャネル型の導波路の金型を形成すること及びフォトレジスト技法を使用して導 波路を形成することが多年にわたって知られている。さらに最近では、改良され た導波路を製造するためにフォトリソグラフィ技法が使用されている。また、キ ャスト−アンド−キュア法は、ポリマーからなるチャネル型の導波路を形成する ためのより古い方法であるところの射出成形法を補完している。しかしながら、 これらの技法のいずれも、そのようなチャネル型の導波路に対して光ファイバを 受動的に位置合わせするための手段を教示していない。 最近の刊行物〔A.Neyer、T.Knoche及びL.Mueller、 Electronics Letters,29,399(1993)〕におい て、多数の導波路を安価に複製する方法が開示されている。この方法は、フォト レジストとその後のニッケルの電気メッキでマスタの金型(まっすぐな導波路チ ャネル用のみ)を形成すること、射出成形によってポリ(メチルメタクリレート )の導波路溝を形成すること、高い屈折率を有するUV硬化性樹脂を溝に充填す ること、樹脂−基板の上にフラットな上部部材を載置すること、そして全体を硬 化させること、を包含していた。この刊行物のなかで、著者らは、このプロセス を使用して、ひとつの加工工程で、光導波路構造体及びファイバアライメント溝 を同時に製造することができたということを示している。このようなファイバ溝 の形成及びアライメントを 包含するために上記の方法をいかに変更し得たかについては、記載も提案もされ ていない。 発明の概要 簡潔に述べると、本発明は、ポリマーハウジング(すなわち、基板及びカバー を結合させることによって形成された単位構造体)を含む一体型のn×m光カプ ラーを提供する。この光カプラーは、 (a) n本の入力側光ファイバ、 (b) 前記基板及び(又は)前記カバーに形成されたn本の入口側導波路であ って、同じく前記基板及び(又は)前記カバーに形成されたm本の出口側導波路 に分岐もしくは集束せしめられているもの、及び (c) m本の出力側光ファイバ、 を有し、 ここで、n及びmは、独立して、1〜1024の整数であり、 前記ハウジング内の正確に位置合わせされた溝によって、前記n本の入口側導 波路が、それぞれ、前記n本の入力側光ファイバのそれぞれのコアに位置合わせ されておりかつ前記m本の出口側導波路が、それぞれ、m本の出力側光ファイバ のそれぞれのコアに位置合わせされており、前記導波路には、少なくとも1種類 の、硬化せしめられて導波路のコアを形成可能な重合性モノマーが充填せしめら れている。 もう1つの面において、本発明は、光ファイバ及びチャネル型の導波路のコア を取り込みかつ予め位置合わせするためのポリマーハウジングを提供する。この ポリマーハウジングは、 (a)基板部材であって、 (i)第1の部分であって、その1つの水平面が、n本の入力 側光ファイバを保持するためのn本の溝を有しているもの、 (ii)第2の部分であって、その1つの水平面が、m本の出口側導波路に 分岐もしくは集束せしめられるn本の入口側導波路を有しているもの、及び (iii)第3の部分であって、その1つの水平面が、m本の出力側光ファ イバを保持するためのm本の溝を有しているもの、 を含むもの、及び (b)カバー部材であって、 (i)第1の部分であって、その1つの水平面が、n本の入力側光ファイ バを保持するためのn本の溝を有しているもの、 (ii)第2の部分であって、その1つの水平面が実質的に平坦であるもの 、及び (iii)第3の部分であって、その1つの水平面が、m本の出力側光ファ イバを保持するためのm本の溝を有しているもの、 を含むもの、 を含み、ここで、 n及びmは、独立して、1〜1024の整数であり、 前記n本の溝及び前記m本の溝は、そこに保持されるべき光ファイバのコアが 前記した対応の導波路の端部と適正に位置合わせされるように作り上げられてお り、また、前記基板及びカバーは、これらの2つの部材を接着力を介して一緒に 接合して実質的に単一のハウジングを形成できるような形で形成されている。 別の面において、本発明は、光ファイバ及びチャネル型の導波路を取り込みか つ予め位置合わせするための前記したポリマーハウジングが上方に形成されてい る金型を提供する。 さらに別の面において、本発明は、光ファイバ及びチャネル型の導波路を取り 込みかつ予め位置合わせするためのポリマーハウジン グが上方に形成されている前記した金型が上方に電気メッキされているマスタを 提供する。 また、もう1つの面において、本発明は、光ファイバ及びチャネル型の導波路 を取り込みかつ予め位置合わせするための前記したポリマーハウジングが上方に 形成されている前記した金型を製造するための方法であって、下記の工程: a)シリコンウェハをフォトリソグラフィでエッチングしてファイバアライメ ント溝を形成し、 b)前記ウェハにフォトレジスト材料を塗布し、 c)前記フォトレジストにおいて、前記ファイバアライメント溝と位置合わせ された導波路をパターニングし、 d)前記パターニング後のウェハに金属の層を電気メッキして前記ウェハに対 して金属補完物を付与し、そして e)前記金属補完物を前記ウェハから分離すること、 を含んでいる。 本願においては、次のような定義を適用するであろう。 「キャスト−アンド−キュア」とは、モノマーを単独でもしくは例えばポリマ ー、ガラス粒子及びオリゴマーのような添加剤とともに適用して、(液体の状態 で)金型に合わせ、そして重合させることができることを意味し、 「チャネル型の導波路」又は「導波路」とは、光学的に透明な媒体であってよ り低い屈折率を有するものによって取り囲まれた延在せる光学的に透明な媒体か らなる光誘導用導体を意味し、 「光カプラー」とは、1本もしくはそれ以上の入力側光ファイバを1本もしく はそれ以上の出力側光ファイバに結合させ、そしてスプリッタ及びコンビナを包 含するデバイスを意味し、 「(メタ)アクリレート」とは、アクリレート、メタクリレート 、アクリルアミド及びメタクリルアミド化合物を意味し、そして 「基」又は「 化合物」又は「モノマー」とは、所望とする生成物に対して影響を及ぼさない通 常の置換基によって置換され得る化学種を意味している。 本発明は、光ファイバのコアと導波路を予め位置決めするポリマーハウジング を教示する。このハウジングは、2つの部材:基板及びカバーから構成されてい る。このハウジングの基板部材には、溝、そしてチャネルが見出される。溝には 光ファイバが保持され、そしてチャネルには、硬化により導波路のコアを形成す る少なくとも1種類の重合可能なモノマーが充填される。このポリマーハウジン グは、金型から、キャスト−アンド−キュアによるマイクロ複製法によって形成 することができる。金型は、さらに、マスタ上に金属を電気メッキし、そしてそ のマスタから金型を分離することによって形成される。このマスタでは、上記し たような溝とチャネルが形成される。これらの溝及びチャネルは、このマスタか ら誘導されるポリマーハウジングの溝に挿入される光ファイバのコアが、このマ スタから誘導されるポリマーハウジングのチャネルによって規定される導波路コ アに精密に位置決めされるようにするため、厳密な許容誤差で形成される。 現在入手可能なカプラーは、別個に製造されており、また、したがって、製造 が煩雑である。本発明の光カプラーは、多数の子型(daughter mol d)を形成することのできるマスタを入念に形成することによって、大量に生産 することができる。溝を精確に形成して、それらの溝に挿入されるファイバがそ れらに対応する導波路と予め位置合わせされるようにすることは、受動型の光カ プラーを容易に製造することを可能にする工程である。この工程によって、先に 説明したNeyerらの刊行物に記載の方法に従って 製造される物品に固有の限定を克服することができる。換言すると、もしもこの ような物品を光カプラーとして使用したと仮定するならば、同じく高コストのマ ニュアルアライメントに供されるであろう。 本発明の光カプラーは、完全に組み立てた場合、ポリマー材料によって取り囲 まれた光ファイバを含んで構成される。ファイバのコアをそれらに対応する導波 路のコアに精確に位置決めする本発明のカプラーの溝に光ファイバを固定すると 、周囲を取り囲んだ材料の熱膨張に原因して光ファイバのミスアライメントが起 こりそうもなくなる。このことはまた、Neyerらによって記載される方法に 従って製造される物品よりも優れた利点である。 本発明のカプラーが十分に厚い場合には、そのサンドイッチ構造によって密閉 封止を提供することができる。このようにすることによって、その光学的特性が 水分の吸収に原因して変化せしめられる機会を低減することができる。 図面の簡単な説明 第1図は、本発明の光カプラーの1つの態様を示した大幅に拡大した斜視図で ある。 第2図は、本発明の光カプラーの1つの態様の基板部分を示した、部分的に破 断した、大幅に拡大した斜視図である。 第3図は、本発明の光カプラーの1つの態様のファイバー導波路界面部分を示 した、部分的に破断した、大幅に拡大した斜視図である。 第4図は、本発明の光カプラーハウジングの1つの態様の一方の端部を示した 、部分的に破断した、大幅に拡大した斜視図である。 第5図は、本発明の光カプラーハウジングを複製することのでき る金型の1つの態様の基板の一方の端部を示した、部分的に破断した、大幅に拡 大した斜視図である。 第6図は、本発明の金型を複製することのできるマスタの1つの態様の一方の 端部を示した、部分的に破断した、大幅に拡大した斜視図である。 図面の詳細な説明 第1図は、基板12及びカバー14を有していて、それらのものがモノマー1 6の薄い層によって接着剤で結合せしめられている1×2の光カプラー10を示 している。モノマー16は、基板12の上面を被覆し、そして導波路18を充填 している。(導波路18は、それらの相対的なサイズを考慮して線で示されてい る)。モノマー16は、また、ファイバアライメント溝22内の光ファイバ20 を取り囲んでいる。基板12の小さな突起24は、カバー14内の小さな窪み2 6に滑り嵌合しており、そして、基板12のカバー14のアライメントを補助し ている。 第2図は、光ファイバ20を受動的に位置合わせする1×2の光カプラー基板 12’の第2の態様であって、光ファイバ20の一部分がファイバアライメント 溝22内においてなおもクラッド27によって取り囲まれているものを示してい る。光ファイバ20は、導波路18によって(光学的に)接続されている。(導 波路18は、ここでもまた、それらの相対的なサイズを考慮して線で示されてい る)。垂直なギャップ28が凹部30を連通している。導波路18、ファイバア ライメント溝22、ギャップ28、そして凹部30にはモノマー16が充填され ている。(明瞭にするために図示されていないけれども、モノマー16の薄い層 はまた、基板12’の上面をカバーしている。)基板12’の上面の突起24は 、基板12’ とそれに対応するカバー(図示せず)のアライメントを補助している。 第3図は、1×2の光カプラー10”の一部分を拡大して示したものである。 特に、図示されているものは、基板12”及びカバー14”内の、光導波路18 、光ファイバ20、ファイバアライメント溝22及びギャップ28が結合した領 域である。基板12”及びカバー14”のどちらもバッキング30によって補強 されている。ファイバアライメント溝22は、カプラー10”の外側にある開口 32からギャップ28のところの開口34に向かって(水平方向に)狭くなって おり、また、開口32から(垂直方向に)わずかにテーパーがかかっている。モ ノマー16の薄い層が基板12”の上面をカバーしており、また、導波路18、 ギャップ28、そしてファイバアライメント溝22のうち光ファイバ20が詰め られていない部分を充填している。ファイバアライメント溝の幅を狭くしかつテ ーパーを付与すると、光ファイバ20のコア36を導波路18に正確に位置合わ せすることができる。カバー14”を基板12”上に載置した場合には、アライ メントを補助する突起24及び窪み26を使用することによって、ファイバアラ イメント溝22を光ファイバ20の周囲に確実に嵌合させ、そしてその光ファイ バ20を保持することができる。 第4図は、どちらもバッキング46によって補強されている基板42及びカバ ー44を有するハウジング40の1つの態様の一方の端部を示している。基板4 2において、導波路48は、ギャップ52によってファイバアライメント溝50 から分離されている。カバー44には、ファイバアライメント溝50及びギャッ プ52が含まれている。ファイバアライメント溝50は、開口54のところから 狭くなっており(水平方向)かつテーパーが付与されている(垂直 方向)。 第5図は、導波路用のリブ62及びファイバアライメント溝用のリッジ64を 有していてそれらの部材がギャップ形成性部材66によって分離されている金型 60の1つの態様の一方の端部を示している。ファイバアライメント溝用のリッ ジ64は、端部68からギャップ形成性部材66に向かって狭くなりかつテーパ ー面を有している。(カバーのための金型は、説明を明瞭にするために省略され ている)。 第6図は、基板部材72及びカバー部材74を有しているマスタ70の1つの 態様の一方の端部を示している。どちらの部材も、ギャップ80によって分離さ れている導波路76とファイバアライメント溝78を有している。基板部材72 及びカバー部材74のうち導波路76が作り込まれている部分は、フォトレジス ト材料82の薄い層によって被覆されている。ファイバアライメント溝78は、 開口84から狭くなりかつテーパー面を有している。 好ましい態様の詳細な説明 本発明の光カプラーの作製は、マスタの形成を必要とするものである。このマ スタから子型を製造し、これらの子型を使用して本発明の光カプラーをマイクロ 複製する。本発明のカプラーは子型から直接的に製造され、また、この子型は、 マスタ上で電気メッキを行うことによって順に製造されたものである。そのため に、マスタは、所望とするカプラーと同一のパターンを必然的に有するようにな り、そしてこのマスタから製造された金型は、補完の(逆の)パターンを有する ようになるであろう。すなわち、金型は、光カプラーについて溝が望ましい場所 においては起立せるリブを有していなければならない。 所望の導波路パターンを有するマスタを一度形成すると、多数の子型を提供す ることが、比較的に容易にかつ経費がかからなくなる。これらの金型を一度作製 すると、それらの金型を使用して、本発明の光カプラーを大量に製造することが できる。このことは、光ファイバを相互に融着させるかもしくは光ファイバを平 坦なガラス一体型光デバイスに付設する煩雑な工程を包含する現行の光ファイバ の製造方法とは完全に対照的である。 I.マスタの作製 マスタを形成するに当たっては、大きく注意を払わなければならない。なぜな らば、子型は、それらの型が形成されるマスタのものとは補完的である寸法誤差 を有しているからである。特に、導波路のチャネルとファイバの溝は、マスタに おいて精確な許容誤差でされなければならない。さらに詳しく述べると、(例え ば)シングルモードの操作が望ましい場合には、8×8μm2の断面積を有するチ ャネルを、かなり大きなクラッド半径(例えば、62.5μm)を有するファイ バを保持するファイバ溝とサブミクロンの精度で位置合わせしなければならない 。さらに加えて、これらのチャネルの垂直な壁部は、光散乱のロスを軽減するた め、非常に平滑でなければならない。 マスタを作製する材料を選択する選択する場合に、第1の要件は、それらの材 料が、(a)幅及び深さが約8μm〜約100μmの範囲であり、その壁部がサブ ミクロンのスケールで平滑化されているチャネル、そして(b)光ファイバを保 持できる溝をパターニング可能であることである。マスタを形成するためには、 チャネル及び溝の形成に選択される方法に依存して、ポリマーフィルム、シリコ ン酸化物及びシリコン窒化物を含めた種々の材料を使用することができる。特に 好ましい材料は、フォトレジスト中での湿式現像と 組合わさったフォトリソグラフィがチャネル形成に有利な1方法であることが判 明しておりかつ異方性エッチングを使用したシリコンフォトリソグラフィが溝形 成に有利な1方法であることが判明しているので、フォトレジスト材料を被覆し たシリコンである。 マスタから同様にして形成されるハウジングは、2種類の部材、すなわち、基 板及びカバーの組み合わせであるので、マスタは、これらの部材の精確な複製物 を含むものでなければならない。これらの部材を形成する有利な方法を以下にお いて説明する。 A.基板 溝及びチャネルを形成するための可能性のある方法は、ダイヤモンド研磨、レ ーザーアブレーション(融蝕)、そしてフォトリソグラフィ法を包含している。 これらの技法のうちの第1のものの有用性は、急な末端を有する湾曲したチャネ ル及び溝を形成する際に包含される難しさによってきびしく制限されている。溝 −及びチャネル−形成方法としてダイヤモンド研磨を適用することの可能性は、 本発明は、湾曲したチャネルが必要とされ得る(単一のファイバからの光が多数 個の出力側ファイバに分割され得るので)受動型の光カプラーの形成を包含する ので、また、ファイバアライメントの溝は、導波路の始めの部分で急な末端を形 成し得るので、かなり制限されている。 レーザーアブレーションは、導波路パターンの形成において必要なフレキシビ リティを屡々奏するけれども、マイクロエレクトロニクス工業において常法とし て用いられず、そして、したがって、フォトリソグラフィのように完全に発達さ せられたものではない。 好ましくは、本発明の必要な溝及びチャネルを形成するためにフォトリソグラ フィ法が使用される。さらに詳しく述べると、フォトレジスト中で一般のマスク 及び露光現像法を使用することによって チャネルを形成することができる。ファイバ保持用の溝は、シリコン(Si)結 晶ウェハで、フォトリソグラフィ法によるパターニングとそれに引き続く塩基性 溶液、例えばKOH溶液中における異方性エッチングによって形成することがで きる。これらの溝及びチャネルを形成するために使用される技法を以下において さらに詳しく説明する。 1.溝 シリコンは引き続くエッチング工程に特に従順たり得ることが認められており かつそのために好ましい材料であるので、以下に記載する説明の目的においてシ リコンを使用した。シリコン結晶(100)ウェハは、マスタ基板のための特に 好ましい基材材料である。しかしながら、当業者であるならば、種々の基材材料 の使用に関して以下の方法を適合させ得るということを理解できるであろう。 入力側及び出力側の光ファイバをマスタから得られるであろうハウジングのチ ャネル型導波路に強固に保持しかつそれに精確に位置合わせするため、そのよう なファイバを保持することのできる溝をシリコン結晶ウェハの末端部分に形成し なければならない。単純な1×2スプリッタを一例として使用すると、ウェハの 1端は単一の溝を有し、一方、その他端は2つの溝を有するであろう。これらの 溝を形成する方法はよく知られており、そしてTsang etal.,App lied Optics,14,1200(1975)を含めたいろいろな刊行 物に記載されている。 清浄なシリコンウェハ上に例えばシリコン窒化物又はシリコン酸化物のような マスキング層を付着させる。この層は、100nmが特に良好に加工し得るという ことが判明しているけれども、50〜200nmの厚さの範囲とすることができる 。次いで、この層を常用のフォトリソグラフィによってパターニングする。例え ば、好ましく は付着促進剤を添加した後、基板の表面上にフォトレジスト材料をスピンコート することができる。溶媒を除去するために加熱(すなわち、ソフトベーキング) した後、フォトレジストを光源、好ましくは例えば水銀ランプのような紫外線光 源に、<110>結晶方向に位置合わせしたマスクを介して露光することによっ てファイバ溝パターンを適用する。パターニング後、この技術分野において公知 な手法に従ってフォトレジストを現像する。 次いで、パターニング及び露光の後のシリコン窒化物マスキング層をこの技術 分野において公知な多数の手段のいずれかによってエッチングする。なお、反応 性イオンエッチング(例えば、CF4及び酸素)は1つの好ましいエッチング手 段であることが判明している。パターニングしたマスク層の所望の量をエッチン グ時間及び速度を注意深くコントロールすることによりエッチングし、基板材料 (例えば、シリコンウェハ)を露出させる。この工程が完了した後、フォトレジ ストが可溶である有機溶媒を用いて濯ぎを行うことによって残留フォトレジスト を除去する。この目的のために一般的な溶媒は、アセトン/イソプロパノール溶 液である。フォトレジストの残余を酸性媒体中で濯ぎを行うことによって除去す ることができる。 マスキング層をエッチングした後、シリコン結晶ウェハを強塩基性溶液で異方 性エッチングする。特に好ましいエッチング溶液は、水性の30%(重量)水酸 化カリウム溶液である。この工程は、溝形成のためのエッチングを完結するのに 必要な時間の長さを短縮するため、高められた温度で行うことができる。80℃ の温度は、十分に短いエッチング時間を生じるということが判明した。 エッチングの深さは、エッチング溶液の濃度、エッチングを実施する温度、エ ッチング溶液を基板に接触させる時間あるいはこれら のファクタの組み合わせを調整することによってコントロールすることができる 。溝の深さをコントロールすることは、導波路に対する光ファイバの最適なアラ イメントを保証するうえで重要である。一例としてシングルモードファイバを使 用した場合には、挿入したファイバのコア(ファイバの表面から約62.5μm )がそれに対応する導波路のコアと同一の高さを有するのを保証するため、14 0〜160μmの範囲の溝の幅(基板の上部表面で)が望ましい。(この溝の幅 は、以下に記載するポリマーハウジング形成方法に特有な寸法の変化を理由とし て最適と思われるものよりも若干大である。)溝の深さは、使用されるべきファ イバの種類に応じて約50〜500nm、好ましくは60〜200μmであること ができる。溝は、得られたハウジングの溝に挿入されたファイバが強固に保持及 び支持されるような長さであるべきである。約3mmの長さが有利であるけれども 、この目的のためには1mmのような小さな溝の長さが有効てあることができる。 一部の用途の場合には、テーパーを有する溝を提供するのが望ましい(すなわ ち、ファイバの挿入を補助するため)。例えば、外側の端部から導波路に向かっ て(水平に)狭くなっておりかつそれと同一の方向に(垂直に)テーパーがかか っている溝であると、ファイバの挿入プロセスがより容易になるであろう。 所望とする溝をエッチングした後、シリコン窒化物マスキング層の残余を除去 する。この除去は、先に示したものと同一のタイプのマスキング層エッチングに よって達成することができる。 完了した時に、このプロセスでは、所望とする溝パターンがエッチングされた シリコン結晶ウェハが得られる。 2.チャネル パターニング後のシリコン結晶ウェハの中央部分、すなわち、2 組の溝の中間の部分に、好ましくは付着促進剤を適用した後に、もう1つのフォ トレジスト層を付着させる。この層は、200μmまで、好ましくは100μmま での厚さに適用することができる。次いで、このフォトレジスト層を、溝形成プ ロセスと同様に、パターニングし、光照射し、そして現像する。 チャネルの寸法をコントロールすることは非常に重要である。なぜならば、チ ャネルの寸法は、光ファイバのコアの寸法にできるかぎり近づけるべきであるか らである。チャネルの幅及び深さは、マスクのパターンを精確に設計し、フォト レジストが光源に曝される(上記のようにして)時間をモニタリングし、現像液 でフォトレジストをエッチングする際の時間を調節し、あるいはこれらの変更要 因を組み合わせることによって、入念に調整される。幅及び深さは、1〜200 μm、好ましくは5〜100μm、さらに好ましくは約5〜8μmであり、そしてこ れらのチャネルと位置合わせされるべきファイバの種類に依存するであろう。例 えば、1.31及び1.55μmの波長で動作せしめられるシングルモードの光 ファイバをカプリングさせる予定であるならば、チャネルの幅及び深さは、約8 μm、シングルモードファイバのコアの直径、となるであろう。 一部の用途では、この溝形成プロセスを、シリコン結晶ウェハのうちチャネル と溝の底部の間のべべル(面取り)部分に委ねてもよい。この部分は、ファイバ 保持溝と導波路の間にトレンチを形成するため、溝/チャネル界面を横切ってカ ッティングを行うことによって修正することができる。このカッティングを行う ためにダイヤモンドエッジ付きのノコギリを使用することができる。 スピンコート法(フォトレジスト材料の適用に用いられる)は、表面の不連続 部(すなわち、溝)においてフォトレジスト材料の蓄 積を生じる傾向を有している。このような蓄積は、一様な深さを有しているチャ ネルの形成を妨害するものである。このような蓄積を軽減するために、一連の高 rpmスピンコーティング及び乾燥を使用して適当な厚さを有する層を形成する ことができる。この方法により、ウェハにフォトレジスト材料を塗布し、それを シングルの低rpmスピンコーティング法に供する場合よりも、フォトレジスト 厚さの均一性のより良好なコントロールが提供される。フォトレジストを付着さ せた後、溝/チャネル界面のフォトレジスト材料を、その溝/チャネル界面のエ ッジから1mmまで、好ましくは数百ミクロンまで、フォトリソグラフィによって 除去する。換言すると、チャネルのマスクは、チャネルと溝の中間において幅1m mまでの垂直のギャップが形成されるように設計を行う。フォトレジストを露光 及び現像する場合に、この垂直なギャッブで、チャネルの末端と溝の末端との間 に小さなスペースが形成される。基板のうちこれらのスペースの形成によって露 出せしめられた部分は、ダイヤモンドエッジの付いたノコギリで、好ましくはシ リコン結晶ウェハのべべル部分をカットするのと同時に、基板の溝中に挿入され るファイバの最も低い個所と少なくとも同じ深さまでカットすることができ、し たがって、このようなファイバが対応の導波路の端部に対してクリアな光路を有 するようにすることができる。 必要に応じて、基板のうち導波路が配置されるべき部分にリザーバ(溜め)を 同様にエッチングもしくはカットすることができる。これらのリザーバは、これ らのマスタから製造されるハウジングのチャネルに充填される過剰のモノマーを 補足しかつ保存する手段として作用する。これらのリザーバは、チャネルとほぼ 同じ長さであり(すなわち、少なくとも数ミリメータ)、しかし、それらの幅及 び深さは、任意の過剰のモノマーの実質的な部分が補足されるのを 保証するため、より大きくなるであろう。これらのリザーバは、チャネル及びリ ザーバを垂直に接続するトレンチによってチャネルの末端に接続せしめられる。 このトレンチは、好ましくは、先のパラグラフにおいて説明したギャップにおい てカットせしめられる。 B.カバー この部材は、基板とほとんど同一の手法に従って形成せしめられる。換言する と、溝及びチャネルは、上記したようにシリコン基板中に形成せしめられる。も しもカバー中にチャネルを同様にして形成するならば、基板中におけるそのチャ ネルの深さは、チャネル全体の深さがファイバコアの直径と同一となるように調 節すべきである。しかしながら、このチャネル形成工程は、フラットなカバーが 得られるようにするため、省略することができる。このようにした場合、ハウジ ング片を形成した後にカバーのチャネルが基板のチャネルと不適切に位置合わせ されるというような可能性を排除するたとができる。 別法によれば、カバーにおいてのみチャネルを形成することができる。このよ うにすると、基板に関しての上記したようなチャネル形成工程を省略することが できる。この別法で、フラットであるハウジング基板が形成されるようなマスタ が得られる。すなわち、ハウジングによって透過せしめられるあらゆる光は、カ バ内に完全に配置せしめられたチャネル型導波路のコアを通過せしめられるであ ろう。 II.金型の作製 先の項で説明したマスタから電気メッキ法によって金型を作製する。この方法 により、所望とする溝及びチャネルパターンを装備した耐久性のある金属製の金 型が製造される。 シリコン/フォトレジストマスタに最初に例えばニッケル、銅、 亜鉛、銀又は金属合金のような金属の薄膜を被覆して導電性のシード層を提供す る。このシード層は、好ましくは、約20nmの厚さである。被覆後のマスタに、 ニッケルが特に有利であるというものの、例えばニッケル、亜鉛又は銀のような 金属の約0.64mm(25ミル)を電気メッキする。特に有利な金型は、ニッケ ルシード層上に電気メッキしたニッケルである。 次いで、金型をマスタから分離する。この分離は、任意の物理的な手段、例え ば2つの部片に剥離することによって行うことができる。ニッケル金型からのマ スタの離型は、プラズマ強化化学蒸着法を使用してシリコン/フォトレジスト表 面(マスタの)にシリコン酸化物を最初に蒸着することによって強化することが できる。この離型層は、好ましくは、約100nmの厚さを有している。 III.ハウジングのマイクロ複製 本発明のハウジングは、基板及びカバーを含んでいる。そのために、これらの 両方の部材をそれらのそれぞれの金型で形成しなければならない。基板及びカバ ーのどちらとも、キャスティング(流し込み成形)法あるいは射出成形法のいず れかによって形成することができる。 組み立てを行う場合には、できるかぎり小さいカプラーが通常望ましいという ものの、本発明の光カプラーは数センチメートルまでの長さであり、そして数ミ リメートルまでの厚さを有している。カプラーの幅は、挿入されるべき入力側又 は出力側のファイバの数に依存するであろう。例えば、単純な1×1又は1×2 のカプラーは非常に狭くすることができ(すなわち、2本の光ファイバの幅とほ ぼ同じ)、他方において、20本もしくはそれ以上の入力側又は出力側のファイ バを有しているカプラーは、有意に幅広となるであろう。 ハウジングの基板及びカバーは、光ファイバのクラッドの屈折率に非常に類似 する、好ましくは1×10-4以内の屈折率を有するべきである。いくつかの化合 物はこのような屈折率を有しているけれども、より大きい又はより小さい屈折率 を有しているモノマー(あるいはモノマーの前駆体)の混合物を組み合わせて、 重合により所望とする屈折率を有するようにしたモノマー混合物を提供すること ができる。本発明のハウジングを形成するのに有用なポリマーは、エポキシ、ポ リ(メタ)アクリレート、ポリ(ビニルアズラクトン)、ポリウレタン、そして ポリウレアを包含している。これらのポリマーは、任意であるけれども、それら の屈折率を低下させるため及び近赤外波長における吸収ロスを低減するため、例 えばフッ素及び重水素のような原子で置換されていてもよい。追加的に、より低 い屈折率及び低下せしめられた熱膨張係数を提供するために、上記したようなポ リマーが形成されるモノマー混合物に対して、コロイド状シリカ、例えば米国特 許第4,885,332号に記載されているものを添加することができる。 適当なモノマーの組み合わせの一例として、米国特許第4,968,116号 (11欄)に記載のように、ペルフルオロシクロヘキシルアクリレート(PcH A)と例えば89:11(重量)のような比率で混合されたPhotomerTM 4127プロポキシル化ネオペンチルグリコールジアクリレート(Henkel Corp.;Morristown,NJ)又はエチレングリコールジメタク リレート(Aldrich Chem.Co.;Milwaukee,WI)で あって、約1%(重量)の光開始剤、例えばIrgacureTM651,2,2 −ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン(Aldrich)を有しているも のを挙げることができる。また、ポリマーの溶解性を低下させかつそのポリマー のガラス転移 温度を上昇させるため、架橋剤、例えば多官能性アクリレート、例えばトリメチ ロールプロパントリアクリレート(TMPTA)(Scientific Po lymer Products,Inc.;Ontario,NY)を添加する こともできる。 たとえ次のような技法が選択されたとしても、ハウジングについて得られる基 板部材は、その一方の端部上に入力側光ファイバ保持のための溝を有し、その他 方の端部のところで出力側光ファイバ保持のための溝を有し、そしてこれらの2 組の溝の中間のところで所望とするチャネルパターンを有している。マスタにつ いては精確なエッチングが行われているので(前記した)、溝に挿入されるべき ファイバは、それらに対応するチャネルの入口又は出口と位置決めされるであろ う。 A.キャスティング キャスティング技法は、基本的に、液体モノマー又はモノマーの混合物を金型 に注加し、次いでそれ(それら)を硬化させる工程を包含している。少なくとも 溝の充填を行いかつ溝及び導波路を含めた金型の表面を被覆するため、十分な量 のモノマー又はモノマー混合物を使用すべきである。 必要に応じて、モノマーの適用に先がけて、金型からのハウジングの分離を促 進するために、離型剤、例えばMold Release 225TM(RAM Products;Gardenia,CA)を金型に適用することができる。 モノマー(あるいはモノマーの混合物)を金型に注加した後、頑強なバッキン グ、例えばポリ(メチルメタクリレート)、ポリ(カーボネート)又は例えばア ルミニウムあるいはステンレス鋼のような金属をモノマーに対して押しつけるこ とができる。このことは、基板が特定量の構造的一体性を呈示しなければならな いような場所 において望ましい。 次いで、モノマー(あるいはモノマーとラスバッキングの組み合わせ)を、こ の技術分野において公知な様々な光又は熱的手段のいずれかによって硬化させる 。次いで、この硬化後のハウジング及び、もしも使用したならば、バッキングを 金型から物理的に分離する。 もしもポリマーバッキングを使用したならば、そのバッキングを酸素プラズマ で処理してポリマーハウジングに対するその付着力を高めることができる。この 処理は、酸素雰囲気(約26.7Pa、すなわち、200ミリトル)を有する反 応性イオンエッチング室中にバッキングをほぼ10分間にわたって収容すること を包含している。もしも金属のバッキングを使用したならば、基板に対するその 付着力を付着力促進剤によって促進することができる。 B.射出成形 本発明のハウジングを形成するため、同じくこの技術分野において公知な標準 的な成形法を使用することができる。これらの技法は、金型を射出成形装置に入 れ、これに適当な光学的性質(例えば「キャスティング」の項で説明したもの) を有するポリマーを射出し、次いで金型から分離することを必要としている。 複製したハウジングを金型から分離する前あるいはその後、その複製したハウ ジングにバッキングを接着することができる。 IV.カプラーの組み立て 所望とするパターンを有するハウジングを調製した後、入力側及び出力側の光 ファイバをそれらに対応するチャネル型導波路のコアに精確に位置合わせするよ うな2,3の簡単な工程で受動型の光カプラーを製造するであろう。 1種類もしくはそれ以上の重合可能なモノマーの混合物を基板及 びカバー部材のいずれか一方もしくは両方に形成されたチャネル中に注加する。 基板及びカバーの製造において使用したものと同様な、フッ素化及び重水素化誘 導体ならびにコロイド状シリカ含有モノマーを含めたモノマーを使用することが できる。モノマー(あるいはモノマーの混合物)を硬化させて導波路コアを形成 した後、そのような導波路コアの屈折率は、好ましくは、挿入されるべき光ファ イバのコアの屈折率にできるかぎり近いものである。さらに加えて、シングルモ ードのファイバ導波路の場合、導波路コアのポリマー(すなわち、硬化したモノ マー)の屈折率は、好ましくは、ハウジングの屈折率よりも7×10-3よりも大 ではなく、2×10-3よりも小さくない。(マルチモードのファイバを使用すべ き場所では、導波路コアのポリマー及びハウジングの屈折率の間のこの差は、好 ましくは、0.5よりも大ではない。)所望とするならば、多官能性のアクリレ ート及びメタクリレート、例えばTMPTAを組成物に添加して導波路コアのポ リマーを架橋させることができる。 次いで、劈開せしめられたかもしくは研磨せしめられた光ファイバを、チャネ ルが配置せしめられる部片の溝の部分に挿入する。(もしもチャネルを両方の部 片に形成したならば、いずれか一方の部片の溝にファイバを挿入することができ る。)次いで、この第1のものの上にその他のハウジング部材を載置し、その溝 と第1の部片のものとで光ファイバの周囲に滑り嵌めを形成する。次いで、所望 の場合には、この技術分野において公知ないろいろな光又は熱的手段のいずれか によってアセンブリを硬化させてもよい。ファイバとチャネル型導波路のコアの 間の僅かな程度の分離はカプリング効率に著しい影響を及ぼさないというものの 、ファイバは、好ましくは、チャネル型導波路のコアに対して直接的に突き合わ せられるであろう。 別法によれば、光ファイバを挿入した後、カバー及び基板に液体モノマーを充 填することができる。部片を一緒に嵌合してハウジングアセンブリを形成した後 、直ぐ先の部分で記載したようにしてモノマーを硬化させることができる。 基板及びカバーの溝及びチャネルのアライメントをより容易にするため、常用 の締結手段を包含するように部片を改良することができる。例えば、基板のマス タを改良して1個もしくはそれ以上の小さな突起を含むようにすることができ、 一方、カバーのマスタを改良して前記突起に嵌合する補完の小さな窪みを含むよ うにすることができる。別法によれば、カバーに突起を含ませ、一方、基板に補 完の窪みを含ませることができる。また、部片のうちのあるものに、別の部片の 補完の包囲型トラフに滑り嵌合せしめられるような包囲型リッジを形成してもよ い。 カプラーの組み立てを行った後、それを保護用のジャケット内に収容すること ができる。このジャケットは、ポリマー製あるいは金属製のいずれであってもよ い。 本発明の目的及び利点は、さらに、以下に記載する実施例によって説明するこ とができる。これらの実施例で記載するところの特定の材料及びその量ならびに その他の条件及び詳細は、本発明を不当に限定するものではないことを理解され たい。 実施例 例1:マスタにおける溝の形成 清浄な3インチのシリコンウェハ上で、60標準立方センチメートル毎分(sc cm)のNH3及び20sccmのジクロロシランの混合物を800℃で約30分間に わたって使用して、シリコン窒化物の層(約100nm)を成長させた。 このシリコン窒化物の層に、Shipley C−50TM付着促進剤(Shi pley Co.,Inc.;Newton,MA)の過剰量をスピンコートし 、次いで、室温で2,3分間にわたって乾燥した。その後、Shipley 1 818TMフォトレジストの過剰量をシリコン窒化物層上に4000rpmでスピ ンコートした。 次いで、コート後のウェハを90℃で約30分間にわたってベークした。ウェ ハを熱源から離した後、1−入力側ファイバ/l−出力側ファイバパターンを有 するマスクを<110>結晶方向に沿って位置合わせした。フォトレジストを、 マスクを載置したウェハを水銀ランプ(λ=400nm)に5.5mW/cm2で約 20秒間にわたって露光することによって、パターニングした。マスクを取り除 き、そしてフォトレジストをShipley 319TM現像液に浸漬した。次い で、ウェハを水で洗浄し、そして120℃で入念に乾燥した(約5分間)。 ファイバ溝の領域のシリコン窒化物を反応性イオンエッチング(20sccmのC F4及び0.5sccmの酸素で約5分間)によって除去した。残ったフォトレジス トを、マスタをアセトン/イソプロパノール溶液中で、次いでH2SO4/H22 溶液中で濯ぐことによって除去した。 次いで、シリコンウェハの露出した部分を30%(重量)のKOHの水溶液で 80℃の温度及び1.4μm/分の速度でエッチングした。ウェハは<110> 結晶方向に沿ってパターニングされたので、V字形の溝が形成された。これらの 溝は、深さが125μm、そして長さが3mmであった。 溝の中間に残留したシリコン窒化物を、20sccmのCF4及び0.5sccmの酸 素中で約5分間にわたって反応性イオンエッチングす ることによって除去した。 例2:マスタにおけるチャネルの形成 前記例1からのV溝のシリコンウェハに前記例1におけるようにしてShip ley C−50TM付着促進剤を塗布した。その後、過剰量のShipley 1075TMフォトレジストをウェハ上に3800rpmで約60秒間スピンコー トした。次いで、ウェハを100℃で約2分間にわたって乾燥した。得られたフ ォトレジスト層は、7.5μmの厚さを有していた。 1×1パターンを有するマスクをコート後の基板上に載置した。次いで、マス キングしていないフォトレジスト領域を水銀ランプ(λ=400nm)に5.5m W/cm2で約80秒間にわたって露光した。次いで、マスクを取り除き、そして フォトレジストをShipley 319TM現像液で約60秒間にわたって洗浄 した。次いで、コート後のウェハを水で洗浄し、乾燥した。 V字形のファイバアライメント溝の傾斜した端部を、ダイヤモンドエッジの付 いたノコギリを使用して溝−チャネル界面のところでそれらの溝の端部を横切っ て75μm幅のトレンチをダイス加工することによって、除去した。 例3:金型の作製 前記例2からの溝及びチャネルを付与したシリコン/フォトレジストマスタに 、離型層として作用する100nmのシリコン酸化物層を付着させた。この成膜は 、40sccmのN2O及び8sccmのSiH4を用いて室温でプラズマ強化化学蒸着を 行うことによって実施した。この離型コーティング層上に、電子ビーム蒸着によ って、20nmのニッケルシード層を付着させた。 次いで、ニッケルを被覆したマスタをステンレス鋼のプレート上に固定し、こ のアセンブリをニッケル対電極を含有する50℃のス ルファミド酸ニッケル溶液中に浸漬した。1時間につき25.4μm(1ミル) のニッケルをメッキするため、0.022A/cm2(20A/ft2)の電流を適用 した。 0.51mm(20ミル)のコーティングを適用した後、アセンブリを取り外し 、そして水で濯いだ。次いで、シリコン/フォトレジストマスタからニッケルの 金型を注意して剥離した。 例4:ハウジングのバッキング 2枚の厚さ0.56mm(22ミル)のポリ(メチルメタクリレート)(PMM A)のシートを酸素プラズマ(室温で26.7Pa)で約10分間にわたって処 理してそれらのシートとポリマーハウジング材料の間の付着力を改良した。これ らの処理後のPMMAシートを3.5cm×6cmに切断した。 例5:ハウジングのキャスト−アンド−キュア式マイクロ複製 前記例3からのニッケル金型を、その金型からのポリマーの離型を促進するた め、Mold Release 225TM(RAM Products)で処理 した。 その後、このニッケル金型に対して、Photomer 4127TM(Hen kel)プロポキシル化ネオペンチルグリコールジアクリレート及びペルフルオ ロシクロヘキシルアクリレートモノマーの89:11(重量)混合物と、0.5 %(重量)のDarocureTM1173光開始剤(Ciba Geigy C orp.;Ardsley,NY)を注加した。モノマー混合物に対して前記例 4からのバッキング材料を押しつけ、酸素処理面をモノマーに対面させた。 金型/バッキングアセンブリを、水銀ランプ(100cm2の面積について20 0Wの電力)に約10分間露光した。露光が完了した後、ハウジング/バッキン グ単位をニッケル金型から剥離した。ダ イヤモンドエッジの付いたノコギリを使用して、ハウジング/バッキング単位を 1cm×4cmの矩形に切断した。 例6:カプラーの組み立て 多数の孔が内部に穿たれている金属ブロック上に、それぞれの末端に1つのフ ァイバアライメント溝と2つの溝の中間に直線状のチャネル接続部を有するポリ マー基板を載置した。このブロックの底の部分に真空吸引を適用することによっ て、その部分に対して基板をピッタリと保持した。 挿入目的で、λ=1.3μmでシングルモードを伝送するSMF−28TM光フ ァイバ(Corning Inc.:Corning,NY)を劈開によって調 製した。これをもって、実質的にフラットな末端面が得られた。これらの劈開フ ァイバの1つを基板のファイバアライメント溝の1つに収容し、そして基板の端 部から数ミリメートル離れて位置するバネで付勢したクリップにより適所で保持 した。その他のファイバも同様に挿入し、そして保持した。 前記例5に記載したものと同様なモノマー及び光開始剤の混合物〔7%(重量 )のPcHAを使用〕を調製した。この混合物の1滴を基板上に落とし、そして ファイバを挿入した。この1滴は、基板にコーティングを行い、そしてチャネル 及び溝を充填するのに十分であった。 このモノマーをコートした基板上に、基板のそれと位置合わせしたファイバア ライメント溝を有するポリマーカバーを載置した(groove side d own)。カバーの上面にガラススライドを載置し、過剰量のモノマーを絞り出 しかつファイバの周囲にカバーをピッタリと嵌合させるため、下方に向けて押し つけた。 次いで、ガラススライドを感圧接着剤のテープで金属ブロックに固定した。固 定したカプラーを、モノマー混合物が硬化してしまう まで、水銀ランプに露光した(前記例5と同一の条件)。PSAテープ及びガラ ススライドをカプラーから取り除き、そしてカプラーを金属ブロックから取り外 した。 例7:光カプリング効率 金属ブロック(前記例6を参照)に取り付けた直線チャネル型のポリマー基板 の複製品に前記例6に記載のようにして調製した2本のファイバを挿入した。こ の基板のチャネル幅は9μmであり、そしてV溝の上面における幅は157.5 μmであった。nD=1.56を有する屈折率適合オイル(R.P.Cargil l Laboratories,Inc.;Cedar Grove,NJ)の 1滴を基板上に落として導波媒体として作用させた。 対応のファイバアライメント溝を有するカバーを1滴の水を使用して透明なガ ラスブロック上に一時的に固定、groove side up、した。次いで 、このカバー/ガラスブロック結合体を金属プレート内の窪んだ孔に挿入し、そ してガラスブロックを金属プレートに締めつけた。カバー中の溝を基板中のそれ に実質的に位置合わせするため、カバー/ブロック/プレートを反転させ、基板 上に載置し、そして締めつけた。 次いで、ファイバ溝のアライメントを最適化するため、基板が取り付けられて いる金属ブロックを横方向に配置した。アライメントを最適化した後(顕微鏡を 使用して観察)、基板がカバーに対して押しつけられるまで、金属ブロック/基 板部片を上方に移動した。 1.31μmの波長の光を1本の光ファイバの末端に送出した。ファイバの末 端における測定値(基板に挿入する前)は、導波路の入口において1.68mW であった。対向した光ファイバの末端のところで出力側の電力を測定した。この 数値は入力側の電力に対して制限されたものであり、合計の挿入ロス9.7dB を示した。 本例におけるカプリング条件は最適化されなかったけれども、ある程度の出力 電圧が観察された。このことは、本発明のカプラーは入力側及び出力側の光ファ イバを受動的に位置合わせすることができることを示している。 当業者であれば、本発明の範囲及び精神を逸脱することなく種々の変更及び改 良を施し得ることが明らかとなるであろう。本発明は、本願明細書に記載の典型 的な態様に不当に制限されるべきものではない。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 リー,ツ−チェン アメリカ合衆国,ミネソタ 55133―3427, セント ポール,ポスト オフィス ボッ クス 33427(番地なし) (72)発明者 スベンテク,ブルース エー. アメリカ合衆国,ミネソタ 55133―3427, セント ポール,ポスト オフィス ボッ クス 33427(番地なし) (72)発明者 クロス,エリザ エム. アメリカ合衆国,ミネソタ 55133―3427, セント ポール,ポスト オフィス ボッ クス 33427(番地なし) (72)発明者 ウェラー−ブロフィー,ローラ エー. アメリカ合衆国,ミネソタ 55133―3427, セント ポール,ポスト オフィス ボッ クス 33427(番地なし)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.基板及びカバーを結合させることによって形成された単位構造体であるポ リマーハウジングを含む一体型のn×m光カプラーであって、 (a) n本の入力側光ファイバ、 (b) 前記基板及び前記カバーの少なくとも一方に形成されたn本の入口側導 波路であって、同じく前記基板及び前記カバーの少なくとも一方に形成されたm 本の出口側導波路に分岐もしくは集束せしめられているもの、及び (c) m本の出力側光ファイバ、 を有し、その際、前記n本及びm本のファイバの両方がシングルモードもしくは マルチモードを支持し、 ここで、n及びmは、独立して、1〜1024の整数であり、 前記ハウジング内の正確に位置合わせされた溝によって、前記n本の入口側導 波路が、それぞれ、前記n本の入力側光ファイバのそれぞれのコアに位置合わせ されておりかつ前記m本の出口側導波路が、それぞれ、m本の出力側光ファイバ のそれぞれのコアに位置合わせされており、前記溝の少なくとも一部分は、任意 であるけれども、前記光カプラーの外部からそのカプラーの内部に向かって平面 及び垂直方向の少なくとも1方向においてテーパー加工されており、その際、前 記n本及びm本の光ファイバは、任意であるけれども、前記導波路のコアに直接 的に接触せしめられており、 前記導波路には、少なくとも1種類の、硬化せしめられて導波路のコアを形成 可能な重合性モノマーが充填せしめられており、 前記カプラーが任意にバッキングに付設されている、一体型光カプラー。 2.前記nが1であり、そして前記mが2である、請求の範囲第1項に記載の 光カプラー。 3.前記ポリマーハウジングのポリマーが、エポキシ、ポリ(メタ)アクリレ ート、ポリ(ビニルアズラクトン)、ポリウレタン及びポリウレアからなる群か ら選ばれ、前記ポリマーは、任意に、フッ素原子、重水素原子及びコロイド状シ リカの少なくとも1種類を含んでいる、請求の範囲第1項に記載の光カプラー。 4.前記少なくとも1種類のモノマーが、エポキシ、(メタ)アクリレート、 ビニルアズラクトン、ウレア及びウレタンモノマーあるいはその前駆体からなる 群から選ばれ、前記モノマーは任意にフッ素又は重水素原子を含み、但し、前記 少なくとも1種類のモノマーの屈折率は、硬化後、前記ポリマーハウジングのポ リマーの屈折率よりも0.002〜0.5大である、請求の範囲第1項に記載の 光カプラー。 5.前記少なくとも1種類のモノマーが導波路のコアを形成するために重合せ しめられており、その際、前記導波路のコアは、任意に、前記n本及びm本の光 ファイバのコアのものと実質的に同じ屈折率を有し、そして前記ハウジングは、 任意に、前記n本及びm本の光ファイバのクラッドのものと実質的に同じ屈折率 を有している、請求の範囲第1項に記載の光カプラー。 6.光ファイバ及びチャネル型の導波路のコアを取り込みかつ予め位置合わせ するためのポリマーハウジングであって、 (a)(i)第1の部分であって、その1つの水平面が、n本の入力側光ファイ バを保持するためのn本の溝を有しているもの、 (ii)第2の部分であって、その1つの水平面が、m本の出口側導波路に 分岐もしくは集束せしめられるn本の入口側導波路を有しているもの、及び (iii)第3の部分であって、その1つの水平面が、m本の出力側光ファ イバを保持するためのm本の溝を有しているもの、 を含む基板、及び (b)(i)第1の部分であって、その1つの水平面が、n本の入力側光ファイ バを保持するためのn本の溝を有しているもの、 (ii)第2の部分であって、その1つの水平面が実質的に平坦であり、そ して、任意であるけれども、m本の出口側導波路に分岐もしくは集束せしめられ るn本の入口側導波路を有しているもの、及び (iii)第3の部分であって、その1つの水平面が、m本の出力側光ファ イバを保持するためのm本の溝を有しているもの、 を含むカバー、 を含み、ここで、 n及びmは、独立して、1〜1024の整数であり、 前記n本の溝及び前記m本の溝は、そこに保持されるべき光ファイバのコアが 前記した対応の導波路の端部と適正に位置合わせされるように作り上げられてお り、また、その際、前記溝の一部分は、任意であるけれども、前記光カプラーの 外部からそのカプラーの内部に向かって平面及び垂直方向の少なくとも1方向に おいてテーパー加工されており、 前記基板及びカバーは、これらの2つの部材を接着力を介して一緒に接合して 実質的に単一のハウジングを形成できるような形で形成されており、前記基板及 びカバーは、任意に、前記基板及びカバーを固定するための補完手段を有してお り、前記補完手段は、係合させた場合に前記カバー及び基板を位置合わせして整 合できるように設計されており、 前記ハウジングは、任意に、下記のものの少なくとも一方: (1) 前記導波路を充填しかつ前記溝を少なくとも部分的に充填する少なくと も1種類のモノマー、及び (2) 前記少なくとも1種類のモノマーの過剰量を補集するための手段、 を含んでいる、ポリマーハウジング。 7.前記モノマーが、エポキシ、(メタ)アクリレート、ビニルアズラクトン 、ウレア及びウレタンモノマーあるいはその前駆体からなる群から選ばれ、前記 モノマーは任意にフッ素原子、重水素原子及びコロイド状シリカの少なくとも1 種類を有している、請求の範囲第6項に記載のポリマーハウジング。 8.下記のものの少なくとも1つ: (1) nは1でありかつmは2であること、 (2) 前記溝は、50〜500μmの深さを有していること、そして (3) 前記導波路は、1〜200μmの幅及び深さを有していること、 が当てはまる、請求の範囲第6項に記載のポリマーハウジング。 9.請求の範囲第6項に記載のポリマーハウジングが上方に形成されておりか つ任意にニッケルを有している、一体型光カプラーの金型。 10.請求の範囲第9項に記載の金型が上方に電気メッキされておりかつ任意に シリコン、シリコン上のシリコン酸化物及びシリコン上のポリマーフィルムの少 なくとも1つを含んでいる、マスタツール。 11.請求の範囲第9項に記載の金型を製造するための方法であって、下記の工 程: a)シリコンウェハをフォトリソグラフィでエッチングしてファ イバアライメント溝を形成し、 b)前記ウェハにフォトレジスト材料を塗布し、 c)前記フォトレジストにおいて、前記ファイバアライメント溝と位置合わせ された導波路をパターニングし、 d)前記パターニング後のウェハに金属の層を電気メッキして前記ウェハに対 して金属補完物を付与し、そして e)前記金属補完物を前記ウェハから分離すること、 を含んでなる、金型の製造方法。 12.一体型光カプラーを組み立てるための方法であって、下記の工程: a)下記のいずれか一方: (1)請求の範囲第6項に記載のポリマーハウジングの基板中のn本及びm本 の溝のそれぞれに、n本の入力側光ファイバ及びm本の出力側光ファイバを挿入 すること、又は (2)前記基板の上面に重合性モノマーを適用して、前記ファイバを取り囲み かつその導波路を充填し、そして、重合後、導波路コアを形成すること、 を行い、 b)前記工程a)において行われなかった前記a)(1)及び(2)のいずれかを行 い、 c)前記基板上に前記ポリマーハウジングのカバーを載置し、その全体を平坦 なプレートの中間で圧縮して完全なハウジングを形成し、そして d)前記ハウジングを硬化させること、 を含んでなる、一体型光カプラーの組み立て方法。
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