JP6056387B2 - 離型フィルム、接着フィルム、及びプリント配線板の製造方法 - Google Patents
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Description
[1] 支持体と、該支持体と接合している離型層とを含む離型フィルムであって、離型層が離型剤及び硬化促進剤を含有する、離型フィルム。
[2] 離型層中の硬化促進剤の含有量が、離型剤に対して0.05質量%〜10質量%である、[1]に記載の離型フィルム。
[3] 離型層中の離型剤と硬化促進剤との合計含有量が、離型層の不揮発成分を100質量%とした場合、0.5質量%〜100質量%である、[1]又は[2]に記載の離型フィルム。
[4] 支持体がプラスチック材料からなるフィルムである、[1]〜[3]の何れかに記載の離型フィルム。
[5] 支持体の厚さが10μm〜70μmである、[1]〜[4]の何れかに記載の離型フィルム。
[6] 離型層の厚さが0.01μm〜5μmである、[1]〜[5]の何れかに記載の離型フィルム。
[7] [1]〜[6]の何れかに記載の離型フィルムと、該離型フィルムの離型層上に形成された樹脂組成物層とを含む、接着フィルム。
[8] 樹脂組成物層が無機充填材を含み、
樹脂組成物層中の無機充填材の含有量が、樹脂組成物層中の不揮発成分を100質量%としたとき、50質量%以上である、[7]に記載の接着フィルム。
[9] 下記工程(I−1)、(I−2)及び(I−3)をこの順序で含む、プリント配線板の製造方法。
(I−1)[7]又は[8]に記載の接着フィルムを、樹脂組成物層が被着体の表面に接するように被着体に積層する工程
(I−2)樹脂組成物層を硬化させる工程
(I−3)離型フィルムを剥離する工程
[10] 下記工程(II−1)、(II−2)及び(II−3)をこの順序で含む、プリント配線板の製造方法。
(II−1)少なくとも表層が樹脂組成物層よりなる被着体に、[1]〜[6]の何れかに記載の離型フィルムを、離型層が被着体の樹脂組成物層に接するように積層する工程
(II−2)樹脂組成物層を硬化させる工程
(II−3)離型フィルムを剥離する工程
[11] [9]又は[10]に記載の方法により製造されたプリント配線板を用いる半導体装置。
粗化ムラは、第1の粗度を有する領域(以下「第1粗度領域」という。)と、第1の粗度とは大きく異なる第2の粗度を有する領域(以下「第2粗度領域」という。)とが混在して形成される現象として特定し得る。ここで、第1の粗度と第2の粗度との差についていう「大きく異なる」とは、算術平均粗さ(Ra)において、第1の粗度(Ra1)と第2の粗度(Ra2)の差(|Ra1−Ra2|)が145nmを超える場合をいう。|Ra1−Ra2|の値が145(nm)を超える場合、絶縁層表面における局所的な微細配線形成不良が起こったり、絶縁層表面にわたって導体層との密着強度にばらつきが生じたりするなど、プリント配線板の製造に際して諸々の問題を招来し、|Ra1−Ra2|の値が高くなるにつれて問題は深刻化する傾向にある。斯かる粗化ムラは、i)樹脂組成物層/離型フィルムの層構成を有する接着フィルムを用いて絶縁層を形成するに際して、離型フィルムを付けたまま樹脂組成物層を熱硬化させる場合、ii)無機充填材含有量の高い樹脂組成物を用いて絶縁層を形成する場合などに特に起こり易いことを本発明者らは見出している。
絶縁層の粗化面の算術平均粗さ(Ra)は、非接触型表面粗さ計を用いて測定することができる。非接触型表面粗さ計の具体例としては、ビーコインスツルメンツ製の「WYKO NT3300」が挙げられる。粗化ムラは、粗化面の光沢のムラとして光学顕微鏡を用いて倍率100倍から10000倍の範囲にて視認し得る。光学顕微鏡の具体例としてはデジタルマイクロスコープ(KEYENCE製VH−5500シリーズ、レンズVH−Z20R)が挙げられる。粗化ムラの評価に際して絶縁層の粗化面の算術平均粗さ(Ra)を測定するにあたっては、絶縁層の粗化面の低光沢領域(高粗度領域)と高光沢領域(低粗度領域)の各々のRa値を測定し、その差を算出することにより、上記|Ra1−Ra2|の値を求め得る。
本発明の離型フィルムは、支持体と、該支持体と接合している離型層とを含み、離型層が離型剤及び硬化促進剤を含有することを特徴とする。
支持体としては、例えば、プラスチック材料からなるフィルム、金属箔(銅箔、アルミニウム箔等)が挙げられ、プラスチック材料からなるフィルムが好適に用いられる。プラスチック材料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート(以下「PEN」と略称することがある。)等のポリエステル、ポリカーボネート(以下「PC」と略称することがある。)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)等のアクリル、環状ポリオレフィン、トリアセチルセルロース(TAC)、ポリエーテルサルファイド(PES)、ポリエーテルケトン、ポリイミドなどが挙げられる。中でも、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートが好ましく、安価なポリエチレンテレフタレートが特に好ましい。好適な一実施形態において、支持体は、ポリエチレンテレフタレートフィルムである。
離型層は、離型剤及び硬化促進剤を含有する。
本発明の接着フィルムは、本発明の離型フィルムと、該離型フィルムの離型層上に形成された樹脂組成物層とを含む。
樹脂組成物層に用いる樹脂組成物は特に限定されず、その硬化物が十分な硬度と絶縁性を有するものであればよい。得られる硬化物(絶縁層)の熱膨張率を低下させて、絶縁層と導体層との熱膨張の差によるクラックや回路歪みの発生を防止する観点から、樹脂組成物層に用いる樹脂組成物は無機充填材を含むことが好ましい。
なお、本発明において、樹脂組成物層中の各成分の含有量は、樹脂組成物層中の不揮発成分の合計を100質量%としたときの値である。
以下、樹脂組成物の材料として使用し得るエポキシ樹脂、硬化剤、及び添加剤について説明する。
エポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノールエポキシ樹脂、ナフトールノボラックエポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、tert-ブチル-カテコール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、線状脂肪族エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、複素環式エポキシ樹脂、スピロ環含有エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂及びトリメチロール型エポキシ樹脂等が挙げられる。エポキシ樹脂は1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
硬化剤としては、エポキシ樹脂を硬化する機能を有する限り特に限定されないが、例えば、フェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤、活性エステル系硬化剤、ベンゾオキサジン系硬化剤、及びシアネートエステル系硬化剤が挙げられる。硬化剤は1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
本発明の接着フィルムを用いてプリント配線板を製造する際には、保護フィルムを剥がすことによって使用可能となる。
ラミネート処理は、市販されている真空ラミネーターを用いて実施することができる。市販されている真空ラミネーターとしては、例えば、(株)名機製作所製の真空加圧式ラミネーター、ニチゴー・モートン(株)製のバキュームアップリケーター等が挙げられる。
本発明の接着フィルム又は離型フィルムを用いてプリント配線板を製造することができる。
なお、本発明でいう「プリント配線板」は、絶縁層と回路形成された導体層を有している限り、特に限定されず、多層プリント配線板、フレキシブルプリント配線板等の各種プリント配線板が挙げられる。
(I−1)本発明の接着フィルムを、樹脂組成物層が被着体の表面に接するように被着体に積層する工程
(I−2)樹脂組成物層を硬化させる工程
(I−3)離型フィルムを剥離する工程
また、硬化促進剤を含有する離型層を備えた離型フィルムを利用する本発明においては、広範な組成の樹脂組成物を使用して絶縁層を形成する場合にも、粗化ムラの発生を有利に抑制することができる。これにより、本発明においては、絶縁層表面における局所的な微細配線形成不良は生じず、また、絶縁層表面にわたって導体層との密着強度にばらつきが生じることもない。
このように硬化促進剤を含有する離型層を備えた離型フィルムを利用する本発明は、プリント配線板の微細配線化に著しく寄与するものである。
(II−1)少なくとも表層が樹脂組成物層よりなる被着体に、本発明の離型フィルムを、離型層が被着体の樹脂組成物層に接するように積層する工程
(II−2)樹脂組成物層を硬化させる工程
(II−3)離型フィルムを剥離する工程
絶縁層の粗化面の算術平均粗さ(Ra)及び二乗平均平方根粗さ(Rq)は、非接触型表面粗さ計を用いて測定することができる。非接触型表面粗さ計の具体例としては、ビーコインスツルメンツ製の「WYKO NT3300」が挙げられる。
絶縁層と導体層との剥離強度の測定は、JIS C6481に準拠して行うことができる。
本発明の方法により製造されたプリント配線板を用いて、半導体装置を製造することができる。
まずは各種測定方法・評価方法について説明する。
(1)内層回路基板の下地処理
内層回路を形成したガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板(銅箔の厚さ18μm、基板厚み0.3mm、松下電工(株)製「R5715ES」)の両面を、メック(株)製「CZ8100」にて1μmエッチングして銅表面の粗化処理をおこなった。
実施例及び比較例で製造した接着フィルムを、バッチ式真空加圧ラミネーター((株)名機製作所製「MVLP-500」)を用いて、樹脂組成物層が内層回路基板と接するように、内層回路基板の両面に積層した。積層は、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とした後、100℃、圧力0.74MPaにて30秒間ラミネート処理することにより行った。
積層された接着フィルムを、100℃で30分間、次いで180℃で30分間加熱し、樹脂組成物層を熱硬化して絶縁層を形成した。
離型フィルムを剥離し、絶縁層を露出させた。
絶縁層を形成した内層回路基板を、膨潤液(アトテックジャパン(株)製「スエリングディップ・セキュリガントP」、ジエチレングリコールモノブチルエーテル及び水酸化ナトリウムの水溶液)に60℃で10分間、次いで酸化剤溶液(アトテックジャパン(株)製「コンセントレート・コンパクトP」、過マンガン酸カリウム濃度約6%、水酸化ナトリウム濃度約4%の水溶液)に80℃で20分間、最後に中和液(アトテックジャパン(株)製「リダクションショリューシン・セキュリガントP」、硫酸水溶液)に40℃で5分間、浸漬して、絶縁層の表面を粗化処理した。80℃で30分間乾燥した後、得られた絶縁層の粗化面について、算術平均粗さ(Ra値)、二乗平均平方根粗さ(Rq値)、粗化ムラの評価を行った。
粗化処理後の基板を、PdCl2を含む無電解メッキ用溶液に40℃で5分間浸漬し、次いで無電解銅メッキ液に25℃で20分間浸漬した。150℃にて30分間加熱してアニール処理を行った後に、エッチングレジストを形成し、エッチングによるパターン形成の後に、硫酸銅電解メッキを行い、30μmの厚さで導体層を形成した。次に、アニール処理を200℃にて60分間行った。得られたプリント配線板について、導体層の引き剥がし強さ(剥離強度)の測定を行った。
非接触型表面粗さ計(ビーコインスツルメンツ社製「WYKO NT3300」)を用いて、VSIコンタクトモード、50倍レンズにより測定範囲を121μm×92μmとして得られる数値によりRa値、Rq値を求めた。そして、それぞれ10点の平均値を求めることにより測定した。
導体層の剥離強度の測定は、JIS C6481に準拠して行った。具体的には、プリント配線板の導体層に、幅10mm、長さ100mmの部分の切込みをいれ、この一端を剥がしてつかみ具で掴み、室温中にて、50mm/分の速度で垂直方向に35mmを引き剥がした時の荷重(kgf/cm)を測定し、剥離強度を求めた。測定には、引っ張り試験機((株)TSE製、「AC−50C−SL」)を使用した。
絶縁層の粗化面をデジタルマイクロスコープ(KEYENCE製VH−5500シリーズ、レンズVH−Z20R)を用いて倍率100倍にて観察し、粗化面の光沢のムラの有無について調べた。そして、粗化面の光沢にムラがあるサンプルに関しては、粗化面の任意の1cm角内で低光沢領域(高粗度領域;以下これを第1粗度領域とする。)と高光沢領域(低粗度領域;以下これを第2粗度領域とする。)のそれぞれについて算術平均粗さ(Ra値)を測定した。Ra値の測定は、非接触型表面粗さ計(ビーコインスツルメンツ社製WYKO NT3300)を用いて、VSIコンタクトモード、50倍レンズにより測定範囲を121μm×92μmとして求めた。各領域について5点ずつ測定し、その平均値をそれぞれ第1粗度領域のRa値(Ra1)、第2粗度領域のRa値(Ra2)とした。
粗化面の光沢のムラが視認されない場合(すなわち、粗化ムラがない場合)は○、粗化面の光沢のムラが視認され(Ra1−Ra2)値が140nmを超える場合(すなわち、粗化ムラがある場合)は×と評価した。
<離型フィルム>
厚さ38μmのPETフィルム上に、アルキド系樹脂(日立化成ポリマー社製、テスファイン303、固形分48質量%、トルエン/イソプロピルアルコール=4:1混合液)100質量部と、p−トルエンスルホン酸の溶液(日立化成ポリマー社製、ドライヤー900、固形分50質量%、トルエン/イソプロピルアルコール=4:1混合液)2.5質量部と、4−ジメチルアミノピリジン溶液(固形分5質量%のトルエン溶液)10質量部の混合物(アルキド系樹脂/4−ジメチルアミノピリジンの質量比は100/1)を、トルエン/イソプロピルアルコール=4:1混合液にて固形分濃度1.5質量%に希釈した溶液を、乾燥後の厚さが0.1μmとなるように塗布し、150℃で1分間乾燥させて離型層を設けた。
<接着フィルムの製造>
ナフタレン型エポキシ樹脂(エポキシ当量144、DIC(株)製「EXA4032SS」)8部と、ビキシレノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量190、三菱化学(株)製「YX4000HK」)11部、ナフトールノボラック型エポキシ樹脂(エポキシ当量約330、新日鐵化学(株)製「ESN475V」)9部を、ソルベントナフサ32部に撹拌しながら加熱溶解させた後、室温にまで冷却した。その混合溶液に、ゴム粒子(ガンツ化成(株)製「AC3816N」)1.5部をソルベントナフサ6部に12時間、20℃で静置膨潤したもの、球形シリカ((株)アドマテックス製「SO−C2」、平均粒径0.5μm)130部、さらに難燃剤(三光(株)製「HCA−HQ」、10-(2,5-ジヒドロキシフェニル)-10-ヒドロ-9-オキサ-10-フォスファフェナンスレン-10-オキサイド、平均粒径1μm)4部を混合し、3本ロールで混練、均一に分散させた。そこへ、活性エステル系硬化剤(活性エステル当量約223、DIC(株)製「HPC−8000−65T」、不揮発成分65質量%のトルエン溶液)30部、フェノキシ樹脂(重量平均分子量35000、三菱化学(株)製「YL7553」、不揮発成分30質量%のメチルエチルケトン(MEK)とシクロヘキサノンの1:1溶液)5部、硬化促進剤として4−ジメチルアミノピリジンの10質量%MEK溶液1部、MEK7部を混合し、回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを調製した。
次いで、調製した樹脂ワニスを、上記で得られた離型フィルムの離型層上にダイコーターにて均一に塗布し、80〜110℃(平均95℃)で5分間乾燥して、厚さ40μmの樹脂組成物層を備える接着フィルムを得た。各評価結果は表1に示す。
ナフタレン型エポキシ樹脂(エポキシ当量144、DIC(株)製「HP4700」)5部、ビスフェノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量約165、新日鐵化学(株)製「ZX1059」、ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ樹脂の1:1混合品)14部、ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量269、日本化薬(株)製「NC3000H」)14部を、ソルベントナフサ30部に撹拌しながら加熱溶解させた後、室温にまで冷却した。その混合溶液に、ゴム粒子(ガンツ化成(株)製「AC3816N」)1.5部をソルベントナフサ6部に12時間、20℃で静置膨潤したもの、球形シリカ((株)アドマテックス製「SO−C2」、平均粒径0.5μm)130部、さらに難燃剤(三光(株)製「HCA−HQ」、10-(2,5-ジヒドロキシフェニル)-10-ヒドロ-9-オキサ-10-フォスファフェナンスレン-10-オキサイド、平均粒径1μm)5部を添加し、3本ロールで混練し分散させた。そこへ、トリアジン骨格含有フェノールノボラック系硬化剤(フェノール性水酸基当量124、DIC(株)製「LA−7054」、不揮発成分60質量%のMEK溶液)10部、ナフタレン系フェノール樹脂(フェノール性水酸基当量215、新日鐵化学(株)製「SN485」、不揮発分60質量%のMEK溶液)10部、フェノキシ樹脂(重量平均分子量35000、三菱化学(株)製「YL7553」、不揮発成分30質量%のMEKとシクロヘキサノンの1:1溶液)7部、硬化促進剤として4−ジメチルアミノピリジンの5質量%MEK溶液2部、MEK4部を混合し、回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを調製した。
次いで、実施例1と同様にして接着フィルムを得た。各評価結果は表1に示す。
ビスフェノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量約165、新日鐵化学(株)製「ZX1059」、ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ樹脂の1:1混合品、液状エポキシ樹脂)5部、ビキシレノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量約185、三菱化学(株)製「YX4000HK」)10部、ビフェニル型エポキシ樹脂(日本化薬(株)製「NC3000H」、エポキシ当量269、固体状エポキシ樹脂)5部、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂(エポキシ当量280、DIC(株)製「HP−7200HH」)5部、フェノキシ樹脂(三菱化学(株)製「YL7553BH30」、固形分30質量%のMEK溶液)10部を、ソルベントナフサ(出光石油化学(株)製、イプゾール150)30部に撹拌しながら60℃にて加熱溶解させた後、室温(25℃)まで冷却した。その混合溶液に、活性エステル系硬化剤(活性エステル当量約223、DIC(株)製「HPC−8000−65T」、不揮発成分65質量%のトルエン溶液)40部、硬化促進剤として1−ベンジル2-フェニルイミダゾール(四国化成工業(株)製「キュアゾール1B2PZ」、固形分10質量%のMEK溶液)7部、難燃剤(三光(株)製「HCA−HQ」、10-(2,5-ジヒドロキシフェニル)-10-ヒドロ-9-オキサ-10-フォスファフェナンスレン-10-オキサイド、平均粒径2μm)2部、アミノシラン系カップリング剤(信越化学工業(株)製「KBM573」)で表面処理された球形シリカ(平均粒径0.5μm、(株)アドマテックス製「SOC2」)200部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを調製した。
次いで、実施例1と同様にして接着フィルムを得た。各評価結果は表1に示す。
ナフタレン型エポキシ樹脂(エポキシ当量144、DIC(株)製「EXA4032SS」)10部、ビスフェノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量約165、新日鐵化学(株)製「ZX1059」、ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ樹脂の1:1混合品)5部、ナフトールノボラック型エポキシ樹脂(エポキシ当量約330、新日鐵化学(株)製「ESN475V」)20部、フェノキシ樹脂(重量平均分子量35000、三菱化学(株)製「YL7553」、不揮発成分30質量%のMEKとシクロヘキサノンの1:1溶液)7部を、ソルベントナフサ50部に撹拌しながら加熱溶解させた後、室温にまで冷却した。次いで、活性エステル系硬化剤(活性エステル当量223、DIC(株)製「HPC8000−65T」、固形分65%のトルエン溶液)10部、ビスフェノールAジシアネートのプレポリマー(シアネート当量約232、ロンザジャパン(株)製「BA230S75」、不揮発成分75質量%のMEK溶液)20部、フェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂(シアネート当量約133、ロンザジャパン(株)製「PT30S」、不揮発成分85質量%のMEK溶液)10部、ゴム粒子(ガンツ化成(株)製「AC3816N」)4部をソルベントナフサ16部に室温で12時間膨潤させておいたもの、難燃剤(三光(株)製「HCA−HQ」、10-(2,5-ジヒドロキシフェニル)-10-ヒドロ-9-オキサ-10-フォスファフェナンスレン-10-オキサイド、平均粒径1μm)4部、硬化促進剤(4−ジメチルアミノピリジン、固形分10質量%のMEK溶液)0.1部、硬化促進剤(東京化成(株)製、コバルト(III)アセチルアセトナート、固形分1質量%のMEK溶液)4.5部を加え、更にアミノシラン系カップリング剤(信越化学工業(株)製「KBM573」)で表面処理された球形シリカ(平均粒径0.5μm、(株)アドマテックス製「SOC2」)を180部混合し、回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを調製した。
次いで、実施例1と同様にして接着フィルムを得た。各評価結果は表1に示す。
離型フィルムを、アルキド系離型処理付きPETフィルム(リンテック(株)製「AL5」、厚さ38μm)に置き換えた以外は、実施例1と同様にして接着フィルムを得た。
各評価結果は表1に示す。なお、粗化ムラの評価において、(Ra1−Ra2)値は148nmであった。
離型フィルムを、アルキド系離型処理付きPETフィルム(リンテック(株)製「AL5」、厚さ38μm)に置き換えた以外は、実施例2と同様にして接着フィルムを得た。
各評価結果は表1に示す。なお、粗化ムラの評価において、(Ra1−Ra2)値は148nmであった。
離型フィルムを、アルキド系離型処理付きPETフィルム(リンテック(株)製「AL5」、厚さ38μm)に置き換えた以外は、実施例3と同様にして接着フィルムを得た。
各評価結果は表1に示す。なお、粗化ムラの評価において、(Ra1−Ra2)値は156nmであった。
離型フィルムを、アルキド系離型処理付きPETフィルム(リンテック(株)製「AL5」、厚さ38μm)に置き換えた以外は、実施例4と同様にして接着フィルムを得た。
各評価結果は表1に示す。
Claims (12)
- 支持体と、該支持体と接合している離型層とを含む離型フィルムであって、離型層が離型剤及び硬化促進剤を含有し、
硬化促進剤がプリント配線板の絶縁層の形成に用いる樹脂組成物のための硬化促進剤である離型フィルム。 - 離型層中の硬化促進剤の含有量が、離型剤に対して0.05質量%〜10質量%である、請求項1に記載の離型フィルム。
- 離型層中の離型剤と硬化促進剤との合計含有量が、離型層の不揮発成分を100質量%とした場合、0.5質量%〜100質量%である、請求項1又は請求項2に記載の離型フィルム。
- 支持体がプラスチック材料からなるフィルムである、請求項1〜3の何れか1項に記載の離型フィルム。
- 支持体の厚さが10μm〜70μmである、請求項1〜4の何れか1項に記載の離型フィルム。
- 離型層の厚さが0.01μm〜5μmである、請求項1〜5の何れか1項に記載の離型フィルム。
- 請求項1〜6の何れか1項に記載の離型フィルムと、該離型フィルムの離型層上に形成された樹脂組成物層とを含む、接着フィルム。
- 樹脂組成物層が無機充填材を含み、
樹脂組成物層中の無機充填材の含有量が、樹脂組成物層中の不揮発成分を100質量%としたとき、50質量%以上である、請求項7に記載の接着フィルム。 - 樹脂組成物層が無機充填材を含み、
樹脂組成物層中の無機充填材の含有量が、樹脂組成物層中の不揮発成分を100質量%としたとき、65質量%以上である、請求項7に記載の接着フィルム。 - 下記工程(I−1)、(I−2)及び(I−3)をこの順序で含む、プリント配線板の製造方法。
(I−1)請求項7〜9の何れか1項に記載の接着フィルムを、樹脂組成物層が被着体の表面に接するように被着体に積層する工程
(I−2)樹脂組成物層を硬化させる工程
(I−3)離型フィルムを剥離する工程 - 下記工程(II−1)、(II−2)及び(II−3)をこの順序で含む、プリント配線板の製造方法。
(II−1)少なくとも表層が樹脂組成物層よりなる被着体に、請求項1〜6の何れか1項に記載の離型フィルムを、離型層が被着体の樹脂組成物層に接するように積層する工程
(II−2)樹脂組成物層を硬化させる工程
(II−3)離型フィルムを剥離する工程 - 請求項10又は11に記載の方法により製造されたプリント配線板を用いる半導体装置。
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