JP5266688B2 - 化学増幅型レジスト組成物の酸発生剤用の塩 - Google Patents
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- 0 CCC(*)C1(C)CCCC1 Chemical compound CCC(*)C1(C)CCCC1 0.000 description 13
- PVTIFXSNNBIIJJ-UHFFFAOYSA-N CC(C1CC2C3C1)(C3OC2=O)O Chemical compound CC(C1CC2C3C1)(C3OC2=O)O PVTIFXSNNBIIJJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FESKDGLHLXCJSA-UHFFFAOYSA-N CC(CC(CC1O2)C2=O)C1O Chemical compound CC(CC(CC1O2)C2=O)C1O FESKDGLHLXCJSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LFYQLXRFVHZTQG-UHFFFAOYSA-N CC(CC1C2O3)(CC1C3=O)C2O Chemical compound CC(CC1C2O3)(CC1C3=O)C2O LFYQLXRFVHZTQG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MSXDXARKVSWPKV-UHFFFAOYSA-N CC(CCC(C1)C=O)(C1O)O Chemical compound CC(CCC(C1)C=O)(C1O)O MSXDXARKVSWPKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KTIHUFWCSHRKAL-UHFFFAOYSA-N CC1(C)C(CC2)CC2C1 Chemical compound CC1(C)C(CC2)CC2C1 KTIHUFWCSHRKAL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QWHNJUXXYKPLQM-UHFFFAOYSA-N CC1(C)CCCC1 Chemical compound CC1(C)CCCC1 QWHNJUXXYKPLQM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FETOJCTVSVYUDX-UHFFFAOYSA-N CCC(C1)C2(C)C1(CC1)CC1C2 Chemical compound CCC(C1)C2(C)C1(CC1)CC1C2 FETOJCTVSVYUDX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AJPGCHCMQAHCDB-UHFFFAOYSA-N CCC(C1)C2(C)C1CCCC2 Chemical compound CCC(C1)C2(C)C1CCCC2 AJPGCHCMQAHCDB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYAOLZZJXQOTJO-UHFFFAOYSA-N CCC1(C)C(CC2)CC2C1 Chemical compound CCC1(C)C(CC2)CC2C1 GYAOLZZJXQOTJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LETYIFNDQBJGPJ-UHFFFAOYSA-N CCC1(C)CCCC1 Chemical compound CCC1(C)CCCC1 LETYIFNDQBJGPJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YPJRYQGOKHKNKZ-UHFFFAOYSA-N CCC1(C)CCCCC1 Chemical compound CCC1(C)CCCCC1 YPJRYQGOKHKNKZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OWRRPINHYMUZJN-UHFFFAOYSA-N CCCOc(c1ccc2)cccc1c2O Chemical compound CCCOc(c1ccc2)cccc1c2O OWRRPINHYMUZJN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SCDJKGVPVLZLED-UHFFFAOYSA-N OC(C1CC2C3C1)C3OC2=O Chemical compound OC(C1CC2C3C1)C3OC2=O SCDJKGVPVLZLED-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FJEHNJSXWDSJJG-UHFFFAOYSA-N OC(CCC1C2)C2OC1=O Chemical compound OC(CCC1C2)C2OC1=O FJEHNJSXWDSJJG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Materials For Photolithography (AREA)
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Description
半導体の微細加工においては、高い解像度であることが望ましく、化学増幅型レジスト組成物としては、高い解像度を示すものが求められている。
(式(I)中、Q1およびQ2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表し、Xは炭素数1〜12の2価の基であって直鎖または分岐の鎖状炭化水素基を表し、Yは炭素数1〜30の置換されていてもよい炭化水素基を表す。A+は有機対イオンを表す。)
(式(V)中、Q1およびQ2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表し、Xは炭素数1〜12の2価の基であって直鎖または分岐の鎖状炭化水素基を表し、Yは炭素数1〜30の置換されていてもよい炭化水素基を表す。Mは、Li、Na、K又はAgを表す。)
(式(VI)中、X及びYは前記と同じ意味を表す。ZはCl、Br又はIを表す。)
式(VII)
(式(VII)中、Q1、Q2およびMは、前記と同じ意味を表す。)
で示されるカルボン酸とを反応させることを特徴とする式(V)で示される塩の製造方法を提供する。
(式(VIII)中、A+は、前記と同じ意味を表し、LはF、Cl、Br、I、BF4、AsF6、SbF6、PF6又はClO4を表す。)
(式(IX)中、Q1、Q2およびA+は、前記と同じ意味を表す。)
式(VI)で示される化合物とを反応させることを特徴とする式(I)で示される塩の製造方法を提供する。
(式(VI)中、XおよびY前記と同じ意味を表す。ZはCl、Br又はIを表す。)
ここで、式(I)中、Xは炭素数1〜12の2価の基であって直鎖または分岐の鎖状炭化水素基を表し、Yは炭素数1〜30の置換されていてもよい炭化水素基を表す。A+は有機対イオンを表し、Q1およびQ2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
Q1およびQ2としてはそれぞれ独立にフッ素原子または−CF3である場合が好ましく、両方ともフッ素原子の場合が、製造が容易であることから最も好ましい。
式(IIa)中、P1〜P3は、互いに独立に、直鎖状もしくは分岐状の炭素数1〜30のアルキル基又は炭素数3〜30の環式炭化水素基を表す。当該P1〜P3のいずれかがアルキル基である場合には、水酸基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基の一つ以上を置換基として含んでいてもよく、P1〜P3のいずれかが環式炭化水素基である場合には、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基の一つ以上を置換基として含んでいてもよい。該アルキル基及び該アルコキシ基は、直鎖でも分岐していてもよい。
該環式炭化水素基の具体例としては、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基、フェニル基、ナフチル基、フルオレニル基などが挙げられる。
式(IIb)中、P4およびP5は、互いに独立に、水素原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表し、該アルキル基及び該アルコキシ基は、直鎖でも分岐していてもよい。該アルキル基及び該アルコキシ基は、式(IIa)のアルキル基及びアルコキシ基と同じ意味を表す。
式(IIc)中、P6およびP7は、互いに独立に、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数3〜12のシクロアルキル基を表し、該アルキル基は、直鎖でも分岐していてもよい。該アルキル基の具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、オクチル基、2−エチルヘキシル基などが挙げられる。該シクロアルキル基としては、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロデシル基などが挙げられる。また、P6とP7とが結合してアルキレン基などの炭素数3〜12の2価の炭化水素基であってもよい。P8が水素原子を表し、P9が炭素数1〜12のアルキル基、炭素数3〜12のシクロアルキル基もしくは置換されていてもよい芳香環基を表すか、またはP8とP9が結合して炭素数3〜12の2価の炭化水素基を表す。P9がアルキル基の場合、該アルキル基の具体例としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、オクチル基、2−エチルヘキシル基などが挙げられる。P9がシクロアルキル基の場合、該シクロアルキル基としては、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロデシル基などが挙げられる。ここで、式(IIc)における2価の炭化水素基に含まれる炭素原子は、その一部が任意に、カルボニル基、酸素原子、硫黄原子に置換されていてもよい。
式(IId)中、P10〜P21は、互いに独立に、水素原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表し、該アルキル基及び該アルコキシ基は、直鎖でも分岐していてもよい。Bは、硫黄原子又は酸素原子を表す。kは、0又は1を表す。
式(IIIa)〜(IIIc)中、P22〜P24は互いに独立に、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜20のアルキル基を表すか又はフェニル基以外の炭素数3〜30の環式炭化水素基を表す。P22〜P24がアルキル基である場合には、水酸基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基の一つ以上を置換基として含んでいてもよく、P22〜P24が環式炭化水素基の場合には、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基の一つ以上を置換基として含んでいてもよい。P25〜P30は、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基を表し、l、m、n、o、pおよびqは、互いに独立に0〜5の整数を表す。
式(IVa)〜(IVc)中のP25〜P27は、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基を表し、l、mおよびnは、互いに独立に0〜5の整数を表す。Rは、炭素数1〜6のアルキル基を表す。
(式(V)中、X、Y、Q1、Q2、Mは前記と同じ意味を表す。)
式(VIII)で示される化合物とを反応させることにより製造することができる。
(式(VIII)中、A+は、前記と同じ意味を表し、LはF、Cl、Br、I、BF4、AsF6、SbF6、PF6又はClO4を表す。)
(式(VI)中、X及びYは、前記と同じ意味を表す。ZはCl、Br又はIを表す。)
式(VII)
(式(VII)中、Q1、Q2およびMは、前記と同じ意味を表す。)
で示されるカルボン酸とを反応させて、式(V)で示される塩を得る方法などが挙げられる。
(式(IX)中、Q1、Q2およびA+は、前記と同じ意味を表す。)
式(VI)
(式(VI)中、X、YおよびZは、前記と同じ意味を表す。)
で示される化合物とを反応させて、式(V)で示される塩を得る方法などが挙げられる。
ここで、4級炭素原子とは、水素原子以外の置換基と結合していて水素とは結合していない炭素原子を意味し、酸に不安定な基としては、エーテル結合のα位の炭素原子が3つの炭素原子と結合した4級炭素原子であることが好ましい。
かかるモノマーとしては、酸に不安定な基として、2−アルキル−2−アダマンチル基、1−(1−アダマンチル)−1−アルキルアルキル基などのような脂環式構造などの嵩高い基を含むモノマーが、得られるレジストの解像度が優れる傾向があることから好ましい。
具体的には、アクリル酸やメタクリル酸のような遊離のカルボン酸基を有するモノマーに由来する構造単位、無水マレイン酸や無水イタコン酸のような脂肪族不飽和ジカルボン酸無水物に由来する構造単位、2−ノルボルネンに由来する構造単位、(メタ)アクリロニトリルに由来する構造単位、酸素原子に隣接する炭素原子が2級炭素原子または3級炭素原子のアルキルエステルや1−アダマンチルエステルである(メタ)アクリル酸エステル類に由来する構造単位、p−又はm−ヒドロキシスチレンなどのスチレン系モノマーに由来する構造単位、ラクトン環がアルキル基で置換されていてもよい(メタ)アクリロイロキシ−γ−ブチロラクトンに由来する構造単位などを挙げることができる。尚、1−アダマンチルエステルは、酸素原子に隣接する炭素原子が4級炭素原子であるが、酸に安定な基であり、1−アダマンチルエステルには水酸基などが結合していてもよい。
R5及びR6が基−COOUである場合は、カルボキシル基がエステル基となったものであり、Uに相当するアルコール残基としては、例えば、置換されていてもよい炭素数1〜8程度のアルキル基、2−オキソオキソラン−3−又は−4−イル基などを挙げることができる。ここで、該アルキル基は、水酸基や脂環式炭化水素残基などが置換基として結合していてもよい。
R5及びR6がアルキル基である場合の具体例としては、メチル基、エチル基、プロピル基などが挙げられ、水酸基が結合したアルキル基の具体例としては、ヒドロキシメチル基、2−ヒドロキシエチル基などが挙げられる。
2−ノルボルネン、
2−ヒドロキシ−5−ノルボルネン、
5−ノルボルネン−2−カルボン酸、
5−ノルボルネン−2−カルボン酸メチル、
5−ノルボルネン−2−カルボン酸2−ヒドロキシ−1−エチル、
5−ノルボルネン−2−メタノール、
5−ノルボルネン−2,3−ジカルボン酸無水物。
更に、該アルキル基、シクロアルキル基、アリール基、又はアルコキシ基上の水素原子の少なくとも1個は、それぞれ独立に、ヒドロキシル基、アミノ基、又は1〜6個程度の炭素原子を有するアルコキシ基で置換されていてもよい。該アミノ基上の水素原子の少なくとも1個は、1〜4個の炭素原子を有するアルキル基で置換されていてもよい。
更に、該アルキル基、シクロアルキル基、アリール基、又はアルコキシ基上の水素原子の少なくとも1個は、それぞれ独立に、ヒドロキシル基、アミノ基、又は1〜6個程度の炭素原子を有するアルコキシ基で置換されていてもよい。該アミノ基上の水素原子の少なくとも1個は、1〜4個の炭素原子を有するアルキル基で置換されていてもよい。
また、R11〜R20において、直鎖構造と分岐構造の両方をとり得るものについては、そのいずれでもよい。
また、化学増幅型レジスト組成物としてクエンチャーである塩基性化合物を用いる場合は、レジスト組成物の全固形分量を基準に、0.01〜1重量%程度の範囲で含有するのが好ましい。
レジスト組成物としては、さらに、必要に応じて、増感剤、溶解抑止剤、他の樹脂、界面活性剤、安定剤、染料など、各種の添加物を少量含有することもできる。
実施例および比較例中、含有量ないし使用量を表す%及び部は、特記ないかぎり重量基準である。また重量平均分子量は、ポリスチレンを標準品として、ゲルパーミュエーションクロマトグラフィー(東ソー株式会社製HLC−8120GPC型、カラムはTSKgel Multipore HXL−M3本、溶媒はテトラヒドロフラン)により求めた値である。
また、化合物の構造はNMR(日本電子製EX−270型)、質量分析(LCはAgilent製1100型、MASSはAgilent製LC/MSD型またはLC/MSD TOF型)で確認した。
14.2%トリフェニルスルホニウム クロライド水溶液573.7部に18.0%ジフルオロスルホ酢酸 ナトリウム塩水溶液300.0部を加えて25℃で約20時間攪拌した。析出した白色固体をろ別、イオン交換水100部で洗浄した後、乾燥してトリフェニルスルホニウム ヒドロキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート(B4)を88.4部得た。
MS(ESI(+)Spectrum):M+ 263.2(C18H15S+=263.09)
MS(ESI(−)Spectrum):M− 175.0(C2HF2O5S-=174.95)
上記と同様の合成法で得られた(B4)8.8部をN,N’−ジメチルホルムアミド70.2部に溶解し、炭酸カリウム2.8部とヨウ化カリウム0.8部を加えて50℃で約1時間攪拌した。その後40℃まで冷却し、2−メチル−2−アダマンチル 2−クロロアセテート(B5)4.9部をN,N’−ジメチルホルムアミド10部に溶解した溶液を滴下し、40℃で44時間反応した。反応後冷却し、クロロホルム98部、イオン交換水98部を加えて攪拌、静置後、分離した。水層をクロロホルム98部で2回抽出し、全有機層を合わせて、イオン交換水98部で水層が中性になるまで水洗を繰り返した。有機層を濃縮し、酢酸エチル77部を加えて攪拌し、析出した白色固体をろ別、乾燥してトリフェニルスルホニウム 2−メチル−2−アダマンチルオキシカルボニルメトキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート(B1)を7.8部得た。
MS(ESI(+)Spectrum):M+ 263.0(C18H15S+=263.09)
MS(ESI(−)Spectrum):M− 381.0(C15H19F2O7S-=381.08)
上記と同様の合成法で得られた(B4)9.5部をN,N’−ジメチルホルムアミド47.6部に溶解し、炭酸カリウム3.0部とヨウ化カリウム0.9部を加えて50℃で約1時間攪拌した。その後40℃まで冷却し、クロロ酢酸 ヘキサヒドロ−2−オキソ−3,5−メタノ−2H−シクロペンタ[b]フラン−6−イル(B6)5.0部をN,N’−ジメチルホルムアミド40部に溶解した溶液を滴下し、40℃で23時間反応した。反応後冷却し、クロロホルム106部、イオン交換水106部を加えて攪拌、静置後、分離した。水層をクロロホルム106部で2回抽出し、全有機層を合わせて、イオン交換水106部で水層が中性になるまで水洗を繰り返した。有機層に活性炭3.5部を加えて攪拌した後、ろ別した。ろ液を濃縮し、酢酸エチル38部を加えて攪拌した後、上澄液を除去した。残渣にtert−ブチルメチルエーテル38部を加えて攪拌した後、上澄液を除去した。残渣をクロロホルムに溶解した後、濃縮して燈色オイル状物としてトリフェニルスルホニウム ヘキサヒドロ−2−オキソ−3,5−メタノ−2H−シクロペンタ[b]フラン−6−イルオキシカルボニルメトキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート(B2)を4.3部得た。
MS(ESI(+)Spectrum):M+ 263.0(C18H15S+=263.09)
MS(ESI(−)Spectrum):M− 369.0(C12H11F2O9S-=369.01)
上記と同様の合成法で得られた(B4)9.0部をN,N’−ジメチルホルムアミド45.2部に溶解し、炭酸カリウム2.9部とヨウ化カリウム0.9部を加えて50℃で約1時間攪拌した。その後40℃まで冷却し、4−オキソ−1−アダマンチル 2−クロロアセテート(B7)5.0部をN,N’−ジメチルホルムアミド10部に溶解した溶液を滴下し、40℃で32時間反応した。反応後冷却し、クロロホルム73部、イオン交換水73部を加えて攪拌、静置後、分離した。水層をクロロホルム73部で2回抽出し、全有機層を合わせて、イオン交換水73部で水層が中性になるまで水洗を繰り返した。有機層に活性炭3.1部を加えて攪拌した後、ろ別した。ろ液を濃縮し、酢酸エチル84部を加えて攪拌した後、ろ過した。ろ液を濃縮し、tert−ブチルメチルエーテル60部を加えて攪拌し、析出した淡黄色固体をろ別、乾燥してトリフェニルスルホニウム 4−オキソ−1−アダマンチルオキシカルボニルメトキシカルボニルジフルオロメタンスルホナート(B3)を4.9部得た。
MS(ESI(+)Spectrum):M+ 263.1(C18H15S+=263.09)
MS(ESI(−)Spectrum):M− 381.1(C14H15F2O8S-=381.05)
(1)ジフルオロ(フルオロスルホニル)酢酸メチルエステル100部、イオン交換水250部に、氷浴下、30%水酸化ナトリウム水溶液230部を滴下した。100℃で3時間還流し、冷却後、濃塩酸88部で中和した。得られた溶液を濃縮することによりジフルオロスルホ酢酸 ナトリウム塩を164.8部得た(無機塩含有、純度62.6%)。
(2)上記(1)と同様の合成法で得られたジフルオロスルホ酢酸 ナトリウム塩39.4部(純度63.5%)、1−アダマンタンメタノール21.0部、ジクロロエタン200部を仕込み、p−トルエンスルホン酸(p−TsOH)24.0部を加え、7時間加熱還流した。その後、濃縮してジクロロエタンを留去し、tert−ブチルメチルエーテル250部添加し、攪拌後、ろ過した。ろ過残渣にアセトニトリル250部添加撹拌後ろ過し、ろ液を濃縮することにより、ジフルオロスルホ酢酸−1−アダマンチルメチルエステル ナトリウム塩を32.8部得た。
MS(ESI(+)Spectrum):M+ 263.2(C18H15S+=263.09)
MS(ESI(−)Spectrum):M− 323.0(C13H17F2O5S-=323.08)
メタクリル酸2−エチル−2−アダマンチル、メタクリル酸3−ヒドロキシ−1−アダマンチル、及びα−メタクリロイロキシ−γ−ブチロラクトンを、5:2.5:2.5のモル比で仕込み、全モノマーに対して2重量倍のメチルイソブチルケトンを加えて、溶液とした。そこに、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルを全モノマー量に対して2モル%添加し、80℃で約8時間加熱した。その後、反応液を大量のヘプタンに注いで沈殿させる操作を3回行い、精製した。その結果、重量平均分子量が約9200の共重合体を得た。この共重合体は、次式で示される各構造単位を有するものであり、これを樹脂A1とする。
各酸発生剤の導入量は、等モル量になるように調整した。
酸発生剤B1:
酸発生剤B2:
酸発生剤B3:
酸発生剤C1:
<クエンチャー>
クエンチャーQ1:2,6−ジイソプロピルアニリン
<溶剤>
溶剤Y1:
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート 51.5部
2−ヘプタノン 35.0部
γ−ブチロラクトン 3.5部
以下の各成分を混合して溶解し、さらに孔径0.2μmのフッ素樹脂製フィルターで濾過して、レジスト液を調製した。
酸発生剤(種類及び量は表1記載)
クエンチャー(種類及び量は表1記載)
溶剤(種類は表1記載)
露光後は、ホットプレート上にて表1の「PEB」の欄に示す温度で60秒間ポストエキスポジャーベークを行い、さらに2.38重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液で15秒間の現像を行った。
有機反射防止膜基板上のもので現像後のラインアンドスペースパターンを走査型電子顕微鏡で観察、あるいはラインの線幅を測長し、その結果を表2に示した。
解像度:実効感度の露光量で分離するラインアンドスペースパターンの最小寸法で表示した。
露光マージン:実効感度付近(ラインの線幅が115nmから85nmとなる露光量範囲)での露光量変化に対する線幅変化量を表示した。この値が小さいほど露光マージンが良好であることを表す。
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
例No. 樹脂 酸発生剤 クエンチャー 溶剤 PB/PEB
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
実施例1 A1/10部 B1/0.2857部 Q1/0.0325部 Y1 125℃/125℃
実施例2 A1/10部 B2/0.2804部 Q1/0.0325部 Y1 125℃/125℃
実施例3 A1/10部 B3/0.2857部 Q1/0.0325部 Y1 125℃/125℃
───────────────────────────────────────
比較例1 A1/10部 C1/ 0.26部 Q1/0.0325部 Y1 125℃/125℃
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
例No. 感度 解像度 露光マージン
(mJ/cm2) (nm) (nm/mJ)
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
実施例1 27 90 6.1
実施例2 37 85−90 4.1
実施例3 32 85 3.9
────────────────────────
比較例1 27 90 6.9
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
Claims (13)
- 式(I)で示されることを特徴とする塩。
(式(I)中、Q1およびQ2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表し、Xは炭素数1〜12の2価の基であって直鎖または分岐の鎖状炭化水素基を表し、Yは炭素数7〜30の置換されていてもよいアダマンタン骨格又はノルボルナン骨格を含む炭化水素基を表す。A+は式(IIIa)、式(IIIb)または式(IIIc)のいずれかで示されるカチオンを表す。)
(式(IIIa)〜(IIIc)中、P22〜P24は互いに独立に、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜20のアルキル基を表すか又はフェニル基以外の炭素数3〜30の環式炭化水素基を表
す。P22〜P24がアルキル基である場合には、水酸基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基の一つ以上を置換基として含んでいてもよく、P22〜P24が環式炭化水素基である場合には、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基の一つ以上を置換基として含んでいてもよい。P25〜P30は、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基を表し、l、m、n、o、pおよびqは、互いに独立に0〜5の整数を表す。)
- Q1およびQ2がそれぞれ独立にフッ素原子または−CF3である請求項1に記載の塩。
- Yが、炭素数7〜20のアダマンタン骨格又はノルボルナン骨格を含む炭化水素基であり、Yの炭化水素基に含まれる炭素原子はその一部が酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい1価の残基(いずれの骨格も炭素数1〜6のアルキル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数1〜4のペルフルオロアルキル基、炭素数1〜6のヒドロキシアルキル基、水酸基およびシアノ基の一つ以上を置換基として含んでいてもよい。)である請求項1又は2記載の塩。
- Xがメチレン基、エチレン基、トリメチレン基もしくはテトラメチレン基である請求項1〜3のいずれかに記載の塩。
- 請求項1〜5のいずれかに記載の塩を有効成分とすることを特徴とする酸発生剤。
- 式(VI)で示される化合物と、
(式(VI)中、Xは炭素数1〜12の2価の基であって直鎖または分岐の鎖状炭化水素基を表し、Yは炭素数7〜30の置換されていてもよいアダマンタン骨格又はノルボルナン骨格を含む炭化水素基を表す。ZはCl、Br又はIを表す。)式(VII)
(式(VII)中、Q1およびQ2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表し、Mは、Li、Na、K又はAgを表す。)
で示されるカルボン酸とを反応させることを特徴とする式(V)
(式(V)中、Q1およびQ2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表し、Xは炭素数1〜12の2価の基であって直鎖または分岐の鎖状炭化水素基を表し、Yは炭素数7〜30の置換されていてもよいアダマンタン骨格又はノルボルナン骨格を含む炭化水素基を表す。Mは、Li、Na、K又はAgを表す。)
で示される塩の製造方法。
- 式(V)
(式(V)中、Q1およびQ2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表し、Xは炭素数1〜12の2価の基であって直鎖または分岐の鎖状炭化水素基を表し、Yは炭素数7〜30の置換されていてもよいアダマンタン骨格又はノルボルナン骨格を含む炭化水素基を表す。Mは、Li、Na、K又はAgを表す。)
で示される塩と式(VIII)で示される化合物とを反応させることを特徴とする式(I)で示される塩の製造方法。
(式(VIII)中、A+は、式(IIIa)、式(IIIb)または式(IIIc)のいずれかで示されるカチオンを表し、LはF、Cl、Br、I、BF4、AsF6、SbF6、PF6又はClO4を表す。)
(式(IIIa)〜(IIIc)中、P22〜P24は互いに独立に、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜20のアルキル基を表すか又はフェニル基以外の炭素数3〜30の環式炭化水素基を表
す。P22〜P24がアルキル基である場合には、水酸基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基の一つ以上を置換基として含んでいてもよく、P22〜P24が環式炭化水素基である場合には、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基の一つ以上を置換基として含んでいてもよい。P25〜P30は、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基を表し、l、m、n、o、pおよびqは、互いに独立に0〜5の整数を表す。)
(式(I)中、Q1およびQ2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表し、Xは炭素数1〜12の2価の基であって直鎖または分岐の鎖状炭化水素基を表し、Yは炭素数7〜30の置換されていてもよいアダマンタン骨格又はノルボルナン骨格を含む炭化水素基を表す。A+は式(IIIa)、式(IIIb)または式(IIIc)のいずれかで示されるカチオンを表す。)
- 式(IX)で示される塩と
(式(IX)中、Q1およびQ2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表し、A+は、式(IIIa)、式(IIIb)または式(IIIc)のいずれかで示されるカチオンを表す。)
式(VI)で示される化合物とを反応させることを特徴とする式(I)で示される塩の製造方法。
(式(VI)中、Xは炭素数1〜12の2価の基であって直鎖または分岐の鎖状炭化水素基を表し、Yは炭素数7〜30の置換されていてもよいアダマンタン骨格又はノルボルナン骨格を含む炭化水素基を表す。ZはCl、Br又はIを表す。)
(式(IIIa)〜(IIIc)中、P22〜P24は互いに独立に、直鎖状又は分岐状の炭素数1〜20のアルキル基を表すか又はフェニル基以外の炭素数3〜30の環式炭化水素基を表
す。P22〜P24がアルキル基である場合には、水酸基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基の一つ以上を置換基として含んでいてもよく、P22〜P24が環式炭化水素基である場合には、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基の一つ以上を置換基として含んでいてもよい。P25〜P30は、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜12の環式炭化水素基を表し、l、m、n、o、pおよびqは、互いに独立に0〜5の整数を表す。)
(式(I)中、Q1およびQ2は互いに独立にフッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表し、Xは炭素数1〜12の2価の基であって直鎖または分岐の鎖状炭化水素基を表し、Yは炭素数7〜30の置換されていてもよいアダマンタン骨格又はノルボルナン骨格を含む炭化水素基を表す。A+は式(IIIa)、式(IIIb)または式(IIIc)のいずれかで示されるカチオンを表す。)
- 請求項6記載の酸発生剤と樹脂とを含有する樹脂組成物であって、該樹脂は酸に不安定な基を有し、アルカリ水溶液に不溶又は難溶な樹脂であり、酸と作用した該樹脂はアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂であることを特徴とする樹脂組成物。
- 樹脂が嵩高い基及び酸に不安定な基を有するモノマーに由来する構造単位を含む樹脂である請求項11記載の樹脂組成物。
- 請求項11又は12記載の樹脂組成物と塩基性化合物とを含有することを特徴とする化学増幅型レジスト組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007212732A JP5266688B2 (ja) | 2006-08-18 | 2007-08-17 | 化学増幅型レジスト組成物の酸発生剤用の塩 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006223039 | 2006-08-18 | ||
JP2006223039 | 2006-08-18 | ||
JP2007212732A JP5266688B2 (ja) | 2006-08-18 | 2007-08-17 | 化学増幅型レジスト組成物の酸発生剤用の塩 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008069146A JP2008069146A (ja) | 2008-03-27 |
JP5266688B2 true JP5266688B2 (ja) | 2013-08-21 |
Family
ID=39291060
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007212732A Active JP5266688B2 (ja) | 2006-08-18 | 2007-08-17 | 化学増幅型レジスト組成物の酸発生剤用の塩 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5266688B2 (ja) |
Families Citing this family (43)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101701523B1 (ko) * | 2008-09-12 | 2017-02-01 | 제이에스알 가부시끼가이샤 | 감방사선성 수지 조성물 및 레지스트 패턴 형성 방법 |
JP5292078B2 (ja) * | 2008-12-05 | 2013-09-18 | 富士フイルム株式会社 | 感活性光線または感放射線性樹脂組成物及び該組成物を用いたパターン形成方法 |
JP6030818B2 (ja) * | 2009-06-23 | 2016-11-24 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物の酸発生剤用の塩 |
JP5287552B2 (ja) | 2009-07-02 | 2013-09-11 | 信越化学工業株式会社 | 光酸発生剤並びにレジスト材料及びパターン形成方法 |
WO2011030737A1 (ja) * | 2009-09-11 | 2011-03-17 | Jsr株式会社 | 感放射線性組成物及び新規化合物 |
JP5609569B2 (ja) * | 2009-11-18 | 2014-10-22 | 住友化学株式会社 | 酸発生剤用の塩及びレジスト組成物 |
JP5609570B2 (ja) * | 2009-11-18 | 2014-10-22 | 住友化学株式会社 | 酸発生剤用の塩及びレジスト組成物 |
JP5598274B2 (ja) * | 2009-11-18 | 2014-10-01 | 住友化学株式会社 | 酸発生剤用の塩及びレジスト組成物 |
US8765351B2 (en) | 2009-11-18 | 2014-07-01 | Sumitomo Chemical Company, Limted | Salt and photoresist composition containing the same |
KR101771390B1 (ko) | 2009-11-18 | 2017-08-25 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | 염 및 이를 함유하는 포토레지스트 조성물 |
JP5598275B2 (ja) * | 2009-11-18 | 2014-10-01 | 住友化学株式会社 | 酸発生剤用の塩及びレジスト組成物 |
JP5708170B2 (ja) * | 2010-04-28 | 2015-04-30 | 住友化学株式会社 | 塩及びレジスト組成物 |
US9063414B2 (en) | 2010-07-28 | 2015-06-23 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Photoresist composition |
JP5716744B2 (ja) * | 2010-08-09 | 2015-05-13 | Jsr株式会社 | 感放射線性組成物及び新規化合物 |
JP5608009B2 (ja) | 2010-08-12 | 2014-10-15 | 大阪有機化学工業株式会社 | ホモアダマンタン誘導体、その製造方法及びフォトレジスト組成物 |
JP2012078405A (ja) * | 2010-09-30 | 2012-04-19 | Jsr Corp | 感放射線性樹脂組成物、パターン形成方法及び化合物 |
JP5879834B2 (ja) | 2010-11-15 | 2016-03-08 | 住友化学株式会社 | 塩、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP5947053B2 (ja) | 2011-02-25 | 2016-07-06 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP6034026B2 (ja) | 2011-02-25 | 2016-11-30 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP6005964B2 (ja) * | 2011-04-07 | 2016-10-12 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP5934536B2 (ja) | 2011-04-07 | 2016-06-15 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP5852490B2 (ja) | 2011-04-07 | 2016-02-03 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP6067986B2 (ja) * | 2011-04-07 | 2017-01-25 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP6022788B2 (ja) | 2011-04-07 | 2016-11-09 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP6130630B2 (ja) | 2011-07-19 | 2017-05-17 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP5977595B2 (ja) | 2011-07-19 | 2016-08-24 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP6013797B2 (ja) * | 2011-07-19 | 2016-10-25 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP5990041B2 (ja) | 2011-07-19 | 2016-09-07 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP6130631B2 (ja) | 2011-07-19 | 2017-05-17 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP5912912B2 (ja) | 2011-07-19 | 2016-04-27 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP6013798B2 (ja) | 2011-07-19 | 2016-10-25 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP5977593B2 (ja) | 2011-07-19 | 2016-08-24 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP5996944B2 (ja) | 2011-07-19 | 2016-09-21 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP5985898B2 (ja) | 2011-07-19 | 2016-09-06 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP5977594B2 (ja) | 2011-07-19 | 2016-08-24 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP6074937B2 (ja) * | 2011-08-11 | 2017-02-08 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及び塩 |
JP6062220B2 (ja) * | 2011-12-02 | 2017-01-18 | 住友化学株式会社 | 塩、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP6013218B2 (ja) | 2012-02-28 | 2016-10-25 | 信越化学工業株式会社 | 酸発生剤、化学増幅型レジスト材料、及びパターン形成方法 |
JP5615860B2 (ja) | 2012-03-07 | 2014-10-29 | 信越化学工業株式会社 | 酸発生剤、化学増幅型レジスト材料、及びパターン形成方法 |
US9631048B2 (en) * | 2012-04-19 | 2017-04-25 | Basf Se | Sulfonium compounds, their preparation and use |
JP6146122B2 (ja) * | 2012-05-18 | 2017-06-14 | 住友化学株式会社 | 塩、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP6637740B2 (ja) | 2014-11-28 | 2020-01-29 | 住友化学株式会社 | レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
JP6695203B2 (ja) * | 2015-04-24 | 2020-05-20 | 住友化学株式会社 | 塩、酸発生剤、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4622579B2 (ja) * | 2004-04-23 | 2011-02-02 | 住友化学株式会社 | 化学増幅型ポジ型レジスト組成物及び(メタ)アクリル酸誘導体とその製法 |
JP5226994B2 (ja) * | 2006-09-11 | 2013-07-03 | 住友化学株式会社 | 化学増幅型レジスト組成物の酸発生剤の中間体 |
-
2007
- 2007-08-17 JP JP2007212732A patent/JP5266688B2/ja active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008069146A (ja) | 2008-03-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
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|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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