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JP4669252B2 - Swirl flow forming body and non-contact transfer device - Google Patents

Swirl flow forming body and non-contact transfer device Download PDF

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JP4669252B2
JP4669252B2 JP2004258256A JP2004258256A JP4669252B2 JP 4669252 B2 JP4669252 B2 JP 4669252B2 JP 2004258256 A JP2004258256 A JP 2004258256A JP 2004258256 A JP2004258256 A JP 2004258256A JP 4669252 B2 JP4669252 B2 JP 4669252B2
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wafer
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Description

この発明は、対象物の非接触での保持や搬送、回転等に用いられる非接触搬送装置に関するものである。   The present invention relates to a non-contact conveyance device used for non-contact holding, conveyance, rotation and the like of an object.

近年、ICカード、スマートカードなどが普及し、またその製品も多様化しつつあるが、それに伴い素材となるウェハも厚さが薄くなる一方、ウェハ径は大きくなる傾向にある。   In recent years, IC cards, smart cards, and the like have become widespread and their products have been diversified. As a result, the thickness of wafers tends to be increased while the thickness of wafers is also reduced.

このようなウェハをその製造段階において、次工程へ搬送したり同一工程内で移動させたりする場合、ウェハへの塵の付着防止のために、またウェハ径の大型化や薄物化に伴い機械的なチャッキングや吸着が困難となっているため、非接触搬送装置が提案されている。この非接触搬送装置は、空気圧や窒素ガスを利用して非接触でウェハを保持し搬送する装置であり、既に各種のものが実用化されつつある。   When such a wafer is transported to the next process or moved within the same process in the manufacturing stage, it is mechanical to prevent dust from adhering to the wafer, and as the wafer diameter becomes larger and thinner. Since non-chucking and suction are difficult, a non-contact transfer device has been proposed. This non-contact transfer device is a device that holds and transfers a wafer in a non-contact manner using air pressure or nitrogen gas, and various devices have already been put into practical use.

例えば特許文献1では、空気の送入口に連通すると共に空気の旋回流が発生する旋回室を設け、また旋回室と連通すると共に被搬送物と対向する対向面を有するベルマウスを設け、このベルマウスと被搬送物との間に発生する空気流によって生じるベルヌーイ効果を利用して非接触で被搬送物を保持するようにした無接触搬送装置が提案されている。   For example, in Patent Document 1, a swirl chamber that communicates with the air inlet and generates a swirling flow of air is provided, and a bell mouth that communicates with the swirl chamber and has a facing surface facing the object to be conveyed is provided. There has been proposed a non-contact transfer device that holds a transfer object in a non-contact manner using a Bernoulli effect generated by an air flow generated between the mouse and the transfer object.

しかし、上記した特許文献1が提案する無接触搬送装置では、確かに空気を旋回させることで被搬送物を吸引し保持する力は向上しているものの、空気の送入口、旋回室およびベルマウスが順に連通しているため、構造が複雑化し、装置の製造コストが高くついていた。   However, in the non-contact conveyance device proposed by the above-mentioned Patent Document 1, although the force for sucking and holding the object to be conveyed is certainly improved by swirling air, the air inlet, swirl chamber, and bell mouth are improved. However, the structure is complicated and the manufacturing cost of the apparatus is high.

また、複雑な構造であるために、小型化が困難であり、それだけ装置としての行動範囲が限定され、自由度が小さくなるという問題点を有していた。   In addition, since the structure is complicated, it is difficult to reduce the size of the apparatus, and the action range of the apparatus is limited accordingly, and the degree of freedom is reduced.

さらに、複雑な構造に起因して空気流が受ける通路抵抗が大きくなり、したがって、保持力を確保するには、大量の空気を送り込む必要があり、エネルギ効率が悪化し省エネ化が困難であった。
特開平11−254369号公報
Furthermore, the passage resistance received by the air flow is increased due to the complicated structure. Therefore, in order to secure the holding force, it is necessary to feed a large amount of air, which deteriorates the energy efficiency and makes it difficult to save energy. .
JP 11-254369 A

この発明は上記に鑑み提案されたもので、装置の製造コストを低減することができ、また容易に小型化することができ、それによって行動範囲も広げることができ、さらに省エネ化も実現することができる非接触搬送装置を提供することを目的とする。   The present invention has been proposed in view of the above, and can reduce the manufacturing cost of the apparatus and can be easily downsized, thereby expanding the range of action and further realizing energy saving. It is an object of the present invention to provide a non-contact conveyance device capable of performing the above.

上記目的を達成するために、請求項1に記載の発明の旋回流形成体は、一端が開口している中空円筒状の凹部と、前記凹部の底面位置から突出し、当該凹部の内周壁に沿った外周壁を有し、当該内周壁と当該外周壁とによって旋回流通路を形成する円筒状の凸部と、前記凹部の底面に対して水平に設けられ、前記旋回流通路に臨むように前記凹部の内周壁に形成した噴出口から当該旋回流通路の周方向に沿って供給流体を吐出させる流体通路とを備えることを特徴とする。
好ましくは、上述の態様において、前記凹部開口側に平坦に形成された平坦状端面を備えるとよい。
In order to achieve the above object, a swirl flow forming body according to the first aspect of the present invention projects from a hollow cylindrical recess having one end open, a bottom surface of the recess, and along an inner peripheral wall of the recess. A cylindrical convex portion that forms a swirling flow passage by the inner peripheral wall and the outer peripheral wall, and is provided horizontally with respect to the bottom surface of the concave portion, and faces the swirling flow passage. And a fluid passage that discharges the supply fluid along a circumferential direction of the swirl flow passage from a jet port formed in the inner peripheral wall of the recess .
Preferably, in the above-described aspect, a flat end surface formed flat on the concave opening side may be provided.

また、本発明の請求項3に係る旋回流形成体は、上述の態様において、前記供給流体は超音波周波数の振動を有する流体であることを特徴とする。According to a third aspect of the present invention, in the above-described aspect, the supply fluid is a fluid having an ultrasonic frequency vibration.

また、本発明の請求項4に係る旋回流形成体は、上述の態様において、前記凹部の開口縁には、面取りにより傾斜面が形成されていることを特徴とする。Moreover, the swirl | flow flow formation body which concerns on Claim 4 of this invention is the above-mentioned aspect. WHEREIN: The inclined surface is formed in the opening edge of the said recessed part by chamfering, It is characterized by the above-mentioned.
好ましくは、上述の態様において、イオン供給源を前記凹部内に臨むように設けるとよい。Preferably, in the above-described aspect, an ion supply source may be provided so as to face the recess.

また、本発明の請求項6に係る非接触搬送装置は、上述の旋回流形成体が板状の基体に2個以上設けられていることを特徴とする。Moreover, the non-contact conveying apparatus according to claim 6 of the present invention is characterized in that two or more of the above-mentioned swirl flow forming bodies are provided on a plate-like substrate.
また、本発明の請求項7に係る非接触搬送装置は、前記各旋回流形成体における旋回流の方向が、時計方向と反時計方向が混在するように調整されていることを特徴とする。Further, the non-contact conveyance device according to claim 7 of the present invention is characterized in that the direction of the swirling flow in each swirling flow forming body is adjusted so that a clockwise direction and a counterclockwise direction are mixed.

以下に説明するような効果を奏することができる。
請求項1に記載の発明では、凹部と平坦状端面と流体通路とを設けるだけで、対象物の非接触保持を行えるようにしたので、装置を簡単な構成のものとすることができ、したがって、装置の製造コストを大幅に低減することができる。
The effects described below can be achieved.
In the first aspect of the present invention, since the object can be held in a non-contact manner only by providing the concave portion, the flat end face, and the fluid passage, the apparatus can be of a simple configuration, and therefore The manufacturing cost of the apparatus can be greatly reduced.

また装置の構成を簡単なものとすることで、小型化も容易となり、従来使用できなかったスペースにも挿入して使用できるようになる。それにより装置としての行動範囲を広げることができ、同一工程、同一加工装置内での狭い領域での搬送移動も自在に行えるようになる。   Further, by simplifying the configuration of the apparatus, it becomes easy to reduce the size, and it can be used by inserting it into a space that could not be used conventionally. As a result, the range of action as an apparatus can be expanded, and the conveyance movement in a narrow region within the same process and the same processing apparatus can be performed freely.

また、凹部に吹き込んだ空気はそのまま内周面に沿って整流されて旋回流となるので、通路抵抗をほとんど受けることなくスムーズに旋回流となすことができ、エネルギ効率を向上させて省エネ化を実現することができる。   In addition, since the air blown into the recess is straightened along the inner peripheral surface to form a swirling flow, the swirling flow can be smoothly made with almost no passage resistance, improving energy efficiency and saving energy. Can be realized.

さらに、凹部内の周方向に沿って空気を噴出させ、旋回流を発生させるようにしたので、平坦状端面と対象物との間の負圧による吸引力は、従来のものに比して格段に強力となり、強力に非接触での保持を行わせることができる。   Furthermore, since air is jetted along the circumferential direction in the recess to generate a swirling flow, the suction force due to the negative pressure between the flat end surface and the object is much higher than that of the conventional one. It can be made strong and non-contact holding can be performed.

請求項3に記載の発明では、凹部内の複数箇所で形成した旋回流によって対象物を吸引させるようにしたので、その吸引力を格段に強力なものとすることができ、対象物は一層強力に、かつその全体にわたって吸引されるようになり、したがって、対象物(例えばウェハ)に反りがあったとしてもその反りを全体にわたって矯正することが可能となる。その結果、対象物が大きな径を有し、しかも反りを有する場合であっても、その対象物を非接触で確実に保持することができ、搬送も安定した状態で確実に行うことができる。   In the invention according to claim 3, since the object is sucked by the swirl flow formed at a plurality of locations in the recess, the suction force can be made extremely strong, and the object is more powerful. Therefore, even if the object (for example, the wafer) is warped, it is possible to correct the warp throughout. As a result, even when the object has a large diameter and has a warp, the object can be reliably held in a non-contact manner, and can be reliably transported in a stable state.

請求項4に記載の発明では、板状の基体に凹部を形成し、旋回流を形成して非接触保持を行わせるようにしたので、従来段積みされているためアクセスすることが困難であったウェハカセット内のウェハに対し、その何れの段のウェハに対しても自在にアクセス可能となり、ウェハカセットからのウェハの搬送をよりスムーズにかつ自在に行えるようになる。また、ウェハカセットにウェハを収納し段積みする際にも、自在に所望の位置に搬入することができる。すなわち、ウェハカセットからの搬出、またウェハカセットへの搬入を自在に行うことができ、作業効率も大幅に向上させることができる。   In the invention described in claim 4, since the concave portion is formed in the plate-like base and the swirl flow is formed so as to perform the non-contact holding, it is difficult to access because it is stacked in the past. The wafers in the wafer cassette can be freely accessed at any stage of wafers, and the wafers can be transported from the wafer cassette more smoothly and freely. Further, even when wafers are stored in a wafer cassette and stacked, they can be freely carried to a desired position. That is, unloading from the wafer cassette and loading into the wafer cassette can be performed freely, and work efficiency can be greatly improved.

また、この非接触での保持力は強力であり、非接触搬送装置の全体を反転させてもそのまま保持状態を維持することができ、ウェハを反転させてウェハカセットに段積みさせることもできるし、反転させて次行程へ搬送することもできる。   In addition, the non-contact holding force is strong, so that the holding state can be maintained as it is even if the entire non-contact transfer device is inverted, and the wafers can be inverted and stacked in a wafer cassette. It can also be reversed and transported to the next stroke.

また、請求項5に記載の発明では、イオン供給源からのイオンを対象物に接触させるようにしたので、対象物はその帯電が中和され、静電気によるパーティクルの付着が弱められる。したがって、供給流体は、この付着力が弱められたパーティクルを容易に除去することができ、対象物をクリーンなものとすることができる。   In the invention described in claim 5, since ions from the ion supply source are brought into contact with the object, the charge of the object is neutralized and the adhesion of particles due to static electricity is weakened. Therefore, the supply fluid can easily remove the particles whose adhesion is weakened, and the object can be made clean.

以下にこの発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。先ず第1の実施形態を図1および図2を用いて説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. First, a first embodiment will be described with reference to FIGS.

図1はこの発明の非接触搬送装置の構成を示す斜視図で、(a)は斜め下方から、(b)は斜め上方からの斜視図である。図2はこの発明の非接触搬送装置の断面図で、(a)は図1(a)のI−I線断面図、(b)は図1(a)のII−II線断面図である。これらの図において、この発明の非接触搬送装置1は、対象物(ここではウェハ9)を非接触で保持(懸垂浮揚)し搬送する装置であり、略柱状の旋回流形成体2を用いて構成されている。すなわち、この発明の非接触搬送装置1は、内周面が円周状の凹部3と、その凹部3の開口側に形成した、対象物と対向する平坦状端面2bと、供給流体を凹部3の内周面に臨む噴出口4から凹部3内へその凹部3の内周方向に沿って吐出させる流体通路5と、を備えている。   1A and 1B are perspective views showing a configuration of a non-contact conveying apparatus according to the present invention. FIG. 1A is a perspective view from an obliquely lower side, and FIG. 2A and 2B are cross-sectional views of the non-contact transfer apparatus of the present invention, in which FIG. 2A is a cross-sectional view taken along line II in FIG. 1A, and FIG. . In these drawings, a non-contact transfer device 1 of the present invention is a device that holds (carrys and floats) an object (here, a wafer 9) in a non-contact manner and uses a substantially columnar swirl flow forming body 2. It is configured. That is, the non-contact transfer device 1 of the present invention has a concave portion 3 whose inner peripheral surface is a circumferential shape, a flat end surface 2b that is formed on the opening side of the concave portion 3 and that faces an object, and the supply fluid is a concave portion 3. And a fluid passage 5 that discharges into the recess 3 from the jet port 4 facing the inner periphery of the recess 3 along the inner peripheral direction of the recess 3.

流体通路5は、旋回流形成体2の閉端面2aに設けた流体導入口6から、閉端面2aに対して垂直に穿設され、さらに水平に穿設されて、凹部3の内周面に臨む噴出口4に達している。すなわち、流体通路5は、流体導入口6と噴出口4とを連通し、供給流体を噴出口4から凹部3内へその周方向に沿って吐出させている。この供給流体により、凹部3内部には旋回流が発生する。   The fluid passage 5 is drilled perpendicularly to the closed end surface 2 a from the fluid inlet 6 provided in the closed end surface 2 a of the swirling flow forming body 2, and further horizontally drilled on the inner peripheral surface of the recess 3. The spout 4 is reached. That is, the fluid passage 5 communicates the fluid introduction port 6 and the ejection port 4, and discharges the supply fluid from the ejection port 4 into the recess 3 along the circumferential direction. A swirling flow is generated inside the recess 3 by the supplied fluid.

流体導入口6、流体通路5および噴出口4は、2組設けられ、その2組の各噴出口4から噴出される流体(ここでは空気)は、周方向に沿って同一方向に吐出され、相互に旋回流を強め合うようになっている。   Two sets of the fluid introduction port 6, the fluid passage 5, and the ejection port 4 are provided, and the fluid (here, air) ejected from each of the two ejection ports 4 is discharged in the same direction along the circumferential direction, The swirl flow is strengthened mutually.

また、凹部3の開口縁は面取りにより傾斜面3aが形成されてラッパ状に拡径しており、凹部3で発生した旋回流が、この傾斜面3aによって凹部3から速やかに流出できるようになっている。   Further, the opening edge of the concave portion 3 is formed with an inclined surface 3a by chamfering so as to expand in a trumpet shape, and the swirling flow generated in the concave portion 3 can quickly flow out of the concave portion 3 by the inclined surface 3a. ing.

上記構成の非接触搬送装置1において、ここでは図示されていない空気供給装置から流体導入口6へ空気が供給されると、その空気は、流体通路5を介して噴出口4から凹部3内へ吹き込まれ、凹部3の内部空間で旋回流となって整流され、その後凹部3から流出する。その流出時に、旋回流形成体2の平坦状端面2bに対向する位置にウェハ9が配されていると、空気は平坦状端面2bに沿って高速流となって流出するので、平坦状端面2bとウェハ9との間は、負圧になる。したがって、ウェハ9は周囲の大気圧で押されて平坦状端面2b側に吸引され、一方、その平坦状端面2bとウェハ9とに介在する空気により反発力を受け、そのバランスにより、ウェハ9は平坦状端面2bに対向した非接触状態で保持されるようになる。   In the non-contact conveyance device 1 having the above-described configuration, when air is supplied from an air supply device (not shown) to the fluid introduction port 6, the air passes from the ejection port 4 into the recess 3 through the fluid passage 5. The air is blown and rectified as a swirling flow in the internal space of the recess 3, and then flows out of the recess 3. If the wafer 9 is disposed at a position facing the flat end surface 2b of the swirl flow forming body 2 at the time of the outflow, air flows out as a high-speed flow along the flat end surface 2b, and thus the flat end surface 2b. And the wafer 9 is under negative pressure. Therefore, the wafer 9 is pushed by the ambient atmospheric pressure and is sucked to the flat end surface 2b side, while receiving the repulsive force by the air interposed between the flat end surface 2b and the wafer 9, the wafer 9 is It comes to hold | maintain in the non-contact state facing the flat end surface 2b.

このように、この発明の第1の実施形態では、凹部3と平坦状端面2bと流体通路4とを設けるだけの旋回流形成体2単体で、ウェハ9を保持するようにしたので、装置を簡単な構成のものとすることができ、したがって、装置の製造コストを大幅に低減することができる。   As described above, in the first embodiment of the present invention, the wafer 9 is held by the swirl flow forming body 2 which is simply provided with the recess 3, the flat end surface 2b, and the fluid passage 4, so that the apparatus is It can be of simple construction, and therefore the manufacturing cost of the device can be greatly reduced.

また装置の構成を簡単なものとすることができるので、小型化も容易となり、従来使用できなかったスペースにも挿入して使用できるようになる。それにより装置としての行動範囲を広げることができ、同一工程、同一加工装置内での狭い領域での搬送移動も自在に行えるようになる。   In addition, since the configuration of the apparatus can be simplified, the size can be easily reduced, and the apparatus can be inserted into a space that could not be used before. As a result, the range of action as an apparatus can be expanded, and the conveyance movement in a narrow region within the same process and the same processing apparatus can be performed freely.

また、凹部3に吹き込んだ空気はそのまま内周面に沿って整流されて旋回流となるので、通路抵抗をほとんど受けることなくスムーズに旋回流となすことができ、エネルギ効率を向上させて省エネ化を実現することができる。   Further, since the air blown into the recess 3 is rectified as it is along the inner peripheral surface to form a swirling flow, it can be smoothly swirled without receiving any passage resistance, improving energy efficiency and saving energy. Can be realized.

さらに、凹部3内の周方向に沿って空気を噴出させ、旋回流を発生させるようにしたので、平坦状端面2bとウェハ9との間の負圧による吸引力は、従来のものに比して格段に強力となる。   Further, since air is jetted along the circumferential direction in the recess 3 to generate a swirling flow, the suction force due to the negative pressure between the flat end surface 2b and the wafer 9 is higher than that of the conventional one. And become much more powerful.

なお、上記の説明では、流体導入口6、流体通路5および噴出口4を2組設けるようにしたが、1組のみでもよいし、また3組以上設けるようにしてもよい。   In the above description, two sets of the fluid introduction port 6, the fluid passage 5, and the jet port 4 are provided. However, only one set may be provided, or three or more sets may be provided.

また、流体導入口6を個別に設けるようにしたが、この流体導入口6を共通とし、そこから枝分かれして流体通路5および噴出口4を設けるようにしてもよい。   In addition, although the fluid introduction ports 6 are individually provided, the fluid introduction ports 6 may be shared, and the fluid passages 5 and the ejection ports 4 may be provided by branching from the fluid introduction ports 6.

さらに、流体通路5を垂直経路と水平経路との組み合わせで形成するようにしたが、このような経路に限定されることはなく、流体通路5は、流体導入口6から凹部3の周方向に沿って空気を噴出するように形成すればよい。   Furthermore, although the fluid passage 5 is formed by a combination of a vertical path and a horizontal path, the fluid path 5 is not limited to such a path, and the fluid path 5 extends from the fluid inlet 6 to the circumferential direction of the recess 3. What is necessary is just to form so that air may be ejected along.

次にこの発明の非接触搬送装置の第2の実施形態を図3および図4を用いて説明する。   Next, a second embodiment of the non-contact conveyance device of the present invention will be described with reference to FIGS.

図3は第2の実施形態における非接触搬送装置の構成を示す斜視図で、(a)は斜め下方から、(b)は斜め上方からの斜視図である。図4は第2の実施形態における非接触搬送装置の構成を示す図で、(a)は下面図、(b)は図4(b)のIII−III線断面図である。この第2の実施形態において、上記した第1の実施形態における構成要素と略同一の構成要素には、同一の符号を付し、その説明を省略する。   FIGS. 3A and 3B are perspective views showing the configuration of the non-contact conveyance device according to the second embodiment. FIG. 3A is a perspective view from obliquely below, and FIG. 4A and 4B are diagrams showing the configuration of the non-contact conveyance device according to the second embodiment. FIG. 4A is a bottom view, and FIG. 4B is a cross-sectional view taken along line III-III in FIG. In the second embodiment, components that are substantially the same as those in the first embodiment described above are given the same reference numerals, and descriptions thereof are omitted.

この第2の実施形態における非接触搬送装置11は、上記した第1の実施形態の旋回流形成体2を複数個用いて構成したものである。すなわち、非接触搬送装置11は、基底部13およびその基底部13の外周に垂設した周壁14からなる支持体12と、その支持体12の基底部13に着設した4個の旋回流形成体2とを備えている。   The non-contact conveyance device 11 in the second embodiment is configured by using a plurality of the swirl flow forming bodies 2 of the first embodiment described above. That is, the non-contact conveyance device 11 includes a base body 13 and a support body 12 including a peripheral wall 14 suspended from the outer periphery of the base section 13, and four swirl flow formations attached to the base section 13 of the support body 12. The body 2 is provided.

4個の旋回流形成体2の各々は、閉端面2a側で基底部13の内面(基底面)に着設され、また平坦状端面2bが互いに同一面となるように支持されている。周壁14の高さは、その端面140がこの平坦状端面2bの各々と同一面となるように調整されている。さらに、周壁14の端面140の内周部分には、2段の階段状にラビリンスフィン141を形成してある。   Each of the four swirling flow forming bodies 2 is attached to the inner surface (base surface) of the base portion 13 on the closed end surface 2a side, and is supported so that the flat end surfaces 2b are flush with each other. The height of the peripheral wall 14 is adjusted so that the end surface 140 thereof is flush with each of the flat end surfaces 2b. Further, a labyrinth fin 141 is formed in a two-step shape on the inner peripheral portion of the end surface 140 of the peripheral wall 14.

基底部13の外面130には、旋回流形成体2の各々に対応して流体供給口15を設けてあり、基底部13の壁体内部には、この流体供給口15と、対応する旋回流形成体2の2つの流体導入口6,6の各々とを連通する基底部内通路131が、流体供給口15から分岐して形成されている(図4(b))。   A fluid supply port 15 is provided on the outer surface 130 of the base portion 13 corresponding to each of the swirl flow forming bodies 2, and the fluid supply port 15 and the corresponding swirl flow are provided inside the wall of the base portion 13. A base portion internal passage 131 that communicates with each of the two fluid introduction ports 6 and 6 of the forming body 2 is formed by branching from the fluid supply port 15 (FIG. 4B).

基底部13の外面130には、上記の4個の流体供給口15の他に、さらに5個の流体排出口16を設けてあり、基底部13の壁体内部には、この流体排出口16の各々と連通する排出通路132を貫設し、支持体12の内部空間と流体排出口16とを接続している。   In addition to the four fluid supply ports 15 described above, five fluid discharge ports 16 are further provided on the outer surface 130 of the base portion 13, and the fluid discharge ports 16 are provided inside the wall of the base portion 13. A discharge passage 132 that communicates with each of the first and second fluids is provided so as to connect the internal space of the support 12 and the fluid discharge port 16.

さらに、支持体12の周壁14には、所定間隔で4箇所に取付片171を突設し、この取付片171にはさらに棒状の離脱防止ガイド172を垂設している。この離脱防止ガイド172の一端側は、面一となる各平坦状端面2bや周壁14の端面140に対して少し突き出している。   Further, on the peripheral wall 14 of the support 12, mounting pieces 171 are projected at four positions at predetermined intervals, and a rod-shaped detachment prevention guide 172 is further suspended from the mounting piece 171. One end side of the separation preventing guide 172 slightly protrudes from the flat end surface 2b and the end surface 140 of the peripheral wall 14 which are flush with each other.

上記構成の非接触搬送装置11において、空気供給装置(図示省略)からの空気が流体供給口15に送られると、その空気は、基底部内通路131、流体導入口6および流体通路5を介して噴出口4から凹部3内へ吹き込まれ、凹部3の内部空間で旋回流となって整流され、その後凹部3から流出する。この旋回流の各々は、ウェハ9を非接触で保持したときにウェハ9が回転しないように、予め互いにその方向が調整されており、例えば図4(a)に示すように、噴出口4の配置位置を変えることで、二個の旋回流形成体2では時計方向に、他の二個の旋回流形成体2では、反時計方向となるように調整されている。   In the non-contact conveyance device 11 configured as described above, when air from an air supply device (not shown) is sent to the fluid supply port 15, the air passes through the base portion inner passage 131, the fluid introduction port 6, and the fluid passage 5. The air is blown into the recess 3 from the jet port 4, is rectified as a swirling flow in the internal space of the recess 3, and then flows out of the recess 3. The directions of the swirling flows are adjusted in advance so that the wafer 9 does not rotate when the wafer 9 is held in a non-contact manner. For example, as shown in FIG. By changing the arrangement position, the two swirl flow forming bodies 2 are adjusted to be clockwise, and the other two swirl flow forming bodies 2 are adjusted to be counterclockwise.

そして、各旋回流の流出時に、旋回流形成体2の平坦状端面2bに対向する位置にウェハ9が配されていると、上記した第1の実施形態の場合と同様に、ウェハ9は負圧による吸引力と、空気流による反発力とを受けて、平坦状端面2bに対向して非接触状態で保持されるようになる。その保持状態で支持体12を移動させると、その移動とともにウェハ9も離脱防止ガイド172でガイドされつつ移動する。すなわち、非接触搬送装置11は、ウェハ9を非接触で保持し搬送する。   If the wafer 9 is disposed at a position facing the flat end surface 2b of the swirling flow forming body 2 when each swirling flow flows out, the wafer 9 is negative as in the case of the first embodiment described above. In response to the suction force due to the pressure and the repulsive force due to the air flow, the flat end surface 2b is held in a non-contact state. When the support 12 is moved in the holding state, the wafer 9 is moved while being guided by the separation preventing guide 172 along with the movement. That is, the non-contact transport device 11 holds and transports the wafer 9 in a non-contact manner.

凹部3から平坦状端面2bを通って流出した空気流は、そのまま支持体12の内部空間に入り、その後排出通路132および流体排出口16を通って、排気装置(図示省略)によって強制的に排出される。また、周壁14に達した空気流は、ラビリンスフィン141でその流れが乱され抵抗を受けるため、周壁14の端面140を乗り越えて流出する空気は少なくなり、大部分が内部空間に滞留し、排出通路132および流体排出口16を通って、強制的に排出される。   The air flow flowing out from the recess 3 through the flat end surface 2b enters the inner space of the support 12 as it is, and then forcibly exhausted by the exhaust device (not shown) through the discharge passage 132 and the fluid discharge port 16. Is done. Further, since the air flow that has reached the peripheral wall 14 is disturbed by the labyrinth fin 141 and receives resistance, the air flowing over the end surface 140 of the peripheral wall 14 decreases, and most of the air stays in the internal space and is discharged. The fluid is forcedly discharged through the passage 132 and the fluid discharge port 16.

また、周壁14のさらに外方に離脱防止ガイド172を設けたので、非接触で保持されたウェハ9が水平方向に移動して逸脱しようとしても、離脱防止ガイド172でその移動を阻止することができ、安定して搬送させることができる。   Further, since the separation prevention guide 172 is provided further outward from the peripheral wall 14, even if the wafer 9 held in a non-contact manner moves in the horizontal direction and deviates, the movement can be prevented by the separation prevention guide 172. Can be transported stably.

このように、この発明の第2の実施形態では、上記した第1の実施形態の場合と同様に、簡単な構成の旋回流形成体2を用いて構成したので、コストの低減、小型化および省エネ化を実現することができ、また、凹部3内に形成した旋回流によってウェハ9を吸引させるようにしたので、その吸引力を格段に強力なものとすることができる。   As described above, in the second embodiment of the present invention, as in the case of the first embodiment described above, the swirl flow forming body 2 having a simple configuration is used. Energy saving can be realized, and since the wafer 9 is sucked by the swirl flow formed in the recess 3, the suction force can be made extremely strong.

また、この旋回流を4箇所で発生させるようにしたので、ウェハ9はさらに一層強力に、かつその全体にわたって吸引されるようになり、したがって、ウェハ9に反りがあったとしてもその反りを全体にわたって矯正することが可能となり、その矯正力も強力なものとなる。その結果、ウェハ9が大きな径を有し、しかも反りを有する場合であっても、そのウェハを非接触で確実に保持することができ、搬送も安定した状態で確実に行うことができる。   In addition, since the swirl flow is generated at four locations, the wafer 9 is attracted more strongly and over the entire area. Therefore, even if the wafer 9 is warped, the warpage is totally eliminated. It is possible to correct over a long time, and the correction power is also strong. As a result, even if the wafer 9 has a large diameter and has a warp, the wafer can be reliably held in a non-contact manner and can be reliably transported in a stable state.

また、各旋回流形成体2は、凹部3に空気を吹き込んで旋回流を直接的に形成する、シンプルな構成となっているので、安定した旋回流となり、非接触での保持力も安定している。したがって、4箇所での個々の旋回流形成体2はお互いにその保持力が略均一となり、従来やや不安定になりがちであったウェハ9の非接触保持をバランスよく行うことができる。   In addition, each swirl flow forming body 2 has a simple configuration in which air is blown into the recess 3 to directly form a swirl flow, so that the swirl flow is stable and the non-contact holding force is also stable. Yes. Therefore, the individual swirl flow forming bodies 2 at the four locations have substantially uniform holding forces with each other, and can perform non-contact holding of the wafer 9 that tends to be slightly unstable in the past.

さらに、この非接触での保持力は強力であるので、非接触搬送装置11の全体を反転させてもそのまま保持状態を維持することができ、ウェハ9を反転させて次行程へ搬送することもできる。   Further, since the non-contact holding force is strong, the holding state can be maintained as it is even if the entire non-contact transfer device 11 is inverted, and the wafer 9 can be inverted and transferred to the next process. it can.

なお、上記の説明では、旋回流形成体2を4個設ける構成としたが、4個に限定する必要はなく、2個以上の任意の個数を設ける構成であってもよい。   In the above description, four swirl flow forming bodies 2 are provided. However, the number of swirl flow forming bodies 2 is not limited to four, and may be any number of two or more.

また、周壁14のラビリンスフィン141を階段状にしたが、空気抵抗を増す構造であればよく、例えば溝形状としてもよい。   Moreover, although the labyrinth fin 141 of the surrounding wall 14 was made into step shape, what is necessary is just a structure which increases air resistance, for example, is good also as a groove shape.

さらに、流体供給口15および流体排出口16は任意の個数を設けるようにしてもよく、離脱防止ガイド172についても、少なくとも3箇所に設けるようにすればよい。   Furthermore, any number of fluid supply ports 15 and fluid discharge ports 16 may be provided, and the detachment prevention guides 172 may be provided in at least three locations.

次にこの発明の非接触搬送装置の第3の実施形態を図5、図6および図7を用いて説明する。   Next, a third embodiment of the non-contact conveying apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS. 5, 6, and 7. FIG.

図5は第3の実施形態における非接触搬送装置の構成を示す正面断面図、図6はその平面図、図7は図5のIV−IV線断面図で、センタリング機構の作用説明図である。この第3の実施形態において、上記した第2の実施形態における構成要素と略同一の構成要素には、同一の符号を付し、その説明を省略する。   FIG. 5 is a front sectional view showing the configuration of the non-contact conveyance device in the third embodiment, FIG. 6 is a plan view thereof, and FIG. 7 is a sectional view taken along the line IV-IV in FIG. . In the third embodiment, components that are substantially the same as those in the second embodiment described above are given the same reference numerals, and descriptions thereof are omitted.

この第3の実施形態の非接触搬送装置21が、上記した第2の実施形態の非接触搬送装置11と相違している点は、非接触で保持したウェハ9の位置決め用および離脱防止用にセンタリング機構200を設けた点である。   The non-contact transfer device 21 of the third embodiment is different from the non-contact transfer device 11 of the second embodiment described above for positioning the wafer 9 held in a non-contact manner and for preventing separation. The centering mechanism 200 is provided.

このセンタリング機構200は、基底部13の外面130に立設した支柱201で支持されたベース板202上に載設したロータリアクチュエータ203と、そのロータリアクチュエータ203のシャフト(図示省略)に取り付けたフランジ204の外周縁に四方に向けて設けたリンクアーム205とを備えている。このリンクアーム205の各々は、屈曲した細長い板材からなり、その一端はフランジ204の外周縁に枢設され、他端側は水平状になっている。また、外面130から径方向に突設した取付片209にガイド用溝206が設けてある。そして、このリンクアーム205の他端側に設けたボルト孔および取付片209のガイド用溝206に、ボルトを挿通しそのボルトにセンタリングガイド(センタリング用腕)207を螺着し垂設し、センタリングガイド207はガイド用溝206に沿ってスライド可能となっている。   The centering mechanism 200 includes a rotary actuator 203 mounted on a base plate 202 supported by a column 201 erected on an outer surface 130 of the base portion 13, and a flange 204 attached to a shaft (not shown) of the rotary actuator 203. And a link arm 205 provided on the outer periphery of the outer periphery of the outer periphery. Each of the link arms 205 is made of a bent and elongated plate material, one end of which is pivoted on the outer peripheral edge of the flange 204, and the other end side thereof is horizontal. In addition, a guide groove 206 is provided in an attachment piece 209 protruding in the radial direction from the outer surface 130. Then, a bolt is inserted into a bolt hole provided on the other end side of the link arm 205 and a guide groove 206 of the mounting piece 209, and a centering guide (centering arm) 207 is screwed to the bolt to be suspended. The guide 207 is slidable along the guide groove 206.

上記した構成の下で、非接触搬送装置21のセンタリング機構200は、次のように動作する。先ず、ロータリアクチュエータ203の駆動空気挿入口208に空気が送り込まれると、ロータリアクチュエータ203が動作し、その動作に応じてフランジ204が、図7(a)の状態から図7(b)の状態まで矢印22で示す方向に所定角度だけ回転し、その回転に応じて各リンクアーム205も移動する。このとき、リンクアーム205の他端側に垂設されているセンタリングガイド207は、取付片209のガイド用溝206に案内されて、直進運動を行い、基底部13の中心方向にそれぞれ所定距離だけ移動して停止する。このセンタリングガイド207の中心方向の移動により、非接触搬送装置21によって非接触で保持されているウェハ9は、その外周が四方から規制され、ウェハ9の中心が支持体12の内部空間の中心に一致するようになり、ウェハ9は位置決めされる。一方、ウェハ9に対する規制を解除するときは、ロータリアクチュエータ203によってフランジ204を矢印22とは逆方向に回転させる。それによりセンタリングガイド207は、基底部13の中心方向から離れる方向に移動し、ウェハ9は自由状態となる。   Under the configuration described above, the centering mechanism 200 of the non-contact transport device 21 operates as follows. First, when air is sent to the drive air insertion port 208 of the rotary actuator 203, the rotary actuator 203 operates, and the flange 204 moves from the state shown in FIG. 7A to the state shown in FIG. 7B according to the operation. It rotates by a predetermined angle in the direction shown by the arrow 22, and each link arm 205 also moves according to the rotation. At this time, the centering guide 207 suspended from the other end side of the link arm 205 is guided by the guide groove 206 of the mounting piece 209 to perform a straight movement, and a predetermined distance in the center direction of the base portion 13. Move and stop. Due to the movement of the centering guide 207 in the center direction, the outer periphery of the wafer 9 held in a non-contact manner by the non-contact transfer device 21 is regulated from four sides, and the center of the wafer 9 is set to the center of the internal space of the support 12. As a result, the wafers 9 are positioned. On the other hand, when the restriction on the wafer 9 is released, the rotary actuator 203 rotates the flange 204 in the direction opposite to the arrow 22. As a result, the centering guide 207 moves in a direction away from the center direction of the base portion 13, and the wafer 9 becomes free.

このように、センタリングガイド207は、ロータリアクチュエータ203に対する操作に応じてそれぞれ同一距離だけ周壁14に対して離隔/接近し、非接触で保持されているウェハ9をその内側に収めるとともにその位置決めを高精度で行う。したがって、ウェハ9を搬送し、所定の位置にセッティングする場合に、高精度でセッティングすることができ、したがって、次工程も、精度良く円滑に作業を進めることができる。   As described above, the centering guide 207 is separated / approached from the peripheral wall 14 by the same distance in accordance with the operation on the rotary actuator 203, and the wafer 9 held in a non-contact manner is accommodated inside thereof, and the positioning thereof is increased. Do with accuracy. Therefore, when the wafer 9 is transported and set at a predetermined position, the wafer 9 can be set with high accuracy, and therefore the next process can be smoothly and accurately performed.

次に、この発明の非接触搬送装置の第4の実施形態を図8および図9を用いて説明する。   Next, a fourth embodiment of the non-contact conveyance device of the present invention will be described with reference to FIGS.

図8は第4の実施形態における非接触搬送装置の構成を示す斜め上方からの斜視図、図9は第4の実施形態における非接触搬送装置の構成を示す図で、(a)は平面図、(b)は図9(a)のV−V線断面図である。この第4の実施形態において、上記した第2の実施形態における構成要素と略同一の構成要素には、同一の符号を付し、その説明を省略する。   FIG. 8 is a perspective view illustrating the configuration of the non-contact conveyance device according to the fourth embodiment from obliquely above, FIG. 9 is a diagram illustrating the configuration of the non-contact conveyance device according to the fourth embodiment, and FIG. (B) is the VV sectional view taken on the line of Fig.9 (a). In the fourth embodiment, components that are substantially the same as those in the second embodiment described above are given the same reference numerals, and descriptions thereof are omitted.

この第4の実施形態の非接触搬送装置31では、中心に配する旋回流形成体32と、周囲に配する旋回流形成体2とを異なる構成としている。周囲に配置した2個の旋回流形成体2は、上記した第1〜第3の実施形態で使用したものと略同一の構成を有しているが、中心に配置した旋回流形成体32は、下記のような構成を有している。   In the non-contact conveyance device 31 of the fourth embodiment, the swirl flow forming body 32 disposed at the center and the swirl flow forming body 2 disposed around are different from each other. The two swirling flow forming bodies 2 arranged in the periphery have substantially the same configuration as that used in the first to third embodiments described above, but the swirling flow forming body 32 arranged in the center is The configuration is as follows.

すなわち、この旋回流形成体32は、凹部33の内部に周壁33aを設けて旋回流通路38を形成するとともに、中央に貫通孔321を設けたものである。また、旋回流形成体32の外周面に臨むように流体導入口36が設けられ、流体通路35は、この流体導入口36から水平に旋回流形成体32の厚肉部分に穿設され、旋回流通路38に臨むように形成した噴出口34に達している。空気は、この噴出口34から旋回流通路38内にその周方向に沿って吐出され、旋回流通路38に案内されつつ旋回流となる。流体導入口36、流体通路35および噴出口34は、2組設けられ、その2組の各噴出口34から噴出される空気は、周方向に沿って同一方向に吐出され、相互に旋回流を強め合うようになっている。   That is, the swirling flow forming body 32 is provided with a peripheral wall 33a inside the recess 33 to form a swirling flow passage 38 and a through hole 321 at the center. A fluid introduction port 36 is provided so as to face the outer peripheral surface of the swirl flow forming body 32, and the fluid passage 35 is formed in the thick portion of the swirl flow formation body 32 horizontally from the fluid introduction port 36. The nozzle 34 is formed so as to face the flow passage 38. The air is discharged along the circumferential direction into the swirl flow passage 38 from the jet port 34, and becomes a swirl flow while being guided by the swirl flow passage 38. Two sets of the fluid introduction port 36, the fluid passage 35, and the ejection port 34 are provided, and the air ejected from each of the two ejection ports 34 is discharged in the same direction along the circumferential direction, and swirls with each other. It has come to strengthen each other.

また、基底部13に設ける流体供給口15は、図9(b)に示すように、中心に配した旋回流形成体32の2つの流体導入口36に対応させてそれぞれ設けられ、また周囲に配した旋回流形成体2の各々には、第2の実施形態の場合と同様に、1個ずつ設けられる。   Further, as shown in FIG. 9 (b), the fluid supply ports 15 provided in the base portion 13 are respectively provided corresponding to the two fluid introduction ports 36 of the swirling flow forming body 32 arranged at the center, and around the periphery. Each of the arranged swirling flow forming bodies 2 is provided one by one as in the case of the second embodiment.

そして、周囲に配した旋回流形成体2の各々は、旋回流の回転方向が互いに逆になるように構成されている。   And each of the swirl | vortex flow formation body 2 distribute | arranged to the circumference | surroundings is comprised so that the rotation direction of a swirl | vortex flow may mutually become reverse.

この第4の実施形態では、その旋回流形成体32,2で発生した旋回流によりウェハ9を非接触で保持し、上記の各実施形態の場合と同様の効果を奏するとともに、次のような固有の作用効果を発揮する。   In the fourth embodiment, the wafer 9 is held in a non-contact manner by the swirling flow generated by the swirling flow forming bodies 32 and 2, and the same effects as those in the above embodiments can be obtained. Demonstrate the unique effects.

すなわち、中心に配した旋回流形成体32に旋回流通路38を設けたので、この旋回流通路38を流れる空気は、より一層整流化された高速旋回流となり、したがって、非接触で保持しているウェハ9を回転させようとする回転力がより強化され、ウェハ9は従来の旋回流では達成することができなかったほどの高速で回転するようになる。この旋回流形成体32によるウェハ9の高速回転を利用して、例えば洗浄工程でウェハ9に付着した水分を遠心分離させ、乾燥させる装置を構成できるし、またウェハ9に付着している異物を、非接触のままで何らキズを付けることなく跳ね飛ばして洗浄する洗浄機としても構成することができる。また、ウェハのオリエンテーションフラットまたはVノッチを検出する時の回転駆動装置、ウェハの外観検査時の回転駆動装置、ウェハエッチング時の回転駆動装置等、多岐にわたって使用することができる。   That is, since the swirl flow passage 38 is provided in the swirl flow forming body 32 arranged in the center, the air flowing through the swirl flow passage 38 becomes a further rectified high-speed swirl flow, and is therefore held in a non-contact manner. The rotational force for rotating the existing wafer 9 is further strengthened, and the wafer 9 rotates at a high speed that cannot be achieved by the conventional swirl flow. By utilizing the high-speed rotation of the wafer 9 by the swirl flow forming body 32, for example, a device for centrifuging and drying the moisture adhering to the wafer 9 in the cleaning process can be configured, and foreign substances adhering to the wafer 9 can be removed. Also, it can be configured as a washing machine that performs non-contact and splashing and washing without any scratches. Further, it can be used in a wide variety of applications, such as a rotation drive device for detecting an orientation flat or V notch of a wafer, a rotation drive device for visual inspection of a wafer, and a rotation drive device for wafer etching.

そして、旋回流形成体32の両サイドに旋回流形成体2を配置したので、その両サイドの旋回流形成体2における旋回流の方向と強度を、供給空気量で制御することにより、中央の旋回流形成体32によるウェハ9の高速回転を適正な回転速度に制御することができ、したがって、乾燥装置や洗浄機として適切に使用することができるようになる。   Since the swirl flow forming body 2 is disposed on both sides of the swirl flow forming body 32, the direction and strength of the swirl flow in the swirl flow forming body 2 on both sides are controlled by the amount of supply air. The high-speed rotation of the wafer 9 by the swirling flow forming body 32 can be controlled to an appropriate rotation speed, and therefore can be appropriately used as a drying device or a cleaning machine.

次に、この発明の非接触搬送装置の第5の実施形態を図10、図11および図12を用いて説明する。   Next, a fifth embodiment of the non-contact transfer device of the present invention will be described with reference to FIGS. 10, 11 and 12. FIG.

図10は第5の実施形態における非接触搬送装置およびその使用状況を示す斜視図、図11は第5の実施形態における非接触搬送装置の構成を示す平面図で、ウェハカセットに挿入した状態を示す図、図12は第5の実施形態における非接触搬送装置の水平断面図である。これらの図において、非接触搬送装置41は、ウェハ9に対向する平坦面42bを有する板状の基体(旋回流形成体)42に、内周面が円周状の凹部43と、その凹部43の内周面に臨む噴出口44から凹部43内へ空気を内周方向に沿って吐出させる流体通路45とを設けて構成されている。   FIG. 10 is a perspective view showing a non-contact transfer device and its use status in the fifth embodiment, and FIG. 11 is a plan view showing the configuration of the non-contact transfer device in the fifth embodiment. FIG. 12 and FIG. 12 are horizontal sectional views of the non-contact conveyance device in the fifth embodiment. In these drawings, a non-contact transfer device 41 includes a plate-like base body (swirl flow forming body) 42 having a flat surface 42 b facing the wafer 9, a concave portion 43 having an inner peripheral surface and a concave portion 43. And a fluid passage 45 that discharges air from the jet port 44 facing the inner peripheral surface into the recess 43 along the inner peripheral direction.

基体42は、基部421とその基部421から二股状に分岐する二つの腕部422とからなっている。基部421の一端側にはこの基体42を移動可能とするための把持部49が固着されている。凹部43は、腕部422の各々に複数個ずつ、ここでは3個ずつ列状に設けられている。また、各腕部422他端側には、突状の離脱防止ガイド48が設けられている。   The base body 42 includes a base portion 421 and two arm portions 422 branched from the base portion 421 in a bifurcated manner. A grip portion 49 for allowing the base body 42 to move is fixed to one end side of the base portion 421. A plurality of concave portions 43 are provided in each of the arm portions 422, and three in this case, three in a row. Further, a projecting prevention guide 48 is provided on the other end side of each arm portion 422.

流体通路45は、図12に示すように、把持部49の側面に開口する二つの流体導入口46から二系列となって二つの腕部422まで延設され、各系列の流体通路45は、凹部43に臨む噴出口44に分岐している。   As shown in FIG. 12, the fluid passage 45 extends in two lines from the two fluid introduction ports 46 opened on the side surface of the grip portion 49 to the two arm portions 422. It branches off to the spout 44 that faces the recess 43.

上記構成の非接触搬送装置41において、空気供給装置(図示省略)からの空気が流体導入口46に送られると、その空気は、流体通路45を介して噴出口44から各凹部43内へ吹き込まれ、凹部43の内部空間で旋回流となって整流され、その後凹部43から流出する。この旋回流の各々は、ウェハ9を非接触で保持したときにウェハ9が回転しないように、予め互いにその方向が調整されており、例えば図12に示すように、噴出口44の配置位置を変えることで、一方の腕部422の3個の凹部43では時計方向に、他方の腕部422の3個の凹部43では反時計方向となるように調整されている。   In the non-contact conveyance device 41 configured as described above, when air from an air supply device (not shown) is sent to the fluid introduction port 46, the air is blown into the recesses 43 from the ejection ports 44 through the fluid passage 45. Then, it is rectified as a swirling flow in the inner space of the recess 43, and then flows out of the recess 43. The directions of the swirling flows are adjusted in advance so that the wafer 9 does not rotate when the wafer 9 is held in a non-contact manner. For example, as shown in FIG. By changing, the three concave portions 43 of one arm portion 422 are adjusted to be clockwise, and the three concave portions 43 of the other arm portion 422 are adjusted to be counterclockwise.

そして、各旋回流の流出時に、基体42の平坦面42bに対向する位置にウェハ9が配されていると、上記した各実施形態の場合と同様に、ウェハ9は、旋回流の流出による負圧と、空気流による反発力とのバランスにより、平坦面42bに対向して非接触状態で保持されるようになる。その保持状態で把持部49を掴み基体42を移動させると、その移動とともにウェハ9は、離脱防止ガイド48でガイドされつつ移動する。すなわち、非接触搬送装置41は、ウェハ9を非接触で保持し搬送する。   If the wafer 9 is disposed at a position facing the flat surface 42b of the base 42 when each swirl flow flows out, the wafer 9 is negatively charged due to the swirl flow outflow as in the case of each of the embodiments described above. Due to the balance between the pressure and the repulsive force caused by the airflow, the flat surface 42b is held in a non-contact state. When the holding portion 49 is held and the base body 42 is moved in the holding state, the wafer 9 moves while being guided by the separation preventing guide 48 along with the movement. That is, the non-contact transport device 41 holds and transports the wafer 9 in a non-contact manner.

この非接触搬送装置41の基体42は板状に薄く構成されているので、図10および図11に示すように、ウェハカセット80の各棚81に段積みされているウェハ9に対しても、その上下で隣り合うウェハ9,9間の狭い空隙に挿入可能となる。   Since the base 42 of the non-contact transfer device 41 is thinly configured in a plate shape, as shown in FIGS. 10 and 11, the wafers 9 stacked on the shelves 81 of the wafer cassette 80 are also It can be inserted into a narrow gap between adjacent wafers 9 on the upper and lower sides.

このように、この発明の第5の実施形態では、上記した各実施形態の場合と同様に、各凹部43内に形成した旋回流によってウェハ9を吸引させるようにしたので、その吸引力を強力なものとすることができ、基体42を板状とした場合でも、ウェハを保持する力を十分に確保することができる。したがって、非接触搬送装置41を板状に構成できるようになり、従来段積みされているためアクセスすることが困難であったウェハカセット80内のウェハ9に対し、その何れの段のウェハに対しても自在にアクセス可能となり、ウェハカセット80からのウェハ9の搬送を、よりスムーズにかつ自在に行えるようになった。また、ウェハカセット80にウェハを収納し段積みする際にも、自在に所望の位置に搬入することができる。すなわち、ウェハカセット80からの搬出、またウェハカセット80への搬入を自在に行うことができ、作業効率も大幅に向上させることができる。   As described above, in the fifth embodiment of the present invention, the wafer 9 is sucked by the swirl flow formed in each recess 43 as in the case of each of the above-described embodiments. Even when the substrate 42 is plate-shaped, a sufficient force for holding the wafer can be ensured. Accordingly, the non-contact transfer device 41 can be configured in a plate shape, and with respect to the wafer 9 in the wafer cassette 80 which has been difficult to access because it has been stacked in the past, for any wafer in that step. However, it can be freely accessed, and the wafer 9 from the wafer cassette 80 can be transported more smoothly and freely. Further, when the wafers are stored in the wafer cassette 80 and stacked, they can be freely carried into a desired position. That is, unloading from the wafer cassette 80 and loading into the wafer cassette 80 can be performed freely, and work efficiency can be greatly improved.

さらに、この非接触での保持力は強力であり、旋回流も複数箇所で形成されているので、反りを有するウェハ9であってもその反りを矯正した状態での非接触保持が可能となる。また、非接触搬送装置41の全体を反転させてもそのまま保持状態を維持することができ、ウェハ9を反転させてウェハカセット80に段積みさせることもできるし、反転させて次行程へ搬送することもできる。   Further, since the non-contact holding force is strong and the swirl flow is also formed at a plurality of locations, even the wafer 9 having a warp can be held in a non-contact state with the warp corrected. . Further, even if the entire non-contact transfer device 41 is inverted, the holding state can be maintained as it is, and the wafers 9 can be inverted and stacked on the wafer cassette 80, or can be inverted and transferred to the next process. You can also

なお、上記の説明では、板状の基体42を二股状とし、それぞれに3個ずつ列状に凹部43を設ける構成としたが、その態様は任意でよく、用途に合わせて適した構成を持たせればよく、例えば二股状でなく一本の腕とし、その腕にただ1個の凹部を設けるように構成してもよい。また、把持部49を設けたが、この把持部49も必要に応じて設けるようにすればよい。   In the above description, the plate-like base 42 has a bifurcated shape, and three recesses 43 are provided in a row. However, the mode may be arbitrary and has a configuration suitable for the application. For example, a single arm may be used instead of a bifurcated shape, and only one recess may be provided in the arm. Further, although the grip portion 49 is provided, the grip portion 49 may be provided as necessary.

次に、この発明の非接触搬送装置の第6の実施形態を図13を用いて説明する。   Next, a sixth embodiment of the non-contact transfer device of the present invention will be described with reference to FIG.

図13は第6の実施形態における非接触搬送装置を示す斜視図である。図において、非接触搬送装置51は、内周面が円周状の凹部53を有する旋回流形成体52と、細長い柱状の把持部57と、この把持部57の内部を貫通しその一端に旋回流形成体52が固定されている流体配管58とを備えている。   FIG. 13 is a perspective view showing a non-contact conveyance device in the sixth embodiment. In the figure, a non-contact conveying device 51 includes a swirling flow forming body 52 having a concave portion 53 having an inner circumferential surface, an elongated columnar gripping portion 57, and the inside of the gripping portion 57 and swiveling to one end thereof. And a fluid pipe 58 to which the flow forming body 52 is fixed.

旋回流形成体52には、その外周面に開口する流体導入口56と、凹部53に臨む噴出口54と、この流体導入口56と噴出口54とを連通する流体通路55とが設けられている。流体配管58はこの流体導入口56に接続され、流体配管58から供給された空気は、流体導入口56および流体通路55を通って噴出口54から凹部53内にその周方向に沿って吐出され、凹部53の内部で旋回流となる。   The swirl flow forming body 52 is provided with a fluid introduction port 56 that opens to the outer peripheral surface thereof, a jet port 54 that faces the recess 53, and a fluid passage 55 that communicates the fluid feed port 56 and the jet port 54. Yes. The fluid pipe 58 is connected to the fluid inlet 56, and the air supplied from the fluid pipe 58 is discharged from the jet outlet 54 into the recess 53 along the circumferential direction through the fluid inlet 56 and the fluid passage 55. A swirling flow is generated inside the recess 53.

把持部57からは2本の折曲されたガイドアーム591,592が、凹部53の両側を通って延出し、各先端側でさらに垂直に折り曲げられている。一方のガイドアーム592は、把持部57近傍に、折曲して形成された押し込み部分592aを有し、把持部57を掴んだ手でこの押し込み部分592aを押し込むと、その動作に応じて、他方の固定されているガイドアーム591から離れる方向に移動し、押し込み動作を解除すると、また元の位置に戻るようになっている。   Two bent guide arms 591 and 592 extend from both sides of the recessed portion 53 from the gripping portion 57 and are further bent vertically at the respective distal end sides. One guide arm 592 has a push-in part 592a formed by bending in the vicinity of the grip part 57, and when the push-in part 592a is pushed in with a hand that grips the grip part 57, the other part of the guide arm 592 Is moved away from the fixed guide arm 591, and when the pushing operation is released, it returns to the original position.

また、把持部57には、流体配管58の通路を開閉する開閉スイッチ571が設けられている。   In addition, an opening / closing switch 571 for opening and closing the passage of the fluid piping 58 is provided in the gripping portion 57.

上記構成の非接触搬送装置51は、上記した各実施形態の場合と同様に、凹部53内に形成した旋回流の流出を利用して、ウェハ9を非接触で保持するものであるが、その吸引力が強力なものとなるため、旋回流形成体52が1個であっても、ウェハ9を保持することができる。したがって、その1個の旋回流形成体52を流体配管58の一端に固定し、把持部57を掴んで手で操作することで、ピンセットのように自在にウェハ9を保持し、所望の位置まで搬送できるようになる。その際に、ガイドアーム591,592を設けるようにしたので、ウェハ9を捕らえようとするときには、押し込み部分592aを押し込んでガイドアーム592を図13の2点鎖線の位置まで移動させ、ウェハ9を捕らえやすくし、その状態でウェハ9に凹部53を近づけ、非接触での保持を行わせる。その後、搬送時には押し込み部分592aの押し込みを解除してガイドアーム592を元の位置に戻し、2つのガイドアーム591,592の一端側に形成した垂直折り曲げ部分で、ウェハ9が離脱するのを防止し、安定した姿勢でウェハ9を搬送することができる。このように、この第5の実施形態での非接触搬送装置51は、ピンセットのように、ウェハ9を自在に捕らえて搬送できるようになっている。   The non-contact transfer device 51 having the above configuration holds the wafer 9 in a non-contact manner using the outflow of the swirl flow formed in the recess 53 as in the case of each of the above embodiments. Since the suction force is strong, the wafer 9 can be held even if the number of swirling flow forming bodies 52 is one. Therefore, the single swirl flow forming body 52 is fixed to one end of the fluid pipe 58, and the grip portion 57 is gripped and operated by hand, so that the wafer 9 can be freely held like tweezers and moved to a desired position. It can be transported. At this time, since the guide arms 591 and 592 are provided, when the wafer 9 is to be captured, the pushing portion 592a is pushed to move the guide arm 592 to the position of the two-dot chain line in FIG. In this state, the concave portion 53 is brought close to the wafer 9 to hold it in a non-contact manner. After that, during conveyance, the pushing portion 592a is released and the guide arm 592 is returned to its original position, and the wafer 9 is prevented from being detached at the vertically bent portion formed on one end side of the two guide arms 591 and 592. The wafer 9 can be transferred in a stable posture. As described above, the non-contact transfer device 51 in the fifth embodiment can freely catch and transfer the wafer 9 like tweezers.

なお、上記各実施形態では、流体として空気を用いるようにしたが、空気以外の気体あるいは液体を使用するようにしてもよい。   In each of the above embodiments, air is used as the fluid. However, a gas or liquid other than air may be used.

また、非接触で保持する対象物は、ウェハであるとして説明したが、ウェハに限らず、部品その他の任意のものを対象物としてもよい。   Moreover, although the target object hold | maintained non-contact was demonstrated as a wafer, it is good also as not only a wafer but components and other arbitrary things.

また、各凹部3,33,43,53を円周状のものとして説明したが、円周状に限定することなく、例えば多角形状に形成するようにしてもよい。   Moreover, although each recessed part 3,33,43,53 was demonstrated as a circumferential thing, you may make it form in polygonal shape, for example, without being limited to a circumferential shape.

次に、この発明の非接触搬送装置の第7の実施形態を図14を用いて説明する。   Next, a seventh embodiment of the non-contact conveyance device of the present invention will be described with reference to FIG.

図14は第7の実施形態における非接触搬送装置の構成を部分的に示す正面断面図である。この第7の実施形態において、上記した第2の実施形態における構成要素と略同一の構成要素には、同一の符号を付し、その説明を省略する。   FIG. 14 is a front cross-sectional view partially showing the configuration of the non-contact conveyance device in the seventh embodiment. In the seventh embodiment, components that are substantially the same as those in the second embodiment described above are assigned the same reference numerals, and descriptions thereof are omitted.

この第7の実施形態の非接触搬送装置61が、上記した第2の実施形態の非接触搬送装置11と相違している点は、旋回流形成体2の各々に2つの流体供給口15を設けるとともに、その各々を超音波周波数の振動を有するエアを発生する超音波エア源610に連通した点、また新たにイオン発生源600を旋回流形成体2の凹部3の内部に臨むように設けた点である。   The non-contact conveyance device 61 of the seventh embodiment is different from the non-contact conveyance device 11 of the second embodiment described above in that two fluid supply ports 15 are provided in each of the swirling flow forming bodies 2. In addition, each of them is connected to an ultrasonic air source 610 that generates air having vibrations of an ultrasonic frequency, and a new ion generation source 600 is provided so as to face the inside of the recess 3 of the swirling flow forming body 2. It is a point.

このイオン発生源600は、図14に示すように、電極針601と、この電極針601に高電圧を印加する高電圧電源602とを有している。この電極針601は、基底部13に設けた通孔603からその先端が旋回流形成体2の凹部3の内部空間に臨むように設けられ、高電圧を印加させることで、針先端部分の周囲にイオンを発生するようになっている。また、流体供給口15からは、超音波エア源610から供給された超音波エアが供給流体として供給されている。   As shown in FIG. 14, the ion generation source 600 includes an electrode needle 601 and a high voltage power source 602 that applies a high voltage to the electrode needle 601. The electrode needle 601 is provided so that the tip of the electrode needle 601 faces the internal space of the recess 3 of the swirling flow forming body 2 from the through-hole 603 provided in the base portion 13, and by applying a high voltage, To generate ions. Further, ultrasonic air supplied from the ultrasonic air source 610 is supplied from the fluid supply port 15 as a supply fluid.

この電極針601は、印加する電圧の極性に応じてプラスイオンまたはマイナスイオンを発生し、そのイオンは流体供給口15から供給される超音波エアに運ばれて、非接触で保持するウェハ9の表面を通過し、真空源611に連通する流体排出口16に吸引され、真空源611を通って外部に排出される。   The electrode needle 601 generates positive ions or negative ions according to the polarity of the voltage to be applied, and the ions are conveyed to the ultrasonic air supplied from the fluid supply port 15 and are held in a non-contact manner. The fluid passes through the surface, is sucked into the fluid discharge port 16 communicating with the vacuum source 611, and is discharged to the outside through the vacuum source 611.

通常、ウェハ9が帯電しているとき、そのウェハ表面には塵(パーティクル)が付着しやすく、一旦付着するとその除去が困難となる。この第7の実施形態では、上記のように、このウェハ9の表面にイオンを吹きかけ接触させるので、ウェハ9はその帯電が中和され、静電気によるパーティクルの付着が弱められる。したがって、流体供給口15からの供給流体は、この付着力が弱められたパーティクルを容易に除去することができ、ウェハ9の表面をクリーンなものとすることができる。その除去したパーティクルは、供給流体とともに流体排出口16から排出される。   Normally, when the wafer 9 is charged, dust (particles) is likely to adhere to the wafer surface, and once it adheres, it is difficult to remove it. In the seventh embodiment, as described above, ions are sprayed on and brought into contact with the surface of the wafer 9, so that the charge of the wafer 9 is neutralized and the adhesion of particles due to static electricity is weakened. Therefore, the fluid supplied from the fluid supply port 15 can easily remove particles whose adhesion is weakened, and the surface of the wafer 9 can be made clean. The removed particles are discharged from the fluid discharge port 16 together with the supply fluid.

そして、この第7の実施形態では、その供給流体を超音波エアとしている。この超音波の振動エアは、ウェハ表面近くの空気層を振動させて表面に付着しパーティクルをその表面から剥離する作用を有している。したがって、パーティクル除去の作用効果はより一層強められ、より確実にパーティクルを除去することができる。また、イオンでウェハ9を中和するので、その後の帯電によるウェハ9へのパーティクル付着を確実に防止することができる。   In the seventh embodiment, the supply fluid is ultrasonic air. This ultrasonic vibration air has an action of vibrating an air layer near the wafer surface and adhering to the surface to separate particles from the surface. Therefore, the effect of particle removal is further enhanced, and particles can be removed more reliably. Further, since the wafer 9 is neutralized with ions, it is possible to reliably prevent the particles from adhering to the wafer 9 due to subsequent charging.

なお、この実施形態では、イオン供給源600と超音波エア源610とを併用したが、その何れか一方のみを用いるように構成してもよく、その場合でもパーティクル除去の効果を発揮させることができる。例えば、流体供給口にイオン供給源を設けることなく、超音波エア源を連通させ、供給流体を超音波エアとしてもよいし、また流体供給口にイオン供給源のみを設け、供給流体を超音波エアでなく通常の流体としてもよい。そのいずれの場合でも、パーティクル除去の効果を発揮させることができる。   In this embodiment, the ion supply source 600 and the ultrasonic air source 610 are used together. However, only one of them may be used, and even in that case, the effect of particle removal can be exhibited. it can. For example, an ultrasonic air source may be communicated without providing an ion supply source at the fluid supply port, and the supply fluid may be ultrasonic air. Alternatively, only the ion supply source may be provided at the fluid supply port, and the supply fluid may be ultrasonic. A normal fluid may be used instead of air. In either case, the effect of particle removal can be exhibited.

そして、この第7の実施形態の非接触搬送装置61は、本来、非接触で対象物を保持し搬送する装置であるが、この実施形態のように、イオン供給源を設けることで、静電気を中和する静電気除去装置、さらにはパーティクル除去を行うクリーン装置をも兼ねることができるようになる。また、この非接触搬送装置の供給流体に超音波エアを用いるだけで、パーティクル除去を行うクリーン装置を兼ねることができるようなる。さらには、この装置にイオン供給源を設けるとともにその供給流体を超音波エアとすることで、この装置は、静電気除去装置およびクリーン装置の双方を兼ねることができるようになり、多機能な非接触搬送装置を実現することができる。   The non-contact transport device 61 of the seventh embodiment is a device that originally holds and transports an object in a non-contact manner. However, by providing an ion supply source as in this embodiment, static electricity can be generated. It can also serve as a static eliminating device for neutralization and also a clean device for removing particles. Moreover, it becomes possible to also serve as a clean device for removing particles simply by using ultrasonic air as a supply fluid of the non-contact conveyance device. Furthermore, by providing an ion supply source in this apparatus and using ultrasonic air as its supply fluid, this apparatus can be used as both a static eliminator and a clean apparatus. A conveying device can be realized.

図15は第8の実施形態における非接触搬送装置の構成を部分的に示す正面断面図である。この第8の実施形態において、上記した第7の実施形態における構成要素と略同一の構成要素には、同一の符号を付し、その説明を省略する。   FIG. 15 is a front cross-sectional view partially showing the configuration of the non-contact conveyance device in the eighth embodiment. In the eighth embodiment, components that are substantially the same as the components in the seventh embodiment described above are given the same reference numerals, and descriptions thereof are omitted.

この第8の実施形態の非接触搬送装置71が、上記した第7の実施形態の非接触搬送装置61と相違している点は、超音波エア源600の電極針601を旋回流形成体2に設けるのではなく、非接触で保持しているウェハ9に臨むように設けた点である。すなわち、電極針601を、旋回流形成体2以外の基底部13に設け、電極針601の先端を、非接触で保持されているウェハ9に臨ませている。また、この通孔604には、超音波エア源610に連通する流体供給口151が臨んでいる。   The non-contact conveyance device 71 of the eighth embodiment is different from the non-contact conveyance device 61 of the seventh embodiment described above in that the electrode needle 601 of the ultrasonic air source 600 is connected to the swirl flow forming body 2. The point is not to provide the wafer 9 but to face the wafer 9 held in a non-contact manner. That is, the electrode needle 601 is provided on the base portion 13 other than the swirling flow forming body 2, and the tip of the electrode needle 601 faces the wafer 9 held in a non-contact manner. The fluid supply port 151 that communicates with the ultrasonic air source 610 faces the through hole 604.

このように構成することで、電極針601から発生したイオンは、ウェハ9の表面に接触するので、上記した第7の実施形態の場合と同様の作用効果を発揮する。なお、この場合、渦流形成体2の2つの流体供給口15以外に、超音波エアを供給する流体供給口151を設けているが、この超音波エアの流量は、イオンがウェハ9の表面に到達する程度の流量であれば十分であり、渦流形成体2に供給される流体によるウェハ9の非接触保持に何ら影響を及ぼすものではない。   With such a configuration, the ions generated from the electrode needle 601 come into contact with the surface of the wafer 9, so that the same operational effects as in the case of the seventh embodiment described above are exhibited. In this case, in addition to the two fluid supply ports 15 of the vortex forming body 2, a fluid supply port 151 for supplying ultrasonic air is provided. The flow rate of this ultrasonic air is such that ions are present on the surface of the wafer 9. A flow rate that can be reached is sufficient, and does not affect the non-contact holding of the wafer 9 by the fluid supplied to the vortex forming body 2.

また、このイオンと超音波エアによって除去されたパーティクルは、基底部13の複数箇所に設けた流体排出口16から速やかに排出される。   Further, the particles removed by the ions and the ultrasonic air are quickly discharged from the fluid discharge ports 16 provided at a plurality of locations of the base portion 13.

なお、上記の第7および第8の実施形態では、超音波エア源610からの超音波エアを電極針601でイオン化するように構成したが、先ずエアを電極針でイオン化し、そのイオン化したエアに超音波エア源を用いて超音波振動を与えるように構成してもよく、最終的に、非接触で保持する対象物に、超音波エア中のイオンが与えられ接触するのであれば、どちらの構成でも採用することができる。   In the seventh and eighth embodiments, the ultrasonic air from the ultrasonic air source 610 is ionized by the electrode needle 601, but first, the air is ionized by the electrode needle and the ionized air is used. The ultrasonic air source may be used to apply ultrasonic vibration. Finally, if the object to be held in a non-contact manner is supplied with ions in the ultrasonic air, This configuration can also be adopted.

以上、この発明を図面の実施の形態に基づいて説明したが、この発明は上記の各実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載の構成を変更しない限りどのようにでも実施することができる。   Although the present invention has been described based on the embodiments of the drawings, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be implemented in any way as long as the configuration described in the claims is not changed. can do.

この発明の非接触搬送装置の構成を示す斜視図で、(a)は斜め下方から、(b)は斜め上方からの斜視図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a perspective view which shows the structure of the non-contact conveying apparatus of this invention, (a) is from diagonally downward, (b) is a perspective view from diagonally upward. この発明の非接触搬送装置の断面図で、(a)は図1(a)のI−I線断面図、(b)は図1(a)のII−II線断面図である。It is sectional drawing of the non-contact conveyance apparatus of this invention, (a) is the II sectional view taken on the line of Fig.1 (a), (b) is the II-II sectional view taken on the line of Fig.1 (a). 第2の実施形態における非接触搬送装置の構成を示す斜視図で、(a)は斜め下方から、(b)は斜め上方からの斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the non-contact conveying apparatus in 2nd Embodiment, (a) is from diagonally downward, (b) is a perspective view from diagonally upward. 第2の実施形態における非接触搬送装置の構成を示す図で、(a)は下面図、(b)は図4(b)のIII−III線断面図である。It is a figure which shows the structure of the non-contact conveying apparatus in 2nd Embodiment, (a) is a bottom view, (b) is the III-III sectional view taken on the line of FIG.4 (b). 第3の実施形態における非接触搬送装置の構成を示す正面断面図である。It is front sectional drawing which shows the structure of the non-contact conveying apparatus in 3rd Embodiment. 第3の実施形態における非接触搬送装置の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the non-contact conveying apparatus in 3rd Embodiment. 図5のIV−IV線断面図で、センタリング機構の作用説明図である。FIG. 6 is a sectional view taken along the line IV-IV in FIG. 5 and is an explanatory diagram of the operation of the centering mechanism. 第4の実施形態における非接触搬送装置の構成を示す斜め上方からの斜視図である。It is a perspective view from diagonally upward which shows the structure of the non-contact conveying apparatus in 4th Embodiment. 第4の実施形態における非接触搬送装置の構成を示す図で、(a)は平面図、(b)は図9(a)のV−V線断面図である。It is a figure which shows the structure of the non-contact conveying apparatus in 4th Embodiment, (a) is a top view, (b) is the VV sectional view taken on the line of Fig.9 (a). 第5の実施形態における非接触搬送装置およびその使用状況を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the non-contact conveying apparatus and usage condition in 5th Embodiment. 第5の実施形態における非接触搬送装置の構成を示す平面図で、ウェハカセットに挿入した状態を示す図である。It is a top view which shows the structure of the non-contact conveying apparatus in 5th Embodiment, and is a figure which shows the state inserted in the wafer cassette. 第5の実施形態における非接触搬送装置の水平断面図である。It is a horizontal sectional view of the non-contact conveyance device in a 5th embodiment. 第6の実施形態における非接触搬送装置を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the non-contact conveying apparatus in 6th Embodiment. 第7の実施形態における非接触搬送装置の構成を部分的に示す正面断面図である。It is front sectional drawing which shows partially the structure of the non-contact conveying apparatus in 7th Embodiment. 第8の実施形態における非接触搬送装置の構成を部分的に示す正面断面図である。It is front sectional drawing which shows partially the structure of the non-contact conveying apparatus in 8th Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1…非接触搬送装置
2…旋回流形成体
2a…閉端面
2b…平坦状端面
3…凹部
4…噴出口
5…流体通路
6…流体導入口
9…ウェハ
11…非接触搬送装置
12…支持体
13…基底部
130…外面
131…基底部内通路
132…排出通路
14…周壁
140…周壁の端面
141…ラビリンスフィン
15…流体供給口
16…流体排出口
21…非接触搬送装置
31…非接触搬送装置
32…旋回流形成体
33…凹部
34…噴出口
35…流体通路
36…流体導入口
38…旋回流通路
41…非接触搬送装置
42…旋回流形成体
42b…平坦面
43…凹部
44…噴出口
45…流体通路
46…流体導入口
49…把持部
51…非接触搬送装置
52…旋回流形成体
53…凹部
54…噴出口
55…流体通路
56…流体導入口
57…把持部
58…流体配管
61…非接触搬送装置
71…非接触搬送装置
80…ウェハカセット
81…棚
151…超音波エア用流体供給口
171…取付片
172…離脱防止ガイド
200…センタリング機構
201…支柱
202…ベース板
203…ロータリアクチュエータ
204…フランジ
205…リンクアーム
206…ガイド用溝
207…センタリングガイド
208…駆動空気挿入口
321…貫通孔
421…基部
422…腕部
571…開閉スイッチ
591…ガイドアーム
592…ガイドアーム
592a…押し込み部分
61…非接触搬送装置
600…イオン発生源
601…電極針
602…高電圧電源
603,604…通孔
610…超音波エア源
611…真空源
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Non-contact conveyance apparatus 2 ... Swirling flow formation body 2a ... Closed end surface 2b ... Flat end surface 3 ... Concave 4 ... Jet port 5 ... Fluid passage 6 ... Fluid introduction port 9 ... Wafer 11 ... Non-contact conveyance apparatus 12 ... Support body DESCRIPTION OF SYMBOLS 13 ... Base part 130 ... Outer surface 131 ... Base part inside channel | path 132 ... Discharge passage 14 ... Perimeter wall 140 ... End surface 141 of a peripheral wall ... Labyrinth fin 15 ... Fluid supply port 16 ... Fluid discharge port 21 ... Non-contact conveyance apparatus 31 ... Non-contact conveyance apparatus 32 ... Swirling flow forming body 33 ... Concavity 34 ... Jet port 35 ... Fluid passage 36 ... Fluid introduction port 38 ... Swing flow passage 41 ... Non-contact conveying device 42 ... Swirling flow forming body 42b ... Flat surface 43 ... Concave 44 ... Jetting port 45 ... fluid passage 46 ... fluid introduction port 49 ... gripping portion 51 ... non-contact transfer device 52 ... swirl flow forming body 53 ... recess 54 ... jet port 55 ... fluid passage 56 ... fluid introduction port 57 ... gripping portion 58 ... fluid piping 61 ... Non-contact conveyance Place 71 ... Non-contact transfer device 80 ... Wafer cassette 81 ... Shelf 151 ... Ultrasonic air fluid supply port 171 ... Mounting piece 172 ... Detaching prevention guide 200 ... Centering mechanism 201 ... Post 202 ... Base plate 203 ... Rotary actuator 204 ... Flange 205 ... Link arm 206 ... Guide groove 207 ... Centering guide 208 ... Driving air insertion port 321 ... Through hole 421 ... Base 422 ... Arm 571 ... Open / close switch 591 ... Guide arm 592 ... Guide arm 592a ... Push-in portion 61 ... Non-contact Conveying device 600... Ion generation source 601... Electrode needle 602... High voltage power source 603 and 604.

Claims (7)

一端が開口している中空円筒状の凹部と、
前記凹部の底面位置から突出し、当該凹部の内周壁に沿った外周壁を有し、当該内周壁と当該外周壁とによって旋回流通路を形成する円筒状の凸部と、
前記凹部の底面に対して水平に設けられ、前記旋回流通路に臨むように前記凹部の内周壁に形成した噴出口から当該旋回流通路の周方向に沿って供給流体を吐出させる流体通路と
を備えることを特徴とする旋回流形成体。
A hollow cylindrical recess with one end open;
A cylindrical convex portion that protrudes from the bottom surface position of the concave portion, has an outer peripheral wall along the inner peripheral wall of the concave portion, and forms a swirl flow passage by the inner peripheral wall and the outer peripheral wall;
A fluid passage which is provided horizontally with respect to the bottom surface of the recess and discharges supply fluid along a circumferential direction of the swirl flow passage from a jet port formed in an inner peripheral wall of the recess so as to face the swirl flow passage. A swirl flow forming body comprising:
前記凹部開口側に平坦に形成された平坦状端面を備えることを特徴とする請求項1に記載の旋回流形成体。   The swirl flow forming body according to claim 1, further comprising a flat end face formed flat on the concave opening side. 前記供給流体は超音波周波数の振動を有する流体であることを特徴とする請求項1または2に記載の旋回流形成体。   The swirl flow forming body according to claim 1 or 2, wherein the supply fluid is a fluid having vibration of an ultrasonic frequency. 前記凹部の開口縁には、面取りにより傾斜面が形成されていることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の旋回流形成体。   The swirling flow forming body according to any one of claims 1 to 3, wherein an inclined surface is formed by chamfering at an opening edge of the concave portion. イオン供給源を前記凹部内に臨むように設けたことを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の旋回流形成体。   The swirl flow forming body according to any one of claims 1 to 4, wherein an ion supply source is provided so as to face the recessed portion. 請求項1から5のいずれかに記載の旋回流形成体が板状の基体に2個以上設けられていることを特徴とする非接触搬送装置。   6. A non-contact transfer apparatus, wherein two or more swirl flow forming bodies according to claim 1 are provided on a plate-like substrate. 前記各旋回流形成体における旋回流の方向が、時計方向と反時計方向が混在するように調整されていることを特徴とする請求項6に記載の非接触搬送装置。   The non-contact conveyance device according to claim 6, wherein the direction of the swirl flow in each swirl flow forming body is adjusted so that a clockwise direction and a counterclockwise direction are mixed.
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