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JP4578489B2 - Method for manufacturing plasma display panel - Google Patents

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JP4578489B2
JP4578489B2 JP2007011070A JP2007011070A JP4578489B2 JP 4578489 B2 JP4578489 B2 JP 4578489B2 JP 2007011070 A JP2007011070 A JP 2007011070A JP 2007011070 A JP2007011070 A JP 2007011070A JP 4578489 B2 JP4578489 B2 JP 4578489B2
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Description

本発明は、プラズマディスプレイパネル(以下PDPと略す)の製造方法に関する。より詳細には、高精細の隔壁を焼成して形成する際の隔壁はがれを防止するためにガラス基板と隔壁間に緩衝層を形成したPDPの製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a plasma display panel (hereinafter abbreviated as PDP). More specifically, the present invention relates to a method for manufacturing a PDP in which a buffer layer is formed between a glass substrate and a partition wall in order to prevent the partition wall from peeling off when a high-definition partition wall is formed by firing.

近年、大型ディスプレイとしてプラズマディスプレイが注目されている。PDPは液晶パネルに比べて高速の表示が可能であり、且つ大型化が容易であることから、OA機器および広報表示装置などの分野に浸透している。また高品位テレビジョンの分野などでの進展が非常に期待されている。このような用途の拡大にともなって、微細で多数の表示セルを有するカラーPDPが注目されている。   In recent years, plasma displays have attracted attention as large displays. PDPs are capable of high-speed display as compared with liquid crystal panels and are easy to increase in size, and thus have penetrated into fields such as OA equipment and public information display devices. Progress in the field of high-definition television is also highly expected. Accompanying such expansion of applications, a fine color PDP having a large number of display cells has attracted attention.

AC型PDPの構造例を図2に示す。PDPは前面板と背面板をはり合わせて構成されている。前面板では、ガラス基板の裏面にITOや酸化錫からなる透明電極が形成されている。透明電極は帯状に複数本形成されている。この隣り合う透明電極間に通常10kHz〜数10kHzのパルス状AC電圧を印加し、表示用の放電を得るが、透明電極のシート抵抗は数10Ω/cmと高いために、電極抵抗が数10kΩ程度になり、印加電圧パルスが十分に立ち上がらず駆動が困難になる。そこで、透明電極上に通常金属のバス電極を形成して抵抗値を下げる。 An example of the structure of an AC type PDP is shown in FIG. The PDP is configured by bonding a front plate and a back plate. In the front plate, a transparent electrode made of ITO or tin oxide is formed on the back surface of the glass substrate. A plurality of transparent electrodes are formed in a strip shape. A pulsed AC voltage of usually 10 kHz to several tens of kHz is applied between the adjacent transparent electrodes to obtain a display discharge. However, since the sheet resistance of the transparent electrode is as high as several tens Ω / cm 2 , the electrode resistance is several tens of kΩ. The applied voltage pulse does not rise sufficiently and driving becomes difficult. Therefore, the resistance value is lowered by forming a normal metal bus electrode on the transparent electrode.

次に、前面板上に形成した電極を誘電体層によって被覆する。この誘電体層は低融点ガラスを用いる。その後、保護層として、MgOを電子ビーム蒸着法によって形成する。前面板に形成される誘電体は、放電のための電荷を蓄積するコンデンサーとしての役割を有している。   Next, the electrode formed on the front plate is covered with a dielectric layer. This dielectric layer is made of low melting glass. Thereafter, MgO is formed by electron beam evaporation as a protective layer. The dielectric formed on the front plate has a role as a capacitor for accumulating electric charges for discharge.

一方背面板は、ガラス基板上に、表示データを書き込む電極を感光性銀ペーストを用いて作製する。その上に放電空間の確保と電極間距離の規定および誤放電防止の役割を果たす隔壁を形成する。次に、隔壁側面と底部にスクリーン印刷法により、赤、緑、青の各色に発光する蛍光体を塗布後、乾燥、焼成を行って蛍光体層を形成する。   On the other hand, for the back plate, an electrode for writing display data is produced on a glass substrate using a photosensitive silver paste. On this, a partition wall is formed that secures a discharge space, defines a distance between electrodes, and prevents erroneous discharge. Next, a phosphor that emits light of each color of red, green, and blue is applied to the side and bottom of the partition wall by screen printing, and then dried and fired to form a phosphor layer.

背面板と前面板をシールガラスで封着した後、排気し、He、Ne、Xe等の不活性気体の混合ガスを充填し、駆動回路を実装してPDPが作製される。   After sealing the back plate and the front plate with seal glass, the PDP is manufactured by exhausting, filling with a mixed gas of inert gas such as He, Ne, and Xe, and mounting a drive circuit.

隣り合う透明電極の間にパルス状の交流電圧を印加するとガス放電が生じプラズマが形成される。ここで生じた紫外線が蛍光体を励起して可視光を発光し前面板を通して表示発光を得る。放電を生じる透明電極は走査電極と維持電極からなっている。実際のパネル駆動において、放電電極である透明電極には維持放電パルスが印加されており、放電を生じさせるときには、背面板上の書き込み電極との間に電圧を印加して対向放電を生じさせ、この放電が維持パルスによって放電電極間で維持される。   When a pulsed AC voltage is applied between adjacent transparent electrodes, a gas discharge occurs and plasma is formed. The ultraviolet rays generated here excite the phosphor to emit visible light, and display emission is obtained through the front plate. The transparent electrode that generates discharge is composed of a scan electrode and a sustain electrode. In actual panel driving, a sustain discharge pulse is applied to the transparent electrode, which is a discharge electrode, and when generating a discharge, a voltage is applied between the writing electrode on the back plate to generate a counter discharge, This discharge is maintained between the discharge electrodes by the sustain pulse.

上記の構造を有するPDPにおいて、大面積化、高解像度化にともない、高アスペクト比、高精細の隔壁の製造が技術的に困難となり、且つコスト的に不利になってきている。   In the PDP having the above structure, as the area is increased and the resolution is increased, it is technically difficult to manufacture a high-aspect ratio and high-definition partition wall, and the cost is disadvantageous.

通常は前面ガラス基板や背面ガラス基板にガラスからなる絶縁ペーストをスクリーン印刷法で印刷・乾燥し、この印刷・乾燥工程を10〜20回繰り返して所定の高さにした後、焼成して形成している。しかしながら、通常のスクリーン印刷法では、特にパネルサイズが大型化した場合に、あらかじめ前面透明平面板上に形成された放電電極と絶縁ガラスペーストの印刷場所との位置あわせが難しく、位置精度が得られ難い問題がある。しかも10〜20回のガラスペーストの重ね合わせ印刷を行うことによって隔壁および壁体の側面エッジ部の波打ちや裾の乱れが生じ、高さの精度が得られないため、表示品質が悪くなり、また作業性が悪い、歩留まりが低いという問題がある。特に、パターン幅が50μm、ピッチが200μm以下になると隔壁底部がペーストのチクソトロピー性により滲みやすく、シャープで残渣のない隔壁形成が難しくなる問題がある。   Usually, an insulating paste made of glass is printed and dried on a front glass substrate or a back glass substrate by a screen printing method, and this printing and drying process is repeated 10 to 20 times to obtain a predetermined height, followed by firing. ing. However, in the normal screen printing method, especially when the panel size is increased, it is difficult to align the discharge electrode previously formed on the front transparent flat plate and the printing place of the insulating glass paste, and the positional accuracy is obtained. There is a difficult problem. In addition, the overlapping printing of the glass paste 10 to 20 times causes the waviness and disturbance of the side edges of the partition walls and the wall, and the accuracy of the height cannot be obtained, resulting in poor display quality. There are problems of poor workability and low yield. In particular, when the pattern width is 50 μm and the pitch is 200 μm or less, there is a problem that the bottom of the partition wall tends to bleed due to the thixotropy of the paste, making it difficult to form a sharp and residue-free partition wall.

特許文献1では、感光性ペースト法を用いて、隔壁を1回の露光で形成する方法が提案されている。しかしながら、この方法では線幅を細くしたパターンを形成すると、焼成して隔壁を得る際に、隔壁の断線、はがれ、倒れが発生し、赤(R)、緑(G)、青(B)の蛍光体の塗り分けの際に、蛍光体の塗布を精度よく行えず、混色が起こったり,蛍光体の剥がれによって輝度ムラが起き歩留まりが低下する、問題があった。
特開平8−50811号公報
Patent Document 1 proposes a method of forming a partition wall by a single exposure using a photosensitive paste method. However, in this method, when a pattern with a narrow line width is formed, when the partition walls are obtained by firing, disconnection, peeling, and falling of the partition walls occur, and red (R), green (G), and blue (B) When the phosphors are separately applied, there is a problem that the phosphors cannot be applied with high accuracy, color mixing occurs, luminance unevenness occurs due to the peeling of the phosphors, and the yield decreases.
Japanese Patent Laid-Open No. 8-50811

本発明は、高精細の隔壁を形成する際、焼成時の隔壁の断線、はがれ、倒れを防止し、歩留まりのよい高精細プラズマディスプレイを提供することを目的とする。   An object of the present invention is to provide a high-definition plasma display with high yield, which prevents disconnection, peeling, and collapse of the partition during firing when forming a high-definition partition.

上記課題を達成するため、本発明のPDPの製造方法は以下の構成をとる。すなわち、書き込み電極、前記書き込み電極を覆う緩衝層、及び前記緩衝層上に設けた隔壁を有するプラズマディスプレイパネル背面板の製造方法であって、基板上に無機粉末、ならびに感光性成分、およびアゾ系染料、アミノケトン系染料、キサンテン系染料、キノリン系染料、アントラキノン系化合物、ベンゾフェノン系化合物、ジフェニルシアノアクリレート系化合物、トリアジン系化合物およびp−アミノ安息香酸系染料から選ばれる紫外線吸収剤を含む有機成分を含有する緩衝層用ペーストを塗布、乾燥後、全面紫外線露光し、光硬化した緩衝層用ペースト塗布膜上に主としてガラス微粉末からなる無機粉末と感光性を持つ有機成分からなる感光性ペーストを塗布、乾燥して得た塗布膜を紫外線を用いて上方よりマスク露光し、非硬化部分を現像によって除去して隔壁パターンを形成し、その後焼成して上面幅(Lt)30〜60μm、ピッチ(P)160〜220μm、高さ(H)100〜170μmの隔壁を形成することを特徴とする。
In order to achieve the above object, a method for producing a PDP of the present invention has the following configuration. That is, write electrode, buffer layer covering the write electrode, and wherein a plasma display panel back plate manufacturing method having a partition wall provided on the buffer layer, an inorganic powder on the substrate and a photosensitive component, and azo the organic component containing a dye, aminoketone dyes, xanthene dyes, quinoline dyes, a Ntorakinon compounds, benzophenone compounds, diphenyl cyanoacrylate compound, a UV absorber selected from a triazine based compound and p- aminobenzoic acid dyes After coating and drying the buffer layer paste containing, a photosensitive paste composed of inorganic powder mainly composed of glass fine powder and a photosensitive organic component on the light-cured buffer layer paste coating film exposed to ultraviolet light. The coating film obtained by coating and drying is exposed to a mask from above by using ultraviolet rays. Forming a barrier rib pattern moiety is removed by development, followed baked to the upper surface width (Lt) 30 to 60 m, the pitch (P) 160~220μm, forming a partition wall height (H) 100~170μm It shall be the feature.

本発明の緩衝層を有する高精細隔壁は、焼成の際の隔壁の剥がれが生じないため、高精細のPDPを歩留まりよく製造できるようになる。これにより高精細のプラズマディスプレイを提供することができる。また、特に隔壁下面の太りのない高精細の隔壁を有するプラズマディスプレイを提供することができる。   The high-definition partition wall having the buffer layer of the present invention does not cause separation of the partition wall during firing, so that a high-definition PDP can be manufactured with a high yield. Thereby, a high-definition plasma display can be provided. Further, it is possible to provide a plasma display having a high-definition partition wall that is not particularly thick on the lower surface of the partition wall.

高精細な隔壁をガラス基板上に直接形成した際は、隔壁と基板との密着力不足により剥がれが生じやすい。隔壁の剥がれが生じると剥がれた箇所で色の混色、誤放電が起こり、また剥がれた隔壁がパネル上に残り画素をつぶしてしまい歩留まりが低下する。   When a high-definition partition is directly formed on a glass substrate, peeling is likely to occur due to insufficient adhesion between the partition and the substrate. When the barrier ribs are peeled off, color mixture and erroneous discharge occur at the peeled portions, and the peeled barrier ribs leave the remaining pixels on the panel, resulting in a decrease in yield.

本発明は高精細の隔壁を緩衝層上に設けることによって、ガラス基板上に形成する場合に比べて隔壁の密着性が増大してはがれが抑制されるため、歩留まりが向上することを見いだした。図1に本発明のPDPの構造の1例を示す。   In the present invention, it was found that by providing a high-definition partition wall on the buffer layer, the adhesion of the partition wall is increased and peeling is suppressed as compared with the case where the partition wall is formed on a glass substrate, so that the yield is improved. FIG. 1 shows an example of the structure of the PDP of the present invention.

本発明の隔壁各部の形状は、ピッチをP、線幅をL、高さをHとすると、次のような関係にある場合、パネルの輝度、放電寿命の点ですぐれている。

・P=160〜220μmの時L=30〜60μm、H=100〜170μm
線幅については、上記下限より小さいと、パターン形成時のはがれ、倒れ、また焼成後に断線、はがれが生じやすくなる。上記上限より大きいと開口率が小さくなることによる輝度の低下が起こり、好ましくない。
The shape of each part of the barrier ribs of the present invention is excellent in terms of panel brightness and discharge life when the pitch is P, the line width is L, and the height is H in the following relationship.

・ When P = 160-220 μm, L = 30-60 μm, H = 100-170 μm
When the line width is smaller than the lower limit, peeling or falling during pattern formation is likely to occur, and disconnection or peeling is likely to occur after firing. If the value is larger than the above upper limit, the luminance is lowered due to a decrease in the aperture ratio, which is not preferable.

高さについては、上記下限より小さいと、放電空間が狭くなり、プラズマ領域が蛍光体に近くなり、蛍光体がスパッタされるため、寿命の点で好ましくない。上記上限より大きいと放電により発生した紫外線が、蛍光体に届くまでに吸収されてしまうために輝度が下がり、好ましくない。   If the height is smaller than the above lower limit, the discharge space becomes narrow, the plasma region becomes close to the phosphor, and the phosphor is sputtered, which is not preferable in terms of life. If it is larger than the above upper limit, the ultraviolet rays generated by the discharge are absorbed before reaching the phosphor, so that the luminance is lowered, which is not preferable.

本発明のプラズマディスプレイ用隔壁は側面にテーパー形状を有しているので、緩衝層との接着面積が確保でき、はがれの抑制効果がさらに向上している。   Since the partition wall for plasma display of the present invention has a tapered shape on the side surface, an adhesion area with the buffer layer can be secured, and the peeling suppression effect is further improved.

従来のスクリーン印刷法によって形成した隔壁および本発明の隔壁の断面形状の1例をそれぞれ図3および図4に示す。本発明のプラズマディスプレイ用隔壁は、下面幅をLb、半値幅をLh、上面幅をLtとしたとき、その上面幅、半値幅、下面幅の比が次式(1)及び(2)を満足する範囲にあることが好ましい。   An example of the cross-sectional shape of the partition formed by the conventional screen printing method and the partition of the present invention is shown in FIGS. 3 and 4, respectively. In the partition for plasma display of the present invention, when the lower surface width is Lb, the half width is Lh, and the upper surface width is Lt, the ratio of the upper surface width, the half value width, and the lower surface width satisfies the following expressions (1) and (2). It is preferable to be in the range.

Lt/Lh=0.65〜1 (1)
Lb/Lh=1〜2 (2)
(ただしLt=Lh=Lbの場合を除く。)
Lt/Lhが1より大きいと、隔壁中央にくびれが生じる形状となり、隔壁のピッチに対する放電空間の割合、すなわち開口率が小さくなるため、輝度が低下する。また蛍光体は輝度向上のために、底部だけでなく、隔壁側面にも塗布する方法がとられているが、その側面塗布が難しくなり、好ましくない。また0.65より小さいと上面が細くなりすぎ、パネル形成時にかかる大気圧に耐える強度が不足し、先端のつぶれが生じやすくなる。
Lt / Lh = 0.65-1 (1)
Lb / Lh = 1 to 2 (2)
(However, the case where Lt = Lh = Lb is excluded)
If Lt / Lh is greater than 1, the shape of the constriction occurs in the center of the barrier rib, and the ratio of the discharge space to the pitch of the barrier rib, that is, the aperture ratio decreases, so the luminance decreases. Further, in order to improve the luminance, the phosphor is applied not only to the bottom but also to the side wall of the partition wall, but it is difficult to apply the side surface, which is not preferable. On the other hand, if it is smaller than 0.65, the upper surface becomes too thin, the strength to withstand the atmospheric pressure applied during panel formation is insufficient, and the tip tends to be crushed.

Lb/Lhが1より小さいと緩衝層との密着面積が確保できにくくなり、また隔壁の強度も落ちるため、パターン形成時の倒れや蛇行および焼成時のはがれの原因になるため、好ましくない。また2より大きいと放電空間が減少することにより輝度が低下する。   If Lb / Lh is smaller than 1, it is difficult to secure a close contact area with the buffer layer, and the strength of the partition walls also decreases, which may cause collapse during pattern formation, meandering, and peeling during firing. On the other hand, if it is larger than 2, the discharge space is reduced and the luminance is lowered.

より好ましくは、Lt/Lh=0.8〜1、Lb/Lh=1〜1.5の範囲が、開口率の確保の点からすぐれているため、好ましい。ただし、Lt=Lh=Lbの場合は、強度の面で弱くなり、倒れが生じやすくなることから、好ましくない。形状としては、隔壁下面にくびれなどない台形または矩形形状が強度の点から好ましい。   More preferably, the ranges of Lt / Lh = 0.8 to 1 and Lb / Lh = 1 to 1.5 are preferable from the viewpoint of securing the aperture ratio. However, Lt = Lh = Lb is not preferable because it is weak in strength and is likely to fall over. As the shape, a trapezoidal shape or a rectangular shape with no constriction on the lower surface of the partition wall is preferable from the viewpoint of strength.

傾斜面は、平面構造に限定せず、曲面形状をしていてもよい。特に、隔壁高さ中央部から底面にかけて曲面形状を有すると、Lb/Lhを大きくしても放電空間を大きくとることができ、輝度が低下しないので好ましい。曲面形状は、隔壁の曲面形状のアール部をR、半値幅をLhとしたとき、R≦Lh/2の関係にあることが、効果が高く特に好ましい。   The inclined surface is not limited to a planar structure, and may have a curved surface shape. In particular, it is preferable to have a curved surface shape from the center of the partition wall height to the bottom surface, because even if Lb / Lh is increased, the discharge space can be increased and the luminance does not decrease. It is particularly preferable that the curved surface shape has a relationship of R ≦ Lh / 2, where R is the rounded portion of the curved surface shape of the partition wall and Lh is the half-value width, because the effect is high.

本発明で用いる緩衝層は、無機粉末および有機成分からなる緩衝層用ペーストをガラス基板上に塗布した後乾燥し、焼成を行って形成する。焼成は乾燥した塗布面に隔壁パターンを形成した後、隔壁パターンと同時に焼成する方法と、ペースト塗布膜のみを焼成して緩衝層を形成した上に、隔壁を形成する方法の二つがある。前者の焼成方法は、工程数が少なくて済む利点がある。後者の方法では、緩衝層を電極上に形成する際、電極の凹凸および隔壁の焼成収縮応力に起因する緩衝層の亀裂などが起きず、歩留まりが高い利点がある。   The buffer layer used in the present invention is formed by applying a paste for a buffer layer made of an inorganic powder and an organic component on a glass substrate, then drying and baking. There are two methods of baking: a method in which a partition pattern is formed on a dried coated surface and then fired simultaneously with the partition pattern, and a method in which only a paste coating film is baked to form a buffer layer and then a partition is formed. The former firing method has an advantage that the number of steps is small. The latter method has an advantage in that when the buffer layer is formed on the electrode, the buffer layer is not cracked due to the unevenness of the electrode and the firing shrinkage stress of the partition wall, and the yield is high.

緩衝層の厚みは、焼成後で3〜20μm、より好ましくは8〜18μmであることが均一な緩衝層の形成のために好ましい。厚みが20μmを越えると、焼成の際、脱媒が困難であり亀裂が生じやすく、またガラス基板へかかる応力が大きいために基板がそる等の問題が生じる。また、3μm未満では厚みの均一性を保持するのが困難である、電極部分の凹凸によって緩衝層に亀裂が入る等の問題が生じる。   The thickness of the buffer layer is preferably 3 to 20 μm, more preferably 8 to 18 μm after firing for the formation of a uniform buffer layer. If the thickness exceeds 20 μm, it is difficult to remove the solvent during firing, cracks are likely to occur, and the stress applied to the glass substrate is so great that the substrate is warped. In addition, when the thickness is less than 3 μm, it is difficult to maintain the uniformity of the thickness, and the buffer layer is cracked by the unevenness of the electrode portion.

緩衝層は、50〜400℃の範囲の熱膨張係数α50〜400が70〜85×10−7/K、より好ましくは72〜80×10−7/Kであるガラスからなることが、基板ガラスの熱膨張係数と整合し、焼成の際にガラス基板にかかる応力を減らすので好ましい。85×10−7/Kを越えると、緩衝層の形成面側に基板が反るような応力がかかり、70×10−7/K未満では緩衝層のない面側に基板が反るような応力がかかる。このため、基板の加熱、冷却を繰り返すと基板が割れる場合がある。また、前面基板との封着の際、基板のそりのために両基板が平行にならず封着できない場合もある。 The buffer layer is made of glass having a thermal expansion coefficient α 50 to 400 in the range of 50 to 400 ° C. of 70 to 85 × 10 −7 / K, more preferably 72 to 80 × 10 −7 / K. This is preferable because it matches the thermal expansion coefficient of glass and reduces the stress applied to the glass substrate during firing. If it exceeds 85 × 10 −7 / K, a stress is applied to the surface on which the buffer layer is formed, and if it is less than 70 × 10 −7 / K, the substrate is warped on the surface without the buffer layer. Stress is applied. For this reason, if heating and cooling of the substrate are repeated, the substrate may break. Further, when sealing with the front substrate, the two substrates may not be parallel and cannot be sealed due to the warp of the substrate.

また緩衝層に含まれるガラスには、ガラス転移点Tgが430〜500℃、軟化点Tsが470〜580℃のものをもちいることが好ましい。緩衝層を形成する際、ガラス転移点が500℃、軟化点が580℃より高いと、高温で焼成しなければならず、焼成の際にガラス基板に歪みが生じる。またガラス転移点が430℃、軟化点が470℃より低い材料は、その後の工程で、蛍光体を塗布、焼成する際に緩衝層に歪みが生じ、膜厚精度が保たれないので好ましくない。   The glass contained in the buffer layer preferably has a glass transition point Tg of 430 to 500 ° C. and a softening point Ts of 470 to 580 ° C. When the buffer layer is formed, if the glass transition point is higher than 500 ° C. and the softening point is higher than 580 ° C., it must be fired at a high temperature, and the glass substrate is distorted during firing. A material having a glass transition point of 430 ° C. and a softening point lower than 470 ° C. is not preferable because the buffer layer is distorted when the phosphor is applied and fired in the subsequent steps, and the film thickness accuracy cannot be maintained.

緩衝層には、酸化ビスマス、酸化鉛、酸化亜鉛のうち少なくとも1種類をガラス中に10〜60重量%含むガラス微粒子を用いることによって軟化点、熱膨張係数のコントロールが容易になる。   For the buffer layer, the softening point and the thermal expansion coefficient can be easily controlled by using glass fine particles containing 10 to 60% by weight of at least one of bismuth oxide, lead oxide and zinc oxide in the glass.

酸化ビスマス、酸化鉛、酸化亜鉛の添加量は60重量%を越えるとガラスの耐熱温度が低くなり過ぎてガラス基板上への焼き付けが難しくなる。   If the added amount of bismuth oxide, lead oxide, or zinc oxide exceeds 60% by weight, the heat-resistant temperature of the glass becomes too low and baking on the glass substrate becomes difficult.

酸化リチウム、酸化ナトリウム、酸化カリウムを含むガラス微粒子を用いることによっても軟化点、熱膨張係数をコントロールすることができるが、その含有率は好ましくは5重量%以下、より好ましくは3重量%以下にすることによって、ペーストの安定性を向上することができる。また、基板ガラスとのイオン交換などの化学反応による基板の変形、変質を防いだり、電極に用いている金属との反応による着色等を防ぐのに有効である。   The softening point and thermal expansion coefficient can also be controlled by using glass fine particles containing lithium oxide, sodium oxide, and potassium oxide, but the content is preferably 5% by weight or less, more preferably 3% by weight or less. By doing so, the stability of the paste can be improved. Further, it is effective for preventing deformation and alteration of the substrate due to a chemical reaction such as ion exchange with the substrate glass, and preventing coloring due to reaction with the metal used for the electrode.

上記ガラスのうち特に、酸化ビスマスを10〜60重量%含有するガラスを用いることは、ペーストのポットライフが長いことなどの利点がある。   In particular, the use of glass containing 10 to 60% by weight of bismuth oxide has advantages such as a long pot life of the paste.

酸化ビスマスを含むガラス組成としては、酸化物換算表記で
酸化ビスマス 10〜40重量部
酸化珪素 3〜50重量部
酸化ホウ素 10〜40重量部
酸化バリウム 8〜20重量部
酸化亜鉛 10〜30重量部
の組成を含むものを50重量%以上含有することが好ましい。
As a glass composition containing bismuth oxide, 10 to 40 parts by weight of bismuth oxide in terms of oxide, 3 to 50 parts by weight of silicon oxide, 10 to 40 parts by weight of barium oxide, 8 to 20 parts by weight, and 10 to 30 parts by weight of zinc oxide. It is preferable to contain 50% by weight or more of the composition.

本発明の緩衝層は、無機成分としてフィラーを添加することによって、緩衝層を白色化し、発光時の輝度向上をしたり、緩衝層の表面粗さを調整し、隔壁の密着力を増加することができる。   In the buffer layer of the present invention, by adding a filler as an inorganic component, the buffer layer is whitened to improve brightness during light emission, adjust the surface roughness of the buffer layer, and increase the adhesion of the partition walls. Can do.

緩衝層のフィラーの含有量は全無機成分の5〜40重量%であることによって、緩衝層を白色化し、且つ適正な温度範囲で緩衝層を焼結させることができる。5重量%未満だと十分な白色度が得られず、40重量%を越えると、高温で焼成しなければならず、焼成の際にガラス基板に歪みが生じる等の問題がある。   When the content of the filler in the buffer layer is 5 to 40% by weight of the total inorganic components, the buffer layer can be whitened and the buffer layer can be sintered at an appropriate temperature range. If it is less than 5% by weight, sufficient whiteness cannot be obtained, and if it exceeds 40% by weight, it must be fired at a high temperature, which causes problems such as distortion of the glass substrate during firing.

緩衝層のフィラーは酸化チタン、酸化亜鉛、酸化マグネシウム、チタン酸バリウム等が好適に用いられ、このうち少なくとも1種を含むことによって、緩衝層を白色化できる。緩衝層の白色度は、ハンター表色系L値で示した場合50以上であることが好ましい。   As the filler of the buffer layer, titanium oxide, zinc oxide, magnesium oxide, barium titanate, or the like is preferably used. By including at least one of these, the buffer layer can be whitened. The whiteness of the buffer layer is preferably 50 or more in the Hunter color system L value.

緩衝層用ペースト塗布膜を焼成して緩衝層を形成した後、該緩衝層上に隔壁を形成する場合、緩衝層の表面の中心線平均粗さ(Ra)が0.1〜1.5μmであると隔壁との密着性が増加し、剥がれが防止できるので好ましい。より好ましくはRaが0.3〜0.9μmである。   After the buffer layer paste coating film is baked to form the buffer layer, when the partition is formed on the buffer layer, the center line average roughness (Ra) of the surface of the buffer layer is 0.1 to 1.5 μm. If it exists, since adhesiveness with a partition increases and peeling can be prevented, it is preferable. More preferably, Ra is 0.3 to 0.9 μm.

Raが0.1μm未満では、表面が平滑すぎて焼成時に、有機バインダーが蒸発する際に隔壁と緩衝層の密着力が低下し、隔壁の剥がれ、断線および倒れが生じるようになる。また1.5μmを超えると、焼成時に発生する有機物が誘電体層の凹凸部に残留し、隔壁との密着力が低下するため好ましくない。   If Ra is less than 0.1 μm, the surface is too smooth and the adhesion between the partition walls and the buffer layer decreases when the organic binder evaporates during firing, and the partition walls are peeled off, broken, and fallen. On the other hand, when the thickness exceeds 1.5 μm, the organic matter generated during firing remains in the concavo-convex portions of the dielectric layer, and the adhesion with the partition walls is reduced, which is not preferable.

ここでRaは、誘電体表面の粗さ曲線からその中心線の方向に長さL(Lは測定長さ)の部分を抜き取り、この抜き取り部分の中心線をX軸、縦倍率の方向をY軸とし、粗さ曲線をY=f(X)で表したとき、次の式によって求められる値をμmで表したものをいう。   Here, Ra is extracted from the roughness curve of the dielectric surface in the direction of the center line of a length L (L is a measurement length), the center line of the extracted portion is the X axis, and the direction of the vertical magnification is Y. When the roughness curve is expressed as Y = f (X), the value obtained by the following formula is expressed in μm.

Figure 0004578489
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Raは、触針式の表面粗さ計(東京精密製:サーフコム1500A)を用いて、縦倍率2000倍、横倍率10倍で測定した値である。 Ra is a value measured using a stylus type surface roughness meter (Tokyo Seimitsu: Surfcom 1500A) at a vertical magnification of 2000 times and a horizontal magnification of 10 times.

緩衝層用ペーストに用いる有機成分は、有機バインダー、可塑剤、溶媒および必要に応じ分散剤やレベリング剤などの添加物が含まれる。有機バインダーの具体的な例としては、ポリビニルアルコール、セルロース系ポリマー、シリコンポリマー、ポリエチレン、ポリビニルピロリドン、ポリスチレン、ポリアミド、高分子量ポリエーテル、ポリビニルブチラール、メタクリル酸エステル重合体、アクリル酸エステル重合体、アクリル酸エステル−メタクリル酸エステル共重合体、α−メチルスチレン重合体、ブチルメタクリレート樹脂などがあげられる。   The organic components used in the buffer layer paste include organic binders, plasticizers, solvents, and additives such as dispersants and leveling agents as necessary. Specific examples of the organic binder include polyvinyl alcohol, cellulose polymer, silicon polymer, polyethylene, polyvinyl pyrrolidone, polystyrene, polyamide, high molecular weight polyether, polyvinyl butyral, methacrylic ester polymer, acrylic ester polymer, acrylic Acid ester-methacrylic acid ester copolymer, α-methylstyrene polymer, butyl methacrylate resin, and the like.

緩衝層用ペーストを塗布、乾燥後、該塗布膜上に感光性ペースト法により隔壁パターンを形成する場合は、隔壁の現像液に溶解しないバインダーを選択する必要がある。   When a barrier rib pattern is formed on the coating film by applying the buffer layer paste and dried, a binder that does not dissolve in the barrier rib developer must be selected.

また、緩衝層用ペーストに、感光性モノマー、感光性オリゴマー、感光性ポリマーのうち少なくとも1種類から選ばれる感光性成分を含有し、さらに必要に応じて、光重合開始剤、紫外線吸収剤、増感剤、増感助剤、重合禁止剤などの添加剤成分を加えることも行われる。これにより、緩衝層用ペーストに感光性を付与し、ガラス基板上に塗布し、乾燥を行った後、露光を行い、緩衝層を光硬化することで隔壁用現像液による緩衝層の浸食を防ぐことができる。   Further, the buffer layer paste contains a photosensitive component selected from at least one of a photosensitive monomer, a photosensitive oligomer, and a photosensitive polymer, and, if necessary, a photopolymerization initiator, an ultraviolet absorber, an increase agent. Additive components such as a sensitizer, a sensitization aid, and a polymerization inhibitor are also added. As a result, the buffer layer paste is imparted with photosensitivity, coated on a glass substrate, dried, exposed, and the buffer layer is photocured to prevent erosion of the buffer layer by the partition wall developer. be able to.

緩衝層用ペーストに紫外線吸収剤を添加することが有効である。緩衝層用ペースト塗布膜上に、感光性ペースト法により隔壁パターンを形成する場合は、露光に用いた光が緩衝層用ペースト塗布膜面から反射し、所望の隔壁パターン形状を得られない場合がある。緩衝層用ペーストに紫外線吸収効果の高い化合物を添加することによって緩衝層用ペースト塗布膜面からの反射を抑制することで隔壁下面の太りのない高精細パターンを得ることが可能となる。紫外線吸収剤は、具体的には、アゾ系染料、アミノケトン系染料、キサンテン系染料、キノリン系染料、アミノケトン系染料、アントラキノン系化合物、ベンゾフェノン系化合物、ジフェニルシアノアクリレート系化合物、トリアジン系化合物、p−アミノ安息香酸系染料などが使用できる。有機系染料は吸光剤として添加した場合にも、焼成後の絶縁膜中に残存しないで吸光剤による絶縁膜特性の低下を少なくできるので好ましい。   It is effective to add an ultraviolet absorber to the buffer layer paste. When the barrier rib pattern is formed on the buffer layer paste coating film by the photosensitive paste method, the light used for the exposure may be reflected from the buffer layer paste coating film surface and the desired barrier rib pattern shape may not be obtained. is there. By adding a compound having a high ultraviolet absorption effect to the buffer layer paste, it is possible to obtain a high-definition pattern with no thickness on the lower surface of the partition wall by suppressing reflection from the surface of the buffer layer paste coating film. Specific examples of the ultraviolet absorber include azo dyes, amino ketone dyes, xanthene dyes, quinoline dyes, amino ketone dyes, anthraquinone compounds, benzophenone compounds, diphenyl cyanoacrylate compounds, triazine compounds, p- Aminobenzoic acid dyes can be used. Even when an organic dye is added as a light-absorbing agent, it is preferable because it does not remain in the insulating film after baking and the deterioration of the insulating film characteristics due to the light-absorbing agent can be reduced.

緩衝層用ペーストの粘度を調整する際は、バインダー成分の溶媒を用いるのが好ましい。溶媒としては、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、メチルエチルケトン、ジオキサン、アセトン、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、イソブチルアルコール、イソプロピルアルコール、テトラヒドロフラン、ジメチルスルフォキシド、γ−ブチロラクトン、ブロモベンゼン、クロロベンゼン、ジブロモベンゼン、ジクロロベンゼン、ブロモ安息香酸、クロロ安息香酸などやこれらのうちの1種以上を含有する有機溶媒混合物が用いられる。   When adjusting the viscosity of the buffer layer paste, it is preferable to use a binder component solvent. As the solvent, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, butyl cellosolve, methyl ethyl ketone, dioxane, acetone, cyclohexanone, cyclopentanone, isobutyl alcohol, isopropyl alcohol, tetrahydrofuran, dimethyl sulfoxide, γ-butyrolactone, bromobenzene, chlorobenzene, dibromobenzene, dibromo Chlorobenzene, bromobenzoic acid, chlorobenzoic acid, and the like, and organic solvent mixtures containing one or more of these are used.

また、ペースト中に可塑剤を含むこともできる。可塑剤の具体的な例としては、ジブチルフタレート、ジオクチルフタレート、ポリエチレングリコール、グリセリンなどがあげられる。   Moreover, a plasticizer can also be included in a paste. Specific examples of the plasticizer include dibutyl phthalate, dioctyl phthalate, polyethylene glycol, glycerin and the like.

本発明の隔壁の作製方法は特に限定しないが、前記した隔壁形状(下面幅をLb、半値幅をLh、上面幅をLtとしたとき、Lt/Lh=0.65〜1、Lb/Lh=1〜2)を得るには、工程が少なく、微細なパターン形成が可能である感光性ペースト法で作製するのが好ましい。   The method for manufacturing the partition wall of the present invention is not particularly limited, but the above-described partition wall shape (Lt / Lh = 0.65 to 1, Lb / Lh = Lb is the bottom surface width is Lb, the half width is Lh, and the top surface width is Lt. In order to obtain 1-2), it is preferable to prepare by a photosensitive paste method with few steps and capable of forming a fine pattern.

感光性ペースト法は、主としてガラス粉末からなる無機成分と感光性を持つ有機成分からなる感光性ペーストを塗布、乾燥して得た塗布膜をマスク露光し、非硬化部分を現像によって除去して、隔壁パターンを形成し、その後焼成して隔壁を得る方法である。   In the photosensitive paste method, a coating film obtained by applying and drying a photosensitive paste mainly composed of an inorganic component composed mainly of glass powder and an organic component having photosensitivity is exposed to a mask, and uncured portions are removed by development, In this method, a barrier rib pattern is formed and then fired to obtain barrier ribs.

本発明の隔壁に用いられるガラス材料としては、屈折率1.5〜1.65であることが好ましい。一般に絶縁体として用いられるガラスは、1.5〜1.9程度の屈折率を有しているが、感光性ペースト法を用いる場合、有機成分の平均屈折率がガラス粉末の平均屈折率と大きく異なる場合は、ガラス粉末と感光性有機成分の界面での反射・散乱が大きくなり、精細なパターンが得られない。一般的な有機成分の屈折率は1.45〜1.7であるため、ガラス粉末と有機成分の屈折率を整合させるためには、ガラス粉末の平均屈折率を1.5〜1.65にすることが好ましい。   The glass material used for the partition wall of the present invention preferably has a refractive index of 1.5 to 1.65. In general, glass used as an insulator has a refractive index of about 1.5 to 1.9. However, when the photosensitive paste method is used, the average refractive index of the organic component is larger than the average refractive index of the glass powder. If they are different, reflection / scattering at the interface between the glass powder and the photosensitive organic component increases, and a fine pattern cannot be obtained. Since the refractive index of a general organic component is 1.45 to 1.7, in order to match the refractive index of the glass powder and the organic component, the average refractive index of the glass powder is set to 1.5 to 1.65. It is preferable to do.

プラズマディスプレイやプラズマアドレス液晶ディスプレイの隔壁に用いる場合は、ガラス転移点、軟化点の低いガラス基板上にパターン形成するため、隔壁材質として、ガラス転移点が430〜500℃、熱軟化温度が470〜580℃のガラス材料を用いることが好ましい。感光性ペースト法に用いるガラス粉末の量は、ガラス粉末と有機成分の和に対して65〜85重量%であるのが好ましい。   When used as a partition for a plasma display or a plasma addressed liquid crystal display, the glass transition point is 430 to 500 ° C. and the thermal softening temperature is 470 to 470. It is preferable to use a glass material at 580 ° C. The amount of the glass powder used for the photosensitive paste method is preferably 65 to 85% by weight based on the sum of the glass powder and the organic component.

65重量%より小さいと、焼成時の収縮率が大きくなり、隔壁の断線、剥がれの原因となるため、好ましくない。85重量%より大きいと、感光性成分が少ないことにより、パターンの形成性が悪くなる。   If it is less than 65% by weight, the shrinkage rate at the time of firing is increased, which causes disconnection and peeling of the partition walls, which is not preferable. If it is larger than 85% by weight, the pattern forming property is deteriorated due to the small photosensitive component.

隔壁材質の組成としては、酸化珪素はガラス中に、3〜60重量%の範囲で配合することが好ましく、3重量%未満の場合はガラス層の緻密性、強度や安定性が低下し、また熱膨張係数が所望の値から外れ、ガラス基板とのミスマッチが起こりやすい。また60重量%以下にすることによって、熱軟化点が低くなり、ガラス基板への焼き付けが可能になるなどの利点がある。   As the composition of the partition wall material, silicon oxide is preferably blended in the glass in the range of 3 to 60% by weight, and if it is less than 3% by weight, the denseness, strength and stability of the glass layer are lowered, The coefficient of thermal expansion deviates from a desired value, and mismatching with the glass substrate is likely to occur. Moreover, by making it 60 weight% or less, there exists an advantage that a thermal softening point becomes low and baking to a glass substrate is attained.

酸化ホウ素はガラス中に、5〜50重量%の範囲で配合することによって、電気絶縁性、強度、熱膨張係数、絶縁層の緻密性などの電気、機械および熱的特性を向上することができる。50重量%を越えるとガラスの安定性が低下する。   Boron oxide can improve electrical, mechanical, and thermal properties such as electrical insulation, strength, thermal expansion coefficient, and denseness of the insulating layer by blending in the glass in the range of 5 to 50% by weight. . If it exceeds 50% by weight, the stability of the glass decreases.

酸化リチウム、酸化ナトリウム、酸化カリウムのうち少なくとも1種類を3〜20重量%含むガラス微粒子を用いることによっても得ることができるが、リチウム、ナトリウム、カリウム等のアルカリ金属の酸化物は添加量としては、20重量%以下、好ましくは、15重量%以下にすることによって、ペーストの安定性を向上することができる。   Although it can also be obtained by using glass fine particles containing 3 to 20% by weight of at least one of lithium oxide, sodium oxide, and potassium oxide, oxides of alkali metals such as lithium, sodium, potassium, etc. 20% by weight or less, preferably 15% by weight or less, the stability of the paste can be improved.

酸化リチウムを含むガラス組成としては、酸化物換算表記で
酸化リチウム 2〜15重量部
酸化珪素 15〜50重量部
酸化ホウ素 15〜40重量部
酸化バリウム 2〜15重量部
酸化アルミニウム 6〜25重量部
の組成を含むものを50重量%以上含有することが好ましい。
As a glass composition containing lithium oxide, lithium oxide 2-15 parts by weight silicon oxide 15-50 parts by weight boron oxide 15-40 parts by weight barium oxide 2-15 parts by weight aluminum oxide 6-25 parts by weight in terms of oxide It is preferable to contain 50% by weight or more of the composition.

また、上記組成で、酸化リチウムの代わりに、酸化ナトリウム、酸化カリウムを用いても良いが、ペーストの安定性の点で、酸化リチウムが好ましい。   In the above composition, sodium oxide or potassium oxide may be used instead of lithium oxide, but lithium oxide is preferable in terms of paste stability.

酸化ナトリウム、酸化リチウム、酸化カリウム等のアルカリ金属の酸化物を合計で2〜10重量%含有するガラスを用いることによって、熱軟化温度、熱膨張係数のコントロールが容易になるだけでなく、ガラスの平均屈折率を低くすることができるため、有機物との屈折率差を小さくすることが容易になる。2%より小さい時は、熱軟化温度の制御が難しくなる。10%より大きい時は、放電時にアルカリ金属酸化物の蒸発によって輝度低下をもたらす。さらにアルカリ金属の酸化物の添加量はペーストの安定性を向上させるためにも、10重量%より小さいことが好ましく、より好ましくは8重量%以下である。   By using a glass containing a total of 2 to 10% by weight of alkali metal oxides such as sodium oxide, lithium oxide and potassium oxide, the thermal softening temperature and thermal expansion coefficient can be easily controlled. Since the average refractive index can be lowered, it is easy to reduce the difference in refractive index from the organic substance. When it is less than 2%, it becomes difficult to control the heat softening temperature. If it is greater than 10%, the brightness is reduced by evaporation of the alkali metal oxide during discharge. Further, the addition amount of the alkali metal oxide is preferably less than 10% by weight, more preferably 8% by weight or less in order to improve the stability of the paste.

特に、アルカリ金属の中では酸化リチウムを用いることによって、比較的ペーストの安定性を高くすることができ、また、酸化カリウムを用いた場合は、比較的少量の添加でも屈折率を制御できる利点があることから、アルカリ金属酸化物の中でも、酸化リチウムと酸化カリウムの添加が有効である。   In particular, among alkali metals, lithium oxide can be used to increase the stability of the paste, and when potassium oxide is used, the refractive index can be controlled even with a relatively small amount of addition. Therefore, addition of lithium oxide and potassium oxide is effective among alkali metal oxides.

また、ガラス微粒子中に、酸化アルミニウム、酸化バリウム、酸化カルシウム、酸化マグネシウム、酸化亜鉛、酸化ジルコニウムなど、特に酸化アルミニウム、酸化バリウム、酸化亜鉛を添加することにより、高度や加工性を改良することができるが、熱軟化点、熱膨張係数、屈折率の制御の点からは、その含有量は40重量%以下が好ましく、より好ましくは25重量%以下である。この結果、ガラス基板上に焼き付け可能な熱軟化温度を有し、平均屈折率を1.5〜1.65にすることができ、有機成分との屈折率差を小さくすることが容易になる。   In addition, by adding aluminum oxide, barium oxide, calcium oxide, magnesium oxide, zinc oxide, zirconium oxide, etc., especially aluminum oxide, barium oxide, zinc oxide, etc., it is possible to improve the altitude and workability. However, the content is preferably 40% by weight or less, more preferably 25% by weight or less from the viewpoint of control of the thermal softening point, thermal expansion coefficient, and refractive index. As a result, it has a heat softening temperature that can be baked on the glass substrate, and can have an average refractive index of 1.5 to 1.65, making it easy to reduce the difference in refractive index from the organic component.

酸化ビスマスを含有するガラスは熱軟化温度や耐水性向上の点から好ましいが、酸化ビスマスを10重量%以上含むガラスは、屈折率が1.6以上になるものが多い。このため酸化ナトリウム、酸化リチウム、酸化カリウムなどのアルカリ金属の酸化物と酸化鉛を併用することによって、熱軟化温度、熱膨張係数、耐水性、屈折率のコントロールが容易になる。   Glass containing bismuth oxide is preferable from the viewpoint of heat softening temperature and water resistance improvement, but glass containing 10% by weight or more of bismuth oxide often has a refractive index of 1.6 or more. For this reason, the thermal softening temperature, thermal expansion coefficient, water resistance, and refractive index can be easily controlled by using lead oxide together with an oxide of an alkali metal such as sodium oxide, lithium oxide or potassium oxide.

本発明におけるガラス材質の屈折率測定は、感光性ペースト法で露光する光の波長で測定することが効果を確認する上で正確である。特に、350〜650nmの範囲の波長の光で測定することが好ましい。さらには、i線(365nm)もしくはg線(436nm)での屈折率測定が好ましい。   In the measurement of the refractive index of the glass material in the present invention, it is accurate to confirm the effect by measuring at the wavelength of light exposed by the photosensitive paste method. In particular, it is preferable to measure with light having a wavelength in the range of 350 to 650 nm. Furthermore, refractive index measurement with i-line (365 nm) or g-line (436 nm) is preferable.

本発明の隔壁はコントラストをあげる点で優れていることから、黒色に着色されていてもよい。種々の金属酸化物を添加することによって、焼成後の隔壁を着色することができる。例えば、感光性ペースト中に黒色の金属酸化物を1〜10重量%含むことによって、黒色のパターンを形成することができる。   Since the partition wall of the present invention is excellent in increasing the contrast, it may be colored black. By adding various metal oxides, the fired partition walls can be colored. For example, a black pattern can be formed by including 1 to 10% by weight of a black metal oxide in the photosensitive paste.

この際に用いる黒色の金属酸化物として、Cr、Fe、Co、Mn、Cuの酸化物の内、少なくとも1種、好ましくは3種以上を含むことによって、黒色化が可能になる。特に、FeとMnの酸化物をそれぞれ0.5重量%以上含有することによって、黒色パターンを形成できる。   By including at least one, preferably three or more of Cr, Fe, Co, Mn, and Cu as the black metal oxide used at this time, blackening can be achieved. In particular, a black pattern can be formed by containing 0.5 wt% or more of Fe and Mn oxides.

さらに、黒色以外に、赤、青、緑等に発色する無機顔料を添加したペーストを用いることによって、各色のパターンを形成できる。これらの着色パターンは、プラズマディスプレイのカラーフィルターなどに好適に用いることができる。   In addition to black, a pattern of each color can be formed by using a paste to which an inorganic pigment that develops red, blue, green, or the like is added. These colored patterns can be suitably used for a color filter of a plasma display.

また、本発明の隔壁の比重は2〜3.3であることが好ましい。2以下にするためには、ガラス材料に酸化ナトリウムや酸化カリウムなどのアルカリ金属の酸化物を多く含ませなければならず、放電中に蒸発して放電特性を低下させる要因となるため、好ましくない。3.3以上になると、大画面化した時ディスプレイが重くなったり、自重で基板に歪みを生じたりするので好ましくない。   Moreover, it is preferable that the specific gravity of the partition of this invention is 2-3. In order to make it 2 or less, the glass material must contain a large amount of alkali metal oxides such as sodium oxide and potassium oxide, which is not preferable because it evaporates during discharge and deteriorates discharge characteristics. . If it becomes 3.3 or more, the display becomes heavy when the screen is enlarged, or the substrate is distorted by its own weight, which is not preferable.

本発明の隔壁材料にガラス軟化点が650〜850℃であるフィラーを10〜50重量%含ませてもよい。これにより、感光性ペースト法において、パターン形成後の焼成時の収縮率が小さくなり、パターン形成が容易になる。フィラーとしては、熱軟化温度が600℃以上の高融点ガラスやセラミックスなどを用いることができる。   The partition wall material of the present invention may contain 10 to 50% by weight of a filler having a glass softening point of 650 to 850 ° C. Thereby, in the photosensitive paste method, the shrinkage rate at the time of baking after pattern formation becomes small, and pattern formation becomes easy. As the filler, refractory glass or ceramics having a heat softening temperature of 600 ° C. or higher can be used.

高融点ガラス粉末としては、酸化珪素、酸化アルミニウムを15重量%以上含有するガラス粉末が好ましく、これらの含有量合計がガラス粉末中50重量%以上であることが、必要な熱特性を持たせるためには有効である。一例としては、以下の組成を含有するガラス粉末を用いることが好ましい。   As the high melting point glass powder, a glass powder containing 15% by weight or more of silicon oxide and aluminum oxide is preferable, and the total content thereof is 50% by weight or more in the glass powder in order to provide necessary thermal characteristics. Is effective. As an example, it is preferable to use glass powder containing the following composition.

酸化珪素:15〜50重量%
酸化ホウ素:5〜20重量%
酸化アルミニウム:15〜50重量%
酸化バリウム:2〜10重量%
感光性ペーストの有機成分は、感光性モノマー、感光性オリゴマー、感光性ポリマーのうち少なくとも1種類から選ばれる感光性成分を含有し、さらに必要に応じて、バインダー、光重合開始剤、紫外線吸収剤、増感剤、増感助剤、重合禁止剤、可塑剤、増粘剤、有機溶媒、酸化防止剤、分散剤、有機あるいは無機の沈殿防止剤などの添加剤成分を加えることも行われる。
Silicon oxide: 15-50% by weight
Boron oxide: 5 to 20% by weight
Aluminum oxide: 15-50% by weight
Barium oxide: 2 to 10% by weight
The organic component of the photosensitive paste contains a photosensitive component selected from at least one of a photosensitive monomer, a photosensitive oligomer, and a photosensitive polymer, and, if necessary, a binder, a photopolymerization initiator, and an ultraviolet absorber. Additive components such as a sensitizer, a sensitizer, a polymerization inhibitor, a plasticizer, a thickener, an organic solvent, an antioxidant, a dispersant, and an organic or inorganic precipitation inhibitor are also added.

感光性成分としては、光不溶化型のものと光可溶化型のものがあり、光不溶化型のものとして、
(A)分子内に不飽和基などを1つ以上有する官能性のモノマー、オリゴマー、ポリマーを含有するもの
(B)芳香族ジアゾ化合物、芳香族アジド化合物、有機ハロゲン化合物などの感光性化合物を含有するもの
(C)ジアゾ系アミンとホルムアルデヒドとの縮合物などいわゆるジアゾ樹脂といわれるもの等がある。
As the photosensitive component, there are a light-insolubilized type and a light-solubilized type,
(A) containing functional monomers, oligomers or polymers having one or more unsaturated groups in the molecule (B) containing photosensitive compounds such as aromatic diazo compounds, aromatic azide compounds, and organic halogen compounds (C) What is called a diazo resin, such as a condensate of a diazo amine and formaldehyde.

また、光可溶型のものとしては、
(D)ジアゾ化合物の無機塩や有機酸とのコンプレックス、キノンジアゾ類を含有するもの
(E)キノンジアゾ類を適当なポリマーバインダーと結合させた、例えばフェノール、ノボラック樹脂のナフトキノン−1,2−ジアジド−5−スルフォン酸エステル等がある。
In addition, as a light-soluble type,
(D) Inorganic salt of diazo compound or complex with organic acid, containing quinone diazo (E) quinone diazo combined with appropriate polymer binder, for example, naphthoquinone-1,2-diazide of phenol, novolak resin 5-sulphonic acid ester and the like.

本発明において用いる感光性成分は、上記のすべてのものを用いることができる。感光性ペーストとして、無機微粒子と混合して簡便に用いることができる感光性成分は、(A)のものが好ましい。   As the photosensitive component used in the present invention, all of the above can be used. As the photosensitive paste, the photosensitive component that can be used simply by mixing with inorganic fine particles is preferably (A).

感光性モノマーとしては、炭素−炭素不飽和結合を含有する化合物で、その具体的な例として、メチルアクリレート、エチルアクリレート、n−プロピルアクリレート、イソプロピルアクリレート、n−ブチルアクリレート、sec−ブチルアクリレート、sec−ブチルアクリレート、イソ−ブチルアクリレート、tert−ブチルアクリレート、n−ペンチルアクリレート、アリルアクリレート、ベンジルアクリレート、ブトキシエチルアクリレート、ブトキシトリエチレングリコールアクリレート、シクロヘキシルアクリレート、ジシクロペンタニルアクリレート、ジシクロペンテニルアクリレート、2−エチルヘキシルアクリレート、グリセロールアクリレート、グリシジルアクリレート、ヘプタデカフロロデシルアクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレート、イソボニルアクリレート、2−ヒドロキシプロピルアクリレート、イソデシルアクリレート、イソオクチルアクリレート、ラウリルアクリレート、2−メトキシエチルアクリレート、メトキシエチレングリコールアクリレート、メトキシジエチレングリコールアクリレート、オクタフロロペンチルアクリレート、フェノキシエチルアクリレート、ステアリルアクリレート、トリフロロエチルアクリレート、アリル化シクロヘキシルジアクリレート、1,4−ブタンジオールジアクリレート、1,3−ブチレングリコールジアクリレート、エチレングリコールジアクリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、トリエチレングリコールジアクリレート、ポリエチレングリコールジアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート、ジペンタエリスリトールモノヒドロキシペンタアクリレート、ジトリメチロールプロパンテトラアクリレート、グリセロールジアクリレート、メトキシ化シクロヘキシルジアクリレート、ネオペンチルグリコールジアクリレート、プロピレングリコールジアクリレート、ポリプロピレングリコールジアクリレート、トリグリセロールジアクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレート、アクリルアミド、アミノエチルアクリレート、フェニルアクリレート、フェノキシエチルアクリレート、ベンジルアクリレート、1−ナフチルアクリレート、2−ナフチルアクリレート、ビスフェノールAジアクリレート、ビスフェノールA−エチレンオキサイド付加物のジアクリレート、ビスフェノールA−プロピレンオキサイド付加物のジアクリレート、チオフェノールアクリレート、ベンジルメルカプタンアクリレート等のアクリレート、また、これらの芳香環の水素原子のうち、1〜5個を塩素または臭素原子に置換したモノマー、もしくは、スチレン、p−メチルスチレン、o−メチルスチレン、m−メチルスチレン、塩素化スチレン、臭素化スチレン、α−メチルスチレン、塩素化α−メチルスチレン、臭素化α−メチルスチレン、クロロメチルスチレン、ヒドロキシメチルスチレン、カルボキシメチルスチレン、ビニルナフタレン、ビニルアントラセン、ビニルカルバゾール、および、上記化合物の分子内のアクリレートを一部もしくはすべてをメタクリレートに変えたもの、γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、1−ビニル−2−ピロリドン、N,N,N’,N’−テトラ(2−ヒドロキシー3−メタクリロキシプロピル)ポリオキシプロピレンジアミンなどが挙げられる。本発明ではこれらを1種または2種以上使用することができる。   The photosensitive monomer is a compound containing a carbon-carbon unsaturated bond, and specific examples thereof include methyl acrylate, ethyl acrylate, n-propyl acrylate, isopropyl acrylate, n-butyl acrylate, sec-butyl acrylate, sec. -Butyl acrylate, iso-butyl acrylate, tert-butyl acrylate, n-pentyl acrylate, allyl acrylate, benzyl acrylate, butoxyethyl acrylate, butoxytriethylene glycol acrylate, cyclohexyl acrylate, dicyclopentanyl acrylate, dicyclopentenyl acrylate, 2 -Ethylhexyl acrylate, glycerol acrylate, glycidyl acrylate, heptadecafluorodecyl acrylate, 2 Hydroxyethyl acrylate, isobornyl acrylate, 2-hydroxypropyl acrylate, isodecyl acrylate, isooctyl acrylate, lauryl acrylate, 2-methoxyethyl acrylate, methoxyethylene glycol acrylate, methoxydiethylene glycol acrylate, octafluoropentyl acrylate, phenoxyethyl acrylate, stearyl Acrylate, trifluoroethyl acrylate, allylated cyclohexyl diacrylate, 1,4-butanediol diacrylate, 1,3-butylene glycol diacrylate, ethylene glycol diacrylate, diethylene glycol diacrylate, triethylene glycol diacrylate, polyethylene glycol diacrylate , Dipen Erythritol hexaacrylate, dipentaerythritol monohydroxypentaacrylate, ditrimethylolpropane tetraacrylate, glycerol diacrylate, methoxylated cyclohexyl diacrylate, neopentyl glycol diacrylate, propylene glycol diacrylate, polypropylene glycol diacrylate, triglycerol diacrylate, tri Methylolpropane triacrylate, acrylamide, aminoethyl acrylate, phenyl acrylate, phenoxyethyl acrylate, benzyl acrylate, 1-naphthyl acrylate, 2-naphthyl acrylate, bisphenol A diacrylate, diacrylate of bisphenol A-ethylene oxide adduct, bisphenol A- Diacrylates of propylene oxide adducts, acrylates such as thiophenol acrylate, benzyl mercaptan acrylate, etc., and monomers obtained by substituting 1 to 5 of these aromatic ring hydrogen atoms with chlorine or bromine atoms, or styrene, p -Methylstyrene, o-methylstyrene, m-methylstyrene, chlorinated styrene, brominated styrene, α-methylstyrene, chlorinated α-methylstyrene, brominated α-methylstyrene, chloromethylstyrene, hydroxymethylstyrene, carboxy Methyl styrene, vinyl naphthalene, vinyl anthracene, vinyl carbazole, and those obtained by changing some or all of the acrylates in the molecule of the above compounds to methacrylate, γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 1-vinyl 2-pyrrolidone, N, N, N ', N'- tetra (2-hydroxy-3-methacryloxypropyl) such as polyoxypropylene diamine. In the present invention, one or more of these can be used.

これら以外に、不飽和カルボン酸等の不飽和酸を加えることによって、感光後の現像性を向上することができる。不飽和カルボン酸の具体的な例としては、アクリル酸、メタアクリル酸、イタコン酸、クロトン酸、マレイン酸、フマル酸、ビニル酢酸、またはこれらの酸無水物などがあげられる。   In addition to these, the development property after exposure can be improved by adding an unsaturated acid such as an unsaturated carboxylic acid. Specific examples of the unsaturated carboxylic acid include acrylic acid, methacrylic acid, itaconic acid, crotonic acid, maleic acid, fumaric acid, vinyl acetic acid, and acid anhydrides thereof.

これらモノマーの含有率は、ガラス粉末と感光性成分の和に対して、5〜30重量%が好ましい。これ以外の範囲では、パターンの形成性の悪化、硬化後の硬度不足が発生するため好ましくない。   The content of these monomers is preferably 5 to 30% by weight with respect to the sum of the glass powder and the photosensitive component. In other ranges, the pattern formability is deteriorated and the hardness after curing is not preferable.

バインダーとしては、ポリビニルアルコール、ポリビニルブチラール、メタクリル酸エステル重合体、アクリル酸エステル重合体、アクリル酸エステル−メタクリル酸エステル共重合体、α−メチルスチレン重合体、ブチルメタクリレート樹脂などがあげられる。   Examples of the binder include polyvinyl alcohol, polyvinyl butyral, methacrylic ester polymer, acrylic ester polymer, acrylic ester-methacrylic ester copolymer, α-methylstyrene polymer, and butyl methacrylate resin.

また、前述の炭素−炭素二重結合を有する化合物のうち少なくとも1種類を重合して得られたオリゴマーやポリマーを用いることができる。重合する際に、これら光反応性モノマーの含有率が、10重量%以上、さらに好ましくは35重量%以上になるように、他の感光性のモノマーと共重合することができる。   Moreover, the oligomer and polymer obtained by superposing | polymerizing at least 1 type among the compounds which have the above-mentioned carbon-carbon double bond can be used. In the polymerization, it can be copolymerized with other photosensitive monomers so that the content of these photoreactive monomers is 10% by weight or more, more preferably 35% by weight or more.

共重合するモノマーとしては、不飽和カルボン酸等の不飽和酸を共重合することによって、感光後の現像性を向上することができる。不飽和カルボン酸の具体的な例としては、アクリル酸、メタアクリル酸、イタコン酸、クロトン酸、マレイン酸、フマル酸、ビニル酢酸、またはこれらの酸無水物などがあげられる。   As a monomer to be copolymerized, the developability after exposure can be improved by copolymerizing an unsaturated acid such as an unsaturated carboxylic acid. Specific examples of the unsaturated carboxylic acid include acrylic acid, methacrylic acid, itaconic acid, crotonic acid, maleic acid, fumaric acid, vinyl acetic acid, and acid anhydrides thereof.

こうして得られた側鎖にカルボキシル基等の酸性基を有するポリマーもしくはオリゴマーの酸価(AV)は50〜180、さらには70〜140の範囲が好ましい。酸価が50未満であると、現像許容幅が狭くなる。また、酸価が180を越えると未露光部の現像液に対する溶解性が低下するようになるため現像液濃度を濃くすると露光部まで剥がれが発生し、高精細なパターンが得られにくい。   The acid value (AV) of the polymer or oligomer having an acidic group such as a carboxyl group in the side chain thus obtained is preferably 50 to 180, more preferably 70 to 140. When the acid value is less than 50, the allowable development width becomes narrow. Further, if the acid value exceeds 180, the solubility of the unexposed portion in the developing solution is lowered. Therefore, if the concentration of the developing solution is increased, the exposed portion is peeled off and it is difficult to obtain a high-definition pattern.

以上示した、ポリマーもしくはオリゴマーに対して、光反応性基を側鎖または分子末端に付加させることによって、感光性を持つ感光性ポリマーや感光性オリゴマーとして用いることができる。好ましい光反応性基は、エチレン性不飽和基を有するものである。エチレン性不飽和基としては、ビニル基、アリル基、アクリル基、メタクリル基などがあげられる。   By adding a photoreactive group to the side chain or molecular end of the polymer or oligomer described above, it can be used as a photosensitive polymer or photosensitive oligomer having photosensitivity. Preferred photoreactive groups are those having an ethylenically unsaturated group. Examples of the ethylenically unsaturated group include a vinyl group, an allyl group, an acrylic group, and a methacryl group.

このような側鎖をオリゴマーやポリマーに付加させる方法は、ポリマー中のメルカプト基、アミノ基、水酸基やカルボキシル基に対して、グリシジル基やイソシアネート基を有するエチレン性不飽和化合物やアクリル酸クロライド、メタクリル酸クロライドまたはアリルクロライドを付加反応させて作る方法がある。   Such a side chain can be added to an oligomer or polymer by using an ethylenically unsaturated compound having a glycidyl group or an isocyanate group relative to a mercapto group, amino group, hydroxyl group or carboxyl group in the polymer. There is a method of making an acid chloride or allyl chloride by addition reaction.

グリシジル基を有するエチレン性不飽和化合物としては、アクリル酸グリシジル、メタクリル酸グリシジル、アリルグリシジルエーテル、エチルアクリル酸グリシジル、クロトニルグリシジルエーテル、クロトン酸グリシジルエーテル、イソクロトン酸グリシジルエーテルなどがあげられる。   Examples of the ethylenically unsaturated compound having a glycidyl group include glycidyl acrylate, glycidyl methacrylate, allyl glycidyl ether, glycidyl ethyl acrylate, crotonyl glycidyl ether, glycidyl crotonic acid, and glycidyl ether isocrotonic acid.

イソシアネート基を有するエチレン性不飽和化合物としては、(メタ)アクリロイルイソシアネート、(メタ)アクリロイルエチルイソシアネート等がある。   Examples of the ethylenically unsaturated compound having an isocyanate group include (meth) acryloyl isocyanate and (meth) acryloylethyl isocyanate.

また、グリシジル基やイソシアネート基を有するエチレン性不飽和化合物やアクリル酸クロライド、メタクリル酸クロライドまたはアリルクロライドは、ポリマー中のメルカプト基、アミノ基、水酸基やカルボキシル基に対して0.05〜1モル当量付加させることが好ましい。   In addition, the ethylenically unsaturated compound having a glycidyl group or an isocyanate group, acrylic acid chloride, methacrylic acid chloride or allyl chloride is 0.05 to 1 molar equivalent with respect to a mercapto group, amino group, hydroxyl group or carboxyl group in the polymer. It is preferable to add.

感光性ペースト中の感光性ポリマー、感光性オリゴマーおよびバインダーからなるポリマー成分の量としては、パターン形成性、焼成後の収縮率の点で優れていることから、ガラス粉末と感光性成分の和に対して、5〜35重量%であることが好ましい。この範囲外では、パターン形成が不可能もしくは、パターンの太りがでるため好ましくない。   The amount of the polymer component consisting of the photosensitive polymer, photosensitive oligomer and binder in the photosensitive paste is excellent in terms of pattern formability and shrinkage after firing, so it is the sum of glass powder and photosensitive component. On the other hand, it is preferably 5 to 35% by weight. Outside this range, it is not preferable because pattern formation is impossible or the pattern becomes thick.

光重合開始剤としての具体的な例として、ベンゾフェノン、o−ベンゾイル安息香酸メチル、4,4−ビス(ジメチルアミン)ベンゾフェノン、4,4−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、4,4−ジクロロベンゾフェノン、4−ベンゾイル−4−メチルジフェニルケトン、ジベンジルケトン、フルオレノン、2,2−ジエトキシアセトフェノン、2,2−ジメトキシ−2−フェニル−2−フェニルアセトフェノン、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオフェノン、p−t−ブチルジクロロアセトフェノン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−4’−モルフォリノブチロフェノン、チオキサントン、2−メチルチオキサントン、2−クロロチオキサントン、2−イソプロピルチオキサントン、ジエチルチオキサントン、ベンジル、ベンジルジメチルケタノール、ベンジルメトキシエチルアセタール、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインブチルエーテル、アントラキノン、2−t−ブチルアントラキノン、2−アミルアントラキノン、β−クロルアントラキノン、アントロン、ベンズアントロン、ジベンゾスベロン、メチレンアントロン、4−アジドベンザルアセトフェノン、2,6−ビス(p−アジドベンジリデン)シクロヘキサノン、2,6−ビス(p−アジドベンジリデン)−4−メチルシクロヘキサノン、2−フェニル−1,2−ブタジオン−2−(o−メトキシカルボニル)オキシム、1−フェニル−プロパンジオン−2−(o−エトキシカルボニル)オキシム、1,3−ジフェニル−プロパントリオン−2−(o−エトキシカルボニル)オキシム、1−フェニル−3−エトキシ−プロパントリオン−2−(o−ベンゾイル)オキシム、ミヒラーケトン、2−メチル−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノ−1−プロパノン、ナフタレンスルホニルクロライド、キノリンスルホニルクロライド、N−フェニルチオアクリドン、4,4−アゾビスイソブチロニトリル、ジフェニルジスルフィド、ベンズチアゾールジスルフィド、トリフェニルホスフィン、カンファーキノン、四臭素化炭素、トリブロモフェニルスルホン、過酸化ベンゾインおよびエオシン、メチレンブルーなどの光還元性の色素とアスコルビン酸、トリエタノールアミンなどの還元剤の組み合わせなどがあげられる。本発明ではこれらを1種または2種以上使用することができる。   Specific examples of the photopolymerization initiator include benzophenone, methyl o-benzoylbenzoate, 4,4-bis (dimethylamine) benzophenone, 4,4-bis (diethylamino) benzophenone, 4,4-dichlorobenzophenone, 4 -Benzoyl-4-methyldiphenyl ketone, dibenzyl ketone, fluorenone, 2,2-diethoxyacetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenyl-2-phenylacetophenone, 2-hydroxy-2-methylpropiophenone, p -T-butyldichloroacetophenone, 2-benzyl-2-dimethylamino-4'-morpholinobutyrophenone, thioxanthone, 2-methylthioxanthone, 2-chlorothioxanthone, 2-isopropylthioxanthone, diethylthioxanthone, benzyl, Dimethyldimethylketanol, benzylmethoxyethyl acetal, benzoin, benzoin methyl ether, benzoin butyl ether, anthraquinone, 2-t-butylanthraquinone, 2-amylanthraquinone, β-chloroanthraquinone, anthrone, benzanthrone, dibenzosuberone, methyleneanthrone, 4-azidobenzalacetophenone, 2,6-bis (p-azidobenzylidene) cyclohexanone, 2,6-bis (p-azidobenzylidene) -4-methylcyclohexanone, 2-phenyl-1,2-butadion-2- ( o-methoxycarbonyl) oxime, 1-phenyl-propanedione-2- (o-ethoxycarbonyl) oxime, 1,3-diphenyl-propanetrione-2- (o-ethoxycarbonyl) oxime 1-phenyl-3-ethoxy-propanetrione-2- (o-benzoyl) oxime, Michler's ketone, 2-methyl- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-1-propanone, naphthalenesulfonyl chloride, quinolinesulfonyl Chloride, N-phenylthioacridone, 4,4-azobisisobutyronitrile, diphenyl disulfide, benzthiazole disulfide, triphenylphosphine, camphorquinone, carbon tetrabromide, tribromophenylsulfone, benzoin peroxide and eosin, Examples include a combination of a photoreducible dye such as methylene blue and a reducing agent such as ascorbic acid or triethanolamine. In the present invention, one or more of these can be used.

光重合開始剤は、感光性成分に対し、0.05〜20重量%の範囲で添加され、より好ましくは、0.1〜15重量%である。重合開始剤の量が少なすぎると、光感度が不良となり、光重合開始剤の量が多すぎれば、露光部の残存率が小さくなりすぎるおそれがある。   A photoinitiator is added in 0.05-20 weight% with respect to the photosensitive component, More preferably, it is 0.1-15 weight%. If the amount of the polymerization initiator is too small, the photosensitivity will be poor, and if the amount of the photopolymerization initiator is too large, the residual ratio of the exposed area may be too small.

紫外線吸収剤を添加することも有効である。紫外線吸収効果の高い化合物を添加することによって光硬化反応の閾値を高め、散乱光による所望部分以外の硬化を防止し、高アスペクト比、高精細、高解像度が得られる。紫外線吸収剤は、具体的には、アゾ系染料、アミノケトン系染料、キサンテン系染料、キノリン系染料、アミノケトン系染料、アントラキノン系化合物、ベンゾフェノン系化合物、ジフェニルシアノアクリレート系化合物、トリアジン系化合物、p−アミノ安息香酸系染料などが使用できる。有機系染料は吸光剤として添加した場合にも、焼成後の絶縁膜中に残存しないで吸光剤による絶縁膜特性の低下を少なくできるので好ましい。   It is also effective to add a UV absorber. By adding a compound having a high ultraviolet absorption effect, the threshold of the photocuring reaction is increased, and curing other than the desired portion by scattered light is prevented, and a high aspect ratio, high definition, and high resolution can be obtained. Specific examples of the ultraviolet absorber include azo dyes, amino ketone dyes, xanthene dyes, quinoline dyes, amino ketone dyes, anthraquinone compounds, benzophenone compounds, diphenyl cyanoacrylate compounds, triazine compounds, p- Aminobenzoic acid dyes can be used. Even when an organic dye is added as a light-absorbing agent, it is preferable because it does not remain in the insulating film after baking and the deterioration of the insulating film characteristics due to the light-absorbing agent can be reduced.

紫外線吸光剤の添加量はガラス粉末に対して0.05〜10重量%が好ましい。0.05重量%以下では紫外線吸光剤の添加効果が減少し、10重量%を越えると焼成後の絶縁膜特性が低下するので好ましくない。より好ましくは0.1〜8重量%である。   The addition amount of the ultraviolet light absorber is preferably 0.05 to 10% by weight with respect to the glass powder. If it is 0.05% by weight or less, the effect of adding an ultraviolet light absorber is reduced, and if it exceeds 10% by weight, the insulating film properties after firing are deteriorated, which is not preferable. More preferably, it is 0.1 to 8% by weight.

有機染料からなる紫外線吸光剤の添加方法の一例を上げると、有機染料を予め有機溶媒に溶解した溶液を作製し、それをペースト作製時に混練する方法以外に、該有機溶媒中にガラス微粒子を混合後、乾燥する方法があげられる。この方法によってガラス微粒子の個々の粒子表面に有機の膜をコートしたいわゆるカプセル状の微粒子が作製できる。   An example of a method for adding an ultraviolet light absorber composed of an organic dye is to prepare a solution in which an organic dye is dissolved in an organic solvent in advance, and mix glass fine particles in the organic solvent in addition to kneading it at the time of preparing the paste. Thereafter, a method of drying is mentioned. By this method, so-called capsule-shaped fine particles in which the surface of each glass fine particle is coated with an organic film can be produced.

本発明において、無機微粒子に含まれるPb、Fe、Cd、Mn、Co、Mgなどの金属および酸化物がペースト中に含有する場合、感光性成分と反応してペーストが短時間でゲル化し、塗布できなくなる場合がある。このような反応を防止するために安定化剤を添加してゲル化を防止することが好ましい。用いる安定化剤としては、トリアゾール化合物が好ましく用いられる。トリアゾール化合物としては、ベンゾトリアゾール誘導体が好ましく用いられる。この中でも特にベンゾトリアゾールが有効に作用する。本発明において使用されるベンゾトリアゾールによるガラス微粒子の表面処理の一例を上げると、無機微粒子に対して所定の量のベンゾトリアゾールを酢酸メチル、酢酸エチル、エチルアルコール、メチルアルコールなどの有機溶媒に溶解した後、これら微粒子が十分に浸すことができるように溶液中に1〜24時間浸積する。浸積後、好ましくは20〜30℃下で自然乾燥して溶媒を蒸発させてトリアゾール処理を行った微粒子を作製する。使用される安定化剤の割合(安定化剤/無機微粒子)は0.05〜5重量%が好ましい。   In the present invention, when a metal and an oxide such as Pb, Fe, Cd, Mn, Co, and Mg contained in the inorganic fine particles are contained in the paste, the paste gels in a short time by reacting with the photosensitive component. It may not be possible. In order to prevent such a reaction, it is preferable to add a stabilizer to prevent gelation. As a stabilizer to be used, a triazole compound is preferably used. As the triazole compound, a benzotriazole derivative is preferably used. Of these, benzotriazole is particularly effective. As an example of the surface treatment of glass fine particles with benzotriazole used in the present invention, a predetermined amount of benzotriazole with respect to inorganic fine particles was dissolved in an organic solvent such as methyl acetate, ethyl acetate, ethyl alcohol, and methyl alcohol. Thereafter, it is immersed in the solution for 1 to 24 hours so that these fine particles can be sufficiently immersed. After soaking, the particles are preferably air-dried at 20 to 30 ° C. to evaporate the solvent to produce fine particles treated with triazole. The proportion of the stabilizer used (stabilizer / inorganic fine particles) is preferably 0.05 to 5% by weight.

増感剤は、感度を向上させるために添加される。増感剤の具体例としては、2,4−ジエチルチオキサントン、イソプロピルチオキサントン、2,3−ビス(4−ジエチルアミノベンザル)シクロペンタノン、2,6−ビス(4−ジメチルアミノベンザル)シクロヘキサノン、2,6−ビス(4−ジメチルアミノベンザル)−4−メチルシクロヘキサノン、ミヒラーケトン、4,4−ビス(ジエチルアミノ)−ベンゾフェノン、4,4−ビス(ジメチルアミノ)カルコン、4,4−ビス(ジエチルアミノ)カルコン、p−ジメチルアミノシンナミリデンインダノン、p−ジメチルアミノベンジリデンインダノン、2−(p−ジメチルアミノフェニルビニレン)−イソナフトチアゾール、1,3−ビス(4−ジメチルアミノベンザル)アセトン、1,3−カルボニル−ビス(4−ジエチルアミノベンザル)アセトン、3,3−カルボニル−ビス(7−ジエチルアミノクマリン)、N−フェニル−N−エチルエタノールアミン、N−フェニルエタノールアミン、N−トリルジエタノールアミン、N−フェニルエタノールアミン、ジメチルアミノ安息香酸イソアミル、ジエチルアミノ安息香酸イソアミル、3−フェニル−5−ベンゾイルチオテトラゾール、1−フェニル−5−エトキシカルボニルチオテトラゾールなどがあげられる。本発明ではこれらを1種または2種以上使用することができる。なお、増感剤の中には光重合開始剤としても使用できるものがある。増感剤を本発明の感光性ペーストに添加する場合、その添加量は感光性成分に対して通常0.05〜10重量%、より好ましくは0.1〜10重量%である。増感剤の量が少なすぎれば光感度を向上させる効果が発揮されず、増感剤の量が多すぎれば露光部の残存率が小さくなりすぎるおそれがある。   A sensitizer is added in order to improve sensitivity. Specific examples of the sensitizer include 2,4-diethylthioxanthone, isopropylthioxanthone, 2,3-bis (4-diethylaminobenzal) cyclopentanone, 2,6-bis (4-dimethylaminobenzal) cyclohexanone, 2,6-bis (4-dimethylaminobenzal) -4-methylcyclohexanone, Michler's ketone, 4,4-bis (diethylamino) -benzophenone, 4,4-bis (dimethylamino) chalcone, 4,4-bis (diethylamino) ) Chalcone, p-dimethylaminocinnamylidene indanone, p-dimethylaminobenzylidene indanone, 2- (p-dimethylaminophenylvinylene) -isonaphthothiazole, 1,3-bis (4-dimethylaminobenzal) acetone 1,3-carbonyl-bis (4-diethylamino) Benzal) acetone, 3,3-carbonyl-bis (7-diethylaminocoumarin), N-phenyl-N-ethylethanolamine, N-phenylethanolamine, N-tolyldiethanolamine, N-phenylethanolamine, isoamyl dimethylaminobenzoate And isoamyl diethylaminobenzoate, 3-phenyl-5-benzoylthiotetrazole, 1-phenyl-5-ethoxycarbonylthiotetrazole and the like. In the present invention, one or more of these can be used. Some sensitizers can also be used as photopolymerization initiators. When adding a sensitizer to the photosensitive paste of this invention, the addition amount is 0.05-10 weight% normally with respect to the photosensitive component, More preferably, it is 0.1-10 weight%. If the amount of the sensitizer is too small, the effect of improving the photosensitivity is not exhibited, and if the amount of the sensitizer is too large, the residual ratio of the exposed portion may be too small.

また、増感剤は、露光波長に吸収を有しているものが用いられる、この場合、吸収波長近傍では屈折率が極端に高くなるため、増感剤を多量に添加することによって、有機成分の屈折率を向上することができる。この場合の増感剤の添加量は3〜10重量%添加することができる。   In addition, a sensitizer having absorption at the exposure wavelength is used. In this case, since the refractive index becomes extremely high in the vicinity of the absorption wavelength, the organic component can be added by adding a large amount of the sensitizer. The refractive index can be improved. In this case, the sensitizer can be added in an amount of 3 to 10% by weight.

重合禁止剤は、保存時の熱安定性向上および光硬化反応の閾値を高め、散乱光による所望部分以外の硬化を防止し、高アスペクト比、高精細、高解像度パターンを得るために添加される。重合禁止剤の具体的な例としては、ヒドロキノン、ヒドロキノンのモノエステル化物、N−ニトロソジフェニルアミン、フェノチアジン、p−t−ブチルカテコール、N−フェニルナフチルアミン、2,6−ジ−t−ブチル−p−メチルフェノール、クロラニール、ピロガロールなどが挙げられる。重合禁止剤を添加する場合、その添加量は、感光性ペースト中に、通常、0.01〜6重量%である。   A polymerization inhibitor is added to improve the thermal stability during storage and increase the threshold of the photocuring reaction, prevent curing other than the desired part due to scattered light, and obtain a high aspect ratio, high definition, and high resolution pattern. . Specific examples of the polymerization inhibitor include hydroquinone, monoester of hydroquinone, N-nitrosodiphenylamine, phenothiazine, pt-butylcatechol, N-phenylnaphthylamine, 2,6-di-tert-butyl-p- Examples include methylphenol, chloranil, and pyrogallol. When adding a polymerization inhibitor, the addition amount is 0.01 to 6 weight% normally in the photosensitive paste.

可塑剤の具体的な例としては、ジブチルフタレート、ジオクチルフタレート、ポリエチレングリコール、グリセリンなどがあげられる。   Specific examples of the plasticizer include dibutyl phthalate, dioctyl phthalate, polyethylene glycol, glycerin and the like.

酸化防止剤は、保存時におけるアクリル系共重合体の酸化を防ぐために添加される。酸化防止剤の具体的な例として2,6−ジ−t−ブチル−p−クレゾール、ブチル化ヒドロキシアニソール、2,6−ジ−t−4−エチルフェノール、2,2−メチレン−ビス−(4−メチル−6−t−ブチルフェノール)、2,2−メチレン−ビス−(4−エチル−6−t−ブチルフェノール)、4,4−ビス−(3−メチル−6−t−ブチルフェノール)、1,1,3−トリス−(2−メチル−6−t−ブチルフェノール)、1,1,3−トリス−(2−メチル−4−ヒドロキシ−t−ブチルフェニル)ブタン、ビス[3,3−ビス−(4−ヒドロキシ−3−t−ブチルフェニル)ブチリックアシッド]グリコールエステル、ジラウリルチオジプロピオナート、トリフェニルホスファイトなどが挙げられる。   The antioxidant is added to prevent oxidation of the acrylic copolymer during storage. Specific examples of antioxidants include 2,6-di-t-butyl-p-cresol, butylated hydroxyanisole, 2,6-di-t-4-ethylphenol, 2,2-methylene-bis- ( 4-methyl-6-tert-butylphenol), 2,2-methylene-bis- (4-ethyl-6-tert-butylphenol), 4,4-bis- (3-methyl-6-tert-butylphenol), 1 , 1,3-Tris- (2-methyl-6-tert-butylphenol), 1,1,3-tris- (2-methyl-4-hydroxy-tert-butylphenyl) butane, bis [3,3-bis -(4-Hydroxy-3-t-butylphenyl) butyric acid] glycol ester, dilauryl thiodipropionate, triphenyl phosphite and the like.

酸化防止剤を添加する場合、その添加量は通常、添加量は、ペースト中に、通常、0.001〜1重量%である。   When adding an antioxidant, the addition amount is usually 0.001 to 1% by weight in the paste.

本発明の感光性ペーストには、溶液の粘度を調整したい場合、有機溶媒を加えてもよい。このとき使用される有機溶媒としては、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、メチルエチルケトン、ジオキサン、アセトン、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、イソブチルアルコール、イソプロピルアルコール、テトラヒドロフラン、ジメチルスルフォキシド、γ−ブチロラクトン、ブロモベンゼン、クロロベンゼン、ジブロモベンゼン、ジクロロベンゼン、ブロモ安息香酸、クロロ安息香酸などやこれらのうちの1種以上を含有する有機溶媒混合物が用いられる。   An organic solvent may be added to the photosensitive paste of the present invention in order to adjust the viscosity of the solution. As an organic solvent used at this time, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, butyl cellosolve, methyl ethyl ketone, dioxane, acetone, cyclohexanone, cyclopentanone, isobutyl alcohol, isopropyl alcohol, tetrahydrofuran, dimethyl sulfoxide, γ-butyrolactone, bromobenzene, Chlorobenzene, dibromobenzene, dichlorobenzene, bromobenzoic acid, chlorobenzoic acid, and the like, and organic solvent mixtures containing one or more of these are used.

有機成分の屈折率とは、露光により感光性成分を感光させる時点におけるペースト中の有機成分の屈折率のことである。つまり、ペーストを塗布し、乾燥工程後に露光を行う場合は、乾燥工程後のペースト中の有機成分の屈折率のことである。例えば、ペーストをガラス基板上に塗布した後、50〜100℃で1〜30分乾燥して屈折率を測定する方法などがある。   The refractive index of the organic component is the refractive index of the organic component in the paste at the time when the photosensitive component is exposed by exposure. That is, when the paste is applied and the exposure is performed after the drying process, this is the refractive index of the organic component in the paste after the drying process. For example, after apply | coating a paste on a glass substrate, there exists the method of drying at 50-100 degreeC for 1 to 30 minutes, and measuring a refractive index.

本発明における屈折率の測定は、一般的に行われるエリプソメトリー法やVブロック法が好ましく、測定は露光する光の波長で行うことが効果を確認する上で正確である。特に、350〜650nmの範囲中の波長の光で測定することが好ましい。さらには、i線(365nm)もしくはg線(436nm)での屈折率測定が好ましい。   The measurement of the refractive index in the present invention is preferably performed by an ellipsometry method or a V block method which are generally performed, and it is accurate to confirm the effect that the measurement is performed at the wavelength of light to be exposed. In particular, it is preferable to measure with light having a wavelength in the range of 350 to 650 nm. Furthermore, refractive index measurement with i-line (365 nm) or g-line (436 nm) is preferable.

また、有機成分が光照射によって重合した後の屈折率を測定するためには、ペースト中に対して光照射する場合と同様の光を有機成分のみに照射することによって測定できる。   Moreover, in order to measure the refractive index after an organic component superposes | polymerizes by light irradiation, it can measure by irradiating only the organic component with the same light as the case where light is irradiated with respect to the inside of a paste.

緩衝層用ペーストおよび隔壁用感光性ペーストは、通常、上記の無機および有機の各種成分を所定の組成となるように調合した後、3本ローラや混練機で均質に混合分散し作製する。   The buffer layer paste and the barrier rib photosensitive paste are usually prepared by mixing the above-described inorganic and organic components so as to have a predetermined composition, and then uniformly mixing and dispersing them with a three roller or kneader.

ペーストの粘度は無機微粒子、増粘剤、有機溶媒、可塑剤および沈殿防止剤などの添加割合によって適宜調整されるが、その範囲は2000〜20万cps(センチ・ポイズ)である。例えばガラス基板への塗布をスクリーン印刷法以外にスピンコート法で行う場合は、200〜5000cpsが好ましい。スクリーン印刷法で1回塗布して膜厚10〜20μmを得るには、4000〜20万cpsが好ましい。   The viscosity of the paste is appropriately adjusted depending on the addition ratio of inorganic fine particles, thickener, organic solvent, plasticizer, precipitation inhibitor, and the like, but the range is 2000 to 200,000 cps (centipoise). For example, when the application to the glass substrate is performed by a spin coating method other than the screen printing method, 200 to 5000 cps is preferable. In order to obtain a film thickness of 10 to 20 μm by applying it once by the screen printing method, 4000 to 200,000 cps is preferable.

所定厚みの隔壁用感光性ペースト塗布膜に高精細なパターンを露光し、高アスペクト比のパターンを解像度高く形成するためには、露光用の活性光線を塗布膜の最下部までできるだけ多く透過させることが必須である。   In order to expose a high-definition pattern on the photosensitive paste coating film for a predetermined thickness and to form a pattern with a high aspect ratio with high resolution, transmit as much actinic light for exposure as possible to the bottom of the coating film. Is essential.

具体的には、感光性ペーストは、50μm厚みの塗布膜で測定した全光線透過率が50%以上であることが好ましい。また、測定波長は、ペーストを塗布後、露光する光の波長で測定することが効果を確認する上で正確である。光線透過率は、島津製作所製の分光光度計(UV−3101PC)を用いて測定したものである。   Specifically, the photosensitive paste preferably has a total light transmittance of 50% or more measured with a 50 μm-thick coating film. In addition, the measurement wavelength is accurate in confirming the effect by measuring the wavelength of the light to be exposed after applying the paste. The light transmittance is measured using a spectrophotometer (UV-3101PC) manufactured by Shimadzu Corporation.

次に、緩衝層用ペーストおよび感光性ペーストを用いて、緩衝層上にパターン加工を行う一例について説明するが、本発明はこれに限定されない。   Next, an example in which pattern processing is performed on the buffer layer using the buffer layer paste and the photosensitive paste will be described, but the present invention is not limited thereto.

ガラス基板やセラミックスの基板上に、緩衝層用ペーストを5〜30μmの厚みで塗布する。塗布方法としては、スクリーン印刷、バーコーター、ロールコーター、ダイコーター、ブレードコーター等の方法を用いることができる。塗布厚みは、塗布回数、ペーストの粘度を選ぶことによって調整できる。   A buffer layer paste is applied to a thickness of 5 to 30 μm on a glass substrate or a ceramic substrate. As a coating method, methods such as screen printing, bar coater, roll coater, die coater, and blade coater can be used. The coating thickness can be adjusted by selecting the number of coatings and the viscosity of the paste.

ここでペーストを基板上に塗布する場合、基板と塗布膜との密着性を高めるために基板の表面処理を行うことができる。表面処理液としてはシランカップリング剤、例えばビニルトリクロロシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、トリス−(2−メトキシエトキシ)ビニルシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−(メタクリロキシプロピル)トリメトキシシラン、γ(2−アミノエチル)アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−クロロプロピルトリメトキシシラン、γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシランなどあるいは有機金属例えば有機チタン、有機アルミニウム、有機ジルコニウムなどである。シランカップリング剤あるいは有機金属を有機溶媒、例えばエチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、メチルアルコール、エチルアルコール、プロピルアルコール、ブチルアルコールなどで0.1〜5%の濃度に希釈したものを用いる。次にこの表面処理液をスピナーなどで基板上に均一に塗布した後に80〜140℃で10〜60分間乾燥することによって表面処理ができる。   Here, when the paste is applied onto the substrate, surface treatment of the substrate can be performed in order to improve the adhesion between the substrate and the coating film. As the surface treatment liquid, silane coupling agents such as vinyltrichlorosilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, tris- (2-methoxyethoxy) vinylsilane, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, γ- (methacryloxy) Propyl) trimethoxysilane, γ (2-aminoethyl) aminopropyltrimethoxysilane, γ-chloropropyltrimethoxysilane, γ-mercaptopropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyltriethoxysilane, or organic metals such as organic titanium, Organic aluminum, organic zirconium and the like. A silane coupling agent or an organic metal diluted with an organic solvent such as ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, methyl alcohol, ethyl alcohol, propyl alcohol, or butyl alcohol to a concentration of 0.1 to 5% is used. . Next, the surface treatment liquid can be applied to the substrate uniformly with a spinner or the like, and then dried at 80 to 140 ° C. for 10 to 60 minutes to carry out the surface treatment.

緩衝層用ペーストの塗布の後、ペースト中の溶媒を除去するため、乾燥を行う。この後、緩衝層ペースト塗布膜を焼成して得た緩衝層上に隔壁パターンを形成する場合と、焼成せずに塗布膜上に隔壁パターンを形成する2通りがある。前者の場合、焼成雰囲気や、温度はペーストや基板の種類によって異なるが、空気中、窒素、水素等の雰囲気中で焼成する。焼成炉としては、バッチ式の焼成炉やベルト式の連続型焼成炉を用いることができる。ガラス基板上の場合は、540〜610℃の温度で10〜60分間保持して焼成を行う。後者の場合、緩衝層用ペースト中に光もしくは熱重合性の成分が含まれる際は、光、または熱架橋により硬化し、感光性ペースト法による隔壁パターン形成の際の現像液による浸食を防ぐ。   After applying the buffer layer paste, drying is performed to remove the solvent in the paste. Thereafter, there are two cases where the partition pattern is formed on the buffer layer obtained by firing the buffer layer paste coating film, and the partition pattern is formed on the coating film without firing. In the former case, the firing atmosphere and temperature vary depending on the type of paste and substrate, but firing is performed in an atmosphere of air, nitrogen, hydrogen, or the like. As the firing furnace, a batch-type firing furnace or a belt-type continuous firing furnace can be used. When it is on a glass substrate, it is fired by holding at a temperature of 540 to 610 ° C. for 10 to 60 minutes. In the latter case, when the buffer layer paste contains a light or thermopolymerizable component, it is cured by light or thermal crosslinking to prevent erosion by the developer during formation of the partition pattern by the photosensitive paste method.

形成した緩衝層または緩衝層用ペースト塗布膜上に感光性ペーストを全面塗布、もしくは部分的に塗布する。塗布した後、露光装置を用いて露光を行う。露光は通常のフォトリソグラフィーで行われるように、フォトマスクを用いてマスク露光する方法が一般的である。用いるマスクは、感光性有機成分の種類によって、ネガ型もしくはポジ型のどちらかを選定する。また、フォトマスクを用いずに、赤色や青色のレーザー光などで直接描画する方法を用いても良い。   A photosensitive paste is applied over the entire surface or partially on the formed buffer layer or buffer layer paste coating film. After coating, exposure is performed using an exposure apparatus. In general, the exposure is performed by mask exposure using a photomask, as in normal photolithography. As the mask to be used, either a negative type or a positive type is selected depending on the type of the photosensitive organic component. Alternatively, a method of directly drawing with a red or blue laser beam or the like without using a photomask may be used.

露光装置としては、ステッパー露光機、プロキシミティ露光機等を用いることができる。また、大面積の露光を行う場合は、基板上に感光性ペーストを塗布した後に、搬送しながら露光を行うことによって、小さな露光面積の露光機で、大きな面積を露光することができる。   As the exposure apparatus, a stepper exposure machine, a proximity exposure machine or the like can be used. Moreover, when performing exposure of a large area, after apply | coating the photosensitive paste on a board | substrate and exposing while conveying, a large area can be exposed with the exposure machine of a small exposure area.

この際使用される活性光源は、たとえば、可視光線、近紫外線、紫外線、電子線、X線、レーザー光などが挙げられるが、これらの中で紫外線が好ましく、その光源としてはたとえば低圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、ハロゲンランプ、殺菌灯などが使用できる。これらのなかでも超高圧水銀灯が好適である。露光条件は塗布厚みによって異なるが、1〜100mW/cmの出力の超高圧水銀灯を用いて0.1〜30分間露光を行う。 Examples of the active light source used in this case include visible light, near ultraviolet light, ultraviolet light, electron beam, X-ray, and laser light. Among these, ultraviolet light is preferable. Mercury lamps, ultra-high pressure mercury lamps, halogen lamps, germicidal lamps, etc. can be used. Among these, an ultrahigh pressure mercury lamp is suitable. Although exposure conditions vary depending on the coating thickness, exposure is performed for 0.1 to 30 minutes using an ultrahigh pressure mercury lamp with an output of 1 to 100 mW / cm 2 .

塗布した感光性ペースト表面に酸素遮蔽膜を設けることによって、パターン形状を向上することができる。酸素遮蔽膜の一例としては、ポリビニルアルコール(PVA)やセルロースなどの膜、あるいは、ポリエステルなどのフィルムが上げられる。   The pattern shape can be improved by providing an oxygen shielding film on the surface of the coated photosensitive paste. As an example of the oxygen shielding film, a film such as polyvinyl alcohol (PVA) or cellulose, or a film such as polyester can be used.

PVA膜の形成方法は濃度が0.5〜5重量%の水溶液をスピナーなどの方法で基板上に均一に塗布した後に70〜90℃で10〜60分間乾燥することによって水分を蒸発させて行う。また水溶液中にアルコールを少量添加すると絶縁膜との塗れ性が良くなり蒸発が容易になるので好ましい。さらに好ましいPVAの溶液濃度は、1〜3重量%である。この範囲にあると感度が一層向上する。PVA塗布によって感度が向上するのは次の理由が推定される。すなわち感光性成分が光反応する際に、空気中の酸素があると光硬化の感度を妨害すると考えられるが、PVAの膜があると余分な酸素を遮断できるので露光時に感度が向上すると考えられる。   The PVA film is formed by uniformly applying an aqueous solution having a concentration of 0.5 to 5% by weight on a substrate by a method such as a spinner and then evaporating moisture by drying at 70 to 90 ° C. for 10 to 60 minutes. . In addition, it is preferable to add a small amount of alcohol to the aqueous solution because it improves the paintability with the insulating film and facilitates evaporation. A more preferable solution concentration of PVA is 1 to 3% by weight. Within this range, the sensitivity is further improved. The following reasons are presumed that the sensitivity is improved by application of PVA. That is, when the photosensitive component undergoes a photoreaction, if there is oxygen in the air, it is considered that the sensitivity of photocuring is disturbed, but if there is a PVA film, it is considered that the sensitivity can be improved during exposure because excess oxygen can be blocked. .

ポリエステルやポリプロピレン、ポリエチレン等の透明なフィルムを用いる場合は、塗布後の感光性ペーストの上に、これらのフィルムを張り付けて用いる方法もある。   When a transparent film such as polyester, polypropylene, or polyethylene is used, there is a method in which these films are pasted on the photosensitive paste after application.

露光後、感光部分と非感光部分の現像液に対する溶解度差を利用して、現像を行うが、この場合、浸漬法、シャワー法、スプレー法、ブラシ法で行う。用いる現像液は、感光性ペースト中の有機成分が溶解可能である有機溶媒を使用できる。また該有機溶媒にその溶解力が失われない範囲で水を添加してもよい。感光性ペースト中にカルボキシル基等の酸性基を持つ化合物が存在する場合、アルカリ水溶液で現像できる。アルカリ水溶液として水酸化ナトリウムや炭酸ナトリウム、水酸化カルシウム水溶液などのような金属アルカリ水溶液を使用できるが、有機アルカリ水溶液を用いた方が焼成時にアルカリ成分を除去しやすいので好ましい。   After exposure, development is performed using the difference in solubility between the photosensitive part and the non-photosensitive part in the developer. In this case, the immersion method, the shower method, the spray method, and the brush method are used. As the developer to be used, an organic solvent in which an organic component in the photosensitive paste can be dissolved can be used. Further, water may be added to the organic solvent as long as its dissolving power is not lost. When a compound having an acidic group such as a carboxyl group is present in the photosensitive paste, development can be performed with an aqueous alkaline solution. A metal alkali aqueous solution such as sodium hydroxide, sodium carbonate, calcium hydroxide aqueous solution or the like can be used as the alkali aqueous solution. However, it is preferable to use an organic alkali aqueous solution because an alkaline component can be easily removed during firing.

有機アルカリとしては、アミン化合物を用いることができる。具体的には、テトラメチルアンモニウムヒドロキサイド、トリメチルベンジルアンモニウムヒドロキサイド、モノエタノールアミン、ジエタノールアミンなどが挙げられる。アルカリ水溶液の濃度は通常0.01〜10重量%、より好ましくは0.1〜5重量%である。アルカリ濃度が低すぎると可溶部が除去されず、アルカリ濃度が高すぎると、パターン部を剥離させ、また非可溶部を腐食させるおそれがあり好ましくない。また、現像時の現像温度は、20〜50℃で行うことが工程管理上好ましい。   As the organic alkali, an amine compound can be used. Specific examples include tetramethylammonium hydroxide, trimethylbenzylammonium hydroxide, monoethanolamine, and diethanolamine. The concentration of the alkaline aqueous solution is usually 0.01 to 10% by weight, more preferably 0.1 to 5% by weight. If the alkali concentration is too low, the soluble portion is not removed, and if the alkali concentration is too high, the pattern portion may be peeled off and the non-soluble portion may be corroded. The development temperature during development is preferably 20 to 50 ° C. in terms of process control.

次に焼成炉にて焼成を行う。焼成雰囲気や、温度はペーストや基板の種類によって異なるが、空気中、窒素、水素等の雰囲気中で焼成する。焼成炉としては、バッチ式の焼成炉やベルト式の連続型焼成炉を用いることができる。   Next, firing is performed in a firing furnace. The firing atmosphere and temperature vary depending on the type of paste and substrate, but firing is performed in an atmosphere of air, nitrogen, hydrogen, or the like. As the firing furnace, a batch-type firing furnace or a belt-type continuous firing furnace can be used.

ガラス基板上にパターン加工する場合は、540〜610℃の温度で10〜60分間保持して焼成を行う。   In the case of patterning on a glass substrate, baking is performed by holding at a temperature of 540 to 610 ° C. for 10 to 60 minutes.

また、以上の塗布や露光、現像、焼成の各工程中に、乾燥、予備反応の目的で、50〜300℃加熱工程を導入しても良い。   Moreover, you may introduce | transduce a 50-300 degreeC heating process for the purpose of drying and a preliminary reaction in each process of the above application | coating, exposure, image development, and baking.

以下に、本発明を実施例を用いて、具体的に説明する。ただし、本発明はこれに限定はされない。なお、実施例、比較例中の濃度(%)は特にことわらない限り重量%である。   Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to examples. However, the present invention is not limited to this. The concentration (%) in Examples and Comparative Examples is% by weight unless otherwise specified.

実施例1
<有機成分の調製>以下に示す溶媒および下記のポリマをそれぞれ40%溶液となるように混合し、攪拌しながら60℃まで加熱し、すべてのポリマを均質に溶解させた。
Example 1
<Preparation of organic components> Solvents shown below and the following polymers were mixed to form a 40% solution and heated to 60 ° C. with stirring to dissolve all the polymers homogeneously.

溶媒:ガンマブチロラクトン
ポリマ:40%のメタアクリル酸(MAA)、30%のメチルメタアクリレート(MMA)および30%のスチレン(St)からなる共重合体のカルボキシル基に対して0.4当量のグリシジルメタアクリレート(GMA)を付加反応させた重量平均分子量43000、酸価95の感光性ポリマ。
Solvent: gamma butyrolactone polymer: 0.4 equivalents of glycidyl to the carboxyl group of the copolymer consisting of 40% methacrylic acid (MAA), 30% methyl methacrylate (MMA) and 30% styrene (St) A photosensitive polymer having a weight average molecular weight of 43,000 and an acid value of 95, obtained by addition reaction of methacrylate (GMA).

ついで溶液を室温まで冷却し、該ポリマ溶液に有機成分を構成する各成分を以下に示す割合で加えて溶解させた。その後、この溶液を400メッシュのフィルターを用いて濾過し、有機ビヒクルA1を作製した。   Next, the solution was cooled to room temperature, and each component constituting the organic component was added to the polymer solution at the ratio shown below and dissolved. Thereafter, this solution was filtered using a 400 mesh filter to produce an organic vehicle A1.

有機ビヒクルA1組成
有機染料:スダンIV(アゾ系有機染料、化学式C2420O、分子量380.45) 0.2重量%
上記ポリマ溶液:49.3重量%
モノマ:TPA330(日本化薬社製:トリメチロールプロパントリアクリレート・モディファイドPO) 19.7重量%
開始剤:イルガキュア907(チバガイギー社製:2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノプロパノン) 3.1重量%
増感剤:DETX−S(日本化薬社製:2,4−ジエチルチオキサントン) 3.1重量%
増感助剤:EPA(日本化薬社製:p−ジメチルアミノ安息香酸エチルエステル) 1.6重量%
可塑剤:ジブチルフタレート(DBP) 2.7重量%
増粘剤:SiO/酢酸2−(2−ブトキシエトキシ)エチル溶液(濃度15重量%) 6.3重量%
溶媒:ガンマブチロラクトン14.0重量%
得られた有機ビヒクル60gに対して下記に示すガラス粉末(1)を75g添加し、3本ローラーで均一に混練することによって隔壁用感光性ペーストを製造した。ガラス粉末は、あらかじめアトラクターにて微粉末にしたものを用いた。
Organic vehicle A1 composition Organic dye: Sudan IV (Azo-based organic dye, chemical formula C 24 H 20 N 4 O, molecular weight 380.45) 0.2% by weight
Polymer solution: 49.3 wt%
Monomer: TPA330 (Nippon Kayaku Co., Ltd .: trimethylolpropane triacrylate / modified PO) 19.7% by weight
Initiator: Irgacure 907 (manufactured by Ciba Geigy: 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholinopropanone) 3.1% by weight
Sensitizer: DETX-S (Nippon Kayaku Co., Ltd .: 2,4-diethylthioxanthone) 3.1% by weight
Sensitization aid: EPA (Nippon Kayaku Co., Ltd .: p-dimethylaminobenzoic acid ethyl ester) 1.6% by weight
Plasticizer: dibutyl phthalate (DBP) 2.7% by weight
Thickener: SiO 2 / 2- (2-butoxyethoxy) ethyl acetate solution (concentration 15 wt%) 6.3 wt%
Solvent: 14.0% by weight of gamma butyrolactone
75 g of the following glass powder (1) was added to 60 g of the obtained organic vehicle, and kneaded uniformly with three rollers to produce a photosensitive paste for partition walls. The glass powder used was finely powdered with an attractor in advance.

ガラス粉末(1)
組成LiO 9%、SiO 22%、B 33%、BaO 4%、Al 23%、ZnO 2%、MgO 7%。平均粒径2.6μmの非球状粉末。Tg(ガラス転移点) 480℃、Ts(軟化点) 520℃。熱膨張係数79×10−7/K。g線(436nm)での屈折率1.59。
Glass powder (1)
Composition Li 2 O 9%, SiO 2 22%, B 2 O 3 33%, BaO 4%, Al 2 O 3 23%, ZnO 2%, 7% MgO. Non-spherical powder with an average particle size of 2.6 μm. Tg (glass transition point) 480 ° C., Ts (softening point) 520 ° C. Thermal expansion coefficient 79 × 10 −7 / K. Refractive index 1.59 at g-line (436 nm).

次に背面板用ガラス基板として、サイズ240×300mm(A4サイズ)のガラス基板(旭硝子社製PD−200)を使用した。このガラス基板に、書き込み電極として感光性銀ペーストを用いてフォトリソ法により、ピッチ150μm、線幅60μm、焼成後厚み6μmおよびピッチ220μm、線幅80μm、焼成後厚み6μmの2種類のストライプ状電極を形成した。   Next, a glass substrate (PD-200 manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) having a size of 240 × 300 mm (A4 size) was used as the glass substrate for the back plate. Two kinds of stripe electrodes having a pitch of 150 μm, a line width of 60 μm, a thickness of 6 μm after firing, a pitch of 220 μm, a line width of 80 μm, and a thickness of 6 μm after firing are formed on this glass substrate by using a photosensitive silver paste as a writing electrode. Formed.

次に、以下に示す組成の有機ビヒクルA2をA1と同様の条件で作製し、A2を50gと下記に示すガラス粉末(2)を85gとを3本ローラーを用いて均一に混練し、緩衝層用ペーストを作製した。   Next, an organic vehicle A2 having the following composition was prepared under the same conditions as A1, and 50 g of A2 and 85 g of glass powder (2) shown below were uniformly kneaded using a three roller, and a buffer layer A paste was prepared.

有機ビヒクルA2組成
有機染料:スダンIV(アゾ系有機染料、化学式C2420O、分子量380.45) 0.2重量%
ポリマ溶液:A1と同一のポリマ溶液 52.5重量%
モノマ:TPA330(日本化薬社製:トリメチロールプロパントリアクリレート・モディファイドPO) 10.5重量%
開始剤:イルガキュア907(チバガイギー社製:2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノプロパノン) 4.0重量%
増感剤:DETX−S(日本化薬社製:2,4−ジエチルチオキサントン) 4.0重量%
増感助剤:EPA(日本化薬社製:p−ジメチルアミノ安息香酸エチルエステル) 2.0重量%
可塑剤:ジブチルフタレート(DBP) 3.5重量%
増粘剤:SiO2/酢酸2−(2−ブトキシエトキシ)エチル溶液(濃度15重量%) 8.3重量%
溶媒:ガンマブチロラクトン 15.0重量%
ガラス粉末(2)
組成Bi 27%、SiO 14%、B 18%、BaO 14%、Al 4%、ZnO 21%、NaO 2%。平均粒径3.4μmの非球状粉末。Tg 486℃、Ts 531℃。熱膨張係数75×10−7/K。g線(436nm)での屈折率1.75。
Organic vehicle A2 composition Organic dye: Sudan IV (azo organic dye, chemical formula C 24 H 20 N 4 O, molecular weight 380.45) 0.2% by weight
Polymer solution: 52.5% by weight of the same polymer solution as A1
Monomer: TPA330 (Nippon Kayaku Co., Ltd .: trimethylolpropane triacrylate modified PO) 10.5% by weight
Initiator: Irgacure 907 (manufactured by Ciba Geigy: 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholinopropanone) 4.0% by weight
Sensitizer: DETX-S (Nippon Kayaku Co., Ltd .: 2,4-diethylthioxanthone) 4.0% by weight
Sensitization aid: EPA (Nippon Kayaku Co., Ltd .: p-dimethylaminobenzoic acid ethyl ester) 2.0% by weight
Plasticizer: Dibutyl phthalate (DBP) 3.5% by weight
Thickener: SiO 2 / 2- (2-butoxyethoxy) ethyl acetate solution (concentration 15% by weight) 8.3% by weight
Solvent: 15.0% by weight gamma butyrolactone
Glass powder (2)
Composition Bi 2 O 3 27%, SiO 2 14%, B 2 O 3 18%, BaO 14%, Al 2 O 3 4%, ZnO 21%, Na 2 O 2%. Non-spherical powder with an average particle size of 3.4 μm. Tg 486 ° C, Ts 531 ° C. Coefficient of thermal expansion 75 × 10 −7 / K. Refractive index 1.75 at g-line (436 nm).

得られた緩衝層用ペーストを325メッシュのスクリーンを用いてスクリーン印刷による塗布、乾燥を行い、乾燥後厚み20μmの均一な膜を得た。塗布厚みはスキージ角度と速度によって調整した。このようにして得た緩衝層用ペースト塗布膜に、上面から15mW/cm出力の超高圧水銀灯で全面紫外線露光し、光硬化を行った。露光量は1000mJ/cmであった。 The obtained buffer layer paste was applied by screen printing using a 325 mesh screen and dried, and after drying, a uniform film having a thickness of 20 μm was obtained. The coating thickness was adjusted by the squeegee angle and speed. The buffer layer paste coating film thus obtained was exposed to ultraviolet light with an ultrahigh pressure mercury lamp having an output of 15 mW / cm 2 from the upper surface, and photocured. The exposure amount was 1000 mJ / cm 2 .

次に、光硬化した膜上に隔壁用感光性ペーストを上記の緩衝層用ペースト塗布と同じ方法で塗布、乾燥を繰り返し塗布厚み200μmの膜を形成した。その後、80℃で1時間保持して乾燥した。 Next, on the photocured film, the barrier rib photosensitive paste was applied and dried by the same method as the buffer layer paste application to form a film having a coating thickness of 200 μm. Then, it hold | maintained at 80 degreeC for 1 hour, and dried.

続いて、フォトマスクを介して上面から15mW/cm出力の超高圧水銀灯で紫外線露光した。露光量は10000mJ/cmであった。マスクは次のものを用いた。 Subsequently, the film was exposed to ultraviolet rays with a super high pressure mercury lamp having an output of 15 mW / cm 2 from the upper surface through a photomask. The exposure amount was 10,000 mJ / cm 2 . The following mask was used.

ピッチ220μm、線幅50μmのストライプパターンのネガ型のクロムマスク(厚み200μmの塗布膜に用いた)。   A negative chrome mask having a stripe pattern with a pitch of 220 μm and a line width of 50 μm (used for a coating film having a thickness of 200 μm).

次に、35℃に保持したモノエタノールアミンの0.2重量%の水溶液を150秒間シャワーすることにより現像し、その後シャワースプレーを用いて水洗浄し、光硬化していないスペース部分を除去して設けたガラス基板上にストライプ状の隔壁を形成した。   Next, a 0.2% by weight aqueous solution of monoethanolamine maintained at 35 ° C. was developed by showering for 150 seconds, and then washed with water using a shower spray to remove the uncured space portion. Striped partition walls were formed on the provided glass substrate.

このようにして得た基板を、空気中で570℃で30分間焼成を行い、緩衝層および隔壁を形成した。走査型電子顕微鏡を用いた基板の断面観察によって、隔壁高さ、上面幅、半値幅、下面幅、緩衝層厚みを測定し、3サンプルの平均値を算出した。また焼成後の隔壁の断線、剥がれ、倒れの有無を評価した。断線、剥がれ、倒れの欠陥ない場合は○とし、該欠陥がある場合は全隔壁の本数に対する欠陥のある隔壁の本数の割合を%で示した。結果を表1に示す。   The substrate thus obtained was baked in air at 570 ° C. for 30 minutes to form a buffer layer and partition walls. The partition wall height, top surface width, half width, bottom surface width, and buffer layer thickness were measured by cross-sectional observation of the substrate using a scanning electron microscope, and the average value of three samples was calculated. Moreover, the presence or absence of the disconnection of the partition after baking, peeling, and the fall was evaluated. When there was no defect of disconnection, peeling, or falling, it was marked with ◯, and when there was the defect, the ratio of the number of defective partition walls to the total number of partition walls was expressed in%. The results are shown in Table 1.

隔壁を形成した背面板の隔壁内の所定の溝にスクリーン印刷法を用いて、蛍光体層を形成した。すなわち、赤(R)を形成する場合、Rの感光性蛍光体ペーストを用いて、位置あわせを行い印刷する。緑(G)、青(B)に関しても同様の操作を行った後、焼成(500℃、30分)を行い、3色の蛍光体を所定の位置に形成した。   A phosphor layer was formed in a predetermined groove in the partition wall of the back plate on which the partition wall was formed by screen printing. That is, when forming red (R), alignment is performed using the photosensitive phosphor paste of R, and printing is performed. The same operation was performed for green (G) and blue (B), followed by firing (500 ° C., 30 minutes) to form three-color phosphors at predetermined positions.

前面板は以下の工程によって作製した。先ず、ガラス基板上に、ITOをスパッタ法で形成後、レジスト塗布し、露光・現像処理、エッチング処理によって焼成厚み0.1μm、線幅200μmの透明電極を形成した。また、黒色銀粉末からなる感光性銀ペーストを用いて、フォトリソ法により、焼成後厚み10μmのバス電極を形成した。電極はピッチ220μm、線幅80μmのものを作製した。   The front plate was produced by the following process. First, ITO was formed on a glass substrate by a sputtering method, a resist was applied, and a transparent electrode having a fired thickness of 0.1 μm and a line width of 200 μm was formed by exposure / development processing and etching processing. Also, a bus electrode having a thickness of 10 μm after firing was formed by photolithography using a photosensitive silver paste made of black silver powder. Electrodes with a pitch of 220 μm and a line width of 80 μm were produced.

さらに、電極形成した前面板上に透明誘電体ペーストを20μm塗布し、430℃で20分間保持して焼き付けた。次に、形成した透明電極、黒色電極、誘電体層を一様に被覆するように電子ビーム蒸着機を用いて、厚みは0.5μmのMgO膜を形成して前面板を完成させた。   Furthermore, 20 μm of a transparent dielectric paste was applied on the electrode-formed front plate, and baked by holding at 430 ° C. for 20 minutes. Next, an MgO film having a thickness of 0.5 μm was formed using an electron beam vapor deposition device so as to uniformly cover the formed transparent electrode, black electrode, and dielectric layer, thereby completing the front plate.

次に、前面板および背面板用ガラス基板にシール剤となる低融点ガラスペーストを設け、所定の配置になるよう位置合わせして対向配置し、450℃、30分間処理してガラス基板を封止した。その後、表示領域内内部の排気およびHe 99%、Xe 1%の混合ガスの封入を行ってプラズマディスプレイパネルを完成させた。このパネルに電圧を印加して表示を行った。全面点灯時の輝度を大塚電子社製の側光機MCPD−200を用いて測定した。   Next, a low melting point glass paste as a sealant is provided on the glass substrate for the front plate and the back plate, aligned to face each other in a predetermined arrangement, and processed at 450 ° C. for 30 minutes to seal the glass substrate. did. Thereafter, the plasma display panel was completed by exhausting the inside of the display region and enclosing a mixed gas of He 99% and Xe 1%. A voltage was applied to this panel for display. The brightness when the entire surface was turned on was measured using a side light machine MCPD-200 manufactured by Otsuka Electronics.

隔壁の剥がれによる蛍光体の混色、誤放電等の欠点はなく、表示は良好であった。輝度は150cd/mであった。 実施例2
隔壁用のガラス粉末を下記の(3)に変更した以外は実施例1と同様にPDPを作製、評価した。結果を表1に示す。
There were no defects such as color mixing of phosphors due to separation of the barrier ribs and erroneous discharge, and the display was good. The luminance was 150 cd / m 2 . Example 2
A PDP was prepared and evaluated in the same manner as in Example 1 except that the glass powder for the partition walls was changed to the following (3). The results are shown in Table 1.

ガラス粉末(3)
組成LiO 7%、SiO 23%、B 33%、BaO 4%、CaO 4%、Al 19%、MgO 6%、ZnO 3%、ZrO 1%。平均粒径2.6μmの非球状粉末。Tg 485℃、Ts 525℃。熱膨張係数75×10−7/K。g線(436nm)での屈折率1.58。
Glass powder (3)
Composition Li 2 O 7%, SiO 2 23%, B 2 O 3 33%, BaO 4%, CaO 4%, Al 2 O 3 19%, 6% MgO, ZnO 3%, ZrO 2 1%. Non-spherical powder with an average particle size of 2.6 μm. Tg 485 ° C, Ts 525 ° C. Coefficient of thermal expansion 75 × 10 −7 / K. Refractive index at g-line (436 nm) of 1.58.

隔壁の剥がれによる蛍光体の混色、誤放電等の欠点はなく、表示は良好であった。輝度は150cd/mであった。 There were no defects such as color mixing of phosphors due to separation of the barrier ribs and erroneous discharge, and the display was good. The luminance was 150 cd / m 2 .

実施例3
隔壁用の有機ビヒクルを下記のA3に変更し、該隔壁用感光性ペースト塗布膜への露光量を1J/cmとした以外は実施例1と同様にPDPを作製、評価した。結果を表1に示す。
Example 3
A PDP was prepared and evaluated in the same manner as in Example 1 except that the organic vehicle for the partition wall was changed to A3 below and the exposure amount to the photosensitive paste coating film for the partition wall was 1 J / cm 2 . The results are shown in Table 1.

有機ビヒクルA3組成
有機染料:スダンIV(アゾ系有機染料、化学式C2420O、分子量380.45) 0.2重量%
ポリマ溶液:A1と同一のポリマ溶液 53.5重量%
モノマ:MGP−400:N,N,N’,N’−テトラ(2−ヒドロキシー3−メタクリロキシプロピル)ポリオキシプロピレンジアミン 20.0重量%
開始剤:イルガキュア369(チバガイギー社製:2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−4’−モルフォリノブチロフェノン) 7.0重量%
増感剤:DETX−S(日本化薬社製:2,4−ジエチルチオキサントン) 7.0重量%
可塑剤:ジブチルフタレート(DBP) 2.3重量%
溶媒:ガンマブチロラクトン 10.0重量%
隔壁の剥がれによる蛍光体の混色、誤放電等の欠点はなく、表示は良好であった。輝度は150cd/mであった。
Organic vehicle A3 composition Organic dye: Sudan IV (azo organic dye, chemical formula C 24 H 20 N 4 O, molecular weight 380.45) 0.2% by weight
Polymer solution: 53.5% by weight of the same polymer solution as A1
Monomer: MGP-400: N, N, N ′, N′-tetra (2-hydroxy-3-methacryloxypropyl) polyoxypropylenediamine 20.0% by weight
Initiator: Irgacure 369 (manufactured by Ciba-Geigy: 2-benzyl-2-dimethylamino-4′-morpholinotylophenone) 7.0% by weight
Sensitizer: DETX-S (Nippon Kayaku Co., Ltd .: 2,4-diethylthioxanthone) 7.0% by weight
Plasticizer: Dibutyl phthalate (DBP) 2.3 wt%
Solvent: gamma butyrolactone 10.0% by weight
There were no defects such as color mixing of phosphors due to separation of the barrier ribs and erroneous discharge, and the display was good. The luminance was 150 cd / m 2 .

実施例4
緩衝層用ペーストのガラス粉末を以下に示すガラス粉末(4)に変更した以外は実施例3と同様にPDPを作製、評価した。結果を表1に示す。
Example 4
A PDP was produced and evaluated in the same manner as in Example 3 except that the glass powder of the buffer layer paste was changed to the glass powder (4) shown below. The results are shown in Table 1.

ガラス粉末(4)
組成Bi 38%、SiO 7%、B 19%、BaO 12%、Al 3%、ZnO 21%、Tg 476℃、Ts 525℃、熱膨張係数75×10−7/K。
Glass powder (4)
Composition Bi 2 O 3 38%, SiO 2 7%, B 2 O 3 19%, BaO 12%, Al 2 O 3 3%, ZnO 21%, Tg 476 ° C., Ts 525 ° C., coefficient of thermal expansion 75 × 10 − 7 / K.

隔壁の剥がれによる蛍光体の混色、誤放電等の欠点はなく、表示は良好であった。輝度は150cd/mであった。 There were no defects such as color mixing of phosphors due to separation of the barrier ribs and erroneous discharge, and the display was good. The luminance was 150 cd / m 2 .

実施例5
隔壁用のガラス粉末をガラス粉末(3)に変更した以外は実施例4と同様にPDPを作製、評価した。結果を表1に示す。隔壁の剥がれによる蛍光体の混色、誤放電等の欠点はなく、表示は良好であった。輝度は150cd/mであった。
Example 5
A PDP was prepared and evaluated in the same manner as in Example 4 except that the glass powder for partition walls was changed to glass powder (3). The results are shown in Table 1. There were no defects such as color mixing of phosphors due to separation of the barrier ribs and erroneous discharge, and the display was good. The luminance was 150 cd / m 2 .

参考例1
緩衝層用の有機ビヒクルの組成を以下に示すA4に変更し、該緩衝層ペーストの塗布膜への全面紫外線露光を行わなかった以外は、実施例1と同様にしてPDPを作製、評価した。結果を表1に示す。
Reference example 1
A PDP was prepared and evaluated in the same manner as in Example 1 except that the composition of the organic vehicle for the buffer layer was changed to A4 shown below and the entire surface of the coating film of the buffer layer paste was not exposed to ultraviolet rays. The results are shown in Table 1.

有機ビヒクルA4組成
ポリマ溶液:ポリビニルブチラール(非感光ポリマ重量平均分子量114000)/イソブタノール溶液(濃度20重量%) 94.6重量%
可塑剤:ジブチルフタレート(DBP) 1.6重量%
増粘剤:SiO/酢酸2−(2−ブトキシエトキシ)エチル溶液(濃度15重量%) 3.8重量%
隔壁の剥がれによる蛍光体の混色、誤放電等の欠点はなく、表示は良好であった。輝度は150cd/mであった。
Organic vehicle A4 composition polymer solution: polyvinyl butyral (non-photosensitive polymer weight average molecular weight 114000) / isobutanol solution (concentration 20% by weight) 94.6% by weight
Plasticizer: 1.6% by weight of dibutyl phthalate (DBP)
Thickener: SiO 2 / 2- (2-butoxyethoxy) ethyl acetate solution (concentration 15% by weight) 3.8% by weight
There were no defects such as color mixing of phosphors due to separation of the barrier ribs and erroneous discharge, and the display was good. The luminance was 150 cd / m 2 .

参考例2
緩衝層用ペーストを以下の組成とし、該緩衝層ペーストを塗布して得た厚み25μmの塗布膜を、空気中で560℃で30分間焼成を行って緩衝層を形成した。
Reference example 2
A buffer layer paste having the following composition was applied, and a coating film having a thickness of 25 μm obtained by applying the buffer layer paste was baked in air at 560 ° C. for 30 minutes to form a buffer layer.

ガラス粉末(4) 50.0重量%
白色顔料:TiO(石原産業(株)製:TR−50) 5.0重量%
ポリマ溶液:エチルセルロース/テルピネオール溶液(濃度50重量%) 20.0重量%
増粘剤:SiO/酢酸2−(2−ブトキシエトキシ)エチル溶液(濃度15重量%) 5.0重量%
次に、得られた緩衝層上に以下の組成有機ビヒクルA5を80gとガラス粉末(3)70gからなる隔壁用感光性ペーストを用いて隔壁パターンを形成した。パターン形成時の露光量は400mJ/cmであった。
Glass powder (4) 50.0% by weight
White pigment: TiO 2 (Ishihara Sangyo Co., Ltd.: TR-50) 5.0 wt%
Polymer solution: ethylcellulose / terpineol solution (concentration 50% by weight) 20.0% by weight
Thickener: SiO 2 / 2- (2-butoxyethoxy) ethyl acetate solution (concentration 15% by weight) 5.0% by weight
Next, a barrier rib pattern was formed on the obtained buffer layer using a photosensitive paste for barrier ribs composed of 80 g of the following composition organic vehicle A5 and 70 g of glass powder (3). The exposure amount at the time of pattern formation was 400 mJ / cm 2 .

有機ビヒクルA5組成
紫外線吸収剤1:ユビナール3039(BASF社製:2−エチルヘキシル−2−シアノ−3,3−ジフェニルアクリレート) 3.1重量%
紫外線吸収剤2:ベーシックブルー7 0.02重量%
紫外線吸収剤3:1,2,3−ベンゾトリアゾール 3.9重量%
ポリマ溶液:実施例1と同一のポリマ溶液 46.8重量%
モノマー:MGP400:N,N,N’,N’−テトラ(2−ヒドロキシ−3−メタクリロキシプロピル)ポリオキシプロピレンジアミン 18.7重量%
開始剤:イルガキュア369(チバガイギー社製:2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−4’−モルフォリノブチロフェノン) 7.5重量%
増感剤:DETX−S(日本化薬社製:2,4−ジエチルチオキサントン) 0.7重量%
重合禁止剤:ヒドロキノンモノメチルエーテル 7.5重量%
可塑剤:ジブチルフタレート(DBP) 1.8重量%
溶媒:ガンマブチロラクトン 9.98重量%
その他は実施例1と同様にしてPDPを作製、評価した。結果を表1に示す。隔壁の剥がれによる蛍光体の混色、誤放電等の欠点はなく、表示は良好であった。輝度は180cd/mであった。
Organic vehicle A5 composition UV absorber 1: Ubinal 3039 (manufactured by BASF: 2-ethylhexyl-2-cyano-3,3-diphenyl acrylate) 3.1% by weight
Ultraviolet absorber 2: Basic blue 7 0.02% by weight
UV absorber 3: 1,2,3-benzotriazole 3.9% by weight
Polymer solution: 46.8% by weight of the same polymer solution as in Example 1
Monomer: MGP400: N, N, N ′, N′-tetra (2-hydroxy-3-methacryloxypropyl) polyoxypropylenediamine 18.7% by weight
Initiator: Irgacure 369 (manufactured by Ciba-Geigy: 2-benzyl-2-dimethylamino-4′-morpholinobyllophenone) 7.5% by weight
Sensitizer: DETX-S (Nippon Kayaku Co., Ltd .: 2,4-diethylthioxanthone) 0.7% by weight
Polymerization inhibitor: Hydroquinone monomethyl ether 7.5% by weight
Plasticizer: 1.8% by weight of dibutyl phthalate (DBP)
Solvent: 9.98 wt% gamma butyrolactone
Others were produced and evaluated in the same manner as in Example 1. The results are shown in Table 1. There were no defects such as color mixing of phosphors due to separation of the barrier ribs and erroneous discharge, and the display was good. The luminance was 180 cd / m 2 .

参考例3
緩衝層ペーストの塗布厚みを15μmとした以外は参考例2と同様にしてPDPを作製、評価した。結果を表1に示す。隔壁の剥がれによる蛍光体の混色、誤放電等の欠点はなく、表示は良好であった。輝度は180cd/mであった。
Reference example 3
A PDP was prepared and evaluated in the same manner as in Reference Example 2 except that the application thickness of the buffer layer paste was 15 μm. The results are shown in Table 1. There were no defects such as color mixing of phosphors due to separation of the barrier ribs and erroneous discharge, and the display was good. The luminance was 180 cd / m 2 .

比較例
緩衝層なしで隔壁を形成した以外は実施例1と同様にしてPDPの作製、評価した。結果を表1に示す。隔壁の剥がれによる蛍光体の混色、誤放電等の欠陥が多数あった。輝度は130cd/mであった。
Comparative Example 1
A PDP was prepared and evaluated in the same manner as in Example 1 except that the partition walls were formed without the buffer layer. The results are shown in Table 1. There were many defects such as phosphor color mixing and false discharge due to the separation of the barrier ribs. The luminance was 130 cd / m 2 .

Figure 0004578489
Figure 0004578489

本発明のPDPの構造を示すPDP断面図である。It is PDP sectional drawing which shows the structure of PDP of this invention. 従来のAC型PDPの構造を示すPDP断面図である。It is PDP sectional drawing which shows the structure of the conventional AC type PDP. 従来のスクリーン印刷法によって作製した隔壁の断面図である。It is sectional drawing of the partition produced by the conventional screen printing method. 本発明の隔壁形状を示す隔壁断面図である。It is a partition sectional drawing which shows the partition shape of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1:前面ガラス基板
2:透明誘電体層
3:保護層
4:透明電極
5:バス電極
6:隔壁
7:蛍光体層
8:書き込み電極
9:背面ガラス基板
10:緩衝層
1: Front glass substrate 2: Transparent dielectric layer 3: Protective layer 4: Transparent electrode 5: Bus electrode 6: Partition wall 7: Phosphor layer 8: Write electrode 9: Back glass substrate 10: Buffer layer

Claims (8)

書き込み電極、前記書き込み電極を覆う緩衝層、及び前記緩衝層上に設けた隔壁を有するプラズマディスプレイパネル背面板の製造方法であって、基板上に無機粉末、ならびに感光性成分、およびアゾ系染料、アミノケトン系染料、キサンテン系染料、キノリン系染料、アントラキノン系化合物、ベンゾフェノン系化合物、ジフェニルシアノアクリレート系化合物、トリアジン系化合物およびp−アミノ安息香酸系染料から選ばれる紫外線吸収剤を含む有機成分を含有する緩衝層用ペーストを塗布、乾燥後、全面紫外線露光し、光硬化した緩衝層用ペースト塗布膜上に主としてガラス微粉末からなる無機粉末と感光性を持つ有機成分からなる感光性ペーストを塗布、乾燥して得た塗布膜を紫外線を用いて上方よりマスク露光し、非硬化部分を現像によって除去して隔壁パターンを形成し、その後焼成して上面幅(Lt)30〜60μm、ピッチ(P)160〜220μm、高さ(H)100〜170μmの隔壁を形成することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの製造方法。 Write electrode, the write electrode covering the buffer layer, and the method of manufacturing a plasma display panel backplate having a partition wall provided on the buffer layer, an inorganic powder on the substrate, and the photosensitive component and azo dyes, aminoketone dyes, xanthene dyes, quinoline dyes, a Ntorakinon compounds, benzophenone compounds, containing an organic component comprising diphenyl cyanoacrylate compounds, an ultraviolet absorbing agent selected from a triazine based compound and p- aminobenzoic acid dyes After applying and drying the buffer layer paste, the entire surface is exposed to ultraviolet light, and a light-cured buffer layer paste coating film is coated with an inorganic powder mainly composed of glass fine powder and a photosensitive paste composed of photosensitive organic components, The coating film obtained after drying is exposed to mask from above using ultraviolet rays, and the uncured part is removed. Forming a barrier rib pattern is removed by the image, then fired top width (Lt) 30 to 60 m, the pitch (P) 160~220μm, and forming a partition wall height (H) 100~170μm A method for manufacturing a plasma display panel. 前記緩衝層用ペーストに含まれる紫外線吸収剤がアゾ系染料である請求項1に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法。   The method for producing a plasma display panel according to claim 1, wherein the ultraviolet absorber contained in the buffer layer paste is an azo dye. 前記感光性ペーストがアゾ系染料、アミノケトン系染料、キサンテン系染料、キノリン系染料、アミノケトン系染料、アントラキノン系化合物、ベンゾフェノン系化合物、ジフェニルシアノアクリレート系化合物、トリアジン系化合物およびp−アミノ安息香酸系染料から選ばれる紫外線吸収剤を含む請求項1または2に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法。   The photosensitive paste is an azo dye, aminoketone dye, xanthene dye, quinoline dye, aminoketone dye, anthraquinone compound, benzophenone compound, diphenylcyanoacrylate compound, triazine compound, and p-aminobenzoic acid dye. The manufacturing method of the plasma display panel of Claim 1 or 2 containing the ultraviolet absorber chosen from these. 前記隔壁の上面幅(Lt)、半値幅(Lh)、下面幅(Lb)の比が下記に示される範囲にあることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のプラズマディスプレイの製造方法。
Lt/Lh=0.65〜1
Lb/Lh=1〜2
ただし、Lt=Lh=Lbの場合をのぞく。
Top width of the barrier rib (Lt), the half-value width (Lh), the production of plasma display according to claim 1, the ratio of the bottom surface width (Lb) is equal to or in the range indicated below Method.
Lt / Lh = 0.65-1
Lb / Lh = 1-2
However, the case where Lt = Lh = Lb is excluded.
前記緩衝層の厚みが、3〜20μmであることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法。 The method for manufacturing a plasma display panel according to claim 1, wherein the buffer layer has a thickness of 3 to 20 μm. 前記緩衝層が、50〜400℃の熱膨張係数α50400が70〜85×10-7/Kのガラスからなることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法。 The plasma display panel according to claim 1, wherein the buffer layer is made of glass having a thermal expansion coefficient α 50 to 400 of 50 to 400 ° C. and 70 to 85 × 10 −7 / K. Manufacturing method. 前記緩衝層が、Tg(ガラス転移点)が430〜500℃、Ts(軟化点)が470〜580℃のガラスからなることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法。 The plasma display panel according to claim 1, wherein the buffer layer is made of glass having a Tg (glass transition point) of 430 to 500 ° C. and a Ts (softening point) of 470 to 580 ° C. Manufacturing method. 前記緩衝層が、酸化ビスマスを10〜60重量%含むガラスからなることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載のプラズマディスプレイの製造方法。 The method for manufacturing a plasma display according to any one of claims 1 to 7, wherein the buffer layer is made of glass containing 10 to 60% by weight of bismuth oxide.
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