Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP4574240B2 - 加工装置、加工方法、デバイス製造方法 - Google Patents

加工装置、加工方法、デバイス製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4574240B2
JP4574240B2 JP2004173317A JP2004173317A JP4574240B2 JP 4574240 B2 JP4574240 B2 JP 4574240B2 JP 2004173317 A JP2004173317 A JP 2004173317A JP 2004173317 A JP2004173317 A JP 2004173317A JP 4574240 B2 JP4574240 B2 JP 4574240B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mold
resist
chuck
light
wafer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2004173317A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005353858A5 (ja
JP2005353858A (ja
Inventor
英悟 川上
裕久 太田
卓 中村
和之 春見
俊伸 時田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2004173317A priority Critical patent/JP4574240B2/ja
Priority to EP05012232A priority patent/EP1605308B1/en
Priority to DE602005024340T priority patent/DE602005024340D1/de
Priority to US11/149,046 priority patent/US7789647B2/en
Publication of JP2005353858A publication Critical patent/JP2005353858A/ja
Publication of JP2005353858A5 publication Critical patent/JP2005353858A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4574240B2 publication Critical patent/JP4574240B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0002Lithographic processes using patterning methods other than those involving the exposure to radiation, e.g. by stamping
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Shaping Of Tube Ends By Bending Or Straightening (AREA)

Description

本発明は、一般には、加工装置及び方法に係り、特に、原版となるモールドのパターンをウェハ等の基板へ転写する加工装置及び方法に関する。本発明は、特に、半導体やMEMS(Micro Electro−Mechanical Systems)などを製造する微細加工のために、ナノインプリント技術を利用する加工装置に好適である。
紫外線やX線、あるいは、電子ビームによるフォトリソグラフィーを用いた半導体デバイスへの微細パターンの形成方法に代わる技術としてナノインプリントが既に知られている。ナノインプリントは、電子ビーム露光等によって、微細なパターンを形成した雛型(モールド)を、樹脂材料(レジスト)を塗布したウェハ等の基板に押し付ける(押印する)ことによって、レジスト上にパターンを転写する技術である。
ナノインプリントには幾つかの種類があり、その一方法として光硬化法が従来から提案されている(例えば、非特許文献1を参照のこと)。光硬化法は、紫外線硬化型の樹脂をレジストに透明なモールドで押し付けた状態で感光、硬化させてからモールドを剥離する方法である。
図14は、従来のモールドM、モールドチャック11、モールドチャックステージ12の関係を示す断面図である。表面に凹凸のパターンPを有するモールドMは図示しない機械的手段によって、モールドチャック11に固定される。モールドチャック11は同じく図示しない機械的手段によって、モールドチャックステージ12に載置される。モールドチャック11及びモールドチャックステージ12には図示しない光源から照射される紫外光をモールドMへと通過させる開口11H及び12Hをそれぞれ有する。また、モールドチャック11又はモールドチャックステージ12には力検出手段としての図示しない複数の荷重センサが取り付けられている。
モールドMは、モールドチャックステージ12及びモールドチャック11を介して図示しないレジストに押し付けられる。押し付け時には、荷重センサの出力に応じて、モールドチャックステージ12によりモールドチャック11の傾きを変え、図示しないサーボモータによりモールドMの押し付け状態の調整を行う。その後、紫外光が開口11H及び12Hを介してモールドMに照射される。
M. Colburn et al., "Step and Flash Imprint Lithography: A New Approach to High−Resolution Patterning", Proceedings of the SPIE’s 24th International Symposium on Microlithography: Emerging Lithographic Technologies III, Santa Clara, CA, Vol. 3676, Part One, pp. 379−389, March 1999
図14に示すように、従来のモールドチャック11は、モールドMの周囲からモールドMに押し付け力を加えており、中央部には紫外光を照射するための開口11Hを設けている。このため、押し付け時に、開口11Hに対応するモールドMの裏面に撓みが生じ、モールドM表面のパターンの転写精度を低下させるという問題があった。これはモールドMを大型化して装置のスループットを上げようとした場合、モールドチャック11の開口11Hも大きくなるために顕著になる問題である。また、荷重センサだけでは、レジストに対するモールドの押し付け状態を正確に把握できず、結果としてパターンの転写精度を向上させられないという問題があった。更には、モールドとウェハに温度差があった場合、モールドの押し付けによりウェハに局所的な熱歪みが発生し、転写精度を低下させるという問題もあった。
そこで、本発明は、パターンの転写精度を確保する加工装置及び方法を提供することを例示的目的とする。
本発明の一側面としての加工装置は、凹凸のパターンを形成したモールドを基板上のレジストに押し付けると共に前記モールドを介して前記レジストを感光させる第1の光を前記レジストに照射することによって前記レジストにパターンを転写する加工装置であって、前記モールドを保持するモールドチャックと、前記モールドチャックを通じて前記レジストが感光しない波長を有する第2の光を前記モールドに照射する光学系と、前記モールドに照射した前記第2の光の反射光を受光する撮像手段と、を有し、前記モールドチャックは、前記第1、第2の光が通過する貫通孔と、前記貫通孔に対して流体を供給可能な供給経路とを有し、前記貫通孔を塞ぐ光透過性のある隔壁と保持した前記モールドとの間で流体を供給可能な閉空間を形成しており、前記撮像手段により出力される前記モールドと前記レジストとの押し付け状態の情報に基づいて、前記モールドと前記レジストとの押し付け状態を調節するために前記閉空間の圧力を調整する流体の供給量を制御する制御部と、を有することを特徴とする。
本発明の別の一側面としての加工方法は、凹凸のパターンを形成したモールドを基板上のレジストに押し付けると共に前記モールドを介して前記レジストを感光させる第1の光を前記レジストに照射することによって前記レジストにパターンを転写する加工方法であって、前記モールドを、モールドチャックを介して前記基板上の前記レジストに押し付けるステップと、前記モールドチャックを通じて前記レジストが感光しない波長を有する第2の光を前記モールドに照射するステップと、撮像手段により前記モールドに照射した前記第2の光の反射光を受光するステップと、を有し、前記モールドチャックは、前記第1、第2の光が通過する貫通孔と、前記貫通孔に対して流体を供給可能な供給経路とを有し、前記貫通孔を塞ぐ光透過性のある隔壁と保持した前記モールドとの間で流体を供給可能な閉空間を形成しており、前記撮像手段により出力される前記モールドと前記レジストとの押し付け状態の情報に基づいて、前記モールドと前記レジストとの押し付け状態を調節するために前記閉空間の圧力を調整する流体の供給量を制御するステップと、を有することを特徴とする。
また、本発明の更に別の側面としてのデバイス製造方法は、上述の加工装置を用いてパターンを基板上のレジストに転写するステップと、前記基板にエッチングを行うステップとを有することを特徴とする。上述の加工装置の作用と同様の作用を奏するデバイス製造方法の請求項は、中間及び最終結果物であるデバイス自体にもその効力が及ぶ。また、かかるデバイスは、LSIやVLSIなどの半導体チップ、CCD、LCD、磁気センサ、薄膜磁気ヘッドなどを含む。
本発明の更なる目的又はその他の特徴は、以下、添付の図面を参照して説明される好ましい実施例等によって明らかにされるであろう。
本発明によれば、パターンの転写精度を確保する加工装置及び方法を提供することができる。
以下、添付図面を参照して、本発明の第1の実施例の加工装置である光硬化法のナノインプリント装置(パターン転写装置)100について説明する。なお、各図において、同一の部材については、同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。ここで、図1は、ナノインプリント装置100の概略断面図である。
ナノインプリント装置100は、押圧調整部と、光照射手段110と、モールドMと、モールド駆動部130と、ウェハ(基板)Wと、ウェハ駆動部160と、変形防止手段と、モールド搬送部と、レジスト供給手段と、その他の機構とを有する。
押圧調整部は、装置100の本体(図示せず)に取り付けられた制御部102と、後述するモールドチャックステージ138又はモールドチャック140に取り付けられた荷重センサ104と、所定の押し付け力の値を格納するメモリ106を含む。制御部102は、荷重センサ104が検出したモールドMのウェハWへの押し付け力がメモリ106に格納された所定値かどうかを判断する。制御部102は、押圧調整部の制御をするだけでなく、後述するように、装置100各部の制御部として機能する。
光照射手段110は、モールドMを介してウェハW上(基板上)に塗布された(図示しない)光硬化型樹脂(レジスト)に紫外線を照射してレジストを硬化する手段であり、光源部112と、照明光学系114とを有する。光源部112は、制御部102によって制御され、紫外光を発生する(i線、g線などの)ハロゲンランプなどから構成される。照明光学系114は、レジストを露光し、硬化させるための照明光(第1の光)を整えてレジスト面に照射するためのレンズ、アパーチャなどを含む。照明光学系114は、図1においては、コリメータレンズとして示されているが(また、光路中にはビームスプリッタ123、124が配置されているが)、これに限定されるものではない。例えば、照明光学系は、必要があればモールドMを均一に照明するためにオプティカルインテグレータを含んでもよい。
モールドMは、ウェハWに転写されるパターンPが形成され、レジストを硬化
するための紫外光を透過するため、透明な部材で作られている。
モールド駆動部130は、モールドMを図1の下方向に押印すると共に上方向に離型する駆動部としてのインプリント機構部と、モールドMを装置100に保持するためのモールドチャックとを有する。インプリント機構部は、上下動作をさせるだけでなくモールド転写面とウェハWとが密着するように姿勢のかわし機構(アライメント機構)や姿勢制御、回転方法の位置合わせ機能も有する。
インプリント機構部は、ガイドプレート132と、ガイドバー134と、リニアアクチュエータ136と、モールドチャックステージ138とを有する。ガイドバー134は、一端がガイドプレート132に固定され、天板194を貫通し、他端がモールドチャックステージ138に固定される。リニアアクチュエータ136は、制御部102によって制御され、エアシリンダ又はリニアモータから構成される。リニアアクチュエータ136は、ガイドバー134を図1のz方向に駆動する。モールドチャックステージ138は、モールドM(及びモールドチャック140)のθ(z軸回りの回転)方向位置の補正機能及びモールドMの傾きを補正するためのチルト機能を有する。モールドチャック140には、以下に説明する図2に示すように、光源112及び121からの光が通過するための貫通孔139が設けられている。
図2に、モールドチャック140周辺の断面図を示す。モールドチャック140は、同図に示すように、給気路(供給経路)141と貫通孔(中空)が設けられ、貫通孔は以下に説明するように閉空間(中空部)143を構成する。本実施例では閉空間143は光源部112からの光がモールドMに照射されるモールド上の領域の全てをカバーしているが、本発明はその少なくとも一部をカバーしていれば足りる。この領域に撓みがあれば転写精度は低下するからである。
モールドチャック140にはモールドM及びプレート(隔壁)144が固定されている。モールドMは複数の位置決めピン142を介してモールドチャック140に固定されている。位置決めピン142は、モールドMをモールドチャック140に取り付ける際にモールドMのモールドチャック140上の位置を規制する。プレート144は、紫外光に対して透明な(光透過性のある)、例えば、石英の光学平板から構成され、モールドチャック140の貫通孔の一端もしくは中途を塞ぐように、図示しない機械的保持手段によりモールドチャックステージ138に取り付けられている。プレート144はモールドMがモールドチャック140に取り付けられた後にモールドチャック140と共にモールドチャックステージ138に固定される。モールドチャック140には、モールドM及びプレート144によって気密な閉空間143が形成される。閉空間143は給気路141を通じて給気部150の給気配管156に接続される。
干渉計120、プレート144、給気部150は、モールドMに力を印加する際(印加時)に、モールドMの変形を防止する変形防止手段を構成する。
干渉計120は、モールドMのウェハWへの押し付け状態を検出する。干渉計120は、光源部112とは異なる波長の光を投射し、切替えにより単色光の投射も可能な照明光源121と、コリメータレンズ122と、ビームスプリッタ123及び124と、撮像系125と、制御部102と、メモリ106とを有する。ビームスプリッタ123は、光源部112の光路中に配置され、照明光源121からの投射光を折り曲げてモールドMに導く。ビームスプリッタ124も同じく光源部112の光路中に配置され、モールドM側からの反射光を折り曲げて撮像系125に導く。撮像系125は、例えば、CCDを有する。メモリ106は、押し付け状態を判断するための情報を格納し、制御部102は、干渉計120が観察した押し付け状態がメモリ106に格納された所定の状態を満足しているかどうかを判断する。
給気部150は、閉空間143に流体を注入する(本実施例では窒素を供給可能にする)機能を有し、図3に示すように、窒素ガスタンク151、圧力制御装置152、大気開放端153、三方弁154、圧力センサ155、給気配管156を有する。ここで、図3は、給気部150の概略構成図である。但し、流体は、光源112及び121からの光を透過すれば種類(気体、液体その他)は問わない。もっとも流体が液体の場合には、モールドチャック140の屈折率の±10%以内の屈折率、好ましくはほぼ同じ屈折率を有することが好ましい。これにより、流体を通過した光と流体を通過していない光がレジストに照射された場合のレジストの硬化性能を同一にすることができる。
圧力制御装置152は、制御部102によって制御される。三方弁154は、開閉が制御部102によって制御され、一端は給気配管156に接続され、一端は圧力制御装置152を介して窒素ガスタンク151に接続され、他端は大気開放端153に接続されている。給気部150は、圧力制御装置152、三方弁154及び圧力センサ155により圧力及び流量が制御された状態で閉空間143に窒素ガスタンク151から窒素ガスを供給する。
ウェハWは、モールドMに形成されているパターンが転写され、後の工程を経て半導体集積回路が形成される対象であり、従来の半導体プロセスに用いられているものと同様である。
ウェハ駆動部160は、ウェハチャック162と、微動ステージ163と、XYステージ164と、参照ミラー165と、レーザ干渉計166とを有する。ウェハチャック162は、ウェハWを保持する。微動ステージ163は、制御部102により制御され、ウェハWのθ(z軸回りの回転)方向位置の補正機能、ウェハWのz位置の調整機能、及びウェハWの傾きを補正するためのチルト機能を有する。XYステージ164は、制御部102により制御され、ウェハWを所定の位置に位置決めするために配置される。ウェハ駆動部160により、ウェハWの全面は転写可能であり、高精密な位置決めとウェハWの表面の姿勢調節機能により、微細なパターンの重ね合せが可能である。参照ミラー165は微動ステージ163上にx及びy方向(y方向は不図示)に取り付けられ、レーザ干渉計166からの光を反射する。参照ミラー165とレーザ干渉計166は、微動ステージ163の位置を計測する機能を有する。レーザ干渉計166は制御部102により制御される。
モールド搬送部は、モールド搬送用ロボット180を含む。搬送ロボット180は、真空吸着によりハンド182にモールドMを保持して搬送を行う。
レジスト供給手段は、紫外線照射前、つまり硬化前のレジストを保持する図示しないタンクと、当該タンクに接続され、ウェハW面にレジストを滴下するためのノズル185と、ノズル185からレジストを滴下するか停止するかを切り替える図示しないバルブを含む。好ましくは、レジスト供給量を制御することが好ましい。例えば、供給量の制御は、XYステージ164の座標位置からモールドMとウェハWとが対向している面積を求め、その面積とモールドMの凹凸の平均高さとウェハWとの間隙とを掛け合わせて体積を必要な供給量として算出する。これにより、不要なレジストがウェハWからこぼれてウェハチャック162やXYステージ164を汚染することを防止することができる。
その他の機構は、XYステージが載置される定盤190、定盤190上に屹立する支柱192、支柱192に支持される天板194を含む。定盤190は、装置100全体を支えると共にウェハステージ164の移動の基準平面を形成する。定盤190は、図示しない除振器を介して床に設置される。支柱192は、ウェハWより上方に位置する構成部分の光源112からモールドMまでを支持する。
以下、図4を参照して、ナノインプリント装置100の動作について説明する。ここで、図4は、ナノインプリント装置100の動作を説明するためのフローチャートである。
動作において、転写に供されるウェハWは、不図示のウェハ搬送系によってウェハチャック162に載置される。ウェハチャック162は真空吸着によってウェハWを保持する。まず、XYステージ164を駆動し、ウェハWの載置されたウェハチャック162を移動させ、ウェハW上のパターンの転写を行う場所(ショット)をノズル185の下に位置決めする。
次いで、ノズル185によってウェハW上の目的のショットに適量のレジストの滴下を行う(ステップ1002)。次に、ウェハWの位置決めを行う(ステップ1004)。具体的には、ショットの平面がモールドMのパターンPと対向する位置に来るようにXYステージ164を駆動した後に微動ステージ163を駆動してウェハチャック162のz方向の高さと傾きを調整する。また、ウェハWのショットの表面を装置100の基準平面(不図示)に合わせる。
次に、インプリント機構部がリニアアクチュエータ136を駆動してモールドチャック140(及びモールドM)を所定位置まで下降させ、モールドMをレジストに押し付ける(ステップ1006)。押し付け完了の判断は、インプリント機構部の内部に設置された荷重センサによって行う。次に、三方弁154を大気開放端153側から窒素ガスタンク151側に切り替える(ステップ1008)。この時、圧力制御装置152は窒素ガスタンク151からの窒素ガスが給気配管156へ流れ込まないように設定されている。制御部102は、荷重センサ104の出力に基づいて押し付け力が所定の範囲かどうかを判断する(ステップ1010)。
制御部102は、押し付け力が所定の範囲にないと判断すると(ステップ1010)、モールドチャックステージ138によってモールドチャック140のz方向の位置と傾きを変えるか、または微動ステージ163によってウェハチャック162のz方向の位置と傾きを変えることにより、モールドMの押し付け力の調整を行う(ステップ1012)。所定の押し付け力になるまでステップ1010と1012が繰り返される。
一方、制御部102は、モールドMの押し付け力が適切であると判断すると(ステップ1010)、照明光源121からレジストが感光しない波長の単色光(第2の光)をビームスプリッタ123及び124を通してモールドMに照射する。そして、その反射光をビームスプリッタ124を通して撮像系125で受光する。撮像系125で観察されるモアレ縞の情報は制御部102に送られる。制御部102は、かかる情報に基づいて、ウェハW上のレジストに対するモールドMの押し付け状態を測定する(ステップ1014)。次に、制御部102は、モアレ縞の分布によってモールドMの押し付け状態がよいかどうかを判断する(ステップ1016)。
制御部102は、モアレ縞の分布に偏りがあって押し付け状態がよくないと判断すると(ステップ1016)、圧力制御装置152を制御して窒素ガスタンク151から窒素ガスを給気配管156に供給する(ステップ1018、図2の矢印方向)。窒素ガスは給気路141を通じてモールドチャック140の閉空間143に流れ込み、モールドMの裏面を押圧する。この時の閉空間143内の圧力は圧力センサ155によって計測することができる。
ステップ1018の後は、処理は、ステップ1010に帰還する。即ち、制御部102は再び、閉空間143への窒素ガス供給で押し付け力に変化がないか確認する(ステップ1010)。制御部102は、押し付け力が適切であると判断した場合には、ステップ1014で測定されるモアレ縞の分布に偏りがなくなり、モールドMの押し付け状態がよくなるまで、ステップ1014、1018及び1010で形成される処理を繰り返す。この間、制御部102は、モアレ縞の分布と圧力センサ155の出力に応じて、圧力制御装置152により窒素ガスタンク151から供給される窒素ガスの圧力を調整する。
制御部102は、モールドMの押し付け状態がよいと判断すると(ステップ1016)、光源部112を制御して所定時間の紫外光をモールドMを介してレジストに照射し、レジストを硬化させる(ステップ1020)。
次に、制御部102は、圧力制御装置152により窒素ガスタンク151からの窒素ガスの供給圧力を低下させ、閉空間143の加圧状態を解除する(ステップ1022)。次に、制御部102は、三方弁154を窒素ガスタンク151側から大気開放端153側に切り替える(ステップ1024)。
次に、制御部102は、リニアアクチュエータ136を駆動してモールドチャック140を上昇させ、モールドMをウェハWのレジストから引き離す(ステップ1026)。最後に、制御部102は、XYステージ164を駆動し(ステップ1028)、次のショットがノズル185の下に来るようにウェハWを移動する。かかる処理を繰り返し、逐次転写(ステップアンドリピート)を行う。全ての転写が完了したら、ウェハWが搬出され、次のウェハWが搬入される。
以上のようにして、モールドM上方のモールドチャック140内に閉空間143を形成し、閉空間143に圧力を印加することにより、モールドM押し付け時に閉空間143に対応するモールドMの裏面の撓みを防止できる。
以下、図5を参照して、本発明の第2の実施例について説明する。ここで、図5は、モールドチャック140A周辺の断面図である。本実施例は、紫外光に対して透明なプレート144Aをモールドチャック140Aの貫通孔143AのモールドM側に配置した点が第1の実施例と相違する。プレート144AのモールドM側平面は、モールドチャック140Aのモールド当接面と面一となるようにモールドチャック140Aの貫通孔143A内に固定され、図2のような閉空間143は形成されない。本実施例では、プレート144Aは貫通孔143Aから露出するモールドMの領域全体をカバーするように設けられている。しかし、本発明は、プレート144Aが光源部112からの光がモールドMに照射されるモールドM上の領域の少なくとも一部においてモールドMと接合する場合も含む趣旨である。この領域においてモールドMの剛性を高めることができるからである。
以下、第2の実施例のモールドチャック140Aを使用したナノインプリント装置100の動作を、図6を参照して説明する。ここで、図6は、第2の実施例のモールドチャック140Aを使用したナノインプリント装置100の動作を説明するためのフローチャートである。図4に示すフローチャートとは、透明プレート144AをモールドMの裏面に密接するように配置したことで、閉空間143に対するような圧力制御が不要になった点が相違する。
まず、XYステージ164を駆動し、ウェハWの載置されたウェハチャック162を移動させ、ウェハW上のパターンの転写を行う場所(ショット)をノズル185の下に位置決めする。次いで、ノズル185によってウェハW上の目的のショットにレジストの滴下を行う(ステップ1102)。次に、ウェハWの位置決めを行う(ステップ1104)。具体的には、ショットの平面がモールドMのパターンPと対向する位置に来るようにXYステージ164を駆動した後に微動ステージ163を駆動してウェハチャック162のz方向の高さと傾きを調整する。また、ウェハWのショットの表面を装置100の基準平面(不図示)に合わせる。
次に、リニアアクチュエータ136を駆動してモールドチャック140を所定位置まで下降させ、レジストにモールドMを押し付ける(ステップ1106)。次に、制御部102は、荷重センサ104の出力に基づいて押し付け力が所定の範囲かどうかを判断する(ステップ1108)。
制御部102は、押し付け力が所定の範囲にないと判断すると(ステップ1108)、モールドチャックステージ138によってモールドチャック140のz方向の位置と傾きを変えるまたは微動ステージ163によってウェハチャック162のz方向の位置と傾きを変えることにより、モールドMの押し付け力の調整を行う(ステップ1110)。所定の押し付け力になるまでステップ1108と1110が繰り返される。
一方、制御部102は、モールドMの押し付け力が適切であると判断すると(ステップ1108)、照明光源121からレジストが感光しない波長の単色光をビームスプリッタ123及び124を通してモールドMに照射する。そして、その反射光をビームスプリッタ124を通して撮像系125で受光する。撮像系125で観察されるモアレ縞の情報は制御部102に送られる。制御部102は、かかる情報に基づいて、ウェハW上のレジストに対するモールドMの押し付け状態を測定する(ステップ1112)。次に、制御部102は、モアレ縞の分布によってモールドMの押し付け状態がよいかどうかを判断する(ステップ1114)。
制御部102は、モアレ縞の分布に偏りがあって押し付け状態がよくないと判断すると(ステップ1114)、ステップ1110に帰還する。モールドMの押し付け力と押し付け状態が適切となるまで、ステップ1114と1110を含むループを回る。
制御部102は、モールドMの押し付け状態がよいと判断すると(ステップ1114)、光源部112を制御して所定時間の紫外光をモールドMを介してレジストに照射する(ステップ1116)。次に、制御部102は、リニアアクチュエータ136を駆動してモールドチャック140を上昇させ、モールドMをウェハWのレジストから引き離す(ステップ1118)。最後に、制御部102は、XYステージ164を駆動し(ステップ1120)、次のショットがノズル185の下に来るようにウェハWを移動する。
以上のように、モールドチャック140Aの貫通孔143AのモールドMの裏面に当接する位置に照射光に対して透明なプレート144Aを配置することにより、モールドM押し付け時に貫通孔143Aの開口部に対応するモールドM裏面の撓みを防止することができる。また、第1の実施例の図3に示すような閉空間143の圧力制御機構を省略することができる。
以下、図7を参照して、本発明の第3の実施例について説明する。ここで、図7は、モールドチャック140B周辺の断面図である。本実施例は、モールドチャック140Bを紫外光に対して透明な材料から構成し、プレート144を使用せずに、モールドMの裏面全面に接合した点が第1の実施例と相違する。
図7において、凹凸のパターンPを有するモールドMを保持するモールドチャック140Bは、モールドチャックステージ138に図示しない機械的保持手段で固定され、光源部112からの照射光に対して透明な、例えば、石英から構成される。照射光に対する透明度が高い部材であれば、モールドMの保持のために第1の実施例の透明プレート144よりも厚みが必要なモールドチャックであってもこのように適用することができる。パターン転写動作は、第2の実施例のモールドチャック140Aと同様である。
第3の実施例によれば、モールドチャック140Bを照射光に対して透明にすることにより、照射光を通過させるための貫通孔(閉空間)143を不要にしている。モールドチャック140BがモールドMの裏面全面に密着することができるので、モールド押し付け時にモールドM裏面に撓みが発生することを防止することができる。
以下、図8を参照して、本発明の第4の実施例について説明する。ここで、図8は、モールドチャック140C周辺の断面図である。本実施例は、温調機構を有する点が第3の実施例と相違する。図8に示すように、モールドチャック140C(モールドチャック内)には、温調液体流路145が形成され、一端が図示しない液体温度調整装置からの液体供給配管157に接続されている。また、もう一端は液体温度調整装置への液体回収配管158に接続されている。温調液体流路145には液体温度調整装置により精密に温度を調整された、モールドチャック140Cと等しい屈折率を有する液体が循環される。従って、モールドチャック140Cに保持されるモールドMを一定に温度に維持することができる。温調液体流路145を循環する液体の温度をウェハチャック162の温度と等しくなるように設定すれば、ウェハWとモールドMの温度差をなくす(減少させる)ことができる。そして、モールドMの押し付け時にウェハWに局所的な熱歪みが発生することを防止することができる。
なお、本発明は流体の屈折率が、モールドチャック140Cの屈折率の±10%以内の屈折率を有する場合まで許容する。これにより、流体を通過した光と流体を通過していない光がレジストに照射された場合のレジストの硬化性能を同一にすることができる。
また、ウェハチャック162に同様の温調液体流路を設け、液体温度調整装置によりウェハチャック162の温度調整を同時に行うようにしてもよい。また、モールドM自体に温調液体流路を設けて、モールドMと等しい屈折率の精密に温度調整された液体を循環させれば、第1乃至第3の実施例でも同様の効果が得られる。第2の実施例の場合にはプレート144Aに温調液体流路を設けて、モールドと等しい屈折率の精密に温度調整された液体を循環させるようにしても同様の効果が得られる。パターンの転写など他の動作及び効果は第2及び第3の実施例と同様である。
以下、図9を参照して、本発明の第5の実施例について説明する。ここで、図9は、モールドチャック140D周辺の断面図である。本実施例は、モールドとモールドチャックとの接合が第3の実施例と相違する。図10(a)は、モールドチャック140DのウェハW側から見た平面図であり、図10(b)は、モールドMAのウェハW側から見た平面図である。図11は、モールドチャック140Dに接続される排気部170の概略構成図である。
図9において、凹凸のパターンPを有するモールドMAを保持するモールドチャック140Dは、モールドチャックステージ138に図示しない機械的保持手段で固定され、光源部112からの照射光に対して透明な、例えば、石英から構成される。モールドチャック140Dは、内部に排気路146を有し、Oリング147を介してモールドMに接合される。排気路146は、排気部170によって排気されている。
排気部170は、図11に示すように、真空ポンプ171、開閉弁172、大気開放端173、三方弁174、圧力センサ175、真空配管176を有する。ここで、図11は、排気部170の概略構成図である。開閉弁172は、制御部102によって制御される。三方弁174は、開閉が制御部102によって制御され、その一端は真空ポンプ171に開閉弁172を介して接続され、一端は大気開放端173に接続され、もう一端は圧力センサ175を介して排気路146に接続されている。
図10において、モールドチャック140DにはOリング147の内側の、照射される紫外光が通過しない場所にモールドMAとの位置合せマーク(アライメントマーク)MCが描かれている。一方、モールドMAにもパターンPの外側の位置合せマークMCに対応する場所に位置合せマークMMが描かれている。
以下、図1を参照して、モールドチャック140DへのモールドMAの着脱動作について説明する。
まず、モールドMAをモールドチャック140Dに取り付ける場合は、図示しないモールド収納場所からモールド搬送ロボット180によりモールドMAが取り出され、モールドチャック140Dの下まで搬送される。次に、撮像系125によりモールドMAの位置合せマークMMとモールドチャック140Dの位置合せマークMCを観察する。そして、2つの位置合せマークがそれぞれ同心に重なって見える位置(相対的ずれ量が最小の位置)にモールドMAが来るように調整する。具体的には、モールド搬送ロボット180のハンド182によりモールドMAのxy平面内の位置とモールドチャックステージ138によりモールドチャック140Dのθ(z軸回りの回転)方向位置を調整する。2つの位置合せマークが同心に見える状態になったら、モールド搬送ロボット180のハンド182のz位置を変えて、モールドMAをモールドチャック140Dに密接させる。
次に、三方弁174を大気開放端173側から真空ポンプ171側に切替え、開閉弁172を開くことによりモールドチャック140Dの排気路146の空気を真空ポンプ171で排気する。圧力センサ175の出力が所定の圧力以下に下がったら、モールド搬送ロボット180のハンド182の吸着を停止させ、ハンド182を図1のような待機位置に戻す。逆に、モールドMAをモールドチャック140Dから取り外す場合は、まず、モールド搬送ロボット180を駆動し、ハンド182をモールドMAの下方に移動させる。次に、ハンド182のz位置をモールドMAに密接する位置まで移動させた後、ハンド182を吸着状態にする。
次に、図11における開閉弁172を閉じてから三方弁174を大気開放端173側に切り替える。そして、モールド搬送ロボット180のハンド182のz位置を変えて、モールドMAをモールドチャック140Dから引き離す。最後に搬送ロボット180によりモールドMAを図示しないモールド保管場所に収納する。
以上のように、光学的に透明なモールドチャックに位置決め用ピン等の設置が困難な場合、モールドとモールドチャックの双方に位置合せマークを設けてモールドの位置決めを容易に行うことができる。位置決めピンが不要になるので、モールド設置時に位置決めピンとの衝突によりモールドが欠けたりする事故を防止することができる。なお、第2の実施例においてもプレート144Aに位置合せマークMCを設け、モールドMにも位置合せマークMMを設けることにより同様の効果が得られる。
次に、図12及び図13を参照して、上述の加工装置を利用したデバイス製造方法の実施例を説明する。図12は、デバイス(ICやLSIなどの半導体チップ、LCD、CCD等)の製造を説明するためのフローチャートである。ここでは、半導体チップの製造を例に説明する。ステップ1(回路設計)では、デバイスの回路設計を行う。ステップ2(モールド製作)では、設計した回路パターンに対応するパターンを形成したモールドを製作する。ステップ3(ウェハ製造)では、シリコンなどの材料を用いてウェハを製造する。ステップ4(ウェハプロセス)は、前工程と呼ばれ、モールドとウェハを用いてナノインプリント技術によってウェハ上に実際の回路を形成する。ステップ5(組み立て)は、後工程と呼ばれ、ステップ4によって作成されたウェハを用いて半導体チップ化する工程であり、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディング)、パッケージング工程(チップ封入)等の工程を含む。ステップ6(検査)では、ステップ5で作成された半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テストなどの検査を行う。こうした工程を経て半導体デバイスが完成し、それが出荷(ステップ7)される。
図13は、ステップ4のウェハプロセスの詳細なフローチャートである。ステップ11(酸化)では、ウェハの表面を酸化させる。ステップ12(CVD)では、ウェハの表面に絶縁膜を形成する。ステップ13(電極形成)では、ウェハ上に電極を蒸着などによって形成する。ステップ14(イオン打ち込み)では、ウェハにイオンを打ち込む。ステップ15(転写処理)では、ウェハに感光剤を塗布しつつモールドをウェハに押し付け、紫外線を照射して回路パターンをウェハに転写する。ステップ16(エッチング)では、リアクティブイオンエッチング(RIE)によってパターニングを完了する。ステップ17(レジスト剥離)では、エッチングが済んで不要となったレジストを取り除く。デバイス(半導体素子、LCD素子、撮像素子(CCDなど)、薄膜磁気ヘッドなど)を製造する。これらのステップを繰り返し行うことによってウェハ上に多重に回路パターンが形成される。このように、本発明のナノインプリント技術を使用するデバイス製造方法、並びに結果物としてのデバイスも本発明の一側面を構成する。また、本発明は、かかるデバイス製造方法の中間及び最終結果物であるデバイス自体もカバーする趣旨である。また、かかるデバイスは、例えば、LSIやVLSIなどの半導体チップ、CCD、LCD、磁気センサ、薄膜磁気ヘッドなどを含む。
以上説明したように、本実施例によれば、従来は支持されなかったモールドの裏面を押圧することによってモールド裏面の撓みを防止し、パターンの転写精度を向上させることができる。特に、モールドを大型化して装置100のスループットを向上させようとした場合に大きな効果がある。また、干渉計によりモールドの押し付け状態をより正確に把握・制御することによってパターンの転写精度をより向上させることができる。更には、モールドを温度制御してウェハとの温度差をなくし、モールド押し付け時にウェハの局所的な熱歪みの発生を防止することができる。これにより歩留りを向上させ、装置の生産性を増大することができる。
以上、本発明の実施の形態を説明してきたが、本発明はこれらの実施の形態に限定されず、その要旨の範囲内において様々な変形及び変更が可能である。
本発明の第1の実施例としての加工装置(ナノインプリント装置)の概略断面図である。 図1に示す加工装置のモールドチャック周辺の概略断面図である。 図1に示す加工装置に適用可能な変形防止手段を示す概略構成図である。 図1に示す加工装置の動作を説明するためのフローチャートである。 第2の実施例のモールドチャックの概略断面図である。 図5に示すモールドチャックを有する第2の実施例の加工装置の動作を説明するためのフローチャートである。 第3の実施例のモールドチャックの概略断面図である。 第4の実施例のモールドチャックの概略断面図である。 第5の実施例のモールドチャックの概略断面図である。 図9に示すモールドチャック及びモールドの概略平面図である。 図9に示すモールドチャックに適用可能な排気部の概略構成図である。 図1に示す加工装置を使用してデバイス(ICやLSIなどの半導体チップ、LCD、CCD等)の製造方法を説明するためのフローチャートである。 図12に示すステップ4の詳細なフローチャートである。 従来のモールドチャック周辺の断面図である。
符号の説明
100 加工装置(ナノインプリント装置)
120 干渉計
140、140A−D モールドチャック
150 給気部

Claims (6)

  1. 凹凸のパターンを形成したモールドを基板上のレジストに押し付けると共に前記モールドを介して前記レジストを感光させる第1の光を前記レジストに照射することによって前記レジストにパターンを転写する加工装置であって、
    前記モールドを保持するモールドチャックと、
    前記モールドチャックを通じて前記レジストが感光しない波長を有する第2の光を前記モールドに照射する光学系と、
    前記モールドに照射した前記第2の光の反射光を受光する撮像手段と、を有し、
    前記モールドチャックは、前記第1、第2の光が通過する貫通孔と、前記貫通孔に対して流体を供給可能な供給経路とを有し、前記貫通孔を塞ぐ光透過性のある隔壁と保持した前記モールドとの間で流体を供給可能な閉空間を形成しており、
    前記撮像手段により出力される前記モールドと前記レジストとの押し付け状態の情報に基づいて、前記モールドと前記レジストとの押し付け状態を調節するために前記閉空間の圧力を調整する流体の供給量を制御する制御部と、を有することを特徴とする加工装置。
  2. 前記モールドチャックと前記モールドとを真空吸着する手段を更に有することを特徴とする請求項1に記載の加工装置。
  3. 前記モールド及び前記モールドチャックはアライメントマークを有し、
    前記加工装置は、前記モールド及び前記モールドチャックの前記アライメントマークの相対的ずれ量が最小になるように前記モールド又は前記モールドチャックを移動する移動手段を更に有することを特徴とする請求項1または2に記載の加工装置。
  4. 前記撮像手段が前記アライメントマークを検出することを特徴とする請求項3に記載の加工装置。
  5. 凹凸のパターンを形成したモールドを基板上のレジストに押し付けると共に前記モールドを介して前記レジストを感光させる第1の光を前記レジストに照射することによって前記レジストにパターンを転写する加工方法であって、
    前記モールドを、モールドチャックを介して前記基板上の前記レジストに押し付けるステップと、
    前記モールドチャックを通じて前記レジストが感光しない波長を有する第2の光を前記モールドに照射するステップと、
    撮像手段により前記モールドに照射した前記第2の光の反射光を受光するステップと、を有し、
    前記モールドチャックは、前記第1、第2の光が通過する貫通孔と、前記貫通孔に対して流体を供給可能な供給経路とを有し、前記貫通孔を塞ぐ光透過性のある隔壁と保持した前記モールドとの間で流体を供給可能な閉空間を形成しており、
    前記撮像手段により出力される前記モールドと前記レジストとの押し付け状態の情報に基づいて、前記モールドと前記レジストとの押し付け状態を調節するために前記閉空間の圧力を調整する流体の供給量を制御するステップと、を有することを特徴とする加工方法。
  6. 請求項1乃至4のうちいずれか一項に記載の加工装置を用いてパターンを基板上のレジストに転写するステップと、
    前記基板にエッチングを行うステップと、を有することを特徴とするデバイス製造方法。
JP2004173317A 2004-06-11 2004-06-11 加工装置、加工方法、デバイス製造方法 Expired - Lifetime JP4574240B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004173317A JP4574240B2 (ja) 2004-06-11 2004-06-11 加工装置、加工方法、デバイス製造方法
EP05012232A EP1605308B1 (en) 2004-06-11 2005-06-07 Apparatus and method for transferring a pattern
DE602005024340T DE602005024340D1 (de) 2004-06-11 2005-06-07 Vorrichtung und Verfahren zur Übertragung eines Musters
US11/149,046 US7789647B2 (en) 2004-06-11 2005-06-08 Processing apparatus and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004173317A JP4574240B2 (ja) 2004-06-11 2004-06-11 加工装置、加工方法、デバイス製造方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2005353858A JP2005353858A (ja) 2005-12-22
JP2005353858A5 JP2005353858A5 (ja) 2007-07-26
JP4574240B2 true JP4574240B2 (ja) 2010-11-04

Family

ID=34978721

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004173317A Expired - Lifetime JP4574240B2 (ja) 2004-06-11 2004-06-11 加工装置、加工方法、デバイス製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7789647B2 (ja)
EP (1) EP1605308B1 (ja)
JP (1) JP4574240B2 (ja)
DE (1) DE602005024340D1 (ja)

Families Citing this family (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4290177B2 (ja) * 2005-06-08 2009-07-01 キヤノン株式会社 モールド、アライメント方法、パターン形成装置、パターン転写装置、及びチップの製造方法
JP4533358B2 (ja) * 2005-10-18 2010-09-01 キヤノン株式会社 インプリント方法、インプリント装置およびチップの製造方法
JP2007242893A (ja) * 2006-03-08 2007-09-20 Toshiba Corp パターン転写方法およびパターン転写装置
JP4795300B2 (ja) * 2006-04-18 2011-10-19 キヤノン株式会社 位置合わせ方法、インプリント方法、位置合わせ装置、インプリント装置、及び位置計測方法
KR101261606B1 (ko) * 2006-05-09 2013-05-09 삼성디스플레이 주식회사 표시판의 제조 장치 및 제조 방법
JP4854383B2 (ja) * 2006-05-15 2012-01-18 アピックヤマダ株式会社 インプリント方法およびナノ・インプリント装置
KR100774327B1 (ko) * 2006-06-07 2007-11-08 현대자동차주식회사 트랜스퍼 프레스 장치 및 그 작동방법
JP4506987B2 (ja) * 2006-07-21 2010-07-21 株式会社日立ハイテクノロジーズ エネルギ線硬化型樹脂の転写方法、転写装置及びディスクまたは半導体デバイス
JP5007091B2 (ja) * 2006-09-21 2012-08-22 東芝機械株式会社 転写装置
TWI396617B (zh) * 2006-09-29 2013-05-21 Toray Industries 微細形狀轉印片之製法及製造裝置
JP4989234B2 (ja) * 2007-01-09 2012-08-01 東芝機械株式会社 転写装置
US8945444B2 (en) 2007-12-04 2015-02-03 Canon Nanotechnologies, Inc. High throughput imprint based on contact line motion tracking control
JP5150309B2 (ja) * 2008-03-03 2013-02-20 東芝機械株式会社 転写装置および転写方法
JP5666082B2 (ja) * 2008-05-30 2015-02-12 東芝機械株式会社 転写装置およびプレス装置
TWI342270B (en) * 2008-07-15 2011-05-21 Univ Nat Taiwan Specific-light-cured and pressure-differential embossing apparatus
JP5517423B2 (ja) * 2008-08-26 2014-06-11 キヤノン株式会社 インプリント装置及びインプリント方法
WO2010082686A1 (ja) * 2009-01-19 2010-07-22 新日本製鐵株式会社 真空圧空成形露光装置及び露光方法
JPWO2010089867A1 (ja) * 2009-02-05 2012-08-09 パイオニア株式会社 転写装置および転写方法
JP5379564B2 (ja) * 2009-06-01 2013-12-25 キヤノン株式会社 インプリント装置、および物品の製造方法
NL2004735A (en) * 2009-07-06 2011-01-10 Asml Netherlands Bv Imprint lithography apparatus and method.
EP2287666B1 (de) 2009-08-22 2012-06-27 EV Group E. Thallner GmbH Vorrichtung zum Prägen von Substraten
JP2011146447A (ja) * 2010-01-12 2011-07-28 Canon Inc インプリント装置及び物品の製造方法
US8747092B2 (en) * 2010-01-22 2014-06-10 Nanonex Corporation Fast nanoimprinting apparatus using deformale mold
JP5351069B2 (ja) 2010-02-08 2013-11-27 株式会社東芝 インプリント方法及びインプリント装置
JP5337114B2 (ja) * 2010-07-30 2013-11-06 株式会社東芝 パタン形成方法
WO2012016744A1 (en) 2010-08-05 2012-02-09 Asml Netherlands B.V. Imprint lithography
JP2012182384A (ja) * 2011-03-02 2012-09-20 Toshiba Corp テンプレート用の基板の処理装置及びテンプレート用の基板の処理方法
JP5769451B2 (ja) * 2011-03-07 2015-08-26 キヤノン株式会社 インプリント装置および物品の製造方法
JP5864929B2 (ja) * 2011-07-15 2016-02-17 キヤノン株式会社 インプリント装置および物品の製造方法
KR20130063233A (ko) * 2011-12-06 2013-06-14 삼성전자주식회사 나노 임프린트 리소그래피 장치 및 방법
US20140205702A1 (en) * 2013-01-24 2014-07-24 Kabushiki Kaisha Toshiba Template, manufacturing method of the template, and position measuring method in the template
US20140209567A1 (en) * 2013-01-29 2014-07-31 Kabushiki Kaisha Toshiba Template, manufacturing method of the template, and strain measuring method in the template
KR101345750B1 (ko) 2013-02-27 2013-12-27 (주)에이피앤 나노 전자소자 제조방법
WO2014145360A1 (en) 2013-03-15 2014-09-18 Nanonex Corporation Imprint lithography system and method for manufacturing
US10108086B2 (en) 2013-03-15 2018-10-23 Nanonex Corporation System and methods of mold/substrate separation for imprint lithography
DE102013207243B4 (de) * 2013-04-22 2019-10-02 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und verfahren zur herstellung einer struktur aus aushärtbarem material durch abformung
JP6282069B2 (ja) * 2013-09-13 2018-02-21 キヤノン株式会社 インプリント装置、インプリント方法、検出方法及びデバイス製造方法
JP6674218B2 (ja) * 2014-12-09 2020-04-01 キヤノン株式会社 インプリント装置、インプリント方法及び物品の製造方法
US10747106B2 (en) 2014-12-09 2020-08-18 Canon Kabushiki Kaisha Imprint apparatus
WO2017217931A1 (en) * 2016-06-15 2017-12-21 Semiconductor Technologies And Instruments Pte Ltd Apparatus and method for automatically setting, calibrating and monitoring or measuring pickup head position and force during component pickup operations
JP6768409B2 (ja) * 2016-08-24 2020-10-14 キヤノン株式会社 インプリント装置、及び物品製造方法
US10991582B2 (en) * 2016-12-21 2021-04-27 Canon Kabushiki Kaisha Template for imprint lithography including a recession, an apparatus of using the template, and a method of fabricating an article
JP7410616B2 (ja) * 2019-09-24 2024-01-10 キヤノン株式会社 平坦化装置、物品の製造方法、平坦化方法及びインプリント装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5375868A (en) * 1976-12-17 1978-07-05 Nec Corp Exposure device permitting observation of contact state between mask and specimen wafer
JP2001068411A (ja) * 1999-07-28 2001-03-16 Lucent Technol Inc デバイス製作のためのリソグラフィ・プロセス
JP2003517727A (ja) * 1999-10-29 2003-05-27 ボード・オブ・リージエンツ,ザ・ユニバーシテイ・オブ・テキサス・システム インプリント・リソグラフィのための高精度方向付けアライメントデバイスおよびギャップ制御デバイス
JP2004505439A (ja) * 2000-07-16 2004-02-19 ボード・オブ・リージエンツ,ザ・ユニバーシテイ・オブ・テキサス・システム 転写リソグラフィのための高分解能オーバレイ・アライメント方法およびシステム
WO2004044651A1 (en) * 2002-11-13 2004-05-27 Molecular Imprints, Inc. A chucking system and method for modulating shapes of substrates

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5804017A (en) * 1995-07-27 1998-09-08 Imation Corp. Method and apparatus for making an optical information record
US6482742B1 (en) * 2000-07-18 2002-11-19 Stephen Y. Chou Fluid pressure imprint lithography
SE515607C2 (sv) * 1999-12-10 2001-09-10 Obducat Ab Anordning och metod vid tillverkning av strukturer
US6696220B2 (en) * 2000-10-12 2004-02-24 Board Of Regents, The University Of Texas System Template for room temperature, low pressure micro-and nano-imprint lithography
US7211214B2 (en) * 2000-07-18 2007-05-01 Princeton University Laser assisted direct imprint lithography
US6871558B2 (en) * 2002-12-12 2005-03-29 Molecular Imprints, Inc. Method for determining characteristics of substrate employing fluid geometries
TW568349U (en) * 2003-05-02 2003-12-21 Ind Tech Res Inst Parallelism adjusting device for nano-transferring
US6805054B1 (en) * 2003-05-14 2004-10-19 Molecular Imprints, Inc. Method, system and holder for transferring templates during imprint lithography processes
JP4455092B2 (ja) * 2004-02-20 2010-04-21 キヤノン株式会社 加工装置及び加工方法
KR100558754B1 (ko) * 2004-02-24 2006-03-10 한국기계연구원 Uv 나노임프린트 리소그래피 공정 및 이 공정을수행하는 장치
US7168939B2 (en) * 2004-02-26 2007-01-30 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv System, method, and apparatus for multilevel UV molding lithography for air bearing surface patterning
US20050270516A1 (en) * 2004-06-03 2005-12-08 Molecular Imprints, Inc. System for magnification and distortion correction during nano-scale manufacturing

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5375868A (en) * 1976-12-17 1978-07-05 Nec Corp Exposure device permitting observation of contact state between mask and specimen wafer
JP2001068411A (ja) * 1999-07-28 2001-03-16 Lucent Technol Inc デバイス製作のためのリソグラフィ・プロセス
JP2003517727A (ja) * 1999-10-29 2003-05-27 ボード・オブ・リージエンツ,ザ・ユニバーシテイ・オブ・テキサス・システム インプリント・リソグラフィのための高精度方向付けアライメントデバイスおよびギャップ制御デバイス
JP2004505439A (ja) * 2000-07-16 2004-02-19 ボード・オブ・リージエンツ,ザ・ユニバーシテイ・オブ・テキサス・システム 転写リソグラフィのための高分解能オーバレイ・アライメント方法およびシステム
WO2004044651A1 (en) * 2002-11-13 2004-05-27 Molecular Imprints, Inc. A chucking system and method for modulating shapes of substrates

Also Published As

Publication number Publication date
US20050275125A1 (en) 2005-12-15
EP1605308A3 (en) 2007-08-29
EP1605308A8 (en) 2006-03-01
EP1605308A2 (en) 2005-12-14
EP1605308B1 (en) 2010-10-27
US7789647B2 (en) 2010-09-07
DE602005024340D1 (de) 2010-12-09
JP2005353858A (ja) 2005-12-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4574240B2 (ja) 加工装置、加工方法、デバイス製造方法
JP4481698B2 (ja) 加工装置
JP4827513B2 (ja) 加工方法
JP5371349B2 (ja) インプリント装置、および物品の製造方法
US8404169B2 (en) Imprint apparatus and method of manufacturing article
JP2013055327A (ja) インプリント装置および物品の製造方法
JP2007081070A (ja) 加工装置及び方法
US20240176231A1 (en) Imprint apparatus, article manufacturing method, determination method, and recording medium
KR100849982B1 (ko) 리소그래피 장치 및 디바이스 제조 방법
JP2019521393A (ja) ステージシステム、リソグラフィ装置、位置決め方法およびデバイス製造方法
JP4398912B2 (ja) リソグラフィ装置
TWI732797B (zh) 壓印裝置
JP7286400B2 (ja) 成形装置、決定方法、および物品製造方法
TWI592763B (zh) 微影裝置及元件製造方法
JP7305430B2 (ja) 情報処理装置、プログラム、リソグラフィ装置、リソグラフィシステム、および物品の製造方法
KR102410234B1 (ko) 정보 처리 장치, 컴퓨터 프로그램, 리소그래피 장치, 리소그래피 시스템 및 물품의 제조 방법
JP2007250767A (ja) 加工装置及び方法、並びに、デバイス製造方法
JP2012160617A (ja) 検査方法、インプリント装置及び物品の製造方法
JP7558696B2 (ja) 成形装置及び物品の製造方法
US20240242994A1 (en) Conveyance apparatus, conveyance method, lithography apparatus, and article manufacturing method
US20230400761A1 (en) Imprint apparatus, imprint method and article manufacturing method
JP7262930B2 (ja) 型を用いて基板上の組成物を成形する成形装置、成形方法、および物品の製造方法
US12147167B2 (en) Imprint apparatus with movable stages
JP4669833B2 (ja) リソグラフィ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070611

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070611

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090514

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090526

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090727

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091020

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091218

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100323

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100524

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100810

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100818

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4574240

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130827

Year of fee payment: 3

EXPY Cancellation because of completion of term