JP3126503B2 - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JP3126503B2 JP3126503B2 JP04205941A JP20594192A JP3126503B2 JP 3126503 B2 JP3126503 B2 JP 3126503B2 JP 04205941 A JP04205941 A JP 04205941A JP 20594192 A JP20594192 A JP 20594192A JP 3126503 B2 JP3126503 B2 JP 3126503B2
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- external signal
- semiconductor device
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- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Description
した外部信号線路を持つ表面実装型の半導体装置に関す
る。
に、多層構造をしたセラミック等からなるパッケージ2
00に半導体チップ100を収容している。
2を延設していて、その階段面202には、外部信号線
路400を備えている。そして、その外部信号線路40
0を、リード又は金リボン402等を介して基板130
の信号用接続パッド140等に接続できるようにしてい
る。
装置に、上記のような多層構造をしたセラミック等から
なるパッケージ200を用いた場合には、そのパッケー
ジ200の構造が複雑で、そのパッケージ200の製造
に多大な手数と時間を要した。
0の周囲に階段面202を延設して、その階段面202
に外部信号線路400を備えた場合には、半導体装置の
周囲にパッケージの階段面202が突出した状態となっ
て、半導体装置の外径が大きくなってしまった。そし
て、半導体装置のコンパクト化が図れなかった。
プの高周波化、高速化が一段と進んだのに対応して、半
導体装置のパッケージの外部信号線路を接続する基板の
信号用接続パッドとそれに連なる基板の信号回路やコネ
クタとそれに接続した信号線路がコプレナー線路構造を
している。そして、その信号用接続パッドと信号回路や
コネクタと信号線路を高速信号を伝送損失少なく伝える
ことができるようにしている。
体チップを収納した半導体装置にあっても、その基板の
信号用接続パッドやコネクタに接続するパッケージの外
部信号線路をコプレナー線路構造とすることが要求され
ている。
たもので、パッケージの構造を簡易化して、そのパッケ
ージの製造を容易化すると共に、パッケージの周囲の階
段面を無くして、その周囲径を小さくした半導体装置で
あって、パッケージの外部信号線路をコプレナー線路構
造とした半導体装置を提供しようとするものである。
発明の半導体装置は、セラミックからなる薄板と、その
薄板を上下に貫いて形成したキャビティと、そのキャビ
ティを前記薄板の下面側から覆ったヒートシンクと、そ
のヒートシンクの外方に露出した前記薄板の下面に備え
た外部信号線路と、その外部信号線路を囲むようにして
外部信号線路と所定間隔をあけて前記薄板の下面に該下
面のヒートシンクとの接合領域部分を含んで広く備えた
グランド用メタライズ層であって、前記外部信号線路を
そのほぼ全長に亙ってコプレナー線路構造としたグラン
ド用メタライズ層と、前記薄板上面のキャビテイ周囲に
備えた内部信号線路であって、前記グランド用メタライ
ズ層によりそのほぼ全長に亙ってマイクロストリップ線
路構造とした内部信号線路と、前記薄板を上下に貫いて
内部信号線路の外端と外部信号線路の内端とを接続した
導体ヴィアと、前記キャビティ内に露出したヒートシン
ク上に搭載して前記内部信号線路と電気的に接続した半
導体チップと、その半導体チップを収容したキャビティ
上方を覆うようにして前記薄板の上面側に備えたキャッ
プとを具有してなることを特徴としている。
導体ポールをいう。
線路の外方の薄板の上面周囲にシール層を備えて、その
シール層にキャップを接合した構造とすることを好適と
している。
ヴィアの下端の周囲径よりも大きく形成して、その外部
信号線路の内端により導体ヴィアの下端とその周囲の薄
板部分とを覆った構造とすることを好適としている。
部信号線路をその外方に向けて順に連続的に幅狭く形成
した構造とすることを好適としている。
を、セラミックからなる1層等の薄板から形成してい
る。
ずに容易に形成できる。それと共に、パッケージ本体
を、多層構造とせずに、1層化等して、パッケージ、即
ち半導体装置を薄型化できる。
に接続するパッケージの外部信号線路をパッケージ本体
を構成するセラミックからなる薄板の下面に備えてい
る。
設して、その階段面に外部信号線路を備える必要が無く
なり、パッケージの周囲に階段面を延設しない分、パッ
ケージの周囲径、即ち半導体装置の周囲径を小さくでき
る。
に、外部信号線路を囲むようにして外部信号線路と所定
間隔をあけて、グランド用メタライズ層を、薄板下面の
ヒートシンクとの接合領域部分を含んで広く備えてい
る。
トシンクとの接合領域部分を含んで広く備えたグランド
用メタライズ層により、薄板の下面に備えた外部信号線
路をそのほぼ全長に亙ってコプレナー線路構造とするこ
とができる。さらに、その薄板の下面に該下面のヒート
シンクとの接合領域部分を含んで広く備えたグランド用
メタライズ層により、そのグランド用メタライズ層の上
方に位置する薄板の上面に備えた内部信号線路をそのほ
ぼ全長に亙ってマイクロストリップ線路構造とすること
ができる。そして、その外部信号線路と内部信号線路と
の特性インピーダンスを、それらの信号線路のほぼ全長
に亙って一定値に的確にマッチングさせることができ
る。
の内端とを接続する導体ヴィアを、薄く形成した薄板を
上下に貫いて備えている。そして、その導体ヴィアを短
尺化している。
して一連に接続した内部信号線路と外部信号線路とから
なるパッケージの信号線路の特性インピーダンスが上記
の導体ヴィアにより大幅に狂う等して、その信号線路の
高周波特性が低下するのを防止できる。
囲にシール層を備えて、そのシール層にキャップを接合
した半導体装置にあっては、キャップをシール層を介し
て薄板の上面にろう付け等により容易かつ的確に気密に
接合できる。
ヴィアの下端の周囲径よりも大きく形成して、その外部
信号線路の内端により導体ヴィアの下端とその周囲の薄
板部分とを覆った半導体装置にあっては、パッケージの
焼成時に、メタライズ等の導体ポールからなる導体ヴィ
アとその周囲のセラミックからなる薄板との間に、両者
の熱収縮率の差等により、隙間があいた状態となって
も、その導体ヴィアとその周囲の薄板との間にあいた隙
間の下端を、導体ヴィアの下端とその周囲の薄板部分と
を覆う外部信号線路の内端により気密に塞ぐことができ
る。
信号線路をその外方に向けて順に連続的に幅狭く形成し
た半導体装置にあっては、その外部信号線路の側縁を凹
凸のないなだらかな形状に形成して、その外部信号線路
の側縁における高速信号の反射損失を少なく抑えること
ができる。
る。図1ないし図4は本発明の半導体装置の好適な実施
例を示し、図1はその実装状態を示す正面断面図、図2
はそのパッケージ本体の底面図、図3は図2の一部拡大
図、図4はそのパッケージ本体の平面図を示している。
以下に、この半導体装置を説明する。
からなる薄板であって、パッケージ本体を構成してい
る。
ャビティ20を薄板10を上下に貫いて形成している。
側上面には、図4に示したように、メタライズからなる
細帯状の内部信号線路60を複数本並べて備えている。
に、高熱伝導性の金属又はセラミックからなる板状のヒ
ートシンク30を備えて、そのヒートシンク30により
キャビティ20の底面を覆っている。
0の下面4方には、図2に示したように、メタライズか
らなる細帯状の外部信号線路40を複数本並べて備えて
いる。
は、図2に示したように、外部信号線路40を囲むよう
にして、外部信号線路40と所定間隔をあけて、グラン
ド用メタライズ層50を、薄板10下面のヒートシンク
30との接合領域部分を含んで広く連続して備えてい
る。そして、そのグランド用メタライズ層50により、
薄板10の下面に備えた外部信号線路40をそのほぼ全
長に亙ってコプレナー線路構造としている。そして、そ
のグランド用メタライズ層50により、外部信号線路4
0の特性インピーダンスを、その外部信号線路40のほ
ぼ全長に亙って50Ω等にマッチングさせている。
したように、薄板10下面のヒートシンク30との接合
領域部分を含んで薄板10中央のキャビティ20周縁ま
で広く連続して備えていて、そのキャビティ20周囲の
グランド用メタライズ層50により、そのグランド用メ
タライズ層50の上方に位置する薄板10の内側上面に
備えた内部信号線路60をそのほぼ全長に亙ってマイク
ロストリップ線路構造としている。そして、そのグラン
ド用メタライズ層50により、内部信号線路60の特性
インピーダンスを、その内部信号線路60のほぼ全長に
亙って50Ω等にマッチングさせている。
には、薄板10の下面側に備えたヒートシンク30を気
密に接合している。
した場合には、そのヒートシンク30の表面にろう材に
濡れやすいめっきを施して、そのめっきを施したヒート
シンク30を、薄板10の下面のろう材に濡れやすいめ
っきを施したメタライズ層50にろう付けしている。ま
た、ヒートシンク30をセラミックから形成した場合に
は、ヒートシンク30の上面に備えたろう材に濡れやす
いめっきを施したメタライズ層(図示せず)を介して、
ヒートシンク30を薄板10の下面のろう材に濡れやす
いめっきを施したメタライズ層50にろう付けしたり、
又はセラミックからなるヒートシンク30をセラミック
からなる薄板10やメタライズ層50と共に一体焼成し
て、そのヒートシンク30を薄板10の下面にメタライ
ズ層50を介して接合したりしている。
ライズ等の導体ポールからなる導体ヴィア(以下、導体
ヴィアという)70を薄板10を上下に貫いて備えてい
る。そして、その導体ヴィア70を介して、内部信号線
路60の外端と外部信号線路40の内端とを接続してい
る。そして、パッケージ本体を構成する薄板10の上下
面に、内部信号線路60と外部信号線路40とを導体ヴ
ィア70を介して一連に接続してなる信号線路80を備
えている。
周囲には、図4に示したように、メタライズからなる太
帯状のシール層90をリング状に連続して備えている。
シール層90には、ろう材に濡れやすいニッケルめっき
等のめっきを施している。
30上には、図1に示したように、高速で動作させる半
導体チップ100を搭載して、その半導体チップの電極
102をその周辺の内部信号線路60の内端にワイヤ1
10等を介して接続している。そして、半導体チップ1
00を内部信号線路60に電気的に接続している。
な、帽子状をした金属製のキャップ120を備えてい
る。そして、そのキャップ120により、半導体チップ
100を収容したキャビティ20の上方を覆っている。
キャップ120の周囲は、薄板10の上面周囲に備えた
ろう材に濡れやすいめっきを施したシール層90に気密
にろう付けしている。
は、図3に示したように、外部信号線路40の内端の周
囲径を導体ヴィア70の下端の周囲径よりも大きく形成
している。そして、その外部信号線路40の内端によ
り、導体ヴィア70の下端とその周囲の薄板10部分と
を連続して隙間なく覆っている。そして、パッケージの
焼成時に、導体ヴィア70とその周囲の薄板10との間
に両者の熱収縮率の差等により隙間72が生じても、そ
の隙間72の下端を外部信号線路40の内端により気密
に塞ぐことができるようにしている。
なる外部信号線路40を、その外方に向けて順に連続的
に幅狭く形成している。そして、その外部信号線路40
の側縁を凹凸のないなだらかな形状に形成して、その外
部信号線路40の側縁における高速信号の反射損失を少
なく抑えることができるようにしている。
路40の線幅に合わせて、外部信号線路40を囲むメタ
ライズ層50の内周縁の間をその外方に向けて順に連続
的に幅狭く形成している。そして、そのメタライズ層5
0により、コプレナー線路構造とした外部信号線路40
の特性インピーダンスを、外部信号線路40の全長に亙
って50Ω等に的確にマッチングさせている。
上のように構成していて、この半導体装置においては、
図1に示したように、ヒートシンク30を基板130の
表面に設けた凹部132に嵌入して、パッケージ本体を
構成する薄板10の下面を基板130の表面に押接可能
な状態とし、その薄板10の下面に備えた外部信号線路
40とメタライズ層50とを、基板130の表面のコプ
レナー線路構造をした信号用接続パッド140とグラン
ド用接続パッド(図示せず)とにそれぞれ直接にはんだ
付け等により接続したり、基板130の表面に備えたコ
プレナー線路構造をしたコネクタの信号用接続パッド
(図示せず)とグランド用接続パッド(図示せず)とに
それぞれ押接等により接続したりして、基板130に表
面実装したり、又は薄板10の下面に備えた外部信号線
路40とメタライズ層50とを、それにろう付けしたリ
ード(図示せず)を介して、基板(図示せず)の表面の
コプレナー線路構造をした信号用接続パッド(図示せ
ず)とグランド用接続パッド(図示せず)とにそれぞれ
はんだ付け等により接続して、基板に実装したりでき
る。
縮率の差等を極少に抑えて、パッケージの焼成時に、導
体ヴィア70とその周囲の薄板10との間に隙間があか
ないようにした場合は、外部信号線路40の内端の周囲
径を導体ヴィア70の下端の周囲径と同一か又はそれよ
りも小さく形成して、その外部信号線路40の内端によ
り導体ヴィア70の下端の全体又はその一部を覆うよう
にしても良い。
高速の信号を伝えない場合は、外部信号線路40の側縁
を凹凸のある形状に形成しても良い。
90を備えずに、キャップ120を薄板10の上面周囲
に接着剤等を用いて直接に接続しても良い。
置によれば、半導体チップ収容用のパッケージの周囲に
外部信号線路用の階段面を延設する必要を無くして、半
導体装置の周囲径を小さくできる。
クから形成して、パッケージの構造を簡易化し、パッケ
ージの製造の容易化、迅速化が図れる。それと共に、パ
ッケージ本体を薄型化して、半導体装置の丈を低く抑え
ることができる。
する薄板の下面にコプレナー線路構造をした外部信号線
路を備えて、その外部信号線路をコプレナー線路構造を
した基板の信号用接続パッドやコプレナー線路構造をし
たコネクタにその接続部分の特性インピーダンス等の高
周波特性を狂わせずに的確に接続できる。そして、その
外部信号線路と信号用接続パッドに連なるコプレナー線
路構造をした基板の信号回路やコネクタに連なるコプレ
ナー線路構造をした信号線路との間を高速信号を伝送損
失少なく効率良く伝えることが可能となる。
囲にシール層を備えて、そのシール層にキャップを接合
した半導体装置にあっては、そのキャップをシール層を
介して薄板の上面に容易かつ的確に気密に接合できる。
ヴィアの下端の周囲径よりも大きく形成して、その外部
信号線路の内端により導体ヴィアの下端とその周囲の薄
板部分とを覆った半導体装置にあっては、パッケージの
焼成時に、導体ヴィアとその周囲の薄板との間に隙間が
生じても、その隙間の下端を外部信号線路の内端により
気密に塞ぐことができる。そして、薄板からなるパッケ
ージ本体の気密性を的確に保持できる。
信号線路をその外方に向けて順に連続的に幅狭く形成し
た半導体装置にあっては、その外部信号線路の側縁を凹
凸のないなだらかな形状に形成して、その外部信号線路
の側縁における高速信号の反射損失を少なく抑えること
ができる。
図である。
である。
である。
である。
Claims (4)
- 【請求項1】 セラミックからなる薄板と、その薄板を
上下に貫いて形成したキャビティと、そのキャビティを
前記薄板の下面側から覆ったヒートシンクと、そのヒー
トシンクの外方に露出した前記薄板の下面に備えた外部
信号線路と、その外部信号線路を囲むようにして外部信
号線路と所定間隔をあけて前記薄板の下面に該下面のヒ
ートシンクとの接合領域部分を含んで広く備えたグラン
ド用メタライズ層であって、前記外部信号線路をそのほ
ぼ全長に亙ってコプレナー線路構造としたグランド用メ
タライズ層と、前記薄板上面のキャビテイ周囲に備えた
内部信号線路であって、前記グランド用メタライズ層に
よりそのほぼ全長に亙ってマイクロストリップ線路構造
とした内部信号線路と、前記薄板を上下に貫いて内部信
号線路の外端と外部信号線路の内端とを接続した導体ヴ
ィアと、前記キャビティ内に露出したヒートシンク上に
搭載して前記内部信号線路と電気的に接続した半導体チ
ップと、その半導体チップを収容したキャビティ上方を
覆うようにして前記薄板の上面側に備えたキャップとを
具有してなることを特徴とする半導体装置。 - 【請求項2】 内部信号線路の外方の薄板の上面周囲に
シール層を備えて、そのシール層にキャップを接合した
請求項1記載の半導体装置。 - 【請求項3】 外部信号線路の内端の周囲径を導体ヴィ
アの下端の周囲径よりも大きく形成して、その外部信号
線路の内端により導体ヴィアの下端とその周囲の薄板部
分とを覆った請求項1又は2記載の半導体装置。 - 【請求項4】 外部信号線路の内端から延びる外部信号
線路をその外方に向けて順に連続的に幅狭く形成した請
求項1、2又は3記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04205941A JP3126503B2 (ja) | 1992-07-08 | 1992-07-08 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04205941A JP3126503B2 (ja) | 1992-07-08 | 1992-07-08 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0629419A JPH0629419A (ja) | 1994-02-04 |
JP3126503B2 true JP3126503B2 (ja) | 2001-01-22 |
Family
ID=16515259
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04205941A Expired - Lifetime JP3126503B2 (ja) | 1992-07-08 | 1992-07-08 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3126503B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11251488A (ja) * | 1998-03-05 | 1999-09-17 | Sumitomo Metal Electronics Devices Inc | セラミックパッケージ |
KR102218766B1 (ko) * | 2018-12-10 | 2021-02-22 | 주식회사 코스텍시스 | 반도체 디바이스 패키지 |
-
1992
- 1992-07-08 JP JP04205941A patent/JP3126503B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0629419A (ja) | 1994-02-04 |
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