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JP2023111575A - ELECTRICAL INSPECTION DEVICE AND ELECTRICAL INSPECTION METHOD - Google Patents

ELECTRICAL INSPECTION DEVICE AND ELECTRICAL INSPECTION METHOD Download PDF

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JP2023111575A JP2022013489A JP2022013489A JP2023111575A JP 2023111575 A JP2023111575 A JP 2023111575A JP 2022013489 A JP2022013489 A JP 2022013489A JP 2022013489 A JP2022013489 A JP 2022013489A JP 2023111575 A JP2023111575 A JP 2023111575A
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inspection head
imaging unit
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Toru Ishii
裕隆 竹山
Hirotaka TAKEYAMA
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Yamaha Fine Technologies Co Ltd
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Abstract

Figure 2023111575000001

【課題】本発明は、電気検査ヘッドをプリント基板に対して素早くかつ容易に位置合わせすることが可能な電気検査装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の一態様に係る電気検査装置1は、プリント基板Wに法線方向側から接触可能な電気検査ヘッド10と、電気検査ヘッド10を、プリント基板Wの法線方向と平行な回転軸Rを中心として回転させる回転機構11と、プリント基板Wに対して法線方向から正対する光学素子22aを有し、プリント基板Wを撮像可能な撮像部12と、撮像部12を近接位置P1と回避位置P2との間で移動させる移動機構13とを備え、近接位置P1は、電気検査ヘッド10が回転したときに撮像部12が電気検査ヘッド10と接触し得る位置であり、回避位置P2は、電気検査ヘッド10が回転したときに撮像部12が電気検査ヘッド10と接触しない位置である。
【選択図】図1

Figure 2023111575000001

An object of the present invention is to provide an electrical inspection apparatus capable of quickly and easily aligning an electrical inspection head with respect to a printed circuit board.
An electrical inspection apparatus (1) according to one aspect of the present invention includes an electrical inspection head (10) capable of contacting a printed circuit board (W) from the normal direction side, and an electrical inspection head (10) arranged parallel to the normal direction of the printed circuit board (W). and an imaging unit 12 having an optical element 22a that faces the printed circuit board W in the normal direction, and capable of imaging the printed circuit board W. The imaging unit 12 is placed close to each other. A moving mechanism 13 for moving between a position P1 and an avoidance position P2 is provided. The position P2 is a position where the imaging unit 12 does not come into contact with the electrical inspection head 10 when the electrical inspection head 10 rotates.
[Selection drawing] Fig. 1

Description

本発明は、電気検査装置及び電気検査方法に関する。 The present invention relates to an electrical inspection device and an electrical inspection method.

プリント基板の電気的な特性を検査するために電気検査装置が用いられている。この電気検査装置は、複数のプローブ(電気接触子)が配置された電気検査ヘッドと、プリント基板を法線方向から撮像可能な撮像部とを備えている。この電気検査装置は、撮像部によってプリント基板を撮像し、電気検査ヘッドをプリント基板の被検査領域に対して位置合わせしたうえで、電気検査ヘッドをプリント基板に法線方向から接触させることで、プリント基板の電気的な特性を検査する(特許文献1参照)。 An electrical inspection apparatus is used to inspect the electrical characteristics of printed circuit boards. This electrical inspection apparatus includes an electrical inspection head in which a plurality of probes (electrical contacts) are arranged, and an imaging section capable of imaging a printed circuit board from the normal direction. This electrical inspection apparatus captures an image of a printed circuit board using an imaging unit, aligns an electrical inspection head with an area to be inspected on the printed circuit board, and then brings the electrical inspection head into contact with the printed circuit board from the normal direction. The electrical characteristics of the printed circuit board are inspected (see Patent Document 1).

特開2015-52511号公報JP 2015-52511 A

特許文献1には、第4実施形態において、電気検査治具50aのベースプレート51に連結される位置決め機構57を有しており、この位置決め機構57に画像認識用カメラ56が配置された構成が記載されている。 Patent Document 1 describes a configuration in which a positioning mechanism 57 connected to a base plate 51 of an electrical inspection jig 50 a is provided in the fourth embodiment, and an image recognition camera 56 is arranged in the positioning mechanism 57 . It is

特許文献1に記載されている電気検査装置は、位置決め機構57によって画像認識用カメラ56の位置調節ができるため、画像認識用カメラ56を予め正確な位置に固定しておくことを要しない。 The electrical inspection apparatus described in Patent Document 1 can adjust the position of the image recognition camera 56 by the positioning mechanism 57, so it is not necessary to fix the image recognition camera 56 at an accurate position in advance.

一方で、このような電気検査装置では、電気検査ヘッドをプリント基板の被検査領域に位置合わせする際に、電気検査ヘッドをプリント基板の法線方向と平行な軸の周りに回転させることがある。しかしながら、特許文献1に記載されている構成によると、電気検査ヘッドを回転させた場合に、画像認識用カメラが電気検査ヘッドと一緒に回転する。そのため、特許文献1に記載されている電気検査装置は、画像認識用カメラによる撮像と電気検査ヘッドの被検査領域に対する位置合わせとを連続して素早く行う点で、さらなる改良の余地がある。 On the other hand, in such an electrical inspection apparatus, the electrical inspection head may be rotated around an axis parallel to the normal direction of the printed circuit board when aligning the electrical inspection head with the area to be inspected of the printed circuit board. . However, according to the configuration described in Patent Document 1, when the electrical inspection head is rotated, the image recognition camera rotates together with the electrical inspection head. Therefore, the electrical inspection apparatus described in Patent Literature 1 has room for further improvement in that the imaging by the image recognition camera and the alignment of the electrical inspection head with respect to the area to be inspected are continuously and quickly performed.

本発明は、このような事情に基づいてなされたものであり、本発明の目的は、電気検査ヘッドをプリント基板に対して素早くかつ容易に位置合わせすることが可能な電気検査装置を提供することにある。 SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an electrical inspection apparatus capable of quickly and easily aligning an electrical inspection head with respect to a printed circuit board. It is in.

本発明の一態様に係る電気検査装置は、プリント基板に法線方向側から接触可能な電気検査ヘッドと、前記電気検査ヘッドを、前記法線方向と平行な回転軸を中心として回転させる回転機構と、前記プリント基板に対して法線方向から正対する光学素子を有し、前記プリント基板を撮像可能な撮像部と、前記撮像部を近接位置と回避位置との間で移動させる移動機構とを備え、前記近接位置は、前記電気検査ヘッドが回転したときに前記撮像部が前記電気検査ヘッドと接触し得る位置であり、前記回避位置は、前記電気検査ヘッドが回転したときに前記撮像部が前記電気検査ヘッドと接触しない位置である。 An electrical inspection apparatus according to an aspect of the present invention includes an electrical inspection head that can contact a printed circuit board from the normal direction, and a rotation mechanism that rotates the electrical inspection head around a rotation axis parallel to the normal direction. an imaging unit having an optical element facing the printed circuit board in a normal direction and capable of capturing an image of the printed circuit board; and a moving mechanism for moving the imaging unit between an approach position and an avoidance position. The proximity position is a position where the imaging unit can come into contact with the electrical inspection head when the electrical inspection head rotates, and the avoidance position is a position where the imaging unit can contact the electrical inspection head when the electrical inspection head rotates. It is a position out of contact with the electrical test head.

前記移動機構が、前記電気検査ヘッドとは独立して前記撮像部を移動させるとよい。 The moving mechanism may move the imaging section independently of the electrical inspection head.

前記回避位置が、前記近接位置から前記プリント基板の法線方向に遠ざかる位置であるとよい。 The avoidance position may be a position away from the proximity position in the normal direction of the printed circuit board.

前記プリント基板の法線方向視において、前記近接位置における前記撮像部と前記回転軸との間隔が、前記回避位置における前記撮像部と前記回転軸との間隔と同じであるとよい。 When viewed from the normal direction of the printed circuit board, the distance between the imaging unit and the rotation shaft at the close position may be the same as the distance between the imaging unit and the rotation shaft at the avoidance position.

当該電気検査装置は、前記電気検査ヘッドを、前記プリント基板の平面方向に位置決め可能な位置決め機構をさらに備えるとよい。 The electrical inspection apparatus may further include a positioning mechanism capable of positioning the electrical inspection head in a planar direction of the printed circuit board.

前記位置決め機構が、前記電気検査ヘッドと前記撮像部とを同時に前記平面方向に位置決めするとよい。 The positioning mechanism may simultaneously position the electrical inspection head and the imaging section in the planar direction.

本発明の別の一態様に係る電気検査方法は、プリント基板に法線方向側から接触可能な電気検査ヘッドと、前記電気検査ヘッドを、前記法線方向と平行な回転軸を中心として回転させる回転機構と、前記プリント基板に対して法線方向から正対する光学素子を有し、前記プリント基板を撮像可能な撮像部と、前記撮像部を近接位置と回避位置との間で移動させる移動機構とを備える電気検査装置を用い、前記近接位置が、前記電気検査ヘッドを回転したときに前記撮像部が前記電気検査ヘッドと接触し得る位置であり、前記回避位置が、前記電気検査ヘッドを回転したときに前記撮像部が前記電気検査ヘッドと接触しない位置であるように前記撮像部を移動させる。 An electrical inspection method according to another aspect of the present invention includes an electrical inspection head capable of contacting a printed circuit board from the normal direction, and rotating the electrical inspection head around a rotation axis parallel to the normal direction. A rotating mechanism, an imaging unit having an optical element facing the printed circuit board in a normal direction and capable of imaging the printed circuit board, and a moving mechanism for moving the imaging unit between an approach position and an avoidance position. wherein the proximity position is a position where the imaging unit can come into contact with the electrical inspection head when the electrical inspection head is rotated, and the avoidance position is a position where the electrical inspection head is rotated. The imaging unit is moved so that the imaging unit does not come into contact with the electrical inspection head when the electric inspection head is pressed.

本発明の一態様に係る電気検査装置は、前記撮像部を近接位置に配置した状態で、この撮像部によって前記プリント基板を法線方向から撮像した後に、前記撮像部を前記電気検査ヘッドが回転したときに前記電気検査ヘッドと接触しない回避位置に移動することができる。そのため、当該電気検査装置は、前記電気検査ヘッドの近傍から前記撮像部によって前記プリント基板を撮像したうえで、前記電気検査ヘッドを前記撮像部とは独立して回転させることができる。その結果、当該電気検査装置は、前記電気検査ヘッドを前記プリント基板に対して素早くかつ容易に位置合わせすることができる。 In the electrical inspection apparatus according to one aspect of the present invention, the electrical inspection head rotates the imaging unit after imaging the printed circuit board from the normal direction with the imaging unit arranged at a close position. can be moved to a avoidance position where it does not come into contact with the electrical inspection head. Therefore, the electrical inspection apparatus can image the printed circuit board from the vicinity of the electrical inspection head by the imaging unit, and then rotate the electrical inspection head independently of the imaging unit. As a result, the electrical inspection apparatus can quickly and easily align the electrical inspection head with respect to the printed circuit board.

図1は、本発明の一実施形態に係る電気検査装置を、プリント基板の法線方向に対して垂直な方向から見た模式的側面図である。FIG. 1 is a schematic side view of an electrical inspection apparatus according to one embodiment of the present invention, viewed from a direction perpendicular to the normal direction of a printed circuit board. 図2は、図1の電気検査装置の模式的平面図である。2 is a schematic plan view of the electrical inspection apparatus of FIG. 1. FIG. 図3は、図1の電気検査装置における撮像部を回避位置に移動した状態を示す模式的側面図である。FIG. 3 is a schematic side view showing a state in which the imaging unit in the electrical inspection apparatus of FIG. 1 has been moved to the avoidance position. 図4は、図1の電気検査装置を用いた電気検査方法を示すフロー図である。FIG. 4 is a flow chart showing an electrical inspection method using the electrical inspection apparatus of FIG. 図5は、図4の電気検査方法における電気検査ヘッドの回転途中の状態を示す模式的平面図である。5 is a schematic plan view showing a state in the middle of rotation of the electrical inspection head in the electrical inspection method of FIG. 4. FIG. 図6は、図4の電気検査方法における電気検査ヘッドの回転後に撮像部を近接位置に移動した状態を示す模式的側面図である。6 is a schematic side view showing a state in which the imaging unit is moved to the close position after the electrical inspection head is rotated in the electrical inspection method of FIG. 4. FIG. 図7は、図4の電気検査方法における電気検査ヘッドをプリント基板に接触させた状態を示す模式的側面図である。7 is a schematic side view showing a state in which the electrical inspection head is brought into contact with the printed circuit board in the electrical inspection method of FIG. 4. FIG.

以下、適宜図面を参照しつつ、本発明の実施の形態を詳説する。なお、本明細書に記載の数値については、記載された上限値と下限値との一方のみを採用すること、或いは上限値と下限値を任意に組み合わせることが可能である。 BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings as appropriate. For the numerical values described in this specification, it is possible to adopt only one of the described upper limit value and lower limit value, or to arbitrarily combine the upper limit value and the lower limit value.

[電気検査装置]
図1及び図2の電気検査装置1は、プリント基板Wに法線方向(図1のZ方向)側から接触可能な電気検査ヘッド10と、電気検査ヘッド10を、前記法線方向と平行な回転軸Rを中心として回転させる回転機構11と、プリント基板Wに対して法線方向から正対する光学素子22aを有し、プリント基板Wを撮像可能な撮像部12と、撮像部12を近接位置と回避位置との間で移動させる移動機構13とを備える。また、当該電気検査装置1は、電気検査ヘッド10を、プリント基板Wの平面方向(図1のXY平面方向)に位置決め可能な位置決め機構14と、電気検査ヘッド10をプリント基板Wの法線方向に昇降させる昇降機構15と、位置決め機構14に接続される筐体16と、回転機構11、移動機構13、位置決め機構14及び昇降機構15の動作を制御する制御部17とを備える。なお、図1では、プリント基板Wの両面側にそれぞれ電気検査ヘッド10及び撮像部12が配置されている。但し、当該電気検査装置1において、電気検査ヘッド10及び撮像部12の一方又は両方は、プリント基板Wの片面側にのみ配置されていてもよい。また、図1では、電気検査ヘッド10と制御部17とが1対1対応で設けられた構成を図示している。但し、当該電気検査装置1は、一対の電気検査ヘッド10に共通の制御部17を有していてもよい。
[Electrical inspection equipment]
The electrical inspection apparatus 1 of FIGS. 1 and 2 includes an electrical inspection head 10 capable of contacting a printed circuit board W from the normal direction (the Z direction in FIG. 1), and an electrical inspection head 10 arranged parallel to the normal direction. A rotating mechanism 11 that rotates around a rotation axis R, an imaging unit 12 that has an optical element 22a that faces the printed circuit board W in the normal direction, and that can capture an image of the printed circuit board W, and the imaging unit 12 is positioned at a close position. and an avoidance position. In addition, the electrical inspection apparatus 1 includes a positioning mechanism 14 capable of positioning the electrical inspection head 10 in the planar direction of the printed circuit board W (the XY plane direction in FIG. 1), and the electrical inspection head 10 in the normal direction of the printed circuit board W. a housing 16 connected to the positioning mechanism 14; In FIG. 1, an electrical inspection head 10 and an imaging unit 12 are arranged on both sides of the printed circuit board W, respectively. However, in the electrical inspection apparatus 1, one or both of the electrical inspection head 10 and the imaging section 12 may be arranged only on one side of the printed circuit board W. FIG. In addition, FIG. 1 illustrates a configuration in which the electrical inspection head 10 and the control section 17 are provided in one-to-one correspondence. However, the electrical inspection apparatus 1 may have a control section 17 common to the pair of electrical inspection heads 10 .

〔プリント基板〕
プリント基板Wは、板状又はシート状である。プリント基板Wとしては、薄膜状の基材に回路パターンが配置されたものを用いることができる。プリント基板Wには、複数の被検査領域が存在している。当該電気検査装置1は、各被検査領域に対して電気検査ヘッド10を接触させることで、被検査領域毎に電気検査を行うように構成されている。当該電気検査装置1は、プリント基板Wに配置されている複数の被検査領域に対して連続的に電気検査するよう構成されている。なお、本発明において「板状」と「シート状」との間に明確な区別はないが、自重による撓みを実質的に生じないものを「板状」といい、可撓性を有しており、自重により撓みを生じるものを「シート状」ということができる。また、「シート状」は「フィルム状」を含む概念である。
〔Printed board〕
The printed circuit board W is plate-like or sheet-like. As the printed circuit board W, a thin-film substrate on which a circuit pattern is arranged can be used. The printed circuit board W has a plurality of areas to be inspected. The electrical inspection apparatus 1 is configured to perform an electrical inspection for each inspection area by bringing an electrical inspection head 10 into contact with each inspection area. The electrical inspection apparatus 1 is configured to electrically inspect a plurality of areas to be inspected arranged on a printed circuit board W continuously. In the present invention, there is no clear distinction between "plate-like" and "sheet-like", but a "plate-like" is defined as one that does not substantially bend due to its own weight, and has flexibility. A material that bends under its own weight can be called a "sheet". In addition, "sheet-like" is a concept including "film-like".

プリント基板Wは例えば平面視矩形状である。プリント基板Wは、把持具31によって4つの角部を把持された状態で水平に保持されている。プリント基板Wは、その周縁部が把持具31によって部分的に把持されることで空中に保持されている。 The printed circuit board W has, for example, a rectangular shape in plan view. The printed circuit board W is horizontally held with its four corners held by the holding tools 31 . The printed circuit board W is held in the air by its peripheral portion being partially gripped by the gripper 31 .

プリント基板Wには、撮像部12による撮像対象となる基準位置マーカー(不図示)が設けられている。この基準位置マーカーは、プリント基板Wの被検査領域と電気検査ヘッド10との相対的な位置関係を求めるために用いられる。前記基準位置マーカーは、例えば回路パターンそのものであってもよく、回路パターンとは別個に設けられた位置決め用のマークであってもよい。 The printed circuit board W is provided with a reference position marker (not shown) to be imaged by the imaging unit 12 . This reference position marker is used to determine the relative positional relationship between the area to be inspected of the printed circuit board W and the electrical inspection head 10 . The reference position marker may be, for example, the circuit pattern itself, or may be a positioning mark provided separately from the circuit pattern.

(電気検査ヘッド)
電気検査ヘッド10は、複数のプローブ21aと、複数のプローブ21aが通過可能な貫通孔を有する一対の支持板(プリント基板Wに法線方向から接触可能な底板21b、及びプリント基板Wから法線方向に離れる方向において底板21bと対向して配置される天板21c)と、天板21cに固定される基台21dとを有する。複数のプローブ21aは、プリント基板Wの回路パターンに接触可能に設けられている。
(electrical inspection head)
The electrical inspection head 10 includes a plurality of probes 21a and a pair of support plates (a bottom plate 21b that can contact the printed circuit board W from the normal direction, and a normal It has a top plate 21c) arranged to face the bottom plate 21b in the direction away from it, and a base 21d fixed to the top plate 21c. A plurality of probes 21a are provided so as to be able to contact the circuit pattern of the printed circuit board W. As shown in FIG.

プリント基板Wの法線方向視(以下、「平面視」ともいう)において、電気検査ヘッド10は角部を有している。より詳しくは、電気検査ヘッド10は、4つの角部を有する平面視矩形状である。また、基台21dは、平面視で角部を有している。基台21dの平面形状は、電気検査ヘッド10の平面形状と等しい。基台21dの具体的な形状としては、プリント基板Wの法線方向を厚さ方向とする直方体が挙げられる。なお、「直方体」とは、完全な直方体に限定されず、部分的に凹凸を有する形状や、角部が丸められている形状等を含む。 The electrical inspection head 10 has corners when viewed from the normal direction of the printed circuit board W (hereinafter also referred to as “plan view”). More specifically, the electrical inspection head 10 has a rectangular shape in plan view with four corners. In addition, the base 21d has corners in plan view. The planar shape of the base 21 d is the same as the planar shape of the electrical inspection head 10 . A specific shape of the base 21d is a rectangular parallelepiped whose thickness direction is the normal direction of the printed circuit board W. FIG. Note that the term “rectangular parallelepiped” is not limited to a perfect rectangular parallelepiped, and includes a shape with partial unevenness, a shape with rounded corners, and the like.

基台21dの厚さT1は、必要な強度を維持しつつ複数のプローブ21aを適切に保持できる範囲で設定可能である。このような観点から、基台21dの厚さT1の下限としては、30mmが好ましく、40mmがより好ましい。一方、基台21dの厚さT1の上限としては、100mmが好ましく、80mmがより好ましく、60mmがさらに好ましい。前記厚さT1が前記上限を超えると、移動機構13による撮像部12の移動距離を十分に小さくし難くなるおそれがある。 The thickness T1 of the base 21d can be set within a range that can appropriately hold the plurality of probes 21a while maintaining the required strength. From this point of view, the lower limit of the thickness T1 of the base 21d is preferably 30 mm, more preferably 40 mm. On the other hand, the upper limit of the thickness T1 of the base 21d is preferably 100 mm, more preferably 80 mm, and even more preferably 60 mm. If the thickness T1 exceeds the upper limit, it may be difficult to sufficiently reduce the moving distance of the imaging unit 12 by the moving mechanism 13 .

電気検査ヘッド10の厚さT2(底板21bの底面と基台21dの天面とによって画定される厚さ)は、必要な強度を維持しつつ、複数のプローブ21aによってプリント基板Wの電気検査を適切に行える範囲で設定可能である。電気検査ヘッド10の厚さT2の下限としては、例えば50mmが好ましく、60mmがより好ましい。一方、電気検査ヘッド10の厚さT2の上限としては、例えば150mmが好ましく、120mmがより好ましく、90mmがさらに好ましい。 The thickness T2 of the electrical inspection head 10 (the thickness defined by the bottom surface of the bottom plate 21b and the top surface of the base 21d) is such that the electrical inspection of the printed circuit board W can be performed by the plurality of probes 21a while maintaining the necessary strength. It can be set within a range that can be performed appropriately. The lower limit of the thickness T2 of the electrical inspection head 10 is preferably 50 mm, more preferably 60 mm, for example. On the other hand, the upper limit of the thickness T2 of the electrical inspection head 10 is preferably 150 mm, more preferably 120 mm, and even more preferably 90 mm.

(回転機構)
回転機構11は、撮像部12(より詳しくは、後述の撮像端末22)とは独立して、電気検査ヘッド10を回転可能に構成されている。回転機構11は、電気検査ヘッド10に直交する回転軸Rを回転中心として電気検査ヘッド10を回転させる。回転軸Rは、平面視における電気検査ヘッド10の中心部分に配置されている。回転機構11の具体的な構成としては、特に限定されるものではないが、筐体16に配置された軸受(不図示)によって電気検査ヘッド10を直接的又は間接的に回転可能に保持する構成が挙げられる。
(rotating mechanism)
The rotation mechanism 11 is configured to rotate the electrical inspection head 10 independently of the imaging unit 12 (more specifically, an imaging terminal 22 described later). The rotating mechanism 11 rotates the electrical inspection head 10 around a rotation axis R orthogonal to the electrical inspection head 10 . The rotation axis R is arranged at the central portion of the electrical inspection head 10 in plan view. A specific configuration of the rotation mechanism 11 is not particularly limited, but a configuration in which the electrical inspection head 10 is directly or indirectly rotatably held by a bearing (not shown) arranged in the housing 16. is mentioned.

(撮像部)
撮像部12は、プリント基板Wに法線方向から正対する前述の光学素子22aを含む撮像端末22と、画像処理部とを有する。撮像端末22はデジタル画像を撮像可能に設けられている。撮像端末22は、プリント基板Wに設けられている前述の基準位置マーカーを前記法線方向から撮像する。光学素子22aとしては、例えばレンズが挙げられる。前記画像処理部は、撮像端末22が撮像したデジタル画像を処理する。
(imaging unit)
The imaging unit 12 has an imaging terminal 22 including the aforementioned optical element 22a facing the printed circuit board W in the normal direction, and an image processing unit. The imaging terminal 22 is provided so as to be capable of imaging a digital image. The imaging terminal 22 images the above-described reference position marker provided on the printed circuit board W from the normal direction. The optical element 22a is, for example, a lens. The image processing section processes digital images captured by the imaging terminal 22 .

撮像端末22は、電気検査ヘッド10の側方から前記基準位置マーカーを撮像可能に設けられている。このように構成されることで、撮像時における撮像端末22とプリント基板Wとの間隔を小さくすることができる。その結果、撮像端末22に取り込む光量を大きくし、撮像端末22で撮像される画像の認識精度を高めることができる。 The imaging terminal 22 is provided so as to be able to image the reference position marker from the side of the electrical inspection head 10 . With this configuration, the distance between the imaging terminal 22 and the printed circuit board W can be reduced during imaging. As a result, the amount of light captured by the imaging terminal 22 can be increased, and the recognition accuracy of the image captured by the imaging terminal 22 can be improved.

撮像端末22は、電気検査ヘッド10に近接する位置(近接位置P1)から前記基準位置マーカーを撮像する。より詳しくは、撮像端末22は、電気検査ヘッド10を回転させた際に電気検査ヘッド10の角部と接触し得る位置から前記基準位置マーカーを撮像する。このように撮像端末22を電気検査ヘッド10に近接して配置することで、前記基準位置マーカーの撮影後に、電気検査ヘッド10をプリント基板Wの被検査領域に位置合わせする際の電気検査ヘッド10の移動距離を小さくすることができる。その結果、電気検査処理の効率化を図りつつ、電気検査ヘッド10の移動に起因する誤差を抑制することができる。 The image capturing terminal 22 captures an image of the reference position marker from a position near the electrical inspection head 10 (proximate position P1). More specifically, the imaging terminal 22 images the reference position marker from a position where it can come into contact with the corner of the electrical inspection head 10 when the electrical inspection head 10 is rotated. By arranging the imaging terminal 22 in the vicinity of the electrical inspection head 10 in this manner, the electrical inspection head 10 can be positioned when the electrical inspection head 10 is aligned with the area to be inspected of the printed circuit board W after the reference position marker is photographed. movement distance can be reduced. As a result, errors due to the movement of the electrical inspection head 10 can be suppressed while improving the efficiency of the electrical inspection process.

前記画像処理部は、制御部17に含まれていてもよく、制御部17とは別個に設けられていてもよい。前記画像処理部が制御部17に含まれる場合、前記画像処理部は、制御部17によって処理されるプログラムの一部であってもよい。 The image processing section may be included in the control section 17 or may be provided separately from the control section 17 . When the image processing section is included in the control section 17 , the image processing section may be part of a program processed by the control section 17 .

(移動機構)
移動機構13は、撮像端末22を保持している。図1及び図3に示すように、移動機構13は、撮像端末22を近接位置P1と回避位置P2との間で移動させる。近接位置P1は、電気検査ヘッド10が回転したときに撮像部12(より詳しくは撮像端末22)が電気検査ヘッド10と接触し得る位置である。また、回避位置P2は、電気検査ヘッド10が回転したときに撮像部12(より詳しくは撮像端末22)が電気検査ヘッド10と接触しない位置である。
(moving mechanism)
The moving mechanism 13 holds an imaging terminal 22 . As shown in FIGS. 1 and 3, the moving mechanism 13 moves the imaging terminal 22 between the approach position P1 and the avoidance position P2. The proximity position P1 is a position where the imaging unit 12 (more specifically, the imaging terminal 22) can come into contact with the electrical inspection head 10 when the electrical inspection head 10 rotates. The avoidance position P2 is a position where the imaging unit 12 (more specifically, the imaging terminal 22) does not come into contact with the electrical inspection head 10 when the electrical inspection head 10 rotates.

前述のように、当該電気検査装置1は、近接位置P1から撮像端末22によって前記基準位置マーカーを撮像することによって電気検査処理の効率化等を図ることができる。一方で、撮像端末22が近接位置P1に配置されていると、電気検査ヘッド10の回転が制限されることになり、電気検査ヘッド10を被検査領域に位置合わせし難くなることがある。そのため、当該電気検査装置1では、移動機構13によって撮像端末22を回避位置P2に移動できるよう構成している。 As described above, the electrical inspection apparatus 1 can improve the efficiency of the electrical inspection process by imaging the reference position marker with the imaging terminal 22 from the proximity position P1. On the other hand, if the imaging terminal 22 is arranged at the close position P1, the rotation of the electrical inspection head 10 is restricted, and it may be difficult to align the electrical inspection head 10 with the inspection area. Therefore, the electrical inspection apparatus 1 is configured so that the imaging terminal 22 can be moved to the avoidance position P2 by the moving mechanism 13 .

移動機構13は、電気検査ヘッド10とは独立して撮像部12を移動させることが好ましい。換言すると、移動機構13は、電気検査ヘッド10が回転及び昇降した際に、撮像端末22が電気検査ヘッド10に追随して移動しないように設けられていることが好ましい。この構成によると、プリント基板Wに対する光学素子22aの焦点距離を保ちつつ、プリント基板Wに対して電気検査ヘッド10を位置合わせし、かつこの位置合わせ後に電気検査ヘッド10によって電気検査を行うことができる。その結果、電気検査をより効率的かつ安定的に行うことができる。 The moving mechanism 13 preferably moves the imaging section 12 independently of the electrical inspection head 10 . In other words, the moving mechanism 13 is preferably provided so that the imaging terminal 22 does not move following the electrical inspection head 10 when the electrical inspection head 10 rotates and moves up and down. According to this configuration, it is possible to align the electrical inspection head 10 with respect to the printed circuit board W while maintaining the focal length of the optical element 22a with respect to the printed circuit board W, and to perform an electrical inspection with the electrical inspection head 10 after this alignment. can. As a result, electrical inspection can be performed more efficiently and stably.

図3に示すように、回避位置P2は、近接位置P1からプリント基板Wの法線方向に遠ざかる位置であることが好ましい。このように構成されることで、当該電気検査装置1は、撮像端末22を電気検査ヘッド10の側方で、かつ電気検査ヘッド10と近接して配置した場合でも、撮像端末22の移動距離が増加することを防止できる。その結果、電気検査処理の効率化を促進しつつ、電気検査ヘッド10の移動に起因する誤差をより容易に抑制することができる。 As shown in FIG. 3, the avoidance position P2 is preferably a position away from the proximity position P1 in the normal direction of the printed circuit board W. As shown in FIG. By being configured in this manner, the electrical inspection apparatus 1 can maintain the moving distance of the imaging terminal 22 even when the imaging terminal 22 is disposed on the side of the electrical inspection head 10 and in close proximity to the electrical inspection head 10. You can prevent it from increasing. As a result, errors due to the movement of the electrical inspection head 10 can be more easily suppressed while promoting the efficiency of the electrical inspection process.

プリント基板Wの法線方向視において、近接位置P1における撮像部12(より詳しくは撮像端末22)と回転軸Rとの間隔は、回避位置P2における撮像部12(より詳しくは撮像端末22)と回転軸Rとの間隔と同じであることが好ましい。このように構成されることで、撮像端末22の移動距離を容易に小さくすることができる。 When viewed from the normal direction of the printed circuit board W, the distance between the imaging unit 12 (more specifically, the imaging terminal 22) at the proximity position P1 and the rotation axis R is the distance between the imaging unit 12 (more specifically, the imaging terminal 22) at the avoidance position P2. It is preferably the same as the interval with the rotation axis R. With this configuration, the moving distance of the imaging terminal 22 can be easily reduced.

移動機構13は、撮像端末22を直動させるように設けられていることが好ましい。この構成によると、撮像端末22の移動距離をより容易に小さくすることができる。 The moving mechanism 13 is preferably provided so as to linearly move the imaging terminal 22 . According to this configuration, the moving distance of the imaging terminal 22 can be reduced more easily.

近接位置P1と回避位置P2との間における撮像部12の移動距離としては、電気検査ヘッド10の厚さT2以下が好ましく、基台21dの厚さT1以下がより好ましい。当該電気検査装置1は、例えば基台21dの側方から撮像端末22によって前記基準位置マーカーを撮像するように構成することで、撮像部12の移動距離を基台21dの厚さT1以下に制御することができる。この構成によると、近接位置P1におけるプリント基板Wに対する光学素子22aの焦点距離を適切に維持しつつ、撮像端末22の移動距離を容易に小さくすることができる。 The moving distance of the imaging unit 12 between the approach position P1 and the avoidance position P2 is preferably equal to or less than the thickness T2 of the electrical inspection head 10, and more preferably equal to or less than the thickness T1 of the base 21d. The electrical inspection apparatus 1 is configured, for example, to image the reference position marker by the imaging terminal 22 from the side of the base 21d, thereby controlling the movement distance of the imaging unit 12 to be equal to or less than the thickness T1 of the base 21d. can do. According to this configuration, the moving distance of the imaging terminal 22 can be easily reduced while appropriately maintaining the focal length of the optical element 22a with respect to the printed circuit board W at the close position P1.

移動機構13は、筐体16に連結された状態で撮像端末22を保持している。移動機構13は、撮像端末22を筐体16に対してプリント基板Wの法線方向にスライド可能に設けられている。このように構成されることで、移動機構13は、電気検査ヘッド10とは独立して、撮像端末22をプリント基板Wの法線方向に移動することができる。移動機構13の具体的な構成としては、例えば筐体16に配置されるレール部材と、このレール部材にスライド可能に配置され、撮像端末22を固定可能な可動部材とを有する構成が挙げられる。 The moving mechanism 13 holds the imaging terminal 22 while being connected to the housing 16 . The moving mechanism 13 is provided so that the imaging terminal 22 can slide in the normal direction of the printed circuit board W with respect to the housing 16 . With this configuration, the moving mechanism 13 can move the imaging terminal 22 in the normal direction of the printed circuit board W independently of the electrical inspection head 10 . A specific configuration of the moving mechanism 13 includes, for example, a rail member arranged on the housing 16 and a movable member slidably arranged on the rail member and capable of fixing the imaging terminal 22 .

(位置決め機構)
位置決め機構14は、電気検査ヘッド10の向きを維持した状態で、この電気検査ヘッド10をプリント基板Wの平面方向に位置決めする。当該電気検査装置1は、位置決め機構14を備えることで、前記基準位置マーカーを撮像部12によって撮像した後に、電気検査ヘッド10を被検査領域に容易に位置合わせすることができる。
(positioning mechanism)
The positioning mechanism 14 positions the electrical inspection head 10 in the planar direction of the printed circuit board W while maintaining the orientation of the electrical inspection head 10 . Since the electrical inspection apparatus 1 includes the positioning mechanism 14 , the electrical inspection head 10 can be easily aligned with the area to be inspected after the image of the reference position marker is captured by the imaging unit 12 .

位置決め機構14の具体的な構成としては、電気検査ヘッド10をプリント基板Wの平面方向に位置決めできる限り、特に限定されるものではないが、例えば図1及び図2に示す直交座標型システムが挙げられる。位置決め機構14は、プリント基板Wの平面方向と平行な一方向(図1及び図2のY方向)に並行に延びる一対の固定レール14aと、プリント基板Wの平面方向と平行に延び、一対の固定レール14a間に掛け渡される可動レール14bと、可動レール14bに配置される移動体14cとを有する。移動体14cには、筐体16が固定されている。 A specific configuration of the positioning mechanism 14 is not particularly limited as long as the electrical inspection head 10 can be positioned in the planar direction of the printed circuit board W. For example, an orthogonal coordinate system shown in FIGS. 1 and 2 can be used. be done. The positioning mechanism 14 includes a pair of fixed rails 14a extending parallel to one direction (the Y direction in FIGS. 1 and 2) parallel to the planar direction of the printed circuit board W, and a pair of fixed rails 14a extending parallel to the planar direction of the printed circuit board W and extending parallel to the planar direction of the printed circuit board W. It has a movable rail 14b that spans between the fixed rails 14a, and a movable body 14c that is arranged on the movable rail 14b. A housing 16 is fixed to the moving body 14c.

位置決め機構14は、一対の固定レール14aの延在方向(図1及び図2のY方向)に沿って可動レール14bが移動し、かつ可動レール14bの延在方向(図1及び図2のX方向)に沿って移動体14cが移動するように構成されている。このように構成されていることで、筐体16は、プリント基板Wの平面方向における向きを維持しつつ、この平面方向に移動可能に設けられる。その結果、電気検査ヘッド10も、筐体16と共に、プリント基板Wの平面方向における向きを維持しつつ、この平面方向に移動する。 In the positioning mechanism 14, the movable rail 14b moves along the extending direction (the Y direction in FIGS. 1 and 2) of a pair of fixed rails 14a, and the movable rail 14b moves in the extending direction (the X direction in FIGS. 1 and 2). direction). With such a configuration, the housing 16 is provided so as to be movable in the plane direction while maintaining the orientation of the printed circuit board W in the plane direction. As a result, the electrical inspection head 10 moves along with the housing 16 in the planar direction of the printed circuit board W while maintaining its orientation in the planar direction.

また、位置決め機構14は、電気検査ヘッド10と撮像部12とを同時にプリント基板Wの平面方向に位置決め可能に設けられている。より詳しく説明すると、撮像端末22は、移動機構13を介して筐体16に連結されていることで、筐体16と共に、プリント基板Wの平面方向に移動するよう構成されている。その結果、電気検査ヘッド10と撮像端末22とは、筐体16を介して、位置決め機構14によって同時にプリント基板Wの平面方向に位置決めされるよう構成されている。このように構成されていることで、当該電気検査装置1は、電気検査処理の効率化を促進しつつ、電気検査ヘッド10の移動に起因する誤差をより容易に抑制することができる。 Further, the positioning mechanism 14 is provided so as to be able to position the electrical inspection head 10 and the imaging section 12 in the planar direction of the printed circuit board W at the same time. More specifically, the imaging terminal 22 is connected to the housing 16 via the moving mechanism 13 so as to move in the planar direction of the printed circuit board W together with the housing 16 . As a result, the electrical inspection head 10 and the imaging terminal 22 are configured to be simultaneously positioned in the planar direction of the printed circuit board W by the positioning mechanism 14 via the housing 16 . By being configured in this manner, the electrical inspection apparatus 1 can more easily suppress errors caused by the movement of the electrical inspection head 10 while promoting the efficiency of the electrical inspection process.

(昇降機構)
昇降機構15は、電気検査ヘッド10の基台21dに固定される固定部材18を昇降可能に設けられている。昇降機構15は、固定部材18を昇降させることで、電気検査ヘッド10をプリント基板Wの法線方向に移動させる。
(lifting mechanism)
The elevating mechanism 15 is provided so as to be able to elevate a fixing member 18 fixed to the base 21 d of the electrical inspection head 10 . The elevating mechanism 15 moves the electrical inspection head 10 in the normal direction of the printed circuit board W by elevating the fixing member 18 .

固定部材18は、筐体16に対してスライド可能に配置されている。固定部材18は、筐体16とは独立して昇降するよう構成されている。このように構成されることで、昇降機構15は、移動機構13による撮像部12の移動とは独立して電気検査ヘッド10を昇降させるように設けられている。 The fixing member 18 is arranged slidably with respect to the housing 16 . The fixing member 18 is configured to move up and down independently of the housing 16 . With this configuration, the lifting mechanism 15 is provided so as to lift and lower the electrical inspection head 10 independently of the movement of the imaging unit 12 by the moving mechanism 13 .

(筐体)
筐体16は、前述のように移動体14cに固定されている。これにより、筐体16は、プリント基板Wの平面方向における向きを維持しつつ、プリント基板Wの平面方向に移動可能に構成されている。
(Case)
The housing 16 is fixed to the moving body 14c as described above. Thus, the housing 16 is configured to be movable in the planar direction of the printed circuit board W while maintaining the orientation of the printed circuit board W in the planar direction.

(制御部)
制御部17は、例えばデータ処理を行うCPU(Central Processing Unit)や各種情報を一時的或いは恒久的に記憶する半導体メモリ等の記憶部を有するコンピュータを含んで構成される。
(control part)
The control unit 17 includes, for example, a CPU (Central Processing Unit) that performs data processing and a computer that has a storage unit such as a semiconductor memory that temporarily or permanently stores various types of information.

制御部17による制御手順の一例について説明する。制御部17は、まず、撮像端末22によって近接位置P1からプリント基板Wの前記基準位置マーカーを撮像させる。次に、制御部17は、撮像端末22を回避位置P2に移動させ、この状態で電気検査ヘッド10を回転軸Rを回転中心として90°回転させると共に、電気検査ヘッド10をプリント基板Wの被検査領域に位置合わせする。また、制御部17は、電気検査ヘッド10の回転後に、撮像端末22を近接位置P1に移動させる。さらに、制御部17は、撮像端末22を近接位置P1に維持しつつ、電気検査ヘッド10をプリント基板Wに法線方向側から接触させ、プリント基板Wの被検査領域における電気検査を行う。制御部17は、電気検査ヘッド10による電気検査が終わった後に、電気検査ヘッド10をプリント基板Wから離間させる。制御部17は、プリント基板Wの各被検査領域に対して、必要に応じて一部の手順を変更しつつ前述の手順を行うよう、回転機構11、移動機構13、位置決め機構14及び昇降機構15の動作を制御する。当該電気検査装置1は、制御部17が前述の制御を行うことで、電気検査ヘッド10をプリント基板Wに対して素早くかつ容易に位置合わせしつつ、プリント基板Wの電気検査を適切に行うことができる。 An example of a control procedure by the control unit 17 will be described. The control unit 17 first causes the imaging terminal 22 to image the reference position marker of the printed circuit board W from the proximity position P1. Next, the control unit 17 moves the imaging terminal 22 to the avoidance position P2, rotates the electrical inspection head 10 about the rotation axis R by 90° in this state, and moves the electrical inspection head 10 to cover the printed circuit board W. Align to the inspection area. Further, the control unit 17 moves the imaging terminal 22 to the proximity position P1 after the electrical inspection head 10 rotates. Further, the control unit 17 brings the electrical inspection head 10 into contact with the printed circuit board W from the normal direction side while maintaining the imaging terminal 22 at the close position P1, and performs an electrical inspection of the area to be inspected of the printed circuit board W. The control unit 17 separates the electrical inspection head 10 from the printed circuit board W after the electrical inspection by the electrical inspection head 10 is finished. The control unit 17 controls the rotating mechanism 11, the moving mechanism 13, the positioning mechanism 14, and the elevating mechanism so as to perform the above-described procedures for each area to be inspected of the printed circuit board W while partially changing the procedures as necessary. 15 operations. In the electrical inspection apparatus 1, the electrical inspection head 10 can be quickly and easily positioned with respect to the printed circuit board W by the control unit 17 performing the above-described control, and the electrical inspection of the printed circuit board W can be appropriately performed. can be done.

[電気検査方法]
次に、各図を参照して、図1及び図2の電気検査装置1を用いた電気検査方法について説明する。
[Electrical inspection method]
Next, an electrical inspection method using the electrical inspection apparatus 1 of FIGS. 1 and 2 will be described with reference to each drawing.

当該電気検査方法は、プリント基板Wに法線方向側から接触可能な電気検査ヘッド10と、電気検査ヘッド10を、前記法線方向と平行な回転軸Rを中心として回転させる回転機構11と、プリント基板Wに対して法線方向から正対する光学素子22aを有し、プリント基板Wを撮像可能な撮像部12と、撮像部12を近接位置P1と回避位置P2との間で移動させる移動機構13とを備える電気検査装置1を用いて行う。図4に示すように、当該電気検査方法は、近接位置P1で撮像部12によってプリント基板Wを撮像し(S1)、撮像部12を回避位置P2に移動し(S2)、電気検査ヘッド10を回転し(S3)、撮像部12を近接位置P1に移動し(S4)、電気検査ヘッド10をプリント基板Wに接触させる(S5)。なお、当該電気検査方法は、S5の後に、電気検査ヘッド10をプリント基板Wから離間する手順を備える。当該電気検査方法は、プリント基板Wの各被検査領域に対して、必要に応じて一部の手順を変更しつつ前述の手順を繰り返し行うことで、電気検査ヘッド10をプリント基板Wに対して素早くかつ容易に位置合わせしつつ、プリント基板Wの電気検査を適切に行うことができる。 The electrical inspection method includes an electrical inspection head 10 that can contact a printed circuit board W from the normal direction, a rotating mechanism 11 that rotates the electrical inspection head 10 around a rotation axis R parallel to the normal direction, An imaging unit 12 having an optical element 22a facing the printed circuit board W in the normal direction and capable of imaging the printed circuit board W, and a movement mechanism for moving the imaging unit 12 between the approach position P1 and the avoidance position P2. 13 using the electrical inspection apparatus 1. As shown in FIG. 4, in the electrical inspection method, the printed circuit board W is imaged by the imaging unit 12 at the proximity position P1 (S1), the imaging unit 12 is moved to the avoidance position P2 (S2), and the electrical inspection head 10 is moved. Rotate (S3), move the imaging unit 12 to the proximity position P1 (S4), and bring the electrical inspection head 10 into contact with the printed circuit board W (S5). The electrical inspection method includes a procedure for separating the electrical inspection head 10 from the printed circuit board W after S5. In the electrical inspection method, the electrical inspection head 10 is applied to the printed circuit board W by repeating the above-described procedure for each inspection area of the printed circuit board W while partially changing the procedure as necessary. The electrical inspection of the printed circuit board W can be properly performed while aligning the position quickly and easily.

(S1)
S1では、図1に示すように、撮像端末22が近接位置P1に配置されている状態で、撮像端末22によってプリント基板Wの基準位置マーカーを撮像する。
(S1)
In S1, as shown in FIG. 1, the image pickup terminal 22 picks up an image of the reference position marker of the printed circuit board W while the image pickup terminal 22 is placed at the proximity position P1.

(S2)
S2では、図3に示すように、撮像端末22を回避位置P2に移動する。S2では、近接位置P1が、電気検査ヘッド10を回転したときに撮像部12(より詳しくは撮像端末22)が電気検査ヘッド10に接触し得る位置であり、回避位置P2が、電気検査ヘッド10を回転したときに撮像部12(より詳しくは撮像端末22)が電気検査ヘッド10と接触しない位置であるように撮像部12を移動させる。
(S2)
In S2, as shown in FIG. 3, the imaging terminal 22 is moved to the avoidance position P2. In S2, the proximity position P1 is the position where the imaging unit 12 (more specifically, the imaging terminal 22) can come into contact with the electrical inspection head 10 when the electrical inspection head 10 is rotated, and the avoidance position P2 is the position where the electrical inspection head 10 is rotated. The imaging unit 12 (more specifically, the imaging terminal 22) is moved to a position where the imaging unit 12 (more specifically, the imaging terminal 22) does not come into contact with the electrical inspection head 10 when the is rotated.

(S3)
S3では、図5に示すように、撮像端末22が回避位置P2にある状態で、回転軸Rを回転中心として電気検査ヘッド10を回転させる。より詳しくは、S3では、プリント基板Wの法線方向視において、撮像端末22が電気検査ヘッド10と重なり合わない位置まで電気検査ヘッド10を回転させる。電気検査ヘッド10の回転角度としては、特に限定されるものではないが、典型的には90°とすることができる。
(S3)
In S3, as shown in FIG. 5, the electrical inspection head 10 is rotated about the rotation axis R with the imaging terminal 22 at the avoidance position P2. More specifically, in S<b>3 , the electrical inspection head 10 is rotated to a position where the imaging terminal 22 does not overlap the electrical inspection head 10 when viewed from the normal direction of the printed circuit board W. The rotation angle of the electrical inspection head 10 is not particularly limited, but can typically be 90°.

(S4)
S4では、図6に示すように、S3で電気検査ヘッド10を回転した後に、撮像端末22を近接位置P1に移動する。より詳しくは、S4では、S2で撮像端末22を近接位置P1から回避位置P2に移動させたのと同じ経路を通って撮像端末22を回避位置P2から近接位置P1に移動する。なお、当該電気検査方法では、S1の終わりからS5の開始までの任意のタイミングで、位置決め機構14によって電気検査ヘッド10をプリント基板Wの被検査領域に位置合わせするとよい。
(S4)
In S4, as shown in FIG. 6, after rotating the electrical inspection head 10 in S3, the imaging terminal 22 is moved to the proximity position P1. More specifically, in S4, the imaging terminal 22 is moved from the avoidance position P2 to the proximity position P1 along the same route as the imaging terminal 22 was moved from the proximity position P1 to the avoidance position P2 in S2. In the electrical inspection method, the electrical inspection head 10 may be aligned with the area to be inspected of the printed circuit board W by the positioning mechanism 14 at an arbitrary timing from the end of S1 to the start of S5.

(S5)
S5では、図7に示すように、電気検査ヘッド10をプリント基板Wに法線方向側から接触させ、複数のプローブ21aによって被検査領域の電気検査を行う。
(S5)
In S5, as shown in FIG. 7, the electrical inspection head 10 is brought into contact with the printed circuit board W from the normal direction side, and electrical inspection of the area to be inspected is performed by the plurality of probes 21a.

<利点>
当該電気検査装置1は、撮像部12を近接位置P1に配置した状態で、この撮像部12によってプリント基板Wを法線方向から撮像した後に、撮像部12を電気検査ヘッド10が回転したときに電気検査ヘッド10と接触しない回避位置P2に移動することができる。そのため、当該電気検査装置1は、電気検査ヘッド10の近傍から撮像部12によってプリント基板Wを撮像したうえで、電気検査ヘッド10を撮像部12とは独立して回転させることができる。その結果、当該電気検査装置1は、電気検査ヘッド10を前記プリント基板Wに対して素早くかつ容易に位置合わせすることができる。このため、当該電気検査装置1は、プリント基板Wの電気検査を素早くかつ安定的に行うことができる。
<Advantages>
In the electrical inspection apparatus 1, the imaging unit 12 is arranged at the close position P1, and after the printed circuit board W is imaged from the normal direction by the imaging unit 12, when the electrical inspection head 10 rotates the imaging unit 12, It can move to the avoidance position P<b>2 where it does not come into contact with the electrical inspection head 10 . Therefore, the electrical inspection apparatus 1 can image the printed circuit board W from the vicinity of the electrical inspection head 10 with the imaging unit 12 and then rotate the electrical inspection head 10 independently of the imaging unit 12 . As a result, the electrical inspection apparatus 1 can align the electrical inspection head 10 with respect to the printed circuit board W quickly and easily. Therefore, the electrical inspection apparatus 1 can perform the electrical inspection of the printed circuit board W quickly and stably.

当該電気検査方法は、撮像部12を近接位置P1に配置した状態で、この撮像部12によってプリント基板Wを法線方向から撮像した後に、撮像部12を電気検査ヘッド10が回転したときに電気検査ヘッド10と接触しない回避位置P2に移動することができる。そのため、当該電気検査方法は、電気検査ヘッド10の近傍から撮像部12によってプリント基板Wを撮像したうえで、電気検査ヘッド10を撮像部12とは独立して回転させることができる。その結果、当該電気検査方法は、電気検査ヘッド10を前記プリント基板Wに対して素早くかつ容易に位置合わせすることができる。このため、当該電気検査方法は、プリント基板Wの電気検査を素早くかつ安定的に行うことができる。 In the electrical inspection method, the imaging unit 12 is placed at the close position P1, and after the printed circuit board W is imaged from the normal direction by the imaging unit 12, when the electrical inspection head 10 rotates the imaging unit 12, the electrical inspection is performed. It can move to the avoidance position P<b>2 where it does not come into contact with the inspection head 10 . Therefore, the electrical inspection method can rotate the electrical inspection head 10 independently of the imaging unit 12 after imaging the printed circuit board W from the vicinity of the electrical inspection head 10 with the imaging unit 12 . As a result, the electrical inspection method can align the electrical inspection head 10 with respect to the printed circuit board W quickly and easily. Therefore, the electrical inspection method can perform the electrical inspection of the printed circuit board W quickly and stably.

[その他の実施形態]
前記実施形態は、本発明の構成を限定するものではない。従って、前記実施形態は、本明細書の記載及び技術常識に基づいて前記実施形態各部の構成要素の省略、置換又は追加が可能であり、それらは全て本発明の範囲に属するものと解釈されるべきである。
[Other embodiments]
The above embodiments do not limit the configuration of the present invention. Therefore, in the embodiment, the components of each part of the embodiment can be omitted, replaced, or added based on the description of the present specification and common general technical knowledge, and all of them are interpreted as belonging to the scope of the present invention. should.

前記実施形態では、移動機構が撮像部をプリント基板の法線方向に移動させる構成について説明した。但し、当該電気検査装置において、前記撮像部の移動方向は前記プリント基板の法線方向に限定されない。例えば前記移動機構は、前記撮像部を前記プリント基板の平面方向に移動させてもよい。また、前記移動機構は、前記撮像部を直動させなくてもよい。例えば前記移動機構は、前記撮像部を前記プリント基板の平面方向に旋回移動させてもよい。 In the above embodiment, the configuration in which the moving mechanism moves the imaging unit in the normal direction of the printed circuit board has been described. However, in the electrical inspection apparatus, the moving direction of the imaging section is not limited to the normal direction of the printed circuit board. For example, the moving mechanism may move the imaging section in a planar direction of the printed circuit board. Further, the moving mechanism does not have to linearly move the imaging section. For example, the moving mechanism may pivotally move the imaging section in a planar direction of the printed circuit board.

前記実施形態では、前記プリント基板が水平方向に保持される構成について説明した。但し、前記プリント基板の保持方向は、装置の仕様に応じて変更可能である。また、前記実施形態では、把持具によって前記プリント基板の角部を把持する構成について説明したが、当該電気検査装置におけるプリント基板の把持方法は前記構成に限定されるものではない。 In the above embodiment, the configuration in which the printed circuit board is held horizontally has been described. However, the holding direction of the printed circuit board can be changed according to the specifications of the device. Further, in the above embodiment, the configuration for gripping the corners of the printed circuit board with a gripper has been described, but the method for gripping the printed circuit board in the electrical inspection apparatus is not limited to the above configuration.

前記電気検査ヘッドの具体的な構成は、前述の実施形態の構成に限定されない。例えば前記電気検査ヘッドは、前述の支持板を有しない構成を採用することも可能である。前記支持板を有しない構成としては、前記底板及び前記天板の一方又は両方を有しない構成が挙げられる。例えば前記電気検査ヘッドが前記底板を有しない場合、前記電気検査ヘッドの厚さは、前記基台と前記プローブとの合計厚さによって求めることができる。なお、ここでいうプローブの厚さとは、電気検査前の状態におけるプローブの突出長さを意味する。 The specific configuration of the electrical inspection head is not limited to the configurations of the above-described embodiments. For example, the electrical inspection head can employ a configuration that does not have the aforementioned support plate. The structure without the support plate includes a structure without one or both of the bottom plate and the top plate. For example, when the electrical inspection head does not have the bottom plate, the thickness of the electrical inspection head can be determined by the total thickness of the base and the probes. In addition, the thickness of the probe here means the protruding length of the probe in the state before the electrical inspection.

前述のように、前記移動機構は、前記電気検査ヘッドとは独立して前記撮像部を移動できることが好ましい。但し、当該電気検査装置は、前記撮像部を前記電気検査ヘッドの回転にあわせて回転しないように保持できる場合であれば、前記撮像部が前記電気検査ヘッドにあわせて昇降する構成を採用することも可能である。 As described above, it is preferable that the moving mechanism can move the imaging section independently of the electrical inspection head. However, if the electrical inspection apparatus can hold the imaging unit so as not to rotate in accordance with the rotation of the electrical inspection head, the imaging unit may move up and down in accordance with the electrical inspection head. is also possible.

前記実施形態では、前記電気検査ヘッドと前記撮像部とが、前記位置決め機構によって前記プリント基板の平面方向に同時に位置決めされる構成について説明した。但し、当該電気検査装置は、前記電気検査ヘッドと前記撮像部とが、前記プリント基板の平面方向に別々に位置決めされる構成を採用することも可能である。 The said embodiment demonstrated the structure by which the said electrical inspection head and the said imaging part are simultaneously positioned in the plane direction of the said printed circuit board by the said positioning mechanism. However, the electrical inspection apparatus may employ a configuration in which the electrical inspection head and the imaging section are separately positioned in the planar direction of the printed circuit board.

前記実施形態では、前記電気検査ヘッドが、前記位置決め機構によって前記プリント基板の平面方向に位置決めされる構成について説明した。但し、当該電気検査装置は、前記プリント基板が平面方向に移動することで、前記電気検査ヘッドが前記プリント基板の平面方向に位置決めされるよう構成されていてもよい。 The said embodiment demonstrated the structure by which the said electrical inspection head is positioned in the plane direction of the said printed circuit board by the said positioning mechanism. However, the electrical inspection apparatus may be configured such that the electrical inspection head is positioned in the planar direction of the printed circuit board by moving the printed circuit board in the planar direction.

以上説明したように、本発明の一態様に係る電気検査装置は、電気検査ヘッドをプリント基板に対して素早くかつ容易に位置合わせするのに適している。 As described above, the electrical inspection apparatus according to one aspect of the present invention is suitable for quickly and easily aligning an electrical inspection head with respect to a printed circuit board.

1 電気検査装置
10 電気検査ヘッド
11 回転機構
12 撮像部
13 移動機構
14 位置決め機構
14a 固定レール
14b 可動レール
14c 移動体
15 昇降機構
16 筐体
17 制御部
18 固定部材
21a プローブ
21b 底板
21c 天板
21d 基台
22 撮像端末
22a 光学素子
31 把持具
R 回転軸
W プリント基板
P1 近接位置
P2 回避位置
T1 基台の厚さ
T2 電気検査ヘッドの厚さ
1 electrical inspection device 10 electrical inspection head 11 rotating mechanism 12 imaging unit 13 moving mechanism 14 positioning mechanism 14a fixed rail 14b movable rail 14c movable body 15 lifting mechanism 16 housing 17 control unit 18 fixed member 21a probe 21b bottom plate 21c top plate 21d base Base 22 Imaging terminal 22a Optical element 31 Gripper R Rotational axis W Printed circuit board P1 Approach position P2 Avoidance position T1 Base thickness T2 Electrical inspection head thickness

Claims (7)

プリント基板に法線方向側から接触可能な電気検査ヘッドと、
前記電気検査ヘッドを、前記法線方向と平行な回転軸を中心として回転させる回転機構と、
前記プリント基板に対して法線方向から正対する光学素子を有し、前記プリント基板を撮像可能な撮像部と、
前記撮像部を近接位置と回避位置との間で移動させる移動機構と
を備え、
前記近接位置は、前記電気検査ヘッドが回転したときに前記撮像部が前記電気検査ヘッドと接触し得る位置であり、
前記回避位置は、前記電気検査ヘッドが回転したときに前記撮像部が前記電気検査ヘッドと接触しない位置である
電気検査装置。
an electrical inspection head capable of contacting the printed circuit board from the normal direction;
a rotation mechanism for rotating the electrical inspection head around a rotation axis parallel to the normal direction;
an imaging unit having an optical element facing the printed circuit board in a normal direction and capable of capturing an image of the printed circuit board;
a movement mechanism that moves the imaging unit between an approach position and an avoidance position,
The close position is a position where the imaging unit can come into contact with the electrical inspection head when the electrical inspection head rotates,
The electrical inspection apparatus, wherein the avoidance position is a position where the imaging unit does not come into contact with the electrical inspection head when the electrical inspection head rotates.
前記移動機構が、前記電気検査ヘッドとは独立して前記撮像部を移動させる請求項1に記載の電気検査装置。 The electrical inspection apparatus according to claim 1, wherein the moving mechanism moves the imaging section independently of the electrical inspection head. 前記回避位置が、前記近接位置から前記プリント基板の法線方向に遠ざかる位置である請求項1又は請求項2に記載の電気検査装置。 3. The electrical inspection apparatus according to claim 1, wherein the avoidance position is a position away from the proximity position in the normal direction of the printed circuit board. 前記プリント基板の法線方向視において、前記近接位置における前記撮像部と前記回転軸との間隔が、前記回避位置における前記撮像部と前記回転軸との間隔と同じである請求項1、請求項2又は請求項3に記載の電気検査装置。 1, wherein when viewed from the normal direction of the printed circuit board, the distance between the imaging section and the rotation axis at the close position is the same as the distance between the imaging section and the rotation axis at the avoidance position. The electrical inspection device according to claim 2 or 3. 前記電気検査ヘッドを、前記プリント基板の平面方向に位置決め可能な位置決め機構をさらに備える請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の電気検査装置。 The electrical inspection apparatus according to any one of claims 1 to 4, further comprising a positioning mechanism capable of positioning the electrical inspection head in a planar direction of the printed circuit board. 前記位置決め機構が、前記電気検査ヘッドと前記撮像部とを同時に前記平面方向に位置決めする請求項5に記載の電気検査装置。 The electrical inspection apparatus according to claim 5, wherein the positioning mechanism simultaneously positions the electrical inspection head and the imaging section in the planar direction. プリント基板に法線方向側から接触可能な電気検査ヘッドと、
前記電気検査ヘッドを、前記法線方向と平行な回転軸を中心として回転させる回転機構と、
前記プリント基板に対して法線方向から正対する光学素子を有し、前記プリント基板を撮像可能な撮像部と、
前記撮像部を近接位置と回避位置との間で移動させる移動機構と
を備える電気検査装置を用い、
前記近接位置が、前記電気検査ヘッドを回転したときに前記撮像部が前記電気検査ヘッドと接触し得る位置であり、前記回避位置が、前記電気検査ヘッドを回転したときに前記撮像部が前記電気検査ヘッドと接触しない位置であるように前記撮像部を移動させる、
電気検査方法。
an electrical inspection head capable of contacting the printed circuit board from the normal direction;
a rotation mechanism for rotating the electrical inspection head around a rotation axis parallel to the normal direction;
an imaging unit having an optical element facing the printed circuit board in a normal direction and capable of capturing an image of the printed circuit board;
Using an electrical inspection device comprising a movement mechanism for moving the imaging unit between an approach position and an avoidance position,
The proximity position is a position at which the imaging unit can come into contact with the electrical inspection head when the electrical inspection head is rotated, and the avoidance position is a position where the imaging unit can contact the electrical inspection head when the electrical inspection head is rotated. moving the imaging unit so that it is in a position where it does not come into contact with the inspection head;
Electrical inspection method.
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