JP2020144343A - 表示装置、制御装置、および表示装置の制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】自発光素子を光源として有する表示部の構成の複雑化を避けつつ、当該表示部の劣化を補正する。【解決手段】表示装置（１）の表示パネル（２０）は、自発光素子（ＳＥＬ）を光源としてそれぞれ含む複数の画素（ＰＩＸ）を有する。表示パネル（２０）は、当該表示パネル（２０）の非表示期間において、当該表示パネル（２０）の劣化具合を示す劣化データを検出する。表示装置（１）のホスト装置（１０）は、表示パネル（２０）の非表示期間において、当該表示パネル（２０）から取得した劣化データに基づき、入力画像の各画素の階調値を補正するための補正パラメータを生成する。【選択図】図１

Description

本発明の一態様は、自発光素子を光源として有する表示部を備えた表示装置に関する。

近年、一部の表示装置の表示部には、ＯＬＥＤ（Organic Light Emitting Diode，有機発光ダイオード）等の自発光素子が光源として用いられている。特許文献１には、そのような表示パネル（自発光パネル）の駆動方法の一例が開示されている。具体的には、特許文献１の技術は、映像出力を中断することなく、自発光パネルの劣化を補正（補償）することを目的としている。

特開２００１−３５０４４２号公報

しかしながら、特許文献１の技術では、上記補正のための専用のハードウェア要素（例：補正回路）を、自発光パネル内に設ける必要がある。従って、特許文献１の技術では、自発光パネルの構成（特にハードウェア構成）の複雑化が必然的に伴う。本発明の一態様は、自発光素子を光源として有する表示部（例：自発光パネル）の構成の複雑化を避けつつ、当該表示部の劣化を補正することを目的とする。

上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る表示装置は、入力画像を表示可能な少なくとも１つの表示部と、上記表示部を制御する少なくとも１つの制御装置と、を備えた表示装置であって、上記表示部は、自発光素子を光源としてそれぞれ含む複数の画素を有しており、上記表示部の非表示期間において、上記表示部は、当該表示部の劣化具合を示す劣化データを検出し、上記制御装置は、上記表示部から取得した上記劣化データに基づき、上記入力画像の各画素の階調値を補正するための補正パラメータを生成する。

また、上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る制御装置は、入力画像を表示可能な表示部を備えた表示装置を制御する制御装置であって、上記表示部は、自発光素子を光源としてそれぞれ含む複数の画素を有しており、上記表示部の非表示期間において、当該表示部の劣化具合を示す劣化データが、当該表示部によって検出され、上記制御装置は、上記非表示期間において、（ｉ）上記表示部から上記劣化データを取得し、かつ、（ｉｉ）当該劣化データに基づき、上記入力画像の各画素の階調値を補正するための補正パラメータを生成する、補正パラメータ生成部を備えている。

また、上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る表示装置の制御方法は、入力画像を表示可能な表示部と上記表示部を制御する制御装置とを備えた表示装置の制御方法であって、上記表示部は、自発光素子を光源としてそれぞれ含む複数の画素を有しており、上記制御方法は、上記表示部の非表示期間において、上記表示部において、当該表示部の劣化具合を示す劣化データを検出する工程と、上記制御装置において、上記表示部から取得された上記劣化データに基づき、上記入力画像の各画素の階調値を補正するための補正パラメータを生成する工程と、を含んでいる。

本発明の一態様に係る表示装置によれば、自発光素子を光源として有する表示部の構成の複雑化を避けつつ、当該表示部の劣化を補正できる。また、本発明の一態様に係る制御装置、および、表示装置の制御方法によっても、同様の効果を奏する。

実施形態１の表示装置の要部の構成を示す機能ブロック図である。 （ａ）および（ｂ）はそれぞれ、パネルセンシング処理の一例について説明するための図である。 実施形態２の表示装置の要部の構成を示す機能ブロック図である。 実施形態３の表示装置の要部の構成を示す機能ブロック図である。

〔実施形態１〕
実施形態１の表示装置１について、以下に説明する。便宜上、実施形態１にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、以降の各実施形態では、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。公知技術と同様の事項についても、説明を適宜省略する。なお、各図に示されている装置構成は、説明の便宜上のための単なる一例である。このため、各部材は、必ずしも実際のスケール通りには描画されていない。また、各部材の位置関係も、各図の例に限定されない。

（表示装置１の概要）
図１は、表示装置１の要部の構成を示す機能ブロック図である。表示装置１は、ホスト装置１０（制御装置）および表示パネル２０（表示部）を備える。図１では、制御装置および表示部がいずれも１つである場合を例示する。但し、当該制御装置および当該表示部の少なくともいずれかは、複数であってもよい。本発明の一態様に係る表示装置では、（ｉ）少なくとも１つの制御装置と、（ｉｉ）少なくとも１つの表示部と、が設けられていればよい。

ホスト装置１０は、表示装置１の各部を統括的に制御する。特に、実施形態１では、ホスト装置１０は、表示パネル２０を制御する。ホスト装置１０は、不図示のプロセッサ（例：ＣＰＵ（Central Processing Unit）およびＧＰＵ（Graphics Processing Unit））および（例：ＲＡＭ（Random Access Memory）およびＲＯＭ（Read Only Memory））を含んでいる。また、ホスト装置１０は、表示パネル２０とのデータの送受信のために、不図示のデータ変換部および通信インターフェースを含んでいる。これらの点については、表示パネル２０も同様である。ホスト装置１０の各部については、後述する。

（表示パネル２０）
表示パネル２０は、画素アレイ２１０、ドライバ２２０、およびモニタ回路２３０を備える。表示パネル２０は、光源として、複数の自発光素子ＳＥＬを含んでいる。表示パネル２０は、自発光パネルの一例である。以下では、「自発光素子ＳＥＬ」を、単に「ＳＥＬ」とも略記する。その他の部材についても適宜同様に略記する。

実施形態１におけるＳＥＬは、ＥＬ（Electro Luminescence）によって発光する、公知の発光素子（ＥＬ素子）であってよい。例えば、実施形態１では、ＳＥＬとして、公知の有機ＥＬ素子が用いられている。このため、実施形態１の表示パネル２０は、有機ＥＬ表示パネル（あるいは、単に有機ＥＬパネル）とも称される。より具体的には、実施形態１の例では、ＳＥＬは、ＯＬＥＤである。従って、実施形態１の表示パネル２０は、ＯＬＥＤ表示パネル（あるいは、単にＯＬＥＤパネル）とも称される。

表示装置１では、行方向（縦方向，垂直方向）および列方向（横方向，水平方向）が予め規定されている。画素アレイ２１０には、複数の画素ＰＩＸが行方向および列方向のそれぞれに配置されている。図１の例では、画素アレイ２１０の垂直画素数をｍ、水平画素数をｎとしてそれぞれ表す。ｍおよびｎはそれぞれ、２以上の整数である。

画素アレイ２１０に含まれる画素の総数ＮＰＩＸは、ＮＰＩＸ＝ｍ×ｎとして表される。画素アレイ２１０の領域（画素アレイ領域）は、表示パネル２０のアクティブエリア（表示可能領域）を規定する。１つのＰＩＸは、少なくとも１つのＳＥＬを含んでいる。従って、表示パネル２０は、少なくともＮＰＩＸ個のＳＥＬを有する。図１および図２（後述）の例では、１つのＰＩＸに、１つのＳＥＬが設けられている。各ＰＩＸには、当該ＰＩＸ内の各ＳＥＬを駆動するための複数のトランジスタ（図１では不図示）が含まれている。

本明細書では、画素アレイ２１０における所定の１つの行を、添字ｋによって表す。ｋは、１≦ｋ≦ｍを満たす整数である。また、画素アレイ２１０における所定の１つの列を、添字ｌによって表す。ｌは、１≦ｌ≦ｎを満たす整数である。また、各ＰＩＸの区別のため、画素アレイ２１０のｋ行ｌ列目に位置するＰＩＸを、「ＰＩＸｋｌ」とも称する。例えば、図１のＰＩＸ１１は、画素アレイ２１０の１行１列目に位置する画素（１番目の画素）である。これに対し、ＰＩＸｍｎは、画素アレイ２１０のｍ行ｎ列目に位置する画素（ＮＰＩＸ番目の画素）である。

ドライバ２２０は、表示パネル２０の表示制御を行う。ドライバ２２０は、ディスプレイドライバとも称される。実施形態１の例では、ドライバ２２０は、ＩＣ（Integrated Circuit）によって実装されている。一例として、ドライバ２２０は、ソースドライバおよびゲートドライバを含む。

具体的には、ドライバ２２０は、各ＰＩＸを駆動することにより（より厳密には、各ＰＩＸ内の各ＳＥＬの発光強度を制御することにより）、表示パネル２０に所望の画像（例：後述のＩＭＧ１またはＩＭＧ２）を表示させる。実施形態１では、表示パネル２０にＩＭＧ２を表示させる場合を例示する。

モニタ回路２３０は、表示パネル２０の非表示期間（表示ＯＦＦ期間）において、表示パネル２０の劣化具合を示すデータ（以下、劣化データ）を検出する。後述するように、モニタ回路２３０は、各ＰＩＸから劣化データを検出する。以下、モニタ回路２３０によって劣化データを検出する処理を、パネルセンシング処理とも称する。なお、表示パネル２０の表示期間（表示ＯＮ期間）には、パネルセンシング処理は実行されない。

（パネルセンシング処理の一例）
図２は、パネルセンシング処理の一例について説明するための図である。図２の（ａ）および（ｂ）はそれぞれ、第１の処理および第２の処理について説明するための図である。図２には、１つのＰＩＸの一構成例が示されている。図２において、実施形態１と関連性が低い回路素子および信号線については、説明を省略する。

ＰＩＸには、ＳＥＬを選択的に駆動するためのスイッチング素子として、複数のトランジスタ（例：トランジスタＴｒ１およびＴｒａ〜Ｔｒｃ）が設けられている。図２の例では、各トランジスタは、ＴＦＴ（Thin Film Transistor，薄膜トランジスタ）である。また、ＰＩＸは、画素データ（厳密には、画素データに対応する値の信号線電圧）を保持するためのコンデンサＣを有する。

（第１の処理）
第１の処理では、第２の処理に先立ち、Ｃに電荷がチャージされる。図２の（ａ）に示されるように、第１の処理では、データラインからＣに画素データが供給される。すなわち、第１の処理では、（ｉ）ＴｒａおよびＴｒ１はＯＮされ、かつ、（ｉｉ）ＴｒｂおよびＴｒｃはＯＦＦされる。このため、上記画素データに応じた電流（以下、画素対応電流）は、Ｔｒ１を経由してＣに流れ込む。

ところで、表示パネル２０（例：ＯＬＥＤパネル）を長期間に亘って使用した場合、ＰＩＸ内の各素子には、経年劣化（以下、単に劣化）が生じうる。一例として、ＰＩＸ内の各トランジスタの劣化は、ＰＩＸの発光強度（例：輝度）の低下を生じさせる。例えば、Ｔｒ１が劣化した場合、当該Ｔｒ１のインピーダンスが増加する。その結果、画素対応電流の低下に伴い、ＰＩＸの発光強度が低下する。

以上のことから、第１の処理においてＣにチャージされる電荷量は、Ｔｒ１の劣化具合に応じて変化する。具体的には、Ｔｒ１の劣化が進展することに伴い、画素対応電流は低下するので、上記電荷量も低下する傾向にある。それゆえ、Ｃにチャージされた電荷量に基づいて、Ｔｒ１の劣化具合を評価できる。このように、当該電荷量（換言すれば、画素対応電流）は、表示パネル２０の劣化具合を示す指標の１つであると言える。

（第２の処理）
第２の処理では、劣化データが取得される。具体的には、第２の処理では、劣化データを取得するために、第１の処理によってＣに予めチャージされた電荷量が、間接的に検出される。図２の（ｂ）に示されるように、第２の処理では、上記電荷量に対応する電流（例：ＣからＴｒ１に流れ込む電流）を検出するために、（ｉ）Ｔｒｂ、Ｔｒｃ、およびＴｒ１はＯＮされ、かつ、（ｉｉ）ＴｒａはＯＦＦされる。

以下では、第２の処理における、「ＣからＴｒ１に流れ込む電流」を、便宜上「駆動電流」と称する。駆動電流は、第１処理における画素対応電流に対応する。従って、第２の処理において、駆動電流を検出することで、Ｔｒ１の劣化具合を評価できる。

そこで、モニタ回路２３０は、駆動電流に基づき、劣化データを取得してよい。以下の説明では、モニタ回路２３０は、駆動電流を検出可能な電流センサ（不図示）を含んでいるものとする。

一例として、モニタ回路２３０は、所定の画素データに対応する、（ｉ）駆動電流の理想値（設計値）（以下、Ｉｉ）と、（ｉｉ）駆動電流の実測値（以下、Ｉｒ）との差を、ＰＩＸの劣化データ（Ｉｄ）として算出する。すなわち、モニタ回路２３０は、以下の式（１）、
Ｉｄ＝Ｉｉ−Ｉｒ…（１）
によって、Ｉｄを算出する。

Ｔｒ１の劣化がそれほど進展していない場合、ＩｒはＩｉに比較的近い値になる。従って、Ｉｄが十分に小さい場合には、ＰＩＸの劣化はそれほど進展していないと評価できる。これに対し、Ｔｒ１の劣化がある程度進展した場合、ＩｒはＩｉに比べて有意に小さくなる。従って、Ｉｄが十分に小さい場合には、ＰＩＸの劣化がある程度進展していると評価できる。

モニタ回路２３０は、画素アレイ２１０の各ＰＩＸ（ＰＩＸ１１〜ＰＩＸｍｎ）のそれぞれについて、Ｉｄを取得する。以下、ＰＩＸｋｌのＩｄを、Ｉｄｋｌと称する。モニタ回路２３０は、Ｉｄ１１〜Ｉｄｍｎを取得する。これらの劣化データ（Ｉｄ１１〜Ｉｄｍｎ）は、総称的に、表示パネル２０の劣化具合を示すデータとも表現できる。

（ホスト装置１０）
ホスト装置１０は、入力画像取得部１１０、補正パラメータ算出部１２０（補正パラメータ生成部）、および補正後画像生成部１３０を備える。入力画像取得部１１０は、表示ＯＮ期間において、入力画像（以下、ＩＭＧ１）を取得する。ＩＭＧ１は、動画像の各フレームであってもよいし、あるいは、表示装置１内の不図示の記憶装置に予め格納された静止画であってもよい。

補正パラメータ算出部１２０は、表示ＯＦＦ期間において、モニタ回路２３０から劣化データ（Ｉｄ１１〜Ｉｄｍｎ）を取得する。そして、補正パラメータ算出部１２０は、表示ＯＦＦ期間において、劣化データに基づき、補正パラメータを生成する。補正パラメータとは、ＩＭＧ１の各画素の階調値を補正するためのパラメータである。以下の説明では、補正パラメータをγとして表す。γの生成方法（補正アルゴリズムとも称される）の一例については、後述する。

補正後画像生成部１３０は、表示ＯＮ期間において、表示ＯＦＦ期間において予め生成されたγを用いて、ＩＭＧ１の各画素の階調値を補正する。以下、「ＩＭＧ１の各画素の階調値を補正する」ことを、単に「ＩＭＧ１の階調値を補正する」（あるいは、「ＩＭＧ１を補正する」）とも称する。補正後画像生成部１３０は、ＩＭＧ１を補正することにより、出力画像（以下、ＩＭＧ２）を生成する。

以下、ＩＭＧ１の各画素の階調値を、単に「ＩＭＧ１の階調値」とも称する。この点は、ＩＭＧ２についても同様である。また、ＩＭＧ１の１つの画素の階調値をｘ（入力階調値）と称する。これに対し、ＩＭＧ１の当該１つの画素に対応する、ＩＭＧ２の１つの画素の階調値をｙ（出力階調値）と称する。本明細書では、ｘおよびｙは、規格化された階調値であるものとする。つまり、ＩＭＧ１およびＩＭＧ２のいずれにおいても、ｘおよびｙは、０≦ｘ≦１、０≦ｙ≦１を満たすものとする。

一例として、補正後画像生成部１３０は、以下の式（２）、
ｙ＝ｘ^γ…（２）
を用いて、ｘを補正する（ｙを算出する）。式（２）は、所謂γ補正を表す数式と同様である。但し、表示装置１では、従来のγ補正とは異なり、ＩＭＧ１の各画素のそれぞれ（画素１〜画素ＴＰＩＸ）に、個別のγが設定される。ＴＰＩＸは、ＩＭＧ１の画素数である。画素ｉは、ＩＭＧ１のｉ番目の画素（１≦ｉ≦ＴＰＩＸ）である。以下、画素ｉのｘをｘｉと称する。また、ｘｉに対して適用されるγをγｉ、当該ｘｉに対応するｙをｙｉと、それぞれ称する。

すなわち、補正後画像生成部１３０は、以下の式（３）、
ｙｉ＝ｘｉ^γｉ…（３）
を用いて、ｘｉを補正する（ｙｉを算出する）。このようにＩＭＧ１を補正することにより、表示パネル２０の各画素の劣化（発光強度の低下）を補正できる。式（３）によれば、ＩＭＧ１の全画素に一律のγを適用する場合（従来のγ補正）とは異なり、表示パネル２０における局所的な画素の劣化を考慮できる。それゆえ、従来のγ補正に比べて、ＩＭＧ２の表示品位を向上させることができる。

但し、γ１〜γＴＰＩＸは、必ずしも異なる値に設定されなくともよい。例えば、Ｉｄ１１〜Ｉｄｍｎがいずれも近い値であり、かつ、十分に小さい値であれば、γ１〜γＴＰＩＸが等しい値に設定されてもよい。

（表示ＯＦＦ期間における処理の流れの一例）
まず、モニタ回路２３０は、パネルセンシング処理を行い、劣化データ（Ｉｄ１１〜Ｉｄｍｎ）を取得する。続いて、補正パラメータ算出部１２０は、モニタ回路２３０から、当該劣化データを取得する。そして、補正パラメータ算出部１２０は、当該劣化データに基づき、補正パラメータ（γ１〜γＴＰＩＸ）を生成する。

（表示ＯＮ期間における処理の流れの一例）
まず、入力画像取得部１１０は、ＩＭＧ１を取得する。続いて、補正後画像生成部１３０は、補正パラメータ算出部１２０によって予め生成された補正パラメータを取得する。そして、補正後画像生成部１３０は、当該補正パラメータを用いてＩＭＧ１を補正することにより、ＩＭＧ２を生成する。

続いて、補正後画像生成部１３０は、生成したＩＭＧ２を、表示パネル２０（より具体的には、ドライバ２２０）に供給する。ドライバ２２０は、表示パネル２０に当該ＩＭＧ２を表示させる。このように、ＩＭＧ１に替えて、ＩＭＧ２（表示パネル２０の劣化が補正された画像）を表示パネル２０に表示させることにより、表示パネル２０の劣化が生じた場合であっても、ユーザの鑑賞対象となる画像の表示品位の低下を防止できる。より具体的には、当該画像における発光強度のムラ（発光ムラ）を抑制できる。

（補正パラメータ生成処理の一例）
一例として、本発明の一態様に係る表示装置（例：表示装置１）の製造者（以下、製造者）によって、Ｉｄとγとの関係について、事前の実験がなされる。具体的には、製造者によって、（ｉ）「あるＰＩＸにおける劣化データが所定の値であった場合、当該ＰＩＸの発光強度はどの程度低下するか」、および、（ｉｉ）「γをどのように設定することにより、当該ＰＩＸの発光強度の低下を補正できるか」が、予め実験的に検討される。そして、製造者によって、当該実験結果に基づき、Ｉｄとγとの対応関係を示すテーブル（以下、ＴＡＢＬＥ）が作成される。

ＴＡＢＬＥには、Ｉｄの代表値とγの代表値との対応関係が、少なくとも２通り設定されている。なお、上記実験の開始時および終了時におけるＩｄの値を、初期劣化データおよび最終劣化データとそれぞれ称する。Ｉｄの各代表値およびγの各代表値はいずれも、初期劣化データおよび最終劣化データに基づいて設定される。

補正パラメータ算出部１２０は、ＴＡＢＬＥに基づき、モニタ回路２３０から取得した劣化データに応じたγを設定する。以下、簡単のため、表示パネル２０（具体的には、画素アレイ２１０）の画素数と、ＩＭＧ１の画素数とが同じ場合を考える。つまり、表示パネル２０の各画素とＩＭＧ１の各画素とが１対１に対応する場合を考える。以下の説明では、γｉと１対１に対応するＩｄを、Ｉｄｉと称する。

一例として、補正パラメータ算出部１２０は、ＴＡＢＬＥに示されるＩｄの代表値とγの代表値との対応関係に基づき、γの補間式を設定する。当該補間式では、γは、Ｉｄの関数として表される。すなわち、γ＝ｆ（Ｉｄ）として表される。一例として、補正パラメータ算出部１２０は、上記対応関係を線形補間することにより、上記補間式を設定する。γの導出を簡略化するためには、上記関数は線形関数（一次関数）として設定されることが好ましいためである。

ここで、Ｉｄ＝０（劣化無）である場合、γ＝０（補正無）として設定されてよい。そこで、上記関数を比例関数として設定することにより、γの導出を特に簡略化できる。すなわち、
γ＝ｆ（Ｉｄ）＝α×Ｉｄ…（４）
として、補間式が設定されてよい。αは定数（比例係数）である。

一例として、補正パラメータ算出部１２０によって、γ１を生成する場合を考える。補正パラメータ算出部１２０は、ＴＡＢＬＥに基づき、モニタ回路２３０から取得したＩｄ１（すなわち、Ｉｄ１１）に対応するγ１を設定する。具体的には、補正パラメータ算出部１２０は、式（４）に基づき、γ１＝α×Ｉｄ１として、Ｉｄ１に応じたγ１を設定する。以降、γ２〜γＴＰＩＸについても同様である。

なお、表示パネル２０の画素数とＩＭＧ１の画素数とが異なる場合には、「ＩＭＧ１のある画素が、表示パネル２０のどの画素に対応するか」という対応関係を予め設定しておけばよい。その上で、ＩＭＧ１の１つの画素に対応するＰＩＸ群のＩｄを用いて、γを設定すればよい。

一例として、ＩＭＧ１の１つの画素（例：画素１）が、表示パネル２０の２つの画素（例：ＰＩＸ１１およびＰＩＸ１２）に対応する場合を考える。この場合、補正パラメータ算出部１２０は、Ｉｄ１１およびＩｄ１２の代表値を、Ｉｄ１として設定すればよい。そして、補正パラメータ算出部１２０は、式（４）に基づき、γ１を設定してよい。

上記代表値の設定方法は任意であるが、Ｉｄ１は、Ｉｄ１１およびＩｄ１２のうちの大きい方の値として設定されることが好ましい。つまり、Ｉｄ１＝Ｍａｘ（Ｉｄ１１，Ｉｄ１２）として、Ｉｄ１が設定されることが好ましい。一例として、Ｉｄ１１＞Ｉｄ１２である場合、Ｉｄ１＝Ｉｄ１１として設定される。表示パネル２０の発光強度の低下を補正するという目的を鑑みると、発光強度の劣化がより顕著である画素（例：ＰＩＸ１１）を基準として、補正を行う方が好ましいためである。

（効果）
上述の通り、従来技術（例：特許文献１の技術）では、補正パラメータを生成するための専用のハードウェア要素（例：補正回路）を、自発光パネル内に設ける必要があった。これに対し、表示装置１では、補正パラメータ算出部１２０が、ホスト装置１０に設けられている。このため、従来技術とは異なり、表示パネル２０（自発光パネル）の構成の複雑化を避けつつ、当該表示パネル２０の劣化を補正することが可能となる。

また、従来技術では、例えば表示パネル内のドライバを新たに開発しようとする場合、補正回路のハードウェア設計を予め完了させておく必要がある。すなわち、従来技術では、補正回路内で適用される補正アルゴリズムの決定を待って、ドライバの開発を開始しなければならない。このように、従来技術では、補正アルゴリズムの決定（補正回路の設計）がボトルネックとなるため、表示装置の開発期間を十分に短縮することは困難である。

これに対し、表示装置１では、補正パラメータ算出部１２０は、例えばソフトウェアとして実現可能である。このため、補正回路のハードウェア設計が不要となるため、従来技術に比べて、補正アルゴリズムの開発を柔軟に行うことができる。例えば、表示パネル内のドライバの開発と並行して、補正アルゴリズムの開発を進めることができる。このように、表示装置１によれば、従来に比べて表示装置の開発を効率的に行うことが可能となるので、表示装置の開発期間を短縮できる。

さらに、表示装置１では、パネルセンシング処理は、表示ＯＦＦ期間においてのみ実行される。表示ＯＮ期間にはパネルセンシング処理を実行させないことにより、表示パネル２０における描画速度の低下（例：ＩＭＧ２の描画速度の低下）を防止できる。また、表示装置１では、駆動電流に基づき劣化データを実測しているので、劣化データを推定する手法に比べ、高精度に劣化データを検出できる。それゆえ、表示パネル２０の実体的な劣化具合を反映して、ＩＭＧ１を補正できる。以上の点からも、表示装置１は、ＩＭＧ２の表示品位の向上に有益である。

（補足）
表示装置１内の不図示の記憶装置には、表示パネル２０の初期特性情報が予め格納されていてもよい。初期特性情報とは、表示パネル２０の各画素の特性を示す情報を総称的に意味する。補正パラメータ算出部１２０は、当該初期特性情報にさらに基づいて、補正パラメータ（γ１〜γＴＰＩＸ）を算出することが好ましい。

一部の自発光パネル（例：ＯＬＥＤパネル）では、初期状態（当該自発光パネルの製造時点）において、各画素の特性にばらつきが生じている場合がある。初期特性情報をさらに用いることにより、上記ばらつきの影響を考慮して（例：上記ばらつきの影響を相殺するように）、補正パラメータ（γ１〜γＴＰＩＸ）を算出できる。それゆえ、ＩＭＧ２の表示品位をさらに向上させることができる。

〔実施形態２〕
図３は、実施形態２の表示装置２の要部の構成を示す機能ブロック図である。表示装置２のホスト装置および表示パネルをそれぞれ、ホスト装置１０Ａ（制御装置）および表示パネル２０Ａ（表示部）と称する。表示装置２は、表示装置１とは異なり、温度センサ３０をさらに備える。表示パネル２０Ａのドライバを、ドライバ２２０Ａと称する。

ホスト装置１０Ａは、ホスト装置１０とは異なり、補正後画像生成部１３０を有していない。なお、ホスト装置１０Ａの補正パラメータ算出部を、補正パラメータ算出部１２０Ａ（補正パラメータ生成部）と称する。以下に述べるように、補正パラメータ算出部１２０Ａは、補正パラメータ算出部１２０とは異なり、温度センサ３０によって検出された温度（Ｔ）に基づき、γを調整できる。温度センサ３０は、一例として、表示装置２の周囲温度を検出する。

表示装置２では、表示装置１とは異なり、補正後画像生成部は、表示パネル２０Ａに設けられている。表示パネル２０Ａの補正後画像生成部を、補正後画像生成部２２５Ａと称する。図３の例では、補正後画像生成部２２５Ａは、ドライバ２２０Ａに設けられている。

補正後画像生成部２２５Ａは、表示ＯＮ期間において、（ｉ）入力画像取得部１１０からＩＭＧ１を取得するとともに、（ｉｉ）補正パラメータ算出部１２０Ａからγ（より具体的には、以下に述べるγ（温度調整後））を取得する。そして、補正後画像生成部２２５Ａは、表示ＯＮ期間において、γを用いてＩＭＧ１を補正する。

以上のように、表示装置２では、表示パネル２０ＡにおいてＩＭＧ２が生成される。補正後画像生成部を表示部に設けることにより、制御装置の構成を実施形態１に比べて単純化することが可能となる。なお、表示部の構成を単純化する方が好ましい場合には、実施形態１の通り、制御装置に補正後画像生成部を設ければよい。

（補正パラメータ算出部１２０Ａの処理の一例）
ＰＩＸ内の各素子の電気的特性は、Ｔに応じて変化しうる。より具体的には、Ｔが大きくなるにつれて、駆動電流が低下する傾向にある。このため、Ｔが大きくなるにつれて、ＰＩＸの発光強度が低下する。そこで、一例として、製造者によって、Ｔとγとの関係について、事前の実験がなされる。

具体的には、製造者によって、（ｉ）「あるＰＩＸの温度が基準温度とは異なる所定の値であった場合、当該ＰＩＸの劣化は、基準温度の場合に比べてどの程度早いか（あるいは遅いか）」、および、（ｉｉ）「γをどのように設定することにより、当該ＰＩＸの発光強度の低下を補正できるか」が、予め実験的に検討される。そして、製造者によって、当該実験結果に基づき、Ｔとγとの対応関係を示すテーブル（以下、ＴＡＢＬＥ２）が作成される。ＴＡＢＬＥ２には、Ｔの代表値とγの代表値との対応関係が、少なくとも２通り設定されている。

一例として、補正パラメータ算出部１２０Ａは、ＴＡＢＬＥ２に示されるＴの代表値とγの代表値との対応関係に基づき、γの補間式を設定する。当該補間式では、γは、Ｔの関数として表される。すなわち、γ＝ｇ（Ｔ）として表される。一例として、補正パラメータ算出部１２０Ａは、上記対応関係を線形補間することにより、上記補間式を設定する。

すなわち、
γ（温度調整後）＝ｇ（Ｔ）＝β×（Ｔ−Ｔ０）＋γ（温度調整前）…（５）
として、補間式が設定されてよい。βは定数である。Ｔ０は基準温度である。γ（温度調整前）は、Ｔ０におけるγである。

一例として、補正パラメータ算出部１２０Ａによって、γ１を算出および温度調整する場合を考える。まず、補正パラメータ算出部１２０Ａは、例えば式（４）を用いて、γ１（温度調整前）を算出する。続いて、補正パラメータ算出部１２０Ａは、式（５）を用いて、Ｔに応じてγ１（温度調整前）を調整する（すなわち、γ１（温度調整後）を算出する）。

このように、補正パラメータ算出部１２０Ａによれば、Ｔの影響をも考慮してγを設定できる。それゆえ、表示装置２によれば、ＩＭＧ２の表示品位をさらに向上させることが可能となる。

〔実施形態３〕
図４は、実施形態３の表示装置３の要部の構成を示す機能ブロック図である。表示装置３は、表示装置２の一変形例である。表示装置３のホスト装置および表示パネルをそれぞれ、ホスト装置１０Ｂ（制御装置）および表示パネル２０Ｂ（表示部）と称する。表示パネル２０Ｂのドライバを、ドライバ２２０Ｂと称する。

ホスト装置１０Ｂでは、ホスト装置１０Ａの補正パラメータ算出部１２０Ａが、実施形態１の補正パラメータ算出部１２０に置き換えられている。表示パネル２０Ｂは、表示パネル２０Ａとは異なり、補正パラメータ調整部３３０および補正パラメータ保持部３４０をさらに備えている。図４の例では、補正パラメータ調整部３３０は、ドライバ２２０Ｂに設けられている。補正パラメータ調整部３３０は、例えば、マイクロプロセッサによって実装されてよい。補正パラメータ保持部３４０は、公知の記憶装置であってよい。

補正パラメータ保持部３４０は、補正パラメータ算出部１２０によって算出されたγ（より具体的には、上述のγ（温度調整前））を取得し、当該γを保持する。補正パラメータ保持部３４０を設けることにより、補正パラメータ算出部１２０においてリアルタイムでγの演算を都度行うことが不要となるので、制御装置の処理量を低減できる。

補正パラメータ調整部３３０は、補正パラメータ保持部３４０に格納されたγ（温度調整前）を取得する。そして、補正パラメータ調整部３３０は、補正パラメータ算出部１２０Ａと同様にして（例：上述の式（５）を用いて）、γ（温度調整後）を算出する。このように、γの温度調整を、表示部に行わせることもできる。このようにして、制御装置の構成を簡単化することもできる。

〔変形例〕
本発明の一態様に係る制御装置は、必ずしもホスト装置に限定されない。一例として、ホスト装置の一部の機能部（例：補正パラメータ算出部１２０）は、マイクロプロセッサによって実装されてもよい。このように、本発明の一態様に係る制御装置には、マイクロプロセッサも含まれうる。つまり、ホスト装置とマイクロプロセッサとを組み合わせて、全体として１つの制御装置を実現することもできる。

〔ソフトウェアによる実現例〕
表示装置１〜３の制御ブロック（特にホスト装置１０〜１０Ｂおよびドライバ２２０〜２２０Ｂ）は、集積回路（ＩＣチップ）等に形成された論理回路（ハードウェア）によって実現してもよいし、ソフトウェアによって実現してもよい。

後者の場合、表示装置１〜３は、各機能を実現するソフトウェアであるプログラムの命令を実行するコンピュータを備えている。このコンピュータは、例えば少なくとも１つのプロセッサ（制御装置）を備えていると共に、上記プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な少なくとも１つの記録媒体を備えている。そして、上記コンピュータにおいて、上記プロセッサが上記プログラムを上記記録媒体から読み取って実行することにより、本発明の一態様の目的が達成される。上記プロセッサとしては、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）を用いることができる。上記記録媒体としては、「一時的でない有形の媒体」、例えば、ＲＯＭ（Read Only Memory）等の他、テープ、ディスク、カード、半導体メモリ、プログラマブルな論理回路などを用いることができる。また、上記プログラムを展開するＲＡＭ（Random Access Memory）などをさらに備えていてもよい。また、上記プログラムは、該プログラムを伝送可能な任意の伝送媒体（通信ネットワークや放送波等）を介して上記コンピュータに供給されてもよい。なお、本発明の一態様は、上記プログラムが電子的な伝送によって具現化された、搬送波に埋め込まれたデータ信号の形態でも実現され得る。

〔まとめ〕
本発明の態様１に係る表示装置（１）は、入力画像（ＩＭＧ１）を表示可能な少なくとも１つの表示部（表示パネル２０）と、上記表示部を制御する少なくとも１つの制御装置（ホスト装置１０）と、を備えた表示装置であって、上記表示部は、自発光素子（ＳＥＬ）を光源としてそれぞれ含む複数の画素（ＰＩＸ）を有しており、上記表示部の非表示期間において、上記表示部は、当該表示部の劣化具合を示す劣化データ（Ｉｄ）を検出し、上記制御装置は、上記表示部から取得した上記劣化データに基づき、上記入力画像の各画素の階調値を補正するための補正パラメータ（γ）を生成する。

上記の構成によれば、従来技術とは異なり、表示部（例：自発光パネル）ではなく、制御装置において補正パラメータを生成（算出）する処理を行うことができる。それゆえ、表示部の構成（特にハードウェア構成）の複雑化を避けつつ、当該表示部の劣化を補正することが可能となる。

本発明の態様２に係る表示装置では、上記態様１において、上記制御装置は、上記補正パラメータを用いて上記入力画像の各画素の階調値を補正することにより、補正後画像（ＩＭＧ２）を生成してよい。

上記の構成によれば、制御装置に入力画像を補正する処理を行わせることにより、表示部の構成を単純化できる。

本発明の態様３に係る表示装置では、上記態様１において、上記表示部は、上記補正パラメータを用いて上記入力画像の各画素の階調値を補正することにより、補正後画像を生成してよい。

上記の構成によれば、表示部に入力画像を補正する処理を行わせることにより、制御装置の構成を単純化できる。

本発明の態様４に係る表示装置では、上記態様１から３のいずれか１つにおいて、上記表示部は、上記自発光素子として有機ＥＬ（Electro Luminescence）素子を含む、有機ＥＬ表示パネルであってよい。

本発明の態様５に係る制御装置は、入力画像を表示可能な表示部を備えた表示装置を制御する制御装置であって、上記表示部は、自発光素子を光源としてそれぞれ含む複数の画素を有しており、上記表示部の非表示期間において、当該表示部の劣化具合を示す劣化データが、当該表示部によって検出され、上記制御装置は、上記非表示期間において、（ｉ）上記表示部から上記劣化データを取得し、かつ、（ｉｉ）当該劣化データに基づき、上記入力画像の各画素の階調値を補正するための補正パラメータを生成する、補正パラメータ生成部（補正パラメータ算出部１２０）を備えている。

本発明の態様６に係る表示装置の制御方法は、入力画像を表示可能な表示部と上記表示部を制御する制御装置とを備えた表示装置の制御方法であって、上記表示部は、自発光素子を光源としてそれぞれ含む複数の画素を有しており、上記制御方法は、上記表示部の非表示期間において、上記表示部において、当該表示部の劣化具合を示す劣化データを検出する工程と、上記制御装置において、上記表示部から取得された上記劣化データに基づき、上記入力画像の各画素の階調値を補正するための補正パラメータを生成する工程と、を含んでいる。

〔付記事項〕
本発明の一態様は、上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の一態様の技術的範囲に含まれる。さらに、各実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を組み合わせることにより、新しい技術的特徴を形成できる。

１、２、３ 表示装置
１０、１０Ａ、１０Ｂ ホスト装置（制御装置）
２０、２０Ａ、２０Ｂ 表示パネル（表示部，有機ＥＬ表示パネル）
３０ 温度センサ
１１０ 入力画像取得部
１２０、１２０Ａ 補正パラメータ算出部（補正パラメータ生成部）
１３０、２２５Ａ 補正後画像生成部
２１０ 画素アレイ
２３０ モニタ回路
３３０ 補正パラメータ調整部
３４０ 補正パラメータ保持部
Ｔｒ１ トランジスタ
ＳＥＬ 自発光素子（有機ＥＬ素子）
ＰＩＸ、ＰＩＸ１１〜ＰＩＸｍｎ 画素（表示部の画素）
ＩＭＧ１ 入力画像
ＩＭＧ２ 補正後画像
Ｉｄ 劣化データ
γ 補正パラメータ

Claims (6)

1. 入力画像を表示可能な少なくとも１つの表示部と、
   上記表示部を制御する少なくとも１つの制御装置と、を備えた表示装置であって、
   上記表示部は、自発光素子を光源としてそれぞれ含む複数の画素を有しており、
   上記表示部の非表示期間において、
   上記表示部は、当該表示部の劣化具合を示す劣化データを検出し、
   上記制御装置は、上記表示部から取得した上記劣化データに基づき、上記入力画像の各画素の階調値を補正するための補正パラメータを生成する、表示装置。
2. 上記制御装置は、上記補正パラメータを用いて上記入力画像の各画素の階調値を補正することにより、補正後画像を生成する、請求項１に記載の表示装置。
3. 上記表示部は、上記補正パラメータを用いて上記入力画像の各画素の階調値を補正することにより、補正後画像を生成する、請求項１に記載の表示装置。
4. 上記表示部は、上記自発光素子として有機ＥＬ（Electro Luminescence）素子を含む、有機ＥＬ表示パネルである、請求項１から３のいずれか１項に記載の表示装置。
5. 入力画像を表示可能な表示部を備えた表示装置を制御する制御装置であって、
   上記表示部は、自発光素子を光源としてそれぞれ含む複数の画素を有しており、
   上記表示部の非表示期間において、当該表示部の劣化具合を示す劣化データが、当該表示部によって検出され、
   上記制御装置は、
   上記非表示期間において、（ｉ）上記表示部から上記劣化データを取得し、かつ、（ｉｉ）当該劣化データに基づき、上記入力画像の各画素の階調値を補正するための補正パラメータを生成する、補正パラメータ生成部を備えている、制御装置。
6. 入力画像を表示可能な表示部と上記表示部を制御する制御装置とを備えた表示装置の制御方法であって、
   上記表示部は、自発光素子を光源としてそれぞれ含む複数の画素を有しており、
   上記制御方法は、
   上記表示部の非表示期間において、
   上記表示部において、当該表示部の劣化具合を示す劣化データを検出する工程と、
   上記制御装置において、上記表示部から取得された上記劣化データに基づき、上記入力画像の各画素の階調値を補正するための補正パラメータを生成する工程と、を含んでいる、表示装置の制御方法。

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