CN111667792A - 显示装置、控制装置、以及显示装置的控制方法 - Google Patents

Abstract

显示装置的显示面板具有分别包含自发光元件作为光源的多个像素。显示面板在该显示面板的非显示期间，检测表示该显示面板的劣化程度的劣化数据。显示装置的主机装置在显示面板的非显示期间，基于从该显示面板获取到的劣化数据，生成用于对输入图像的各像素的灰度值进行修正的修正参数。

Description

显示装置、控制装置、以及显示装置的控制方法

技术领域

本发明的一个方式涉及具备具有自发光元件作为光源的显示部的显示装置。

背景技术

近年来，在一部分的显示装置的显示部中，使用有OLED(Organic Light EmittingDiode，有机发光二极管)等自发光元件作为光源。在专利文献1中，公开了这样的显示面板(自发光面板)的驱动方法的一个例子。具体而言，专利文献1的技术的目的在于不中断影像输出地对自发光面板的劣化进行修正(补偿)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2001-350442号公报

发明内容

本发明所要解决的技术问题

然而，在专利文献1的技术中，需要将用于上述修正的专用的硬件要素(例：修正电路)设置在自发光面板内。因此，在专利文献1的技术中，必然伴随自发光面板的结构(特别是硬件结构)的复杂化。本发明的一个方式的目的在于避免具有自发光元件作为光源的显示部(例：自发光面板)的结构的复杂化，并对该显示部的劣化进行修正。

解决问题的方案

为了解决上述的课题，本发明的一个方式所涉及的显示装置具备：至少一个显示部，其能够显示输入图像；和至少一个控制装置，其对上述显示部进行控制，上述显示部具有多个像素，所述多个像素分别包含作为光源的自发光元件，在上述显示部的非显示期间，上述显示部检测表示该显示部的劣化程度的劣化数据，上述控制装置基于从上述显示部获取到的上述劣化数据，生成修正参数，所述修正参数用于对上述输入图像的各像素的灰度值进行修正。

另外，为了解决上述的课题，本发明的一个方式所涉及的控制装置为对具备可显示输入图像的显示部的显示装置进行控制的控制装置，上述显示部具有多个像素，所述多个像素分别包含作为光源的自发光元件，在上述显示部的非显示期间，由该显示部检测表示该显示部的劣化程度的劣化数据，上述控制装置具备修正参数生成部，该修正参数生成部在上述非显示期间，(i)从上述显示部获取上述劣化数据，且(ii)基于该劣化数据，生成修正参数，所述修正参数用于对上述输入图像的各像素的灰度值进行修正。

另外，为了解决上述的课题，本发明的一个方式所涉及的显示装置的控制方法为具备可显示输入图像的显示部和对上述显示部进行控制的控制装置的显示装置的控制方法，上述显示部具有多个像素，所述多个像素分别包含作为光源的自发光元件，上述控制方法包含：在上述显示部的非显示期间，在上述显示部中，对表示该显示部的劣化程度的劣化数据进行检测的工序；和在上述显示部的非显示期间，在上述控制装置中，基于从上述显示部获取到的上述劣化数据，生成修正参数，所述修正参数用于对上述输入图像的各像素的灰度值进行修正的工序。

发明效果

根据本发明的一个方式所涉及的显示装置，能够避免具有自发光元件作为光源的显示部的结构的复杂化，并对该显示部的劣化进行修正。另外，根据本发明的一个方式所涉及的控制装置、及显示装置的控制方法，也起到同样的效果。

附图说明

图1是表示第一实施方式的显示装置的主要部件的结构的功能框图。

图2的(a)、(b)分别是用于对面板感应处理的一个例子进行说明的图。

图3是表示第二实施方式的显示装置的主要部件的结构的功能框图。

图4是表示第三实施方式的显示装置的主要部件的结构的功能框图。

具体实施方式

〔第一实施方式〕

以下，对第一实施方式的显示装置1进行说明。为了方便，对与在第一实施方式中说明的部件具有相同功能的部件，在之后的各实施方式中，标注相同的附图标记，并不重复其说明。关于与公知技术同样的事项，也适当省略说明。此外，各图所示的装置结构是用于便于说明的仅一个例子。因此，各部件未必如实际的刻度那样被绘制。另外，各部件的位置关系也不限于各图的例子。

(显示装置1的概要)

图1是表示显示装置1的主要部件的结构的功能框图。显示装置1具备主机装置10(控制装置)及显示面板20(显示部)。在图1中，例示了控制装置及显示部均为一个的情况。不过，该控制装置及该显示部中的至少任一个也可以是多个。在本发明的一个方式所涉及的显示装置中，只要设置有(i)至少一个控制装置、和(ii)至少一个显示部即可。

主机装置10总括地控制显示装置1的各部。特别是，在第一实施方式中，主机装置10控制显示面板20。主机装置10包括未图示的处理器(例：CPU(Central Processing Unit：中央处理单元)和GPU(Graphics Processing Unit：图形处理单元))、及(例：RAM(RandomAccess Memory：随机存取存储器)和ROM(Read Only Memory：只读存储器))。另外，主机装置10为了进行与显示面板20的数据的收发，包含未图示的数据转换部及通信接口。关于这些方面，显示面板20也是同样的。后文叙述关于主机装置10的各部。

(显示面板20)

显示面板20具备像素阵列210、驱动器220、以及监控电路230。显示面板20作为光源包含多个自发光元件SEL。显示面板20是自发光面板的一个例子。以下，将“自发光元件SEL”也略记为“SEL”。关于其他部件也适当同样地略记。

第一实施方式中的SEL也可以是通过EL(Electro Luminescence：电致发光)发光的公知的发光元件(EL元件)。例如，在第一实施方式中，作为SEL，使用有公知的有机EL元件。因此，第一实施方式的显示面板20也被称为有机EL显示面板(或仅为有机EL面板)。更加具体而言，在第一实施方式的例子中，SEL为OLED。因此，第一实施方式的显示面板20也被称为OLED显示面板(或者仅为OLED面板)。

在显示装置1中，预先规定有行方向(纵方向、垂直方向)及列方向(横方向、水平方向)。在像素阵列210中，多个像素PIX在行方向及列方向分别配置。在图1的例子中，将像素阵列210的垂直像素数设为m、将水平像素数设为n来分别表示。m及n分别是2以上的整数。

像素阵列210所包含的像素的总数NPIX表示为NPIX＝m×n。像素阵列210的区域(像素阵列区域)规定显示面板20的活动区域(可显示区域)。一个PIX包含至少一个SEL。因此，显示面板20具有至少NPIX个SEL。在图1及图2(后述)的例子中，一个PIX设置有一个SEL。在各PIX中，含有用于驱动该PIX内的各SEL的多个晶体管(在图1中未图示)。

在本说明书中，由下标k表示像素阵列210中的规定的一个行。K是满足1≤k≤m的整数。另外，由下标l表示像素阵列210中的规定的一个列。L是满足1≤l≤n的整数。另外，为了区分各PIX，将位于像素阵列210的第k行l列的PIX也称为“PIXkl”。例如，图1的PIX11是位于像素阵列210的第1行1列的像素(第一像素)。相对于此，PIXmn是位于像素阵列210的第m行n列的像素(第NPIX的像素)。

驱动器220进行显示面板20的显示控制。驱动器220也被称为显示驱动器。在第一实施方式的例子中，驱动器220通过IC(Integrated Circuit：集成电路)安装。作为一个例子，驱动器220包含源极驱动器及栅极驱动器。

具体而言，驱动器220通过驱动各PIX(严格来说，通过控制各PIX内的各SEL的发光强度)，使显示面板20显示期望的图像(例：后述的IMG1或IMG2)。在第一实施方式中，例示了使显示面板20显示IMG2的情况。

在显示面板20的非显示期间(显示关闭期间)，监控电路230检测表示显示面板20的劣化程度的数据(以下，劣化数据)。如后述那样，监控电路230从各PIX检测劣化数据。以下，将通过监控电路230检测劣化数据的处理也称为面板感应处理。此外，在显示面板20的显示期间(显示开启期间)不执行面板感应处理。

(面板感应处理的一个例子)

图2是用于对面板感应处理的一个例子进行说明的图。图2的(a)、(b)分别是用于对第一处理及第二处理进行说明的图。在图2中，示出了一个PIX的一结构例。在图2中，对于与第一实施方式相关性低的电路元件及信号线，省略说明。

在PIX中，作为用于选择性地驱动SEL的开关元件，设置有多个晶体管(例：晶体管Tr1及Tra～Trc)。在图2的例子中，各晶体管是TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)。另外，PIX具有用于保持像素数据(严格来说，与像素数据对应的值的信号线电压)的电容器C。

(第一处理)

在第一处理中，在第二处理之前，对C充电。如图2的(a)所示，在第一处理中，从数据线向C供给像素数据。即，在第一处理中，(i)Tra及Tr1被接通，且(ii)Trb及Trc被断开。因此，与上述像素数据相应的电流(以下，像素对应电流)经由Tr1而流入C。

然而，在长期间使用显示面板20(例：OLED面板)的情况下，在PIX内的各元件中可产生经年劣化(以下，简称为劣化)。作为一个例子，PIX内的各晶体管的劣化产生PIX的发光强度(例：亮度)的降低。例如，在Tr1劣化的情况下，该Tr1的阻抗值增加。其结果为，伴随着像素对应电流的下降，PIX的发光强度降低。

根据以上内容，在第一处理中对C充电的电荷量与Tr1的劣化程度相应地变化。具体而言，伴随着Tr1的劣化发展，像素对应电流下降，因此上述电荷量也处于下降的趋势。因此，能够基于对C充电的电荷量，评价Tr1的劣化程度。像这样，该电荷量(换言之，像素对应电流)可以说是表示显示面板20的劣化程度的指标之一。

(第二处理)

在第二处理中，获取劣化数据。具体而言，在第二处理中，为了获取劣化数据，间接地检测通过第一处理对C预先充电的电荷量。如图2的(b)所示，在第二处理中，为了检测与上述电荷量对应的电流(例：从C流入Tr1的电流)，(i)Trb、Trc、及Tr1被接通，且(ii)Tra被断开。

以下，为了方便，将第二处理中的“从C流入Tr1的电流”称为“驱动电流”。驱动电流与第一处理中的像素对应电流对应。因此，在第二处理中，能够通过检测驱动电流，对Tr1的劣化程度进行评价。

因此，监控电路230也可以基于驱动电流获取劣化数据。在以下的说明中，监控电路230包含可检测驱动电流的电流传感器(未图示)。

作为一个例子，监控电路230计算对应于规定的像素数据的、(i)驱动电流的理想值(设计值)(以下，为Ii)与(ii)驱动电流的实测值(以下，为Ir)之差作为PIX的劣化数据(Id)。即，监控电路230根据以下的式(1),

Id＝Ii－Ir…(1)

计算Id。

在Tr1的劣化并未那么发展的情况下，Ir成为比较接近Ii的值。因此，在Id足够小的情况下，能够评价为PIX的劣化并未那么发展。相对于此，在Tr1的劣化以某种程度发展的情况下，Ir与Ii相比显著变小。因此，在Id大到某一程度的情况下，能够评价为PIX的劣化以某种程度发展。

监控电路230针对像素阵列210的各PIX(PIX11～PIXmn)，分别获取Id。以下，将PIXkl的Id称为Idkl。监控电路230获取Id11～Idmn。这些劣化数据(Id11～Idmn)一般而言能够表现为表示显示面板20的劣化程度的数据。

(主机装置10)

主机装置10具备输入图像获取部110、修正参数计算部120(修正参数生成部)、以及修正后图像生成部130。输入图像获取部110在显示开启期间，获取输入图像(以下，为IMG1)。IMG1可以是动态图像的各帧，或者是预先储存在显示装置1内的未图示的存储装置中的静态图像。

修正参数计算部120在显示关闭期间，从监控电路230获取劣化数据(Id11～Idmn)。进而，修正参数计算部120在显示关闭期间，基于劣化数据，生成修正参数。修正参数是指用于修正IMG1的各像素的灰度值的参数。在以下的说明中，将修正参数表示为γ。后述关于γ的生成方法(也被称为修正算法)的一个例子。

修正后图像生成部130在显示开启期间，使用在显示关闭期间预先生成的γ，来对IMG1的各像素的灰度值进行修正。以下，将“对IMG1的各像素的灰度值进行修正”也简称为“对IMG1的灰度值进行修正”(或者，对“IMG1进行修正」)。修正后图像生成部130通过对IMG1进行修正，从而生成输出图像(以下，为IMG2)。

以下，将IMG1的各像素的灰度值也简称为“IMG1的灰度值”。这一点关于IMG2也是同样的。另外，将IMG1的一个像素的灰度值称为x(输入灰度值)。相对于此，将与IMG1的该一个像素对应的IMG2的一个像素的灰度值称为y(输出灰度值)。在本说明书中，x及y是被标准化的灰度值。即，在IMG1及IMG2的任一个中，x及y均满足0≤x≤1、0≤y≤1。

作为一个例子，修正后图像生成部130使用以下的式(2)，

y＝xγ…(2)

对x进行修正(计算y)。式(2)与表示所谓γ修正的数学表达式相同。不过，在显示装置1中，与现有的γ修正不同，对IMG1的各像素分别(像素1～像素TPIX)设定单独的γ。TPIX为IMG1的像素数。像素i为IMG1的第i个像素(1≤i≤TPIX)。以下，将像素i的x称为xi。另外，将对xi应用的γ称为γi，将与该xi对应的y称为yi。

即，修正后图像生成部130使用以下的式(3)，

yi＝xiγi…(3)

对xi进行修正(计算yi)。通过像这样对IMG1进行修正，从而能够对显示面板20的各像素的劣化(发光强度的降低)进行修正。根据式(3)，与对IMG1的所有像素应用统一的γ的情况(现有的γ修正)不同，能够考虑显示面板20中的局部的像素的劣化。因此，与现有的γ修正相比，能够提高IMG2的显示品质。

不过，γ1～γTPIX也可以不必设定为不同的值。例如，若Id11～Idmn均为接近的值，且为足够小的值，则γ1～γTPIX也可以设定为相等的值。

(显示关闭期间的处理的流程的一个例子)

首先，监控电路230进行面板感应处理，获取劣化数据(Id11～Idmn)。接着，修正参数计算部120从监控电路230获取该劣化数据。进而，修正参数计算部120基于该劣化数据，生成修正参数(γ1～γTPIX)。

(显示开启期间的处理的流程的一个例子)

首先，输入图像获取部110获取IMG1。接着，修正后图像生成部130获取由修正参数计算部120预先生成的修正参数。进而，修正后图像生成部130使用该修正参数来对IMG1进行修正，由此生成IMG2。

接着，修正后图像生成部130将生成的IMG2供给至显示面板20(更具体而言，为驱动器220)。驱动器220使显示面板20显示该IMG2。像这样，通过代替IMG1，而使IMG2(显示面板20的劣化被修正后的图像)显示在显示面板20，从而即使在产生了显示面板20的劣化的情况下，也能够防止作为用户的欣赏对象的图像的显示品质的下降。更具体而言，能够抑制该图像中的发光强度的不均(发光不均)。

(修正参数生成处理的一个例子)

作为一个例子，由本发明的一个方式所涉及的显示装置(例：显示装置1)的制造者(以下，为制造者)针对Id与γ的关系，进行事先的实验。具体而言，由制造者预先实验性地研究：(i)“在某一PIX中的劣化数据为规定的值的情况下，该PIX的发光强度以何种程度下降”、及(ii)“通过如何设定γ，而能够对该PIX的发光强度的下降进行修正”。进而，由制造者基于该实验结果，制作表示Id与γ的对应关系的表(以下，为TABLE)。

在TABLE中，Id的代表值与γ的代表值的对应关系至少设定有两种方式。此外，将上述实验开始时及结束时的Id的值分别称为初始劣化数据及最终劣化数据。Id的各代表值及γ的各代表值均基于初始劣化数据及最终劣化数据来设定。

修正参数计算部120基于TABLE，设定与从监控电路230获取到的劣化数据相应的γ。以下，为了方便，考虑显示面板20(具体而言，为像素阵列210)的像素数与IMG1的像素数相同的情况。即，考虑显示面板20的各像素与IMG1的各像素一一对应的情况。在以下的说明中，将与γi1一一对应的Id称为Idi。

作为一个例子，修正参数计算部120基于TABLE所示的Id的代表值与γ的代表值的对应关系，设定γ的插值公式。在该插值公式中，γ表示为Id的函数。即，表示为γ＝f(Id)。作为一个例子，修正参数计算部120对上述对应关系进行线形插值，由此设定上述插值公式。这是由于为了简化γ的导出，优选上述函数设定为线形函数(一次函数)。

这里，在Id＝0(无劣化)的情况下，也可以设定为γ＝0(无修正)。因此，通过将上述函数设定为比例函数，能够特别简化γ的导出。即，作为

γ＝f(Id)＝α×Id…(4)

也可以设定插值公式。α为常数(比例系数)。

作为一个例子，考虑由修正参数计算部120生成γ1的情况。修正参数计算部120基于TABLE，设定与从监控电路230获取到的Id1(即，为Id11)对应的γ1。具体而言，修正参数计算部120基于式(4)，设定与Id1相应的γ1作为γ1＝α×Id1。之后，对于γ2～γTPIX也是同样的。

此外，在显示面板20的像素数与IMG1的像素数不同的情况下，只要预先设定“IMG1的某一像素与显示面板20的哪个像素对应”这一对应关系即可。在此基础上，只要使用与IMG1的一个像素对应的PIX组的Id来设定γ即可。

作为一个例子，考虑IMG1的一个像素(例：像素1)与显示面板20的两个像素(例：PIX11及PIX12)对应的情况。在该情况下，修正参数计算部120只要将Id11及Id12的代表值设定为Id1即可。进而，修正参数计算部120也可以基于式(4)设定γ1。

上述代表值的设定方法是任意的，但Id1优选被设定为Id11和Id12中的较大的一方的值。即，作为Id1＝Max(Id11、Id12)，优选设定Id1。作为一个例子，在Id11＞Id12的情况下，设定为Id1＝Id11。这是由于若鉴于对显示面板20的发光强度的下降进行修正这一目的，则优选以发光强度的劣化更显著的像素(例：PIX11)为基准，进行修正。

(效果)

如上述那样，在现有技术(例：专利文献1的技术)中，需要将用于生成修正参数的专用的硬件要素(例：修正电路)设置在自发光面板内。相对于此，在显示装置1中，修正参数计算部120设置于主机装置10。因此，与现有技术不同，能够避免显示面板20(自发光面板)的结构的复杂化，并对该显示面板20的劣化进行修正。

另外，在现有技术中，在例如欲新开发显示面板内的驱动器的情况下，需要预先使修正电路的硬件设计完成。即，在现有技术中，必须等待在修正电路内应用的修正算法的决定，来开始驱动器的开发。像这样，在现有技术中，由于修正算法的决定(修正电路的设计)成为瓶颈，因此充分缩短显示装置的开发期间是困难的。

相对于此，在显示装置1中，修正参数计算部120能够例如实现为软件。因此，由于不需要修正电路的硬件设计，因此与现有技术相比，能够灵活地进行修正算法的开发。例如，能够与显示面板内的驱动器的开发并行，来推进修正算法的开发。像这样，根据显示装置1，与以往相比能够有效地进行显示装置的开发，因此能够缩短显示装置的开发期间。

进一步，在显示装置1中，面板感应处理仅在显示关闭期间执行。通过在显示开启期间不执行面板感应处理，能够防止显示面板20的绘制速度的下降(例：IMG2的绘制速度的下降)。另外，在显示装置1中，由于基于驱动电流对劣化数据进行实测，因此与推断劣化数据的方法相比，能够高精度地检测劣化数据。因此，能够反映显示面板20的实质性的劣化程度，来对IMG1进行修正。根据以上的方面，显示装置1也对IMG2的显示品质的提高有益。

(补充)

也可以在显示装置1内的未图示的存储装置预先储存显示面板20的初始特性信息。初始特性信息泛指表示显示面板20的各像素的特性的信息。优选修正参数计算部120进一步基于该初始特性信息，来计算修正参数(γ1～γTPIX)。

在一部分的自发光面板(例：OLED面板)中，在初始状态(该自发光面板的制造时间点)，存在各像素的特性产生不一致的情况。通过进一步使用初始特性信息，能够考虑到上述不一致的影响(例：以抵消上述不一致的影响的方式)，来计算修正参数(γ1～γTPIX)。因此，能够使IMG2的显示品质进一步提高。

〔第二实施方式〕

图3是表示第二实施方式的显示装置2的主要部件的结构的功能框图。将显示装置2的主机装置及显示面板分别称为主机装置10A(控制装置)及显示面板20A(显示部)。显示装置2与显示装置1不同，还具备温度传感器30。将显示面板20A的驱动器称为驱动器220A。

主机装置10A与主机装置10不同，不具有修正后图像生成部130。此外，将主机装置10A的修正参数计算部称为修正参数计算部120A(修正参数生成部)。如以下叙述那样，修正参数计算部120A与修正参数计算部120不同，能够基于由温度传感器30检测出的温度(T)，调整γ。温度传感器30作为一个例子，检测显示装置2的周围温度。

在显示装置2中，与显示装置1不同，修正后图像生成部设置于显示面板20A。将显示面板20A的修正后图像生成部称为修正后图像生成部225A。在图3的例子中，修正后图像生成部225A设置于驱动器220A。

修正后图像生成部225A在显示开启期间，(i)从输入图像获取部110获取IMG1，并且(ii)从修正参数计算部120A获取γ(更具体而言，以下叙述的γ(温度调整后))。进而，修正后图像生成部225A在显示开启期间使用γ来对IMG1进行修正。

如以上那样，在显示装置2中，在显示面板20A生成IMG2。通过将修正后图像生成部设置于显示部，从而能够与第一实施方式相比简化控制装置的结构。此外，在优选将显示部的结构简化的情况下，如第一实施方式那样，只要在控制装置设置修正后图像生成部即可。

(修正参数计算部120A的处理的一个例子)

PIX内的各元件的电气特性能够与T相应地变化。更加具体而言，随着T变大，驱动电流处于下降的趋势。因此，随着T变大，PIX的发光强度降低。因此，作为一个例子，由制造者针对T与γ的关系，进行事先的实验。

具体而言，由制造者预先实验性地研究：(i)“在某一PIX的温度为与基准温度不同的规定的值的情况下，该PIX的劣化与基准温度的情况相比以何种程度变快(或变慢)”、及(ii)“通过如何设定γ，能够对该PIX的发光强度的降低进行修正”。进而。由制造者基于该实验结果制作表示T与γ的对应关系的表(以下，为TABLE2)。在TABLE2中，T的代表值与γ的代表值的对应关系至少以两种方式设定。

作为一个例子，修正参数计算部120A基于TABLE2所示的T的代表值与γ的代表值的对应关系，设定γ的插值公式。在该插值公式中，γ表示为T的函数。即，表示为γ＝g(T)。作为一个例子，修正参数计算部120A通过对上述对应关系进行线形插值，从而设定上述插值公式。

即，作为γ(温度调整后)＝g(T)＝β×(T-T0)+γ(温度调整前)…(5)也可以设定插值公式。β为常数。T0为基准温度。γ(温度调整前)为T0的γ。

作为一个例子，考虑由修正参数计算部120A检测γ1并进行温度调整的情况。首先，修正参数计算部120A使用例如式(4)，来计算γ1(温度调整前)。接着，修正参数计算部120A使用式(5)，来与T相应地调整γ1(温度调整前)(即，计算γ1(温度调整后))。

像这样，根据修正参数计算部120A，能够也考虑到T的影响来设定γ。因此，根据显示装置2，能够进一步提高IMG2的显示品质。

〔第三实施方式〕

图4是表示第三实施方式的显示装置3的主要部件的结构的功能框图。显示装置3为显示装置2的一变形例。将显示装置3的主机装置及显示面板分别称为主机装置10B(控制装置)及显示面板20B(显示部)。将显示面板20B的驱动器称为驱动器220B。

在主机装置10B中，主机装置10A的修正参数计算部120A被置换为第一实施方式的修正参数计算部120。显示面板20B与显示面板20A不同，还具备修正参数调整部330及修正参数保持部340。在图4的例子中，修正参数调整部330设置于驱动器220B。修正参数调整部330例如也可以通过微处理器安装。修正参数保持部340也可以是公知的存储装置。

修正参数保持部340获取由修正参数计算部120计算出的γ(更具体而言，为上述的γ(温度调整前))，并保持该γ。通过设置修正参数保持部340，从而不需要在修正参数计算部120中每次实时地进行γ的运算，因此能够降低控制装置的处理量。

修正参数调整部330获取在修正参数保持部340中储存的γ(温度调整前)。进而，修正参数调整部330与修正参数计算部120A同样地(例：使用上述的式(5))，计算γ(温度调整后)。像这样，也能够使显示部进行γ的温度调整。这样一来，也能够简化控制装置的结构。

〔变形例〕

本发明的一个方式所涉及的控制装置未必限定于主机装置。作为一个例子，主机装置的一部分的功能部(例：修正参数计算部120)也可以通过微处理器安装。像这样，在本发明的一个方式所涉及的控制装置中也能够包含微处理器。即，也能够将主机装置与微处理器组合，来作为整体实现一个控制装置。

〔基于软件的实现例〕

显示装置1～3的控制块(特别是主机装置10～10B及驱动器220～220B)可以通过形成于集成电路(IC芯片)等的逻辑电路(硬件)实现，也可以通过软件实现。

在后者的情况下，显示装置1～3具备执行作为实现各功能的软件的程序的命令的计算机。该计算机具备例如至少一个处理器(控制装置)，并且具备存储上述程序的计算机可读的至少一个记录介质。进而，在上述计算机中，通过上述处理器从上述记录介质读取并执行上述程序，从而实现本发明的一个方式的目的。作为上述处理器，例如能够使用CPU(Central Processing Unit)。作为上述记录介质，能够使用“非暂时性有形介质”、例如除ROM(Read Only Memory)等以外，能够使用磁带、磁盘、卡、半导体存储器、可编程的逻辑电路等。另外，也可以还具备将上述程序展开的RAM(Random Access Memory)等。另外，上述程序也可以经由可传输该程序的任意的传输介质(通信网络、广播波等)而供给至上述计算机。此外，本发明的一个方式在上述程序通过电子传输而具现化的、嵌入载波的数据信号的形态也能够实现。

〔总结〕

本发明的方式1所涉及的显示装置(1)具备：至少一个显示部(显示面板20)，其能够显示输入图像(IMG1)；和至少一个控制装置(主机装置10)，其对上述显示部进行控制，上述显示部具有分别包含自发光元件(SEL)作为光源的多个像素(PIX)，在上述显示部的非显示期间，上述显示部检测表示该显示部的劣化程度的劣化数据(Id)，上述控制装置基于从上述显示部获取到的上述劣化数据，生成用于对上述输入图像的各像素的灰度值进行修正的修正参数(γ)。

根据上述的结构，与现有技术不同，能够在控制装置中进行生成(计算)修正参数的处理，而不是显示部(例：自发光面板)。因此，能够避免显示部的结构(特别是硬件结构)的复杂化，并且对该显示部的劣化进行修正。

在本发明的方式2所涉及的显示装置中，在上述方式1的基础上，也可以是，上述控制装置使用上述修正参数来对上述输入图像的各像素的灰度值进行修正，由此生成修正后图像(IMG2)。

根据上述的结构，通过使控制装置进行对输入图像进行修正的处理，从而能够简化显示部的结构。

在本发明的方式3所涉及的显示装置中，在上述方式1的基础上，也可以是，上述显示部使用上述修正参数来对上述输入图像的各像素的灰度值进行修正，由此生成修正后图像。

根据上述的结构，能够使显示部进行对输入图像进行修正的处理，从而能够简化控制装置的结构。

在本发明的方式4所涉及的显示装置中，在上述方式1～3中的任一项的基础上，也可以是，上述显示部是包含有机EL(Electro Luminescence)元件作为上述自发光元件的有机EL显示面板。

本发明的方式5所涉及的控制装置为对具备可显示输入图像的显示部的显示装置进行控制的控制装置，上述显示部具有分别包含自发光元件作为光源的多个像素，在上述显示部的非显示期间，由该显示部检测表示该显示部的劣化程度的劣化数据，上述控制装置具备修正参数生成部(修正参数计算部120)，上述修正参数生成部在上述非显示期间，(i)从上述显示部获取上述劣化数据，且(ii)基于该劣化数据，生成用于对上述输入图像的各像素的灰度值进行修正的修正参数。

本发明的方式6所涉及的显示装置的控制方法为具备可显示输入图像的显示部和对上述显示部进行控制的控制装置的显示装置的控制方法，上述显示部具有分别包含自发光元件作为光源的多个像素，上述控制方法包含：在上述显示部的非显示期间，在上述显示部中，对表示该显示部的劣化程度的劣化数据进行检测的工序；和在上述显示部的非显示期间，在上述控制装置中，基于从上述显示部获取到的上述劣化数据，生成用于对上述输入图像的各像素的灰度值进行修正的修正参数的工序。

〔附加事项〕

本发明的一个方式并不限于上述的各实施方式，在权利要求所示的范围内能够进行各种变更，对于将在不同的实施方式中分别公开的技术方法适当组合而得到的实施方式也包含在本发明的一个方式的技术范围内。进一步，通过组合在各实施方式中分别公开的技术方法，能够形成新的技术特征。

Claims (6)

1.一种显示装置，具备：

至少一个显示部，其能够显示输入图像；和

至少一个控制装置，其对所述显示部进行控制，

所述显示装置的特征在于，

所述显示部具有多个像素，所述多个像素分别包含作为光源的自发光元件，

在所述显示部的非显示期间，

所述显示部检测表示该显示部的劣化程度的劣化数据，

所述控制装置基于从所述显示部获取到的所述劣化数据，生成修正参数，所述修正参数用于对所述输入图像的各像素的灰度值进行修正。

2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，

所述控制装置使用所述修正参数来对所述输入图像的各像素的灰度值进行修正，由此生成修正后图像。

3.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，

所述显示部使用所述修正参数来对所述输入图像的各像素的灰度值进行修正，由此生成修正后图像。

4.根据权利要求1～3中的任一项所述的显示装置，其特征在于，

所述显示部是包含有机EL元件作为所述自发光元件的有机EL显示面板。

5.一种控制装置，其对具备可显示输入图像的显示部的显示装置进行控制，所述控制装置的特征在于，

所述显示部具有多个像素，所述多个像素分别包含作为光源的自发光元件，

在所述显示部的非显示期间，由该显示部检测表示该显示部的劣化程度的劣化数据，

所述控制装置具备修正参数生成部，

所述修正参数生成部在所述非显示期间，(i)从所述显示部获取所述劣化数据，且(ii)基于该劣化数据，生成修正参数，所述修正参数用于对所述输入图像的各像素的灰度值进行修正。

6.一种显示装置的控制方法，其为具备可显示输入图像的显示部和对所述显示部进行控制的控制装置的显示装置的控制方法，所述显示装置的控制方法的特征在于，

所述显示部具有多个像素，所述多个像素分别包含作为光源的自发光元件，

所述控制方法包含：

在所述显示部的非显示期间，在所述显示部中，对表示该显示部的劣化程度的劣化数据进行检测的工序；和

在所述显示部的非显示期间，在所述控制装置中，基于从所述显示部获取到的所述劣化数据，生成修正参数，所述修正参数用于对所述输入图像的各像素的灰度值进行修正的工序。

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