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JP2020003452A - 検査装置、検査方法、および、検査装置用のプログラム - Google Patents

検査装置、検査方法、および、検査装置用のプログラム Download PDF

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JP2020003452A JP2018126023A JP2018126023A JP2020003452A JP 2020003452 A JP2020003452 A JP 2020003452A JP 2018126023 A JP2018126023 A JP 2018126023A JP 2018126023 A JP2018126023 A JP 2018126023A JP 2020003452 A JP2020003452 A JP 2020003452A
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Abstract

【課題】検査部分が複雑な形状をしていても、精度よく検査できる検査装置、検査方法、検査装置用のプログラムを提供する。【解決手段】検査装置10が、検査対象Tを撮影した画像データを取得し(S1)、画像データの画素の明るさが第1閾値以上である第1領域を抽出し(S2)、画素の明るさが第2閾値以下である第2領域を抽出し(S3)、第1領域と第2領域とから検査領域Rを生成し(S4)、検査領域Rにおいて、画像データを検査する(S5)。【選択図】図3

Description

本発明は、検査装置、検査方法、および、検査装置用のプログラムに関する。
従来、複雑な形状を持つ包装箱を検査する装置では、検査領域はCADデータを画像に変換し、設定することで実現している。例えば、特許文献1には、被検査対象物を打ち抜く木枠の打ち抜き面のDXFデータを画像データに変換し、変換された木枠画像データと、良否判定の基準となるマスタ画像データを表示部に表示し、表示部に表示されたマスタ画像に対応させて、木枠画像のサイズ及び位置を変更して、被検査対象物を打ち抜く状態を想定した打ち抜き想定画像を作成し、打ち抜き想定画像に基づいて、検査領域と検査不要領域とを区分した検査枠データを作成する検査枠作成方法が開示されている。
特開2008−74069号公報
しかし、上記従来技術のDXFデータは、CADデータという設計値であるため、打ち抜きされた現物と比較すると若干のズレが生じてしまう。また、搬送時にバタツキがあると撮像した画像とCADデータの差はさらに広がってしまうため、検査時に誤検出する原因となっていた。食品用ラップフィルムの箱等は、紙面にラップ切断用のカット刃部分が接着されている。カット刃部分は、特に複雑な形状をしており、検査領域の指定は容易ではない。特に、検査したい部分の端に欠陥がある場合、十分に検査ができなかった。
そこで、本発明は上記の問題点等に鑑みて為されたもので、その課題の一例は、検査対象の検査部分が複雑な形状をしていても、精度よく検査できる検査装置等を提供することを目的とする。
上記の課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、検査対象を撮影した画像データを取得する取得手段と、前記画像データの画素の明るさが第1閾値以上である第1領域を抽出する第1領域抽出手段と、前記画素の明るさが第2閾値以下である第2領域を抽出する第2領域抽出手段と、前記第1領域と前記第2領域とから検査領域を生成する検査領域生成手段と、前記検査領域において、前記画像データを検査する検査手段と、を備えることを特徴とする。
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の検査装置において、前記検査領域が、前記第1領域と前記第2領域とを足し合わせた領域であることを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、請求項1または請求項2に記載の検査装置において、前記検査領域が、前記第1領域の近傍領域と前記第2領域の近傍領域とを含むことを特徴とする。
また、請求項4に記載の発明は、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の検査装置において、前記検査手段が、前記画素の明るさが第3閾値以下である領域の大きさが、所定の大きさ以上の場合、前記検査対象が不良品であると判定することを特徴とする。
また、請求項5に記載の発明は、取得手段が、検査対象を撮影した画像データを取得する取得ステップと、第1領域抽出手段が、前記画像データの画素の明るさが第1閾値以上である第1領域を抽出する第1領域抽出ステップと、第2領域抽出手段が、前記画素の明るさが第2閾値以下である第2領域を抽出する第2領域抽出ステップと、検査領域生成手段が、前記第1領域と前記第2領域とから検査領域を生成する検査領域生成ステップと、検査手段が、前記検査領域において、前記画像データを検査する検査ステップと、を含むことを特徴とする。
また、請求項6に記載の発明は、コンピュータを、検査対象を撮影した画像データを取得する取得手段、前記画像データの画素の明るさが第1閾値以上である第1領域を抽出する第1領域抽出手段、前記画素の明るさが第2閾値以下である第2領域を抽出する第2領域抽出手段、前記第1領域と前記第2領域とから検査領域を生成する検査領域生成手段、および、前記検査領域において、前記画像データを検査する検査手段として機能させることを特徴とする。
本発明によれば、画像データの画素の明るさが第1閾値以上である第1領域を抽出し、画素の明るさが第2閾値以下である第2領域を抽出し、第1領域と第2領域とから検査領域を生成しているので、第1領域により主に検査したい部分の領域を抽出でき、第2領域により欠陥がある可能性がある領域を取り込めるので、検査領域がより正確に設定でき、検査対象の検査部分の形状にかかわらず、検査対象を精度よく検査できる。
本発明の実施形態に係る検査システムの概要構成例を示す模式図である。 図1の検査装置の概要構成例を示す模式図である。 検査装置の動作例を示すフローチャートである。 検査対象を撮影した画像の一例を示す模式図である。 検査対象を撮影した画像の一例を示す模式図である。 検査対象を撮影した画像の一例を示す模式図である。 第1領域の一例を示す模式図である。 第1領域の一例を示す模式図である。 第1領域の一例を示す模式図である。 第2領域の一例を示す模式図である。 第2領域の一例を示す模式図である。 第2領域の一例を示す模式図である。 第2領域の一例を示す模式図である。 第2領域の一例を示す模式図である。 第2領域の一例を示す模式図である。 検査領域の一例を示す模式図である。 検査領域の一例を示す模式図である。 検査領域の一例を示す模式図である。 検査領域における検査対象の画像の一例を示す模式図である。 検査領域における検査対象の画像の一例を示す模式図である。 検査領域における検査対象の画像の一例を示す模式図である。
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、検査システムに対して本発明を適用した場合の実施形態である。
[1.検査システム1の構成および機能概要]
まず、本発明の一実施形態に係る検査システムの構成および概要機能について、図1を用いて説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る検査システムの概要構成例を示す模式図である。
図1に示すように、検査システム1は、搬送装置(図示せず)に搬送された検査対象Tを検査する検査装置10と、検査対象Tの表面を照明する照明装置(図示せず)により照明された検査対象Tを撮影する撮影装置20と、を備えている。
検査対象Tは、例えば、食品用ラップフィルム等を収納する組み立て前の包装箱である。包装箱は、ロール紙などの原反に印刷し、金型などで外形を打抜いた後、箱として成形される。食品用ラップフィルムの包装箱の場合、外形を打抜いた紙面にラップ切断用のカット刃が接着された後に、成形される。カット刃が接着された後の成形前の対象が、主な検査対象になる。
検査装置10と、撮影装置20と、搬送装置と、照明装置とは、データを送受信したり、指令を送信したりするためのケーブルにより接続されていて、撮影装置20等は、検査装置10により制御される。
検査装置10は、コントローラ(例えば、プログラマブルロジックコントローラ)として、照明装置の照明、および、撮影装置20による撮影を制御する。また、検査装置10は、撮影装置20からの画像データを画像処理する。
撮影装置20は、例えば、CCD(Charge Coupled Device)イメージセンサやCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサ等の撮影素子を有するカラーまたは白黒のデジタルカメラである。撮影装置20は、検査対象Tの撮影範囲をカバーしやすいように、複数設定されていてもよい。
照明装置は、例えば、蛍光灯、LED(Light Emitting Diode)素子等の発光体が好ましい。照明装置は、検査装置10によりON−OFFや照度が制御される。照明装置が、斜めから光を照らして、検査対象T上の埃や紙くずの陰が生じて目立つようにしてもよい。
(1.2 検査装置10の構成および機能)
次に、検査装置10の構成および機能について、図2を用いて説明する。
図2は、検査装置10の概要構成例を示すブロック図である。
図2に示すように、検査装置10は、例えば、パーソナルコンピュータやプログラマブルロジックコントローラ等である。検査装置10は、記憶部11と、表示部12と、操作部13と、入出力インターフェース部14と、システム制御部15とを備えている。そして、システム制御部15と入出力インターフェース部14とは、システムバス16を介して接続されている。また、入出力インターフェース部14は、撮影装置20等に接続されている。
記憶部11は、例えば、ハードディスクドライブ、シリコンディスクドライブ等からなり、オペレーティングシステム、制御用のプログラム、検査用のプログラム等を記憶する。
表示部12は、例えば、液晶表示素子または有機EL(Electro Luminescence)素子等によって構成されている。表示部12には、検査システム1の制御するための入力情報や検査結果等が表示される。
操作部13は、例えば、キーボードおよびマウス等によって構成されている。ユーザは、操作部13を使用して、検査システム1の制御するための入力情報を入力する。
入出力インターフェース部14は、記憶部11等とシステム制御部15とのインターフェースである。
システム制御部15は、例えば、CPU(Central Processing Unit)15aと、ROM(Read Only Memory)15bと、RAM(Random Access Memory)15cとを有する。システム制御部15は、CPU15aが、ROM15bや、RAM15cや、記憶部11に記憶された各種プログラムを読み出して実行する。なお、これらのプログラムを記憶した記録媒体等をシステム制御部15が読み出し実行してもよい。
[2.検査システムの動作]
次に、本発明の1実施形態に係る検査システムの動作について図3から図9を用いて説明する。
図3は、検査装置10の動作例を示すフローチャートである。図4Aから図4Cは、検査対象を撮影した画像の一例を示す模式図である。図5Aから図5Cは、第1領域の一例を示す模式図である。図6Aから図6Cは、第2領域の一例を示す模式図である。図7Aから図7Cは、第2領域の一例を示す模式図である。図8Aから図8Cは、検査領域の一例を示す模式図である。図9Aから図9Cは、検査領域における検査対象の画像の一例を示す模式図である。
まず、再生紙製の原反に印刷が施され、金型で外形を打抜いた包装箱の本体部分に、カット刃が接着された検査対象Tが、搬送装置により、撮影装置20の撮影領域に向けて搬送されてくる。ここで、カット刃は、例えば、紙製、プラスチック製等である。カット刃の色は、包装箱の本体部分に対して、白色等の明るい色である。また、撮影領域は、検査対象Tにおけるカット刃部分が主になる。検査対象Tには、それぞれ検査対象IDが割り振られている。
次に、検査装置10が、検査対象Tが搬送されたことを、搬送装置からの信号を受信し、検査装置10からの指令により、撮影装置20は、照明装置により照明された検査対象Tを、所定の撮影領域で撮影する。
次に、図3に示すように、検査装置10は、検査対象の画像データを取得する(ステップS1)。具体的には、検査装置10のシステム制御部15が、撮影装置20から検査対象の画像データを取得する。図4Aから図4Cに示すように、システム制御部15が、画像データを取得する。
ここで、図4Aに示すように、撮影領域の画像30は、カット刃部分の領域r1と、包装箱の本体部分の領域r2とを有する。
図4Bの画像例は、カット刃部分の端にある欠陥部分s1と、カット刃部分の内部にある欠陥部分s2とが存在するケースである。画像30において、欠陥部分s1は、カット刃部分の領域r1の端に存在し、欠陥部分s2は、領域r1の内部に存在する。
図4Cの画像例は包装箱の本体部分にある欠陥部分s3が存在するケースである。画像30において、欠陥部分s3は、領域r2の内部に存在する。
なお、欠陥は、塵、紙の切れ端や、機械の油等である。欠陥部分s3は、油汚れ等の比較的大きな欠陥を示している。
このように、検査装置10は、検査対象を撮影した画像データを取得する取得手段の一例として機能する。
次に、検査装置10は、画素の明るさが第1閾値以上の第1領域を抽出する(ステップS2)。具体的には、システム制御部15が、画像30をスキャンして、画素の明るさが第1閾値以上の画素を集めて、第1領域とする。図5Aに示すように、欠陥がない場合、画像31において領域r1が第1領域として抽出される。図5Bに示すように、欠陥がある場合、カット刃部分の領域r1に、欠陥部分s1の領域rs1を加え、欠陥部分s2の領域rs2を差し引いた領域r3が、第1領域として抽出される。図5Cに示すように、本体部分にある欠陥部分s3がある場合、カット刃部分の領域r1が、第1領域として抽出される。
なお、画像31において、抽出された部分は、白色で表現し、抽出されなかった部分は黒色に表現してある。システム制御部15が、第1領域の画素の座標を記憶しておけばよい。システム制御部15が、画素の明るさが第1閾値以上の画素に対してラベリング処理をしてもよい。また、画素の明るさに関して、明るさは、輝度、明度でもよく、カラーの場合、RGB等の色の成分の色毎の値でもよい。
ここで、第1領域は、良品を前提として作成した検査領域に該当する。第1閾値は、注意深く検査したいカット刃部分の領域r1が抽出されるように、値に設定されることが好ましい。第1閾値により、再生紙等に含まれるゴミのようなパターンを含む包装箱の本体部分が抽出されにくくなる。また、第1閾値により、暗い、または陰がある欠陥部分s1、s2、s3も除去される。なお、明るさを示す範囲が0から255の場合、第1閾値は、例えば、120以上である。
なお、システム制御部15が、前処理として、フィルタでノイズを除去してもよいし、クロージング処理をしてもよい。システム制御部15が、画像30から画素の明るさが第1閾値以上の画素を求めてから、クロージング処理をして第1領域を抽出してもよい。
また、検査装置10は、カット刃部分の領域r1の明るさが、例えば、150±20の範囲に収まっているか否かを判定してもよい。カット刃部分の領域r1の明るさが外れている場合、検査装置10は、正常に検査領域を作成できない恐れがあるため、欠陥の有無にかかわらずNGとして判定してもよい。このカット刃部分の領域r1の明るさは、カット刃部分の領域r1の領域全体の平均値でもよいし、カット刃部分の領域r1の一部の代表的な領域でもよい。検査装置10は、ステップS2の前に、カット刃部分の領域r1の明るさを判定してもよいし、ステップS2の後に判定してもよい。
このように、検査装置10は、前記画像データの画素の明るさが第1閾値以上である第1領域を抽出する第1領域抽出手段の一例として機能する。
次に、検査装置10は、画素の明るさが第2閾値以下の第2領域を抽出する(ステップS3)。具体的には、システム制御部15が、画像30をスキャンして、画素の明るさが第2閾値以下の画素を集めて、第2領域とする。図6Aに示すように、欠陥がない場合、第2領域が抽出されない。図5Bに示すように、欠陥がある場合、欠陥部分s1の領域rs1と、欠陥部分s2の領域rs2とが、第2領域として抽出される。図6Cに示すように、本体部分にある欠陥部分s3がある場合、欠陥部分s3の領域rs3が、第2領域として抽出される。
なお、図7Aから図7Cには、図6Aから図6Cの画像32の白黒を反転させた画像33で第2領域である領域rs1、領域rs2、領域rs3を示している。また、システム制御部15が、画像30から画素の明るさが第2閾値以下の画素を求めてから、クロージング処理をして第2領域を抽出してもよい。
ここで、第2閾値は、比較的色が濃い欠陥部分の領域が抽出されるように、値に設定されることが好ましい。第2閾値により、第1領域以外で検査する必要の可能性がある領域が広がる。なお、明るさを示す範囲が0から255の場合、第2閾値は、例えば、50以下である。また、カット刃部分の欠陥部分s1の明るさは、30前後であることが多い。
なお、検査装置10は、包装箱の本体部分の領域r2の明るさが、例えば、90±20の範囲に収まっているか否かを判定してもよい。本体部分の領域r2の明るさが外れている場合、検査装置10は、正常に検査領域を作成できない恐れがあるため、欠陥の有無にかかわらずNGとして判定してもよい。包装箱の本体部分の領域r2の明るさは、本体部分の領域r2の領域全体の平均値でもよいし、本体部分の領域r2の一部の代表的な領域でもよい。検査装置10は、ステップS3の前に、本体部分の領域r2の明るさを判定してもよいし、ステップS3の後に判定してもよい。
このように、検査装置10は、前記画素の明るさが第2閾値以下である第2領域を抽出する第2領域抽出手段の一例として機能する。
次に、検査装置10は、第1領域と第2領域とから検査領域を生成する(ステップS4)。具体的には、システム制御部15が、第1領域と第2領域とを足し合わせ、検査領域を生成する。
図4Aに示すように、欠陥がない場合、画像32または画像33の第2領域は0であるので、図8Aに示すように、画像31の領域r1に0を足し合わせ、領域r1と同じ検査領域Rとなる。図4Bに示すように、欠陥がある場合、領域rs2は領域r1に含まれ、領域rs1は領域r1と一部重なるので、図8Bに示すように、領域r1と、領域r1からはみ出した領域rs1の部分とが合わさった検査領域Rとなる。図4Cに示すように、欠陥がある場合、領域rs3は、領域r1と重ならないので、図8Cに示すように、領域r1と領域rs3とが合わさった検査領域Rとなる。
図8Bに示すように、第1領域の一例である領域r1の端にある欠陥がある可能性がある部分を取り込んだ検査領域Rが生成される。また、図8Cに示すように、比較的大きめの欠陥がある可能性がある部分が加わった検査領域Rが生成される。これらのように、検査領域が、欠陥の大きさに合わせて拡大される。
このように、検査装置10は、前記第1領域と前記第2領域とから検査領域を生成する検査領域生成手段の一例として機能する。
次に、検査装置10は、検査領域において画像データを検査する(ステップS5)。具体的には、システム制御部15が、画像30において、検査領域Rのみをスキャンして、欠陥があるか否かを精査して検査対象Tを検査する。より具体的には、システム制御部15が、検査領域Rのみをスキャンして、画素の明るさが第3閾値以下である画素を集めた領域の大きさが、所定の大きさ以上の場合、検査対象Tが不良品であると判定し、検査対象Tの検査対象IDに関連づけて、記憶部11に判定結果を記憶する。なお、検査システム1は、包装箱を成形する工程の前に検査対象Tが不良品であると判定された検査対象Tを取り除いてもよい。
第3閾値が第2閾値より高いと、少しでも暗い画素が抽出されるので、感度が高くなる。また、カット刃部分の塵等を検出しやすくなる。第3閾値が第2閾値より低いと、暗い画素のみが検出されるので、確実に欠陥であるところを検出しやすくなる。第3閾値と第2閾値とが同じでも、検査領域Rにおいて詳細に検査することで、カット刃部分の細かい欠陥等を検出できる。
欠陥と判定する領域の大きさの閾値が低いと、検査領域Rにおいて塵等の小さい欠陥を検出できる。欠陥と判定する領域の大きさの閾値が高いと、小さな欠陥は無視され、大きい欠陥を検出できる。
なお、検査領域の周囲の近傍に検査領域を拡大してもよい。システム制御部15が、例えば、検査領域の画素の4近傍または8近傍に対して、所定回数、膨張処理を行う。
このように、検査装置10は、前記検査領域において、前記画像データを検査する検査手段の一例として機能する。検査装置10は、前記画素の明るさが第3閾値以下である領域の大きさが、所定の大きさ以上の場合、前記検査対象が不良品であると判定する検査手段の一例として機能する。
以上、本実施形態によれば、画像データの画素の明るさが第1閾値以上である第1領域を抽出し、画素の明るさが第2閾値以下である第2領域を抽出し、第1領域と第2領域とから検査領域Rを生成しているので、第1領域により主に検査したい部分の領域を抽出でき、第2領域により、欠陥がある可能性がある領域を取り込めるので、検査領域Rがより正確に設定でき、検査対象の検査部分の形状にかかわらず、検査対象Tを精度よく検査できる。シミのような巨大な欠陥や、製品の端や検査したい部分の端に欠陥があっても、領域が欠けることがなく検査領域を生成できるため、検査対象Tを精度よく検査できる。従って、不良流出を防止できる。
カット刃部分のように、複雑な形状をしていても検査領域の指定が容易にでき、精度よく検査できる。また、検査領域は製品外形でもよい。
ところで、従来、検査領域に対して十分内側に欠陥がある場合は領域の内側を塗りつぶす処理を加えておけば欠陥の影響を除去することができるが、巨大な欠陥や、製品の端に欠陥や、検査したい部分の端に欠陥があった場合、輪郭が潰れてしまうため、正確に検査領域を作成することができなかった。そのため、従来は、矩形、円などで検査領域を指定する方法と併用することになるが、複雑な形状には対応できず、さらに、バタツキの影響で製品が変形してしまうため、端まで検査領域を指定することができなかった。
検査領域が、第1領域と第2領域とを足し合わせた領域である場合、第2領域により、第1領域を補完できるように、欠陥がある可能性がある領域を取り込めるので、検査領域Rがより正確に設定でき、検査対象の検査部分の形状にかかわらず、検査対象Tを精度よく検査できる。
検査領域が、第1領域の近傍領域と第2領域の近傍領域とを含む場合、近傍まで検査領域が広がるので、検査領域の境界部分にある欠陥をより検出しやすくなる。
画素の明るさが第3閾値以下である領域の大きさが、所定の大きさ以上の場合、検査対象Tが不良品であると判定する場合、検査領域Rにおいて改めて、画素の明るさが第3閾値以下の領域の欠陥候補を抽出し、所定の大きさ以上とすることにより、欠陥候補を検出のしやすさを調整でき、かつ、誤って不良品とすることを防止できる。
1:検査システム
10:検査装置
R:検査領域

Claims (6)

  1. 検査対象を撮影した画像データを取得する取得手段と、
    前記画像データの画素の明るさが第1閾値以上である第1領域を抽出する第1領域抽出手段と、
    前記画素の明るさが第2閾値以下である第2領域を抽出する第2領域抽出手段と、
    前記第1領域と前記第2領域とから検査領域を生成する検査領域生成手段と、
    前記検査領域において、前記画像データを検査する検査手段と、
    を備えることを特徴とする検査装置。
  2. 請求項1に記載の検査装置において、
    前記検査領域が、前記第1領域と前記第2領域とを足し合わせた領域であることを特徴とする検査装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載の検査装置において、
    前記検査領域が、前記第1領域の近傍領域と前記第2領域の近傍領域とを含むことを特徴とする検査装置。
  4. 請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の検査装置において、
    前記検査手段が、前記画素の明るさが第3閾値以下である領域の大きさが、所定の大きさ以上の場合、前記検査対象が不良品であると判定することを特徴とする検査装置。
  5. 取得手段が、検査対象を撮影した画像データを取得する取得ステップと、
    第1領域抽出手段が、前記画像データの画素の明るさが第1閾値以上である第1領域を抽出する第1領域抽出ステップと、
    第2領域抽出手段が、前記画素の明るさが第2閾値以下である第2領域を抽出する第2領域抽出ステップと、
    検査領域生成手段が、前記第1領域と前記第2領域とから検査領域を生成する検査領域生成ステップと、
    検査手段が、前記検査領域において、前記画像データを検査する検査ステップと、
    を含むことを特徴とする検査方法。
  6. コンピュータを、
    検査対象を撮影した画像データを取得する取得手段、
    前記画像データの画素の明るさが第1閾値以上である第1領域を抽出する第1領域抽出手段、
    前記画素の明るさが第2閾値以下である第2領域を抽出する第2領域抽出手段、
    前記第1領域と前記第2領域とから検査領域を生成する検査領域生成手段、および、
    前記検査領域において、前記画像データを検査する検査手段として機能させることを特徴とする検査装置用のプログラム。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20240059542A (ko) 2022-10-27 2024-05-07 스미도모쥬기가이고교 가부시키가이샤 반송이상처리장치, 반송이상처리방법, 반송이상처리프로그램

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11118721A (ja) * 1997-10-13 1999-04-30 Ckd Corp 錠剤の外観検査方法と錠剤の外観検査装置
JP2003149160A (ja) * 2001-11-13 2003-05-21 Nec Corp 外観検査方法及び外観検査装置
JP2005069887A (ja) * 2003-08-25 2005-03-17 Nippon Steel Corp 欠陥検査方法及び装置
JP2005227302A (ja) * 2005-05-11 2005-08-25 Ckd Corp 外観検査装置及び外観検査装置を備えたptp包装機

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11118721A (ja) * 1997-10-13 1999-04-30 Ckd Corp 錠剤の外観検査方法と錠剤の外観検査装置
JP2003149160A (ja) * 2001-11-13 2003-05-21 Nec Corp 外観検査方法及び外観検査装置
JP2005069887A (ja) * 2003-08-25 2005-03-17 Nippon Steel Corp 欠陥検査方法及び装置
JP2005227302A (ja) * 2005-05-11 2005-08-25 Ckd Corp 外観検査装置及び外観検査装置を備えたptp包装機

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20240059542A (ko) 2022-10-27 2024-05-07 스미도모쥬기가이고교 가부시키가이샤 반송이상처리장치, 반송이상처리방법, 반송이상처리프로그램

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