JP2002181718A - ホログラムシートの検査方法及び検査装置 - Google Patents
ホログラムシートの検査方法及び検査装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ホログラムシートの絵柄部のエッジに発生し
た欠陥部分を検出する。 【解決手段】 基材上の正常なホログラムシートを撮影
して得た正常画（２1）を多数のブロックに仕切って各
ブロック内の画素の明るさのうち最小値をとるよう処理
した第一の基準画（２２）と、各ブロック内の画素の明
るさのうち最大値をとるよう処理した第二の基準画（２
３）とを用意し、第一の基準画（２２）から検査される
ホログラムシートを撮影して得た検査画（４1）をパタ
ーンマッチング後に引き算すると共に、検査画（４1）
から第二の基準画（２３）をパターンマッチング後に引
き算し、それぞれの引き算後の差分画（２４）（２５）
内において予め決定された閾値より明るさが大きい画素
の部分（５ａ4，５ｂ4，５ｃ 4）を欠陥部分として認識
する。
た欠陥部分を検出する。 【解決手段】 基材上の正常なホログラムシートを撮影
して得た正常画（２1）を多数のブロックに仕切って各
ブロック内の画素の明るさのうち最小値をとるよう処理
した第一の基準画（２２）と、各ブロック内の画素の明
るさのうち最大値をとるよう処理した第二の基準画（２
３）とを用意し、第一の基準画（２２）から検査される
ホログラムシートを撮影して得た検査画（４1）をパタ
ーンマッチング後に引き算すると共に、検査画（４1）
から第二の基準画（２３）をパターンマッチング後に引
き算し、それぞれの引き算後の差分画（２４）（２５）
内において予め決定された閾値より明るさが大きい画素
の部分（５ａ4，５ｂ4，５ｃ 4）を欠陥部分として認識
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、プラスチック製の
カード等に貼着されたホログラムシートの検査方法及び
検査装置に関する。
カード等に貼着されたホログラムシートの検査方法及び
検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図１（Ａ）に示すように、ＩＣカード、
磁気カード等のカード１の表面には、偽造防止のための
ホログラムシート２が付される場合がある。ホログラム
シート２は転写等によりカード１上に接着される。この
カード１は正常なホログラムシート２を有しており、ホ
ログラムシート２には欠陥部分が存在しない。しかし、
同図（Ｂ）に示すカード３のように、ホログラムシート
４の印刷不良、転写不良等によりホログラムシート４の
中に汚れ、ピンホール、浮き上り等の欠陥部分５ａ，５
ｂ，５ｃが生じることがある。このためカード１，３は
出荷前に検査し、欠陥のあるカード３は予め除去してお
かなければならない。図１（Ｂ）に例示するカード３の
ホログラムシート４にはその背景部４ａに一つの黒点か
らなる欠陥部分５ａが発生し、絵柄部４ｂに黒点からな
る欠陥部分５ｂと白点からなる欠陥部分５ｃが発生して
いる。
磁気カード等のカード１の表面には、偽造防止のための
ホログラムシート２が付される場合がある。ホログラム
シート２は転写等によりカード１上に接着される。この
カード１は正常なホログラムシート２を有しており、ホ
ログラムシート２には欠陥部分が存在しない。しかし、
同図（Ｂ）に示すカード３のように、ホログラムシート
４の印刷不良、転写不良等によりホログラムシート４の
中に汚れ、ピンホール、浮き上り等の欠陥部分５ａ，５
ｂ，５ｃが生じることがある。このためカード１，３は
出荷前に検査し、欠陥のあるカード３は予め除去してお
かなければならない。図１（Ｂ）に例示するカード３の
ホログラムシート４にはその背景部４ａに一つの黒点か
らなる欠陥部分５ａが発生し、絵柄部４ｂに黒点からな
る欠陥部分５ｂと白点からなる欠陥部分５ｃが発生して
いる。
【０００３】従来、このような欠陥部分５ａ，５ｂ，５
ｃの検出には図５に示すような画像処理手段が採られて
いる。
ｃの検出には図５に示すような画像処理手段が採られて
いる。
【０００４】カード１上の正常なホログラムシート２を
ＣＣＤカメラで撮影して得た正常画２1と、検査すべき
カード３上のホログラムシート４を同様に撮影して得た
検査画４1とを用意する。この検査すべきホログラムシ
ート４には、図１（Ｂ）に示す如く、欠陥部分５ａ，５
ｂ，５ｃが複数箇所にわたって発生しているものとし、
これに対応して検査画４1上には黒点からなる欠陥部分
５ａが背景部４ａ1に画線部５ａ1となって現れ、黒点と
白点からなる欠陥部分５ｂ，５ｃとが絵柄部４ｂ1に画
線部５ｂ1，５ｃ1となって現れている。次に、正常画２
1から微分画６を求めると共に、正常画２1と検査画４1
とをパターンマッチングした後に両者の差分（差の絶対
値）を求めて差分画７を得る。差分画７には、欠陥部分
５ａ，５ｂ，５ｃが画線部５ａ2，５ｂ2，５ｃ2として
表示される。そして、差分画７から微分画６を引き算す
るか又は微分画６以外の部分を抽出して他の差分画８を
得、この差分画８上に明るい画線部５ａ3，５ｃ3が認め
られると、その部分を欠陥部分５ａ，５ｃとして判定す
る。
ＣＣＤカメラで撮影して得た正常画２1と、検査すべき
カード３上のホログラムシート４を同様に撮影して得た
検査画４1とを用意する。この検査すべきホログラムシ
ート４には、図１（Ｂ）に示す如く、欠陥部分５ａ，５
ｂ，５ｃが複数箇所にわたって発生しているものとし、
これに対応して検査画４1上には黒点からなる欠陥部分
５ａが背景部４ａ1に画線部５ａ1となって現れ、黒点と
白点からなる欠陥部分５ｂ，５ｃとが絵柄部４ｂ1に画
線部５ｂ1，５ｃ1となって現れている。次に、正常画２
1から微分画６を求めると共に、正常画２1と検査画４1
とをパターンマッチングした後に両者の差分（差の絶対
値）を求めて差分画７を得る。差分画７には、欠陥部分
５ａ，５ｂ，５ｃが画線部５ａ2，５ｂ2，５ｃ2として
表示される。そして、差分画７から微分画６を引き算す
るか又は微分画６以外の部分を抽出して他の差分画８を
得、この差分画８上に明るい画線部５ａ3，５ｃ3が認め
られると、その部分を欠陥部分５ａ，５ｃとして判定す
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ホログラムでは微妙な
光の角度によって画像の形状が変化するため、特に絵柄
部４ｂのエッジ４ｃにおいて過剰に欠陥ありと判定され
やすい。すなわち、図５に示すように、差分画７には絵
柄部２ｂ1と絵柄部４ｂ1のエッジ２ｃ1、４ｃ1同士がマ
ッチングしきれず、図示したように差が画線部９として
出やすい。そのため通常の検査処理では、微分画６の画
線部１０を膨張させることで絵柄部４ｂのエッジ４ｃに
おける欠陥検査を甘くしている。
光の角度によって画像の形状が変化するため、特に絵柄
部４ｂのエッジ４ｃにおいて過剰に欠陥ありと判定され
やすい。すなわち、図５に示すように、差分画７には絵
柄部２ｂ1と絵柄部４ｂ1のエッジ２ｃ1、４ｃ1同士がマ
ッチングしきれず、図示したように差が画線部９として
出やすい。そのため通常の検査処理では、微分画６の画
線部１０を膨張させることで絵柄部４ｂのエッジ４ｃに
おける欠陥検査を甘くしている。
【０００６】しかし、それではホログラムシート３の絵
柄４ｂのエッジ４ｃ上又はその近傍に生じた欠陥部分５
ｂが微分画６の画線部１０上に含まれてしまい、欠陥部
分５ｂの検出が事実上困難になってしまう。
柄４ｂのエッジ４ｃ上又はその近傍に生じた欠陥部分５
ｂが微分画６の画線部１０上に含まれてしまい、欠陥部
分５ｂの検出が事実上困難になってしまう。
【０００７】従って、本発明は、ホログラムシートの絵
柄のエッジ上又はその近傍に生じた欠陥であっても確実
に検出することができるホログラムシートの検査方法及
び装置を提供することを目的とする。
柄のエッジ上又はその近傍に生じた欠陥であっても確実
に検出することができるホログラムシートの検査方法及
び装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め、請求項１に係る発明は、基材（１）上の正常なホロ
グラムシート（２）を撮影して得た正常画（２1）を多
数のブロックに仕切って各ブロック内の画素の明るさの
うち最小値をとるよう処理した第一の基準画（２２）
と、上記各ブロック内の画素の明るさのうち最大値をと
るよう処理した第二の基準画（２３）とを用意し、第一
の基準画（２２）から検査されるホログラムシート
（４）を撮影して得た検査画（４1）をパターンマッチ
ング後に引き算すると共に、上記検査画（４1）から上
記第二の基準画（２３）をパターンマッチング後に引き
算し、それぞれの引き算後の差分画（２４）（２５）内
において予め決定された閾値より明るさが大きい画素の
部分（５ａ4，５ｂ4，５ｃ4）を欠陥部分（５ａ，５
ｂ，５ｃ）として認識するホログラムシートの検査方法
を採用する。
め、請求項１に係る発明は、基材（１）上の正常なホロ
グラムシート（２）を撮影して得た正常画（２1）を多
数のブロックに仕切って各ブロック内の画素の明るさの
うち最小値をとるよう処理した第一の基準画（２２）
と、上記各ブロック内の画素の明るさのうち最大値をと
るよう処理した第二の基準画（２３）とを用意し、第一
の基準画（２２）から検査されるホログラムシート
（４）を撮影して得た検査画（４1）をパターンマッチ
ング後に引き算すると共に、上記検査画（４1）から上
記第二の基準画（２３）をパターンマッチング後に引き
算し、それぞれの引き算後の差分画（２４）（２５）内
において予め決定された閾値より明るさが大きい画素の
部分（５ａ4，５ｂ4，５ｃ4）を欠陥部分（５ａ，５
ｂ，５ｃ）として認識するホログラムシートの検査方法
を採用する。
【０００９】また、請求項２に係る発明は、基材（１，
３）上のホログラムシート（２，４）を撮影するカメラ
（１１）と、正常なホログラムシート（２）を撮影して
得た正常画（２1）を多数のブロックに仕切って各ブロ
ック内の画素の明るさのうち最小値をとるよう処理した
第一の基準画（２２）から上記カメラ（１１）で撮影し
たホログラムシート（４）の検査画（４1）をパターン
マッチング後に引き算して第一の差分画（２４）を得、
この第一の差分画（２４）内において予め決定された閾
値より明るさが低い画素の部分（５ａ4，５ｂ4）を欠陥
部分（５ａ，５ｂ）として認識する第一の欠陥認識手段
と、上記各ブロック内の画素の明るさのうち最大値をと
るよう処理した第二の基準画（２３）を上記検査画（４
1）からパターンマッチング後に引き算して第二の差分
画（２５）を得、この第二の差分画（２５）内において
予め決定された閾値より明るさが大きい画素の部分（５
ｃ 4）を欠陥部分（５ｃ）として認識する第二の欠陥認
識手段とを具備したホログラムシートの検査装置を採用
する。
３）上のホログラムシート（２，４）を撮影するカメラ
（１１）と、正常なホログラムシート（２）を撮影して
得た正常画（２1）を多数のブロックに仕切って各ブロ
ック内の画素の明るさのうち最小値をとるよう処理した
第一の基準画（２２）から上記カメラ（１１）で撮影し
たホログラムシート（４）の検査画（４1）をパターン
マッチング後に引き算して第一の差分画（２４）を得、
この第一の差分画（２４）内において予め決定された閾
値より明るさが低い画素の部分（５ａ4，５ｂ4）を欠陥
部分（５ａ，５ｂ）として認識する第一の欠陥認識手段
と、上記各ブロック内の画素の明るさのうち最大値をと
るよう処理した第二の基準画（２３）を上記検査画（４
1）からパターンマッチング後に引き算して第二の差分
画（２５）を得、この第二の差分画（２５）内において
予め決定された閾値より明るさが大きい画素の部分（５
ｃ 4）を欠陥部分（５ｃ）として認識する第二の欠陥認
識手段とを具備したホログラムシートの検査装置を採用
する。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面を参照して説明する。
図面を参照して説明する。
【００１１】図１（Ａ）（Ｂ）に示すように、ホログラ
ムシート２，４は、プラスチック製の基材であるカード
１，３上に転写等の手段により貼着されている。ホログ
ラムシート２，４は例えば長方形に形成されたシート材
であり、その表面には例えば絵柄部２ａ，４ａと背景部
２ｂ，４ｂとが表示されている。図１（Ｂ）に例示する
カード１のホログラムシート２は正常であり、汚れ、ピ
ンホール等の欠陥部分は発生していない。図１（Ｂ）に
例示するカード３のホログラムシート４には欠陥部分５
ａ，５ｂ，５ｃが含まれており、その背景部４ａに欠陥
部分５ａに対応する一つの黒点が発生し、絵柄部４ｂに
欠陥部分５ｂ，５ｃに夫々対応する黒点と白点が発生し
ている。
ムシート２，４は、プラスチック製の基材であるカード
１，３上に転写等の手段により貼着されている。ホログ
ラムシート２，４は例えば長方形に形成されたシート材
であり、その表面には例えば絵柄部２ａ，４ａと背景部
２ｂ，４ｂとが表示されている。図１（Ｂ）に例示する
カード１のホログラムシート２は正常であり、汚れ、ピ
ンホール等の欠陥部分は発生していない。図１（Ｂ）に
例示するカード３のホログラムシート４には欠陥部分５
ａ，５ｂ，５ｃが含まれており、その背景部４ａに欠陥
部分５ａに対応する一つの黒点が発生し、絵柄部４ｂに
欠陥部分５ｂ，５ｃに夫々対応する黒点と白点が発生し
ている。
【００１２】図２に示すように、ホログラムシートの検
査装置は、カード１，３上のホログラムシート２，４を
撮影するカメラ１１と、明るさの程度が低い黒点等の欠
陥部分５ａ，５ｂを検出するための第一の欠陥認識手段
と、明るさの程度が高い白点等の欠陥部分５ｃを検出す
るための第二の欠陥認識手段と、この検査装置の処理内
容等を表示するモニタ１４とを具備し、コンピュータの
機能も有している。その他図示しないがホログラムシー
ト１，３を照明する照明装置、マン−マシンインターフ
ェイスとなる操作部、カード１，３をカメラ１１下で一
方向に間欠的に搬送する搬送装置等も具備する。
査装置は、カード１，３上のホログラムシート２，４を
撮影するカメラ１１と、明るさの程度が低い黒点等の欠
陥部分５ａ，５ｂを検出するための第一の欠陥認識手段
と、明るさの程度が高い白点等の欠陥部分５ｃを検出す
るための第二の欠陥認識手段と、この検査装置の処理内
容等を表示するモニタ１４とを具備し、コンピュータの
機能も有している。その他図示しないがホログラムシー
ト１，３を照明する照明装置、マン−マシンインターフ
ェイスとなる操作部、カード１，３をカメラ１１下で一
方向に間欠的に搬送する搬送装置等も具備する。
【００１３】カメラ１１は、例えばＣＣＤカメラで構成
される。カメラ１１はカード１，３上のホログラムシー
ト２，４を撮影し、ホログラムシート２，４上の絵柄部
２ａ，４ａ及び背景部２ｂ，４ｂからなる画像を検査装
置本体内に入力する。この画像は二値化処理部２１によ
り処理され、二値画像とされる。カメラ１１は、カード
１，３を搬送しながら走査するラインセンサーカメラで
あっても良く、カード１，３を搬送しながら又は搬送を
停止させて撮像するエリアセンサーカメラであっても良
い。カメラ１１で撮像する際はホログラムシート２，４
の全面が均一な明るさになるように、照明装置により照
明される。
される。カメラ１１はカード１，３上のホログラムシー
ト２，４を撮影し、ホログラムシート２，４上の絵柄部
２ａ，４ａ及び背景部２ｂ，４ｂからなる画像を検査装
置本体内に入力する。この画像は二値化処理部２１によ
り処理され、二値画像とされる。カメラ１１は、カード
１，３を搬送しながら走査するラインセンサーカメラで
あっても良く、カード１，３を搬送しながら又は搬送を
停止させて撮像するエリアセンサーカメラであっても良
い。カメラ１１で撮像する際はホログラムシート２，４
の全面が均一な明るさになるように、照明装置により照
明される。
【００１４】第一の欠陥認識手段は、正常画を記憶する
記憶部１６と、検査画を記憶する記憶部１７と、第一の
基準画を記憶する記憶部１８と、第一の基準画から検査
画を引き算し差分画を得る第一の減算部１９と、差分画
から欠陥の存否を判定する第一の判定部２０とを有す
る。
記憶部１６と、検査画を記憶する記憶部１７と、第一の
基準画を記憶する記憶部１８と、第一の基準画から検査
画を引き算し差分画を得る第一の減算部１９と、差分画
から欠陥の存否を判定する第一の判定部２０とを有す
る。
【００１５】正常画２1、検査画４1、第一の基準画２２
及び第一の差分画２４は図４に示される。正常画２
1は、検査に先立ち上記カメラ１１で図１（Ａ）に示し
た正常なホログラムシート２を撮影し、これを二値化処
理部２１で処理することにより得られる二値画像であ
る。第一の基準画２２は、この正常画２1を多数のブロ
ックに仕切って各ブロック内の画素の明るさのうち最小
値をとるよう処理することにより得られる。この処理に
より各ブロック内は夫々の最小値の明るさに統一され、
その結果第一の基準画２２の絵柄部２ｂ2は多少膨張す
る。ブロックは例えば５ドット×５ドットの一定の大き
さに設定される。検査画４1は、検査されるべきカード
３に貼着されたホログラムシート４を上記カメラ１１で
撮影して得た二値画像である。この検査画４1は、検査
されるカード３を搬送装置によりカメラ１１下へ送るこ
とにより撮影される。各種記憶部１６，１７，１８は、
このような正常画２1、検査画４1、第一の基準画２２及
び第一の差分画２４を夫々記憶する。
及び第一の差分画２４は図４に示される。正常画２
1は、検査に先立ち上記カメラ１１で図１（Ａ）に示し
た正常なホログラムシート２を撮影し、これを二値化処
理部２１で処理することにより得られる二値画像であ
る。第一の基準画２２は、この正常画２1を多数のブロ
ックに仕切って各ブロック内の画素の明るさのうち最小
値をとるよう処理することにより得られる。この処理に
より各ブロック内は夫々の最小値の明るさに統一され、
その結果第一の基準画２２の絵柄部２ｂ2は多少膨張す
る。ブロックは例えば５ドット×５ドットの一定の大き
さに設定される。検査画４1は、検査されるべきカード
３に貼着されたホログラムシート４を上記カメラ１１で
撮影して得た二値画像である。この検査画４1は、検査
されるカード３を搬送装置によりカメラ１１下へ送るこ
とにより撮影される。各種記憶部１６，１７，１８は、
このような正常画２1、検査画４1、第一の基準画２２及
び第一の差分画２４を夫々記憶する。
【００１６】第一の減算部１９は、差分演算手段であ
り、第一の基準画２２から検査画４1をパターンマッチ
ング後に引き算して第一の差分画２４を得るようになっ
ている。この第一の差分画２４には、ホログラムシート
４の背景部４ａの黒点からなる欠陥部分５ａと、絵柄部
４ｂの黒点からなる欠陥部分５ｂとが画線部５ａ4、５
ｂ4として現れている。絵柄部４ｂ内の黒点は絵柄部４
ｂのエッジ４ｃ上又はその近傍に存在するが、本発明で
は検査画４1を多少膨張した第一の基準画２２とマッチ
ングさせるので、図５の差分画７に示したようなエッジ
４ｃに対応した画線部９が明確に生ぜず、従って絵柄部
４ｂのエッジ４ｃ上又はその近傍に存在する欠陥部分５
ｂが第一の差分画２４上に画線部５ｂ4となって現れ
る。
り、第一の基準画２２から検査画４1をパターンマッチ
ング後に引き算して第一の差分画２４を得るようになっ
ている。この第一の差分画２４には、ホログラムシート
４の背景部４ａの黒点からなる欠陥部分５ａと、絵柄部
４ｂの黒点からなる欠陥部分５ｂとが画線部５ａ4、５
ｂ4として現れている。絵柄部４ｂ内の黒点は絵柄部４
ｂのエッジ４ｃ上又はその近傍に存在するが、本発明で
は検査画４1を多少膨張した第一の基準画２２とマッチ
ングさせるので、図５の差分画７に示したようなエッジ
４ｃに対応した画線部９が明確に生ぜず、従って絵柄部
４ｂのエッジ４ｃ上又はその近傍に存在する欠陥部分５
ｂが第一の差分画２４上に画線部５ｂ4となって現れ
る。
【００１７】第一の判定部２０は、第一の減算部１９で
得られた第一の差分画２４内において予め決定された閾
値より明るさが大きい画素の部分を欠陥部分５ａ，５ｂ
として認識するようになっている。第一の判定部２０
は、第一の差分画２４の画像における画線部５ａ4，５
ｂ4の明るさがこの場合閾値を超えているものとして
「欠陥部分あり」との信号を出力する。この出力信号は
モニタ１４等に出力され、モニタ１４等は警報を発す
る。
得られた第一の差分画２４内において予め決定された閾
値より明るさが大きい画素の部分を欠陥部分５ａ，５ｂ
として認識するようになっている。第一の判定部２０
は、第一の差分画２４の画像における画線部５ａ4，５
ｂ4の明るさがこの場合閾値を超えているものとして
「欠陥部分あり」との信号を出力する。この出力信号は
モニタ１４等に出力され、モニタ１４等は警報を発す
る。
【００１８】第二の欠陥認識手段は、正常画２1を記憶
する記憶部１６と、検査画４1を記憶する記憶部１７
と、第二の基準画２３を記憶する記憶部２６と、検査画
４1から第二の基準画２３を引き算して第二の差分画２
５を得る第二の減算部２７と、差分画２５から欠陥の存
否を判定する第二の判定部２８とを有する。
する記憶部１６と、検査画４1を記憶する記憶部１７
と、第二の基準画２３を記憶する記憶部２６と、検査画
４1から第二の基準画２３を引き算して第二の差分画２
５を得る第二の減算部２７と、差分画２５から欠陥の存
否を判定する第二の判定部２８とを有する。
【００１９】検査画４1及び正常画２1は既に説明したの
で省略する。第二の基準画２３及び第二の差分画２５は
図４に示される。第二の基準画２３は、正常画２1を多
数のブロックに仕切って各ブロック内の画素の明るさの
うち最大値をとるよう処理することにより得られる二値
画像である。この処理により各ブロック内は夫々の最大
値の明るさに統一され、その結果第二の基準画２３は多
少膨張する。ブロックの大きさは第一の基準画２２を得
る場合と同様に設定される。記憶部２６は、第二の基準
画２３を記憶する。
で省略する。第二の基準画２３及び第二の差分画２５は
図４に示される。第二の基準画２３は、正常画２1を多
数のブロックに仕切って各ブロック内の画素の明るさの
うち最大値をとるよう処理することにより得られる二値
画像である。この処理により各ブロック内は夫々の最大
値の明るさに統一され、その結果第二の基準画２３は多
少膨張する。ブロックの大きさは第一の基準画２２を得
る場合と同様に設定される。記憶部２６は、第二の基準
画２３を記憶する。
【００２０】第二の減算部２７は、差分演算手段であ
り、検査画４1から第二の基準画２３をパターンマッチ
ング後に引き算して第二の差分画２５を得るようになっ
ている。この第二の差分画２５には、ホログラムシート
４の絵柄部４ｂの白点からなる欠陥部分５ｃが画線部５
ｃ4として現れている。本発明では検査画４1を多少膨張
した第二の基準画２３とマッチングさせるので、図５の
差分画７に示したようなエッジ４ｃに対応した画線部９
が明確に生ぜず、従って絵柄部４ｂのエッジ４ｃ上又は
その近傍に明るさの高い欠陥部分が存在する場合であっ
ても第二の差分画２５上に画線部となって現れる。
り、検査画４1から第二の基準画２３をパターンマッチ
ング後に引き算して第二の差分画２５を得るようになっ
ている。この第二の差分画２５には、ホログラムシート
４の絵柄部４ｂの白点からなる欠陥部分５ｃが画線部５
ｃ4として現れている。本発明では検査画４1を多少膨張
した第二の基準画２３とマッチングさせるので、図５の
差分画７に示したようなエッジ４ｃに対応した画線部９
が明確に生ぜず、従って絵柄部４ｂのエッジ４ｃ上又は
その近傍に明るさの高い欠陥部分が存在する場合であっ
ても第二の差分画２５上に画線部となって現れる。
【００２１】第二の判定部２８は、第二の減算部２７で
得られた第二の差分画２５内において予め決定された閾
値より明るさが大きい画素の部分５ｃ4を欠陥部分５ｃ
として認識するようになっている。第二の判定部２８
は、上記第二の差分画２５の画像における画線部５ｃ4
の明るさがこの場合閾値を超えているものとして「欠陥
部分あり」との信号を出力する。この出力信号はモニタ
１４等に出力され、モニタ１４等は警報を発する。
得られた第二の差分画２５内において予め決定された閾
値より明るさが大きい画素の部分５ｃ4を欠陥部分５ｃ
として認識するようになっている。第二の判定部２８
は、上記第二の差分画２５の画像における画線部５ｃ4
の明るさがこの場合閾値を超えているものとして「欠陥
部分あり」との信号を出力する。この出力信号はモニタ
１４等に出力され、モニタ１４等は警報を発する。
【００２２】次に、上記構成のホログラムシートの検査
装置の作用について説明する。
装置の作用について説明する。
【００２３】検査に先立ち、図１（Ａ）に示したような
カード１をカメラ１１で撮影して、正常画２1、第一の
基準画２２、第二の基準画２３の各二値画像を予め作成
し、各記憶部１６，１７，１８，２６内に記憶させてお
く。
カード１をカメラ１１で撮影して、正常画２1、第一の
基準画２２、第二の基準画２３の各二値画像を予め作成
し、各記憶部１６，１７，１８，２６内に記憶させてお
く。
【００２４】検査に際しては、検査すべき図１（Ｂ）に
示したようなカード３をカメラ１１へと搬送し、このカ
ード３のホログラムシートをカメラで撮影する。
示したようなカード３をカメラ１１へと搬送し、このカ
ード３のホログラムシートをカメラで撮影する。
【００２５】この検査装置内のコンピュータは図３に示
す手順で画像処理を行う。
す手順で画像処理を行う。
【００２６】まず、カメラ１１から入力したホログラム
シート４の検査画４1より座標を抽出する（ステップＳ
１）。検査するべきカード３が図１（Ｂ）に示すように
欠陥部分５ａ，５ｂ，５ｃを含むものであれば、検査画
４1は図４のように抽出される。
シート４の検査画４1より座標を抽出する（ステップＳ
１）。検査するべきカード３が図１（Ｂ）に示すように
欠陥部分５ａ，５ｂ，５ｃを含むものであれば、検査画
４1は図４のように抽出される。
【００２７】次に、ホログラムシート４内の特徴的な部
分を用いて、検査画４1と第一の基準画２２とのパター
ンマッチングを行うと共に、検査画４1と第二の基準画
２３とのパターンマッチングを行う（ステップＳ２）。
分を用いて、検査画４1と第一の基準画２２とのパター
ンマッチングを行うと共に、検査画４1と第二の基準画
２３とのパターンマッチングを行う（ステップＳ２）。
【００２８】パターンマッチングが完了した後、第一の
基準画２２から検査画４1を引き算すると共に、検査画
４1から第二の基準画２３を引き算し、第一と第二の差
分画２４，２５を得る（ステップＳ３）。これにより、
正常画２1よりも暗く現れた画線部５ａ1，５ｂ1は第一
の差分画２４内に画線部５ａ4，５ｂ4として抽出され、
正常画２1よりも明るく現れた画線部５ｃ1は第二の差分
画２５内に画線部５ｃ 4として抽出される。
基準画２２から検査画４1を引き算すると共に、検査画
４1から第二の基準画２３を引き算し、第一と第二の差
分画２４，２５を得る（ステップＳ３）。これにより、
正常画２1よりも暗く現れた画線部５ａ1，５ｂ1は第一
の差分画２４内に画線部５ａ4，５ｂ4として抽出され、
正常画２1よりも明るく現れた画線部５ｃ1は第二の差分
画２５内に画線部５ｃ 4として抽出される。
【００２９】第一と第二の差分画２４，２５内におい
て、予め決定された閾値より明るさが大きい画素の部分
５ａ4，５ｂ4，５ｃ4を欠陥部分５ａ，５ｂ，５ｃとし
て認識し、抽出する（ステップＳ４）。これにより、図
１（Ｂ）に示すカード３は不良品として排除される。第
一と第二の差分画２４，２５内において、予め決定され
た閾値より明るさが大きい画素部分が抽出されなかった
場合は、欠陥部分なしとして認識され、そのカードは良
品として扱われる。
て、予め決定された閾値より明るさが大きい画素の部分
５ａ4，５ｂ4，５ｃ4を欠陥部分５ａ，５ｂ，５ｃとし
て認識し、抽出する（ステップＳ４）。これにより、図
１（Ｂ）に示すカード３は不良品として排除される。第
一と第二の差分画２４，２５内において、予め決定され
た閾値より明るさが大きい画素部分が抽出されなかった
場合は、欠陥部分なしとして認識され、そのカードは良
品として扱われる。
【００３０】
【発明の効果】本発明によれば、基材上の正常なホログ
ラムシートを撮影して得た正常画を多数のブロックに仕
切って各ブロック内の画素の明るさのうち最小値をとる
よう処理した第一の基準画と、各ブロック内の画素の明
るさのうち最大値をとるよう処理した第二の基準画とを
用意し、第一の基準画から検査されるホログラムシート
を撮影して得た検査画をパターンマッチング後に引き算
すると共に、検査画から第二の基準画をパターンマッチ
ング後に引き算し、それぞれの引き算後の差分画内にお
いて予め決定された閾値より明るさが大きい画素の部分
を欠陥部分として認識するように画像を処理することか
ら、ホログラムシートの検査にあたりホログラムシート
の絵柄部のエッジ上又はその近傍に生じた欠陥部分であ
っても確実に検知することができる。
ラムシートを撮影して得た正常画を多数のブロックに仕
切って各ブロック内の画素の明るさのうち最小値をとる
よう処理した第一の基準画と、各ブロック内の画素の明
るさのうち最大値をとるよう処理した第二の基準画とを
用意し、第一の基準画から検査されるホログラムシート
を撮影して得た検査画をパターンマッチング後に引き算
すると共に、検査画から第二の基準画をパターンマッチ
ング後に引き算し、それぞれの引き算後の差分画内にお
いて予め決定された閾値より明るさが大きい画素の部分
を欠陥部分として認識するように画像を処理することか
ら、ホログラムシートの検査にあたりホログラムシート
の絵柄部のエッジ上又はその近傍に生じた欠陥部分であ
っても確実に検知することができる。
【図１】検査すべきホログラムシートが貼着されたカー
ドを示す平面図であり、（Ａ）は正常なホログラムシー
トを有するカードを示し、（Ｂ）は欠陥部分を含むホロ
グラムシートを有するカードを示す。
ドを示す平面図であり、（Ａ）は正常なホログラムシー
トを有するカードを示し、（Ｂ）は欠陥部分を含むホロ
グラムシートを有するカードを示す。
【図２】本発明に係るホログラムシートの検査装置を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図３】図２に示す検査装置による検査手順を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図４】図２に示す検査装置による画像処理の内容を示
す模式図である。
す模式図である。
【図５】従来の検査装置による画像処理の内容を示す模
式図である。
式図である。
１、３…カード ２，４…ホログラムシート ２1…正常画 ４1…検査画 ５ａ，５ｂ，５ｃ…欠陥部分 ５ａ4，５ｂ4，５ｃ4…欠陥部分に対応した画線部 １１…カメラ ２２…第一の基準画 ２３…第二の基準画 ２４…第一の差分画 ２５…第二の差分画
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G051 AA41 AA90 AB01 AB02 AB04 BA20 CA03 CA04 DA01 DA06 EA08 EA11 EA14 EB01 EB02 ED07 ED15 FA10 5B057 AA11 BA02 CA08 CA12 CA16 CB08 CB12 CB16 CC01 CH08 DA03 DB02 DB09 DC33 5C054 AA01 EA01 EA05 FC01 FC03 FC05 FC12 FE28 HA05 5L096 AA06 BA03 CA14 DA03 EA17 FA14 GA08 GA51 HA08
Claims (2)
- 【請求項１】 基材上の正常なホログラムシートを撮影
して得た正常画を多数のブロックに仕切って各ブロック
内の画素の明るさのうち最小値をとるよう処理した第一
の基準画と、上記各ブロック内の画素の明るさのうち最
大値をとるよう処理した第二の基準画とを用意し、第一
の基準画から検査されるホログラムシートを撮影して得
た検査画をパターンマッチング後に引き算すると共に、
上記検査画から上記第二の基準画をパターンマッチング
後に引き算し、それぞれの引き算後の差分画内において
予め決定された閾値より明るさが大きい画素の部分を欠
陥部分として認識することを特徴とするホログラムシー
トの検査方法。 - 【請求項２】 基材上のホログラムシートを撮影するカ
メラと、正常なホログラムシートを撮影して得た正常画
を多数のブロックに仕切って各ブロック内の画素の明る
さのうち最小値をとるよう処理した第一の基準画から上
記カメラで撮影したホログラムシートの検査画をパター
ンマッチング後に引き算して第一の差分画を得、この第
一の差分画内において予め決定された閾値より明るさが
低い画素の部分を欠陥部分として認識する第一の欠陥認
識手段と、上記各ブロック内の画素の明るさのうち最大
値をとるよう処理した第二の基準画を上記検査画からパ
ターンマッチング後に引き算して第二の差分画を得、こ
の第二の差分画内において予め決定された閾値より明る
さが大きい画素の部分を欠陥部分として認識する第二の
欠陥認識手段とを具備したことを特徴とするホログラム
シートの検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000379671A JP2002181718A (ja) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | ホログラムシートの検査方法及び検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000379671A JP2002181718A (ja) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | ホログラムシートの検査方法及び検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002181718A true JP2002181718A (ja) | 2002-06-26 |
Family
ID=18847988
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000379671A Pending JP2002181718A (ja) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | ホログラムシートの検査方法及び検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002181718A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006028077A1 (ja) | 2004-09-07 | 2006-03-16 | National Printing Bureau, Incorporated Administrative Agency | Ｏｖｄ検査方法及び検査装置 |
| CN104677914A (zh) * | 2015-03-10 | 2015-06-03 | 华中科技大学 | 一种芯片连晶缺陷识别方法 |
| WO2018012192A1 (ja) * | 2016-07-12 | 2018-01-18 | 吉野石膏株式会社 | 検査方法、検査・通知方法、該検査方法を含む製造方法、検査装置及び製造装置 |
-
2000
- 2000-12-14 JP JP2000379671A patent/JP2002181718A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006028077A1 (ja) | 2004-09-07 | 2006-03-16 | National Printing Bureau, Incorporated Administrative Agency | Ｏｖｄ検査方法及び検査装置 |
| US8041107B2 (en) | 2004-09-07 | 2011-10-18 | National Printing Bureau, Incorporated Administrative Agency | OVD (optical variable device) inspection method and inspection apparatus |
| CN104677914A (zh) * | 2015-03-10 | 2015-06-03 | 华中科技大学 | 一种芯片连晶缺陷识别方法 |
| WO2018012192A1 (ja) * | 2016-07-12 | 2018-01-18 | 吉野石膏株式会社 | 検査方法、検査・通知方法、該検査方法を含む製造方法、検査装置及び製造装置 |
| CN109477803A (zh) * | 2016-07-12 | 2019-03-15 | 吉野石膏株式会社 | 检查方法、检查·通知方法、包括该检查方法的制造方法、检查装置及制造装置 |
| KR20190028391A (ko) * | 2016-07-12 | 2019-03-18 | 요시노 셋고 가부시키가이샤 | 검사 방법, 검사·통지 방법, 당해 검사 방법을 포함하는 제조 방법, 검사 장치 및 제조 장치 |
| JPWO2018012192A1 (ja) * | 2016-07-12 | 2019-04-25 | 吉野石膏株式会社 | 検査方法、検査・通知方法、該検査方法を含む製造方法、検査装置及び製造装置 |
| EP3486638A4 (en) * | 2016-07-12 | 2019-09-11 | Yoshino Gypsum Co., Ltd. | INSPECTION PROCESS, INSPECTION / REPORTING METHOD, MANUFACTURING METHOD WITH THE INSPECTION METHOD, INSPECTION DEVICE AND MANUFACTURING DEVICE |
| US10830707B2 (en) | 2016-07-12 | 2020-11-10 | Yoshino Gypsum Co., Ltd. | Inspection method, inspection and reporting method, manufacturing method including the inspection method, inspection apparatus, and manufacturing apparatus |
| KR102270741B1 (ko) | 2016-07-12 | 2021-06-28 | 요시노 셋고 가부시키가이샤 | 검사 방법, 검사·통지 방법, 당해 검사 방법을 포함하는 제조 방법, 검사 장치 및 제조 장치 |
| AU2017296488B2 (en) * | 2016-07-12 | 2021-10-28 | Yoshino Gypsum Co., Ltd. | Inspection method, inspection/notification method, manufacturing method including inspection method, inspection apparatus, and manufacturing apparatus |
| JP6997457B2 (ja) | 2016-07-12 | 2022-01-20 | 吉野石膏株式会社 | 検査方法、検査・通知方法、該検査方法を含む製造方法、検査装置及び製造装置 |
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