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JP2016225422A - 圧電素子及び圧電素子応用デバイス - Google Patents

圧電素子及び圧電素子応用デバイス Download PDF

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Abstract

【課題】ニオブ酸カリウムナトリウム系圧電材料を用いた圧電素子及び圧電素子応用デバイスにおいて、圧電体層の結晶配向性等の特性を向上させた圧電素子及び圧電素子応用デバイスを提供する。
【解決手段】基板上に形成された第1電極60と、第1電極上に形成され、カリウム(K)、ナトリウム(Na)、ニオブ(Nb)及びマンガン(Mn)を含むABO型ペロブスカイト構造の複合酸化物からなる圧電体層70と、圧電体層上に形成された第2電極80と、を具備する圧電素子300である。マンガンは、2価のマンガン(Mn2+)と、3価のマンガン(Mn3+)と、4価のマンガン(Mn4+)と、を含み、3価のマンガンと4価のマンガンとの和に対する2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)が0.31以上である。
【選択図】図3

Description

本発明は、圧電素子及び圧電素子応用デバイスに関する。
圧電素子は、一般に、電気機械変換特性を有する圧電体層と、圧電体層を挟持する2つの電極と、を有している。このような圧電素子を駆動源として用いたデバイス(圧電素子応用デバイス)の開発が、近年、盛んに行われている。圧電素子応用デバイスとしては、インクジェット式記録ヘッドに代表される液体噴射ヘッド、圧電MEMS素子に代表されるMEMS要素、超音波センサー等に代表される超音波測定装置、更には、圧電アクチュエーター装置等がある。
例えば、液体噴射ヘッドに用いられる圧電素子の圧電体層の材料(圧電材料)として、ニオブ酸カリウムナトリウム(KNN;(K,Na)NbO)が提案されている(例えば、特許文献1及び2参照)。特許文献1では、基板上に、Tiからなる下部密着層と、下部電極と、KNN圧電体層と、上部電極等を積層して圧電素子を構成している。特許文献2では、基板上に、弾性膜と、Ti等からなる密着層と、第1電極と、KNN圧電体層と、第2電極と、等を積層して圧電素子を構成している。
ここで、ニオブ酸カリウムナトリウムの大きな問題として、リーク特性が悪いことが挙げられる。そこで、ニオブ酸カリウムナトリウにMnなどの添加物を添加することでリーク特性を改善することが提案されている(非特許文献1参照)。
特開2014−60267号公報(請求項1,[0029]等) 特開2014−65317号公報(請求項1,[0019]等)
Matuda et al. Japanese Journal of Applied Physics 51 (2012) 09LA03
しかしながら、ニオブ酸カリウムナトリウムの状態や添加物の状態により、リーク特性だけでなく、結晶性、結晶配向性、圧電特性が大きく変化するので、最適状態は全く不明である。このような問題は、液体噴射ヘッドに用いられる圧電素子に限られず、他の圧電素子応用デバイスに用いられる圧電素子にも同様に存在する。
本発明は、このような事情に鑑み、ニオブ酸カリウムナトリウム系圧電材料を用いた圧電素子及び圧電素子応用デバイスにおいて、圧電体層の結晶配向性の向上を図ること、各種特性の向上を図ること、のうち、少なくとも1つを目的とする。
上記課題を解決する本発明の態様は、基板上に形成された第1電極と、前記第1電極上に形成され、カリウム(K)、ナトリウム(Na)、ニオブ(Nb)及びマンガン(Mn)を含むABO型ペロブスカイト構造の複合酸化物からなる圧電体層と、前記圧電体層上に形成された第2電極と、を具備する圧電素子であって、前記マンガンは、2価のマンガン(Mn2+)と、3価のマンガン(Mn3+)と、4価のマンガン(Mn4+)と、を含み、前記3価のマンガンと前記4価のマンガンとの和に対する前記2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)が0.31以上であることを特徴とする圧電素子にある。
かかる態様によれば、2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)が0.31以上となるように含有されているので、圧電体層の結晶配向性が向上する。また、圧電体層の結晶配向性を向上させることによって、エンジニアード・ドメイン構造が得られやすくなり、圧電特性を向上させることが可能となる。
ここで、前記3価のマンガンと前記4価のマンガンとの和に対する前記2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)が3.90以下であることが好ましい。
2価のマンガンのモル比が3.90以下であることにより、リーク特性の良好な圧電素子を得ることが可能となる。
また、本発明の他の態様は、基板上に形成された第1電極と、前記第1電極上に形成され、カリウム(K)、ナトリウム(Na)、ニオブ(Nb)及びマンガン(Mn)を含むABO型ペロブスカイト構造の複合酸化物からなる圧電体層と、前記圧電体層上に形成された第2電極と、を具備する圧電素子であって、前記マンガンは、2価のマンガン(Mn2+)と、3価のマンガン(Mn3+)と、4価のマンガン(Mn4+)と、を含み、前記3価のマンガンと前記4価のマンガンとの和に対する前記2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)が3.90以下であることを特徴とする圧電素子にある。
かかる態様によれば、2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)が0.39以下となるように含有されているので、リーク特性の良好な圧電素子を得ることが可能となる。また、圧電体層の結晶配向性を向上させることによって、エンジニアード・ドメイン構造が得られやすくなり、圧電特性を向上させることが可能となる。
また、前記マンガンの含有量が、前記ABO型ペロブスカイト構造のBサイトを構成する金属元素の総量に対して0.3モル%より多いことが好ましい。
かかる態様によれば、2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)を所定の値より大きくすることができ、複合酸化物の結晶配向性がより向上する。
また、前記マンガンの含有量が、前記ABO型ペロブスカイト構造のBサイトを構成する金属元素の総量に対して2モル%以下であることが好ましい。
かかる態様によれば、2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)を所定の値より小さくすることができ、リーク特性が良好な圧電素子を得ることが可能となる。
前記ABO型ペロブスカイト構造の複合酸化物は、下記式(1)で表される組成であることが好ましい。
(K,Na1−X)(Nb1−y,Mn)O ・・・ (1)
(0.1≦x≦0.9)
上記式(1)で表される複合酸化物は、いわゆるKNN系の複合酸化物である。本態様によれば、このようなKNN系の複合酸化物からなる圧電材料を用いた場合に、圧電体層の結晶配向性の向上を図ることができる。あるいは、各種特性の向上を図ることが可能となる。
上記課題を解決する本発明の他の態様は、上記の何れか一つに記載の圧電素子を具備することを特徴とする圧電素子応用デバイスにある。かかる態様によれば、上記の圧電素子を具備するため、機能的に優れたデバイスを提供することが可能となる。
実施形態に係る記録装置の概略構成を示す図。 実施形態に係る記録ヘッドの概略構成を示す分解斜視図。 実施形態に係る記録ヘッドの概略構成の平面図及び断面図。 実施形態に係る記録ヘッドの概略構成の拡大断面図。 実施形態に係る記録ヘッドの製造例を説明する図。 実施形態に係る記録ヘッドの製造例を説明する図。 実施例及び比較例でのXRD測定結果を示す図。 比較例3のXRD2次元像。 実施例及び比較例でのP−Eヒステリシス測定結果を示す図。
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。ただし、以下の説明は、本発明の一態様を示すものであって、本発明の範囲内で任意に変更可能である。各図において同じ符号を付したものは、同一の部材を示しており、適宜説明が省略されている。また、図2〜6において、X,Y,Zは、互いに直交する3つの空間軸を表している。本明細書では、これらの軸に沿った方向をそれぞれX方向,Y方向,及びZ方向として説明する。Z方向は、板、層、及び膜の厚み方向あるいは積層方向を表す。X方向及びY方向は、板、層、及び膜の面内方向を表す。
(実施形態1)
図1は、本発明の実施形態に係る液体噴射装置の一例である、インクジェット式記録装置(記録装置)の概略構成を示している。
インクジェット式記録装置Iにおいて、インクジェット式記録ヘッドユニット(ヘッドユニットII)が、カートリッジ2A及び2Bに着脱可能に設けられている。カートリッジ2A及び2Bは、インク供給手段を構成している。ヘッドユニットIIは、複数のインクジェット式記録ヘッド(記録ヘッド)を有しており、キャリッジ3に搭載されている。キャリッジ3は、装置本体4に取り付けられたキャリッジ軸5に、軸方向移動自在に設けられている。これらのヘッドユニットIIやキャリッジ3は、例えば、それぞれブラックインク組成物及びカラーインク組成物を吐出可能に構成されている。
駆動モーター6の駆動力は、図示しない複数の歯車及びタイミングベルト7を介し、キャリッジ3に伝達される。これにより、キャリッジ3が、キャリッジ軸5に沿って移動される。一方、装置本体4には、搬送手段としての搬送ローラー8が設けられている。搬送ローラー8により、紙等の記録媒体である記録シートSが搬送される。尚、搬送手段は、搬送ローラーに限られず、ベルトやドラム等であってもよい。
上記のインクジェット式記録ヘッドには、アクチュエーターとして、圧電素子が用いられている。後に詳しく述べる圧電素子を用いることによって、インクジェット式記録装置Iの各種特性(耐久性やインク噴射特性等)の低下を回避できる。
次に、液体噴射ヘッドの一例である、インクジェット式記録ヘッドについて説明する。図2は、インクジェット式記録ヘッドの概略構成を示す分解斜視図である。図3(a)は、インクジェット式記録ヘッドの概略構成を示す平面図(圧電素子側から流路形成基板を見た平面図)であり、図3(b)は、図3(a)のA−A′線に準ずる断面図である。
流路形成基板10(以下、「基板10」と称する)には、複数の隔壁11が形成されている。隔壁11によって、複数の圧力発生室12が区画されている。すなわち、基板10には、X方向(同じ色のインクを吐出するノズル開口21が並設される方向)に沿って圧力発生室12が並設されている。このような基板10としては、例えば、シリコン単結晶基板を用いることができる。
基板10のうち、圧力発生室12のY方向の一端部側には、インク供給路13と連通路14とが形成されている。インク供給路13は、圧力発生室12の片側をX方向から絞ることで、その開口面積が小さくなるように構成されている。また、連通路14は、X方向において圧力発生室12と略同じ幅を有している。連通路14の外側(+Y方向側)には、連通部15が形成されている。連通部15は、マニホールド100の一部を構成する。マニホールド100は、各圧力発生室12の共通のインク室となる。このように、基板10には、圧力発生室12、インク供給路13、連通路14及び連通部15からなる液体流路が形成されている。
基板10の一方の面側(−Z方向側の面)上には、例えばSUS製のノズルプレート20が接合されている。ノズルプレート20には、X方向に沿ってノズル開口21が並設されている。ノズル開口21は、各圧力発生室12に連通している。ノズルプレート20は、接着剤や熱溶着フィルム等によって基板10に接合することができる。
基板10の他方の面(+Z方向側の面)上には、振動板50が形成されている。振動板50は、例えば、基板10上に形成された弾性膜51と、弾性膜51上に形成された酸化ジルコニウム層52と、により構成されている。弾性膜51は、例えば二酸化シリコン(SiO)からなり、酸化ジルコニウム層52は、酸化ジルコニウム(ZrO)からなる。弾性膜51は、基板10とは別部材でなくてもよい。基板10の一部を薄く加工し、これを弾性膜として使用してもよい。
酸化ジルコニウム層52上には、密着層56を介して、第1電極60と、圧電体層70と、第2電極80と、を含む圧電素子300が形成されている。密着層56は、例えば、酸化チタン(TiO)層、チタン(Ti)層、又は窒化シリコン(SiN)層等からなり、圧電体層70と振動板50との密着性を向上させる機能を有する。密着層56は省略可能である。
本実施形態では、電気機械変換特性を有する圧電体層70の変位によって、振動板50及び第1電極60が変位する。すなわち、本実施形態では、振動板50及び第1電極60が、実質的に振動板としての機能を有している。弾性膜51及び酸化ジルコニウム層52を省略して、第1電極60のみが振動板として機能するようにしてもよい。基板10上に第1電極60を直接設ける場合には、第1電極60にインクが接触しないように、第1電極60を絶縁性の保護膜等で保護することが好ましい。
第1電極60は、圧力発生室12毎に切り分けられている、つまり、第1電極60は、圧力発生室12毎に独立する個別電極として構成されている。第1電極60は、X方向において、圧力発生室12の幅よりも狭い幅で形成されている。また、第1電極60は、Y方向において、圧力発生室12よりも広い幅で形成されている。すなわち、Y方向において、第1電極60の両端部は、圧力発生室12に対向する領域より外側まで形成されている。第2の方向Yにおいて、第1電極60の一端部側(連通路14とは反対側)には、リード電極90が接続されている。
圧電体層70は、第1電極60と第2電極80との間に設けられている。圧電体層70は、X方向において、第1電極の幅よりも広い幅で形成されている。また、圧電体層70は、Y方向において、圧力発生室12のY方向の長さよりも広い幅で形成されている。Y方向において、圧電体層70のインク供給路13側の端部(+Y方向側の端部)は、第1電極60の端部よりも外側まで形成されている。つまり、第1電極60の他方の端部(+Y方向側の端部)は、圧電体層70によって覆われている。一方、圧電体層70の一方の端部(−Y方向側の端部)は、第1電極60の一方の端部(−Y方向側の端部)よりも内側にある。つまり、第1電極60の一方の端部(−Y方向側の端部)は、圧電体層70によって覆われていない。
第2電極80は、X方向に亘って、圧電体層70、第1電極60及び振動板50上に連続して設けられている。つまり、第2電極80は、複数の圧電体層70に共通する共通電極として構成されている。第2電極80ではなく、第1電極60を共通電極としても良い。
圧電素子300が形成された基板10上には、保護基板30が接着剤35により接合されている。保護基板30は、マニホールド部32を有している。マニホールド部32により、マニホールド100の少なくとも一部が構成されている。本実施形態に係るマニホールド部32は、保護基板30を厚さ方向(Z方向)に貫通しており、更に圧力発生室12の幅方向(X方向)に亘って形成されている。そして、マニホールド部32は、上記のように、基板10の連通部15と連通している。これらの構成により、各圧力発生室12の共通のインク室となるマニホールド100が構成されている。
保護基板30には、圧電素子300を含む領域に、圧電素子保持部31が形成されている。圧電素子保持部31は、圧電素子300の運動を阻害しない程度の空間を有している。この空間は、密封されていても密封されていなくてもよい。保護基板30には、保護基板30を厚さ方向(Z方向)に貫通する貫通孔33が設けられている。貫通孔33内には、リード電極90の端部が露出している。
保護基板30上には、信号処理部として機能する駆動回路120が固定されている。駆動回路120は、例えば回路基板や半導体集積回路(IC)を用いることができる。駆動回路120及びリード電極90は、接続配線121を介して電気的に接続されている。駆動回路120は、プリンターコントローラー200に電気的に接続可能である。
保護基板30上には、封止膜41及び固定板42からなるコンプライアンス基板40が接合されている。固定板42のマニホールド100に対向する領域は、厚さ方向(Z方向)に完全に除去された開口部43となっている。マニホールド100の一方の面(−Z方向側の面)は、可撓性を有する封止膜41で封止されている。
次に、圧電素子300の詳細について、図4を用いて説明する。図4は、図3(b)をB−B′線に沿って切断したときの圧電素子近傍の断面図である。
圧電素子300は、酸化ジルコニウム層52と、密着層56と、第1電極60と、シード層65と、圧電体層70と、第2電極80とを含む。酸化ジルコニウム層52の厚さは、約20nmである。密着層56の厚さは、約10nmである。第1電極の厚さは約0.1μmである。シード層65の厚さは80nm以下、好ましくは10nm以上50以下である。圧電体層70は、厚さが3.0μm以下、好ましくは0.3μm以上2.0μm以下、より好ましくは0.5μm以上1.5μm以下の、いわゆる薄膜の圧電体である。第2電極80の厚さは約0.1μmである。ここに挙げた各要素の厚さはいずれも一例であり、本発明の要旨を変更しない範囲内で変更可能である。なお、密着層56は省略しても構わない。
第1電極60及び第2電極80の材料は、白金(Pt)やイリジウム(Ir)等の貴金属が好適である。第1電極60の材料や第2電極80の材料は、導電性を有する材料であればよい。第1電極60の材料と第2電極80の材料は、同一であってもよく、異なっていてもよい。
本実施形態では、圧電体層70の作製過程において、圧電材料に含まれるKやNaが、上記の第1電極60中に拡散することがある。しかし、後述のように、第1電極60と基板10との間に設けられる酸化ジルコニウム層52が、KやNaのストッパー機能を果たす。このため、アルカリ金属が基板10に到達することを抑制できる。
圧電体層70は、一般式ABOで示されるペロブスカイト構造の複合酸化物からなる圧電材料を用いて構成されている。本実施形態では、圧電材料として、K、Na及びNbを含むABO型ペロブスカイト構造の複合酸化物を用いた。かかる複合酸化物としては、例えば、下記式(2)で表されるKNN系の複合酸化物が挙げられる。
(K,Na1−X)(Nb1−y,Mn)O ・・・ (2)
ここで、0.1≦x≦0.9、好ましくは0.3≦x≦0.7、より好ましくは0.4≦x≦0.6、0.003<y≦0.02、好ましくは、0.005≦y≦0.01である。
一般式ABOで示されるペロブスカイト構造の複合酸化物では、Aサイトには酸素が12配位しており、Bサイトには酸素が6配位して8面体(オクタヘドロン)をつくっている。KNN系の複合酸化物では、AサイトにK及びNaが位置し、BサイトにNb及びMnが位置している。
上記式(2)で表される複合酸化物は、いわゆるKNN系の複合酸化物である。KNN系の複合酸化物は、鉛(Pb)を含有しない非鉛系圧電材料であるため、生体適合性に優れ、また環境負荷も少ない。しかも、KNN系の複合酸化物は、非鉛系圧電材料の中でも圧電特性に優れているため、各種の特性向上に有利である。その上、KNN系の複合酸化物は、他の非鉛系圧電材料(例えば、BNT−BKT−BT;[(Bi,Na)TiO]−[(Bi,K)TiO]−[BaTiO])に比べてキュリー温度が比較的高く、また温度上昇による脱分極も生じ難いため、高温での使用が可能である。
マンガンは、2価のマンガン(Mn2+)と、3価のマンガン(Mn3+)と、4価のマンガン(Mn4+)と、を含む形態で含有される。3価のマンガンと4価のマンガンとの和に対する2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)は、好ましくは、0.31以上である。2価マンガンのモル比が0.31以上であれば、圧電体層の結晶配向性が向上する。また、3価のマンガンと4価のマンガンとの和に対する2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)は、好ましくは、3.90以下である。2価マンガンのモル比が3.90以上であれば、リーク特性が良好な圧電素子を得ることが可能となる。一方、2価のマンガンが上記の範囲から外れると、結晶配向性が低下したり、リーク特性が良好な圧電素子を得られなくなったりする。
2価のマンガンの比率は、たとえば、Mnの含有量により変化すると考えられる。
上記式(2)において、Mnの含有量は、Bサイトを構成する金属元素の総量に対してBサイトを構成する金属元素の総量に対して0.3モル%より多く、好ましくは1モル%以下である。Mnの含有量を0.3モル%より多く、好ましくは0.5モル%以上とすることによって、2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)を所定の値より大きくすることができ、圧電体層の結晶配向性が向上する。また、Mnの含有量は、Bサイトを構成する金属元素の総量に対してBサイトを構成する金属元素の総量に対して2モル%以下、好ましくは1モル%以下である。Mnの含有量を2モル%以下、好ましくは1モル%以下とすることによって、2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)を所定の値より小さくすることができ、リーク特性が良好な圧電素子を得ることが可能となる。
また、2価のマンガンの比率は、その他の要因、たとえば、製造時の焼成条件などによっても変化すると考えられる。
本実施形態で利用可能な圧電材料は、上記式(2)で表される組成に限定されない。たとえば、AサイトやBサイトに他の元素(添加物)が含まれていてもよい。添加物の例としては、リチウム(Li)、バリウム(Ba)、カルシウム(Ca)、ストロンチウム(Sr)、ジルコニウム(Zr)、チタン(Ti)、ビスマス(Bi)、タンタル(Ta)、アンチモン(Sb)、鉄(Fe)、コバルト(Co)、銀(Ag)、マグネシウム(Mg)、亜鉛(Zn)及び銅(Cu)等が挙げられる。
この種の添加物は、1つ以上含んでいてもよい。一般的に、添加物の量は、主成分となる元素の総量に対して20%以下、15%以下、又は10%以下である。添加物を利用することにより、各種特性を向上させて構成や機能の多様化を図りやすくなる。これら他の元素を含む複合酸化物である場合も、ABO型ペロブスカイト構造を有するように構成されることが好ましい。
圧電材料には、元素の一部欠損した組成を有する材料、元素の一部が過剰である組成を有する材料、及び元素の一部が他の元素に置換された組成を有する材料も含まれる。圧電体層70の基本的な特性が変わらない限り、欠損・過剰により化学量論の組成からずれた材料や、元素の一部が他の元素に置換された材料も、本実施形態に係る圧電材料に含まれる。
また、本明細書において「K、Na及びNbを含むABO型ペロブスカイト構造の複合酸化物」は、K、Na及びNbを含むABO型ペロブスカイト構造の複合酸化物のみに限定されない。すなわち、本明細書において「K、Na及びNbを含むABO型ペロブスカイト構造の複合酸化物」は、K、Na及びNbを含むABO型ペロブスカイト構造の複合酸化物(例えば、上記に例示したKNN系の複合酸化物)と、ABO型ペロブスカイト構造を有する他の複合酸化物と、を含む混晶として表される圧電材料を含む。
他の複合酸化物は、本発明の範囲で限定されないが、鉛(Pb)を含有しない非鉛系圧電材料であることが好ましい。また、他の複合酸化物は、鉛(Pb)及びビスマス(Bi)を含有しない非鉛系圧電材料であることがより好ましい。これらによれば、生体適合性に優れ、また環境負荷も少ない圧電素子300となる。
以上のような複合酸化物からなる圧電体層70は、本実施形態では、(100)面に優先配向している。例えば、KNN系の複合酸化物からなる圧電体層70は、必要に応じて設けられる所定の配向制御層によっては、圧電体層70は、(110)面や(111)面に優先配向する場合もあるが、本実施形態では、(100)面に優先配向したものである。(100)面に優先配向した圧電体層70は、ランダム配向又は他の結晶面に優先配向した圧電体層に比べて、各種の特性の向上を図りやすい。尚、本明細書において、優先配向とは、50%以上、好ましくは80%以上の結晶が、所定の結晶面に配向していることを示すものとする。例えば「(100)面に優先配向している」とは、圧電体層70の全ての結晶が(100)面に配向している場合と、半分以上の結晶(50%以上、好ましくは80%以上)が(100)面に配向している場合を含む。
次に、圧電素子300の製造方法の一例について、インクジェット式記録ヘッド1の製造方法とあわせて説明する。
まず、シリコン基板110を準備する。次に、シリコン基板110を熱酸化することによって、その表面に、二酸化シリコン等からなる弾性膜51を形成する。さらに、弾性膜51上にスパッタリング法でジルコニウム膜を形成し、これを熱酸化することによって酸化ジルコニウム層52を形成する。これにより、このようにして、弾性膜51と酸化ジルコニウム層52とからなる振動板50を形成する。次いで、酸化ジルコニウム層52上に、酸化チタンからなる密着層56を、スパッタリング法やチタン膜の熱酸化等により形成する。そして、図5(a)に示すように、密着層56上に、第1電極60をスパッタリング法や蒸着法等により形成する。
次いで、図5(b)に示すように、第1電極60上に所定形状のレジスト(図示なし)をマスクとして形成し、密着層56及び第1電極60を同時にパターニングする。次に、図5(c)に示すように、第1電極60上にシード層65を設けた後、密着層56、第1電極60及び振動板50に重なるように圧電体膜74を複数層形成する。圧電体層70は、これら複数層の圧電体膜74によって構成される。圧電体層70は、例えばMOD法やゾル−ゲル法等の化学溶液法により形成することができる。その他、レーザーアブレーション法、スパッタリング法、パルス・レーザー・デポジション法(PLD法)、CVD法、エアロゾル・デポジション法等によっても形成することができる。
化学溶液法によって形成された圧電体層70は、前駆体溶液を塗布する工程(塗布工程)から前駆体膜を焼成する工程(焼成工程)までの一連の工程を複数回繰り返すことによって形成される。圧電体層70を化学溶液法で形成する場合の具体的な手順は、たとえば次のとおりである。まず、所定の金属錯体を含む前駆体溶液を調製する。前駆体溶液は、焼成によりK、Na、Nb及びMnを含む金属錯体を、有機溶媒に溶解又は分散させたものである。
Kを含む金属錯体としては、例えば2−エチルヘキサン酸カリウム、炭酸カリウム、酢酸カリウム等が挙げられる。Naを含む金属錯体としては、例えば2−エチルヘキサン酸ナトリウム、炭酸ナトリウム、酢酸ナトリウム等が挙げられる。Nbを含む金属錯体としては、例えば2−エチルヘキサン酸ニオブ、ペンタエトキシニオブ等が挙げられる。Mnを含む金属錯体としては、例えば2−エチルヘキサン酸マンガンが挙げられる。このとき、2種以上の金属錯体を併用してもよい。たとえば、Kを含む金属錯体として、2−エチルヘキサン酸カリウムと酢酸カリウムとを併用してもよい。溶媒としては、2−nブトキシエタノールまたはn−オクタンまたはこれらの混合溶媒等が挙げられる。前駆体溶液は、K、Na、Nbを含む金属錯体の分散を安定化する添加剤を含んでもよい。このような添加剤としては、2−エチルヘキサン酸等が挙げられる。
そして、振動板50、密着層56、及び第1電極60及び振動板50が形成された基板上に、上記の前駆体溶液を塗布して、前駆体膜を形成する(塗布工程)。次いで、この前駆体膜を所定温度、例えば130℃〜250℃程度に加熱して一定時間乾燥させる(乾燥工程)。次に、乾燥させた圧電体前駆体膜を所定温度、例えば300℃〜450℃に加熱し、この温度で一定時間保持することによって脱脂する(脱脂工程)。最後に、脱脂した前駆体膜をより高い温度、例えば500〜800℃程度に加熱し、この温度で一定時間保持することによって結晶化させると、圧電体膜74が完成する(焼成工程)。
乾燥工程、脱脂工程及び焼成工程で用いられる加熱装置としては、例えば、赤外線ランプの照射により加熱するRTA(Rapid Thermal Annealing)装置やホットプレート等が挙げられる。上記の工程を複数回繰り返して、複数層の圧電体膜74からなる圧電体層70を形成する。なお、塗布工程から焼成工程までの一連の工程において、塗布工程から脱脂工程までを複数回繰り返した後に、焼成工程を実施しても良い。
本実施形態では、圧電材料にアルカリ金属(KやNa)が含まれる。アルカリ金属は、上記の焼成工程で第1電極60中や密着層56中に拡散しやすい。仮に、アルカリ金属の多くが第1電極60及び密着層56を通り越してシリコン基板110に達すると、基板10と反応を起こしてしまう。しかし、本実施形態では、上記の酸化ジルコニウム層52が、KやNaのストッパー機能を果たしている。従って、アルカリ金属が基板10に到達することを抑制できる。
その後、複数の圧電体膜74からなる圧電体層70をパターニングして、図5(d)に示すような形状にする。パターニングは、反応性イオンエッチングやイオンミリング等のドライエッチングや、エッチング液を用いたウェットエッチングによって行うことができる。その後、圧電体層70上に第2電極80を形成する。第2電極80は、第1電極60と同様の方法により形成することができる。以上の工程によって、第1電極60と圧電体層70と第2電極80とを備えた圧電素子300が完成する。言い換えると、第1電極60と圧電体層70と第2電極80とが重なり合う部分が圧電素子300となる。
次に、図6(a)に示すように、シリコン基板110の圧電素子300側の面に、接着剤35(図3(b)参照)を介して保護基板用ウェハー130を接合する。その後、保護基板用ウェハー130の表面を削って薄くする。また、保護基板用ウェハー130に、マニホールド部32や貫通孔33(図3(b)参照)を形成する。次いで、図6(b)に示すように、シリコン基板110の圧電素子300とは反対側の面に、マスク膜53を形成し、これを所定形状にパターニングする。そして、図6(c)に示すように、マスク膜53を介して、シリコン基板110に対してKOH等のアルカリ溶液を用いた異方性エッチング(ウェットエッチング)を実施する。これにより、個々の圧電素子300に対応する圧力発生室12の他、インク供給路13、連通路14、及び連通部15(図3(b)参照)を形成する。
次に、シリコン基板110及び保護基板用ウェハー130の外周縁部の不要部分をダイシング等により切断・除去する。更に、シリコン基板110の圧電素子300とは反対側の面に、ノズルプレート20を接合する(図3(b)参照)。また、保護基板用ウェハー130にコンプライアンス基板40を接合する(図3(b)参照)。ここまでの工程によって、インクジェット式記録ヘッド1のチップの集合体が完成する。この集合体を個々のチップに分割することによって、インクジェット式記録ヘッド1が得られる。
以下、本発明の実施例を説明する。
(実施例1)
6inchシリコン基板の表面を熱酸化することで、基板上に二酸化シリコン膜からなる弾性膜51を形成した。次に、弾性膜51上にジルコニウム膜をスパッターし、このジルコニウム膜を熱酸化することで酸化ジルコニウム層52を形成した。さらに、酸化ジルコニウム層52上にチタン膜をスパッターし、このチタン膜を熱酸化することで密着層56を形成した。さらに、密着層上に白金をスパッターし、所定形状にパターニングすることで第1電極60を形成した。
次いで、以下の手順で圧電体層70を形成した。まず、2−エチルヘキサン酸カリウム、2−エチルヘキサン酸ナトリウム、2−エチルヘキサン酸ニオブ、及び2−エチルヘキサン酸マンガンの各n−オクタン溶液を混合して、下記式(4)の組成となるように前駆体溶液を調製した。
(K0.4Na0.6)(Nb0.98Mn0.02)O ・・・(4)
次いで、調製した前駆体溶液を、スピンコート法により、第1電極60が形成された上記の基板上に塗布した(塗布工程)。次に、ホットプレート上に基板を載せ、180℃で2分間乾燥させた(乾燥工程)。次いで、ホットプレート上に基板に対して350℃で2分間の脱脂を行った(脱脂工程)。そして、RTA(Rapid Thermal Annealing)装置により、700℃で3分間焼成を行った(焼成工程)。上記の塗布工程〜焼成工程を7回繰り返すことで、7層の圧電体膜74からなる圧電体層70を形成した。
さらに、圧電体層70上に、白金をスパッタすることで、第2電極80を作製した。以上の手順により、実施例1の圧電素子を形成した。
(実施例2)
圧電体層70の組成を(K0.4Na0.6)(Nb0.995Mn0.005)Oとした以外は、実施例1と同様にして実施例2の圧電素子を作製した。
(実施例3)
圧電体層70の組成を(K0.424Na0.636)(Nb0.995Mn0.005)Oとした以外は、実施例1と同様にして実施例3の圧電素子を作製した。この組成において、Aサイトの元素の合計は1.06mol、Bサイトの元素の合計は1.00molである。すなわち、この組成は、Aサイトのアルカリ金属が、化学量論の組成に対して過剰に加えられた組成である。
(実施例4)
圧電体層70の組成を(K0.4Na0.6)(Nb0.995Mn0.005)Oとして、塗布から脱脂工程までは実施例1と同様に行い、焼成工程を500℃で3分間とした。この塗布〜焼成工程を5回繰り返した後、700℃で5分間の熱処理を行い、実施例4の圧電素子を作製した。
(実施例5)
圧電体層70の組成を(K0.4Na0.6)(Nb0.99Mn0.01)Oとした以外は、実施例4と同様にして実施例5の圧電素子を作製した。
(実施例6)
圧電体層70の組成を(K0.4Na0.6)(Nb0.987Mn0.013)Oとした以外は、実施例4と同様にして実施例6の圧電素子を作製した。
(実施例7)
圧電体層70の組成を(K0.4Na0.6)(Nb0.985Mn0.015)Oとした以外は、実施例4と同様にして実施例7の圧電素子を作製した。
(比較例1)
圧電体層70の組成を(K0.4Na0.6)NbOとした以外は、実施例1と同様にして比較例1の圧電素子を作製した。
(比較例2)
圧電体層70の組成を(K0.4Na0.6)(Nb0.98Mn0.02)Oとした以外は、実施例4と同様にして比較例2の圧電素子を作製した。
(比較例3)
圧電体層70の組成を(K0.4Na0.6)(Nb0.997Mn0.003)Oとした以外は、実施例1と同様にして比較例3の圧電素子を作製した。
<XPS測定>
実施例及び比較例について、X線光電子分光(XPS)を、Thermo Fisher Scientific社製「ESCALAB250」を用い、測定した。X線源にはスポット径500μmのAl−Kα線を用いて帯電補正のため電子銃照射した状態で評価した。
Surveyスペクトルをステップ間隔1eV、passエネルギー200eV、溜め込み時間100μsで測定した。X線ダメージによる化学状態の変化を低減させるため、各試料ともに5点以上測定し、平均化して測定データとした。XPSの装置のエネルギー軸校正は、Au、Ag、Cuを用いて行い、測定した各試料のエネルギー軸は、Cls、C−C、C−Hピークを284.8eVとして校正した。Mn2p3の波形分離はフォークト関数を用いて行い、ピークエネルギーの位置は、American Mineralogist、 Volume 83、pages 305−315を参照した。
以上の測定、波形分離により求めた2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)を以下に示す。
実施例1 0.8
実施例2 3.9
実施例3 2.1
実施例4 0.63
実施例5 0.49
実施例6 0.39
実施例7 0.31
比較例1 0
比較例2 0.27
比較例3 4.81
<XRD測定>
実施例及び比較例について、X線回折(XRD)を、Bruker AXS社製「D8 Discover」を用い、線源はCuKα、検出器は2次元検出器(GADDS)を使用して測定した。
実施例1〜4及び7、比較例1及び2のXRD測定結果を図7(a)〜(g)に示す。また、図7(g)に示した比較例2のXRD2次元像を図8に示す。図7(f)に示したように、マンガンを含まない比較例1では、2θ=22.5°付近にぺロブスカイト由来のピークが強く出現しており、圧電体層を構成するぺロブスカイト型複合酸化物が(100)配向していることがわかった。一方、マンガンを含む実施例1〜4及び7、ならびに比較例2の場合は、次の通りであった。まず、図7(a)〜(e)に示したように、2価のマンガンの比(Mn2+/Mn3++Mn4+)が0.31以上の実施例1〜4及び7では、2θ=22.5°付近にペロブスカイト由来のピークが強く出現しており、圧電体層を構成するぺロブスカイト型複合酸化物が(100)配向していることがわかった。これに対し、図7(g)に示したように、2価のマンガンの比(Mn2+/Mn3++Mn4+)が0.27の比較例2では、2θ=22.5°付近のピークは非常に弱く、図8に示したXRD2次元像からも、圧電体層を構成するぺロブスカイト型複合酸化物がランダム配向となることがわかった。これにより、マンガンを含み、そのマンガンの2価の比(Mn2+/Mn3++Mn4+)が0.31以上では(100)配向し易いことがわかった。なお、図7(a)〜(g)において、2θ=40°付近に出現している強いピークは、電極を構成する白金(Pt)に由来するものである。
<P−Eヒステリシス測定>
実施例及び比較例について、P−Eヒステリシスを、東陽テクニカ社製「FCE評価システム」にて、印加電圧10〜30eV、周波数1kHzで行った。
実施例1〜4及び7、比較例1〜3のP−Eヒステリシス測定結果を図9(a)〜(h)に示す。図9(a)〜(e)及び(g)に示したように、マンガンを含み、かつ2価のマンガンの比(Mn2+/Mn3++Mn4+)が3.9以下の実施例1〜4及び7、ならびに比較例2では、丸みのないP−Eヒステリシスを描いた。これに対し、図9(h)に示したように、マンガンを含むが、2価のマンガンの比(Mn2+/Mn3++Mn4+)が4.81の比較例3では、リークにより、丸みがかったP−Eヒステリシスとなった。一方、図9(f)に示したように、マンガンを添加していない比較例1では、リークが大きく、P−Eヒステリシスは描けなかった。
(他の実施形態)
以上、本発明の一実施形態を説明した。しかし、本発明の基本的構成は上記の態様に限定されない。
上記の実施形態では、流路形成基板としてSi単結晶基板を例示した。しかし、流路形成基板は、SOI基板やガラス等の材料であってもよい。何れの基板であっても、圧電体層由来のアルカリ金属との反応によって劣化が予想されるため、KやNaのストッパー機能を果たす酸化ジルコニウム層を設ける意義がある。
また、上記の実施形態では、圧電素子応用デバイスの一例として、インクジェット式記録ヘッドを挙げて説明したが、本発明は、インク以外の液体を噴射する液体噴射ヘッドにも勿論適用することができる。このような液体噴射ヘッドとしては、例えば、プリンター等の画像記録装置に用いられる各種の記録ヘッド、液晶ディスプレイ等のカラーフィルターの製造に用いられる色材噴射ヘッド、有機ELディスプレイ、FED(電界放出ディスプレイ)等の電極形成に用いられる電極材料噴射ヘッド、バイオchip製造に用いられる生体有機物噴射ヘッド等が挙げられる。
また、本発明は、液体噴射ヘッドに搭載される圧電素子に限られず、他の圧電素子応用デバイスに搭載される圧電素子にも適用することができる。圧電素子応用デバイスの一例としては、圧電MEMS素子に代表されるMEMS要素が挙げられる。
また、圧電素子応用デバイスの一例としては、超音波センサー等に代表される超音波測定装置等がある。
圧電素子応用デバイスの例は、前記の例に限定されない。例えば、圧電アクチュエーター装置、超音波モーター、圧力センサー、IRセンサー等の焦電素子、強誘電体メモリー等の強誘電体素子等も挙げられる。勿論、これらもあくまで一例である。
図面において示す構成要素、すなわち層等の厚さ、幅、相対的な位置関係等は、本発明を説明する上で、誇張して示されている場合がある。また、本明細書の「上」という用語は、構成要素の位置関係が「直上」であることを限定するものではない。例えば、「基板上の酸化ジルコニウム層」や「酸化ジルコニウム層上の第1電極」という表現は、基板と酸化ジルコニウム層との間や、酸化ジルコニウム層と第1電極との間に、他の構成要素を含むものを除外しない。
I インクジェット式記録装置(液体噴射装置)、 1 インクジェット式記録ヘッド(液体噴射ヘッド)、 10 流路形成基板、 12 圧力発生室、 13 インク供給路、 14 連通路、 15 連通部、 20 ノズルプレート、 21 ノズル開口、 30 保護基板、 31 圧電素子保持部、 32 マニホールド部、 33 貫通孔、 35 接着剤、 40 コンプライアンス基板、 41 封止膜、 42 固定板、 43 開口部、 50 振動板、 51 弾性膜、 52 酸化ジルコニウム層、 53 マスク膜、 56 密着層、 60 第1電極、 70 圧電体層、 74 圧電体膜、 80 第2電極、 90 リード電極、 100 マニホールド、 120 駆動回路、 121 接続配線、 200 プリンターコントローラー

Claims (7)

  1. 基板上に形成された第1電極と、
    前記第1電極上に形成され、カリウム(K)、ナトリウム(Na)、ニオブ(Nb)及びマンガン(Mn)を含むABO型ペロブスカイト構造の複合酸化物からなる圧電体層と、
    前記圧電体層上に形成された第2電極と、を具備する圧電素子であって、
    前記マンガンは、2価のマンガン(Mn2+)と、3価のマンガン(Mn3+)と、4価のマンガン(Mn4+)と、を含み、前記3価のマンガンと前記4価のマンガンとの和に対する前記2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)が0.31以上であること
    を特徴とする圧電素子。
  2. 前記3価のマンガンと前記4価のマンガンとの和に対する前記2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)が3.90以下であることを特徴とする請求項1に記載の圧電素子。
  3. 基板上に形成された第1電極と、
    前記第1電極上に形成され、カリウム(K)、ナトリウム(Na)、ニオブ(Nb)及びマンガン(Mn)を含むABO型ペロブスカイト構造の複合酸化物からなる圧電体層と、
    前記圧電体層上に形成された第2電極と、を具備する圧電素子であって、
    前記マンガンは、2価のマンガン(Mn2+)と、3価のマンガン(Mn3+)と、4価のマンガン(Mn4+)と、を含み、
    前記3価のマンガンと前記4価のマンガンとの和に対する前記2価のマンガンのモル比(Mn2+/Mn3++Mn4+)が3.90以下であること
    を特徴とする圧電素子。
  4. 前記マンガンの含有量が、前記ABO型ペロブスカイト構造のBサイトを構成する金属元素の総量に対して0.3モル%より多いこと
    を特徴とする請求項1〜3の何れか一項に記載の圧電素子。
  5. 前記マンガンの含有量が、前記ABO型ペロブスカイト構造のBサイトを構成する金属元素の総量に対して2モル%以下であること
    を特徴とする請求項1〜4の何れか一項に記載の圧電素子。
  6. 前記ABO型ペロブスカイト構造の複合酸化物は、下記式(1)で表される組成であることを特徴とする請求項1〜5の何れか一項に記載の圧電素子。
    (K,Na1−X)(Nb1−y,Mn)O ・・・ (1)
    (0.1≦x≦0.9)
  7. 請求項1〜6の何れか一項に記載の圧電素子を具備すること
    を特徴とする圧電素子応用デバイス。
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