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JP2013146354A - Sterile connecting device - Google Patents

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JP2013146354A
JP2013146354A JP2012008340A JP2012008340A JP2013146354A JP 2013146354 A JP2013146354 A JP 2013146354A JP 2012008340 A JP2012008340 A JP 2012008340A JP 2012008340 A JP2012008340 A JP 2012008340A JP 2013146354 A JP2013146354 A JP 2013146354A
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JP
Japan
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wafer
tube
cassette
heating plate
plate member
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012008340A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yusuke Sakagami
友介 坂上
Tomotaka Kokubu
友隆 國分
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Terumo Corp
Original Assignee
Terumo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sterile connecting device, capable of checking whether or not there is a heating plate member in a cassette placed in a case without visually recognizing it before connection work of tubes, and capable of smoothly performing sterile connection work of the tubes.SOLUTION: A sterile connecting device 1 has: a case 2 for fixing a first tube T1 and a second tube T2; a wafer cassette storage unit 82 which is placed in the case 2 and in which a wafer cassette WC for storing a plurality of wafers WF as a heating plate member is removably stored; a presence or absence detection sensor 101 for wafers WF, which detects whether or not the wafers WF are stored in the wafer cassette WC positioned in the wafer cassette storage unit 82; and a control unit 100 for recognizing whether or not wafers WF remain in the wafer cassette WC according to a signal from the presence or absence detection sensor 101.

Description

本発明は、熱可塑性樹脂製チューブの無菌接合装置に関し、特に、例えば腹膜透析をする際に使用される患者の腹膜カテーテル側のチューブと、腹膜透析液バッグの透析液チューブを、無菌状態で加熱溶融接合するための無菌接合装置に関する。   The present invention relates to an aseptic joining apparatus for thermoplastic resin tubes, and in particular, for example, a tube on the patient's peritoneal catheter side used for peritoneal dialysis and a dialysate tube of a peritoneal dialysate bag are heated in a sterile state. The present invention relates to an aseptic joining apparatus for melt joining.

腹膜透析は、患者の腹腔内に埋め込んだチューブを使って、腹腔内に約2リットル(大人の場合)の透析液を入れて、腹膜を介して体内の水や老廃物を取り除く方法である。数時間後には、腹腔内の中の透析液は、排液用のバッグに出して捨て、新たな透析液と入れ替える。これにより、腹膜に囲まれた腹腔内に透析液を注入し、透析液が一定時間貯留されている間に、血中の不要な老廃物や水分腹腔内膜を介して透析液に移行させた後、その透析液を体外に取り出して血液の浄化を行うことができる。   Peritoneal dialysis is a method in which about 2 liters (in the case of an adult) of dialysis solution is put into the abdominal cavity using a tube embedded in the abdominal cavity of a patient, and water and waste products in the body are removed through the peritoneum. After a few hours, dialysate in the abdominal cavity is placed in a drain bag and discarded, and replaced with fresh dialysate. As a result, the dialysate was injected into the abdominal cavity surrounded by the peritoneum, and the dialysate was transferred to the dialysate through unnecessary waste and water in the peritoneal membrane while the dialysate was stored for a certain period of time. Thereafter, the dialysate can be taken out of the body to purify the blood.

無菌接合装置は、例えば2本の同じ太さの塩化ビニル製のチューブを溶断して無菌状態で自動的に接合する装置であり、2本のチューブの溶断した端部を入れ替えて接合するので、接合の際に菌汚染の心配が無く、チューブおよびバッグ内の透析液等の無菌性を保持することができる。2本のチューブの接合は、加熱溶融加圧溶接用のウェハーを用いて無菌状態で行うことができる(特許文献1を参照)。   The aseptic joining device is a device that automatically melts two tubes of the same thickness, for example, and automatically joins them in a sterile state. There is no concern about bacterial contamination during joining, and the sterility of the dialysis fluid and the like in the tube and bag can be maintained. The joining of the two tubes can be performed in an aseptic condition using a wafer for heat fusion pressure welding (see Patent Document 1).

特許2710038号公報Japanese Patent No. 2710038

上述した無菌接合装置では、2本のチューブは、加熱用板部材である加熱した金属板のウェハーを押し当てて溶断して、2本のチューブの溶断した端部を入れ替えて加圧接合する。複数枚のウェハーは、ウェハーカセット内に予め収納されている。使用者は、このウェハーカセットを無菌接合装置の筐体のウェハーカセット挿入口から筐体内に着脱可能に挿入することで収納できる。そして、使用者は、使用して空になったウェハーカセットを、ウェハーカセット取り出しボタンを押すことで、ウェハーカセット挿入口から筐体の外に取り出すことができる構造になっている。   In the above-described aseptic joining apparatus, the two tubes are fused by pressing a heated metal plate wafer, which is a heating plate member, and then fusing the fused ends of the two tubes. A plurality of wafers are stored in advance in a wafer cassette. The user can store the wafer cassette by detachably inserting the wafer cassette into the housing from the wafer cassette insertion port of the housing of the aseptic bonding apparatus. Then, the user can take out the wafer cassette that has been emptied by pushing the wafer cassette take-out button and take it out of the housing from the wafer cassette insertion port.

ところが、上述したウェハーカセットは、無菌接合装置の筐体内に収納されてしまうので、使用者がウェハーカセットを直接目視で確認することができず、使用者はウェハーカセット内にウェハーが残っているかどうかのウェハーの有無の確認を目視で行うことができない。使用者がウェハーの有無の確認を目視で行うことができないと、チューブの接合作業を行っている時に、ウェハーカセット内のウェハーが突然無くなってしまうことがある。もし、ウェハーが無くなってしまうと、使用者はこのままでは2本のチューブを溶断して加圧接合する作業を行えない。このため、腹膜透析を実施できなくなるおそれがある。もし、ウェハーカセット内のウェハーの有無を目視で確認したい場合には、接合作業を行おうとする度に、ウェハーカセットを筐体内から取り出さなくてはならず、接合作業が煩雑になる。
そこで、本発明は、筐体内に配置されているカセット内の加熱用板部材の有無をチューブの接合作業の前に目視によらずに確認することができ、チューブの無菌接合作業をスムーズに行うことができる無菌接合装置を提供することを目的とする。
However, since the above-described wafer cassette is housed in the casing of the aseptic bonding apparatus, the user cannot directly visually check the wafer cassette, and the user can check whether the wafer remains in the wafer cassette. The presence or absence of the wafer cannot be confirmed visually. If the user cannot visually confirm the presence or absence of a wafer, the wafer in the wafer cassette may suddenly disappear when the tube is joined. If the wafer runs out, the user cannot perform the operation of fusing the two tubes and pressurizing and bonding them. For this reason, there is a possibility that peritoneal dialysis cannot be performed. If it is desired to visually confirm the presence or absence of a wafer in the wafer cassette, the wafer cassette must be taken out of the housing every time the joining operation is performed, which makes the joining operation complicated.
Therefore, the present invention can confirm the presence / absence of the heating plate member in the cassette disposed in the housing without visual inspection before the tube joining operation, and smoothly performs the aseptic joining operation of the tube. An object of the present invention is to provide an aseptic joining apparatus that can perform such a process.

本発明の無菌接合装置は、第1チューブと第2チューブを固定した状態で前記第1チューブと前記第2チューブを、加熱用板部材を用いて溶断した後、前記第1チューブの溶断した端部と前記第2チューブの溶断した端部を入れ替えて接合する無菌接合装置であって、前記第1チューブと前記第2チューブを固定する筐体と、前記筐体内に配置され、複数枚の前記加熱用板部材を収めるカセットを着脱可能に収納するためのカセット収納ユニットと、前記カセット収納ユニット内に位置決めされた前記カセット内に前記加熱用板部材が収納されているかどうかを検出する加熱用板部材の有無検出センサと、前記加熱用板部材の有無検出センサからの信号により、前記カセット内に前記加熱用板部材が残っているかどうかを認識する制御部とを有することを特徴とする。
上記構成によれば、筐体内に配置されているカセット内の加熱用板部材の有無をチューブの接合作業の前に確認することができ、チューブの無菌接合作業をスムーズに行うことができる。すなわち、制御部は、加熱用板部材の有無検出センサからの信号に基づいて、カセット内の加熱用板部材の有無を、チューブの接合作業の前に目視によらなくても確認することができる。このため、加熱用板部材が無い時には、直ちに作業を中止して加熱用板部材の補充作業を行え、加熱用板部材がカセット内にある時には、チューブの無菌接合作業をスムーズに行うことができる。
In the aseptic joining apparatus of the present invention, the first tube and the second tube are melted using a heating plate member in a state where the first tube and the second tube are fixed, and then the melted end of the first tube. An aseptic joining apparatus that replaces and joins the melted end of the second tube and the second tube, the housing fixing the first tube and the second tube, the housing disposed in the housing, and a plurality of the A cassette storage unit for detachably storing a cassette for storing a heating plate member, and a heating plate for detecting whether or not the heating plate member is stored in the cassette positioned in the cassette storage unit A member presence / absence detection sensor, and a control unit for recognizing whether the heating plate member remains in the cassette based on a signal from the heating plate member presence / absence detection sensor. Characterized in that it.
According to the said structure, the presence or absence of the heating plate member in the cassette arrange | positioned in a housing | casing can be confirmed before the joining operation of a tube, and the aseptic joining operation of a tube can be performed smoothly. That is, the control unit can confirm the presence / absence of the heating plate member in the cassette based on a signal from the presence / absence detection sensor of the heating plate member without visual inspection before the tube joining operation. . Therefore, when there is no heating plate member, the operation is immediately stopped and the heating plate member can be replenished. When the heating plate member is in the cassette, the aseptic joining operation of the tube can be performed smoothly. .

好ましくは、前記加熱用板部材の有無検出センサは、前記カセット内に収納されている前記加熱用板部材に向けて光を発生する発光部と、前記加熱用板部材により反射された前記光を受光して、前記制御部に対して前記加熱用板部材有りの信号を送る受光部と、を有する非接触型の光センサであることを特徴とする。
上記構成によれば、カセット内に加熱用板部材が有るかないかを非接触式で検出することができる。
Preferably, the heating plate member presence / absence detection sensor includes a light emitting unit that generates light toward the heating plate member housed in the cassette, and the light reflected by the heating plate member. It is a non-contact type optical sensor having a light receiving portion that receives light and sends a signal indicating that the heating plate member is present to the control portion.
According to the above configuration, it is possible to detect in a non-contact manner whether or not the heating plate member is present in the cassette.

好ましくは、前記加熱用板部材の有無検出センサは、前記カセット内に収納されている前記加熱用板部材に対して機械的に接触することで前記制御部に対して前記加熱用板部材有りの信号を送る接触型のセンサであることを特徴とする。
上記構成によれば、カセット内に加熱用板部材が有るかないかを機械的に接触することで検出することができる。
Preferably, the heating plate member presence / absence detection sensor has the heating plate member with respect to the control unit by mechanically contacting the heating plate member housed in the cassette. It is a contact-type sensor that sends a signal.
According to the said structure, it can detect by contacting mechanically whether the plate member for a heating exists in a cassette.

好ましくは、前記加熱用板部材の有無検出センサは、前記カセット内に収納されている前記加熱用板部材に対して電気的に接触することで前記制御部に対して前記加熱用板部材有りの信号を送る電気接触型のセンサであることを特徴とする。
上記構成によれば、カセット内に加熱用板部材が有るかないかを電気的に接触することで検出することができる。
Preferably, the heating plate member presence / absence detection sensor has the heating plate member with respect to the control unit by electrically contacting the heating plate member housed in the cassette. It is an electrical contact type sensor that sends a signal.
According to the said structure, it can be detected by electrically contacting whether the board member for a heating exists in a cassette.

好ましくは、前記カセット収納ユニット内に前記カセットが位置決めされた時点で、前記カセット内に前記加熱用板部材が収納されているかどうかの有無検出を、前記制御部に開始信号を与えることで開始させるための検出開始センサを有することを特徴とする。
上記構成によれば、カセットがカセット収納ユニット内に位置決めされた時点から、加熱用板部材の有無の検出を行うので、それ以前に加熱用板部材の有無検出センサを駆動する必要が無いので、駆動用のバッテリの充電容量が減少するのを防ぐことができる。
Preferably, when the cassette is positioned in the cassette storage unit, detection of whether or not the heating plate member is stored in the cassette is started by giving a start signal to the control unit. And a detection start sensor.
According to the above configuration, since the presence or absence of the heating plate member is detected from the time when the cassette is positioned in the cassette storage unit, it is not necessary to drive the presence or absence detection sensor of the heating plate member before that. It is possible to prevent the charge capacity of the driving battery from decreasing.

本発明は、患者にとって使い勝手がよい無菌接合装置を提供することができる。特に、筐体内に配置されているカセット内の加熱用板部材の有無をチューブの接合作業の前に目視によらずに確認することができ、チューブの無菌接合作業をスムーズに行うことができる無菌接合装置を提供することができる。   The present invention can provide an aseptic joining apparatus that is convenient for a patient. In particular, the presence or absence of the heating plate member in the cassette arranged in the housing can be confirmed without visual inspection before the tube joining operation, and the aseptic joining operation can be performed smoothly. A joining device can be provided.

本発明の無菌接合装置の実施形態を示す斜視図。The perspective view which shows embodiment of the aseptic joining apparatus of this invention. 図2(A)は、図1に示す無菌接合装置をJ1方向から見た側面図であり、図2(B)は、図1に示す無菌接合装置をJ2方向から見た側面図。2A is a side view of the aseptic joining apparatus shown in FIG. 1 viewed from the J1 direction, and FIG. 2B is a side view of the aseptic joining apparatus shown in FIG. 1 viewed from the J2 direction. 図1に示す無菌接合装置の底面図。The bottom view of the aseptic joining apparatus shown in FIG. 図4(A)は、図1に示す筐体の正面部側に設けられている操作パネル部の例を示し、図4(B)は、図1に示す筐体の上面部に設けられている表示部の例を示す図。4A shows an example of an operation panel provided on the front side of the casing shown in FIG. 1, and FIG. 4B shows an example provided on the upper surface of the casing shown in FIG. The figure which shows the example of the display part which is. 図1から図3に示す無菌接合装置が、加熱溶融加圧接合方式で接合しようとする2本のチューブT1、T2の例を示す図。The figure which shows the example of the two tubes T1 and T2 which the aseptic joining apparatus shown in FIGS. 1-3 is going to join by a hot-melt-pressure joining system. 図1に示すクランプ蓋部を筐体からRT方向に開けた状態を示す斜視図。The perspective view which shows the state which opened the clamp cover part shown in FIG. 1 in the RT direction from the housing | casing. 図6に矢印SS方向から見たクランプ蓋部の内部構造例と、筐体側クランプ部の内部構造例を示す斜視図。The perspective view which shows the internal structure example of the clamp cover part seen from the arrow SS direction in FIG. 6, and the internal structure example of a housing | casing side clamp part. クランプ蓋部の内部構造例と、筐体側クランプ部の内部構造例を示す別の角度から見た斜視図。The perspective view seen from another angle which shows the internal structure example of a clamp cover part, and the internal structure example of a housing | casing side clamp part. 図7に示すクランプ蓋部の内部構造と筐体側クランプ部の内部構造を拡大して示す斜視図。The perspective view which expands and shows the internal structure of the clamp cover part shown in FIG. 7, and the internal structure of a housing | casing side clamp part. 図7に示す筐体側クランプ部の内部構造を別の角度から拡大して示す斜視図。The perspective view which expands and shows the internal structure of the housing | casing side clamp part shown in FIG. 7 from another angle. 無菌接合装置の筐体内に配置されている構成要素の概略の配置例を示す斜視図。The perspective view which shows the example of schematic arrangement | positioning of the component arrange | positioned in the housing | casing of an aseptic joining apparatus. 無菌接合装置の電気ブロックを示す図。The figure which shows the electric block of an aseptic joining apparatus. 筐体のウェハーカセット挿入口とウェハーカセット取り出しボタンの付近と、ウェハーカセットを示す斜視図。The perspective view which shows the vicinity of the wafer cassette insertion port of a housing | casing, the wafer cassette taking-out button, and a wafer cassette. ウェハーカセット挿入口とウェハーカセット取り出しボタンと、ウェハーカセットを示す図。The figure which shows a wafer cassette insertion port, a wafer cassette taking-out button, and a wafer cassette. ウェハーカセットの底面部と上面部を示す斜視図。The perspective view which shows the bottom face part and upper surface part of a wafer cassette. 図16(A)は、ウェハーカセットWCの側面図であり、図16(B)は、図16(A)のウェハーカセットWCを矢印127から見た平面図。16A is a side view of the wafer cassette WC, and FIG. 16B is a plan view of the wafer cassette WC of FIG. ファンと、筐体側クランプ部における2本のチューブとウェハーとの位置関係の例を示す側面図。The side view which shows the example of the positional relationship of a fan, the two tubes in a housing | casing side clamp part, and a wafer. チューブT1とチューブT2を筐体側クランプ部側にはめ込む様子を示す図。The figure which shows a mode that the tube T1 and the tube T2 are inserted in the housing | casing side clamp part side. チューブT2の前回の接合部を位置決め用の突起の先端に合わせて押し込む様子を示す図。The figure which shows a mode that the previous junction part of tube T2 is pushed in according to the front-end | tip of the protrusion for positioning. 2本のチューブT1、T2の無菌接合手順を示す図。The figure which shows the aseptic joining procedure of the two tubes T1 and T2. ウェハーカセット収納ユニットの構造例を示す図。The figure which shows the structural example of a wafer cassette storage unit. ウェハー有無検出センサとウェハー残量検出センサを有するウェハーカセット収納ユニットの構造例を示す図。The figure which shows the structural example of the wafer cassette storage unit which has a wafer presence detection sensor and a wafer residual amount detection sensor. 本発明の別の実施形態を示す図。The figure which shows another embodiment of this invention. 本発明のさらに別の実施形態を示す図。The figure which shows another embodiment of this invention.

以下に、本発明の好ましい実施形態を、図面を参照して詳しく説明する。
尚、以下に述べる実施の形態は、本発明の好適な具体例であるから、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるものではない。
図1は、本発明の無菌接合装置の実施形態を示す斜視図である。図2(A)は、図1に示す無菌接合装置1をJ1方向から見た側面図であり、図2(B)は、図1に示す無菌接合装置1をJ2方向から見た側面図である。図3は、図1に示す無菌接合装置1の底面部側を示す斜視図である。
図1と図2に示す無菌接合装置1は、環境温度10〜40℃,相対湿度30〜85%での使用環境において、腹膜灌流回路用の2本のチューブを加熱溶融、すなわち溶断してそして加圧接合する装置である。この無菌接合装置1は、例えば腹膜透析液バッグの透析液チューブ(以下、第1チューブともいう)と、腹膜透析をする際に使用される患者の腹膜カテーテル側のチューブ(以下、第2チューブともいう)とを、溶断して無菌状態で加圧して接合するのに用いられる。
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
The embodiments described below are preferred specific examples of the present invention, and thus various technically preferable limitations are given. However, the scope of the present invention is particularly limited in the following description. Unless otherwise stated, the present invention is not limited to these embodiments.
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of an aseptic joining apparatus of the present invention. 2A is a side view of the aseptic joining apparatus 1 shown in FIG. 1 viewed from the J1 direction, and FIG. 2B is a side view of the aseptic joining apparatus 1 shown in FIG. 1 viewed from the J2 direction. is there. FIG. 3 is a perspective view showing the bottom surface side of the aseptic joining apparatus 1 shown in FIG.
The aseptic joining device 1 shown in FIG. 1 and FIG. 2 heats and melts two tubes for a peritoneal perfusion circuit in an environment of use at an environmental temperature of 10 to 40 ° C. and a relative humidity of 30 to 85%, This is an apparatus for pressure bonding. This aseptic joining apparatus 1 includes, for example, a dialysate tube (hereinafter also referred to as a first tube) of a peritoneal dialysate bag and a tube (hereinafter referred to as a second tube) on a patient's peritoneal catheter side used when performing peritoneal dialysis. Is used for fusing and pressurizing and joining in aseptic conditions.

図1と図2に示す無菌接合装置1は、135mm(幅)×99mm(高さ)×268mm(奥行)の大きさで、重さが2.4kgの筐体2と、チューブセット補助具4を有している。筐体2は、クランプ蓋部3を有しており、上筐体部分2Wと下筐体部分2Vを組み合わせることで構成されている。クランプ蓋部3を含む筐体2とチューブセット補助具4は、好ましくはプラスチックにより作られている。
筐体2は、後で説明する各構成要素を収容し、クランプ蓋部3は、この筐体2の上部に配置されている。チューブセット補助具4は、後で説明するが、筐体1に対して着脱可能に取り付けられている。筐体2とクランプ蓋部3は、例えば明るい色、クリーム色あるいは白色であるが、使用者(患者)が、チューブセット補助具4と、筐体2とクランプ蓋部3とを、色で明確に区別できるようにするために、チューブセット補助具4は例えばオレンジ色である。しかし、各部の色は、特に限定されず、任意に選択することができる。
The aseptic joining apparatus 1 shown in FIG. 1 and FIG. 2 has a size of 135 mm (width) × 99 mm (height) × 268 mm (depth), a weight 2 of 2.4 kg, and a tube setting auxiliary tool 4. have. The housing 2 has a clamp lid 3, and is configured by combining an upper housing portion 2W and a lower housing portion 2V. The housing 2 including the clamp lid 3 and the tube setting auxiliary tool 4 are preferably made of plastic.
The housing 2 accommodates each component described later, and the clamp lid portion 3 is disposed on the upper portion of the housing 2. As will be described later, the tube set auxiliary tool 4 is detachably attached to the housing 1. The housing 2 and the clamp lid 3 are, for example, bright color, cream color, or white, but the user (patient) clearly defines the tube set auxiliary tool 4, the housing 2 and the clamp lid 3 with colors. For example, the tube set auxiliary tool 4 is orange. However, the color of each part is not particularly limited and can be arbitrarily selected.

図1と図2に示す筐体2は、底面部2A、正面部2B、右の側面部2C、左の側面部2D、背面部2E、そして上面部2Fを有し、面取りがされたほぼ直方体形状のケースである。図3に示すように、底面部2Aの4隅位置には、それぞれ設置用部材2Gが取り付けられている。これらの設置用部材2Gは、例えば円形状のプラスチック製あるいはゴム製の滑り止め部材である。重量の比較的大きい無菌接合装置1は、これらの設置用部材2Gを用いて、設置面である例えば机面に対して滑らないよう確実に置くことができる。これにより、無菌接合装置1がずれないようにして、2本のチューブを挟み込んで固定してそして溶断して接合する作業を行うことができる。
図3に示すように、底面部2Aには、バッテリ交換用の蓋部材2Hが、ねじ2Iにより着脱可能に取り付けられている。ねじ2Iを外して蓋部材2Hを取り外せば、筐体2の内部の破線で示すバッテリBAを交換できる。この蓋部材2Hは、正面部2Bよりも背面部2E寄り側に配置され、蓋部材2HはファンFNの排気用開口部6からは離している。
The housing 2 shown in FIGS. 1 and 2 has a bottom surface portion 2A, a front surface portion 2B, a right side surface portion 2C, a left side surface portion 2D, a back surface portion 2E, and a top surface portion 2F. It is a shape case. As shown in FIG. 3, installation members 2G are respectively attached to the four corner positions of the bottom surface portion 2A. These installation members 2G are, for example, circular anti-slip members made of plastic or rubber. The aseptic joining apparatus 1 having a relatively large weight can be reliably placed by using these installation members 2G so as not to slide with respect to the installation surface, for example, a desk surface. Thereby, the aseptic joining apparatus 1 can be prevented from being displaced, and the work of joining the two tubes by sandwiching and fixing them can be performed.
As shown in FIG. 3, a battery replacement lid member 2H is detachably attached to the bottom surface portion 2A with screws 2I. When the screw 2I is removed and the lid member 2H is removed, the battery BA indicated by the broken line inside the housing 2 can be replaced. The lid member 2H is disposed closer to the back surface portion 2E than the front surface portion 2B, and the lid member 2H is separated from the exhaust opening 6 of the fan FN.

図3に示すように、底面部2Aには、バッテリ交換用の蓋部材2Hと、正面部2Bとの間に、音声用開口部5と排気用開口部6が形成されている。音声用開口部5は、複数の細長い貫通穴5Aにより構成され、排気用開口部6は、複数の細長い貫通穴6Aが2列に配列されている。底面部2Aの内側には、破線で示すようにスピーカSPと排気装置としてのファンFNが配置されている。また、ファンFNは、接合動作を終えたウェハーWFを冷却する作用も兼ねている。
音声用開口部5は、スピーカSPが発生する音声ガイダンスや警告音等を、筐体2の外側に出力するために設けられている。これにより、使用者は、スピーカSPが発生する音声ガイダンスや警告音等を、明瞭に聞くことができる。
排気用開口部6は、冷却用のファンFNが作動することで筐体2の内部で発生する熱や、内部を通るガスを、筐体2の外部に強制的に排出するために設けられている。これにより、筐体2内の熱や内部を通るガスを、側面部2C、2Dではなく、底面部2A側から筐体2の外部に排出することができる。
その他に、底面部2Aには、複数本のリブ2JがY方向に平行に形成されている。これらのリブ2Jは、後で説明するチューブセット補助具4を筐体2に対して着脱自在に取り付ける際の、ガイド部分としての役割を果たす。
As shown in FIG. 3, a voice opening 5 and an exhaust opening 6 are formed on the bottom surface 2 </ b> A between the battery replacement lid member 2 </ b> H and the front surface 2 </ b> B. The sound opening 5 is composed of a plurality of elongated through holes 5A, and the exhaust opening 6 has a plurality of elongated through holes 6A arranged in two rows. Inside the bottom surface 2A, a speaker SP and a fan FN as an exhaust device are arranged as indicated by a broken line. The fan FN also serves to cool the wafer WF that has finished the bonding operation.
The voice opening 5 is provided for outputting voice guidance, warning sound, or the like generated by the speaker SP to the outside of the housing 2. Thereby, the user can hear clearly the voice guidance, warning sound, etc. which the speaker SP generate | occur | produces.
The exhaust opening 6 is provided to forcibly exhaust heat generated inside the casing 2 and gas passing through the casing 2 when the cooling fan FN is operated. Yes. Thereby, the heat | fever in the housing | casing 2 or the gas which passes the inside can be discharged | emitted from the bottom face part 2A side to the exterior of the housing | casing 2 instead of the side parts 2C and 2D.
In addition, a plurality of ribs 2J are formed on the bottom surface portion 2A in parallel to the Y direction. These ribs 2J serve as guide portions when a tube setting auxiliary tool 4 to be described later is detachably attached to the housing 2.

次に、図4を参照して、操作パネル部7と表示部8について説明する。
図4(A)は、図1に示す筐体2の正面部2B側に設けられている操作パネル部7の例を示している。図4(B)は、図1に示す筐体2の上面部2Fに設けられている表示部8の例を示している。
図4(A)に示す操作パネル部7は、[電源]スイッチボタン7Bと、[電源]ランプ7Cと、[充電中]ランプ7Dと、[接合]ボタン7Eと、[接合]ランプ7Fと、[ウェハー取り出し]ランプ7Gを有している。[電源]ランプ7Cと[充電中]ランプ7Dと[接合]ランプ7Fと[ウェハー取り出し]ランプ7Gは、操作部7における各種の表示用のランプであり、例えば緑色のLED(発光ダイオード)ランプを使用している。[電源]スイッチボタン7Bは、使用者が無菌接合装置1を用いて後で説明する2本のチューブを接合する作業を行おうとする際に、最初に電源を入れるために押すボタンである。
Next, the operation panel unit 7 and the display unit 8 will be described with reference to FIG.
FIG. 4A shows an example of the operation panel unit 7 provided on the front surface 2B side of the housing 2 shown in FIG. FIG. 4B shows an example of the display portion 8 provided on the upper surface portion 2F of the housing 2 shown in FIG.
4A includes a [Power] switch button 7B, a [Power] lamp 7C, a [Charging] lamp 7D, a [Join] button 7E, and a [Join] lamp 7F. [Wafer removal] lamp 7G is provided. [Power] lamp 7C, [Charging] lamp 7D, [Joint] lamp 7F, and [Wafer removal] lamp 7G are various display lamps in operation unit 7, for example, a green LED (light emitting diode) lamp. I am using it. [Power] switch button 7B is a button that is pressed to turn on the power first when the user tries to join two tubes, which will be described later, using aseptic joining apparatus 1.

[電源]ランプ7Cは、[電源]スイッチボタン7Bを押すと点灯する。[接合]ボタン7Eは、使用者が2本のチューブを溶断して、2本のチューブの端部を形成し、そして2本のチューブの端部を入れ替えて加圧接合する作業を開始する際に押すボタンである。[接合]ランプ7Fは、[接合]ボタン7Eを押すと点灯する。また、[接合]ランプ7Fは、故障時には使用者に警告するために点滅することがある。[充電中]ランプ7Dは、図3に示すバッテリBAに対して商用交流電源側から充電している場合に点灯する。[ウェハー取り出し]ランプ7Gは、2本のチューブの接合が終わり、使用者が後で説明する使用済みのウェハーを筐体2内から取り出して排出することができるような状態になると、点灯または点滅する。
図4(B)に示す表示部8の例では、[カバー閉じる]ランプ8Bと、[ウェハーカセット交換]ランプ8Cと、[ウェハー不良]ランプ8Dと、[要充電]ランプ8Eと、[室温不適]ランプ8Fと、[装置故障]ランプ8Gを有している。[装置故障]ランプ8Gは、装置が故障したことを知らせる重要な警告ランプであり、赤色のLEDランプを使用しているが、その他のランプは、警報表示ランプであり、例えば黄色のLEDランプを使用している。
[Power] lamp 7C is turned on when [Power] switch button 7B is pressed. The [Join] button 7E is used when the user melts the two tubes to form the end portions of the two tubes, and then replaces the end portions of the two tubes to start pressure bonding. It is a button to be pressed. [Join] lamp 7F is turned on when [Join] button 7E is pressed. In addition, the [Join] lamp 7F may blink to warn the user when a failure occurs. [During charging] The lamp 7D is lit when the battery BA shown in FIG. 3 is charged from the commercial AC power supply side. [Wafer take-out] lamp 7G lights up or blinks when the joining of the two tubes is completed and the user can take out a used wafer, which will be described later, from the housing 2 and discharge it. To do.
In the example of the display unit 8 shown in FIG. 4B, a [close cover] lamp 8B, a [wafer cassette replacement] lamp 8C, a [wafer defect] lamp 8D, a [required charge] lamp 8E, and a [room temperature inappropriate] ] Lamp 8F and [device failure] lamp 8G. [Device failure] The lamp 8G is an important warning lamp for notifying that the device has failed. The red LED lamp is used, but the other lamps are alarm display lamps, for example, a yellow LED lamp. I am using it.

図1と図2(A)に戻ると、筐体2の側面部2Cには、ウェハーカセット挿入部20と、ウェハーカセット取り出しボタン21が設けられている。ウェハーカセット挿入部20は、図1に示すウェハーカセットWCを着脱可能に挿入するための長方形状の開口部である。ウェハーカセットWCがウェハーカセット挿入部20を通じて筐体2内に挿入された状態で、使用者が指でウェハーカセット取り出しボタン21を押し込むことで、ウェハーカセットWCはウェハーカセット挿入部20を通じて筐体2の外部に取り出すことができる。
図2(B)に示すように、筐体2の側面部2Dには、音量調整ボリューム22と、音声メッセージ切替えスイッチ23が設けられている。使用者が音量調整ボリューム22をスライドすることで音声メッセージの音量の大小を好みに応じて調整できる。使用者が音声メッセージ切替えスイッチ23を例えば「無」の状態から「有」の状態にスライドすることで、音声メッセージを図3に示すスピーカSPから出力することができる。使用者が音声メッセージ切替えスイッチ23を例えば「無」の状態にすれば、スピーカSPから例えばブザー音を出力させることができる。
Returning to FIG. 1 and FIG. 2A, the side surface 2 </ b> C of the housing 2 is provided with a wafer cassette insertion portion 20 and a wafer cassette removal button 21. Wafer cassette insertion portion 20 is a rectangular opening for removably inserting wafer cassette WC shown in FIG. In a state where the wafer cassette WC is inserted into the housing 2 through the wafer cassette insertion unit 20, the user presses the wafer cassette eject button 21 with a finger, so that the wafer cassette WC is inserted into the housing 2 through the wafer cassette insertion unit 20. Can be taken out.
As shown in FIG. 2B, a volume adjustment volume 22 and a voice message changeover switch 23 are provided on the side surface 2D of the housing 2. The user can adjust the volume of the voice message according to his / her preference by sliding the volume adjustment volume 22. For example, when the user slides the voice message changeover switch 23 from the “no” state to the “present” state, the voice message can be output from the speaker SP shown in FIG. If the user sets the voice message changeover switch 23 to, for example, a state of “None”, for example, a buzzer sound can be output from the speaker SP.

図5は、図1から図3に示す無菌接合装置1が、加熱溶融加圧接合方式で接合しようとする2本のチューブT1、T2の例を示している。チューブT1は第1チューブともいい、チューブT2は第2チューブともいい、例えば塩化ビニル製のチューブである。しかし、これらのチューブの材質は、特に限定されない。
図5に示す例では、チューブT1は、その先端部にコネクターCTを有し、透析液バッグBLの透析液チューブTBLに対して分岐管9を介して接続され、しかも排液用バッグHLの排液チューブTHLに対して分岐管9を介して接続されている。チューブT2は、例えば延長チューブ10と保護チューブ11を有しており、延長チューブ10は、連結管12、シリコーンチューブ13、カテーテルジョイント14を介して、腹膜カテーテル15に接続されている。腹膜カテーテル15は、使用者Mの腹腔内に挿入されている。
図5に示すように、無菌接合装置1は、チューブT1の斜線で示す接合部分C1とチューブT2の斜線で示す接合部分C2を積み重ねた状態で、チューブT1の接合部分C1とチューブT2の接合部分C2を、後で説明する加熱したウェハーを用いて溶断することで、チューブT1の溶断した端部と、チューブT2の溶断した端部とを入れ替えて加圧して接合する。
FIG. 5 shows an example of two tubes T1 and T2 to be joined by the aseptic joining apparatus 1 shown in FIGS. The tube T1 is also referred to as a first tube, and the tube T2 is also referred to as a second tube, for example, a tube made of vinyl chloride. However, the material of these tubes is not particularly limited.
In the example shown in FIG. 5, the tube T1 has a connector CT at its distal end, is connected to the dialysate tube TBL of the dialysate bag BL via the branch pipe 9, and is drained from the drain bag HL. The liquid tube THL is connected via a branch pipe 9. The tube T2 includes, for example, an extension tube 10 and a protection tube 11, and the extension tube 10 is connected to a peritoneal catheter 15 via a connecting tube 12, a silicone tube 13, and a catheter joint 14. The peritoneal catheter 15 is inserted into the abdominal cavity of the user M.
As shown in FIG. 5, the aseptic joining apparatus 1 includes a joining part C1 of the tube T1 and a joining part of the tube T2 in a state where the joining part C1 indicated by the oblique line of the tube T1 and the joining part C2 indicated by the oblique line of the tube T2 are stacked. C2 is melted using a heated wafer, which will be described later, so that the melted end of the tube T1 and the melted end of the tube T2 are switched and pressed to join.

次に、図1に示すクランプ蓋部3について説明する。
クランプ蓋部3は、2本のチューブT1、T2を重ねて挟み込んで保持するために、操作パネル部7と表示部8との間に設けられている。
図6は、図1に示すクランプ蓋部3を筐体2からRT方向に開けた状態を示す斜視図である。図7は、図6に矢印SS方向から見たクランプ蓋部3の内部構造例と、筐体側クランプ部50の内部構造例を示す斜視図である。
Next, the clamp lid part 3 shown in FIG. 1 will be described.
The clamp lid part 3 is provided between the operation panel part 7 and the display part 8 in order to sandwich and hold the two tubes T1 and T2.
FIG. 6 is a perspective view showing a state where the clamp lid 3 shown in FIG. 1 is opened from the housing 2 in the RT direction. FIG. 7 is a perspective view showing an example of the internal structure of the clamp lid part 3 and an example of the internal structure of the housing side clamp part 50 as seen from the direction of the arrow SS in FIG.

図1と図2に示すように、クランプ蓋部3は、クランプ板30と、クランプ操作部31と、被覆カバー32を有している。使用者が、指で持って操作するクランプ操作部31と、クランプ板30と被覆カバー32とを、目視で容易に区別できるようにするために、クランプ板30と被覆カバー32は例えばクリーム色あるいは白色であるのに対して、クランプ操作部31は緑色である。
図1に示すように、クランプ板30の表面には、2本のチューブ1、T2の挿入状態を表示することで使用者に確認させるための確認シール30Sが貼り付けられている。これにより、使用者が確認シール30Sを見ることにより、使用者は2本のチューブ1、T2を、クランプ蓋部3と、筐体側クランプ部50との間に正しく挟み込んで接合することができる。
As shown in FIGS. 1 and 2, the clamp lid portion 3 includes a clamp plate 30, a clamp operation portion 31, and a covering cover 32. The clamp plate 30 and the covering cover 32 are, for example, cream color or the like so that the user can easily distinguish the clamping operation unit 31 that the user holds with the finger and the clamping plate 30 and the covering cover 32 by visual observation. While it is white, the clamp operation unit 31 is green.
As shown in FIG. 1, a confirmation seal 30 </ b> S is attached to the surface of the clamp plate 30 so that the user can confirm the state of insertion of the two tubes 1 and T <b> 2. Thereby, when the user views the confirmation seal 30 </ b> S, the user can correctly sandwich and join the two tubes 1 and T <b> 2 between the clamp lid portion 3 and the housing-side clamp portion 50.

図1と図6に示すように、クランプ板30は、中心軸CLを中心として図1に示す閉じた状態から図6に示す90度を超える角度まで開くことができるように、筐体2に対して取り付けられている。被覆カバー32は、筐体2に対して中心軸CL1を中心にして回転できるように取り付けられている。この被覆カバー32の突起32Tは、クランプ板30のガイド溝30Rにはまり込んでいて、クランプ板30が筐体2に対して中心軸CLを中心として図1に示す閉じた状態から図6に示す90度を超える角度まで開くと、被覆カバー32はクランプ板30の動きに追従して持ち上がるようになっている。
図1と図6に示すクランプ操作部31は、クランプ板30の先端部30Dに対してピンを用いて、中心軸CL2を中心として回転できるように取り付けられている。図6に示すように、クランプ操作部31は、2つの係合爪31Mを有している。これに対して、筐体2側には、2つの突起部33が突出して設けられている。クランプ操作部31の2つの突起部33は、2つの係合爪31Mを掛けて固定する部分である。
As shown in FIGS. 1 and 6, the clamp plate 30 is attached to the housing 2 so that it can be opened from the closed state shown in FIG. 1 to the angle exceeding 90 degrees shown in FIG. It is attached to. The covering cover 32 is attached to the housing 2 so as to be rotatable about the central axis CL1. The protrusion 32T of the covering cover 32 is fitted in the guide groove 30R of the clamp plate 30, and the clamp plate 30 is shown in FIG. 6 from the closed state shown in FIG. When the cover cover 32 is opened to an angle exceeding 90 degrees, the covering cover 32 is lifted up following the movement of the clamp plate 30.
The clamp operation part 31 shown in FIGS. 1 and 6 is attached to the tip part 30D of the clamp plate 30 so as to be rotatable around the central axis CL2 using a pin. As shown in FIG. 6, the clamp operation unit 31 has two engagement claws 31M. On the other hand, two protrusions 33 protrude from the housing 2 side. The two protrusions 33 of the clamp operation unit 31 are portions that are fixed by hanging the two engagement claws 31M.

図6に示すようにクランプ蓋部3が筐体2から開いた状態で、使用者がクランプ操作部31を指で持って、矢印RS方向に中心軸CLを中心にして回転することで、図1に示すように、クランプ板30は、筐体側クランプ部50を上から覆うことができる。そして、図1に示すように、使用者がクランプ操作部31を指で持って、矢印RG方向に中心軸CL2を中心に回転させることで、図6に示す2つの係合爪31Mはそれぞれ対応する位置にある突起部33に対してかみ合わせることができる。これにより、クランプ蓋部3は、筐体2側の筐体側クランプ部50を上から閉じた状態で、2本のチューブの接合中に開かないようにして、確実に機械的に固定することができる。   As shown in FIG. 6, with the clamp lid portion 3 opened from the housing 2, the user holds the clamp operation portion 31 with his finger and rotates about the central axis CL in the direction of the arrow RS. As shown in FIG. 1, the clamp plate 30 can cover the housing side clamp portion 50 from above. Then, as shown in FIG. 1, the user holds the clamp operation unit 31 with his / her finger and rotates it around the central axis CL2 in the direction of the arrow RG, so that the two engaging claws 31M shown in FIG. It is possible to engage with the protruding portion 33 at the position where it is to be engaged. Thereby, the clamp lid part 3 can be reliably fixed mechanically so as not to open during the joining of the two tubes in a state in which the casing side clamp part 50 on the casing 2 side is closed from above. it can.

次に、図6と図7を参照して、クランプ板30の内側に配置された要素の例と、筐体側クランプ部50の内側に配置された要素の例を説明する。
クランプ板30の内側には、第1チューブ押さえ部材35と、収容部材36と、収容部材37が配置されている。第1チューブ押さえ部材35と収容部材36と収容部材37はプラスチック製であり、第1チューブ押さえ部材35と収容部材36の間には隙間38が設けられている。収容部材36は、凹部36A、凹部36Bを有している。同様にして、収容部材37は、凹部37A、凹部37Bを有している。
Next, an example of elements arranged inside the clamp plate 30 and an example of elements arranged inside the casing-side clamp unit 50 will be described with reference to FIGS.
Inside the clamp plate 30, a first tube pressing member 35, a storage member 36, and a storage member 37 are arranged. The first tube pressing member 35, the housing member 36 and the housing member 37 are made of plastic, and a gap 38 is provided between the first tube pressing member 35 and the housing member 36. The housing member 36 has a recess 36A and a recess 36B. Similarly, the housing member 37 has a recess 37A and a recess 37B.

これに対して、筐体側クランプ部50の内側には、第1チューブ挟み込み部51と、第2チューブ挟み込み部52とを有している。第1チューブ挟み込み部51は、第1突起51Aと第2突起51Bを有している。第1突起51Aと第2突起51Bは、図5に示す第1チューブT1と第2チューブT2を潰さないようにして挟み込むための図6に示す挟み込み間隔SDをおいて対面して配置されている。同様にして、第2チューブ挟み込み部52は、第1突起52Aと第2突起52Bを有している。第1突起52Aと第2突起52Bは、図5に示す第1チューブT1と第2チューブT2を潰さないようにして挟み込むための図6に示す挟み込み間隔SDをおいて対面して配置されている。   On the other hand, the housing side clamp part 50 has a first tube sandwiching part 51 and a second tube sandwiching part 52 inside. The first tube sandwiching portion 51 has a first protrusion 51A and a second protrusion 51B. The first protrusion 51A and the second protrusion 51B are arranged to face each other with a sandwiching interval SD shown in FIG. 6 for sandwiching the first tube T1 and the second tube T2 shown in FIG. . Similarly, the second tube sandwiching portion 52 has a first protrusion 52A and a second protrusion 52B. The first protrusion 52A and the second protrusion 52B are arranged to face each other with a sandwiching interval SD shown in FIG. 6 for sandwiching the first tube T1 and the second tube T2 shown in FIG. 5 without being crushed. .

図1に示すようにクランプ蓋部3を閉じた状態では、図7に示す第1チューブ挟み込み部51の第1突起51Aと第2突起51Bは、図7に示す対応する凹部37A、37Bにそれぞれ収納される。同様にして、図7に示す第2チューブ挟み込み部52の第1突起52Aと第2突起52Bは、図7に示す対応する凹部36A、36Bにそれぞれ収納される。
第1チューブ挟み込み部51と第2チューブ挟み込み部52の間には、第2チューブ押さえ部材53が配置されている。この第2チューブ押さえ部材53は、クランプ板30側の第1チューブ押さえ部材35に対応する位置にある。第1チューブ押さえ部材35と第2チューブ押さえ部材53は、それぞれ半円筒形状を有している。図1に示すようにクランプ蓋部3を閉じた状態では、図7に示す第2チューブ押さえ部材53とクランプ板30側の第1チューブ押さえ部材35が重なる。このため、第1チューブ押さえ部材35と第2チューブ押さえ部材53は、第1チューブT1と第2チューブT2を収容可能な円筒部材を構成することができる。第1チューブ押さえ部材35と収容部材37は一体化した部材であり、同様にして、第2チューブ押さえ部材53と第1チューブ挟み込み部51は一体化した部材である。
When the clamp lid 3 is closed as shown in FIG. 1, the first protrusion 51 </ b> A and the second protrusion 51 </ b> B of the first tube sandwiching portion 51 shown in FIG. 7 respectively correspond to the corresponding recesses 37 </ b> A and 37 </ b> B shown in FIG. 7. Stored. Similarly, the first protrusion 52A and the second protrusion 52B of the second tube sandwiching portion 52 shown in FIG. 7 are housed in the corresponding recesses 36A and 36B shown in FIG. 7, respectively.
Between the 1st tube clamping part 51 and the 2nd tube clamping part 52, the 2nd tube pressing member 53 is arrange | positioned. The second tube pressing member 53 is in a position corresponding to the first tube pressing member 35 on the clamp plate 30 side. Each of the first tube pressing member 35 and the second tube pressing member 53 has a semi-cylindrical shape. As shown in FIG. 1, when the clamp lid 3 is closed, the second tube pressing member 53 shown in FIG. 7 and the first tube pressing member 35 on the clamp plate 30 side overlap. For this reason, the 1st tube pressing member 35 and the 2nd tube pressing member 53 can comprise the cylindrical member which can accommodate 1st tube T1 and 2nd tube T2. The first tube pressing member 35 and the housing member 37 are integrated members. Similarly, the second tube pressing member 53 and the first tube sandwiching portion 51 are integrated members.

図7に示すように、例えば第1チューブ押さえ部材35と第2チューブ押さえ部材53の周囲にはギア55が形成されており、クランプモータ56のギア56Gとかみ合っている。これにより、クランプモータ56が制御部100の指令により作動してギア56Gを回転すると、第1チューブ押さえ部材35と第2チューブ押さえ部材53は、収容部材37と第1チューブ挟み込み部51と一体になって、溶断した後の第1チューブT1と第2チューブT2を保持したままで、180度正回転し、180度逆回転することができる。
このため、溶断した後の第1チューブT1の端部の位置と第2チューブT2の端部の位置は、180度上下逆転できる。これにより、溶断した前では、第2チューブT2が上側で、第1チューブT1が下側に位置している状態から、溶断した後は、第1チューブT1の溶断した端部が上側に位置し、第2チューブT2の溶断した端部が下側に位置している状態に変えることができる。
As shown in FIG. 7, for example, a gear 55 is formed around the first tube pressing member 35 and the second tube pressing member 53, and meshes with the gear 56 </ b> G of the clamp motor 56. As a result, when the clamp motor 56 is actuated by a command from the control unit 100 to rotate the gear 56G, the first tube pressing member 35 and the second tube pressing member 53 are integrated with the housing member 37 and the first tube sandwiching portion 51. Thus, the first tube T1 and the second tube T2 after being melted can be kept rotating 180 degrees forward and 180 degrees reverse.
For this reason, the position of the end portion of the first tube T1 after the fusing and the position of the end portion of the second tube T2 can be reversed up and down by 180 degrees. As a result, the melted end of the first tube T1 is located on the upper side after the second tube T2 is located on the upper side and the first tube T1 is located on the lower side before the fusing. The melted end of the second tube T2 can be changed to a lower position.

図7に示すように、第2チューブ押さえ部材53と第2チューブ挟み込み部52の間には、ウェハーWが挿入できるウェハー挿入用の隙間57が形成されている。
図8は、クランプ蓋部3の内部構造例と、筐体側クランプ部50の内部構造例を示す別の角度から見た斜視図である。クランプ蓋部3の収容部材36と筐体側クランプ部50の第2チューブ挟み込み部52は、2本のチューブT1、T2を挟み込んで固定するための固定クランプユニット71を構成している。
この固定クランプユニット71に対して、クランプ蓋部3の第1チューブ押さえ部材35と収容部材37と、筐体側クランプ部50の第2チューブ押さえ部材53と第1チューブ挟み込み部51は、可動クランプユニット72を構成している。可動クランプユニット72と固定クランプユニット71は、2本のチューブT1、T2を挟み込んで固定しそして溶断した後に、可動クランプユニット72は、固定部分である固定クランプユニット71に対して、2本のチューブT1、T2を180度回転させるための可動部分である。
As shown in FIG. 7, a wafer insertion gap 57 into which the wafer W can be inserted is formed between the second tube pressing member 53 and the second tube sandwiching portion 52.
FIG. 8 is a perspective view showing another example of the internal structure of the clamp lid part 3 and another example of the internal structure of the housing side clamp part 50 as seen from another angle. The housing member 36 of the clamp lid part 3 and the second tube sandwiching part 52 of the housing side clamp part 50 constitute a fixed clamp unit 71 for sandwiching and fixing the two tubes T1 and T2.
With respect to the fixed clamp unit 71, the first tube pressing member 35 and the accommodating member 37 of the clamp lid portion 3, the second tube pressing member 53 of the housing side clamp portion 50, and the first tube sandwiching portion 51 are movable clamp units. 72 is constituted. After the movable clamp unit 72 and the fixed clamp unit 71 are fixed by sandwiching the two tubes T1 and T2, the movable clamp unit 72 has two tubes with respect to the fixed clamp unit 71 which is a fixed portion. It is a movable part for rotating T1 and T2 by 180 degrees.

図8に示すように、筐体2の上面部2Fは、左右の斜面部分2P、2Rを有している。この斜面部分2Pには、透析液バッグ側の第1チューブT1を入れ込む側が表示ラベル2Xにより表示されている。斜面部分2Rには、腹腔内側の第2チューブT2を入れ込む側が表示ラベル2Yにより表示されている。腹腔内側の第2チューブT2は第1チューブT1よりも上に重ねて配置させる。
図6と図8に示すように、操作パネル部7の付近であって、図7に示す隙間57の延長した位置には、使用済みのウェハーWFを取り出すためのウェハーの取出し部58が設けられている。この使用済みのウェハーWFの取出し部58を、ウェハーWFが通る隙間57の延長線上に設けることにより、使用者は、ウェハーの取出し部58に案内された使用済みのウェハーWFを、指で摘んで容易に取り出すことができる。
As shown in FIG. 8, the upper surface portion 2F of the housing 2 has left and right slope portions 2P, 2R. On the inclined surface portion 2P, the side into which the first tube T1 on the dialysate bag side is inserted is indicated by a display label 2X. In the slope portion 2R, the side into which the second tube T2 inside the abdominal cavity is inserted is displayed by a display label 2Y. The second tube T2 on the inner side of the abdominal cavity is disposed so as to overlap above the first tube T1.
As shown in FIGS. 6 and 8, a wafer take-out portion 58 for taking out a used wafer WF is provided in the vicinity of the operation panel portion 7 and at an extended position of the gap 57 shown in FIG. ing. By providing the used wafer WF take-out portion 58 on an extension line of the gap 57 through which the wafer WF passes, the user picks up the used wafer WF guided by the wafer take-out portion 58 with a finger. It can be easily taken out.

図8に示すように、使用済みのウェハーWFの取出し部58の付近には、円形の穴59が形成されており、棒状のインターロックピン60が、この穴59に配置されている。インターロックピン60は例えば電磁駆動式のソレノイド61のロッドであり、ソレノイド61は制御部100の指令により、破線で示す状態から実線で示す状態にZ1方向に上昇する。これにより、インターロックピン60は、クランプ操作部31の前端部を押さえることで、例えば2本のチューブを溶断して接合している最中に、クランプ蓋部3が開かないようにして図1に示す閉じた状態を保持できるようになっている。   As shown in FIG. 8, a circular hole 59 is formed in the vicinity of the take-out portion 58 of the used wafer WF, and a bar-shaped interlock pin 60 is disposed in the hole 59. The interlock pin 60 is a rod of an electromagnetically driven solenoid 61, for example, and the solenoid 61 is raised in the Z1 direction from a state indicated by a broken line to a state indicated by a solid line in response to a command from the control unit 100. Accordingly, the interlock pin 60 holds the front end portion of the clamp operation portion 31 so that the clamp lid portion 3 is not opened while, for example, two tubes are melted and joined. The closed state shown in FIG.

図9は、図7に示すクランプ蓋部3の内部構造と筐体側クランプ部50の内部構造を拡大して示す斜視図である。図10は、筐体側クランプ部50の内部構造を別の角度から拡大して示す斜視図である。
図9と図10に示すように、第2チューブ挟み込み部52の第1突起52Aと第2突起52Bの間の底部には、円形の穴部74が形成されており、この穴部74には、チューブ検出ピン75が露出されている。2本のチューブT1、T2が、第1突起51Aと第2突起51Bの間のはめ込み溝51Cと、第1突起52Aと第2突起52Bの間のはめ込み溝52Cにはめ込まれると、このチューブ検出ピン75は、図9と図10の紙面下方向に押し下げられることから、2本のチューブT1、T2が正確にはめ込まれたことを検出できるようにするために設けられている。
FIG. 9 is an enlarged perspective view showing the internal structure of the clamp lid part 3 and the internal structure of the housing side clamp part 50 shown in FIG. FIG. 10 is a perspective view showing the internal structure of the housing side clamp part 50 in an enlarged manner from another angle.
As shown in FIGS. 9 and 10, a circular hole 74 is formed at the bottom between the first protrusion 52 </ b> A and the second protrusion 52 </ b> B of the second tube sandwiching part 52. The tube detection pin 75 is exposed. When the two tubes T1 and T2 are fitted into the fitting groove 51C between the first protrusion 51A and the second protrusion 51B and the fitting groove 52C between the first protrusion 52A and the second protrusion 52B, this tube detection pin 75 is provided in order to be able to detect that the two tubes T1 and T2 have been fitted correctly, since 75 is pushed down in the direction of the page of FIG. 9 and FIG.

図11は、無菌接合装置1の筐体2内に配置されている構成要素の概略の配置例を示す斜視図である。
図11に示すように、筐体2内には、メイン基板80と、DC入力基板81と、ウェハーカセット収納ユニット82と、ウェハー送りユニット83と、固定クランプユニット71と、可動クランプユニット72と、ソレノイド61と、スピーカSPと、ファンFNと、そしてバッテリBAが収容されている。DC入力基板81は、メイン基板80からできる限り離して配置されていることにより、DC入力基板81からのノイズがメイン基板80に搭載されている回路要素に対して影響を与えないようにしている。
FIG. 11 is a perspective view showing a schematic arrangement example of components arranged in the housing 2 of the aseptic joining apparatus 1.
As shown in FIG. 11, in the housing 2, a main substrate 80, a DC input substrate 81, a wafer cassette storage unit 82, a wafer feed unit 83, a fixed clamp unit 71, a movable clamp unit 72, A solenoid 61, a speaker SP, a fan FN, and a battery BA are accommodated. The DC input board 81 is arranged as far as possible from the main board 80, so that noise from the DC input board 81 does not affect circuit elements mounted on the main board 80. .

図12は、無菌接合装置1の電気ブロックを示している。
図12に示す電気ブロックの例では、マイクロコンピュータなどのCPUとCPUにより実行される装置全体の制御プログラムや各種データを記憶するROMとワークエリアとして測定データや各種データを一時的に記憶するRAMなどを備え、無菌接合装置1全体の動作・判断を司る制御部100を有しており、制御部100は、DC入力基板81側のバッテリBAから電源供給を受ける。DC入力基板81は、ジャック84と、切り替えスイッチ85を有しており、ジャック84は、充電器86の接続ピン86Pを接続することで、商用交流電源から交流/直流変換した所定のDC電源を受けることができる。充電器86とジャック84は、図1にも示している。図12の切り替えスイッチ85は、ジャック84とバッテリBAを接続可能であり、充電器86からのDC電源は、バッテリBAの充電に用いられる。そして、バッテリBAに充電されたDC電源は、制御部100に供給される。
図12に示すように、サーミスタ等の温度センサ87が制御部100に電気的に接続されており、この温度センサ87は筐体2の周囲の環境温度(外気温度)を検出して、制御部100に外気温度情報TFを供給する。これにより、制御部100は、外気温度情報TFに基づいて、2本のチューブを加熱する際に、外気温度が予め定めた温度よりも低い場合には、2本のチューブの加熱時間を長くするといった処理が行えるメリットがある。
また、環境温度をスピーカSPで患者に報知するようになっている。
FIG. 12 shows an electric block of the aseptic joining apparatus 1.
In the example of the electric block shown in FIG. 12, a CPU such as a microcomputer, a ROM for storing a control program for the entire apparatus executed by the CPU and various data, a RAM for temporarily storing measurement data and various data as a work area, and the like And has a control unit 100 that controls the operation and determination of the entire aseptic joining apparatus 1. The control unit 100 receives power from the battery BA on the DC input board 81 side. The DC input board 81 has a jack 84 and a changeover switch 85. The jack 84 connects a connection pin 86P of the charger 86, thereby allowing a predetermined DC power source obtained by AC / DC conversion from a commercial AC power source. Can receive. The charger 86 and jack 84 are also shown in FIG. The change-over switch 85 in FIG. 12 can connect the jack 84 and the battery BA, and the DC power source from the charger 86 is used for charging the battery BA. The DC power charged in the battery BA is supplied to the control unit 100.
As shown in FIG. 12, a temperature sensor 87 such as a thermistor is electrically connected to the control unit 100, and this temperature sensor 87 detects the ambient temperature (outside air temperature) around the housing 2, and controls the control unit 100. The outside air temperature information TF is supplied to 100. As a result, when the two tubes are heated based on the outside air temperature information TF and the outside air temperature is lower than a predetermined temperature, the control unit 100 lengthens the heating time of the two tubes. There is an advantage that can be processed.
Further, the environmental temperature is notified to the patient by the speaker SP.

図12に示すように、図4(A)に示す操作パネル部7の[電源スイッチ]ボタン7Bと、[接合]ボタン7Eと、[電源]ランプ7Cと[充電中]ランプ7Dと[接合]ランプ7Fと[ウェハー取り出し]ランプ7Gが、制御部100に電気的に接続されている。
図12に示すスピーカSPは、音声合成部88を介して制御部100に電気的に接続されており、スピーカSPは、制御部100の指令により予め決められている音声ガイダンス等を発生する。音量調整ボリューム22と、音声メッセージ切替えスイッチ23は、制御部100に電気的に接続されている。音声メッセージ切替えスイッチ23が「有」である場合には、音声ガイダンスをスピーカSPから出すことができ、音声メッセージ切替スイッチ23が「無」である場合には、図示しないブザーを鳴らすことができる。
図12に示す表示部8の[カバー閉じる]ランプ8Bと、[ウェハーカセット交換]ランプ8Cと、[ウェハー不良]ランプ8Dと、[要充電]ランプ8Eと、[室温不適]ランプ8Fと、[装置故障]ランプ8Gは、制御部100の指令により点灯または点滅するようになっている。
As shown in FIG. 12, the [Power switch] button 7B, [Join] button 7E, [Power] lamp 7C, [Charging] lamp 7D and [Join] on the operation panel unit 7 shown in FIG. The lamp 7F and the [wafer removal] lamp 7G are electrically connected to the control unit 100.
The speaker SP shown in FIG. 12 is electrically connected to the control unit 100 via the voice synthesis unit 88, and the speaker SP generates a voice guidance or the like that is determined in advance by a command from the control unit 100. The volume adjustment volume 22 and the voice message changeover switch 23 are electrically connected to the control unit 100. When the voice message selector switch 23 is “present”, voice guidance can be issued from the speaker SP, and when the voice message selector switch 23 is “none”, a buzzer (not shown) can be sounded.
[Close cover] lamp 8B, [Wafer cassette replacement] lamp 8C, [Wafer defective] lamp 8D, [Charge required] lamp 8E, [Inappropriate room temperature] lamp 8F, The apparatus failure] lamp 8G is lit or blinks according to a command from the control unit 100.

図12に示すインターロック60のソレノイド61は、図8に例示しているが、制御部100の指令により作動する。図8に例示するように、ソレノイド検出センサ89は、例えばフォトカプラを用いることができ、発光部89Aからの光89Lは受光部89Bに受光するようになっている。ソレノイド61のインターロック60が下端位置60Lにある場合には、インターロック60が破線で示すように発光部89Aからの光89Lを遮るので、受光部89Bは、制御部100に対して「クランプ蓋部3をインターロックしていないという信号」を供給する。これに対して、ソレノイド61のインターロック60が上端位置60Hにある場合には、インターロック60が実線で示すように発光部89Aからの光89Lを遮らないので、受光部89Bは、制御部100に対して「クランプ蓋部3をインターロックしているという信号」を供給する。これにより、制御部100は、クランプ蓋部3のロック状態あるいは非ロック状態を把握できる。   The solenoid 61 of the interlock 60 shown in FIG. 12 is illustrated in FIG. As illustrated in FIG. 8, for example, a photocoupler can be used as the solenoid detection sensor 89, and light 89L from the light emitting unit 89A is received by the light receiving unit 89B. When the interlock 60 of the solenoid 61 is at the lower end position 60L, the light receiving unit 89B prevents the light 89A from the light emitting unit 89A from blocking as shown by a broken line. A signal that the part 3 is not interlocked is supplied. On the other hand, when the interlock 60 of the solenoid 61 is at the upper end position 60H, the interlock 60 does not block the light 89L from the light emitting unit 89A as indicated by the solid line, so that the light receiving unit 89B includes the control unit 100. Is supplied with a “signal that the clamp lid 3 is interlocked”. Thereby, the control part 100 can grasp | ascertain the locked state or non-locking state of the clamp cover part 3. FIG.

図12に示す筐体側クランプ部50のホールセンサ90は、制御部100に電気的に接続されている。図10に例示するように、チューブ検出ピン75の先端部75Aは、2本のチューブT1、T2を受ける部分であり、チューブ検出ピン75の後端部75Bにはマグネット91が取り付けられている。チューブ検出ピン75の後端部75Bと筐体2の間には、チューブ検出ピン75をZ1方向に押し上げるためのスプリング92が配置されている。第1突起52Aと第2突起52Bの間のはめ込み溝52Cに、チューブT1とチューブT2の順番ではめ込まれると、チューブT1とチューブT2がチューブ検出ピン75をZ2方向にスプリング92の力に抗して押し込むことでチューブ検出ピン75が下がるので、ホールセンサ90がマグネット91の磁力を検出する。
これにより、ホールセンサ90は制御部100に、「2本のチューブT1、T2が正しくはめ込まれたこと」を通知する。もし、チューブT1とチューブT2がはめ込み溝52Cに十分にはめ込まれていないか、あるいはどちらか1本のチューブだけがはめ込まれている場合には、ホールセンサ90がマグネット91の磁力を検出できず、ホールセンサ90は制御部100に、「2本のチューブT1、T2が正しくはめ込まれていないこと」を通知する。
The hall sensor 90 of the housing side clamp unit 50 illustrated in FIG. 12 is electrically connected to the control unit 100. As illustrated in FIG. 10, the distal end portion 75A of the tube detection pin 75 is a portion that receives two tubes T1 and T2, and a magnet 91 is attached to the rear end portion 75B of the tube detection pin 75. Between the rear end portion 75B of the tube detection pin 75 and the housing 2, a spring 92 for pushing up the tube detection pin 75 in the Z1 direction is disposed. When the tube T1 and the tube T2 are fitted in the fitting groove 52C between the first projection 52A and the second projection 52B in the order of the tube T1 and the tube T2, the tube T1 and the tube T2 resist the force of the spring 92 in the Z2 direction against the force of the spring 92. Since the tube detection pin 75 is lowered by pushing in, the Hall sensor 90 detects the magnetic force of the magnet 91.
Thereby, the Hall sensor 90 notifies the control unit 100 that “the two tubes T1 and T2 have been properly fitted”. If the tubes T1 and T2 are not sufficiently fitted in the fitting groove 52C, or if only one of the tubes is fitted, the Hall sensor 90 cannot detect the magnetic force of the magnet 91, The hall sensor 90 notifies the control unit 100 that “the two tubes T1 and T2 are not properly fitted”.

図12に示すように、筐体側クランプ部50は、マイクロスイッチ93を有しており、マイクロスイッチ93は、クランプ蓋部3の閉状態を検出するセンサである。マイクロスイッチ93は、図6に示すようにクランプ蓋部3のクランプ操作部31を指で持って、矢印RS方向に中心軸CLを中心にして回転することで、図1に示すようにクランプ板30が、筐体側クランプ部50を閉じたことを検知する。
図12に示すウェハーカセット収納ユニット82は、ウェハー有無センサ101と、ウェハー残量検出センサ102を有している。ウェハー有無センサ101は、図1に示すウェハーカセットWC内にウェハーWFが残っているか残っていないかを検出するセンサである。ウェハー残量検出センサ102は、図1に示すウェハーカセットWC内に何枚のウェハーWFが残っているか、すなわちウェハーWFの残枚数を検出するセンサである。ウェハー有無センサ101と、ウェハー残量検出センサ102は例えばフォトセンサ等を採用できる。ウェハーWFは、チューブT1、T2を溶断するための加熱用板部材の例である。
As illustrated in FIG. 12, the housing-side clamp unit 50 includes a micro switch 93, and the micro switch 93 is a sensor that detects the closed state of the clamp lid unit 3. As shown in FIG. 1, the micro switch 93 holds the clamp operation part 31 of the clamp lid part 3 with a finger as shown in FIG. 6 and rotates around the central axis CL in the direction of the arrow RS. 30 detects that the housing side clamp part 50 has been closed.
A wafer cassette storage unit 82 shown in FIG. 12 includes a wafer presence / absence sensor 101 and a wafer remaining amount detection sensor 102. The wafer presence / absence sensor 101 is a sensor that detects whether or not the wafer WF remains or remains in the wafer cassette WC shown in FIG. The remaining wafer detection sensor 102 is a sensor that detects how many wafers WF are left in the wafer cassette WC shown in FIG. 1, that is, the remaining number of wafers WF. For example, a photo sensor or the like can be adopted as the wafer presence / absence sensor 101 and the wafer remaining amount detection sensor 102. The wafer WF is an example of a heating plate member for fusing the tubes T1 and T2.

図12に示すウェハー送りユニット83は、図1に示すウェハーカセットWC内のウェハーWFを、ウェハーカセットWC内から図7に示す待機ポジションPS1まで直線移動するためのユニットである。図12に示すウェハー送りユニット83は、モータ103、モータドライブ104、前進端センサ105、中間センサ106、そして後進端センサ107を有する。モータドライブ102が制御部100の指令を受けると、モータドライブ102は、モータ103を駆動することで、ウェハーWFはウェハーカセットWC内から図7に示す待機ポジションPS1まで直線移動する。前進端センサ105と中間センサ106と後進端センサ107は、直線移動するウェハーWFの前進端位置、中間位置、そして後進端位置をそれぞれ検出して制御部100に通知する。   The wafer feed unit 83 shown in FIG. 12 is a unit for linearly moving the wafer WF in the wafer cassette WC shown in FIG. 1 from the wafer cassette WC to the standby position PS1 shown in FIG. The wafer feed unit 83 shown in FIG. 12 includes a motor 103, a motor drive 104, a forward end sensor 105, an intermediate sensor 106, and a reverse end sensor 107. When the motor drive 102 receives a command from the control unit 100, the motor drive 102 drives the motor 103, so that the wafer WF moves linearly from the wafer cassette WC to the standby position PS1 shown in FIG. The forward end sensor 105, the intermediate sensor 106, and the reverse end sensor 107 detect the forward end position, the intermediate position, and the reverse end position of the wafer WF that moves linearly, and notify the control unit 100 of them.

図12に示すように、制御部100は、ウェハー加熱ヒータ110、モータドライブ111、カムモータセンサ112、クランプモータセンサ113、マイクロスイッチ114、ウェハー電流検出部115、ウェハー電圧検出部116、ファンFNに電気的に接続されている。モータドライブ111が制御部100の指令を受けると、モータドライブ111は、カムモータ117やクランプモータ56を駆動する。
ウェハー加熱ヒータ110は、制御部100からの通電によりウェハーを加熱する。この通電の際には、ウェハー電流検出部115は、ウェハーに供給されているウェハー電流値を検出し、ウェハー電圧検出部116は、ウェハーに供給されているウェハー電圧値を検出する。
As shown in FIG. 12, the control unit 100 includes a wafer heater 110, a motor drive 111, a cam motor sensor 112, a clamp motor sensor 113, a micro switch 114, a wafer current detection unit 115, a wafer voltage detection unit 116, and a fan FN. Electrically connected. When the motor drive 111 receives a command from the control unit 100, the motor drive 111 drives the cam motor 117 and the clamp motor 56.
Wafer heater 110 heats the wafer by energization from control unit 100. During this energization, the wafer current detection unit 115 detects the wafer current value supplied to the wafer, and the wafer voltage detection unit 116 detects the wafer voltage value supplied to the wafer.

カムモータ117は、ウェハーを上下移動させる動作と、2本のチューブを寄せる動作を行う。このカムモータ117が行うウェハーを上下移動させる動作とは、図7に示すウェハーWFを待機ポジションPS1からその上の溶断ポジションPS2に上昇させ、逆にウェハーWFを溶断ポジションPS2から待機ポジションPS1に下降させる動作である。また、カムモータ117が行う2本のチューブを寄せる動作とは、ウェハーを溶断ポジションPS2から待機ポジションPS1に下げて待機させた後に、チューブT1の溶断した端部とチューブT2の溶断した端部を、相手方のチューブT2の溶断した端部と相手方のチューブT1の溶断した端部に対してそれぞれ寄せて加圧して接合する動作である。クランプモータ56は、図7に例示した可動クランプユニット72の180度の回転と、180度回転した後の復帰回転を行う。カムモータセンサ112は、カム位置と原点を検出する例えばフォトセンサである。クランプモータセンサ113は、可動クランプユニット72の回転時の原点を検出する例えばフォトセンサである。   The cam motor 117 performs an operation for moving the wafer up and down and an operation for bringing the two tubes together. The operation of moving the wafer up and down by the cam motor 117 is to raise the wafer WF shown in FIG. 7 from the standby position PS1 to the fusing position PS2 above it, and conversely lower the wafer WF from the fusing position PS2 to the standby position PS1. Is the action. Also, the operation of the cam motor 117 to move the two tubes refers to lowering the wafer from the fusing position PS2 to the standby position PS1 and waiting, and then cutting the fusing end of the tube T1 and the fusing end of the tube T2. In this operation, the melted end portion of the counterpart tube T2 and the melted end portion of the counterpart tube T1 are respectively pressed and joined together. The clamp motor 56 performs a 180 degree rotation of the movable clamp unit 72 illustrated in FIG. 7 and a return rotation after the 180 degree rotation. The cam motor sensor 112 is, for example, a photo sensor that detects a cam position and an origin. The clamp motor sensor 113 is, for example, a photo sensor that detects an origin when the movable clamp unit 72 is rotated.

図13は、筐体2のウェハーカセット挿入部20とウェハーカセット取り出しボタン21の付近と、ウェハーカセットWCを示している。ウェハーカセット挿入部20とウェハーカセット取り出しボタン21は、図11に示すウェハーカセット収納ユニット82に配置されている。
図14は、ウェハーカセット挿入部20とウェハーカセット取り出しボタン21と、ウェハーカセットWCを示す図である。図15(A)は、ウェハーカセットWCの下面を示し、図15(B)は、ウェハーカセットWCの上面側を示す斜視図である。
FIG. 13 shows the vicinity of the wafer cassette insertion portion 20 and the wafer cassette takeout button 21 of the housing 2 and the wafer cassette WC. The wafer cassette insertion portion 20 and the wafer cassette takeout button 21 are arranged in the wafer cassette storage unit 82 shown in FIG.
FIG. 14 is a diagram showing the wafer cassette insertion portion 20, the wafer cassette takeout button 21, and the wafer cassette WC. FIG. 15A shows the lower surface of the wafer cassette WC, and FIG. 15B is a perspective view showing the upper surface side of the wafer cassette WC.

図13(A)に示すように、ウェハーカセットWCの上面部120には、挿入方向を示す矢印21Yが設けられている。使用者がウェハーカセットWCを矢印21Yに従って、図13(B)に示すようにウェハーカセット挿入部20内に挿入する。その後、ウェハーを使用したことでウェハーカセットWC内のウェハーが無くなると、使用者は図13(C)に示すようにウェハーカセット取り出しボタン21を指で押すことにより、空のウェハーカセットWCをウェハーカセット挿入部20内から取り出すことができる。   As shown in FIG. 13A, the upper surface 120 of the wafer cassette WC is provided with an arrow 21Y indicating the insertion direction. The user inserts the wafer cassette WC into the wafer cassette insertion portion 20 as shown in FIG. 13B according to the arrow 21Y. After that, when the wafers are used up and there are no more wafers in the wafer cassette WC, the user presses the wafer cassette take-out button 21 with a finger as shown in FIG. 13C, so that the empty wafer cassette WC is removed. It can be taken out from the insertion portion 20.

図14と図15と図16を参照して、ウェハーカセットWCの構造例を説明する。図16(A)は、ウェハーカセットWCの側面図であり、図16(B)は、図16(A)のウェハーカセットWCを矢印127から見た平面図である。
ウェハーカセットWCは、複数枚のウェハーWFを収容するための容器であり、内部のウェハーWFを目視で確認できるようにするために、好ましくは透明のプラスチックにより作られている。ウェハーカセットWCは、上面部120と、底面部121と、正面部122と、側面部123,124と、背面部125により構成されている。図16に示すように、正面部122の内面122Nには、先端のウェハーWF(WF1で示す)が位置されているが、図16(B)に示すように、この先端のウェハーWF1に対して押し出し用の部材126をY1方向に押し付けることで、先端の1枚のウェハーWF1は、1枚ずつウェハーカセットWCの内部からY1方向に沿って、図7に示す待機ポジションPS1に向けて押し出すことができるようになっている。
A structure example of the wafer cassette WC will be described with reference to FIGS. 16A is a side view of the wafer cassette WC, and FIG. 16B is a plan view of the wafer cassette WC of FIG.
Wafer cassette WC is a container for accommodating a plurality of wafers WF, and is preferably made of a transparent plastic so that the internal wafers WF can be visually confirmed. Wafer cassette WC includes upper surface portion 120, bottom surface portion 121, front surface portion 122, side surface portions 123 and 124, and back surface portion 125. As shown in FIG. 16, the front wafer WF (indicated by WF1) is positioned on the inner surface 122N of the front portion 122. As shown in FIG. By pushing the pushing member 126 in the Y1 direction, one wafer WF1 at the tip can be pushed one by one from the inside of the wafer cassette WC along the Y1 direction toward the standby position PS1 shown in FIG. It can be done.

図14と図15(A)に示すように、ウェハーカセットWCの内部には、2本のスプリング128とスプリング受け部材129が収容されている。2本のスプリングの各一端部は、背面部125の内面125Nに支持され、2本のスプリングの各他端部は、スプリング受け部材129に支持されている。スプリング受け部材129は、各スプリング128がずれないようにするための位置ずれ防止部130が形成されている。
これにより、2本のスプリング128は、スプリング受け部材129を介して、複数枚のウェハーWCを正面部122の内面122Nに対して押し付けることができる。このため、先端のウェハーWF1に対して押し出し用の部材126をY1方向に押し付けることで、先端の1枚のウェハーWFだけをウェハーカセットWC内から確実にY1方向に沿って取り出すことができる。
図14に示すように、ウェハーWFは、図12に示すウェハー加熱ヒータ110により加熱される長方形状でほぼ銅製の金属板(厚み:0.3mm程度,幅:34mm程度,高さ13mm程度)であり、2つの接点131を有している。
As shown in FIGS. 14 and 15A, two springs 128 and a spring receiving member 129 are accommodated in the wafer cassette WC. One end portions of the two springs are supported by the inner surface 125N of the back surface portion 125, and the other end portions of the two springs are supported by the spring receiving member 129. The spring receiving member 129 is formed with a misalignment prevention unit 130 for preventing the springs 128 from shifting.
Accordingly, the two springs 128 can press the plurality of wafers WC against the inner surface 122N of the front portion 122 via the spring receiving member 129. Therefore, by pressing the pushing member 126 against the leading wafer WF1 in the Y1 direction, only one leading wafer WF can be reliably taken out from the wafer cassette WC along the Y1 direction.
As shown in FIG. 14, the wafer WF is a rectangular and substantially copper metal plate (thickness: about 0.3 mm, width: about 34 mm, height about 13 mm) heated by the wafer heater 110 shown in FIG. Yes, it has two contacts 131.

次に、図1から図3を参照して、チューブセット補助具4について説明する。
チューブセット補助具4は、筐体2に対して使用者が必要に応じて取り付けることができる。チューブセット補助具4は、後で説明するように、使用者が図13(C)に例示するように、2本のチューブT1、T2を筐体側クランプ部50に挟み込んで固定する作業を確実に行えるようにガイドの役割を果たす。これにより、図13(C)に示すように、使用者は、2本のチューブT1、T2を挟み込んで固定する場合に、その作業を迷わずに確実に行える。
Next, the tube setting auxiliary tool 4 will be described with reference to FIGS. 1 to 3.
The tube set auxiliary tool 4 can be attached to the housing 2 as needed by the user. As will be described later, the tube set auxiliary tool 4 reliably performs the work of sandwiching and fixing the two tubes T1 and T2 in the housing side clamp portion 50 as illustrated in FIG. 13C. Act as a guide so you can do it. Accordingly, as shown in FIG. 13C, when the user sandwiches and fixes the two tubes T1 and T2, the user can reliably perform the work without hesitation.

図2と図3に示すように、チューブセット補助具4は、第1側部135と、第2側部136と、裏面連結部137を有している。
図2(A)に示すように、第1側部135は、爪部分135Aと、分岐部135B、135Cを有している。爪部分135Aは、筐体2の操作パネル部7の付近にかみ合っている。図2(B)に示すように、第2側部136は、爪部分136Aと、分岐部136B、136Cと、チューブを受けるためのU字型の受け部138を有している。爪部分136Aは、筐体2の操作パネル部7の付近にかみ合っている。受け部138は、図13(C)に示すように、2本のチューブT1、T2を受けるようになっている。図2(B)に示すように、分岐部136Bと136Cの間に空間を設けることにより、音量調整ボリューム22を露出させることができ、使用者が音量調整ボリューム22を操作し易い。
As shown in FIGS. 2 and 3, the tube setting assisting tool 4 has a first side portion 135, a second side portion 136, and a back surface connecting portion 137.
As shown in FIG. 2A, the first side portion 135 has a claw portion 135A and branch portions 135B and 135C. The claw portion 135A meshes with the vicinity of the operation panel portion 7 of the housing 2. As shown in FIG. 2B, the second side portion 136 has a claw portion 136A, branch portions 136B and 136C, and a U-shaped receiving portion 138 for receiving a tube. The claw portion 136 </ b> A is engaged with the vicinity of the operation panel portion 7 of the housing 2. The receiving part 138 receives two tubes T1 and T2 as shown in FIG. As shown in FIG. 2B, by providing a space between the branch portions 136B and 136C, the volume adjustment volume 22 can be exposed, and the user can easily operate the volume adjustment volume 22.

図3に示すように、裏面連結部137は、第1連結部分137Aと第2連結部分137Bを有している。第1連結部分137Aには、設置用部材2Gを通す開口部137Cが形成されている。第2連結部分137Bには、設置用部材2Gの高さに合わせた突起部137Dが設けられている。これにより、筐体2は、4つの設置用部材2Gと2つの突起部137Dにより、例えば机面等に対して、所定間隔だけ浮かせた状態で設置することができる。
しかも、第1連結部分137Aと第2連結部分137Bの間には、排気用開口部6と音声用開口部5を露出させるために、チューブセット補助具4には、排気装置であるファンFNの排気用開口部6と、スピーカSP用の音声用開口部5を開放する開放部分144が形成されている。これにより、ファンFNは、筐体2の内部の気体や熱を、開口部6を通じて筐体2の外部に確実に放出できる。また、スピーカSPが発生する音声ガイダンスや警告音等は、開口部5を通じて筐体2の外部に確実に出力できるので、音声ガイダンスや警告音等がこもらずに聞き易い。
As shown in FIG. 3, the back surface connection part 137 has the 1st connection part 137A and the 2nd connection part 137B. An opening 137C through which the installation member 2G is passed is formed in the first connection portion 137A. The second connecting portion 137B is provided with a protrusion 137D that matches the height of the installation member 2G. Thereby, the housing | casing 2 can be installed in the state which floated only the predetermined space | interval, for example with respect to the desk surface etc. with the four installation members 2G and the two protrusion parts 137D.
Moreover, in order to expose the exhaust opening 6 and the sound opening 5 between the first connection portion 137A and the second connection portion 137B, the tube set auxiliary tool 4 includes a fan FN serving as an exhaust device. An opening portion 144 that opens the exhaust opening 6 and the sound opening 5 for the speaker SP is formed. Thereby, the fan FN can reliably release the gas and heat inside the housing 2 to the outside of the housing 2 through the opening 6. Also, since the voice guidance, warning sound, etc. generated by the speaker SP can be reliably output to the outside of the housing 2 through the opening 5, it is easy to hear without voice guidance, warning sound, etc.

次に、図17を参照して、ファンFNと、筐体側クランプ部50における2本のチューブT1、T2とウェハーWFとの位置関係例を説明する。図17は、ファンFNと、筐体側クランプ部50における2本のチューブT1、T2とウェハーWFとの位置関係の例を示す概略を示す側面図である。
図17に示すように、ウェハーカセットWC内のウェハーWFは、図11に示すウェハー送りユニット83を作動させることにより、図17に示すウェハーカセットWC内からY1方向に送られ、図7に示す待機ポジションPS1に位置させることができる。ウェハーWFが待機ポジションPS1に位置されると、ウェハーWFの2つの接点131は、ウェハー加熱ヒータ110に接続され、ウェハー加熱ヒータ110は制御部100の指令により通電されることで発熱するので、ウェハーWFは加熱される。
Next, with reference to FIG. 17, an example of the positional relationship between the fan FN and the two tubes T1, T2 and the wafer WF in the housing side clamp unit 50 will be described. FIG. 17 is a side view schematically illustrating an example of the positional relationship between the fan FN, the two tubes T1 and T2 in the housing-side clamp unit 50, and the wafer WF.
As shown in FIG. 17, the wafer WF in the wafer cassette WC is sent in the Y1 direction from the wafer cassette WC shown in FIG. 17 by operating the wafer feed unit 83 shown in FIG. It can be located at position PS1. When the wafer WF is positioned at the standby position PS1, the two contact points 131 of the wafer WF are connected to the wafer heater 110, and the wafer heater 110 generates heat when energized by a command from the control unit 100. WF is heated.

図7に示す第1突起52Aと第2突起52Bの間のはめ込み溝52Cには、2本のチューブT1、T2がZ2方向に積みかさねてはまり込んでおり、発熱するウェハーWFのほぼ下部の位置には、ファンFNが配置されている。
図17に示すウェハーWFが待機ポジションPS1から溶断ポジションPS2に上昇されて、ウェハーWFが2本のチューブT1、T2を溶断して接合する際に、2本のチューブT1、T2から可塑剤のガスが発生する。
このように可塑剤のガスが発生しても、この可塑剤のガスは、ファンFNの回転駆動により、太い矢印MYで示す排出経路で示すように、底面部2Aの排気用開口部6から筐体2の外部に確実に排出できるようになっている。図12に示すカムモータ117は、ウェハーWFを待機ポジションPS1から溶断ポジションPS2にZ1方向に沿って上昇させる動作と、逆にウェハーWFを溶断ポジションPS2から待機ポジションPS1にZ2方向に下降させる動作を行う。しかも、カムモータ117は、ウェハーを溶断ポジションPS2から待機ポジションPS1に下げて待機させた後に、チューブT1の溶断した端部とチューブT2の溶断した端部を、相手方のチューブT2の溶断した端部と相手方のチューブT1の溶断した端部に対してそれぞれ寄せて加圧して接合する動作を行う。
In the fitting groove 52C between the first protrusion 52A and the second protrusion 52B shown in FIG. 7, two tubes T1 and T2 are stacked and fitted in the Z2 direction, and the position is substantially below the wafer WF that generates heat. Is provided with a fan FN.
When the wafer WF shown in FIG. 17 is raised from the standby position PS1 to the fusing position PS2, and the wafer WF is fusing and joining the two tubes T1 and T2, the gas of the plasticizer is supplied from the two tubes T1 and T2. Occurs.
Even if the plasticizer gas is generated in this way, the plasticizer gas is opened from the exhaust opening 6 of the bottom surface portion 2A as indicated by the discharge path indicated by the thick arrow MY by the rotational drive of the fan FN. It can be reliably discharged to the outside of the body 2. The cam motor 117 shown in FIG. 12 performs an operation for raising the wafer WF from the standby position PS1 to the fusing position PS2 along the Z1 direction, and conversely, an operation for lowering the wafer WF from the fusing position PS2 to the standby position PS1 in the Z2 direction. . Moreover, the cam motor 117 lowers the wafer from the fusing position PS2 to the standby position PS1, and then waits for the fusing end of the tube T1 and the fusing end of the tube T2 to be fused with the fusing end of the other tube T2. An operation is performed in which the melted ends of the opposite tube T1 are pressed and joined together.

次に、上述した無菌接合装置1を用いて、図5に示す2本のチューブT1、T2を加熱溶融して加圧接合する作業を、図18から図20を中心に参照して説明する。図18は、チューブT1とチューブT2を筐体側クランプ部50側にはめ込む様子を示す図であり、図19は、チューブT2の前回の接合で形成された接合部を位置決め用の突起140の先端に合わせて押し込む様子を示す図である。図20は、2本のチューブT1、T2の無菌加熱接合の手順を示す図である。
図1に示すようにインターロック60はすでに筐体2内に引っ込んでいる。使用者は、図1に示す無菌接合装置1のクランプ操作部31を掴んで、矢印R方向に持ち上げると、図6に示すように、クランプ蓋部3が筐体側クランプ部50から離れ、筐体側クランプ部50を開放することができる。
Next, the operation of heating and melting the two tubes T1 and T2 shown in FIG. 5 by using the above-described aseptic joining apparatus 1 will be described with reference to FIGS. FIG. 18 is a diagram showing how the tube T1 and the tube T2 are fitted to the housing side clamp portion 50 side, and FIG. 19 shows the joint portion formed by the previous joining of the tube T2 at the tip of the positioning projection 140. It is a figure which shows a mode that it pushes together. FIG. 20 is a diagram showing a procedure of aseptic heating joining of the two tubes T1 and T2.
As shown in FIG. 1, the interlock 60 has already been retracted into the housing 2. When the user grasps the clamp operation part 31 of the aseptic joining apparatus 1 shown in FIG. 1 and lifts it in the direction of the arrow R, the clamp lid part 3 moves away from the case side clamp part 50 as shown in FIG. The clamp part 50 can be opened.

次に、図18(A)に示すチューブT1を用意し、チューブT1の接合部分C1が接合しようとする部分である。図18(B)に示すように、このチューブT1は、X1方向に向けて、第1チューブ挟み込み部51のはめ込み溝51Cにはめ込まれるとともに、第2チューブ挟み込み部52のはめ込み溝52Cにはめ込まれる。この場合に、チューブT1のコネクターCT側の部分がチューブセット補助具4のU字型の受け部138上に配置され、コネクターCTは受け部138の外側に位置される。
図18(C)では、チューブT2がチューブT1の上側において積み重ねた状態で、X2方向に向けて配置される。このチューブT2は、前回の接合の際に形成された接合部141を有しているが、この接合部141の断面は円形状である。
図19(A)では、チューブT2の前回の接合部141を突起140の先端に合わせるようにして、チューブT2は、X2方向に向けて、第1チューブ挟み込み部51のはめ込み溝51Cにはめ込まれるとともに、第2チューブ挟み込み部52のはめ込み溝52Cにはめ込まれる。これにより、図19(B)に示すように、チューブT2はチューブT1の上においてZ1方向に沿って積み重ねるようにして、そしてチューブT1、T2をはめ込み溝51C、52C内に、矢印RZ方向に確実に押し込んで固定する。
Next, a tube T1 shown in FIG. 18A is prepared, and a joining portion C1 of the tube T1 is a portion to be joined. As shown in FIG. 18B, the tube T1 is fitted in the fitting groove 51C of the first tube sandwiching portion 51 and is fitted in the fitting groove 52C of the second tube sandwiching portion 52 in the X1 direction. In this case, the portion of the tube T1 on the connector CT side is disposed on the U-shaped receiving portion 138 of the tube setting auxiliary tool 4, and the connector CT is positioned outside the receiving portion 138.
In FIG. 18C, the tubes T2 are arranged in the X2 direction in a state where they are stacked on the upper side of the tubes T1. The tube T2 has a joint portion 141 formed at the time of the previous joint, and the cross section of the joint portion 141 is circular.
In FIG. 19A, the tube T2 is fitted in the fitting groove 51C of the first tube sandwiching portion 51 in the X2 direction so that the previous joining portion 141 of the tube T2 is aligned with the tip of the protrusion 140. The second tube sandwiching portion 52 is fitted into the fitting groove 52C. Accordingly, as shown in FIG. 19B, the tube T2 is stacked on the tube T1 along the Z1 direction, and the tubes T1 and T2 are securely fitted in the fitting grooves 51C and 52C in the direction of the arrow RZ. Press to secure.

次に、使用者が図6に示すクランプ操作部31を掴んで、クランプ蓋部3をRS方向に沿って閉じる方向に回転して、クランプ蓋部3により筐体側クランプ部50を閉じる。これにより、図20(A)に示すように、第1チューブ挟み込み部51と収容部材37の間に挟まれるとともに、第2チューブ挟み込み部52と収容部材36の間に挟まれる。しかも、ウェハーWFは、ウェハーカセットWC内から、図20(B)に示すように2本の太さの同じチューブT1、T2の下方位置の待機ポジションPS1に移動されている。このため、図17に示すウェハーWFは、ウェハー加熱ヒータ110の加熱により例えば約300℃に加熱されている。この加熱されたウェハーWFは、図12に示すカムモータ117の作動により、図20(B)に示すように、破線で示す待機ポジションPS1から実線で示す溶断ポジションPS2までZ1方向に沿って上昇されるので、このウェハーWFは2本の太さの同じチューブT1、T2を溶断することができる。   Next, the user grasps the clamp operation part 31 shown in FIG. 6, rotates the clamp lid part 3 in the closing direction along the RS direction, and closes the casing-side clamp part 50 by the clamp lid part 3. As a result, as shown in FIG. 20A, the first tube sandwiching portion 51 and the housing member 37 are sandwiched, and the second tube sandwiching portion 52 and the housing member 36 are sandwiched. Moreover, the wafer WF is moved from the wafer cassette WC to the standby position PS1 below the two tubes T1 and T2 having the same thickness as shown in FIG. 20B. For this reason, the wafer WF shown in FIG. 17 is heated to, for example, about 300 ° C. by the heating of the wafer heater 110. The heated wafer WF is raised along the Z1 direction from the standby position PS1 indicated by the broken line to the fusing position PS2 indicated by the solid line, as shown in FIG. 20B, by the operation of the cam motor 117 shown in FIG. Therefore, this wafer WF can melt two tubes T1 and T2 having the same thickness.

続いて、図20(C)に示すように、図7に示すクランプモータ56が制御部100の指令により作動すると、クランプモータ56がギア56Gを回転すると、第1チューブ押さえ部材35と第2チューブ押さえ部材53は、収容部材37と第1チューブ挟み込み部51と一体になって、第1チューブT1と第2チューブT2を保持したままで180度回転する。その後、図20(D)に示すように、ウェハーWFが溶断ポジションPS2から待機ポジションPS1にZ2方向に沿って下がるとともに、180度回転された側のチューブT1、T2の部分がX2方向に押される。
これにより、ウェハーWFにより溶断され180度回転された側のチューブT1の一方の端部とチューブT2の一方の端部は、回転されていない側のチューブT2の他方の端部とチューブT1の他方の端部に対してそれぞれ加圧して接合される。その後チューブT1、T2が冷却されると、無菌接合は完了する。
なお、使用したウェハーWFは、図11に示すウェハー送りユニット83の動作により、図1に示すように使用済みのウェハーWの取出し部58に排出される。これにより、使用者は使用済みのウェハーWFを指で摘んで取り出すことができる。
Subsequently, as shown in FIG. 20 (C), when the clamp motor 56 shown in FIG. 7 is operated according to a command from the control unit 100, when the clamp motor 56 rotates the gear 56G, the first tube holding member 35 and the second tube. The pressing member 53 is integrated with the housing member 37 and the first tube sandwiching portion 51 and rotates 180 degrees while holding the first tube T1 and the second tube T2. Thereafter, as shown in FIG. 20D, the wafer WF is lowered from the fusing position PS2 to the standby position PS1 along the Z2 direction, and the portions of the tubes T1 and T2 on the side rotated 180 degrees are pushed in the X2 direction. .
As a result, one end of the tube T1 on the side melted by the wafer WF and rotated 180 degrees and one end of the tube T2 are connected to the other end of the tube T2 on the non-rotated side and the other end of the tube T1. Each of the end portions is pressed and joined. Thereafter, when the tubes T1 and T2 are cooled, the aseptic joining is completed.
The used wafer WF is discharged to the used wafer W take-out section 58 as shown in FIG. 1 by the operation of the wafer feeding unit 83 shown in FIG. Thereby, the user can pick up the used wafer WF with a finger and take it out.

その後、使用者は、再び図1に示すクランプ操作部31を掴んで、矢印RT方向に持ち上げると、図6に示すように、クランプ蓋部3が筐体側クランプ部50から離れる。使用者は、図20(E)と図20(F)に示すように接合した後のチューブT1、T2を筐体側クランプ部50から取り外して、分離する。以上のようにして、図20(F)に示すように、図5に示す透析液バッグBL側のチューブT1と、使用者M側のチューブT2とを、無菌的にしかも簡便に接合することができる。
上述したように、図1に示すウェハーカセットWC内のウェハーWFが、図17に示すようにウェハーカセットWC内からY1方向に移動して、図17に示す待機ポジションPS1に位置されると、ウェハーWFの2つの接点131は、ウェハー加熱ヒータ110に接続され、制御部100の指令によりウェハー加熱ヒータ110が発熱することで、ウェハーWFは発熱するようになっている。
After that, when the user grasps the clamp operation unit 31 shown in FIG. 1 again and lifts it in the direction of the arrow RT, the clamp lid 3 is separated from the housing side clamp unit 50 as shown in FIG. The user removes and separates the tubes T1 and T2 after being joined as shown in FIGS. 20E and 20F from the housing-side clamp 50. As described above, as shown in FIG. 20 (F), the tube T1 on the dialysate bag BL side shown in FIG. 5 and the tube T2 on the user M side can be joined aseptically and simply. it can.
As described above, when the wafer WF in the wafer cassette WC shown in FIG. 1 moves in the Y1 direction from the wafer cassette WC as shown in FIG. 17 and is positioned at the standby position PS1 shown in FIG. The two contact points 131 of the WF are connected to the wafer heater 110, and the wafer WF generates heat when the wafer heater 110 generates heat according to a command from the control unit 100.

図10に示すように、第1突起52Aと第2突起52Bの間のはめ込み溝52Cには、2本のチューブT1、T2がはまり込んでおり、発熱するウェハーWFの下部には、ファンFNが配置されている。図17に示すウェハーWFが待機ポジションPS1から溶断ポジションPS2に上昇されて、ウェハーWFが2本のチューブT1、T2を溶断して接合する際に、2本のチューブT1、T2から可塑剤のガスが発生する。この可塑剤のガスは、ファンFNの回転により、太い矢印MYで示すように、底面部2Aの開口部6から筐体2の外部に確実に排出できる。ファンFNとこのファンFN用の開口部6が、筐体2の側面部ではなく筐体2の底面部に配置されているので、筐体2の側面部にファンと開口部を設ける場合に比べて、可塑剤のガスは側方に直接噴出されることが無い。このため、筐体2の付近にプラスチック製品が置かれていても、可塑剤のガスがプラスチック製品に対して直接吹き付けられることが無いので、プラスチック製品は一部が溶ける等といった悪影響を受けない。   As shown in FIG. 10, two tubes T1 and T2 are fitted in the fitting groove 52C between the first protrusion 52A and the second protrusion 52B, and a fan FN is formed below the heat generating wafer WF. Has been placed. When the wafer WF shown in FIG. 17 is raised from the standby position PS1 to the fusing position PS2, and the wafer WF is fusing and joining the two tubes T1 and T2, the gas of the plasticizer is supplied from the two tubes T1 and T2. Will occur. This plasticizer gas can be reliably discharged from the opening 6 of the bottom surface 2A to the outside of the housing 2 by the rotation of the fan FN, as indicated by the thick arrow MY. Since the fan FN and the opening portion 6 for the fan FN are arranged not on the side surface portion of the housing 2 but on the bottom surface portion of the housing 2, the fan FN and the opening portion on the side surface portion of the housing 2 are provided. Thus, the plasticizer gas is not directly ejected to the side. For this reason, even if a plastic product is placed in the vicinity of the casing 2, the plasticizer gas is not directly blown against the plastic product, so that the plastic product is not adversely affected such that a part of the plastic product is melted.

次に、図21と図22を参照して、図11に示すウェハーカセット収納ユニット82の構造例について説明する。
図21は、ウェハーカセット挿入口20に対応して筐体2内に配置されているウェハーカセット収納ユニット82を示す斜視図である。図22は、図21に示すウェハーカセット収納ユニット82の構造例と動作例を示す図である。図22(A)は、ウェハーカセットWCがウェハーカセット収納ユニット82内に挿入される前の状態を示し、図22(B)は、ウェハーカセットWCがウェハーカセット収納ユニット82内に挿入されている途中の状態を示し、そして図22(C)は、ウェハーカセットWCがウェハーカセット収納ユニット82内に位置決めして固定された状態を示している。
Next, an example of the structure of the wafer cassette storage unit 82 shown in FIG. 11 will be described with reference to FIGS.
FIG. 21 is a perspective view showing the wafer cassette storage unit 82 disposed in the housing 2 corresponding to the wafer cassette insertion slot 20. FIG. 22 is a diagram showing a structural example and an operation example of the wafer cassette storage unit 82 shown in FIG. 22A shows a state before the wafer cassette WC is inserted into the wafer cassette storage unit 82, and FIG. 22B shows a state where the wafer cassette WC is being inserted into the wafer cassette storage unit 82. FIG. 22C shows a state in which the wafer cassette WC is positioned and fixed in the wafer cassette storage unit 82.

まず、図21を参照して、ウェハーカセット取り出し防止装置150について説明する。ウェハーカセット取り出し防止装置150は、使用者が、2本のチューブT1、T2を溶断して加圧接合している際中に、図14に示すウェハーカセット取り出しボタン21を押したとしても、ウェハーカセットWCを、筐体2のウェハーカセット挿入口20から不用意に取り出すことができないようする装置である。ウェハーカセット取り出し防止装置150は、図22に示すように、電磁式のアクチュエータであるソレノイド149と、スプリング148を有している。   First, with reference to FIG. 21, the wafer cassette removal preventing apparatus 150 will be described. Even if the user presses the wafer cassette takeout button 21 shown in FIG. 14 while the user is fusing the two tubes T1 and T2 and pressurizing and joining them, the wafer cassette takeout prevention device 150 can This is a device that prevents the WC from being inadvertently taken out from the wafer cassette insertion port 20 of the housing 2. As shown in FIG. 22, the wafer cassette removal prevention device 150 includes a solenoid 149 that is an electromagnetic actuator and a spring 148.

図22に示すように、ウェハーカセットWCは、加熱用板部材の例である複数枚のウェハーWFを収納している。
図21に示すように、ウェハーカセット収納ユニット82は、ウェハーカセット挿入口20とウェハーカセット取り出しボタン21を有している。筐体2の側面部2Cにおいて、ウェハーカセット取り出しボタン21は、ウェハーカセット挿入部ともいうウェハーカセット挿入口20の下部に配置されており、ウェハーカセット取り出しボタン21は、長方形状の押ボタンであり、ボタン配置用の長方形状の開口部21P内に配置されている。
As shown in FIG. 22, the wafer cassette WC stores a plurality of wafers WF that are examples of heating plate members.
As shown in FIG. 21, the wafer cassette storage unit 82 has a wafer cassette insertion slot 20 and a wafer cassette removal button 21. In the side surface portion 2C of the housing 2, the wafer cassette takeout button 21 is disposed at a lower portion of the wafer cassette insertion port 20, also referred to as a wafer cassette insertion portion, and the wafer cassette takeout button 21 is a rectangular push button. It arrange | positions in the rectangular-shaped opening part 21P for button arrangement | positioning.

図21と図22に示すウェハーカセット収納ユニット82は、箱型でプラスチック製の部材であり、案内底面部20Sと、両側の側面部20Pと、天面部20Tと、後面部20Rにより形成されている。案内底面部20Sと天面部20Tは水平面であり、両側の側面部20Pと後面部20Rは共に垂直面である。後面部20Rはウェハーカセット挿入口20に対面している。案内底面部20Sと両側の側面部20Pと天面部20Tの各前端部は、ウェハーカセット挿入口20を形成している。ウェハーカセット収納ユニット82では、ウェハーカセットWCが挿入される奥行き方向が、X1方向に沿っている。
図21に示すように、案内底面部20Sの前側の位置には、2つの抜け出し防止突起部材140と、操作部材141が、Z1方向に突出するようにして配置されている。
The wafer cassette storage unit 82 shown in FIGS. 21 and 22 is a box-shaped plastic member, and is formed by a guide bottom surface portion 20S, side surface portions 20P on both sides, a top surface portion 20T, and a rear surface portion 20R. . The guide bottom surface portion 20S and the top surface portion 20T are horizontal surfaces, and the side surface portions 20P and the rear surface portion 20R on both sides are both vertical surfaces. The rear surface portion 20R faces the wafer cassette insertion port 20. Each front end portion of the guide bottom surface portion 20S, the side surface portions 20P on both sides, and the top surface portion 20T forms a wafer cassette insertion port 20. In the wafer cassette storage unit 82, the depth direction in which the wafer cassette WC is inserted is along the X1 direction.
As shown in FIG. 21, two pull-out prevention protrusion members 140 and an operation member 141 are arranged at a position on the front side of the guide bottom surface portion 20S so as to protrude in the Z1 direction.

図21に示す案内底面部20Sは、Y1方向に関して離れた位置に2つの貫通穴20Dを有している。2つの抜け出し防止突起部材140は、それぞれ案内底面部20Sの貫通穴20Dを通して、Z1方向に突出している。各抜け出し防止突起部材140は、傾斜した前面140Aと、上端面140Bと、背面140Cを有している。前面140Aは、垂直に対して角度θ、例えば45度でウェハーカセットWCの挿入方向であるX1方向に沿って傾いていることにより、ウェハーカセットWCをウェハーカセット挿入口20内にX1方向に沿って挿入し易くしている。   The guide bottom surface portion 20S shown in FIG. 21 has two through holes 20D at positions separated from each other in the Y1 direction. The two pull-out prevention protrusion members 140 protrude in the Z1 direction through the through holes 20D of the guide bottom surface portion 20S. Each pull-out prevention protrusion member 140 has an inclined front surface 140A, an upper end surface 140B, and a back surface 140C. The front surface 140A is inclined along the X1 direction, which is the insertion direction of the wafer cassette WC, at an angle θ, for example, 45 degrees with respect to the vertical, thereby bringing the wafer cassette WC into the wafer cassette insertion port 20 along the X1 direction. Easy to insert.

これに対して、抜け出し防止突起部材140の背面140Cは垂直面である。ウェハーカセット収納ユニット82の天面部20Tには、ストッパ部材20Gが設けられている。これにより、図22(C)に示すように、ウェハーカセットWCをウェハーカセット挿入口20内の所定の位置に収納した状態では、ウェハーカセットWCの前端部側は、ストッパ部材20GによりX1方向に関して位置決めされるとともに、抜け出し防止突起部材140の背面140CはウェハーカセットWCの背面部125を密着するようにして位置決めすることができる。このため、ウェハーカセットWCは、X1方向に関して動かないように位置決めされる。   On the other hand, the back surface 140C of the pull-out prevention protrusion member 140 is a vertical surface. A stopper member 20G is provided on the top surface portion 20T of the wafer cassette storage unit 82. Thus, as shown in FIG. 22C, when the wafer cassette WC is housed in a predetermined position in the wafer cassette insertion slot 20, the front end side of the wafer cassette WC is positioned in the X1 direction by the stopper member 20G. At the same time, the back surface 140C of the pull-out prevention protrusion member 140 can be positioned so as to be in close contact with the back surface portion 125 of the wafer cassette WC. Therefore, the wafer cassette WC is positioned so as not to move in the X1 direction.

図21(A)に示すように、制御部100が、例えば電磁式のアクチュエータであるソレノイド149を作動させることで、図22(C)に示すようにスプリング148の力とともに、各抜け出し防止突起部材140をZ1方向に突出した状態を維持することができる。これにより、ウェハーカセット取り出し防止装置150は、使用者が、2本のチューブT1、T2を溶断して加圧接合している際中に、図14に示すウェハーカセット取り出しボタン21を押したとしても、ウェハーカセットWCを、筐体2のウェハーカセット挿入口20から不用意に取り出すことができないようにすることができる。   As shown in FIG. 21 (A), the control unit 100 operates a solenoid 149, which is an electromagnetic actuator, for example, so that each pull-out prevention protrusion member together with the force of the spring 148 as shown in FIG. 22 (C). It is possible to maintain a state in which 140 projects in the Z1 direction. Thereby, even if the user presses the wafer cassette removal button 21 shown in FIG. 14 while the user is fusing the two tubes T1 and T2 and pressurizing and joining them, the wafer cassette removal prevention device 150 may The wafer cassette WC can be prevented from being inadvertently taken out from the wafer cassette insertion port 20 of the housing 2.

次に、図22を参照して、ウェハー有無検出センサ101と、ウェハー残量検出センサ102について説明する。ウェハー有無検出センサ101と、ウェハー残量検出センサ102は、相互に離して配置されている。図22は、ウェハー有無検出センサ101とウェハー残量検出センサ102を有するウェハーカセット収納ユニット82の構造例を示す。
まず、ウェハー有無検出センサ101について、図22を参照して説明する。ウェハー有無検出センサ101は、ウェハーカセット収納ユニット82の後面部20Rに設けられている。ウェハー有無検出センサ101は、発光部201と受光部202を有しており、発光部201としては例えばレーザ光源や発光ダイオードを用いることができる。受光部202は、例えばフォトダイオードである。制御部100が指令することで、発光部201がウェハー有無検出用の光LSを発生し、発光部201の光LSはX2方向に対して所定の角度だけ傾けて向かう。
Next, the wafer presence / absence detection sensor 101 and the wafer remaining amount detection sensor 102 will be described with reference to FIG. The wafer presence / absence detection sensor 101 and the wafer remaining amount detection sensor 102 are arranged apart from each other. FIG. 22 shows a structural example of a wafer cassette storage unit 82 having a wafer presence / absence detection sensor 101 and a wafer remaining amount detection sensor 102.
First, the wafer presence / absence detection sensor 101 will be described with reference to FIG. The wafer presence / absence detection sensor 101 is provided on the rear surface portion 20R of the wafer cassette storage unit 82. The wafer presence / absence detection sensor 101 includes a light emitting unit 201 and a light receiving unit 202. As the light emitting unit 201, for example, a laser light source or a light emitting diode can be used. The light receiving unit 202 is, for example, a photodiode. When the control unit 100 instructs, the light emitting unit 201 generates light LS for detecting the presence / absence of a wafer, and the light LS of the light emitting unit 201 is inclined at a predetermined angle with respect to the X2 direction.

図22(A)と図22(B)に示すように、ウェハーカセットWCがウェハーカセット収納ユニット82内に挿入される前あるいは挿入される途中では、発光部201の光LSは受光部202には受光されないので、受光部202から制御部100にはウェハー有り信号202Sは送られない。これに対して、図22(C)に示すように、ウェハーカセットWCがウェハーカセット収納ユニット82内に挿入されて所定の位置に位置決めされると、発光部201の光LSは、最も内側に位置されているウェハーWF1により反射されることで、受光部202に受光されるようになっている。発光部201の光LSは受光部202に受光されることから、受光部202から制御部100にはウェハー有り信号202Sが送られる。   As shown in FIGS. 22A and 22B, the light LS of the light emitting unit 201 is transmitted to the light receiving unit 202 before or during the insertion of the wafer cassette WC into the wafer cassette storage unit 82. Since no light is received, the wafer presence signal 202S is not sent from the light receiving unit 202 to the control unit 100. On the other hand, as shown in FIG. 22C, when the wafer cassette WC is inserted into the wafer cassette storage unit 82 and positioned at a predetermined position, the light LS of the light emitting unit 201 is positioned on the innermost side. The light is received by the light receiving unit 202 by being reflected by the wafer WF1. Since the light LS of the light emitting unit 201 is received by the light receiving unit 202, a wafer presence signal 202S is sent from the light receiving unit 202 to the control unit 100.

ただし、ウェハーカセットWC内のウェハーWFを使い切ってウェハーカセットWC内に1枚のウェハーWFも収納されていない状態では、発光部201の光LSはウェハーWFにより反射されないので、光LSは受光部202には受光されない。
これにより、図22(C)に示すように、ウェハーカセットWCがウェハーカセット収納ユニット82内に挿入されて位置決めされた状態では、ウェハーカセットWC内には少なくとも1枚のウェハーWFが収納されているか、1枚のウェハーWFも収納されてないかを、制御部100が受光部202からのウェハー有り信号202Sを受けることができるかできないかにより、判別することができる。
However, in a state where the wafer WF in the wafer cassette WC is used up and one wafer WF is not stored in the wafer cassette WC, the light LS of the light emitting unit 201 is not reflected by the wafer WF, so that the light LS is received by the light receiving unit 202. Is not received.
As a result, as shown in FIG. 22C, in a state where the wafer cassette WC is inserted and positioned in the wafer cassette storage unit 82, is at least one wafer WF stored in the wafer cassette WC? Whether or not one wafer WF is also stored can be determined by whether or not the control unit 100 can receive the wafer presence signal 202S from the light receiving unit 202.

次に、ウェハー残量検出センサ102について、図22を参照して説明する。ウェハー残量検出センサ102は、ウェハーWFの残量検出センサ102は、好ましくは、赤外発光ダイオードとフォトトランジスタを小型樹脂にモールドした反射型フォトセンサで構成され、厚みが1.5mm程度のウェハーカセットWCの上方に、ウェハーカセットWCと0.5mm〜1.5mm離間してウェハーカセット収納ユニット82の上部に位置されている。ウェハーカセット収納ユニット82の天面部20Tには、光を通すための開口20Mが形成されている。ウェハー残量検出センサ102は発光部251と受光部252を有しており、発光部251としては例えばレーザ光源や発光ダイオードを用いることができる。受光部252は、例えばフォトダイオードである。制御部100が指令することで、発光部251がウェハー残量測定用の光PSを発生して開口20Mを通る。発光部251を構成する赤外発光ダイオードと受光部252を構成するフォトトランジスタとの中心間距離が1.8mm程度で平行に配置され、赤外発光ダイオードから発光される赤外線のビーム幅が0.4mmで、フォトトランジスタの視野角が30°程度のため、実装された状態では、厚みが0.3mm程度のウエハを3枚程度検出できる分解能を有している。
なお、フォトトランジスタの視野角を10°程度にすることで、実装された状態で、厚みが0.3mm程度のウエハの検出分解能を1枚にすることが可能となる。
Next, the remaining wafer detection sensor 102 will be described with reference to FIG. Wafer remaining amount detection sensor 102 is preferably a reflective photosensor in which an infrared light emitting diode and a phototransistor are molded in a small resin, and has a thickness of about 1.5 mm. Above the cassette WC, the wafer cassette WC is positioned above the wafer cassette storage unit 82 with a distance of 0.5 mm to 1.5 mm. An opening 20M through which light passes is formed in the top surface portion 20T of the wafer cassette storage unit 82. The wafer remaining amount detection sensor 102 includes a light emitting unit 251 and a light receiving unit 252. As the light emitting unit 251, for example, a laser light source or a light emitting diode can be used. The light receiving unit 252 is, for example, a photodiode. When the control unit 100 instructs, the light emitting unit 251 generates the light PS for measuring the remaining amount of the wafer and passes through the opening 20M. The distance between the centers of the infrared light emitting diode constituting the light emitting unit 251 and the phototransistor constituting the light receiving unit 252 is arranged in parallel at about 1.8 mm, and the beam width of infrared light emitted from the infrared light emitting diode is 0. Since the viewing angle of the phototransistor is about 30 ° at 4 mm, it has a resolution capable of detecting about three wafers having a thickness of about 0.3 mm when mounted.
Note that, by setting the viewing angle of the phototransistor to about 10 °, it is possible to reduce the detection resolution of a wafer having a thickness of about 0.3 mm in a mounted state to one.

図22(C)に示すように、発光部201の光PSは、ウェハーカセットWCがウェハーカセット収納ユニット82内に挿入されて位置決めされた状態で、開口20Mを通って、ウェハーカセットWC内の複数枚のウェハーWFの上端面に対して照射されるようになっている。発光部201の光PSのX1方向に関する照射幅は、ウェハーカセットWC内に収納されるウェハーWFの最大枚数の上端面の合計幅253に対応している。発光部201の光PSがウェハーWFの最大枚数の上端面で反射されると、反射光RSは受光部252に受光される。この反射光RSの光量の大きさは、ウェハーカセットWC内に現に収納されているウェハーWFの枚数に比例しており、受光部252は、制御部100に対してウェハーカセットWC内に現に収納されているウェハーWFの残量枚数に比例する光量に対応するウェハー残量枚数検出信号252Sを送る。これにより、制御部100は、ウェハー残量枚数検出信号252Sを受けることにより、制御部100は予め定めたテーブルを参照することで、ウェハーカセットWC内に現に収納されているウェハーWFの残量枚数を認識することができる。   As shown in FIG. 22C, the light PS of the light emitting unit 201 passes through the opening 20M in a state where the wafer cassette WC is inserted and positioned in the wafer cassette storage unit 82, and a plurality of light PS in the wafer cassette WC. Irradiation is made to the upper end surface of the wafer WF. The irradiation width in the X1 direction of the light PS of the light emitting unit 201 corresponds to the total width 253 of the upper end surface of the maximum number of wafers WF stored in the wafer cassette WC. When the light PS of the light emitting unit 201 is reflected by the upper end surface of the maximum number of wafers WF, the reflected light RS is received by the light receiving unit 252. The amount of the reflected light RS is proportional to the number of wafers WF actually stored in the wafer cassette WC, and the light receiving unit 252 is actually stored in the wafer cassette WC with respect to the control unit 100. The remaining wafer number detection signal 252S corresponding to the amount of light proportional to the remaining number of remaining wafers WF is sent. Thus, the control unit 100 receives the remaining wafer number detection signal 252S, and the control unit 100 refers to a predetermined table, whereby the remaining number of wafers WF currently stored in the wafer cassette WC. Can be recognized.

図22に示すように、検出開始センサ350が、2つの抜け出し防止突起部材140の付近に設けられている。この検出開始センサ350は、ウェハーカセットWCの挿入により2つの抜け出し防止突起部材140がZ2方向に押し下げられて、ウェハーカセット収納ユニット82内にウェハーカセットWCが位置決めされた時点で、ウェハーカセットWC内に加熱用板部材であるウェハーWFが収納されているかどうかの有無検出を、制御部に対して開始信号SSRを与えることで開始させるためのセンサである。
この検出開始センサ350は、抜け出し防止突起部材140に固定された突起部材351と、固定側のスイッチ352を有している。突起部材351は、抜け出し防止突起部材140と一体になっており、図22(B)に示すように抜け出し防止突起部材140がZ2方向に下がると、突起部材351が固定側のスイッチ352を押す。このため、固定側のスイッチ352がオンになるので、スイッチ352は、制御部100に対して開始信号SSRを送る。これにより、制御部100は、ウェハー有無検出センサ101の発光部201から光LSを発生させ、ウェハー残量検出センサ102の発光部251から光PSを発生させることで、ウェハー有無検出動作と、ウェハー残量枚数の検出動作を自動的に開始することができる。
As shown in FIG. 22, the detection start sensor 350 is provided in the vicinity of the two pull-out prevention protrusion members 140. This detection start sensor 350 is inserted into the wafer cassette WC when the wafer cassette WC is positioned in the wafer cassette storage unit 82 when the two pull-out preventing projection members 140 are pushed down in the Z2 direction by the insertion of the wafer cassette WC. This is a sensor for starting the presence / absence detection of whether or not a wafer WF, which is a heating plate member, is accommodated, by giving a start signal SSR to the control unit.
The detection start sensor 350 includes a protrusion member 351 fixed to the protrusion prevention protrusion member 140 and a switch 352 on the fixed side. The protrusion member 351 is integrated with the escape prevention protrusion member 140. When the escape prevention protrusion member 140 is lowered in the Z2 direction as shown in FIG. 22B, the protrusion member 351 presses the switch 352 on the fixed side. For this reason, since the fixed-side switch 352 is turned on, the switch 352 sends a start signal SSR to the control unit 100. Accordingly, the control unit 100 generates the light LS from the light emitting unit 201 of the wafer presence / absence detection sensor 101 and the light PS from the light emitting unit 251 of the wafer remaining amount detection sensor 102, thereby performing the wafer presence / absence detection operation and the wafer. The remaining number detection operation can be automatically started.

次に、上述した無菌接合装置1のウェハーカセット収納ユニット82の動作例を、図22を参照して説明する。
図22(A)に示すウェハーカセットWCは、所定の枚数のウェハーWFを収容している。使用者は、図22(B)に示すように、このウェハーカセットWCをX1方向に沿ってウェハーカセット挿入口20内に挿入する。2つの抜け出し防止突起部材140はZ1方向に突出しているが、ウェハーカセットWCはこの抜け出し防止突起部材140を乗り越えるようにして図22(B)に示すように案内底面部20Sに沿って挿入される。そして、図22(C)に示すように、ウェハーカセットWCはウェハーカセット挿入口20内のウェハーカセット収納ユニット82の所定の位置に位置決めされて収納した状態になる。ウェハーカセットWCが所定の位置に位置決めされると、ウェハーカセットWCは、ストッパ部材20GによりX1方向に関して位置が固定される。
Next, an operation example of the wafer cassette storage unit 82 of the above-described aseptic joining apparatus 1 will be described with reference to FIG.
A wafer cassette WC shown in FIG. 22A contains a predetermined number of wafers WF. As shown in FIG. 22B, the user inserts this wafer cassette WC into the wafer cassette insertion slot 20 along the X1 direction. The two pull-out preventing projection members 140 protrude in the Z1 direction, but the wafer cassette WC is inserted along the guide bottom surface portion 20S as shown in FIG. . Then, as shown in FIG. 22C, the wafer cassette WC is positioned and stored at a predetermined position of the wafer cassette storage unit 82 in the wafer cassette insertion slot 20. When the wafer cassette WC is positioned at a predetermined position, the position of the wafer cassette WC is fixed with respect to the X1 direction by the stopper member 20G.

ウェハーカセットWCを挿入する途中では、突起部材351は、抜け出し防止突起部材140と一体になって図22(B)に示すようにZ2方向に下がる。このため、固定側のスイッチ352がオンになり、スイッチ352は、制御部100に対して開始信号SSRを送る。制御部100は、この開始信号SSRにより、ソレノイド149を作動させることで、図22(C)に示すようにスプリング148の力とともに、各抜け出し防止突起部材140をZ1方向に突出した状態を維持する。これにより、ウェハーカセットWCは、X2に関して位置が固定される。
しかも、スイッチ352は、制御部100に対して開始信号SSRを送ったので、制御部100は、ウェハー有無検出センサ101の発光部201と、ウェハー残量検出センサ102の発光部251を作動させて、発光部201からウェハー有無検出用の光LSを発生させるとともに、発光部251からウェハー残量検出用の光PSを発生させる。これにより、ウェハーカセットWCがウェハーカセット収納ユニット82内に位置決めされた時点から、ウェハー有無検出の検出と、ウェハー残量枚数の検出を開始できるので、それ以前にウェハー有無検出センサ101の発光部201と、ウェハー残量検出センサ102の発光部251を駆動する必要が無い。このため、図12に示すバッテリBAの充電容量が減少するのを防ぐことができる。
In the middle of inserting the wafer cassette WC, the protruding member 351 is integrated with the pull-out preventing protruding member 140 and is lowered in the Z2 direction as shown in FIG. For this reason, the fixed-side switch 352 is turned on, and the switch 352 sends a start signal SSR to the control unit 100. In response to the start signal SSR, the control unit 100 operates the solenoid 149 to maintain the state in which each protrusion prevention protrusion member 140 protrudes in the Z1 direction together with the force of the spring 148 as shown in FIG. . Thereby, the position of the wafer cassette WC is fixed with respect to X2.
In addition, since the switch 352 sends the start signal SSR to the control unit 100, the control unit 100 operates the light emitting unit 201 of the wafer presence / absence detection sensor 101 and the light emitting unit 251 of the wafer remaining amount detection sensor 102. The light LS for detecting the presence / absence of the wafer is generated from the light emitting unit 201 and the light PS for detecting the remaining amount of the wafer is generated from the light emitting unit 251. As a result, since the detection of the presence / absence of the wafer and the detection of the remaining number of wafers can be started from the time when the wafer cassette WC is positioned in the wafer cassette storage unit 82, the light emitting unit 201 of the wafer presence / absence detection sensor 101 before that. Then, it is not necessary to drive the light emitting unit 251 of the wafer remaining amount detection sensor 102. For this reason, it can prevent that the charge capacity of battery BA shown in FIG. 12 reduces.

図22(C)に示すように、ウェハーカセットWC内には複数枚のウェハーWFが収納されているので、発光部201の光LSは、最も内側に位置されているウェハーWF1により反射することで受光部202により受光される。発光部201の光LSは受光部202には受光されるので、受光部202から制御部100にはウェハー有り信号202Sが送られる。これにより、制御部100は、ウェハーカセットWC内には少なくとも1枚のウェハーWFが残存していることを認識する。
また、図22(C)に示すように、ウェハーカセットWC内には複数枚のウェハーWFが収納されているので、発光部201の光PSがウェハーWFの最大枚数の上端面で反射されると、反射光RSは受光部252に受光される。この反射光RSの光量の大きさは、ウェハーカセットWC内に現に収納されているウェハーWFの枚数に比例しており、受光部252は、制御部100に対してウェハーカセットWC内に現に収納されているウェハーWFの残量枚数に比例している光量に対応するウェハー残量枚数検出信号252Sを送る。これにより、制御部100は、ウェハー残量枚数検出信号252Sを受けることにより、予め定めたテーブルに従って、ウェハーカセットWC内に現に収納されているウェハーWFの残量枚数を認識することができる。
As shown in FIG. 22C, since a plurality of wafers WF are stored in the wafer cassette WC, the light LS of the light emitting unit 201 is reflected by the wafer WF1 located on the innermost side. Light is received by the light receiving unit 202. Since the light LS of the light emitting unit 201 is received by the light receiving unit 202, a wafer presence signal 202S is sent from the light receiving unit 202 to the control unit 100. Thereby, the control unit 100 recognizes that at least one wafer WF remains in the wafer cassette WC.
Further, as shown in FIG. 22C, since a plurality of wafers WF are stored in the wafer cassette WC, the light PS of the light emitting unit 201 is reflected on the uppermost end surface of the maximum number of wafers WF. The reflected light RS is received by the light receiving unit 252. The amount of the reflected light RS is proportional to the number of wafers WF actually stored in the wafer cassette WC, and the light receiving unit 252 is actually stored in the wafer cassette WC with respect to the control unit 100. The remaining wafer number detection signal 252S corresponding to the amount of light proportional to the remaining number of remaining wafers WF is sent. Thereby, the control unit 100 can recognize the remaining number of wafers WF currently stored in the wafer cassette WC according to a predetermined table by receiving the remaining wafer number detection signal 252S.

その後、使用者がチューブの溶断と加圧接合を繰り返して行って、ウェハーカセットWC内のウェハーWFが減少した場合には、発光部201の光LSは、最も内側に位置されているウェハーWF1により反射することで受光部202により受光される。発光部201の光LSは受光部202には受光されるので、受光部202から制御部100にはウェハー有り信号202Sが送られる。これにより、制御部100は、ウェハーカセットWC内には少なくとも1枚のウェハーWFが残存していることを認識する。しかも、発光部201の光PSが、残存している複数枚もしくは1枚のウェハーWFの上端面で反射されると、反射光RSは受光部252に受光される。この反射光RSの光量は、ウェハーカセットWC内に現に残存している複数枚もしくは1枚のウェハーWFの枚数に比例しており、受光部252は、制御部100に対してウェハーカセットWC内に現に収納されているウェハーWFの残量枚数に比例している光量に対応するウェハー残量枚数検出信号252Sを送る。これにより、制御部100は、ウェハー残量枚数検出信号252Sを受けることにより、予め定めたテーブルに従って、ウェハーカセットWC内に現に複数枚もしくは1枚のウェハーWFだけ残存して収納されていることを認識することができる。   Thereafter, when the user repeatedly performs fusing and pressure bonding of the tube and the number of wafers WF in the wafer cassette WC is reduced, the light LS of the light emitting unit 201 is transmitted by the wafer WF1 located on the innermost side. The light is received by the light receiving unit 202 by being reflected. Since the light LS of the light emitting unit 201 is received by the light receiving unit 202, a wafer presence signal 202S is sent from the light receiving unit 202 to the control unit 100. Thereby, the control unit 100 recognizes that at least one wafer WF remains in the wafer cassette WC. Moreover, the reflected light RS is received by the light receiving unit 252 when the light PS of the light emitting unit 201 is reflected by the upper end surfaces of the remaining plurality or one wafer WF. The amount of the reflected light RS is proportional to the number of a plurality of wafers or one wafer WF currently remaining in the wafer cassette WC, and the light receiving unit 252 is in the wafer cassette WC with respect to the control unit 100. A wafer remaining number detection signal 252S corresponding to the amount of light proportional to the remaining number of wafers WF currently stored is sent. As a result, the control unit 100 receives the remaining wafer number detection signal 252S, and confirms that a plurality of wafers or only one wafer WF are actually stored and stored in the wafer cassette WC according to a predetermined table. Can be recognized.

使用者がチューブの溶断と加圧接合を繰り返して行って、ウェハーカセットWC内にはウェハーWFが全く残存していない場合には、発光部201の光LSは、ウェハーWF1により反射することでできないので、光LSは受光部202には受光されない。このため、受光部202から制御部100にはウェハー有り信号202Sが送られない。これにより、制御部100は、ウェハーカセットWC内には1枚のウェハーWFも残存していないことを認識する。しかも、発光部201の光PSが、ウェハーの端面で反射できないので、反射光RSは受光部252に受光されない。制御部100は、ウェハー残量枚数検出信号252Sを受けることができないので、予め定めたテーブルに従って、ウェハーカセットWC内に現に1枚のウェハーWFも残存していないことを認識することができる。
なお、ウェハーカセットWC内のウェハーWFが残存していない場合には、使用者はカセット取り出しボタン21を押すことにより、図示しない取出し機構を用いてウェハーカセットWCをウェハーカセット収納ユニット82内から取り出すことができる。この際には、制御部100はソレノイド149の作動をして、抜け出し防止突起部材140を下げる。
When the user repeatedly performs fusing and pressure bonding of the tube and no wafer WF remains in the wafer cassette WC, the light LS of the light emitting unit 201 cannot be reflected by the wafer WF1. Therefore, the light LS is not received by the light receiving unit 202. For this reason, the wafer presence signal 202S is not sent from the light receiving unit 202 to the control unit 100. As a result, the control unit 100 recognizes that no single wafer WF remains in the wafer cassette WC. In addition, since the light PS of the light emitting unit 201 cannot be reflected by the end face of the wafer, the reflected light RS is not received by the light receiving unit 252. Since the controller 100 cannot receive the remaining wafer number detection signal 252S, the controller 100 can recognize that one wafer WF is not actually left in the wafer cassette WC according to a predetermined table.
When the wafer WF in the wafer cassette WC does not remain, the user presses the cassette take-out button 21 to take out the wafer cassette WC from the wafer cassette storage unit 82 using a take-out mechanism (not shown). Can do. At this time, the control unit 100 operates the solenoid 149 to lower the withdrawal preventing projection member 140.

次に、図23を参照して、本発明の別の実施形態を説明する。
図22に示す本発明の実施形態では、ウェハーカセットWC内のウェハーWFの有無検出とウェハーの残量検出は、非接触型の光センサであるウェハー有無検出センサ101とウェハー残量検出センサ102を用いている
これに対して、図23に示す本発明の別の実施形態では、ウェハー残量検出センサ102は非接触型の光センサであるが、ウェハー有無検出センサ101に代えて機械接触型のウェハー有無検出センサ300を用いている。図23に示す各部分と、図22に示す対応する部分とが実質的に同じである場合には、同じ符号を記してその説明を用いる。
Next, another embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
In the embodiment of the present invention shown in FIG. 22, the presence / absence detection of the wafer WF in the wafer cassette WC and the remaining amount detection of the wafer are performed by using the wafer presence / absence detection sensor 101 and the remaining wafer detection sensor 102 which are non-contact type optical sensors. In contrast, in another embodiment of the present invention shown in FIG. 23, the wafer remaining amount detection sensor 102 is a non-contact type optical sensor, but instead of the wafer presence / absence detection sensor 101, a mechanical contact type is used. A wafer presence / absence detection sensor 300 is used. When each part shown in FIG. 23 and the corresponding part shown in FIG. 22 are substantially the same, the same code | symbol is described and the description is used.

図23に示すように、ストッパ20Gには、機械接触型のウェハー有無検出センサ300が取り付けられている。ウェハー有無検出センサ300は、接触子300Bを有しており、図23(C)に示すように、ウェハーカセットWCがウェハーカセット収納ユニット82内に挿入されて位置決めされた状態では、接触子300Bが最も内側にあるウェハーWF1に押される。これにより、ウェハー有無検出センサ300は、制御部100に対してウェハー有り信号300Sを送るので、制御部100は、ウェハーカセットWC内には少なくとも1枚のウェハーWFが残存していることを認識する。ウェハーカセットWC内に1枚のウェハーWFも残存していない場合には、接触子300BがウェハーWF1に押されないので、ウェハー有無検出センサ300は、制御部100に対してウェハー有り信号300Sを送らない。   As shown in FIG. 23, a mechanical contact type wafer presence / absence detection sensor 300 is attached to the stopper 20G. The wafer presence / absence detection sensor 300 has a contact 300B. When the wafer cassette WC is inserted into the wafer cassette storage unit 82 and positioned as shown in FIG. The innermost wafer WF1 is pushed. As a result, the wafer presence / absence detection sensor 300 sends a wafer presence signal 300S to the control unit 100, so that the control unit 100 recognizes that at least one wafer WF remains in the wafer cassette WC. . If no wafer WF remains in the wafer cassette WC, the contact 300B is not pushed by the wafer WF1, so the wafer presence / absence detection sensor 300 does not send the wafer presence signal 300S to the control unit 100. .

次に、図24を参照して、本発明のさらに別の実施形態を説明する。
図22に示す本発明の実施形態では、ウェハーカセットWC内のウェハーWFの有無検出とウェハーの残量検出は、非接触型の光センサであるウェハー有無検出センサ101とウェハー残量検出センサ102を用いている。
これに対して、図24に示す本発明のさらに別の実施形態では、ウェハー残量検出センサ102は非接触型の光センサであるが、ウェハー有無検出センサ101に代えて電気接触型のウェハー有無検出センサ400を用いている。図24に示す各部分と、図22に示す対応する部分とが実質的に同じである場合には、同じ符号を記してその説明を用いる。
Next, still another embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
In the embodiment of the present invention shown in FIG. 22, the presence / absence detection of the wafer WF in the wafer cassette WC and the remaining amount detection of the wafer are performed by using the wafer presence / absence detection sensor 101 and the remaining wafer detection sensor 102 which are non-contact type optical sensors. Used.
On the other hand, in still another embodiment of the present invention shown in FIG. 24, the wafer remaining amount detection sensor 102 is a non-contact type optical sensor, but instead of the wafer presence / absence detection sensor 101, an electric contact type wafer presence / absence is provided. A detection sensor 400 is used. When each part shown in FIG. 24 and the corresponding part shown in FIG. 22 are substantially the same, the same code | symbol is described and the description is used.

図24に示すように、ストッパ20Gの付近には、電気接触型のウェハー有無検出センサ400が取り付けられている。ウェハー有無検出センサ400は、2つの電気接点400Cを有している。これらの電気接点400Cは、制御部100に電気的に接続されている。図24(C)に示すように、ウェハーカセットWCがウェハーカセット収納ユニット82内に挿入されて位置決めされた状態では、ウェハー有無検出センサ400の電気接点400Cが最も内側にあるウェハーWF1に直接接触される。これにより、ウェハー有無検出センサ400の電気接点400Cは、例えば銅板のウェハーWF1を介して導通して短絡するので、制御部100に対してウェハー有り信号400Sを送るので、制御部100は、ウェハーカセットWC内には少なくとも1枚のウェハーWFが残存していることを認識する。ウェハーカセットWC内に1枚のウェハーWFも残存していない場合には、ウェハー有無検出センサ400の2つの電気接点400Cは短絡しないので、制御部100に対してウェハー有り信号400Sを送らない。   As shown in FIG. 24, an electrical contact type wafer presence / absence detection sensor 400 is attached in the vicinity of the stopper 20G. The wafer presence / absence detection sensor 400 has two electrical contacts 400C. These electrical contacts 400C are electrically connected to the control unit 100. As shown in FIG. 24C, in the state in which the wafer cassette WC is inserted and positioned in the wafer cassette storage unit 82, the electrical contact 400C of the wafer presence / absence detection sensor 400 is directly in contact with the innermost wafer WF1. The As a result, the electrical contact 400C of the wafer presence / absence detection sensor 400 is conducted and short-circuited through, for example, a copper plate wafer WF1, so that a wafer presence signal 400S is sent to the control unit 100. It is recognized that at least one wafer WF remains in the WC. If no wafer WF remains in the wafer cassette WC, the two electrical contacts 400C of the wafer presence / absence detection sensor 400 are not short-circuited, and thus no wafer presence signal 400S is sent to the control unit 100.

本発明の実施形態の無菌接合装置1では、例えば図22に示すように、筐体2内に配置されているウェハーカセットWC内のウェハーWFの有無をチューブの接合作業の前に目視によらずに確認することができ、チューブの無菌接合作業をスムーズに行うことができる。すなわち、制御部100は、ウェハーWFの有無検出センサ101からの信号に基づいて、ウェハーカセットWC内のウェハーWFの有無を、チューブの接合作業の前に確認することができるので、ウェハーWFが無い時には、直ちに作業を中止してウェハーWFの補充作業を行え、ウェハーカセットWC内にある時には、チューブの無菌接合作業をスムーズに行うことができる。   In the aseptic joining apparatus 1 of the embodiment of the present invention, for example, as shown in FIG. 22, the presence or absence of the wafer WF in the wafer cassette WC arranged in the housing 2 is not visually checked before the tube joining operation. The aseptic joining operation of the tube can be performed smoothly. That is, since the control unit 100 can confirm the presence / absence of the wafer WF in the wafer cassette WC based on the signal from the wafer WF presence / absence detection sensor 101, there is no wafer WF. Sometimes, the operation can be stopped immediately and the wafer WF can be replenished. When the wafer WF is in the wafer cassette WC, the aseptic joining operation of the tubes can be performed smoothly.

図22に示すように、有無検出センサ101は、ウェハーカセットWC内に収納されているウェハーWFに向けて光LSを発生する発光部201と、ウェハーWFにより反射された光LSを受光して、制御部100に対してウェハーWFの有りの信号202Sを送る受光部202を有する非接触型の光センサである。このため、ウェハーカセットWC内にウェハーWFが有るかないかを非接触式で検出することができる。
図23に示すウェハーWFの有無検出センサ300は、ウェハーカセットWC内に収納されているウェハーWFに対して機械的に接触することで、制御部100に対してウェハーの有りの信号300Sを送る接触型のセンサである。このため、ウェハーカセットWC内にウェハーWFが有るかないかを機械的に接触することで検出することができる。
As shown in FIG. 22, the presence / absence detection sensor 101 receives a light emitting unit 201 that generates light LS toward the wafer WF stored in the wafer cassette WC, and the light LS reflected by the wafer WF, This is a non-contact type optical sensor having a light receiving unit 202 that sends a signal 202S indicating the presence of a wafer WF to the control unit 100. For this reason, it is possible to detect in a non-contact manner whether or not there is a wafer WF in the wafer cassette WC.
The wafer WF presence / absence detection sensor 300 shown in FIG. 23 mechanically contacts the wafer WF stored in the wafer cassette WC, thereby sending a wafer presence signal 300S to the control unit 100. Type sensor. For this reason, it can be detected by mechanically contacting whether the wafer WF is present in the wafer cassette WC.

図24に示すウェハーの有無検出センサ400は、ウェハーカセットWC内に収納されているウェハーWFに対して電気的に接触することで制御部100に対してウェハーWFの有りの信号を送る電気接触型のセンサであるので、ウェハーカセットWC内にウェハーWFが有るかないかを電気的に接触することで検出することができる。
図22から図24に示すように、検出開始センサ350が設けられている。この検出開始センサ350は、ウェハーカセット収納ユニット82内にウェハーカセットWFが位置決めされた時点で、ウェハーカセットWC内にウェハーWFが収納されているかどうかの有無検出動作を、制御部100に開始信号SSRを与えることで開始させるために設けられている。ウェハーカセットWFがウェハーカセット収納ユニット82内に位置決めされた時点から、ウェハー有無の検出を行う。このため、ウェハーカセットWFを位置決めする以前には、制御部100はウェハー有無検出センサ101,300,400を駆動する必要が無い。したがって、バッテリBAの充電容量が減少するのを防ぎ、消費電力の削減を図ることができる。
The wafer presence / absence detection sensor 400 shown in FIG. 24 is an electrical contact type that sends a signal indicating the presence of the wafer WF to the control unit 100 by making electrical contact with the wafer WF housed in the wafer cassette WC. Therefore, whether or not the wafer WF is present in the wafer cassette WC can be detected by electrical contact.
As shown in FIGS. 22 to 24, a detection start sensor 350 is provided. This detection start sensor 350 detects whether or not the wafer WF is stored in the wafer cassette WC at the time when the wafer cassette WF is positioned in the wafer cassette storage unit 82, and sends a start signal SSR to the control unit 100. Is provided to get you started. From the time when the wafer cassette WF is positioned in the wafer cassette storage unit 82, the presence or absence of a wafer is detected. Therefore, the controller 100 does not need to drive the wafer presence / absence detection sensors 101, 300, and 400 before positioning the wafer cassette WF. Therefore, it is possible to prevent the charging capacity of the battery BA from decreasing and to reduce power consumption.

また、図22(C)に例示するように、図22から図24の各実施形態では、例えば液晶表示装置500を追加的に設けて、この液晶表示装置500には、制御部100の指令により、「ウェハーが有る」あるいは「ウェハーが無い」の表示を行えるようにしても良い。さらに、制御部100は、図12に示すスピーカSPを用いて、「ウェハーが有る」あるいは「ウェハーが無い」を使用者に対して音声ガイダンスで通知するようにしても良い。これにより、使用者はウェハーカセットWC内のウェハーWFの有無を、目視と音で確認することができるので、特に高齢者の使用者に有用である。   Further, as illustrated in FIG. 22C, in each of the embodiments of FIGS. 22 to 24, for example, a liquid crystal display device 500 is additionally provided, and the liquid crystal display device 500 is instructed by a command from the control unit 100. , “Wafer exists” or “No wafer” may be displayed. Further, the control unit 100 may notify the user of “there is a wafer” or “there is no wafer” by voice guidance using the speaker SP shown in FIG. Thereby, since the user can confirm the presence or absence of the wafer WF in the wafer cassette WC visually and with sound, it is particularly useful for elderly users.

本発明は、上記実施形態に限定されず、特許請求の範囲を逸脱しない範囲で種々の変更を行うことができる。
本発明の無菌接合装置は、腹膜透析液を交換するための2本の同じ太さのチューブを無菌接合するのに用いるだけでない。本発明の無菌接合装置は、例えば、輸血に用いる同一径の2本の塩化ビニル製のチューブを無菌状態で自動的に接合するのに用いることもでき、2本のチューブを接合する時に菌汚染の心配が無く、チューブおよびバッグ内の血液成分等の無菌性を保持することができる。
上記実施形態の各構成は、その一部を省略したり、上記とは異なるように任意に組み合わせることができる。
The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the scope of the claims.
The aseptic joining device of the present invention is not only used for aseptic joining of two equal-sized tubes for exchanging peritoneal dialysate. The aseptic joining apparatus of the present invention can also be used to automatically join two tubes of the same diameter used for blood transfusion in aseptic conditions, for example, and contaminate bacteria when joining the two tubes. Therefore, the sterility of the blood components in the tube and bag can be maintained.
A part of each configuration of the above embodiment can be omitted, or can be arbitrarily combined so as to be different from the above.

1・・・無菌接合装置、2・・・筐体、3・・・クランプ蓋部、4・・・チューブセット補助具、50・・・筐体側クランプ部、82・・・ウェハーカセット収納ユニット(カセット収納ユニット)、101,300,400・・・ウェハー有無検出センサ(加熱用板部材の有無検出センサ)、350・・・検出開始センサ、WC・・・ウェハーカセット、WF・・・ウェハー(加熱用板部材)、T1・・・第1チューブ、T2・・・第2チューブ   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Aseptic joining apparatus, 2 ... Housing, 3 ... Clamp lid part, 4 ... Tube set auxiliary tool, 50 ... Housing side clamp part, 82 ... Wafer cassette storage unit ( (Cassette storage unit), 101, 300, 400 ... wafer presence / absence detection sensor (heating plate member presence / absence detection sensor), 350 ... detection start sensor, WC ... wafer cassette, WF ... wafer (heating) Plate member), T1... First tube, T2.

Claims (5)

第1チューブと第2チューブを固定した状態で前記第1チューブと前記第2チューブを、加熱用板部材を用いて溶断した後、前記第1チューブの溶断した端部と前記第2チューブの溶断した端部を入れ替えて接合する無菌接合装置であって、
前記第1チューブと前記第2チューブを固定する筐体と、
前記筐体内に配置され、複数枚の前記加熱用板部材を収めるカセットを着脱可能に収納するためのカセット収納ユニットと、
前記カセット収納ユニット内に位置決めされた前記カセット内に前記加熱用板部材が収納されているかどうかを検出する加熱用板部材の有無検出センサと、
前記加熱用板部材の有無検出センサからの信号により、前記カセット内に前記加熱用板部材が残っているかどうかを認識する制御部と
を有することを特徴とする無菌接合装置。
After fusing the first tube and the second tube with a heating plate member in a state where the first tube and the second tube are fixed, the fusing end of the first tube and the fusing of the second tube An aseptic joining apparatus that joins by replacing the end portions
A housing for fixing the first tube and the second tube;
A cassette storage unit for detachably storing a cassette that is disposed in the housing and stores a plurality of the heating plate members;
A heating plate member presence / absence detection sensor for detecting whether or not the heating plate member is housed in the cassette positioned in the cassette housing unit;
And a controller for recognizing whether or not the heating plate member remains in the cassette based on a signal from a sensor for detecting the presence or absence of the heating plate member.
前記加熱用板部材の有無検出センサは、前記カセット内に収納されている前記加熱用板部材に向けて光を発生する発光部と、前記加熱用板部材により反射された前記光を受光して、前記制御部に対して前記加熱用板部材有りの信号を送る受光部と、を有する非接触型の光センサであることを特徴とする請求項1に記載の無菌接合装置。   The heating plate member presence / absence detection sensor receives a light emitting unit that generates light toward the heating plate member housed in the cassette and the light reflected by the heating plate member. 2. The aseptic joining apparatus according to claim 1, wherein the aseptic joining device is a non-contact type optical sensor having a light receiving unit that sends a signal indicating that the heating plate member is present to the control unit. 前記加熱用板部材の有無検出センサは、前記カセット内に収納されている前記加熱用板部材に対して機械的に接触することで前記制御部に対して前記加熱用板部材有りの信号を送る接触型のセンサであることを特徴とする請求項1に記載の無菌接合装置。   The heating plate member presence / absence detection sensor mechanically contacts the heating plate member housed in the cassette, thereby sending a signal indicating the presence of the heating plate member to the control unit. 2. The aseptic joining apparatus according to claim 1, wherein the aseptic joining apparatus is a contact type sensor. 前記加熱用板部材の有無検出センサは、前記カセット内に収納されている前記加熱用板部材に対して電気的に接触することで前記制御部に対して前記加熱用板部材有りの信号を送る電気接触型のセンサであることを特徴とする請求項1に記載の無菌接合装置。   The presence / absence detection sensor of the heating plate member sends a signal indicating the presence of the heating plate member to the control unit by making electrical contact with the heating plate member housed in the cassette. 2. The aseptic joining apparatus according to claim 1, wherein the aseptic joining apparatus is an electric contact type sensor. 前記カセット収納ユニット内に前記カセットが位置決めされた時点で、前記カセット内に前記加熱用板部材が収納されているかどうかの有無検出を、前記制御部に開始信号を与えることで開始させるための検出開始センサを有することを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の無菌接合装置。   Detection for starting detection of whether or not the heating plate member is stored in the cassette by giving a start signal to the control unit when the cassette is positioned in the cassette storage unit. The aseptic joining apparatus according to any one of claims 1 to 4, further comprising a start sensor.
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