JP2012248737A - 半導体装置、および、それを用いた駆動装置 - Google Patents
半導体装置、および、それを用いた駆動装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012248737A JP2012248737A JP2011120274A JP2011120274A JP2012248737A JP 2012248737 A JP2012248737 A JP 2012248737A JP 2011120274 A JP2011120274 A JP 2011120274A JP 2011120274 A JP2011120274 A JP 2011120274A JP 2012248737 A JP2012248737 A JP 2012248737A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power
- pressing member
- semiconductor device
- moss
- mos
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 73
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 38
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 19
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims 1
- 239000002893 slag Substances 0.000 description 28
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 20
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 20
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 10
- 241000237858 Gastropoda Species 0.000 description 9
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 5
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 4
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/40—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
- H01L23/4093—Snap-on arrangements, e.g. clips
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/40—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
- H01L23/4006—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49517—Additional leads
- H01L23/49524—Additional leads the additional leads being a tape carrier or flat leads
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49541—Geometry of the lead-frame
- H01L23/49562—Geometry of the lead-frame for individual devices of subclass H10D
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49575—Assemblies of semiconductor devices on lead frames
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L24/40—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/06—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
- H01L2224/0601—Structure
- H01L2224/0603—Bonding areas having different sizes, e.g. different heights or widths
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L2224/40—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/401—Disposition
- H01L2224/40151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/40221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/40245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45147—Copper (Cu) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
- H01L2224/73221—Strap and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/31—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
- H01L23/3107—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L24/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1306—Field-effect transistor [FET]
- H01L2924/13091—Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
- H01L2924/1815—Shape
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/19—Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/191—Disposition
- H01L2924/19101—Disposition of discrete passive components
- H01L2924/19107—Disposition of discrete passive components off-chip wires
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Inverter Devices (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
【解決手段】半導体装置では、ねじ68、69が、パワーモジュール60をヒートシンクに押圧する。MOS81〜88は、1つのねじ68、69に対し3つ以上配置される。また、MOS81〜88は、ねじ68、69による押圧によりパワーモジュール60とヒートシンクとの間に生じる圧力がMOS81〜88からの熱を放熱可能な所定の圧力以上である領域に配置される。これにより、少なくともMOS81〜88が配置されている領域では、パワーモジュール60とヒートシンクとが密着した状態で保持され、MOS81〜88から発生する熱を効率よくヒートシンクへ放熱することができる。
【選択図】 図5
Description
本発明は、上述の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、発生する熱を効率よく放熱可能な半導体装置、および、それを用いた駆動装置を提供することにある。
また、請求項4に記載の発明では、スイッチング素子は、1つの押圧部材に対して4つ配置される。2つのスイッチング素子は、押圧部材よりも第1面側に配置される。他の2つのスイッチング素子は、第2面との距離が押圧部材と同等の領域であって、押圧部材を挟んで両側に配置される。
請求項7に記載の発明では、押圧部材はばね部材である。これにより、例えばモールド部が変形したとしても、変形に応じて半導体モジュールを放熱部材に押圧することができる。
(第1実施形態)
本発明の第1実施形態による半導体装置は、駆動装置に適用される。駆動装置を図1および図2に基づいて説明する。駆動装置1は、電動パワーステアリング装置(以下、「EPS」という。)に適用される。駆動装置1は、モータ2およびコントロールユニット3を備える。
図1に示すように、駆動装置1は、車両のステアリング5の回転軸たるコラム軸6に取り付けられたギア7を介しコラム軸6に回転トルクを発生させ、ステアリング5による操舵をアシストする。具体的には、ステアリング5が運転者によって操作されると、当該操作によってコラム軸6に生じる操舵トルクをトルクセンサ8によって検出し、また、車速情報を図示しないCAN(Controller Area Network)から取得して、運転者のステアリング5による操舵をアシストする。もちろん、このような機構を利用すれば、制御手法によっては、操舵のアシストのみでなく、高速道路における車線キープ、駐車場における駐車スペースへの誘導など、ステアリング5の操作を自動制御することも可能である。
一方のインバータ80は、電界効果トランジスタの一種であるMOSFET(metal-oxide-semiconductor field-effect transistor、以下、「MOS」という。)81〜86を有している。MOS81〜86は、ゲート電位により、ソース−ドレイン間がON(導通)またはOFF(遮断)される。
MOS82は、ドレインが電源ライン側に接続され、ソースがMOS85のドレインに接続されている。MOS85のソースは、シャント抵抗992を介して接地されている。MOS82とMOS85との接続点は、モータ2のV相巻線に接続されている。
MOS83は、ドレインが電源ライン側に接続され、ソースがMOS86のドレインに接続されている。MOS86のソースは、シャント抵抗993を介して接地されている。MOS83とMOS86との接続点は、モータ2のW相巻線に接続されている。
なお、高電位側に接続されるMOS81〜83を「上MOS」、低電位側に接続されるMOS84〜86を「下MOS」とし、以下適宜「U上MOS81」といった具合に、各MOSに対応する相を併せて記載する。
なお、MOS81〜88が「スイッチング素子」に対応し、MOS81〜83が「高電位側スイッチング素子」に対応し、MOS84〜86が「低電位側スイッチング素子」に対応している。また、MOS81〜88は、MOSFET以外の素子であってもよい。
レギュレータ部95は、電源を安定化する安定化回路である。レギュレータ部95は、各部へ供給される電源の安定化を行う。例えばマイコン94は、このレギュレータ部95により、安定した所定電圧(例えば5V)で動作することになる。
回転角センサ信号増幅部96には、回転角センサ93からの信号が入力される。回転角センサ93は、モータ2の回転位置信号を検出し、検出された回転位置信号は、回転角センサ信号増幅部96に送られる。回転角センサ信号増幅部96は、回転位置信号を増幅してマイコン94へ出力する。
検出電圧増幅部97は、シャント抵抗991〜993の両端電圧を検出し、当該両端電圧を増幅してマイコン94へ出力する。
また、マイコン94は、検出電圧増幅部97から入力されるシャント抵抗991〜993の両端電圧に基づき、モータ2へ供給する電流を正弦波に近づけるべくインバータ80を制御する。なお、制御部90は、インバータ89についてもインバータ80と同様に制御する。
コントロールユニット3は、外部の電子部品との接続に係るコネクタ45、79等の部品以外のほとんどの構成がモータケース10を軸方向に投影した領域であるモータケース領域に収まるように設けられている。コントロールユニット3は、軸方向において、モータ2側から、制御基板40、ヒートシンク50およびパワーモジュール60、パワー基板70がこの順で配列されている。すなわち、軸方向において、モータケース10、制御基板40、ヒートシンク50およびパワーモジュール60、パワー基板70が、この順で配列されている。
制御基板40には、制御部90を構成する各種電子部品が実装されている。制御基板40のモータ2側と反対側の面には、プリドライバ91、カスタムIC92、マイコン94(図1参照)が実装されている。また、制御基板40のモータ2側の面には、回転角センサ93が実装されている。
なお、パワーモジュール60の詳細については後述する。
制御基板40上のマイコン94は、回転角センサ93、トルクセンサ8、シャント抵抗99等からの信号に基づき、車速に応じてステアリング5の操舵をアシストするように、プリドライバ91を介してPWM制御により作出されたパルス信号を生成する。このパルス信号は、制御端子64を経由して、パワーモジュール60により構成される2系統のインバータ80、89に出力され、MOS81〜86のオン/オフの切り替え動作を制御する。これにより、モータ2の巻線の各相には、位相のずれた正弦波電流が通電され、回転磁界が生じる。この回転磁界を受けてロータおよびシャフトが一体となって回転する。そして、シャフトの回転により、出力端29からコラム軸6のギア7に駆動力が出力され、運転者のステアリング5による操舵をアシストする。
すなわち、巻線に供給される巻線電流により、モータ2を駆動している。この意味で、巻線に供給される巻線電流は、モータ2を駆動する駆動電流である、といえる。
図3に示すように、パワーモジュール60とヒートシンク50との間には、放熱シート67が設けられる。パワーモジュール60は、放熱シート67とともに、ねじ68、69によりヒートシンク50に螺着され、ヒートシンク50に保持される。これにより、パワーモジュール60は、放熱シート67を挟んでヒートシンク50に保持される。また、パワーモジュール60への通電により発生する熱が放熱シート67を介してヒートシンク50に放熱される。また、放熱シート67は、絶縁材料で形成され、パワーモジュール60からの熱をヒートシンク50に伝えるとともに、パワーモジュール60とヒートシンク50との絶縁を確保している。すなわち、放熱シート67は、放熱部材であるとともに、絶縁部材である、といえる。さらに、放熱シート67をパワーモジュール60とヒートシンク50との間に設けることにより、パワーモジュール60とヒートシンク50との密着性を高めている。
本実施形態では、制御基板40側には、モータ2の駆動制御に係る程度の小さい電流(例えば200mA)しか通電されない。一方、パワー基板70側には、モータ2を駆動するための大電流(例えば80A)が通電される。そのため、パワー端子65は、制御端子64よりも太く形成されている。
本実施形態では、制御端子64は22本の端子401〜422から構成され、パワー端子65は11本の端子601〜611から構成される。以下適宜、端子401〜422を「制御端子401〜422」といい、端子601〜611を「パワー端子601〜611」という。
図5に示すように、パワーモジュール60は、モールド部61、制御端子401〜422、パワー端子601〜611に加え、MOS81〜88、導電部材としてのスラグ501〜512等を有している。モールド部61は、樹脂で形成され、制御端子401〜422、パワー端子601〜611、MOS81〜88、スラグ501〜512をモールドする。
スラグ501は、第1面62側から第2面63側に亘って形成される。また、スラグ501は、ワイヤにより制御端子401と接続される。
スラグ502は、第1面62側から第2面63側に亘って形成され、パワー端子601および制御端子404と一体に形成される。制御端子404は、制御基板40側に電源電圧を供給するとともに、電源リレー87の下流側の電圧であるリレー後電圧のモニタに用いられる。また、スラグ502には、逆接防止用の電源リレーであるMOS88が実装される。MOS88のゲートは、ワイヤにより制御端子402と接続され、制御端子402を経由してMOS88のゲート電圧を切り替えることにより、MOS88のオン/オフが切り替えられる。MOS88のソースは、ワイヤ901によりスラグ501と接続される。
スラグ507は、第1面62側から第2面63側に亘って形成され、パワー端子606と一体に形成される。
なお、いずれのスラグ、MOS、およびシャント抵抗とも接続されていない制御端子403、406、417は、両隣の制御端子同士がショートするのを防ぐべく、空間的に隔離している。
また、スラグ508とスラグ511とは、挿通孔692の中心を通り第1面62および第2面63に垂直な直線に対して対称となる形状に形成されている。スラグ509とスラグ510とは、挿通孔692の中心を通り第1面62および第2面63に垂直な直線に対して対称となる形状に形成されている。
また、MOS84、88は、ねじ68を挟んでパワーモジュール60の長手方向における両側に配置される。より詳細には、MOS84、88は、挿通孔691に挿通されるねじ68の第1面62側の端部を通り第2面63に平行な直線と、第2面63側の端部を通り第2面63に平行な直線と、で規定される領域R(図4参照)に、その大部分が含まれるように配置される。また、MOS84、88は、ねじ68の中心を通り第1面62および第2面63に垂直な直線に対して対称に配置される。
また、MOS85、86は。ねじ69を挟んでパワーモジュール60の長手方向における両側に配置される。より詳細には、MOS85、86は、挿通孔692に挿通されるねじ69の第1面62側の端部を通り第2面63に平行な直線と、第2面63側の端部を通り第2面63に平行な直線と、で規定される領域R(図4参照)に、その大部分が含まれるように配置される。また、MOS85、86は、ねじ69の中心を通り第1面62および第2面63に垂直な直線に対して対称に配置される。
このように、1つのねじ68、69により生じる押し付け圧が所定の圧力以上である領域に、3つ以上(本実施形態では4つ)のMOSを配置している。このように、1つのねじ68、69の周囲に3つ以上のMOSを配置することにより、押し付け圧を所定の圧力以上にするための部材を低減することができる。
(1)本実施形態では、MOS81〜88は、ねじ68、69の周囲であって、パワーモジュール60とヒートシンク50との間に生じる圧力が放熱可能な所定の圧力以上である領域に配置されることにより、少なくともMOS81〜88が配置されている領域では、パワーモジュール60とヒートシンク50とが密着した状態で保持される。これにより、MOS81〜88から発生する熱を効率よくヒートシンク50へ放熱することができる。また、1つのねじ68、69に対して少なくとも3つのMOS81〜88が配置されるので、パワーモジュール60をヒートシンク50に押圧するための押圧部材(本実施形態ではねじ68、69)の部品点数を低減することができる。これにより、ねじ68、69を組み付けるための工数を低減することができる。また、ねじ68、69による押圧のために要する面積を低減することができるので、半導体装置101を小型化することができる。
(5)また本実施形態では、パワーモジュール60とヒートシンク50との間に設けられる放熱シート67を備える。パワーモジュール60とヒートシンク50との間に放熱シート67を設けることにより、パワーモジュール60とヒートシンク50との密着性を向上することができる。また、本実施形態の放熱シート67は、絶縁材料で形成されているので、パワーモジュール60とヒートシンク50との絶縁を確保することができる。
本発明の第2実施形態を図7および図8に基づいて説明する。本実施形態では、主に半導体装置200の押圧部材に係る構成が上記実施形態と異なっているので、この点を中心に説明し、他の構成等に関する説明は省略する。
本実施形態の半導体装置200では、押圧部材は、ばね部材210、220により構成されている。ばね部材210、220は、板ばねであって、側面視略コ字状に形成される。ばね部材210は、パワー端子602、603の間であって第1面62側から挿入され、両端部に形成される押圧部211、212によりパワーモジュール60、放熱シート67、および、ヒートシンク50を挟み込む。ばね部材220は、パワー端子608、609の間であって第1面62側から挿入され、両端部に形成される押圧部221、222により、パワーモジュール60、放熱シート67、および、ヒートシンク50を挟み込む。これにより、ばね部材210、220により、パワーモジュール60がヒートシンク50に押圧される。
また、上記(1)〜(3)、(5)、(6)と同様の効果を奏する。
上記実施形態では、1つの押圧部材に対して4つのスイッチング素子が配置されていた。他の実施形態では、例えば図9(a)に模式的に示すパワーモジュール301のように、1つのねじ68に対して3つのスイッチング素子としてのMOS380を配置してもよい。また、1つのねじ69に対し、ねじ69の両側と、ねじ69の第1面62側と、ねじ69の第2面63側と、に配置するといった具合に、押圧により生じる圧力が所定の圧力以上の領域であれば、MOS380をどのように配置してもよい。また、1つの押圧部材による押圧により生じる圧力が所定の圧力以上の領域内に、3つ以上の任意の数のスイッチング素子を配置することができる。例えば、図9(b)に模式的に示すパワーモジュール302のように、1つのねじ68に対して5つのMOS380を配置する、或いは、1つのねじ69に対して6つのMOS380を配置してもよい。
上記実施形態では、1つのパワーモジュールに2つの押圧部材が設けられていたが、他の実施形態では、1つのパワーモジュールに設けられる押圧部材は、1つでもよいし、3つ以上でもよい。
上記実施形態では、パワーモジュールのパワー端子が第1面側に集約して設けられ、制御端子が第2面側に集約して設けられていたが、他の実施形態では、パワー端子および制御端子は、モールド部に対してどのように設けてもよい。
上記実施形態では、制御基板およびパワー基板の2枚の基板を有していたが、他の実施形態では、基板は1枚としてもよい。また、取出線とパワーモジュールとをパワー基板を介さずに接続してもよい。
以上、本発明は、上記実施形態になんら限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の形態で実施可能である。
2・・・モータ
3・・・コントロールユニット
10・・・モータケース
40・・・制御基板(基板)
50・・・ヒートシンク(放熱部材)
60・・・パワーモジュール(半導体モジュール)
61・・・モールド部
62・・・第1面
63・・・第2面
64・・・制御端子
65・・・パワー端子(巻線端子)
67・・・放熱シート(中間部材)
68、69・・・ねじ(押圧部材)
70・・・パワー基板(基板)
81〜88・・・MOS(スイッチング素子)
101・・・半導体装置
200・・・半導体装置
210、220・・・ばね部材(押圧部材)
380・・・MOS(スイッチング素子)
501〜512・・・スラグ(導電部材)
Claims (9)
- 電流の切り替えに係るスイッチング素子、前記スイッチング素子が実装される導電部材、および、前記スイッチング素子および前記導電部材をモールドするモールド部を有する半導体モジュールと、
前記半導体モジュールを放熱部材に押圧する押圧部材と、
を備え、
前記スイッチング素子は、1つの前記押圧部材に対して3つ以上配置されるとともに、前記押圧部材による押圧により前記半導体モジュールと前記放熱部材との間に生じる圧力が前記スイッチング素子からの熱を前記放熱部材に放熱可能な所定の圧力以上である領域に配置されることを特徴とする半導体装置。 - 前記半導体モジュールは、前記モールド部の1つの面である第1面に設けられ、巻線と接続される巻線端子、および、前記モールド部の前記第1面とは反対側の面である第2面に設けられ、制御基板と接続される制御端子を有することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 前記押圧部材は、前記モールド部の中心よりも前記第2面側に配置され、
少なくとも1つの前記スイッチング素子は、前記押圧部材よりも前記第1面側に配置され、
少なくとも1つの前記スイッチング素子は、前記第2面との距離が前記押圧部材と同等の領域に配置されることを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。 - 前記スイッチング素子は、1つの前記押圧部材に対して4つ配置され、
2つの前記スイッチング素子は、前記押圧部材よりも前記第1面側に配置され、
他の2つの前記スイッチング素子は、前記第2面との距離が前記押圧部材と同等の領域であって、前記押圧部材を挟んで両側に配置されることを特徴とする請求項3に記載の半導体装置。 - 前記押圧部材よりも前記第1面側に配置される前記スイッチング素子は、高電位側に接続される高電位側スイッチング素子であり、
前記第2面との距離が前記押圧部材と同等の領域に配置される前記スイッチング素子は、前記高電位側スイッチング素子の低電位側に接続される低電位側スイッチング素子であることを特徴とする請求項3または4に記載の半導体装置。 - 前記押圧部材は、ねじであることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の半導体装置。
- 前記押圧部材は、ばね部材であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の半導体装置。
- 前記半導体モジュールと前記放熱部材との間に設けられる中間部材をさらに備えることを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載の半導体装置。
- モータと、
前記モータの巻線と電気的に接続される請求項1〜8のいずれか一項に記載の半導体装置、前記半導体モジュールが前記押圧部材により押圧される前記放熱部材、および、前記半導体モジュールと電気的に接続される基板を有し、前記モータの軸方向の一側に配置されるコントロールユニットと、
を備えることを特徴とする駆動装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011120274A JP5397417B2 (ja) | 2011-05-30 | 2011-05-30 | 半導体装置、および、それを用いた駆動装置 |
DE102012104377.9A DE102012104377B4 (de) | 2011-05-30 | 2012-05-22 | Halbleitervorrichtung und Antriebsvorrichtung, die eine Halbleitervorrichtung aufweist |
CN201210175126.3A CN102810532B (zh) | 2011-05-30 | 2012-05-30 | 半导体装置和包括半导体装置的驱动设备 |
US13/483,223 US8680726B2 (en) | 2011-05-30 | 2012-05-30 | Semiconductor device and driving apparatus including semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011120274A JP5397417B2 (ja) | 2011-05-30 | 2011-05-30 | 半導体装置、および、それを用いた駆動装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012248737A true JP2012248737A (ja) | 2012-12-13 |
JP5397417B2 JP5397417B2 (ja) | 2014-01-22 |
Family
ID=47173510
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011120274A Active JP5397417B2 (ja) | 2011-05-30 | 2011-05-30 | 半導体装置、および、それを用いた駆動装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8680726B2 (ja) |
JP (1) | JP5397417B2 (ja) |
CN (1) | CN102810532B (ja) |
DE (1) | DE102012104377B4 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014179603A (ja) * | 2013-03-12 | 2014-09-25 | Internatl Rectifier Corp | 制御及びドライバ回路を有するパワー・カッド・フラット・ノーリード(pqfn)パッケージ |
JP2015032688A (ja) * | 2013-08-02 | 2015-02-16 | 株式会社デンソー | 半導体装置 |
JP2017152727A (ja) * | 2014-12-24 | 2017-08-31 | 日本精工株式会社 | パワー半導体モジュール及びこれを用いた電動パワーステアリング装置。 |
JP2018157023A (ja) * | 2017-03-16 | 2018-10-04 | 株式会社デンソー | 半導体装置およびその製造方法 |
JP2018201020A (ja) * | 2014-11-20 | 2018-12-20 | 日本精工株式会社 | 電子部品搭載用放熱基板 |
JP2019057657A (ja) * | 2017-09-22 | 2019-04-11 | ダイヤモンド電機株式会社 | 空冷機構付き電子機器 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5267959B2 (ja) * | 2011-05-30 | 2013-08-21 | 株式会社デンソー | 半導体モジュール、及び、それを用いた駆動装置 |
CN107004673B (zh) | 2014-11-27 | 2020-01-03 | 三菱电机株式会社 | 半导体驱动装置 |
WO2019207664A1 (ja) * | 2018-04-25 | 2019-10-31 | 三菱電機株式会社 | 共用ベースプレート及びこれを備えた半導体モジュール |
JP7081386B2 (ja) * | 2018-08-06 | 2022-06-07 | 株式会社デンソー | 回転検出装置、および、これを用いた電動パワーステアリング装置 |
US11063495B2 (en) | 2019-07-01 | 2021-07-13 | Nidec Motor Corporation | Heatsink clamp for multiple electronic components |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009158631A (ja) * | 2007-12-26 | 2009-07-16 | Keihin Corp | パワードライブユニット |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4972294A (en) * | 1989-04-03 | 1990-11-20 | Motorola, Inc. | Heat sink clip assembly |
US5060112A (en) * | 1990-04-02 | 1991-10-22 | Cocconi Alan G | Electrical component assembly with heat sink |
JPH05315484A (ja) * | 1992-05-07 | 1993-11-26 | Sharp Corp | 半導体用放熱装置 |
US5659212A (en) * | 1994-12-16 | 1997-08-19 | Electro-Dyn Choke Corporation | Rectifier assembly for automotive alternator |
JPH10271789A (ja) * | 1997-03-19 | 1998-10-09 | Zexel Corp | ブラシレスモータ |
US5932942A (en) * | 1997-12-16 | 1999-08-03 | Reliance Electric Industrial Company | DC motor drive with improved thermal characteristics |
JP2001320185A (ja) * | 2000-05-11 | 2001-11-16 | Toshiba Corp | 電子部品のモジュール装置 |
JP4002064B2 (ja) * | 2000-12-18 | 2007-10-31 | カルソニックカンセイ株式会社 | ブラシレスモータ |
WO2005020276A2 (ja) * | 2003-08-21 | 2005-03-03 | Denso Corporation | 電力変換装置及び半導体装置の実装構造 |
JP4487836B2 (ja) * | 2005-04-20 | 2010-06-23 | 日立工機株式会社 | 電動工具 |
JP2007165426A (ja) | 2005-12-12 | 2007-06-28 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
EP1860696A1 (en) * | 2006-05-26 | 2007-11-28 | Abb Research Ltd. | Semiconductor module |
US8120171B2 (en) * | 2007-12-26 | 2012-02-21 | Keihin Corporation | Power drive unit including a heat sink and a fastener |
JP2010192591A (ja) * | 2009-02-17 | 2010-09-02 | Mitsubishi Electric Corp | 電力用半導体装置とその製造方法 |
-
2011
- 2011-05-30 JP JP2011120274A patent/JP5397417B2/ja active Active
-
2012
- 2012-05-22 DE DE102012104377.9A patent/DE102012104377B4/de not_active Expired - Fee Related
- 2012-05-30 CN CN201210175126.3A patent/CN102810532B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2012-05-30 US US13/483,223 patent/US8680726B2/en active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009158631A (ja) * | 2007-12-26 | 2009-07-16 | Keihin Corp | パワードライブユニット |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014179603A (ja) * | 2013-03-12 | 2014-09-25 | Internatl Rectifier Corp | 制御及びドライバ回路を有するパワー・カッド・フラット・ノーリード(pqfn)パッケージ |
JP2015032688A (ja) * | 2013-08-02 | 2015-02-16 | 株式会社デンソー | 半導体装置 |
JP2018201020A (ja) * | 2014-11-20 | 2018-12-20 | 日本精工株式会社 | 電子部品搭載用放熱基板 |
JP2017152727A (ja) * | 2014-12-24 | 2017-08-31 | 日本精工株式会社 | パワー半導体モジュール及びこれを用いた電動パワーステアリング装置。 |
US10096572B2 (en) | 2014-12-24 | 2018-10-09 | Nsk Ltd. | Power semiconductor module and electric power steering apparatus using the same |
JP2018157023A (ja) * | 2017-03-16 | 2018-10-04 | 株式会社デンソー | 半導体装置およびその製造方法 |
JP2019057657A (ja) * | 2017-09-22 | 2019-04-11 | ダイヤモンド電機株式会社 | 空冷機構付き電子機器 |
JP7039779B2 (ja) | 2017-09-22 | 2022-03-23 | ダイヤゼブラ電機株式会社 | 空冷機構付き電子機器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5397417B2 (ja) | 2014-01-22 |
DE102012104377B4 (de) | 2020-03-19 |
US20120306328A1 (en) | 2012-12-06 |
DE102012104377A1 (de) | 2012-12-06 |
CN102810532A (zh) | 2012-12-05 |
CN102810532B (zh) | 2016-06-15 |
US8680726B2 (en) | 2014-03-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5397417B2 (ja) | 半導体装置、および、それを用いた駆動装置 | |
JP5435284B2 (ja) | 駆動装置 | |
JP5067679B2 (ja) | 半導体モジュール、および、それを用いた駆動装置 | |
JP5201171B2 (ja) | 半導体モジュール、および、それを用いた駆動装置 | |
JP5435285B2 (ja) | 駆動装置 | |
JP5516066B2 (ja) | 駆動装置 | |
JP5692575B2 (ja) | 駆動装置 | |
JP5435286B2 (ja) | 駆動装置 | |
JP5655694B2 (ja) | 駆動装置 | |
JP5012953B2 (ja) | 駆動装置 | |
JP5692588B2 (ja) | 駆動装置 | |
JP6444495B2 (ja) | 電動パワーステアリング駆動装置 | |
JP5267959B2 (ja) | 半導体モジュール、及び、それを用いた駆動装置 | |
JP5496357B2 (ja) | 電動パワーステアリング用モータ駆動制御装置 | |
CN105406652B (zh) | 电力转换装置 | |
JP5327646B2 (ja) | 電子回路内蔵型モータ | |
JP4957815B2 (ja) | 半導体モジュール及びそれを用いた電子回路内蔵型モータ | |
JP5444619B2 (ja) | 多層回路基板およびモータ駆動回路基板 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130418 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130510 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130701 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130924 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20131007 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5397417 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |