JP2012073946A - 定電流回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】面積の小さい定電流回路を提供する。
【解決手段】高い抵抗値の抵抗によらず、強反転領域・非飽和領域で動作するNMOSトランジスタ23の高い抵抗値のオン抵抗により、定電流回路の定電流I1が少なくなる。よって、NMOSトランジスタ23の面積はこのトランジスタのオン抵抗の抵抗値と同じ抵抗値の抵抗の面積よりも小さいので、定電流回路の面積が小さくなる。
【選択図】図1
【解決手段】高い抵抗値の抵抗によらず、強反転領域・非飽和領域で動作するNMOSトランジスタ23の高い抵抗値のオン抵抗により、定電流回路の定電流I1が少なくなる。よって、NMOSトランジスタ23の面積はこのトランジスタのオン抵抗の抵抗値と同じ抵抗値の抵抗の面積よりも小さいので、定電流回路の面積が小さくなる。
【選択図】図1
Description
本発明は、定電流回路に関する。
従来の定電流回路について説明する。図4は、従来の定電流回路を示す回路図である。
PMOSトランジスタ51とPMOSトランジスタ52は、等しいK値及び等しい閾値電圧を有する。また、NMOSトランジスタ53とNMOSトランジスタ54は、等しいK値及び異なる閾値電圧を有する。PMOSトランジスタ51とPMOSトランジスタ52は、カレントミラー回路を構成するので、等しい電流I0を流す。ここで、NMOSトランジスタ53とNMOSトランジスタ54は、ゲート電圧共通のカレントミラー回路を構成し、等しい電流I0を流し、等しいK値を有している。従って、NMOSトランジスタ53とNMOSトランジスタ54の閾値電圧の差分電圧が抵抗55に発生する。この差分電圧及び抵抗55の抵抗値に基づき、定電流である電流I0が抵抗55に流れる。NMOSトランジスタ53の閾値電圧をVtn53とし、NMOSトランジスタ54の閾値電圧をVtn54とし、抵抗55の抵抗値をRとすると、電流I0について、式(7)が成立する(例えば、特許文献1参照)。
I0=(Vtn53−Vtn54)/R・・・(7)
PMOSトランジスタ51とPMOSトランジスタ52は、等しいK値及び等しい閾値電圧を有する。また、NMOSトランジスタ53とNMOSトランジスタ54は、等しいK値及び異なる閾値電圧を有する。PMOSトランジスタ51とPMOSトランジスタ52は、カレントミラー回路を構成するので、等しい電流I0を流す。ここで、NMOSトランジスタ53とNMOSトランジスタ54は、ゲート電圧共通のカレントミラー回路を構成し、等しい電流I0を流し、等しいK値を有している。従って、NMOSトランジスタ53とNMOSトランジスタ54の閾値電圧の差分電圧が抵抗55に発生する。この差分電圧及び抵抗55の抵抗値に基づき、定電流である電流I0が抵抗55に流れる。NMOSトランジスタ53の閾値電圧をVtn53とし、NMOSトランジスタ54の閾値電圧をVtn54とし、抵抗55の抵抗値をRとすると、電流I0について、式(7)が成立する(例えば、特許文献1参照)。
I0=(Vtn53−Vtn54)/R・・・(7)
電子機器やICの低消費電流化により、定電流回路は小さな電流を流すことを要求される。従来の定電流回路は、抵抗55の抵抗値を高くすることにより、定電流である電流I0を小さくする。例えば、Vtn53−Vtn54が100mVのときに、電流I0を10nAにする場合、式7より抵抗55の抵抗値は10MΩになる。従って、従来の定電流回路は、電流I0を小さくすると、抵抗55の面積が大きくなってしまう、と言う課題があった。
本発明は、上記課題に鑑みてなされ、面積の小さい定電流回路を提供する。
本発明は、上記課題に鑑みてなされ、面積の小さい定電流回路を提供する。
本発明は、上記課題を解決するため、入力端子及び出力端子を有し、弱反転領域で動作する第一及び第二の第一導電型MOSトランジスタからなる第一カレントミラー回路と、前記第一カレントミラー回路の出力端子に接続される入力端子及び前記第一カレントミラー回路の入力端子に接続される出力端子を有し、弱反転領域で動作する第一及び第二の第二導電型MOSトランジスタからなる第二カレントミラー回路と、一方の端子が第一電源端子に接続された第一電流源と、ドレインを前記第二の第二導電型MOSトランジスタのソースに接続され、ソースを第二電源端子に接続され、強反転領域・非飽和領域で動作する第三の第二導電型MOSトランジスタと、ゲートをドレインと前記第三の第二導電型MOSトランジスタのゲートと前記第一電流源の他方の端子に接続され、ソースを前記第三の第二導電型MOSトランジスタのドレインに接続される、第四の第二導電型MOSトランジスタと、を備えることを特徴とする定電流回路を提供する。
本発明の定電流回路は、強反転領域・非飽和領域で動作する第三の第二導電型MOSトランジスタの高い抵抗値のオン抵抗により、定電流を小さくする。第三の第二導電型MOSトランジスタの面積は、このトランジスタのオン抵抗と同じ抵抗値の抵抗の面積よりも小さいので、定電流回路の面積を小さくすることが可能である。
以下、本実施形態の定電流回路を、図面を参照して説明する。
まず、定電流回路の構成について説明する。図1は、本実施形態の定電流回路を示す回路図である。
まず、定電流回路の構成について説明する。図1は、本実施形態の定電流回路を示す回路図である。
本実施形態の定電流回路は、PMOSトランジスタ11及び12と、NMOSトランジスタ21及び24と、電流源31を備える。なお、PMOSトランジスタ11及び12は、第一カレントミラー回路を構成する。NMOSトランジスタ21及び22は、第二カレントミラー回路を構成する。
PMOSトランジスタ12のゲートは、ドレイン(第一カレントミラー回路の入力端子)とPMOSトランジスタ11のゲートとNMOSトランジスタ22のドレイン(第二カレントミラー回路の出力端子)とに接続され、ソースは、電源端子に接続される。PMOSトランジスタ11のソースは、電源端子に接続される。NMOSトランジスタ21のゲートは、ドレイン(第二カレントミラー回路の入力端子)とNMOSトランジスタ22のゲートとPMOSトランジスタ11のドレイン(第一カレントミラー回路の出力端子)とに接続され、ソースは、接地端子に接続される。NMOSトランジスタ22のソースは、第一ノードN1に接続される。
NMOSトランジスタ23は、ソースが接地端子に接続され、ドレインが第一ノードN1に接続され、ゲートが第二ノードN2に接続される。NMOSトランジスタ24は、ゲートとドレインが第二ノードN2に接続され、ソースが第一ノードN1に接続される。 電流源31は、電源端子と第二ノードN2の間に接続される。
ここで、PMOSトランジスタ11とPMOSトランジスタ12のK値は等しい。NMOSトランジスタ22のK値K22は、NMOSトランジスタ21のK値K21よりも大きい。各PMOSトランジスタは閾値電圧が等しく、そして各NMOSトランジスタも閾値電圧が等しい。また、PMOSトランジスタ11及び12とNMOSトランジスタ21及び22は、弱反転領域で動作する。NMOSトランジスタ23及び24は強反転領域で動作する。また、NMOSトランジスタ23は非飽和領域(抵抗領域)で動作する。NMOSトランジスタ24は飽和領域で動作する。
次に、本実施形態の定電流回路の動作について説明する。
PMOSトランジスタ11及び12は、カレントミラー回路として動作する。NMOSトランジスタ21及び22は、カレントミラー回路として動作する。また、NMOSトランジスタ23は、抵抗とみなされる。ここで、NMOSトランジスタ21のゲート・ソース間電圧Vgs21は、NMOSトランジスタ22のゲート・ソース間電圧Vgs22と第一ノードN1の電圧V1との合計電圧になる。
PMOSトランジスタ11及び12は、カレントミラー回路として動作する。NMOSトランジスタ21及び22は、カレントミラー回路として動作する。また、NMOSトランジスタ23は、抵抗とみなされる。ここで、NMOSトランジスタ21のゲート・ソース間電圧Vgs21は、NMOSトランジスタ22のゲート・ソース間電圧Vgs22と第一ノードN1の電圧V1との合計電圧になる。
NMOSトランジスタ24には電流源31の流す定電流I2が流れているので、NMOSトランジスタ24は、ソース電圧が高くなるとドレイン電圧も高くなり、ソース電圧が低くなるとドレイン電圧も低くなる。即ち、第一ノードN1の電圧V1が低くなると、第二ノードN2の電圧V2も低くなるので、NMOSトランジスタ23のゲート電圧は低くなる。従って、NMOSトランジスタ23のオン抵抗の抵抗値R1が高くなるので、電圧V1が高くなる。また、第一ノードN1の電圧V1が高くなると、第二ノードN2の電圧V2も高くなるので、NMOSトランジスタ23のゲート電圧は低くなる。従って、NMOSトランジスタ23のオン抵抗の抵抗値R1が低くなるので、電圧V1が低くなる。
本実施形態の定電流回路は、以上のように動作して、第一ノードN1の電圧V1が一定に制御される。この電圧V1及びオン抵抗により、NMOSトランジスタ23に一定の定電流I1が流れる。
次に、定電流I1について説明する。
スロープファクタをn、ボルツマン定数をk、温度をT、電子電荷をq、ドレイン電流をId、プロセス依存のパラメータをI0、K値をK、閾値電圧をVt、ゲート幅をW、ゲート長をLとすると、弱反転領域のゲート・ソース間電圧Vgsについて、式(1)が成立する。
スロープファクタをn、ボルツマン定数をk、温度をT、電子電荷をq、ドレイン電流をId、プロセス依存のパラメータをI0、K値をK、閾値電圧をVt、ゲート幅をW、ゲート長をLとすると、弱反転領域のゲート・ソース間電圧Vgsについて、式(1)が成立する。
また、式(6)より、定電流I1は電源電圧に依存しない。よって、電源電圧が変動しても、定電流I1は変動しない。
また、式(6)より、定電流I1はMOSトランジスタの閾値電圧に依存しない。よって、半導体製造プロセスにおいて閾値電圧がばらついても、定電流I1はばらつかない。
また、式(6)より、定電流I1はMOSトランジスタの閾値電圧に依存しない。よって、半導体製造プロセスにおいて閾値電圧がばらついても、定電流I1はばらつかない。
更に、電流源31の定電流I2は、第一ノードN1に流れ込んで電圧V1の発生に寄与するので、有効に活用される。
なお図示しないが、PMOSトランジスタ11及び12のゲートがPMOSトランジスタ11のドレインに接続され、NMOSトランジスタ21及び22のゲートがNMOSトランジスタ22のドレインに接続されても良い。
図2は、本実施形態の定電流回路の他の例を示す回路図である。
図2に示すように、本実施形態の定電流回路は、レベルシフタ41がNMOSトランジスタ24のソースと第一ノードN1との間に設けられても良い。
レベルシフタ41は、電流源32と弱反転領域でそれぞれ動作するNMOSトランジスタ25及び26を備える。
図2に示すように、本実施形態の定電流回路は、レベルシフタ41がNMOSトランジスタ24のソースと第一ノードN1との間に設けられても良い。
レベルシフタ41は、電流源32と弱反転領域でそれぞれ動作するNMOSトランジスタ25及び26を備える。
NMOSトランジスタ25は、ゲートとドレインをNMOSトランジスタ26のゲート及び電流源32に接続され、ソースをNMOSトランジスタ26のドレインに接続される。NMOSトランジスタ26は、ソースを第一ノードN1に接続される。電流源32は、電源端子とNMOSトランジスタ25のドレインの間に接続される。NMOSトランジスタ24は、ソースをNMOSトランジスタ25のソースとNMOSトランジスタ26のドレインに接続される。
電流源32の流す定電流I2がNMOSトランジスタ25及び26に流れているので、NMOSトランジスタ26は、ソース電圧が高くなるとドレイン電圧も高くなり、ソース電圧が低くなるとドレイン電圧も低くなる。即ち、レベルシフタ41は、NMOSトランジスタ26のソース電圧(電圧V1)をドレイン電圧にレベルシフトする。
このようにすると、NMOSトランジスタ24が弱反転領域で動作しても、NMOSトランジスタ26のソース電圧(電圧V1)がドレイン電圧にレベルシフトされるので、第二ノードN2の電圧V2が十分高くなる。従って、NMOSトランジスタ23は強反転領域で動作することができる。よって、NMOSトランジスタ23以外の全てのMOSトランジスタが弱反転領域で動作でき、NMOSトランジスタ23は強反転領域・非飽和領域で動作するので、定電流回路の消費電流が少なくなる。
また、ここでのレベルシフト分の電圧は、NMOSトランジスタ26のソース・ドレイン間電圧であり、式(2)に示したようなNMOSトランジスタ26のゲート・ソース間電圧からNMOSトランジスタ25のゲート・ソース間電圧を減算した電圧である。よって、レベルシフト分の電圧はMOSトランジスタの閾値電圧に依存しないので、半導体製造プロセスにおいて閾値電圧がばらついても、レベルシフト分の電圧はばらつかない。
なお、図3に示すように、レベルシフタ42がさらに設けられても良く、図示しないレベルシフタがさらにまた設けられても良い。
また、図示しないが、電源端子と接地端子とが入れ替わり、PMOSトランジスタとNMOSトランジスタとが入れ替わっても良い。
また、図示しないが、電源端子と接地端子とが入れ替わり、PMOSトランジスタとNMOSトランジスタとが入れ替わっても良い。
11〜12 PMOSトランジスタ
21〜28 NMOSトランジスタ
31〜33 電流源
21〜28 NMOSトランジスタ
31〜33 電流源
Claims (5)
- 入力端子及び出力端子を有し、弱反転領域で動作する第一及び第二の第一導電型MOSトランジスタからなる第一カレントミラー回路と、
前記第一カレントミラー回路の出力端子に接続される入力端子及び前記第一カレントミラー回路の入力端子に接続される出力端子を有し、弱反転領域で動作する第一及び第二の第二導電型MOSトランジスタからなる第二カレントミラー回路と、
一方の端子が第一電源端子に接続された第一電流源と、
ドレインを前記第二の第二導電型MOSトランジスタのソースに接続され、ソースを第二電源端子に接続され、強反転領域・非飽和領域で動作する第三の第二導電型MOSトランジスタと、
ゲートをドレインと前記第三の第二導電型MOSトランジスタのゲートと前記第一電流源の他方の端子に接続され、ソースを前記第三の第二導電型MOSトランジスタのドレインに接続される、第四の第二導電型MOSトランジスタと、
を備えることを特徴とする定電流回路。 - 前記第四の第二導電型MOSトランジスタは強反転領域・飽和領域で動作する、
ことを特徴とする請求項1記載の定電流回路。 - 前記第四の第二導電型MOSトランジスタのソースと前記第三の第二導電型MOSトランジスタのドレインの間にレベルシフタを備える、
ことを特徴とする請求項1記載の定電流回路。 - 前記レベルシフタは、
一方の端子が前記第一電源端子に接続された第二電流源と、
ゲートをドレインと前記第二電流源の他方の端子とに接続され、弱反転領域で動作する第五の第二導電型MOSトランジスタと、
ゲートを前記第五の第二導電型MOSトランジスタのゲートに接続され、ドレインを前記第五の第二導電型MOSトランジスタのソースと前記第四の第二導電型MOSトランジスタのソースとに接続され、ソースを前記第三の第二導電型MOSトランジスタのドレインに接続され、弱反転領域で動作する第六の第二導電型MOSトランジスタと、
を備えることを特徴とする請求項3記載の定電流回路。 - 前記第四の第二導電型MOSトランジスタは弱反転領域で動作する、
ことを特徴とする請求項3または4記載の定電流回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010219828A JP2012073946A (ja) | 2010-09-29 | 2010-09-29 | 定電流回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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Family Applications (1)
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JP2010219828A Withdrawn JP2012073946A (ja) | 2010-09-29 | 2010-09-29 | 定電流回路 |
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006133869A (ja) * | 2004-11-02 | 2006-05-25 | Nec Electronics Corp | Cmosカレントミラー回路および基準電流/電圧回路 |
WO2009014042A1 (ja) * | 2007-07-23 | 2009-01-29 | National University Corporation Hokkaido University | 基準電圧発生回路 |
JP2010211539A (ja) * | 2009-03-10 | 2010-09-24 | Fukuoka Pref Gov Sangyo Kagaku Gijutsu Shinko Zaidan | 基準回路 |
-
2010
- 2010-09-29 JP JP2010219828A patent/JP2012073946A/ja not_active Withdrawn
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2009014042A1 (ja) * | 2007-07-23 | 2009-01-29 | National University Corporation Hokkaido University | 基準電圧発生回路 |
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