JP2010056888A - 同期化制御回路、半導体装置及び制御方法 - Google Patents
同期化制御回路、半導体装置及び制御方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010056888A JP2010056888A JP2008219744A JP2008219744A JP2010056888A JP 2010056888 A JP2010056888 A JP 2010056888A JP 2008219744 A JP2008219744 A JP 2008219744A JP 2008219744 A JP2008219744 A JP 2008219744A JP 2010056888 A JP2010056888 A JP 2010056888A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- clock
- frequency
- circuit
- control circuit
- latch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 5
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims abstract description 27
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 6
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims description 3
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4076—Timing circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1072—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
- G11C7/222—Clock generating, synchronizing or distributing circuits within memory device
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K23/00—Pulse counters comprising counting chains; Frequency dividers comprising counting chains
- H03K23/64—Pulse counters comprising counting chains; Frequency dividers comprising counting chains with a base or radix other than a power of two
- H03K23/66—Pulse counters comprising counting chains; Frequency dividers comprising counting chains with a base or radix other than a power of two with a variable counting base, e.g. by presetting or by adding or suppressing pulses
- H03K23/667—Pulse counters comprising counting chains; Frequency dividers comprising counting chains with a base or radix other than a power of two with a variable counting base, e.g. by presetting or by adding or suppressing pulses by switching the base during a counting cycle
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/081—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
- H03L7/0812—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Abstract
【解決手段】分周回路部26において、外部クロックに対し位相の進んだ内部クロックLCLKを分周して分周クロックRSELOを生成し、分周クロックRSELOを遅延させて遅延分周クロックRSELIを生成する。外部クロックに対し位相の遅れた内部クロックPCLKに同期して外部から取り込まれた信号を、遅延分周クロックRSELIに同期してラッチ回路22に保持する。次いで、ラッチ回路22の出力信号を分周クロックRSELOに同期してラッチ回路23に読み込み、内部クロックLCLKに同期した信号として出力する。そして、分周回路部26が、変更可能な所定の分周数で内部クロックLCLKを分周する可変分周回路24を備える。
【選択図】図1
Description
また、この発明における同期化制御回路は、設定された分周数で第1のクロックを分周し、互いに位相の異なる2つのタイミング信号を生成する分周回路部と、前記第1のクロックに対し位相の遅れた第2のクロックに同期した信号が入力される第1のラッチ回路と、前記第1のラッチ回路と縦続接続された第2のラッチ回路とを備え、前記分周回路部は、前記第1及び第2のラッチ回路のラッチ動作の制御端子に前記互いに位相の異なる2つのタイミング信号をそれぞれ供給し、前記分周数に応じて前記第2のラッチ回路のラッチ動作のタイミングを制御することを特徴とする。
また、この発明は、請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の同期化制御回路を備えることを特徴とする半導体装置である。
最初に、SDRAMについて説明する。図2において、符号2はクロック発生器、3はコマンドデコーダ、4はモードレジスタ、5はコントロール回路である。6はローアドレスバッファ&リフレッシュカウンタ、7はカラムアドレスカウンタ&バーストカウンタである。8はローデコーダ、9はコラムデコーダ、10はメモリセルアレイ、11はセンスアンプである。12はデータコントロール回路、13はラッチ回路、14は入出力バッファ、15はDLL(Delay Locked Loop)である。
CWL5の場合には、DIV2に「0」を、DIV24に「0」を出力し、分周は行わない。CWL6の場合には、DIV2に「0」を、DIV24に「1」を出力し、分周数は2分周とする。CWL7の場合には、DIV2に「1」を、DIV24に「0」を出力し、分周数は3分周とする。CWL8の場合には、DIV2に「1」を、DIV24に「1」を出力し、分周数は4分周とする。
この場合、レイテンシCLaに依存せずに分周数が決まる。また、レイテンシCLaに応じて分周数を決めるようにすることも勿論可能である。レイテンシCLaはレイテンシCWLbと直接関係はないが、一般的な特性では素子の速度に依存するので、レイテンシCLaが小さい値をとる時はレイテンシCWLbも小さくなる。
図4(a)は外部クロックCKを示し、また、図4(b)は外部コマンドを示す。
時刻t0においてコマンドデコーダ3(図2)が外部からReadコマンドを受け取ると(図4(b))、コマンドデコーダ3において、図4(c)に示す内部コマンドRIが発行される。この内部コマンドRIは外部クロックCKに対し位相の遅れた内部クロックPCLK(図4(d))でフリップフロップ21(図1)に読み込まれ、信号RP(図4(f))として同期化制御回路1に送られる。
tDELAY=tRPL+α
となる。この式において、tRPLは、図4(h)に示すように、t0の外部クロックCKに基づく分周クロックRSELO(t0)とt0の内部クロックPCLKに基づく信号RPとの位相差であり、αは、ラッチマージンやtCKminマージン(外部クロックCKの最小クロック周期に対する余裕度)によって決まる所定量である。
tDELAY=tRPL+α−tCK
とした場合である。つまり、図4の波形図に示したものよりも、遅延量tDELAYを外部クロックCKの1サイクル分(tCK)少なく設定した場合である。この場合、図4に記載の場合に比べ、遅延回路25の遅延素子を小さくすることができる。レイテンシの換算は、分周器の分周数+1となる。例えば、図5では、4分周クロックを用いているため、レイテンシ=5となる。
図7は同実施形態による同期化制御回路1aの構成を示す回路図であり、この実施形態は連続Readコマンド入力に対応した実施形態である(図9(b)参照)。
図において、クロックPCLKは、外部クロックCKに対し遅延をもった(位相の遅れた)内部クロックである。コマンドRIは、外部コマンド、/CS、/RAS、/CAS、/WEをデコードして得られた、内部Readコマンドである。この内部ReadコマンドRIは内部クロックPCLKによってD型フリップフロップ21に読み込まれ、信号RPとして同期化制御回路1aのラッチ22−1〜22−4へ出力される。ラッチ22−1〜22−4はそれぞれ遅延回路25−1〜25−4から出力される遅延分周クロックRSELI<3:0>を受けて信号RPを読み込み、ラッチ23−1〜23−4へ出力する。ラッチ23−1〜23−4は可変分周回路24aから出力される分周クロックRSELO<3:0>を受けてラッチ22−1〜22−4の出力を読み込み、図2の入出力バッファ14へenable用内部ステート信号RLとして出力する。このように、ラッチ22−1、23−1、ラッチ22−2、23−2、ラッチ22−3、23−3、ラッチ22−4、23−4はそれぞれ縦続に接続され、それぞれが同期化部27−1、27−2、27−3、27−4を構成している。そして、同期化部27−1〜27−4は、並列に接続されている。
時刻t0にてReadコマンド“Read0”を受け取ると、内部ReadコマンドRI(t0)が発行される(図9(c))。このコマンドRI(t0)は外部クロックCKに対し位相の遅れた内部クロックPCLKによってD型フリップフロップ21に読み込まれ、信号RP(t0)(図9(f))として同期化制御回路1aに送られる。一方、可変分周回路24aにおいて、内部クロックLCLK(t1)(図9(e))からクロックLCLKの4分周クロックである分周クロックRSELO<0>が生成され、これを遅延させた遅延分周クロックRSELI<0>で上記内部Read信号RP(t0)がラッチ22−1にラッチされ、4サイクル後の分周クロックRSELO<0>によってラッチ23−1に読み込まれ、信号RL(t5)として入出力バッファ14(図2)へ出力される。
なお、本発明の同期化制御回路は、同期化制御回路1、1aである。また、本発明の第1のラッチ回路及び第1の保持手段は、ラッチ22、22−1〜22−4である。また、また、本発明の第2のラッチ回路及び第2の保持手段は、ラッチ23、23−1〜23−4である。本発明の可変分周回路は、可変分周回路24、24aである。また、本発明の遅延回路は、遅延回路25、25−1〜25−4である。また、本発明の分周回路部は、分周回路部26、26aである。また、本発明の同期化部は、同期化部27、27−1〜27−1である。また、本発明の周波数検知回路は、周波数検知回路50である。また、本発明の第1のクロックは、内部クロックLCLKである。また、本発明の第2のクロックは、内部クロックPCLKである。また、本発明の分周クロックは、分周クロックRSELO、RSELO<0>、RSELO<1>、RSELO<2>、RSELO<3>である。また、本発明の遅延分周クロックは、遅延分周クロックRSELI、RSELI<0>、RSELI<1>、RSELI<2>、RSELI<3>、RSELI<3:0>である。
Claims (15)
- 設定された分周数で第1のクロックを分周して分周クロックを生成する可変分周回路と、
前記第1のクロックに対し位相の遅れた第2のクロックに同期した信号が入力され、該信号を前記分周クロックに同期させて出力する同期化部とを備え、
前記分周数に応じて該信号を出力するタイミングを可変とすることを特徴とする同期化制御回路。 - 前記分周数が、外部から入力されるレイテンシによって所望の値に設定されることを特徴とする請求項1に記載の同期化制御回路。
- 外部クロックの周波数を検知する周波数検知回路を備え、
前記分周数が、前記周波数検知回路の該検知の結果によって所望の値に設定されることを特徴とする請求項1に記載の同期化制御回路。 - 前記分周クロックを遅延した遅延分周クロックの活性化に応じて、前記第2のクロックに同期した信号を保持する第1の保持手段と、
前記分周クロックの活性化に応じて、前記第1の保持手段の出力を保持する第2の保持手段とを有することを特徴とする請求項2又は3に記載の同期化制御回路。 - 前記第1の保持手段が、前記分周クロックの第1のクロックパルスを遅延したクロックパルスの活性化に応じて前記保持動作を行い、
前記第2の保持手段が、前記分周クロックの前記第1のクロックパルスの次のクロックパルスの活性化に応じて前記保持動作を行なうことを特徴とする請求項4に記載の同期化制御回路。 - 設定された分周数で第1のクロックを分周し、互いに位相の異なる2つのタイミング信号を生成する分周回路部と、
前記第1のクロックに対し位相の遅れた第2のクロックに同期した信号が入力される第1のラッチ回路と、
前記第1のラッチ回路と縦続接続された第2のラッチ回路とを備え、
前記分周回路部は、前記第1及び第2のラッチ回路のラッチ動作の制御端子に前記互いに位相の異なる2つのタイミング信号をそれぞれ供給し、
前記分周数に応じて前記第2のラッチ回路のラッチ動作のタイミングを制御することを特徴とする同期化制御回路。 - 前記分周数が、外部から入力されるレイテンシによって所望の値に設定されることを特徴とする請求項6に記載の同期化制御回路。
- 外部クロックの周波数を検知する周波数検知回路を備え、
前記分周数が、前記周波数検知回路の該検知の結果によって所望の値に設定されることを特徴とする請求項6に記載の同期化制御回路。 - 前記第2のラッチ回路のラッチ動作のタイミングを制御することで、前記第2のラッチ回路から出力される信号の出力タイミングを制御することを特徴とする請求項7又は請求項8に記載の同期化制御回路。
- 前記分周回路部は、前記分周数で前記第1のクロックを分周して分周クロックを生成する可変分周回路と、
前記分周クロックを遅延し遅延分周クロックを生成する遅延回路とを備え、
前記第1のラッチ回路のラッチ動作の制御端子には、前記遅延分周クロックが前記タイミング信号として供給され、
前記第2のラッチ回路のラッチ動作の制御端子には、前記分周クロックが前記タイミング信号として供給されることを特徴とする請求項7又は請求項8に記載の同期化制御回路。 - 前記第1及び第2のラッチ回路を備える同期化部に、該同期化部と同一構成の複数の同期化部を並列接続し、
前記分周回路部が、互いに位相の異なる複数のタイミング信号を生成し、並列接続された前記複数の同期化部のそれぞれのラッチ回路のラッチ動作の制御端子に、前記互いに位相が異なる複数のタイミング信号をそれぞれ供給することを特徴とする請求項6から請求項10のいずれか一項に記載の同期化制御回路。 - 請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の同期化制御回路を有することを特徴とする半導体記憶装置。
- 互いに位相が異なる2つのクロック間での信号の同期化を行なう同期化制御回路の制御方法であって、
相対的に位相の進んだ一方のクロックを、可変分周回路を用いて設定された分周数に分周して分周クロックを生成し、
相対的に位相の遅れた他方のクロックに同期した信号を前記分周クロックに同期させて出力し、
前記分周数を用いて前記出力のタイミングを制御することを特徴とする同期化制御回路の制御方法。 - 前記分周数を、外部から入力するレイテンシによって所望の値に設定することを特徴とする請求項13に記載の同期化制御回路の制御方法。
- 外部クロックの周波数を検知し、該検知の結果によって前記可変回路の分周数を所望の値に設定されることを特徴とする請求項13に記載の同期化制御回路の制御方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008219744A JP2010056888A (ja) | 2008-08-28 | 2008-08-28 | 同期化制御回路、半導体装置及び制御方法 |
US12/461,813 US8115529B2 (en) | 2008-08-28 | 2009-08-25 | Device and control method of device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008219744A JP2010056888A (ja) | 2008-08-28 | 2008-08-28 | 同期化制御回路、半導体装置及び制御方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010056888A true JP2010056888A (ja) | 2010-03-11 |
Family
ID=41724412
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008219744A Ceased JP2010056888A (ja) | 2008-08-28 | 2008-08-28 | 同期化制御回路、半導体装置及び制御方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8115529B2 (ja) |
JP (1) | JP2010056888A (ja) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7716510B2 (en) | 2006-12-19 | 2010-05-11 | Micron Technology, Inc. | Timing synchronization circuit with loop counter |
US7656745B2 (en) | 2007-03-15 | 2010-02-02 | Micron Technology, Inc. | Circuit, system and method for controlling read latency |
TWI393344B (zh) * | 2009-04-22 | 2013-04-11 | Univ Nat Taiwan | 多除頻模式毫米波除頻電路 |
US20120033772A1 (en) * | 2010-08-08 | 2012-02-09 | Freescale Semiconductor, Inc | Synchroniser circuit and method |
US8451027B2 (en) * | 2011-04-11 | 2013-05-28 | Ati Technologies Ulc | Pseudo full-rate sense amplifier flip-flop for high-speed receiver front-end |
JP6242228B2 (ja) * | 2014-02-05 | 2017-12-06 | 株式会社メガチップス | クロック生成方法およびクロック生成回路 |
US9508417B2 (en) | 2014-02-20 | 2016-11-29 | Micron Technology, Inc. | Methods and apparatuses for controlling timing paths and latency based on a loop delay |
US9530473B2 (en) | 2014-05-22 | 2016-12-27 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for timing provision of a command to input circuitry |
US9397668B2 (en) * | 2014-12-18 | 2016-07-19 | Linear Technology Corporation | System and method for providing programmable synchronous output delay in a clock generation or distribution device |
US9531363B2 (en) | 2015-04-28 | 2016-12-27 | Micron Technology, Inc. | Methods and apparatuses including command latency control circuit |
US9813067B2 (en) | 2015-06-10 | 2017-11-07 | Micron Technology, Inc. | Clock signal and supply voltage variation tracking |
US9865317B2 (en) * | 2016-04-26 | 2018-01-09 | Micron Technology, Inc. | Methods and apparatuses including command delay adjustment circuit |
US9601170B1 (en) | 2016-04-26 | 2017-03-21 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for adjusting a delay of a command signal path |
KR102467451B1 (ko) * | 2016-06-17 | 2022-11-17 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 반도체 시스템 |
US9997220B2 (en) | 2016-08-22 | 2018-06-12 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for adjusting delay of command signal path |
US10224938B2 (en) | 2017-07-26 | 2019-03-05 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for indirectly detecting phase variations |
KR102471531B1 (ko) * | 2017-12-21 | 2022-11-28 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 저속 동작 환경에서 고속 테스트를 수행할 수 있는 반도체 장치 및 시스템 |
TWI738606B (zh) * | 2021-01-13 | 2021-09-01 | 新唐科技股份有限公司 | 信號同步裝置 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02228759A (ja) * | 1989-03-02 | 1990-09-11 | Canon Inc | ディジタル・データ転送装置 |
JPH04336825A (ja) * | 1991-05-14 | 1992-11-25 | Oki Electric Ind Co Ltd | 2段同期回路 |
JPH07274257A (ja) * | 1994-03-31 | 1995-10-20 | Toshiba Corp | リモコン送信装置 |
JPH0934585A (ja) * | 1995-07-20 | 1997-02-07 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
JPH10200516A (ja) * | 1997-01-14 | 1998-07-31 | Sharp Corp | デジタルデータ転送クロック変換回路 |
JP2000332732A (ja) * | 1999-05-20 | 2000-11-30 | Nec Corp | クロック乗せ替え回路 |
JP2001306176A (ja) * | 2000-04-26 | 2001-11-02 | Nec Corp | クロック位相自動調整回路 |
JP2004192791A (ja) * | 2002-12-10 | 2004-07-08 | Samsung Electronics Co Ltd | 同期式半導体メモリ装置の出力制御信号の発生方法及び同期式半導体メモリ装置 |
JP2004258888A (ja) * | 2003-02-25 | 2004-09-16 | Toshiba Microelectronics Corp | 半導体集積回路 |
JP2007087468A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-04-05 | Elpida Memory Inc | 出力制御信号発生回路 |
JP2007115307A (ja) * | 2005-10-18 | 2007-05-10 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09186680A (ja) | 1995-12-28 | 1997-07-15 | Nec Eng Ltd | データラッチ回路 |
JP3993717B2 (ja) * | 1998-09-24 | 2007-10-17 | 富士通株式会社 | 半導体集積回路装置 |
JP2000269784A (ja) | 1999-03-15 | 2000-09-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 信号処理装置 |
FR2793091B1 (fr) * | 1999-04-30 | 2001-06-08 | France Telecom | Dispositif d'asservissement de frequence |
KR100470995B1 (ko) * | 2002-04-23 | 2005-03-08 | 삼성전자주식회사 | 클럭수신 동기회로를 갖는 멀티클럭 도메인 데이터 입력처리장치 및 그에 따른 클럭신호 인가방법 |
JP2004287691A (ja) * | 2003-03-20 | 2004-10-14 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路 |
JP2004326290A (ja) | 2003-04-23 | 2004-11-18 | Ricoh Co Ltd | 自動タイミング補正機能を備える集積回路 |
US7234069B1 (en) * | 2004-03-12 | 2007-06-19 | Altera Corporation | Precise phase shifting using a DLL controlled, multi-stage delay chain |
US7230461B1 (en) * | 2004-06-29 | 2007-06-12 | Marvell International, Ltd. | Retiming circuits for phase-locked loops |
JP2006319399A (ja) * | 2005-05-10 | 2006-11-24 | Nec Electronics Corp | パルス幅変調回路及び多相クロック生成回路 |
KR100625298B1 (ko) | 2005-09-29 | 2006-09-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 온 다이 터미네이션 제어 장치 |
-
2008
- 2008-08-28 JP JP2008219744A patent/JP2010056888A/ja not_active Ceased
-
2009
- 2009-08-25 US US12/461,813 patent/US8115529B2/en active Active
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02228759A (ja) * | 1989-03-02 | 1990-09-11 | Canon Inc | ディジタル・データ転送装置 |
JPH04336825A (ja) * | 1991-05-14 | 1992-11-25 | Oki Electric Ind Co Ltd | 2段同期回路 |
JPH07274257A (ja) * | 1994-03-31 | 1995-10-20 | Toshiba Corp | リモコン送信装置 |
JPH0934585A (ja) * | 1995-07-20 | 1997-02-07 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
JPH10200516A (ja) * | 1997-01-14 | 1998-07-31 | Sharp Corp | デジタルデータ転送クロック変換回路 |
JP2000332732A (ja) * | 1999-05-20 | 2000-11-30 | Nec Corp | クロック乗せ替え回路 |
JP2001306176A (ja) * | 2000-04-26 | 2001-11-02 | Nec Corp | クロック位相自動調整回路 |
JP2004192791A (ja) * | 2002-12-10 | 2004-07-08 | Samsung Electronics Co Ltd | 同期式半導体メモリ装置の出力制御信号の発生方法及び同期式半導体メモリ装置 |
JP2004258888A (ja) * | 2003-02-25 | 2004-09-16 | Toshiba Microelectronics Corp | 半導体集積回路 |
JP2007087468A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-04-05 | Elpida Memory Inc | 出力制御信号発生回路 |
JP2007115307A (ja) * | 2005-10-18 | 2007-05-10 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8115529B2 (en) | 2012-02-14 |
US20100052739A1 (en) | 2010-03-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2010056888A (ja) | 同期化制御回路、半導体装置及び制御方法 | |
US8624647B2 (en) | Duty cycle correction circuit for memory interfaces in integrated circuits | |
US7715272B2 (en) | Semiconductor device having latency counter | |
KR100540487B1 (ko) | 데이터 출력제어회로 | |
US6920080B2 (en) | Methods for generating output control signals in synchronous semiconductor memory devices and related semiconductor memory devices | |
WO2004082143A2 (en) | Multi-frequency synchronizing clock signal generator | |
KR20110099562A (ko) | 2상 딜레이 라인과 듀티 교정회로를 갖는 지연 동기 루프 및 그의 듀티 교정방법 | |
JP2013222997A (ja) | 半導体装置 | |
US7181638B2 (en) | Method and apparatus for skewing data with respect to command on a DDR interface | |
US20050138458A1 (en) | System and method for signal timing | |
JP2002358782A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US7791963B2 (en) | Semiconductor memory device and operation method thereof | |
KR101747885B1 (ko) | 시프트 회로 | |
JP5113433B2 (ja) | メモリコントローラ | |
EP1745486A1 (en) | Multiple data rate ram memory controller | |
JP2004104748A (ja) | レジスタ制御ディレイロックループ | |
JP4854258B2 (ja) | 同期式メモリ装置のデータ出力時点調節方法 | |
KR20140090300A (ko) | 레이턴시 제어회로 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치 | |
JP4855908B2 (ja) | レイテンシーカウンター及び関連方法 | |
JP2004258888A (ja) | 半導体集積回路 | |
KR20080063877A (ko) | 반도체 메모리 소자 | |
KR100800138B1 (ko) | 디엘엘 장치 | |
JP4050763B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
JP2004078657A (ja) | メモリシステム及びメモリモジュール | |
JP2008269699A (ja) | Ddr−sdramへのデータ書き込み回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110606 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20130731 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20130801 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130905 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130924 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20131030 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20131213 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131218 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140701 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20140929 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20141002 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150217 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20150327 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20150331 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150513 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150630 |
|
A045 | Written measure of dismissal of application [lapsed due to lack of payment] |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A045 Effective date: 20151027 |