JP2009256670A - 硬化性ポリシロキサン組成物、並びに、それを用いたポリシロキサン硬化物、光学部材、航空宇宙産業用部材、半導体発光装置、照明装置、及び画像表示装置 - Google Patents
硬化性ポリシロキサン組成物、並びに、それを用いたポリシロキサン硬化物、光学部材、航空宇宙産業用部材、半導体発光装置、照明装置、及び画像表示装置 Download PDFInfo
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Abstract
【課題】 耐光性(特に耐紫外線性)及び密着性に優れると共に、十分な耐熱性・耐水熱性及び成膜性を有し、さらに硬化する際に発泡が少なく、長期間使用してもクラックや剥離、着色、発泡を生じない硬化性ポリシロキサン組成物を提供する。
【解決手段】 特定のヒドロシリル基含有ポリシロキサン化合物、特定のシラノール基を一分子中に2個以上含有するポリシロキサン化合物、並びに、脱水素縮合反応触媒を含むことを特徴とする硬化性ポリシロキサン組成物。
【選択図】 図1
Description
この半導体発光デバイス用部材としては、例えばエポキシ樹脂が用いられている。また、このエポキシ樹脂等の中に蛍光体などの顔料を含有させることによって、半導体発光素子からの発光波長を変換するものなどが知られている。
また近年、LEDの発光波長の短波長化に伴いエポキシ樹脂が劣化して着色するために、長時間の点灯及び高出力での使用においては半導体発光デバイスの輝度が著しく低下するという課題もあった。
保護するという目的を封止用硬化性樹脂組成物が担うべきであることを鑑みれば好適とは言えない。さらに、内在的に脱水素型の反応で硬化する系であることから、副生する水素ガスの影響によって発泡を生じてしまうという決定的な問題があった。この発泡は、以下の問題を引き起こす要因となるため、これを解決する手段が望まれていた。
(i)半導体発光装置の封止材として用いる場合に、封止材とその他部材の界面に存在する発泡により、剥離の問題が生じる。
(ii)蛍光体の界面や、その他部材の界面に発泡が生ずると発泡中の空気によりLEDチップから出る熱を逃がす伝熱性を低下させる上、蛍光体やその他部材の劣化を起こしやすい。
(iii)泡の影響によって、発光素子の励起光が抜けてしまい易くなり、光の変換効率が著しく低減する。
(iv)常に均一な製品を作ることが難しい。
体発光デバイス分野のみならず、光線透過性(透明性)、耐光性、耐熱性、耐水熱性、耐UV性などの種々の特性が要求される航空宇宙産業用材料や、その他の材料にも適用性を有することを見出した。
〔1〕 ヒドロシリル基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物、
シラノール基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物、及び、
脱水素縮合反応触媒を含有し、
下記の硬化試験において、高さの平均値が0.12cm以下の硬化物となる
ことを特徴とする硬化性ポリシロキサン組成物。
〔硬化試験〕
1)硬化性ポリシロキサン組成物2gを底面直径5cm、高さ1cmのポリテトラフルオロエチレン製容器内にて空気中で、気温150℃にて6時間静置する。
(2)前記(1)の処理の後、前記ポリテトラフルオロエチレン製容器内を45度傾けた状態で30分間静置しても全く流動性が無い(硬化した)ことを確認する。
(3)容器内底から前記硬化物の上面までの高さの平均値を測定する。
脱水素縮合反応触媒を含有し、
前記の硬化試験において、高さの平均値が0.12cm以下の硬化物となる
ことを特徴とする硬化性ポリシロキサン組成物。
〔3〕 ヒドロシリル基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物、
シラノール基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物、及び、
脱水素縮合反応触媒を含有する
ことを特徴とする半導体発光装置用硬化性ポリシロキサン組成物。
脱水素縮合反応触媒を含有する
ことを特徴とする半導体発光装置用硬化性ポリシロキサン組成物。
〔5〕 下記一般式(1)で表されるポリシロキサン化合物、下記一般式(2)で表され、かつシラノール基を一分子中に2個以上含有するポリシロキサン化合物、並びに脱水素縮合反応触媒を含むことを特徴とする硬化性ポリシロキサン組成物。
(R13SiO3/2)p(R14R15SiO2/2)q(R16R17R18SiO1/2)r ・・・(2)
一般式(2)中、R13〜R18は、それぞれ独立して、水素原子、アルキル基、アルケニル基、水酸基およびアリル基から選ばれる基を示す。 p、q、およびrは、0以上
の整数を示し、p+q+r≧1である。
〔7〕 さらに下記一般式(3)で表されるポリシロキサン化合物を含むことを特徴とする前記〔1〕〜〔6〕に記載の硬化性ポリシロキサン組成物。
〔9〕 空気中で、気温150℃にて6時間以内に硬化する前記〔1〕〜〔8〕に記載の硬化性ポリシロキサン組成物。
〔11〕 シロキサン化合物のケイ素原子に結合した全置換基のうち、ヒドリド基とシラノール基を除く置換基の95mol%以上がメチル基である前記〔1〕〜〔10〕に記載の硬化性ポリシロキサン組成物。
〔12〕 前記脱水素縮合反応触媒の金属成分としてPt、Pd、Pb、Sn、Zn、Fe、Ti、Zr、Biから選ばれる1以上を用いる前記〔1〕〜〔11〕に記載の硬化性ポリシロキサン組成物。
〔14〕 デュロメータタイプAによる硬度測定値(ショアA)が5以上90以下であり、かつ膜 厚1mmとした時の400nm以上800nm以下の全ての波長における光
透過率が、80%以上である前記〔13〕に記載のポリシロキサン硬化物。
〔16〕 前記〔13〕又は〔14〕に記載のポリシロキサン硬化物を含む航空宇宙産業用部材。
〔17〕 前記〔15〕に記載の光学部材を備えた半導体発光装置。
〔18〕 前記〔17〕に記載の半導体発光装置を備えた照明装置。
〔19〕 前記〔17〕に記載の半導体発光装置を備えた画像表示装置。
また、本発明のポリシロキサン硬化物は、光線透過性(透明性)、耐光性、耐熱性、耐水熱性等が高く、発泡が抑制されているため、種々の光学部材に好適にもちいることができる。
空宇宙産業用材料、その他の材料にも適用することできる。
[1]硬化性ポリシロキサン組成物
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物の1つの態様は、ヒドロシリル基を一分子中に2
個以上含有するシロキサン化合物、及び、シラノール基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物を含有することを特徴とする。
また、本発明の硬化性ポリシロキサン組成物の別の1つの態様は、ヒドロシリル基を一分
子中に1個以上含有し、且つ、シラノール基を一分子中に1個以上含有するシロキサン化合物を含有することを特徴とする。
ヒドロシリル基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物とは、1分子中に少なくとも2個、好ましくは3個以上のSiH結合を有するオルガノハイドロジェンシラン又は直鎖状、分岐状、3次元ネット状のオルガノハイドロジェンポリシロキサンである。なかでもオルガノハイドロジェンポリシロキサンが硬化時に揮発しにくく好ましい。このオルガノハイドロジェンポリシロキサンの置換基としては後述の基を用いることが出来るが、好ましくは脂肪族不飽和結合を有さないものが良い。
、両末端トリメチルシロキシ基封鎖メチルハイドロジェンポリシロキサン、両末端トリメチルシロキシ基封鎖ジメチルシロキサン・メチルハイドロジェンシロキサン共重合体、両末端ジメチルハイドロジェンシロキシ基封鎖ジメチルポリシロキサン、両末端ジメチルハイドロジェンシロキシ基封鎖ジメチルシロキサン・メチルハイドロジェンシロキサン共重合体、両末端トリメチルシロキシ基封鎖メチルハイドロジェンシロキサン・ジフェニルシロキサン共重合体、両末端トリメチルシロキシ基封鎖メチルハイドロジェンシロキサン・ジフェニルシロキサン・ジメチルシロキサン共重合体、(CH3)2HSiO1/2単位とSiO4/2単位とからなる共重合体、(CH3)2HSiO1/2単位とSiO4/2単位と(C6H5)SiO3/2単位とからなる共重合体などが挙げられる。
中でも前記一般式(1)で表される化合物を好ましく用いることが出来る。
れるポリシロキサン化合物、下記一般式(2)で表され、かつシラノール基を一分子中に2個以上含有するポリシロキサン化合物、および脱水素縮合触媒(好ましくは、金属、ヒドロキシルアミン、又は、ホウ素)を含有する硬化触媒を含むことを特徴とする。
(R13SiO3/2)p(R14R15SiO2/2)q(R16R17R18SiO1/2)r・・・(2)
一般式(2)中、R13〜R18は、それぞれ独立して、水素原子、アルキル基、アルケニル基、およびアリル基から選ばれる基を示す。
p、q、およびrは、0以上の整数を示し、p+q+r≧1である。
R1〜R18うち、少なくとも80mol%以上、好ましくは95mol%以上、さらに好ましくは99mol%以上がメチル基であることが好ましい。
また、本発明の硬化性ポリシロキサン組成物の1つの態様として、前記硬化性ポリシロ
キサン組成物にさらに、下記一般式(3)等で表される、アルケニル基を有するポリシロキサン化合物を含ませることができる。
Gelest社製の両末端ビニルポリジメチルシロキサン:
DMS−V00、
DMS−V03、
DMS−V05、
DMS−V21、
DMS−V22、
DMS−V25、
DMS−V31、
DMS−V33、
DMS−V35、
DMS−V41、
DMS−V42、
DMS−V46、
DMS−V52、
PDV−0325、
PDV−0331、
PDV−0341、
PDV−0346、
PDV−0525、
PDV−0541、
PDV−1625、
PDV−1631、
PDV−1635、
PDV−1641、
PDV−2331、
PDV−2335、
PMV−9925、
Gelest社製のトリメチルシリル基封鎖ビニルメチルシロキサン−ジメチルシロキサンコポリマー:
VDT−123、
VDT−127、
VDT−131、
VDT−153、
VDT−431、
VDT−731、
VDT−954、
Gelest社製のビニルT−構造ポリマー:
VTT−106、
MTV−124、
その他、ビニル基含有環状ジメチルポリシロキサン
等が挙げられる。
以下、本発明の硬化性ポリシロキサン組成物の特徴につき説明する。
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物は、好ましくは、下記一般式(1)で表されるヒドロシリル基含有ポリシロキサン化合物を含有する。ヒドロシリル基をシロキサン骨格内に有していることにより、架橋密度のチューニングを容易に行うことができる。
R1〜R3およびR5〜R8は、それぞれ独立して、水素原子、アルキル基、アルケニ
ル基、アリル基、およびR10R11R12Siからなる群より選ばれる基を示す。このうち、アルキル基、アルケニル基、アリル基、およびR10R11R12Siは、さらにハロゲン原子に置換されていてもよい。
好ましいアルケニル基としては、例えば、ビニル基が挙げられる。
好ましいアリル基としては、例えば、フェニル基が挙げられる。
これらの中でも、好ましいものとしては、フェニル基、メチル基等が挙げられる。
R4、R9〜R12は、それぞれ独立して、水素原子、アルキル基、アルケニル基およびアリル基から選ばれる基を示す。アルキル基、アルケニル基およびアリル基は、さらにハロゲン原子に置換されていてもよく、好ましいアルキル基、アルケニル基およびアリル基は、前記R1〜R3およびR5〜R8におけるとものと同様である。
一般式(1)のヒドロシリル基含有ポリシロキサン化合物としては、具体的には、例えば水素基末端ポリジメチルシロキサン(Hydride terminated Polydimethylsiloxanes)やトリメチルシリル基末端ポリメチルヒドロシロキサン(Polymethylhydrosiloxanes trimethylsilyl terminated)などが挙げられる。これらは市販品を使用することも可能であり、例えば、信越化学工業製KF-99、KF-9901、東レダウコーニング社製SH 1107シリーズ、Momentive Performance Materials社製 TSF484, TSL9586、旭化成ワッカー社製 H-Siloxane、Gelest社製HMS シリーズ、DMSシリーズなどを挙げることができる。
このうち、本発明の硬化性ポリシロキサンを硬化物とさせた場合に、気温200℃以上における収縮を抑制するためには、重量平均分子量はさらに5000以上であることが好ましく、本発明の硬化性ポリシロキサンの硬化を容易とするためには、重量平均分子量はさらに27000以上であることが好ましい。
このうち、粘度を下げて、ハンドリングをよくするためには、重量平均分子量は、さらに90000以下であることが好ましい。
前記ヒドロシリル基含有ポリシロキサン化合物は1種類を単独で用いてもよく、また2種類以上を任意の組み合わせ、及び比率で用いてもよい。
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物は、好ましくは、下記一般式(2)で表され、かつ水酸基を一分子中に2個以上含有するポリシロキサン化合物を含有する。水酸基を一分子中に2個以上含有することにより、直線的に、また三官能分子と反応して架橋しながら三次元的に、その分子量を高分子化することが可能となる。
(R13SiO3/2)p(R14R15SiO2/2)q(R16R17R18SiO1/2)r ・・・(2)
一般式(2)中、R13〜R18は、それぞれ独立して、水素原子、アルキル基、アルケニル基、およびアリル基から選ばれる基を示す。
p、q、およびrは、0以上の整数を示し、p+q+r≧1である。
(R13〜R18)
R13〜R18は、それぞれ独立して、水素原子、アルキル基、アルケニル基およびアリル基から選ばれる基を示す。アルキル基、アルケニル基およびアリル基は、さらにハロゲン原子に置換されていてもよく、好ましいアルキル基、アルケニル基およびアリル基は、前記R1〜R3およびR5〜R8におけるとものと同様である。
前記シラノール基を一分子中に2個以上含有するポリシロキサン化合物においては、硬化時の粘度上昇を適度に抑制する観点から、分子中のシラノール基の量を多すぎないようにすることが重要である。即ち、R13〜R18におけるシラノール基の数はR13〜R18の置換基全体数に対して、通常99.9%以下、好ましくは99.5%以下、更に好ましくは99%以下であり、通常1%以上、好ましくは1.5%以上、更に好ましくは、2%以上である。シラノール基量が多すぎると粘度上昇率が大きすぎるため、ハンドリングが良くない。また、シラノール基量が少なすぎると反応の進行が遅くなるか、不十分である場合がある。
F3905、YF3057、YF3800、YF3802、YF3807、YF3897などが挙げられる。
本発明のポリシロキサン組成物は、例えば、ヒドロシリル基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物、及び、シラノール基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物を含有するが、その配合量はSi−H(ヒドロシリル基)とSi−OH(シラノール基)のモル比で、通常100:1〜1:100、好ましくは20:1〜1:20、更に好ましくは10:1〜1:10である。前記一般式(1)のポリシロキサン化合物が多すぎても、一般式(2)のポリシロキサン化合物が多すぎても硬化が不十分となる。
ヒドロシリル基及びシラノール基を一分子中に1個以上含有するシロキサン化合物は単独にて脱水素触媒と混合することにより硬化性組成物とすることができるが、必要に応じて互いに異なる分子量のSiH/SiOH含有シロキサン化合物、あるいは異なるSiH/SiOH比のシロキサン化合物を混合することにより硬化性に優れた組成物とすることができる。
本発明のポリシロキサン組成物は、少なくとも前記一般式(1)および、(2)のポリシロキサン化合物を含有するが、その配合量はSi−H(ヒドロシリル基)とSi−OH(シラノール基)のモル比で、通常100:1〜1:100、好ましくは20:1〜1:20、更に好ましくは10:1〜1:10である。前記一般式(1)のポリシロキサン化合物が多すぎても、一般式(2)のポリシロキサン化合物が多すぎても硬化が不十分となる。
即ち、ヒドリド基および水酸基は、硬化反応に必須の置換基であるため、適宜含有されている必要があるが、それ以外の置換基は硬化物の光及び熱的安定性の観点から、アルキル基を多く含むものが好ましい。アルキル基が少なすぎて他の官能基に置換されると、安定性が劣るようになる。
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物は、脱水素縮合反応触媒、特にシロキサン化合物脱水素縮合反応触媒を含有する。シロキサン化合物脱水素触縮合反応媒としては、金属、ホウ素及びヒドロキシルアミンからなる群から選ばれる少なくとも1つを含有することが好ましい。金属成分としては、Pt, Pd, Pb, Sn, Zn, Fe, Ti, Zr, Biから選ばれる1以上を用いるのが好ましく、中でもPt,Pd,Snが反応活性高いことから好ましく、特に適度な活性を有し反応速度制御しやすく、工業的に入手の容易なSnが好ましい。Sn系硬化触媒の中では、Sn(IV)系が更に好ましい。また硬化物を電
極近くで使用する場合にはヒドロキシルアミンや白金系触媒などを用いると電極着色などを起こしにくく好ましい。
なども好適に用いることが出来るが活性高く硬化物が発泡体となりやすいので、必要に応じてエチニルシクロヘキサノールなどの硬化抑制剤を併用したり、硬化温度をステップ昇温とすると発泡を抑制することができる。
前記硬化触媒は1種類を単独で用いてもよく、また2種類以上を任意の組み合わせ、及び比率で用いてもよい。 また任意の反応促進剤や反応抑制剤と併用しても良い。
特に、Sn(IV)系硬化触媒を用いる場合は、経時的に生じる酸化スズの量を抑える観点
から、0.08重量%以下であることが好ましい。
なお、前記の硬化触媒の含有率は、ICP分析により測定できる。
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物は、空気中で、気温150℃にて通常6時間以内、好ましくは4時間以内、さらに好ましくは3時間以内に硬化することが好ましい。即ち、本発明の硬化性ポリシロキサン組成物は比較的硬化時間が短いため、経済的に優れ、また、中にフィラーを混練した際に、そのフィラーが沈降したりしないという技術的意義がある。また、150℃という比較的低温により硬化が可能であるため、半導体発光装置の構成要素、特に半導体発光素子や蛍光体の熱による性能低下を抑制することもできる。
ても全く流動性があるかないかでそれぞれ未硬化状態、硬化状態を判断することができる。
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物が、気温150℃で硬化する時間として、好ましくは、6時間以内であり、更に好ましくは5時間以内である。また、通常0.2時間以上、好ましくは0.5時間以上である。硬化時間が長すぎると、中にフィラーを混練した際に、そのフィラーが沈降したりする上、長時間の硬化処理を必要とするため、コスト高である。短すぎると、ハンドリングが難しく、レベリング前に硬化して形成面にムラができる場合がある。
硬化速度を早くするためには、適切な触媒を選択する、分岐の多いポリシロキサン原料を使用する、分子量の高いポリシロキサン原料を使用する、硬化時に発生する水素など脱離成分の除去を積極的に行う、などの方法がある。
即ち、本発明の硬化性ポリシロキサン組成物は、下記の硬化試験において、高さ(厚さ)の平均値が通常0.12cm以下、好ましくは0.118cm以下、更に好ましくは0.115cm以下であり、通常0.09cm以上、好ましくは0.1cm以上である。高さの平均値が大きくなるのは、泡や空気をかみこんでいるということであり、高さの平均値が大きすぎると、発泡しやすくなっている場合がある、小さすぎると固形分が少ないか、硬化収縮を起こしやすい場合がある。
(1)硬化性ポリシロキサン組成物2gを底面直径5cm、高さ1cmのポリテトラフルオロエチレン製容器内にて空気中で、気温150℃にて6時間静置する。
(2)前記(1)の処理の後、前記ポリテトラフルオロエチレン製容器内を45度傾けた状態で30分間静置しても全く流動性が無い(硬化した)ことを確認する。
(3)容器内底から前記硬化物の上面までの高さの平均値を測定する。
なお、前記(3)における高さの平均値は、具体的には、例えば以下の(4)〜(6)の手順で測定される。
(4)前記硬化性ポリシロキサン組成物を中で硬化させた後(前記(2)の処理後)のポリテトラフルオロエチレン製容器に水を入れる。
(5)入った水の体積を測定し、これを底面積5cmで除したものを「水の高さの平均値」とする。
(6)下式により算出する。
{高さの平均値(cm)}={容器高さ(1cm)}−{水の高さの平均値(cm)}
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物の屈折率は、該硬化性ポリシロキサン化合物の温度が20℃における波長589nmの光の屈折率が、通常1.42以下、好ましくは1.419以下、更に好ましくは1.418以下であり、通常1.35以上、好ましくは1.40以上である。光学部材に応用する場合には一般的な発光デバイスの屈折率が約2.5以下であるが、本発明においては樹脂の光安定性の観点からも比較的屈折率の低いものを選択することが好ましい。
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物は、含有するシロキサン化合物のケイ素原子に結合した全置換基のうち、ヒドリド基とシラノール基を除く置換基の80mol%以上、好ましくは95mol%以上、さらに好ましくは99mol%以上がアルキル基であることが好ましい。また、アルキル基は、メチル基であることが好ましい。
シロキサン化合物のケイ素原子に結合した全置換基のうち、ヒドリド基とシラノール基を除く置換基のモル分率は、液体H−核磁気共鳴スペクトル、固体H−核磁気共鳴スペクトル、固体Si−核磁気共鳴スペクトル、又は、これらを相補的に組み合わせて用いることにより、測定したスペクトルから、(シロキサン化合物のケイ素原子に結合したアルキル基のピークの総面積から算出したモル比)/(シロキサン化合物のケイ素原子に結合した全置換基(ヒドリド基と水酸基を除く)のピークの総面積から算出したモル比)によりモル百分率を算出することができる。
具体的には、一般式(1)(2)(3)の置換基R1〜R20のうち、ヒドリド基と水酸基を除く置換基総量の80mol%以上、好ましくは95mol%以上、更に好ましくは98mol%以上、特に好ましくは99mol%以上がアルキル基であるものが好ましい。また、前記屈折率が大きすぎ、発光デバイスの屈折率を上回ると、光取り出し効率が向上しない可能性がある。また、屈折率が小さすぎると例えば光取り出し効率が既存の半導体発光デバイス用部材と比較して向上しない可能性がある。
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物の屈折率を、上記範囲とする方法としては、例えば、後述するように、前記ポリシロキサン化合物の種類や配合量を適宜選択することが挙げられる。特に、前記ポリシロキサン化合物(前記一般式(1)および(2)の化合物)のいずれか、好ましくは全てにおいて、温度が20℃における波長589nmの光の屈折率が、通常1.42以下、好ましくは1.419以下、更に好ましくは1.418以下であり、通常1.35以上、好ましくは1.40以上である。前記屈折率が大きすぎ、発光デバイスの屈折率を上回ると、光取り出し効率が向上しない可能性がある。また、屈折率が小さすぎると例えば光取り出し効率が既存の半導体発光デバイス用部材と比較して向上しない可能性がある。なお、前記ポリシロキサン化合物の屈折率の測定は、各々本発明の硬化性ポリシロキサン組成物の屈折率の測定と同様に行なうことができる。
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物の粘度に制限は無いが、液温25℃において、通常20mPa・s以上、好ましくは100mPa・s以上、より好ましくは200mPa・s以上、また、通常1500mPa・s以下、好ましくは1000mPa・s以下、より好ましくは800mPa・s以下である。なお、前記粘度はRV型粘度計(例えばブルックフィールド社製RV型粘度計「RVDV−II+Pro」により測定できる。
[1−7]他の部材との組み合わせ
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物は単独で用いても良いが、粘度、硬化速度、硬化物の硬度、塗布しやすさの向上などの性状の調整を目的として、他の液状媒体と混合しても良い。
無機系材料としては、例えば、金属アルコキシド、セラミック前駆体ポリマー若しくは金属アルコキシドを含有する溶液をゾル−ゲル法により加水分解重合して成る溶液、またはこれらの組み合わせを固化した無機系材料(例えばシロキサン結合を有する無機系材料)等を挙げることができる。
シリコーン系材料とは、通常、シロキサン結合を主鎖とする有機重合体をいい、例えば一般組成式(1)で表される化合物及び/またはそれらの混合物が挙げられる。
(R1R2R3SiO1/2)M(R4R5SiO2/2)D(R6SiO3/2)T(SiO4/2)Q・・・式(1)
ここで、R1からR6は同じであっても異なってもよく、有機官能基、シリル基、水酸基、水素原子からなる群から選択される。またM、D、T及びQは0から1未満であり、M+D+T+Q=1を満足する数である。
付加型シリコーン系材料とは、ポリオルガノシロキサン鎖が、有機付加結合により架橋されたものをいう。代表的なものとしては、例えばビニルシランとヒドロシランをPt触媒などの付加型触媒の存在下に反応させて得られるSi−C−C−Si結合を架橋点に有する化合物等を挙げることができる。これらは市販のものを使用することができ、例えば付加重合硬化タイプの具体的商品名としては、信越化学工業社製「LPS−1400」「LPS−2410」「LPS−3400」等が挙げられる。
RnSiO〔(4−n)/2〕 (1a)
(但し、式(1a)中、Rは同一又は異種の置換又は非置換の1価炭化水素基、アルコキシ基、又は水酸基であり、nは1≦n<3を満たす正数である。ただし、Rのうち少なくとも1つはアルケニル基である。)
(B)ヒドロシリル基含有ポリオルガノシロキサンは、下記組成式(2a)で示される1分子中に少なくとも2個のケイ素原子に結合した水素原子を有するオルガノハイドロジェンポリシロキサンである。
(但し、式(2a)中、R’はアルケニル基を除く同一又は異種の置換又は非置換の1価の炭化水素基であり、a及びbは0.7≦a≦2.1、0.001≦b≦1.0かつ、0.8≦a+b≦2.6を満たす正数である。)
以下、付加型シリコーン樹脂につき更に詳しく説明する。
なお、(A)アルケニル基含有オルガノポリシロキサンは、1種のみを用いても良く、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用してもよい。
組成式(2a)において、R’はアルケニル基を除く一価の炭化水素基を表わす。ここで、R’としては、組成式(1a)中のRと同様の基(ただし、アルケニル基を除く)を挙げることができる。また、耐UV性要求される用途に用いる場合には少なくとも80%以上はメチル基であることが好ましい。
さらに、(B)ヒドロシリル基含有ポリオルガノシロキサンは、1分子中に少なくとも2個、好ましくは3個以上のSiH結合を有する。
なお、(B)ヒドロシリル基含有ポリオルガノシロキサンは、1種のみを用いても良く、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用してもよい。
この付加反応触媒の配合量は触媒量とすることができるが、通常、白金族金属として、(A)アルケニル基含有オルガノポリシロキサン及び(B)ヒドロシリル基含有ポリオルガノシロキサンの合計重量に対して、1ppm以上、特に2ppm以上、また、500ppm以下、特に100ppm以下配合することが好ましい。
付加型シリコーン材料は硬化時に脱離する成分が無く硬化収縮しにくい、白金など本願発明の組成物と共通の硬化触媒を用いることが出来る、分子デザインによる硬化物の屈折率や硬度の選択・触媒設計による硬化速度の選択の自由度が高いなどの利点がある。付加型シリコーンと本願発明組成物の混合物 は本願発明組成物による優れた耐熱性、耐UV
性、接着性とともに前記付加型シリコーンの利点を併せ持つ組成物とすることができる。
縮合型シリコーン系材料とは、例えば、アルキルアルコキシシランの加水分解・重縮合で得られるSi−O−Si結合を架橋点に有する化合物を挙げることができる。
具体的には、下記一般式(1b)及び/又は(2b)で表わされる化合物、及び/又はそのオリゴマーを加水分解・重縮合して得られる重縮合物が挙げられる。
(式(1b)中、Mは、ケイ素、アルミニウム、ジルコニウム、及びチタンより選択される少なくとも1種の元素を表わし、Xは、加水分解性基を表わし、Y1は、1価の有機基
を表わし、mは、Mの価数を表わす1以上の整数を表わし、nは、X基の数を表わす1以上の整数を表わす。但し、m≧nである。)
(Ms+XtY1 s−t−1)uY2 (2b)
(式(2b)中、Mは、ケイ素、アルミニウム、ジルコニウム、及びチタンより選択される少なくとも1種の元素を表わし、Xは、加水分解性基を表わし、Y1は、1価の有機基を表わし、Y2は、u価の有機基を表わし、sは、Mの価数を表わす1以上の整数を表わし、tは、1以上、s−1以下の整数を表わし、uは、2以上の整数を表わす。)
また、硬化触媒としては、例えば金属キレート化合物などを好適なものとして用いることができる。金属キレート化合物は、Ti、Ta、Zr、Hf、Zn、Snのいずれか1以上を含むものが好ましく、Zrを含むものがさらに好ましい。
縮合型シリコーン材料は耐熱性・耐光性、接着性に優れる、分子デザインによる硬化物の屈折率や硬度選択の自由度が高いなどの利点がある。縮合型シリコーンと本願発明組成物の混合物 は本願発明組成物による優れた耐熱性、耐UV性、接着性とともに前記縮合
型シリコーンの利点を併せ持つ組成物とすることができる。
本発明のポリシロキサン硬化物は、本発明の硬化性ポリシロキサン組成物を硬化させて得られることを特徴とする。以下、その特性につき説明する。
本発明のポリシロキサン硬化物の屈折率は、該本発明のポリシロキサン硬化物の温度が20℃における波長589nmの光の屈折率が、通常1.55以下、好ましくは、1.42以下、更に好ましくは1.419以下、特に好ましくは1.418以下であり、通常1.35以上、好ましくは1.40以上である。光学部材に応用する場合には一般的な発光デバイスの屈折率が約2.5以下であるが、本発明においては樹脂の光安定性の観点から比較的屈折率の低いものを選択することが好ましい。前記屈折率が大きすぎ、発光デバイスの屈折率を上回ると、光取り出し効率が向上しない可能性がある。また、屈折率が小さすぎると例えば光取り出し効率が既存の半導体発光デバイス用部材と比較して向上しない可能性がある。
本発明のポリシロキサン硬化物の屈折率は、通常屈折計により測定することができる。
具体的には、例えば膜圧1mm以上に成形した平滑な表面の単独・独立硬化物膜をサンプルとして、Abbe屈折計(ナトリウムD線(589nm)使用)を用いることができる。
本発明のポリシロキサン硬化物は、膜厚1mmとした時の400nm以上800nm以下の全ての波長における光透過率が、通常80%以上、好ましくは90%以上、さらに好ましくは95%以上である。
[2−3]その他物性
本発明のポリシロキサン硬化物は、上記特性を主な特徴とするが、その他、下記の構造や性質を有していることが好ましい。
本発明のポリシロキサン硬化物の基本骨格は、通常はメタロキサン骨格、好ましくはガ
ラス(ケイ酸塩ガラス)などと同じ無機質のシロキサン骨格(シロキサン結合)であることが好ましい。シロキサン結合は、下記表1の化学結合の比較表からも明らかなように、ポリシロキサン硬化物を光学部材の用途等に用いるときに、以下の優れた特徴がある。
(I)結合エネルギーが大きく、熱分解・光分解しにくいため、耐光性が良好である。
(II)電気的に若干分極している。
(III)鎖状構造の自由度は大きく、フレキシブル性に富む構造が可能であり、シロキサ ン鎖中心に自由回転可能である。
(IV)酸化度が大きく、これ以上酸化されない。
(V)電気絶縁性に富む。
なお、ポリシロキサン硬化物の前記ケイ素含有率は、例えば以下の方法を用いて誘導結合高周波プラズマ分光(inductively coupled plasma spectrometry:以下適宜「ICP」と略する。)分析を行ない、その結果に基づいて算出することができる。
ポリシロキサン硬化物を100μm程度に粉砕し、白金るつぼ中にて大気中、450℃で1時間、ついで750℃で1時間、950℃で1.5時間保持して焼成し、炭素成分を除去した後、得られた残渣少量に10倍量以上の炭酸ナトリウムを加えてバーナー加熱し溶融させ、これを冷却して脱塩水を加え、更に塩酸にてpHを中性程度に調整しつつケイ素として数ppm程度になるよう定容し、ICP分析を行なう。
本発明のポリシロキサン硬化物を、半導体発光装置用の光学部材に用いる場合には、膜厚1mmでの半導体発光装置の発光波長における光透過率が、通常80%以上、中でも85%以上、更には90%以上であることが好ましい。半導体発光装置は各種の技術によりその光取り出し効率が高められているが、半導体発光素子を封止したり蛍光体を保持したりするための透光性部材の透明度が低いと、これを用いた半導体発光装置の輝度が低減するため、高輝度な半導体発光装置製品を得にくくなる傾向にある。
なお、ポリシロキサン硬化物の光透過率は、例えば以下の手法により、膜厚1mmに成形した平滑な表面の単独硬化物膜のサンプルを用いて、紫外分光光度計により測定することができる。
ポリシロキサン硬化物の、傷や凹凸による散乱の無い厚さ約1mmの平滑な表面の単独硬化物膜を用いて、紫外分光光度計(島津製作所製 UV−3100)を使用し、波長200nm〜800nmにおいて透過度測定を行なう。
但し、半導体発光装置の形状は様々であり、大多数は0.1mmを超える厚膜状態での使用であるが、LEDチップ(発光素子)から離れた位置に薄膜状の蛍光体層(例えばナノ蛍光体粒子や蛍光イオンを含む厚さ数μmの層)を設ける場合や、LEDチップの直上に薄膜上に高屈折光取り出し膜を設ける場合等、薄膜使用の用途もある。この様な場合には、この膜厚において80%以上の透過率を示すことが好ましい。このような薄膜状の適用形態においても、本発明のポリシロキサン硬化物は優れた耐光性、耐熱性を示し、封止性能に優れ、クラック等なく安定して成膜できる。
本発明のポリシロキサン硬化物は、次の条件を満たすことが好ましい。即ち、本発明のポリシロキサン硬化物は、固体Si−核磁気共鳴スペクトルにおいて、(ケミカルシフト−40ppm以上0ppm以下のピークの総面積)/(ケミカルシフト−40ppm未満のピークの総面積)の比(以下適宜、「本発明にかかるピーク面積比」という)が、通常3以上、好ましくは5以上、より好ましくは10以上、また、通常200以下、好ましくは100以下、より好ましくは50以下であることが好ましい。
本発明のポリシロキサン硬化物は、ポリフタルアミドなどの樹脂、セラミック又は金属の表面に存在する所定の官能基(例えば、水酸基、メタロキサン結合中の酸素など)と水素結合可能な官能基を有していてもよい。半導体発光装置用の容器(後述するカップ等。以下適宜「半導体発光装置容器」という)は、通常、セラミック又は金属で形成されている。また、セラミックや金属の表面には、通常は水酸基が存在する。そこで、密着性を担保させることを目的として、当該水酸基と水素結合可能な官能基を有していてもよい。ただし、前述のように、本発明の硬化性ポリシロキサンにおいて、本発明の硬化性ポリシロキサン組成物は、含有するシロキサン化合物のケイ素原子に結合した全置換基のうち、ヒドリド基とシラノール基を除く置換基の80mol%以上、好ましくは95mol%以上、さらに好ましくは99mol%以上がアルキル基であることが好ましい。また、アルキル基は、メチル基であることが好ましい。
シロキサン化合物のケイ素原子に結合した全置換基のうち、ヒドリド基とシラノール基を除く置換基のモル分率は、液体H−核磁気共鳴スペクトル、固体H−核磁気共鳴スペクトル、固体Si−核磁気共鳴スペクトル、又は、これらを相補的に組み合わせて用いることにより、測定したスペクトルから、(シロキサン化合物のケイ素原子に結合したアルキル基のピークの総面積から算出したモル比)/(シロキサン化合物のケイ素原子に結合した全置換基(ヒドリド基と水酸基を除く)のピークの総面積から算出したモル比)によりモル百分率を算出することができる。
前記一般式(1)および、(2)、(3)のポリシロキサン化合物のR1〜R20の置換基は、ヒドリド基と水酸基を除く置換基の80mol%以上、好ましくは95mol%以上、さらに好ましくは99mol%以上がアルキル基であることが好ましいので、当該水酸基と水素結合可能な官能基の含有量も当該範囲内であることが好ましい。
[2−3−5]耐熱性
本発明のポリシロキサン硬化物は、耐熱性に優れる。即ち、高温条件下に放置した場合でも、所定の波長を有する光における透過率が変動しにくい性質を有する。具体的には、本発明のポリシロキサン硬化物は、200℃に500時間放置した前後において、波長400nmの光に対する透過率の維持率が、通常80%以上、好ましくは90%以上、より好ましくは95%以上であり、また、通常110%以下、好ましくは105%以下、より好ましくは100%以下である。
なお、前記の変動比は、紫外/可視分光光度計による透過率測定により、[2−3−2]で前述したUV透過率の測定方法と同様にして測定することができる。
本発明のポリシロキサン硬化物は、耐光性に優れる。即ち、UV(紫外光)を照射した場合でも、所定の波長を有する光に対する透過率が変動しにくい性質を有する。具体的には、本発明のポリシロキサン硬化物は、中心波長380nm、放射強度0.4kW/m2の光を72時間照射した前後において、波長400nmの光における透過率の維持率が、通常80%以上、好ましくは90%以上、より好ましくは95%以上であり、また、通常110%以下、好ましくは105%以下、より好ましくは100%以下である。
なお、前記の変動比は、紫外/可視分光光度計による透過率測定により、[2−3−2
]で前述したUV透過率の測定方法と同様にして測定することができる。
本発明のポリシロキサン硬化物は、通常、硬化触媒を用いて製造される。そのため、本発明のポリシロキサン硬化物には、通常は、これらの触媒が残留している。具体的には、本発明のポリシロキサン硬化物は、前記の硬化触媒を、金属元素換算で、通常0.001重量%以上、好ましくは0.01重量%以上、より好ましくは0.02重量%以上、また、通常0.3重量%以下、好ましくは0.2重量%以下、より好ましくは0.1重量%以下だけ含有する。
なお、前記の硬化触媒の含有率は、ICP分析により測定できる。
本発明のポリシロキサン硬化物はTG−mass(熱分解MSクロマトグラム)において、40℃〜210℃の範囲の加熱発生ガスのクロマトグラム積分面積が小さいものであることが好ましい。
(i)重合硬化反応を十分に行ない、低分子量の未反応原料が残存しないようにする。
(ii)重合反応等の反応工程以外の工程において、低沸点成分を効率良く除去する。例えば、原料中の低沸点成分を予め除去しておくことがそれに相当する。具体的には、例えば通常60℃以上、好ましくは80℃以上、より好ましくは100℃以上、また、通常150℃以下、好ましくは130℃以下、より好ましくは120℃以下で100mmHg以下、好ましくは20mmHg以下の圧力にて低沸点成分を留去する過程を重合前の各原料成分に対して行うことである。
本発明のポリシロキサン硬化物は、エラストマー状を呈する部材であることが好ましい。一般に半導体発光装置等の光学部材には熱膨張係数の異なる部材を複数使用することが多いが、本発明のポリシロキサン硬化物がエラストマー状を呈することにより、光学部材に用いられる部材の伸縮による応力を緩和することができる。したがって、使用中に剥離、クラック、断線などを起こしにくく、耐リフロー性及び耐温度サイクル性に優れる半導体デバイスを提供することができる。
なお、硬度測定値(ショアA)は、JIS K6253に記載の方法により測定することができる。具体的には、古里精機製作所製のA型ゴム硬度計を用いて測定を行なうこと
ができる。
本発明のポリシロキサン硬化物は単独で封止材として用いても良いが、有機蛍光体、酸素や水分により劣化しやすい蛍光体、半導体発光装置を封止する場合等、より厳密に酸素や水分からの遮断を要求される用途においては、本発明のポリシロキサン硬化物により蛍光体の保持や半導体発光素子の封止・光取り出しを実施し、さらにその外側にガラス板やエポキシ樹脂などの高気密素材による気密封止を実施したり、真空封止を実施しても良い。この場合の形状に制限は無く、本発明のポリシロキサン硬化物による封止体、塗布物あるいは塗布面が実質的に金属・ガラス・高気密性樹脂などの高気密素材により外界から保護遮断され酸素や水分の流通が無い状態になっていれば良い。
本発明のポリシロキサン硬化物の形状及び寸法に制限は無く任意である。例えば、ポリシロキサン硬化物が何らかの半導体発光装置容器内を充填する封止材として使用される場合には、本発明のポリシロキサン硬化物の形状及び寸法は、その半導体発光装置容器の形状及び寸法に応じて決定される。また、ポリシロキサン硬化物が何らかの基板の表面に形成される場合は、通常は膜状に形成されることが多く、その寸法は用途に応じて任意に設定される。本発明のポリシロキサン硬化物を導光板や航空宇宙産業用部材に用いる場合にも、その適用する部位に合わせて、任意に形状を用いることができる。
また、その他の成分は、1種のみを用いても良く、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用しても良い。
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物は、前記一般式(1)のヒドロシリル基含有ポリシロキサン化合物、前記一般式(2)のシラノール基を一分子中に2個以上含有するポリシロキサン化合物および前記硬化触媒、および必要に応じてその他の添加物を混合することにより得られる。その混合方法は特に限定されない。
本発明のポリシロキサン硬化物は、通常、空気中で、気温150℃にて6時間以内で硬化するが、本発明を実施する上で、好ましい硬化条件を以下に詳述する。
硬化時間は反応温度により異なるが、通常0.1時間以上、好ましくは0.5時間以上、更に好ましくは0.8時間以上、また、通常100時間以下、好ましくは20時間以下、更に好ましくは15時間以下の範囲で実施される。
の構造が不均一となり、クラックを生じやすくなる。さらに消費エネルギーの観点から経済性にも劣るようになる。以上の傾向を踏まえて、所望の物性値に応じて条件を適宜選択することが望ましい。
溶媒を留去する方法は、本発明の効果を著しく損なわない限り任意である。ただし、硬化性ポリシロキサン組成物の分解開始温度以上の温度で溶媒の留去を行なうことは避けるようにする。
本発明のポリシロキサン硬化物を、半導体発光装置として用いる場合であって、該半導体発光装置と共に加熱される場合は、通常は該半導体発光装置の構成要素の耐熱温度以下の温度、好ましくは200℃以下で硬化することが好ましい。また、本発明は上述のように、150℃程度またはそれ以下という比較的低温により硬化が可能であるため、半導体発光装置の構成要素、特に半導体発光素子や蛍光体の安定を目的とする場合は、150℃
以下で硬化することが好ましい。
上述の重合工程の後、得られたポリシロキサン硬化物に対し、必要に応じて各種の後処理を施しても良い。後処理の種類としては、モールド部との密着性の改善のための表面処理、反射防止膜の作製、光取り出し効率向上のための微細凹凸面の作製等が挙げられる。
本発明のポリシロキサン硬化物の用途は制限されないが、光線透過性(透明性)、耐光性、耐熱性、耐水熱性、耐UV性、少発泡性などの種々の特性が高いため、様々な光学部材に好適に用いることができる。本発明のポリシロキサン硬化物を含む光学部材の用途の具体例としては、半導体発光装置、導光板、及び宇宙産業用部材等が挙げられる。
例えば、本発明の光学部材を半導体発光装置の半導体発光素子等を封止するための部材(封止材)に用いる場合、蛍光体粒子及び/又は無機粒子を併用することで、特定の用途に用いるときさらに好適に使用することが可能となる。以下、これらの蛍光体粒子及び無機粒子の併用について説明する。
本発明のポリシロキサン硬化物を光学部材として用いる場合、例えば、本発明の硬化性
ポリシロキサン組成物中に蛍光体を分散させて、後述する半導体発光装置のカップ内にモールドしたり、適当な透明支持体上に薄層状に塗布したりすることにより、波長変換用部材として使用することができる。なお、蛍光体は1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を任意の組み合わせ及び比率で併用しても良い。
蛍光体の組成には特に制限はないが、結晶母体であるY2O3、Zn2SiO4等に代表される金属酸化物、Ca5(PO4)3Cl等に代表されるリン酸塩及びZnS、SrS、CaS等に代表される硫化物に、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb等の希土類金属のイオンやAg、Cu、Au、Al、Mn、Sb等の金属のイオンを付活剤または共付活剤として組み合わせたものが好ましい。
具体的には、蛍光体として以下に挙げるものを用いることが可能であるが、これらはあくまでも例示であり、本発明で使用できる蛍光体はこれらに限られるものではない。なお、以下の例示では、構造の一部のみが異なる蛍光体を、適宜省略して示している。例えば、「Y2SiO5:Ce3+」、「Y2SiO5:Tb3+」及び「Y2SiO5:Ce3+,Tb3+」を「Y2SiO5:Ce3+,Tb3+」と、「La2O2S:Eu」、「Y2O2S:Eu」及び「(La,Y)2O2S:Eu」を「(La,Y)2O2S:Eu」とまとめて示している。省略箇所はカンマ(,)で区切って示す。
赤色の蛍光を発する蛍光体(以下適宜、「赤色蛍光体」という)が発する蛍光の具体的な波長の範囲を例示すると、ピーク波長が、通常570nm以上、好ましくは580nm以上、また、通常700nm以下、好ましくは680nm以下が望ましい。
このような赤色蛍光体としては、例えば、赤色破断面を有する破断粒子から構成され、赤色領域の発光を行なう(Mg,Ca,Sr,Ba)2Si5N8:Euで表わされるユウロピウム付活アルカリ土類シリコンナイトライド系蛍光体、規則的な結晶成長形状としてほぼ球形状を有する成長粒子から構成され、赤色領域の発光を行なう(Y,La,Gd,Lu)2O2S:Euで表わされるユウロピウム付活希土類オキシカルコゲナイド系蛍光体等が挙げられる。
。
緑色の蛍光を発する蛍光体(以下適宜、「緑色蛍光体」という)が発する蛍光の具体的な波長の範囲を例示すると、ピーク波長が、通常490nm以上、好ましくは500nm以上、また、通常570nm以下、好ましくは550nm以下が望ましい。
このような緑色蛍光体として、例えば、破断面を有する破断粒子から構成され、緑色領
域の発光を行なう(Mg,Ca,Sr,Ba)Si2O2N2:Euで表わされるユウロピウム付活アルカリ土類シリコンオキシナイトライド系蛍光体、破断面を有する破断粒子から構成され、緑色領域の発光を行なう(Ba,Ca,Sr,Mg)2SiO4:Euで表わされるユウロピウム付活アルカリ土類シリケート系蛍光体等が挙げられる。
青色の蛍光を発する蛍光体(以下適宜、「青色蛍光体」という)が発する蛍光の具体的な波長の範囲を例示すると、ピーク波長が、通常420nm以上、好ましくは440nm以上、また、通常480nm以下、好ましくは470nm以下が望ましい。
、青緑色領域の発光を行なう(Sr,Ca,Ba)Al2O4:Euまたは(Sr,Ca,Ba)4Al14O25:Euで表わされるユウロピウム付活アルカリ土類アルミネート系蛍光体等が挙げられる。
また、青色蛍光体としては、例えば、ナフタル酸イミド系、ベンゾオキサゾール系、スチリル系、クマリン系、ピラゾリン系、トリアゾール系化合物の蛍光色素、ツリウム錯体等の有機蛍光体等を用いることも可能である。
黄色の蛍光を発する蛍光体(以下適宜、「黄色蛍光体」という。)が発する蛍光の具体的な波長の範囲を例示すると、通常530nm以上、好ましくは540nm以上、より好ましくは550nm以上、また、通常620nm以下、好ましくは600nm以下、より好ましくは580nm以下の波長範囲にあることが好適である。黄色蛍光体の発光ピーク波長が短すぎると黄色成分が少なくなり演色性が劣る半導体発光装置となる可能性があり、長すぎると半導体発光装置の輝度が低下する可能性がある。
また、そのほか、黄色蛍光体としては、CaGa2S4:Eu(Ca,Sr)Ga2S4:Eu、(Ca,Sr)(Ga,Al)2S4:Eu等の硫化物系蛍光体、Cax(Si,Al)12(O,N)16:Eu等のSiAlON構造を有する酸窒化物系蛍光体等のEuで付活した蛍光体を用いることも可能である。
本発明のポリシロキサン硬化物は、上述したもの以外の蛍光体を含有させることも可能
である。例えば、本発明のポリシロキサン硬化物は、イオン状の蛍光物質や有機・無機の蛍光成分を均一・透明に溶解・分散させた蛍光ガラスとすることもできる。
本発明に使用する蛍光体の粒径は特に制限はないが、中央粒径(D50)で、通常0.1μm以上、好ましくは2μm以上、さらに好ましくは5μm以上である。また、通常100μm以下、好ましくは50μm以下、さらに好ましくは20μm以下である。蛍光体の中央粒径(D50)が上記範囲にある場合は、後述する半導体発光装置において、半導体発光素子から発する光が充分に散乱される。また、半導体発光素子から発する光が充分に蛍光体粒子に吸収されるため、波長変換が高効率に行われると共に、蛍光体から発せられる光が全方向に照射される。これにより、複数種類の蛍光体からの一次光を混色して白色にすることができると共に、均一な白色が得られるため、半導体発光装置が発する合成光において、均一な白色光と照度が得られる。一方、蛍光体の中央粒径(D50)が上記範囲より大きい場合は、蛍光体が発光部の空間を充分に埋めることができないため、後述する半導体発光装置において、半導体発光素子からの光が充分に蛍光体に吸収されない可能性がある。また、蛍光体の中央粒径(D50)が、上記範囲より小さい場合は、蛍光体の発光効率が低下するため、半導体発光装置の照度が低下する可能性がある。
なお、本発明において、中央粒径(D50)および粒度分布(QD)は、重量基準粒度分布曲線から得ることが出来る。前記重量基準粒度分布曲線は、レーザ回折・散乱法により粒度分布を測定し得られるもので、具体的には、例えば以下のように測定することが出来る。
(1)気温25℃、湿度70%の環境下において、エチレングリコールなどの溶媒に蛍光体を分散させる。
(2)レーザ回折式粒度分布測定装置(堀場製作所 LA−300)により、粒径範囲0.1μm〜600μmにて測定する。
(3)この重量基準粒度分布曲線において積算値が50%のときの粒径値を中央粒径D50と表記する。また、積算値が25%及び75%の時の粒径値をそれぞれD25、D75と表記し、QD=(D75−D25)/(D75+D25)と定義する。QDが小さいことは粒度分布が狭いことを意味する。
また、蛍光体粒子の形状も、ポリシロキサン硬化物の形成に影響を与えない限り、例えば、蛍光体部形成液(蛍光体と硬化性ポリシロキサン化合物との混合液のことをいう。)の流動性等に影響を与えない限り、特に限定されない。
本発明に使用する蛍光体は、耐水性を高める目的で、またはポリシロキサン硬化物中で蛍光体の不要な凝集を防ぐ目的で、表面処理が行われていてもよい。かかる表面処理の例としては、特開2002−223008号公報に記載の有機材料、無機材料、ガラス材料などを用いた表面処理、特開2000−96045号公報等に記載の金属リン酸塩による被覆処理、金属酸化物による被覆処理、シリカコート等の公知の表面処理などが挙げられる。
は、以下の(i)〜(iii)の表面処理を行う。
(i)所定量のリン酸カリウム、リン酸ナトリウムなどの水溶性のリン酸塩と、塩化カルシウム、硫酸ストロンチウム、塩化マンガン、硝酸亜鉛等のアルカリ土類金属、Zn及びMnの中の少なくとも1種の水溶性の金属塩化合物とを蛍光体懸濁液中に混合し、攪拌する。
(ii)アルカリ土類金属、Zn及びMnの中の少なくとも1種の金属のリン酸塩を懸濁液中で生成させると共に、生成したこれらの金属リン酸塩を蛍光体表面に沈積させる。
(iii)水分を除去する。
本発明において、蛍光体粒子を加える方法は特に制限されない。蛍光体粒子の分散状態が良好な場合であれば、上述の硬化性ポリシロキサン組成物に後混合するだけでよい。即ち、本発明の硬化性ポリシロキサン組成物と蛍光体とを混合し、蛍光体部形成液を用意して、この蛍光体部形成液を用いてポリシロキサン組成物を作製すればよい。
なお、蛍光体の中には加水分解性のものもあるが、本発明のポリシロキサン硬化物は、塗布前の液状態(硬化性ポリシロキサン組成物)において、遊離の水分はほとんど存在しないので、そのような蛍光体でも加水分解してしまうことなく使用することが可能である。
本発明のポリシロキサン硬化物における蛍光体の含有率は、本発明の効果を著しく損なわない限り任意であるが、その適用形態により自由に選定できる。白色LEDや白色照明等の用途に用いる白色発光の半導体発光装置を例に挙げると、蛍光体を均一に分散して半導体発光素子を含むパッケージの凹部全体を埋めてポッティングする場合には、蛍光体総量として、通常0.1重量%以上、好ましくは1重量%以上、より好ましくは5重量%以上、また、通常35重量%以下、好ましくは30重量%以下、より好ましくは28重量%以下である。
口面や、LED気密封止用ガラス蓋体・レンズ・導光板等の外部光学部材の出光面など)に薄膜状に塗布する場合には、通常5重量%以上、好ましくは7重量%以上、より好ましくは10重量%以上、また、通常90重量%以下、好ましくは80重量%以下、より好ましくは70重量%以下である。
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物はエポキシ樹脂やシリコーン樹脂など従来の光学部材用材料と比較して低粘度であり、かつ蛍光体や無機粒子とのなじみが良く、高濃度の蛍光体や無機粒子を分散しても十分に塗布性能を維持することが出来る利点を有する。また、必要に応じて重合度の調整やアエロジル等チキソ材を含有させることにより高粘度にすることも可能であり、目的の蛍光体含有量に応じた粘度の調整幅が大きく、塗布対象物の種類や形状さらにはポッティング・スピンコート・印刷などの各種塗布方法に柔軟に対応できる塗布液を提供することが出来る。
また、本発明のポリシロキサン硬化物を少なくとも備えることを特徴とした光学部材を、半導体発光装置に使用する場合などにおいては、光学的特性や作業性を向上させるため、また、以下の<1>〜<5>の何れかの効果を得ることを目的として、更に無機粒子を含有させても良い。
<2>ポリシロキサン硬化物に結合剤として無機粒子を配合することにより、クラックの発生を防止する。
<4>ポリシロキサン硬化物に無機粒子を配合することにより、その収縮を低減する。
<5>ポリシロキサン硬化物に無機粒子を配合することにより、その屈折率を調整して、光取り出し効率を向上させる。
例えば、無機粒子が粒径約10nmの超微粒子状シリカ(日本アエロジル株式会社製、商品名:AEROSIL#200やRX200)の場合、硬化性ポリシロキサン化合物のチクソトロピック性が増大するため、上記<3>の効果が大きい。
また、ポリシロキサン硬化物とは屈折率が異なる粒径約1μmの無機粒子を用いると、ポリシロキサン硬化物と無機粒子との界面における光散乱が大きくなるので、上記<1>の効果が大きい。
従って、混合する無機粒子の種類は目的に応じて選択すれば良い。また、その種類は単一でも良く、複数種を組み合わせてもよい。また、分散性を改善するためにシランカップリング剤などの表面処理剤で表面処理されていても良い。
使用する無機粒子の種類としては、シリカ、チタン酸バリウム、酸化チタン、酸化ジルコニウム、酸化ニオブ、酸化アルミニウム、酸化セリウム、酸化イットリウムなどの無機酸化物粒子やダイヤモンド粒子が例示されるが、目的に応じて他の物質を選択することもでき、これらに限定されるものではない。
無機粒子の形態は粉体状、スラリー状等、目的に応じいかなる形態でもよいが、透明性を保つ必要がある場合は、本発明のポリシロキサン硬化物と屈折率を同等としたり、水系・溶媒系の透明ゾルとして硬化性ポリシロキサン化合物に加えたりすることが好ましい。
これらの無機粒子(一次粒子)の中央粒径は特に限定されないが、通常、蛍光体粒子の1/10以下程度である。具体的には、目的に応じて以下の中央粒径のものが用いられる。例えば、無機粒子を光散乱材として用いるのであれば、その中央粒径は0.1〜10μmが好適である。また、例えば、無機粒子を骨材として用いるのであれば、その中央粒径は1nm〜10μmが好適である。また、例えば、無機粒子を増粘剤(チキソ剤)として用いるのであれば、その中央粒子は10〜100nmが好適である。また、例えば、無機粒子を屈折率調整剤として用いるのであれば、その中央粒径は1〜10nmが好適である。
本発明において、無機粒子を混合する方法は特に制限されないが、通常は、蛍光体と同様に遊星攪拌ミキサー等を用いて脱泡しつつ混合することが推奨される。例えばアエロジルのような凝集しやすい小粒子を混合する場合には、粒子混合後必要に応じビーズミルや三本ロール、高せん断の攪拌機などを用いて凝集粒子の解砕を行ってから蛍光体等の混合容易な大粒子成分を混合しても良い。
本発明のポリシロキサン硬化物における無機粒子の含有率は、本発明の効果を著しく損なわない限り任意であるが、その適用形態により自由に選定できる。例えば、無機粒子を光散乱剤として用いる場合は、その含有率は0.01〜10重量%が好適である。また、例えば、無機粒子を骨材として用いる場合は、その含有率は1〜50重量%が好適である。また、例えば、無機粒子を増粘剤(チキソ剤)として用いる場合は、その含有率は0.1〜20重量%が好適である。また、例えば、無機粒子を屈折率調整剤として用いる場合は、その含有率は10〜80重量%が好適である。無機粒子の量が少なすぎると所望の効果が得られなくなる可能性があり、多すぎると硬化物の密着性、透明性、硬度等の諸特性に悪影響を及ぼす可能性がある。
また、本発明の硬化性ポリシロキサン組成物における無機粒子の含有率は、ポリシロキサン硬化物における無機粒子の含有率が前記範囲に収まるように設定すればよい。したがって、硬化性ポリシロキサン組成物が乾燥工程において重量変化しない場合は硬化性ポリシロキサン組成物における無機粒子の含有率はポリシロキサン硬化物における無機粒子の含有率と同様になる。また、硬化性ポリシロキサン組成物が溶媒等を含有している場合など、硬化性ポリシロキサン組成物が乾燥工程において重量変化する場合は、その溶媒等を除いた硬化性ポリシロキサン組成物における無機粒子の含有率がポリシロキサン硬化物における無機粒子の含有率と同様になるようにすればよい。
また、本発明のポリシロキサン硬化物を少なくとも備えてなることを特徴とする光学部材を、半導体発光装置に使用する場合などにおいては、導電性を付与し印刷やポッティングなどの技術を用いて半田使用温度より低温で電気回路を形成させることを目的として、導電性フィラーを含有させても良い。
これらの金属粉の形状としては、フレーク状(リン片状)、球状、粒状、樹枝状(デンドライト状)、球状の一次粒子が3次元状に凝集した形状などがある。この内、導電性、コスト、信頼性の面より銀粉を主体とすることが好ましく、導電性の面より、銀粉に少量のカーボンブラック及び/またはグラファイト粉を併用することがより好ましい。また、導電性、信頼性の面からフレーク状、球状の銀粉を使用することが好ましく、フレーク状と球状の銀粉を併用することが最も好ましい。また、必要により、シリカ、タルク、マイカ、硫酸バリウム、酸化インジウムなどの無機フィラーなどを少量配合しても良い。
にはポッティング・スピンコート・印刷などの各種塗布方法に柔軟に対応できる塗布液を提供することが出来る。
なお、硬化性ポリシロキサン組成物における無機粒子の含有率は、前出の蛍光体含有量と同様に測定することが出来る。
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物は単独で封止材料として用いても良いが、有機蛍光体、酸素や水分により劣化しやすい蛍光体、半導体発光装置を封止する場合等、より厳密に酸素や水分からの遮断を要求される用途においては、本発明の部材により蛍光体の保持や半導体発光素子の封止・光取り出しを実施し、さらにその外側にガラス板やエポキシ樹脂などの高気密素材による気密封止を実施したり、真空封止を実施しても良い。この場合の半導体発光装置の形状は特に制限無く、本発明の硬化性ポリシロキサン組成物による封止体、塗布物あるいは塗布面が実質的に金属・ガラス・高気密性樹脂などの高気密素材により外界から保護遮断され酸素や水分の流通無い状態になっていれば良い。
本発明のポリシロキサン硬化物を少なくとも備えてなる本発明の光学部材の例として、本発明の光学部材を少なくとも備えてなる半導体発光装置(以下、適宜「本発明の半導体発光装置」ということがある。)を例に挙げて、実施形態を用いて説明する。なお、以下の各実施形態では、本発明の半導体発光装置を適宜「発光装置」と略称することがある。さらに、本発明の半導体発光装置に用いる本発明の光学部材は、半導体発光装置用部材と呼ぶこととする。また、どの部位に本発明の光学部材を用いるかについては、全ての実施形態の説明の後にまとめて説明する。但し、これらの実施形態はあくまでも説明の便宜のために用いるものであって、本発明の光学部材を少なくとも備えてなる半導体発光装置の例は、これらの実施形態に限られるものではない。
本発明に係る半導体発光装置用部材を用いた本発明の半導体発光装置は、例えば、以下のA)、B)の適用例がある。本発明に係る半導体発光装置用部材は、何れの適用例においても、従来の半導体発光装置用の光学部材と比較して、優れた光耐久性及び熱耐久性を
示し、クラックや剥離が起きにくく、輝度の低下が少ない。したがって、本発明に係る半導体発光装置用部材によれば、長期にわたって信頼性の高い部材を提供することができる。
B)発光素子の近傍に蛍光体部を配設し、発光素子からの光により蛍光体部中の蛍光体や蛍光体成分を励起させ、蛍光を利用して所望の波長の光を発光する半導体発光装置。
A)の適用例においては、本発明に係る半導体発光装置用部材の高い耐久性、透明性および封止材性能を生かし、単独使用にて高耐久封止材、光取り出し膜、各種機能性成分保持剤として用いることができる。特に、本発明に係る半導体発光装置用部材を上記無機粒子等を保持する機能性成分保持剤として用い、本発明に係る半導体発光装置用部材に透明高屈折成分を保持させた場合には、本発明に係る半導体発光装置用部材を発光素子の出光面と密着させて使用し、かつ、発光素子に近い屈折率にすることで、発光素子の出光面での反射を低減し、より高い光取り出し効率を得ることが可能となる。
各実施形態の発光装置(半導体発光装置)1A,1Bは、図50(a),(b)に示すように、LEDチップからなる発光素子2と、発光素子2の近傍に配設された本発明に係る半導体発光装置用部材3A,3Bとを備えている。
また、透明部材3Aは、発光素子2の高耐久性封止材、光取出し膜、諸機能付加膜などの機能を発揮するものである。透明部材3Aは単独で用いてもよいが、蛍光体や蛍光体成分を除けば本発明の効果を著しく損なわない限り任意の添加剤を含有させることができる
。
一方、図50(b)に示す発光装置1Bでは、発光素子2から放射された光の一部4aは蛍光体部3Bをそのまま透過し、発光装置1Bの外部へ放射される。また、発光装置1Bでは、発光素子2から放射された光の他の一部4bが蛍光体部3Bに吸収されて蛍光体部3Bが励起され、蛍光体部3Bに含有される蛍光体粒子、蛍光イオン、蛍光染料等の蛍光成分特有の波長の光5が発光装置1Bの外部へ放射される。
[A.蛍光を利用しない実施形態]
〔実施形態A−1〕
本実施形態の発光装置1Aは、図1に示すように、プリント配線17が施された絶縁基板16上に発光素子2が表面実装されている。この発光素子2は発光層部21のp形半導体層(図示せず)及びn形半導体層(図示せず)それぞれが、導電ワイヤ15,15を介してプリント配線17,17に電気的に接続されている。なお、導電ワイヤ15,15は、発光素子2から放射される光を妨げないように、断面積の小さいものが用いられている。
しかして、本実施形態の発光装置1Aは、発光素子2と、透明部材3Aとを備えているため、発光装置1Aの光耐久性、熱耐久性を向上させることができる。また、封止部3Aにクラックや剥離が起きにくいため、封止部3Aの透明性を高めることが可能となる。
本実施形態の発光装置1Aは、図2に示すように、発光素子2の前面を透明部材3Aが覆っており、また、その透明部材上に、透明部材3Aとは異なる材料で封止部19が形成された他は、上記の実施形態A−1と同様に構成されている。また、発光素子2表面の透明部材3Aは、光取出し膜、封止膜として機能する透明の薄膜であり、例えば、発光素子2のチップ形成時に上記のポリシロキサン硬化物の原料をスピンコーティング等で塗布することにより形成できる。なお、実施形態A−1と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
さらに、実施形態A−1と同様の利点を得ることも可能である。
〔実施形態B−1〕
本実施形態の発光装置1Bは、図3(a)に示すように、LEDチップからなる発光素子2と、透光性の透明な材料を砲弾形に成形したモールド部11とを備えている。モールド部11は発光素子2を覆っており、発光素子2は導電性材料により形成したリード端子12,13に電気的に接続されている。リード端子12,13はリードフレームにより形成されている。
光層部21が、蛍光体部3B上に半導体プロセスを利用して形成されており、蛍光体部3Bの後面には反射層23が形成されている。発光層部21からの発光による光は全方位に放射されるが、蛍光体部3Bに吸収された一部の光は蛍光体部3Bを励起し、上記蛍光成分特有の波長の光を放射する。この蛍光体部3Bで発光した光は反射層3によって反射されて前方へ放射される。したがって、発光装置1Bは、発光層部21から放射された光と蛍光体部3Bから放射された光との合成光が得られることになる。
また、本実施形態の発光装置1Bでは、蛍光体部3Bが発光素子2を形成する基板に兼用されているので、発光素子2からの光の一部により蛍光体部中の発光中心となる蛍光体を効率良く励起することができ、当該蛍光成分特有の発光による光の輝度を高めることができる。
本実施形態の発光装置1Bは、図4に示すように、プリント配線17が施された絶縁基板16上に発光素子2が表面実装されている。ここにおいて、発光素子2は、実施形態B−1と同様の構成であって、窒化ガリウム系半導体からなる発光層部21が蛍光体部3B上に形成され、蛍光体部3Bの後面に反射層23が形成されている。また、発光素子2は発光層部21のp形半導体層(図示せず)及びn形半導体層(図示せず)それぞれが、導電ワイヤ15,15を介してプリント配線17,17に電気的に接続されている。
しかして、本実施形態の発光装置1Bにおいても、実施形態B−1と同様に、発光素子2と、発光素子2からの光により励起されて所望の波長の光を発光する蛍光体部3Bとを備えてなるので、発光素子2からの光と蛍光体からの光との合成光を得ることができる。また、実施形態B−1と同様、従来に比べて光色むらや光色ばらつきを少なくすることができるとともに、外部への光の取り出し効率を高めることができ、長寿命化を図ることも可能となる。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−2と略同じであって、実施形態B−2で説明した枠材18(図4参照)を用いておらず、図5に示すように、封止部19の形状が異なる。なお、実施形態B−2と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
しかして、本実施形態の発光装置1Bでは、実施形態B−2に比べて部品点数を少なくすることができ、小型化及び軽量化を図ることができる。しかも、封止部19の一部にレンズとして機能するレンズ機能部19bを設けたことにより、指向性の優れた配光を得ることができる。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−2と略同じであって、図6に示すように、絶縁基板16の一面(図6における上面)に発光素子2を収納する凹所16aが設けられており、凹所16aの底部に発光素子2が実装され、凹所16a内に封止部19を設けている点に特徴がある。ここにおいて、絶縁基板16に形成されたプリント配線17,17は凹所16aの底部まで延長され、導電ワイヤ15,15を介して発光素子2の窒化ガリウム系半導体からなる発光層部21に電気的に接続されている。なお、実施形態B−2と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−4と略同じであって、図7に示すように、発光素子2が絶縁基板16に所謂フリップチップ実装されている点に特徴がある。すなわち、発光素子2は、発光層部21のp形半導体層(図示せず)及びn形半導体層(図示せず)それぞれの表面側に導電性材料からなるバンプ24,24が設けられており、発光層部21がフェースダウンでバンプ24,24を介して絶縁基板16のプリント配線17,17と電気的に接続されている。したがって、本実施形態における発光素子2は、絶縁基板16に最も近い側に発光層部21が配設され、絶縁基板16から最も遠い側に反射層23が配設され、発光層部21と反射層23との間に蛍光体部3Bが介在することになる。なお、実施形態B−4と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
しかして、本実施形態の発光装置1Bでは絶縁基板16に設けられたプリント配線17,17と発光素子2とを接続するために実施形態B−4のような導電ワイヤ15,15を必要としないので、実施形態B−4に比べて機械的強度及び信頼性を向上させることが可能となる。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−5と略同じであって、図8に示すように、実施形態B−5で説明した反射層23を設けていない点が相違する。要するに、本実施形態の発光装置1Bでは、発光層部21で発光した光及び蛍光体部3Bで発光した光が封止部19を透過してそのまま前方へ放射されることになる。なお、実施形態B−5と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
〔実施形態B−7〕
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−1と略同じであって、図9に示すように、発光素子2を覆うモールド部11を備えており、モールド部11を蛍光体部と一体に形成している点に特徴がある。なお、実施形態B−1と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
しかして、本実施形態では、モールド部11が蛍光体部と一体に形成されているので、蛍光体部として後述するように本発明に係る半導体発光装置用部材を用いることにより、モールド部11の封止性、透明性、耐光性、耐熱性等を高めたり、長期間使用に伴うクラックや剥離を抑制したりすることが可能となる。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−1と略同じであって、図10に示すように、モールド部11の外面に後面が開口されたカップ状の蛍光体部3Bが装着されている点に特徴がある。すなわち、本実施形態では、実施形態B−1のように発光素子2に蛍光体部3Bを設ける代わりに、モールド部11の外周に沿う形状の蛍光体部3Bを設けているのである。なお、実施形態B−1と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
しかして、本実施形態の発光装置1Bでは、実施形態B−7の発光装置1Bのようにモールド部11全体を蛍光体部と一体に形成する場合に比べて、蛍光体部の材料使用量の削減を図ることができ、低コスト化を図れる。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は、実施形態B−2と略同じであって、図11に示すように、絶縁基板16の一面(図11の上面)側において発光素子2を囲むように配設された枠状の枠材18を備えており、枠材18の内側の封止部19を実施形態B−2で説明した蛍光体部3Bと同様の蛍光体部により形成している点に特徴がある。なお、実施形態B−2と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
〔実施形態B−10〕
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は、実施形態B−2と略同じであって、図12に示すように、絶縁基板16の一面(図12の上面)側において発光素子2を囲むように配設された枠状の枠材18を備えており、枠材18の内側の封止部19を実施形態B−2で説明した蛍光体部3Bと同様の蛍光体部により形成している点に特徴がある。なお、実施形態B−2と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
を抑制したりすることが可能となる。
また、本実施形態では、発光素子2の発光層部21の後面に蛍光体部3Bが形成され、発光素子2を覆う封止部19が蛍光体部により形成されているので、発光素子2の発光層部21の全方位に蛍光体部が存在することになり、蛍光体部の励起、発光を実施形態B−9に比べてより一層効率的に行えるという利点がある。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−2と略同じであって、図13に示すように、透光性材料よりなる封止部19の上面に、あらかじめレンズ状に成形した蛍光体部33を配設している点に特徴がある。ここにおいて、蛍光体部33は、実施形態B−2で説明した蛍光体部3Bと同様の材質よりなり、発光素子2からの光によって励起され所望の波長の光を発光するものである。なお、実施形態B−2と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
しかして、本実施形態の発光装置1Bでは、蛍光体部33が波長変換機能だけでなく、レンズとしての機能を有することになり、レンズ効果による発光の指向性制御を行うことができる。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−2と略同じであって、図14に示すように、透光性材料よりなる封止部19の上面に、あらかじめレンズ状に成形した蛍光体部33を配設している点に特徴がある。ここにおいて、蛍光体部33は、実施形態B−2で説明した蛍光体部3Bと同様と同様の材質よりなり、発光素子2からの光によって励起され所望の波長の光を発光するものである。なお、実施形態B−2と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−3と略同じであって、図15に示すように、絶縁基板16の上面側において発光素子2を覆う封止部19を備えており、封止部19が蛍光体部により形成されている点に特徴がある。ここに、封止部19は、実施形態B−3と同様に、発光素子2を封止する円錐台状の封止機能部19aと封止部19の前端部においてレンズとして機能するレンズ状のレンズ機能部19bとで構成されている。なお、実施形態B−3と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−3と略同じであって、図16に示すように、絶縁基板16の一面(図16の上面)側において発光素子2を覆う封止部19
を備えており、封止部19が蛍光体部3Bにより形成されている点に特徴がある。ここに、封止部19は、実施形態B−3と同様に、発光素子2を封止する円錐台状の封止機能部19aと封止部19の前端部においてレンズとして機能するレンズ状のレンズ機能部19bとで構成されている。なお、実施形態B−3と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
しかして、本実施形態の発光装置1Bでは、封止部19が発光素子2を封止・保護する機能だけでなく、発光素子2からの光を波長変換する波長変換機能、発光の指向性を制御するレンズ機能を有することになる。また、封止部19の耐候性を高めることができ、長寿命化を図ることができる。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−3と略同じであって、図17に示すように、絶縁基板16の上面側において発光素子2を覆うドーム状の蛍光体部34を配設し、蛍光体部34の外面側に透光性樹脂からなる封止部19が形成されている点に特徴がある。ここに、封止部19は、実施形態B−3と同様に、発光素子2を封止する封止機能部19aと封止部19の前端部においてレンズとして機能するレンズ状のレンズ機能部19bとで構成されている。なお、実施形態B−3と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−3と略同じであって、図18に示すように、絶縁基板16の上面側において発光素子2を覆うドーム状の蛍光体部34を配設し、蛍光体部34の外面側に封止部19が形成されている点に特徴がある。ここに、封止部19は、実施形態B−3と同様に、発光素子2を封止する封止機能部19aと封止部19の前端部においてレンズとして機能するレンズ状のレンズ機能部19bとで構成されている。なお、実施形態B−3と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−4と略同じであって、図19に示すように、絶縁基板16の一面(図19における上面)に設けた凹所16aの底部に配設された発光素子2を封止する封止部19を備えており、封止部19が蛍光体部により形成されている点に特徴がある。ここにおいて、蛍光体部は実施形態B−1で説明した蛍光体部3Bと同様に発光素子2からの光によって励起され所望の波長の光を発光するものであ
る。なお、実施形態B−4と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−4と略同じであって、図20に示すように、絶縁基板16の一面(図20における上面)に設けた凹所16aの底部に配設された発光素子2を封止する封止部19を備えており、封止部19が蛍光体部3Bにより形成されている点に特徴がある。ここにおいて、蛍光体部3Bは実施形態B−1で説明した蛍光体部3Bと同様に発光素子2からの光によって励起され所望の波長の光を発光するものである。なお、実施形態B−4と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
しかして、本実施形態の発光装置1Bでは、封止部19が蛍光体部により形成されているので、蛍光体部3Bとして後述するように本発明に係る半導体発光装置用部材を用いることにより、封止部19の封止性、透明性、耐光性、耐熱性等を高めたり、長期間使用に伴うクラックや剥離を抑制したりすることが可能となる。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−4と略同じであって、図21に示すように、封止部19の上面(光取り出し面)に予めレンズ状に成形した蛍光体部33を配設している点に特徴がある。ここにおいて、蛍光体部33は実施形態B−1で説明した蛍光体部3Bと同様に発光素子2からの光によって励起され所望の波長の光を発光するものである。なお、実施形態B−4と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
しかして、本実施形態の発光装置1Bでは、蛍光体部33が波長変換機能だけでなく、レンズとしての機能を有することになり、レンズ効果による発光の指向性制御を行うことができる。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−4と略同じであって、図22に示すように、封止部19の上面(光取り出し面)に予めレンズ状に成形した蛍光体部33を配設している点に特徴がある。ここにおいて、蛍光体部33は実施形態B−1で説明した蛍光体部3Bと同様に発光素子2からの光によって励起され所望の波長の光を発光するものである。なお、実施形態B−4と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−5と略同じであって、図23に示すように、絶縁基板16の一面(図23における上面)に設けた凹所16aの底部に配設された発光素子2を封止する封止部19を備えており、封止部19が蛍光体部3Bにより形成されている点に特徴がある。ここにおいて、封止部19は、予め、図24に示すように、外周形状が凹所16aに対応する形状であって発光素子2に対応する部位に発光素子2を収納するための凹部19cを有する形状に加工したものを、発光素子2が実装された絶縁基板16の凹所16aに装着しているので、封止工程を簡便化することができる。また、封止部19を形成する蛍光体部3Bは実施形態B−1で説明した蛍光体部3Bと同様に発光素子2からの光によって励起され所望の波長の光を発光するものである。なお、実施形態B−5と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−5と略同じであって、図25に示すように、絶縁基板16の一面(図25における上面)に設けた凹所16aの底部に配設された発光素子2を封止する封止部19を備えており、封止部19が蛍光体部3Bにより形成されている点に特徴がある。ここにおいて、封止部19は、予め、図26に示すように、外周形状が凹所16aに対応する形状であって発光素子2に対応する部位に発光素子2を収納するための凹部19cを有する形状に加工したものを、発光素子2が実装された絶縁基板16の凹所16aに装着しているので、封止工程を簡便化することができる。また、封止部19を形成する蛍光体部3Bは実施形態B−1で説明した蛍光体部3Bと同様に発光素子2からの光によって励起され所望の波長の光を発光するものである。なお、実施形態B−5と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−6と略同じであって、図27に示すように、発光素子2の上面に、予めロッド状に加工した蛍光体部3Bを配設している点に特徴がある。ここにおいて、発光素子2及び蛍光体部3Bの周囲には透光性材料からなる封止部19が形成されており、蛍光体部3Bは一端面(図27における下端面)が発光素子2の発光層部21に密着し他端面(図27における上端面)が露出している。なお、実施形態B−6と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
率的に放射させることができる。なお、本実施形態では、蛍光体部3Bを比較的大径のロッド状に形成して1つだけ用いているが、図28に示すように蛍光体部3Bを比較的小径のファイバー状に形成して複数本の蛍光体部3Bを並べて配設するようにしてもよい。また、蛍光体部3Bの断面形状は円形に限らず、例えば四角形状に形成してもよいし、その他の形状に形成してもよいのは勿論である。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−23と略同じであって、図29に示すように、絶縁基板16の凹所16a内に設けた封止部19を備え、封止部19が蛍光体部3Bにより形成されている点に特徴がある。ここにおいて、封止部19は、予め、図30に示すように、外周形状が凹所16aに対応する形状であって発光素子2に対応する部位に発光素子2を収納するための貫通孔19dを有する形状に加工したものを、発光素子2が実装された絶縁基板16の凹所16aに装着しているので、封止工程を簡便化することができる。また、封止部19を形成する蛍光体部3Bは実施形態B−1で説明した蛍光体部3Bと同様に発光素子2からの光によって励起され所望の波長の光を発光するものである。なお、実施形態B−23と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−2と略同じであって、図32に示すように絶縁基板16の一面(図32における上面)側に配設された枠材18を備え、発光素子2の発光層部21がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、枠材18の内側の封止部19として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起されて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散されている点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部3Bとして、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・BaCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−2と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
したがって、発光素子2の発光層部21の材料として近紫外光を発光する材料を選んでおけば、発光素子2から放射された光によって蛍光体部3Bと封止部19中の蛍光体粉末との双方が励起されてそれぞれが固有の発光を呈し、その合成光が得られることになる。本実施形態では、蛍光体部3Bから青色光が放射されるとともに、蛍光体粉末から黄色光が放射され、いずれの発光色とも異なる白色光を得ることができる。
て補完することにより、所望の光色特性の発光装置1Bが実現できる。また、本実施形態では、蛍光体粉末の発光色を蛍光体部3Bの発光色と異ならせてあるが、蛍光体粉末の発光色を蛍光体部3Bの発光色に揃えておけば、蛍光体部3Bの発光に蛍光体粉末の発光が重畳され、光出力を増加することができ、発光効率を高めることができる。ここに、蛍光体部3Bと蛍光体粉末とで発光色を略同色とする場合には、例えば、蛍光体部3Bの蛍光体粒子として赤色光を発光するP2O5・SrF2・BaF2:Eu3+を用いるとともに、蛍光体粉末として赤色光を発光するY2O2S:Eu3+を用いれば、赤色発光の高効率化を図れる。この蛍光体部3Bと蛍光体粉末との組み合わせは一例であって他の組み合わせを採用してもよいことは勿論である。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−3と略同じであって、図33に示すように、絶縁基板16の一面(図33の上面)側において発光素子2を封止する封止部19を備え、発光素子2の発光層部21がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、封止部19として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起されて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散され、封止部19が蛍光体部として機能している点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部3Bの蛍光体粒子として、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・BaCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−3と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−4と略同じであって、図34に示すように、絶縁基板16の上面に形成された凹所16aに充填されて発光素子2を封止する封止部19を備え、発光素子2の発光層部21がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、封止部19として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起されて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散され、封止部19が蛍光体部として機能している点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部3Bの蛍光体粒子として、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・BaCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−4と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
が固有の発光を呈し、その合成光が得られることになる。また、本実施形態においても、蛍光体粉末の発光色を蛍光体部3Bの発光色と異ならせてあるが、蛍光体粉末の発光色を蛍光体部3Bの発光色に揃えておけば、蛍光体部3Bの発光に蛍光体粉末の発光が重畳され、光出力を増加することができ、発光効率を高めることができる。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−5と略同じであって、図35に示すように、絶縁基板16の一面(図35における上面)に形成された凹所16aに充填されて発光素子2を封止する封止部19を備え、発光素子2の発光層部21がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、封止部19として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起されて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散され、封止部19が蛍光体部として機能している点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部3Bの蛍光体粒子として、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・BaCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−5と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−6と略同じであって、図36に示すように、絶縁基板16の一面(図36における上面)に形成された凹所16aに充填されて発光素子2を封止する封止部19を備え、発光素子2の発光層部21がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、封止部19として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起されて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散され、封止部19が蛍光体部として機能している点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部3Bの蛍光体粒子として、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・BaCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−6と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−1と略同じであって、図37(a),(b)に示すように、砲弾形のモールド部11を備え、発光素子2の発光層部21がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、モールド部11として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起されて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散され、モールド部11が蛍光体部として機能している点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部3Bの蛍光体粒子として、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・BaCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−1と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−8と略同じであって、図38に示すように、砲弾形のモールド部11を備え、発光素子2の発光層部21(図38では図示を略している。)がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、モールド部11として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起されて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散され、モールド部11が蛍光体部として機能している点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部3Bの蛍光体粒子として、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・BaCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−8と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−11と略同じであって、図39に示すように、絶縁基板16の一面(図39の上面)側において発光素子2を封止する封止部19を備え、発光素子2の発光層部21がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、封止部19として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起さ
れて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散され、封止部19が蛍光体部として機能している点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部33の蛍光体粒子として、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・BaCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−11と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−15と略同じであって、図40に示すように、絶縁基板16の一面(図40の上面)側において発光素子2を封止する封止部19を備え、発光素子2の発光層部21がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、封止部19として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起されて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散され、封止部19が蛍光体部として機能している点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部34の蛍光体粒子として、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・BaCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−15と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−19と略同じであって、図41に示すように、絶縁基板16の一面(図41における上面)に形成された凹所16aに充填されて発光素子2を封止する封止部19を備え、発光素子2の発光層部21がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、封止部19として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起されて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散され、封止部19が蛍光体部として機能している点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部33の蛍光体粒子として、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・B
aCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−19と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−12,B−22と略同じであって、図42に示すように、絶縁基板16の一面(図42における上面)に形成された凹所16aに充填されて発光素子2を封止する封止部19を備え、発光素子2の発光層部21がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、封止部19として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起されて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散され、封止部19が蛍光体部として機能している点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部33の蛍光体粒子として、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・BaCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−12,B−22と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−12と略同じであって、図43に示すように、絶縁基板16の上面側において発光素子2を封止する封止部19を備え、発光素子2の発光層部21がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、封止部19として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起されて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散され、封止部19が蛍光体部として機能している点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部3Bの蛍光体粒子として、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・BaCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−12と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
2から放射された光と蛍光体部3Bから放射された光と蛍光体粉末から放射された光との合成光からなる光出力が得られる。つまり、実施形態B−25と同様に、発光素子2の発光層部21の材料として近紫外光を発光する材料を選んでおけば、発光素子2から放射された光によって蛍光体部3Bと封止部19中の蛍光体粉末との双方が励起されてそれぞれが固有の発光を呈し、その合成光が得られることになる。また、本実施形態においても、蛍光体粉末の発光色を蛍光体部3Bの発光色と異ならせてあるが、蛍光体粉末の発光色を蛍光体部3Bの発光色に揃えておけば、蛍光体部3Bの発光に蛍光体粉末の発光が重畳され、光出力を増加することができ、発光効率を高めることができる。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−16と略同じであって、図44に示すように、絶縁基板16の一面(図44の上面)側において発光素子2を封止する封止部19を備え、発光素子2の発光層部21がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、封止部19として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起されて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散され、封止部19が蛍光体部として機能している点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部34の蛍光体粒子として、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・BaCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−16と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−20と略同じであって、図45に示すように、絶縁基板16の一面(図45における上面)に形成された凹所16aに充填されて発光素子2を封止する封止部19を備え、発光素子2の発光層部21がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、封止部19として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起されて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散され、封止部19が蛍光体部として機能している点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部3Bの蛍光体粒子として、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・BaCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−20と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
蛍光体粉末の発光色を蛍光体部3Bの発光色と異ならせてあるが、蛍光体粉末の発光色を蛍光体部3Bの発光色に揃えておけば、蛍光体部3Bの発光に蛍光体粉末の発光が重畳され、光出力を増加することができ、発光効率を高めることができる。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−5,B−12と略同じであって、図46に示すように、絶縁基板16の一面(図46における上面)に形成された凹所16aに充填されて発光素子2を封止する封止部19を備え、発光素子2の発光層部21がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、封止部19として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起されて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散され、封止部19が蛍光体部として機能している点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部3Bの蛍光体粒子として、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・BaCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−5,B−12と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−20,B−21と略同じであって、図47に示すように、絶縁基板16の一面(図47における上面)に形成された凹所16aに充填されて発光素子2を封止する封止部19を備え、発光素子2の発光層部21がAlGaN系で近紫外光を発光するものであり、封止部19として用いる透光性材料中に蛍光体粉末(例えば、近紫外光により励起されて黄色光を発光するYAG:Ce3+蛍光体の粉末)が分散され、封止部19が蛍光体部として機能している点に特徴がある。また、本実施形態では、蛍光体部3Bの蛍光体粒子として、フツリン酸塩系ガラス(例えば、近紫外光により励起されて青色光を発光するP2O5・AlF3・MgF・CaF2・SrF2・BaCl2:Eu2+)を用いている。なお、実施形態B−20,B−21と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1Bの基本構成は実施形態B−2と略同じであって、図48に示すように、絶縁基板16の一面(図48の上面)側において発光素子2を囲むように配設された枠状の枠材18を備えており、枠材18の内側の封止部19を実施形態B−2で説明した蛍光体部3Bと同様の蛍光体部により形成している点に特徴がある。ここに、発光素子2と封止部19の上面側は、ガラスや高気密樹脂よりなる透明蓋体36により外界の酸素や水分から遮断されている。なお、実施形態B−2と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。蓋体36と封止部19は直接接していても空隙を有していても良いが、空隙無い方が光取り出し効率高く輝度高い半導体発光装置を得ることができる。空隙を有する場合、真空封止や不活性ガス封入とすることが好ましい。
また、本実施形態では、水分や酸素など蛍光体・封止樹脂の劣化を促進する外界因子の侵入や、熱・光による封止樹脂分解ガスの揮発が蓋体36により抑制されるため、これらに起因する輝度低下や封止部収縮剥離が低減できるという利点がある。
以上説明した各実施形態A−1,A−2,B−1〜B−41の発光装置(半導体発光装置)1A,1Bにおいて、本発明に係る半導体発光装置部材を適用する箇所は特に制限されない。上記の各実施形態においては、透明部材3Aや蛍光体部3B,33,34などを形成する部材として本発明に係る半導体発光装置部材を適用した例を示したが、これ以外にも、例えば上述のモールド部11、枠材18、封止部19等を形成する部材として好適に用いることができる。これらの部材として本発明に係る半導体発光装置部材を用いることにより、上述した優れた封止性、透明性、耐光性、耐熱性、成膜性、長期間使用に伴うクラックや剥離の抑制等の各種の効果を得ることが可能となる。
また、先述した無機粒子を本発明に係る半導体発光装置用部材に混合して用いれば、上に挙げた各種効果に加え、無機粒子の併用の説明において先述した効果を得ることが可能となる。特に、無機粒子を併用することにより、発光素子の屈折率と近い屈折率となるように調整したものは、好適な光取り出し膜として作用する。
半導体発光装置は、例えば、発光装置に用いることができる。半導体発光装置を発光装置に用いる場合、当該発光装置は、赤色蛍光体、青色蛍光体及び緑色蛍光体の混合物を含む蛍光体含有層を、光源上に配置すればよい。この場合、赤色蛍光体は、青色蛍光体、緑色蛍光体とは必ずしも同一の層中に混合されなくてもよく、例えば、青色蛍光体と緑色蛍光体を含有する層の上に赤色蛍光体を含有する層が積層されていてもよい。
使用される封止樹脂としては、本発明の硬化性ポリシロキサン組成物を用いることができる。また、その他の樹脂を使用することもできる。そのような樹脂としては、通常、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、光硬化性樹脂等が挙げられる。具体的には、例えば、ポリメタアクリル酸メチル等のメタアクリル樹脂;ポリスチレン、スチレン−アクリロニトリル共重合体等のスチレン樹脂;ポリカーボネート樹脂;ポリエステル樹脂;フェノキシ樹脂;ブチラール樹脂;ポリビニルアルコール;エチルセルロース、セルロースアセテート、セルロースアセテートブチレート等のセルロース系樹脂;エポキシ樹脂;フェノール樹脂;シリコーン樹脂等が挙げられる。また、無機系材料、例えば、金属アルコキシド、セラミック前駆体ポリマー若しくは金属アルコキシドを含有する溶液をゾル−ゲル法により加水分解重合して成る溶液又はこれらの組み合わせを固化した無機系材料、例えばシロキサン結合を有する無機系材料を用いることができる。なお、封止樹脂は、1種を用いても良く、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用しても良い。
また、封止樹脂に蛍光体や無機粒子以外の成分を含有させることもできる。例えば、色調補正用の色素、酸化防止剤、燐系加工安定剤等の加工・酸化および熱安定化剤、紫外線吸収剤等の耐光性安定化剤およびシランカップリング剤を含有させることができる。なお、これらの成分は、1種で用いても良く、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用しても良い。
発光強度を有する。GaN系LEDやLDにおいては、AlXGaYN発光層、GaN発光層、またはInXGaYN発光層を有しているものが好ましい。GaN系LEDにおいては、それらの中でInXGaYN発光層を有するものが発光強度が非常に強いので、特に好ましく、GaN系LDにおいては、InXGaYN層とGaN層の多重量子井戸構造のものが発光強度が非常に強いので、特に好ましい。
GaN系LEDはこれら発光層、p層、n層、電極、および基板を基本構成要素としたものであり、発光層をn型とp型のAlXGaYN層、GaN層、またはInXGaYN層などでサンドイッチにしたヘテロ構造を有しているものが発光効率が高く、好ましく、さらにヘテロ構造を量子井戸構造にしたものが発光効率がさらに高く、より好ましい。
発光装置は、単独で、又は複数個を組み合わせることにより、例えば、照明ランプ、液晶パネル用等のバックライト、超薄型照明等の種々の照明装置、画像表示装置として使用することができる。
本発明のポリシロキサン硬化物を少なくとも備えてなる本発明の光学部材の例として、本発明の光学部材を少なくとも備えてなる導光板(以下、適宜「本発明の導光板」ということがある。)について説明する。
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物、又はポリシロキサン硬化物は、光学部材として
、光通信システム、特に光送受信モジュールに使用することができる。光信号を伝送するための光導波路においては、高生産性、低コストのみならず、光線透過性(透明性)、耐光性、耐熱性、耐水熱性、耐UV性などの種々の特性が要求される。上記特性を有する点で、特に光学機器において、例えばディスプレイなどの表示装置の表示部や、ファクシミリ、電話、携帯電話、その他各種家電のボタン部分などを表示する際に、光源から発する光を所望の部位で発光させる導光板として利用することが好ましい。本発明の硬化性ポリシロキサン組成物、及びポリシロキサン硬化物は、特に高屈折率を達成できるため、光学部材として、導光板、及び光導波路のいわゆるコア層(コア部)に好適である。
本発明のポリシロキサン硬化物を少なくとも備えてなる本発明の光学部材の例として、本発明の光学部材を少なくとも備えてなる航空宇宙産業用部材(以下、適宜「本発明の航空宇宙産業用部材」ということがある。)について説明する。
本発明の硬化性ポリシロキサン組成物、又はポリシロキサン硬化物は、光学部材として用いたときに、光線透過性(透明性)、耐光性、耐熱性、耐水熱性、耐UV性などの種々の特性が高く、これらの特性が要求される航空宇宙産業用材料に使用することができる。航空宇宙産業用材料としては、例えば、カーボン系ナノ材料とコンポジット化することにより静電気除電材料・導電性接着剤・ガスケット用材料・閃光防御材料・電磁遮蔽材料・タンク用材料・ロケット外材などとして使用することが出来る。
[実施例1]
20mLのスクリュー管に、Momentive Performance Materials製両末端シラノールジメチルシロキサンジフェニルシロキサン共重合体シリコーンオイルYF−3057を6g、信越化学製メチル/ヒドリド系シリコーンオイルKF-9901 を0.14g(Si-H/Si-OH=6)、触媒として日東化成製ネオスタンU-810(ジオクチルスズジラウレート)を0.006g仕込み、室温大気下にて30分撹拌し、反応液(硬化性ポ
リシロキサン化合物)を得た。反応液2gを直径5cmのポリテトラフルオロエチレン製シャーレに入れて小さな孔を開けたアルミホイルで覆って、恒温器(オーブン)中150℃にて3時間保持し、厚さ1.08mmの無色透明エラストマー状膜(ポリシロキサン硬化
物)を得た。泡は直径0.5mm程度のものがひとつあったのみであり、ショアAの硬度
は20であった。
Momentive Performance Materials製両末端シラノールジメチルシロキサンジフェニルシロキサン共重合体シリコーンオイルYF−3057をYF-3807に変更し、KF-9901を0.08g(Si-H/Si-OH=4)とした以外は、実施例1の方法に従って厚さ1.09mmの無色透明エラストマー状膜を得た。泡は無く、ショアAの硬度は16であった。
KF-9901のかわりに信越化学工業製KF-99を0.03g使用した(Si-H/Si-OH=3)、以外は
、実施例1の方法に従って厚さ1.05mmの無色透明エラストマー状膜を得た。泡は無く
、ショアAの硬度は20であった。
[実施例4]
日東化成製ネオスタンU-810(ジオクチルスズジラウレート)のかわりにSTREM製2-エチルヘキサン酸スズを使用した以外は、実施例1の方法に従って厚さ1.10mmの無色透明エ
ラストマー状膜を得た。泡は直径0.5mm程度のものが3個あったのみでありショアAの
硬度は24であった。
日東化成製ネオスタンU-810(ジオクチルスズジラウレート)のかわりに東京化成製ジエ
チルヒドロキシルアミンを0.012g使用し、硬化させるときにアルミホイルに孔をあけなかった以外は、実施例1の方法に従って厚さ1.12mmの無色透明エラストマー状膜を得た。泡は無く、ショアAの硬度は20であった。
日東化成製ネオスタンU-810(ジオクチルスズジラウレート)のかわりにAldrich製トリスペンタフルオロフェニルボランを0.0004g使用した以外は、実施例1の方法に従って厚さ1.11mmの無色透明エラストマー状膜を得た。泡は無く、ショアAの硬度は18
であった。
信越化学工業株式会社製付加型シリコーン樹脂LPS2410の主剤 3g、同硬化剤
0.3g、モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン合同会社製の両末端シラノールジメチルポリシロキサン YF−3057 1.39gをガラススクリュー管瓶に計量し、密栓して25℃で5分間マグネチックスターラーを用いて混合攪拌を行った。LPS−2410の主剤と硬化剤を混合した液はビニル基含有量1.19mmol、SiH基含有量1.48mmolであった。さらにYF−3057(シラノール基含有量0.0417mmol)を加えた組成物のSiH/SiOH比率は5であった。得られた組成物のうち2gを直径5cmのポリテトラフルオロエチレン製シャーレに入れ、25℃、15分間0.1kPaの条件下で真空脱泡し、小さな孔を開けたアルミホイルで覆って、恒温器(オーブン)中150℃にて2時間保持し、厚さ1.08mmの無色透明エラストマー状膜(ポリシロキサン硬化物)を得た。泡は無く、ショアAの硬度は28であった。
信越化学工業株式会社製付加型シリコーン樹脂OE6351の主剤 1.5g、同硬化剤 1.5g、モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・ジャパン合同会社製の両末端シラノールジメチルポリシロキサン YF−3057 2.1gをガラススクリュー管瓶に計量し、密栓して25℃で5分間マグネチックスターラーを用いて混合攪拌を行った。OE6351の主剤と硬化剤を混合した液はビニル基含有量0.828mmol、SiH基含有量1.269mmolであった。さらにYF−3057(シラノール基含有量0.0417mmol)を加えた組成物のSiH/SiOH比率は5であった。得られた組成物のうち2gを実施例7と同様の方法に従って厚さ1.10mmの無色透明エラストマー状膜を得た。泡は無く、ショアAの硬度は25であった。
ポリシロキサン硬化物の屈折率は、膜圧約1mm以上に成形した平滑な表面の単独・独立硬化物膜をサンプルとして、Abbe屈折計(ナトリウムD線(589nm)使用)を用いて20℃にて測定した。
[ポリシロキサン硬化物の透過率の測定]
ポリシロキサン硬化物の透過率は、膜圧約1mmに成形した平滑な表面の単独・独立硬化物膜をサンプルとして、紫外分光光度計(例として島津製作所製 UV−3100)を使用し、200nm〜800nmにおいて透過率測定を行うことによって測定した。
ポリシロキサン硬化物の耐UVは、膜圧約1mm以上に成形した平滑な表面の単独・独立
硬化物膜をサンプルとして、松下電工マシン&ビジョン社製UV照射装置(アイキュアANUP5204)を使用してUV照射を行った。250nm以下の光はフィルターにてカットし、サンプル
から光ファイバーまでの距離をフィルター厚み込みで2mmとして照射・測定を実施した。
[ポリシロキサン硬化物の耐熱性・耐水熱性の測定]
ポリシロキサン硬化物の耐熱性・耐水熱性は、膜圧約1mm以上に成形した平滑な表面の単独・独立硬化物膜をサンプルとして、耐熱性については、200℃常湿度下にて、耐水
熱性については85℃85%RH下にて500h保存し、その保存前後の重量減少率にて評価を行った。
大きな硬度変化等を一切生じなかった。
ができ、例えば照明装置、画像表示装置、薄型テレビなどの液晶バックライト用光源などの広範な分野において好適に使用することが出来る。特に耐UV性に優れる特徴から、従来適切な封止材の無かった近紫外光・紫外光を発する半導体発光装置、並びにそれが適用されうる照明装置、及び画像表示装置等の各分野において、その産業上の利用可能性は極めて高い。
2 発光素子
3A 透明部材(半導体発光装置用部材)
3B 蛍光体部(半導体発光装置用部材)
4a,4b 発光素子から放射された光の一部
5 蛍光体部に含有される蛍光体粒子、蛍光イオン、蛍光染料などの蛍光成分特有の波長の光
11 モールド部
12,13 リード端子
14 ミラー(カップ部)
15 導電ワイヤ
16 絶縁基板
16a 凹所
17 プリント配線
18 枠材
19 封止部
19a 封止機能部
19b レンズ機能部
19c 凹部
19d 貫通孔
21 発光層部
23 反射層
24 バンプ
33,34 蛍光体部
35 固体媒質
36 蓋体
101 カップ
102 LEDチップ
103 LED素子
Claims (19)
- ヒドロシリル基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物、
シラノール基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物、及び、
脱水素縮合反応触媒を含有し、
下記の硬化試験において、高さの平均値が0.12cm以下の硬化物となる
ことを特徴とする硬化性ポリシロキサン組成物。
〔硬化試験〕
(1)硬化性ポリシロキサン組成物2gを底面直径5cm、高さ1cmのポリテトラフルオロエチレン製容器内にて空気中で、気温150℃にて6時間静置する。
(2)前記(1)の処理の後、前記ポリテトラフルオロエチレン製容器内を45度傾けた状態で30分間静置しても全く流動性が無い(硬化した)ことを確認する。
(3)容器内底から前記硬化物の上面までの高さの平均値を測定する。 - ヒドロシリル基を一分子中に1個以上含有し、且つ、シラノール基を一分子中に1個以上含有するシロキサン化合物、及び、
脱水素縮合反応触媒を含有し、
下記硬化試験において、高さの平均値が0.12cm以下の硬化物となる
ことを特徴とする硬化性ポリシロキサン組成物。
〔硬化試験〕
(1)硬化性ポリシロキサン組成物2gを底面直径5cm、高さ1cmのポリテトラフルオロエチレン製容器内にて空気中で、気温150℃にて6時間静置する。
(2)前記(1)の処理の後、前記ポリテトラフルオロエチレン製容器内を45度傾けた状態で30分間静置しても全く流動性が無い(硬化した)ことを確認する。
(3)容器内底から前記硬化物の上面までの高さの平均値を測定する。 - ヒドロシリル基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物、
シラノール基を一分子中に2個以上含有するシロキサン化合物、及び、
脱水素縮合反応触媒を含有する
ことを特徴とする半導体発光装置用硬化性ポリシロキサン組成物。 - ヒドロシリル基を一分子中に1個以上含有し、且つ、シラノール基を一分子中に1個以上含有するシロキサン化合物、及び、
脱水素縮合反応触媒を含有する
ことを特徴とする半導体発光装置用硬化性ポリシロキサン組成物。 - 下記一般式(1)で表されるポリシロキサン化合物、下記一般式(2)で表され、かつシラノール基を一分子中に2個以上含有するポリシロキサン化合物、並びに脱水素縮合反応触媒を含むことを特徴とする硬化性ポリシロキサン組成物。
アリル基から選ばれる基を示す。lは、2以上の整数を示す。mは、0以上の整数を示す。
(R13SiO3/2)p(R14R15SiO2/2)q(R16R17R18SiO1/2)r ・・・(2)
一般式(2)中、R13〜R18は、それぞれ独立して、水素原子、アルキル基、アルケニル基、水酸基およびアリル基から選ばれる基を示す。
p、q、およびrは、0以上の整数を示し、p+q+r≧1である。 - 前記脱水素縮合反応触媒が、金属、ヒドロキシルアミン、及びホウ素からなる群から選ばれる1以上を含むことを特徴とする、請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載の硬化性ポリシロキサン組成物。
- 下記硬化試験において、高さの平均値が0.12cm以下の硬化物となる請求項3〜7のいずれか1項に記載の硬化性ポリシロキサン組成物。
〔硬化試験〕
(1)硬化性ポリシロキサン組成物2gを底面直径5cm、高さ1cmのポリテトラフルオロエチレン製容器内にて空気中で、気温150℃にて6時間静置する。
(2)前記(1)の処理の後、前記ポリテトラフルオロエチレン製容器内を45度傾けた状態で30分間静置しても全く流動性が無い(硬化した)ことを確認する。
(3)容器内底から前記硬化物の上面までの高さの平均値を測定する。 - 空気中で、気温150℃にて6時間以内に硬化する請求項1〜8のいずれか1項に記載の硬化性ポリシロキサン組成物。
- 前記硬化性ポリシロキサン組成物の温度20℃での589nmにおける屈折率が、1.42以下である請求項1〜9のいずれか1項に記載の硬化性ポリシロキサン組成物。
- シロキサン化合物のケイ素原子に結合した全置換基のうち、ヒドリド基とシラノール基を除く置換基の95mol%以上がメチル基である請求項1〜10のいずれか1項に記載
の硬化性ポリシロキサン組成物。 - 前記硬化触媒の金属成分としてPt、Pd、Pb、Sn、Zn、Fe、Ti、Zr、Biから選ばれる1以上を用いる請求項1〜11のいずれか1項に記載の硬化性ポリシロキ
サン組成物。 - 請求項1〜12のいずれか1項に記載の硬化性ポリシロキサン組成物を硬化させて得られるポリシロキサン硬化物。
- デュロメータタイプAによる硬度測定値(ショアA)が5以上90以下であり、かつ膜厚1mmとした時の400nm以上800nm以下の全ての波長における光透過率が、80%以上である請求項13に記載のポリシロキサン硬化物。
- 請求項13又は14に記載のポリシロキサン硬化物を含む光学部材。
- 請求項13又は14に記載のポリシロキサン硬化物を含む航空宇宙産業用部材。
- 請求項15に記載の光学部材を備えた半導体発光装置。
- 請求項17に記載の半導体発光装置を備えた照明装置。
- 請求項18に記載の半導体発光装置を備えた画像表示装置。
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JP2009079948A Expired - Fee Related JP5552748B2 (ja) | 2008-03-28 | 2009-03-27 | 硬化性ポリシロキサン組成物、並びに、それを用いたポリシロキサン硬化物、光学部材、航空宇宙産業用部材、半導体発光装置、照明装置、及び画像表示装置 |
Country Status (4)
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---|---|
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EP (1) | EP2270100A4 (ja) |
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WO (1) | WO2009119841A1 (ja) |
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011065321A1 (ja) * | 2009-11-30 | 2011-06-03 | コニカミノルタオプト株式会社 | 発光ダイオードユニットの製造方法 |
WO2011065322A1 (ja) * | 2009-11-30 | 2011-06-03 | コニカミノルタオプト株式会社 | 発光ダイオードユニットの製造方法 |
JP2011225828A (ja) * | 2010-03-30 | 2011-11-10 | Shin-Etsu Chemical Co Ltd | 樹脂組成物及び発光半導体素子用リフレクター、及び発光半導体装置 |
JP2011238811A (ja) * | 2010-05-12 | 2011-11-24 | Konica Minolta Opto Inc | 波長変換素子および発光装置 |
JP2012021131A (ja) * | 2010-06-18 | 2012-02-02 | Mitsubishi Chemicals Corp | 半導体発光デバイス部材用2液型硬化性ポリオルガノシロキサン組成物、該組成物を硬化させてなるポリオルガノシロキサン硬化物及びその製造方法 |
WO2012023424A1 (ja) * | 2010-08-17 | 2012-02-23 | コニカミノルタオプト株式会社 | 発光装置の製造方法 |
EP2641929A2 (en) | 2012-03-22 | 2013-09-25 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Novel organopolysiloxane, cosmetic containing thereof, and method for preparing organopolysiloxane |
JP2013537714A (ja) * | 2010-07-28 | 2013-10-03 | ジーイー・ライティング・ソルーションズ,エルエルシー | 離隔蛍光体構成で成形/形成及び使用される、シリコーン中に懸濁した蛍光体 |
JP2014012810A (ja) * | 2012-06-05 | 2014-01-23 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 光半導体封止用硬化性組成物及びこれを用いた光半導体装置 |
WO2014034621A1 (ja) * | 2012-08-28 | 2014-03-06 | 住友大阪セメント株式会社 | 光半導体発光装置、照明器具、及び表示装置 |
JP2014511932A (ja) * | 2012-06-05 | 2014-05-19 | ダウ コーニング コーポレーション | 電力変換装置で使用するための軟質粘着性ゲル |
JP2015504945A (ja) * | 2011-12-29 | 2015-02-16 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 硬化性ポリシロキサン組成物 |
WO2015136913A1 (ja) * | 2014-03-10 | 2015-09-17 | 国立大学法人京都大学 | 表面修飾基材の製造方法、接合体の製造方法、新規ヒドロシラン化合物、表面処理剤、表面処理剤キットおよび表面修飾基材 |
EP3048133A1 (en) | 2015-01-26 | 2016-07-27 | Central Glass Company, Limited | Curable resin composition, cured product thereof, and semiconductor device using the same |
JP2017106030A (ja) * | 2017-02-24 | 2017-06-15 | ダウ コーニング コーポレーションDow Corning Corporation | 電力変換装置で使用するための軟質粘着性ゲル |
JP2018065938A (ja) * | 2016-10-19 | 2018-04-26 | Mcppイノベーション合同会社 | 硬化性ポリシロキサン組成物、該硬化性ポリシロキサン組成物を含む半導体発光装置用封止材及び、該封止材の硬化物を備えた半導体発光装置 |
JP2018116081A (ja) * | 2017-01-16 | 2018-07-26 | 日本特殊陶業株式会社 | 波長変換部材の製造方法 |
JP2019500635A (ja) * | 2015-10-09 | 2019-01-10 | インクロン オサケユキチュアInkron Oy | 誘電性シロキサン粒子フィルムおよびそれを有するデバイス |
JP2019176023A (ja) * | 2018-03-28 | 2019-10-10 | 京セラ株式会社 | 半導体封止用樹脂組成物及び半導体装置 |
JP7560487B2 (ja) | 2019-06-04 | 2024-10-02 | ダウ シリコーンズ コーポレーション | Si-HとSi-O-Siとの反応のための熱トリガとしての架橋型フラストレイティドルイスペア |
Families Citing this family (55)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9443903B2 (en) | 2006-06-30 | 2016-09-13 | Cree, Inc. | Low temperature high strength metal stack for die attachment |
US8698184B2 (en) | 2011-01-21 | 2014-04-15 | Cree, Inc. | Light emitting diodes with low junction temperature and solid state backlight components including light emitting diodes with low junction temperature |
CN102020851B (zh) * | 2009-09-16 | 2013-10-16 | 大连路明发光科技股份有限公司 | 一种光转换柔性高分子材料及其用途 |
KR101342287B1 (ko) * | 2010-04-28 | 2013-12-16 | 미쓰비시 가가꾸 가부시키가이샤 | 반도체 발광 장치용 패키지 및 발광 장치 |
CN102339925B (zh) * | 2010-07-22 | 2015-11-18 | 赛恩倍吉科技顾问(深圳)有限公司 | 发光元件封装方法 |
JP5682257B2 (ja) * | 2010-07-30 | 2015-03-11 | 三菱化学株式会社 | 半導体発光装置用樹脂組成物 |
JP2012089750A (ja) * | 2010-10-21 | 2012-05-10 | Hitachi Chem Co Ltd | 半導体封止充てん用熱硬化性樹脂組成物及び半導体装置 |
WO2012058798A1 (en) | 2010-11-02 | 2012-05-10 | Henkel China Co. Ltd. | Hydrosilicone resin and preparation process thereof |
KR101719636B1 (ko) * | 2011-01-28 | 2017-04-05 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 장치 및 그 제조 방법 |
US8754440B2 (en) * | 2011-03-22 | 2014-06-17 | Tsmc Solid State Lighting Ltd. | Light-emitting diode (LED) package systems and methods of making the same |
US8604684B2 (en) | 2011-05-16 | 2013-12-10 | Cree, Inc. | UV stable optical element and LED lamp using same |
KR101738602B1 (ko) * | 2011-10-17 | 2017-06-08 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 축합반응 경화형 실리콘 박리 코팅 조성물 |
EP2776162B1 (en) | 2011-11-10 | 2017-01-04 | Momentive Performance Materials Inc. | Moisture curable organopolysiloxane composition |
WO2013070227A1 (en) | 2011-11-10 | 2013-05-16 | Momentive Performance Materials Inc. | Moisture curable composition of a polymer having silyl groups |
KR20140113948A (ko) | 2011-12-15 | 2014-09-25 | 모멘티브 퍼포먼스 머티리얼즈 인크. | 수분 경화성 오가노폴리실록산 조성물 |
WO2013090127A1 (en) | 2011-12-15 | 2013-06-20 | Momentive Performance Materials, Inc. | Moisture curable organopolysiloxane compositions |
WO2013101742A1 (en) * | 2011-12-29 | 2013-07-04 | 3M Innovative Properties Company | Curable-on-demand polysiloxane coating composition |
KR20140116885A (ko) | 2011-12-29 | 2014-10-06 | 모멘티브 퍼포먼스 머티리얼즈 인크. | 수분 경화성 오가노폴리실록산 조성물 |
WO2013116086A1 (en) * | 2012-01-30 | 2013-08-08 | Cree, Inc. | Low temperature high strength metal stack for die attachment |
KR20130109759A (ko) * | 2012-03-28 | 2013-10-08 | 삼성전자주식회사 | 발광소자 패키지 |
US8822593B2 (en) * | 2012-06-22 | 2014-09-02 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Curable resin composition, hardened material thereof, and optical semiconductor apparatus |
TWI460265B (zh) * | 2012-11-12 | 2014-11-11 | Ritedia Corp | 導熱複合材料及其衍生之發光二極體 |
US9570661B2 (en) | 2013-01-10 | 2017-02-14 | Cree, Inc. | Protective coating for LED lamp |
TW201434882A (zh) | 2013-03-13 | 2014-09-16 | Momentive Performance Mat Inc | 可濕氣固化之有機聚矽氧烷組成物 |
US9657922B2 (en) * | 2013-03-15 | 2017-05-23 | Cree, Inc. | Electrically insulative coatings for LED lamp and elements |
CN105492502B (zh) | 2013-04-01 | 2018-09-21 | 伦斯莱尔工艺研究院 | 有机磷光体官能化纳米颗粒及包含其的组合物 |
EP2994501A2 (en) | 2013-05-10 | 2016-03-16 | Momentive Performance Materials Inc. | Non-metal catalyzed room temperature moisture curable organopolysiloxane compositions |
JP6608359B2 (ja) * | 2013-07-19 | 2019-11-20 | ルミレッズ ホールディング ベーフェー | 基板キャリアを有さず光学素子を有するpcled |
EP3074450B1 (en) | 2013-11-26 | 2020-11-11 | Momentive Performance Materials Inc. | Moisture curable compound with metal-arene complexes |
US10370499B2 (en) | 2013-12-31 | 2019-08-06 | 3M Innovative Properties Company | Curable organosiloxane oligomer compositions |
CN106661425B (zh) * | 2014-07-28 | 2018-12-21 | 住友化学株式会社 | 硅酮系密封材料组合物及半导体发光装置 |
CN107075289B (zh) * | 2014-10-16 | 2021-04-09 | 住友大阪水泥股份有限公司 | 表面改性金属氧化物粒子分散液、硅酮树脂复合组合物及复合物、光学构件及发光装置 |
US9976028B2 (en) | 2015-02-23 | 2018-05-22 | King Industries | Curable coating compositions of silane functional polymers |
KR102411541B1 (ko) * | 2015-08-07 | 2022-06-22 | 삼성디스플레이 주식회사 | 고분자 필름 형성용 조성물, 이로부터 제조된 고분자 필름 및 상기 고분자 필름을 포함한 전자 소자 |
TWI552412B (zh) * | 2015-12-28 | 2016-10-01 | 財團法人工業技術研究院 | 有機發光裝置 |
WO2017182390A1 (de) * | 2016-04-18 | 2017-10-26 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Verfahren zur herstellung eines optoelektronischen bauelements und optoelektronisches bauelement |
JP6672991B2 (ja) * | 2016-04-25 | 2020-03-25 | 信越化学工業株式会社 | 縮合硬化性樹脂組成物及び半導体装置 |
DE102016115907A1 (de) * | 2016-08-26 | 2018-03-01 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements |
KR20190041020A (ko) * | 2016-09-07 | 2019-04-19 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | 파장 변환 시트, 적층체 및 발광 장치, 및, 파장 변환 시트의 제조 방법 |
KR20230117645A (ko) | 2017-04-26 | 2023-08-08 | 오티아이 루미오닉스 인크. | 표면의 코팅을 패턴화하는 방법 및 패턴화된 코팅을포함하는 장치 |
US10875813B2 (en) | 2017-07-17 | 2020-12-29 | Northrop Grumman Innovation Systems, Inc. | Preceramic resin formulations, impregnated fibers comprising the preceramic resin formulations, and related methods |
US10731036B2 (en) * | 2017-07-17 | 2020-08-04 | Northrop Grumman Innovation Systems, Inc. | Preceramic resin formulations, ceramic materials comprising the preceramic resin formulations,and related articles and methods |
KR102710429B1 (ko) * | 2018-04-16 | 2024-09-26 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 유기 el용 투명 건조제 및 그 사용 방법 |
US10662310B2 (en) * | 2018-04-24 | 2020-05-26 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelectronic component having a conversation element with a high refractive index |
US10870757B2 (en) | 2018-07-25 | 2020-12-22 | Northrop Grumman Innovation Systems, Inc. | Insulation, insulation precursors, and rocket motors, and related methods |
US11472750B2 (en) | 2018-08-27 | 2022-10-18 | Northrop Grumman Systems Corporation | Barrier coating resin formulations, and related methods |
WO2020164005A1 (en) | 2019-02-13 | 2020-08-20 | Dow Global Technologies Llc | Moisture-curable polyolefin formulation |
US12069938B2 (en) | 2019-05-08 | 2024-08-20 | Oti Lumionics Inc. | Materials for forming a nucleation-inhibiting coating and devices incorporating same |
KR20220016888A (ko) * | 2019-05-31 | 2022-02-10 | 다우 도레이 캄파니 리미티드 | 경화성 오가노폴리실록산 조성물 및 그의 경화물로 이루어진 광학 부재 |
JPWO2020241369A1 (ja) * | 2019-05-31 | 2020-12-03 | ||
EP3980432B1 (en) | 2019-06-04 | 2023-04-26 | Dow Silicones Corporation | Bridged frustrated lewis pairs as thermal trigger for reactions between si-h and epoxide |
US12116459B2 (en) | 2019-06-04 | 2024-10-15 | Dow Silicones Corporation | Thermally initiated acid catalyzed reaction between silyl hydride and silyl ether and/or silanol |
KR20220016905A (ko) | 2019-06-04 | 2022-02-10 | 다우 실리콘즈 코포레이션 | Si-H와 알파-베타 불포화된 에스테르의 반응을 위한 열 트리거로서의 가교된 불완전 루이스 쌍 |
KR20220016902A (ko) | 2019-06-04 | 2022-02-10 | 다우 실리콘즈 코포레이션 | Si-H와 Si-OR의 반응을 위한 열 트리거로서의 가교된 불완전 루이스 쌍 |
US11985841B2 (en) | 2020-12-07 | 2024-05-14 | Oti Lumionics Inc. | Patterning a conductive deposited layer using a nucleation inhibiting coating and an underlying metallic coating |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0748544A (ja) * | 1993-08-06 | 1995-02-21 | Toshiba Silicone Co Ltd | 表面処理用組成物及びゴムの表面処理方法 |
JPH08269331A (ja) * | 1995-04-03 | 1996-10-15 | Shin Etsu Chem Co Ltd | シリコーンゲル組成物及びポッティング材 |
JPH0977978A (ja) * | 1995-09-12 | 1997-03-25 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 硬化性シリコーンエラストマー組成物及びその製造方法 |
JP2000026732A (ja) * | 1998-07-10 | 2000-01-25 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 室温硬化性オルガノポリシロキサン組成物 |
JP2005179541A (ja) * | 2003-12-19 | 2005-07-07 | Dow Corning Toray Silicone Co Ltd | 付加反応硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物 |
Family Cites Families (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3923705A (en) * | 1974-10-30 | 1975-12-02 | Dow Corning | Method of preparing fire retardant siloxane foams and foams prepared therefrom |
GB2065661B (en) * | 1979-12-17 | 1984-02-15 | Gen Electric | Silicone foam compositions with burn resistant properties |
JP2884702B2 (ja) | 1989-12-26 | 1999-04-19 | 化成オプトニクス株式会社 | 螢光体及びその製造方法 |
JP3117485B2 (ja) | 1991-07-22 | 2000-12-11 | 積水化学工業株式会社 | 表面が改質されたプラスチック微粒子及びその製造方法 |
JP2549956B2 (ja) | 1991-08-09 | 1996-10-30 | 信越化学工業株式会社 | 表面特性を改良したシール |
JPH0586188A (ja) | 1991-09-30 | 1993-04-06 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | ケイ素系ハイブリツド材料 |
JPH06200163A (ja) | 1992-12-28 | 1994-07-19 | Toray Dow Corning Silicone Co Ltd | 室温硬化性オルガノポリシロキサン組成物 |
JPH0764944A (ja) | 1993-08-30 | 1995-03-10 | Fuji Xerox Co Ltd | ニューラルネットワークの学習方法 |
JP3104567B2 (ja) | 1995-03-24 | 2000-10-30 | 信越化学工業株式会社 | オルガノポリシロキサン組成物及びゴム部品 |
JP3104545B2 (ja) | 1993-09-10 | 2000-10-30 | 信越化学工業株式会社 | オルガノポリシロキサン組成物及びゴム部品 |
US5506302A (en) | 1993-09-10 | 1996-04-09 | Shin-Etsu Chemical Co., Inc. | Organopolysiloxane composition and rubber substrate having a coating thereof |
JPH11222524A (ja) | 1997-11-18 | 1999-08-17 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ヒドロシリル化反応触媒及びこれを用いたシリコーン組成物 |
US6140446A (en) | 1997-11-18 | 2000-10-31 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Hydrosilylation catalysts and silicone compositions using the same |
JP2000096045A (ja) | 1998-09-18 | 2000-04-04 | Kasei Optonix Co Ltd | 電界放出型ディスプレイ用蛍光膜及びこれを用いた電界 放出型ディスプレイ装置 |
DE10051242A1 (de) | 2000-10-17 | 2002-04-25 | Philips Corp Intellectual Pty | Lichtemittierende Vorrichtung mit beschichtetem Leuchtstoff |
JP3910080B2 (ja) | 2001-02-23 | 2007-04-25 | 株式会社カネカ | 発光ダイオード |
JP3909826B2 (ja) | 2001-02-23 | 2007-04-25 | 株式会社カネカ | 発光ダイオード |
JP5127100B2 (ja) | 2001-04-26 | 2013-01-23 | 東レ・ダウコーニング株式会社 | 硬化性シリコーン組成物の水性エマルジョンの製造方法、その製造装置および硬化シリコーン粒状物の懸濁液の製造方法 |
JP4040858B2 (ja) | 2001-10-19 | 2008-01-30 | 東レ・ダウコーニング株式会社 | 硬化性オルガノポリシロキサン組成物および半導体装置 |
EP1501890A1 (fr) * | 2002-04-18 | 2005-02-02 | Rhodia Chimie | Composition silicone reticulable par deshydrogenocondensation en presence d'un catalyseur metallique |
JP2004186168A (ja) | 2002-11-29 | 2004-07-02 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 発光ダイオード素子用シリコーン樹脂組成物 |
JP4071639B2 (ja) | 2003-01-15 | 2008-04-02 | 信越化学工業株式会社 | 発光ダイオード素子用シリコーン樹脂組成物 |
JP2004300247A (ja) | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Mitsubishi Chemicals Corp | 蛍光体及びそれを用いた発光装置、並びに照明装置 |
FR2853321B1 (fr) * | 2003-04-03 | 2005-05-06 | Rhodia Chimie Sa | Composition reticulable pour electrolyte de batterie |
FR2856690B1 (fr) * | 2003-06-30 | 2005-09-16 | Rhodia Chimie Sa | Composition silicone reticulable par desydrogenocondensation en presence d'un catalyseur metallique |
JP4803339B2 (ja) * | 2003-11-20 | 2011-10-26 | 信越化学工業株式会社 | エポキシ・シリコーン混成樹脂組成物及び発光半導体装置 |
US20060035092A1 (en) * | 2004-08-10 | 2006-02-16 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Resin composition for sealing LED elements and cured product generated by curing the composition |
JP2006077234A (ja) | 2004-08-10 | 2006-03-23 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Led素子封止用樹脂組成物および該組成物を硬化してなる硬化物 |
CN101128516B (zh) | 2005-02-23 | 2012-03-21 | 三菱化学株式会社 | 半导体发光器件用部件及其制造方法以及使用了该部件的半导体发光器件 |
JP4876426B2 (ja) | 2005-04-08 | 2012-02-15 | 日亜化学工業株式会社 | 耐熱性及び耐光性に優れる発光装置 |
JP2006291018A (ja) | 2005-04-08 | 2006-10-26 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Led素子封止用硬化性樹脂組成物 |
JP5034301B2 (ja) | 2005-04-15 | 2012-09-26 | Jsr株式会社 | 高屈折材料形成用組成物およびその硬化体、ならびに高屈折材料形成用組成物の製造方法 |
JP2006336010A (ja) | 2005-05-02 | 2006-12-14 | Jsr Corp | シロキサン系縮合物およびその製造方法、ポリシロキサン組成物 |
JP2006348284A (ja) | 2005-05-20 | 2006-12-28 | Jsr Corp | シロキサン系縮合物およびその製造方法 |
ATE404635T1 (de) * | 2006-02-20 | 2008-08-15 | Shinetsu Chemical Co | Hitzeerhärtbare silikonzusammensetzung |
JP2008088316A (ja) | 2006-10-03 | 2008-04-17 | Kyoto Univ | Ta酸化物を主体とする蛍光体及びその製造方法 |
-
2009
- 2009-03-27 WO PCT/JP2009/056379 patent/WO2009119841A1/ja active Application Filing
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- 2009-03-27 US US12/935,116 patent/US8629222B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0748544A (ja) * | 1993-08-06 | 1995-02-21 | Toshiba Silicone Co Ltd | 表面処理用組成物及びゴムの表面処理方法 |
JPH08269331A (ja) * | 1995-04-03 | 1996-10-15 | Shin Etsu Chem Co Ltd | シリコーンゲル組成物及びポッティング材 |
JPH0977978A (ja) * | 1995-09-12 | 1997-03-25 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 硬化性シリコーンエラストマー組成物及びその製造方法 |
JP2000026732A (ja) * | 1998-07-10 | 2000-01-25 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 室温硬化性オルガノポリシロキサン組成物 |
JP2005179541A (ja) * | 2003-12-19 | 2005-07-07 | Dow Corning Toray Silicone Co Ltd | 付加反応硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物 |
Cited By (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011065322A1 (ja) * | 2009-11-30 | 2011-06-03 | コニカミノルタオプト株式会社 | 発光ダイオードユニットの製造方法 |
WO2011065321A1 (ja) * | 2009-11-30 | 2011-06-03 | コニカミノルタオプト株式会社 | 発光ダイオードユニットの製造方法 |
JP2011225828A (ja) * | 2010-03-30 | 2011-11-10 | Shin-Etsu Chemical Co Ltd | 樹脂組成物及び発光半導体素子用リフレクター、及び発光半導体装置 |
JP2011238811A (ja) * | 2010-05-12 | 2011-11-24 | Konica Minolta Opto Inc | 波長変換素子および発光装置 |
JP2012021131A (ja) * | 2010-06-18 | 2012-02-02 | Mitsubishi Chemicals Corp | 半導体発光デバイス部材用2液型硬化性ポリオルガノシロキサン組成物、該組成物を硬化させてなるポリオルガノシロキサン硬化物及びその製造方法 |
JP2013537714A (ja) * | 2010-07-28 | 2013-10-03 | ジーイー・ライティング・ソルーションズ,エルエルシー | 離隔蛍光体構成で成形/形成及び使用される、シリコーン中に懸濁した蛍光体 |
WO2012023425A1 (ja) * | 2010-08-17 | 2012-02-23 | コニカミノルタオプト株式会社 | 発光装置の製造方法 |
CN103081142A (zh) * | 2010-08-17 | 2013-05-01 | 柯尼卡美能达先进多层薄膜株式会社 | 发光装置的制造方法 |
JP5870923B2 (ja) * | 2010-08-17 | 2016-03-01 | コニカミノルタ株式会社 | 発光装置の製造方法 |
JP5299577B2 (ja) * | 2010-08-17 | 2013-09-25 | コニカミノルタ株式会社 | 発光装置の製造方法 |
US9153752B2 (en) | 2010-08-17 | 2015-10-06 | Konica Minolta Advanced Layers, Inc. | Method of manufacturing light-emitting device |
US8835192B2 (en) | 2010-08-17 | 2014-09-16 | Konica Minolta, Inc. | Method of manufacturing light-emitting device |
WO2012023424A1 (ja) * | 2010-08-17 | 2012-02-23 | コニカミノルタオプト株式会社 | 発光装置の製造方法 |
CN103081142B (zh) * | 2010-08-17 | 2015-01-14 | 柯尼卡美能达先进多层薄膜株式会社 | 发光装置的制造方法 |
JP2015504945A (ja) * | 2011-12-29 | 2015-02-16 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 硬化性ポリシロキサン組成物 |
US9107855B2 (en) | 2012-03-22 | 2015-08-18 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Organopolysiloxane, cosmetic containing thereof, and method for preparing organopolysiloxane |
KR20130108150A (ko) | 2012-03-22 | 2013-10-02 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 신규 오르가노폴리실록산, 이것을 포함하는 화장료 및 오르가노폴리실록산의 제조 방법 |
EP2641929A2 (en) | 2012-03-22 | 2013-09-25 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Novel organopolysiloxane, cosmetic containing thereof, and method for preparing organopolysiloxane |
JP2014012810A (ja) * | 2012-06-05 | 2014-01-23 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 光半導体封止用硬化性組成物及びこれを用いた光半導体装置 |
JP2014511932A (ja) * | 2012-06-05 | 2014-05-19 | ダウ コーニング コーポレーション | 電力変換装置で使用するための軟質粘着性ゲル |
KR101691957B1 (ko) | 2012-08-28 | 2017-01-02 | 스미토모 오사카 세멘토 가부시키가이샤 | 광반도체 발광장치, 조명기구, 및 표시장치 |
JP2014045140A (ja) * | 2012-08-28 | 2014-03-13 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 光半導体発光装置、照明器具、及び表示装置 |
WO2014034621A1 (ja) * | 2012-08-28 | 2014-03-06 | 住友大阪セメント株式会社 | 光半導体発光装置、照明器具、及び表示装置 |
KR20150043451A (ko) * | 2012-08-28 | 2015-04-22 | 스미토모 오사카 세멘토 가부시키가이샤 | 광반도체 발광장치, 조명기구, 및 표시장치 |
WO2015136913A1 (ja) * | 2014-03-10 | 2015-09-17 | 国立大学法人京都大学 | 表面修飾基材の製造方法、接合体の製造方法、新規ヒドロシラン化合物、表面処理剤、表面処理剤キットおよび表面修飾基材 |
JP5924633B2 (ja) * | 2014-03-10 | 2016-05-25 | 国立大学法人京都大学 | 表面修飾基材の製造方法、接合体の製造方法、新規ヒドロシラン化合物および表面修飾基材 |
US10227493B2 (en) | 2014-03-10 | 2019-03-12 | Kyoto University | Method for producing surface-modified base material, method for producing joined body, new hydrosilane compound, surface treatment agent, surface treatment agent kit, and surface-modified base material |
EP3048133A1 (en) | 2015-01-26 | 2016-07-27 | Central Glass Company, Limited | Curable resin composition, cured product thereof, and semiconductor device using the same |
US9758694B2 (en) | 2015-01-26 | 2017-09-12 | Central Glass Company, Limited | Curable resin composition, cured product thereof, and semiconductor device using the same |
KR20160091839A (ko) | 2015-01-26 | 2016-08-03 | 샌트랄 글래스 컴퍼니 리미티드 | 경화성 수지 조성물 및 그 경화물, 및 이들을 이용한 반도체 장치 |
JP2019500635A (ja) * | 2015-10-09 | 2019-01-10 | インクロン オサケユキチュアInkron Oy | 誘電性シロキサン粒子フィルムおよびそれを有するデバイス |
US11592945B2 (en) | 2015-10-09 | 2023-02-28 | Inkron Oy | Dielectric siloxane particle films and devices having the same |
JP2018065938A (ja) * | 2016-10-19 | 2018-04-26 | Mcppイノベーション合同会社 | 硬化性ポリシロキサン組成物、該硬化性ポリシロキサン組成物を含む半導体発光装置用封止材及び、該封止材の硬化物を備えた半導体発光装置 |
JP2018116081A (ja) * | 2017-01-16 | 2018-07-26 | 日本特殊陶業株式会社 | 波長変換部材の製造方法 |
JP2017106030A (ja) * | 2017-02-24 | 2017-06-15 | ダウ コーニング コーポレーションDow Corning Corporation | 電力変換装置で使用するための軟質粘着性ゲル |
JP2019176023A (ja) * | 2018-03-28 | 2019-10-10 | 京セラ株式会社 | 半導体封止用樹脂組成物及び半導体装置 |
JP7560487B2 (ja) | 2019-06-04 | 2024-10-02 | ダウ シリコーンズ コーポレーション | Si-HとSi-O-Siとの反応のための熱トリガとしての架橋型フラストレイティドルイスペア |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5552748B2 (ja) | 2014-07-16 |
EP2270100A1 (en) | 2011-01-05 |
US20110098420A1 (en) | 2011-04-28 |
US8629222B2 (en) | 2014-01-14 |
EP2270100A4 (en) | 2012-07-25 |
WO2009119841A1 (ja) | 2009-10-01 |
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