JP2003255376A - Liquid crystal display and its manufacturing method - Google Patents
Liquid crystal display and its manufacturing methodInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置およ
びその製造方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device and a method for manufacturing the same.
【0002】[0002]
【従来の技術】液晶表示装置は、マルチメディア情報化
時代の必需品として、携帯電話、携帯端末、ノート型パ
ーソナルコンピュータ、カメラ一体型ビデオテープレコ
ーダ等の多くの製品に使用されている。特に、低温ポリ
シリコンTFT液晶表示装置 (Low-Temperature Poly-S
iliconThin-Film-Transistor liquid-Crystal-Display)
は、駆動回路であるTFT素子をガラス基板上に集積
することができるため、高精細化、低消費電力化が可能
となり、将来、様々な回路を集積できることで応用も広
がることが期待されている。また、低温ポリシリコンT
FT型の高精細液晶パネルを量産化するうえで、一層の
低コスト化への要求が高まっている。2. Description of the Related Art Liquid crystal display devices are used in many products such as mobile phones, mobile terminals, notebook type personal computers, and camera-integrated video tape recorders as an essential item in the age of multimedia information. In particular, Low-Temperature Poly-S
iliconThin-Film-Transistor liquid-Crystal-Display)
Since TFT elements that are drive circuits can be integrated on a glass substrate, high definition and low power consumption are possible, and it is expected that the application will be expanded by integrating various circuits in the future. . Also, low temperature polysilicon T
In mass-producing FT type high-definition liquid crystal panels, there is an increasing demand for further cost reduction.
【0003】液晶表示装置を光の利用方法で分類する
と、液晶表示装置はバックライトを利用する透過型、外
光を利用する反射型、および、両方の機能を持った反射
/透過型に分類される。反射/透過型は、暗所ではバッ
クライトを利用し、明所では外光を画素電極で反射させ
ることにより、高輝度、省消費電力を実現している。When a liquid crystal display device is classified according to how light is used, the liquid crystal display device is classified into a transmissive type that uses a backlight, a reflective type that uses external light, and a reflective / transmissive type that has both functions. It The reflective / transmissive type uses a backlight in a dark place and reflects external light from a pixel electrode in a bright place, thereby realizing high brightness and power saving.
【0004】図9は、反射/透過型の液晶表示装置の駆
動基板の構造の一例を示す平面図である。この液晶表示
装置は、いわゆるボトムゲート型の低温ポリシリコンT
FT−LCDである。図9において、表示画素部101
は、マトリクス状に配置されており、この表示画素部1
01は、反射用画素電極102とこの反射用画素電極1
02の下に形成された透過用画素電極103を有する。
各表示画素部101は、透過部Wを備えており、また、
各表示画素部101の一隅部には、TFT素子104が
形成されている。TFT素子104は、ゲート線10
6、信号線105、反射用画素電極102および透過用
画素電極103にそれぞれ電気的に接続されている。FIG. 9 is a plan view showing an example of the structure of a drive substrate of a reflective / transmissive liquid crystal display device. This liquid crystal display device is a so-called bottom gate type low temperature polysilicon T.
It is an FT-LCD. In FIG. 9, the display pixel portion 101
Are arranged in a matrix, and the display pixel unit 1
01 is the reflection pixel electrode 102 and this reflection pixel electrode 1
The pixel electrode 103 for transmission is formed under 02.
Each display pixel portion 101 includes a transmissive portion W, and
A TFT element 104 is formed at one corner of each display pixel portion 101. The TFT element 104 has a gate line 10
6, the signal line 105, the reflective pixel electrode 102, and the transmissive pixel electrode 103 are electrically connected to each other.
【0005】図10は、液晶表示装置のTFT素子10
4の断面構造を示す断面図であって、図9におけるA−
A線方向の断面図である。また、図11は液晶表示装置
の透過部Wの周辺の構造を示す断面図であって、図9に
おけるB−B線方向の断面図である。図10に示すTF
T素子104において、ガラス板等からなる絶縁性で透
明な基板110上には、たとえば、Mo等の導電材料か
らなるゲート電極107が所定のパターンで形成されて
いる。このゲート電極107は、上記したゲート線10
6に電気的に接続および図示しない蓄積容量配線に電気
的に接続されている。FIG. 10 shows a TFT element 10 of a liquid crystal display device.
9 is a cross-sectional view showing the cross-sectional structure of FIG.
It is sectional drawing of the A line direction. FIG. 11 is a cross-sectional view showing the structure around the transmissive portion W of the liquid crystal display device, which is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG. TF shown in FIG.
In the T element 104, a gate electrode 107 made of a conductive material such as Mo is formed in a predetermined pattern on an insulating and transparent substrate 110 made of a glass plate or the like. The gate electrode 107 is the gate line 10 described above.
6 and is electrically connected to a storage capacitor wiring (not shown).
【0006】ゲート電極107上には、当該ゲート電極
107を被覆するように窒化シリコンからなるバリア絶
縁膜112が形成され、このバリア膜112上には酸化
シリコンからなるゲート絶縁膜113が形成されてい
る。このゲート絶縁膜113上には、所定パターンのポ
リシリコン層108が形成されている。このポリシリコ
ン層108は、図示しないコンタクトホールを通じて上
記の信号線105および反射用画素電極102、透過用
画素電極103に電気的に接続される。ポリシリコン層
108上には、当該ポリシリコン層108のゲート電極
107上に位置する部分を被覆するためのストッパ層1
15が形成されている。ポリシリコン層108は、周知
の方法により、LDD(Lightly Doped Drain )領域お
よびN+ 領域が形成され、活性化されている。ゲート絶
縁膜113上には、ポリシリコン層108およびストッ
パ層115を被覆するように、酸化シリコンからなる層
間絶縁膜116が形成され、層間絶縁膜116上には窒
化シリコンからなる層間絶縁膜117が形成されてい
る。A barrier insulating film 112 made of silicon nitride is formed on the gate electrode 107 so as to cover the gate electrode 107, and a gate insulating film 113 made of silicon oxide is formed on the barrier film 112. There is. A polysilicon layer 108 having a predetermined pattern is formed on the gate insulating film 113. The polysilicon layer 108 is electrically connected to the signal line 105, the reflection pixel electrode 102, and the transmission pixel electrode 103 through a contact hole (not shown). A stopper layer 1 for covering the portion of the polysilicon layer 108 located on the gate electrode 107 is formed on the polysilicon layer 108.
15 is formed. In the polysilicon layer 108, an LDD (Lightly Doped Drain) region and an N + region are formed and activated by a known method. An interlayer insulating film 116 made of silicon oxide is formed on the gate insulating film 113 so as to cover the polysilicon layer 108 and the stopper layer 115, and an interlayer insulating film 117 made of silicon nitride is formed on the interlayer insulating film 116. Has been formed.
【0007】層間絶縁膜117上には、表面に凹凸を有
する拡散板118が形成されている。この拡散板118
は、上層に形成される反射用画素電極102に凹凸を発
生させて、当該反射用画素電極102に入射する光を拡
散させて輝度を向上させるために設けられている。拡散
板118上には、平坦化層119が形成されている。こ
の平坦化層119は、反射用画素電極102を形成しや
すい程度に拡散板118の凹凸を滑らかにするために設
けられている。A diffusion plate 118 having an uneven surface is formed on the interlayer insulating film 117. This diffuser plate 118
Is provided to generate unevenness on the reflective pixel electrode 102 formed in the upper layer and diffuse the light incident on the reflective pixel electrode 102 to improve the brightness. A flattening layer 119 is formed on the diffusion plate 118. The flattening layer 119 is provided to smooth the unevenness of the diffusion plate 118 to the extent that the reflective pixel electrode 102 is easily formed.
【0008】平坦化層119上には、透過用画素電極1
03が形成され、透過用画素電極103上には反射用画
素電極102が形成されている。透過用画素電極103
は、ITO(Indium Tin Oxide)膜等の透明膜で形成さ
れ、反射用画素電極102はAl等の反射膜で形成され
ている。The transparent pixel electrode 1 is formed on the flattening layer 119.
03 is formed, and the reflection pixel electrode 102 is formed on the transmission pixel electrode 103. Transmission pixel electrode 103
Is formed of a transparent film such as an ITO (Indium Tin Oxide) film, and the reflective pixel electrode 102 is formed of a reflective film of Al or the like.
【0009】基板110から反射用画素電極102まで
は、一連のプロセスで形成され、液晶表示装置を駆動す
る駆動基板を構成する。図10に示すように、この駆動
基板の表面側にITO膜等の透明膜からなる対向電極1
34、カラーフィルタ135、位相差板136および偏
光板137が設けられており、反射用画素電極102と
対向電極134との間に液晶130が封入され、駆動基
板の裏面側に位相差板133、偏光板132および面状
光源131が設けられている。図10に示すように、外
部から偏光板137に向かって入射する外光OLは、液
晶130を通じて反射用画素電極102で反射し、液晶
130を通じて再び外部に出力可能となっている。一
方、面状光源131からの光BLは、反射用画素電極1
02が存在するため、偏光板137側に出力されない。The substrate 110 to the reflective pixel electrode 102 are formed by a series of processes to form a drive substrate for driving the liquid crystal display device. As shown in FIG. 10, the counter electrode 1 made of a transparent film such as an ITO film is provided on the front surface side of the drive substrate.
34, a color filter 135, a retardation plate 136, and a polarizing plate 137 are provided, the liquid crystal 130 is sealed between the reflection pixel electrode 102 and the counter electrode 134, and the retardation plate 133 is provided on the back surface side of the drive substrate. A polarizing plate 132 and a planar light source 131 are provided. As shown in FIG. 10, external light OL incident from the outside toward the polarizing plate 137 is reflected by the reflection pixel electrode 102 through the liquid crystal 130 and can be output to the outside again through the liquid crystal 130. On the other hand, the light BL from the planar light source 131 is reflected by the reflection pixel electrode 1
02 is present, it is not output to the polarizing plate 137 side.
【0010】一方、図11に示すように、基板110上
に積層されたバリア膜112、ゲート絶縁膜113、層
間絶縁膜116,117、拡散板118および平坦化層
119には、基板110にまで達する穴Hが形成されて
いる。透過用画素電極103は、平坦化層119上に形
成されているとともに、穴Hの底部である基板110の
表面および穴Hの内周面を覆うように形成されている。
さらに、この透過用画素電極103上に形成された反射
用画素電極102は、穴Hの底部において窓102wが
形成されている。このため、図11に示すように、面状
光源131からの光BLは窓102wを通じて偏光板1
37側に出力可能となっている。On the other hand, as shown in FIG. 11, the barrier film 112, the gate insulating film 113, the interlayer insulating films 116 and 117, the diffusion plate 118 and the planarizing layer 119 laminated on the substrate 110 are formed on the substrate 110. A reaching hole H is formed. The transmissive pixel electrode 103 is formed on the planarization layer 119, and is formed so as to cover the surface of the substrate 110 that is the bottom of the hole H and the inner peripheral surface of the hole H.
Further, the reflection pixel electrode 102 formed on the transmission pixel electrode 103 has a window 102w formed at the bottom of the hole H. Therefore, as shown in FIG. 11, the light BL from the planar light source 131 is transmitted through the window 102w to the polarizing plate 1
It is possible to output to the 37 side.
【0011】[0011]
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記構成の
液晶表示装置の反射用画素電極102および透過用画素
電極103を形成するには、まず、平坦化層119上に
透明導電膜を真空雰囲気において成膜したのち、フォト
リソグラフィー工程によって図9に示した所定パターン
にパターニングし透過用画素電極103を形成する。次
いで、透過用画素電極103上に反射導電膜を真空雰囲
気において成膜したのち、フォトリソグラフィー工程に
よってパターニングし反射用画素電極102を形成す
る。フォトリソグラフィー工程は、処理前洗浄・レジス
ト塗布・プリベーク・露光・現像・ポストベーク等の多
くの工程からなりたっている。このため、反射用画素電
極102および透過用画素電極103を形成するのに2
つのフォトリソグラフィー工程が必要であると、量産工
場においては工程数が多く、大型のコーターディベロッ
パーが多数必要となり設備コストが嵩み、製品の低コス
ト化を妨げる要因となっていた。このため、反射用画素
電極102および透過用画素電極103を形成するため
の工程数の削減が望まれていた。また、フォトリソグラ
フィー工程では、多量の薬液を使用するため、省資源化
や環境汚染の防止の観点から、反射用画素電極102お
よび透過用画素電極103の形成をいわゆるドライプロ
セスによって行うことが望まれていた。In order to form the reflective pixel electrode 102 and the transmissive pixel electrode 103 of the liquid crystal display device having the above structure, first, a transparent conductive film is formed on the planarizing layer 119 in a vacuum atmosphere. After forming the film, the transparent pixel electrode 103 is formed by patterning in the predetermined pattern shown in FIG. 9 by a photolithography process. Next, after forming a reflective conductive film on the transmissive pixel electrode 103 in a vacuum atmosphere, patterning is performed by a photolithography process to form the reflective pixel electrode 102. The photolithography process consists of many processes such as pre-treatment cleaning, resist coating, pre-baking, exposure, development and post-baking. Therefore, it is necessary to form the reflective pixel electrode 102 and the transmissive pixel electrode 103 in two steps.
If two photolithography processes are required, the number of processes is large in a mass production factory, a large number of large coater developers are required, and the equipment cost increases, which is a factor that hinders cost reduction of products. Therefore, it has been desired to reduce the number of steps for forming the reflective pixel electrode 102 and the transmissive pixel electrode 103. Further, in the photolithography process, since a large amount of chemical liquid is used, it is desirable to form the reflective pixel electrode 102 and the transmissive pixel electrode 103 by a so-called dry process from the viewpoint of resource saving and prevention of environmental pollution. Was there.
【0012】本発明は、上述した問題に鑑みてなされた
ものであって、その目的は、画素電極をフォトリソグラ
フィ工程によらず形成可能な反射/透過型の液晶表示装
置の製造方法および反射/透過型の液晶表示装置を提供
することにある。The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and an object thereof is a method of manufacturing a reflection / transmission type liquid crystal display device capable of forming pixel electrodes without a photolithography process and a reflection / transmission type liquid crystal display device. It is to provide a transmissive liquid crystal display device.
【0013】[0013]
【課題を解決するための手段】本発明の液晶表示装置
は、光を透過する基板と、前記基板上に所定形状でパタ
ーニングされた導電性反射膜からなり、光を通過させる
開口を備えた反射用画素電極と、所定形状にパターニン
グされた導電性透過膜からなり、前記反射用画素電極に
接触し、かつ、少なくとも前記開口を覆う透過用画素電
極と、前記反射用画素電極および前記透過用画素電極に
対向配置された対向電極と、前記反射用画素電極および
前記透過用画素電極と前記対向電極との間に介在する液
晶とを有する。A liquid crystal display device according to the present invention comprises a substrate which transmits light and a conductive reflective film which is patterned on the substrate in a predetermined shape, and which is provided with an opening through which light passes. Pixel electrode and a conductive transparent film patterned into a predetermined shape, the pixel electrode for contact being in contact with the pixel electrode for reflection and covering at least the opening, the pixel electrode for reflection and the pixel for transmission. The liquid crystal display device includes a counter electrode arranged to face the electrode, and a liquid crystal interposed between the reflective pixel electrode and the transmissive pixel electrode and the counter electrode.
【0014】前記導電性透過膜は、レーザ光を用いた加
工によって選択的に除去するのに必要なレーザ光のエネ
ルギー密度が前記導電性反射膜よりも小さい材料からな
る。The conductive transmissive film is made of a material in which the energy density of the laser light required to be selectively removed by the processing using the laser light is smaller than that of the conductive reflective film.
【0015】好適には、前記導電性透過膜は、線膨張係
数が前記導電性反射膜よりも小さい材料からなる。Preferably, the conductive transparent film is made of a material having a linear expansion coefficient smaller than that of the conductive reflective film.
【0016】さらに好適には、前記透過用画素電極は、
前記反射用画素電極の開口および当該開口の周縁部のみ
を覆っている。More preferably, the transmissive pixel electrode is
Only the opening of the reflective pixel electrode and the peripheral portion of the opening are covered.
【0017】本発明の液晶表示装置の製造方法は、透明
な基板上に、所定形状にパターニングされた光を透過す
る透過用画素電極と光を通過させる開口を備え光を反射
する反射用画素電極とを備えた液晶表示装置の製造方法
であって、前記透過用画素電極および反射用画素電極の
パターニングの少なくとも一方をレーザ光を用いた加工
により行う。According to the method of manufacturing a liquid crystal display device of the present invention, a transparent pixel substrate is provided with a pixel electrode for transmission that transmits light that is patterned in a predetermined shape and an aperture that allows light to pass through, and a pixel electrode for reflection that reflects light. In the method of manufacturing a liquid crystal display device including :, at least one of the patterning of the transmissive pixel electrode and the reflective pixel electrode is performed by processing using a laser beam.
【0018】好適には、本発明の液晶表示装置の製造方
法は、光を透過する基板上に導電性反射膜を形成する工
程と、前記導電性反射膜をレーザ光を用いた加工により
所定形状にパターニングし、光を通過させる開口を備え
る反射用画素電極を形成する工程と、前記反射用画素電
極を被覆するように前記基板上に導電性透過膜を形成す
る工程と、前記導電性透過膜をレーザ光を用いた加工に
より所定形状にパターニングし、少なくとも前記開口を
覆う透過用画素電極を形成する工程とを有する。Preferably, the method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention comprises a step of forming a conductive reflective film on a substrate which transmits light, and a step of processing the conductive reflective film with a laser beam to give a predetermined shape. And forming a reflective pixel electrode having an opening through which light passes, forming a conductive transparent film on the substrate so as to cover the reflective pixel electrode, and the conductive transparent film. Is patterned into a predetermined shape by processing using a laser beam, and a transmissive pixel electrode that covers at least the opening is formed.
【0019】本発明では、導電性反射膜からなる反射用
画素電極と導電性透過膜からなる透過用電極とを備え、
これらのパターニングの少なくとも一方をレーザ光を用
いた加工により行う。これにより、フォトリソグラフィ
ー工程が削減される。また、導電性透過膜に、レーザ光
を用いた加工によって選択的に除去するのに必要なレー
ザ光のエネルギー密度が導電性反射膜よりも小さい材料
を用いることで、導電性透過膜をレーザ光により加工し
た際に、下層の導電性反射膜まで除去されることがな
い。さらに、導電性透過膜に、線膨張係数が導電性反射
膜よりも小さい材料を用いることで、導電性透過膜をレ
ーザ光により加工した際に、熱膨張差により導電性反射
膜と導電性透過膜との界面に歪みが生じ、上層にある線
膨張係数が小さい導電性透過膜のみ除去される。According to the present invention, a reflective pixel electrode made of a conductive reflective film and a transmissive electrode made of a conductive transmissive film are provided,
At least one of these patterning is performed by processing using laser light. This reduces the photolithography process. In addition, by using a material for the conductive transparent film, which has a smaller energy density of laser light than the conductive reflective film necessary for selective removal by processing using the laser light, When processed by, the lower conductive reflective film is not removed. Furthermore, by using a material with a linear expansion coefficient smaller than that of the conductive reflective film for the conductive transparent film, when the conductive transparent film is processed by laser light, due to the difference in thermal expansion, the conductive reflective film and the conductive transparent film are Strain occurs at the interface with the film, and only the upper conductive layer having a small linear expansion coefficient is removed.
【0020】[0020]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図1は、本発明の一実施形
態に係る液晶表示装置における駆動基板の構成を示す平
面図である。図1に示すように、駆動基板1は、マトリ
クス状に配列された画素電極部2と、各画素電極部2に
対して設けられたTFT(Thin Film Transistor)素子3
0とを有する。各画素電極部2の間には、信号線6およ
びゲート線5が設けられている。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view showing a configuration of a drive substrate in a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, a driving substrate 1 includes pixel electrode portions 2 arranged in a matrix and TFT (Thin Film Transistor) elements 3 provided for each pixel electrode portion 2.
Has 0 and. A signal line 6 and a gate line 5 are provided between the pixel electrode portions 2.
【0021】画素電極部2は、反射用画素電極10と、
この反射用画素電極10上に形成された透過用画素電極
12とを有する。また、反射用画素電極10には、開口
10wが形成されており、この開口10wと透過用画素
電極12とによって透過部3が構成されている。The pixel electrode portion 2 includes a reflective pixel electrode 10 and
The transparent pixel electrode 12 is formed on the reflective pixel electrode 10. Further, an opening 10w is formed in the reflective pixel electrode 10, and the transmissive portion 3 is constituted by the opening 10w and the transmissive pixel electrode 12.
【0022】TFT素子30は、ゲート電極7とこのゲ
ート電極7に交差するように配置されたポリシリコン層
8とを有している。ゲート電極7は、ゲート線6に電気
的に接続されている。ポリシリコン層8の一端部は信号
線5に電気的に接続され、他端部は反射用画素電極10
に電気的に接続されている。なお、ゲート線6はTFT
素子30に走査信号を供給するための配線であり、信号
線5はTFT素子30に信号電圧を印加するための配線
である。The TFT element 30 has a gate electrode 7 and a polysilicon layer 8 arranged so as to intersect the gate electrode 7. The gate electrode 7 is electrically connected to the gate line 6. One end of the polysilicon layer 8 is electrically connected to the signal line 5, and the other end is reflective pixel electrode 10
Electrically connected to. The gate line 6 is a TFT
The signal line 5 is a wiring for supplying a scanning signal to the element 30, and the signal line 5 is a wiring for applying a signal voltage to the TFT element 30.
【0023】図2は、本実施形態に係る液晶表示装置の
TFT素子30の周辺の断面構造を示す断面図であっ
て、図1におけるA−A線方向の断面を示している。ま
た、図3は、本実施形態に係る液晶表示装置の駆動基板
の透過部3の周辺の断面構造を示す断面図であって、図
1におけるB−B線方向の断面図である。図2および図
3に示すように、本実施形態に係る液晶表示装置は、駆
動基板1、この駆動基板1の電極形成面側に対向して配
置された、対向電極62、カラーフィルタ64、位相差
板66および偏光板68と、駆動基板1の裏面側に配置
された位相差板70、偏光板72および面状光源74と
を有する。FIG. 2 is a cross-sectional view showing a cross-sectional structure around the TFT element 30 of the liquid crystal display device according to the present embodiment, and shows a cross section taken along the line AA in FIG. 3 is a cross-sectional view showing a cross-sectional structure around the transmissive portion 3 of the drive substrate of the liquid crystal display device according to the present embodiment, and is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG. As shown in FIG. 2 and FIG. 3, the liquid crystal display device according to the present embodiment includes a drive substrate 1, a counter electrode 62, a color filter 64, and a counter electrode 62 which are arranged to face the electrode formation surface side of the drive substrate 1. It has a retardation plate 66 and a polarizing plate 68, and a retardation plate 70, a polarizing plate 72 and a planar light source 74 arranged on the back surface side of the drive substrate 1.
【0024】駆動基板1は、基板40と、ゲート電極7
と、バリア膜44と、ゲート絶縁膜46と、ポリシリコ
ン層8と、ストッパ層50と、層間絶縁膜48,52
と、拡散板54と、平坦化層56と、反射用画素電極1
0と、透過用画素電極12とを有する。The drive substrate 1 includes a substrate 40 and a gate electrode 7
A barrier film 44, a gate insulating film 46, a polysilicon layer 8, a stopper layer 50, and interlayer insulating films 48 and 52.
, Diffusion plate 54, flattening layer 56, and reflection pixel electrode 1
0 and the pixel electrode 12 for transmission.
【0025】基板40は、たとえば、ガラス材料等の光
を透過する材料で形成されている。ゲート電極7は、基
板40上に上記したゲート線6とともにパターニングさ
れている。このゲート電極7は、たとえば、Mo(モリ
ブデン)等の導電材料を基板40上にスパッタリングに
より成膜し、このMoの薄膜を、たとえば、フォトリソ
グラフィーによってパターニングすることにより得られ
る。The substrate 40 is formed of a material that transmits light, such as a glass material. The gate electrode 7 is patterned on the substrate 40 together with the gate line 6 described above. The gate electrode 7 is obtained by, for example, forming a conductive material such as Mo (molybdenum) on the substrate 40 by sputtering and patterning the Mo thin film by, for example, photolithography.
【0026】バリア膜44は、ゲート電極7を被覆する
ように基板40上に成膜されている。このバリア膜44
は、たとえば、プラズマCVD法により、窒化シリコン
を基板40上に成膜したものである。ゲート絶縁膜46
は、バリア膜44上に形成されており、たとえば、酸化
シリコンをプラズマCVD法により成膜したものであ
る。The barrier film 44 is formed on the substrate 40 so as to cover the gate electrode 7. This barrier film 44
Is a silicon nitride film formed on the substrate 40 by, for example, a plasma CVD method. Gate insulating film 46
Is formed on the barrier film 44 and is, for example, a film of silicon oxide formed by a plasma CVD method.
【0027】ポリシリコン層8は、ゲート絶縁膜46上
にパターニングされている。このポリシリコン層8は、
たとえば、非晶質シリコンをゲート絶縁膜46上にプラ
ズマCVD法により成膜したのち、アニール処理を施し
て非晶質シリコンに含まれる水素を除去し、ポリシリコ
ンに転換させ、このポリシリコンを、たとえば、フォト
リソグラフィーによりパターニングすることにより得ら
れる。また、ポリシリコン層8のストッパ層50の両側
には、たとえば、リン(P)等の不純物が所定の濃度で
注入され、活性化されることによりLDD(LightlyDop
ed Drain )領域およびN+ 領域が形成されている。The polysilicon layer 8 is patterned on the gate insulating film 46. This polysilicon layer 8 is
For example, after amorphous silicon is formed on the gate insulating film 46 by the plasma CVD method, an annealing process is performed to remove hydrogen contained in the amorphous silicon and convert it to polysilicon. For example, it is obtained by patterning by photolithography. In addition, impurities such as phosphorus (P) are injected into both sides of the stopper layer 50 of the polysilicon layer 8 at a predetermined concentration and activated to activate LDD (Lightly Dop).
ed Drain) region and N + region are formed.
【0028】ストッパ層50は、たとえば、酸化シリコ
ンで形成されている。このストッパ層50は、たとえ
ば、CVD法によりポリシリコン層8を覆うようにゲー
ト絶縁膜46上に酸化シリコンを成膜したのち、この酸
化シリコンをゲート電極7をマスクとしてセルフアライ
メントによりパターニングすることにより得られる。こ
のため、ストッパ層50は、ポリシリコン層8のゲート
電極7上に位置する部分を被覆している。なお、上記の
LDD領域は、このストッパ層50をマスクとして不純
物がイオン注入されることにより形成される。また、こ
のストッパ層50および当該ストッパ層50の周辺をフ
ォトレジストによりマスクしたのち、不純物をポリシリ
コン層8にイオン注入することにより、N+ 領域が形成
される。その後、アニール処理により、不純物の活性化
を図る。The stopper layer 50 is made of, for example, silicon oxide. The stopper layer 50 is formed, for example, by forming a silicon oxide film on the gate insulating film 46 so as to cover the polysilicon layer 8 by a CVD method, and then patterning this silicon oxide by self-alignment using the gate electrode 7 as a mask. can get. Therefore, the stopper layer 50 covers the portion of the polysilicon layer 8 located on the gate electrode 7. The LDD region is formed by ion-implanting impurities using the stopper layer 50 as a mask. After the stopper layer 50 and the periphery of the stopper layer 50 are masked with a photoresist, impurities are ion-implanted into the polysilicon layer 8 to form an N + region. After that, an annealing process is performed to activate the impurities.
【0029】層間絶縁膜48は、ストッパ層50および
ポリシリコン層8を覆うようにゲート絶縁膜46上に形
成されている。この層間絶縁膜48は、たとえば、酸化
シリコンがCVD法により成膜されている。層間絶縁膜
52は、層間絶縁膜48上に形成されている。この層間
絶縁膜48は、たとえば、窒化シリコンがCVD法によ
り成膜されている。The interlayer insulating film 48 is formed on the gate insulating film 46 so as to cover the stopper layer 50 and the polysilicon layer 8. The interlayer insulating film 48 is formed of, for example, silicon oxide by the CVD method. The interlayer insulating film 52 is formed on the interlayer insulating film 48. The interlayer insulating film 48 is formed of, for example, silicon nitride by the CVD method.
【0030】拡散板54は、層間絶縁膜52上に形成さ
れている。この拡散板54は、表面に凹凸を有してい
る。この凹凸により、当該拡散板54上層に形成される
反射用電極10に凹凸を形成し、当該反射用電極10に
入射する光を拡散させて輝度を向上させるために設けら
れている。拡散板54は、層間絶縁膜52上にアクリル
樹脂等からなるレジストをスピンコートにより塗布し、
ポストベーク処理によりレジストを下地層に定着させ溶
媒を除去し、このレジストの表面に凹凸を形成すること
により得られる。レジスト表面への凹凸の加工は、たと
えば、フォトリソグラフィーあるいはレーザ加工によっ
て行われる。The diffusion plate 54 is formed on the interlayer insulating film 52. The diffusion plate 54 has irregularities on its surface. Due to the unevenness, the unevenness is formed on the reflection electrode 10 formed on the upper layer of the diffusion plate 54, and the light incident on the reflection electrode 10 is diffused to improve the brightness. The diffusion plate 54 is obtained by applying a resist such as acrylic resin on the interlayer insulating film 52 by spin coating.
It can be obtained by fixing the resist on the underlayer by a post-baking treatment, removing the solvent, and forming irregularities on the surface of the resist. The unevenness is processed on the resist surface by, for example, photolithography or laser processing.
【0031】平坦化層56は、拡散板54上に形成され
ており、拡散板54の表面の凹凸を滑らかにし、反射用
画素電極10が定着しやすいようにするために設けられ
ている。このため、平坦化層56の表面は拡散板54の
表面よりも滑らかになっている。The flattening layer 56 is formed on the diffusion plate 54, and is provided to smooth the unevenness of the surface of the diffusion plate 54 and facilitate the fixing of the reflective pixel electrode 10. Therefore, the surface of the flattening layer 56 is smoother than the surface of the diffusion plate 54.
【0032】反射用画素電極10は、平坦化層56上に
パターニングされている。この反射用画素電極10は、
たとえば、Al等の導電性の反射膜で形成されている。
後述するように、反射用画素電極10は、導電性の反射
膜を平坦化層56上にスパッタリングしたのち、後述す
るレーザ光によるアブレーション加工によりパターニン
グされる。The reflective pixel electrode 10 is patterned on the flattening layer 56. The reflective pixel electrode 10 is
For example, it is formed of a conductive reflective film such as Al.
As will be described later, the reflective pixel electrode 10 is patterned by performing an ablation process using a laser beam, which will be described later, after a conductive reflective film is sputtered on the flattening layer 56.
【0033】また、反射用画素電極10は、図3に示す
ように、透過部3において開口10wが形成されてい
る。反射用画素電極10は、透過部3において、基板4
0上に積層されたバリア膜42、ゲート絶縁膜46、層
間絶縁膜48,52、拡散板54および平坦化層56に
形成された基板40にまで達する穴Hの底部である基板
40の表面および穴Hの内周面を覆うように形成されて
いる。基板40の表面に形成された反射用画素電極10
に開口10wが形成されている。なお、反射用画素電極
10の形成方法については後述する。Further, as shown in FIG. 3, the reflective pixel electrode 10 has an opening 10w formed in the transmissive portion 3. The reflective pixel electrode 10 is provided on the substrate 4 in the transmissive portion 3.
The barrier film 42, the gate insulating film 46, the interlayer insulating films 48 and 52, the diffusion plate 54, and the flattening layer 56 which are stacked on the surface of the substrate 40 which is the bottom of the hole H reaching the substrate 40 and It is formed so as to cover the inner peripheral surface of the hole H. Reflection pixel electrode 10 formed on the surface of the substrate 40
An opening 10w is formed in the. The method of forming the reflective pixel electrode 10 will be described later.
【0034】透過用画素電極12は、基板40の表面に
形成された反射用画素電極10上に形成されており、開
口10wおよびこの開口10wの周縁部のみを覆ってい
る。この透過用画素電極12は、たとえば、ITO(Ind
ium Tin Oxide)等の導電性の透過膜によって形成されて
いる。なお、透過用画素電極12の形成方法については
後述する。The transmissive pixel electrode 12 is formed on the reflective pixel electrode 10 formed on the surface of the substrate 40, and covers only the opening 10w and the peripheral portion of the opening 10w. The transmissive pixel electrode 12 is formed of, for example, ITO (Ind
It is formed by a conductive transparent film such as ium tin oxide. The method of forming the transmissive pixel electrode 12 will be described later.
【0035】対向電極62、カラーフィルタ64、位相
差板66および偏光板68は、一体化されて駆動基板1
の画素電極形成側に対向配置される。対向電極62は、
ITO(Indium Tin Oxide)等の導電性の透過膜によって
形成されており、反射用画素電極10および透過用画素
電極12との間で電界を形成する。The counter electrode 62, the color filter 64, the retardation plate 66 and the polarizing plate 68 are integrated to form the drive substrate 1.
Is arranged so as to face the pixel electrode formation side. The counter electrode 62 is
It is formed of a conductive transmissive film such as ITO (Indium Tin Oxide) and forms an electric field between the reflective pixel electrode 10 and the transmissive pixel electrode 12.
【0036】偏光板68および72は、入射する光を直
線偏光にする。位相差板66,70は、液晶表示装置の
コントラストの向上、色変化の低減、防止のために、偏
光板68または72を通じて入射する直線偏光を円偏光
にする光学補償を行う。カラーフィルタ64は、赤
(R)、緑(G)、青(B)の三原色の微細な着色層と
ブラックマトリックスと呼ばれる遮光層とが所定パター
ンに形成されたものである。面状光源74は、たとえ
ば、冷陰極蛍光管等の光源を内蔵しており、面状の光B
Lを基板40側に向けて出力する。The polarizing plates 68 and 72 convert the incident light into linearly polarized light. The retardation plates 66 and 70 perform optical compensation for converting linearly polarized light incident through the polarizing plate 68 or 72 into circularly polarized light in order to improve the contrast of the liquid crystal display device and reduce or prevent the color change. The color filter 64 is formed by forming a fine colored layer of three primary colors of red (R), green (G), and blue (B) and a light shielding layer called a black matrix in a predetermined pattern. The planar light source 74 has, for example, a light source such as a cold cathode fluorescent tube built therein, and the planar light B
L is output toward the substrate 40 side.
【0037】対向電極62と反射用画素電極10および
透過用画素電極12との間に封入される液晶60には、
たとえば、ツイスティッドネマティック(TN)液晶が
使用される。The liquid crystal 60 sealed between the counter electrode 62 and the reflective pixel electrode 10 and the transmissive pixel electrode 12 includes:
For example, twisted nematic (TN) liquid crystal is used.
【0038】上記構成の液晶表示装置では、偏光板68
側から入射した外光OLは、偏光板68、位相差板6
6、カラーフィルタ64および対向電極62を通過して
反射用画素電極10に入射し、この反射用画素電極10
で反射されて偏光板68から外部に再び出力される。反
射用画素電極10の表面は、拡散板54の凹凸により凹
凸を有しているので、反射用画素電極10に入射された
外光OLは、散乱し画面の輝度が向上する。また、反射
用画素電極10上には、透過部3を除いて透過用画素電
極12が存在しないため、反射用画素電極10に入射す
る外光OLの反射が妨げられることがなく、さらに高輝
度の画面が得られる。In the liquid crystal display device having the above structure, the polarizing plate 68 is used.
External light OL incident from the side is polarized plate 68, retardation plate 6
6, passes through the color filter 64 and the counter electrode 62 and enters the reflection pixel electrode 10, and the reflection pixel electrode 10
Is reflected by and is output again from the polarizing plate 68 to the outside. Since the surface of the reflective pixel electrode 10 has irregularities due to the irregularities of the diffusion plate 54, the external light OL incident on the reflective pixel electrode 10 is scattered and the brightness of the screen is improved. Further, since the transmissive pixel electrode 12 does not exist on the reflective pixel electrode 10 except the transmissive portion 3, the reflection of the external light OL incident on the reflective pixel electrode 10 is not hindered and the brightness is further increased. Screen is obtained.
【0039】一方、面状光源74から出力された光BL
は、図2に示すように、反射用画素電極10が存在する
領域では、反射用画素電極10によって遮断され、偏光
板68から外部へ出力されないが、図3に示すように、
透過用画素電極12に入射した光BLは、透過用画素電
極12を通過し、対向電極62、カラーフィルタ64、
位相差板66および偏光板68を通じて外部に出力され
る。この結果、暗所では面状光源74を利用し、明所で
は外光を反射用画素電極10で反射させることにより、
高輝度で省消費電力化された液晶表示装置が得られる。On the other hand, the light BL output from the planar light source 74
2 is blocked by the reflective pixel electrode 10 in the region where the reflective pixel electrode 10 exists as shown in FIG. 2 and is not output from the polarizing plate 68 to the outside, but as shown in FIG.
The light BL that has entered the transmissive pixel electrode 12 passes through the transmissive pixel electrode 12, and the counter electrode 62, the color filter 64,
It is output to the outside through the phase difference plate 66 and the polarizing plate 68. As a result, by using the planar light source 74 in a dark place and reflecting the external light by the reflection pixel electrode 10 in a bright place,
A liquid crystal display device with high brightness and low power consumption can be obtained.
【0040】次に、上述した反射用画素電極10および
透過用画素電極12の形成方法について説明する。図4
は、反射用画素電極10および透過用画素電極12のパ
ターニングに用いるレーザ加工装置の概略構成の一例を
示す図である。図4に示すレーザ加工装置200は、レ
ーザ光源201と、複数のミラー202,203,20
4と、ビーム整形器205と、マスク206と、縮小投
影レンズ207と、ステージ208とを有する。Next, a method of forming the above-mentioned reflective pixel electrode 10 and transmissive pixel electrode 12 will be described. Figure 4
FIG. 3 is a diagram showing an example of a schematic configuration of a laser processing apparatus used for patterning the reflective pixel electrode 10 and the transmissive pixel electrode 12. The laser processing apparatus 200 shown in FIG. 4 includes a laser light source 201 and a plurality of mirrors 202, 203, 20.
4, a beam shaper 205, a mask 206, a reduction projection lens 207, and a stage 208.
【0041】レーザ光源201は、レーザビームLBを
出力する。このレーザ光源201から出力されるレーザ
ビームLBによって加工対象物210の被加工面210
fが加工される。レーザ光源1には、たとえば、エキシ
マレーザや、YAGレーザが用いられる。エキシマレー
ザには、レーザ媒質の異なる複数の種類が存在する。レ
ーザ媒質としては、波長の長いほうからXeF(351
nm)、XeCl(308nm)、KrF(248n
m)、ArF(193nm)、F2 (157nm)が存
在する。エキシマレーザは、熱エネルギーを利用した加
工を行うYAGレーザ(1.06μm)、CO2 レーザ
(10.6μm)と大きく異なる点は、発振波長が紫外
線の領域にあることである。エキシマレーザは、本質的
にパルスでのみ発振し、パルス幅は約20nsでありレ
ーザビームの形は長方形である。また、エキシマレーザ
は、アブレーションと呼ばれる、光化学的に直接結合を
解離する熱的な影響を受けにくい加工を行うため、被加
工面のエッジの仕上がりが非常にシャープとなる。これ
に対して、YAGレーザ、CO2 レーザでは加工部分が
溶融後蒸発するため、熱の影響で周辺部が丸くなりきれ
いな端面とならない。さらに、エキシマレーザは、初期
のビームの断面が約10×10mmの寸法を有し、このレ
ーザビームを後述するビーム整形器により長面積化、大
面積化することにより比較的広い面積を一括して加工で
きる。したがって、大面積の領域を同時に加工するのに
エキシマレーザは適している。The laser light source 201 outputs a laser beam LB. By the laser beam LB output from the laser light source 201, the processing surface 210 of the processing object 210 is processed.
f is processed. As the laser light source 1, for example, an excimer laser or a YAG laser is used. There are a plurality of types of excimer lasers having different laser media. As the laser medium, XeF (351
nm), XeCl (308 nm), KrF (248n)
m), ArF (193 nm) and F 2 (157 nm). The excimer laser is greatly different from the YAG laser (1.06 μm) and the CO 2 laser (10.6 μm) that perform processing using thermal energy in that the oscillation wavelength is in the ultraviolet range. The excimer laser essentially oscillates only in pulses, has a pulse width of about 20 ns and the laser beam is rectangular in shape. Further, the excimer laser performs a process called ablation, which is less susceptible to the thermal effect of photochemically dissociating the direct bond, so that the edge of the surface to be processed is extremely sharp. On the other hand, in the YAG laser and the CO 2 laser, the processed portion is melted and then evaporated, so that the peripheral portion is rounded by the influence of heat and the end face is not clean. Further, the excimer laser has an initial beam cross section of about 10 × 10 mm, and a relatively large area is collectively formed by increasing the area and the area of this laser beam by a beam shaper described later. Can be processed. Therefore, the excimer laser is suitable for simultaneously processing a large area.
【0042】ビーム整形器205は、ミラー202およ
び203によって反射されたレーザ光源201からのレ
ーザビームLBを拡大整形し、ミラー204に向けて出
力する。The beam shaper 205 expands and shapes the laser beam LB from the laser light source 201 reflected by the mirrors 202 and 203, and outputs it to the mirror 204.
【0043】マスク206は、ビーム整形器205で整
形されミラー204で反射されたレーザビームLBを通
過させる所定パターンを有している。このマスク206
は、たとえば、金属材料で形成されたマスク、透明なガ
ラス材料や透明な樹脂で形成されたマスク、誘電体材料
で形成されたマスク等が用いられる。The mask 206 has a predetermined pattern for passing the laser beam LB which is shaped by the beam shaper 205 and reflected by the mirror 204. This mask 206
For example, a mask formed of a metal material, a mask formed of a transparent glass material or a transparent resin, a mask formed of a dielectric material, or the like is used.
【0044】縮小投影レンズ207は、マスク206の
パターンを通過したレーザビームLBを所定倍率で縮小
してステージ208上の加工対象物210の被加工面2
10fに投影する。The reduction projection lens 207 reduces the laser beam LB that has passed through the pattern of the mask 206 by a predetermined magnification to reduce the surface 2 to be processed of the processing object 210 on the stage 208.
Project to 10f.
【0045】ステージ208は、縮小投影レンズ207
から投影されるレーザビームLBが加工対象物210の
被加工面210fに合焦するように縮小投影レンズ20
7に対して配置されている。このステージ208は、加
工対象物を固定する、たとえば、真空チャック等の固定
手段を備えており、レーザビームLBを加工対象物21
0の被加工面210f上の所望の位置に照射し、かつ、
レーザビームLBを被加工面210f上で合焦させるこ
とが可能なように、x、y,z方向およびθ方向に移動
位置決めが可能となっている。The stage 208 has a reduction projection lens 207.
The reduction projection lens 20 so that the laser beam LB projected from the object is focused on the surface 210f to be processed of the processing object 210.
It is arranged with respect to 7. The stage 208 is provided with a fixing means such as a vacuum chuck for fixing the object to be processed, and applies the laser beam LB to the object to be processed 21.
Irradiate a desired position on the processed surface 210f of 0, and
The laser beam LB can be moved and positioned in the x, y, z and θ directions so that the laser beam LB can be focused on the processed surface 210f.
【0046】上記構成のレーザ加工装置200では、加
工対象物210の被加工面210fにマスク206で規
定される所定パターンのレーザビームLBが照射され、
被加工面210fがアブレーション加工される。In the laser processing apparatus 200 having the above structure, the surface 210f of the processing object 210 is irradiated with the laser beam LB having a predetermined pattern defined by the mask 206,
The processed surface 210f is ablated.
【0047】次に、上記レーザ加工装置200を用いた
反射用画素電極10および透過用画素電極12のパター
ニングについて説明する。図5は、駆動基板1の透過部
3において、基板40上に積層されたバリア膜42、ゲ
ート絶縁膜46、層間絶縁膜48,52、拡散板54お
よび平坦化層56にエッチングによって穴Hを形成した
のち、平坦化層56上に導電性反射膜11を形成した状
態を示している。導電性反射膜11は、たとえば、Al
等の金属材料をスパッタリングすることによって形成さ
れる。Next, patterning of the reflective pixel electrode 10 and the transmissive pixel electrode 12 using the laser processing apparatus 200 will be described. In FIG. 5, in the transparent portion 3 of the drive substrate 1, a hole H is formed in the barrier film 42, the gate insulating film 46, the interlayer insulating films 48 and 52, the diffusion plate 54, and the flattening layer 56, which are stacked on the substrate 40, by etching. After the formation, the conductive reflection film 11 is formed on the flattening layer 56. The conductive reflective film 11 is made of, for example, Al.
It is formed by sputtering a metal material such as.
【0048】次いで、図5に示す状態の駆動基板1をレ
ーザ加工装置200のステージ208に設置し、さら
に、反射用画素電極10を形成するのに必要なマスク2
06をレーザ加工装置200にセットする。Next, the drive substrate 1 in the state shown in FIG. 5 is set on the stage 208 of the laser processing apparatus 200, and further, the mask 2 necessary for forming the reflective pixel electrode 10.
06 is set in the laser processing apparatus 200.
【0049】レーザ加工装置200によって、所定パタ
ーンのレーザビームLBを導電性反射膜11に導電性反
射膜11の除去に必要なエネルギー密度で照射すると、
導電性反射膜11が選択的に除去され、図6に示すよう
に、開口10wをもつ反射用画素電極10が形成され
る。なお、図示しないが、このレーザ加工により隣接す
る反射用画素電極10間のギャップも同時に加工され
る。When the laser beam LB having a predetermined pattern is applied to the conductive reflection film 11 by the laser processing apparatus 200 at an energy density required for removing the conductive reflection film 11,
The conductive reflection film 11 is selectively removed, and as shown in FIG. 6, the reflection pixel electrode 10 having the opening 10w is formed. Although not shown, this laser processing also simultaneously processes the gap between the adjacent reflective pixel electrodes 10.
【0050】次いで、図6に示した反射用画素電極10
が形成された状態の駆動基板をレーザ加工装置200か
ら搬出し、図7に示すように、反射用画素電極10を覆
うように、導電性透過膜13を形成する。ここで、導電
性透過膜13の形成材料には、レーザ加工装置200に
おいて選択的に除去するのに必要なレーザビームLBの
エネルギー密度が上記の導電性反射膜11の形成材料よ
りも小さいものを用いる。さらに、導電性透過膜13の
形成材料には、線膨張係数が導電性反射膜11よりも小
さい材料を用いる。具体的には、たとえば、導電性反射
膜11の形成材料にAlを用いた場合には、導電性透過
膜13には、たとえば、ITOを用いる。Alの線膨張
係数は約2.37×10-5/Kであり、ITOの線膨張
係数は約5×10-6/Kであり、AlのほうがITOよ
りも約5倍大きい。Next, the reflective pixel electrode 10 shown in FIG.
The drive substrate in the state where is formed is carried out from the laser processing apparatus 200, and as shown in FIG. 7, the conductive transparent film 13 is formed so as to cover the reflective pixel electrode 10. Here, as the material for forming the conductive transparent film 13, one having a smaller energy density of the laser beam LB required for selective removal in the laser processing apparatus 200 than the material for forming the conductive reflective film 11 is used. To use. Further, a material having a linear expansion coefficient smaller than that of the conductive reflective film 11 is used as a material for forming the conductive transparent film 13. Specifically, for example, when Al is used as the material for forming the conductive reflective film 11, ITO is used for the conductive transmissive film 13. The coefficient of linear expansion of Al is about 2.37 × 10 −5 / K, the coefficient of linear expansion of ITO is about 5 × 10 −6 / K, and Al is about 5 times larger than ITO.
【0051】導電性透過膜13を反射用画素電極10を
覆うように形成すると、図7に示すように、導電性透過
膜13は反射用画素電極10の開口10wを覆い、開口
10w内において基板40の表面に接した状態となる。
また、図示しないが、隣接する反射用画素電極10のギ
ャップ間にも導電性透過膜13は形成される。When the conductive transparent film 13 is formed so as to cover the reflective pixel electrode 10, the conductive transparent film 13 covers the opening 10w of the reflective pixel electrode 10 as shown in FIG. It comes into contact with the surface of 40.
Although not shown, the conductive transmissive film 13 is also formed between the gaps between the adjacent reflective pixel electrodes 10.
【0052】次いで、図7に示した状態の駆動基板をレ
ーザ加工装置200のステージ208に設置し、透過用
画素電極12をパターニングするのに必要なマスク20
6をセットする。Next, the drive substrate in the state shown in FIG. 7 is set on the stage 208 of the laser processing apparatus 200, and the mask 20 necessary for patterning the transmissive pixel electrode 12 is formed.
Set 6.
【0053】上記の状態において、レーザ加工装置20
0によって、図8に示すように、所定パターンのレーザ
ビームLBを導電性透過膜13に当該導電性透過膜13
の除去に必要なエネルギー密度で照射する。なお、上述
したように、このレーザビームLBのエネルギー密度
は、導電性反射膜11を除去するのに必要なエネルギー
密度よりも小さい。In the above state, the laser processing device 20
0, as shown in FIG. 8, the laser beam LB having a predetermined pattern is applied to the conductive transparent film 13 by the conductive transparent film 13.
Irradiation with the energy density required for the removal. As described above, the energy density of the laser beam LB is smaller than the energy density required to remove the conductive reflective film 11.
【0054】このとき、所定パターンのレーザビームL
BがITOからなる導電性透過膜13に照射されると、
導電性透過膜13およびAlからなる反射用画素電極1
0のレーザビームLBの照射領域の温度が上昇し、導電
性透過膜13および反射用画素電極10に熱膨張が発生
する。導電性透過膜13の形成材料であるITOは、線
膨張係数が反射用画素電極10の形成材料であるAlよ
りも小さいので、導電性透過膜13と反射用画素電極1
0との間には熱膨張差が発生する。このため、導電性透
過膜13と反射用画素電極10との界面に歪みが生じ、
上層にある線膨張係数が小さい導電性透過膜13のみが
選択的に除去される。At this time, the laser beam L having a predetermined pattern
When B is irradiated to the conductive transparent film 13 made of ITO,
Reflection pixel electrode 1 made of conductive transparent film 13 and Al
The temperature of the irradiation region of the 0 laser beam LB rises, and thermal expansion occurs in the conductive transmissive film 13 and the reflective pixel electrode 10. Since ITO, which is the material for forming the conductive transparent film 13, has a smaller linear expansion coefficient than Al, which is the material for forming the reflective pixel electrode 10, the conductive transparent film 13 and the reflective pixel electrode 1
A difference in thermal expansion occurs between 0 and 0. Therefore, distortion occurs at the interface between the conductive transparent film 13 and the reflective pixel electrode 10,
Only the upper conductive conductive film 13 having a small linear expansion coefficient is selectively removed.
【0055】さらに、導電性透過膜13に、導電性反射
膜11の加工に必要なエネルギー密度よりも小さいエネ
ルギー密度のレーザビームLBを照射しているので、除
去される導電性透過膜13の下層にある反射用画素電極
10までレーザビームLBの照射により除去されること
がない。Furthermore, since the conductive transparent film 13 is irradiated with the laser beam LB having an energy density lower than that required for processing the conductive reflective film 11, the lower layer of the conductive transparent film 13 to be removed. The reflection pixel electrode 10 in the above is not removed by the irradiation of the laser beam LB.
【0056】以上のように、本実施形態によれば、導電
性透過膜13をレーザビームLBにより加工して透過用
画素電極12を形成した際に、下層の反射用画素電極1
0まで除去されることがないため、反射用画素電極10
および透過用画素電極12の双方のパターニングをレー
ザ加工により行うことが可能となる。この結果、反射用
画素電極10および透過用画素電極12の形成にフォト
リソグラフィーが不要となり、工程数の大幅な削減が可
能となる。また、本実施形態に係る液晶表示装置は、反
射用画素電極10上に透過用画素電極12が形成される
構造を有するため、反射用画素電極10および透過用画
素電極12のレーザ加工によるパターニングが可能にな
る。さらに、本実施形態に係る液晶表示装置は、透過用
画素電極12が反射用画素電極10の開口10wおよび
その周縁部のみを覆っているため、透過用画素電極12
が反射用画素電極10の光の反射を妨げることがなく、
高輝度の画面が得られる。As described above, according to this embodiment, when the conductive transmissive film 13 is processed by the laser beam LB to form the transmissive pixel electrode 12, the lower reflective pixel electrode 1 is formed.
Since it is not removed to 0, the reflective pixel electrode 10
It is possible to pattern both the transparent pixel electrode 12 and the transparent pixel electrode 12 by laser processing. As a result, photolithography is not required to form the reflective pixel electrode 10 and the transmissive pixel electrode 12, and the number of steps can be significantly reduced. Further, since the liquid crystal display device according to the present embodiment has a structure in which the transmissive pixel electrode 12 is formed on the reflective pixel electrode 10, the reflective pixel electrode 10 and the transmissive pixel electrode 12 can be patterned by laser processing. It will be possible. Further, in the liquid crystal display device according to the present embodiment, since the transmissive pixel electrode 12 covers only the opening 10w of the reflective pixel electrode 10 and its peripheral portion, the transmissive pixel electrode 12 is formed.
Does not interfere with the reflection of light from the reflective pixel electrode 10,
A bright screen is obtained.
【0057】本発明は上述した実施形態に限定されな
い。上述した実施形態では、反射用画素電極10および
透過用画素電極12のパターニングをレーザ加工によっ
て行ったが、反射用画素電極10および透過用画素電極
12の一方のパターニングにのみレーザ加工を使用し、
他方にフォトリソグラフィーを用いても電極形成に必要
な工程数の削減は可能である。また、上述した実施形態
に係る液晶表示装置のTFT素子30は、いわゆるボト
ムゲート構造であったが、トップゲート構造のTFT素
子を備える液晶表示装置の製造にも本発明は適用可能で
ある。The present invention is not limited to the above embodiments. In the above-described embodiment, the patterning of the reflective pixel electrode 10 and the transmissive pixel electrode 12 is performed by laser processing, but the laser processing is used only for patterning one of the reflective pixel electrode 10 and the transmissive pixel electrode 12.
On the other hand, photolithography can be used to reduce the number of steps required for electrode formation. Further, although the TFT element 30 of the liquid crystal display device according to the above-described embodiment has a so-called bottom gate structure, the present invention is also applicable to manufacture of a liquid crystal display device including a top gate structure TFT element.
【0058】[0058]
【発明の効果】本発明によれば、反射/透過型の液晶表
示装置における2つの画素電極をフォトリソグラフィ工
程によらずドライプロセスにより形成可能となる。According to the present invention, two pixel electrodes in a reflective / transmissive liquid crystal display device can be formed by a dry process instead of a photolithography process.
【図1】本発明の一実施形態に係る液晶表示装置におけ
る駆動基板の構成を示す平面図である。FIG. 1 is a plan view showing a configuration of a drive substrate in a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の一実施形態に係る液晶表示装置のTF
T素子30の周辺の断面構造を示す断面図である。FIG. 2 is a TF of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.
3 is a cross-sectional view showing a cross-sectional structure around a T element 30. FIG.
【図3】本発明の一実施形態に係る液晶表示装置の駆動
基板の透過部3の周辺の断面構造を示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view showing a cross-sectional structure around a transmissive portion 3 of a drive substrate of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.
【図4】反射用画素電極10および透過用画素電極12
のパターニングに用いるレーザ加工装置の概略構成の一
例を示す図である。FIG. 4 is a reflection pixel electrode 10 and a transmission pixel electrode 12.
It is a figure which shows an example of a schematic structure of the laser processing apparatus used for the patterning of.
【図5】電極形成工程を説明するための図であって、平
坦化層56上に導電性反射膜11を形成した状態を示す
断面図である。FIG. 5 is a diagram for explaining an electrode forming step, which is a cross-sectional view showing a state in which the conductive reflective film 11 is formed on the flattening layer 56.
【図6】電極形成工程を説明するための図であって、導
電性反射膜11をレーザ加工によりパターニングする状
態を示す断面図である。FIG. 6 is a diagram for explaining an electrode forming step, which is a cross-sectional view showing a state in which the conductive reflective film 11 is patterned by laser processing.
【図7】電極形成工程を説明するための図であって、反
射用画素電極10上に導電性透過膜13を形成した状態
を示す断面図である。FIG. 7 is a diagram for explaining an electrode forming step, which is a cross-sectional view showing a state in which a conductive transmissive film 13 is formed on the reflective pixel electrode 10.
【図8】電極形成工程を説明するための図であって、導
電性透過膜13をレーザ加工によりパターニングする状
態を示す断面図である。8 is a diagram for explaining an electrode forming step, which is a cross-sectional view showing a state in which the conductive transmissive film 13 is patterned by laser processing. FIG.
【図9】反射/透過型の液晶表示装置の駆動基板の構造
の一例を示す平面図である。FIG. 9 is a plan view showing an example of the structure of a drive substrate of a reflective / transmissive liquid crystal display device.
【図10】液晶表示装置のTFT素子104の断面構造
を示す断面図であって、図9におけるA−A線方向の断
面図である。10 is a cross-sectional view showing a cross-sectional structure of the TFT element 104 of the liquid crystal display device, which is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG.
【図11】液晶表示装置の透過部Wの周辺の構造を示す
断面図であって、図9におけるB−B線方向の断面図で
ある。11 is a cross-sectional view showing a structure around a transmission part W of the liquid crystal display device, which is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG.
1…駆動基板、2…画素電極部、5…信号線、6…ゲー
ト線、7…ゲート電極、8…ポリシリコン層、10…反
射用画素電極、12…透過用画素電極、30…TFT素
子、40…基板、42…バリア膜、46…ゲート絶縁
膜、48,52…層間絶縁膜、54…拡散板、56…平
坦化層、60…液晶、62…対向電極、64…カラーフ
ィルタ、66,70…位相差板、68,72…偏光板、
74…面状光源。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Driving substrate, 2 ... Pixel electrode part, 5 ... Signal line, 6 ... Gate line, 7 ... Gate electrode, 8 ... Polysilicon layer, 10 ... Reflection pixel electrode, 12 ... Transmission pixel electrode, 30 ... TFT element , 40 ... Substrate, 42 ... Barrier film, 46 ... Gate insulating film, 48, 52 ... Interlayer insulating film, 54 ... Diffusion plate, 56 ... Flattening layer, 60 ... Liquid crystal, 62 ... Counter electrode, 64 ... Color filter, 66 , 70 ... Retardation plate, 68, 72 ... Polarizing plate,
74 ... A surface light source.
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【手続補正書】[Procedure amendment]
【提出日】平成14年4月23日(2002.4.2
3)[Submission date] April 23, 2002 (2002.4.2)
3)
【手続補正1】[Procedure Amendment 1]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0005[Name of item to be corrected] 0005
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0005】図10は、液晶表示装置のTFT素子10
4の断面構造を示す断面図であって、図9におけるA−
A線方向の断面図である。また、図11は液晶表示装置
の透過部Wの周辺の構造を示す断面図であって、図9に
おけるB−B線方向の断面図である。図10に示すTF
T素子104において、ガラス板等からなる絶縁性で透
明な基板110上には、たとえば、Cr,Mo等の導電
材料からなるゲート電極107が所定のパターンで形成
されている。このゲート電極107は、上記したゲート
線106に電気的に接続および図示しない蓄積容量配線
に電気的に接続されている。FIG. 10 shows a TFT element 10 of a liquid crystal display device.
9 is a cross-sectional view showing the cross-sectional structure of FIG.
It is sectional drawing of the A line direction. FIG. 11 is a cross-sectional view showing the structure around the transmissive portion W of the liquid crystal display device, which is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG. TF shown in FIG.
In the T element 104, a gate electrode 107 made of a conductive material such as Cr or Mo is formed in a predetermined pattern on an insulating and transparent substrate 110 made of a glass plate or the like. The gate electrode 107 is electrically connected to the above-described gate line 106 and electrically connected to a storage capacitor wiring (not shown).
【手続補正2】[Procedure Amendment 2]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0008[Correction target item name] 0008
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0008】平坦化層119上には、透過用画素電極1
03が形成され、透過用画素電極103上には反射用画
素電極102が形成されている。透過用画素電極103
は、ITO(Indium Tin Oxide)膜等の透明膜で形成さ
れ、反射用画素電極102はAl,Ag等の反射膜で形
成されている。The transparent pixel electrode 1 is formed on the flattening layer 119.
03 is formed, and the reflection pixel electrode 102 is formed on the transmission pixel electrode 103. Transmission pixel electrode 103
Is formed of a transparent film such as an ITO (Indium Tin Oxide) film, and the reflective pixel electrode 102 is formed of a reflective film of Al , Ag, or the like.
【手続補正3】[Procedure 3]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0012[Correction target item name] 0012
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0012】本発明は、上述した問題に鑑みてなされた
ものであって、その目的は、画素電極をフォトリソグラ
フィー工程によらず形成可能な反射/透過型の液晶表示
装置の製造方法および反射/透過型の液晶表示装置を提
供することにある。[0012] The present invention was made in view of the above problems, its object is formable reflective regardless of the pixel electrode in photolithography Gras <br/> Fi chromatography step / transmissive type liquid crystal display device To provide a reflective / transmissive liquid crystal display device.
【手続補正4】[Procedure amendment 4]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0020[Correction target item name] 0020
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0020】[0020]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図1は、本発明の一実施形
態に係る液晶表示装置における駆動基板の構成を示す平
面図である。図1に示すように、駆動基板1は、マトリ
クス状に配列された画素電極部2と、各画素電極部2に
対して設けられたTFT(Thin Film Transistor)素子3
0とを有する。各画素電極部2の間には、信号線5およ
びゲート線6が設けられている。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view showing a configuration of a drive substrate in a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, a driving substrate 1 includes pixel electrode portions 2 arranged in a matrix and TFT (Thin Film Transistor) elements 3 provided for each pixel electrode portion 2.
Has 0 and. A signal line 5 and a gate line 6 are provided between the pixel electrode portions 2.
【手続補正5】[Procedure Amendment 5]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0025[Name of item to be corrected] 0025
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0025】基板40は、たとえば、ガラス材料等の光
を透過する材料で形成されている。ゲート電極7は、基
板40上に上記したゲート線6とともにパターニングさ
れている。このゲート電極7は、たとえば、Cr(クロ
ム)等の導電材料を基板40上にスパッタリングにより
成膜し、このCrの薄膜を、たとえば、フォトリソグラ
フィーによってパターニングすることにより得られる。The substrate 40 is formed of a material that transmits light, such as a glass material. The gate electrode 7 is patterned on the substrate 40 together with the gate line 6 described above. The gate electrode 7 is formed of, for example, Cr (black).
It is obtained by depositing a conductive material such as aluminum on the substrate 40 by sputtering and patterning the Cr thin film by, for example, photolithography.
【手続補正6】[Procedure correction 6]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0032[Name of item to be corrected] 0032
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0032】反射用画素電極10は、平坦化層56上に
パターニングされている。この反射用画素電極10は、
たとえば、Al,Ag等の導電性の反射膜で形成されて
いる。後述するように、反射用画素電極10は、導電性
の反射膜を平坦化層56上にスパッタリングしたのち、
後述するレーザ光によるアブレーション及び熱的加工に
よりパターニングされる。The reflective pixel electrode 10 is patterned on the flattening layer 56. The reflective pixel electrode 10 is
For example, it is formed of a conductive reflective film of Al , Ag or the like. As will be described later, in the reflective pixel electrode 10, after a conductive reflective film is sputtered on the flattening layer 56,
Patterning is performed by ablation by laser light and thermal processing described later.
【手続補正7】[Procedure Amendment 7]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0041[Correction target item name] 0041
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0041】レーザ光源201は、レーザビームLBを
出力する。このレーザ光源201から出力されるレーザ
ビームLBによって加工対象物210の被加工面210
fが加工される。レーザ光源1には、たとえば、エキシ
マレーザや、YAGレーザが用いられる。エキシマレー
ザには、レーザ媒質の異なる複数の種類が存在する。レ
ーザ媒質としては、波長の長いほうからXeF(351
nm)、XeCl(308nm)、KrF(248n
m)、ArF(193nm)、F2 (157nm)が存
在する。エキシマレーザは、熱エネルギーを利用した加
工を行うYAGレーザ(1.06μm)、CO2 レーザ
(10.6μm)と大きく異なる点は、発振波長が紫外
線の領域にあることである。エキシマレーザは、本質的
にパルスでのみ発振し、パルス幅は数ns〜数十nsで
ありレーザビームの形は長方形である。一般に、また、
エキシマレーザは、アブレーションと呼ばれる、光化学
的に直接結合を解離する熱的な影響を受けにくい加工を
行うため、被加工面のエッジの仕上がりが非常にシャー
プとなる。これに対して、YAGレーザ、CO2 レーザ
では加工部分が溶融後蒸発するため、熱の影響で周辺部
が丸くなりきれいな端面とならない。さらに、エキシマ
レーザは、初期のビームの断面が約10×10mmの寸法
を有し、このレーザビームを後述するビーム整形器によ
り長面積化、大面積化することにより比較的広い面積を
一括して加工できる。したがって、大面積の領域を同時
に加工するのにエキシマレーザは適している。The laser light source 201 outputs a laser beam LB. By the laser beam LB output from the laser light source 201, the processing surface 210 of the processing object 210 is processed.
f is processed. As the laser light source 1, for example, an excimer laser or a YAG laser is used. There are a plurality of types of excimer lasers having different laser media. As the laser medium, XeF (351
nm), XeCl (308 nm), KrF (248n)
m), ArF (193 nm) and F 2 (157 nm). The excimer laser is greatly different from the YAG laser (1.06 μm) and the CO 2 laser (10.6 μm) that perform processing using thermal energy in that the oscillation wavelength is in the ultraviolet range. The excimer laser essentially oscillates only in pulses, has a pulse width of several nanoseconds to several tens of nanoseconds , and has a rectangular laser beam shape. In general, also
Since the excimer laser performs a process called photoablation that is not susceptible to thermal effects that photochemically dissociate the bond directly, the edge of the surface to be processed is extremely sharp. On the other hand, in the YAG laser and the CO 2 laser, the processed portion is melted and then evaporated, so that the peripheral portion is rounded by the influence of heat and the end face is not clean. Further, the excimer laser has an initial beam cross section of about 10 × 10 mm, and a relatively large area is collectively formed by increasing the area and the area of this laser beam by a beam shaper described later. Can be processed. Therefore, the excimer laser is suitable for simultaneously processing a large area.
【手続補正8】[Procedure Amendment 8]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0047[Correction target item name] 0047
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0047】次に、上記レーザ加工装置200を用いた
反射用画素電極10および透過用画素電極12のパター
ニングについて説明する。図5は、駆動基板1の透過部
3において、基板40上に積層されたバリア膜42、ゲ
ート絶縁膜46、層間絶縁膜48,52、拡散板54お
よび平坦化層56にエッチングによって穴Hを形成した
のち、平坦化層56上に導電性反射膜11を形成した状
態を示している。導電性反射膜11は、たとえば、A
l,Ag等の金属材料をスパッタリングすることによっ
て形成される。Next, patterning of the reflective pixel electrode 10 and the transmissive pixel electrode 12 using the laser processing apparatus 200 will be described. In FIG. 5, in the transparent portion 3 of the drive substrate 1, a hole H is formed in the barrier film 42, the gate insulating film 46, the interlayer insulating films 48 and 52, the diffusion plate 54, and the flattening layer 56, which are stacked on the substrate 40, by etching. After the formation, the conductive reflection film 11 is formed on the flattening layer 56. The conductive reflection film 11 is, for example, A
l, is formed by sputtering a metal material such as A g.
【手続補正9】[Procedure Amendment 9]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0058[Name of item to be corrected] 0058
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0058】[0058]
【発明の効果】本発明によれば、反射/透過型の液晶表
示装置における2つの画素電極をフォトリソグラフィー
工程によらずドライプロセスにより形成可能となる。According to the present invention, it becomes possible formed by a dry process regardless the two pixel electrodes in the reflective / transmissive type liquid crystal display device of the photolithography over <br/> process.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村瀬 英寿 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 阿蘇 幸成 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 清井 清美 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 Fターム(参考) 2H091 FA14Y FA41Z FC14 FD04 FD06 GA02 GA13 LA12 LA16 2H092 GA13 GA17 HA04 HA05 JA24 JB05 JB07 KA04 MA12 MA19 NA25 NA27 PA12 PA13 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page (72) Inventor Hidetoshi Murase 6-735 Kita-Shinagawa, Shinagawa-ku, Tokyo Soni -Inside the corporation (72) Inventor Kosei Aso 6-735 Kita-Shinagawa, Shinagawa-ku, Tokyo Soni -Inside the corporation (72) Inventor Kiyomi Kiyomi 6-735 Kita-Shinagawa, Shinagawa-ku, Tokyo Soni -Inside the corporation F term (reference) 2H091 FA14Y FA41Z FC14 FD04 FD06 GA02 GA13 LA12 LA16 2H092 GA13 GA17 HA04 HA05 JA24 JB05 JB07 KA04 MA12 MA19 NA25 NA27 PA12 PA13
Claims (10)
膜からなり、光を通過させる開口を備えた反射用画素電
極と、 所定形状にパターニングされた導電性透過膜からなり、
前記反射用画素電極に接触し、かつ、少なくとも前記開
口を覆う透過用画素電極と、 前記反射用画素電極および前記透過用画素電極に対向配
置された対向電極と、 前記反射用画素電極および前記透過用画素電極と前記対
向電極との間に介在する液晶とを有する液晶表示装置。1. A reflective pixel electrode having a light-transmitting substrate, a conductive reflective film patterned in a predetermined shape on the substrate, and an opening through which light passes, and a conductive film patterned in a predetermined shape. A permeable membrane,
A transmissive pixel electrode that is in contact with the reflective pixel electrode and covers at least the opening; a counter electrode that is disposed to oppose the reflective pixel electrode and the transmissive pixel electrode; and the reflective pixel electrode and the transmissive pixel electrode. Liquid crystal display device having a liquid crystal interposed between the counter pixel electrode and the counter electrode.
工によって選択的に除去するのに必要なレーザ光のエネ
ルギー密度が前記導電性反射膜よりも小さい材料からな
る請求項1に記載の液晶表示装置。2. The conductive transmissive film is made of a material in which the energy density of laser light required for selective removal by processing with laser light is smaller than that of the conductive reflective film. Liquid crystal display device.
電性反射膜よりも小さい材料からなる請求項2に記載の
液晶表示装置。3. The liquid crystal display device according to claim 2, wherein the conductive transmissive film is made of a material having a linear expansion coefficient smaller than that of the conductive reflective film.
極の開口および当該開口の周縁部のみを覆っている請求
項1に記載の液晶表示装置。4. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the transmissive pixel electrode covers only the opening of the reflective pixel electrode and a peripheral portion of the opening.
透過用画素電極の非形成面側に配置された面状光源をさ
らに有する請求項1に記載の液晶表示装置。5. The liquid crystal display device according to claim 1, further comprising a planar light source disposed on the non-formation surface side of the reflective pixel electrode and the transmissive pixel electrode of the substrate.
された光を透過する透過用画素電極と光を通過させる開
口を備え光を反射する反射用画素電極とを備えた液晶表
示装置の製造方法であって、 前記透過用画素電極および反射用画素電極のパターニン
グの少なくとも一方をレーザ光を用いた加工により行う
液晶表示装置の製造方法。6. A method of manufacturing a liquid crystal display device, comprising: a transparent pixel electrode, which is patterned into a predetermined shape, and which transmits light, and a reflective pixel electrode which has an opening for transmitting light and which reflects light, on a transparent substrate. A method for manufacturing a liquid crystal display device, wherein at least one of the patterning of the transmissive pixel electrode and the reflective pixel electrode is performed by processing using a laser beam.
する工程と、 前記導電性反射膜をレーザ光を用いた加工により所定形
状にパターニングし、光を通過させる開口を備える反射
用画素電極を形成する工程と、 前記反射用画素電極を被覆するように前記基板上に導電
性透過膜を形成する工程と、 前記導電性透過膜をレーザ光を用いた加工により所定形
状にパターニングし、少なくとも前記開口を覆う透過用
画素電極を形成する工程とを有する請求項6に記載の液
晶表示装置の製造方法。7. A step of forming a conductive reflective film on a substrate which transmits light, and a reflective reflection film having an opening through which the conductive reflective film is patterned into a predetermined shape by processing using laser light. Forming a pixel electrode, forming a conductive transparent film on the substrate so as to cover the reflective pixel electrode, and patterning the conductive transparent film into a predetermined shape by processing using a laser beam. 7. The method for manufacturing a liquid crystal display device according to claim 6, further comprising: forming a transmissive pixel electrode that covers at least the opening.
工によって選択的に除去するのに必要なレーザ光のエネ
ルギー密度が前記導電性反射膜よりも小さい材料を用い
る請求項7に記載の液晶表示装置の製造方法。8. The material according to claim 7, wherein the conductive transparent film is made of a material having an energy density of laser light required to be selectively removed by processing using laser light is smaller than that of the conductive reflective film. Manufacturing method of the liquid crystal display device of.
電性反射膜よりも小さい材料を用いる請求項8に記載の
液晶表示装置の製造方法。9. The method for manufacturing a liquid crystal display device according to claim 8, wherein a material having a linear expansion coefficient smaller than that of the conductive reflective film is used for the conductive transparent film.
前記導電性透過膜の前記反射用画素電極の開口および当
該開口の周縁部を覆う領域以外を選択的に除去する請求
項7に記載の液晶表示装置。10. The step of forming the transmissive pixel electrode comprises:
8. The liquid crystal display device according to claim 7, wherein a portion of the conductive transmissive film other than a region covering the opening of the reflective pixel electrode and a peripheral portion of the opening is selectively removed.
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