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JP2000015570A - 研削装置 - Google Patents

研削装置

Info

Publication number
JP2000015570A
JP2000015570A JP18720798A JP18720798A JP2000015570A JP 2000015570 A JP2000015570 A JP 2000015570A JP 18720798 A JP18720798 A JP 18720798A JP 18720798 A JP18720798 A JP 18720798A JP 2000015570 A JP2000015570 A JP 2000015570A
Authority
JP
Japan
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flow rate
liquid
holding
adjusting means
grinding
Prior art date
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Pending
Application number
JP18720798A
Other languages
English (en)
Inventor
Yutaka Koma
豊 狛
Motoki Kitano
元己 北野
Takashi Koda
隆 鴻田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP18720798A priority Critical patent/JP2000015570A/ja
Priority to US09/335,922 priority patent/US6159071A/en
Priority to TW088110589A priority patent/TW402547B/zh
Publication of JP2000015570A publication Critical patent/JP2000015570A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B7/00Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor
    • B24B7/20Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground
    • B24B7/22Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
    • B24B7/228Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain for grinding thin, brittle parts, e.g. semiconductors, wafers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B41/00Component parts such as frames, beds, carriages, headstocks
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B47/00Drives or gearings; Equipment therefor
    • B24B47/02Drives or gearings; Equipment therefor for performing a reciprocating movement of carriages or work- tables
    • B24B47/08Drives or gearings; Equipment therefor for performing a reciprocating movement of carriages or work- tables by mechanical gearing combined with fluid systems

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 チャック面を有する保持部に半導体ウェーハ
を保持して研削砥石によって研削を行う研削装置におい
て、チャック面と研削砥石の下面との平行度をより高精
度に調整できるようにする。 【解決手段】 保持部を液体ベアリングによって回転可
能に支持し、液体ベアリングには傾斜調整手段を備え、
傾斜調整手段には、保持部を上下方向に支持する第一の
ポケットと第二のポケットとが対をなして形成された三
組の傾斜調整領域である第一の傾斜調整領域と、第二の
傾斜調整領域と、第三の傾斜調整領域とを含み、第一の
傾斜調整領域には第一の流量調整手段が連結され、第二
の傾斜調整領域には第二の流量調整手段が連結され、第
三の傾斜調整領域には第三の流量調整手段が連結されて
いて、各流量調整手段において各傾斜調整手段への圧力
液体の供給を調整することによってチャック面の平行度
を調整できるようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウェーハを
研削する研削装置に関し、詳しくは、半導体ウェーハを
保持する保持部のチャック面と研削砥石の下面とを平行
にするために保持部に設けられるチャック面の調整機構
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図8に示す研削装置100においては、
起立して設けられた壁体101の外側の面にボールスク
リュー102が垂直方向に配設されており、駆動源10
3に駆動されてボールスクリュー102が回転すること
により、可動部104が上下動する。そして、可動部1
04が上下動するのに伴い、壁体101を貫通して可動
部104と一体となったスライド板105が壁体101
の内側の面に設けられたレール106に沿って上下動
し、更に、スライド板105に固定された研削手段10
7が上下動する構成となっている。また、リニアスケー
ル108によって可動部104の垂直方向の位置が計測
され、計測値に基づいて可動部104の上下動が精密制
御される。
【0003】研削手段107においては、垂直方向の軸
芯を有するスピンドル109がスピンドルハウジング1
10によって回転可能に支持されており、スピンドル1
09の先端にはマウンタ111が装着され、更にマウン
タ111には、下部に研削砥石112を配設した研削ホ
イール113が装着されている。そして、研削ホイール
113はスピンドル109の回転に伴って回転する構成
となっている。
【0004】また、基台114上には、半導体ウェーハ
を保持しエンコーダ115及びサーボモータ116に駆
動されて回転する保持部117が配設され、保持部11
7は、半導体ウェーハを吸引保持するチャック面118
を有している。そして、保持部117を下部において回
転可能に支持する支持部材119には、チャック面11
8と研削砥石112とが平行となるように調整するため
の調整ボルト120が3カ所に設けられている。
【0005】このような研削装置を用いて半導体ウェー
ハの研削を行う際は、半導体ウェーハをチャック面11
8に吸引保持させて、スピンドル109を回転させると
共に研削手段107を下降させていく。そして、スピン
ドル109の高速回転に伴って研削ホイール113が高
速回転すると共に、回転する研削砥石112が半導体ウ
ェーハに接触して適宜の押圧力が加えられることによ
り、その表面が研削砥石112によって研削される。
【0006】研削に当たっては、半導体ウェーハの研削
精度を高めて仕上がり厚さを均一にし、TTV(Total
Thickness Variation)を極力一定にしなければならな
い。このためには、チャック面118と研削砥石112
の下面とを高精度に平行に維持することが必要不可欠で
ある。
【0007】従って、保持部117と研削手段107と
の組み付けは慎重に行われるが、それでも数μm単位で
の狂いをなくすことは不可能である。そこで、研削装置
100においては、チャック面118の下部に備えた3
本の調整ボルト120の微調整によって平行精度を高め
るよう工夫している。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、半導体
の集積度が向上し、また、半導体ウェーハが大口径化す
るにつれて、ナノ単位での調整が必要となってきている
が、上記のような調整ボルト120による調整では、要
求されるナノ単位での微調整を行うことまではできな
い。
【0009】従って、研削装置においては、チャック面
と研削砥石の下面との平行度をより高精度に調整できる
ようにすることに解決すべき課題を有している。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の具体的手段として本発明は、少なくとも、半導体ウェ
ーハを保持する保持手段と、該保持手段に保持された半
導体ウェーハを研削する研削手段とを備えた研削装置で
あって、保持手段には、半導体ウェーハを吸引保持する
チャック面を含む保持部と、該保持部を回転可能に支持
する液体ベアリングと、該液体ベアリングに形成された
傾斜調整手段とを備え、該傾斜調整手段は、保持部を上
下で支持する第一のポケットと第二のポケットとが対を
なして形成された三組の傾斜調整領域を含み、各傾斜調
整領域を第一の傾斜調整領域、第二の傾斜調整領域、第
三の傾斜調整領域とし、第一の傾斜調整領域には第一の
流量調整手段が連結され、第二の傾斜調整領域には第二
の流量調整手段が連結され、第三の傾斜調整領域には第
三の流量調整手段が連結されていて、各流量調整手段に
おいて各傾斜調整領域への圧力液体の供給を調整するこ
とによってチャック面の平行度が調整される研削装置を
提供するものである。
【0011】そして、第一の傾斜調整領域、第二の傾斜
調整領域、第三の傾斜調整領域には、一つの圧力液体供
給源から分岐した第一の供給経路、第二の供給経路、第
三の供給経路がそれぞれ連結されていて、第一の供給経
路には第一の流量調整手段が配設され、第二の供給経路
には第二の流量調整手段が配設され、第三の供給経路に
は第三の流量調整手段が配設されること、各流量調整手
段は、圧力液体が流入する液体流入部と、流入した液体
を二分する分岐部と、二分された液体を流出する第一の
流出部及び第二の流出部とから構成されており、第一の
流出部は第一のポケットに連結され、第二の流出部は第
二のポケットに連結されること、流量調整手段は、シリ
ンダーと、該シリンダーにその内周との間に僅かな隙間
を有して遊嵌して位置調整可能なピストンからなる分岐
部と、液体流入部から流入した液体をピストンの外周面
に沿って周回させる円環絞り部とを含み、シリンダーの
略中央部には液体流入部が形成され、その両側には第一
の流出部及び第二の流出部が形成されていて、液体流入
部から流入した液体が僅かな隙間において二分されて第
一の流出部及び第二の流出部に至り、ピストンの位置調
整によって二分される僅かな隙間の長さによって、第一
の流出部からの流量と第二の流出部からの流量とのバラ
ンスが調整されること、液体は水であること、を付加的
要件とするものである。
【0012】このように構成される研削装置において
は、チャック面を含む保持部が三組の傾斜調整領域によ
って三点で支持され、各流量調整手段において各傾斜調
整領域への圧力液体の供給を調整することによりチャッ
ク面の平行度を微調整することができるため、従来のよ
うな機械的な方法によってはできなかったナノ単位での
チャック面の平行度の調整が可能となる。
【0013】また、液体の流量の調整のみによって平行
度を調整することができるため、制御が容易であると共
に、調整結果が安定して維持される。更に、液体ベアリ
ングに供給する液体を水とすることにより、剛性が高く
なってチャック面の平行度を高精度に維持することがで
き、また、半導体ウェーハに付着しても半導体ウェーハ
を汚染することがない。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態として、図1
に示す研削装置10を例に挙げて説明する。まず研削装
置10の概要について説明すると、研削装置10は、半
導体ウェーハWを収容するカセット11、12と、カセ
ット11からの半導体ウェーハWの搬出またはカセット
12への半導体ウェーハWの搬入を行う搬出入手段13
と、被加工物の位置合わせを行うセンター合わせテーブ
ル14、15と、被加工物を搬送する第一の搬送手段1
6及び第二の搬送手段17と、上部に半導体ウェーハW
を吸引保持するチャック面を有する4つの保持部18〜
21を備えたターンテーブル22と、各保持部に保持さ
れた半導体ウェーハWを研削する研削手段23、24
と、各保持部の洗浄を行う保持部洗浄手段25とを有し
ている。
【0015】カセット11には研削前の半導体ウェーハ
Wが複数段に重ねて収納されており、搬出入手段13に
よって1枚ずつピックアップされてセンター合わせテー
ブル14に載置される。そしてここで半導体ウェーハW
の位置合わせが行われた後、第一の搬送手段16に吸着
されると共に第一の搬送手段16が旋回動することによ
って、洗浄領域34において洗浄されてから保持部18
に半導体ウェーハWが載置される。なお、洗浄領域34
は円盤部材にブラシが例えば60度間隔で放射状に配設
されていると共に、ブラシから、またはブラシとブラシ
の間から洗浄水が噴射されて円盤部材が回転する構成と
なっている。
【0016】次に、ターンテーブル22が所要角度(本
実施の形態のように保持部が4つの場合は90度)回転
して半導体ウェーハWが載置された保持部18が研削手
段23の直下に位置付けられる。このとき、ターンテー
ブル22の回転前に保持部18が位置していた位置に
は、保持部19が自動的に位置付けられる。そして、カ
セット11から次に研削する半導体ウェーハWが搬出さ
れてセンター合わせテーブル14に載置され、位置合わ
せがなされた後、第一の搬送手段16によって洗浄領域
34に搬送されて洗浄されてから保持部19に搬送され
て載置される。一方、研削手段23の直下に位置付けら
れた半導体ウェーハWは、研削手段23の作用を受けて
上面が研削される。ここでは例えば粗仕上げが行われ
る。
【0017】そして粗仕上げが行われると、ターンテー
ブル22が所要角度回転し、保持部18は研削手段24
の直下に位置付けられ、研削手段24の作用を受けて上
面を研削される。ここでは例えば最終仕上げが行われ
る。またこのとき保持部19は研削手段23の直下に位
置付けられ、ここで研削手段23の作用を受けて同様の
研削が行われる。
【0018】研削手段23、24は、起立して設けられ
た壁体26に対して上下動可能となっている。ここで、
研削手段23と研削手段24とは同様に構成されるた
め、共通の符号を付して説明すると、壁体26の内側の
面には一対のレール28が垂直方向に併設され、駆動源
27に駆動されてレール28に沿ってスライド板29が
上下動するのに伴い、スライド板29に固定された研削
手段23、24が上下動するようになっている。
【0019】研削手段23、24においては、回転可能
に支持されたスピンドル30の先端にマウンタ31を介
して研削ホイール32が装着されており、研削ホイール
32の下部には研削砥石33が突設されている。研削砥
石33としては、研削手段23には粗仕上げ用の砥石、
研削手段24には最終仕上げ用の砥石が用いられる。
【0020】最終仕上げにより研削された半導体ウェー
ハWが載置された保持部18は、ターンテーブル22の
回転によって第二の搬送手段17の近傍に位置付けられ
る。そして、第二の搬送手段17によって洗浄領域35
に搬送されて洗浄された後、更に第二の搬送手段17に
よってセンター合わせテーブル15に搬送される。な
お、洗浄領域35において半導体ウェーハWはスピンナ
ーテーブルに保持されて洗浄水の供給の下で洗浄される
が、研削歪みまたはソーマークの突出をエッチング除去
するために70〜80℃のNaOHを供給してもよい。
【0021】センター合わせテーブル15において位置
合わせが行われると、搬出入手段13によって研削され
た半導体ウェーハWがピックアップされてカセット12
の内部に収納される。以上のようにして順次研削を行
い、最終的には研削された半導体ウェーハWがすべてカ
セット12に収納される。
【0022】研削により保持部18〜21が汚染された
場合は、保持部洗浄手段25を構成する可動部36がレ
ール37を所要範囲移動し、更に洗浄部38が回転しな
がら上下動部39が下降することにより、回転する洗浄
部38によって保持部18〜21が洗浄される。
【0023】また、研削装置10の側部には保持部18
〜21のチャック面の平行度を調整するための調整部4
0を保持部の数だけ、即ち本実施形態の場合は4つ設け
ている。
【0024】図2に示すように、チャック面41を上面
に備えた保持部18(19、20、21)は、液体ベア
リング42によって回転可能に支持されており、クラッ
チ43を介してサーボモーター44に接続され、サーボ
モーター44の回転に伴い回転する構成となっている。
そして、保持部18(19、20、21)と液体ベアリ
ング42とクラッチ43とサーボモーター44とで保持
手段45を構成している。
【0025】液体ベアリング42は、断面が略コの字型
の筒状に形成され、コの字の上辺には、保持部18(1
9、20、21)を上下で支持するスラスト軸受けが設
けられており、このスラスト軸受けは傾斜調整手段46
を兼ね備えている。更に、内周側には保持部18(1
9、20、21)を回転可能に支持するラジアル軸受け
47が配設されている。
【0026】傾斜調整手段46は、コの字の上辺の上側
及びコの字の上辺の下側において、図3に示すように、
それぞれ円弧状に整列した複数の噴出口48を有してお
り、噴出口48を3つの領域にまとめ、上側の3つの領
域をそれぞれ第一のポケット49、下側の3つの領域を
それぞれ第二のポケット50とする。そして、上下方向
に対向する第一のポケットと第二のポケットとが対をな
して三組の傾斜調整領域を構成し、それぞれ第一の傾斜
調整領域51、第二の傾斜調整領域52、第三の傾斜調
整領域53としている。
【0027】図4に示すように、第一の傾斜調整領域5
1には第一の流量調整手段54が、第二の傾斜調整領域
52には第二の流量調整手段55が、第三の傾斜調整領
域53には第三の流量調整手段56がそれぞれ連結さ
れ、液体の供給圧力を個別に調整することができる。ま
た、第一の流量調整手段54、第二の流量調整手段5
5、第三の流量調整手段56は、一つの圧力液体供給源
57から分岐してそれぞれ第一の供給経路58a、第二
の供給経路58b、第三の供給経路58cを介して接続
され、各流量調整手段54、55、56に対して同一の
圧力の液体が供給されている。なお、保持部18(1
9、20、21)の回転軸の軸芯に向けて排水孔59が
設けられており、傾斜調整領域で使用された液体が排出
される。
【0028】各流量調整手段54、55、56は、図5
に示すような外観となっており、シリンダー60の中央
部に液体流入部61が連結されている。また、第一の流
出部62及び第二の流出部63は、液体流入部61を基
準として左右対称な位置においてシリンダー60に連結
されている。
【0029】また、シリンダー60の左端には回転可能
なノブ64が装着され、右端側にはノブ64の回転に伴
い水平方向に移動する指針65及び指針65の位置を示
すスケール66が配設されている。更に、シリンダー6
0にはブラケット67が装着されており、ブラケット6
7のネジ穴68にネジをはめ込んで図1に示した調整部
40に各流量調整手段54、55、56を固定すること
ができる。
【0030】各流量調整手段54、55、56の構造を
図6に示す。各流量調整手段54、55、56は、一つ
の液体流入部61と、流入した液体を二分する分岐部6
9と、分岐した液体をそれぞれ流出する第一の流出部6
2及び第二の流出部63とから概ね構成され、圧力液体
供給源57から供給される液体が液体流入部61を介し
て分岐部69に流入し、分岐部69において二分されて
第一の流出部62及び第二の流出部63へと流出する。
そして、第一の流出部62から流出した液体は第一のポ
ケット49に供給され、第二の流出部63から流出した
液体は第二のポケット50に供給される。なお、液体と
しては油、水などを用いることができるが、剛性を高く
してチャック面41の平行度を高精度に維持するために
は、水を使用するのが好ましい。
【0031】分岐部69は、シリンダー60とシリンダ
ー60の内部を移動可能なピストン70とから概ね構成
される。シリンダー60の左端からは回転軸71が突出
しており、回転軸71は、ボルト72でシリンダー60
の端部に装着されたフランジ73により水平方向に固定
されると共に、ラジアル軸受け74によって回転可能に
支持されており、更に、回転軸71の周囲にはノブ64
が装着されている。ノブ64の取り付けに当たっては、
ネジ穴75にネジを螺合させて当該ネジの先端で回転軸
71を押圧することにより、ノブ64を回転軸71に対
してより強固に固定することができる。
【0032】回転軸71からはネジ76が連接されてお
り、ネジ76は、先端がシャフト77に設けられた空洞
部78に非接触の状態で収容され、ノブ64の回転に伴
って回転する構成となっている。更に、ネジ76にはナ
ット79が螺合しており、ナット79はボルト80によ
ってキャップ81に固定され、キャップ81はボルト8
2によってシャフト77に固定されている。そして、ノ
ブ64を回転させることによりネジ76が回転すると、
ネジ76に螺合したナット79が水平方向に移動し、こ
れに伴いシャフト77全体が水平方向に移動する構成と
なっている。また、シャフト77の両端部の外周には、
水もれを防止するOリング83が取り付けられている。
【0033】ピストン70は、シャフト77の中央部に
おいてシャフト77よりも径を大きくして形成されてお
り、ピストン70とシャフト77とは一体に形成されて
いる。また、シャフト77の右端側には指針65がボル
ト84によって固定されており、シャフト77と共に水
平方向に移動する。そして、移動した指針65の位置
は、シリンダー60の右端にボルト85によって固定さ
れたスケール66によって読み取ることができる。
【0034】ピストン70とシリンダー60の内周との
間には数十μm程の幅を有する僅かな隙間86が形成さ
れ、液体流入部61からシリンダー60内に流入した液
体は、この隙間86を通って第一の流出部62及び第二
の流出部63に分岐する。また、シリンダー60の中央
部には、シリンダー60の内径よりも径を大きくした円
環溝87が形成され、液体流入部61からシリンダー6
0に流入した液体が円環溝87をピストン70の外周面
に沿って周回するようになっている。
【0035】図7に示すように、円環溝87の左側の側
壁88からピストン70の左端70aまでの長さをL
1、円環溝87の右側の側壁89からピストン70の右
端70bまでの長さをL2とした場合、僅かな隙間86
の長さはL1+L2で表される。これは、ピストン70
を左方向若しくは右方向に移動させた場合も同様であ
る。つまり、僅かな隙間86の長さは、L1とL2とに
二分され、それぞれの長さはピストン70の位置によっ
て調整することができる。
【0036】そして、液体流入部61から流入して第一
の流出部62と第二の流出部63とに流出する液体の流
量は、それぞれL1及びL2に反比例する。即ち、図7
のようにピストン70の中心が円環溝87の中心と一致
しているときは、第一の流出部62からの液体の流量と
第二の流出部63からの液体の流量とは等しく(平衡状
態)、ピストン70が右方向に移動することによりL1
<L2となった場合には、平衡状態と比較して第一の流
出部62からの流量は多くなり、第二の流出部63から
の流量は少なくなる。逆に、ピストン70が左方向に移
動することによりL1>L2となった場合には、平衡状
態と比較して第一の流出部61からの流量は少なくな
り、第二の流出部62からの流量は多くなる。
【0037】即ち、ノブ64を回転させてピストン70
を移動させると、第一の流出部61と第二の流出部62
とから流出する液体の割合が変化し、第一のポケット4
9の噴出口48から噴出される液体と第二のポケット5
0の噴出口48から噴出される液体との割合も変化し、
各保持部の傾斜が微妙に変化する。そして、各保持部の
傾斜が変化すると、各チャック面41の傾斜も変化し、
研削砥石33との平行度を微調整することができる。ま
たこのとき作業者は、スケール66によって指針65の
位置を読み取ることができるため、流量のバランスを把
握することができる。
【0038】このように、ノブ64を回転させてピスト
ン70を移動させ、L1とL2の長さを変化させること
により、第一の流出部62及び第二の流出部63からの
流量を増減させることができ、それによって各傾斜調整
領域51、52、53における流量のバランスの調整を
行い、チャック面41の平行度を微調整することができ
る。従って、従来のネジの調整による方法では不可能で
あったナノ単位での微調整が可能となる。
【0039】なお、流量調整手段と傾斜調整手段との連
結は、ターンテーブル22の回転の妨げにならないよう
に、ターンテーブル22の回転軸にロータリージョイン
トを配設し、そのロータリージョイントを介して連結す
ることが好ましい。
【0040】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る研削
装置においては、チャック面を含む保持部が三組の傾斜
調整領域によって三点で支持され、各流量調整手段にお
いて各傾斜調整領域への圧力液体の供給を調整すること
によりチャック面の平行度を微調整することができるた
め、従来のような機械的な方法によってはできなかった
ナノ単位でのチャック面の平行度の調整が可能となる。
従って、研削した半導体ウェーハの仕上がり厚さが均一
(TTVが一定)となり、集積度の高い半導体ウェーハ
や、大口径の半導体ウェーハにも対応した高品質の製品
を提供することが可能となる。
【0041】また、液体の流量の調整のみによって平行
度を調整することができるため、制御が容易であり、操
作性、生産性が向上する。また、調整結果が安定して維
持されるため、製品ごとのバラツキのない半導体ウェー
ハを形成することができる。
【0042】更に、液体ベアリングに供給する液体を水
とすることにより、剛性が高くなってチャック面の平行
度を高精度に維持でき、また、半導体ウェーハに付着し
ても半導体ウェーハを汚染することがないため、より高
品質の半導体ウェーハを提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る研削装置を示す斜視図である。
【図2】同研削装置の保持手段の構成を示す説明図であ
る。
【図3】同保持手段を構成する傾斜調整手段を示す平面
図である。
【図4】同保持手段と流量調整手段と圧力液体供給源と
の接続状態を示す説明図である。
【図5】流量調整手段の外観を示す正面図である。
【図6】同流量調整手段の構造を示す断面図である。
【図7】同流量調整手段に流入した液体が二分されて流
出する様子を示す説明図である。
【図8】従来の研削装置の構成を略示的に示した説明図
である。
【符号の説明】
10……研削装置 11、12……カセット 13……
搬出入手段 14、15……センター合わせテーブル 16……第一
の搬送手段 17……第二の搬送手段 18〜21……保持部 22
……ターンテーブル 23、24……研削手段 25……保持部洗浄手段 2
6……壁体 27……駆動源 28……レール 29……スライド板
30……スピンドル 31……マウンタ 32……研削ホイール 33……研
削砥石 34、35……洗浄領域 36……可動部 37……レ
ール 38……洗浄部 39……上下動部 40……調整部 41……チャック
面 42……液体ベアリング 43……クラッチ 44……
サーボモーター 45……保持手段 46……傾斜調整手段 47……ラ
ジアル軸受け 48……噴出口 49……第一のポケット 50……第
二のポケット 51……第一の傾斜調整領域 52……第二の傾斜調整
領域 53……第三の傾斜調整領域 54……第一の流量調整
手段 55……第二の流量調整手段 56……第三の流量調整
手段 57……圧力液体供給源 58a……第一の供給経路 58b……第二の供給経路 58c……第三の供給経路
59……排水孔 60……シリンダー 61……液体流入部 62……第
一の流出部 63……第二の流出部 64……ノブ 65……指針
66……スケール 67……ブラケット 68……ネジ穴 69……分岐部
70……ピストン 71……回転軸 72……ボルト 73……フランジ
74……ラジアル軸受け 75……ネジ穴 76……ネジ 77……シャフト 7
8……空洞部 79……ナット 80……ボルト 81……キャップ
82……ボルト 83……Oリング 84……ボルト 85……ボルト
86……隙間 87……円環溝 88……左側の側壁 89……右側の
側壁 100……研削装置 101……壁体 102……ボー
ルスクリュー 103……駆動源 104……可動部 105……スラ
イド板 106……レール 107……研削手段 108……リ
ニアスケール 109……スピンドル 110……スピンドルハウジン
グ 111……マウンタ 112……研削砥石 113……研削ホイール 114
……基台 115……エンコーダ 116……サーボモータ 11
7……保持部 118……チャック面 119……支持部材 120…
…調整ボルト
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鴻田 隆 東京都大田区東糀谷2−14−3 株式会社 ディスコ内 Fターム(参考) 3C058 AA07 AB04 AC02 BA05 BB04 BC01 DA17

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも、半導体ウェーハを保持する
    保持手段と、該保持手段に保持された半導体ウェーハを
    研削する研削手段とを備えた研削装置であって、 該保持手段には、半導体ウェーハを吸引保持するチャッ
    ク面を含む保持部と、該保持部を回転可能に支持する液
    体ベアリングと、該液体ベアリングに形成された傾斜調
    整手段とを備え、 該傾斜調整手段は、該保持部を上下で支持する第一のポ
    ケットと第二のポケットとが対をなして形成された三組
    の傾斜調整領域を含み、各傾斜調整領域を第一の傾斜調
    整領域、第二の傾斜調整領域、第三の傾斜調整領域と
    し、 該第一の傾斜調整領域には第一の流量調整手段が連結さ
    れ、該第二の傾斜調整領域には第二の流量調整手段が連
    結され、該第三の傾斜調整領域には第三の流量調整手段
    が連結されていて、各流量調整手段において各傾斜調整
    領域への圧力液体の供給を調整することによって該チャ
    ック面の平行度が調整される研削装置。
  2. 【請求項2】 第一の傾斜調整領域、第二の傾斜調整領
    域、第三の傾斜調整領域には、一つの圧力液体供給源か
    ら分岐した第一の供給経路、第二の供給経路、第三の供
    給経路がそれぞれ連結されていて、 該第一の供給経路には第一の流量調整手段が配設され、
    該第二の供給経路には第二の流量調整手段が配設され、
    該第三の供給経路には第三の流量調整手段が配設される
    請求項1に記載の研削装置。
  3. 【請求項3】 各流量調整手段は、圧力液体が流入する
    液体流入部と、流入した液体を二分する分岐部と、二分
    された液体を流出する第一の流出部及び第二の流出部と
    から構成されており、 該第一の流出部は該第一のポケットに連結され、該第二
    の流出部は該第二のポケットに連結される請求項1また
    は2に記載の研削装置。
  4. 【請求項4】 流量調整手段は、シリンダーと、該シリ
    ンダーにその内周との間に僅かな隙間を有して遊嵌して
    位置調整可能なピストンからなる分岐部とを含み、 該シリンダーの略中央部には液体流入部が形成され、そ
    の両側には第一の流出部及び第二の流出部が形成されて
    いて、該液体流入部から流入した液体が該僅かな隙間に
    おいて二分されて第一の流出部及び第二の流出部に至
    り、 該ピストンの位置調整によって二分される該僅かな隙間
    の長さによって、該第一の流出部からの流量と該第二の
    流出部からの流量とのバランスが調整される請求項3に
    記載の研削装置。
  5. 【請求項5】 液体は水である請求項1乃至4に記載の
    研削装置。
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