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DE4403221A1 - Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Veränderung an einem rückstrahlenden Element - Google Patents

Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Veränderung an einem rückstrahlenden Element

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DE4403221A1
DE4403221A1 DE4403221A DE4403221A DE4403221A1 DE 4403221 A1 DE4403221 A1 DE 4403221A1 DE 4403221 A DE4403221 A DE 4403221A DE 4403221 A DE4403221 A DE 4403221A DE 4403221 A1 DE4403221 A1 DE 4403221A1
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Description

Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Veränderung an einem rückstrahlenden Element nach dem Oberbegriff des Anspruches 1.
In vielen Fällen besteht der Wunsch, Veränderungen an einem rückstrahlenden Element, hervorgerufen z. B. durch eine bestimmte Benetzung einer Oberfläche zu erkennen, um daraus beispielsweise Steuerbefehle zum Schließen von Fenstern oder anderen Öffnungen oder zum Entfernen einer störenden Benetzung abzuleiten. Als re­ flektierendes Element kann z. B. eine innere Reflexionsfläche ei­ ner strahlungsdurchlässigen Platte oder Wand (innere oder Total­ reflexion), ein Spiegel oder auch jedes Mittel in Frage kommen, das gegebenenfalls auch nur Streulicht rückstrahlt, wie z. B. eine sich der Anordnung nähernde Hand. Unter dem Begriff Benet­ zung einer Oberfläche wird das Bedecken oder Berieseln der Ober­ fläche mit einzelnen Flüssigkeitstropfen oder das Auftreffen von Flüssigkeitstropfen auf diese Oberfläche verstanden, bis hin zu einem auf die Oberfläche aufgebrachten Flüssigkeitsfilm oder Schaum oder einer auf die Oberfläche aufgelaufenen oder auflau­ fenden Flüssigkeitsschicht einer bestimmten Schichtdicke.
Durch ein Erkennen des Umfanges der Veränderung der Reflexions­ verhältnisse können so z. B. Lageänderungen oder das Auftreten eines vor der Anordnung beweglichen oder bewegten Gegenstandes erfaßt werden. Ist die Veränderung eine Benetzung, so können z. B. durch ein Messen der Menge der benetzenden Flüssigkeit pro Flächeneinheit und/oder pro Zeiteinheit auf der benetzten Ober­ fläche gezieltere Steuerbefehle abgeleitet werden, mit denen beispielsweise die Benetzung geregelt, Schließvorgänge abhängig von der bestehenden oder zu erwartenden Flüssigkeitsmenge ge­ steuert oder ein Vorgang zur Beseitigung der Benetzung abhängig von der Vorgeschichte der Verursachung der Benetzung optimal ge­ steuert werden kann.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Anordnung der im Oberbegriff des Anspruches 1 angegebenen Art derart auszugestal­ ten, daß eine zusätzliche, aus dem Umfeld der Anordnung zum Mes­ sen oder Erkennen einer Veränderung in diese Anordnung ein­ dringende und sich der Strahlung der Anordnung überlagernde Fremdstrahlung, die Messung oder Erkennung der Veränderung selbst dann nicht wesentlich beeinflußt, stört und verfälscht, wenn die zusätzliche Fremdstrahlung einen wesentlichen oder so­ gar weit überwiegenden Anteil gegenüber der zum Messen oder Er­ kennen abgestrahlten Strahlung ausmacht.
Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruches 1 gelöst.
Die Strahlung zum Messen oder Erkennen einer Veränderung an ei­ nem rückstrahlenden Element durchdringt so im Falle einer Benet­ zung einer Außenfläche einer Platte oder Wand sowohl die Platte oder Wand als auch die die Platte oder Wand benetzende Flüssig­ keit ohne wesentliche Dämpfung und ein zunehmend größerer Anteil von der mit einem zur Senkrechten durch die Platte oder Wand zu­ nehmenden Abstrahlungswinkel in die Platte oder Wand emittierten Strahlung wird von der Grenzfläche der äußeren Oberfläche der Platte oder Wand reflektiert, bis hin zu einem Grenzwinkel des Einstrahlwinkels, ab dem an einer optisch einwandfreien Grenz­ fläche eine Totalreflexion der eingestrahlten Strahlung an die­ ser Oberfläche auftritt.
So entsteht in einer die Platte oder Wand am Ort der Strahlungs­ quelle senkrecht durchsetzenden Ebene abhängig von der Rich­ tungscharakteristik der Strahlungsstärke der an die Platte oder Wand angekoppelten Strahlungsquelle und der Dämpfung des Strah­ lungsflusses in der Platte oder Wand eine Kurve der Strahlungs­ stärke eines aus der inneren Oberfläche der Platte oder Wand, an die die Strahlungsquelle angekoppelt ist, austretenden Strah­ lungsflusses. Diese Strahlungsflußkurve weist zwischen dem An­ kopplungsort der Strahlungsquelle und dem Ausstrahlungsbereich der unter dem Grenzwinkel der total reflektierten Strahlung ein im allgemeinen breites Maximum auf, wie in Fig. 1 schematisch dargestellt ist. An diesem Maximum ist die größte Änderung der Kurve der Strahlungsstärke zu erwarten, wenn die Reflexion der in der Platte oder Wand übertragenen Strahlung an der benetzba­ ren Oberfläche der Platte oder Wand in einem zwischen diesem Ma­ ximum und der Ankopplung der Strahlungsquelle an der inneren Oberfläche liegenden sensoraktiven Bereich der äußeren Oberflä­ che der Platte oder Wand durch eine Benetzung verändert wird. Hierbei verändert sich sowohl die Lage als auch die Höhe dieses Maximums je nach Art der Benetzung der äußeren Oberfläche der Platte oder Wand im sensoraktiven Bereich, der im unbenetzten Zustand im wesentlichen zur Bildung dieses Maximums der Strah­ lungsstärke an der inneren Oberfläche der Platte oder Wand bei­ trägt. Als eine sowohl die benetzte Platte oder Wand als auch die Benetzungsflüssigkeit durchfließende Strahlung kommt bei­ spielsweise eine Lichtstrahlung im sichtbaren, ultravioletten oder infraroten Bereich, eine Ultraschallstrahlung oder ggf. ka­ pazitive Strahlungen in Frage.
Allerdings muß das strahlungsdurchlässige Medium keine Platte oder Wand sein. Auch in einem anderen strahlungsdurchlässigen Medium wie z. B. der Luft kann die Anordnung Veränderungen der Refelexionsverhältnisse erkennen, sofern nur Meßstrecken zwi­ schen der Anordnung, die üblicherweise Strahlungsquelle und Strahlungsempfänger umfaßt, und einem reflektierenden Element wie z. B. einem Spiegel oder einer Hand aufgebaut werden können. Allein rückgestrahltes Streulicht erlaubt der Anordnung ein Er­ kennen von Lageänderungen oder das Annähern einer Hand.
Die Anordnung von wenigstens zwei Meßstrecken, gleichgültig ob zwei Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen einem Strahlungsempfänger oder ob mehrere Strahlungsempfänger einer Strahlungsquelle zugeordnet sind, und die Anordnung des Strah­ lungsempfängers jeweils in der Zone des ersten Maximums jeder aus der inneren Oberfläche der Platte oder Wand austretenden Strahlungsflußverteilung der an die Platte oder Wand angekoppel­ ten Strahlungsquelle(n), das abwechselnde und aufeinanderfol­ gende Wirksamschalten der Meßstrecken in einer bestimmten umlau­ fenden Schaltfolge, das Einstellen der Strahlungsleistung der Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen auf so einen Wert, daß das Detektionssignal am Ausgang des Strah­ lungsempfängers im Ausgangs- oder Ruhezustand des rückstrahlen­ den Elements im Umlauf einer Schaltfolge zum Wirksamschalten der einzelnen Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen unverändert ist, und die Art des Verwertens des Unterschiedes der den einzelnen Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungs­ quellen zugeordneten Abschnitten des Detektionssignals bei einer Veränderung der Reflexionsverhältnisse z. B. durch eine Benetzung im sensoraktiven Bereich bringt den Vorteil, daß die Anordnung einen sehr weiten Bereich einer Veränderung z. B. durch Benetzung der Platte oder Wand detektiert und daß eine unmittelbare Fremdeinstrahlung auf den Strahlungsempfänger auch dann nahezu keine Wirkung auf die Auswertung der für die Messung oder Erken­ nung ausgesendeten aktiven Strahlung hat, wenn die Intensität der Fremdeinstrahlung um ein wesentliches Vielfaches größer ist als die Intensität der aktiven Strahlung, und daß die Fremd­ strahlung aufgrund der erfindungsgemäßen Ausbildung der Anord­ nung die durch die Änderungen z. B. der Benetzung verursachten Änderungen der aktiven Strahlung nicht beeinflußt.
Die Sicherheit der Detektion der Veränderung wird dadurch noch gesteigert, daß eine Schaltfolgefrequenz der Schaltfolge zum ab­ wechselnden Wirksamschalten der einem Strahlungsempfänger zuge­ ordneten Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen gewählt wird, die ein wesentliches Vielfaches größer ist als die schnellste zu erwartende Änderungsfolge einer auf den Strah­ lungsempfänger einwirkenden Fremdstrahlung, und daß nur ein De­ tektionssignal ausgewertet wird, dessen Änderungsfolge die glei­ che Folgefrequenz wie die Schaltfolge aufweist.
Eine Ausbildung gemäß Anspruch 3 mit mehreren Strahlungsquellen, die einem Strahlungsempfänger zugeordnet sind, hat den Vorteil, daß z. B. bei der Steuerung von Scheibenwischermotoren an Kraft­ fahrzeugen der Einfluß von Fremdlicht, das nur einen Teil der Meßstrecken beeinträchtigt besser herausgefiltert werden kann, als wenn z. B. mehrere Strahlungsempfänger nur einer Strahlungs­ quelle zugeordnet sind.
Ebenfalls eine Erhöhung der Genauigkeit und Sicherheit des Er­ kennens und Messens der Benetzung einer Platte oder Wand wird durch eine Anordnung gemäß Anspruch 6 erreicht. Da sich bei ei­ ner Benetzung des sensoraktiven Bereiches der Platte oder Wand das erste Maximum nicht nur in der Höhe, sondern auch in der Entfernung von der zugehörigen Strahlungsquelle ändert, werden durch die Lageveränderung des Maximus auch kleine Änderungen der Benetzung deutlicher detektiert.
Nach Anspruch 7 ist im Detektionszweig nach dem Ausgang des Strahlungsempfängers eine Regelschaltung angeschlossen, deren Regelzeitkonstante um ein wesentliches Vielfaches größer ist als eine Schwingungsperiode des Schaltfolgesignales, das die dem Strahlungsempfänger zugeordneten Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen schaltet. Diese Regelschaltung erzeugt ein von der Differenz der mittleren Amplituden der den einzelnen Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen zugeordne­ ten Abschnitten des Detektionssignales abhängiges Regelsignal zur Einstellung der Strahlungsleistung der dem Strahlungsempfän­ ger zugeordneten Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungs­ quellen, derart, daß die Differenz der mittleren Amplituden der genannten Abschnitte des Detektionssignals gegen Null geht. Da­ durch werden langsamere oder bleibende Änderungen im sensorakti­ ven Bereich der Platte oder Wand, die nicht von der Benetzung verursacht wurden oder die Benetzung nicht betreffen, beim Er­ kennen oder Messen der Benetzung nicht berücksichtigt. Dadurch können Einflüsse infolge von Alterung, Verschmutzung oder Tempe­ raturunterschieden leicht eliminiert werden, die bekannten Sy­ stemen Probleme bereiten.
Je ausgeprägter das Maximium der Kurve der Strahlungsstärke des aus der inneren Oberfläche der Platte oder Wand austretenden Strahlungsflusses einer Strahlungsquelle gestaltet werden kann, desto genauer und sicherer kann eine Benetzung der Platte oder Wand festgestellt und gemessen werden. Deshalb ist es besonders vorteilhaft, die einem Strahlungsempfänger zugeordneten Strah­ lungsquellen gemäß Anspruch 8 an die innere Oberfläche der Platte oder Wand anzukoppeln, selbst wenn eine Messung erst nach mehreren Reflexionen erfolgt.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in wei­ teren Unteransprüchen angegeben.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand vorteilhafter Ausführungs­ beispiele näher erläutert. In den zugehörigen Zeichnungen zei­ gen:
Fig. 1a einen senkrechten Schnitt durch eine strahlendurchläs­ sige Platte oder Wand mit einer angekoppelten Schal­ tungsquelle,
Fig. 1b ein Diagramm mit einer die Strahlungsstärke der Rück­ strahlung darstellenden Kurve der in Fig. 1a dargestell­ ten Anordnung,
Fig. 2 einen Ausschnitt einer benetzbaren Platte oder Wand in einer Ansicht auf deren innere Oberfläche mit aufge­ brachten Strahlungsquellen und einem Strahlungsempfän­ ger,
Fig. 3 ein Blockschaltbild einer Anordnung zum Messen oder Feststellen einer Benetzung mit einer in Fig. 2 darge­ stellten Anordnung des sensoraktiven Bereiches einer Platte oder Wand,
Fig. 4 Diagramme a) bis d) über den zeitlichen Verlauf der Ausgangssignale des Strahlungsempfängers und des Detek­ tionssignales,
Fig. 5 ein Blockschaltbild einer weiteren Anordnung zum Messen oder Feststellen einer Benetzung einer Platte oder Wand mit zwei besonders angekoppelten Strahlungsquellen und einer Regelanordnung,
Fig. 6 ein Diagramm des Verlaufes der Strahlungsstärkekurven der Rückstrahlung an der inneren Oberfläche der Platte oder Wand bei einer besonderen Ankoppelung zweier Strahlungsquellen an diese Oberfläche.
Die Erläuterungen erfolgen am Beispiel einer Anordnung zum Mes­ sen und Erkennen einer Benetzung, wenngleich die Anordnung auch andere nicht durch eine Benetzung hervorgerufenen Veränderungen der Reflexionsverhältnisse gegenüber einem Ruhe- oder Ausgangs­ zustand erkennen kann. Zu denken ist hierbei z. B. an das Erken­ nen von Lageänderungen oder an die Annäherung eines ggf. nur Streulicht zurückstrahlenden Elements, wenn z. B. in Abhängigkeit der Annäherung einer Hand an ein Schaufenster bestimmte Reaktio­ nen auftreten sollen. In den Ausführungsbeispielen ist das strahlungsdurchlässige Medium eine Platte oder Wand 1, jedoch können auch andere z. B. körperlose durchstrahlbare Medien einge­ setzt werden, bei denen die Veränderungen durch ein den Aufbau von Meßstrecken ermöglichendes Einführen eines die aktive Strah­ lung der Strahlungsquellen rückstrahlenden Mittels in den Strah­ lengang der Meßanordnung oder Bewegen im Strahlengang hervorge­ rufen sind oder werden.
In Fig. 1a ist eine in einer nicht näher dargestellten Ebene geschnittene Platte oder Wand 1 in einem Ausschnitt dargestellt. Die Ebene verläuft senkrecht zur Platte durch eine an die Platte oder Wand angekoppelte Strahlungsquelle 2, deren Strahlung in die Platte durch Linien 3 dargestellt ist. Die Strahlungsquelle ist an die innere Oberfläche 4 der Platte 1 so angekoppelt, daß die von ihr erzeugte Strahlung 3 ohne wesentliche Verluste ein­ fließen kann. Diese Strahlung wird entsprechend den optischen Gesetzen an der der inneren Oberfläche 4 der Platte gegenüber­ liegenden äußeren Oberfläche 5 der Platte 1 zu einem mit zuneh­ mendem Einstrahlwinkel a zunehmenden Anteil von der äußeren Oberfläche reflektiert (reflektierte Strahlung 6) und tritt an der inneren Oberfläche 4 der Platte oder Wand 1 teilweise wieder als rückstrahlende Strahlung 7 aus. Der Verlauf der Strahlungs­ stärke I dieser Rückstrahlung 7 abhängig vom Abstand x von der Strahlungsquelle ist als Kurve 8 im Diagramm der Fig. 1b schema­ tisch dargestellt. Diese Kurve weist im Abstandsbereich zwischen der Strahlungsquelle 2 und dem Austritt 9 der Rückstrahlung der ersten Totalreflexion an der inneren Oberfläche 4 der Platte ein erstes Maximum 10 auf, das im wesentlichen von der Abstrah­ lungscharakteristik der Strahlungsquelle 2 in die Platte 1 ab­ hängt. Insofern können in der Signalkurve auch durchaus mehrere Maxima detektiert und ausgewertet werden. Diese Abstrahlungscha­ rakteristik ist in Fig. 1a schematisch als Kurve 11 dargestellt und kennzeichnet schematisch die winkelabhängige Strahlungs­ stärke der Strahlungsquelle in die Platte.
Tritt eine Benetzung der äußeren Oberfläche 5 der Platte oder Wand in einem besonders empfindlichen Bereich der äußeren Ober­ fläche zwischen einer Senkrechten 12 zur Platte am Ort der Strahlungsquelle und einer Senkrechten 12 m durch die Platte am Ort xm des ersten Maximums auf, nämlich in dem sensoraktiven Be­ reich 14 der Platte oder Wand, in dem von der äußeren Oberfläche die Rückstrahlung für das erste Maximum 10 reflektiert wird, was in Fig. 1 durch einen Tropfen 13 in diesem sensoraktiven Bereich 14 schematisch dargestellt ist, wird das optische Reflexions­ system an der äußeren Oberfläche im Auflagebereich 15 des Trop­ fens 13 derart verändert, daß sich durch die veränderte Refle­ xion die Form der Kurve 8 der Strahlungsstärke der Rückstrahlung 7 in die durch die Benetzung geänderte Kurve 8′ und sich die Lage xm des Maximums 10′ in die neue Lage xm′ des Maximums 10′ der geänderten Kurve 8′ verändert.
Ist im Bereich des ersten Maximums 10 der Strahlungsstärke der Rückstrahlung 7, beispielsweise im Abstand xe von der Ankoppel­ stelle der strahlungsquelle 2 ein Strahlungsempfänger 16, der in Fig. 1a gestrichelt dargestellt ist, an die innere Oberfläche 4 der Platte oder Wand 1 angekoppelt, empfängt er über die Meß­ strecke im unbenetzten Zustand des sensoraktiven Bereiches 14 der Platte eine durch die Kurve 8 gegebene Strahlungsstärke 11 der Rückstrahlung 7, im Falle des benetzten Zustandes des sen­ soraktiven Bereiches der Platte eine Strahlungsstärke I 2 der Strahlungskurve 8′ der durch die Benetzung veränderten Rück­ strahlung der Platte. Die Änderung der Strahlungsstärke von I 1 zu I 2 kennzeichnet die Benetzung des sensoraktiven Bereiches 14 der Platte oder Wand 1.
In Fig. 2 ist ein Ausschnitt einer benetzbaren Platte oder Wand 1 in einer Ansicht auf die innere Oberfläche 4 der Platte mit drei Gruppen 17, 18 und 19 zu je zwei jeweils an die innere Oberflä­ che angekoppelten Strahlungsquellen dargestellt, nämlich den Strahlungsquellen 2.1 (17), 2.2 (17) der ersten Gruppe 17, den Strahlungsquellen 2.1 (18), 2.2 (18) der zweiten Gruppe 18 und der Strahlungsquellen 2.1 (19)′ 2.2 (19) der dritten Gruppe 19, die alle einem gemeinsamen Strahlungsempfänger 16 zugeordnet sind und die kreisförmig so um den gemeinsamen Strahlungsempfän­ ger 16 angeordnet sind, daß der Strahlungsempfänger auf der etwa ringförmigen Zone 20 des ersten Maximums 10 der Strahlungsstärke der Rückstrahlung der einzelnen Strahlungsquellen 2.1(17) bis 2.2(19) liegt.
Im dargestellten Ausführungsbeispiel bilden jeweils zwei sich bezüglich dem Strahlungsempfänger gegenüberliegende Strahlungs­ quellen eine Gruppe von zwei Strahlungsquellen. Selbstverständ­ lich sind auch andere Anordnungen denkbar, bei denen einer Strahlungsquelle mehrere kreisförmig um sie herum angeordnete Strahlungsempfänger angeordnet sind, sofern nur wenigstens zwei Meßstrecken unabhängig voneinander abgefragt und ausgeregelt werden können.
Die Wirkungsweise der in Fig. 2 dargestellten Anordnung von drei Gruppen von Strahlungsquellen um einen zugehörigen Strahlungs­ empfänger wird anhand einer in Fig. 3 als Ausführungsbeispiel dargestellten Schaltungsanordnung näher erläutert. In Fig. 3 ist ein senkrechter Schnitt eines Ausschnittes aus einer benetzbaren Platte 1 oder Wand mit den sechs in Fig. 2 schematisch darge­ stellten, an die innere Oberfläche 4 der Platte 1 angekoppelten Strahlungsquellen 2.1(17) bis 2.2(19) und dem zugehörigen, eben­ falls an die innere Oberfläche angekoppelten Strahlungsempfänger 16 schematisch dargestellt. Die Strahlungsquellen sind im darge­ stellten Ausführungsbeispiel lichtemittierende Dioden, deren ei­ ner Anschluß mit dem einen Pol einer Stromquelle 21 verbunden ist. Der andere Pol der Stromquelle ist mit dem Eingang 22 eines dreistelligen Folgeschalters 23 verbunden, der den Signaleingang 22 nach jedem Steuerimpuls 24 an seinem Steuereingang 25 mit dem nächstfolgenden Signalausgang 26.1, 26.2 oder 26.3 verbindet. Im dargestellten Ausführungsbeispiel, in dem der Signaleingang mit dem Signalausgang 26.1 verbunden ist, wird der Signaleingang durch den nächsten Steuerimpuls mit dem darauffolgenden Signal­ ausgang 26.2 verbunden. Dadurch werden mit der Schaltfolge der Schaltfolgefrequenz fa des an den Steuereingang 25 des Folge­ schalters 23 angeschlossenen Taktgenerators 30 die Strahlungs­ quellengruppen 17, 18 und 19 abwechselnd nacheinander an die Stromquelle 21 angeschaltet, so daß die Strahlungsquellengruppen 17, 18 und 19 abwechselnd nacheinander bis zum Einschalten der folgenden Gruppe wirksam geschaltet sind.
Der Verlauf der Strahlung der einzelnen Strahlungsquellengruppen in der strahlungsdurchlässigen Platte 1 ist in Fig. 3 durch die unterschiedlich strukturierten Linien 27, 28 und 29 schematisch angedeutet. Der an der äußeren Oberfläche 5 der Platte reflek­ tierte Anteil tritt an der inneren Oberfläche 4 der Platte teil­ weise wieder als Rückstrahlung 7 aus. Der in der Zone des ersten Maximums der Strahlungsstärke der Rückstrahlung an die innere Oberfläche der Platte 1 angekoppelte Strahlungsempfänger 16, im dargestellten Ausführungsbeispiel ein Fotoelement, wandelt den empfangenen Strahlungsfluß in ein elektrisches Ausgangssignal S 16 um, dessen zeitlicher Verlauf 31 über einer Zeitachse t sche­ matisch im Diagramm a) der Fig. 4 dargestellt ist und das aus sich wiederholend aneinandergereihten Signalabschnitten 37, 38, 39 gebildet ist. Diese Signalabschnitte entstehen aus der Schaltfolge, mit denen die einzelnen Gruppen 17, 18 und 19 der Strahlungsquellen zur Abstrahlung einer Lichtstrahlung für einen kurzen Zeitabschnitt Ta, der gleich der Periodenzeit der Takt­ frequenz fa des den Folgeschalter 23 steuernden Taktgenerators 30 ist, ein- und wieder ausgeschaltet werden.
An Stellgliedern 32 der Ausgänge 26.1 bis 26.3 des Folgeschal­ tens 23 wird die Strahlungsleistung der einzelnen Gruppen 17, 18 und 19 der Strahlungsquellen so eingestellt, daß jede Gruppe von Strahlungsquellen bei unbenetzter und ungestörter Platte oder Wand 1 für sich den selben Abgleichwert I 0 des Ausgangssignales 516 des Strahlungsempfängers erzeugt, wie im Diagramm b) der Fig. 4 an einem zeitlichen Verlauf 33 des ungestörten und abgegli­ chenen Ausgangssignales S 16 des Strahlungsempfängers 16 schema­ tisch dargestellt ist. Wird der sensoraktive Bereich 14 der Platte 1 beispielsweise durch einen Tropfen 13 benetzt, wie in Fig. 3 schematisch dargestellt ist, wird die Strahlführung 27, 28, 29 durch diese Benetzung derart verändert, daß die Strah­ lungsflußanteile der einzelnen Strahlungsquellengruppen 17, 18 und 19 ihren Anteil an dem abgeglichenen Verlauf 33 des Aus­ gangssignales S 16 so verschieben, daß beispielsweise ein im Diagramm c) der Fig. 4 dargestellter zeitlich ebener Verlauf 34 des Ausgangssignals S 16 des Strahlungsempfängers 16 entsteht. Dieses Ausgangssignal S 16 gelangt über einen Verstärker 35 und ein Hochpaßfilter 36 als Detektionssignal SD an den Signalein­ gang 40 einer Auswertanordnung 41. Die Grenzfrequenz fp des Hochpaßfilters 36 ist so bemessen, daß einerseits der Verlauf 34 des aus den einzelnen Abschnitten 37, 38 und 39 des bei einer zu erkennenden oder zu messenden Benetzung des sensoraktiven Berei­ ches der Platte oder Wand 1 gebildeten Ausgangssignales S 16 vom Filter noch annähernd übertragen wird und daß andererseits Schwankungen von Fremdstrahlungen auf den Strahlungsempfänger 16, die dieser ebenfalls in elektrische Signale umsetzt, nicht mehr im Detektionssignal SD wirksam werden. Dieser zeitliche Verlauf des am Ausgang des Hochpaßfilters 36 gebildete Detek­ tionssignales SD ist im Diagramm d) der Fig. 4 in einer dick aus­ gezogenen Kurve 42 schematisch dargestellt. Im dargestellten Ausführungsbeispiel enthält die Auswertanordnung 4 eine nicht naher dargestellte Schwellwertschaltung, die ein Steuersignal S 41 am Ausgang 41.2 der Auswertanordnung 41 erzeugt, wenn der Verlauf 42 des Detektionssignals SD einen bestimmten Schwellwert SW überragt. Dieses nicht näher dargestellte Steuersignal S 41 zeigt eine Benetzung der benetzten Platte 1 oder Wand im sen­ soraktiven Bereich 14 der Platte an und kann zur Steuerung von der Benetzung abhängiger Vorgänge verwendet werden.
In Fig. 5 ist ein Blockschaltbild eines weiteren Ausführungsbei­ spiels einer Anordnung zum Messen oder Feststellen einer Benet­ zung einer Platte 1 oder Wand dargestellt, das sich von dem in Fig. 3 dargestellten Ausführungsbeispiel im wesentlichen durch die Art der Anordnung der Strahlungsquellen im sensoraktiven Be­ reich 14 der Platte oder Wand und durch eine zusätzliche Regel­ anordnung zur Regelung des Abgleiches der Strahlungsleistung der Strahlungsquellen unterscheidet.
Die beiden Strahlungsquellen 2.1 und 2.2 sind so an die innere Oberfläche 4 der Platte 1 angekoppelt, daß der Einstrahlungswin­ kel aE der maximalen Strahlungsstärke einer Strahlungsquelle 2.1 oder 2.2 in die Platte oder Wand etwa gleich dem Winkel ist, für den das erste Maximum 10 der Rückstrahlung 7 aus der inneren Oberfläche 4 der Platte oder Wand in einer die Platte oder Wand am Ort der Strahlungsquelle und des zugehörigen, ebenfalls an die innere Oberfläche angekoppelten Strahlungsempfängers 16 senkrecht durchdringenden Ebene seinen größten Wert erreicht. Dadurch wird ein ausgeprägteres erstes Maximum 10 der Kurve 8.1 oder 8.2 der Strahlungsstärke der Rückstrahlung 7 der Strah­ lungsquellen aus der inneren Oberfläche 4 der Platte oder Wand 1 erreicht, wie mittels der in Fig. 6 dargestellten Kurven 8.1 und 8.2 der Strahlungsstärken I1 für die Rückstrahlung der Strah­ lungsquellen 2.1 und 2.2 schematisch veranschaulicht ist. Dar­ überhinaus sind die beiden Strahlungsquellen 2.1 und 2.2 mit un­ terschiedlichen Abständen x1 und x2 von ihrem zugehörigen Strah­ lungsempfänger entfernt, nämlich derart, daß in abgeglichenem Zustand der beiden Strahlungsquellen und bei unbenetzter Platte oder Wand der Strahlungsempfänger 16 auf der Rückflanke 43 des ersten Maximums der Kurve 8.1 der Rückstrahlung der ersten Strahlungsquelle 2.1 und gleichzeitig auf der Vorderflanke 44 des ersten Maximums der Kurve 8.2 der von der zweiten Strah­ lungsquelle 2.2 verursachten Rückstrahlung aus der inneren Ober­ fläche 4 der Platte oder Wand 1 liegt.
Mit dieser Anordnung der Strahlungsquellen 2.1 und 2.2 wird es möglich, eine Benetzung in der Gestalt eines gleichbleibenden Flüssigkeitsfilms oder einer gleichbleibenden Flüssigkeits­ schicht 45, wie sie schematisch auf der äußeren Oberfläche 5 ei­ ner Platte oder Wand in Fig. 5 dargestellt ist, festzustellen oder zu messen. Durch die Benetzung werden die Flanken 43 und 44 der beiden Kurven 8.1 und 8.2 der Strahlungsstärke der Rück­ strahlung für die unbenetzte Platte derart verformt und verla­ gert, daß der beiden Kurven gemeinsame Abgleichpunkt 46 für das Ausgangssignal S16 des Strahlungsempfängers in zwei Kurvenpunkte 46.1 und 46.2 mit zwei unterschiedlichen Amplitudenwerte I 46.1 und I 46.2 aufsplittet, wie Fig. 6 veranschaulicht, so daß daraus ein Signalunterschied des Detektionssignal SD abgeleitet werden kann, zur Bildung eines Steuer- und/oder Meßsignales S 41.
Bei der in Fig. 5 dargestellten Anordnung ist die Schalteranord­ nung zur Steuerung der beiden Strahlungsquellen 2.1 und 2.2 ein Taktgenerator 30 der an einem nicht invertierenden Ausgang 30.0 und an einem invertierenden Ausgang 30.1 abwechselnd einen Stromimpuls jeweils zur Anregung der Ausstrahlung der an den Ausgang angeschlossenen Strahlungsquelle für die Dauer des Stromimpulses erzeugt. Der eine Ausgang des Stromimpulsgenera­ tors 30 enthält zur Einstellung des Stromwertes ein Stromstell­ glied 32, das durch ein Stellsignal Sr an seinem Stelleingang 47 verstellbar ist. Die Rückstrahlung dieser beiden Strahlungsquel­ len am Ankopplungsort XE (Fig. 6) des Strahlungsempfängers 16 wird von diesem in ein elektrisches Ausgangssignal S 16 gewan­ delt, das entsprechend zu der in Fig. 3 dargestellten Anordnung über einen Verstärker 35 und einen Hoch- oder Bandpaß 36 als De­ tektionssignal SD an den Ausgang der Filterschaltung 36 gelangt. An den Ausgang der Filterschaltung 36 ist eine Signalzentrier­ stufe 48 angeschlossen, die die Änderungen des Detektionssigna­ les SD am Ausgang der Filterschaltung 36 einer Mittenspannung Uz aufprägt. Im dargestellten Ausführungsbeispiel enthält die Si­ gnalzentrierstrufe 48 einen Synchrondemodulator 49 mit zwei De­ modulatorausgängen 49.1 und 49.2, die je einer Strahlungsquelle zugeordnet sind. Die Zuordnung erfolgt über einen Steuertakt S 30.0 des Stromimpulsgenerators 30, der auch die Abstrahlung der Strahlungsquellen steuert. Den Demodulatorausgängen 49.1 und 49.2 sind im dargestellten Ausführungsbeispiel Demodulations­ wertspeicher 50.1 und 50.2 nachgeschaltet, die den mittleren Am­ plitudenwert der von dem Synchrondemodulator 49 abgetasteten, den beiden Strahlungsquellen zugeordneten Signalabschnitten des Demodulationssignals SD momentan speichern und auf diese Weise einen Hüllkurvendemodulator bilden. Aus den momentanen mittleren Amplitudenwerten der beiden Detektionswertspeicher wird in einem anschließenden Operationsverstärker 51 der Differenzwert gebil­ det und einem Mittenwert aufgeprägt. Dieses so gebildete geglät­ tete Detektionssignal SD m, das gegenüber dem Detektionssignal SD am Ausgang der Filterschaltung 36 wesentlich von Störungen befreit ist, wird sowohl einer Auswertanordnung 41 als auch ei­ ner Regelschaltung 52 mit einer hohen Regelzeitkonstanten Tv zu­ geführt. Im dargestellten Ausführungsbeispiel enthält die Regel­ schaltung ein Zeitkonstantenglied 53 und einen Vergleicher 54, der aus dem Vergleich mit einem Referenzsignal Sref ein Stell­ signal Sr für den Stelleingang 47 des Stromstellgliedes 32 der­ art erzeugt, daß die Strahlungsleistung der mit dem Stromstell­ glied geregelten Strahlungsquelle 2.1 so verändert wird, daß der Unterschied der Detektionsamplitudenwerte am Ausgang der Signal­ zentrierstufe 48 gegen Null geht. Die Regelgeschwindigkeit, d. h. die Regelzeitkonstante Tv der Regelschaltung 52 ist hierbei so bemessen, daß sie um ein wesentliches Vielfaches größer ist als die langsamsten noch zu erfassenden Änderungen eines Benetzungs­ vorganges. Die Auswertanordnung 41 kann eingangsseitig auch un­ mittelbar mit dem Ausgang der beiden Detektionwertspeicher 50.1 und 50.2 verbunden werden, insbesondere dann, wenn mittels der Auswertanordnung die Benetzung gemessen werden soll.
Falls erwünscht können auch mehrere Strahlungsempfänger, im Bei­ spiel Fotodioden, und mehrere Strahlungsquellen, im Beispiel Leuchtdioden in Reihe geschalten werden, um dadurch die Anzahl der Meßstrecken und die Zuverlässigkeit der Meßergebnisse zu er­ höhen. Z. B. können fünf Leuchtdioden so angeordnet werden, daß eine zentrisch in der Mitte von vier an den Ecken eines Vierecks angeordneten Leuchtdioden liegt. Werden hier jeweils zwischen der mittigen und den außenliegenden Leuchtdioden Fotodioden an­ geordnet, ergeben sich 4 voneinander unabhängige Meßanordnungen. Durch Fortführung dieses Rasters läßt sich diese Anzahl leicht steigern, falls erhöhte Sicherheitsanforderungen an die Anord­ nung gestellt werden.
Die eingangs bereits erwähnte kapazitative Lösung läßt sich dann z. B. mit Ladungsaufnehmern lösen, die ein Übersprechen er­ fassen, das infolge elektromagnetischer Wellen erzeugt ist.

Claims (8)

1. Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Veränderung an einem oder infolge eines rückstrahlenden Elements, das von der Anordnung durch ein für eine bestimmte Strahlung durchlässiges Medium getrennt ist, gekennzeichnet
  • - durch einen sensoraktiven Bereich (14) im Medium (Platte oder Wand 1) mit wenigstens zwei Meßstrecken, an die wenig­ stens eine Strahlungsquelle (2.1, 2.2) oder Gruppe (17, 18, 19) von Strahlungsquellen zum Einstrahlen der be­ stimmten Strahlung (3) in das strahlungsdurchlässige Medium und wenigstens ein Strahlungsempfänger (16) oder eine Gruppe von Strahlungsempfängern, der oder die im Überlap­ pungsbereich (Fig. 2) der Zonen (20) eines ersten Maximums (10) des Strahlungsstärkeverlaufs (8) des bei im Ruhezu­ stand befindlichen sensoraktiven Bereichs aus der dem rück­ strahlenden Element gegenüberliegenden Seite des Mediums austretenden Rückstrahlung (7) der dem Strahlungsempfänger zugeordneten Strahlungsquelle oder -quellen zur Erzeugung eines der empfangenen Strahlung entsprechenden Detektions­ signales (SD) angeordnet sind, an der dem rückstrahlenden Element gegenüberliegenden Seite des Mediums angekoppelt sind,
  • - durch eine Schalteranordnung (23, 30) zu einem zeitab­ schnittsweisen Wirksamschalten jeder der einzelnen Meß­ strecken in einer aufeinanderfolgenden, sich wiederholenden Schaltfolge einer bestimmten Schaltfolgefrequenz (fa),
  • - durch eine Einstellanordnung (32) zur Einstellung einer derart bemessenen Strahlungsleistung der einzelnen Strah­ lungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen, daß bei im Ruhezustand befindlichem sensoraktivem Bereich jede der dem Strahlungsempfänger zugeordnete Strahlungsquelle oder Gruppe von Strahlungsquellen einen Abschnitt (37) des De­ tektionssignales erzeugt, dessen mittlerer Amplitudenwert gleich dem mittleren Amplitudenwert der den anderen Strah­ lungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen zugeordne­ ten Abschnitten (38, 39) des Detektionssignales ist
  • - und durch eine dem (den) Strahlungsempfänger(n) nachge­ schaltete Filterschaltung (36) zur Übertragung des auf eine Schwingung der Schaltfolgefrequenz modulierten Detektions­ signales (SD) an eine Auswertanordnung (41) zur Erzeugung eines Steuer- und/oder Meßwertsignales (S 41) aus dem in der Auswertanordnung gemessenen oder festgestellten Unter­ schied der den einzelnen Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen zugeordneten Abschnitten des Detektions­ signales.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Benetzung an einer für eine bestimmte Strahlung durchlässigen Platte oder Wand (1) angeordnet ist, die das strahlungsdurchlässige Medium ist, und daß das rückstrahlende Element eine benetzbare äußere Oberfläche (5) der Platte oder Wand (1) ist, wobei durch den sensoraktiven Bereich (14) in der Platte oder Wand (1) wenig­ stens zwei Meßstrecken verlaufen, an die wenigstens eine Strahlungsquelle (2.1, 2.2) oder Gruppe (17, 18, 19) von Strah­ lungsquellen zum Einstrahlen der bestimmten Strahlung (3) in die Platte oder Wand und wenigstens ein Strahlungsempfänger (16) oder eine Gruppe von Strahlungsempfängern, der oder die im Überlappungsbereich (Fig. 2) der Zonen (20) eines ersten Maximums (10) des Strahlungsstärkeverlaufs (8) des bei im Ru­ hezustand unbenetztem sensoraktivem Bereichs aus der inneren Oberfläche der Platte oder Wand austretenden Rückstrahlung (7) der dem Strahlungsempfänger zugeordneten Strahlungsquelle oder -quellen zur Erzeugung eines der empfangenen Strahlung entsprechenden Detektionssignales (SD) angeordnet sind, an die der benetzbaren äußeren Oberfläche (5) gegenüberliegende innere Oberfläche (4) der Platte oder Wand angekoppelt sind.
3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßstrecken aus wenigstens zwei Strahlungsquellen (2.1, 2.2) oder Gruppen von Strahlungsquellen (17, 18, 19) und we­ nigstens einem Strahlungsempfänger (16) gebildet sind.
4. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schalteranordnung ein Stromimpulsgenerator (30) mit einem nichtinvertierenden Ausgang (30.0) und einem invertierenden Ausgang (30.1) ist und daß in wenigstens einem (30.1) der Ausgänge ein Stromstellglied (32) zum Einstellen einer be­ stimmten Strahlungsleistung der zugehörigen, von dem Ausgang (30.1) geschalteten Strahlungsquelle (2.1) oder Gruppe von Strahlungsquellen angeordnet ist.
5. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Filterschaltung ein Hochpaß (36) ist.
6. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch zwei an die dem rückstrahlenden Element gegenüberliegende Seite des Medi­ ums angekoppelte Strahlungsquellen (2.1, 2.2), von denen die erste Strahlungsquelle (2.1) soweit vom zugehörigen gemeinsa­ men Strahlungsempfänger (16) entfernt ist, daß der Strah­ lungsempfänger auf der von der Strahlungsquelle abliegenden Flanke (43) des ersten Maximums (10.1) der bei im Ruhezustand befindlichem sensoraktivem Bereich (14) von der ersten Strah­ lungsquelle an dieser Seite des Mediums erzeugten Strahlungs­ stärkekurve (8.1) und die zweite Strahlungsquelle (2.2) so­ weit von dem gemeinsamen Strahlungsempfänger entfernt ist, daß der Strahlungsempfänger auf der der zweiten Strahlungs­ quelle zunächst liegenden Flanke (44) des ersten Maximums (10.2) der bei im Ruhezustand befindlichem sensoraktiven Be­ reich von der zweiten Strahlungsquelle an dieser Seite des Mediums erzeugten Strahlungsstärkekurve (8. 2) liegt.
7. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine dem Aus­ gang der Filterschaltung (36) nachgeschaltete, eine Signal­ zentrierstufe (48) und einen Regelsignalgenerator (52) ent­ haltende Regelanordnung
  • - in der die Signalzentrierstufe (48) für jede einem Strah­ lungsempfänger (16) zugeordnete Strahlungsquelle (2.1, 2.2) oder Gruppe von Strahlungsquellen einen Detektionswertspei­ cher (50.1, 50.2) zum Speichern des mittleren Amplitudenwer­ tes jeweils des der Strahlungsquelle (z. B. 2.1) zugeordne­ ten Signalabschnittes (z. B. 37) des Detektionssignales (SD) enthält,
  • - in der die Signalzentrierstufe außerdem eine Tastschaltung (49) zum Abtasten des Amplitudenwertes der der wirksam ge­ schalteten Strahlungsquelle zugeordneten Signalabschnitte des Detektionssignales und zum Einspeichern des mittleren Amplitudenwertes dieser Signalabschnitte in den zugehörigen Detektionswertspeicher und eine Vergleicheranordnung (51) zur Erzeugung eines Differenzwertes aus den gespeicherten Amplitudenwerten zweier Detektionswertspeicher enthält
  • - und in der der Regelsignalgenerator (52) der Signalzen­ trierstufe nachgeschaltet ist und eine gegenüber der Schwingungsperiode der bestimmten Schaltfolgefrequenz (fa) um ein wesentliches Vielfaches größere Regelzeitkonstante (Tr) für ein im Regelsignalgenerator aus der Differenz der mittleren Amplitudenwerten der den einzelnen Strahlungs­ quellen oder Gruppen von Strahlungsquellen zugeordneten Signalabschnitten des Detektionssignales erzeugtes Regel­ signal (Sr) zur Einstellung des (der) Stromstellgliedes (glieder) (32) enthält, welche Einstellung durch das Regel­ signal derart geführt ist, daß die Differenz der mittleren Amplitudenwerte der Signalabschnitte des Detektionssignales gegen Null geht.
8. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine Ankopp­ lung der einem Strahlungsempfänger (16) zugeordneten Strah­ lungsquellen (2.1, 2.2) an die innere Oberfläche (4) einer Platte oder Wand (1) derart, daß der Einstrahlungswinkel (aE) des Strahles der maximalen Strahlungsstärke (I) einer Strah­ lungsquelle (2.1) in die Platte oder Wand etwa gleich dem Winkel ist, für den das erste Maximum (10) der Rückstrahlung (7) aus der inneren Oberfläche (4) der Platte oder Wand (1) in einer die Platte oder Wand am Ort der Strahlungsquelle (2.1) und des zugehörigen Strahlungsempfängers (16) senkrecht durchdringenden Ebene seinen größten Wert erreicht.
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ES94918290T ES2102230T5 (es) 1993-07-02 1994-06-18 Dispositivo para controlar un sistema de limpiaparabrisas.
US08/578,685 US5666037A (en) 1993-07-02 1994-06-18 Arrangement for measuring or detecting a change in a retro-reflective element
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Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19631059A1 (de) * 1996-08-01 1998-02-05 Teves Gmbh Alfred Optische Sensoren mit integriertem Detektor zum Erkennen der Verschmutzung des Lichtaustrittsfensters
DE19644565A1 (de) * 1996-10-26 1998-04-30 Teves Gmbh Alfred Sich bewegende Objekte, feststellende Überwachungseinrichtung, insbesondere für Kraftfahrzeuge
DE19725287A1 (de) * 1997-06-14 1998-12-17 Itt Mfg Enterprises Inc Regensensor mit gebondeten Sensor-Chips
EP0893318A2 (de) * 1997-07-22 1999-01-27 Nippon Sheet Glass Co. Ltd. Transparentes Substrat mit Wassertropfendetektor und Signalauslöseverfahren und Ausgangssignal-Stabilisierungsverfahren dafür
EP0947402A2 (de) * 1998-04-03 1999-10-06 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Wassersensor
WO1999052751A1 (de) * 1998-04-08 1999-10-21 Robert Bosch Gmbh Sensoreinrichtung zur erfassung einer benetzung auf einer scheibe
WO1999052752A1 (de) * 1998-04-08 1999-10-21 Robert Bosch Gmbh Sensoreinrichtung zur erfassung einer benetzung auf einer scheibe
EP1014568A2 (de) * 1998-12-24 2000-06-28 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines störungsbehafteten Empfangssignals
WO2000078582A1 (de) * 1999-06-18 2000-12-28 Valeo Auto-Electric Wischer Und Motoren Gmbh Regensensor zur detektion von feuchtigkeitstropfen
DE10005125A1 (de) * 2000-02-07 2001-08-09 Valeo Auto Electric Gmbh Verfahren zum Kalibrieren eines Regensensors
WO2002081272A1 (de) * 2001-04-06 2002-10-17 Valeo Systemes D'essuyage Sensor zur detektion von schmutz und/oder feuchtigkeit auf einer aussenseite einer scheibe
DE10311800A1 (de) * 2003-03-12 2004-09-23 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Verfahren zum Betreiben eines Sensors zur Detektion von Störeinflüssen auf einem durchlässigen Körper
DE10330526A1 (de) * 2003-07-05 2005-01-27 Hella Kgaa Hueck & Co. Sensor zur berührungslosen Detektion von Schmutzpartikeln
DE10340702A1 (de) * 2003-09-04 2005-03-31 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Verfahren zum Betreiben einer Sensorvorrichtung zur Detektion von Störeinflüssen auf der Außenseite eines optisch durchlässigen Körpers
DE10351254A1 (de) * 2003-11-03 2005-06-02 Adc Automotive Distance Control Systems Gmbh Vorrichtung zur Erfassung von Verschmutzungen auf einer lichtdurchlässigen Abdeckscheibe vor einem optischen Einheit
DE19904280B4 (de) * 1999-02-03 2005-08-18 BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung von Ablagerungen an Glasoberflächen in Spülmaschinen
DE102005013021A1 (de) * 2005-03-22 2006-09-28 Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg Optoelektronische Sensoreinrichtung für ein Kraftfahrzeug
DE102007004974A1 (de) * 2007-01-26 2008-07-31 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Sensormodul zur Detektion von Aerosolen und/oder Regentropfen und Betriebsverfahren hierfür
CN102991463A (zh) * 2010-11-23 2013-03-27 江苏日盈电器有限公司 车用雨量阳光感应控制系统
CN103376243A (zh) * 2012-04-18 2013-10-30 原相科技股份有限公司 雨刷控制装置、光学雨滴检测装置及其检测方法
FR3050889A1 (fr) * 2016-04-27 2017-11-03 STMicroelectronics (Alps) SAS Circuit d'emission optique en creneaux
DE102020212657A1 (de) 2020-10-07 2022-04-07 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung System zum optischen Detektieren von Ablagerungen auf einer Oberfläche und Sensor mit System

Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6118383A (en) * 1993-05-07 2000-09-12 Hegyi; Dennis J. Multi-function light sensor for vehicle
DE4339574C2 (de) * 1993-11-19 1999-07-15 Gerd Reime Auswertevorrichtung für Signale, die von einer Meßanordnung zum Messen oder Erkennen einer Benetzung einer Fläche ermittelt wurden
AU6968494A (en) * 1993-07-02 1995-01-24 Gerd Reime Arrangement for measuring or detecting a change in a retro-reflective component
WO1995001270A1 (de) * 1993-07-02 1995-01-12 Gerd Reime Einrichtung zur steuerung einer scheibenwischanlage
DE4339572A1 (de) * 1993-11-19 1995-05-24 Gerd Reime Vorrichtung mit einer Meßanordnung
DE4403982A1 (de) * 1994-02-07 1995-08-10 Gerd Reime Schaltungsanordnung zum Empfangen von Lichtsignalen
DE4431117C2 (de) * 1994-09-01 1997-09-25 Gerd Reime Schaltung zum Einstellen des Arbeitspunktes einer Photodiode
DE19504606C2 (de) * 1995-02-11 1999-01-07 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Optoelektronische Einrichtung zur Erfassung von auf der Außenseite einer transparenten Scheibe sich ablagerndem Niederschlag
US5568027A (en) * 1995-05-19 1996-10-22 Libbey-Owens-Ford Co. Smooth rain-responsive wiper control
DE19519501A1 (de) * 1995-05-27 1996-11-28 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zum Betreiben eines Scheibenwischers
DE19519502A1 (de) * 1995-05-27 1996-11-28 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zum Betreiben eines Scheibenwischers
DE19643465C2 (de) * 1996-10-22 1999-08-05 Bosch Gmbh Robert Steuervorrichtung für einen optischen Sensor, insbesondere einen Regensensor
DE19729103A1 (de) * 1997-07-08 1999-01-14 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung und Verfahren zum Betreiben eines Regensensors
DE19748454C2 (de) 1997-11-03 2000-08-17 Gerd Reime Einrichtung zur Beeinflussung einer Beleuchtungseinrichtung
DE19749331A1 (de) * 1997-11-07 1999-05-20 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Verfahren zum Detektieren von auf einer Windschutzscheibe befindlichen Objekten sowie Vorrichtung
DE19801745A1 (de) 1998-01-20 1999-07-22 Itt Mfg Enterprises Inc Vorrichtung zur Überwachung des Zustands einer Fensterscheibe
DE10316107A1 (de) * 2003-04-09 2004-10-21 Daimlerchrysler Ag Verfahren zur Auswertung eines Regensensors
JP4779860B2 (ja) * 2006-08-03 2011-09-28 株式会社デンソー 雨滴量検出装置及びワイパー制御装置
DE102008007527B4 (de) 2008-02-05 2018-06-07 Volkswagen Ag Scheibenwischeranlage für ein Fahrzeug mit einem Regensensor
EP2602635B1 (de) 2011-12-06 2014-02-19 ELMOS Semiconductor AG Verfahren zur Vermessung einer Übertragungsstrecke mittels kompensierender Amplitudenmessung und Delta-Sigma-Methode sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
EP2631674A1 (de) 2012-02-23 2013-08-28 ELMOS Semiconductor AG Verfahren und Sensorsystem zur Vermessung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke eines Messsystems zwischen Sender und Empfänger
DE102012024597B4 (de) 2012-12-13 2014-07-24 Elmos Semiconductor Ag Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem
DE102013013664B3 (de) * 2013-08-17 2014-08-14 Elmos Semiconductor Ag Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem
EP3124993B1 (de) 2013-08-22 2021-10-06 Elmos Semiconductor SE Störkompensierte vorrichtung zur vermessung einer optischen signalübertragungsstrecke
EP2924460A1 (de) 2014-03-25 2015-09-30 ELMOS Semiconductor AG Sensorsystem zur Erkennung mindestens eines Objekts in einer Übertragungsstrecke mittels einer Diode
DE102015002283B4 (de) 2014-05-09 2023-01-19 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen und Vermessen von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung und objektabhängiger Ortsauflösung mehrerer verschiedener Einzelscanner
DE102014017237A1 (de) 2014-11-21 2016-05-25 Mechaless Systems Gmbh Messsystem zur energiesparenden optischen Abstandsmessung
DE102014019172B4 (de) 2014-12-17 2023-12-07 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mit einem kompensierenden optischen Messsystem
DE102014019773B4 (de) 2014-12-17 2023-12-07 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mittels des Displays eines Mobiltelefons
DE102015006174B3 (de) * 2015-05-08 2016-08-11 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke
DE102015015245A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015244A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015389A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Ag Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015390A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Ag Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015246A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015248A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102017106813B4 (de) 2016-05-09 2018-01-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler Sensor-Bänder
DE102017106811B4 (de) 2016-05-09 2018-01-11 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler LED-Bänder
DE102017106812B4 (de) 2016-05-09 2018-01-11 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler LED-Sensor-Bänder
DE102017100308B3 (de) 2016-12-06 2018-05-30 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mit verringerter EMV Empfindlichkeit
DE102017100305B4 (de) 2017-01-09 2021-08-12 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mittels Mehrfachmodulation
DE102017100306B4 (de) 2017-01-09 2021-08-12 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mittels Mehrfachmodulation

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2354100B2 (de) * 1973-10-29 1976-10-14 Karl, Gerhard, Dipl.-Phys., 8701 Frickenhausen Scheibenverschmutzungsmelder mit einer auf die beschmutzte scheibenflaeche durch die scheibe hindurch licht aussendenden lichtquelle und einem die durch die scheibenverschmutzung verursachten aenderungen des durch die scheibe hindurch remittierten lichts registrierenden lichtmessgeraet und hieran angeschlossenem signalgeber
DE3314770C2 (de) * 1983-04-23 1987-11-12 Sidler Gmbh & Co, 7400 Tuebingen, De
EP0249031A2 (de) * 1986-06-07 1987-12-16 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung zum optischen Erfassen von Fremdkörpern

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2630470A1 (de) * 1976-07-07 1978-01-12 Schmidt Karl Heinz Selbsttaetige steuerung von kraftfahrzeug-scheibenwischanlagen
DE3140865A1 (de) * 1981-10-14 1983-05-11 Hans-Wolfgang 8000 München Diesing Schaltungsanordnung fuer gepulste reflexionslichtschranken
DE8202355U1 (de) * 1982-01-30 1983-03-31 Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt Einrichtung zum erkennen von fremdstoffen auf einer scheibe
DE3203091C2 (de) * 1982-01-30 1985-06-13 Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt Einrichtung zum Steuern der Scheibenreinigungsanlage eines Kraftfahrzeugs
DE3235590C2 (de) * 1982-09-25 1984-11-22 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 8000 München Vorrichtung zum optischen Erfassen von Fremdkörpern
JPS59140146A (ja) * 1983-01-28 1984-08-11 Jidosha Denki Kogyo Co Ltd ワイパ間欠駆動制御装置
IT212332Z2 (it) * 1987-07-31 1989-07-04 Veglia Borletti Srl Dispositivo sensore della presenza di gocce d acqua su un cristallo di un veicolo e apparecchiatura dicomando di un tergicristallo provvista del detto dispositivo
DE3733762A1 (de) * 1987-10-06 1989-04-20 Karl Gerhard Scheibenverschmutzungsmelder
JP2515765Y2 (ja) * 1988-04-18 1996-10-30 愛三工業株式会社 電動機
DE3935807A1 (de) * 1989-10-27 1991-05-02 Swf Auto Electric Gmbh Wischanlage fuer kraftfahrzeuge
DE9010998U1 (de) * 1990-03-01 1990-10-25 Sartorius AG, 3400 Göttingen Komparatorschaltung für Signale einer Lichtschranke
DE4018903A1 (de) * 1990-06-13 1991-12-19 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zum betreiben eines scheibenwischers
DE4027367C1 (en) * 1990-08-30 1991-07-04 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart, De Deposit detector for outer surface of pane - uses radiation source and receiver at right angles to pane esp. windscreen to detect rain drops
DE4102146C1 (en) * 1991-01-25 1991-09-26 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart, De Rain and dirt sensor for motor vehicle windscreen - uses light source below or at inner side of pane and light measurer at top or outside
DE4231763C2 (de) * 1992-09-23 1995-07-06 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2354100B2 (de) * 1973-10-29 1976-10-14 Karl, Gerhard, Dipl.-Phys., 8701 Frickenhausen Scheibenverschmutzungsmelder mit einer auf die beschmutzte scheibenflaeche durch die scheibe hindurch licht aussendenden lichtquelle und einem die durch die scheibenverschmutzung verursachten aenderungen des durch die scheibe hindurch remittierten lichts registrierenden lichtmessgeraet und hieran angeschlossenem signalgeber
DE3314770C2 (de) * 1983-04-23 1987-11-12 Sidler Gmbh & Co, 7400 Tuebingen, De
EP0249031A2 (de) * 1986-06-07 1987-12-16 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung zum optischen Erfassen von Fremdkörpern

Cited By (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19631059A1 (de) * 1996-08-01 1998-02-05 Teves Gmbh Alfred Optische Sensoren mit integriertem Detektor zum Erkennen der Verschmutzung des Lichtaustrittsfensters
DE19644565A1 (de) * 1996-10-26 1998-04-30 Teves Gmbh Alfred Sich bewegende Objekte, feststellende Überwachungseinrichtung, insbesondere für Kraftfahrzeuge
DE19725287A1 (de) * 1997-06-14 1998-12-17 Itt Mfg Enterprises Inc Regensensor mit gebondeten Sensor-Chips
US6526820B1 (en) 1997-06-14 2003-03-04 Valeo Auto-Electric Wischer Und Motoren Gmbh Rain sensor with bonded chips
EP0893318A3 (de) * 1997-07-22 2000-05-03 Nippon Sheet Glass Co. Ltd. Transparentes Substrat mit Wassertropfendetektor und Signalauslöseverfahren und Ausgangssignal-Stabilisierungsverfahren dafür
EP0893318A2 (de) * 1997-07-22 1999-01-27 Nippon Sheet Glass Co. Ltd. Transparentes Substrat mit Wassertropfendetektor und Signalauslöseverfahren und Ausgangssignal-Stabilisierungsverfahren dafür
EP0947402A2 (de) * 1998-04-03 1999-10-06 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Wassersensor
EP0947402A3 (de) * 1998-04-03 1999-12-01 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Wassersensor
US6153995A (en) * 1998-04-03 2000-11-28 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Water drop detection sensor
WO1999052752A1 (de) * 1998-04-08 1999-10-21 Robert Bosch Gmbh Sensoreinrichtung zur erfassung einer benetzung auf einer scheibe
US6433501B2 (en) 1998-04-08 2002-08-13 Robert Bosch Gmbh Sensor device for detecting moisture on a window
US6455866B1 (en) 1998-04-08 2002-09-24 Robert Bosch Gmbh Sensor device for detecting moisture on a window
WO1999052751A1 (de) * 1998-04-08 1999-10-21 Robert Bosch Gmbh Sensoreinrichtung zur erfassung einer benetzung auf einer scheibe
EP1014568A2 (de) * 1998-12-24 2000-06-28 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines störungsbehafteten Empfangssignals
EP1014568A3 (de) * 1998-12-24 2001-02-28 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines störungsbehafteten Empfangssignals
DE19904280B4 (de) * 1999-02-03 2005-08-18 BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung von Ablagerungen an Glasoberflächen in Spülmaschinen
WO2000078582A1 (de) * 1999-06-18 2000-12-28 Valeo Auto-Electric Wischer Und Motoren Gmbh Regensensor zur detektion von feuchtigkeitstropfen
US6634225B1 (en) 1999-06-18 2003-10-21 Valeo Auto-Electric Wischer Und Motoren Gmbh Rain sensor using low harmonic content signals
DE10005125A1 (de) * 2000-02-07 2001-08-09 Valeo Auto Electric Gmbh Verfahren zum Kalibrieren eines Regensensors
WO2002081272A1 (de) * 2001-04-06 2002-10-17 Valeo Systemes D'essuyage Sensor zur detektion von schmutz und/oder feuchtigkeit auf einer aussenseite einer scheibe
DE10311800A1 (de) * 2003-03-12 2004-09-23 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Verfahren zum Betreiben eines Sensors zur Detektion von Störeinflüssen auf einem durchlässigen Körper
DE10330526A1 (de) * 2003-07-05 2005-01-27 Hella Kgaa Hueck & Co. Sensor zur berührungslosen Detektion von Schmutzpartikeln
DE10340702A1 (de) * 2003-09-04 2005-03-31 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Verfahren zum Betreiben einer Sensorvorrichtung zur Detektion von Störeinflüssen auf der Außenseite eines optisch durchlässigen Körpers
DE10351254A1 (de) * 2003-11-03 2005-06-02 Adc Automotive Distance Control Systems Gmbh Vorrichtung zur Erfassung von Verschmutzungen auf einer lichtdurchlässigen Abdeckscheibe vor einem optischen Einheit
DE102005013021A1 (de) * 2005-03-22 2006-09-28 Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg Optoelektronische Sensoreinrichtung für ein Kraftfahrzeug
DE102007004974A1 (de) * 2007-01-26 2008-07-31 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Sensormodul zur Detektion von Aerosolen und/oder Regentropfen und Betriebsverfahren hierfür
CN102991463A (zh) * 2010-11-23 2013-03-27 江苏日盈电器有限公司 车用雨量阳光感应控制系统
CN102991463B (zh) * 2010-11-23 2014-11-05 江苏日盈电子股份有限公司 车用雨量阳光感应控制系统
CN103376243A (zh) * 2012-04-18 2013-10-30 原相科技股份有限公司 雨刷控制装置、光学雨滴检测装置及其检测方法
CN103376243B (zh) * 2012-04-18 2015-10-28 原相科技股份有限公司 雨刷控制装置、光学雨滴检测装置及其检测方法
FR3050889A1 (fr) * 2016-04-27 2017-11-03 STMicroelectronics (Alps) SAS Circuit d'emission optique en creneaux
DE102020212657A1 (de) 2020-10-07 2022-04-07 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung System zum optischen Detektieren von Ablagerungen auf einer Oberfläche und Sensor mit System

Also Published As

Publication number Publication date
DE4411773C2 (de) 1997-08-07
DE4339573C2 (de) 1997-06-12
DE4411772A1 (de) 1995-01-12
DE4339573A1 (de) 1995-01-12
DE4339575C2 (de) 1997-06-12
DE4411773A1 (de) 1995-01-12
DE4411770C2 (de) 2001-03-08
DE4411770A1 (de) 1995-01-12
DE59402089D1 (de) 1997-04-17
DE4339575A1 (de) 1995-01-12
DE9309837U1 (de) 1993-09-02

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