DE4403221A1 - Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Veränderung an einem rückstrahlenden Element - Google Patents
Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Veränderung an einem rückstrahlenden ElementInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum Messen oder Erkennen
einer Veränderung an einem rückstrahlenden Element nach dem
Oberbegriff des Anspruches 1.
In vielen Fällen besteht der Wunsch, Veränderungen an einem
rückstrahlenden Element, hervorgerufen z. B. durch eine bestimmte
Benetzung einer Oberfläche zu erkennen, um daraus beispielsweise
Steuerbefehle zum Schließen von Fenstern oder anderen Öffnungen
oder zum Entfernen einer störenden Benetzung abzuleiten. Als re
flektierendes Element kann z. B. eine innere Reflexionsfläche ei
ner strahlungsdurchlässigen Platte oder Wand (innere oder Total
reflexion), ein Spiegel oder auch jedes Mittel in Frage kommen,
das gegebenenfalls auch nur Streulicht rückstrahlt, wie z. B.
eine sich der Anordnung nähernde Hand. Unter dem Begriff Benet
zung einer Oberfläche wird das Bedecken oder Berieseln der Ober
fläche mit einzelnen Flüssigkeitstropfen oder das Auftreffen von
Flüssigkeitstropfen auf diese Oberfläche verstanden, bis hin zu
einem auf die Oberfläche aufgebrachten Flüssigkeitsfilm oder
Schaum oder einer auf die Oberfläche aufgelaufenen oder auflau
fenden Flüssigkeitsschicht einer bestimmten Schichtdicke.
Durch ein Erkennen des Umfanges der Veränderung der Reflexions
verhältnisse können so z. B. Lageänderungen oder das Auftreten
eines vor der Anordnung beweglichen oder bewegten Gegenstandes
erfaßt werden. Ist die Veränderung eine Benetzung, so können
z. B. durch ein Messen der Menge der benetzenden Flüssigkeit pro
Flächeneinheit und/oder pro Zeiteinheit auf der benetzten Ober
fläche gezieltere Steuerbefehle abgeleitet werden, mit denen
beispielsweise die Benetzung geregelt, Schließvorgänge abhängig
von der bestehenden oder zu erwartenden Flüssigkeitsmenge ge
steuert oder ein Vorgang zur Beseitigung der Benetzung abhängig
von der Vorgeschichte der Verursachung der Benetzung optimal ge
steuert werden kann.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Anordnung der im
Oberbegriff des Anspruches 1 angegebenen Art derart auszugestal
ten, daß eine zusätzliche, aus dem Umfeld der Anordnung zum Mes
sen oder Erkennen einer Veränderung in diese Anordnung ein
dringende und sich der Strahlung der Anordnung überlagernde
Fremdstrahlung, die Messung oder Erkennung der Veränderung
selbst dann nicht wesentlich beeinflußt, stört und verfälscht,
wenn die zusätzliche Fremdstrahlung einen wesentlichen oder so
gar weit überwiegenden Anteil gegenüber der zum Messen oder Er
kennen abgestrahlten Strahlung ausmacht.
Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruches 1 gelöst.
Die Strahlung zum Messen oder Erkennen einer Veränderung an ei
nem rückstrahlenden Element durchdringt so im Falle einer Benet
zung einer Außenfläche einer Platte oder Wand sowohl die Platte
oder Wand als auch die die Platte oder Wand benetzende Flüssig
keit ohne wesentliche Dämpfung und ein zunehmend größerer Anteil
von der mit einem zur Senkrechten durch die Platte oder Wand zu
nehmenden Abstrahlungswinkel in die Platte oder Wand emittierten
Strahlung wird von der Grenzfläche der äußeren Oberfläche der
Platte oder Wand reflektiert, bis hin zu einem Grenzwinkel des
Einstrahlwinkels, ab dem an einer optisch einwandfreien Grenz
fläche eine Totalreflexion der eingestrahlten Strahlung an die
ser Oberfläche auftritt.
So entsteht in einer die Platte oder Wand am Ort der Strahlungs
quelle senkrecht durchsetzenden Ebene abhängig von der Rich
tungscharakteristik der Strahlungsstärke der an die Platte oder
Wand angekoppelten Strahlungsquelle und der Dämpfung des Strah
lungsflusses in der Platte oder Wand eine Kurve der Strahlungs
stärke eines aus der inneren Oberfläche der Platte oder Wand, an
die die Strahlungsquelle angekoppelt ist, austretenden Strah
lungsflusses. Diese Strahlungsflußkurve weist zwischen dem An
kopplungsort der Strahlungsquelle und dem Ausstrahlungsbereich
der unter dem Grenzwinkel der total reflektierten Strahlung ein
im allgemeinen breites Maximum auf, wie in Fig. 1 schematisch
dargestellt ist. An diesem Maximum ist die größte Änderung der
Kurve der Strahlungsstärke zu erwarten, wenn die Reflexion der
in der Platte oder Wand übertragenen Strahlung an der benetzba
ren Oberfläche der Platte oder Wand in einem zwischen diesem Ma
ximum und der Ankopplung der Strahlungsquelle an der inneren
Oberfläche liegenden sensoraktiven Bereich der äußeren Oberflä
che der Platte oder Wand durch eine Benetzung verändert wird.
Hierbei verändert sich sowohl die Lage als auch die Höhe dieses
Maximums je nach Art der Benetzung der äußeren Oberfläche der
Platte oder Wand im sensoraktiven Bereich, der im unbenetzten
Zustand im wesentlichen zur Bildung dieses Maximums der Strah
lungsstärke an der inneren Oberfläche der Platte oder Wand bei
trägt. Als eine sowohl die benetzte Platte oder Wand als auch
die Benetzungsflüssigkeit durchfließende Strahlung kommt bei
spielsweise eine Lichtstrahlung im sichtbaren, ultravioletten
oder infraroten Bereich, eine Ultraschallstrahlung oder ggf. ka
pazitive Strahlungen in Frage.
Allerdings muß das strahlungsdurchlässige Medium keine Platte
oder Wand sein. Auch in einem anderen strahlungsdurchlässigen
Medium wie z. B. der Luft kann die Anordnung Veränderungen der
Refelexionsverhältnisse erkennen, sofern nur Meßstrecken zwi
schen der Anordnung, die üblicherweise Strahlungsquelle und
Strahlungsempfänger umfaßt, und einem reflektierenden Element
wie z. B. einem Spiegel oder einer Hand aufgebaut werden können.
Allein rückgestrahltes Streulicht erlaubt der Anordnung ein Er
kennen von Lageänderungen oder das Annähern einer Hand.
Die Anordnung von wenigstens zwei Meßstrecken, gleichgültig ob
zwei Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen einem
Strahlungsempfänger oder ob mehrere Strahlungsempfänger einer
Strahlungsquelle zugeordnet sind, und die Anordnung des Strah
lungsempfängers jeweils in der Zone des ersten Maximums jeder
aus der inneren Oberfläche der Platte oder Wand austretenden
Strahlungsflußverteilung der an die Platte oder Wand angekoppel
ten Strahlungsquelle(n), das abwechselnde und aufeinanderfol
gende Wirksamschalten der Meßstrecken in einer bestimmten umlau
fenden Schaltfolge, das Einstellen der Strahlungsleistung der
Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen auf so
einen Wert, daß das Detektionssignal am Ausgang des Strah
lungsempfängers im Ausgangs- oder Ruhezustand des rückstrahlen
den Elements im Umlauf einer Schaltfolge zum Wirksamschalten der
einzelnen Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen
unverändert ist, und die Art des Verwertens des Unterschiedes
der den einzelnen Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungs
quellen zugeordneten Abschnitten des Detektionssignals bei einer
Veränderung der Reflexionsverhältnisse z. B. durch eine Benetzung
im sensoraktiven Bereich bringt den Vorteil, daß die Anordnung
einen sehr weiten Bereich einer Veränderung z. B. durch Benetzung
der Platte oder Wand detektiert und daß eine unmittelbare
Fremdeinstrahlung auf den Strahlungsempfänger auch dann nahezu
keine Wirkung auf die Auswertung der für die Messung oder Erken
nung ausgesendeten aktiven Strahlung hat, wenn die Intensität
der Fremdeinstrahlung um ein wesentliches Vielfaches größer ist
als die Intensität der aktiven Strahlung, und daß die Fremd
strahlung aufgrund der erfindungsgemäßen Ausbildung der Anord
nung die durch die Änderungen z. B. der Benetzung verursachten
Änderungen der aktiven Strahlung nicht beeinflußt.
Die Sicherheit der Detektion der Veränderung wird dadurch noch
gesteigert, daß eine Schaltfolgefrequenz der Schaltfolge zum ab
wechselnden Wirksamschalten der einem Strahlungsempfänger zuge
ordneten Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen
gewählt wird, die ein wesentliches Vielfaches größer ist als die
schnellste zu erwartende Änderungsfolge einer auf den Strah
lungsempfänger einwirkenden Fremdstrahlung, und daß nur ein De
tektionssignal ausgewertet wird, dessen Änderungsfolge die glei
che Folgefrequenz wie die Schaltfolge aufweist.
Eine Ausbildung gemäß Anspruch 3 mit mehreren Strahlungsquellen,
die einem Strahlungsempfänger zugeordnet sind, hat den Vorteil,
daß z. B. bei der Steuerung von Scheibenwischermotoren an Kraft
fahrzeugen der Einfluß von Fremdlicht, das nur einen Teil der
Meßstrecken beeinträchtigt besser herausgefiltert werden kann,
als wenn z. B. mehrere Strahlungsempfänger nur einer Strahlungs
quelle zugeordnet sind.
Ebenfalls eine Erhöhung der Genauigkeit und Sicherheit des Er
kennens und Messens der Benetzung einer Platte oder Wand wird
durch eine Anordnung gemäß Anspruch 6 erreicht. Da sich bei ei
ner Benetzung des sensoraktiven Bereiches der Platte oder Wand
das erste Maximum nicht nur in der Höhe, sondern auch in der
Entfernung von der zugehörigen Strahlungsquelle ändert, werden
durch die Lageveränderung des Maximus auch kleine Änderungen der
Benetzung deutlicher detektiert.
Nach Anspruch 7 ist im Detektionszweig nach dem Ausgang des
Strahlungsempfängers eine Regelschaltung angeschlossen, deren
Regelzeitkonstante um ein wesentliches Vielfaches größer ist als
eine Schwingungsperiode des Schaltfolgesignales, das die dem
Strahlungsempfänger zugeordneten Strahlungsquellen oder Gruppen
von Strahlungsquellen schaltet. Diese Regelschaltung erzeugt ein
von der Differenz der mittleren Amplituden der den einzelnen
Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen zugeordne
ten Abschnitten des Detektionssignales abhängiges Regelsignal
zur Einstellung der Strahlungsleistung der dem Strahlungsempfän
ger zugeordneten Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungs
quellen, derart, daß die Differenz der mittleren Amplituden der
genannten Abschnitte des Detektionssignals gegen Null geht. Da
durch werden langsamere oder bleibende Änderungen im sensorakti
ven Bereich der Platte oder Wand, die nicht von der Benetzung
verursacht wurden oder die Benetzung nicht betreffen, beim Er
kennen oder Messen der Benetzung nicht berücksichtigt. Dadurch
können Einflüsse infolge von Alterung, Verschmutzung oder Tempe
raturunterschieden leicht eliminiert werden, die bekannten Sy
stemen Probleme bereiten.
Je ausgeprägter das Maximium der Kurve der Strahlungsstärke des
aus der inneren Oberfläche der Platte oder Wand austretenden
Strahlungsflusses einer Strahlungsquelle gestaltet werden kann,
desto genauer und sicherer kann eine Benetzung der Platte oder
Wand festgestellt und gemessen werden. Deshalb ist es besonders
vorteilhaft, die einem Strahlungsempfänger zugeordneten Strah
lungsquellen gemäß Anspruch 8 an die innere Oberfläche der
Platte oder Wand anzukoppeln, selbst wenn eine Messung erst nach
mehreren Reflexionen erfolgt.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in wei
teren Unteransprüchen angegeben.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand vorteilhafter Ausführungs
beispiele näher erläutert. In den zugehörigen Zeichnungen zei
gen:
Fig. 1a einen senkrechten Schnitt durch eine strahlendurchläs
sige Platte oder Wand mit einer angekoppelten Schal
tungsquelle,
Fig. 1b ein Diagramm mit einer die Strahlungsstärke der Rück
strahlung darstellenden Kurve der in Fig. 1a dargestell
ten Anordnung,
Fig. 2 einen Ausschnitt einer benetzbaren Platte oder Wand in
einer Ansicht auf deren innere Oberfläche mit aufge
brachten Strahlungsquellen und einem Strahlungsempfän
ger,
Fig. 3 ein Blockschaltbild einer Anordnung zum Messen oder
Feststellen einer Benetzung mit einer in Fig. 2 darge
stellten Anordnung des sensoraktiven Bereiches einer
Platte oder Wand,
Fig. 4 Diagramme a) bis d) über den zeitlichen Verlauf der
Ausgangssignale des Strahlungsempfängers und des Detek
tionssignales,
Fig. 5 ein Blockschaltbild einer weiteren Anordnung zum Messen
oder Feststellen einer Benetzung einer Platte oder Wand
mit zwei besonders angekoppelten Strahlungsquellen und
einer Regelanordnung,
Fig. 6 ein Diagramm des Verlaufes der Strahlungsstärkekurven
der Rückstrahlung an der inneren Oberfläche der Platte
oder Wand bei einer besonderen Ankoppelung zweier
Strahlungsquellen an diese Oberfläche.
Die Erläuterungen erfolgen am Beispiel einer Anordnung zum Mes
sen und Erkennen einer Benetzung, wenngleich die Anordnung auch
andere nicht durch eine Benetzung hervorgerufenen Veränderungen
der Reflexionsverhältnisse gegenüber einem Ruhe- oder Ausgangs
zustand erkennen kann. Zu denken ist hierbei z. B. an das Erken
nen von Lageänderungen oder an die Annäherung eines ggf. nur
Streulicht zurückstrahlenden Elements, wenn z. B. in Abhängigkeit
der Annäherung einer Hand an ein Schaufenster bestimmte Reaktio
nen auftreten sollen. In den Ausführungsbeispielen ist das
strahlungsdurchlässige Medium eine Platte oder Wand 1, jedoch
können auch andere z. B. körperlose durchstrahlbare Medien einge
setzt werden, bei denen die Veränderungen durch ein den Aufbau
von Meßstrecken ermöglichendes Einführen eines die aktive Strah
lung der Strahlungsquellen rückstrahlenden Mittels in den Strah
lengang der Meßanordnung oder Bewegen im Strahlengang hervorge
rufen sind oder werden.
In Fig. 1a ist eine in einer nicht näher dargestellten Ebene
geschnittene Platte oder Wand 1 in einem Ausschnitt dargestellt.
Die Ebene verläuft senkrecht zur Platte durch eine an die Platte
oder Wand angekoppelte Strahlungsquelle 2, deren Strahlung in
die Platte durch Linien 3 dargestellt ist. Die Strahlungsquelle
ist an die innere Oberfläche 4 der Platte 1 so angekoppelt, daß
die von ihr erzeugte Strahlung 3 ohne wesentliche Verluste ein
fließen kann. Diese Strahlung wird entsprechend den optischen
Gesetzen an der der inneren Oberfläche 4 der Platte gegenüber
liegenden äußeren Oberfläche 5 der Platte 1 zu einem mit zuneh
mendem Einstrahlwinkel a zunehmenden Anteil von der äußeren
Oberfläche reflektiert (reflektierte Strahlung 6) und tritt an
der inneren Oberfläche 4 der Platte oder Wand 1 teilweise wieder
als rückstrahlende Strahlung 7 aus. Der Verlauf der Strahlungs
stärke I dieser Rückstrahlung 7 abhängig vom Abstand x von der
Strahlungsquelle ist als Kurve 8 im Diagramm der Fig. 1b schema
tisch dargestellt. Diese Kurve weist im Abstandsbereich zwischen
der Strahlungsquelle 2 und dem Austritt 9 der Rückstrahlung der
ersten Totalreflexion an der inneren Oberfläche 4 der Platte ein
erstes Maximum 10 auf, das im wesentlichen von der Abstrah
lungscharakteristik der Strahlungsquelle 2 in die Platte 1 ab
hängt. Insofern können in der Signalkurve auch durchaus mehrere
Maxima detektiert und ausgewertet werden. Diese Abstrahlungscha
rakteristik ist in Fig. 1a schematisch als Kurve 11 dargestellt
und kennzeichnet schematisch die winkelabhängige Strahlungs
stärke der Strahlungsquelle in die Platte.
Tritt eine Benetzung der äußeren Oberfläche 5 der Platte oder
Wand in einem besonders empfindlichen Bereich der äußeren Ober
fläche zwischen einer Senkrechten 12 zur Platte am Ort der
Strahlungsquelle und einer Senkrechten 12 m durch die Platte am
Ort xm des ersten Maximums auf, nämlich in dem sensoraktiven Be
reich 14 der Platte oder Wand, in dem von der äußeren Oberfläche
die Rückstrahlung für das erste Maximum 10 reflektiert wird, was
in Fig. 1 durch einen Tropfen 13 in diesem sensoraktiven Bereich
14 schematisch dargestellt ist, wird das optische Reflexions
system an der äußeren Oberfläche im Auflagebereich 15 des Trop
fens 13 derart verändert, daß sich durch die veränderte Refle
xion die Form der Kurve 8 der Strahlungsstärke der Rückstrahlung
7 in die durch die Benetzung geänderte Kurve 8′ und sich die
Lage xm des Maximums 10′ in die neue Lage xm′ des Maximums 10′
der geänderten Kurve 8′ verändert.
Ist im Bereich des ersten Maximums 10 der Strahlungsstärke der
Rückstrahlung 7, beispielsweise im Abstand xe von der Ankoppel
stelle der strahlungsquelle 2 ein Strahlungsempfänger 16, der in
Fig. 1a gestrichelt dargestellt ist, an die innere Oberfläche 4
der Platte oder Wand 1 angekoppelt, empfängt er über die Meß
strecke im unbenetzten Zustand des sensoraktiven Bereiches 14
der Platte eine durch die Kurve 8 gegebene Strahlungsstärke 11
der Rückstrahlung 7, im Falle des benetzten Zustandes des sen
soraktiven Bereiches der Platte eine Strahlungsstärke I 2 der
Strahlungskurve 8′ der durch die Benetzung veränderten Rück
strahlung der Platte. Die Änderung der Strahlungsstärke von I 1
zu I 2 kennzeichnet die Benetzung des sensoraktiven Bereiches 14
der Platte oder Wand 1.
In Fig. 2 ist ein Ausschnitt einer benetzbaren Platte oder Wand 1
in einer Ansicht auf die innere Oberfläche 4 der Platte mit drei
Gruppen 17, 18 und 19 zu je zwei jeweils an die innere Oberflä
che angekoppelten Strahlungsquellen dargestellt, nämlich den
Strahlungsquellen 2.1 (17), 2.2 (17) der ersten Gruppe 17, den
Strahlungsquellen 2.1 (18), 2.2 (18) der zweiten Gruppe 18 und
der Strahlungsquellen 2.1 (19)′ 2.2 (19) der dritten Gruppe 19,
die alle einem gemeinsamen Strahlungsempfänger 16 zugeordnet
sind und die kreisförmig so um den gemeinsamen Strahlungsempfän
ger 16 angeordnet sind, daß der Strahlungsempfänger auf der etwa
ringförmigen Zone 20 des ersten Maximums 10 der Strahlungsstärke
der Rückstrahlung der einzelnen Strahlungsquellen 2.1(17) bis
2.2(19) liegt.
Im dargestellten Ausführungsbeispiel bilden jeweils zwei sich
bezüglich dem Strahlungsempfänger gegenüberliegende Strahlungs
quellen eine Gruppe von zwei Strahlungsquellen. Selbstverständ
lich sind auch andere Anordnungen denkbar, bei denen einer
Strahlungsquelle mehrere kreisförmig um sie herum angeordnete
Strahlungsempfänger angeordnet sind, sofern nur wenigstens zwei
Meßstrecken unabhängig voneinander abgefragt und ausgeregelt
werden können.
Die Wirkungsweise der in Fig. 2 dargestellten Anordnung von drei
Gruppen von Strahlungsquellen um einen zugehörigen Strahlungs
empfänger wird anhand einer in Fig. 3 als Ausführungsbeispiel
dargestellten Schaltungsanordnung näher erläutert. In Fig. 3 ist
ein senkrechter Schnitt eines Ausschnittes aus einer benetzbaren
Platte 1 oder Wand mit den sechs in Fig. 2 schematisch darge
stellten, an die innere Oberfläche 4 der Platte 1 angekoppelten
Strahlungsquellen 2.1(17) bis 2.2(19) und dem zugehörigen, eben
falls an die innere Oberfläche angekoppelten Strahlungsempfänger
16 schematisch dargestellt. Die Strahlungsquellen sind im darge
stellten Ausführungsbeispiel lichtemittierende Dioden, deren ei
ner Anschluß mit dem einen Pol einer Stromquelle 21 verbunden
ist. Der andere Pol der Stromquelle ist mit dem Eingang 22 eines
dreistelligen Folgeschalters 23 verbunden, der den Signaleingang
22 nach jedem Steuerimpuls 24 an seinem Steuereingang 25 mit dem
nächstfolgenden Signalausgang 26.1, 26.2 oder 26.3 verbindet. Im
dargestellten Ausführungsbeispiel, in dem der Signaleingang mit
dem Signalausgang 26.1 verbunden ist, wird der Signaleingang
durch den nächsten Steuerimpuls mit dem darauffolgenden Signal
ausgang 26.2 verbunden. Dadurch werden mit der Schaltfolge der
Schaltfolgefrequenz fa des an den Steuereingang 25 des Folge
schalters 23 angeschlossenen Taktgenerators 30 die Strahlungs
quellengruppen 17, 18 und 19 abwechselnd nacheinander an die
Stromquelle 21 angeschaltet, so daß die Strahlungsquellengruppen
17, 18 und 19 abwechselnd nacheinander bis zum Einschalten der
folgenden Gruppe wirksam geschaltet sind.
Der Verlauf der Strahlung der einzelnen Strahlungsquellengruppen
in der strahlungsdurchlässigen Platte 1 ist in Fig. 3 durch die
unterschiedlich strukturierten Linien 27, 28 und 29 schematisch
angedeutet. Der an der äußeren Oberfläche 5 der Platte reflek
tierte Anteil tritt an der inneren Oberfläche 4 der Platte teil
weise wieder als Rückstrahlung 7 aus. Der in der Zone des ersten
Maximums der Strahlungsstärke der Rückstrahlung an die innere
Oberfläche der Platte 1 angekoppelte Strahlungsempfänger 16, im
dargestellten Ausführungsbeispiel ein Fotoelement, wandelt den
empfangenen Strahlungsfluß in ein elektrisches Ausgangssignal S
16 um, dessen zeitlicher Verlauf 31 über einer Zeitachse t sche
matisch im Diagramm a) der Fig. 4 dargestellt ist und das aus
sich wiederholend aneinandergereihten Signalabschnitten 37, 38,
39 gebildet ist. Diese Signalabschnitte entstehen aus der
Schaltfolge, mit denen die einzelnen Gruppen 17, 18 und 19 der
Strahlungsquellen zur Abstrahlung einer Lichtstrahlung für einen
kurzen Zeitabschnitt Ta, der gleich der Periodenzeit der Takt
frequenz fa des den Folgeschalter 23 steuernden Taktgenerators
30 ist, ein- und wieder ausgeschaltet werden.
An Stellgliedern 32 der Ausgänge 26.1 bis 26.3 des Folgeschal
tens 23 wird die Strahlungsleistung der einzelnen Gruppen 17, 18
und 19 der Strahlungsquellen so eingestellt, daß jede Gruppe von
Strahlungsquellen bei unbenetzter und ungestörter Platte oder
Wand 1 für sich den selben Abgleichwert I 0 des Ausgangssignales
516 des Strahlungsempfängers erzeugt, wie im Diagramm b) der Fig.
4 an einem zeitlichen Verlauf 33 des ungestörten und abgegli
chenen Ausgangssignales S 16 des Strahlungsempfängers 16 schema
tisch dargestellt ist. Wird der sensoraktive Bereich 14 der
Platte 1 beispielsweise durch einen Tropfen 13 benetzt, wie in
Fig. 3 schematisch dargestellt ist, wird die Strahlführung 27,
28, 29 durch diese Benetzung derart verändert, daß die Strah
lungsflußanteile der einzelnen Strahlungsquellengruppen 17, 18
und 19 ihren Anteil an dem abgeglichenen Verlauf 33 des Aus
gangssignales S 16 so verschieben, daß beispielsweise ein im
Diagramm c) der Fig. 4 dargestellter zeitlich ebener Verlauf 34
des Ausgangssignals S 16 des Strahlungsempfängers 16 entsteht.
Dieses Ausgangssignal S 16 gelangt über einen Verstärker 35 und
ein Hochpaßfilter 36 als Detektionssignal SD an den Signalein
gang 40 einer Auswertanordnung 41. Die Grenzfrequenz fp des
Hochpaßfilters 36 ist so bemessen, daß einerseits der Verlauf 34
des aus den einzelnen Abschnitten 37, 38 und 39 des bei einer zu
erkennenden oder zu messenden Benetzung des sensoraktiven Berei
ches der Platte oder Wand 1 gebildeten Ausgangssignales S 16 vom
Filter noch annähernd übertragen wird und daß andererseits
Schwankungen von Fremdstrahlungen auf den Strahlungsempfänger
16, die dieser ebenfalls in elektrische Signale umsetzt, nicht
mehr im Detektionssignal SD wirksam werden. Dieser zeitliche
Verlauf des am Ausgang des Hochpaßfilters 36 gebildete Detek
tionssignales SD ist im Diagramm d) der Fig. 4 in einer dick aus
gezogenen Kurve 42 schematisch dargestellt. Im dargestellten
Ausführungsbeispiel enthält die Auswertanordnung 4 eine nicht
naher dargestellte Schwellwertschaltung, die ein Steuersignal S
41 am Ausgang 41.2 der Auswertanordnung 41 erzeugt, wenn der
Verlauf 42 des Detektionssignals SD einen bestimmten Schwellwert
SW überragt. Dieses nicht näher dargestellte Steuersignal S 41
zeigt eine Benetzung der benetzten Platte 1 oder Wand im sen
soraktiven Bereich 14 der Platte an und kann zur Steuerung von
der Benetzung abhängiger Vorgänge verwendet werden.
In Fig. 5 ist ein Blockschaltbild eines weiteren Ausführungsbei
spiels einer Anordnung zum Messen oder Feststellen einer Benet
zung einer Platte 1 oder Wand dargestellt, das sich von dem in
Fig. 3 dargestellten Ausführungsbeispiel im wesentlichen durch
die Art der Anordnung der Strahlungsquellen im sensoraktiven Be
reich 14 der Platte oder Wand und durch eine zusätzliche Regel
anordnung zur Regelung des Abgleiches der Strahlungsleistung der
Strahlungsquellen unterscheidet.
Die beiden Strahlungsquellen 2.1 und 2.2 sind so an die innere
Oberfläche 4 der Platte 1 angekoppelt, daß der Einstrahlungswin
kel aE der maximalen Strahlungsstärke einer Strahlungsquelle 2.1
oder 2.2 in die Platte oder Wand etwa gleich dem Winkel ist, für
den das erste Maximum 10 der Rückstrahlung 7 aus der inneren
Oberfläche 4 der Platte oder Wand in einer die Platte oder Wand
am Ort der Strahlungsquelle und des zugehörigen, ebenfalls an
die innere Oberfläche angekoppelten Strahlungsempfängers 16
senkrecht durchdringenden Ebene seinen größten Wert erreicht.
Dadurch wird ein ausgeprägteres erstes Maximum 10 der Kurve 8.1
oder 8.2 der Strahlungsstärke der Rückstrahlung 7 der Strah
lungsquellen aus der inneren Oberfläche 4 der Platte oder Wand 1
erreicht, wie mittels der in Fig. 6 dargestellten Kurven 8.1 und
8.2 der Strahlungsstärken I1 für die Rückstrahlung der Strah
lungsquellen 2.1 und 2.2 schematisch veranschaulicht ist. Dar
überhinaus sind die beiden Strahlungsquellen 2.1 und 2.2 mit un
terschiedlichen Abständen x1 und x2 von ihrem zugehörigen Strah
lungsempfänger entfernt, nämlich derart, daß in abgeglichenem
Zustand der beiden Strahlungsquellen und bei unbenetzter Platte
oder Wand der Strahlungsempfänger 16 auf der Rückflanke 43 des
ersten Maximums der Kurve 8.1 der Rückstrahlung der ersten
Strahlungsquelle 2.1 und gleichzeitig auf der Vorderflanke 44
des ersten Maximums der Kurve 8.2 der von der zweiten Strah
lungsquelle 2.2 verursachten Rückstrahlung aus der inneren Ober
fläche 4 der Platte oder Wand 1 liegt.
Mit dieser Anordnung der Strahlungsquellen 2.1 und 2.2 wird es
möglich, eine Benetzung in der Gestalt eines gleichbleibenden
Flüssigkeitsfilms oder einer gleichbleibenden Flüssigkeits
schicht 45, wie sie schematisch auf der äußeren Oberfläche 5 ei
ner Platte oder Wand in Fig. 5 dargestellt ist, festzustellen
oder zu messen. Durch die Benetzung werden die Flanken 43 und 44
der beiden Kurven 8.1 und 8.2 der Strahlungsstärke der Rück
strahlung für die unbenetzte Platte derart verformt und verla
gert, daß der beiden Kurven gemeinsame Abgleichpunkt 46 für das
Ausgangssignal S16 des Strahlungsempfängers in zwei Kurvenpunkte
46.1 und 46.2 mit zwei unterschiedlichen Amplitudenwerte I 46.1
und I 46.2 aufsplittet, wie Fig. 6 veranschaulicht, so daß daraus
ein Signalunterschied des Detektionssignal SD abgeleitet werden
kann, zur Bildung eines Steuer- und/oder Meßsignales S 41.
Bei der in Fig. 5 dargestellten Anordnung ist die Schalteranord
nung zur Steuerung der beiden Strahlungsquellen 2.1 und 2.2 ein
Taktgenerator 30 der an einem nicht invertierenden Ausgang 30.0
und an einem invertierenden Ausgang 30.1 abwechselnd einen
Stromimpuls jeweils zur Anregung der Ausstrahlung der an den
Ausgang angeschlossenen Strahlungsquelle für die Dauer des
Stromimpulses erzeugt. Der eine Ausgang des Stromimpulsgenera
tors 30 enthält zur Einstellung des Stromwertes ein Stromstell
glied 32, das durch ein Stellsignal Sr an seinem Stelleingang 47
verstellbar ist. Die Rückstrahlung dieser beiden Strahlungsquel
len am Ankopplungsort XE (Fig. 6) des Strahlungsempfängers 16
wird von diesem in ein elektrisches Ausgangssignal S 16 gewan
delt, das entsprechend zu der in Fig. 3 dargestellten Anordnung
über einen Verstärker 35 und einen Hoch- oder Bandpaß 36 als De
tektionssignal SD an den Ausgang der Filterschaltung 36 gelangt.
An den Ausgang der Filterschaltung 36 ist eine Signalzentrier
stufe 48 angeschlossen, die die Änderungen des Detektionssigna
les SD am Ausgang der Filterschaltung 36 einer Mittenspannung Uz
aufprägt. Im dargestellten Ausführungsbeispiel enthält die Si
gnalzentrierstrufe 48 einen Synchrondemodulator 49 mit zwei De
modulatorausgängen 49.1 und 49.2, die je einer Strahlungsquelle
zugeordnet sind. Die Zuordnung erfolgt über einen Steuertakt S
30.0 des Stromimpulsgenerators 30, der auch die Abstrahlung der
Strahlungsquellen steuert. Den Demodulatorausgängen 49.1 und
49.2 sind im dargestellten Ausführungsbeispiel Demodulations
wertspeicher 50.1 und 50.2 nachgeschaltet, die den mittleren Am
plitudenwert der von dem Synchrondemodulator 49 abgetasteten,
den beiden Strahlungsquellen zugeordneten Signalabschnitten des
Demodulationssignals SD momentan speichern und auf diese Weise
einen Hüllkurvendemodulator bilden. Aus den momentanen mittleren
Amplitudenwerten der beiden Detektionswertspeicher wird in einem
anschließenden Operationsverstärker 51 der Differenzwert gebil
det und einem Mittenwert aufgeprägt. Dieses so gebildete geglät
tete Detektionssignal SD m, das gegenüber dem Detektionssignal
SD am Ausgang der Filterschaltung 36 wesentlich von Störungen
befreit ist, wird sowohl einer Auswertanordnung 41 als auch ei
ner Regelschaltung 52 mit einer hohen Regelzeitkonstanten Tv zu
geführt. Im dargestellten Ausführungsbeispiel enthält die Regel
schaltung ein Zeitkonstantenglied 53 und einen Vergleicher 54,
der aus dem Vergleich mit einem Referenzsignal Sref ein Stell
signal Sr für den Stelleingang 47 des Stromstellgliedes 32 der
art erzeugt, daß die Strahlungsleistung der mit dem Stromstell
glied geregelten Strahlungsquelle 2.1 so verändert wird, daß der
Unterschied der Detektionsamplitudenwerte am Ausgang der Signal
zentrierstufe 48 gegen Null geht. Die Regelgeschwindigkeit, d. h.
die Regelzeitkonstante Tv der Regelschaltung 52 ist hierbei so
bemessen, daß sie um ein wesentliches Vielfaches größer ist als
die langsamsten noch zu erfassenden Änderungen eines Benetzungs
vorganges. Die Auswertanordnung 41 kann eingangsseitig auch un
mittelbar mit dem Ausgang der beiden Detektionwertspeicher 50.1
und 50.2 verbunden werden, insbesondere dann, wenn mittels der
Auswertanordnung die Benetzung gemessen werden soll.
Falls erwünscht können auch mehrere Strahlungsempfänger, im Bei
spiel Fotodioden, und mehrere Strahlungsquellen, im Beispiel
Leuchtdioden in Reihe geschalten werden, um dadurch die Anzahl
der Meßstrecken und die Zuverlässigkeit der Meßergebnisse zu er
höhen. Z. B. können fünf Leuchtdioden so angeordnet werden, daß
eine zentrisch in der Mitte von vier an den Ecken eines Vierecks
angeordneten Leuchtdioden liegt. Werden hier jeweils zwischen
der mittigen und den außenliegenden Leuchtdioden Fotodioden an
geordnet, ergeben sich 4 voneinander unabhängige Meßanordnungen.
Durch Fortführung dieses Rasters läßt sich diese Anzahl leicht
steigern, falls erhöhte Sicherheitsanforderungen an die Anord
nung gestellt werden.
Die eingangs bereits erwähnte kapazitative Lösung läßt sich
dann z. B. mit Ladungsaufnehmern lösen, die ein Übersprechen er
fassen, das infolge elektromagnetischer Wellen erzeugt ist.
Claims (8)
1. Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Veränderung an
einem oder infolge eines rückstrahlenden Elements, das von
der Anordnung durch ein für eine bestimmte Strahlung
durchlässiges Medium getrennt ist, gekennzeichnet
- - durch einen sensoraktiven Bereich (14) im Medium (Platte oder Wand 1) mit wenigstens zwei Meßstrecken, an die wenig stens eine Strahlungsquelle (2.1, 2.2) oder Gruppe (17, 18, 19) von Strahlungsquellen zum Einstrahlen der be stimmten Strahlung (3) in das strahlungsdurchlässige Medium und wenigstens ein Strahlungsempfänger (16) oder eine Gruppe von Strahlungsempfängern, der oder die im Überlap pungsbereich (Fig. 2) der Zonen (20) eines ersten Maximums (10) des Strahlungsstärkeverlaufs (8) des bei im Ruhezu stand befindlichen sensoraktiven Bereichs aus der dem rück strahlenden Element gegenüberliegenden Seite des Mediums austretenden Rückstrahlung (7) der dem Strahlungsempfänger zugeordneten Strahlungsquelle oder -quellen zur Erzeugung eines der empfangenen Strahlung entsprechenden Detektions signales (SD) angeordnet sind, an der dem rückstrahlenden Element gegenüberliegenden Seite des Mediums angekoppelt sind,
- - durch eine Schalteranordnung (23, 30) zu einem zeitab schnittsweisen Wirksamschalten jeder der einzelnen Meß strecken in einer aufeinanderfolgenden, sich wiederholenden Schaltfolge einer bestimmten Schaltfolgefrequenz (fa),
- - durch eine Einstellanordnung (32) zur Einstellung einer derart bemessenen Strahlungsleistung der einzelnen Strah lungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen, daß bei im Ruhezustand befindlichem sensoraktivem Bereich jede der dem Strahlungsempfänger zugeordnete Strahlungsquelle oder Gruppe von Strahlungsquellen einen Abschnitt (37) des De tektionssignales erzeugt, dessen mittlerer Amplitudenwert gleich dem mittleren Amplitudenwert der den anderen Strah lungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen zugeordne ten Abschnitten (38, 39) des Detektionssignales ist
- - und durch eine dem (den) Strahlungsempfänger(n) nachge schaltete Filterschaltung (36) zur Übertragung des auf eine Schwingung der Schaltfolgefrequenz modulierten Detektions signales (SD) an eine Auswertanordnung (41) zur Erzeugung eines Steuer- und/oder Meßwertsignales (S 41) aus dem in der Auswertanordnung gemessenen oder festgestellten Unter schied der den einzelnen Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen zugeordneten Abschnitten des Detektions signales.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Benetzung an einer
für eine bestimmte Strahlung durchlässigen Platte oder Wand
(1) angeordnet ist, die das strahlungsdurchlässige Medium
ist, und daß das rückstrahlende Element eine benetzbare äußere
Oberfläche (5) der Platte oder Wand (1) ist, wobei durch den
sensoraktiven Bereich (14) in der Platte oder Wand (1) wenig
stens zwei Meßstrecken verlaufen, an die wenigstens eine
Strahlungsquelle (2.1, 2.2) oder Gruppe (17, 18, 19) von Strah
lungsquellen zum Einstrahlen der bestimmten Strahlung (3) in
die Platte oder Wand und wenigstens ein Strahlungsempfänger
(16) oder eine Gruppe von Strahlungsempfängern, der oder die
im Überlappungsbereich (Fig. 2) der Zonen (20) eines ersten
Maximums (10) des Strahlungsstärkeverlaufs (8) des bei im Ru
hezustand unbenetztem sensoraktivem Bereichs aus der inneren
Oberfläche der Platte oder Wand austretenden Rückstrahlung
(7) der dem Strahlungsempfänger zugeordneten Strahlungsquelle
oder -quellen zur Erzeugung eines der empfangenen Strahlung
entsprechenden Detektionssignales (SD) angeordnet sind, an
die der benetzbaren äußeren Oberfläche (5) gegenüberliegende
innere Oberfläche (4) der Platte oder Wand angekoppelt sind.
3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß
die Meßstrecken aus wenigstens zwei Strahlungsquellen (2.1,
2.2) oder Gruppen von Strahlungsquellen (17, 18, 19) und we
nigstens einem Strahlungsempfänger (16) gebildet sind.
4. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Schalteranordnung ein Stromimpulsgenerator (30) mit einem
nichtinvertierenden Ausgang (30.0) und einem invertierenden
Ausgang (30.1) ist und daß in wenigstens einem (30.1) der
Ausgänge ein Stromstellglied (32) zum Einstellen einer be
stimmten Strahlungsleistung der zugehörigen, von dem Ausgang
(30.1) geschalteten Strahlungsquelle (2.1) oder Gruppe von
Strahlungsquellen angeordnet ist.
5. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Filterschaltung ein Hochpaß (36) ist.
6. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch zwei an die
dem rückstrahlenden Element gegenüberliegende Seite des Medi
ums angekoppelte Strahlungsquellen (2.1, 2.2), von denen die
erste Strahlungsquelle (2.1) soweit vom zugehörigen gemeinsa
men Strahlungsempfänger (16) entfernt ist, daß der Strah
lungsempfänger auf der von der Strahlungsquelle abliegenden
Flanke (43) des ersten Maximums (10.1) der bei im Ruhezustand
befindlichem sensoraktivem Bereich (14) von der ersten Strah
lungsquelle an dieser Seite des Mediums erzeugten Strahlungs
stärkekurve (8.1) und die zweite Strahlungsquelle (2.2) so
weit von dem gemeinsamen Strahlungsempfänger entfernt ist,
daß der Strahlungsempfänger auf der der zweiten Strahlungs
quelle zunächst liegenden Flanke (44) des ersten Maximums
(10.2) der bei im Ruhezustand befindlichem sensoraktiven Be
reich von der zweiten Strahlungsquelle an dieser Seite des
Mediums erzeugten Strahlungsstärkekurve (8. 2) liegt.
7. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine dem Aus
gang der Filterschaltung (36) nachgeschaltete, eine Signal
zentrierstufe (48) und einen Regelsignalgenerator (52) ent
haltende Regelanordnung
- - in der die Signalzentrierstufe (48) für jede einem Strah lungsempfänger (16) zugeordnete Strahlungsquelle (2.1, 2.2) oder Gruppe von Strahlungsquellen einen Detektionswertspei cher (50.1, 50.2) zum Speichern des mittleren Amplitudenwer tes jeweils des der Strahlungsquelle (z. B. 2.1) zugeordne ten Signalabschnittes (z. B. 37) des Detektionssignales (SD) enthält,
- - in der die Signalzentrierstufe außerdem eine Tastschaltung (49) zum Abtasten des Amplitudenwertes der der wirksam ge schalteten Strahlungsquelle zugeordneten Signalabschnitte des Detektionssignales und zum Einspeichern des mittleren Amplitudenwertes dieser Signalabschnitte in den zugehörigen Detektionswertspeicher und eine Vergleicheranordnung (51) zur Erzeugung eines Differenzwertes aus den gespeicherten Amplitudenwerten zweier Detektionswertspeicher enthält
- - und in der der Regelsignalgenerator (52) der Signalzen trierstufe nachgeschaltet ist und eine gegenüber der Schwingungsperiode der bestimmten Schaltfolgefrequenz (fa) um ein wesentliches Vielfaches größere Regelzeitkonstante (Tr) für ein im Regelsignalgenerator aus der Differenz der mittleren Amplitudenwerten der den einzelnen Strahlungs quellen oder Gruppen von Strahlungsquellen zugeordneten Signalabschnitten des Detektionssignales erzeugtes Regel signal (Sr) zur Einstellung des (der) Stromstellgliedes (glieder) (32) enthält, welche Einstellung durch das Regel signal derart geführt ist, daß die Differenz der mittleren Amplitudenwerte der Signalabschnitte des Detektionssignales gegen Null geht.
8. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine Ankopp
lung der einem Strahlungsempfänger (16) zugeordneten Strah
lungsquellen (2.1, 2.2) an die innere Oberfläche (4) einer
Platte oder Wand (1) derart, daß der Einstrahlungswinkel (aE)
des Strahles der maximalen Strahlungsstärke (I) einer Strah
lungsquelle (2.1) in die Platte oder Wand etwa gleich dem
Winkel ist, für den das erste Maximum (10) der Rückstrahlung
(7) aus der inneren Oberfläche (4) der Platte oder Wand (1)
in einer die Platte oder Wand am Ort der Strahlungsquelle
(2.1) und des zugehörigen Strahlungsempfängers (16) senkrecht
durchdringenden Ebene seinen größten Wert erreicht.
Priority Applications (17)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4403221A DE4403221A1 (de) | 1993-07-02 | 1994-02-03 | Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Veränderung an einem rückstrahlenden Element |
EP94918294A EP0706648B1 (de) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | Anordnung zum messen oder erkennen einer veränderung an einem rückstrahlenden element |
DE59402089T DE59402089D1 (de) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | Einrichtung zur steuerung einer scheibenwischanlage |
ES94918290T ES2102230T5 (es) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | Dispositivo para controlar un sistema de limpiaparabrisas. |
US08/578,685 US5666037A (en) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | Arrangement for measuring or detecting a change in a retro-reflective element |
PCT/DE1994/000714 WO1995001561A1 (de) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | Anordnung zum messen oder erkennen einer veränderung an einem rückstrahlenden element |
EP94918290A EP0705186B2 (de) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | Einrichtung zur steuerung einer scheibenwischanlage |
KR1019960700006A KR100302088B1 (ko) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | 배면방사요소의 변동검지장치 |
ES94918294T ES2110763T3 (es) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | Dispositivo para la medicion o deteccion de una modificacion en un elemento reflectante. |
PCT/DE1994/000710 WO1995001270A1 (de) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | Einrichtung zur steuerung einer scheibenwischanlage |
AU69683/94A AU6968394A (en) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | Device for controlling a windscreen-washer installation |
JP7503209A JPH09500345A (ja) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | ウィンドワイパー装置の制御装置 |
DE59403980T DE59403980D1 (de) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | Anordnung zum messen oder erkennen einer veränderung an einem rückstrahlenden element |
US08/578,683 US5726547A (en) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | Windshield wiper arrangement including wiper control system |
AU69684/94A AU6968494A (en) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | Arrangement for measuring or detecting a change in a retro-reflective component |
JP50321095A JP3362852B2 (ja) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | 反射要素における変化の測定または識別装置 |
FI956323A FI111103B (fi) | 1993-07-02 | 1995-12-29 | Laite heijastavassa elementissä tapahtuvan muutoksen mittaamiseksi tai havaitsemiseksi |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE9309837U DE9309837U1 (de) | 1993-07-02 | 1993-07-02 | Anordnung zum Messen oder Erkennen der Benetzung einer für eine bestimmte Strahlung durchlässigen Wand oder Platte |
DE4403221A DE4403221A1 (de) | 1993-07-02 | 1994-02-03 | Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Veränderung an einem rückstrahlenden Element |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4403221A1 true DE4403221A1 (de) | 1995-01-12 |
Family
ID=6895106
Family Applications (8)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE9309837U Expired - Lifetime DE9309837U1 (de) | 1993-07-02 | 1993-07-02 | Anordnung zum Messen oder Erkennen der Benetzung einer für eine bestimmte Strahlung durchlässigen Wand oder Platte |
DE4339575A Expired - Lifetime DE4339575C2 (de) | 1993-07-02 | 1993-11-19 | Auswertevorrichtung für Signale, die von einer Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Benetzung einer Fläche ermittelt wurden |
DE4339573A Expired - Lifetime DE4339573C2 (de) | 1993-07-02 | 1993-11-19 | Auswertevorrichtung für Signale, die von einer Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Benetzung einer Fläche ermittelt wurden |
DE4403221A Withdrawn DE4403221A1 (de) | 1993-07-02 | 1994-02-03 | Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Veränderung an einem rückstrahlenden Element |
DE4411770A Expired - Fee Related DE4411770C2 (de) | 1993-07-02 | 1994-04-06 | Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage |
DE4411772A Ceased DE4411772A1 (de) | 1993-07-02 | 1994-04-06 | Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage |
DE4411773A Expired - Fee Related DE4411773C2 (de) | 1993-07-02 | 1994-04-06 | Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage |
DE59402089T Expired - Lifetime DE59402089D1 (de) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | Einrichtung zur steuerung einer scheibenwischanlage |
Family Applications Before (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE9309837U Expired - Lifetime DE9309837U1 (de) | 1993-07-02 | 1993-07-02 | Anordnung zum Messen oder Erkennen der Benetzung einer für eine bestimmte Strahlung durchlässigen Wand oder Platte |
DE4339575A Expired - Lifetime DE4339575C2 (de) | 1993-07-02 | 1993-11-19 | Auswertevorrichtung für Signale, die von einer Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Benetzung einer Fläche ermittelt wurden |
DE4339573A Expired - Lifetime DE4339573C2 (de) | 1993-07-02 | 1993-11-19 | Auswertevorrichtung für Signale, die von einer Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Benetzung einer Fläche ermittelt wurden |
Family Applications After (4)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4411770A Expired - Fee Related DE4411770C2 (de) | 1993-07-02 | 1994-04-06 | Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage |
DE4411772A Ceased DE4411772A1 (de) | 1993-07-02 | 1994-04-06 | Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage |
DE4411773A Expired - Fee Related DE4411773C2 (de) | 1993-07-02 | 1994-04-06 | Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage |
DE59402089T Expired - Lifetime DE59402089D1 (de) | 1993-07-02 | 1994-06-18 | Einrichtung zur steuerung einer scheibenwischanlage |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (8) | DE9309837U1 (de) |
Cited By (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19631059A1 (de) * | 1996-08-01 | 1998-02-05 | Teves Gmbh Alfred | Optische Sensoren mit integriertem Detektor zum Erkennen der Verschmutzung des Lichtaustrittsfensters |
DE19644565A1 (de) * | 1996-10-26 | 1998-04-30 | Teves Gmbh Alfred | Sich bewegende Objekte, feststellende Überwachungseinrichtung, insbesondere für Kraftfahrzeuge |
DE19725287A1 (de) * | 1997-06-14 | 1998-12-17 | Itt Mfg Enterprises Inc | Regensensor mit gebondeten Sensor-Chips |
EP0893318A2 (de) * | 1997-07-22 | 1999-01-27 | Nippon Sheet Glass Co. Ltd. | Transparentes Substrat mit Wassertropfendetektor und Signalauslöseverfahren und Ausgangssignal-Stabilisierungsverfahren dafür |
EP0947402A2 (de) * | 1998-04-03 | 1999-10-06 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Wassersensor |
WO1999052751A1 (de) * | 1998-04-08 | 1999-10-21 | Robert Bosch Gmbh | Sensoreinrichtung zur erfassung einer benetzung auf einer scheibe |
WO1999052752A1 (de) * | 1998-04-08 | 1999-10-21 | Robert Bosch Gmbh | Sensoreinrichtung zur erfassung einer benetzung auf einer scheibe |
EP1014568A2 (de) * | 1998-12-24 | 2000-06-28 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines störungsbehafteten Empfangssignals |
WO2000078582A1 (de) * | 1999-06-18 | 2000-12-28 | Valeo Auto-Electric Wischer Und Motoren Gmbh | Regensensor zur detektion von feuchtigkeitstropfen |
DE10005125A1 (de) * | 2000-02-07 | 2001-08-09 | Valeo Auto Electric Gmbh | Verfahren zum Kalibrieren eines Regensensors |
WO2002081272A1 (de) * | 2001-04-06 | 2002-10-17 | Valeo Systemes D'essuyage | Sensor zur detektion von schmutz und/oder feuchtigkeit auf einer aussenseite einer scheibe |
DE10311800A1 (de) * | 2003-03-12 | 2004-09-23 | Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh | Verfahren zum Betreiben eines Sensors zur Detektion von Störeinflüssen auf einem durchlässigen Körper |
DE10330526A1 (de) * | 2003-07-05 | 2005-01-27 | Hella Kgaa Hueck & Co. | Sensor zur berührungslosen Detektion von Schmutzpartikeln |
DE10340702A1 (de) * | 2003-09-04 | 2005-03-31 | Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh | Verfahren zum Betreiben einer Sensorvorrichtung zur Detektion von Störeinflüssen auf der Außenseite eines optisch durchlässigen Körpers |
DE10351254A1 (de) * | 2003-11-03 | 2005-06-02 | Adc Automotive Distance Control Systems Gmbh | Vorrichtung zur Erfassung von Verschmutzungen auf einer lichtdurchlässigen Abdeckscheibe vor einem optischen Einheit |
DE19904280B4 (de) * | 1999-02-03 | 2005-08-18 | BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH | Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung von Ablagerungen an Glasoberflächen in Spülmaschinen |
DE102005013021A1 (de) * | 2005-03-22 | 2006-09-28 | Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg | Optoelektronische Sensoreinrichtung für ein Kraftfahrzeug |
DE102007004974A1 (de) * | 2007-01-26 | 2008-07-31 | Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh | Sensormodul zur Detektion von Aerosolen und/oder Regentropfen und Betriebsverfahren hierfür |
CN102991463A (zh) * | 2010-11-23 | 2013-03-27 | 江苏日盈电器有限公司 | 车用雨量阳光感应控制系统 |
CN103376243A (zh) * | 2012-04-18 | 2013-10-30 | 原相科技股份有限公司 | 雨刷控制装置、光学雨滴检测装置及其检测方法 |
FR3050889A1 (fr) * | 2016-04-27 | 2017-11-03 | STMicroelectronics (Alps) SAS | Circuit d'emission optique en creneaux |
DE102020212657A1 (de) | 2020-10-07 | 2022-04-07 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | System zum optischen Detektieren von Ablagerungen auf einer Oberfläche und Sensor mit System |
Families Citing this family (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6118383A (en) * | 1993-05-07 | 2000-09-12 | Hegyi; Dennis J. | Multi-function light sensor for vehicle |
DE4339574C2 (de) * | 1993-11-19 | 1999-07-15 | Gerd Reime | Auswertevorrichtung für Signale, die von einer Meßanordnung zum Messen oder Erkennen einer Benetzung einer Fläche ermittelt wurden |
AU6968494A (en) * | 1993-07-02 | 1995-01-24 | Gerd Reime | Arrangement for measuring or detecting a change in a retro-reflective component |
WO1995001270A1 (de) * | 1993-07-02 | 1995-01-12 | Gerd Reime | Einrichtung zur steuerung einer scheibenwischanlage |
DE4339572A1 (de) * | 1993-11-19 | 1995-05-24 | Gerd Reime | Vorrichtung mit einer Meßanordnung |
DE4403982A1 (de) * | 1994-02-07 | 1995-08-10 | Gerd Reime | Schaltungsanordnung zum Empfangen von Lichtsignalen |
DE4431117C2 (de) * | 1994-09-01 | 1997-09-25 | Gerd Reime | Schaltung zum Einstellen des Arbeitspunktes einer Photodiode |
DE19504606C2 (de) * | 1995-02-11 | 1999-01-07 | Kostal Leopold Gmbh & Co Kg | Optoelektronische Einrichtung zur Erfassung von auf der Außenseite einer transparenten Scheibe sich ablagerndem Niederschlag |
US5568027A (en) * | 1995-05-19 | 1996-10-22 | Libbey-Owens-Ford Co. | Smooth rain-responsive wiper control |
DE19519501A1 (de) * | 1995-05-27 | 1996-11-28 | Bosch Gmbh Robert | Vorrichtung zum Betreiben eines Scheibenwischers |
DE19519502A1 (de) * | 1995-05-27 | 1996-11-28 | Bosch Gmbh Robert | Vorrichtung zum Betreiben eines Scheibenwischers |
DE19643465C2 (de) * | 1996-10-22 | 1999-08-05 | Bosch Gmbh Robert | Steuervorrichtung für einen optischen Sensor, insbesondere einen Regensensor |
DE19729103A1 (de) * | 1997-07-08 | 1999-01-14 | Bosch Gmbh Robert | Vorrichtung und Verfahren zum Betreiben eines Regensensors |
DE19748454C2 (de) | 1997-11-03 | 2000-08-17 | Gerd Reime | Einrichtung zur Beeinflussung einer Beleuchtungseinrichtung |
DE19749331A1 (de) * | 1997-11-07 | 1999-05-20 | Kostal Leopold Gmbh & Co Kg | Verfahren zum Detektieren von auf einer Windschutzscheibe befindlichen Objekten sowie Vorrichtung |
DE19801745A1 (de) | 1998-01-20 | 1999-07-22 | Itt Mfg Enterprises Inc | Vorrichtung zur Überwachung des Zustands einer Fensterscheibe |
DE10316107A1 (de) * | 2003-04-09 | 2004-10-21 | Daimlerchrysler Ag | Verfahren zur Auswertung eines Regensensors |
JP4779860B2 (ja) * | 2006-08-03 | 2011-09-28 | 株式会社デンソー | 雨滴量検出装置及びワイパー制御装置 |
DE102008007527B4 (de) | 2008-02-05 | 2018-06-07 | Volkswagen Ag | Scheibenwischeranlage für ein Fahrzeug mit einem Regensensor |
EP2602635B1 (de) | 2011-12-06 | 2014-02-19 | ELMOS Semiconductor AG | Verfahren zur Vermessung einer Übertragungsstrecke mittels kompensierender Amplitudenmessung und Delta-Sigma-Methode sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
EP2631674A1 (de) | 2012-02-23 | 2013-08-28 | ELMOS Semiconductor AG | Verfahren und Sensorsystem zur Vermessung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke eines Messsystems zwischen Sender und Empfänger |
DE102012024597B4 (de) | 2012-12-13 | 2014-07-24 | Elmos Semiconductor Ag | Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem |
DE102013013664B3 (de) * | 2013-08-17 | 2014-08-14 | Elmos Semiconductor Ag | Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem |
EP3124993B1 (de) | 2013-08-22 | 2021-10-06 | Elmos Semiconductor SE | Störkompensierte vorrichtung zur vermessung einer optischen signalübertragungsstrecke |
EP2924460A1 (de) | 2014-03-25 | 2015-09-30 | ELMOS Semiconductor AG | Sensorsystem zur Erkennung mindestens eines Objekts in einer Übertragungsstrecke mittels einer Diode |
DE102015002283B4 (de) | 2014-05-09 | 2023-01-19 | Elmos Semiconductor Se | Vorrichtung zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen und Vermessen von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung und objektabhängiger Ortsauflösung mehrerer verschiedener Einzelscanner |
DE102014017237A1 (de) | 2014-11-21 | 2016-05-25 | Mechaless Systems Gmbh | Messsystem zur energiesparenden optischen Abstandsmessung |
DE102014019172B4 (de) | 2014-12-17 | 2023-12-07 | Elmos Semiconductor Se | Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mit einem kompensierenden optischen Messsystem |
DE102014019773B4 (de) | 2014-12-17 | 2023-12-07 | Elmos Semiconductor Se | Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mittels des Displays eines Mobiltelefons |
DE102015006174B3 (de) * | 2015-05-08 | 2016-08-11 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke |
DE102015015245A1 (de) | 2015-11-18 | 2017-05-18 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Einfache Gestenerkennungsvorrichtung |
DE102015015244A1 (de) | 2015-11-18 | 2017-05-18 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Einfache Gestenerkennungsvorrichtung |
DE102015015389A1 (de) | 2015-11-18 | 2017-05-18 | Elmos Semiconductor Ag | Einfache Gestenerkennungsvorrichtung |
DE102015015390A1 (de) | 2015-11-18 | 2017-05-18 | Elmos Semiconductor Ag | Einfache Gestenerkennungsvorrichtung |
DE102015015246A1 (de) | 2015-11-18 | 2017-05-18 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Einfache Gestenerkennungsvorrichtung |
DE102015015248A1 (de) | 2015-11-18 | 2017-05-18 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Einfache Gestenerkennungsvorrichtung |
DE102017106813B4 (de) | 2016-05-09 | 2018-01-18 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler Sensor-Bänder |
DE102017106811B4 (de) | 2016-05-09 | 2018-01-11 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler LED-Bänder |
DE102017106812B4 (de) | 2016-05-09 | 2018-01-11 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler LED-Sensor-Bänder |
DE102017100308B3 (de) | 2016-12-06 | 2018-05-30 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mit verringerter EMV Empfindlichkeit |
DE102017100305B4 (de) | 2017-01-09 | 2021-08-12 | Elmos Semiconductor Se | Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mittels Mehrfachmodulation |
DE102017100306B4 (de) | 2017-01-09 | 2021-08-12 | Elmos Semiconductor Se | Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mittels Mehrfachmodulation |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2354100B2 (de) * | 1973-10-29 | 1976-10-14 | Karl, Gerhard, Dipl.-Phys., 8701 Frickenhausen | Scheibenverschmutzungsmelder mit einer auf die beschmutzte scheibenflaeche durch die scheibe hindurch licht aussendenden lichtquelle und einem die durch die scheibenverschmutzung verursachten aenderungen des durch die scheibe hindurch remittierten lichts registrierenden lichtmessgeraet und hieran angeschlossenem signalgeber |
DE3314770C2 (de) * | 1983-04-23 | 1987-11-12 | Sidler Gmbh & Co, 7400 Tuebingen, De | |
EP0249031A2 (de) * | 1986-06-07 | 1987-12-16 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung zum optischen Erfassen von Fremdkörpern |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2630470A1 (de) * | 1976-07-07 | 1978-01-12 | Schmidt Karl Heinz | Selbsttaetige steuerung von kraftfahrzeug-scheibenwischanlagen |
DE3140865A1 (de) * | 1981-10-14 | 1983-05-11 | Hans-Wolfgang 8000 München Diesing | Schaltungsanordnung fuer gepulste reflexionslichtschranken |
DE8202355U1 (de) * | 1982-01-30 | 1983-03-31 | Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt | Einrichtung zum erkennen von fremdstoffen auf einer scheibe |
DE3203091C2 (de) * | 1982-01-30 | 1985-06-13 | Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt | Einrichtung zum Steuern der Scheibenreinigungsanlage eines Kraftfahrzeugs |
DE3235590C2 (de) * | 1982-09-25 | 1984-11-22 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 8000 München | Vorrichtung zum optischen Erfassen von Fremdkörpern |
JPS59140146A (ja) * | 1983-01-28 | 1984-08-11 | Jidosha Denki Kogyo Co Ltd | ワイパ間欠駆動制御装置 |
IT212332Z2 (it) * | 1987-07-31 | 1989-07-04 | Veglia Borletti Srl | Dispositivo sensore della presenza di gocce d acqua su un cristallo di un veicolo e apparecchiatura dicomando di un tergicristallo provvista del detto dispositivo |
DE3733762A1 (de) * | 1987-10-06 | 1989-04-20 | Karl Gerhard | Scheibenverschmutzungsmelder |
JP2515765Y2 (ja) * | 1988-04-18 | 1996-10-30 | 愛三工業株式会社 | 電動機 |
DE3935807A1 (de) * | 1989-10-27 | 1991-05-02 | Swf Auto Electric Gmbh | Wischanlage fuer kraftfahrzeuge |
DE9010998U1 (de) * | 1990-03-01 | 1990-10-25 | Sartorius AG, 3400 Göttingen | Komparatorschaltung für Signale einer Lichtschranke |
DE4018903A1 (de) * | 1990-06-13 | 1991-12-19 | Bosch Gmbh Robert | Vorrichtung zum betreiben eines scheibenwischers |
DE4027367C1 (en) * | 1990-08-30 | 1991-07-04 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart, De | Deposit detector for outer surface of pane - uses radiation source and receiver at right angles to pane esp. windscreen to detect rain drops |
DE4102146C1 (en) * | 1991-01-25 | 1991-09-26 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart, De | Rain and dirt sensor for motor vehicle windscreen - uses light source below or at inner side of pane and light measurer at top or outside |
DE4231763C2 (de) * | 1992-09-23 | 1995-07-06 | Kostal Leopold Gmbh & Co Kg | Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage |
-
1993
- 1993-07-02 DE DE9309837U patent/DE9309837U1/de not_active Expired - Lifetime
- 1993-11-19 DE DE4339575A patent/DE4339575C2/de not_active Expired - Lifetime
- 1993-11-19 DE DE4339573A patent/DE4339573C2/de not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-02-03 DE DE4403221A patent/DE4403221A1/de not_active Withdrawn
- 1994-04-06 DE DE4411770A patent/DE4411770C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-04-06 DE DE4411772A patent/DE4411772A1/de not_active Ceased
- 1994-04-06 DE DE4411773A patent/DE4411773C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-06-18 DE DE59402089T patent/DE59402089D1/de not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2354100B2 (de) * | 1973-10-29 | 1976-10-14 | Karl, Gerhard, Dipl.-Phys., 8701 Frickenhausen | Scheibenverschmutzungsmelder mit einer auf die beschmutzte scheibenflaeche durch die scheibe hindurch licht aussendenden lichtquelle und einem die durch die scheibenverschmutzung verursachten aenderungen des durch die scheibe hindurch remittierten lichts registrierenden lichtmessgeraet und hieran angeschlossenem signalgeber |
DE3314770C2 (de) * | 1983-04-23 | 1987-11-12 | Sidler Gmbh & Co, 7400 Tuebingen, De | |
EP0249031A2 (de) * | 1986-06-07 | 1987-12-16 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung zum optischen Erfassen von Fremdkörpern |
Cited By (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19631059A1 (de) * | 1996-08-01 | 1998-02-05 | Teves Gmbh Alfred | Optische Sensoren mit integriertem Detektor zum Erkennen der Verschmutzung des Lichtaustrittsfensters |
DE19644565A1 (de) * | 1996-10-26 | 1998-04-30 | Teves Gmbh Alfred | Sich bewegende Objekte, feststellende Überwachungseinrichtung, insbesondere für Kraftfahrzeuge |
DE19725287A1 (de) * | 1997-06-14 | 1998-12-17 | Itt Mfg Enterprises Inc | Regensensor mit gebondeten Sensor-Chips |
US6526820B1 (en) | 1997-06-14 | 2003-03-04 | Valeo Auto-Electric Wischer Und Motoren Gmbh | Rain sensor with bonded chips |
EP0893318A3 (de) * | 1997-07-22 | 2000-05-03 | Nippon Sheet Glass Co. Ltd. | Transparentes Substrat mit Wassertropfendetektor und Signalauslöseverfahren und Ausgangssignal-Stabilisierungsverfahren dafür |
EP0893318A2 (de) * | 1997-07-22 | 1999-01-27 | Nippon Sheet Glass Co. Ltd. | Transparentes Substrat mit Wassertropfendetektor und Signalauslöseverfahren und Ausgangssignal-Stabilisierungsverfahren dafür |
EP0947402A2 (de) * | 1998-04-03 | 1999-10-06 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Wassersensor |
EP0947402A3 (de) * | 1998-04-03 | 1999-12-01 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Wassersensor |
US6153995A (en) * | 1998-04-03 | 2000-11-28 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Water drop detection sensor |
WO1999052752A1 (de) * | 1998-04-08 | 1999-10-21 | Robert Bosch Gmbh | Sensoreinrichtung zur erfassung einer benetzung auf einer scheibe |
US6433501B2 (en) | 1998-04-08 | 2002-08-13 | Robert Bosch Gmbh | Sensor device for detecting moisture on a window |
US6455866B1 (en) | 1998-04-08 | 2002-09-24 | Robert Bosch Gmbh | Sensor device for detecting moisture on a window |
WO1999052751A1 (de) * | 1998-04-08 | 1999-10-21 | Robert Bosch Gmbh | Sensoreinrichtung zur erfassung einer benetzung auf einer scheibe |
EP1014568A2 (de) * | 1998-12-24 | 2000-06-28 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines störungsbehafteten Empfangssignals |
EP1014568A3 (de) * | 1998-12-24 | 2001-02-28 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines störungsbehafteten Empfangssignals |
DE19904280B4 (de) * | 1999-02-03 | 2005-08-18 | BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH | Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung von Ablagerungen an Glasoberflächen in Spülmaschinen |
WO2000078582A1 (de) * | 1999-06-18 | 2000-12-28 | Valeo Auto-Electric Wischer Und Motoren Gmbh | Regensensor zur detektion von feuchtigkeitstropfen |
US6634225B1 (en) | 1999-06-18 | 2003-10-21 | Valeo Auto-Electric Wischer Und Motoren Gmbh | Rain sensor using low harmonic content signals |
DE10005125A1 (de) * | 2000-02-07 | 2001-08-09 | Valeo Auto Electric Gmbh | Verfahren zum Kalibrieren eines Regensensors |
WO2002081272A1 (de) * | 2001-04-06 | 2002-10-17 | Valeo Systemes D'essuyage | Sensor zur detektion von schmutz und/oder feuchtigkeit auf einer aussenseite einer scheibe |
DE10311800A1 (de) * | 2003-03-12 | 2004-09-23 | Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh | Verfahren zum Betreiben eines Sensors zur Detektion von Störeinflüssen auf einem durchlässigen Körper |
DE10330526A1 (de) * | 2003-07-05 | 2005-01-27 | Hella Kgaa Hueck & Co. | Sensor zur berührungslosen Detektion von Schmutzpartikeln |
DE10340702A1 (de) * | 2003-09-04 | 2005-03-31 | Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh | Verfahren zum Betreiben einer Sensorvorrichtung zur Detektion von Störeinflüssen auf der Außenseite eines optisch durchlässigen Körpers |
DE10351254A1 (de) * | 2003-11-03 | 2005-06-02 | Adc Automotive Distance Control Systems Gmbh | Vorrichtung zur Erfassung von Verschmutzungen auf einer lichtdurchlässigen Abdeckscheibe vor einem optischen Einheit |
DE102005013021A1 (de) * | 2005-03-22 | 2006-09-28 | Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg | Optoelektronische Sensoreinrichtung für ein Kraftfahrzeug |
DE102007004974A1 (de) * | 2007-01-26 | 2008-07-31 | Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh | Sensormodul zur Detektion von Aerosolen und/oder Regentropfen und Betriebsverfahren hierfür |
CN102991463A (zh) * | 2010-11-23 | 2013-03-27 | 江苏日盈电器有限公司 | 车用雨量阳光感应控制系统 |
CN102991463B (zh) * | 2010-11-23 | 2014-11-05 | 江苏日盈电子股份有限公司 | 车用雨量阳光感应控制系统 |
CN103376243A (zh) * | 2012-04-18 | 2013-10-30 | 原相科技股份有限公司 | 雨刷控制装置、光学雨滴检测装置及其检测方法 |
CN103376243B (zh) * | 2012-04-18 | 2015-10-28 | 原相科技股份有限公司 | 雨刷控制装置、光学雨滴检测装置及其检测方法 |
FR3050889A1 (fr) * | 2016-04-27 | 2017-11-03 | STMicroelectronics (Alps) SAS | Circuit d'emission optique en creneaux |
DE102020212657A1 (de) | 2020-10-07 | 2022-04-07 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | System zum optischen Detektieren von Ablagerungen auf einer Oberfläche und Sensor mit System |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4411773C2 (de) | 1997-08-07 |
DE4339573C2 (de) | 1997-06-12 |
DE4411772A1 (de) | 1995-01-12 |
DE4339573A1 (de) | 1995-01-12 |
DE4339575C2 (de) | 1997-06-12 |
DE4411773A1 (de) | 1995-01-12 |
DE4411770C2 (de) | 2001-03-08 |
DE4411770A1 (de) | 1995-01-12 |
DE59402089D1 (de) | 1997-04-17 |
DE4339575A1 (de) | 1995-01-12 |
DE9309837U1 (de) | 1993-09-02 |
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---|---|---|
DE4403221A1 (de) | Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Veränderung an einem rückstrahlenden Element | |
EP0706648B1 (de) | Anordnung zum messen oder erkennen einer veränderung an einem rückstrahlenden element | |
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CH669844A5 (de) | ||
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DE2738575C2 (de) | ||
DE102004031024C5 (de) | Optischer Sensor | |
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EP2520952A2 (de) | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Objektfeststellung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |