INTRODUCCIÓN

El ojo humano tiene un poder de resolución de 0,1 mm;

instrumentos como lupas o microscopios pueden ser usados
para magnificar esa distancia y permitir distinguir detalles
en distancias mucho menores que el valor mencionado.

El microscopio óptico puede magnificar hasta 2000 veces el

tamaño de un objeto y resolver detalles de hasta 0,2 micras.
Este límite se debe a que ningún instrumento puede resolver
detalles más pequeños que la longitud de onda de la
radiación con la que se observa (en este caso, la luz visible
es la longitud de onda más pequeña que el ojo humano
puede detectar y es precisamente de 0,2 micras). MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO
CONVENCIONAL
MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA Las imágenes de un microscopio electrónico se obtienen mediante la
detección, procesamiento y visualización de las señales resultantes de las interacciones
Para poder sobrepasar el límite de resolución de un
entre un haz de electrones de alta energía con la materia. Estas interacciones pueden
microscopio óptico es necesario diseñar instrumentos que proporcionar información sobre topografía, composición y estructura cristalográfica.
utilicen otras radiaciones diferentes a la luz visible para
formar la imagen. FORMACIÓN DE IMÁGENES
MECANISMO
En la década de 1920 diversos descubrimientos • Cuenta con un cañón electrónico en una En un MEB, la imagen se obtiene a partir de
comprobaron que un haz de electrones acelerados en el columna de alto vacío en la cuál se las señales emitidas por la muestra y se va
vacío, además de recorrer trayectorias rectas, se comportaba genera un haz de electrones. formando a medida que el haz de
también como una onda similar a la luz visible caracterizada • Dicho haz está colimado por una serie electrones se desplaza sobre una porción
por una longitud de onda 100.000 veces más pequeña. de lentes y focalizado sobre la muestra de su superficie. Este barrido se realiza
analizada. línea por línea sobre una pequeña zona de
• Los detectores registran la señal de forma rectangular. La cual se visualiza
Si bien estos microscopios comenzaron a desarrollarse interacción entre el haz y la muestra, amplificada en la imagen final.
comercialmente alrededor de 1960, su performance y para procesarlos y visualizarlos en el
facilidad de operación fue mejorando continuamente. Un monitor. A diferencia de una imagen óptica, el
instrumento moderno permite observar muestras con una • La cámara con cierre de vacío contiene microscopio electrónico de barrido no
resolución de unos 4 nanómetros con magnificaciones de la platina donde se ubica la muestra; forma una imagen real del objeto sino que
hasta 300.000x. unos controles externos permiten construye una imagen virtual a partir de
desplazarla en los ejes xyz y variar la alguna de las señales emitidas por la
orientación. muestra.
MICROANÁLISIS DISPERSIVO
EN ENERGÍASDE RAYOS X DIÁMETRO DEL HAZ MUESTRA
El análisis de los rayos X característicos emitidos por una El diámetro de este haz de electrones es La composición de la muestra afecta tanto
muestra alcanzada por el haz de electrones de alta energía uno de los factores que determina la la profundidad como la forma del volumen
de un microscopio electrónico de barrido o una microsonda resolución final de la imagen. de interacción. Muestras más densas o
electrónica permite la identificación de los elementos que La resolución es el parámetro que define la compuestas por elementos pesados
componen dicha muestra. calidad de todo microscopio y se puede tienden a reducir la penetración del haz y
definir como la dimensión más pequeña reducir además la distancia que pueden
En el caso del Microanálisis Dispersivo en Energía, los rayos que puede detectar. atravesar las señales generadas sin ser
X característicos emitidos por la muestra son detectados por Se especifica en unidades de dimensión, reabsorbidas por la muestra.
un sistema que produce pulsos de altura proporcional a la nanómetros (nm) o unidades Ángstrom (Å) Además, las muestras deben ser limpias,
energía de cada fotón incidente. Estos pulsos electrónicos (1 Å = 0,1 nm). Una mejor (más alta) secas, resistentes al alto vacío del
son luego procesados por un analizador multicanal, y resolución corresponde a un valor menor instrumento y buenas conductoras
finalmente visualizados en un espectro que grafica la de esa dimensión eléctricas.
cantidad de pulsos en función de la energía característica de
cada pulso. De esta manera, se pueden identificar
rápidamente los elementos presentes en una muestra SEÑALES
si su concentración es superior a 1 %.
Como resultado de la interacción entre los electrones del haz incidente y los átomos de
la muestra se originan electrones que salen de la superficie y pueden ser detectados
GLOSARIO para formar una señal. Según su energía, se agrupan en retrodifundidos y secundarios

ABERRACIÓN: Imperfección de una lente o un sistema

RETRODIFUNDIDOS SECUNDARIOS
óptico consistente en la falta de una total correspondencia
Solo pueden escapar del sólido si están Provienen de un área equivalente a la
entre el objeto real y la imagen que de él se percibe.
muy cerca de la superficie, por lo que cubierta por el haz de excitación, por lo
provienen de un volumen mucho menor que son los más importantes cuando se
HAZ: Conjunto de rayos luminosos de un mismo origen. que el volumen de interacción. requiere de resolución en la imagen.

ADOSAR: Poner una cosa contigua a otra en la que se apoya

por la espalda o por los lados. REFERENCIAS
Haz. (s. f.). En Oxford (? ed.). Oxford University Press. Recuperado 25 de noviembre de 2021, de https://www.lexico.com/es/definicion/haz
Aberración. (s. f.). En Oxford (? ed.). Oxford University Press. Recuperado 25 de noviembre de 2021, de https://www.lexico.com/es/definicion/aberracion
ANÁLOGA: Que tiene analogía o similitud con una cosa. Adosar. (s. f.). En Oxford (? ed.). Oxford University Press. Recuperado 25 de noviembre de 2021, de https://www.lexico.com/es/definicion/adosar
Análogo. (s. f.). En Oxford (? ed.). Oxford University Press. Recuperado 25 de noviembre de 2021, de https://www.lexico.com/es/definicion/analogo

Ipohorski, M., & Bozzano, P. B. (2013). MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO EN LA CARACTERIZACIÓN DE

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