Beschreibung
Verfahren zum Erzeugen einer Lumineszenzkonversionsstoff- schicht, Zusammensetzung hierfür und Bauelement umfassend eine solche LumineszenzkonversionsstoffSchicht
Diese Patentanmeldung beansprucht die Priorität der deutschen Patentanmeldung 10 2010 054 280.6, deren Offenbarungsgehalt hiermit durch Rückbezug aufgenommen wird.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erzeugen einer
Lumineszenzkonversionsstoffschicht , eine Zusammensetzung, die in dem Verfahren verwendet wird, sowie ein Bauelement
umfassend eine solche Lumineszenzkonversionsstoffschicht .
In Strahlung emittierenden Bauelementen werden häufig
Lumineszenzkonversionsstoffe verwendet, um die von einer Strahlungsquelle emittierte Strahlung teilweise in eine
Strahlung mit einer geänderten Wellenlänge zu konvertieren. Bei einem Strahlung emittierenden Bauelement sind in der Regel ein gleichmäßiger Farbeindruck der emittierten
Strahlung und eine hohe Effizienz wünschenswert, weswegen dem Einbringen des Lumineszenzkonversionsstoffs in das Bauelement eine besondere Bedeutung zukommt.
Eine zu lösende Aufgabe der Erfindung besteht daher darin, ein Verfahren zum Erzeugen einer Lumineszenzkonversionsstoff- schicht mit verbesserten Eigenschaften anzugeben.
Weitere Aufgaben sind es, eine Zusammensetzung, die in einem solchen Verfahren verwendet wird, sowie ein Bauelement, das eine solche Lumineszenzkonversionsstoffschicht mit
verbesserten Eigenschaften umfasst, anzugeben.
Zumindest eine dieser Aufgaben wird durch das Verfahren, die Zusammensetzung und das Bauelement nach zumindest einer Aus¬ führungsform der Erfindung gelöst. Es wird ein Verfahren zum Erzeugen einer LumineszenzkonversionsstoffSchicht auf einem Substrat mit einem im
Betrieb eine Primärstrahlung emittierenden Halbleiterelement angegeben, das folgende Verfahrensschritte umfasst:
(a) Bereitstellen des Substrates;
(b) Bereitstellen einer Zusammensetzung, die einen
Lumineszenzkonversionsstoff, ein Matrixmaterial und ein
Lösungsmittel umfasst;
(c) Aufbringen der Zusammensetzung auf das Substrat;
(d) Entfernen zumindest eines Teils des Lösungsmittels, sodass die LumineszenzkonversionsstoffSchicht auf dem
Substrat ausgebildet wird.
Insbesondere die Verfahrensschritte (a) und (b) können in beliebiger Reihenfolge oder auch gleichzeitig durchgeführt werden. Die Verfahrensschritte (c) und (d) können
gegebenenfalls zeitgleich erfolgen, meistens jedoch
nacheinander. Das im Betrieb eine Primärstrahlung
emittierende Halbleiterelement wird im Folgenden auch als das "Halbleiterelement" bezeichnet .
Die LumineszenzkonversionsstoffSchicht kann zumindest
teilweise durch Sedimentation also Absinken des Lumineszenzkonversionsstoffs ausgebildet werden. Dazu kann zwischen dem Aufbringen der Zusammensetzung und dem eigentlichen Entfernen des Lösungsmittels etwas Zeit verstreichen. Das Entfernen des Lösungsmittels im Verfahrensschritt (d) und/oder die Zugabe der Zusammensetzung im Verfahrensschritt (c) können auch so durchgeführt werden, dass der Lumineszenzkonversionsstoff
zumindest teilweise währenddessen sedimentieren kann. Der Lumineszenzkonversionsstoff kann in Gegenwart des Lösungs¬ mittels und des Matrixmaterials sedimentieren, auch wenn bereits mehr Matrixmaterial als Lösungsmittel vorliegt.
Beim Aufbringen der Zusammensetzung im Verfahrensschritt (c) und/oder beim Ausbilden der Lumineszenzkonversionsstoff- schicht im Verfahrensschritt (d) können turbulente Strömungen vermieden werden, wodurch die Lumineszenzkonversionsstoff- schicht mit verbesserter Gleichmäßigkeit auf dem Substrat ausgebildet werden kann. Dies wird durch das Lösungsmittel in der Zusammensetzung im Vergleich zu herkömmlichen
Zusammensetzungen ohne Lösungsmittel erleichtert. Daher kann beispielsweise auf ein Erwärmen der Zusammensetzung auf eine Temperatur über der Umgebungstemperatur, beispielsweise über 25°C, zum Aufbringen verzichtet werden, wodurch das Verfahren vereinfacht wird.
Die Gleichmäßigkeit kann beurteilt werden, indem Schliffe durch die Schicht und das Substrat oder Teile des Substrats, zum Beispiel im Querschnitt, angefertigt und dann mit einem Mikroskop oder einem Rasterelektronenmikroskop (REM) analy¬ siert werden. Dadurch können zum Beispiel der Grad und der Gradient der Lumineszenzkonversionsstoffabsenkung, die Dichte der Leuchtstoffschicht und Dichtegradienten bestimmt werden.
Die im Verfahrensschritt (d) ausgebildete Lumineszenz¬ konversionsstoffschicht kann insbesondere auf dem Substrat beziehungsweise auf der Schicht auf der sie unmittelbar erzeugt wird eine gute Haftung aufweisen, sodass weder ein Klebstoff noch eine Klebeschicht benötigt werden. Hierdurch können ein Arbeitsschritt zum Aufbringen des Klebestoffs sowie natürlich der Klebstoff an sich eingespart werden.
Vorteilhafterweise wird dadurch auch die Abstrahlcharakteristik und die Farbhomogenität eines Strahlung
emittierenden Bauelements mit einer solchen LumineszenzkonversionsstoffSchicht verbessert, da im Gegensatz zu einem herkömmlichen Bauelement nicht eine transparente Klebeschicht ungewollt als Lichtleiter fungieren kann, durch die
unkonvertierte Primärstrahlung auskoppelt werden könnte.
Im Betrieb emittiert das Halbleiterelement eine Primär¬ strahlung mit einer ersten Wellenlänge, wobei die erste
Wellenlänge das Spektrum der Primärstrahlung angibt. Der Lumineszenzkonversionsstoff konvertiert die Primärstrahlung zumindest teilweise in eine Sekundärstrahlung mit einer zweiten, längeren Wellenlänge. Die zweite Wellenlänge gibt das Spektrum der Sekundärstrahlung an.
Die Wahl der Halbleitermaterialien ist erfindungsgemäß nicht begrenzt. Insbesondere können Halbleitermaterialien verwendet werden, die eine Primärstrahlung im sichtbaren Bereich des Spektrums (420 bis 780 nm Wellenlänge) oder im UV-Bereich (200 bis 420 nm Wellenlänge) emittieren.
Die Wahl des Lumineszenzkonversionsstoffs ist erfindungsgemäß nicht begrenzt. Beispiele für derartige Lumineszenzkonver¬ sionsstoffe und Lumineszenzkonversionsstoffmischungen sind:
- Chlorosilikate, wie beispielsweise in DE 10036940 und dem dort beschriebenen Stand der Technik offenbart,
- Orthosilikate, Sulfide, Thiometalle und Vanadate wie beispielsweise in WO 2000/33390 und dem dort beschriebenen Stand der Technik offenbart,
- Aluminate, Oxide, Halophosphate, wie beispielsweise in US 6616862 und dem dort beschriebenen Stand der Technik
offenbart,
- Nitride, Sione und Sialone wie beispielsweise in DE
10147040 und dem dort beschriebenen Stand der Technik offenbart, und
- Granate der Seltenen Erden wie YAG:Ce und der Erdalkali¬ elemente wie beispielsweise in US 2004-062699 und dem dort beschriebenen Stand der Technik offenbart.
Der Lumineszenzkonversionsstoff kann auch eine Kombination von unterschiedlichen Lumineszenzkonversionsstoffen sein. Der Lumineszenzkonversionsstoff kann in Partikeln vorliegen, die beispielsweise sphärisch, plättchenförmig, polyedrisch, amorph, eine beliebige andere definierte Form und/oder
Kombinationen dieser Formen aufweisen können. Diese Partikel bestehen zumindest teilweise aus dem Lumineszenzkonversions¬ stoff. Der Offenbarungsgehalt der Referenzen wird insofern hiermit durch Rückbezug aufgenommen.
Die LumineszenzkonversionsstoffSchicht kann sich insbesondere gleichmäßig auf dem Substrat und im Strahlengang der Primärstrahlung ausbilden. Dadurch kann insgesamt die Gleichmäßigkeit der Abstrahlung und des Farbeindrucks der emittieren Strahlung eines Bauelementes verbessert werden. Als
"Strahlung" wird in diesem Zusammenhang die Überlagerung sämtlicher im Betrieb emittierter Strahlungen verstanden, also beispielsweise die Überlagerung von Primärstrahlung und Sekundärstrahlung. Die emittierte Strahlung kann einen beliebigen Farbeindruck im CIE-Diagramm, beispielsweise einen weißen Farbeindruck, aufweisen.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form können die Verfahrensschritte (c) und (d) mehrfach hintereinander durchgeführt werden. Es können auch die Verfahrensschritte (b) , (c) und (d) mehrfach hintereinander durchgeführt werden, wobei auch
unterschiedliche Zusammensetzungen, zum Beispiel mit
unterschiedlichen Lumineszenzkonversionsstoffen, verwendet werden können. Hierdurch ist es möglich, den Farbeindruck der emittierten Strahlung besonders fein einzustellen.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form wird im Verfahrensschritt (c) die Zusammensetzung in eine Ausnehmung des
Substrats aufgebracht. Das Halbleiterelement kann insbeson¬ dere in der Ausnehmung angeordnet sein und/oder einen Boden der Ausbildung ausbilden.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form weist die im Verfahrensschritt (c) aufgebrachte Zusammensetzung einen Meniskus auf. Ein solcher Meniskus kann beispielsweise durch Wechsel¬ wirkungen, zum Beispiel Adhäsionseffekte, der Zusammensetzung mit den Seitenwänden einer Ausnehmung gebildet werden. Daher kann auch die ausgebildete LumineszenzkonversionsstoffSchicht einen leicht konkaven Rand aufweisen. Dies kann beispielsweise anhand von Schliffen durch das Substrat mit der
LumineszenzkonversionsstoffSchicht und anschließender
Auswertung mittels eines Mikroskops nachgewiesen werden.
Ein solcher Meniskus kann mitunter nur schwach ausgebildet sein, wenn die LumineszenzkonversionsstoffSchicht eine sehr hohe Dichte aufweist. Es sind durchaus auch Aus führungs formen denkbar in denen kein Meniskus nachgewiesen werden kann, zum Beispiel wenn die LumineszenzkonversionsstoffSchicht nur wenig Matrixmaterial aufweist.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form wird im Verfahrens- schritt (c ) die Zusammensetzung unmittelbar auf das
Halbleiterelement aufgebracht.
Dass eine erste Schicht, ein erster Bereich oder eine erste Vorrichtung "auf" einer zweiten Schicht, einem zweiten
Bereich oder einer zweiten Vorrichtung angeordnet oder aufgebracht ist, kann dabei in dieser Anmeldung bedeuten, dass die erste Schicht, der erste Bereich oder die erste Vorrichtung unmittelbar in direktem mechanischen und/oder elektrischen Kontakt auf der zweiten Schicht, dem zweiten Bereich oder der zweiten Vorrichtung beziehungsweise zu den zwei weiteren Schichten, Bereichen oder Vorrichtungen
angeordnet oder aufgebracht ist. Weiterhin kann auch ein mittelbarer Kontakt bezeichnet sein, bei dem weitere
Schichten, Bereiche und/oder Vorrichtungen zwischen der ersten Schicht, dem ersten Bereich oder der ersten
Vorrichtung und der zweiten Schicht, dem zweiten Bereich oder der zweiten Vorrichtung beziehungsweise den zwei weiteren Schichten, Bereichen oder Vorrichtungen angeordnet sind.
Die LumineszenzkonversionsstoffSchicht kann sich somit auch unmittelbar auf dem Halbleiterelement ausbilden. Dabei weist die Lumineszenzkonversionsstoffschicht insbesondere eine gute Haftung auf der Oberfläche des Halbleiterelementes auf, sodass auf den Einsatz von Klebstoffen verzichtet werden kann. Die Lumineszenzkonversionsstoffschicht kann
formschlüssig und/oder kraftschlüssig und/oder stoffschlüssig mit dem Halbleiterelement verbunden sein, was insbesondere über das Matrixmaterial geschieht. Die Lumineszenz¬ konversionsstoffschicht kann die exponierten Flächen des Halbleiterelements gleichmäßig bedecken, wodurch die bereits beschriebenen Vorteile erhalten werden.
Da die exponierten Flächen des Halbleiterelementes gleich¬ mäßiger mit Lumineszenzkonversionstoff als nach dem Stand der Technik bedeckt sind, werden Stellen oder Flächen mit unzu-
reichender Konversion der Primärstrahlung verkleinert oder ganz vermieden. Daher kann im Vergleich zu herkömmlichen Bauelementen, in denen beispielsweise ein Lumineszenzkonversionsstoffelement mit einer Klebeschicht auf einem Halbleiterelement angeordnet ist, die Strahlung gleichmäßiger abgegeben werden. Im Gegensatz dazu kann eine solche Klebeschicht wie ein Lichtleiter wirken und Strahlung auskoppeln. Diese ist dann jedoch nur unzureichend oder gar nicht
konvertiert, wodurch ein ungleichmäßiger Farbeindruck der abgegeben Strahlung entsteht (sogenanntes blue-piping) .
Wenn die LumineszenzkonversionsstoffSchicht unmittelbar auf dem Halbleiterelement ausgebildet wird, kann die durch
Strahlungskonversion erzeugte Wärme besser über das Halbleiterelement abgegeben und abgeführt werden, als dies bei einer herkömmlichen Anordnung mit einer Klebeschicht zwischen Halbleiterelement und Lumineszenzkonversionsstoffelement der Fall ist. Hierdurch kann die Konversionseffizienz des Lumineszenzkonversionsstoffs verbessert werden, da dieser in der Regel bei niedrigen Temperaturen eine höhere Effizienz aufweist als bei höheren Temperaturen. Dadurch kann das Halbleiterelement beispielsweise bei höheren Strömen betrieben werden.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form weist das Halbleiterelement in dem im Verfahrensschritt (a) bereitgestellten Substrat an seinen lateralen Flächen ein reflektierendes Material auf. Dadurch kann lediglich eine Hauptfläche des Halbleiterelementes exponiert sein, sodass die im Verfahrens¬ schritt (d) ausgebildete LumineszenzkonversionsstoffSchicht nur auf dieser Hauptfläche erzeugt wird. Somit wird die
Primärstrahlung nur oder zumindest hauptsächlich durch diese Hauptfläche des Halbleiterelementes emittiert, was zu einer
nochmals verbesserten Farbkonstanz und gleichmäßigeren Ab- strahlung führen kann.
Als reflektierende Materialien können beispielsweise Ti02, Zr02, A1203, Glas, Si02-Partikel und Kombinationen dieser Materialien verwendet werden. Diese Materialien können entweder direkt oder beispielsweise in einer Matrix aus einem Glas oder einem Polymermaterial angeordnet sein.
Beispielsweise kann das Halbleiterelement wie bereits ausge¬ führt in einer Ausnehmung des Substrates angeordnet sein, und mit dem reflektierende Material eine ebene Fläche erzeugt werden, die die Hauptfläche des Halbleiterelementes umfasst. Hierdurch kann die LumineszenzkonversionsstoffSchicht mit verbesserter Gleichmäßigkeit ausgebildet werden.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form weist das im Verfahrensschritt (a) bereitgestellte Substrat eine Ausnehmung auf, deren laterale Begrenzungen Strukturen ausbilden, die einen Photolack umfassen oder daraus bestehen. Die Zusammensetzung kann im Verfahrensschritt (c) in diese Ausnehmung aufgebracht werden. Die lateralen Begrenzungen können so ausgeformt sein, dass der Boden der Ausnehmung zumindest teilweise von dem Halbleiterelement beziehungsweise einer Hauptfläche des Halb¬ leiterelementes ausgebildet wird. Hierdurch wird insbesondere eine gleichmäßige Ausbildung der Lumineszenzkonversionsstoff- schicht unmittelbar auf dem Halbleiterelement ermöglicht.
Gemäß einer Weiterbildung dieser Aus führungs form werden in einem weiteren Verfahrensschritt (e) die Strukturen, die einen Photolack umfassen, entfernt. Dies kann durch
Bestrahlen, zum Beispiel mit UV-Strahlung, geschehen, sodass der Photolack im Anschluss, beispielsweise mit einem
Lösungsmittel, leicht entfernt werden kann. Die Bereiche, in denen der Photolack entfernt wurde, weisen wenig oder gar keine Rückstände der Zusammensetzung beziehungsweise der Lumineszenzkonversionsstoffschicht auf, sodass in diesen Bereichen das Halbleiterelement gut geteilt werden kann.
Beispielsweise können so aus dem Halbleiterelement Chips hergestellt werden, die auf einer Hauptfläche eine
Lumineszenzkonversionsstoffschicht nach zumindest einer
Aus führungs form der Erfindung aufweisen. Insbesondere können so mehrere solche Halbleiterchips, die im Betrieb Strahlung mit einem gewünschten, zum Beispiel weißen, Farbeindruck abstrahlen, parallel hergestellt werden. Beispielsweise können diese Halbleiterchips in Bauelementen verwendet werden, sodass auf einen weiteren Schritt zum Aufbringen von Lumineszenzkonversionsstoffen verzichtet werden kann, wodurch die Herstellung der Bauelemente vereinfacht wird und die Produktionskosten gesenkt werden.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form wird im Verfahrensschritt (d) aus dem Halbleiterelement und der Lumineszenz¬ konversionsstoffschicht ein mit einem weißen Farbeindruck emittierender Halbleiterchip erhalten. Mehrere solche mit einem weißen Farbeindruck emittierende Halbleiterchips können auch parallel erzeugt werden, wie es zuvor beschrieben wurde.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form weist die Zusammensetzung im Verfahrensschritt (c) beim Aufbringen eine
Viskosität von < 1 Pa*s auf. Die Zusammensetzung kann beim Aufbringen im Verfahrensschritt (c) eine Viskosität von < 100 mPa*s und insbesondere von < 50 mPa*s, beispielsweise < 20 mPa*s, aufweisen. Die Viskosität gibt hier die dynamische
Viskosität der Zusammensetzung an und wird mit einem
Rheometer bestimmt.
Durch die niedrige Viskosität der Zusammensetzung werden die Flächen, auf denen die Zusammensetzung aufgebracht wird, gleichmäßig benetzt. Insbesondere werden dadurch (kleinere) Unebenheiten ausgeglichen. Die niedrige Viskosität äußert sich auch in einer geringen Oberflächenspannung der Zusammensetzung. Ein weiterer Vorteil ist, dass eine Sedimentation des Lumineszenzkonversionsstoffs beziehungsweise der
Partikel, die den Lumineszenzkonversionsstoff enthalten oder daraus bestehen, besonders gleichmäßig erfolgt und im
Regelfall auch im nennenswerten Umfang erfolgen kann.
Hierdurch wird im Verfahrensschritt (d) eine besonders gleichmäßige LumineszenzkonversionsstoffSchicht auf dem
Substrat ausgebildet. Des Weiteren kann eine solche
Zusammensetzung gut gehandhabt und dosiert werden.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form ist die im Verfahrensschritt (b) bereitgestellte Zusammensetzung so ausgebildet, dass diese über einen nadeiförmigen Auslass mit einem
Öffnungsdurchmesser von < 1 mm, insbesondere 0,1 bis 0,5 mm, aufbringbar ist.
Eine Erniedrigung der Viskosität kann neben der Wahl der Komponenten der Zusammensetzung auch dadurch erreicht werden, indem während oder vor Verfahrensschritt (c) die
Zusammensetzung erwärmt wird. Zudem oder alternativ dazu kann die Zusammensetzung gerührt, geschüttelt und/oder durch eine Nadel gepresst werden, wodurch die Zusammensetzung geschert wird. Aufgrund der Scherung nimmt die Viskosität ab.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form wird im Verfahrensschritt (d) eine LumineszenzkonversionsstoffSchicht
ausgebildet, die eine Schichtdicke von < 60 μπι, insbesondere von < 50 μπι und oft von < 40 μπι aufweist. Das heißt, die ausgebildete LumineszenzkonversionsstoffSchicht weist in der Regel eine geringere Schichtdicke auf, als dies bei herkömm¬ lichen Lumineszenzkonversionsstoffelementen der Fall ist, di in der Regel Schichtdicken von > 80 μπι aufweisen. Somit lassen sich mit der anmeldungsgemäßen Lumineszenzkonversions stoffschicht auch kleinere Bauelemente beziehungsweise
Bauelemente mit geringerer Höhe realisieren, und es kann die Wärmeabfuhr über dem Halbleiterelement verbessert werden.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form wird im Verfahrensschritt (d) eine LumineszenzkonversionsstoffSchicht
ausgebildet, die einen Gehalt an Lumineszenzkonversionsstoff von > 50 Gew-% aufweist (Gew-% = Gewichtsprozent) . Der Gehalt an Lumineszenzkonversionsstoff kann > 75 Gew-% und insbe¬ sondere > 85 Gew-%, beispielsweise 90 Gew-%, sein. Die Angabe bezieht sich auf die vollständige Masse der Lumineszenz¬ konversionsstoffschicht . Die Lumineszenzkonversionsstoff- schicht kann auch bei einem hohen Gehalt an Lumineszenzkonversionsstoff gut auf dem Substrat beziehungsweise auf dem Halbleiterelement anhaften. Insbesondere werden die
Materialien so gewählt, dass unabhängig von dem konkreten Gehalt in Gew-% eine Lumineszenzkonversionsstoffschicht ausgebildet wird, die > 35 Vol-%, insbesondere > 45 Vol-%, zum Beispiel 50 Vol-%, Lumineszenzkonversionsstoff aufweist (Vol-% = Volumenprozent) .
Vorteile einer solch hohen Lumineszenzkonversionsstoff- konzentration sind beispielsweise eine gute Wärmeleitfähig-
keit. Dadurch können die abgestrahlte Wärme des Halbleiter¬ elements und insbesondere die durch Konversion gebildete Wärme besser von der LumineszenzkonversionsstoffSchicht abgeführt werden. Eine verbesserte Wärmeabfuhr führt auch zu einer höheren Konversionseffizienz. Zudem wird auch die
Farbhomogenität der von einem Bauelement abgestrahlten
Strahlung erhöht.
Da die für die Herstellung der Lumineszenzkonversionsstoff- schicht verwendete Zusammensetzung ein Lösungsmittel enthält, kann der Lumineszenzkonversionsstoff nach zumindest teilwei¬ sen Entfernen des Lösungsmittels in höheren Konzentrationen in der LumineszenzkonversionsstoffSchicht vorliegen, als dies bei herkömmlichen Schichten oder Elementen der Fall ist. Die LumineszenzkonversionsstoffSchicht kann daher anmeldungsgemäß so ausgebildet werden, dass diese eine dichtere Packung an Lumineszenzkonversionsstoff als nach dem Stand der Technik aufweist. Der Lumineszenzkonversionsstoff kann zumindest teilweise eine dichteste Packung im Matrixmaterial ausbilden.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form weist die im Verfahrensschritt (d) ausgebildete LumineszenzkonversionsstoffSchicht einen Gehalt an Matrixmaterial von < 50 Gew-% auf. Der Gehalt an Matrixmaterial kann < 25 Gew-% und insbesondere < 15 Gew- %, zum Beispiel 10 Gew-%, sein. Die Lumineszenzkonversions- stoffschicht kann also weitgehend oder vollständig aus
Lumineszenzkonversionsstoff und Matrixmaterial gebildet sein.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form wird die Zusammensetzung so aufgebracht, dass vor und/oder während dem Verfahrens¬ schritt (d) der Lumineszenzkonversionsstoff binnen 60 min und insbesondere binnen 30 min, beispielsweise binnen 15 min, sedimentiert wird. In der Regel erfolgt innerhalb dieser
Zeitspanne eine teilweise oder vollständige Sedimentation des Lumineszenzkonversionsstoffes. Danach und/oder währenddessen kann das Lösungsmittel zumindest teilweise entfernt werden.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form wird im Verfahrensschritt (d) das Lösungsmittel bei erhöhter Temperatur
und/oder bei verringertem Druck und/oder mittels Bestrahlen entfernt. Eine erhöhte Temperatur bedeutet eine Temperatur oberhalb der Raumtemperatur (25°C) , sodass das Lösungsmittel leichter beziehungsweise schneller entfernt werden kann.
Gemäß einer Weiterbildung dieser Aus führungs form wird im Verfahrensschritt (d) das Lösungsmittel bei einer Temperatur zwischen 40 und 160°C und insbesondere zwischen 40 und 80°C, beispielsweise bei 60°C, entfernt.
Gemäß einer Weiterbildung dieser Aus führungs form wird im Verfahrensschritt (d) das Lösungsmittel bei einem Druck zwischen 0,5 und 800 mbar und insbesondere zwischen 1 und 100 mbar, beispielsweise bei 10 mbar, entfernt. Durch einen Unterdruck wird das Entfernen des Lösungsmittels beschleunigt.
Gemäß einer Weiterbildung dieser Aus führungs form wird im Verfahrensschritt (d) zum Entfernen des Lösungsmittels mit einer Strahlung bestrahlt. Die Strahlung kann beispielsweise eine Beta- oder eine Gammastrahlung sein. Es können auch eine UV-Strahlung oder eine Infrarotstrahlung verwendet werden. Im Prinzip kann auch mit Mikrowellen bestrahlt beziehungsweise erwärmt werden. Die zum Bestrahlen verwendete Strahlung entspricht nicht der im Betrieb des Halbleiterelementes emittierten Strahlung.
Es kann in beliebigen Kombinationen zum zumindest teilweisen Entfernen das Lösungsmittel im Verfahrensschritt (d) erwärmt und/oder ein Unterdruck angelegt und/oder mit einer Strahlung bestrahlt werden. Dabei wird in der Regel das Lösungsmittel weitgehend im Verfahrensschritt (d) entfernt, sodass die LumineszenzkonversionsstoffSchicht nur einen geringen oder gar keinen Restgehalt an Lösungsmittel aufweist.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form enthält die im
Verfahrensschritt (d) ausgebildete Lumineszenzkonversions- stoffschicht einen Restgehalt von bis zu 5 Gew-% Lösungs¬ mittel und insbesondere von bis zu 3 Gew-% Lösungsmittel, typischerweise 1 bis 2 Gew-%. Ein geringer Restgehalt an Lösungsmittel kann dazu verwendet werden, um die Haftung der Lumineszenzkonversionsstoffschicht auf dem Substrat
beziehungsweise auf dem Halbleiterelement zu verbessern. Das Lösungsmittel kann also als Haftvermittler wirken. Der
Restgehalt an Lösungsmittel in der Lumineszenzkonversions- stoffschicht kann mittels Festkörper-Kernmagnetresonanzspektroskopie ( Festkörper-NMR) bestimmt werden.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form wird im Verfahrensschritt (d) eine Lumineszenzkonversionsstoffschicht
ausgebildet, in der die Konzentration des Lumineszenzkonversionsstoffs in einer Matrix, die das Matrixmaterial umfasst oder daraus besteht, einen Gradienten aufweist.
Dieser Gradient kann zum Beispiel als Folge der Sedimentation des Lumineszenzkonversionsstoffs ausgebildet werden.
Ein solcher Gradient kann derart ausgebildet sein, dass in den dem Substrat oder dem Halbleiterelement zugewandten
Bereichen der ausgebildeten Lumineszenzkonversionsstoff- schicht eine höhere Konzentration an Lumineszenzkonversions-
stoff vorliegt, als dies in den abgewandten Bereichen der Fall ist. Der Gradient kann beispielsweise linear sein. Ein Gradient kann für einen graduell variierenden effektiven Brechungsindex genutzt werden. Zum Beispiel kann der
Brechungsindexunterschied (sogenannter index-jump) zwischen Halbleiterelement und Lumineszenzkonversionsstoff gegenüber einer optional darauf angeordneten Vergussmasse aus Silikon oder gegenüber einer Gasatmosphäre vermindert werden, wodurc die Strahlungsauskopplung verbessert wird.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form enthält die im Verfahrensschritt (b) bereitgestellte Zusammensetzung neben Matrixmaterial und Lösungsmittel 2 bis 50 Gew-% und insbe¬ sondere 5 bis 30 Gew-% Lumineszenzkonversionsstoff. Beim zumindest teilweisen Entfernen des Lösungsmittels im Ver¬ fahrensschritt (d) wird der Anteil an Lumineszenzkonversions stoff erhöht, bis das Lösungsmittel im ausreichenden Maße entfernt und die LumineszenzkonversionsstoffSchicht
ausgebildet ist.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form weisen die Partikel des Lumineszenzkonversionsstoffs in der im Verfahrensschritt (b) bereitgestellten Zusammensetzung einen durchschnittlichen Durchmesser von < 20 μπι und insbesondere von < 10 μπι auf. Dadurch können im Vergleich zu herkömmlichen Lumineszenzkonversionselementen geringere Schichtdicken realisiert werden. Die Partikelgröße ist jedoch in dem Verfahren nicht besonders limitiert. Zum Beispiel können auch sehr kleine Partikel eingesetzt werden, die in einem herkömmlichen
Verfahren ohne Lösungsmittel nicht sedimentieren würden. Die durchschnittlichen Partikeldurchmesser können über ein
Siebverfahren bestimmt werden.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form weisen mindestens 95 Gew-% und insbesondere mindestens 99 Gew-% der Partikel des Lumineszenzkonversionsstoffs in der im Verfahrensschritt (b) bereitgestellten Zusammensetzung einen maximalen Durchmesser von < 20 μπι und insbesondere von < 15 μπι auf.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form weisen mindestens 95% und insbesondere mindestens 99% der Partikel des Lumineszenz¬ konversionsstoffs in der im Verfahrensschritt (b) bereit¬ gestellten Zusammensetzung einen minimalen Durchmesser von > 2 μπι und insbesondere von > 5 μπι auf. Kleinere Partikel kön¬ nen beispielsweise zuvor durch ein Siebverfahren abgetrennt werden. Insbesondere an kleinen Partikeln, beispielsweise mit einem Durchmesser von bis zu 2 μπι, kann Strahlung stark gestreut werden. Somit wird also die Transmission verbessert, da weniger Strahlungsverluste in der Lumineszenzkonversions- stoffschicht auftreten.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form enthält die im
Verfahrensschritt (b) bereitgestellte Zusammensetzung 5 bis 25 Gew-% Matrixmaterial. Die Zusammensetzung kann < 15 Gew-%, zum Beispiel 10 Gew-%, Matrixmaterial enthalten.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form ist das Matrixmaterial in der im Verfahrensschritt (b) bereitgestellten Zusammensetzung ausgewählt aus: Silikon, Epoxidharz, Acrylharz,
Precursor dieser Polymerverbindungen und Kombinationen der genannten Materialien. Dabei schließen Kombinationen auch Hybridmaterialien mit ein. Eine Kombination zum Beispiel aus Silikon und Epoxidharz kann also auch ein Silikon-Epoxid- Hybridmaterial sein. Sofern das Matrixmaterial Precursor von Polymerverbindungen enthält oder daraus besteht, können diese im Verfahrensschritt (d) beim Ausbilden der Lumineszenz-
konversionsstoffschicht zumindest teilweise vernetzt werden. Die Vernetzung kann durch Härten, zum Beispiel mittels
Erwärmen und/oder Bestrahlen mit den bereits zuvor genannten Strahlungen, erfolgen. Dies kann gleichzeitig und/oder nach dem Entfernen des Lösungsmittels geschehen. Das Matrixmaterial ist insbesondere transparent für die Primärstrahlung sowie für die Sekundärstrahlung, sodass durch das Matrixmaterial in der Lumineszenzkonversionsstoffschicht nur wenig Strahlungsverluste auftreten.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form ist das Matrixmaterial in der im Verfahrensschritt (b) bereitgestellten Zusammensetzung ein Silikon. Das Silikon kann ein handelsübliches Silikon, insbesondere Polydialkylsiloxan, Polydiarylsiloxan, Polyalkylarylsiloxan oder eine Kombination davon, enthalten oder daraus bestehen. Beispiele für ein solches Silikon sind Poly (dimethylsiloxan) , Polymethylphenylsiloxan oder eine Kombination davon. Gemäß einer weiteren Aus führungs form enthält die im
Verfahrensschritt (b) bereitgestellte Zusammensetzung 30 bis 95 Gew-%, insbesondere 50 bis 75 Gew-%, zum Beispiel 60 Gew- %, Lösungsmittel. Die Zusammensetzung weist also in der Regel ein deutlich größeres Volumen als die im Verfahrensschritt (d) ausgebildete Lumineszenzkonversionsstoffschicht auf.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form ist das Lösungsmittel in der im Verfahrensschritt (b) bereitgestellten Zusammensetzung geeignet, um das Matrixmaterial und insbesondere ein Silikon zu lösen.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form ist das Lösungsmittel in der im Verfahrensschritt (b) bereitgestellten Zusammensetzung
ausgewählt aus: Ester, Ether, Silylether, Disiloxan, Aliphat, aromatischer Kohlenwasserstoff, halogenierter Kohlenwasserstoff und Kombinationen dieser Lösungsmittel. In der Regel ist das Lösungsmittel flüchtig, sodass es im Verfahrens- schritt (d) leicht zumindest teilweise entfernt werden kann. Beispielsweise kann das Lösungsmittel einen Siedepunkt von < 120°C bei Atmosphärendruck (1013,25 mbar) aufweisen. Eine Beschädigung der LumineszenzkonversionsstoffSchicht ist daher beim Entfernen des Lösungsmittels nicht zu befürchten; denn eine Beschädigung tritt üblicherweise erst auf, wenn lange Zeit über 200°C erhitzt wird.
Niedermolekulare Verbindungen, die als Precursor für Polymerverbindungen verwendet werden können, werden üblicherweise nicht zu den Lösungsmitteln sondern zu den Matrixmaterialien gezählt. Solche niedermolekulare Verbindungen sind beispiels¬ weise Acrylsäure- und Methacrylsäurederivate, Epoxide,
Olefine, Isocyanate und ähnliche polymerisierbare
Verbindungen. Wesentlich ist jedenfalls, dass das Lösungsmit- tel in Verfahrensschritt (d) zumindest teilweise entfernt wird, beispielsweise zu > 90 Vol-% und insbesondere > 95 Vol-% (Vol-% = Volumenprozent) .
Gemäß einer weiteren Aus führungs form ist das Lösungsmittel in der im Verfahrensschritt (b) bereitgestellten Zusammensetzung ein Disiloxan, beispielsweise Hexamethyldisiloxan
(Me3SiOSiMe3 ) . Dieses Lösungsmittel weist insbesondere den Vorteil auf, dass es sehr gut Silikone zu lösen vermag, vergleichsweise flüchtig ist und in geringen Konzentrationen als Haftvermittler in der LumineszenzkonversionsstoffSchicht verwendet werden kann. Weitere typische Lösungsmittel sind Toluol und Benzol als aromatische Kohlenwasserstoffe, die
alleine oder in Kombination mit anderen Lösungsmitteln, zum Beispiel Hexamethyldisiloxan, eingesetzt werden können.
Die im Verfahrensschritt (b) bereitgestellte Zusammensetzung kann beispielsweise durch Mischen von Lumineszenzkonversions¬ stoff, Matrixmaterial und Lösungsmittel gebildet werden. Im Prinzip ist es möglich, eine herkömmliche Lumineszenzkonversionsstoff enthaltende Druckpaste, wie sie zum
Aufdrucken von Lumineszenzkonversionselementen verwendet wird, mit einem Lösungsmittel zu vermischen und dadurch eine Zusammensetzung nach zumindest einer Aus führungs form der Erfindung zu erhalten.
Gemäß einer weiteren Aus führungs form ist auf dem im
Verfahrensschritt (a) bereitgestellten Substrat eine Verguss¬ masse angeordnet. Daher wird die Lumineszenzkonversionsstoff- schicht nicht unmittelbar auf dem Halbleiterelement
angeordnet. Diese Vergussmasse kann beispielsweise im
Strahlengang der Primärstrahlung und/oder im Strahlengang einer teilweise durch einen weiteren, zweiten Lumineszenzkonversionsstoff konvertierten Strahlung angeordnet sein. Dieser zweite Lumineszenzkonversionsstoff kann beispielsweise in einem herkömmlichen Element, in einer Lumineszenzkonversionsstoffschicht nach zumindest einer Aus führungs form der Erfindung, oder in der Vergussmasse verteilt angeordnet sein. Als zweiten Lumineszenzkonversionsstoff können die bereits beschriebenen Lumineszenzkonversionsstoffe verwendet werden. Die Lumineszenzkonversionsstoffschicht kann im
Verfahrenschritt (d) auch als Element zur sogenannten remote phosphor conversion auf der Vergussmasse ausgebildet werden. In diesem Fall wird kein zweiter Lumineszenzkonversionsstoff benötigt. Unter remote phosphor conversion wird eine
Strahlungskonversion verstanden, die in einem großen Abstand zur Strahlungsquelle, zum Beispiel > 750 μπι, erfolgt.
In der Regel wird gemäß dieser Aus führungs form im Verfahrensschritt (c) die Zusammensetzung unmittelbar auf die Verguss¬ masse aufgebracht. Insbesondere kann dadurch der Farbeindruck der Strahlung sehr fein reguliert werden. Dabei wird häufig auch die Gleichmäßigkeit der Abstrahlung verbessert.
Es ist daher beispielsweise möglich, als Substrat im
Verfahrensschritt (a) ein Strahlung emittierendes Bauelement, das ein Strahlung emittierendes Halbleiterelement sowie einen zweiten Lumineszenzkonversionsstoff und eine Vergussmasse umfasst, bereitzustellen, den Farbeindruck der vom Bauelement emittierten Strahlung zu bestimmen und diesen anschließend mittels einer LumineszenzkonversionsstoffSchicht , die nach zumindest einer Aus führungs form der Erfindung auf der
Vergussmasse ausgebildet wird, zu justieren. Dies kann individuell für jedes Bauelement beziehungsweise jedes
Substrat durchgeführt werden.
Gemäß einer Weiterbildung dieser Aus führungs form wird im Verfahrensschritt (d) eine LumineszenzkonversionsstoffSchicht ausgebildet, bei der die Konzentration an Lumineszenzkonversionsstoff zu den lateralen Seiten hin abnimmt. Somit ist die Konzentration an Lumineszenzkonversionsstoff in der Mitte der ausgebildeten LumineszenzkonversionsstoffSchicht höher, sodass dort eine höhere Konversion erfolgt.
In herkömmlichen Bauelementen kann der Farbort der Strahlung vom Winkel Θ zur Hauptabstrahlrichtung (Θ = 0°) der Strahlung abhängig sein. Das heißt, dass die Strahlung mit einem ungleichmäßigen Farbeindruck abgestrahlt wird. Mit dem
Verfahren nach zumindest einer Aus führungs form der Erfindung kann eine LumineszenzkonversionsstoffSchicht derart
ausgebildet werden, dass ein solcher unterschiedlicher
Farbeindruck zumindest teilweise kompensiert wird. Beispiels¬ weise kann eine dünne LumineszenzkonversionsstoffSchicht auf einer Vergussmasse erzeugt werden, in der die Konzentration an Lumineszenzkonversionsstoff einen Gradienten aufweist. Die Konzentration kann insbesondere in der Hauptabstrahlrichtung höher sein als in einem Winkel zur Hauptabstrahlrichtung. Hierdurch kann eine Abhängigkeit des Farbeindrucks vom Winkel Θ zumindest teilweise vermindert werden, wodurch insgesamt ein gleichmäßigerer Farbeindruck erhalten wird.
Gemäß einer Weiterbildung dieser Aus führungs form weist die im Verfahrensschritt (d) ausgebildete Lumineszenzkonversions- stoffschicht eine Schichtdicke von < 30 μπι, zum Beispiel 20 μπι, auf. Eine solche, dünne Lumineszenzkonversionsstoff- schicht wird daher im Vergleich zu einer dickeren Schicht einen kleineren Anteil der einfallenden Strahlung konvertieren. Somit kann der Farbort der Strahlung sehr fein justiert werden, was insbesondere in einer Aus führungs form der Erfindung, in der die Zusammensetzung im Verfahrensschritt (c) auf eine Vergussmasse aufgebracht wird, von
Bedeutung ist.
Gemäß einer Weiterbildung dieser Aus führungs form wird im Verfahrensschritt (d) eine LumineszenzkonversionsstoffSchicht ausgebildet, in der mindestens 85% der Partikel des Lumines¬ zenzkonversionsstoffs als Monolage oder Submonolage
angeordnet sind. Beispielsweise kann die Konzentration an Lumineszenzkonversionsstoff im Bereich der Hauptabstrahl¬ richtung eines Bauelementes erhöht sein. In diesem Bereich kann mehr als eine Lage an Lumineszenzkonversionsstoff-
Partikeln vorhanden sein. Ein Nachweis der Partikelanordnung in der Lumineszenzkonversionsstoffschicht kann durch Schliffe und anschließender Analyse per REM bestimmt werden.
Anmeldungsgemäß wird auch eine Zusammensetzung zur Erzeugung einer Lumineszenzkonversionsstoffschicht angegeben,
umfassend :
- einen Lumineszenzkonversionsstoff,
- ein Matrixmaterial und
- ein Lösungsmittel.
Die Zusammensetzung kann auch aus diesen Materialien
bestehen. Die Zusammensetzung kann insbesondere für ein
Verfahren gemäß zumindest einer Aus führungs form der Erfindung verwendet werden, um eine Lumineszenzkonversionsstoffschicht auf einem Substrat beziehungsweise auf einem Halbleiter¬ element zu erzeugen. Die Zusammensetzung kann somit die
Eigenschaften aufweisen, wie sie bereits vorstehend
beschrieben sind.
Anmeldungsgemäß wird auch ein Bauelement angegeben, das ein im Betrieb eine Primärstrahlung emittierendes Halbleiterele¬ ment und eine im Strahlengang der emittierten Primärstrahlung angeordnete Lumineszenzkonversionsstoffschicht enthält, die nach dem Verfahren gemäß zumindest einer Aus führungs form der Erfindung herstellbar ist beziehungsweise hergestellt wird. Die vom Bauelement abgestrahlte Strahlung weist somit
insbesondere einen gleichmäßigen Farbeindruck auf.
Das Bauelement kann die üblichen Bestandteile eines
optoelektronischen Bauelementes wie zum Beispiel elektrische Zuleitungen, einen Leiterrahmen, ein Bondpad, ein Bonddraht, Lotmasse, etc. umfassen. Eine Ausnehmung des Bauelementes kann zumindest teilweise mit einer Vergussmasse gefüllt sein.
Das Halbleiterelement kann beispielsweise einen Dünnfilm- Leuchtdioden-Chip umfassen, der sich insbesondere durch folgende charakteristische Merkmale auszeichnet:
an einer zu einem Trägerelement hin gewandten ersten
Hauptfläche einer Strahlung erzeugenden Epitaxieschichtenfolge ist eine reflektierende Schicht aufgebracht oder ausgebildet, die zumindest einen Teil der in der Epitaxie¬ schichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung in diese zurückreflektiert;
- die Epitaxieschichtenfolge weist eine Dicke im Bereich von 20 μπι oder weniger, insbesondere im Bereich von 10 μπι und oft im Bereich von 2 μπι auf; und
die Epitaxieschichtenfolge enthält mindestens eine
Halbleiterschicht mit zumindest einer Fläche, die eine
Durchmischungsstruktur aufweist, die im Idealfall zu einer annähernd ergodischen Verteilung der Strahlung in der
epitaktischen Epitaxieschichtenfolge führt, das heißt sie weist ein möglichst ergodisch stochastisches Streuverhalten auf .
Ein Grundprinzip eines Dünnschicht-Leuchtdiodenchips ist zum Beispiel in I. Schnitzer et al . , Appl . Phys . Lett. 63 (16), 18. Oktober 1993, 2174-2176 beschrieben, deren Offenbarungsgehalt insofern hiermit durch Rückbezug aufgenommen wird. Nachfolgend wird die Erfindung anhand von Ausführungs¬ beispielen und Zeichnungen näher erläutert. Dabei geben gleiche Bezugszeichen jeweils gleiche Elemente in den
einzelnen Figuren an. Es sind jedoch keine maßstäblichen Bezüge dargestellt, vielmehr können einzelne Elemente zum besseren Verständnis vergrößert und/oder schematisch
dargestellt sein.
Es zeigen
Fig. la bis Fig. lc mehrere Verfahrensschritte eines Ver¬ fahrens gemäß zumindest einer Aus führungs form der Erfindung;
Fig. 2 ein weiteres Substrat auf dem eine Lumineszenz¬ konversionsstoffSchicht nach einer Aus führungs form der
Erfindung ausgebildet ist; Fig. 3a bis Fig. 3d weitere Aus führungs formen der Erfindung; und
Fig. 4a bis Fig. 4d weitere Aus führungs formen der Erfindung, in denen die Zusammensetzung auf einer Vergussmasse
aufgebildet wird.
Die Figuren la bis lc zeigen einen Querschnitt durch ein Substrat 1, das eine Ausnehmung 5, beispielsweise in einem Gehäuse aus Kunststoff oder Keramik, und ein Halbleiter- element 10, das im Betrieb eine Primärstrahlung emittieren kann und in der Ausnehmung 5 angeordnet ist, umfasst. Das Gehäuse kann reflektierende Materialien enthalten (nicht gezeigt) . Des Weiteren kann das Substrat 1 die üblichen
Bestandteile eines optoelektronischen Bauelementes wie beispielsweise elektrische Zuleitungen, einen Leiterrahmen, ein Bondpad, ein Bonddraht, Lotmasse, etc. umfassen (der Übersichtlichkeit halber nicht gezeigt) , sodass aus dem
Substrat ein optoelektronisches Bauelementes hergestellt werden kann.
In Figur la ist unter anderem eine Zusammensetzung 21 nach zumindest einer Aus führungs form der Erfindung gezeigt, die in einem Verfahrensschritt (c) auf das Substrat 1 aufgebracht
wurde. In diesem Fall wurde die Zusammensetzung 21 in die Ausnehmung 5 und unmittelbar auf das Substrat 1 beziehungs¬ weise auf das Halbleiterelement 10 aufgebracht. Die Zusammen¬ setzung 21 enthält 2 bis 50 Gew-%, beispielsweise 30 Gew-%, Lumineszenzkonversionsstoffpartikel 25. Des Weiteren enthält die Zusammensetzung 21 5 bis 25 Gew-%, beispielsweise 10 Gew- % Matrixmaterial, zum Beispiel ein Silikon, sowie 50 bis 75 Gew-%, beispielsweise 60 Gew-%, Lösungsmittel. Als Lösungs¬ mittel kann Hexamethyldisiloxan verwendet werden.
In Figur lb ist ein Moment eines Verfahrensschritts (d) nach zumindest einer Aus führungs form der Erfindung gezeigt, in dem ein Großteil des Lumineszenzkonversionsstoffs 25 bereits sedimentiert und ein Teil des Lösungsmittels entfernt ist, beziehungsweise gerade entfernt wird, was durch den Pfeil 22 angedeutet ist. Es kann auch zuerst der Lumineszenzkonversionsstoff 25 (vollständig) sedimentiert und im Anschluss das Lösungsmittel zumindest teilweise entfernt werden (nicht gezeigt) .
In Figur lc ist ein abgeschlossener Verfahrensschritt (d) nach zumindest einer Aus führungs form der Erfindung gezeigt. Eine LumineszenzkonversionsstoffSchicht 20, die im Folgenden auch als "Schicht 20" bezeichnet wird, ist gleichmäßig unmittelbar auf den exponierten Flächen des Halbleiterelements 10 beziehungsweise auf dem Substrat 1 erzeugt. Die Konzentration an Lumineszenzkonversionsstoff 25 im
Matrixmaterial der Schicht 20 ist in den Bereichen, die an das Halbleiterelement 10 beziehungsweise an das Substrat 1 angrenzen, höher als in den abgewandten Bereichen der Schicht 20, sodass ein Gradient vorhanden ist. Die Schicht 20 ist insbesondere gleichmäßig auf dem Halbleiterelement 10 erzeugt, sodass im Betrieb gleichmäßig Strahlung mit einem
gleichmäßigen Farbeindruck emittiert werden kann. Hierdurch wird zum Beispiel ein sogenanntes blue-piping vermieden.
Die ausgebildete Schicht 20 weist im Regelfall mindestens 75 Gew-%, insbesondere 85 Gew-%, beispielsweise 90 Gew-%, an Lumineszenzkonversionsstoff 25 auf. Des Weiteren kann die
Schicht 20 höchstens 25 Gew-%, insbesondere höchstens 15 Gew- % wie beispielsweise 9 Gew-%, Matrixmaterial sowie 1 bis 2 Gew-%, beispielsweise 1 Gew-%, Lösungsmittel enthalten. Das Substrat 1 auf dem eine Lumineszenzkonversionsstoff- schicht 20 nach zumindest einer Aus führungs form der Erfindung erzeugt ist, kann zur Herstellung eines Bauelements verwendet werden. Beispielsweise kann auf der Schicht 20 eine herkömm¬ liche Vergussmasse, zum Beispiel aus einem Silikon oder einem Epoxidharz, angeordnet und gegebenenfalls als Linse
ausgeformt werden (nicht gezeigt) . Ein solches Bauelement kann Strahlung mit einem beliebigen Farbeindruck, zum
Beispiel weiß, emittieren. In Figur 2 ist eine weitere Aus führungs form der Erfindung gezeigt, in der das Substrat 1 beispielsweise aus Figur la zusätzlich eine Schicht 15 aufweist, die reflektierende
Materialien wie zum Beispiel Ti02 umfasst oder daraus
besteht. Beispielsweise können das Halbleiterelement 10 sowie die Schicht 15 eine ebene oder nahezu ebene (was Abweichungen von < 15 μπι einschließt) Fläche ausbilden. Eine Schicht 20 ist in diesem Beispiel unmittelbar auf dem Halbleiterelement 10 beziehungsweise auf dem Substrat 1 erzeugt. In Figur 3a ist ein Substrat 1 gezeigt, wie es nach zumindest einer Aus führungs form der Erfindung in einem Verfahrensschritt (a) bereitgestellt wird. Das Substrat 1 kann ein Halbleiterelement 10 sein, auf dem Strukturen 6 erzeugt sind.
Die Strukturen 6 können unmittelbar auf dem Halbleiterelement 10 angeordnet sein und einen Photolack umfassen oder daraus bestehen. Die Strukturen 6 und das Halbleiterelement 10 bilden beispielsweise eine Ausnehmung 5 aus, wobei der Boden der Ausnehmung 5 wie gezeigt durch das Halbleiterelement 10 ausgebildet sein kann.
Das Substrat 1 der Figur 3a kann beispielsweise ein
Ausschnitt aus einem Substrat 1 sein, wie es in Figur 3b gezeigt ist, das mehrere Ausnehmungen 5 umfasst, sodass nach zumindest einer Aus führungs form der Erfindung mehrere
Lumineszenzkonversionsstoffschichten 20 parallel darauf erzeugt werden können. In Figur 3c ist ein Substrat 1 der Figur 3a und/oder Figur 3b gezeigt, auf dem die Schicht 20 unmittelbar auf dem
Substrat 1 beziehungsweise dem Halbleiterelement 10 erzeugt ist. Die Schicht 20 ist insbesondere gleichmäßig ausgebildet. In Figur 3d ist ein Bauelement, ein Halbleiterchip 50, gezeigt, der nach einem Verfahrenschritt (e) aus dem
Substrat 1 mit einer Schicht 20, wie es in Figur 3c gezeigt ist, hergestellt wurde. Dazu wurden die Strukturen 6 mit UV- Strahlung bestrahlt und anschließend entfernt. An zumindest einigen der nunmehr unbeschichteten Stellen wurde das
Halbleiterelement 10 geteilt, beispielsweise durch Sägen.
Der Halbleiterchip 50 umfasst ein Halbleiterelement 10, das auf einer Hauptfläche eine Schicht 20 nach zumindest einer Aus führungs form der Erfindung aufweist. Somit kann der
Halbleiterchip 50 im Betrieb Strahlung mit einem beliebigen Farbeindruck, beispielsweise weiß, emittieren. Der Halbleiterchip 50 ist insbesondere dafür geeignet, in ein
optoelektronisches Bauelement eingesetzt zu werden, das somit keine weiteren Lumineszenzkonversionsstoffe benötigt, um im Betrieb Strahlung mit einem gewünschten Farbeindruck
abzustrahlen. Dadurch kann insbesondere die Herstellung dieses optoelektronischen Bauelementes vereinfacht werden, wodurch die Herstellungskosten gesenkt werden können.
In Figur 4a ist eine Zusammensetzung 21 nach zumindest einer weiteren Aus führungs form der Erfindung gezeigt, die unmittelbar auf eine Vergussmasse 40 eines Substrates 1 mit
aufgebracht ist. Die Ausnehmung 5 kann die Vergussmasse 40 an den Seiten etwas überragen. Die Vergussmasse 40 kann zum Beispiel auch konvex oder konkav ausgebildet sein (nicht gezeigt) . Das Substrat 1 umfasst beispielsweise ein
Halbleiterelement 10 sowie ein zweites (herkömmliches)
Lumineszenzkonversionsstoffelement 45, das mit einer Schicht 46 aus Klebstoff auf dem Halbleiterelement 10 angeordnet ist. Das Substrat 1 kann anstelle des zweiten Lumineszenzkonversionsstoffelementes 45 auch eine Lumineszenzkonversionsstoff- schicht 20, wie sie nach zumindest einer Aus führungs form der Erfindung erzeugt werden kann, aufweisen. Das Substrat 1 kann weitere Bestandteile, die für ein optoelektronisches
Bauelement benötigt werden, umfassen, wie es bereits zuvor ausgeführt wurde. Das Substrat 1 kann beispielsweise ein optoelektronisches Bauelement sein, das Strahlung mit einem Farbeindruck abstrahlt, der justiert werden soll.
In Figur 4b ist gezeigt, wie auf dem Substrat 1 aus Figur 4a in einem Verfahrensschritt (d) eine Lumineszenzkonversions- stoffschicht 20 nach zumindest einer Aus führungs form der Erfindung ausgebildet ist. Die Schicht 20 weist dabei eine Schichtdicke von < 30 μπι, zum Beispiel 20 μπι auf, sodass nur eine geringfügige Konversion erfolgt, die zum Justieren des
Farbeindrucks einer emittierten Strahlung verwendet werden kann. In der Schicht 20 sind mindestens 85% der Partikel des Lumineszenzkonversionsstoffs 25 in einer Monolage oder
Submonolage angeordnet, wobei die Konzentration im Bereich der Hauptabstrahlrichtung (Θ = 0°), die durch den Pfeil 60 dargestellt ist, höher ist als in anderen Bereichen der
Schicht 20.
In Figur 4c ist ein weiteres Bauelement gezeigt, bei dem eine LumineszenzkonversionsstoffSchicht 20 nach zumindest einer Aus führungs form der Erfindung unmittelbar auf einer
Vergussmasse 40 erzeugt ist. Die Lumineszenzkonversionsstoff- schicht 20 kann dabei der Schicht 20 aus Figur 4b
entsprechen. In diesem Fall ist auf dem Halbleiterelement 10 kein zweites (herkömmliches) Lumineszenzkonversions- stoffelement 45 angeordnet, sondern es sind Partikel 41, die einen zweiten Lumineszenzkonversionsstoff enthalten oder daraus bestehen, in der Vergussmasse 40 verteilt.
In Figur 4d ist ein weiters Bauelement gezeigt, das eine LumineszenzkonversionsstoffSchicht 20 umfasst, die nach zumindest einer Aus führungs form der Erfindung ausgebildet wurde. In diesem Fall sind keine weiteren Lumineszenzkonversionsstoffe vorhanden, da die Lumineszenzkonversions- stoffschicht 20 als ein Element zur sogenannten remote phosphor conversion beispielsweise unmittelbar auf einer Vergussmasse 40 ausgebildet ist.
Die hier beschriebene Erfindung ist nicht durch die
Beschreibung anhand der Ausführungsbeispiele beschränkt.
Vielmehr umfasst die Erfindung jedes neue Merkmal sowie jede Kombination von Merkmalen, was insbesondere jede Kombination von Merkmalen in den Patentansprüchen beinhaltet, auch wenn
dieses Merkmal oder diese Kombination selbst nicht explizit in den Patentansprüchen oder Ausführungsbeispielen angegeben ist .