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WO2004109780A1 - ステージ装置、固定方法、露光装置、露光方法、及びデバイスの製造方法 - Google Patents

ステージ装置、固定方法、露光装置、露光方法、及びデバイスの製造方法 Download PDF

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Publication number
WO2004109780A1
WO2004109780A1 PCT/JP2004/008063 JP2004008063W WO2004109780A1 WO 2004109780 A1 WO2004109780 A1 WO 2004109780A1 JP 2004008063 W JP2004008063 W JP 2004008063W WO 2004109780 A1 WO2004109780 A1 WO 2004109780A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
reticle
stage
plate
moving member
fixing
Prior art date
Application number
PCT/JP2004/008063
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Yuichi Shibazaki
Original Assignee
Nikon Corporation
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corporation filed Critical Nikon Corporation
Priority to KR1020057021091A priority Critical patent/KR101087516B1/ko
Priority to JP2005506831A priority patent/JPWO2004109780A1/ja
Publication of WO2004109780A1 publication Critical patent/WO2004109780A1/ja
Priority to US11/290,573 priority patent/US7394526B2/en
Priority to US12/153,772 priority patent/US8253929B2/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/707Chucks, e.g. chucking or un-chucking operations or structural details

Definitions

  • the present invention relates to a stage device that places a mask or a substrate on which a pattern is drawn and moves precisely one-dimensionally or two-dimensionally on a surface plate, an exposure device using the stage device, and the like.
  • a projection imaging system having an equal magnification, a predetermined reduction magnification or a predetermined magnification is irradiated by irradiating illumination light (energy rays such as ultraviolet rays, X-rays, and electron beams) onto a mask or the like on which a circuit pattern is drawn.
  • illumination light energy rays such as ultraviolet rays, X-rays, and electron beams
  • a photosensitive layer is used.
  • a stage device is provided, on which the substrate is placed and which moves precisely one-dimensionally or two-dimensionally in a plane (XY plane) under position servo control by a laser interferometer.
  • a mask or a substrate is suction-held by only a vacuum suction force.
  • the mask holding power is insufficient, and the misalignment of the mask during scanning of the mask stage occurs. Easy to occur.
  • the force for holding the mask is only applied to the back surface of the mask (below Since only the vacuum suction force acting on the surface is applied, when the stage device moves at a high acceleration, there is a problem that the holding force is insufficient, the mask is displaced, and the transfer accuracy is deteriorated. Disclosure of the invention
  • the present invention has been made in view of such circumstances, and a stage device that does not cause a positional shift by firmly holding a mask or the like while driving a stage device such as a wafer stage, and
  • the purpose is to provide an exposure apparatus and the like using the same.
  • the present invention will be described in association with reference numerals in the drawings showing one embodiment, but the present invention is not limited to this embodiment.
  • a stage apparatus having a movable member (203, 520) on which a plate-like body (R, W) is mounted on a mounting surface (211, 525).
  • 500 comprising a fixing device (300, 600) for fixing the plate-like body to the mounting surface, wherein the fixing device is interlocked with the moving member passing through the predetermined first area (A1).
  • the plate was solidified.
  • the fixing device can be automatically driven to fix the plate-shaped body only by passing the stage device through the predetermined area without providing a special driving device.
  • the fixing device (300, 600) fixes the plate-like body. Just by moving the stage device with the body from the second area and passing through the first area, the fixing device can be automatically driven to fix the plate-like body.
  • the fixing device (300, 600) releases the fixing of the plate-like body.
  • the fixing device can be automatically driven to release the fixing of the plate.
  • the fixing device (300, 600) fixes the plate-like body (R, W)
  • the moving direction when the moving member (203, 520) passes through the first area (A1)
  • the fixing device fixes the plate-like body (R, W)
  • the moving direction when the moving member (203, 520) passes through the first area (A1), and the fixing device.
  • the moving direction when passing through the first area when releasing the fixing of the plate-like body is opposite to each other, the area where the plate-like body is fixed and the fixing of the plate-like body are released. Region can be clearly distinguished with the first region interposed.
  • the moving member (203, 520) passes through the first area (A1), the moving member comes into mechanical contact with a part of the moving member, thereby stopping movement of the moving member by the power of the fixing device (300, 600).
  • a device that further includes a conversion device (C, C2) that converts the data into a fixed data it is possible to drive the fixed device without using a special actuator.
  • a base member (202, 510) for supporting the moving member (203, 520) is further provided, and the conversion device is a cam device (C, C2), and the cam device is provided with a cam member ( 400, 700) and a cam follower (363, 658, 663) provided in the fixing device (300, 600), it is easy to convert the movement of the stage device to the power of the fixing device by the force device. And it can be done reliably.
  • the cam follower (363, 658, 663) has a bearing (363a, 658a, 663a) that reduces friction with the cam member (400, 700), the operation of the fixing device will be smooth. As a result, the life of the device can be extended.
  • the cam member (400, 700) is equipped with a warm-up device (403, 703) that reduces the resistance at the time of contact with the cam follower (363, 658, 663). In addition, the life of the device can be extended.
  • the cam member may be retracted from the moving path.
  • the driving of the fixing device can be stopped.
  • the moving member (203, 510) passes through the first area (A1), the moving member comes into mechanical contact with a part of the moving member, so that the movement of the moving member is reduced by the fixing device (300, 600).
  • the fixing device 300, 600.
  • the cam device is arranged in the second area. Therefore, in other regions, the stage device can realize high-precision movement without contact between the fixing device and the cam device.
  • the fixing device (300, 600) includes a holding device (364, 665) for holding the plate (R, W) fixed, the fixing device is in contact with the cam device. Even when there is no plate, it is possible to maintain (maintain) the fixation of the plate-like body.
  • the fixing device (300, 600) includes the elastic body (322a, 622a) provided at the contact portion (322, 622) with the plate-like body (R, W), the fixing device is Damage to the plate can be avoided.
  • the second member provided to move in the direction opposite to the moving method of the moving member in accordance with the weight ratio between the moving member and the moving member due to the reaction force generated when the moving member (203, 520) is driven.
  • a moving member (205a, 205b, 530), wherein the weight of the moving member includes at least a part of the weight of the fixing device (300, 600); Can be offset or alleviated. Therefore, vibration of the stage device can be suppressed. Further, if the reaction force is canceled, it is possible to prevent a change in the position of the center of gravity of the stage device.
  • a second aspect of the present invention is a method for fixing a plate-like body (R, W) to a moving member (203, 510) included in a stage device (50, 200, 500), wherein the moving member comprises: The plate-like body is fixed in conjunction with passing through the predetermined first area (A1) provided in the first place.
  • the fixing device can be automatically driven to fix the plate-shaped body only by passing the stage device through the predetermined area without providing a special driving device.
  • the moving member (203, 510) moves from the second region (A2) where the plate-like body (R, W) is mounted on the moving member, and then passes through the first region (A1), thereby securing the fixing device.
  • (300, 600) is for fixing a plate-like body, and the stage device with the plate-like body mounted on the moving member moves automatically from the second area and passes through the first area, and the fixing device automatically becomes It can be driven to fix the plate.
  • the moving member (203, 510) passes through the first region (A1) on the way to the third region (A3) where the plate member (R, W) is lowered from the moving member. (300, 600) releases the fixing of the plate, Simply by moving the mounted stage device to the third region after passing through the first region, the fixing device can be automatically driven to release the fixing of the plate-like body.
  • the second area (A 2) and the third area (A 3) are the same area, the area where the plate is mounted on the moving member and the area where the plate is lowered from the moving member are the same. Therefore, the size of the apparatus can be suppressed.
  • a third aspect of the present invention includes a mask stage (200, 500) for holding a mask (R) and a substrate stage (50) for holding a substrate (W).
  • the fixing device firmly presses and holds the mask or the substrate, so that even if the stage is rapidly accelerated or decelerated during the exposure processing, the mask or the substrate is not displaced, and a high-precision pattern is transferred onto the substrate. be able to.
  • a mask (R) is fixed on a mask stage (200, 500), and a substrate (W) is fixed on a substrate stage (50).
  • the fixing method according to the second invention is used for at least one of the mask fixing method and the substrate fixing method.
  • the mask or the substrate can be firmly pressed and held, so that even if the stage is rapidly accelerated or decelerated during the exposure processing, the mask or the substrate does not shift, and a highly accurate pattern can be transferred to the substrate. .
  • the exposure apparatus (100, 150) according to the third invention is used in the lithographic process.
  • the exposure method according to the fourth invention is used in the lithographic process.
  • FIG. 1 is a perspective view showing the reticle stage device of the first embodiment.
  • 2A and 2B are perspective views showing the reticle clamp of the first embodiment.
  • FIG. 3 is a schematic diagram showing the exposure apparatus of the first embodiment.
  • FIGS. 4A and 4B are schematic diagrams showing the cam member of the first embodiment.
  • 5A to 5D are operation diagrams when the reticle clamp of the first embodiment presses the reticle.
  • 6A to 6D are operation diagrams when the reticle clamp of the first embodiment releases the holding of the reticle.
  • FIG. 7 is a perspective view showing a reticle stage device according to the second embodiment.
  • FIG. 8 is an exploded perspective view showing the reticle stage device of the second embodiment.
  • FIGS. 9A and 9B are views showing the stage section of the reticle stage device of the second embodiment.
  • FIG. 10 is a diagram showing an arrangement of a reticle holder and a reticle clamp in the reticle stage device of the second embodiment.
  • FIG. 11A and 11B are perspective views showing a reticle clamp according to a second embodiment.
  • FIG. 12 is a schematic diagram showing an exposure apparatus of the second embodiment.
  • FIGS. 13A and 13B are schematic diagrams showing a cam member of the second embodiment.
  • 14A to 14D are operation diagrams when the reticle clamp of the second embodiment presses the reticle.
  • FIG. 15 is a flowchart illustrating an example of a semiconductor device manufacturing process. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • FIG. 1 is a perspective view showing a reticle stage device 200 according to the present invention.
  • the reticle stage device (stage device) 200 holds the reticle (plate, mask) R pattern with the PA surface down, performs one-dimensional scanning movement in the Y direction, and further moves in the X and rotation directions ( 0 Z direction).
  • the reticle stage device 200 is a stage driven by a predetermined stroke in the Y direction on a reticle surface plate (base portion) 202 supported on a column 201 (see FIG. 3). A part 203 is provided.
  • the stage unit (moving member) 203 includes a reticle coarse movement stage 206 driven in the Y direction by a pair of Y linear motors 205, and a pair of X voices on the reticle coarse movement stage 206.
  • coil motor 2 0 7 X and a pair of Y voice coil motor 2 0 7 Y and the X, Upsilon, has a configuration and a reticle micro-moving stage 2 0 8 which is finely driven in the 0 Z direction.
  • Each Y linear motor 205 is a non-contact bearing on a reticle surface plate 202.
  • a plurality of air bearings (air pads) 209 are levitated and supported by a stator (second moving member) extending in the Y direction.
  • Movable member (second moving member) 205 a provided to correspond to 205 a and this stator 205 a and fixed to reticle coarse movement stage 206 via connecting member 23 1 b. For this reason, according to the law of conservation of momentum, the stator 205 a moves in one Y direction according to the movement of the reticle coarse movement stage 206 in the + Y direction.
  • the movement of the stator 205a cancels the reaction force caused by the movement of the reticle coarse movement stage 206, and also prevents the position of the center of gravity from changing.
  • the reticle coarse movement stage 206 is fixed to the upper surface of an upper protrusion 202 b formed at the center of the reticle surface plate 202 by a pair of Y guides 232 extending in the Y direction. Guided in the Y direction. Further, reticle coarse movement stage 206 is supported in a non-contact manner by an air bearing (not shown) with respect to each Y guide 232.
  • the reticle fine movement stage 208 has an opening corresponding to the pattern PA of the reticle R, and the reticle R is patterned through a flat reticle holder (placement surface) 211 arranged around the opening. Adsorption is held with PA down. Further, four (two on each side) reticle clamps 300 are arranged at both ends of the reticle holder 211 in the X direction.
  • the reticle clamp 300 is a device that mechanically presses and holds the reticle R from above in order to compensate for the shortage of the reticle R by the reticle holder 211.
  • the reticle clamps 300 are arranged at both ends in the X direction of the reticle holder 211 to avoid interference with the reticle R that is moved in the Y direction and transported and placed on the reticle holder 211. That's why. Therefore, reticle R transport obstacles and If not, reticle clamps 300 may be placed at both ends of reticle R in the Y direction.
  • the number of reticle clamps 300 to be arranged can be arbitrarily determined according to the pressing force required to hold reticle R. However, in order to prevent distortion of the reticle R due to pressing, it is desirable to arrange the reticle R evenly (for example, at four corners) with respect to the reticle R.
  • a pair of Y movable mirrors 23 3 a and 23 3 b each composed of a corner cube are fixed to an end of the reticle fine movement stage 208 in the Y direction.
  • an X moving mirror 234 composed of a flat mirror extending in the Y-axis direction is fixed.
  • three externally provided laser interferometers 2 35 a to 2 35 c are provided for each of the movable mirrors 2 3 3 a, 2 3 3 b and 2 3 4.
  • the position of reticle fine movement stage 208 in the X, ⁇ , ⁇ (rotation about ⁇ axis) direction can be measured with high accuracy.
  • the position measurement information of reticle fine movement stage 208 (that is, position information of reticle R) is transmitted to main control system 70.
  • FIG. 2D is a perspective view showing the reticle clamp 300, and shows a state in which the reticle R is being pressed and held.
  • FIG. 2A is an exploded view of the reticle clamp 300.
  • the reticle clamp 300 is composed of a base section 310, a pad section 320, a link section 330, a slide guide section 340, a clamping spring section 350, and a follower section. It consists of 360.
  • the base portions 310 are provided on both sides of the reticle holder 211 in the X direction.
  • a pin 312 is provided in the concave portion 311 formed in a substantially concave shape along the X direction.
  • the recess 311 accommodates the pad portion 3200, and the pin hole 321 of the pad portion 3200 described later fits with the pin 312.
  • the pad section 320 is rotatably supported.
  • the guide portion 340 is fixed in a state of extending in parallel with the X direction.
  • the slide guide portion 340 is composed of a rod member 341, and one end thereof is provided with a stopper 342 having a larger diameter than the rod member 341.
  • the claw portion 3 14 has an inclined surface 3 14 a having a substantially triangular side shape and gradually rising along the X direction as approaching the reticle R, and a substantially vertical surface 3 facing the reticle R. It has 1 4 b.
  • the pad portion 320 is made of a member formed in a substantially triangular shape, and a pin hole 3221 is provided at one vertex thereof (on the linear motor side). Then, as described above, the pin hole 3 21 is fitted into the pin 3 12 of the base portion 3 10, is housed in the recess 3 11 of the base portion 3 10, and is rotatable. Supported. Therefore, pad portion 320 is arranged so as to be substantially perpendicular to the end surface of reticle R in the X direction.
  • a contact section 3222 which comes into contact with the reticle R placed on the reticle holder 211.
  • the contact portion 3222 is made of an elastic body 3222a so as not to damage the reticle R to be in contact.
  • a spring and elastic hinge mechanism may be used in addition to sponge and rubber.
  • the contact area with the reticle R is increased by widening the width (Y direction) of the contact portion 3222 so as not to interfere with the concave portion 311 of the base portion 310, thereby increasing the reticle R. It is desirable to press evenly.
  • the other apexes disposed above are bifurcated (concave) along the X direction, and a pin 323 is provided on a part thereof.
  • the link portion 330 made of a linear member is provided with pin holes 331 and 332 at both ends thereof, and the pin hole 331 is fitted with the pin 3 2 3 of the pad portion 3 20 described above. Together, they are supported rotatably. Further, the other pin hole 332 is fitted with a pin 356 of a clamp pin spring portion 350 described later, and is rotatably supported.
  • the clamp pin spring portion 350 includes a main body 351, a connecting portion 352, and a panel portion 3553.
  • the main body 351, and the connecting portion 3552 are connected by the panel portion 3553. It has a structure.
  • the main body 3 5 1 has two holes 3 5 5 that fit with the slide guide 3 4 By fitting the holes 355 into the two slide guides 340 fixed to the base 310, the holes 355 are supported movably in the X direction along the slide guides 340. .
  • a hole portion 357 that fits with the follower portion 360 is provided at an upper portion of the main body 351.
  • the connecting portion 352 is formed in a concave shape, and has a pin 356 that fits into the pin hole 332 of the link portion 330 in the dent.
  • the spring portion 353 is composed of an elastic hinge mechanism machined by a wire-cut electric discharge machine or the like, and connects the connecting portion 352 to the main body 351 so as to be movable in the X direction. I do.
  • the elastic force of the panel portion 353 provides a force for pressing and holding the reticle R. Therefore, by adjusting the panel constant of the panel section 353, the pressing force of the reticle clamp 300 can be adjusted.
  • the panel section 353 is not limited to the elastic hinge mechanism, but may be an elastic body such as a coil panel or a panel panel.
  • the follower section 360 is a reticle from the main body 361, the pin section 362 provided at both ends of the main body 361, the cam follower 363 provided at the upper part of the main body 361, and the main body 361.
  • Two plate panels 3 6 4 extending in the R direction, and two support plates 3 that are arranged so as to overlap the lower surface of the leaf springs 3 6 4 and restrict the downward deformation of the plate panel 3 6 4 Consists of 6-5.
  • the follower portion 360 is provided with a clamping spring portion 350 by fitting the pin portions 362 provided at both ends of the main body 360 with the holes 357 of the clamping spring portion 350. It is rotatably supported at zero.
  • the main body 361 of the follower section 360 and the main body 351 of the clamp pin spring section 350 are in contact with each other, so that the body is not rotated more than a predetermined amount. Specifically, the panel panel 364 cannot be rotated downward from the horizontal position (see Figs. 5 and 6).
  • a rectangular hole 364a to be fitted with the claw portion 314 of the base portion 310 is provided.
  • a cutout portion 365 a is provided at the end of each of the two support plates 365, corresponding to the hole 364a of the leaf spring 364.
  • cam follower 365 has friction when it comes into contact with a cam member 400 described later.
  • a bearing (bearing) 363a is provided to alleviate the problem.
  • FIG. 3 is a schematic diagram showing the exposure apparatus 100.
  • the exposure apparatus 100 irradiates the reticle R with exposure illumination light (exposure light) EL, and relatively synchronously moves the reticle; and the wafer (plate-like body, substrate) W in a one-dimensional direction.
  • This is a step-and-scan type scanning exposure apparatus for transferring a PA (such as a circuit pattern) formed on the wafer W onto the wafer W via the projection optical system 40, which is a so-called scanning stepper.
  • the exposure apparatus 100 includes an exposure illumination system 10 for illuminating the reticle R with the exposure illumination light EL, a reticle stage device 200 for holding the reticle R, and an exposure illumination light EL emitted from the reticle onto the wafer W.
  • the projection optical system 40 includes a projection optical system 40 for irradiating, a wafer stage device 50 for holding the wafer W, and a main control system 70 for comprehensively controlling the operation of the exposure device 100.
  • the exposure illumination system 10 includes an optical integration unit for irradiating the illumination light for exposure EL emitted from the light source 12 to a predetermined illumination area on the reticle with a substantially uniform illuminance distribution.
  • the exposure illumination light EL vacuum ultraviolet rays having a wavelength of about 12 Onm ⁇ about 19 onm
  • Ar F excimer laser Ar F excimer laser (ArF laser) with an oscillation wavelength of 193 nm, emission wavelength 15 7 nm of fluorine laser (F 2 laser), Krypton dimer laser (Kr 2 laser) with oscillation wavelength of 146 nm, argon dimer laser (Ar 2 laser ') with oscillation wavelength of 126 nm, etc.
  • Ar F excimer laser Ar F excimer laser
  • Ar F laser Ar F excimer laser
  • Kr 2 laser Krypton dimer laser
  • Ar 2 laser ' Ar F dimer laser with oscillation wavelength of 126 nm, etc.
  • the reticle stage device 200 is provided immediately below the exposure illumination system 10.
  • the specific configuration of the reticle stage device 200 is as described above.
  • the stage section 203 of the reticle stage device 200 holds the reticle R with the pattern PA down and performs one-dimensional scanning movement in the Y direction, but in the movement path, a load for mounting the reticle R on the reticle holder 211 is provided.
  • the load area A 2 and the unload area A 3 are the same area (hereinafter, this area)
  • the matched area is called the load 'unload area AO.
  • the load / unload area AO and the exposure area A4 are partially overlapped due to restrictions on device dimensions and the like.
  • the movement path of the stage section 203 also includes a clamp driving area (first area) A1 described later.
  • a cam member 400 functioning as a cam device (conversion device) C integrally with the follower portion 360 of the reticle clamp 300 is disposed in the upper portion of the load / unload area AO.
  • the cam member 400 is fixed to the reticle surface plate 202 or the column 201 or the like via an elevating device 410 described later.
  • FIG. 4 is a schematic diagram showing the cam member 400.
  • the cam member 400 is formed in a substantially U-shape by connecting two members 4 O la and 401 b formed in a substantially L-shape so as to be symmetrical at one end thereof so as to be rotatable. .
  • grooves 402a and 402b into which the cam followers 363 of the follower section 360 enter are formed on the lower surfaces of the members 401a and 40lb.
  • the width of the grooves 402a, 402b is formed large at the tip of each member 401a, 401b, and is gradually narrowed so as to be slightly wider than the width of the cam follower 363 in the + Y direction.
  • the grooves 402a and 402b are formed inward at the front end portion, gradually outward toward the + Y direction, and thereafter, the portion parallel to the Y direction is equal to or larger than the width of the reticle R. Formed.
  • the cam follower 363 moves in the + Y direction from the left side of the paper of FIG. When it comes, it enters the grooves 402a and 402b of the wide end portion. Then, when further moving in the + Y direction, it is guided to move from the inside to the outside when passing through the clamp drive area A1.
  • a spring (impact device) 403 is provided at the tip of the cam member 400 between the members 401a and 401b.
  • the members 401a and 401b are rotatably connected and the panel 403 is provided, whereby the cam follower 363 entering the grooves 402a and 402b can be finely moved, and the cam follower 363 and the grooves 402a and 402 are provided. This reduces collision and friction with b.
  • the cam member 400 includes an elevating device (retreat) for moving the cam member 400 upward.
  • Evacuation device) 4 10 is provided.
  • the elevating device 410 is composed of, for example, an air cylinder or the like.
  • the projection optical system 40 is a system in which a plurality of projection lens systems such as a lens made of a fluoride crystal such as fluorite and lithium fluoride and a reflecting mirror are closed with a projection system housing (barrel). is there.
  • the projection lens system reduces the illumination light emitted through the reticle R at a predetermined projection magnification ⁇ ( ⁇ is, for example, 1/4), and identifies an image of the pattern ⁇ ⁇ of the reticle R on the wafer W. An image is formed in the area (shot area).
  • is, for example, 1/4
  • Each element of the 40 projection lens system is supported by the projection system housing via a holding member, and each holding member is formed, for example, in an annular shape so as to hold the peripheral edge of each element. Not shown).
  • the wafer stage device (stage device) 50 includes a wafer holder 52 that holds the wafer W, a wafer stage 53 that can move in a plane, and the like.
  • the wafer holder 52 is supported by the wafer stage 53, and holds the wafer W by vacuum suction.
  • the wafer stage 53 is formed by stacking a pair of blocks that can move in directions orthogonal to each other on the base 54, and can be moved in a plane by a driving unit (not shown). I have.
  • the positions of the wafer stage 53 in the X direction and the ⁇ direction are sequentially detected by a laser interference type length measuring device provided outside, and output to the main control system 70.
  • An X movable mirror 56 composed of a plane mirror is provided at one X-side end of the wafer holder 52 so as to extend in the direction.
  • the measuring beam from the X-axis laser interferometer 57 X which is arranged almost vertically outside the X-moving mirror 56 X, is projected, and the reflected light is reflected by the X-axis laser interferometer.
  • the X position of wafer W is detected by receiving light at 57 X. Also, with a substantially similar configuration, the ⁇ position of the wafer W is detected by a not-shown ⁇ -axis laser interferometer 57 5.
  • the arbitrary movement of the wafer W is performed by moving the wafer stage 53 in the plane.
  • the reticle R is positioned at the projection position (exposure position) of the reticle R pattern PA, and the image of the reticle R pattern PA is projected and transferred onto the wafer W.
  • the main control system 70 controls the exposure apparatus 100 as a whole. For example, by controlling the exposure light amount (exposure light irradiation amount) and the positions of reticle stage device 200 and wafer stage 53 described later, the image of pattern PA formed on reticle R is displayed on wafer W. The exposure operation for transferring to the shot area is repeated. Further, the main control system 70 is provided with a storage unit 72 for recording various information, in addition to a calculation unit 71 for performing various calculations.
  • the reticle R is irradiated with the illumination light EL for exposure to transfer the pattern PA formed on the reticle R onto the wafer W.
  • a method for performing the processing will be described.
  • the exposure processing method includes a step of bringing a reticle R onto a reticle stage device 200, a step of pressing and holding the reticle R by a reticle clamp 300, a step of performing an exposure processing, and a step of performing a reticle clamp 30. A step of releasing the holding of the reticle R by 0, and a step of unloading the reticle R from the reticle stage device 200.
  • reticle stage device 200 Before mounting reticle R (initial state), reticle stage device 200 is located in exposure area A4. Further, reticle clamp 300 may be in either a state where pad portion 320 is jumped up (see FIG. 5A) or a state where pad portion 320 is lowered (see FIG. 5D). Further, the cam member 400 is arranged in the load / unload area AO.
  • the stage section 203 moves in the + Y direction, moves from the exposure area A4 to the load / unload area AO, and stops.
  • the cam follower 365 of the reticle clamp 300 enters the grooves 402a and 402b of the cam member 400.
  • the cam followers 36 3 once move inward (in a direction approaching the reticle R), but when the stage section 203 stops in the load / unload area AO, all the cam followers 36 3 Outside the clamp drive area A 1 (in the direction away from reticle R) Go to As a result, all reticle clamps 300 are held in a state where pad portions 320 are flipped upward.
  • the contact resistance between the cam follower 36 3 and the grooves 40 2 a and 40 2 b is determined by the bearing 36 3 a provided on the cam follower 36 3 and the panel 400 provided on the cam member 400.
  • the cam follower 366 moves smoothly in the grooves 402a and 402b.
  • a reticle R is transferred from the outside by a reticle transfer device (not shown) and placed on a reticle holder 211 on a stage 203, and the reticle R is further attracted by the reticle holder 211. Will be retained.
  • the reticle R is placed on the stage portion 203 and moved in the Y direction.
  • the cam follower 363 of the reticle clamp 300 moves along the clamp drive area A1 when the cam follower groove 403 of the cam member 400 is closed. Move inward along b.
  • the reticle clamp 300 is driven by the movement of the cam follower 365 from the outside to the inside, and the reticle R is sequentially pressed and held (clamped).
  • the cam follower 36 3 of the reticle clamp 300 moves from the load / unload area AO to the exposure area A 4 so that the cam member 40 3 Extract from the 0 grooves 400a and 402b sequentially.
  • the pressing and holding of the reticle R by the reticle clamp 300 is maintained by the action of the leaf spring 364.
  • FIG. 5 is a diagram showing an operation when the reticle R is pressed and held.
  • a reticle R is placed on a reticle holder 211 on a stage portion 203 and held by suction.
  • the reticle R and the reticle clamp 300 do not interfere with each other because the pad portion 320 of the reticle clamp 300 is in a state of jumping up.
  • a force is applied to the cam follower 365 toward the reticle R side. That is, the camf
  • the follower 366 enters the clamp driving area A1 and starts moving inward (in the direction approaching the reticle R) along the grooves 402a and 402b of the cam member 400. is there.
  • the plate panel 365 of the follower portion 360 is provided with a claw provided on the upper surface of the base portion 310. It is deformed so as to hit the part 3 14 and warp upward along the slope of the claw part 3 14.
  • the support plate 365 has a U-shaped notch 365a, so that the support plate 365 does not hit the claw 3 14 and avoids the claw 3 14 in the reticle R direction.
  • the pad section 320 further rotates around the pin hole 3221, and the contact section 3222 comes into contact with the reticle R.
  • the pad portion 320 cannot be further rotated around the pin hole 3221, so that the panel portion of the clamping spring portion 350 is formed. 3 5 3 begins to deform.
  • a force toward the reticle R side is applied to the cam follower 365.
  • the cam follower 363 has passed the clamp driving area A1 and has moved to the innermost position.
  • the leaf spring 3 64 gets over the claw 3 1 4 provided on the upper surface of the base 3 10, and the hole 3 6 4 a of the plate panel 3 6 4 and the claw 3 14 is fitted, and the deformation of the plate panel 364 returns to the initial state (flat state).
  • the panel portion 353 of the clamp pin spring portion 350 is further deformed and strongly presses the reticle R via the pad portion 310.
  • the hole portion 364 a of the plate panel 364 is fitted to the claw portion 314 of the base portion 310, even if the plate spring 364 is moved to the linear motor side, The hole 364a abuts on the vertical surface 314b of the claw 314, and the movement to the linear motor side is restricted. Therefore, even if the force in the reticle R direction acting on the cam follower 36 3 is released, the deformation of the panel section 3 53 is not released by the action of the leaf spring 3 64 of the follower section 360. Thus, the state where the reticle R is pressed is maintained.
  • the reticle R is firmly pressed and held by the reticle clamp 300.
  • the cam member 400 is retracted from the load / unload area AO prior to the start of the exposure processing. That is, the elevating device 410 is driven to raise the cam member 400 'and move it out of the load / unload area AO.
  • the reticle R and the wafer W are relatively synchronized in the one-dimensional direction while irradiating the reticle R with exposure illumination light (exposure light) EL as in the past.
  • exposure illumination light exposure light
  • the reason why the exposure process is performed after the cam member 400 is retracted is to prevent the reticle R from being released from being pressed by the reticle clamp 300 during the exposure process. That is, during the exposure processing, the stage section 203 reciprocates at a high speed in the Y direction. As described above, the exposure area A4 and the load / load area AO partially overlap. For this reason, if the cam member 400 remains in the open / close port area AO, a plurality of reticles will occur during the exposure processing. A part of the clamp 300 enters the groove 4002a, 402b of the cam member 400, passes through the clamp driving area A1, and holds the reticle R pressed. This is because it will be canceled.
  • the lift device 410 is driven to move the cam member 400 into the load / unload area AO.
  • the stage section 203 is moved in one Y direction as much as possible.
  • the stage section 203 is moved in the + Y direction, and is moved from the exposure area A4 to a position in the load / unload area AO.
  • the cam follower 360 of the reticle clamp 300 enters the grooves 400a and 402b of the cam member 400, and the clamp drive area A1 is sequentially formed. It passes and moves from the inside (reticle R side) to the outside.
  • the cam follower 365 By moving the cam follower 365 from the inside to the outside in this manner, the reticle clamp 300 is driven, and the pressing and holding of the reticle R is sequentially released.
  • FIG. 6 is a diagram showing an operation when releasing the holding of the reticle R.
  • a force is applied to the cam follower 36 3 in a direction away from the reticle R (rightward on the paper). That is, the cam follower 363 of the reticle clamp 300 enters the grooves 402 a and 402 b of the cam member 400, enters the clamp driving area A 1, and moves to the outside (far away from the reticle R).
  • the cam follower 363 of the reticle clamp 300 enters the grooves 402 a and 402 b of the cam member 400, enters the clamp driving area A 1, and moves to the outside (far away from the reticle R).
  • the follower section 360 and the clamping spring section 350 are returned to the initial positions. That is, the cam follower 363 has passed through the clamp drive area A1, and has moved outward at the very end. Then, as shown in FIG. 6D, the pad portion 320 jumps upward and retreats from the reticle R.
  • the reticle holder 211 sucks and holds the reticle R. Cancel. Then, the reticle R is transported outward from the reticle stage device 200 by a reticle transport device (not shown). As when reticle R is loaded onto reticle stage device 200, reticle R can be carried out without interference because pad portion 310 of reticle clamp 300 is jumping up. .
  • the reticle R can be firmly held on the reticle stage device 200, and can be maintained during the exposure processing. Further, the reticle clamp 300 can be released from being pressed only when the reticle R is placed on the reticle stage device 200 and lowered.
  • a simple pattern PA can be formed.
  • a detection device to confirm that the pressing and holding of the reticle R by the reticle clamp 300 is not squared during the exposure processing.
  • a reflecting mirror is provided on the upper surface of the link portion 330 of the reticle clamp 300, and a laser length measuring device is provided above the exposure area A4. Then, by measuring the height of the upper surface of the link portion 330 passing below the laser length measuring device, it is possible to detect the operation state of the reticle clamp 300.
  • the position of the main body 351 of the clamp pin spring portion 350 may be measured, or a limit switch may be provided which operates when the main body 351 moves to the rearmost position.
  • the reticle clamp 300 is released during the exposure processing. It is possible to avoid problems caused by this.
  • FIG. 7 is a perspective view showing a reticle stage device 500 according to the present invention
  • FIG. 8 is an exploded perspective view of the reticle stage device 500
  • FIG. 10 is a view showing the arrangement of the reticle holder 5 25 and the reticle clamp 600.
  • the same components as those of reticle stage device 200 in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.
  • the reticle stage device 500 includes a reticle base 510, a stage section 520 driven on the reticle base 510 with a predetermined stroke in the Y direction, and a stage section 5 2.
  • a reticle stage drive system (linear motor 540, voice coil motor 550) for driving the stage member 520, and a frame-shaped member 530 arranged so as to surround 0 are provided.
  • the reticle surface plate (base portion) 510 is supported substantially horizontally by a support member (not shown). As shown in FIG. 8, the reticle surface plate 510 is made of a substantially plate-shaped member, and a protrusion 516a is formed substantially at the center thereof. Further, a rectangular opening 516b having a longitudinal direction in the X-axis direction is formed in a substantially central portion of the protrusion 516a so as to allow the illumination light EL for exposure to pass therethrough in a communicating state in the Z direction. .
  • the stage section (moving member) 52 includes a substantially rectangular stage main body 52 2 and four extending sections 52 extending from the stage main body 52 in the Y direction. And so on.
  • a gas static pressure bearing is formed on the lower surface of each of the four extending portions 5 24.
  • the stage section 520 is levitated and supported in a non-contact manner on the reticle surface plate 510 via a clearance of about several microns.
  • a pair of Y movable mirrors 2 3 3a and 2 3 3b made of a core cube are fixed, and an interferometer 2 3 5a to 2
  • the position of the stage section 52 (reticle R) in the Y direction can be determined. Measured with high accuracy.
  • a stepped opening 523 serving as a passage for the exposure illumination light EL is formed substantially at the center of the stage main body 522, and the stepped portion of the stepped opening 523 (a portion which is dug down by one step) is formed.
  • the reticle R is provided with a reticle holder (placement surface) 525 for sucking and holding the reticle R from below.
  • four (two on each side) reticle clamps 600 are arranged along both sides of the stepped opening 5 23 in the X direction. The configuration of reticle clamp 600 will be described later.
  • the reticle holder 5 25 has a rectangular suction surface 5 25 a, 5 25 b outside the stepped opening 5 23 in the X direction.
  • the area at both ends in the X direction of the reticle R is held by vacuum suction from the lower surface side of the reticle.
  • vacuum suction instead of vacuum suction, electrostatic suction may be used, or vacuum suction and electrostatic suction may be used in combination.
  • Each reticle clamp 600 presses the reticle R at two points (having two clamping areas 600p), so that the reticle R is pressed and held at eight points as a whole. As shown in FIG. 10, the position where each reticle clamp 600 presses the reticle R is set to a position overlapping the suction surface 525a or 525b, but is not limited to this. is not.
  • the suction surfaces 525a and 525b may be divided into a plurality of regions, and the suction-holding regions and the pressure-holding regions may be arranged alternately in the Y direction.
  • the inside of reticle R (the side near the stepped opening 5 2 3)
  • the reticle R may be held so as to hold it and press and hold the outside thereof.
  • the reticle R may be held so as to press and hold the inside and hold the outside of the reticle R by suction.
  • the size of the clamping area 600 p is not particularly limited.For example, in each reticle clamp 600, the width in the Y direction is 20 to 4 O mm and the width in the X direction is 5 to 2 Can be set to 0 mm.
  • the pressure holding force of the reticle R by the reticle clamp 600 can be, for example, 0.5 to 2.0 kgf in one clamping area 600p.
  • the holding force of the reticle clamp 600 and the holding force of the reticle R in the reticle holder 5 25 are, for example, a ratio of 2: 3 to 2: 5 in the entire reticle R. It is set as follows. Increasing the ratio of the pressure holding force by the reticle clamp 600 may cause distortion in the reticle R. To prevent such distortion, the pressing force of the reticle clamp 600 and the reticle holder 5 2 It is preferable to set the suction holding force of 5 as appropriate.
  • a movable unit 540 of a linear motor 540 is arranged in the stage section 520. As shown in FIG. 9B, the movable unit 5 4 4 includes a pair of magnetic pole units 5 on the upper and lower surfaces of the stage main body 5 2 2.
  • a mover unit 544 of the voice coil module 550 is arranged at the end in the X direction.
  • a plate-shaped permanent magnet 554a is used as the movable unit 544.
  • the reticle stage drive system includes a pair of linear motors 540 that drive the stage section 520 in the Y direction and minutely drive in the 0 z direction, and a voice coil motor that minutely drives the stage section 520 in the X direction. It consists of 50.
  • the pair of linear motors 540 includes a stator unit 542 and the above-described mover unit 544, which are installed in the Y direction on both sides in the X direction inside the frame member 530, respectively.
  • the voice coil motor 550 is composed of a stator unit 552 and a movable unit 554 described above, which are installed in the Y-axis direction on the X side inside the frame member 530. You.
  • the stator unit 5 4 2 is a pair of Y-axis linear guides whose longitudinal direction is the Y-axis direction.
  • armatures are arranged at predetermined intervals in the Y-axis direction inside the Y-axis linear guides 542a and 542b.
  • the magnetic pole units 544a, 544b of the stage section 520 are arranged between the Y-axis linear guides 542a, 542b via a predetermined clearance.
  • the stator unit 552 is composed of a pair of armature units 552a and 552b having the Y-axis direction as a longitudinal direction, facing each other at a predetermined interval in the Z direction, and on the XY plane. Each of them is held in parallel and fixed to the inner wall surface of the frame member 530.
  • the permanent magnet 554a of the stage section 520 is arranged between the armature units 552a and 552b via a predetermined clearance.
  • the moving magnet type linear motor 5 which can move the stage section 52 in the Y direction by the Y-axis linear guides 54 2 a, 54 2 b and the magnetic pole units 54 4 a, 54 4 b. 0 is configured.
  • the armature units 55 2 a and 55 2 b and the permanent magnets 55 4 a make it possible to form a moving magnet type boil coil motor 55 0 that can slightly move the stage section 52 in the X direction. Be composed.
  • the frame-shaped member (second moving member) 530 has a gas static pressure bearing formed on the lower surface thereof. As a result, the frame-shaped member 530 is levitated and supported on the reticle surface plate 510 in a non-contact manner through a clearance of about several microns.
  • movers 561, 563, 565, 567 made of magnetic units are provided on the + X side and the + Y side of the frame member 530.
  • a reticle plate 5 10 is provided with a stator 5 comprising an armature unit via a support 5 2. 6 2, 5 6 4, 5 6 6 and 5 6 8 are provided.
  • the movers 561, 563, 565, and 567 each have a permanent magnet therein, and form a magnetic field in the Z direction.
  • the stators 562 and 5664 each have an armature coil therein, and are formed so that current flows in the Y direction.
  • the stators 566 and 568 each include an armature coil therein, and are formed so that current flows in the X direction. Therefore, the movers 56 1 and 56 3 and the stators 56 2 and 56 4 constitute a trim motor 560 X for driving in the X-axis direction, which is a moving magnet type Pois coil motor.
  • the movers 566, 567 and the stators 566, 568 constitute a Y-axis direction trim motor 560Y composed of a moving magnet type voice coil motor.
  • Torimumo Isseki 5 6 0 X, 5 6 0 Y can be driven frame member 5 3 0 X-axis direction, Y axis direction, and the directions of three degrees of freedom S z direction It is.
  • window glasses 532, 534 are fitted in the side walls of the frame-shaped member 5300 in the X and Y directions, respectively. Length measurement beams from a total of 235a to 235c can be transmitted.
  • the position of the stage 520 in the Y direction is determined by measuring the length measurement beam emitted from the laser interferometers 235a to 235c through the window glass 534, and moving the mirrors 233a and 233. It is performed by irradiating 3b and detecting the reflected light.
  • the position of the stage section 520 in the X direction and 0Z direction is determined by irradiating the X fixed mirror (not shown) fixed to the reticle surface plate 510 with multiple measurement beams and detecting the reflected light. It is done by doing.
  • the X movable mirror is formed to be long along the Y direction so as to cover the movable range of the stage section 520, and is installed outside the frame member 530.
  • the measuring beam that has passed through the window glass 534 is bent about 90 degrees in the optical path by an optical element fixed to the stage section 520, and then passes through the window glass 532 to the X fixed mirror. Has reached to reach.
  • the window glass 532, 534 is not provided on the frame-shaped member 5330, and the emission section of the length measuring beam and the X fixed mirror are arranged inside (inside the frame) of the frame-shaped member 5330. You may do so.
  • the reaction force accompanying the movement of the stage section 52 0 is canceled by the movement of the frame member 5300.
  • the mover of the voice coil motor 550 is driven integrally with the stage section 520 in the X-axis direction, and the driving force is inverted.
  • the force acts on the stator (the armature units 552a, 552b) of the voice column 550 and the frame member 530 on which the stator is fixed. Since the frame member 530 is supported in a non-contact manner with respect to the reticle surface plate 510 via a predetermined clearance, the frame member 530 retains momentum by the above-described reaction force.
  • the frame member 5300 moves according to the law of conservation of momentum.
  • the frame-shaped member 530 is formed so as to surround the stage portion 520, it is inevitably increased in size and increased in weight. Therefore, it is possible to increase the weight ratio with the stage section 520. Therefore, the moving distance of the frame member 530 is relatively short.
  • the weight of the frame member (counter mass) 530 is determined by the stage including the weight of the reticle clamp 600. The weight ratio is set in consideration of the weight of the part 520.
  • FIG. 11A is a perspective view showing the reticle clamp 600, and shows a form in which the reticle R is pressed and held.
  • FIG. 11B is an exploded perspective view of the reticle clamp 600. Note that reticle clamp 600 has substantially the same basic structure as reticle clamp 300 described above, and therefore, the same portions as reticle clamp 300 will be briefly described.
  • the reticle clamp (fixing device) 600 has a base section 610, a pad section 620, a slide guide section 640, and a clamping spring section 6
  • the base portion 6100 is substantially the same member as the base portion 310, and rotatably supports a pad portion 620 described later on a pin 612 provided in the concave portion 611.
  • the two guide insertion holes 6 13 provided on both sides, the rod member 6 41 and the stopper
  • the slide guide section 6400 consisting of 642 is inserted and fixed.
  • two claws 614 each having an inclined surface 614a and a substantially vertical surface 614b are provided.
  • the pad portion 620 is formed of a member formed in a substantially triangular shape when viewed from the side surface (Y direction), and a pin hole 621 is provided at one vertex thereof. Then, as described above, the pin 612 of the base 610 fits into the pin hole 621. As a result, it is housed in the concave portion 611 of the base portion 610 and is rotatably supported. A panel mechanism is built in the fitting part between the pin hole 6 21 and the pin 6 12, and the pad 6 It is urged in the direction of flipping 20 upward. Further, on the lower surface of the pad portion 620, a contact portion 622 is provided, which comes into contact with the reticle R placed on the reticle holder 525.
  • the contact portion 622 is formed to extend in the Y direction. This is because the reticle R is pressed on a wider surface or at multiple points. In the present embodiment, as shown in FIG. 10, each contact portion 62 has two clamping areas 600 p, and these two points press the reticle R with an equal force. It has become.
  • the contact portion 3222 is made of an elastic body 62a so as not to damage the reticle R with which it comes into contact, and the entire periphery thereof is chamfered.
  • an arc surface 623 is formed at the other apex portion disposed above, which is in contact with a connecting portion 652 of a clamping spring portion 650 described later.
  • the arc surface 6 23 forms a cam mechanism together with the roller 6 59 of the connecting portion 6 52. More specifically, the pad 620 is rotated around the pin hole 621 by pressing the arc surface 623 in the + X direction with the opening 659 of the cran pinder spring portion 360. It is like that.
  • an elastic pivot may be provided at the clamp point so that the reticle R can always be pressed in the same state irrespective of the thickness error or variation of the reticle R.
  • the clamp pin spring portion 650 includes a main body 651, a connecting portion 652, and a panel portion 653, and the main body 651 and the connecting portion 6552 are connected by a spring portion 653. It has a structure.
  • the main body 651 is provided with two holes 655 that are fitted with the slide guides 64, so that the main body 651 is movably supported in the X direction.
  • a cam follower 658 is provided substantially at the center of the upper part of the main body 651. Further, at both upper ends of the main body 651, holes 657 to which the follower portion 660 is fitted are provided. Note that the force follower 658 is provided with a bearing 658a to reduce friction at the time of contact with a cam member 700 described later.
  • the connecting portion 652 is made of a member extending in the X direction, and a roller 659 is provided at the tip thereof.
  • the panel portion 653 is constituted by an elastic hinge mechanism, and connects the connecting portion 652 to the main body 651 so as to be movable in the X direction.
  • the elastic force of the panel portion 653 gives a force for pressing and holding the reticle R.
  • the follower part 660 is composed of the main body 661, the pin part 662 provided on both ends of the main body 661, the cam follower 666 provided on the upper part of the main body 661, and the main body 661 to + X.
  • One It is composed of a holding plate 6 65 extending in the direction.
  • the follower portion 660 is rotatably supported by the clamping spring portion 650 when the pin portion 662 is fitted into the hole 657 of the clamping spring portion 650.
  • a panel mechanism is built in the fitting portion between the pin portion 662 and the hole portion 657, and the panel mechanism is urged in a direction of pressing the holding plate 665 downward, and the holding plate 665 is moved. Maintained to be approximately horizontal.
  • a rectangular hole 665a to be fitted with the claw portion 614 of the base portion 610 is provided on both sides of the tip of the holding plate (holding device) 665.
  • the cam follower 663 is provided with a bearing (bearing) 6363a to reduce friction when the cam follower comes into contact with the cam member 700 described later.
  • FIG. 12 is a schematic diagram showing the exposure apparatus 150.
  • Exposure apparatus 150 has substantially the same configuration as exposure apparatus 100 except for reticle stage apparatus 500, and the same components are denoted by the same reference numerals. Is omitted.
  • the reticle stage device 500 is provided directly below the exposure illumination system 10.
  • the specific configuration of the reticle stage device 500 is as described above.
  • load / unload area AO load area A 2, unopened area A 3
  • a clamp drive area A1 and an exposure area A4 are formed.
  • a cam member 70 functioning as a cam device (conversion device) C 2 integrally with the above-described cam followers 65 8 and 63 of the reticle clamp 600. 0 is placed.
  • the cam member 700 is fixed to a reticle surface plate 5100 or the like via an elevating device 7100.
  • FIG. 13 is a schematic diagram showing the cam member 700.
  • the cam member 700 has substantially the same structure as the cam member 400.
  • 70 3 a and 70 3 b are formed.
  • the cam followers 658 abut against the side walls of the protruding portions 702a and 702b.
  • the cam followers 663 come into contact with the side walls of the protruding portions 703a and 703b.
  • the protrusion 7 0 2
  • the sides of a, 702b, 703a and 703b are provided with a quenched material (for example, SUS420J) to reduce wear due to contact with the cam followers 658, 636. 2 quenched and tempered material) and hard chrome plating.
  • a quenched material for example, SUS420J
  • a member obtained by applying a hard chrome finish to a quenched material as described above may be used in a place where measures against wear are required.
  • the distance in the X direction between the protruding part 70 2a and the protruding part 70 3 a, and the protruding part 70 3 b and the protruding part 73 are formed to be large, gradually become narrower in the + Y direction, and become larger again.
  • the protruding portions 70 2 a and 70 2 b are formed so as to gradually approach the inside (the reticle R side) as they go in the + Y direction, and thereafter gradually approach the outside.
  • the area in which the protruding portions 720a, 720b, 703a, and 703b are formed is referred to as a clamp driving area A1.
  • each cam follower 658 ⁇ first comes into contact with the protruding portions 702a and 702b, respectively, and is guided to move from the outside to the inside once. After that, you will be guided to move from outside to inside again.
  • the cam follower 666 moves following the cam follower 658, but when it comes into contact with the projecting portions 703a, 703b, the direction opposite to the cam follower 666, that is, the cam follower 663, 3 is guided away from the reticle and closer to the cam follower 6 5 8.
  • a spring (impinging device) 704 is provided at the tip of the cam member 700, and an elevating device (a retracting device) for moving the cam member 700 upward. 7 10 is provided.
  • the contact point between the cam member 700 and the cam follower 666 may be set so as to be low on the side where the reticle clamp 600 is closed (open ⁇ closed) and high on the side where the reticle clamp 600 is open (closed / open). .
  • the moment load generated when the clamp 600 closes can be suppressed to a small value, and when the clamp 600 opens, the holding plate 665 can be easily detached from the claw portion 6 14.
  • an exposure process using the exposure apparatus 150 will be described. However, since most of the processes are substantially the same as those in the first embodiment, only the operation of the reticle clamp 600 will be described below.
  • FIG. 14 is a diagram showing the operation of the reticle clamp 600 when pressing and holding the reticle R.
  • the reticle clamp 600 is maintained in an initial state with the pad portion 62 0 jumping up. This is because it is urged by a spring mechanism built in the fitting portion between the pin hole 6 21 and the pin 6 12.
  • the force applied to the cam follower 658 along with the movement of the clamping spring portion 650 changes from the roller 595 provided at the tip of the connecting portion 652 to the arc surface of the pad portion 620. It is transmitted to the pad section 6 20 via 6 2 3 and rotates the pad section 6 20 around the pin hole 6 2 1.
  • the cam follower 663 is moved away from the reticle R (rightward on the paper) immediately before the holding plate 665 comes into contact with the claw 614 of the base 610.
  • the force of acting That is, the cam follower 663 began to move outward (in the direction away from the reticle R) along the protrusions 70a and 70b of the cam member 700 in the clamp drive area A1. Is the case.
  • the follower portion 660 rotates around the pin portion 662, and the holding plate 665 is flipped up.
  • the pad portion 62 rotates further around the pin hole 621, and the contact portion 622 Abuts on Chicle R.
  • the pad portion 62 cannot rotate further around the pin hole 621, so that the panel portion 653 of the clamping spring portion 65 Begins to deform.
  • the reticle clamp 600 holding the reticle R firmly and holding it has cam followers 658 and 663 respectively. Act. That is, the cam followers 65 8 and 66 3 enter the clamp drive area A 1, and the projecting portions 70 2 a, 70 2 b, 70 3 a, 70 of the cam member 700.
  • the holding plate 665 returns to the horizontal state, and the point of action of the force on the cam follower 658 moves so as to move away from the reticle R. That is, only the cam followers 658 are provided on the protrusions 70a and 70b of the cam member 700. This is the case when they are in contact. As a result, the follower portion 660 and the clamp pin spring portion 650 are integrally moved along the slide guide portion 640 toward the right side of the drawing.
  • the reticle clamp 600 is returned to the initial state, and the pressing and holding of the reticle R is released. Subsequently, the reticle R can be removed from the stage section 520 by releasing the suction holding of the reticle R by the reticle holder 525.
  • the reticle clamp 6.0 0 differs from the reticle clamp 3 0 0 in that the hole 6 6 5 a of the holding plate 6 6 5 5 rubs against the slope 6 14 a of the claw 6 1 4a, and when releasing the mating, the hole 6 6 5a of the holding plate 6 6 5a and the substantially vertical surface 6 of the claw 6 1 4 Since 14b does not rub against each other, the pressing and holding operation and the opening operation of reticle clamp 600 are performed smoothly over a long period of time. In other words, there is almost no problem caused by the wear of the holding plate 665 and the claw portions 614.
  • a detection device to confirm that the reticle R is not released from being held by the reticle clamp 600 during the exposure processing.
  • a detection device to confirm that the reticle R is not released from being held by the reticle clamp 600 during the exposure processing.
  • a reflecting mirror is provided on the upper surface of the connecting portion 652, and a laser length measuring device is provided above the exposure area A so as not to hinder the exposure operation.
  • the operation of the reticle clamp 600 can be detected by measuring the position in the X direction or the position in the Z direction of the connecting portion 652 passing below with a laser measuring device. Become.
  • the reticle R is securely held on the reticle stage device 500, so that it is possible to avoid a problem caused by the reticle clamp 600 being released during the exposure processing.
  • the present invention is not limited to this.
  • the load area A2 and the unload area A3 may be arranged at both ends of the stroke of the reticle stage device 200, 500, and the cam member 400 may be arranged in each area.
  • the lifting / lowering device 410/710 which retreats the cam member 400/700 from the load area A2 or the unload area A3 is used for moving the cam member 400/700 up and down.
  • the cam members 400 and 700 may be rotated and retracted.
  • stage sections 203 and 520 open and close the reticle clamps 300 and 600 after passing through the cam members 400 and 700, consider the durability of the reticle R.
  • the speed of the stage sections 203 and 520 may be limited.
  • the stators 205 of the linear motors 205, 540 correspond to the movement of the stage units 203, 520 in the + Y direction.
  • the movement of 5 4 2 in the Y direction offsets the reaction force associated with the movement of the stage sections 2 0 3 and 5 2 0 to prevent changes in the position of the center of gravity. Absent.
  • An air pad is provided between the reticle device 200, 500 and the column 201, and the reticle device 200, 500 is floated and supported.
  • the reticle surface plates 202 and 510 may be configured to move in the ⁇ Y direction according to the movement in the direction.
  • the present invention is not limited to this, and the case where the wafer W is pressed and held by the clamp device (fixing device). You may. Alternatively, the reticle R and the wafer “W” may be pressed and held, respectively.
  • the present invention is not limited to the case where reticle clamps 300 and 600 press the upper surface of reticle R, and may press the end surface of reticle R.
  • a step-and-step method of exposing a pattern of a mask in a state where the mask and the substrate are stationary and sequentially moving the substrate in steps may be used.
  • a proximity exposure apparatus that exposes a mask pattern by bringing a mask and a substrate into close contact without using a projection optical system may be used.
  • the use of the exposure apparatus is not limited to the exposure apparatus for manufacturing semiconductor devices.
  • an exposure apparatus for a liquid crystal that exposes a liquid crystal display element pattern to a square glass plate, a thin film magnetic head, and the like. It can be widely applied to an exposure apparatus for manufacturing a semiconductor device.
  • the light source of the exposure apparatus to which the present invention is applied includes g-line (436 nm), i-line (365 nm), KrF excimer laser (248 nm), and ArF excimer laser. Not only the laser (193 nm) and the F2 laser (157 nm), but also charged particle beams such as X-rays and electron beams can be used. For example, when an electron beam is used, a thermionic emission type lanthanum hexaporite (L a B 6) or tantalum (T a) can be used as the electron gun.
  • magnification of the projection optical system may be not only a reduction system but also any one of an equal magnification and an enlargement system.
  • a projection optical system when far-ultraviolet light such as an excimer laser is used, a material that transmits far-ultraviolet light such as quartz or fluorite is used as a glass material, and when an F2 laser or X-ray is used, a catadioptric system is used. Alternatively, a refraction type optical system is used (at this time, a reflection type reticle is used).
  • an electron optical system including an electron lens and a deflector may be used as the optical system. It goes without saying that the optical path through which the electron beam passes is in a vacuum state.
  • the stage may be a type that moves along a guide or a guideless type that does not have a guide.
  • a plane motor is used as the stage driving device, one of the magnet unit (permanent magnet) and the armature unit is connected to the stage, and the other of the magnet unit and the armature unit is connected to the stage moving surface ( Base).
  • the reaction force generated by the movement of the wafer stage is, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 8-166475 and the corresponding US Pat. No.
  • the material may be mechanically released to the floor (ground) using a member.
  • the reaction force generated by the movement of the reticle stage is, as described in Japanese Unexamined Patent Publication No. Hei 8-330302 and the corresponding US Pat. No. 6,683,433, a frame.
  • the material may be mechanically released to the floor (ground) using a member.
  • the above publication and the corresponding US patent disclosure will be incorporated by reference.
  • the exposure apparatus to which the present invention is applied is configured such that various subsystems including the respective constituent elements recited in the claims of the present application maintain predetermined mechanical accuracy, electrical accuracy, and optical accuracy. It is manufactured by assembling. Before and after this assembly, adjustments to achieve optical accuracy for various optical systems, adjustments to achieve mechanical accuracy for various mechanical systems, and various electrical For, adjustments are made to achieve electrical accuracy.
  • the process of assembling the exposure apparatus from various subsystems includes mechanical connections, wiring connections of electric circuits, and piping connections of pneumatic circuits among the various subsystems. It goes without saying that there is an individual assembly process for each subsystem before the assembly process from these various subsystems to the exposure apparatus.
  • the exposure apparatus When the process of assembling the various subsystems into the exposure apparatus is completed, a comprehensive adjustment is performed to ensure various precisions of the entire exposure apparatus. It is desirable that the exposure apparatus be manufactured in a clean room in which the temperature, cleanliness, etc. are controlled. As shown in Fig.
  • a micro device such as a semiconductor device has a step 801 of designing the function and performance of the micro device, a step 802 of manufacturing a mask (reticle) based on the design step, and a silicon Step 803 of manufacturing a wafer which is a base material of a device from materials, Step 804 of exposing a mask pattern to a wafer by the exposure apparatus of the above-described embodiment, Step of assembling a device (dicing process) , Bonding process, package process) 805, inspection step 806 and so on.
  • a fixing device drives automatically and fixes a plate-shaped object only by a stage device passing a predetermined area, without providing a special drive device. be able to.
  • the fixing device is automatically driven just by the stage device passing through a predetermined area to fix the plate-like body without providing a special driving device. can do.
  • the fixing device firmly presses and holds the mask or the substrate, the mask or the substrate is displaced even if the stage is rapidly accelerated or decelerated during the exposure processing. Therefore, a highly accurate pattern can be transferred to a substrate.
  • the exposure method of the fourth aspect of the present invention since the mask or the substrate can be firmly pressed and held, even if the stage is accelerated or decelerated at a high speed during the exposure processing, the mask or the substrate is not displaced, and high accuracy is achieved. A good pattern can be transferred to a substrate.
  • a device to which a highly accurate pattern has been transferred can be manufactured.

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Abstract

このステージ装置は、戴置面に板状体を戴置して移動可能な移動部材を有するステージ装置であって、板状体を戴置面に固定する固定装置を備え、固定装置は、移動部材が所定の第1領域を通過するのに連動して板状体の固定を行うようにした。

Description

ステージ装置、 固定方法、 露光装置、 露光方法、 及びデバイスの製造方法 技術分野
本発明は、 パターンが描画されたマスクや基板を載置して定盤上を精密に 1次 元或いは 2次元移動するステージ装置と、 そのステージ装置を用いた露光装置等 に関する。
本願は、 2 0 0 3年 6月 4日に出明願された特願 2 0 0 3— 1 5 9 8 0 0号に対 し優先権を主張し、 その内容をここに援用する。
背景技術
従来から、 回路パターンが描画されたマスク等に照明光 (紫外線、 X線、 電子 線等のエネルギー線) を照射して、 等倍、 所定の縮小倍率あるいは拡大倍率を有 する投影結像系を介して感応基板 (レジスト層が塗布された半導体ウェハゃガラ スプレ一ト等) 上に投影露光することにより、 半導体デパイスや液晶表示デパイ ス等の回路パターンを形成するマイクロリソグラフィ装置では、 マスクや感応基 板を載置してレ一ザ干渉計による位置サーポ制御の下で平面 (X Y平面) 内で精 密に 1次元或いは 2次元移動するステージ装置が設けられる。
このようなステージ装置においては、 一般的に、 マスクや基板を真空吸着力の みによって吸着保持している。 特に、 マスクは、 吸着保持される面積が狭く、 ま た、 ウェハの 4〜 5倍程度の速度で走査されるため、 マスクの保持力が不足し、 マスクステージの走査中にマスクの位置ずれが生じやすい。 このため、 特開平 1 0 - 1 4 9 9 7 9号公報に示すように、 位置決めの基準となる部材にマスクを当 接させて、 ずれを防止する技術がある。
ところで、 近年では、 露光装置の生産性を向上させるためにレチクルステージ やウェハステージの走査速度を大きくすることが望まれており、 ウェハにかかる 加速力は 5〜 6 G程度に達している。
しかしながら、 上述した技術では、 マスクを保持する力は、 マスクの裏面 (下 面)に作用する真空吸着力のみであるため、ステージ装置が高加速で移動すると、 保持力が不足し、 マスクがずれて転写精度が劣化するという問題がある。 発明の開示
本発明は、 このような事情に鑑みてなされたもので、 ウェハステージ等のステ ージ装置の駆動中に、 マスク等を強固に保持することにより、 位置ずれを起こす おそれのないステージ装置、 およびこれを用いた露光装置等を提供することを目 的とする。 なお、 本発明を分かりやすく説明するために、 一実施形態を示す図面 の符号に対応付けて説明するが、 本実施形態に限定されるものではない。
本発明の第 1の態様は、 戴置面 (211, 525) に板状体 (R, W) を戴置 して移動可能な移動部材 (203, 520) を有するステージ装置 (50, 20 0, 500) であって、 板状体を戴置面に固定する固定装置 (300, 600) を備え、 固定装置は、 移動部材が所定の第 1領域 (A1) を通過するのに連動し て板状体の固 を行うようにした。
これにより、 特別な駆動装置を設けることなく、 ステージ装置が所定の領域を 通過するだけで自動的に固定装置が駆動して板状体を固定することができる。 また、 板状体 (R, W) を移動部材(203,, 520) に搭載する第 2領域(A
2) を有し、 移動部材が第 2領域から移動した後に第 1領域 (A1) を通過する ことで、 固定装置 (300, 600) が板状体を固定するものでは、 移動部材に 板状体を搭載したステージ装置が、 第 2領域から移動して第 1領域を通過するだ けで、 自動的に固定装置が駆動して板状体を固定することができる。
また、 移動部材(203, 520) から板状体(R, W) を降ろす第 3領域(A
3) を有し、 移動部材が第 3領域に向かう途中で第 1領域 (A1) を通過するこ とで、 固定装置 (300, 600) が板状体の固定を解除するものでは、 移動部 材に板状体を搭載したステージ装置が、 第 1領域を通過して第 3領域に移動する だけで、 自動的に固定装置が駆動して板状体の固定を解除することができる。 また、 第 2領域 (A2) と第 3領域 (A3) とが同一の領域であるものでは、 板状体を移動部材に搭載する領域と移動部材から板状体を降ろす領域とが同一と なり、 装置の巨大化を抑えることができる。 また、 固定装置 (300, 600) が板状体 (R, W) を固定する際に移動部 材 (203, 520) が第 1領域 (A1) を通過するときの移動方向と、 固定装 置が板状体の固定を解除する際に第 1領域を通過するときの移動方向とは、 互い に相反する向きであるものでは、 板状体を固定する領域と板状体の固定を解除す る領域とを、 第 1領域を挟んで明確に区別することができる。
また、 移動部材 (203, 520) が第 1領域 (A1) を通過する際に、 移動 部材の一部と機械的に接触することで移動部材の移動を固定装置 (300, 60 0) の動力に変換する変換装置 (C, C2) をさらに備えるものでは、 特別なァ クチユエ一夕を用いることなく、 固定装置を駆動させることが可能となる。
また、 移動部材 (203, 520) を支持するベース部 (202, 510) を さらに備えるとともに、 変換装置はカム装置 (C, C2) であって、 カム装置が ベース部に設けられたカム部材(400, 700) と固定装置 (300, 600) に設けられたカムフォロア (363, 658, 663) とを備えるものでは、 力 ム装置により、 ステージ装置の移動を固定装置の動力に変換することが容易かつ 確実に行うことができる。
また、 カムフォロア (363, 658, 663) が、 カム部材 (400, 70 0) との摩擦を低減する軸受 (363 a, 658 a, 663 a) を備えるもので は、 固定装置の動作が滑らかになるとともに装置寿命を延ばすことができる。 また、 カム部材 (400, 700) は、 カムフォロア (363, 658, 66 3) との接触時の抵抗を低減する暖衝装置(403, 703)を備えるものでは、 固定装置の動作が滑らかになるとともに装置寿命を延ばすことができる。
また、 カム部材 (400, 700) を移動部材 (203, 510) の移動経路 (A0〜A4) から退避させる退避装置 (410, 710) をさらに備えるもの では、 カム部材を移動経路から退避させことにより、 固定装置の駆動を停止させ ることができる。
また、 移動部材 (203, 510) が第 1領域 (A1) を通過する際に、 移動 部材の一部と機械的に接触することで、 移動部材の移動を固定装置 (300, 6 00) の動力にするカム装置 (C, C2) をさらに備え、 カム装置の少なくとも 一部が第 2領域 (A2) に配置されるものでは、 第 2領域にカム装置が配置され るので、 他の領域では、 固定装置とカム装置とが接触することなく、 ステージ装 置が高精度な移動を実現することができる。
また、 固定装置 (300, 600) が、 板状体 (R, W) の固定を保持するた めの保持装置 (364, 665) を備えるものでは、 固定装置がカム装置とが接 触していない場合でも、 板状体の固定を保持 (維持) することができる。
また、 固定装置 (300, 600) が、 板状体 (R, W) との接触部(322, 622) に設けられた弾性体 (322 a, 622 a) を備えるものでは、 固定装 置が板状体を損傷させることを回避することができる。
また、 移動部材 (203, 520) の駆動時に生じる反力の作用により、 移動 部材との間の重量比に応じて移動部材の移動方法とは反対の方向に移動するよう に設けられた第 2移動部材 (205 a, 205 b, 530) を備え、 移動部材の 重量が、 固定装置 (300, 600) の重量の少なくとも一部を含んでいるもの では、前記反力を第 2移動部材の移動によつて相殺又は緩和させることができる。 そのため、 ステージ装置の振動を抑えることが可能となる。 また、 前記反力を相 殺すれば、 ステージ装置の重心位置の変化を防ぐことも可能になる。
本発明の第 2の態様は、 ステージ装置 (50, 200, 500) が有する移動 部材 (203, 510) に板状体 (R, W) を固定する方法であって、 移動部材 がステージ装置内に設けられた所定の第 1領域 (A1) を通過するのに連動して 板状体の固定を行うようにした。
これにより、 特別な駆動装置を設けることなく、 ステージ装置が所定の領域を 通過するだけで自動的に固定装置が駆動して板状体を固定することができる。 また、 移動部材 (203, 510) が、 板状体 (R, W) を移動部材に搭載す る第 2領域 (A2) から移動した後に第 1領域 (A1) を通過することで、 固定 装置 (300, 600) が板状体を固定するものでは、 移動部材に板状体を搭載 したステージ装置が、 第 2領域から移動して第 1領域を通過するだけで、 自動的 に固定装置が駆動して板状体を固定することができる。
また、 移動部材 (203, 510) が、 移動部材から板状体 (R, W) を降ろ す第 3領域 (A3) に向かう途中で第 1領域 (A1) を通過することで、 固定装 置 (300, 600) が板状体の固定を解除するものでは、 移動部材に板状体を 搭載したステージ装置が、 第 1領域を通過して第 3領域に移動するだけで、 自動 的に固定装置が駆動して板状体の固定を解除することができる。
また、 第 2領域 (A 2 ) と第 3領域 (A 3 ) とが同一の領域であるものでは、 板状体を移動部材に搭載する領域と移動部材から板状体を降ろす領域とが同一と なり、 装置の巨大化を抑えることができる。
本発明の第 3の態様は、 マスク (R) を保持するマスクステージ (2 0 0, 5 0 0 ) と、 基板 (W) を保持する基板ステージ (5 0 ) とを有し、 マスクに形成 されたパターン(P A) を基板に露光する露光装置(1 0 0, 1 5 0 ) において、 マスクステージと基板ステージの少なくとも一方に、 第 1の発明に係るステージ 装置 (5 0 , 2 0 0, 3 0 0 ) を用いるようにした。
これにより、 固定装置がマスク或いは基板を強固に押圧保持するので、 露光処 理中にステージを高速に加減速させても、マスク或いは基板がずれることがなく、 高精度なパターンを基板に転写することができる。
本発明の第 4の態様は、 マスク (R) をマスクステージ (2 0 0, 5 0 0 ) に 固定するとともに、 基板 (W) を基板ステージ (5 0 ) に固定し、 マスクに形成 されたパターン (P A) を基板に露光する露光方法において、 マスクの固定方法 と基板の固定方法の少なくとも一方に、 第 2の発明に係る固定方法を用いるよう にした。
これにより、 マスク或いは基板を強固に押圧保持できるので、 露光処理中にス テージを高速に加減速させても、 マスク或いは基板がずれることがなく、 高精度 なパターンを基板に転写することができる。
本発明の第 5の態様は、リソグラフイエ程を含むデバイスの製造方法において、 リソグラフイエ程において第 3の発明に係る露光装置 (1 0 0, 1 5 0 ) を用い るようにした。 また、 リソグラフイエ程を含むデバイスの製造方法において、 リ ソグラフイエ程において第 4の発明に係る露光方法を用いるようにした。
これにより、高精度なパターンが転写されたデバイスを製造することができる。 図面の簡単な説明
図 1は、 第 1実施例のレチクルステージ装置を示す斜視図である。 図 2 A, Bは、 第 1実施例のレチクルクランプを示す斜視図である。
図 3は、 第 1実施例の露光装置を示す模式図である。
図 4 A, Bは、 第 1実施例のカム部材を示す模式図である。
図 5 A〜Dは、 第 1実施例のレチクルクランプがレチクルを押圧する際の動作 図である。
図 6 A〜Dは、 第 1実施例のレチクルクランプがレチクルの保持を開放する際 の動作図である。
図 7は、 第 2実施例のレチクルステージ装置を示す斜視図である。
図 8は、 第 2実施例のレチクルステージ装置を示す斜視分解図である。
図 9 A, Bは、 第 2実施例のレチクルステージ装置のステージ部を示す図であ る。
図 1 0は、 第 2実施例のレチクルステージ装置におけるレチクルホルダとレチ クルクランプの配置を示す図である。
図 1 1 A, Bは、 第 2実施例のレチクルクランプを示す斜視図である。
図 1 2は、 第 2実施例の露光装置を示す模式図である。
図 1 3 A, Bは、 第 2実施例のカム部材を示す模式図である。
図 1 4 A〜Dは、 第 2実施例のレチクルクランプがレチクルを押圧する際の動 作図である。
図 1 5は、 半導体デバイスの製造工程の一例を示すフローチャート図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 図 1〜図 6を参照しつつ、 本発明のステージ装置等の第 1実施例につい て説明する。
図 1は、 本発明に係るレチクルステージ装置 2 0 0を示す斜視図である。
レチクルステージ装置(ステージ装置) 2 0 0は、 レチクル(板状体, マスク) Rのパターン P A面を下にして保持するとともに、 Y方向に一次元走査移動し、 さらに X方向、 及び回転方向 (0 Z方向) にも微動する装置である。
レチクルステージ装置 2 0 0は、 コラム 2 0 1 (図 3参照) に支持されたレチ クル定盤 (ベース部) 2 0 2上を Y方向に所定ストロークで駆動されるステージ 部 2 0 3を備える。
ステージ部 (移動部材) 2 0 3は、 一対の Yリニアモータ 2 0 5によって Y方 向に駆動されるレチクル粗動ステージ 2 0 6と、 このレチクル粗動ステージ 2 0 6上を一対の Xボイスコイルモータ 2 0 7 Xと一対の Yボイスコイルモータ 2 0 7 Yとによって X, Υ, 0 Z方向に微小駆動されるレチクル微動ステージ 2 0 8 とを備える構成となっている。
各 Yリニアモータ 2 0 5は、 レチクル定盤 2 0 2上に非接触ベアリングである 複数のエアべァリング (エアパッド) 2 0 9によって浮上支持され Y方向に延び る固定子(第 2移動部材) 2 0 5 aと、この固定子 2 0 5 aに対応して設けられ、 連結部材 2 3 1を介してレチクル粗動ステージ 2 0 6に固定された可動子 (第 2 移動部材) 2 0 5 bとから構成されている。このため、運動量保存の法則により、 レチクル粗動ステージ 2 0 6の + Y方向の移動に応じて、 固定子 2 0 5 aは一 Y 方向に移動する。 この固定子 2 0 5 aの移動によりレチクル粗動ステージ 2 0 6 の移動に伴う反力を相殺するとともに、 重心位置の変化を防ぐことができる。 レチクル粗動ステージ 2 0 6は、 レチクル定盤 2 0 2の中央部に形成された上 部突出部 2 0 2 bの上面に固定され Y方向に延びる一対の Yガイド 2 3 2によつ て Y方向に案内されるようになっている。また、レチクル粗動ステージ 2 0 6は、 各 Yガイド 2 3 2に対して不図示のエアベアリングによって非接触で支持されて いる。
レチクル微動ステージ 2 0 8は、 レチクル Rのパターン P Aに対応した開口を 有し、 その開口の周辺に配置された平面形のレチクルホルダ (戴置面) 2 1 1を 介して、レチクル Rがパターン P Aを下にして吸着保持されるようになっている。 また、 レチクルホルダ 2 1 1の X方向の両端には、 4つ (片側に、 それぞれ 2つ) のレチクルクランプ 3 0 0が配置される。
レチクルクランプ 3 0 0は、 レチクルホルダ 2 1 1によるレチクル Rの吸着保 持力の不足を補うために、 レチクル Rを上方から機械的に押圧して保持する装置 である。 レチクルクランプ 3 0 0がレチクルホルダ 2 1 1の X方向の両端に配置 されるのは、 Y方向に移動して搬送されてレチクルホルダ 2 1 1に戴置されるレ チクル Rとの干渉を避けるためである。 したがって、 レチクル Rの搬送の障害と ならなければ、 レチクルクランプ 3 0 0をレチクル Rの Y方向の両端に配置して もよい。 また、 配置されるレチクルクランプ 3 0 0の台数は、 レチクル Rを保持 するために必要な押圧力に応じて任意に定めることができる。 ただし、 押圧によ るレチクル Rの歪みを防止するために、 レチクル Rに対して均等 (例えば、 四隅 等) に配置することが望ましい。
また、 レチクル微動ステージ 2 0 8の— Y方向の端部には、 コーナーキューブ からなる一対の Y移動鏡 2 3 3 a , 2 3 3 bが固定され、 更に、 レチクル微動ス テージ 2 0 8の + X方向の端部には、 Y軸方向に延びる平面ミラ一からなる X移 動鏡 2 3 4が固定されている。 そして、 これら移動鏡 2 3 3 a, 2 3 3 b , 2 3 4に対して、 外部に設けた 3つのレーザ干渉計 2 3 5 a〜2 3 5 c (図 3参照) が各移動鏡との距離を計測することにより、 レチクル微動ステージ 2 0 8の X, Υ, θ ζ ( Ζ軸回りの回転) 方向の位置が高精度に計測される。 なお、 レチクル 微動ステージ 2 0 8の位置計測情報 (すなわち、 レチクル Rの位置情報) は、 主 制御系 7 0に送信される。
次に、 レチクルクランプ (固定装置) 3 0 0の構成について詳述する。 図 2 Α は、 レチクルクランプ 3 0 0を示す斜視図であり、 レチクル Rを押圧保持してい る際の形態を示す。 また、 図 2 Βは、 レチクルクランプ 3 0 0の分解^ "視図であ る。
図 2 Βに示すように、 レチクルクランプ 3 0 0は、 ベース部 3 1 0、 パッド部 3 2 0、 リンク部 3 3 0、 スライドガイド部 3 4 0、 クランビングスプリング部 3 5 0、 フォロア部 3 6 0から構成される。
ベース部 3 1 0は、 レチクルホルダ 2 1 1の X方向に両脇に設けられる。 X方 向に沿って略凹形状に形成された凹部 3 1 1には、 ピン 3 1 2が設けられる。 そ して、 この凹部 3 1 1には、 パッド部 3 2 0が収納されるとともに、 後述するパ ッド部 3 2 0のピン穴 3 2 1とピン 3 1 2とが嵌合して、 パッド部 3 2 0を回転 可能に支持する。
また、 ベース部 3 1 0の両脇には、 スライドガイド部 3 4 0を挿入して固定す るための 2つのガイド挿入穴 3 1 3が X方向に沿って設けられる。 したがって、 ガイド揷入穴 3 1 3にスライドガイド部 3 4 0を揷入すると、 2本のスライドガ イド部 3 4 0が X方向に平行に延びた状態で固定される。 なお、 スライドガイド 部 3 4 0は、 ロッド部材 3 4 1からなり、 その一端にはロッド部材 3 4 1よりも 大径に形成されたストッパ部 3 4 2が設けられる。
また、 ベース部 3 1 0の上面には、 2つの爪部 3 1 4が設けられる。 爪部 3 1 4は、 側面形状が略三角形に形成され、 X方向に沿ってレチクル Rに近づくにつ れて徐々に高くなる斜面 3 1 4 aと、 レチクル Rに対向する略垂直な面 3 1 4 b を有する。
パッド部 3 2 0は、 略三角形に形成された部材からなり、 その一頂点部分 (リ ニァモータ側) には、 ピン穴 3 2 1が設けられる。 そして、 上述したように、 こ のピン穴 3 2 1は、 ベース部 3 1 0のピン 3 1 2と嵌合し、 ベース部 3 1 0の凹 部 3 1 1に収納されて、回転可能に支持される。したがって、パッド部 3 2 0は、 レチクル Rの X方向の端面と略直交するように配置される。
また、 パッド部 3 2 0の下面には、 レチクルホルダ 2 1 1に戴置されたレチク ル Rと当接する接触部 3 2 2が設けられる。 接触部 3 2 2は、 当接するレチクル Rに損傷を与えないように、 弾性体 3 2 2 aにより構成される。 弾性体 3 2 2 a としては、スポンジやゴム等の他、バネゃ弾性ヒンジ機構を用いてもよい。また、 接触部 3 2 2の幅 (Y方向) をべ一ス部 3 1 0の凹部 3 1 1等と干渉しない程度 に広げることにより、 レチクル Rとの接触面積を大きくして、 レチクル Rを均等 に押圧することが望ましい。
また、 上方に配置される他の頂点部分は、 X方向に沿って二股 (凹形) に形成 され、 その一部にピン 3 2 3が設けられる。
そして、 直線形の部材からなるリンク部 3 3 0は、 その両端にピン穴 3 3 1, 3 3 2を備え、ピン穴 3 3 1が上述したパッド部 3 2 0のピン 3 2 3と嵌合して、 回転可能に支持される。 更に、 他方のピン穴 3 3 2は、 後述するクランピンダス プリング部 3 5 0のピン 3 5 6と嵌合し、 回転可能に支持される。
クランピンダスプリング部 3 5 0は、 本体 3 5 1と連結部 3 5 2とパネ部 3 5 3とからなり、 本体 3 5 1と連結部 3 5 2とがパネ部 3 5 3により連結された構 造を備える。
本体 3 5 1は、 スライドガイド部 3 4 0と嵌合する 2つの穴部 3 5 5を備え、 この穴部 3 5 5がベース部 3 1 0に固定された 2本のスライドガイド部 3 4 0に 嵌合することにより、 スライドガイド部 3 4 0に沿って X方向に移動可能に支持 される。 また、 本体 3 5 1の上部には、 フォロア部 3 6 0と嵌合する穴部 3 5 7 が設けられる。
連結部 3 5 2は、 凹形に形成されて、 その凹みにリンク部 3 3 0のピン穴 3 3 2と嵌合するピン 3 5 6を備える。
また、 バネ部 3 5 3は、 ワイヤ一カット方式の放電加工機等により加工された 弾性ヒンジ機構により構成され、 連結部 3 5 2を本体 3 5 1に対して X方向に移 動可能に連結する。 そして、 このパネ部 3 5 3の弾性力によって、 レチクル Rを 押圧保持する力が与えられる。 したがって、 パネ部 3 5 3のパネ定数を調整する ことにより、 レチクルクランプ 3 0 0の押圧力を調整できる。 なお、 パネ部 3 5 3には、 弾性ヒンジ機構に限らず、 コイルパネや板パネ等の弾性体を用いてもよ い。
フォロア部 3 6 0は、 本体 3 6 1、 本体 3 6 1の両端に設けられたピン部 3 6 2、 本体 3 6 1の上部に設けられたカムフォロア 3 6 3、 本体 3 6 1からレチク ル R方向に向けて延びる 2枚の板パネ 3 6 4、 板バネ 3 6 4の下面側に重なるよ うに配置されて板パネ 3 6 4の下方側への変形を規制する 2枚のサポート板 3 6 5から構成される。
フォロア部 3 6 0は、 本体 3 6 1の両端に設けられたピン部 3 6 2がクランピ ングスプリング部 3 5 0の穴部 3 5 7と嵌合することにより、 クランピングスプ リング部 3 5 0に回転可能に支持される。 なお、 フォロア部 3 6 0の本体 3 6 1 とクランピンダスプリング部 3 5 0の本体 3 5 1とが当接することにより、 所定 以上に回転しないように規制されている。 具体的には、 板パネ 3 6 4が水平とな る位置から下方には回転できないようになっている (図 5及び図 6参照)。
2枚の板パネ (保持装置) 3 6 4のそれぞれの先端には、 ベース部 3 1 0の爪 部 3 1 4と嵌合する矩形の穴部 3 6 4 aが設けられる。 また、 2枚のサポート板 3 6 5のそれぞれの先端であって、 板バネ 3 6 4の穴部 3 6 4 aに対応する部分 には、 コ字状に切り欠いた切り欠き部 3 6 5 aが設けられる。
また、 カムフォロア 3 6 3には、 後述するカム部材 4 0 0との接触の際の摩擦 を緩和するためにベアリング (軸受) 363 aが設けられる。
次に、 上述したレチクルステージ装置 200を露光装置 100に適用した実施 形態について説明する。 図 3は、 露光装置 100を示す模式図である。
露光装置 100は、 露光用照明光 (露光光) ELをレチクル Rに照射しつつ、 レチクル; とウェハ (板状体, 基板) Wとを一次元方向に相対的に同期移動させ て、 レチクル Rに形成されたパターン (回路パターン等) P Aを投影光学系 40 を介してウェハ W上に転写するステップ'アンド ·スキャン方式の走査型露光装 置、 いわゆるスキャニング ·ステツパである。
この露光装置 100は、 露光用照明光 ELによりレチクル Rを照明する露光照 明系 10、 レチクル Rを保持するレチクルステージ装置 200、 レチクル から 射出される露光用照明光 ELをゥェ八 W上に照射する投影光学系 40、 ウェハ W を保持するゥェ八ステ一ジ装置 50、 露光装置 100の動作を統括的に制御する 主制御系 70から構成される。
露光照明系 10は、 光源 12から照射された露光用照明光 ELがレチクル 上 の所定の照明領域内にほぼ均一な照度分布で照射するために、 ォプティカルイン テグレー夕を備える。
露光用照明光 ELには、 波長約 12 Onm〜約 19 Onmの真空紫外線、 例え ば、発振波長 193nmの Ar Fエキシマレーザ(ArFレーザ)、発振波長 15 7 nmのフッ素レーザ (F2レーザ)、 発振波長 146 nmのクリプトンダイマー レ一ザ (Kr2レーザ)、 発振波長 126 nmのアルゴンダイマーレーザ (Ar2 レーサ') 等が甩いられる。
レチクルステ一ジ装置 200は、 露光照明系 10の直下に設けられる。 レチク ルステージ装置 200の具体的構成は、 上述した通りである。
レチクルステージ装置 200のステージ部 203は、 パターン P Aを下にした レチクル Rを保持して Y方向に一次元走査移動するが、 その移動経路中には、 レ チクル Rをレチクルホルダ 211に搭載させるロード領域 (第 2領域) A2と、 レチクルホルダ 211からレチクル Rを取り出すアンロード領域 (第 3領域) A 3と、 レチクル Rに露光用照明光 ELを照射する露光領域 A4と、 が存在する。 通常は、 ロード領域 A 2とアンロード領域 A 3とは、 一致した領域 (以下、 この 一致した領域をロード 'アンロード領域 AOと呼ぶ。) であり、 また、 図 3に示す ように、 装置寸法の制約等から、 ロード ·アンロード領域 AOと露光領域 A 4と は、 一部が重なった状態となっている。 なお、 ステージ部 203の移動経路中に は、 後述するクランプ駆動領域 (第 1領域) A1も含まれる。
そして、 ロード ·アンロード領域 AO内の上部には、 上述したレチクルクラン プ 300のフォロア部 360と一体となってカム装置 (変換装置) Cとして機能 するカム部材 400が配置される。 なお、 カム部材 400は、 後述する昇降装置 410を介してレチクル定盤 202或いはコラム 201等に固定される。
図 4は、 カム部材 400を示す模式図である。 カム部材 400は、 略 L字形に 形成された 2つの部材 4 O l a, 401 bを対称となるように、 それぞれの一方 の先端部分で回転可能に連結することにより、 略コ字形に形成される。
そして、 各部材 401 a, 40 l bの下面には、 上述したフォロア部 360の カムフォロア 363が入り込む溝 402 a, 402 bが形成される。溝 402 a, 402 bの幅は、 各部材 401 a, 401 bの先端部分においては大きく形成さ れ、 +Y方向に向かうに従ってカムフォロア 363の幅よりも若干広くなるよう に徐々に細く形成される。また、溝 402 a, 402 bは、先端部分においては、 内側に寄って形成され、 +Y方向に向かうに従って徐々に外側に寄って、 その後 は、 Y方向に平行部分がレチクル Rの幅寸法以上に形成される。 (以下、溝 402 a, 402 bが内側から徐々に外側に寄るように形成された領域をクランプ駆動 領域 A1と呼ぶ。) したがって、カムフォロア 363が図 4の紙面左側から +Y方 向に移動してくると、 幅広に形成された先端部分の溝 402 a, 402 b内に入 り込む。 そして、 更に + Y方向に移動すると、 クランプ駆動領域 A 1を通過する 際に、 内側から外側に移動するように案内される。
また、 カム部材 400の先端には、 部材 401 a, 401 bとの間にバネ (暧 衝装置) 403が設けられる。 部材 401 a, 401 bが回転可能に連結される とともに、 パネ 403が設けられることにより、 溝 402 a, 402bに入り込 んでくるカムフォロア 363に対して微動可能となり、 カムフォロア 363と溝 402 a, 402 bとの衝突及び摩擦を軽減するものである。
また、 カム部材 400には、 カム部材 400を上方に移動させる昇降装置 (退 避装置) 4 1 0が設けられる。 昇降装置 4 1 0は、 例えば、 エアシリンダ等によ り構成され、 カム部材 4 0 0を上昇させることにより、 カム部材 4 0 0とレチク ルクランプ 3 0 0とが離間して、 カムフォロア 3 6 3が溝 4 0 2 a, 4 0 2 bに 入り込むことができなくなる。 このように、 昇降装置 4 1 0により、 カム部材 4 0 0をロード ·アンロード領域 A O外に退避させたり、 逆に、 ロード ·アンロー ド領域 A O内にカム部材 4 0 0を侵入させたりすることができる。
図 3に戻り、 投影光学系 4 0は、 蛍石、 フッ化リチウム等のフッ化物結晶から なるレンズや反射鏡などの複数の投影レンズ系を投影系ハウジング (鏡筒) で密 閉したものである。 投影レンズ系は、 レチクル Rを介して射出される照明光を所 定の投影倍率 β ( β は、 例えば 1 / 4 )で縮小して、 レチクル Rのパターン Ρ Α の像をウェハ W上の特定領域 (ショット領域) に結像させる。 なお、 投影光学系
4 0の投影レンズ系の各要素は、 それぞれ保持部材を介して投影系ハウジングに 支持され、 該各保持部材は各要素の周縁部を保持するように例えば円環状に形成 されている (いずれも不図示)。
ウェハステージ装置 (ステージ装置) 5 0は、 ウェハ Wを保持するウェハホル ダ 5 2と Χ Υ平面内で移動可能なウェハステージ 5 3等から構成される。 ウェハ ホルダ 5 2は、 ウェハステージ 5 3に支持されるとともに、 ウェハ Wを真空吸着 によって保持する。 ウェハステージ 5 3は、 互いに直交する方向へ移動可能な一 対のブロックをベース 5 4上に重ね合わせたものであって、 不図示の駆動部によ り Χ Υ平面内で移動可能となっている。
そして、 外部に設けたレーザ干渉式測長器によってウェハステージ 5 3の X方 向および Υ方向の位置が逐次検出されて、 主制御系 7 0に出力される。
ウェハホルダ 5 2の一 X側の端部には、 平面鏡からなる X移動鏡 5 6 Χ^Ύ¾- 向に延設されている。 この X移動鏡 5 6 Xにほぼ垂直に外部に配置された X軸レ 一ザ干渉計 5 7 Xからの測長ビームが投射され、 その反射光が X軸レーザ干渉計
5 7 Xに受光されることによりウェハ Wの X位置が検出される。 また、 略同様の 構成により不図示の Υ軸レーザ干渉計 5 7 Υによってゥェハ Wの Υ位置が検出さ れる。
そして、 ウェハステージ 5 3の ΧΥ面内の移動により、 ウェハ W上の任意のシ ョット領域をレチクル Rのパターン P Aの投影位置 (露光位置)に位置決めして、 レチクル Rのパターン P Aの像をウェハ Wに投影転写する。
主制御系 7 0は、 露光装置 1 0 0を統括的に制御するものである。 例えば、 露 光量 (露光光の照射量) や後述するレチクルステージ装置 2 0 0及びウェハステ ージ 5 3の位置等を制御して、 レチクル Rに形成されたパターン P Aの像をゥェ ハ W上のショット領域に転写する露光動作を繰り返し行う。 また、 主制御系 7 0 には、 各種演算を行う演算部 7 1の他、 各種情報を記録する記憶部 7 2が設けら れる。
続いて、 以上のような構成を備えた露光装置 1 0 0を用いて、 レチクル Rに露 光用照明光 E Lを照射して、 レチクル Rに形成されたパターン P Aをウェハ W上 に転写する露光処理を行う方法について説明する。
本実施形態の露光処理方法は、 レチクル Rをレチクルステージ装置 2 0 0上に 口一ドする工程、レチクルクランプ 3 0 0によりレチクル Rを押圧保持する工程、 露光処理を行う工程、 レチクルクランプ 3 0 0によるレチクル Rの保持を解除す る工程、 レチクル Rをレチクルステージ装置 2 0 0からアンロードする工程、 と からなる。
レチクル Rをレチクルステージ装置 2 0 0上に口一ドする工程について説明す る。 レチクル Rを戴置する前(初期状態)では、 レチクルステージ装置 2 0 0は、 露光領域 A 4に位置する。 また、 レチクルクランプ 3 0 0は、 パッド部 3 2 0が 跳ね上がった状態 (図 5 A参照)、 或いは下がった状態(図 5 D参照) のいずれで あってもよい。 更に、 カム部材 4 0 0は、 ロード ·アンロード領域 A O内に配置 される。
そして、 主制御系 7 0からの指令により、 ステージ部 2 0 3が + Y方向に移動 して、 露光領域 A 4からロード ·アンロード領域 A Oまで移動し、 停止する。 ス テ一ジ部 2 0 3の移動に伴って、 レチクルクランプ 3 0 0のカムフォロア 3 6 3 は、 カム部材 4 0 0の溝 4 0 2 a, 4 0 2 bに入り込む。 そして、 カムフォロア 3 6 3は、 一旦、 内側 (レチクル Rに近づく方向) に移動するが、 ステージ部 2 0 3がロード ·アンロード領域 A Oで停止した際には、 全てのカムフォロア 3 6 3は、 クランプ駆動領域 A 1を通過して、 外側 (レチクル Rから遠ざかる方向) に移動する。 これにより、 全てのレチクルクランプ.3 0 0がパッド部 3 2 0を上 方に跳ね上げた状態で保持される。 なお、 レチクルクランプ 3 0 0の具体的な動 作については、 後述する。 また、 カムフォロア 3 6 3に設けたベアリング 3 6 3 aとカム部材 4 0 0に設けたパネ 4 0 3とにより、 カムフォロア 3 6 3と溝 4 0 2 a , 4 0 2 bとの接触抵抗は緩和され、 カムフォロア 3 6 3は円滑に溝 4 0 2 a , 4 0 2 b内を移動する。
そして、不図示のレチクル搬送装置により、外部からレチクル Rが搬送されて、 ステージ部 2 0 3上のレチクルホルダ 2 1 1上に戴置され、更に、レチクル Rは、 レチクルホルダ 2 1 1により吸着保持される。
次に、 レチクルクランプ 3 0 0によりレチクル Rを押圧保持する工程では、 ス テージ部 2 0 3にレチクル Rを戴置した状態で、 一 Y方向に移動させる。 ステー ジ部 2 0 3の移動に伴って、 レチクルクランプ 3 0 0のカムフォロア 3 6 3は、 クランプ駆動領域 A 1を通過する際に、 カム部材 4 0 0の溝 4 0 2 a, 4 0 2 b に沿って、 順次、 内側に移動する。 このように、 カムフォロア 3 6 3が外側から 内側への移動することにより、 レチクルクランプ 3 0 0が駆動して、 レチクル R を、 順次、 押圧保持 (クランプ) する。
そして、 ステージ部 2 0 3が更に一 Y方向に移動すると、 ロード 'アンロード 領域 A Oから露光領域 A 4内に移動することにより、 レチクルクランプ 3 0 0の カムフォロア 3 6 3は、 カム部材 4 0 0の溝 4 0 2 a , 4 0 2 bから、 順次、 抜 け出る。しかしながら、レチクルクランプ 3 0 0のよるレチクル Rの押圧保持は、 板バネ 3 6 4の作用により、 維持される。
ここで、 レチクルクランプ 3 0 0によりレチクル Rを保持 (押圧) する際の動 作について詳述する。 図 5は、 レチクル Rを押圧保持する際の動作を示す図であ る。
まず、図 5 Aに示すように、ステージ部 2 0 3上のレチクルホルダ 2 1 1には、 レチクル Rが戴置されて、 吸着保持されている。 この際、 レチクルクランプ 3 0 0のパッド部 3 2 0が跳ね上がった状態であるため、 レチクル Rとレチクルクラ ンプ 3 0 0とが干渉することはない。そして、レチクル Rが吸着保持された後に、 カムフォロア 3 6 3にレチクル R側に向けた力を作用させる。 すなわち、 カムフ ォロア 3 6 3が、クランプ駆動領域 A 1に侵入し、カム部材 4 0 0の溝 4 0 2 a , 4 0 2 bに沿って、内側(レチクル Rに近づく方向)に移動し始めた場合である。 カムフォロア 3 6 3にレチクル R側 (紙面左方向)に向けた力を作用させると、 カムフォロア 3 6 3をピン部 3 6 2周りに回転させるモーメントが作用するが、 図 5 Bに示すように、 フォロア部 3 6 0は、 クランビングスプリング部 3 5 0に 当接するので、 フォロア部 3 6 0がクランビングスプリング部 3 5 0に対して回 転することがなく、 フォロア部 3 6 0とクランピンダスプリング部 3 5 0とが一 体となって、 スライドガイド部 3 4 0に沿って、 ベース部 3 1 0に向けて移動し 始める。 この移動に伴って、 カムフォロア 3 6 3に作用させた力は、 リンク部 3 3 0を介してパッド部 3 2 0に伝達されて、 パッド部 3 2 0をピン穴 3.2 1周り に回転させる。 なお、 パッド部 3 2 0は、 円滑に回転するため、 クランピンダス プリング部 3 5 0のパネ部 3 5 3は殆ど変形しない。
更に、 カムフォロア 3 6 3にレチクル R側に向けた力を作用させると、 図 5 C に示すように、 フォロア部 3 6 0の板パネ 3 6 4がベース部 3 1 0の上面に設け た爪部 3 1 4に突き当たり、 爪部 3 1 4の斜面に沿って上方に反るように変形す る。 なお、 サポート板 3 6 5には、 コ字状の切り欠き部 3 6 5 aが設けられてい るため、 爪部 3 1 4に突き当たることなく、 爪部 3 1 4を避けてレチクル R方向 に移動する。 また、 パッド部 3 2 0は、 ピン穴 3 2 1周りに更に回転し、 接触部 3 2 2がレチクル Rに当接する。 接触部 3 2 2がレチクル Rに当接することによ り、 パッド部 3 2 0は、 ピン穴 3 2 1周りに更に回転することができなくなるの で、 クランピングスプリング部 3 5 0のパネ部 3 5 3が変形し始める。
そして、 更に、 カムフォロア 3 6 3にレチクル R側に向けた力を作用させる。 すなわち、 カムフォロア 3 6 3がクランプ駆動領域 A 1を通り過ぎ、 最も内側に 移動した状態である。 すると、 図 5 Dに示すように、 板バネ 3 6 4がベース部 3 1 0の上面に設けた爪部 3 1 4を乗り越え、 板パネ 3 6 4の穴部 3 6 4 aと爪部 3 1 4とが嵌合し、板パネ 3 6 4の変形が初期状態(平らな状態)に戻る。また、 クランピンダスプリング部 3 5 0のパネ部 3 5 3は、 更に変形して、 パッド部 3 1 0を介してレチクル Rを強固に押圧する。
最後に、 この状態でカムフォロア 3 6 3にレチクル Rに向けた力を解除する。 すなわち、 レチクルクランプ 3 0 0のカムフォロア 3 6 3が、 カム部材 4 0 0の 溝 4 0 2 a , 4 0 2 bから抜け出た状態である。 カムフォロア 3 6 3に作用させ ていた力 解除すると、 クランピンダスプリング部 3 5 0のパネ部 3 5 3の弹性 力により、 クランピンダスプリング部 3 5 0をリニアモータ側に向けて移動させ る力が作用する。 しかしながら、 クランピンダスプリング部 3 5 0と連結するフ ォロア部 3 6 0の板パネ 3 6 4がクランピンダスプリング部 3 5 0のリニァモー 夕側への移動を規制する。 すなわち、 板パネ 3 6 4の穴部 3 6 4 aがベース部 3 1 0の爪部 3 1 4に嵌合しているので、 板バネ 3 6 4をリニアモータ側へ移動さ せようとしても、 穴部 3 6 4 aが爪部 3 1 4の垂直面 3 1 4 bに突き当たり、 リ ニァモータ側への移動が規制される。 したがって、 カムフォロア 3 6 3に作用さ せたレチクル R方向の力を解除しても、 フォロア部 3 6 0の板バネ 3 6 4の作用 により、 パネ部 3 5 3の変形が開放されることなく、 レチクル Rを押圧した状態 が維持される。
このようにして、 レチクルクランプ 3 0 0によりレチクル Rが強固に押圧保持 される。
次いで、 露光処理を行う工程では、 露光処理を開始するに先立って、 カム部材 4 0 0をロード .アンロード領域 A Oから退避させる。 すなわち、 昇降装置 4 1 0を駆動して、 カム部材 4 0 0 'を上昇させて、 ロード 'アンロード領域 A O外に 移動させる。
そして、 カム部材 4 0 0を退避させた後に、 従来通りに、 露光用照明光 (露光 光) E Lをレチクル Rに照射しつつ、 レチクル Rとウェハ Wとを一次元方向に相 対的に同期移動させることにより、 レチクル Rに形成されたパターン P Aを投影 光学系 4 0を介してウェハ W上に転写する。
このように、 カム部材 4 0 0を退避させた後に露光処理を行うのは、 露光処理 中に、 レチクルクランプ 3 0 0によるレチクル Rの押圧が解除されてしまわない ようにするためである。 すなわち、 露光処理中には、 ステージ部 2 0 3は、 Y方 向に高速に往復移動する。 そして、 上述したように、 露光領域 A 4とロード 'ァ ンロード領域 A Oとは一部重複している。 このため、 カム部材 4 0 0が口一ド · アン口一ド頜域 A O内に存在したままであると、 露光処理中に、 複数のレチクル クランプ 3 0 0のうちの一部が、 カム部材 4 0 0の溝.4 0 2 a, 4 0 2 bに入り 込み、 クランプ駆動領域 A 1を通過して、 レチクル Rを押圧保持した状態が解除 されてしまうからである。
このように、 露光処理を開始するに先立って、 カム部材 4 0 0をロード ·アン ロード領域 A Oから退避させることにより、 露光処理中にレチクルクランプ 3 0 0が開放されるおそれを事前に解消することができる。
次いで、 レチクルクランプ 3 0 0によるレチクル Rの保持を解除する工程につ いて説明する。
露光処理が完了すると、昇降装置 4 1 0を駆動して、カム部材 4 0 0をロード · アンロード領域 A O内に移動させる。 なお、 この際、 ステージ部 2 0 3は、 カム 部材 4 0 0との干渉を回避させるために、できるだけ一 Y方向に移動させておく。 そして、ステージ部 2 0 3を + Y方向に移動させて、露光領域 A 4からロード · アンロード領域 A O内にまで位置まで移動させる。 ステージ部 2 0 3の移動に伴 つて、 レチクルクランプ 3 0 0のカムフォロア 3 6 3は、 カム部材 4 0 0の溝 4 0 2 a , 4 0 2 bに入り込み、順次、 クランプ駆動領域 A 1を通過して、 内側(レ チクル R側) から外側に移動する。 このように、 カムフォロア 3 6 3を内側から 外側に移動させることにより、 レチクルクランプ 3 0 0が駆動して、 レチクル R の押圧保持が、 順次、 開放される。
ここで、 レチクルクランプ 3 0 0によるレチクル Rの保持 (押圧) を開放する 際の動作について詳述する。 図 6は、 レチクル Rの保持を開放する際の動作を示 す図である。
まず、 図 6 Aに示すように、 カムフォロア 3 6 3にレチクル Rから遠のく方向 (紙面右方向) の力を作用させる。 すなわち、 レチクルクランプ 3 0 0のカムフ ォロア 3 6 3がカム部材 4 0 0の溝 4 0 2 a , 4 0 2 bに入り込み、 クランプ駆 動領域 A 1に侵入して、 外側 (レチクル Rから遠のく方向) に移動し始めた状態 である。
カムフォロア 3 6 3にレチクル Rから遠のく方向の力を作用させると、 図 6 B に示すように、 カムフォロア 3 6 3をピン部 3 6 2周りに回転させるモーメント が作用して、 フォロア部 3 6 0がピン部 3 6 2周りに回転し始める。 フォロア部 3 6 0がピン部 3 6 2周りに所定角度以上に回転すると、 図 6 C'に 示すように、 板パネ 3 6 4の穴部 3 6 4 aが爪部 3 1 4の垂直面 3 1 4 bを乗り 越え、 板パネ 3 6 4と爪部 3 1 4との嵌合が外れる。 これにより、 パネ部 3 5 3 の変形が開放可能となり、 フォロア部 3 6 0とクランピングスプリング部 3 5 0 とが一体となって、 スライドガイド部 3 4 0に沿って、 紙面右側に向けて移動し 始める。そして、 この移動に伴って、リンク部 3 3 0が紙面右側に移動するので、 パッド部 3 2 0は、 ピン穴 3 2 1周りに回転し始める。
そして、 フォロア部 3 6 0とクランビングスプリング部 3 5 0とを初期位置ま で戻す。 すなわち、 カムフォロア 3 6 3がクランプ駆動領域 A 1を通過して、 最 :も外側に移動した状態である。 すると、 図 6 Dに示すように、 パッド部 3 2 0が 上方に跳ね上がり、 レチクル R上から退避する。
以上のようにして、 レチクルクランプ 3 0 0によるレチクル Rの押圧保持が開 放される。
最後に、 レチクル Rをレチクルステージ装置 2 0 0からアンロードする工程で は、 レチクルクランプ 3 0 0によるレチクル Rの保持が解除された後に、 或いは 同時に、レチクルホルダ 2 1 1によるレチクル Rの吸着保持を解除する。そして、 不図示のレチクル搬送装置により、 レチクル Rをレチクルステージ装置 2 0 0上 から外部に向けて搬送する。 レチクル Rをレチクルステージ装置 2 0 0上に搬入 した際と同様に、 レチクルクランプ 3 0 0のパッド部 3 1 0が跳ね上がつている ため、 干渉することなく、 レチクル Rを搬出することができる。
以上のようにして、 レチクル Rをレチクルステージ装置 2 0 0上に強固に保持 するとともに、 露光処理中には、 その保持を維持することができる。 また、 レチ クル Rをレチクルステージ装置 2 0 0上に載せ降ろしする際にのみ、 レチクルク ランプ 3 0 0の押圧保持を解除することができる。
そして、 レチクル Rをレチクルステージ装置 2 0 0上に強固に保持することに より、 レチクルステージ装置 2 0 0を高加速に移動させても、 レチクル Rがずれ ることなく、 ウェハ W上に高精度なパターン P Aを形成することができる。
なお、 露光処理中にレチクルクランプ 3 0 0によるレチクル Rの押圧保持が角军 除されていないことを確認するために、 検出装置を設けることが好ましい。 例え ば、レチクルクランプ 3 0 0のリンク部 3 3 0の上面に反射鏡を設けるとともに、 露光領域 A 4の上方にレーザ測長器を設置する。 そして、 レーザ測長器の下方を 通過するリンク部 3 3 0の上面高さを計測することにより、 レチクルクランプ 3 0 0の動作状況を検出することが可能となる。 或いは、 クランピンダスプリング 部 3 5 0の本体 3 5 1の位置を計測したり、 本体 3 5 1が最も後方に移動した際 に作動するリミツトスイッチを設けたりしてもよい。
このように、 レチクルクランプ 3 0 0の動作状況を検出することにより、 確実 にレチクル Rがレチクルステージ装置 2 0 0上に保持されるので、 露光処理中に レチクルクランプ 3 0 0が解除されてしまうことに起因する不具合を回避するこ とができる。
次に、 図 7〜図 1 4を参照しつつ、 本発明のステージ装置等の第 2実施例につ いて説明する。
図 7は本発明に係るレチクルステージ装置 5 0 0を示す斜視図、 図 8はレチク ルステージ装置 5 0 0の分解斜視図、 図 9はステージ部 5 2 0を示す斜視図及び 断面図、 図 1 0はレチクルホルダ 5 2 5とレチクルクランプ 6 0 0の配置を示す 図である。 なお、 第 1実施形態におけるレチクルステージ装置 2 0 0と同一の構 成要素等については、 同一の符号を付して、 その説明を省略する。
レチクルステージ装置 5 0 0は、 図 7に示すように、 レチクル定盤 5 1 0、 レ チクル定盤 5 1 0上を Y方向に所定ストロークで駆動されるステージ部 5 2 0、 ステージ部 5 2 0を取り囲むように配置された枠状部材 5 3 0、 及びステージ部 5 2 0を駆動するレチクルステージ駆動系 (リニアモータ 5 4 0、 ボイスコイル モ一タ 5 5 0 ) 等を備える。
レチクル定盤 (ベース部) 5 1 0は、 不図示の支持部材によって略水平に支持 されている。 そして、 レチクル定盤 5 1 0は、 図 8に示すように、 概略板状の部 材からなり、 その略中央に突部 5 1 6 aが形成される。 更に、 突部 5 1 6 aの略 中央には、 露光用照明光 E Lを通過させるために、 X軸方向を長手方向とする矩 形開口 5 1 6 bが Z方向に連通状態で形成される。
ステージ部 (移動部材) 5 2 0は、 図 9 Aに示すように、 略矩形形状のステー ジ本体 5 2 2、 ステージ本体 5 2 2から Y方向に延設された 4つの延設部 5 2 等から構成される。 4つの延設部 5 2 4の下面には、 それぞれ気体静圧軸受が形 成される。 これにより、 ステージ部 5 2 0は、 レチクル定盤 5 1 0上に数ミクロ ン程度のクリアランスを介して、 非接触に浮上支持される。
ステージ部 5 2 0の一 Y方向の端部には、 コー^ キューブからなる一対の Y 移動鏡 2 3 3 a , 2 3 3 bが固定され、 外部に設けた干渉計 2 3 5 a〜 2 3 5 c (図 1 2参照) によって、 Y移動鏡 2 3 3 a, 2 3 3 bの Y方向の位置を測定す ることで、 ステージ部 5 2 0 (レチクル R) の Y方向の位置が高精度に計測され る。
また、 ステージ本体 5 2 2の略中央には、 露光用照明光 E Lの通路となる段付 き開口 5 2 3が形成され、 この段付き開口 5 2 3の段部 (1段掘り下げられた部 分) には、 レチクル Rを下側から吸着保持するレチクルホルダ (戴置面) 5 2 5 が設けられる。 更に、 段付き開口 5 2 3の X方向の両辺に沿って、 4つ (各辺に それぞれ 2つ) のレチクルクランプ 6 0 0が配置される。 なお、 レチクルクラン プ 6 0 0の構成については、 後述する。
図 1 0に示すように、 レチクルホルダ 5 2 5は、 段付き開口 5 2 3の X方向の 外側に、 Y方向に沿って矩形状に形成された吸着面 5 2 5 a、 5 2 5 bを有し、 レチクル Rの X方向両端の領域をレチクル下面側から真空吸着により保持する。 また、 真空吸着の代わりに静電吸着を利用してもよいし、 真空吸着と静電吸着と を併用してもよい。
レチクルクランプ 6 0 0は、 レチクルホルダ 5 2 5よりも更に X方向の外側に 4台が配置され、 レチクルホルダ 5 2 5によって吸着保持されたレチクル Rの X 方向両端の領域をレチクル上両側から複数点で押圧保持する。 各レチクルクラン プ 6 0 0は、 それぞれレチクル Rを 2点で押圧する (2つのクランビングエリア 6 0 0 pを有する) ので、 全体としてレチクル Rを 8点で押圧保持している。 図 1 0に示すように、 各レチクルクランプ 6 0 0がレチクル Rを押圧する位置 は、 吸着面 5 2 5 a又は 5 2 5 bと重なる位置に設定されているが、 これに限定 されるものではない。例えば、吸着面 5 2 5 a , 5 2 5 bを複数の領域に分割し、 吸着保持する領域と押圧保持する領域とが、 Y方向に関して交互に配置されるよ うにしてもよい。 また、 レチクル Rの内側 (段付き開口 5 2 3に近い側) を吸着 保持し、 その外側を押圧保持するように配置してもよいし、 逆にレチクル Rの内 側を押庄保持し、 その外側を吸着保持するように配置してもよい。 クランピング エリア 6 0 0 pの大きさは特に限定されるものではないが、 例えば、 各レチクル クランプ 6 0 0において、 Y方向の幅を 2 0〜4 O mm、 X方向の幅を 5〜2 0 mmに設定することができる。
レチクルクランプ 6 0 0によるレチクル Rの押圧保持力は、 例えば、 1つのク ランピングエリア 6 0 0 pにおいて、 0 . 5〜2 . 0 k g f とすることができる。 また、 レチクルクランプ 6 0 0による押圧保持力と、 レチクルホルダ 5 2 5.にお けるレチクル Rの吸着保持力とは、 例えば、 レチクル R全体でみて、 2対 3から 2対 5の比率となるように設定される。 レチクルクランプ 6 0 0による押圧保持 力の割合を大きくすると、 レチクル Rに歪みが生じる可能性があるので、 そのよ うな歪みが生じないように、 レチクルクランプ 6 0 0の押圧力とレチクルホルダ 5 2 5の吸着保持力を適宜設定することが好ましい。
ステージ部 5 2 0において、 段付き開口 5 2 3の X方向の両側には、 リニアモ 一夕 5 4 0の可動子ュニット 5 4 4が配置される。 可動子ュニット 5 4 4は、 図 9 Bに示すように、 ステージ本体 5 2 2の上面及び下面に一対の磁極ュニット 5
4 4 a , 5 4 4 bが埋め込まれる。 更に、 X方向の端部には、 ボイスコイルモ一 夕 5 5 0の可動子ユニット 5 4 4が配置される。可動子ュニット 5 4 4としては、 板状の永久磁石 5 5 4 aが用いられる。
レチクルステージ駆動系は、 ステージ部 5 2 0を Y方向に駆動するとともに 0 z方向に微少駆動する一対のリニアモータ 5 4 0と、 ステージ部 5 2 0を X方向 に微少駆動するボイスコイルモ一夕 5 5 0とからなる。 一対のリニアモータ 5 4 0は、 枠状部材 5 3 0の内部の X方向両側に、 それぞれ Y方向に架設された固定 子ユニット 5 4 2及び上述した可動子ユニット 5 4 4から構成される。 また、 ポ イスコイルモータ 5 5 0は、 枠状部材 5 3 0の内部の— X側に、 Y軸方向に架設 された固定子ュニット 5 5 2及び上述した可動子ュニット 5 5 4から構成される。 固定子ュニット 5 4 2は、 Y軸方向を長手方向とする一対の Y軸リニアガイド
5 4 2 a , 5 4 2 bからなり、 Z方向に所定間隔を空けて相互に対向して且つ X Y面にそれぞれ平行に保持されて、 枠状部材 5 3 0の内壁面に固定される。 そし て、 Y軸リニアガイド 5 4 2 a , 5 4 2 bの内部には、 Y軸方向に所定間隔で複 数の電機子が配置される。 そして、 各 Y軸リニアガイド 5 4 2 a, 5 4 2 bの間 には、所定のクリアランスを介して、ステージ部 5 2 0の磁極ュニット 5 4 4 a, 5 4 4 bが配置される。
固定子ュニット 5 5 2は、 Y軸方向を長手方向とする一対の電機子ュニット 5 5 2 a , 5 5 2 bからなり、 Z方向に所定間隔を空けて相互に対向して且つ XY 面にそれぞれ平行に保持されて、枠状部材 5 3 0の内壁面に固定される。そして、 電機子ユニット 5 5 2 a , 5 5 2 bの間には、 所定のクリアランスを介して、 ス テージ部 5 2 0の永久磁石 5 5 4 aが配置される。
このように、 Y軸リニアガイド 5 4 2 a, 5 4 2 b及び磁極ュニット 5 4 4 a , 5 4 4 bによりステージ部 5 2 0を Y方向に移動可能なムービングマグネット型 のリニアモー夕 5 4 0が構成される。 また、 電機子ユニット 5 5 2 a, 5 5 2 b と永久磁石 5 5 4 aとにより、 ステージ部 5 2 0を X方向に微少移動可能なムー ゼングマグネット型のボイルコイルモータ 5 5 0が構成される。
そして、 Y軸リニアガイド 5 4 2 a, 5 4 2 b内の電機子コイルに電流が供給 されると、 ステージ部 5 2 0を Y方向に駆動する駆動力が発生する。 また、 電機 子ュニット 5 5 2 a, 5 5 2 bを構成する電機子コイルに Y軸方向の電流が流れ ると、 ステージ部 5 2 0を X方向に駆動する駆動力が発生する。
枠状部材 (第 2移動部材) 5 3 0は、 その下面に気体静圧軸受が形成される。 これにより、 枠状部材 5 3 0は、 レチクル定盤 5 1 0上に数ミクロン程度のクリ ァランスを介して非接触に浮上支持される。 また、 枠状部材 5 3 0の + X側面及 び + Y側面には、 磁気ュニットからなる可動子 5 6 1, 5 6 3 , 5 6 5 , 5 6 7 が設けられる。 これら可動子 5 6 1 , 5 6 3 , 5 6 5 , 5 6 7に対応して、 レチ クル定盤 5 1 0には、 支持台 5 1 2を介して、 電機子ユニットからなる固定子 5 6 2 , 5 6 4 , 5 6 6 , 5 6 8が設けられる。 可動子 5 6 1, 5 6 3 , 5 6 5 , 5 6 7は、 その内部に永久磁石を備えており、 Z方向の磁界を形成する。 固定子 5 6 2 , 5 6 4は、 その内部に電機子コイルを備えており、 Y方向に電流が流れ るように形成される。 固定子 5 6 6 , 5 6 8は、 その内部に電機子コイルを備え ており、 X方向に電流が流れるように形成される。 したがって、 可動子 5 6 1 , 5 6 3と固定子 5 6 2 , 5 6 4により、 ムービン グマグネット型ポイスコイルモータからなる X軸方向駆動用のトリムモータ 5 6 0 Xが構成される。 同様に、 可動子 5 6 5, 5 6 7と固定子 5 6 6, 5 6 8によ り、 ム一ビングマグネット型ボイスコイルモータからなる Y軸方向駆動用のトリ ムモータ 5 6 0 Yが構成される。 このように、 4つのトリムモ一夕 5 6 0 X, 5 6 0 Yにより、 枠状部材 5 3 0を X軸方向、 Y軸方向、 及び S z方向の 3自由度 方向に駆動することが可能である。 また、 枠状部材 5 3 0の— X方向及び— Y方 向の側壁には、 それぞれ窓ガラス 5 3 2, 5 3 4がはめ込まれており、 ステージ 部 5 2 0の位置を計測するレーザ干渉計 2 3 5 a〜2 3 5 cからの測長ビームが 透過可能となっている。
ステージ部 5 2 0の Y方向の位置は、 レーザ干渉計 2 3 5 a〜 2 3 5 cから発 した測長ビームを、 窓ガラス 5 3 4を介して Y移動鏡 2 3 3 a , 2 3 3 bに照射 し、 その反射光を検出することで行われる。 ステージ部 5 2 0の X方向、 0 Z方 向の位置は、 レチクル定盤 5 1 0に固定された X固定鏡 (図示せず) に複数の測 長ビームを照射し、 その反射光を検出することで行われる。 X移動鏡は、 ステ一 ジ部 5 2 0の移動範囲をカバ一するように Y方向に沿って長尺に形成されており、 枠状部材 5 3 0の外部に設置される。 窓ガラス 5 3 4を通過した測長ビームは、 ステージ部 5 2 0に固定された光学素子によって光路を略 9 0度曲げられ、 その 後、 窓ガラス 5 3 2を通過して X固定鏡に達するようになつている。 なお、 枠状 部材 5 3 0に窓ガラス 5 3 2, 5 3 4を設けず、 枠状部材 5 3 0の内側 (枠内) に前記測長ビームの射出部と X固定鏡とを配置するようにしてもよい。
このように構成されたレチクルステージ装置 5 0 0では、 ステージ部 5 2 0の 移動に伴う反力が枠状部材 5 3 0の移動によりキャンセルされる。 例えば、 ステ ージ部 5 2 0が: X軸方向に駆動されると、 ボイスコイルモータ 5 5 0の可動子が ステージ部 5 2 0と一体で X軸方向に駆動され、 この駆動力の反力がボイスコィ ルモ一夕 5 5 0の固定子 (電機子ュニッ卜 5 5 2 a, 5 5 2 b ) 及び固定子が固 定された枠状部材 5 3 0に作用する。 枠状部材 5 3 0は、 レチクル定盤 5 1 0に 対して所定のクリアランスを介して非接触に支持されているので、 上述した反力 の作用により、 枠状部材 5 3 0は、 運動量保存の法則に従った距離だけその反力 に応じた方向に移動する。 同様に、 Y軸方向に駆動された場合にも、 運動量保存 の法則に従って、 枠状部材 5 3 0が移動する。 特に、 枠状部材 5 3 0がステージ 部 5 2 0を取り囲むように形成されているので、 必然的に大型化し、 その重量が おおきくなる。 したがって、 ステ一ジ部 5 2 0との重量比を大きくすることがで きる。 このため、 枠状部材 5 3 0の移動距離は、 比較的短くて足りる。 なお、 本 実施形態においては、 レチクルクランプ 6 0 0がステージ部 5 2 0に搭載されて いるので、 枠状部材 (カウンタマス) 5 3 0の重量は、 レチクルクランプ 6 0 0 の重量を含むステージ部 5 2 0の重量を考慮して、 所定の重量比となるように設 定されている。
次に、 レチクルクランプ 6 0 0の構成について詳述する。 図 1 1 Aは、 レチク ルクランプ 6 0 0を示す斜視図であり、 レチクル Rを押圧保持している際の形態 を示す。また、図 1 1 Bは、 レチクルクランプ 6 0 0の分解斜視図である。なお、 レチクルクランプ 6 0 0は、 上述したレチクルクランプ 3 0 0と基本的な構造は 略同一であるので、 レチクルクランプ 3 0 0とは同一の部分については、 簡略に 説明する。
レチクルクランプ (固定装置) 6 0 0は、 図 1 1 Bに示すように、 ベ一ス部 6 1 0、 パッド部 6 2 0、 スライドガイド部 6 4 0、 クランビングスプリング部 6
5 0、 フォロア部 6 6 0から構成される。
ベース部 6 1 0は、 ベ一ス部 3 1 0と略同一の部材であり、 凹部 6 1 1に設け られたピン 6 1 2に、 後述するパッド部 6 2 0を回転可能に支持する。 そして、 両脇に設けられた 2つのガイド揷入穴 6 1 3に、 ロッド部材 6 4 1とストッパ部
6 4 2とからなるスライドガイド部 6 4 0が揷入、 固定される。 また、 ベ一ス部 6 1 0の上面には、 斜面 6 1 4 aと略垂直面 6 1 4 bとを有する 2つの爪部 6 1 4が設けられる。
パッド部 6 2 0は、 側面 (Y方向) から見ると略三角形に形成された部材から なり、 その一頂点部分には、 ピン穴 6 2 1が設けられる。 そして、 上述したよう に、 このピン穴 6 2 1には、 ベース部 6 1 0のピン 6 1 2が嵌合する。 これによ り、 ベース部 6 1 0の凹部 6 1 1に収納されて、 回転可能に支持される。 なお、 ピン穴 6 2 1とピン 6 1 2との嵌合部内には、 パネ機構が内蔵され、 パッド部 6 2 0を上方に跳ね上げる方向に付勢される。 また、 パッド部 6 2 0の下面には、 レチクルホルダ 5 2 5に戴置されたレチクル Rと当接する接触部 6 2 2が設けら れ¾。 接触部 6 2 2は、 Y方向に伸びた状態に形成される。 レチクル Rをより広 い面で或いは複数点で押圧するためである。 本実施形態において、 図 1 0に示す ように、 各接触部 6 2 2は 2つのクランビングエリア 6 0 0 pを有しており、 こ の 2点でレチクル Rを均等な力で押圧するようになつている。 なお、 接触部 3 2 2は、 当接するレチクル Rに損傷を与えないように、 弾性体 6 2 2 aにより構成 され、 その全周囲に面取りが施してある。
また、 上方に配置される他の頂点部分には、 後述するクランピングスプリング 部 6 5 0の連結部 6 5 2と当接する円弧面 6 2 3が形成される。円弧面 6 2 3は、 連結部 6 5 2のローラ 6 5 9とともにカム機構を形成する。 具体的には、 クラン ピンダスプリング部 3 6 0の口一ラ 6 5 9で円弧面 6 2 3を + X方向に押圧する ことにより、パッド部 6 2 0をピン穴 6 2 1回りに回転させるようになつている。 また、 クランプ点に弾性ピボットを設け、 レチクル Rの厚さの誤差、 バラツキ 等に関わらず、常に同じ状態でレチクル Rを押圧できるようにしておいてもよい。 クランピンダスプリング部 6 5 0は、 本体 6 5 1と連結部 6 5 2とパネ部 6 5 3とからなり、 本体 6 5 1と連結部 6 5 2とがバネ部 6 5 3により連結された構 造を備える。 本体 6 5 1は、 スライドガイド部 6 4 0と嵌合する 2つの穴部 6 5 5を備え、 これにより X方向に沿って移動可能に支持される。 また、 本体 6 5 1 の上部の略中央部には、 カムフォロア 6 5 8が設けられる。 更に、 本体 6 5 1の 上部両端には、 フォロア部 6 6 0が嵌合する穴部 6 5 7が設けられる。 なお、 力 ムフォロア 6 5 8には、 後述するカム部材 7 0 0との接触の際の摩擦を緩和する ためにベアリング (軸受) 6 5 8 aが設けられる。 連結部 6 5 2は、 X方向に延 びた部材からなり、 その先端にはローラ 6 5 9が設けられる。 パネ部 6 5 3は、 弾性ヒンジ機構により構成され、 連結部 6 5 2を本体 6 5 1に対して X方向に移 動可能に連結する。 そして、 このパネ部 6 5 3の弾性力によって、 レチクル Rを 押圧保持する力が与えられる。
フォロア部 6 6 0は、 本体 6 6 1、 本体 6 6 1の両端に設けられたピン部 6 6 2、 本体 6 6 1の上部に設けられたカムフォロア 6 6 3、 本体 6 6 1から + X方 向に向けて延びる保持板 6 6 5から構成される。 フォロア部 6 6 0は、 ピン部 6 6 2がクランビングスプリング部 6 5 0の穴部 6 5 7と嵌合することにより、 ク ランピングスプリング部 6 5 0に回転可能に支持される。 なお、 ピン部 6 6 2と 穴部 6 5 7との嵌合部内には、 パネ機構が内蔵され、 保持板 6 6 5を下方に向け て押し付ける方向に付勢され、 保持板 6 6 5が略水平となるように維持される。 保持板 (保持装置) 6 6 5の先端の両側には、 ベース部 6 1 0の爪部 6 1 4と 嵌合する矩形の穴部 6 6 5 aが設けられる。 なお、 カムフォロア 6 6 3には、 後 述するカム部材 7 0 0との接触の際の摩擦を緩和するためにベアリング (軸受) 6 6 3 aが設けられる。
次に、 上述したレチクルステ一ジ装置 5 0 0を露光装置 1 5 0に適用した実施 形態について説明する。 図 1 2は、 露光装置 1 5 0を示す模式図である。 なお、 露光装置 1 5 0は、 レチクルステージ装置 5 0 0を除いては、 露光装置 1 0 0と 略同一の構成を備えるので、 同一の構成要素については、 同一の符号を付して説 明を省略する。
レチクルステージ装置 5 0 0は、 露光照明系 1 0の直下に設けられる。 レチク ルステージ装置 5 0 0の具体的構成は、 上述した通りである。
レチクルステージ装置 5 0 0のステージ部 5 2 0の移動経路中には、 レチクル ステージ装置 2 0 0の場合と同様に、 ロード ·アンロード領域 A O (ロード領域 A 2 ,アン口一ド領域 A 3 )、クランプ駆動領域 A 1、露光領域 A 4が形成される。 そして、 ロード ·アンロード領域 A O内の上部には、 上述したレチクルクランプ 6 0 0のカムフォロア 6 5 8, 6 6 3と一体となってカム装置 (変換装置) C 2 として機能するカム部材 7 0 0が配置される。 なお、 カム部材 7 0 0は昇降装置 7 1 0を介してレチクル定盤 5 1 0等に固定される。
図 1 3は、 カム部材 7 0 0を示す模式図である。 カム部材 7 0 0は、 カム部材 4 0 0と略同一の構造を備える。 カム部材 7 0 0の各部材 7 0 1 a, 7 0 l bの 先端部下面には、 それぞれ、 上述したカムフォロア 6 5 8, 6 6 3が当接する突 出部 7 0 2 a , 7 0 2 b , 7 0 3 a , 7 0 3 bが形成される。 具体的には、 カム フォロア 6 5 8が突出部 7 0 2 a , 7 0 2 bの側壁に当接する。 また、 カムフォ ロア 6 6 3が突出部 7 0 3 a , 7 0 3 bの側壁に当接する。 なお、 突出部 7 0 2 •a , 7 0 2 b , 7 0 3 a , 7 0 3 bの側面には、 カムフォロア 6 5 8 , 6 6 3と の接触による摩耗を軽減するために、 焼入れ材料 (例えば S U S 4 2 0 J 2焼入 れ焼き戻し材) が用いられると共に硬質クロムメツキが施される。 ^た、 カム部 7 0 0以外にも、 対摩耗対策が必要な箇所には、 前述のような焼入れ材に硬質ク ロムメツキを施した部材を用いてもよい。
突出部 7 0 2 aと突出部 7 0 3 a、 及び突出部 7 0 3 bと突出部 7 0 3 bの X 方向の間隔は、 それぞれ各部材 7 O l a , 7 0 1 bの先端部分においては大きく 形成され、 + Y方向に向かうに従って徐々に細くなり、 再度、 大きくなるように 形成される。 特に、 突出部 7 0 2 a, 7 0 2 bは、 + Y方向に向かうに従って、 一旦、 内側 (レチクル R側) に寄り、 その後は、 徐々に外側に寄るように形成さ れる。 (以下、 突出部 7 0 2 a, 7 0 2 b , 7 0 3 a , 7 0 3 bが形成された領域 をクランプ駆動領域 A 1と呼ぶ。)
これにより、 カムフォロア 6 5 8, 6 6 3が図 1 2 Aの紙面左側から + Y方向 に移動してくると、 カムフォロア 6 5 8 , 6 6 3は、 突出部 7 0 2 a, 7 0 3 a の間、 及び突出部 7 0 2 b, 7 0 3 bの間に入り込む。 そして、 クランプ駆動領 域 A 1を通過する際に、まず、各カムフォロア 6 5 8 ^ ^それぞれ突出部 7 0 2 a , 7 0 2 bに当接し、 一旦、 外側から内側に移動するように案内された後に、 再び 外側から内側に移動するように案内される。 一方、 カムフォロア 6 6 3は、 カム フォロア 6 5 8に追従して移動するが、突出部 7 0 3 a , 7 0 3 bに当接すると、 カムフォロア 6 6 3とは逆方向、 すなわちカムフォロア 6 6 3がレチクル から 遠ざかって、 カムフォロア 6 5 8に近づくように案内される。
なお、 カム部材 4 0 0と同様に、 カム部材 7 0 0の先端にはバネ (暧衝装置) 7 0 4が設けられるとともに、 カム部材 7 0 0を上方に移動させる昇降装置 (退 避装置) 7 1 0が設けられる。
また、 カム部材 7 0 0とカムフォロア 6 6 3との接点は、 レチクルクランプ 6 0 0が閉じる側 (開→閉) で低く、 開く側 (閉—開) で高くなるように設定して もよい。 これにより、 クランプ 6 0 0が閉じるときに生じるモーメント荷重を小 さく抑え、 開く際には保持板 6 6 5が容易に爪部 6 1 4から外れるようにするこ とが可能となる。 次に、 露光装置 1 5 0を用いた露光処理について説明するが、 その大半は第 1 実施形態と略同一の工程であるので、 以下ではレチクルクランプ 6 0 0の動作に ついてのみ説明する。
図 1 4は、 レチクル Rを押圧保持する際のレチクルクランプ 6 0 0の動作を示 す図である。
まず、 図 1 4 Aに示すように、 レチクルクランプ 6 0 0は、 初期状態では、 パ ッド部 6 2 0が跳ね上がった状態で維持されている。 ピン穴 6 2 1とピン 6 1 2 との嵌合部内に内蔵されたバネ機構により付勢されているからである。
そして、 ステージ部 5 2 0上のレチクルホルダ 5 2 5にレチクル Rが戴置され て、 吸着保持されると、 カムフォロア 6 5 8にレチクル R側に向けた力を作用さ せる。 すなわち、 カムフォロア 6 5 8がクランプ駆動領域 A 1に侵入し、 カム部 材 7 0 0の突出部 7 0 2 a , 7 0 2 bに沿って、 内側(レチクル Rに近づく方向) に移動し始めた場合である。
カムフォロア 6 5 8にレチクル R側 (紙面左方向)に向けた力を作用させると、 図 1 4 Bに示すように、 フォロア部 6 6 0とクランピンダスプリング部 6 5 0と がー体となって、 スライドガイド部 6 4 0に沿って、 ベース部 6 1 0に向けて移 動し始める。 上述したように、 カムフォロア 6 6 3がカムフォロア 6 5 8に追従 して移動するのはこのためである。
また、 クランビングスプリング部 6 5 0の移動に伴って、 カムフォロア 6 5 8 に作用させた力は、 連結部 6 5 2の先端に設けられたローラ 6 5 9からパッド部 6 2 0の円弧面 6 2 3を介してパッド部 6 2 0に伝達されて、 パッド部 6 2 0を ピン穴 6 2 1周りに回転させる。
次いで、 図 1 4 Cに示すように、 保持板 6 6 5がベース部 6 1 0の爪部 6 1 4 に当接する直前に、 カムフォロア 6 6 3にレチクル Rから遠のく方向 (紙面右方 向) の力を作用させる。 すなわち、 カムフォロア 6 6 3が、 クランプ駆動領域 A 1内で、 カム部材 7 0 0の突出部 7 0 3 a , 7 0 3 bに沿って、 外側 (レチクル Rから遠のく方向) に移動し始めた場合である。 これにより、 フォロア部 6 6 0 は、 ピン部 6 6 2周りに回転し、 保持板 6 6 5が上方に跳ね上げられる。
一方、 パッド部 6 2 0は、 ピン穴 6 2 1周りに更に回転し、 接触部 6 2 2がレ チクル Rに当接する。 接触部 6 2 2がレチクル Rに当接することにより、 パッド 部 6 2 0は、 ピン穴 6 2 1周りに更に回転することができなくなるので、 クラン ビングスプリング部 6 5 0のパネ部 6 5 3が変形し始める。
そして、 カムフォロア 6 5 8, 6 6 3がクランプ駆動領域 A 1を通り過ぎる際 に、 まず、 カムフォロア 6 6 3に作用させていた力が解除されて、 図 1 4 Dに示 すように、 保持板 6 6 5が水平状態に戻り、 これにより穴部 6 6 5 aがべ一ス部 6 1 0の上面に設けた爪部 3 1 4と嵌合する。 続いて、 カムフォロア 6 5 8に作 用させていた力も解除され、 クランビングスプリング部 6 5 0のパネ部 6 5 3の 弾性力によって、 クランビングスプリング部 6 5 0をレチクル Rから遠ざける方 向に移動させる力が作用する。 しかしながら、 クランピンダスプリング部 6 5 0 と連結するフォロア部 6 6 0の保持板 6 6 5がべ一ス部 6 1 0の爪部 6 1 4と嵌 合しているので、 クランピンダスプリング部 6 5 0の移動が規制される。 したが つて、 クランピンダスプリング部 6 5 0のパネ部 6 5 3の弾性力は、 パッド部 6
2 0を強固に押圧し、 レチクル Rが強固に押圧保持し続ける。
次に、 レチクルクランプ 6 0 0によるレチクル Rの押圧保持を開放する際の動 作について説明する。 開放動作は、 押圧保持動作を逆転させたものであるため、 図 1 4を用いて説明する。
まず、 レチクル Rを強固に押圧保持しているレチクルクランプ 6 0 0 (図 1 4 D参照) に対して、 図 1 4 Cに示すように、 カムフォロア 6 5 8, 6 6 3にそれ ぞれカを作用させる。 すなわち、 カムフォロア 6 5 8 , 6 6 3がクランプ駆動領 域 A 1に侵入し、 カム部材 7 0 0の突出部 7 0 2 a, 7 0 2 b , 7 0 3 a , 7 0
3 bに当接した場合である。 これにより、 フォロア部 6 6 0は、 ピン部 6 6 2周 りに回転し、 保持板 6 6 5が上方に跳ね上げられ、 ベース部 6 1 0との嵌合が外 れる。 したがって、 パネ部 6 5 3の変形が開放可能となり、 フォロア部 6 6 0と クランピンダスプリング部 6 5 0とが一体となって、 レチクル Rから遠ざかる方 向に移動可能となる。
そして、 図 1 4 Bに示すように、 保持板 6 6 5が水平状態に戻ると共に、 カム フォロア 6 5 8への力の作用点がレチクル Rから遠ざかるように移動する。 すな わち、 カムフォロア 6 5 8のみがカム部材 7 0 0の突出部 7 0 2 a, 7 0 2 bに 当接している場合である。 これにより、 フォロア部 6 6 0とクランピンダスプリ ング部 6 5 0とが一体となって、 スライドガイド部 6 4 0に沿って、 紙面右側に 向けて移動する。
また、 クランピンダスプリング部 6 5 0の移動に伴って、 ピン穴 6 2 1とピン 6 1 2との嵌合部内に内蔵されたパネ機構の変形も開放され、 パッド部 6 2 0が 徐々に跳ね上げられる。
そして、図 1 4 Aに示すように、レチクルクランプ 6 0 0が初期状態に戻され、 レチクル Rの押圧保持が開放される。 続いて、 レチクルホルダ 5 2 5によるレチ クル Rの吸着保持を開放することにより、 ステージ部 5 2 0上からレチクル Rを 取り外すことが可能となる。
以上、 説明したように、 レチクルクランプ 6.0 0は、 レチクルクランプ 3 0 0 とは異なり、 保持板 6 6 5の穴部 6 6 5 aを爪部 6 1 4に嵌合させる際に保持板 6 6 5が爪部 6 1 4の斜面 6 1 4 aと擦れ合ったり、 また、 嵌合を解除させる際 に保持板 6 6 5の穴部 6 6 5 aと爪部 6 1 4の略垂直面 6 1 4 bとが擦れ合つた りしないので、 レチクルクランプ 6 0 0の押圧保持動作、 開放動作を長期間に渡 つて、 円滑に行われる。 すなわち、 保持板 6 6 5と爪部 6 1 4の摩耗に起因する 不具合の発生が殆どなくなる。
また、 レチクルクランプ 3 0 0と同様に、 露光処理中にレチクルクランプ 6 0 0によるレチクル Rの押圧保持が解除されていないことを確認するために、 検出 装置を設けることが好ましい。 例えば、 連結部 6 5 2の上面に反射鏡を設けると ともに、 露光領域 Aの上方に、 露光動作に妨げにならないようにレーザ測長器を 設置する。 そして、 レーザ測長器で下方を通過する連結部 6 5 2の X方向に関す る位置又は Z方向に関する位置を計測することで、 レチクルクランプ 6 0 0の動 作状況を検出することが可能となる。 これにより、 確実にレチクル Rがレチクル ステージ装置 5 0 0上に保持されるので、 露光処理中にレチクルクランプ 6 0 0 が解除されてしまうことに起因する不具合を回避することができる。
なお、 上述した実施の形態において示した動作手順、 あるいは各構成部材の諸 形状や組み合わせ等は一例であって、 本発明の主旨から逸脱しない範囲において プロセス条件や設計要求等に基づき種々変更可能である。 本発明は、 例えば以下 のような変更をも含むものとする。
レチクルホルダ 2 1 1, 5 2 5にレチクル Rを搭載させるロード鎮域 A 2と、 レチクル Rを取り出すアンロード領域 A 3とが一致する場合について説明したが、 これに限らない。 例えば、 レチクルステージ装置 2 0 0 , 5 0 0のストロークの 両端にロード領域 A 2とアンロード領域 A 3を配置し、 それぞれの領域にカム部 材 4 0 0を配置してもよい。
また、 カム部材 4 0 0, 7 0 0をロード領域 A 2或いはアンロード領域 A 3か ら退避させる昇降装置 4 1 0 , 7 1 0は、 カム部材 4 0 0, 7 0 0を上下させる 場合に限らない。 例えば、 カム部材 4 0 0 , 7 0 0を回転させて退避させてもよ い。
また、 ステージ部 2 0 3, 5 2 0がカム部材 4 0 0, 7 0 0を通過してレチク ルクランプ 3 0 0 , 6 0 0を開閉する際は、 耐久性ゃレチクル Rの保護を考慮し て、 ステージ部 2 0 3, 5 2 0の速度に制限を加えるようにしてもよい。
また、 レチクルステージ装置 2 0 0, 5 0 0では、 ステージ部 2 0 3 , 5 2 0 の + Y方向の移動に応じて、 リニアモータ 2 0 5 , 5 4 0の固定子 2 0 5 a, 5 4 2が— Y方向に移動することにより、 ステージ部 2 0 3, 5 2 0の移動に伴う 反力を相殺して、 重心位置の変化を防ぐようにしていが、 このような形態に限ら ない。 エアパッドをレチクル装置 2 0 0 , 5 0 0とコラム 2 0 1の間に設けて、 レチクル装置 2 0 0 , 5 0 0を浮上支持することにより、 ステージ部 2 0 3, 5 2 0の + Y方向の移動に応じて、 レチクル定盤 2 0 2 , 5 1 0がー Y方向に移動 'するように構成してもよい。
本実施形態では、 レチクル Rをレチクルクランプ 3 0 0 , 6 0 0により、 押圧 保持する場合について説明したが、 これに限らず、 ウェハ Wをクランプ装置 (固 定装置) により押圧保持する場合であってもよい。 また、 レチクル Rとウェハ" W とがそれぞれ押圧保持される場合であってもよい。
また、 レチクルクランプ 3 0 0, 6 0 0がレチクル Rの上面を押圧する場合に 限らず、 レチクル Rの端面を押圧してもよい。
また、 本発明が適用される露光装置として、 マスクと基板とを静止した状態で マスクのパターンを露光し、 基板を順次ステップ移動させるステップ'アンド · リピート型の露光装置を用いてもよい。
また、 本発明が適用される露光装置として、 投影光学系を用いることなくマス クと基板とを密接させてマスクのパターンを露光するプロキシミティ露光装置を 用いてもよい。
また、 露光装置の用途としては半導体デバイス製造用の露光装置に限定される ことなく、 例えば、 角型のガラスプレートに液晶表示素子パターンを露光する液 晶用の露光装置や、 薄膜磁気へッドを製造するための露光装置にも広く適当でき る。
また、 本発明が適用される露光装置の光源には、 g線 (4 3 6 nm)、 i線(3 6 5 n m)、 K r Fエキシマレーザ (2 4 8 n m)、 A r Fエキシマレ一ザ ( 1 9 3 n m)、 F 2.レーザ(1 5 7 n m) のみならず、 X線や電子線などの荷電粒子線 を用いることができる。 例えば、 電子線を用いる場合には電子銃として、 熱電子 放射型のランタンへキサポライト (L a B 6 )、 タンタル(T a ) を用いることが できる。 さらに、 電子線を用いる場合、 マスクを用いる構成としてもよいし、 マ スクを用いずに直接基板上にパターンを形成する構成としてもよい。 さらに、 投 影光学系の倍率は縮小系のみならず等倍および拡大系のいずれでもよい。
また、 投影光学系としては、 エキシマレ一ザなどの遠紫外線を用いる場合は硝 材として石英や蛍石などの遠紫外線を透過する材料を用い、 F 2レーザや X線を 用いる場合は反射屈折系または屈折系の光学系にし (このとき、 レチクルも反射 型タイプのものを用いる)、 また、電子線を用いる場合には光学系として電子レン ズおよび偏向器からなる電子光学系を用いればよい。 なお、 電子線が通過する光 路は真空状態にすることはいうまでもない。
また、 ウェハステージゃレチクルステージにリニアモー夕を用いる場合は、 ェ アベァリングを用いたエア浮上型および口一レンツ力またはリアクタンス力を用 いた磁気浮上型のどちらを用いてもいい。 また、 ステージは、 ガイドに沿って移 動するタイプでもいいし、ガイドを設けないガイドレスタイプでもよい。さらに、 ステージの駆動装置として平面モー夕を用いる場合、 磁石ユニット (永久磁石) と電機子ュニットのいずれか一方をステージに接続し、 磁石ユニットと電機子ュ ニットの他方をステージの移動面側 (ベース) に設ければよい。 ウェハステージの移動により発生する反力は、 特開平 8— 1 6 6 4 7 5号公報 及びこれに対応する米国特許 6, 2 8 1 , 4 5 4号に記載されているように、 フ レーム部材を用いて機械的に床 (大地) に逃がしてもよい。 本国際出願で指定し た指定国 (又は選択した選択国) の国内法令で許される限りにおいて、 上記公報 及び対応する米国特許における開示を援用して本明細書の記載の一部とする。 レチクルステージの移動により発生する反力は、 特開平 8— 3 3 0 2 2 4号公 報及びこれに対応する米国特許 6, 6 8 3, 4 3 3号に記載されているように、 フレーム部材を用いて機械的に床 (大地) に逃がしてもよい。 本国際出願で指定 した指定国 (又は選択した選択国) の国内法令で許される限りにおいて、 上記公 報及び対応する米国特許における開示を援用して本明細書の記載の一部とする。 また、 本発明が適用される露光装置は、 本願特許請求の範囲に挙げられた各構 成要素を含む各種サブシステムを、 所定の機械的精度、 電気的精度、 光学的精度 を保つように、組み立てることで製造される。これら各種精度を確保するために、 この組み立ての前後には、 各種光学系については光学的精度を達成するための調 整、 各種機械系については機械的精度を達成するための調整、 各種電気系につい ては電気的精度を達成するための調整が行われる。 各種サブシステムから露光装 置への組み立て工程は、 各種サブシステム相互の、 機械的接続、 電気回路の配線 接続、 気圧回路の配管接続等が含まれる。 この各種サブシステムから露光装置へ の組み立て工程の前に、 各サブシステム個々の組み立て工程があることはいうま でもない。 各種サブシステムの露光装置への組み立て工程が終了したら、 総合調 整が行われ、 露光装置全体としての各種精度が確保される。 なお、 露光装置の製 造は温度およびクリーン度等が管理されたクリーンルームで行うことが望ましい。 また、 半導体デバイス等のマイクロデバイスは、 図 8に示すように、 マイクロ デバイスの機能 ·性能設計を行うステップ 8 0 1、 この設計ステップに基づいた マスク (レチクル) を製作するステップ 8 0 2、 シリコン材料からデバイスの基 材であるウェハを製造するステップ 8 0 3、 前述した実施例の露光装置によりマ スクのパ夕一ンをウェハに露光する露光処理ステップ 8 0 4、 デバイス組み立て ステップ (ダイシング工程、 ボンディング工程、 パッケージ工程を含む) 8 0 5 、 検査ステップ 8 0 6等を経て製造される。 産業上の利用の可能性
本発明の第 1の態様のステージ装置によれば、 特別な駆動装置を設けることな く、 ステージ装置が所定の領域を通過するだけで自動的に固定装置が駆動して板 状体を固定することができる。
本発明の第 2の態様の固定する方法によれば、 特別な駆動装置を設けることな く、 ステージ装置が所定の領域を通過するだけで自動的に固定装置が駆動して板 状体を固定することができる。
本発明の第 3の態様の露光装置によれば、 固定装置がマスク或いは基板を強固 に押圧保持するので、 露光処理中にステージを高速に加減速させても、 マスク或 いは基板がずれることがな.く、高精度なパターンを基板に転写することができる。 本発明の第 4の態様の露光方法によれば、 マスク或いは基板を強固に押圧保持 できるので、 露光処理中にステージを高速に加減速させても、 マスク或いは基板 がずれることがなく、 高精度なパタ一ンを基板に転写することができる。
本発明の第 5の態様のデバイスの製造方法によれば、 高精度なパターンが転写 されたデバイスを製造することができる。

Claims

請求の範囲
1 . 戴置面に板状体を戴置して移動可能な移動部材を有するステージ装置であ つて、
前記板状体を前記戴置面に固定する固定装置を備え、 前記固定装置は、 前記移 動部材が所定の第 1領域を通過するのに連動して前記板状体の固定を行うことを 特徴とするステージ装置。
2 . 前記板状体を前記移動部材に搭載する第 2領域を有し、
前記移動部材が前記第 2領域から移動した後に前記第 1領域を通過することで、 前記固定装置が前記板状体を固定することを特徴とする請求項 1に記載のステー ジ装置。
3 . 前記移動部材から前記板状体を降ろす第 3領域を有し、
前記移動部材が前記第 3領域に向かう途中で前記第 1領域を通過することで、 前記固定装置が前記板状体の固定を解除することを特徴とする請求項 1に記載の ステージ装置。
4. 前記第 2領域と前記第 3領域とが同一の領域であることを特徴とする請求 項 3に記載のステージ装置。
5 . 前記固定装置が前記板状体を固定する際に前記移動部材が前記第 1領域を 通過するときの移動方向と、 前記固定装置が前記板状体の固定を解除する際に前 記第 1領域を通過するとぎの移動方向とは、 互いに相反する向きであることを特 徵とする請求項 3に記載のステージ装置。
6 . 前記移動部材が前記第 1領域を通過する際に、 前記移動部材の一部と機械 的に接触することで前記移動部材の移動を前記固定装置の動力に変換する変換装 置をさらに備えることを特徴とする請求項 1に記載のステージ装置。
7. 前記移動部材を支持するベース部をさらに備えるとともに、 前記変換装置 はカム装置であって、
前記カム装置は、 前記ベース部に設けられたカム部材と前記固定装置に設けら れたカムフォロアとを備えることを特徴とする請求項 6に記載のステージ装置。
8 . 前記カムフォロアは、 前記カム部材との摩擦を低減する軸受を備えること を特徴とする請求項 7に記載のステージ装置。
9 . 前記カム部材は、 前記カムフォロアとの接触時の抵抗を低減する暖衝装置 を備えることを特徴とする請求項 7に記載のステージ装置。
1 0 . 前記カム部材を前記移動部材の移動経路から退避させる退避装置をさら に備えることを特徴とする請求項 7に記載のステージ装置。
1 1 . 前記移動部材が前記第 1領域を通過する際に、 前記移動部材の一部と機 械的に接触することで、 前記移動部材の移動を前記固定装置の動力にするカム装 置をさらに備え、
前記カム装置の少なくとも一部が前記第 2領域に配置されることを特徴とする 請求項 2に記載のステージ装置。
1 2 . 前記固定装置は、 前記板状体の固定を保持するための保持装置を備える ことを特徴とする請求項 1に記載のステージ装置。
1 3 . 前記固定装置は、 前記板状体との接触部に設けられた弾性体を備えるこ とを特徴とする請求項 1に記載のステージ装置。
1 4. 前記移動部材の駆動時に生じる反力の作用により、 前記移動部材との間の 重量比に応じて前記移動部材の移動方法とは反対の方向に移動するように設けら れた第 2移動部材を備え、
前記移動部材の重量が、 前記固定装置の重量の少なくとも一部を含んでいるこ とを特徴とする請求項 1に記載のステージ装置。
1 5 . ステージ装置が有する移動部材に板状体を固定する方法であって、 前記移動部材がステージ装置内に設けられた所定の第 1領域を通過するのに連 動して前記板状体の固定を行うことを特徴とする板状体の固定方法。
1 6 . 前記移動部材が、 前記板状体を前記移動部材に搭載する第 2領域から移 動した後に前記第 1領域を通過することで、 前記固定装置が前記板状体を固定す ることを特徴とする請求項 1 5に記載の板状体の固定方法。
1 7 . 前記移動部材が、 前記移動部材から前記板状体を降ろす第 3領域に向か う途中で前記第 1領域を通過することで、 前記固定装置が前記板状体の固定を解 除することを特徴とする請求項 1 5に記載の板状体の固定方法。
1 8 . 前記第 2領域と前記第 3領域とが同一の領域であることを特徴とする請 求項 1 7に記載の板状体の固定方法。
1 9 . マスクを保持するマスクステージと、 基板を保持する基板ステージとを 有し、前記マスクに形成されたパターンを前記基板に露光する露光装置において、 前記マスクステージと前記基板ステージの少なくとも一方に、 請求項 1に記載 のステージ装置を用いることを特徴とする露光装置。
2 0 . マスクをマスクステージに固定するとともに、 基板を基板ステージに固 定し、前記マスクに形成されたパターンを前記基板に露光する露光方法において、 前記マスクの固定方法と前記基板の固定方法の少なくとも一方に、 請求項 1 5 に記載の固定方法を用いることを特徴とする露光方法。
2 1 . リソグラフイエ程を含むデバイスの製造方法において、 前記リソグラフ イエ程において請求項 1 9に記載の露光装置を用いることを特徴とするデバイス の製造方法。
2 2 . リソグラフイエ程を含むデバイスの製造方法において、 前記リソグラフ イエ程において請求項 2 0に記載の露光方法を用いることを特徴とするデバイス の製造方法。
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