TWI840266B - 接觸針及包含該接觸針的測試用插座 - Google Patents

Abstract

本發明涉及接觸針，更詳細地說，涉及一種設置在用於檢測半導體元件之測試用插座上的接觸針及包含該接觸針的測試用插座。本發明提供一種接觸針，其特徵在於，包括：第一部件(100)，一端具有與半導體產品的端子及測試端子中的其中一個接觸的第一端子部(120)；第二部件(300)，一端具有與半導體產品的端子及測試端子中的剩餘一個接觸的第二端子部(320)；以及線圈彈簧(200)，所述第一部件(100)及所述第二部件(300)彼此可移動地重疊的部分的至少一部分被插入到所述線圈彈簧(200)內側。

Description

接觸針及包含該接觸針的測試用插座

本發明涉及接觸針，更詳細地說，涉及一種設置在用於檢測半導體元件之測試用插座上的接觸針及包含該接觸針的測試用插座。

對於CPU、移動CPU、SDRAM、ROM、攝影鏡頭模組等半導體產品，在市場出貨前為了提高產品的可靠性而進行電氣測試，之後只選擇被檢查為良品的產品進行出貨。

對於半導體產品的電氣測試，是將半導體產品放置在被安裝到測試板上的測試用插座，然後通電而進行電氣測試。

此時，以往的測試用插座上設置了與半導體產品的端子相對應的複數個接觸針，當放置半導體產品時，與半導體產品的端子及測試板上的端子電氣性地連接，從而進行電測試。

如上所述的測試用插座所具備的接觸針需要穩定地傳遞半導體產品與測試板之間的電信號的同時，應容易組裝且頻繁使用也只產生最小限度的變化。

<專利文獻>

專利文獻1：KR 10-2171289 B1；專利文獻2：KR 10-1116225 B1。

本發明的目的在於，基於所述必要性，提供一種容易組裝、能夠穩定地傳遞電信號且長時間使用也只產生最小限度變化而能夠提高壽命的接觸針及包含該接觸針的測試用插座。

本發明是為了達成所述目的而提出的。本發明提供一種接觸針，包括：第一部件，一端具有第一端子部，所述第一端子部用以與一半導體產品的端子及一測試端子中的其中一個接觸；第二部件，一端具有第二端子部，所述第二端子部用以與所述半導體產品的端子及所述測試端子中的剩餘一個接觸；以及線圈彈簧，所述第一部件及所述第二部件彼此可移動地重疊的部分的至少一部分被插入到所述線圈彈簧內側。

所述第一部件包括：第一板狀部件，一端形成彎曲的掛接部，而另一端形成與所述掛接部隔開而加壓所述線圈彈簧的一端的第一加壓部，以及所述第二部件包括：第二板狀部件，與所述第一板狀部件平行地設置，所述第二板狀部件的一端形成有掛接段差部，用以向所述線圈彈簧展開的方向掛接所述掛接部並且使得所述掛接部向所述線圈彈簧收縮的方向移動，所述第二板狀部件的另一端形成有加壓所述線圈彈簧的另一端的第二加壓部。

所述第二板狀部件包括：第一平行部分，平行於所述第一板狀部件；彎曲部分，與所述第一平行部分以一體彎曲而形成，以匹配所述第一板狀部件中形成所述掛接部的部分；以及第二平行部分，與所述彎曲部分形成為一體而平行於所述第一平行部分，並連接到所述第二端子部。

所述第一加壓部向所述第一板狀部件的側方延長而形成，以及所述第二加壓部向所述第二板狀部件的側方延長而形成。

所述第一加壓部與所述第一板狀部件的板面垂直，以引導所述第二板狀部件的線性移動。

所述第二加壓部與所述第二板狀部件的板面垂直而彎曲，以引導所述第一板狀部件的線性移動。

所述第一端子部與所述第一板狀部件採用金屬板材形成為一體。

所述第一端子部採用金屬板材以圓筒形狀彎曲而形成。

所述第二端子部與第二板狀部件採用金屬板材形成為一體。

所述第二端子部採用金屬板材以圓筒形狀彎曲而形成。

另外，作為本發明的另一態樣，本發明的接觸針包括：第一部件，一端具有與半導體產品的端子及測試端子中的其中一個接觸的第一端子部；第二部件，一端具有與半導體產品的端子及測試端子中的剩餘一個接觸的第二端子部；以及線圈彈簧，所述第一部件及所述第二部件彼此可移動地重疊的部分 的至少一部分被插入到內側，所述第一部件包括：一第一板狀部件，一端與所述第一端子部連接，而另一端彎曲形成掛接部；以及第一加壓部，形成於所述第一端子部而加壓所述線圈彈簧的一端；所述第二部件包括：第二板狀部件，一端與所述第二端子部連接，並與所述第一板狀部件重疊；以及突出部，在所述第二板狀部件的一側圍住所述第一板狀部件地形成而加壓所述線圈彈簧的另一端，其中，所述突出部基於所述第一板狀部件及所述第二板狀部件的相對移動，向所述線圈彈簧展開的方向被掛接到所述掛接部。

所述第一加壓部向所述第一端子部的側方延長而形成。

所述突出部包括：平行部分，以所述第一板狀部件位於中間，平行於所述第二板狀部件；接頭部分，連接所述第二板狀部件和所述平行部分；以及彎曲部分，從所述平行部分向遠離所述第一板狀部件的方向彎曲而形成。

所述第一端子部與所述第一板狀部件採用金屬板材形成為一體，以及所述第二端子部與所述第二板狀部件採用金屬板材形成為一體。

所述第一端子部與所述第一板狀部件之間形成第一彎曲部，以及所述第二端子部與所述第二板狀部件之間形成第二彎曲部。

所述第一端子部是從所述第一彎曲部延長而形成的板形，以及所述第二端子部是從所述第二彎曲部延長而形成的板形。

所述第一端子部的中心軸與所述第二端子部的中心軸彼此一致或偏心。

本發明還提供一種測試用插座，包括：插座主體，用於安裝需要檢測的半導體產品；以及複數個接觸針，設置在所述插座主體而電氣性地連接半導體產品的端子及測試板上的端子，所述複數個接觸針中的至少一個由具有上述結構的接觸針構成。

另外，本發明的接觸針包括：第一部件，一端具有與半導體產品的端子及測試端子中的其中一個接觸的第一端子部；第二部件，一端具有與半導體產品的端子及測試端子中的剩餘一個接觸的第二端子部；以及線圈彈簧，所述第一部件及所述第二部件彼此可移動地重疊的部分的至少一部分被插入到所述線圈彈簧內側；所述線圈彈簧包括：第一線圈彈簧部，與所述第一端子部鄰接設置；以及第二線圈彈簧部，與所述第二端子部鄰接設置，並連接到所述第一線圈彈簧部，其中，所述第一線圈彈簧部的彈簧直徑與所述第二線圈彈簧部的彈簧直徑相異。

所述第一線圈彈簧部的彈簧直徑小於所述第二線圈彈簧部的彈簧直徑。

所述第一線圈彈簧部的彈簧直徑與所述第一部件及第二部件彼此可移動地重疊的部分的水平方向截面的對角線長度的長度差小於0.05mm。

所述第一部件包括：第一板狀部件，一端形成彎曲的掛接部，而另一端形成與所述掛接部隔開而加壓所述線圈彈簧的一端的第一加壓部，以及所述第二部件包括：第二板狀部件，與所述第一板狀部件平行地設置，所述第二板狀部件的一端形成有掛接段差部，用以向所述線圈彈簧展開的方向掛接所述掛接部並且使得所述掛接部向所述線圈彈簧收縮的方向移動，所述第二板狀部件的另一端形成有加壓所述線圈彈簧的另一端的一第二加壓部。

所述第一端子部與所述第一板狀部件採用金屬板材形成為一體，以及所述第二端子部與所述第二板狀部件採用金屬板材形成為一體。

並且，所述第一端子部及所述第二端子部中的至少一個採用金屬板材以圓筒形狀彎曲而形成。

並且，所述第一端子部及所述第二端子部中的至少一個採用金屬板材以U字形狀彎曲而形成。

本發明的接觸針及包含該接觸針的測試用插座的優點在於，第一部件及第二部件上下重疊而能夠線性移動，因此結構簡單且可以大幅提高耐久性。

尤其，所述第一部件及第二部件具有上下重疊的第一板狀部件及第二板狀部件，所述第一板狀部件及第二板狀部件以上下重疊狀態與外側插入的彈簧相結合，具有組裝簡單且便於製造的優點。

100:第一部件

110:第一板狀部件

111:掛接部

112:第一加壓部

120:第一端子部

200:線圈彈簧

210:第一線圈彈簧部

220:第二線圈彈簧部

300:第二部件

310:第二板狀部件

311:掛接段差部

312:第二加壓部

313:第二平行部分

314:第一平行部分

315:彎曲部分

320:第二端子部

400:突出部

401:平行部分

402:接頭部分

403:彎曲部分

410:第二板狀部件

440:第二彎曲部

500:掛接部

510:第一板狀部件

530:第一加壓部

540:第一彎曲部

C1,C2:中心軸

D1,D2:彈簧直徑

L:對角線長度

P1:第一節距

P2:第二節距

圖1a及圖1b是顯示本發明第一實施例的接觸針的立體圖，其中，圖1a是顯示線圈彈簧展開的狀態且圖1b是顯示線圈彈簧被壓縮的狀態的立體圖；圖2a及圖2b分別是圖1a及圖1b的接觸針的剖視圖，其中，圖2a是顯示線圈彈簧展開的狀態且圖2b是顯示線圈彈簧被壓縮的狀態的剖視圖；圖3是圖1a的接觸針的分解立體圖； 圖4a及圖4b是顯示本發明第二實施例的接觸針的立體圖，其中，圖4a是顯示線圈彈簧展開的狀態且圖4b是顯示線圈彈簧被壓縮的狀態的立體圖；圖5a及圖5b分別是圖4a及圖4b的接觸針的剖視圖，其中，圖5a是顯示線圈彈簧展開的狀態且圖5b是顯示線圈彈簧被壓縮的狀態的剖視圖；圖6是圖4a的接觸針的分解立體圖；圖7是圖4a中A部分的局部放大圖；圖8是圖7中Ⅷ-Ⅷ方向的剖視圖；圖9a及圖9b分別是圖2a及圖2b的結構的變化例，顯示第一端子部及第二端子部的中心軸彼此偏心的狀態的剖視圖；圖10是顯示本發明的變化例的接觸針的立體圖；圖11a及圖11b是本發明的變化例的接觸針的剖視圖，其中，圖11a是顯示線圈彈簧展開的狀態且圖11b是顯示線圈彈簧被壓縮的狀態的剖視圖；圖12是圖10中B部分的局部放大圖；圖13是圖12中Ⅵ-Ⅵ方向的剖視圖；圖14a是顯示本發明的變化例的接觸針的立體圖；圖14b及圖14c是顯示本發明的變化例的接觸針的剖視圖；圖15是顯示本發明的變化例的線圈彈簧的立體圖；以及圖16是顯示本發明的變化例的接觸針的立體圖。

以下參照附圖描述本發明的接觸針及包含該接觸針的測試用插座。

本發明的接觸針如圖1a至圖8所示，包括：第一部件100，一端具有與半導體產品的端子及測試端子中的其中一個接觸的第一端子部120；第二部件300，一端具有與半導體產品的端子及測試端子中的剩餘一個接觸的第二端子部320；以及線圈彈簧200，所述第一部件100及所述第二部件300彼此可移動地重疊的部分的至少一部分被插入到所述線圈彈簧200內側。

所述第一部件100是一端具有與半導體產品的端子及測試端子中的其中一個接觸的第一端子部120的構件，可以採用多種結構。

為了使所述第一部件100具有如圖1a至圖3、圖4a至圖6所示的形狀，在金屬材質的板材上裁切後，利用夾具等成型為包含第一端子部120的一體式結構。

並且，較佳地，所述第一部件100具有銅、銅合金(BeCu)等導電性高的材質，進而，為了提高導電性，較佳採用鍍金。

所述第一端子部120是與半導體產品的端子及測試端子中的其中一個接觸的部件，在本發明的實施例中，是與半導體產品的端子接觸的構件，例如，只要是能夠與形成在半導體晶片底面的球端子穩定接觸的結構均可，可以採用任意結構。

舉例來說，所述第一端子部120可以採用金屬板材以圓筒形狀彎曲而形成的氣缸結構。

更具體地說，所述第一端子部120如圖1a至圖6所示，從兩側彎曲而呈圓筒形狀，從而形成氣缸形狀的半圓。

並且，可以利用金屬板材使所述第一端子部120與所述第一板狀部件110成型為一體。

另外，所述第一部件100可以包括：第一板狀部件110，一端形成彎曲的掛接部111，而另一端形成與所述掛接部111隔開而加壓所述線圈彈簧200的一端的第一加壓部112。

所述第一板狀部件110是形成掛接部111及第一加壓部112的板狀的部件，平面形狀可以是向長度方向延長的矩形形狀。

並且，所述第一板狀部件110的一端與所述第一端子部120連接，而另一端形成後述的掛接部111。

其中，較佳地，所述第一端子部120與所述第一板狀部件110形成為一體，但也可以通過另外的部件採用焊接等而結合。

所述掛接部111是從所述第一板狀部件110的一端彎曲而被掛接到後述的掛接段差部311的構件，根據與掛接段差部311的掛接結構，可以採用多種結構。

並且，所述掛接部111只要是能夠在後述的線圈彈簧200的彈性力下也能保持被掛接段差部311掛接的狀態均可，可以採用任意結構。

舉例來說，所述掛接部111相對所述第一板狀部件110的板面，以45°以上的角度彎曲而形成，較佳為80°以上的角度。

其中，後述的掛接段差部311具有與掛接部111的彎曲結構相匹配的結構，或者以能夠被掛接部111掛接的程度彎曲而形成。

所述第一加壓部112是與後述第二加壓部312一起加壓線圈彈簧200的端部的構件，只要是從第一板狀部件110的邊緣向側方突出而能夠加壓線圈彈簧200的程度均可，可以採用任意結構。

另外，所述第一加壓部112(如圖7及圖8)向側方突出後再次彎曲而使得後述第二部件300的第二板狀部件310的邊緣位於中間，引導第二板狀部件310的線性移動。

亦即，所述第一加壓部112向所述第一板狀部件110的側方延長而形成，所述第一加壓部112與所述第一板狀部件110的板面垂直，引導所述第二板狀部件310的線性移動。

所述第二部件300是一端具有與半導體產品的端子及測試端子中的剩餘一個接觸的第二端子部320的構件，可以採用多種結構。

所述第二部件300具有如圖1a至圖3、圖4a至圖6所示的形狀，在金屬材質的板材上裁切後，利用夾具等成型為包含第二端子部320的一體式結構。

並且，較佳地，所述第二部件300具有銅、銅合金(BeCu)等導電性高的材質，進而，為了提高導電性，較佳採用鍍金。

所述第二端子部320是與半導體產品的端子及測試端子中的其中一個接觸的部件，在本發明的實施例中，是與半導體產品的測試端子接觸的構件，只要是能夠與設置在測試板的測試端子穩定接觸的結構均可，可以採用任意結構。

舉例來說，所述第二端子部320可以採用金屬板材以圓筒形狀彎曲而形成的氣缸結構。

更具體地說，所述第二端子部320(如圖1a至圖6所示)從兩側彎曲而呈圓筒形狀，從而形成氣缸形狀的半圓形。

並且，可以利用金屬板材使所述第二端子部320與第二板狀部件310成型為一體。

另外，根據測試針的設置結構，所述第二端子部320相對於所述第一端子部120，其中心軸(Z方向的軸)彼此一致或偏心。

亦即，所述第二端子部320(如圖2a及圖2b、圖5a及圖5b所示)相對於所述第一端子部120，其中心軸(Z方向的軸)彼此一致。

並且，所述第二端子部320(如圖9a及圖9b所示)相對於所述第一端子部120，其中心軸(Z方向的軸)是偏心的。

另外，所述第二端子部320為了與中心軸(C1、C2)一致或偏心，向第二板狀部件310中朝第一板狀部件110的一面的相反面方向形成，所述第一端子部120向第一板狀部件110中朝第二板狀部件310的一面的相反面方向形成。

並且，所述第二端子部320和所述第二板狀部件310的連接部分、以及所述第一端子部120和所述第一板狀部件110的連接部分可以根據第一端子部120的中心軸C1及第二端子部320的中心軸C2的一致與偏心與否而適當變化。

所述第二部件300可以包括：第二板狀部件310，與所述第一板狀部件110平行地設置，一端形成有掛接段差部311，以向所述線圈彈簧200展開的方向掛接所述掛接部111並且使得所述掛接部111向所述線圈彈簧200收縮的方向移動，而另一端形成加壓所述線圈彈簧200的另一端的第二加壓部312。

所述第二板狀部件310是形成掛接段差部311及第二加壓部312的板狀的部件，平面形狀可以是向長度方向延長的矩形形狀。

尤其，所述第二板狀部件310可以包括：第一平行部分314，平行於所述第一板狀部件110；彎曲部分315，與所述第一平行部分314以一體彎曲而形成，使所述第一板狀部件110的掛接部111能夠掛接；以及第二平行部分313，與所述彎曲部分315形成為一體而平行於所述第一平行部分314，連接到所述第二端子部320。

所述第一平行部分314是平行於所述第一板狀部件110以向上下方向彼此層疊的部件，較佳地，是形成上下接觸狀態的板狀的部件，平面形狀是向長度方向延長的矩形形狀。

其中，所述第一平行部分314的寬度可以與所述第一板狀部件110的寬度相同。但是，所述第一平行部分314的寬度只需被插入到後述的線圈彈簧200的狀態下穩定地引導第一板狀部件110的線性移動的程度即可，不是必需與第一板狀部件110的寬度相同。

並且，所述第一平行部分314的長度只要能夠穩定地引導所述第一板狀部件110的線性移動即可。

另外，關於所述第一平行部分314，向側方形成後述的第二加壓部312。

所述彎曲部分315是為了使所述第一板狀部件110的掛接部111能夠掛接而與所述第一平行部分314以一體彎曲而形成的部分，只要是彎曲成掛接部111能夠掛接的程度均可，可以採用任意結構。

尤其，所述彎曲部分315為了形成與掛接部111穩定掛接的結構，以與形成掛接部111的部分相互匹配地彎曲。

亦即，所述彎曲部分315彎曲的角度可以與掛接部111彎曲的角度相同。

所述第二平行部分313是為了平行於所述第一平行部分314而與所述彎曲部315形成為一體且連接到所述第二端子部320的部分，可以採用多種結構。

所述第二平行部分313是平行於所述第一平行部分314而延長的板狀的部件，平面形狀是向長度方向延長的矩形形狀。

其中，較佳地，所述第二平行部分313的寬度與所述第一平行部分314的寬度相同，但不是必需與第一平行部分314的寬度相同。

另外，所述第二板狀部件310的另一端與所述第二端子部320連接。

其中，較佳地，所述第二端子部320與第二板狀部件310形成為一體，但也可以通過另外的部件採用焊接等而結合。

所述掛接段差部311是為了使所述第一板狀部件110的掛接部111掛接而形成於所述第二板狀部件310的構件，根據與掛接部111的掛接結構，可以採用多種結構。

並且，所述掛接段差部311只要是能夠在後述的線圈彈簧200的彈性力下也能保持掛接部111被掛接的狀態均可，可以採用任意結構。

舉例來說，所述掛接段差部311相對所述第二板狀部件310的第一平行部分314的板面，以45°以上的角度彎曲而形成，較佳為80°以上的角度。

其中，所述掛接段差部311具有與掛接部111的彎曲結構相匹配的結構，或者以能夠被掛接部111掛接的程度彎曲而形成。

所述第二加壓部312是與所述第一加壓部112一起加壓線圈彈簧200的端部的構件，只要是從第二板狀部件310的邊緣向側方突出而能夠加壓線圈彈簧200的程度均可，可以採用任意結構。

另外，所述第二加壓部312(如圖7及圖8)向側方突出後再次彎曲而使得所述第一部件100的第一板狀部件110的邊緣位於中間，引導第一板狀部件110的線性移動。

亦即，所述第二加壓部312向所述第二板狀部件310的側方延長而形成，所述第二加壓部312與所述第二板狀部件310的板面垂直而彎曲，引導所述第一板狀部件110的線性移動。

所述線圈彈簧200是所述第一部件100及所述第二部件300彼此可移動地重疊的部分的至少一部分被插入內側的構件，可以採用多種結構。

所述線圈彈簧200只要是一端被第一加壓部112支撐且另一端被第二加壓部312支撐，並且所述第一部件100及第二部件300彼此重疊的部分的至少一部分能夠被插入的結構均可，可以採用任意結構。

其中，所述線圈彈簧的外形以所述第一部件100及第二部件300彼此重疊的狀態下內周側具有穩定的彈性作用為條件來確定直徑及彈性。

並且，所述線圈彈簧200的材質考慮到彈性力的保持，可以採用SUS、琴綱絲、BeCu等金屬材質，也可以鍍鎳或金。

另外，所述線圈彈簧200的橫截面的形狀與所述第一部件100及第二部件300彼此重疊的狀態的形狀相對應，可以採用圓形、四邊形、橢圓形等多種形狀。

並且，所述第一部件100及所述第二部件300有必要保持彈性力，因此最好進行熱處理。

並且，關於所述第一板狀部件110及所述第二板狀部件310，彼此相接的面形成平面，相反面的橫截面形狀形成梯形、半橢圓、半圓的形狀，以使其在線圈彈簧200上的移動能夠順暢。

根據具有所述結構的本發明的接觸針，使第一部件100及第二部件300彼此重疊的狀態下，彼此重疊的部分的至少一部分被插入到線圈彈簧200而組裝，因此結構簡單而便於製造，可以節省製造費用。

另外，作為本發明的另一態樣，本發明的接觸針包括：第一部件100，一端具有與半導體產品的端子及測試端子中的其中一個接觸的第一端子部120；第二部件300，一端具有與半導體產品的端子及測試端子中的剩餘一個接觸的第二端子部320；以及線圈彈簧200，所述第一部件100及所述第二部件300彼此可移動地重疊的部分的至少一部分被插入到所述線圈彈簧200內側，並且， 所述第一部件100包括：第一板狀部件510，一端與所述第一端子部120連接並且掛接部500從另一端彎曲而形成；以及第一加壓部530，形成於所述第一端子部120而加壓所述線圈彈簧200的一端，所述第二部件300包括：第二板狀部件410，一端與所述第二端子部320連接，與所述第一板狀部件510重疊；以及突出部400，在所述第二板狀部件410的一側圍住所述第一板狀部件510地形成而加壓所述線圈彈簧200的另一端，所述突出部400基於所述第一板狀部件510及所述第二板狀部件410的相對移動，向所述線圈彈簧200展開的方向被掛接到所述掛接部500，具有這種結構的本發明的接觸針可以透過圖10及圖11來確認。

具有所述結構的本發明的接觸針基於第一部件100及第二部件300的相對移動而使得線圈彈簧200展開或收縮。

線圈彈簧200收縮最大時，形成於第一部件100的掛接部500與形成於第二部件300的第二彎曲部440接觸，這種情況下，第二彎曲部440產生阻擋器的功能，以阻止掛接部500向線圈彈簧200的收縮方向移動。

並且，形成於第一部件100的第一彎曲部540也可以作為阻擋器。

具體地說，線圈彈簧200收縮最大時，形成於第二部件300的第二板狀部件410的一個末端與形成於第一部件100的第一彎曲部540接觸，這種情況下，第一彎曲部540可以阻止第二板狀部件410向線圈彈簧200的收縮方向移動。

另外，本發明的第一加壓部530可以向第一端子部120的側方延長而形成。

並且，本發明的突出部400可以包括：平行部分401，以第一板狀部件510位於中間，平行於第二板狀部件410；接頭部分402，連接所述第二板狀部件410和所述平行部分401；以及彎曲部分403，從所述平行部分401向遠離所述第一板狀部件510的方向彎曲而形成。

具有所述結構的本發明的突出部400可以具有向第二板狀部件410的一側方延長而形成的U字形狀的結構。

另外，為了使得突出部400加壓線圈彈簧200，接頭部分402和彎曲部分403相比所述線圈彈簧200向外側突出地形成。

根據如上所述的突出部400的結構，線圈彈簧200被突出部400掛住而不再展開，線圈彈簧200展開最大時的線圈彈簧200長度是從第二部件300上形成的突出部400到第一部件100上形成的第一加壓部530之間的最大距離。

根據本發明的接觸針結構，所述最大距離是突出部400接觸掛接部500時的突出部400與第一加壓部530之間的距離。

本發明的第一端子部120與第一板狀部件510採用金屬板材形成為一體，第二端子部320與第二板狀部件410採用金屬板材形成為一體。

所述第一端子部120與所述第一板狀部件510之間形成第一彎曲部540，所述第二端子部320與所述第二板狀部件410之間形成第二彎曲部440。

並且，所述第一端子部120是從第一彎曲部540延長而形成的板形，第二端子部320是從第二彎曲部440延長而形成的板形。

另外，複數個具有所述結構的本發明的接觸針被設置到與測試板結合的測試用插座而構成一個測試用插座。

亦即，本發明的測試用插座包括：插座主體，用於安裝需要檢測的半導體產品；以及複數個接觸針，設置在所述插座主體而電氣性地連接半導體產品的端子及測試板上的端子，複數個所述接觸針中的至少一個由前述的接觸針構成。

另外，本發明的接觸針(如圖14a至14c所示)包括：第一部件100，一端具有與半導體產品的端子及測試端子中的其中一個接觸的第一端子部120；第二部件300，一端具有與半導體產品的端子及測試端子中的剩餘一個接觸的第二端子部320；以及線圈彈簧200，所述第一部件100及所述第二部件300彼此可移動地重疊的部分的至少一部分被插入到所述線圈彈簧200內側，所述線圈彈簧200包括：第一線圈彈簧部210，與所述第一端子部120鄰接設置；以及第二線圈彈簧部220，與所述第二端子部320鄰接設置，連接到所述第一線圈彈簧部210，所述第一線圈彈簧部210的彈簧直徑D1與所述第二線圈彈簧部220的彈簧直徑D2相異。

所述第一線圈彈簧部210的彈簧直徑D1小於所述第二線圈彈簧部220的彈簧直徑D2。

並且，如圖14c所示，所述第一線圈彈簧部210的彈簧直徑D1與所述第一部件100及第二部件300彼此可移動地重疊的部分的水平方向截面的對角線長度L的長度差小於0.05mm。

其中，當第一部件100及第二部件300彼此可移動地重疊的部分被插入到線圈彈簧200的內側時，所述重疊的部分被第一線圈彈簧部210加壓而第一部件100及第二部件300貼緊，具有提高接觸針的通電效率的優點。

尤其，可以是第一線圈彈簧部210的彈簧直徑D1與第一部件100及第二部件300彼此可移動地重疊的部分的水平方向截面的對角線長度L實質上相同，這種情況下，第一部件100及第二部件300更加貼緊而提高通電效率。

並且，當所述第一線圈彈簧部210的上下方向彈簧長度為第一節距P1，所述第二線圈彈簧部220的上下方向彈簧長度為第二節距P2時，第一節距P1和第二節距P2的長度可以有多種構成。

第一節距P1和第二節距P2的長度可以不同，如圖15所示，所述第一節距P1的長度可以小於所述第二節距P2的長度。

另外，所述第一部件100可以包括：第一板狀部件110，一端形成彎曲的掛接部111，而另一端形成與所述掛接部111隔開而加壓所述線圈彈簧200的一端的第一加壓部112；所述第二部件300包括：掛接段差部311，平行於所述第一板狀部件110，向所述線圈彈簧200展開的方向掛接所述掛接部111，使得所述掛接部111向所述線圈彈簧200收縮的方向移動；以及第二板狀部件310，形成向另一端側加壓所述線圈彈簧200的另一端的第二加壓部312。

所述第一端子部120與所述第一板狀部件110採用金屬板材形成為一體，所述第二端子部320與所述第二板狀部件310採用金屬板材形成為一體。

其中，所述第一端子部120及第二端子部320可以具有多種形狀，例如，所述第一端子部120及第二端子部320可以是直線板形狀，所述第一端子部120及所述第二端子部320中的至少一個可以採用金屬板材以圓筒形狀彎曲而形成。

並且，如圖16所示，所述第一端子部120及所述第二端子部320中的至少一個可以採用金屬板材以U字形狀彎曲而形成。

以上只是對本發明可以實現的較佳實施例的一部分進行的說明，因此眾所周知，本發明的範圍不應局限於上述實施例，以上說明的本發明的技術思想及其根本的技術思想都包含在本發明的範圍內。

100:第一部件

110:第一板狀部件

111:掛接部

112:第一加壓部

120:第一端子部

200:線圈彈簧

300:第二部件

310:第二板狀部件

311:掛接段差部

312:第二加壓部

313:第二平行部分

314:第一平行部分

315:彎曲部分

320:第二端子部

Claims (23)

1. 一種接觸針，包括：一第一部件(100)，一端具有一第一端子部(120)，所述第一端子部(120)用以與一半導體產品的端子及一測試端子中的其中一個接觸；一第二部件(300)，一端具有一第二端子部(320)，所述第二端子部(320)用以與所述半導體產品的端子及所述測試端子中的剩餘一個接觸；以及一線圈彈簧(200)，所述第一部件(100)及所述第二部件(300)彼此可移動地重疊的部分的至少一部分被插入到所述線圈彈簧(200)內側，其中，所述第一部件(100)包括：一第一板狀部件(110)，一端形成彎曲的掛接部(111)，另一端形成與所述掛接部(111)隔開而加壓所述線圈彈簧(200)的一端的一第一加壓部(112)，其中，所述第二部件(300)包括：一第二板狀部件(310)，與所述第一板狀部件(110)平行地設置，所述第二板狀部件(310)的一端形成有一掛接段差部(311)，用以向所述線圈彈簧(200)展開的方向掛接所述掛接部(111)並且使得所述掛接部(111)向所述線圈彈簧(200)收縮的方向移動，所述第二板狀部件(310)的另一端形成有加壓所述線圈彈簧(200)的另一端的一第二加壓部(312)，以及其中，所述第二板狀部件(310)包括：一第一平行部分(314)，平行於所述第一板狀部件(110)；一彎曲部分(315)，與所述第一平行部分(314)以一體彎曲而形成，以匹配所述第一板狀部件(110)中形成所述掛接部(111)的部分；以及一第二平行部分(313)，與所述彎曲部分(315)形成為一體而平行於所述第一平行部分(314)，並連接到所述第二端子部(320)。
2. 根據請求項1所述的接觸針，其中，所述第一加壓部(112)向所述第一板狀部件(110)的側方延長而形成，以及所述第二加壓部(312)向所述第二板狀部件(310)的側方延長而形成。
3. 根據請求項2所述的接觸針，其中，所述第二加壓部(312)與所述第二板狀部件(310)的板面垂直而彎曲，以引導所述第一板狀部件(110)的線性移動。
4. 根據請求項1所述的接觸針，其中，所述第一端子部(120)與所述第一板狀部件(110)採用金屬板材形成為一體。
5. 根據請求項4所述的接觸針，其中，所述第一端子部(120)採用金屬板材以圓筒形狀彎曲而形成。
6. 根據請求項1所述的接觸針，其中，所述第二端子部(320)與所述第二板狀部件(310)採用金屬板材形成為一體。
7. 根據請求項6所述的接觸針，其中，所述第二端子部(320)採用金屬板材以圓筒形狀彎曲而形成。
8. 根據請求項6所述的接觸針，其中，所述第一端子部(120)的一中心軸(C1)與所述第二端子部(320)的一中心軸(C2)彼此一致或偏心。
9. 一種接觸針，包括：一第一部件(100)，一端具有一第一端子部(120)，所述第一端子部(120)用以與一半導體產品的端子及一測試端子中的其中一個接觸；一第二部件(300)，一端具有一第二端子部(320)，所述第二端子部(320)用以與所述半導體產品的端子及所述測試端子中的剩餘一個接觸；以及一線圈彈簧(200)，所述第一部件(100)及所述第二部件(300)彼此可移動地重疊的部分的至少一部分被插入到所述線圈彈簧(200)內側，其中，所述第一部件(100)包括：一第一板狀部件(510)，一端與所述第一端子部(120)連接，而另一端彎曲形成一掛接部(500)；以及一第一加壓部(530)，形成於所述第一端子部(120)而加壓所述線圈彈簧(200)的一端，以及其中，所述第二部件(300)包括：一第二板狀部件(410)，一端與所述第二端子部(320)連接，並與所述第一板狀部件(510)重疊；以及 一突出部(400)，在所述第二板狀部件(410)的一側圍住所述第一板狀部件(510)地形成而加壓所述線圈彈簧(200)的另一端，其中，所述突出部(400)基於所述第一板狀部件(510)及所述第二板狀部件(410)的相對移動，向所述線圈彈簧(200)展開的方向被掛接到所述掛接部(500)。
10. 根據請求項9所述的接觸針，其中，所述第一加壓部(530)向所述第一端子部(120)的側方延長而形成。
11. 根據請求項9所述的接觸針，其中，所述突出部(400)包括：一平行部分(401)，以所述第一板狀部件(510)位於中間，平行於所述第二板狀部件(410)；一接頭部分(402)，連接所述第二板狀部件(410)和所述平行部分(401)；以及一彎曲部分(403)，從所述平行部分(401)向遠離所述第一板狀部件(510)的方向彎曲而形成。
12. 根據請求項9所述的接觸針，其中，所述第一端子部(120)與所述第一板狀部件(510)採用金屬板材形成為一體，以及所述第二端子部(320)與所述第二板狀部件(410)採用金屬板材形成為一體。
13. 根據請求項9所述的接觸針，其中，所述第一端子部(120)與所述第一板狀部件(510)之間形成一第一彎曲部(540)，以及所述第二端子部(320)與所述第二板狀部件(410)之間形成一第二彎曲部(440)。
14. 根據請求項13所述的接觸針，其中，所述第一端子部(120)是從所述第一彎曲部(540)延長而形成的板形，以及所述第二端子部(320)是從所述第二彎曲部(440)延長而形成的板形。
15. 根據請求項1至14中任一項所述的接觸針，其中，所述線圈彈簧(200)包括：一第一線圈彈簧部(210)，與所述第一端子部(120)鄰接設置；以及一第二線圈彈簧部(220)，與所述第二端子部(320)鄰接設置，並連接到所述第一線圈彈簧部(210)， 其中，所述第一線圈彈簧部(210)的彈簧直徑(D1)與所述第二線圈彈簧部(220)的彈簧直徑(D2)相異。
16. 根據請求項15所述的接觸針，其中，所述第一線圈彈簧部(210)的彈簧直徑(D1)小於所述第二線圈彈簧部(220)的彈簧直徑(D2)。
17. 根據請求項16所述的接觸針，其中，所述第一線圈彈簧部(210)的彈簧直徑(D1)與所述第一部件(100)及所述第二部件(300)彼此可移動地重疊的部分的水平方向截面的對角線長度(L)的長度差小於0.05mm。
18. 根據請求項15所述的接觸針，其中，所述第一部件(100)包括：一第一板狀部件(110)，一端形成彎曲的掛接部(111)，而另一端形成與所述掛接部(111)隔開而加壓所述線圈彈簧(200)的一端的一第一加壓部(112)，以及所述第二部件(300)包括：一第二板狀部件(310)，與所述第一板狀部件(110)平行地設置，所述第二板狀部件(310)的一端形成有一掛接段差部(311)，用以向所述線圈彈簧(200)展開的方向掛接所述掛接部(111)並且使得所述掛接部(111)向所述線圈彈簧(200)收縮的方向移動，所述第二板狀部件(310)的另一端形成有加壓所述線圈彈簧(200)的另一端的一第二加壓部(312)。
19. 根據請求項18所述的接觸針，其中，所述第一端子部(120)與所述第一板狀部件(110)採用金屬板材形成為一體，以及所述第二端子部(320)與所述第二板狀部件(310)採用金屬板材形成為一體。
20. 根據請求項19所述的接觸針，其中，所述第一端子部(120)及所述第二端子部(320)中的至少一個採用金屬板材以圓筒形狀彎曲而形成。
21. 根據請求項19所述的接觸針，其中，所述第一端子部(120)及所述第二端子部(320)中的至少一個採用金屬板材以U字形狀彎曲而形成。
22. 一種測試用插座，包括：一插座主體，用於安裝需要檢測的一半導體產品；以及 複數個接觸針，設置在所述插座主體而電氣性地連接所述半導體產品的端子及一測試板上的端子，其中，所述複數個接觸針中的至少一個是請求項1至14中任一項所述的接觸針。
23. 根據請求項22所述的測試用插座，其中，所述第一端子部(120)的一中心軸(C1)與所述第二端子部(320)的一中心軸(C2)彼此一致或偏心。

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