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TW201314541A - 觸控面板 - Google Patents

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TW201314541A
TW201314541A TW101129114A TW101129114A TW201314541A TW 201314541 A TW201314541 A TW 201314541A TW 101129114 A TW101129114 A TW 101129114A TW 101129114 A TW101129114 A TW 101129114A TW 201314541 A TW201314541 A TW 201314541A
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Masamichi Ando
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Murata Manufacturing Co
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Abstract

本發明之觸控面板(1)包含具有相互對向之第1主面(100ST)與第2主面(100SB)之平膜狀之壓電膜(100)。且該觸控面板(1)包含形成於壓電膜(100)之第1主面(100ST)及第2主面(100SB)上之靜電電容檢測用電極用之第1、第2靜電電容檢測用子電極(11A~11F、21A~21F)。第1、第2靜電電容檢測用子電極(11A~11F、21A~21F)檢測觸控位置。觸控面板(1)包含形成於壓電膜(100)之第1主面(100ST)及第2主面(100SB)上之壓電電壓檢測用電極用之第1、第2壓電電壓檢測用子電極(13A~13L、23A~23L)。第1、第2壓電電壓檢測用子電極(13A~13L、23A~23L)檢測與對壓電膜(100)之壓入量對應之壓電電壓。

Description

觸控面板
本發明係關於一種可檢測以手指等進行了輸入操作之位置與該操作時之壓入量之觸控面板。
先前，研究有各種藉由操作者以手指等觸控平面狀之操作面而同時檢測該觸控位置與觸控時之壓入量之觸控面板。
例如，於專利文獻1中，記載有使平板狀之感壓感測器與檢測觸控位置之觸控面板密接並重合之構造之觸控輸入裝置。於該觸控輸入裝置中，觸控位置係藉由觸控面板而檢測。壓入量係藉由與觸控面板分開形成且重疊於該觸控面板之感壓感測器而檢測。
先前技術文獻 專利文獻
專利文獻1：日本專利特開平5-61592號公報
然而，專利文獻1中所記載之觸控輸入裝置，為了檢測觸控位置與壓入量而必需分別使用觸控面板與感壓感測器並將該等重疊。因此，觸控輸入裝置之厚度成為將觸控面板之厚度與感壓感測器之厚度相加所得之厚度以上，從而不易薄型地形成。
又，當欲形成高透光性之觸控輸入裝置之情形時，於專 利文獻1所記載之構造中，無法獲得較將觸控面板之透光性與感壓感測器之透光性相加所得之透光性高之透光性。因此，成為透光性相對較低之觸控面板輸入裝置。
因此，本發明之目的在於提供一種可檢測觸控位置與壓入量之薄型之觸控面板。
(1)本發明之觸控面板包含具有相互對向之第1主面與第2主面之平膜狀之壓電膜，且包含配置於壓電膜之第1主面側或第2主面側之至少任一側之靜電電容檢測用電極。靜電電容檢測用電極檢測觸控位置。觸控面板包含配置於壓電膜之第1主面側及第2主面側之壓電電壓檢測用電極。壓電電壓檢測用電極檢測與對壓電膜施予之壓入量對應之壓電電壓。
根據該構成，若將1片壓電膜之第1主面作為操作面而由操作者觸控該操作面，則於觸控位置之靜電電容發生變化。藉由配置於第1主面側或第2主面側中之至少任一側之靜電電容檢測用電極檢測該靜電電容之變化，從而檢測觸控位置。又，藉由配置於第1主面側及第2主面側之壓電電壓檢測用電極而獲得壓電電壓。由於壓電電壓依賴於壓入量，故而藉由獲得壓電電壓而可檢測壓入量。因此，可利用1片壓電膜及其兩面之電極而檢測觸控位置與壓入量，從而可薄型地構成觸控面板。
(2)又，本發明之觸控面板之壓電膜較佳為包含至少於一軸方向已進行延伸處理之聚乳酸。
根據該構成，由於進行了一軸延伸之聚乳酸之壓電常數較高且介電常數較低，因此若使用聚乳酸作為壓電膜之材料，則觸控所產生之壓入量之檢測感度變高，觸控所引起之靜電電容之變化之檢測感度亦變高。由此，儘管為僅1片壓電膜之構成，亦可較先前之使靜電電容檢測用之觸控面板與感壓感測器重合之構造更高精度地對觸控位置及壓入量之兩者進行檢測。進而，聚乳酸與丙烯酸樹脂同樣地，透光性較高，故而亦可實現高透光性之觸控面板。而且，聚乳酸無熱電性，故而於手指等觸摸觸控面板表面時，即便體溫傳導，亦不會對壓入量(按壓力)之檢測電壓造成影響。因此，使用聚乳酸作為壓電膜之材料之情形與使用PVDF(Polyvinylidene Fluoride，聚偏二氟乙烯)等具有熱電性之壓電膜之情形相比，無需賦予以不傳遞體溫之方式間接地傳遞按壓力之複雜之機構。
(3)又，本發明之觸控面板較佳為如下構成。靜電電容檢測用電極包括：複數個第1靜電電容檢測用子電極，該等包含沿著平行於第1主面及第2主面之第1方向延伸之形狀，且於平行於第1主面及第2主面且交叉於第1方向之第2方向上空開間隔而配置；及複數個第2靜電電容檢測用子電極，該等包含沿著第2方向延伸之形狀，且於第1方向上空開間隔而配置。壓電電壓檢測用電極包括：第1壓電電壓檢測用子電極，其形成於第1主面；及第2壓電電壓檢測用子電極，其形成於第2主面。第1靜電電容檢測用子電極與第1壓電電壓檢測用子電極形成於同一平面。
根據該構成，靜電電容檢測用電極包含於第1方向延伸之第1靜電電容檢測用子電極及於與第1方向交叉之第2方向延伸之第2靜電電容檢測用子電極，藉此可於二維座標上檢測觸控位置。而且，第1靜電電容檢測用子電極與第1壓電電壓檢測用子電極位於同一平面，故而可使觸控面板薄型。
(4)又，本發明之觸控面板之第1壓電電壓檢測用子電極形成於構成複數個第1靜電電容檢測用子電極之個別之第1靜電電容檢測用子電極之間。
根據該構成，可將第1靜電電容檢測用子電極與第1壓電電壓檢測用子電極有效率地配置於同一平面。
(5)又，本發明之觸控面板較佳為第1靜電電容檢測用子電極形成於第1主面，第2靜電電容檢測用子電極形成於第2主面。
根據該構成，夾於第1靜電電容檢測用子電極與第2靜電電容檢測用子電極之間之介電質為壓電膜，故而無需另設該介電質，從而使觸控面板之構造簡化。
於上述之較佳實施形態中，更佳為採用如下之構成。第2壓電電壓檢測用子電極形成於構成複數個第2靜電電容檢測用子電極之個別之第2靜電電容檢測用子電極之間，且第1壓電電壓檢測用子電極與第2壓電電壓檢測用子電極係以隔著壓電膜並遍及大致整個表面大致均一地分佈且對向之方式形成
根據該構成，可遍及第1主面與第2主面之大致整個表面 大致均一地檢測按壓力。而且，可取得與壓電電壓檢測用子電極之長度及寬度對應之對向面積。因此，即便作為各壓電電壓檢測用子電極之電荷檢測能力並不太高，亦可在某程度以上確保所有第1、第2壓電電壓檢測用子電極之於第1主面與第2主面之整體上之對向面積，故而可高效地檢測壓電效應所導致之電荷之產生。進而，於使用聚乳酸作為壓電膜之材料之情形時壓電常數較高，故而只要可在某程度上確保第1、第2壓電電壓檢測用子電極之對向面積，便可檢測對於壓入量之檢測而言充分之電荷量。
又，本發明之觸控面板亦可採用如下之構成。於複數個第1靜電電容檢測用子電極之表面與第1壓電電壓檢測用子電極之表面形成有保護層。隔著保護層而於複數個第1靜電電容檢測用子電極及第1壓電電壓檢測用子電極之相反側，形成有複數個第2靜電電容檢測用子電極。
根據該構成，第1靜電電容檢測用子電極與第2靜電電容檢測用子電極係隔著極薄之保護層而配置，故而可進而提昇靜電電容之變化之檢測感度。
又，本發明之觸控面板較佳為第1靜電電容檢測用子電極及第2靜電電容檢測用子電極包含寬幅部與窄幅部交替相連之形狀，且以第1靜電電容檢測用子電極之窄幅部與第2靜電電容檢測用子電極之窄幅部隔著壓電膜而對向之方式，形成有第1靜電電容檢測用子電極及第2靜電電容檢測用子電極。
根據該構成，第1靜電電容檢測用子電極與第2靜電電容 檢測用子電極之面積較大之寬幅部自正交於操作面(第1主面)之方向觀察並未重合，故而於操作者使手指等接觸操作面之情形時，易於發生靜電電容之變化，從而易於檢測觸控位置。即，可提昇對觸控位置之檢測感度。
又，本發明之觸控面板之壓電電壓檢測用電極亦可針對將壓電膜之平面分割成四等分之每個部分區域而個別地形成。
根據該構成，將壓電膜之平面(操作面)分割成4個區域，藉此即便固定壓電膜之操作面之4側邊，各區域亦與僅固定正交之2側邊之構造相同。從而，藉由獲得如此分割之各區域之檢測電壓，即便固定壓電膜之操作面之4側邊，亦可有效地檢測壓入量。
又，本發明之觸控面板之壓電電壓檢測用電極可針對每個部分區域而分開形成。
於該構成中，壓電電壓檢測用電極針對每個部分區域而形成，故而可針對每個部分區域而獲得與該部分區域對應之檢測電壓。
又，本發明之觸控面板亦可藉由如下構成而實現。壓電電壓檢測用電極包含第1主面之第1部分區域之電極與第2部分區域之電極為分開之形狀。壓電電壓檢測用電極包含第1主面之第3部分區域之電極與第4部分區域之電極為連續之形狀。壓電電壓檢測用電極包含第2主面之第1部分區域之電極與第3部分區域之電極為連續之形狀。壓電電壓檢測用電極包含第2主面之第2部分區域之電極與第4部分 區域之電極為連續之形狀。
於該構成中，實現了第1部分區域之壓電電壓檢測用電極、第3部分區域之壓電電壓檢測用電極、第4部分區域之壓電電壓檢測用電極、及第2部分區域之壓電電壓檢測用電極依序串聯連接之構造。藉此，無需另設用以對各部分區域之檢測電壓進行相加之佈線電極。因此，不僅可檢測各部分區域之壓入量，亦可小型地形成包含檢測電壓之加法電路之構成。
又，本發明之觸控面板較佳為如下之構成。以第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部與第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部不對向，且自與壓電膜之主面正交之方向觀察於兩寬幅部之間形成有特定寬度之間隙之方式，形成有第1靜電電容檢測用子電極及第2靜電電容檢測用子電極。以使第1壓電電壓檢測用子電極與第2壓電電壓檢測用子電極之對向部分收在間隙內之方式，形成有第1壓電電壓檢測用子電極及第2壓電電壓檢測用子電極。
根據該構成，不使靜電電容或壓電電壓之檢測性能下降即可有效地配置第1、第2靜電電容檢測用子電極、及第1、第2壓電電壓檢測用子電極。
又，本發明之觸控面板更佳為如下之構成。第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部與第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部形成為具有各自相對於第1方向及第2方向成大致45°之斜邊之大致正方形。第1壓電電壓檢測用子電極具備沿著第1靜電電容檢測用子電極之窄幅部於第1方向延伸之 直線部、及沿著第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部而相對於第1方向傾斜大致45°之傾斜部。第2壓電電壓檢測用子電極具備沿著第2靜電電容檢測用子電極之窄幅部於第2方向延伸之直線部、及沿著第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部而相對於第2方向傾斜大致45°之傾斜部。第1壓電電壓檢測用子電極之傾斜部與第2壓電電壓檢測用子電極之傾斜部夾著壓電膜而對向。
根據該構成，可進而有效地配置第1、第2靜電電容檢測用子電極、及第1、第2壓電電壓檢測用子電極。
根據本發明，可實現能夠檢測觸控位置與壓入量之薄型之觸控面板。
參照圖式對本發明之第1實施形態之觸控面板進行說明。圖1係本發明之第1實施形態之觸控面板1之主功能部10之平面圖。圖2係本發明之第1實施形態之觸控面板1之主功能部10之A-A'剖視圖、B-B'剖視圖、C-C'剖視圖、D-D'剖視圖。圖3係構成本發明之第1實施形態之觸控面板1的主功能部10之第1主面100ST之平面圖。圖4係構成本發明之第1實施形態之觸控面板1的主功能部10之第2主面100SB之平面圖。再者，圖3、圖4係自第1主面100ST側觀察第1主面100ST、第2主面100SB所見之圖。再者，圖1、圖2、圖3、圖4之電極圖案僅為一例，第1靜電電容檢測用子電極、第2靜電電容檢測用子電極、第1壓電電壓檢測用 子電極及第2壓電電壓檢測用子電極之配設個數並不限於此，其等個數係根據觸控面板之規格而適當地決定。
觸控面板1包括壓電膜100、保護層30、40、下述之由圖案形成之壓電電壓檢測用電極及靜電電容檢測用電極。
壓電膜100包含具有相互對向之第1主面100ST與第2主面100SB之矩形狀之平膜。壓電膜100係藉由進行了一軸延伸之L型聚乳酸(PLLA，Poly-L-lactic Acid)所形成。
PLLA為手性高分子，且其主鏈具有螺旋構造。PLLA係若進行一軸延伸而使分子配向，則具有壓電性。進行了一軸延伸之PLLA之壓電常數即便於各種高分子所具有之壓電常數之中亦屬於非常高之種類。
再者，延伸倍率較佳為3~8倍左右。於延伸後實施熱處理，藉此促進聚乳酸之極限延伸鏈結晶之結晶化，從而使壓電常數提高。再者，於雙軸延伸之情形時可藉由使各軸之延伸倍率不同而獲得與一軸延伸相同之效果。例如於將某一方向設為X軸而於該方向實施8倍延伸、於正交於該軸之Y軸方向實施2倍延伸之情形時，就壓電常數而言大體上可獲得與於X軸方向實施4倍一軸延伸之情形時同等之效果。由於單純地一軸延伸所得之膜易於沿著延伸軸方向斷裂，故而藉由進行如上所述之雙軸延伸可增加一些強度。
又，PLLA係以藉由延伸等而進行之分子之配向處理而產生壓電性，無需如PVDF等其他聚合物或壓電陶瓷般進行極化處理。即，不屬於強介電質之PLLA之壓電性並非如PVDF或PZT(Lead-Zirconate-Titanate，鋯鈦酸鉛)等強介 電質般係藉由離子之分極發現，而是源於分子之特徵性之構造即螺旋構造。因此，對於PLLA而言，不會產生其他強介電性之壓電體上所會產生之熱電性。進而，PVDF等會隨著時間之推移而出現壓電常數之變動，視情況而定有時存在壓電常數顯著下降之情形，但PLLA之壓電常數則會隨著時間之推移而變得極其穩定。
又，PLLA之比介電常數大致為2.5而非常低，故而若將d設為壓電常數、將εT設為介電常數，則壓電輸出常數(=壓電g常數，g=d/εT)成為較大之值。
此處，根據上式，介電常數ε33 T=13×ε0、壓電常數d31=25 pC/N之PVDF之壓電g常數為g31=0.2172 Vm/N。另一方面，若將壓電常數d14=10 pC/N之PLLA之壓電g常數換算成g31而求解，則d14=2×d31，故而d31=5 pC/N，壓電g常數為g31=0.2258 Vm/N。從而，利用壓電常數為d14=10 pC/N之PLLA，可充分地獲得與PVDF相同之壓入量之檢測感度。而且，本申請發明之發明者實驗上獲得d14=15~20 pC/N之PLLA，藉由使用該PLLA，可進而非常高感度地檢測壓入量。
進而，PLLA如上所述，與可獲得高壓電常數之通常之強介電質不同，介電常數較低。從而，形成於第1主面100ST上之電極與形成於第2主面100SB上之電極間之電場封閉效應較低。因此，若手指等介電質自外部接近、接觸PLLA，則靜電電容易於發生變化。即，對靜電電容之變化之檢測感度較高。
於包含具有此種特性之PLLA之壓電膜100之第1主面100ST上，藉由如圖1、圖3所示之圖案而形成有構成靜電電容檢測用電極之複數個第1靜電電容檢測用子電極11A~11F、及構成壓電電壓檢測用電極之複數個第1壓電電壓檢測用子電極13A~13L。該等複數個第1靜電電容檢測用子電極11A~11F、及複數個第1壓電電壓檢測用子電極13A~13L較佳為使用以ITO(Indium Tin Oxide，氧化銦錫)、ZnO(Zinc Oxide，氧化鋅)、聚噻吩為主要成分之有機電極、以聚苯胺為主要成分之有機電極、使用有銀奈米線(Silver Nanowires)之電極、使用有奈米碳管(Carbon Nanotube)之電極中之任一者。藉由使用該等材料，可形成高透光性之電極圖案。該等材料係藉由蒸鍍、濺鍍、或鍍敷等而形成。再者，於無需透明性之情形時亦可使用藉由蒸鍍、濺鍍、或鍍敷等而形成之上述材料以外之金屬系之電極或者藉由銀漿而形成之電極。
複數個第1靜電電容檢測用子電極11A~11F包含彼此相同之形狀。具體而言，例如，第1靜電電容檢測用子電極11A包括複數個寬幅部111、複數個窄幅部112、及一對端部用之寬幅部113。各寬幅部111包含正方形。寬幅部111並不一定必需為正方形，亦可為菱形、平行四邊形等，可設定成探測IC(Integrated Circuit，集成電路)所需要之任意形狀。窄幅部112包含相對於寬度而言長度較長之矩形狀。端部用之寬幅部113包含大致等腰三角形。複數個寬幅部111與複數個窄幅部112以沿著第1靜電電容檢測用子電極 11A之延伸方向交替排列之方式連接。此時，各寬幅部111以正方形之對角線與相對於窄幅部112之連接方向平行之方式，連接於窄幅部112。進而，各寬幅部111以形成該對角線之一對頂角，連接於窄幅部112。
於第1靜電電容檢測用子電極11A之延伸方向之兩端，包含端部用之寬幅部113。包含複數個寬幅部111及複數個窄幅部112之連續之電極圖案之兩端藉由窄幅部112而向端部用之寬幅部113連接。此時，端部用之寬幅部113以等腰三角形之頂角連接於窄幅部112。
複數個第1靜電電容檢測用子電極11A~11F係以沿著壓電膜100之第1主面100ST之第1方向延伸之方式形成。複數個第1靜電電容檢測用子電極11A~11F係沿著第1主面100ST之與上述第1方向正交之第2方向，空開特定間隔而形成。此時，複數個第1靜電電容檢測用子電極11A~11F係以各寬幅部111成為沿著第1方向之相同位置之方式，換而言之係以寬幅部111分別沿著第2方向排列之方式形成。
此處，第1方向與第2方向設定為相對於壓電膜100之一軸延伸方向900而成大致45°角度之方向。大致45°係指包含例如45°±10°左右在內之角度。該等角度係應該基於移位感測器之用途，並根據彎曲之探測精度等整體之設計而適當地決定之設計事項。
複數個第1壓電電壓檢測用子電極13A~13L係以依循第1靜電電容檢測用子電極11A~11F之外形形狀之形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11A~11F分開而形成。
具體而言，第1壓電電壓檢測用子電極13A係依循第1靜電電容檢測用子電極11A之第1靜電電容檢測用子電極11B相反側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11A分開而形成。
第1壓電電壓檢測用子電極13B係依循第1靜電電容檢測用子電極11A之第1靜電電容檢測用子電極11B側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11A分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極13C係依循第1靜電電容檢測用子電極11B之第1靜電電容檢測用子電極11A側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11B分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極13B、13C於第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部111及端部之寬幅部113之角部附近相互連接。
第1壓電電壓檢測用子電極13D係依循第1靜電電容檢測用子電極11B之第1靜電電容檢測用子電極11C側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11B分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極13E係依循第1靜電電容檢測用子電極11C之第1靜電電容檢測用子電極11B側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11C分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極13D、13E於第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部111及端部之寬幅部113之角部附近相互連接。
第1壓電電壓檢測用子電極13F係依循第1靜電電容檢測用子電極11C之第1靜電電容檢測用子電極11D側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11C分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極13G係依循第1靜電電容檢測用子電 極11D之第1靜電電容檢測用子電極11C側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11D分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極13F、13G於第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部111及端部之寬幅部113之角部附近相互連接。
第1壓電電壓檢測用子電極13H係依循第1靜電電容檢測用子電極11D之第1靜電電容檢測用子電極11E側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11D分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極13I係依循第1靜電電容檢測用子電極11E之第1靜電電容檢測用子電極11D側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11E分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極13H、13I於第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部111及端部之寬幅部113之角部附近相互連接。
第1壓電電壓檢測用子電極13J係依循第1靜電電容檢測用子電極11E之第1靜電電容檢測用子電極11F側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11E分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極13K係依循第1靜電電容檢測用子電極11F之第1靜電電容檢測用子電極11E側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11F分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極13J、13K於第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部111及端部之寬幅部113之角部附近相互連接。
第1壓電電壓檢測用子電極13L係依循第1靜電電容檢測用子電極11F之第1靜電電容檢測用子電極11E相反側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11F分開而形成。
第1壓電電壓檢測用子電極13A~13K係藉由佈線電極14 而集中，並向外部電路連接。第1靜電電容檢測用子電極11A~11F分別個別地連接於佈線電極12A~12F，並經由該佈線電極12A~12F向外部電路連接。該等佈線電極12A~12F、14形成於較第1靜電電容檢測用子電極11A~11F與第1壓電電壓檢測用子電極13A~13K之形成區域更外側。進而，佈線電極12A~12F形成於第1方向之一端，佈線電極14形成於第1方向之另一端。
又，於壓電膜100之第2主面100SB上，藉由如圖1、圖4所示之圖案而形成有構成靜電電容檢測用電極之複數個第2靜電電容檢測用子電極21A、21B、21C、21D、21E、21F、及構成壓電電壓檢測用電極之複數個第2壓電電壓檢測用子電極23A、23B、23C、23D、23E、23F、23G、23H、23I、23J、23K、23L。該等複數個第2靜電電容檢測用子電極21A~21F與第2壓電電壓檢測用子電極23A~23L亦較佳為使用以ITO、ZnO、聚噻吩為主要成分之有機電極、以聚苯胺為主要成分之有機電極、使用銀奈米線之電極、使用奈米碳管之電極中之任一者。藉由使用該等材料，可形成高透光性之電極圖案。再者，於無需透明性之情形時亦可使用藉由銀漿而形成之電極、或者藉由蒸鍍、濺鍍、或鍍敷等而形成之金屬系之電極。
複數個第2靜電電容檢測用子電極21A~21F由相同之形狀構成。具體而言，例如，第2靜電電容檢測用子電極21A具備複數個寬幅部211、複數個窄幅部212、及一對端部用之寬幅部213。各寬幅部211由正方形構成。寬幅部211並 不一定必需為正方形，亦可為菱形、平行四邊形等，可設定成探測IC所需要之任意形狀。窄幅部212由相對於寬度其長度較長之矩形狀構成。端部用之寬幅部213由大致等腰三角形構成。複數個寬幅部211與複數個窄幅部212以沿著第2靜電電容檢測用子電極21A之延伸方向交替排列之方式連接。此時，各寬幅部211以正方形之對角線與對窄幅部212之連接方向平行之方式，連接於窄幅部212。進而，各寬幅部211以其形成該對角線之一對頂角連接於窄幅部212。
於第2靜電電容檢測用子電極21A之延伸方向之兩端包含端部用之寬幅部213。包含複數個寬幅部211及複數個窄幅部212之連續之電極圖案之兩端藉由窄幅部212而向端部用之寬幅部213連接。此時，端部用之寬幅部213於等腰三角形之頂角連接於窄幅部212。
複數個第2靜電電容檢測用子電極21A~21F係以沿著壓電膜100之第2主面100SB之第2方向延伸之方式形成。複數個第2靜電電容檢測用子電極21A~21F係沿著第2主面100SB之與上述第2方向正交之第1方向，空開特定間隔而形成。此時，複數個第2靜電電容檢測用子電極21A~21F係以各寬幅部211成為沿著第2方向之相同位置之方式，換而言之係以寬幅部211分別沿著第1方向排列之方式形成。
又，複數個第2靜電電容檢測用子電極21A~21F係以各寬幅部211並不隔著壓電膜100而與第1靜電電容檢測用子電極11A~11F之寬幅部111對向之方式形成。換而言之，自 第1主面100ST側觀察，係以構成複數個第2靜電電容檢測用子電極21A~21F之各寬幅部211不重合於構成第1靜電電容檢測用子電極11A~11F之各寬幅部111上之方式，形成有第2靜電電容檢測用子電極21A~21F。進而若使用其他表述方式，則為複數個第1靜電電容檢測用子電極11A~11F及複數個第2靜電電容檢測用子電極21A~21F僅於窄幅部112、212之部分隔著壓電膜100而對向。
進而，以自第1主面100ST側觀察，於構成複數個第2靜電電容檢測用子電極21A~21F之各寬幅部211與構成第1靜電電容檢測用子電極11A~11F之各寬幅部111之間形成有特定寬度之間隙之方式，形成有第1靜電電容檢測用子電極11A~11F及第2靜電電容檢測用子電極21A~21F。而且，該間隙之寬度係以自第1主面100ST側觀察形成於上述第1主面100ST上之第1壓電電壓檢測用子電極13A~13K收納於間隙內之方式設定。
複數個第2壓電電壓檢測用子電極23A~23L係以依循第2靜電電容檢測用子電極21A~21F之外徑形狀之形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21A~21F分開而形成。
具體而言，第2壓電電壓檢測用子電極23A係依循第2靜電電容檢測用子電極21A之第2靜電電容檢測用子電極21B相反側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21A分開而形成。
第2壓電電壓檢測用子電極23B係依循第2靜電電容檢測用子電極21A之第2靜電電容檢測用子電極21B側之外徑形 狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21A分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極23C係依循第2靜電電容檢測用子電極21B之第2靜電電容檢測用子電極21A側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21B分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極23B、23C於第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部211及端部之寬幅部213之角部附近相互連接。
第2壓電電壓檢測用子電極23D係依循第2靜電電容檢測用子電極21B之第2靜電電容檢測用子電極21C側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21B分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極23E係依循第2靜電電容檢測用子電極21C之第2靜電電容檢測用子電極21B側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21C分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極23D、23E於第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部211及端部之寬幅部213之角部附近相互連接。
第2壓電電壓檢測用子電極23F係依循第2靜電電容檢測用子電極21C之第2靜電電容檢測用子電極21D側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21C分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極23G係依循第2靜電電容檢測用子電極21D之第2靜電電容檢測用子電極21C側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21D分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極23F、23G於第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部211及端部之寬幅部213之角部附近相互連接。
第2壓電電壓檢測用子電極23H係依循第2靜電電容檢測用子電極21D之第2靜電電容檢測用子電極21E側之外徑形 狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21D分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極23I係依循第2靜電電容檢測用子電極21E之第2靜電電容檢測用子電極21D側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21E分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極23H、23I於第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部211及端部之寬幅部213之角部附近相互連接。
第2壓電電壓檢測用子電極23J係依循第2靜電電容檢測用子電極21E之第2靜電電容檢測用子電極21F側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21E分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極23K係依循第2靜電電容檢測用子電極21F之第2靜電電容檢測用子電極21E側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21F分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極23J、23K於第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部211及端部之寬幅部213之角部附近相互連接。
第2壓電電壓檢測用子電極23L係依循第2靜電電容檢測用子電極21F之第2靜電電容檢測用子電極21E相反側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21F分開而形成。
而且，形成於第2主面100SB上之第2壓電電壓檢測用子電極23A~23L與形成於第1主面100ST上之第1壓電電壓檢測用子電極13A~13K係以於寬幅部211、213與寬幅部111、113之間所產生之自第1主面100ST側可見之間隙內遍及大致全長地隔著壓電膜100而相對向之方式形成。
例如，如圖1所示，第2壓電電壓檢測用子電極23A於第2靜電電容檢測用子電極21A之端部用之寬幅部213與第1靜 電電容檢測用子電極11A之端部用之寬幅部113之間，對向於第1壓電電壓檢測用子電極13A。又，第2壓電電壓檢測用子電極23A於第2靜電電容檢測用子電極21A之寬幅部211與第1靜電電容檢測用子電極11A、11B之端部用之寬幅部113之間，分別對向於第1壓電電壓檢測用子電極13B、13C。
再者，如圖1所示，第2壓電電壓檢測用子電極23A之其他部位亦同樣地，對向於第1壓電電壓檢測用子電極13D~13L，其他第2壓電電壓檢測用子電極23B~23L亦分別對向於第1壓電電壓檢測用子電極13A~13L。
第2壓電電壓檢測用子電極23A~23K係藉由佈線電極24而集中，並向外部電路連接。第2靜電電容檢測用子電極21A~21F分別個別地連接於佈線電極22A~22F，並經由該佈線電極22A~22F向外部電路連接。該等佈線電極22A~22F、24形成於第2靜電電容檢測用子電極21A~21F與第2壓電電壓檢測用子電極23A~23K之形成區域之外側。進而，佈線電極22A~22F形成於第2方向之一端，佈線電極24形成於第2方向之另一端。
藉由以此方式形成有第1靜電電容檢測用子電極11A~11F、第1壓電電壓檢測用子電極13A~13L、第2靜電電容檢測用子電極21A~21F及第2壓電電壓檢測用子電極23A~23L之壓電膜100，而構成觸控面板1之主功能部10。
於主功能部10之壓電膜100之第1主面100ST側，以覆蓋第1靜電電容檢測用子電極11A~11F及第1壓電電壓檢測用 子電極13A~13L之電極圖案形成區域之整個表面之方式配設有保護層30。保護層30係由具有絕緣性且具有透光性之材料所形成。再者，於無需透光性之情形時，只要具有絕緣性便不特別限定材料。
於主功能部10之壓電膜100之第2主面100SB側，以覆蓋第2靜電電容檢測用子電極21A~21F及第2壓電電壓檢測用子電極23A~23L之電極圖案形成區域之整個表面之方式配設有保護層40。保護層40亦與保護層30同樣地，係由具有絕緣性且具有透光性之材料所形成。再者，於無需透光性之情形時，只要具有絕緣性便不特別限定材料。
又，保護層30、40可使用聚對苯二甲酸乙二酯PET(Polyethylene Terephthalate)、聚萘二甲酸乙二酯PEN(Polyethylene Naphthalate)、聚丙烯PP(Polypropylene)等，且只要係以不阻礙壓電膜100之彎曲之形狀(厚度等)形成即可。
包含如上所述之構造之觸控面板1以如下所示之方式，檢測觸控位置及壓入量。
靜電電容檢測用之佈線電極12A~12F、22A~22F連接於靜電電容檢測電路。壓電電壓檢測用之佈線電極14、24連接於壓電電壓檢測電路。
首先，觸控位置係利用如下之原理而檢測。再者，於本實施形態之構成中，使用有所謂之投影型且以互電容方式進行之觸控位置之檢測概念，但省略詳細之檢測概念之說明。因此，以下概略地對觸控位置之檢測概念進行說明。
於第1靜電電容檢測用子電極11A~11F與第2靜電電容檢測用子電極21A~21F之間，經由佈線電極12A~12F、佈線電極22A~22F施加驅動信號。
於此種狀態下，若操作者用手指觸控保護層30之特定位置，則於指側感應該觸控位置之電場之一部分。由此，於觸控位置處，相對於未用手指進行觸控時，靜電電容發生變化。因此，可藉由以靜電電容檢測電路檢測此種靜電電容之變化，而檢測用手指進行之觸控。
此處，由於如上所述，第1靜電電容檢測用子電極11A~11F係以於第1方向延伸之形狀沿著第2方向特定間隔地配設，第2靜電電容檢測用子電極21A~21F係以於第2方向延伸之形狀沿著第1方向以特定間隔配設，因此第1靜電電容檢測用子電極11A~11F與第2靜電電容檢測用子電極21A~21F隔著壓電膜100而對向之位置、換而言之產生電場且流過檢測用電流之位置可自構成該對向位置之第1靜電電容檢測用子電極與第2靜電電容檢測用子電極之組合中於二維座標上檢測。例如，於操作者觸控第1靜電電容檢測用子電極11C與第2靜電電容檢測用子電極21D之對向位置附近之情形時，於該對向位置附近，電場發生變化，自第1靜電電容檢測用子電極11C經由第2靜電電容檢測用子電極21D而流過之電流發生變化。此時，於其他對向部位電場並未發生變化，故而電流亦未發生變化。藉由使用此種原理，可檢測觸控位置。
進而，沿著正交於操作面即第1主面100ST之方向觀察， 本實施形態之第1靜電電容檢測用子電極11A~11F及第2靜電電容檢測用子電極21A~21F係以於窄幅部112、212對向而於寬幅部111、112不相重合之方式配設，因此對於第1靜電電容檢測用子電極11A~11F及第2靜電電容檢測用子電極21A~21F兩者而言，易於發生由於手指之觸控而導致之電場變化。藉此，可提昇觸控之檢測感度。
又，進而，於本實施形態中，壓電膜100為PLLA，故而形成靜電電容之介電常數較低，易於受到來自外部之影響。因此，更易發生由於手指之觸控而導致之電場變化，從而可進而提昇觸控之檢測感度。
其次，對壓入量之檢測概念進行說明。圖5係用以說明本發明之第1實施形態之主功能部10之壓入量檢測功能之圖。圖5(A)表示不涉及壓入力之狀態，圖5(B)表示涉及手指所施予之壓入力之狀態。圖6(A)係表示壓入量與檢測電壓之關聯之曲線圖，圖6(B)係本發明之第1實施形態之主功能部10的壓入量之檢測電壓之波形圖。
如圖5(A)所示，以彼此之平面密接之方式將觸控面板1之主功能部10安裝於平板狀之彈性體50之一主面。彈性體50係由玻璃、丙烯酸、聚碳酸酯等所形成。彈性體50並不限於此處所記載之材料，只要根據使用條件選擇適當之材料即可。又，對於觸控面板1之貼合主功能部10之面亦只要根據使用條件而選擇適當之面即可。藉由支撐體501支撐彈性體50之對向之兩端。即，若為觸控面板1，則固定觸控面板1之第1方向之兩端。於該狀態下，彈性體50並未 彎曲，未對壓電膜100施予應力，故而不會產生電荷。
如圖5(B)所示，若用手指510按壓彈性體50之表面，則有如粗箭頭520所示之按壓力施加於彈性體50。於該情形時，彈性體50以向主功能部10之配設面側鼓起之方式彎曲。由此，主功能部10之壓電膜100大致沿著第1方向延伸，而產生如粗箭頭530所示之拉伸應力。藉由該應力，壓電膜100分極為第1主面100ST與第2主面100SB。
此處，由於如上所述，於第1主面100ST形成有第1壓電電壓檢測用子電極13A~13L，於第2主面100SB形成有第2壓電電壓檢測用子電極23A~23L，因此於第1壓電電壓檢測用子電極13A~13L與第2壓電電壓檢測用子電極23A~23L之間產生電位差。因此，可藉由檢測該電位差即壓電電壓，而檢測手指所施予之按壓換而言之手指之觸控所導致之壓入。
進而，於PLLA中，如圖6(A)所示，與壓入量相應地膜受到拉伸，藉此檢測電壓(壓電電壓)線性地發生變化。從而，亦可藉由利用壓電電壓檢測電路測量檢測電壓值而檢測壓入量。即，可正確地檢測操作者是輕輕觸控還是用力按壓操作面。再者，壓電膜100之檢測電壓通常係於應力產生之瞬間產生，不僅會由於壓電效應而導致電荷之洩漏，並且亦會使檢測電壓值急遽地下降。然而，若使用具有較大之輸入阻抗之檢測電路或使用積分電路作為壓入量之檢測電路，則如圖6(B)所示，可維持檢測電壓值特定時間。藉此，可更加確實地測量檢測電壓值，從而檢測壓入 量。藉由以軟體積分信號來取代上述之具有較大輸入阻抗之檢測電路或積分電路亦可獲得相同之效果。
如上所述，若使用本實施形態之構成，則僅藉由於1片壓電膜100之對向之兩面形成靜電電容檢測用電極及壓電電壓檢測用電極，便可同時檢測觸控位置與壓入量(按壓力)。進而，可實現高透光性之觸控面板。
進而，藉由使用PLLA作為壓電膜100之材料，可免受熱電性之影響。從而，於檢測時，可不依賴於檢測位置之溫度地獲得僅與壓入量相應之檢測電壓。即，可更加正確地檢測壓入量。又，由於PLLA為聚合物，且具有柔軟性，故而不會如壓電陶瓷般因較大之移位而破損。從而，即便移位量較大，亦可確實地檢測該移位量。
再者，於上述說明中，僅記載有配設保護層30、40之情況，但亦可使主功能部10之第1主面100ST側抵接於如上所述彈性率較高之丙烯酸板等彈性體50，於第2主面100SB側僅配設保護層40。
又，亦可配設保護層30、40，且使保護層40之主功能部10相反側之面具有黏著性。進而，藉由使該黏著性為弱黏著性，可實現能夠根據使用場合而裝上或取下之觸控面板。
另外，上述構成之觸控面板1可以如下所示之製造步驟製造。圖7係用以說明觸控面板1之第1製造方法之圖。圖8係用以說明觸控面板1之第2製造方法之圖。再者，於圖7、圖8中，對於詳細之電極圖案並未圖示，而僅簡略地標 示。
圖6所示之第1製造方法中，於壓電膜100之第1主面100ST形成第1靜電電容檢測用子電極11A~11F、第1壓電電壓檢測用子電極13A~13L、及佈線電極12A~12F、14。其次，於壓電膜100之第2主面100SB形成第2靜電電容檢測用子電極21A~21F、第2壓電電壓檢測用子電極23A~23L、及佈線電極22A~22F、24。再者，第1主面100ST、第2主面100SB之電極形成順序亦可相反。藉此，先構成主功能部10。
其次，於主功能部10之壓電膜100之第1主面100ST側配設保護層30。然後，於主功能部10之壓電膜100之第2主面100SB側配設保護層40。藉此，形成觸控面板1。
圖8所示之第2製造方法中，於保護層30之一主面形成第1靜電電容檢測用子電極11A~11F、第1壓電電壓檢測用子電極13A~13L、及佈線電極12A~12F、14。其次，於保護層40之一主面形成第2靜電電容檢測用子電極21A~21F、第2壓電電壓檢測用子電極23A~23L、及佈線電極22A~22F、24。
其次，將形成有電極圖案之保護層30以電極圖案面成為壓電膜100側之方式向壓電膜100之第1主面100ST上接著。又，將形成有電極圖案之保護層40以電極圖案面成為壓電膜100側之方式向壓電膜100之第2主面100SB上接著。藉此，形成觸控面板1。
於使用此種圖8之製法之情形時，與圖7之製法比較而 言，能以簡單之步驟形成觸控面板。其原因在於：由於PLLA之表面為鈍性，所以於電形成極圖案之情形時，必需使電極之密接性提昇之處理。另一方面，若由PET或PEN形成保護層30、40，則容易形成電極。從而，使用圖7之製法可容易地製造觸控面板1。進而，於對PLLA之表面進行某些處理之情形時，存在PLLA之透光率下降之可能性，故而若為重視透光性之使用用途，則最好使用圖8之製法。
其次，參照圖式對本發明之第2實施形態之觸控面板進行說明。圖9係構成本發明之第2實施形態之觸控面板1A的主功能部10A之第1主面100ST之平面圖。圖10係構成本發明之第2實施形態之觸控面板1A的主功能部10A之第2主面100SB之平面圖。再者，本實施形態之觸控面板1A相對於第1實施形態所示之觸控面板1，僅固定構造、壓電膜100之一軸延伸方向、及壓電電壓檢測用子電極之形狀不同，其他構成均相同。從而，以下，僅對與第1實施形態所示之觸控面板1不同之處具體地進行說明。
本實施形態之觸控面板1A包含固定有壓電膜100之4側邊之構造。此時，壓電膜100係以一軸延伸方向900正交於一對固定邊且平行於另一對固定邊之方式形成。
如圖9所示，於壓電膜100之第1主面100ST形成有第1靜電電容檢測用子電極11A~11F。第1靜電電容檢測用子電極11A~11F為與第1實施形態相同之構造，但係以第1靜電電容檢測用子電極11A~11F之延伸方向相對於一軸延伸方向 900(第1方向)平行之方式形成。
第1壓電電壓檢測用子電極131A、132A係依循第1靜電電容檢測用子電極11A之第1靜電電容檢測用子電極11B相反側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11A分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極131A、132A於沿著第1方向之中間點分離，自分離點150沿著第1方向之一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極131A，自分離點150沿著第1方向之另一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極132A。
第1壓電電壓檢測用子電極131B、132B係依循第1靜電電容檢測用子電極11A之第1靜電電容檢測用子電極11B側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11A分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極131B、132B於沿著第1方向之中間點分離，自分離點150沿著第1方向之一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極131B，自分離點150沿著第1方向之另一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極132B。
第1壓電電壓檢測用子電極131C、132C係依循第1靜電電容檢測用子電極11B之第1靜電電容檢測用子電極11A側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11B分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極131C、132C於沿著第1方向之中間點分離，自分離點150沿著第1方向之一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極131C，自分離點150沿著第1方向之另一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極132C。
第1壓電電壓檢測用子電極131B、131C於第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部111及端部之寬幅部113之角部附近 相互連接。第1壓電電壓檢測用子電極132B、132C於第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部111及端部之寬幅部113之角部附近相互連接。
第1壓電電壓檢測用子電極131D、132D係依循第1靜電電容檢測用子電極11B之第1靜電電容檢測用子電極11C側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11B分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極131D、132D於沿著第1方向之中間點分離，自分離點150沿著第1方向之一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極131D，自分離點150沿著第1方向之另一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極132D。
第1壓電電壓檢測用子電極131E、132E係依循第1靜電電容檢測用子電極11C之第1靜電電容檢測用子電極11B側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11C分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極131E、132E於沿著第1方向之中間點分離，自分離點150沿著第1方向之一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極131E，自分離點150沿著第1方向之另一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極132E。
第1壓電電壓檢測用子電極131D、131E於第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部111及端部之寬幅部113之角部附近相互連接。第1壓電電壓檢測用子電極132D、132E於第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部111及端部之寬幅部113之角部附近相互連接。
第1壓電電壓檢測用子電極131A、131B、131C、131D、131E係藉由佈線電極141而集中，並自壓電膜100之第1方 向之一端部側向外部電路連接。第1壓電電壓檢測用子電極132A、132B、132C、132D、132E係藉由佈線電極142而集中，並自壓電膜100之第1方向之另一端部側向外部電路連接。
於成為第1主面100ST之沿著第2方向之中央區域之第1靜電電容檢測用子電極11C與第1靜電電容檢測用子電極11D之間，未形成有壓電電壓檢測用子電極。
第1壓電電壓檢測用子電極131H、132H係依循第1靜電電容檢測用子電極11D之第1靜電電容檢測用子電極11E側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11D分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極131H、132H於沿著第1方向之中間點分離，自分離點150沿著第1方向之一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極131H，自分離點150沿著第1方向之另一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極132H。
第1壓電電壓檢測用子電極131I、132I係依循第1靜電電容檢測用子電極11E之第1靜電電容檢測用子電極11D側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11E分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極131I、132I於沿著第1方向之中間點分離，自分離點150沿著第1方向之一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極131I，自分離點150沿著第1方向之另一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極132I。
第1壓電電壓檢測用子電極131H、131I於第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部111及端部之寬幅部113之角部附近相互連接。第1壓電電壓檢測用子電極132H、132I於第1靜電 電容檢測用子電極之寬幅部111及端部之寬幅部113之角部附近相互連接。
第1壓電電壓檢測用子電極131J、132J係依循第1靜電電容檢測用子電極11E之第1靜電電容檢測用子電極11F側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11E分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極131J、132J於沿著第1方向之中間點分離，自分離點150沿著第1方向之一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極131J，自分離點150沿著第1方向之另一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極132J。
第1壓電電壓檢測用子電極131K、132K係依循第1靜電電容檢測用子電極11F之第1靜電電容檢測用子電極11E側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11F分開而形成。第1壓電電壓檢測用子電極131K、132K於沿著第1方向之中間點分離，自分離點150沿著第1方向之一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極131K，自分離點150沿著第1方向之另一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極132K。
第1壓電電壓檢測用子電極131J、131K於第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部111及端部之寬幅部113之角部附近相互連接。第1壓電電壓檢測用子電極132J、132K於第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部111及端部之寬幅部113之角部附近相互連接。
第1壓電電壓檢測用子電極131L、132L係依循第1靜電電容檢測用子電極11F之第1靜電電容檢測用子電極11E相反側之外徑形狀，自該第1靜電電容檢測用子電極11F分開而 形成。第1壓電電壓檢測用子電極131L、132L於沿著第1方向之中間點分離，自分離點150沿著第1方向之一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極131L，自分離點150沿著第1方向之另一端側成為第1壓電電壓檢測用子電極132L。
第1壓電電壓檢測用子電極131H、131I、131J、131K、131L係藉由佈線電極143而集中，並自壓電膜100之第1方向之一端部側向外部電路連接。第1壓電電壓檢測用子電極132H、132I、132J、132K、132L係藉由佈線電極144而集中，並自壓電膜100之第1方向之另一端部側向外部電路連接。
如圖10所示，於壓電膜100之第2主面100SB形成有第2靜電電容檢測用子電極21A~21F。第2靜電電容檢測用子電極21A~21F為與第1實施形態相同之構造，但係以第2靜電電容檢測用子電極21A~21F之延伸方向相對於一軸延伸方向900正交之方式形成。
第2壓電電壓檢測用子電極231A、232A係依循與第2靜電電容檢測用子電極21A之第2靜電電容檢測用子電極21B相反側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21A分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極231A、232A於沿著第2方向之中間點分離，從分離點150沿著第2方向之一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極231A，從分離點150沿著第2方向之另一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極232A。
第2壓電電壓檢測用子電極231B、232B係依循第2靜電電容檢測用子電極21A之第2靜電電容檢測用子電極21B側 之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21A分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極231B、232B於沿著第2方向之中間點分離，從分離點150沿著第2方向之一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極231B，從分離點150沿著第2方向之另一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極232B。
第2壓電電壓檢測用子電極231C、232C係依循第2靜電電容檢測用子電極21B之第2靜電電容檢測用子電極21A側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21B分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極231C、232C於沿著第2方向之中間點分離，自分離點150沿著第2方向之一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極231C，自分離點150沿著第2方向之另一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極232C。
第2壓電電壓檢測用子電極231B、231C於第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部211及端部之寬幅部213之角部附近相互連接。第2壓電電壓檢測用子電極232B、232C於第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部211及端部之寬幅部213之角部附近相互連接。
第2壓電電壓檢測用子電極231D、232D係依循第2靜電電容檢測用子電極21B之第2靜電電容檢測用子電極21C側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21B分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極231D、232D於沿著第2方向之中間點分離，自分離點150沿著第2方向之一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極231D，自分離點150沿著第2方向之另一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極232D。
第2壓電電壓檢測用子電極231E、232E係依循第2靜電電容檢測用子電極21C之第2靜電電容檢測用子電極21B側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21C分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極231E、232E於沿著第2方向之中間點分離，自分離點150沿著第2方向之一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極231E，自分離點150沿著第2方向之另一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極232E。
第2壓電電壓檢測用子電極231D、231E於第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部211及端部之寬幅部213之角部附近相互連接。第2壓電電壓檢測用子電極232D、232E於第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部211及端部之寬幅部213之角部附近相互連接。
第2壓電電壓檢測用子電極231A、231B、231C、231D、231E係藉由佈線電極241而集中，並自壓電膜100之第2方向之一端部側向外部電路連接。第2壓電電壓檢測用子電極232A、232B、232C、232D、232E係藉由佈線電極242而集中，並自壓電膜100之第2方向之另一端部側向外部電路連接。
於成為第2主面100SB之沿著第1方向之中央區域之第2靜電電容檢測用子電極21C與第2靜電電容檢測用子電極21D之間，未形成有壓電電壓檢測用子電極。
第2壓電電壓檢測用子電極231H、232H係依循第2靜電電容檢測用子電極21D之第2靜電電容檢測用子電極21E側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21D分開而形 成。第2壓電電壓檢測用子電極231H、232H於沿著第2方向之中間點分離，自分離點150沿著第2方向之一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極231H，自分離點150沿著第2方向之另一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極232H。
第2壓電電壓檢測用子電極231I、232I係依循第2靜電電容檢測用子電極21E之第2靜電電容檢測用子電極21D側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21E分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極231I、232I於沿著第2方向之中間點分離，自分離點150沿著第2方向之一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極231I，自分離點150沿著第2方向之另一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極232I。
第2壓電電壓檢測用子電極231H、231I於第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部211及端部之寬幅部213之角部附近相互連接。第2壓電電壓檢測用子電極232H、232I於第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部211及端部之寬幅部213之角部附近相互連接。
第2壓電電壓檢測用子電極231J、232J係依循第2靜電電容檢測用子電極21E之第2靜電電容檢測用子電極21F側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21E分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極231J、232J於沿著第2方向之中間點分離，自分離點150沿著第2方向之一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極231J，自分離點150沿著第2方向之另一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極232J。
第2壓電電壓檢測用子電極231K、232K係依循第2靜電 電容檢測用子電極21F之第2靜電電容檢測用子電極21E側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21F分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極231K、232K於沿著第2方向之中間點分離，自分離點150沿著第2方向之一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極231K，自分離點150沿著第2方向之另一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極232K。
第2壓電電壓檢測用子電極231J、231K於第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部211及端部之寬幅部213之角部附近相互連接。第2壓電電壓檢測用子電極232J、232K於第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部211及端部之寬幅部213之角部附近相互連接。
第2壓電電壓檢測用子電極231L、232L係依循第2靜電電容檢測用子電極21F之第2靜電電容檢測用子電極21E相反側之外徑形狀，自該第2靜電電容檢測用子電極21F分開而形成。第2壓電電壓檢測用子電極231L、232L於沿著第2方向之中間點分離，自分離點150沿著第1方向之一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極231L，自分離點150沿著第1方向之另一端側成為第2壓電電壓檢測用子電極232L。
第2壓電電壓檢測用子電極231H、231I、231J、231K、231L係藉由佈線電極243而集中，並自壓電膜100之第2方向之一端部側向外部電路連接。第2壓電電壓檢測用子電極232H、232I、232J、232K、232L係藉由佈線電極244而集中，並自壓電膜100之第2方向之另一端部側向外部電路連接。
藉由設定為此種構成，可於自正交於第1主面100ST之方向觀察由於壓電膜100之中央正交之2條分割線分割而成之4個部分區域Ar1、Ar2、Ar3、Ar4中個別地檢測壓電膜100上所產生之壓電電壓。
第1部分區域Ar1之壓電電壓係藉由第1主面100ST之第1壓電電壓檢測用子電極131A、131B、131C、131D、131E與第2主面100SB之第2壓電電壓檢測用子電極231A、231B、231C、231D、231E之組而檢測。
第2部分區域Ar2之壓電電壓係藉由第1主面100ST之第1壓電電壓檢測用子電極132A、132B、132C、132D、132E與第2主面100SB之第2壓電電壓檢測用子電極231H、231I、231J、231K、231L之組而檢測。
第3部分區域Ar3之壓電電壓係藉由第1主面100ST之第1壓電電壓檢測用子電極131H、131I、131J、131K、131L與第2主面100SB之第2壓電電壓檢測用子電極232A、232B、232C、232D、232E之組而檢測。
第4部分區域Ar4之壓電電壓係藉由第1主面100ST之第1壓電電壓檢測用子電極132H、132I、132J、132K、132L與第2主面100SB之第2壓電電壓檢測用子電極232H、232I、232J、232K、232L之組而檢測。
藉由設定為包含此種構成之部分區域Ar1、Ar2、Ar3、Ar4，各部分區域Ar1、Ar2、Ar3、Ar4可形成正交之兩邊固定而另兩邊於正交於主面之方向彎曲之構造。藉此，若操作者用手指按壓操作面(第1主面側)，則各部分區域 Ar1、Ar2、Ar3、Ar4以沿著上述正交之兩邊之大致對角線向兩方拉伸(或收縮)之方式移位。此處，如上所述壓電膜100之一軸延伸方向與第1方向平行，故而於各部分區域Ar1、Ar2、Ar3、Ar4中，可有效地檢測此種移位所產生之壓電電壓。
而且，該等部分區域Ar1、Ar2、Ar3、Ar4各自之壓電電壓視壓入量而為不同之值，故而藉由將該等壓電電壓組合起來進行算術演算，可檢測作為觸控面板1A之壓入量。
例如，當於第1部分區域Ar1中，在第1主面100ST之第1壓電電壓檢測用子電極131A、131B、131C、131D、131E檢測出正電位時，於第2部分區域Ar2中，在第1主面100ST之第1壓電電壓檢測用子電極132A、132B、132C、132D、132E檢測出負電位，於第3部分區域Ar3中，在第1主面100ST之第1壓電電壓檢測用子電極131H、131I、131J、131K、131L檢測出負電位，於第4部分區域Ar4中，在第1主面100ST之第1壓電電壓檢測用子電極132H、132I、132J、132K、132L檢測出正電位。該產生電位之符號之關係與按壓位置無關而大體固定。可適當地選擇是使4個區域之產生電壓連接成並聯之關係還是連接成串聯之關係，且只要根據探測電路之性能或使用環境區分使用即可。例如，於重視產生電荷之量之情形時較佳為並聯連接，於重視產生電位之大小之情形時最好為串聯連接。
如上所述，若使用本實施形態之構成，則即便為固定著壓電膜100之4側邊之態樣，亦可與觸控位置一併檢測壓入 量。
其次，參照圖式對第3實施形態之觸控面板進行說明。圖11係構成本發明之第3實施形態之觸控面板1B的主功能部10B之第1主面100ST之平面圖。圖12係構成本發明之第3實施形態之觸控面板1B的主功能部10B之第2主面100SB之平面圖。再者，本實施形態之觸控面板1B相對於第2實施形態所示之觸控面板1A，僅壓電電壓檢測用子電極之形狀不同，其他構成均相同。從而，以下，僅對與第2實施形態所示之觸控面板1A不同之處具體地進行說明。
本實施形態中，於壓電膜100之第1主面100ST包含連接有第2實施形態之第1壓電電壓檢測用子電極131H與第1壓電電壓檢測用子電極132H且與第1實施形態同樣地沿著第1方向延伸之第1壓電電壓檢測用子電極13H。包含連接有第2實施形態之第1壓電電壓檢測用子電極131I與第1壓電電壓檢測用子電極132I且與第1實施形態同樣地沿著第1方向延伸之第1壓電電壓檢測用子電極13I。包含連接有第2實施形態之第1壓電電壓檢測用子電極131J與第1壓電電壓檢測用子電極132J且與第1實施形態同樣地沿著第1方向延伸之第1壓電電壓檢測用子電極13J。包含連接有第2實施形態之第1壓電電壓檢測用子電極131K與第1壓電電壓檢測用子電極132K且與第1實施形態同樣地沿著第1方向延伸之第1壓電電壓檢測用子電極13K。包含連接有第2實施形態之第1壓電電壓檢測用子電極131L與第1壓電電壓檢測用子電極132L且與第1實施形態同樣地沿著第1方向延伸之第1壓 電電壓檢測用子電極13L。
未形成連接於第1壓電電壓檢測用子電極13H、13I、13J、13K、13L之佈線電極。
於第2主面100SB包含連接有第2實施形態之第2壓電電壓檢測用子電極231A與第2壓電電壓檢測用子電極232A且與第1實施形態同樣地沿著第2方向延伸之第2壓電電壓檢測用子電極23A。包含連接有第2實施形態之第2壓電電壓檢測用子電極231B與第2壓電電壓檢測用子電極232B且與第1實施形態同樣地沿著第2方向延伸之第2壓電電壓檢測用子電極23B。包含連接有第2實施形態之第2壓電電壓檢測用子電極231C與第2壓電電壓檢測用子電極232C且與第1實施形態同樣地沿著第2方向延伸之第2壓電電壓檢測用子電極23C。包含連接有第2實施形態之第2壓電電壓檢測用子電極231D與第2壓電電壓檢測用子電極232D且與第1實施形態同樣地沿著第2方向延伸之第2壓電電壓檢測用子電極23D。包含連接有第2實施形態之第2壓電電壓檢測用子電極231E與第2壓電電壓檢測用子電極232E且與第1實施形態同樣地沿著第2方向延伸之第2壓電電壓檢測用子電極23E。
又，於第2主面100SB包含連接有第2實施形態之第2壓電電壓檢測用子電極231H與第2壓電電壓檢測用子電極232H且與第1實施形態同樣地沿著第2方向延伸之第2壓電電壓檢測用子電極23H。包含連接有第2實施形態之第2壓電電壓檢測用子電極231I與第2壓電電壓檢測用子電極232I且與 第1實施形態同樣地沿著第2方向延伸之第2壓電電壓檢測用子電極23I。包含連接有第2實施形態之第2壓電電壓檢測用子電極231J與第2壓電電壓檢測用子電極232J且與第1實施形態同樣地沿著第2方向延伸之第2壓電電壓檢測用子電極23J。包含連接有第2實施形態之第2壓電電壓檢測用子電極231K與第2壓電電壓檢測用子電極232K且與第1實施形態同樣地沿著第2方向延伸之第2壓電電壓檢測用子電極23K。包含連接有第2實施形態之第2壓電電壓檢測用子電極231L與第2壓電電壓檢測用子電極232L且與第1實施形態同樣地沿著第2方向延伸之第2壓電電壓檢測用子電極23L。
未形成連接於第2壓電電壓檢測用子電極23A、23B、23C、23D、23E、23H、23I、23J、23K、23L之佈線電極。
於此種構成中，第1部分區域Ar1之壓電電壓檢測用之電極圖案與第3部分區域Ar3之壓電電壓檢測用之電極圖案於第2主面100SB側連接。第3部分區域Ar3之壓電電壓檢測用之電極圖案與第4部分區域Ar4之壓電電壓檢測用之電極圖案於第1主面100ST側連接。第4部分區域Ar4之壓電電壓檢測用之電極圖案與第2部分區域Ar2之壓電電壓檢測用之電極圖案於第2主面100SB側連接。
藉此，可實現各部分區域Ar1、Ar2、Ar3、Ar4之壓電電壓檢測用之電極圖案串聯連接之構造。即，不形成與檢測用電極分開之佈線電極即可實現依序對於各部分區域 Ar1、Ar2、Ar3、Ar4中檢測之壓電電壓進行相加之電路。藉此，可更加小型地形成具有此種可依序對於各部分區域Ar1、Ar2、Ar3、Ar4中檢測之壓電電壓進行相加之電路的觸控面板。
其次，參照圖式對第4實施形態之觸控面板進行說明。圖13係構成本發明之第4實施形態之觸控面板1C的主功能部10C之第1主面100ST之平面圖。圖14係構成本發明之第4實施形態之觸控面板1C的主功能部10C之第2主面100SB之平面圖。
本實施形態之觸控面板1C相對於第3實施形態所示之觸控面板1B，僅壓電電壓檢測用子電極之形狀與佈線電極之圖案不同，其他構成均相同。因此，以下僅對與第3實施形態所示之觸控面板1B不同之處具體地進行說明。
於壓電膜100之第1主面100ST，對形成於第1部分區域Ar1中之第1壓電電壓檢測用子電極131A、131B、131C、131D、131E未形成有佈線電極。
第1壓電電壓檢測用子電極13H、13I、13J、13K、13L係藉由佈線電極143而集中，並向外部電路連接。佈線電極143形成於第1主面100ST之第1方向之第3部分區域Ar3側之端部。
根據該構成，分別連接於第1靜電電容檢測用子電極11D、11E、11F之佈線電極12D、12E、12F形成於第1主面100ST之第1方向之第4部分區域Ar4側之端部。
於壓電膜100之第2主面100SB上，與第2實施形態之構成 同樣地，形成於第1部分區域Ar1中之第2壓電電壓檢測用子電極231A與形成於第3部分區域Ar3中之第2壓電電壓檢測用子電極232A於分離點150分離。形成於第1部分區域Ar1中之第2壓電電壓檢測用子電極231B與形成於第3部分區域Ar3中之第2壓電電壓檢測用子電極232B於分離點150分離。形成於第1部分區域Ar1中之第2壓電電壓檢測用子電極231C與形成於第3部分區域Ar3中之第2壓電電壓檢測用子電極232C於分離點150分離。形成於第1部分區域Ar1中之第2壓電電壓檢測用子電極231D與形成於第3部分區域Ar3中之第2壓電電壓檢測用子電極232D於分離點150分離。形成於第1部分區域Ar1中之第2壓電電壓檢測用子電極231E與形成於第3部分區域Ar3中之第2壓電電壓檢測用子電極232E於分離點150分離。再者，該等亦可形成為如第3實施形態所示般不分離之構造。
於此種構成中，第3部分區域Ar3之壓電電壓檢測用之電極圖案與第4部分區域Ar4之壓電電壓檢測用之電極圖案於第1主面100ST側連接。第4部分區域Ar4之壓電電壓檢測用之電極圖案與第2部分區域Ar2之壓電電壓檢測用之電極圖案於第2主面100SB側連接。
藉此，可實現各部分區域Ar2、Ar3、Ar4之壓電電壓檢測用之電極圖案串聯連接之構造。即，不形成與檢測用電極分開之佈線電極即可實現依序對於各部分區域Ar2、Ar3、Ar4中檢測之電壓進行相加之電路。藉此，可更加小型地形成具有此種可依序對於各部分區域Ar2、Ar3、Ar4 中檢測之電壓進行相加之電路的觸控面板。
再者，於本實施形態之構成中，雖然無法進行第1部分區域Ar1之壓電電壓之檢測，但於用手指等按壓第1部分區域Ar1之情形時，與第1部分區域Ar1之移位相應地，第2、第3、第4部分區域Ar2、Ar3、Ar4亦發生移位。從而，只要取得第2、第3、第4部分區域Ar2、Ar3、Ar4之壓電電壓，即便無法取得第1部分區域Ar1之壓電電壓，亦可檢測作為壓電膜100之壓入量。
又，若使用本實施形態之構成，則於第1主面100ST上，可將連接於第1靜電電容檢測用子電極11A~11C之佈線電極12A~12C、連接於第1靜電電容檢測用子電極11D~11F之佈線電極12D~12F、連接於第1壓電電壓檢測用子電極132A~132E之佈線電極142、及連接於第1壓電電壓檢測用子電極13H~13L之佈線電極143分別形成於不同之部分區域中。因此，可不使各佈線電極交叉地向外部電路連接。藉此，可容易地形成佈線電極之佈線圖案及構造，可更加容易地製造觸控面板。
其次，參照圖式對第5實施形態之觸控面板進行說明。圖15係構成本發明之第5實施形態之觸控面板的主功能部10D之第1主面100ST之平面圖。圖16係本發明之第5實施形態之觸控面板之主功能部10D之側視圖。圖17係將本發明之第5實施形態之觸控面板之主功能部10D局部地放大所得之側視剖面圖。
上述各實施形態所示之觸控面板表示了靜電電容檢測用 電極與壓電電壓檢測用電極均分別對向於壓電膜100之第1主面100ST與第2主面100SB而配置之例。於本實施形態之觸控面板中，壓電電壓檢測用電極配置於壓電膜100之第1主面100ST與第2主面100SB，靜電電容檢測用電極僅配置於壓電膜100之第1主面100ST側。
於壓電膜100之第1主面100ST形成有第1靜電電容檢測用子電極11A'~11I'。第1靜電電容檢測用子電極11A'~11I'係於第1方向延伸之長條狀之電極。第1靜電電容檢測用子電極11A'~11I'係沿著第2方向空開特定之間隔而配置。
進而，於壓電膜100之第1主面100ST排列形成有第1壓電電壓檢測用子電極13A'~13H'。第1壓電電壓檢測用子電極13A'~13H'係於第1方向延伸之長條狀之電極。第1壓電電壓檢測用子電極13A'~13H'分別形成於第1靜電電容檢測用子電極11A'~11I'中之相鄰之第1靜電電容檢測用子電極之間。例如，第1壓電電壓檢測用子電極13A'形成於第1靜電電容檢測用子電極11A'與第1靜電電容檢測用子電極11B'之間。同樣地，第1壓電電壓檢測用子電極13B'~13G'亦形成於相鄰之第1靜電電容檢測用子電極之間。而且，第1壓電電壓檢測用子電極13H'形成於第1靜電電容檢測用子電極11H'與第1靜電電容檢測用子電極11I'之間。
於第1靜電電容檢測用子電極11A'~11I'及第1壓電電壓檢測用子電極13A'~13H'之表面，形成有作為絕緣體之保護層30'。
於形成有第1靜電電容檢測用子電極11A'~11I'、第1壓電 電壓檢測用子電極13A'~13H'、保護層30'之壓電膜100之第1主面100ST形成有第2靜電電容檢測用子電極21A'~21K'。第2靜電電容檢測用子電極21A'~21K'係於第2方向延伸之長條狀之電極。第2靜電電容檢測用子電極21A'~21K'係沿著第1方向空開特定之間隔而配置。
於壓電膜100之第2主面100SB形成有第2壓電電壓檢測用電極23'。第2壓電電壓檢測用電極23'形成為覆蓋第2主面100SB之特定面積之矩形狀。此時，第2壓電電壓檢測用電極23'係以無論對檢測壓入量之區域之任何位置進行按壓均可檢測壓電電壓之程度之大小、形狀形成。
即便為此種構造，亦與上述各實施形態同樣地，可同時檢測觸控位置與壓入量(按壓力)。進而，可實現薄型且高透光性之觸控面板。
其次，參照圖式對第6實施形態之觸控面板進行說明。圖18係本發明之第6實施形態之觸控面板之主功能部10E之側視圖。圖19係將本發明之第6實施形態之觸控面板之主功能部10E局部地放大所得之側視剖面圖。
本實施形態之觸控面板相對於第5實施形態所示之觸控面板之主功能部10D，第1主面100ST側之電極配置構造不同，但其他構成均與第5實施形態之觸控面板相同。從而，僅對不同之處具體地進行說明。
於壓電膜100之第1主面100ST上，與第5實施形態之觸控面板之主功能部10D同樣地，排列形成有第1壓電電壓檢測用子電極13A'~13H'、及第1壓電電壓檢測用子電極 13A'~13H'。
於形成有第1靜電電容檢測用子電極11A'~11I'及第1壓電電壓檢測用子電極13A'~13H'之壓電膜100之第1主面100ST之表面之大致整個表面形成有保護層30"。
於保護層30"之表面(壓電膜100相反側之面)形成有第2靜電電容檢測用子電極21A'~21K'。
即便為此種構造，亦與上述各實施形態同樣地，可同時檢測觸控位置與壓入量(按壓力)。可實現薄型且高透光性之觸控面板。
再者，於上述第5、第6實施形態中，表示了使用長條狀之靜電電容檢測用子電極之例，但亦可為上述第1實施形態至第4實施形態所示之寬幅部與窄幅部交替相連之形狀。
再者，上述第1實施形態至第4實施形態中，表示了如下之例：即於平膜狀之PLLA之兩個主面，作為靜電電容檢測用電極形成為寬幅部與窄幅部交替相連，並且作為壓電電壓檢測用電極形成為細於靜電電容檢測用電極之固定寬度之線狀。然而，壓電膜之材料、以及各電極圖案及電極寬度之關係僅為一例，只要為自上述各實施形態之組合或上述各實施形態之構成所能想到之構成，便可獲得上述作用效果。
再者，關於壓電膜，亦可使用其他壓電元件，但考慮到壓電常數、介電常數、熱電性、可撓性等，尤佳為PLLA。
又，如上述第5、第6實施形態所示，於第2壓電電壓檢測用電極為矩形之情形時，其係以第2壓電電壓檢測用電極之各位置處所產生之檢測電壓相抵之方式作用。於該情形時，如圖20所示，最好將第2壓電電壓檢測用電極設定為非矩形之形狀。圖20係表示第2壓電電壓檢測用電極之形狀例之圖。如圖20所示，第2壓電電壓檢測用電極23"於第1方向之兩端且第2方向之中央附近，包含向第1方向之中央側凹陷之形狀。藉由設定為此種形狀，可抑制檢測電壓之相抵。
藉此，可更高感度地檢測壓電電壓。再者，檢測利用區域之形狀並不限於此，只要以檢測電壓不相抵消之方式適當地設定第2壓電電壓檢測用電極之形狀即可。亦可將第2壓電電壓檢測用電極之形狀分成複數個區域例如4區域，而檢測各區域中所產生之電壓。於該情形時第1壓電電壓檢測用電極可用作各區域共用之電極。
又，上述實施形態中係使用可實現投影型且以互電容方式進行之觸控位置之檢測概念之電極圖案，但亦可利用能實現投影型且以自電容方式進行之觸控位置之檢測概念之電極圖案，形成靜電電容檢測用電極。
1、1A、1B、1C‧‧‧觸控面板
10、10、10B、10C、10D、10E‧‧‧主功能部
30、30'、30"、40‧‧‧保護層
50‧‧‧彈性體
100‧‧‧壓電膜
100SB‧‧‧第2主面
100ST‧‧‧第1主面
11A、11B、11C、11D、11E、11F、11A'、11B'、11C'、11D'、11E'、11F'、11G'、11H'、11I'‧‧‧第1靜電電容檢測用子電極
12A~12F、14、22A~22F‧‧‧佈線電極
13A、13B、13C、13D、 13E、13F、13G、13H、13I、13J、13K、13L、131A、132A、131B、132B、131C、132C、131D、132D、131E、132E、131H、132H、131I、132I、131J、132J、131K、132K、131L、132L、13A'、13B'、13C'、13D'、13E'、13F'、13G'、13H'‧‧‧ 第1壓電電壓檢測用子電極
21A、21B、21C、21D、21E、21F、21A'、21B'、21C'、21D'、21E'、21F'、21G'、21H'、21I'、21J'、21K'‧‧‧第2靜電電容檢測用子電極
23'、23"‧‧‧第2壓電電壓檢測用電極
23A、23B、23C、23D、 23E、23F、23G、23H、23I、23J、23K、23L、231A、232A、231B、232B、231C、232C、231D、232D、231E、232E、231H、232H、231I、232I、231J、232J、 231K、232K、231L、232L24、141、142、143、144、241、242、243、244‧‧‧ 第2壓電電壓檢測用子電極
111、211‧‧‧寬幅部
112、212‧‧‧窄幅部
113、213‧‧‧端部用之寬幅部
Ar1‧‧‧第1部分區域
Ar2‧‧‧第2部分區域
Ar3‧‧‧第3部分區域
Ar4‧‧‧第4部分區域
A-A'‧‧‧剖線
B-B'‧‧‧剖線
C-C'‧‧‧剖線
D-D'‧‧‧剖線
圖1係本發明之第1實施形態之觸控面板1之平面圖。
圖2係本發明之第1實施形態之觸控面板1之複數個剖視圖。
圖3係構成本發明之第1實施形態之觸控面板1的主功能 部10之第1主面100ST之平面圖。
圖4係構成本發明之第1實施形態之觸控面板1的主功能部10之第2主面100SB之平面圖。
圖5(A)、(B)係用以說明本發明之第1實施形態之主功能部10之壓入量檢測功能之圖。
圖6(A)、(B)係表示本發明之第1實施形態之主功能部10之壓入量之檢測電壓之波形圖、及檢測電壓與壓入量之關聯之曲線圖。
圖7係用以說明觸控面板1之第1製造方法之圖。
圖8係用以說明觸控面板1之第2製造方法之圖。
圖9係構成本發明之第2實施形態之觸控面板1A的主功能部10A之第1主面100ST之平面圖。
圖10係構成本發明之第2實施形態之觸控面板1A的主功能部10A之第2主面100SB之平面圖。
圖11係構成本發明之第3實施形態之觸控面板1B的主功能部10B之第1主面100ST之平面圖。
圖12係構成本發明之第3實施形態之觸控面板1B的主功能部10B之第2主面100SB之平面圖。
圖13係構成本發明之第4實施形態之觸控面板1C的主功能部10C之第1主面100ST之平面圖。
圖14係構成本發明之第4實施形態之觸控面板1C的主功能部10C之第2主面100SB之平面圖。
圖15係本發明之第5實施形態之觸控面板之主功能部10D之第1主面100ST之平面圖。
圖16係本發明之第5實施形態之觸控面板之主功能部10D之側視圖。
圖17係將本發明之第5實施形態之觸控面板之主功能部10D局部地放大所得之側視剖面圖。
圖18係本發明之第6實施形態之觸控面板之主功能部10E之側視圖。
圖19係將本發明之第6實施形態之觸控面板之主功能部10E局部地放大所得之側視剖面圖。
圖20係表示第2壓電電壓檢測用電極之形狀例之圖。
1‧‧‧觸控面板
10‧‧‧主功能部
100‧‧‧壓電膜
A-A'‧‧‧剖線
B-B'‧‧‧剖線
C-C'‧‧‧剖線
D-D'‧‧‧剖線

Claims (16)

  1. 一種觸控面板，其包括：平膜狀之壓電膜，其具備相互對向之第1主面與第2主面；靜電電容檢測用電極，其配置於該壓電膜之上述第1主面側或上述第2主面側之至少任一側，用以檢測觸控位置，及壓電電壓檢測用電極，其配置於上述壓電膜之上述第1主面及上述第2主面，檢測與上述壓電膜之壓入量對應之壓電電壓。
  2. 如請求項1之觸控面板，其中上述壓電膜包含至少於一軸方向已進行延伸處理之聚乳酸。
  3. 如請求項1或2之觸控面板，其中上述靜電電容檢測用電極包括：複數個第1靜電電容檢測用子電極，該等包含沿著平行於上述第1主面及上述第2主面之第1方向延伸之形狀，且於平行於上述第1主面及上述第2主面且交叉於上述第1方向之第2方向上空開間隔而配置；及複數個第2靜電電容檢測用子電極，該等包含沿著上述第2方向延伸之形狀，且於上述第1方向上空開間隔而配置；上述壓電電壓檢測用電極包括：第1壓電電壓檢測用子電極，其形成於上述第1主面；及第2壓電電壓檢測用子電極，其形成於上述第2主面；且上述第1靜電電容檢測用子電極與上述第1壓電電壓檢 測用子電極形成於同一平面。
  4. 如請求項3之觸控面板，其中上述第1壓電電壓檢測用子電極形成於構成上述複數個第1靜電電容檢測用子電極之個別之第1靜電電容檢測用子電極之間。
  5. 如請求項3之觸控面板，其中上述第1靜電電容檢測用子電極形成於上述第1主面，且上述第2靜電電容檢測用子電極形成於上述第2主面。
  6. 如請求項5之觸控面板，其中上述第2壓電電壓檢測用子電極形成於構成上述複數個第2靜電電容檢測用子電極之個別之第2靜電電容檢測用子電極之間，且第1壓電電壓檢測用子電極與第2壓電電壓檢測用子電極係以隔著上述壓電膜而遍及大致整個表面大致均一地分佈且對向之方式形成。
  7. 如請求項3之觸控面板，其中於上述複數個第1靜電電容檢測用子電極之表面與上述第1壓電電壓檢測用子電極之表面形成有保護層，且隔著上述保護層而於上述複數個第1靜電電容檢測用子電極及上述第1壓電電壓檢測用子電極之相反側，形成有上述複數個第2靜電電容檢測用子電極。
  8. 如請求項3之觸控面板，其中上述第1靜電電容檢測用子電極及上述第2靜電電容檢測用子電極包含寬幅部與窄幅部交替相連之形狀，且以上述第1靜電電容檢測用子電極之窄幅部與上述第2靜電電容檢測用子電極之窄幅部為對向之方式形成。
  9. 如請求項1或2之觸控面板，其中上述壓電電壓檢測用電極針對將上述壓電膜之平面分割成四等分之每個部分區域而個別地形成。
  10. 如請求項8之觸控面板，其中上述壓電電壓檢測用電極針對將上述壓電膜之平面分割成四等分之每個部分區域而個別地形成。
  11. 如請求項9之觸控面板，其中上述壓電電壓檢測用電極於每個上述部分區域分開形成。
  12. 如請求項10之觸控面板，其中上述壓電電壓檢測用電極於每個上述部分區域分開形成。
  13. 如請求項9之觸控面板，其中上述壓電電壓檢測用電極係以上述第1主面之第1部分區域之電極與第2部分區域之電極為分開、上述第1主面之第3部分區域之電極與上述第4部分區域之電極為連續、上述第2主面之上述第1部分區域之電極與上述第3部分區域之電極為連續、上述第2主面之上述第2部分區域之電極與上述第4部分區域之電極為連續之方式形成。
  14. 如請求項10之觸控面板，其中上述壓電電壓檢測用電極係以上述第1主面之第1部分區域之電極與第2部分區域之電極為分開、上述第1主面之第3部分區域之電極與上述第4部分區域之電極為連續、上述第2主面之上述第1部分區域之電極與上述第3部分區域之電極為連續、上述第2主面之上述第2部分區域之電極與上述第4部分區域之電極為連續之方式形成。
  15. 如請求項8之觸控面板，其中以上述第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部與上述第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部不對向，且自與上述壓電膜之主面正交之方向觀察於兩寬幅部之間形成特定寬度之間隙之方式，形成有上述第1靜電電容檢測用子電極及第2靜電電容檢測用子電極，且以上述第1壓電電壓檢測用子電極與上述第2壓電電壓檢測用子電極之對向部分收在上述間隙內之方式，形成有上述第1壓電電壓檢測用子電極及上述第2壓電電壓檢測用子電極。
  16. 如請求項15之觸控面板，其中上述第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部與上述第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部形成為具有各自相對於第1方向及第2方向成大致45°之斜邊之大致正方形，上述第1壓電電壓檢測用子電極具備沿著上述第1靜電電容檢測用子電極之窄幅部於第1方向延伸之直線部、及沿著上述第1靜電電容檢測用子電極之寬幅部而相對於第1方向傾斜大致45°之傾斜部，上述第2壓電電壓檢測用子電極具備沿著上述第2靜電電容檢測用子電極之窄幅部於第2方向延伸之直線部、及沿著上述第2靜電電容檢測用子電極之寬幅部而相對於第2方向傾斜大致45°之傾斜部，上述第1壓電電壓檢測用子電極之傾斜部與上述第2壓電電壓檢測用子電極之傾斜部隔著上述壓電膜而對向。
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