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KR960038386A - 화학물질 분석 측정용 광학 검출장치 - Google Patents

화학물질 분석 측정용 광학 검출장치 Download PDF

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KR960038386A
KR960038386A KR1019960010335A KR19960010335A KR960038386A KR 960038386 A KR960038386 A KR 960038386A KR 1019960010335 A KR1019960010335 A KR 1019960010335A KR 19960010335 A KR19960010335 A KR 19960010335A KR 960038386 A KR960038386 A KR 960038386A
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Abstract

본 발명은 광학 검출 장치(1)에 관한 것이다. 여기 광 가이드(11) 및 방출 광 가이드(12)는 형광 교환기(4)에 면한 말단면(14)를 갖는 구조 유니트를 형성한다. 말단면(14)는 물리적으로, 2개의 광 가이드(11, 12)의 경계면 중 하나에 상응한다. 결과적으로, 검출 장치(1)은 말단면(14)에 광학적으로 접촉할 수 있는 광학 쌍 및 기계적부품으로 간단한 방식으로 분리될 수 있다. 광학적 광 경로에서의 모든 소자를 굴절율 조화 매체(20)에 의해 기계적으로 안정한 방식으로 연결되며, 그 결과로서, 광원(10)과 광전기 센서(13) 사이의 광은 단지 비교할 수 있는 굴절율을 갖는 매체에서 전파된다. 광원(10)은 바람직하게는 발광 다이오드이다. 다수의 상기 검출 당치가 조합되어, 하나의 측정 조작으로 수개의 성분에 대해 물질(3)을 시험할 수 있는 콤팩터 검축 장치를 형성한다.

Description

화학물질 분석 측정용 광학 검출장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 장치의 제1실시예의 단면도.

Claims (19)

  1. 물질(3)에 대한 샘플 용기(2), 물질(3)에 위해 접촉될 수 있는 형광 교환기(4), 여기 광을 방출시키기 위한 광원(10), 형광 교환기(4)로부터 나오는 방출광에 대한 광전기 센서(13), 광원(10)에 의해 방출된 여기 광을 형광 교환기(4) 중 적어도 일부에 도달하도록 안내하는 여기 광 가이드(11)및, 형광교환기(4)에 의해 방출된광을 광전기 센서(13)에 도달하도록 안내하는 방출광 가이드(12)를 포함하는 물질(3) 분석측정용 광학 검출 장치로서, 상기 여기 광 가이드(11)는 광 가이드에서 광의 전파의 주방향에 수직인 굴절율 기울기를 갖는 재료를 포함하며, 상기 여기 광 가이드(11)는 2개의 광 가이드(11, 12)가 형광 교환기(4)에 면한 말단면(14)을 갖는 구조 유니트를 형성하도록 방출 광 가이드(12)에 연결되고, 상기 말단면(14)은 2개의 광 가이드(11, 12)의 경계면 중 하나에 물질적으로 2개의 광 가이드(11, 12)의 경계면중 하나에 물질적으로 상응하고, 상기 말단면(14)은 광원(10)으로부터 여기 광 가이드(11)를 통해 통과하는 광에 대한 방출 표면 및 형광 교환기(4)로부터 나오는 방출광에 대한 광학 진입 표면을 형성하는 것을 특징으로 하는 광학 검출 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 방출 광 가이드(12)와 여기 광 가이드(11)는 굴절율 조화 매체(20)에 이해 서로 결합되는 것을 특징으로 하는 광학 검출 장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 방출 광 가이드(12)와 여기 광 가이드(11)는, 광축 01, 02에 의해 결정된 2개의 광 가이드(11, 12)에서의 광의 주전파 방향이 서로에 대해 경사지도록 서로에 대해 경사지는 것을 특징으로 하는 광학 검출 장치.
  4. 제1항 내지 3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 형광 교환기(4)는 2개의 광 가이드(11, 12)의 굴절율에 대해 +/-20% 내로 상응하는 굴절율을 갖는 캐리어(5)상에 위치하고, 캐리어(5)는 굴절율 조화 매체(20)에 의해 2개의 광 가이드(11, 12)의 말단면(14)에 광학적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 광학 검출 장치.
  5. 제1항 내지 4항중 어느 한 항에 있어서, 여기 광 가이드(11) 및 방출 광 가이드(12)에 의해 형성되는 구조 유니트의 결절선이 형광 교환기(4)의 영역에 놓이는 것을 특징으로 하는 광학 검출 장치.
  6. 제1항 내지 5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 여기 광 가이드(11) 및 방출 광 가이드(12)는 적어도 하나의 광학 그래디언트 지수소자, 특히 GRIN 렌즈(30, 31, 32, 33)를 함유하는 것을 특징으로 하는 광학 검출 장치.
  7. 제1항 내지 6항 중 어느 한 항에 있어서, 여기 광 가이드(11)의 여기 광의 파장을 선택하기 위해 적어도 하나의 광학 필터(15), 특히 간섭 필터를 함유하는 것을 특징으로 하는 광학 검출 장치.
  8. 제1항 내지 7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 방출 광 가이드(12)는 광전기 센서(13)에 도달하는 광의 파장 범위를 선택하기 위해 적어도 하나의 제2필터(16), 특히 간섭 필터를 함유하는 것을 특징으로 하는 광학 검출 장치.
  9. 제1항 내지 8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광원(10)은 간섭 또는 비간섭 광을 조사하는 발광 다이오드인 것을 특징으로 하는 광학 검출 장치.
  10. 제1항 내지 9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 여기 광 가이드(11)와 방출 광 가이드(12)는 홀딩체(17, 170)이 수용 개구에 위치하며, 상기 수용 개구는 서로에 대해 경사지는 것을 특징으로 하는 광학 검출 장치.
  11. 제1항 내지 10항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 방출 광 가이드(12)는, 그안에 존재하는 제2광학 필터(16)를 제외하고는 굴절율 조화 매체(20)로 제조되는 것을 특징으로 하는 광학 검출 장치
  12. 제1항 내지 11항 중 어느 한 항에 있어서, 각각의 경우에 똑같은 각을 갖는 2개의 광축 및 하나의 평면에 3개의 광 가이드(11, 12, 35)의 광축(01, 02, 03)이 놓이는 방식으로 굴절율 조화 매체에 의해 여기 광 가이드(11) 및 방출 광 가이드(12)의 구조 유니트에 연결된 광축(03)을 갖는 기준 광 가이드(35)가 더 제공되며, 부가적으로, 구조 유니트의 말단(4)로부터 멀리 면한 기준 광 가이드(35)의 평면 경계 표면에 제2광전기 센서(36)가 제공되는 것을 특징으로 하는 광학 검출 장치.
  13. 제1항 내지 12항 중 어느 한 항에 따라 구성된 둘 이상, 바람직하게는 6개의 광학 검출 장치(device)(1)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 광학 검출 기구(apparatus).
  14. 제13항에 있어서, 상기 여기 광 가이드(11) 및 방출 광 가이드(12)는 모두, 홀딩체(170)의 수용 개구에 위치하고, 수용 개구는 쌍을 이루어 상호 경사지는 것을 특징으로 하는 광학 검출 기구.
  15. 제13항 또는 제14항에 있어서, 샘플 용기(2)가 모두 공통 측정 챔버(41)에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 광학 검출 기구.
  16. 제13항 내지 15항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 형광 교환기(4)는 공통 캐리어 소자(42)상에 위치하고, 캐리어 소자(42)는 +/- 20% 내에서 광 가이드(11, 12)의 굴절율에 상응하는 굴절율을 가지며, 상기 캐리어 소자(42)는 굴절율 조화 매체(20)에 의해 광 가이드의 말단면에 연결되는 것을 특징으로 하는 광학 검출 기구.
  17. 제13항 내지 16항 중 어느 한 항에 있어서, 여기 광 가이드(11)와 방출 광 가이드와 방출 광 가이드(12) 각각은 단지형광 교환기(4)와 연결된 여기 광 가이드(11)로부터의 여기 광이 도달하는 각각의 형광 교환기(4)와 연결되는 것을 특징으로 하는 광학 검출 기구.
  18. 제13항 내지 17항 중 어느 한 항에 있어서, 형광 교환기(4)가 물질(3)의 여러 성분에 민감한 것을 특징으로 하는 광학 검출 기구.
  19. 물질(3)의 형광 측정을 위한 광학 분석 장치로서, 형광 시험을 위한 측정 기기(50), 측정 기기(50)의 여러 소자에 전류를 제공하는 전력 광급 및 제어 유니트(90), 측정 장치에 의해 공급된 신호를 처리하는 전자 증폭 및 평가 수단(80) 및, 온도를 조절 및 안정화시키기 위한 온도 측정 및 조절장치(70)를 포함하며, 상기 측정기기(50)는 제1항 내지 12항 중 어느 한 항에 따른 광학 검출 장치(1) 또는 제13항 내지 제15항 중 어느 한 항에 따르는 광학 검출 기구를 포함하는 것을 특징으로 하는 검출 기구.
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