KR910005297A - 다결정 실리콘의 방향성 식각에 의한 트렌치 커패시터의 제조방법 - Google Patents
다결정 실리콘의 방향성 식각에 의한 트렌치 커패시터의 제조방법 Download PDFInfo
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 title claims 4
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 title claims 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims 3
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 2
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 claims 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 claims 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 claims 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims 1
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도의 (가) 내지 (라)는 제1도(가)의 B-B선 단면도로 나타낸 본 발명의 공정도이다.
Claims (4)
- 트렌치간 격리를 위하여 트렌치(2) 형성후 열적산화막(3)을 성장시키고 트렌치(2) 바닥 부분의 격리를 위해 트렌지스터 확산 영역의 도펀트와 상반형인 P형 도펀트(5a)를 이온 주입한 다음 실리콘 층(4)을 증착시켜 이를 방향성 RIE하여 트랜치 벽에 측벽 실리콘층(4a)을 형성하고 열적산화막(3)을 습식 식각하여 트렌치 측벽 둘레에 산화층(3a)을 남긴후 통상의 방법에 의해 얇은 유전체(6)와 커패시터 플레이트(7)를 형성함을 특징으로 하는 다결정 실리콘의 방향성 식각에 의한 트렌치 커패시터의 제조방법.
- 제1항에 있어서, 트렌치(2) 형성후 열적산화막(3)은 통상의 확산로(diffusion furnace)에서 수백 Å 정도 성장시킴을 특징으로 하는 다결정 실리콘의 방향성 식각에 의한 트렌치 커패시터의 제조방법.
- 제1항에 있어서, 이온 주입후 양호한 범위를 얻기위해 도핑되지 않은 실리콘(비정질 혹은 다결정) 층(4)으로 약 1500-3000Å 정도 증착시킴을 특징으로 하는 다결정 실리콘의 방향성 식각에 의한 트렌치 커패시터의 제조방법.
- 제1항에 있어서, 스토리지 노드로서 실리콘층(5)을 약 1000-3000Å 정도 증착시켜 열려진 트랜지스터의 확산 영역의 측면과 접촉되게 함을 특징으로 하는 다결정 실리콘의 방향성 식각에 의한 트렌치 커패시터의 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019890012019A KR930006973B1 (ko) | 1989-08-23 | 1989-08-23 | 디램의 스택 트렌치 커패시터 제조방법 |
DE4010720A DE4010720C2 (de) | 1989-08-23 | 1990-04-03 | Verfahren zur Herstellung eines geschichteten Grabenkondensators zur Verwendung in einem dynamischen Speicher |
JP2110678A JPH0724282B2 (ja) | 1989-08-23 | 1990-04-27 | ダイナミックramの積層溝型キャパシタの製造方法 |
FR909006733A FR2651368B1 (fr) | 1989-08-23 | 1990-05-30 | Procede de fabrication de condensateurs a tranchee en pile pour memoire vive dynamique. |
GB9017025A GB2235335B (en) | 1989-08-23 | 1990-08-03 | Process for fabricating trench capacitors |
NL9001849A NL193765C (nl) | 1989-08-23 | 1990-08-21 | Werkwijze voor de vervaardiging van gestapelde sleufcondensatoren voor DRAM's. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019890012019A KR930006973B1 (ko) | 1989-08-23 | 1989-08-23 | 디램의 스택 트렌치 커패시터 제조방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR910005297A true KR910005297A (ko) | 1991-03-30 |
KR930006973B1 KR930006973B1 (ko) | 1993-07-24 |
Family
ID=19289171
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019890012019A KR930006973B1 (ko) | 1989-08-23 | 1989-08-23 | 디램의 스택 트렌치 커패시터 제조방법 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0724282B2 (ko) |
KR (1) | KR930006973B1 (ko) |
DE (1) | DE4010720C2 (ko) |
FR (1) | FR2651368B1 (ko) |
GB (1) | GB2235335B (ko) |
NL (1) | NL193765C (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000058506A (ko) * | 2000-06-07 | 2000-10-05 | 이순환 | 열기관 압축링에 삽입하여 열효율을 높이는 황동핀 |
GB201617276D0 (en) | 2016-10-11 | 2016-11-23 | Big Solar Limited | Energy storage |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62120070A (ja) * | 1985-11-20 | 1987-06-01 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JPH01101664A (ja) * | 1987-10-15 | 1989-04-19 | Nec Corp | 半導体集積回路装置 |
JPH01179450A (ja) * | 1988-01-08 | 1989-07-17 | Oki Electric Ind Co Ltd | Mos型ダイナミックメモリ集積回路とその製造方法 |
KR900019227A (ko) * | 1988-05-18 | 1990-12-24 | 아오이 죠이치 | 적층형 캐피시터를 갖춘 반도체기억장치 및 그 제조방법 |
JPH02177359A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-10 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
JP4093614B2 (ja) * | 1997-06-11 | 2008-06-04 | 旭化成ケミカルズ株式会社 | 固着剤組成物 |
JPH1179450A (ja) * | 1997-09-12 | 1999-03-23 | Mita Ind Co Ltd | 自動原稿搬送装置の原稿分離機構 |
-
1989
- 1989-08-23 KR KR1019890012019A patent/KR930006973B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1990
- 1990-04-03 DE DE4010720A patent/DE4010720C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-04-27 JP JP2110678A patent/JPH0724282B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1990-05-30 FR FR909006733A patent/FR2651368B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1990-08-03 GB GB9017025A patent/GB2235335B/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-08-21 NL NL9001849A patent/NL193765C/nl not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL193765B (nl) | 2000-05-01 |
JPH0724282B2 (ja) | 1995-03-15 |
DE4010720A1 (de) | 1991-02-28 |
FR2651368B1 (fr) | 1991-11-29 |
JPH0385757A (ja) | 1991-04-10 |
NL9001849A (nl) | 1991-03-18 |
NL193765C (nl) | 2000-09-04 |
GB9017025D0 (en) | 1990-09-19 |
DE4010720C2 (de) | 1994-05-05 |
FR2651368A1 (fr) | 1991-03-01 |
KR930006973B1 (ko) | 1993-07-24 |
GB2235335B (en) | 1994-03-02 |
GB2235335A (en) | 1991-02-27 |
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