KR20160099380A - System for grinding edge of substrate and method for inspecting grined edge of substrate - Google Patents
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Abstract
본 발명은 단품 피씨비들의 면취 공정이 진행된 직후 면취된 부분을 촬영하여 형성된 이미지를 통해 면취된 부분을 검사하여 면취된 부분의 양부를 검사함으로써 스핀들 비트 등의 손상에 따라 지속적인 면취 불량이 발생되는 것을 방지하는 에지 그라인딩 시스템 및 그라인드 에지 검사 방법을 제공하며, 에지 그라인딩 시스템은 패널의 이송 경로 상에 배치되어 상기 패널의 제1 영역에 제1 면취부를 형성하는 제1 에지 그라인딩 블록 및 상기 패널의 제2 영역에 제2 면취부를 형성하는 제2 에지 그라인딩 블록을 포함하는 에지 그라인딩 모듈, 상기 제1 에지 그라인딩 블록을 승하강 시키는 제1 승하강 유닛 및 상기 제2 에지 그라인딩 블록을 승하강 시키는 제2 승하강 유닛을 포함하는 승하강 모듈, 상기 패널의 이송 경로와 교차하는 방향으로 이동하면서 상기 제1 면취부 및 상기 제2 면취부를 촬영하여 이미지를 생성하는 이미지 생성 모듈 및 상기 이미지를 이용하여 상기 제1 및 제2 면취부들의 불량 여부를 판별하는 판별 모듈을 포함한다.In the present invention, a chamfered portion is imaged immediately after the chamfering process of single-piece PCBs is performed, and the chamfered portion is inspected through the formed image to inspect the chamfered portion, thereby preventing the occurrence of continuous chamfering defect due to damage of the spindle bit or the like Wherein the edge grinding system comprises a first edge grinding block disposed on a transfer path of the panel to form a first chamfer in a first area of the panel and a second edge grinding block disposed on a second area of the panel, And a second edge grinding block for forming a second chamfered portion on the first edge grinding block, a first elevating and lowering unit for moving up and down the first edge grinding block, and a second elevating and lowering unit for moving up and down the second edge grinding block. An elevating / lowering module including a panel, and moving in a direction crossing the conveying path of the panel It includes a first mounting surface and to determine using the second chamfered portion taken by the image generation module to generate an image and the image to determine the first and second chamfered portions are not defective in the module.
Description
본 발명은 에지 그라인딩 시스템 및 그라인드 에지 검사 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an edge grinding system and a grind edge inspection method.
일반적으로 데이터를 저장하는 메모리 반도체 칩 및 메모리 반도체 칩이 실장되는 인쇄회로기판을 포함하는 메모리 모듈이 컴퓨터 등에 널리 적용되고 있다.In general, a memory module including a memory semiconductor chip for storing data and a printed circuit board on which a memory semiconductor chip is mounted is widely applied to computers and the like.
메모리 모듈의 인쇄회로기판의 일측 단부에는 메모리 반도체 칩과 전기적으로 연결된 복수개의 단자들이 일렬로 배치되어 있다.A plurality of terminals electrically connected to the memory semiconductor chip are arranged in a line at one end of the printed circuit board of the memory module.
인쇄회로기판에 형성된 단자들은 컴퓨터 등의 본체에 마련된 메모리 장착 슬롯에 삽입되어 전원을 제공받고 데이터 신호를 송신 또는 수신한다.Terminals formed on a printed circuit board are inserted into a memory mounting slot provided in a main body of a computer or the like to receive power and transmit or receive a data signal.
메모리 모듈에 포함된 인쇄회로기판 중 단자들이 형성된 부분이 메모리 장착 슬롯에 보다 쉽고 부드럽게 삽입될 수 있도록 단자에는 면취부(또는 모따기부,chamfer portion)가 형성된다.A terminal is formed on the terminal so that a portion of the printed circuit board included in the memory module is easily and smoothly inserted into the memory mounting slot.
일반적으로 메모리 반도체 칩이 장착되는 회로 기판은 대한민국 공개특허 10-2010-0038594 인쇄회로기판 단자부 면취장치 (2010.04.15)의 도 1 및 도 2a에 도시된 바와 같이 하나의 패널(10)에 단품 피씨비(1)가 여러 개 포함되도록 다배열로 제조되며 각 단품 피씨비(1)들 사이에는 좁고 긴 슬롯(1c)이 형성된다.In general, a circuit board on which a memory semiconductor chip is mounted is mounted on one panel 10 as shown in Figs. 1 and 2A of a printed circuit board terminal portion chamfering device (Apr. 15, 2010) (1), and a narrow and long slot (1c) is formed between the individual PCs (1).
이 슬롯(1c)에는 스핀들 비트가 삽입되어 단자 부분을 경사지게 깎아 내어 면취를 수행한다.A spindle bit is inserted into the slot 1c to cut the terminal portion at an angle to perform chamfering.
대한민국 공개특허 10-2010-0038594 인쇄회로기판 단자부 면취장치의 경우 패널(10)에 단품 피씨비(1)들이 동일한 형태 및 방향으로 배치될 경우에만 정확하게 면취 동작을 수행할 수 있다.In the case of the terminal block of the printed circuit board, the chamfering operation can be performed accurately only when the
한편, 하나의 패널의 중심을 기준으로 패널의 양쪽에 상호 대칭된 형태로 단품 피씨비(1)들이 배치될 경우, 대한민국 공개특허 10-2010-0038594 인쇄회로기판 단자부 면취장치를 적용하기 어렵다.On the other hand, when the
대한민국 공개특허 10-2010-0038594 인쇄회로기판 단자부 면취장치로 양쪽에 상호 대칭된 형태로 단품 피씨비들이 배치된 패널에 면취 동작을 수행하기 위해서는 패널의 일측에 배치된 단품 피씨비들에 먼저 면취 공정을 수행하고, 패널의 방향을 변경하여 패널의 타측에 배치된 단품 피씨비들에 면취 공정을 수행해야 하기 때문에 면취 공정에 매우 많은 시간이 소요될 수밖에 없다.In order to perform a chamfering operation on a panel in which the single piece PCBs are arranged symmetrically on both sides with the terminal block of the printed circuit board, chamfering process is firstly performed on the single pieces of PCBs disposed on one side of the panel And the chamfering process must be performed on the single pieces of PCBs disposed on the other side of the panel by changing the direction of the panel, so that it takes much time to perform the chamfering process.
한편, 패널에 면취 공정을 수행하는 과정에서 스핀들 비트가 손상될 경우, 면취가 진행된 부분에 불균일한 흠집(burr)이 발생되는데 종래에는 면취를 수행한 후 확대경 등으로 면취가 진행된 부분을 수동 검사하기 때문에 면취 공정을 수행하기 위한 전체 작업 시간이 크게 증가되고 정확한 검사가 어려운 문제점을 가진다.Meanwhile, when the spindle bit is damaged in the process of performing the chamfering process on the panel, uneven scratches are generated in the chamfered portion. Conventionally, chamfering is performed and then the chamfered portion is manually inspected Therefore, there is a problem that the total working time for performing the chamfering process is greatly increased and accurate inspection is difficult.
본 발명은 단품 피씨비들의 면취 공정이 진행된 직후 면취된 부분을 촬영하여 형성된 이미지를 통해 면취된 부분을 검사하여 면취된 부분의 양부를 검사함으로써 스핀들 비트 등의 손상에 따라 지속적인 면취 불량이 발생되는 것을 방지하는 에지 그라인딩 시스템 및 그라인드 에지 검사 방법을 제공한다.In the present invention, a chamfered portion is imaged immediately after the chamfering process of single-piece PCBs is performed, and the chamfered portion is inspected through the formed image to inspect the chamfered portion, thereby preventing the occurrence of continuous chamfering defect due to damage of the spindle bit or the like And a grinding edge inspection method.
본 발명은 면취가 수행되는 하나의 패널에 형성된 단품 피씨비들이 패널의 중심을 기준으로 대칭 형상으로 다배열 되더라도 면취 공정에 소요되는 시간을 크게 단축할 수 있는 에지 그라인딩 시스템 및 그라인드 에지 검사 방법을 제공한다.The present invention provides an edge grinding system and a grind edge inspection method that can significantly shorten the time required for chamfering even if the single piece PCBs formed in one panel on which chamfering is performed are arranged in a symmetrical shape with respect to the center of the panel .
또한, 본 발명은 수작업이 아닌 자동화된 공정에 의하여 단품 피씨비들의 단자들이 형성된 단부에 에지 그라인딩을 수행할 수 있는 에지 그라인딩 시스템 및 그라인드 에지 검사 방법을 제공한다.In addition, the present invention provides an edge grinding system and a grind edge inspection method capable of performing edge grinding at an end portion where terminals of single piece PCBs are formed by an automated process rather than a manual process.
일실시예로서, 에지 그라인딩 시스템은 패널의 이송 경로 상에 배치되어 상기 패널의 제1 영역에 제1 면취부를 형성하는 제1 에지 그라인딩 블록 및 상기 패널의 제2 영역에 제2 면취부를 형성하는 제2 에지 그라인딩 블록을 포함하는 에지 그라인딩 모듈; 상기 제1 에지 그라인딩 블록을 승하강 시키는 제1 승하강 유닛 및 상기 제2 에지 그라인딩 블록을 승하강 시키는 제2 승하강 유닛을 포함하는 승하강 모듈; 상기 패널의 이송 경로와 교차하는 방향으로 이동하면서 상기 제1 면취부 및 상기 제2 면취부를 촬영하여 이미지를 생성하는 이미지 생성 모듈; 및 상기 이미지를 이용하여 상기 제1 및 제2 면취부들의 불량 여부를 판별하는 판별 모듈을 포함한다.In one embodiment, an edge grinding system includes a first edge grinding block disposed on a conveying path of a panel to form a first chamfer in a first region of the panel, and a second edge grinding block disposed on a second region of the panel, An edge grinding module including a two-edge grinding block; An up-down module including a first up-down unit for moving up and down the first edge grinding block and a second up-down unit for moving up and down the second edge grinding block; An image generation module for capturing an image of the first planar mounting portion and the second planar portion while moving in a direction intersecting the conveying path of the panel to generate an image; And a determination module for determining whether the first and second chamfered portions are defective using the image.
에지 그라인딩 시스템의 상기 이미지 생성 모듈은 상기 이송 경로와 교차하는 방향으로 형성되며 상기 패널로부터 이격된 가이드 부재 및 상기 가이드 부재를 따라 이동하는 카메라 모듈을 포함한다.The image generation module of the edge grinding system includes a guide member formed in a direction crossing the conveyance path and spaced from the panel, and a camera module moving along the guide member.
에지 그라인딩 시스템의 상기 카메라 모듈은 상기 패널을 왕복하면서 상기 이미지를 생성한다.The camera module of the edge grinding system creates the image while reciprocating the panel.
에지 그라인딩 시스템에 의해 상기 패널에 형성된 상기 제1 면취부는 상기 이송 경로와 교차하는 방향으로 복수개가 나란하게 형성되고, 상기 제2 면취부는 각각 상기 이송 경로와 교차하는 방향으로 복수개가 나란하게 형성된다.The first chamfered portions formed on the panel by the edge grinding system are formed in parallel to each other in a direction intersecting with the conveyance path, and the second chamfered portions are each formed in parallel in a direction crossing the conveyance path.
에지 그라인딩 시스템은 상기 판별 모듈에 의하여 상기 제1 및 제2 면취부들 중 적어도 하나가 불량일 경우 상기 패널을 분리 배출하기 위한 분리 배출 유닛을 더 포함한다.The edge grinding system further includes a separate discharge unit for separating and discharging the panel when at least one of the first and second chamfered portions is defective by the discrimination module.
에지 그라인딩 시스템의 상기 승하강 모듈에는 상기 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록들을 상기 패널에 대하여 쉬프트 시키는 쉬프트 유닛이 포함된다.The elevating and lowering module of the edge grinding system includes a shift unit for shifting the first and second edge grinding blocks with respect to the panel.
에지 그라인딩 시스템의 상기 제1 에지 그라인딩 블록에는 상기 패널에 상기 제1 면취부를 형성하기 위한 제1 스핀들 비트가 장착되고, 상기 제2 에지 그라인딩 블록에는 상기 제2 면취부를 형성하기 위한 제2 스핀들 비트가 장착된다.The first edge grinding block of the edge grinding system is equipped with a first spindle bit for forming the first chamfered portion on the panel, and a second spindle bit for forming the second chamfered portion is formed on the second edge grinding block Respectively.
에지 그라인딩 시스템의 상기 패널을 상기 이송 경로로 유입시키는 패널 이송 유닛의 일측에는 상기 패널을 상기 패널 이송 유닛으로 제공하는 로더가 배치되고, 상기 패널 이송 유닛의 상기 일측과 대향하는 타측에는 상기 제1 및 제2 면취부들이 형성된 상기 패널을 수용하는 언로더가 배치된다.A loader for providing the panel to the panel transfer unit is disposed on one side of a panel transfer unit for introducing the panel of the edge grinding system into the transfer path, and on the other side opposite to the one side of the panel transfer unit, An unloader is disposed to receive the panel in which the second chamfered portions are formed.
일실시예로서, 에지 그라인딩 검사 방법은 패널을 제1 수평 방향으로 이동시키면서 상기 패널의 제1 영역에 제1 면취부를 형성하는 단계; 상기 패널을 상기 제1 수평방향과 반대 방향인 제2 수평방향으로 이동시키면서 상기 패널의 제2 영역에 제2 면취부를 형성하는 단계; 상기 제1 및 제2 수평방향과 교차하는 방향으로 카메라를 이송시키면서 상기 제1 및 제2 면취부들을 단속적으로 촬영하여 상기 제1 및 제2 면취부들에 대응하는 제1 및 제2 이미지들을 생성하는 단계; 및 In one embodiment, an edge grinding inspection method includes moving a panel in a first horizontal direction and forming a first chamfered portion in a first region of the panel; Forming a second chamfered portion in a second region of the panel while moving the panel in a second horizontal direction opposite to the first horizontal direction; The first and second chamfered portions are intermittently photographed while the camera is transferred in a direction crossing the first and second horizontal directions to generate first and second images corresponding to the first and second chamfered portions step; And
상기 제1 및 제2 이미지들을 분석하여 상기 제1 및 제2 면취부들의 불량 여부를 판단하는 판별 단계를 포함한다.And determining whether the first and second chamfered portions are defective by analyzing the first and second images.
다른 실시예로서, 에지 그라인딩 검사 방법은 패널을 제1 수평방향으로 이동시키면서 상기 패널의 제1 영역에 제1 면취부를 형성하는 단계; 상기 제1 수평방향과 교차하는 방향으로 카메라를 이송시키면서 상기 제1 면취부를 단속적으로 촬영하여 제1 이미지를 생성하는 단계; 상기 패널을 상기 제1 수평방향과 반대 방향인 제2 수평방향으로 이동시키면서 상기 패널의 제2 영역에 제2 면취부를 형성하는 단계; 상기 제2 수평방향과 교차하는 방향으로 상기 카메라를 이송시키면서 상기 제2 면취부를 단속적으로 촬영하여 제2 이미지를 생성하는 단계; 및 상기 제1 및 제2 이미지를 분석하여 상기 제1 및 제2 면취부의 불량 여부를 판단하는 판별 단계를 포함한다.In another embodiment, an edge grinding inspection method includes moving a panel in a first horizontal direction while forming a first chamfered portion in a first region of the panel; Intermittently photographing the first chamfered part while transferring the camera in a direction crossing the first horizontal direction to generate a first image; Forming a second chamfered portion in a second region of the panel while moving the panel in a second horizontal direction opposite to the first horizontal direction; Intermittently photographing the second chamfered part while transferring the camera in a direction crossing the second horizontal direction to generate a second image; And a determining step of analyzing the first and second images to determine whether the first and second face attaching parts are defective.
본 발명에 따른 에지 그라인딩 시스템의 로더, 패널 이송 유닛, 에지 그라인딩 모듈, 이미지 생성 모듈, 판별 모듈 및 언로더 등을 자동화시켜 패널의 단위 PCB들에 면취부를 형성하고 면취부의 상태를 분석하여 패널의 불량 여부를 자동으로 판별함으로써, 패널의 에지 그라인딩 공정 시간을 단축시킬 수 있고 생산성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.The edge grinding module, the image generating module, the discriminating module, and the unloader of the edge grinding system according to the present invention are automated to form chamfer portions on the unit PCBs of the panel, It is possible to shorten the edge grinding process time of the panel and improve the productivity.
또한, 본 발명에 따른 에지 그라인딩 시스템은 에지 그라인딩 모듈을 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록으로 나누고, 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록에 제 1 및 제2 승하강 유닛을 설치하여 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록을 선택하여 면취 공정을 진행함으로써, 패널의 중심을 기준으로 양쪽에 서로 대칭 형상으로 단위 PCB들이 다배열 패널이 투입되더라도 면취 공정에 소요되는 시간을 크게 단축할 수 있는 효과가 있다.Further, the edge grinding system according to the present invention is characterized in that the edge grinding module is divided into first and second edge grinding blocks, first and second edge grinding blocks are provided with first and second rising and descending units, The edge grinding block is selected and the chamfering process is performed so that the time required for the chamfering process can be greatly shortened even if multiple array panels are inserted symmetrically on both sides of the center of the panel.
또한, 본 발명에 따른 에지 그라인딩 시스템은 패널의 단위 PCB들에 형성된 면취부들의 상태를 작업자가 육안으로 확인하지 않고 카메라 모듈을 이용하여 패널의 단위 PCB에 형성된 면취부들의 촬영하고 판별 모듈에서 촬영된 이미지를 분석하여 면취부들의 불량 여부를 판단함으로써, 패널의 불량 여부를 쉽고, 빠르고 정확하게 판별할 수 있는 효과가 있다.In addition, the edge grinding system according to the present invention is an edge grinding system according to the present invention, in which the operator checks the state of the chamfered portions formed on the unit PCBs of the panel by taking pictures of chamfered portions formed on the unit PCB of the panel using the camera module, It is possible to easily, quickly, and accurately determine whether or not the panel is defective by determining whether the chamfered portions are defective by analyzing the image.
또한, 면취 공정이 진행될 때마다 카메라 모듈 및 판별 모듈을 통하여 면취부들의 불량 여부를 판단함으로써, 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록에 설치된 스핀들 비트 등의 손상에 따라 지속적인 면취 불량이 발생되는 것을 방지 수 있는 효과가 있다.Also, every time the chamfering process is performed, whether or not the chamfered portions are defective is determined through the camera module and the discrimination module, thereby preventing the occurrence of continuous chamfering defects due to damage of the spindle bit or the like installed in the first and second edge grinding blocks There is an effect.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 에지 그라인딩 시스템을 도시한 측면도이다.
도 2는 도 1의 평면도이다.
도 3은 도 1의 에지 그라인딩 모듈의 정면도이다.
도 4는 단위 PCB들이 대칭 형상으로 배치된 패널을 도시한 평면도이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 에지 그라인딩 검사 방법을 도시한 순서도이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 에지 그라인딩 검사 방법을 도시한 순서도이다.1 is a side view illustrating an edge grinding system according to an embodiment of the present invention.
2 is a plan view of Fig.
Figure 3 is a front view of the edge grinding module of Figure 1;
4 is a plan view showing a panel in which unit PCBs are arranged in a symmetrical shape.
5 is a flowchart illustrating an edge grinding test method according to an embodiment of the present invention.
6 is a flowchart showing an edge grinding test method according to another embodiment of the present invention.
하기의 설명에서는 본 발명의 실시 예를 이해하는데 필요한 부분만이 설명되며, 그 이외 부분의 설명은 본 발명의 요지를 흩트리지 않도록 생략될 것이라는 것을 유의하여야 한다.In the following description, only parts necessary for understanding the embodiments of the present invention will be described, and the description of other parts will be omitted so as not to obscure the gist of the present invention.
이하에서 설명되는 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념으로 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 바람직한 실시예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.The terms and words used in the present specification and claims should not be construed as limited to ordinary or dictionary meanings and the inventor is not limited to the meaning of the terms in order to describe his invention in the best way. It should be interpreted as meaning and concept consistent with the technical idea of the present invention. Therefore, the embodiments described in the present specification and the configurations shown in the drawings are merely preferred embodiments of the present invention, and are not intended to represent all of the technical ideas of the present invention, so that various equivalents And variations are possible.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 에지 그라인딩 시스템을 도시한 측면도이다. 도 2는 도 1의 평면도이다. 도 3은 도 1의 에지 그라인딩 모듈의 정면도이다.1 is a side view illustrating an edge grinding system according to an embodiment of the present invention. 2 is a plan view of Fig. Figure 3 is a front view of the edge grinding module of Figure 1;
도 1 내지 도 3을 참조하면, 에지 그라인딩 시스템(800)은 에지 그라인딩 모듈(100), 승하강 모듈(200), 이미지 생성 모듈(300) 및 판별 모듈(400)을 포함한다. 이에 더하여 에지 그라인딩 시스템(800)은 패널 이송 유닛(500), 로더(loader;600), 언로더(unloader;700)을 포함할 수 있다.1 to 3, the
도 2에서 로더(600)로부터 언로더(700)를 향하는 방향은 설명의 편의상 X 방향으로 정의하고, X 방향과 수직한 방향, 즉, 패널(1)이 에지 그라인딩 모듈 쪽으로 이동되는 방향은 설명의 편의상 Y 방향으로 정의하기로 한다. 또한, X 방향 및 Y 방향에 의하여 형성된 XY 평면에 대하여 수직한 방향은 설명의 편의상 Z 방향으로 정의된다.2, the direction from the
로더(600)는 에지 그라인딩 모듈(100)에서 면취 공정(chamfer process)이 수행될 단위 PCB들이 형성된 패널(1; 도 4 참조)들이 수납된다.The
로더(600)로부터 X 방향으로 이격된 곳에 배치된 언로더(700)는 에지 그라인딩 모듈(100)에서 면취 공정이 수행된 단위 PCB들이 형성된 패널(1)들이 수납된다.The
언로더(700)에는 에지 그라인딩 모듈(100)에서 면취 공정이 수행된 후 양품 패널들만 수납되며, 에지 그라인딩 모듈(100)에 면취 공정 중 불량이 발생된 불량품 패널들은 언로더(700)에 수납되지 않고 별도 불량품 적재함(750) 등에 별도로 수납된다.In the
본 발명의 일실시예에서, 로더(600) 및 언로더(700)는 면취 공정을 자동화 공정이 진행될 수 있도록 한다.In an embodiment of the present invention, the
도 2 및 도 3을 참조하면, 로더(600) 및 언로더(700)의 사이에는 패널 이송 유닛(500)이 배치된다.Referring to FIGS. 2 and 3, a
패널 이송 유닛(500)은 가이드 레일(510), 지지 플레이트(520) 및 구동 유닛(540)을 포함한다.The
가이드 레일(510)는 Y 방향을 따라 배치되며 Z 방향으로 세워진 플레이트 형상을 갖고, 가이드 레일(510)는 한 쌍이 상호 평행하게 베이스 부재의 상면에 배치된다.The
지지 플레이트(520)는 가이드 레일(510)의 상단에 슬라이드 가능하게 결합되며, 지지 플레이트(520)는 가이드 레일(510)를 따라 Y 방향으로 이동된다.The
지지 플레이트(520)의 상면에는 로더(600)로부터 제공된 패널(1)이 놓여지며, 패널(1)은 지지 플레이트(520)의 상면에 고정된다. 지지 플레이트(520)가 Y 방향으로 이동됨에 따라 지지 플레이트(520) 상면에 고정된 패널(1) 역시 도 2에 도시된 바와 같이 Y 방향으로 이동된다.A
구동 유닛(540)은, 예를 들어, 한쌍의 가이드 레일(510)들 사이에 설치되며 상기 베이스 부재의 상면에 고정되어 지지 플레이트(520)를 Y 방향으로 이송하는 역할을 한다.The
구동 유닛(540)은, 예를 들어, Y 방향으로 직선 왕복 운동 하는 다양한 직선왕복 장치들이 사용될 수 있다.As the
본 발명의 일실시예에서의 구동 유닛(540)은, 예를 들어, 상기 베이스 부재에 고정된 제1 실린더 몸체(542) 및 제1 실린더 몸체(542)에 결합되어 Y 방향으로 직선 왕복 운동하는 제1 실린더 로드(544)를 포함할 수 있다.The
도 2 및 도 3을 참조하면, 에지 그라인딩 모듈(100)은 패널 이송 유닛(500)으로부터 Y 방향으로 이격된 위치에 배치된다.2 and 3, the
또한, 에지 그라인딩 모듈(100)은 패널 이송 유닛(500)으로부터 Z 방향으로 소정 간격 이격된 위치에 배치된다.In addition, the
에지 그라인딩 모듈(100)은 제1 에지 그라인딩 블록(120) 및 제2 에지 그라인딩 블록(140)을 포함한다.The
본 발명의 일실시예에서, 에지 그라인딩 모듈(100)을 제1 에지 그라인딩 블록(120) 및 제2 에지 그라인딩 블록(140)으로 구분하여 설치한 것은 도 4에 도시된 패널(1)의 중심선(3)을 기준으로 좌측에 복수개가 배치된 단위 PCB(5)들 및 중심선(3)을 기준으로 우측에 단위 PCB(5)들과 대칭 형태로 배치된 단위 PCB(7)들에 순차적으로 면취부를 형성할 수 있도록 하기 위함이다.In one embodiment of the present invention, the
물론 에지 그라인딩 모듈(100)을 제1 에지 그라인딩 블록(120) 및 제2 에지 그라인딩 블록(140)으로 구분할 경우, 패널(1)에 단위 PCB(5) 및 단위 PCB(7)들이 대칭 형상으로 배치되지 않더라도 면취부를 형성할 수 있다.Of course, when the
지지 플레이트(520)와 마주하는 제1 에지 그라인딩 블록(120)의 하단에는 제1 스핀들 비트(122)들이 장착된다. 제1 에지 그라인딩 블록(120)의 제1 스핀들 비트(122)들은 도 4의 단위 PCB(5)들의 개수와 동일한 개수로 장착된다.
제1 에지 그라인딩 블록(120)의 하단에 설치된 제1 스핀들 비트(122)들은, 예를 들어, 제1 방향으로 고속 회전하면서 패널(1)의 단위 PCB(5)들에 면취부를 형성한다.The
제1 에지 그라인딩 블록(120)의 하단에는 제1 스핀들 비트(122)가 패널(1)의 단위 PCB(5)에 면취부를 형성할 때 패널(1)의 상면을 눌러 패널(1)의 흔들림을 방지하는 패널 가압 롤러(미도시)가 배치될 수 있다.When the
패널 가압 롤러는, 예를 들어, 제1 스핀들 비트(122)들 사이에 배치된다.The panel pressure roller is disposed, for example, between the
지지 플레이트(520)와 마주하는 제2 에지 그라인딩 블록(140)의 하단에는 제2 스핀들 비트(142)들이 장착된다. 제2 에지 그라인딩 블록(140)들의 제2 스핀들 비트(142)들은 도 4의 중심선(3)의 우측에 형성된 단위 PCB(7)들의 개수와 동일한 개수로 장착된다.
제2 에지 그라인딩 블록(140)들의 하단에 설치된 제2 스핀들 비트(142)들은 제2 방향, 예를 들어, 제1 스핀들 비트(142)들의 회전방향과 반대되는 방향으로 고속 회전하면서 패널(1)의 단위 PCB(7)들에 면취부를 형성한다.The
제2 에지 그라인딩 블록(140)의 하단에는 제2 스핀들 비트(142)가 패널(1)의 단위 PCB(7)에 면취부를 형성할 때 패널(1)의 상면을 눌러 패널(1)의 흔들림을 방지하는 패널 가압 롤러(미도시)가 배치될 수 있다.When the
패널 가압 롤러는, 예를 들어, 제1 스핀들 비트(142)들 사이에 배치된다.The panel pressure roller is disposed, for example, between the
한편, 제1 에지 그라인딩 블록(120)의 하단에 배치된 제1 스핀들 비트(122)들 사이의 간격은 도 4에 도시된 패널(1)의 좌측에 형성된 단위 PCB(5)들 사이의 간격(A)과 동일하고, 제2 에지 그라인딩 블록(140)의 하단에 배치된 제2 스핀들 비트(142)들 사이의 간격은 도 4에 도시된 패널(1)의 우측에 형성된 단위 PCB(7)들 사이의 간격(B)과 동일하다.The interval between the
본 발명의 일실시예에서, 에지 그라인딩 모듈(100)을 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록(120,140)으로 분리할 경우, 패널(1)의 중심선(3)의 양쪽에 마주하게 배치된 단위 PCB(5,7)들의 사이 간격(C)이 간격 A 및 간격 B과 다르더라도 제1 및 제2 에지 그라이딩 블록(120.140)들을 이용하여 제1 및 제2 스핀들 비트(122,142)로 패널(1)의 단위 PCB(5,7)들에 각각 면취부를 형성할 수 있다.In one embodiment of the present invention, when the
본 발명의 일실시예에서, 도 4에 도시된 패널(1)의 단위 PCB(5)들 사이의 간격 A, 패널(1)의 단위 PCB(7)들 사이의 간격 B가 동일하고, 간격 C가 다르더라도 패널(1)의 단위 PCB(5,7)에 면취부를 각각 형성하기 위해서 에지 그라인딩 모듈(100)에는 승하강 모듈(200)이 배치된다.In an embodiment of the present invention, the interval A between the
승하강 모듈(200)은 제1 승하강 유닛(220) 및 제2 승하강 유닛(240)을 포함한다. 이에 더하여 승하강 모듈(200)은 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록(120, 140)을 패널(1)의 단위 PCB(5,7)에 대하여 쉬프트시키는 쉬프트 유닛(260)을 포함한다. The ascending / descending module 200 includes a first ascending and descending
제1 승하강 유닛(220)은 제1 에지 그라인딩 블록(120) 및 쉬프트 유닛(260) 사이에 Z 방향으로 세워져 설치되어 제1 에지 그라인딩 블록(120)의 상단과 쉬프트 유닛(260)을 연결시킨다.The first up / down
제1 승하강 유닛(220)은 제1 스핀들 비트(122)들이 패널(1)의 단위 PCB(5)들에 면취부를 형성할 수 있도록 제1 에지 그라인딩 블록(120)을 Z 방향으로 상승/하강시키는 역할을 한다.The first elevating and lowering
제2 승하강 유닛(240)은 제2 에지 그라인딩 블록(140) 및 쉬프트 유닛(260) 사이에 Z 방향으로 세워져 설치되어 제2 에지 그라인딩 블록(140)의 상단과 쉬프트 유닛(260)을 연결시킨다.The second ascending /
제2 승하강 유닛(240)은 제2 스핀들 비트(142)들이 패널(1)의 단위 PCB(7)들에 면취부들을 형성할 수 있도록 제2 에지 그라인딩 블록(140)을 Z 방향으로 상승/하강시키는 역할을 한다.The second ascending /
제1 및 제2 승하강 유닛(220,240)은, 예를 들어, Z 방향으로 수직 왕복 운동 하는 다양한 수직왕복 장치들이 사용될 수 있다.The first and second ascending / descending
본 발명의 일실시예에서의 제1 및 제2 승하강 유닛(220,240)은, 예를 들어, 상기 쉬프트 유닛(260)에 고정된 제2 실린더 몸체(222,242) 및 제2 실린더 몸체(222,224)와 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록(120,140)에 결합되어 Z 방향으로 수직 왕복 운동하는 제2 실린더 로드(224,244)를 포함할 수 있다.The first and second ascending / descending
쉬프트 유닛(260)은 제1 가이드부(262) 및 제1 구동부(264)를 포함한다.The
제1 가이드부(262)는 지지 플레이트(520)를 가로 지르도록 X 방향으로 길게 형성되며, 제1 가이드부(262)에는 제1 및 제2 승하강 유닛(220, 240)이 고정된다.The
제1 구동부(264)는 제1 가이드부(262)에 결합되어 제1 및 제2 승하강 유닛(220,240)을 X 방향으로 이동시키는 역할을 한다.The
제1 구동부(264)에 의해 제1 및 제2 승하강 유닛(220,240)이 X 방향으로 이동하면, 제1 및 제2 승하강 유닛(220,240)에 고정된 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록(120,140)도 함께 이동되어 패널(1)에 면취부가 형성될 부분과 제1 및 제2 스핀들 비트(122,142)들이 정렬된다.When the first and
쉬프트 유닛(260)은, 예를 들어, X 방향으로 직선 왕복 운동 하는 다양한 직선왕복 장치들이 사용될 수 있다.The
도 2 및 도 3을 참조하면, 이미지 생성 모듈(300)은 패널 이송 유닛(500)으로부터 Z 방향으로 소정 간격 이격된 위치에 배치된다.2 and 3, the
또한, 이미지 생성 모듈(300)은 패널 이송 유닛(500)으로부터 Y 방향으로 이격된 위치에 배치되어 도 2에 도시된 평면도로 보았을 때 이미지 생성 모듈(300)은 패널 이송 유닛(500) 및 에지 그라인딩 모듈(100) 사이에 위치한다.2, the
이미지 생성 모듈(300)는 가이드 부재(320) 및 카메라 모듈(340)을 포함한다.The
가이드 부재(320)는 패널(1)의 단위 PCB(5)에 형성된 면취부의 상태를 확인하기 위해 카메라 모듈(340)을 X 방향으로 이동시키는 역할을 한다.The
가이드 부재(320)는 제2 가이드부(322) 및 제2 구동부(324)를 포함한다.The
제2 가이드부(322)는 패널 이송 유닛(500)에 놓여진 패널(1)로부터 Z 방향으로 이격되도록 배치되며, 제2 가이드부(322)는 지지 플레이트(520)를 가로 지르는 X 방향으로 길게 형성된다.The
제2 구동부(324)는 제2 가이드부(322)에 설치되며, 제2 구동부(324)는 패널(1)의 단위 PCB(5,7)에 면취부가 형성되면, 카메라 모듈(340)을 X 방향으로 이동시키는 역할을 한다.The
가이드 부재(320)은, 예를 들어, X 방향으로 직선 왕복 운동 하는 다양한 직선왕복 장치들이 사용될 수 있다.As the
카메라 모듈(340)은 제2 가이드부(322)에 설치되고, 제2 구동부(324)에 의해 제2 가이드부(322)를 따라 X 방향으로 왕복 이동하면서 패널(1)의 단위 PCB(5,7)에 형성된 면취부들을 촬영하여 이미지를 생성한다.The
판별 모듈(400)은 카메라 모듈(340)과 전기적으로 연결되어 카메라 모듈(340)에서 전송된 이미지를 판별하여 제1 및 제2 스핀들 비트(122,142)의 마모 상태, 제1 및 제2 스핀들 비트(122,142)들이 교환 유무 및 패널(1)의 단위 PCB(5,7)에 생성된 면취부들의 상태 등을 확인한다.The
또한, 판별 모듈(400)은 언로더(700) 및 불량품 적재함(750)과 전기적으로 연결되어 판별 모듈(400)에서 판별된 양품 패널들은 언로더(700)에 수납되도록 하고, 판별 모듈(400)에서 판별된 불량품 패널들은 불량품 적재함(750)에 수납되도록 한다.The
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 에지 그라인딩 검사 방법을 도시한 순서도이다. 도 5를 참조하여, 에지 그라인딩 시스템(800)의 에지 그라인딩 검사 방법을 설명한다.5 is a flowchart illustrating an edge grinding test method according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 5, a method of edge grinding inspection of
로더(600)에 적재된 패널들 중 하나의 패널, 예를 들어, 도 4에 도시된 패널(1)의 중심선(3)을 기준으로 패널(1)의 좌측 부분과 우측 부분에 단위 PCB(5,7)들이 서로 대칭되도록 복수개가 배치된 패널(1)을 패널 이송 유닛(500)으로 이송시켜 지지 플레이트(520) 위에 올려 놓는다.The
에지 그라인딩 시스템(800)의 자동화로 인해 면취 공정이 진행될 패널(1)은 로더(600)에서 패널 이송 유닛(500)으로 자동으로 이송된다.The
면취 공정이 진행될 패널(1)이 지지 플레이트(520)에 놓여지면, 패널 이송 유닛(500)의 구동 유닛(540)을 구동시켜 패널(1)이 놓여진 지지 플레이트(520)를 Y 방향, 예를 들어, 에지 그라인딩 모듈(200)이 배치된 방향으로 이동시킴과 아울러 제1 승하강 유닛(220)을 하강시켜 패널(1)의 좌측에 형성된 각각의 단위 PCB(5)들에 제1 면취부를 형성한다.(S1010)When the
이후, 제1 에지 그라인딩 블록(120)을 상승시켜 패널로부터 제1 스핀들 피트(122)들을 분리시키며, 쉬프트 유닛(260)의 제1 구동부(264)를 구동시켜 제1 및 2 승하강 유닛(220,240)을 X 방향, 예를 들어, 로더(600)가 배치된 방향으로 이송시킨다.The first
그러면, 제1 및 제2 승하강 유닛(220, 240)에 고정된 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록(120,140))이 패널(1)을 따라 쉬프트되어 제2 에지 그라인딩 블록(140)의 하단에 배치된 제2 스핀들 비트(142)들이 패널(1)의 단위 PCB(7)들의 단자들 부분에 정렬된다.The first and second
이어서, 제1 면취부가 형성된 패널(1)이 놓여진 지지 플레이트(520)를 Y 방향, 예를 들어, 에지 그라인딩 모듈(200)이 배치된 방향과 반대되는 방향으로 이동시킴과 아울러 제2 승하강 유닛(240)을 하강시켜 패널(1)의 우측에 형성된 각각의 단위 PCB(7)들에 제2 면취부를 형성한다.(S1020)Next, the
패널(1)에 제1 및 제2 면취부가 형성되면, 이미지 생성 모듈(300)의 제2 구동부(324)를 구동시킨다. 그러면, 카메라 모듈(340)이 제2 가이드부(322)를 따라 X 방향으로 이동하면서 패널(1)의 단위 PCB(5,7)들에 형성된 제1 및 제2 면취부들을 단속적으로 촬영하여 제1 및 제2 면취부에 대응하는 제1 및 제2 이미지를 생성한다.(S1030)When the first and second chamfered portions are formed on the
예를 들어, 제1 및 제2 이미지는 패널(1)의 단위 PCB(5,7)들에 형성된 제1 및 제2 면취부들 각각을 촬영하여 생성하거나, 지정된 위치의 제1 및 제2 면취부만을 촬영하여 생성된다.For example, the first and second images may be obtained by photographing each of the first and second chamfered portions formed on the
카메라 모듈(340)에 의해 생성된 제1 및 제2 면취부들의 이미지는 판별 모듈(400)로 전송되고, 판별 모듈(400)은 입력된 제1 및 제2 면취부들의 이미지를 분석하여 제1 및 제2 면취부들의 불량 유무를 판별한다.(S1040)The images of the first and second chamfered portions generated by the
판별 모듈(400)은 제1 및 제2 면취부들의 불량 유무뿐 아니라, 제1 및 제2 스핀들 비트(122,142)의 마모 상태 및 제1 및 제2 스핀들 비트(122,142)들이 교체 유무 등도 판별할 수도 있다.The
제1 및 제2 면취부들의 불량 유무가 판별된 패널(1)은 언로더(700) 또는 불량품 적재함(750)으로 자동으로 이송된다.The
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 에지 그라인딩 검사 방법을 도시한 순서도이다. 도 6을 참조하여, 에지 그라인딩 시스템(800)의 에지 그라인딩 검사 방법을 설명한다.6 is a flowchart showing an edge grinding test method according to another embodiment of the present invention. Referring to FIG. 6, a method of edge grinding inspection of
로더(600)에 적재된 패널들 중 하나의 패널, 예를 들어, 도 4에 도시된 패널(1)의 중심선(3)을 기준으로 패널(1)의 좌측 부분과 우측 부분에 단위 PCB(5,7)들이 서로 대칭되도록 복수개가 배치된 패널(1)을 패널 이송 유닛(500)으로 이송시켜 지지 플레이트(520) 위에 올려 놓는다.The
에지 그라인딩 시스템(800)의 자동화로 인해 면취 공정이 진행될 패널(1)은 로더(600)에서 패널 이송 유닛(500)으로 자동으로 이송된다.The
면취 공정이 진행될 패널이 지지 플레이트(520)에 놓여지면, 패널 이송 유닛(500)의 구동 유닛(540)을 구동시켜 패널(1)이 놓여진 지지 플레이트(520)를 Y 방향, 예를 들어, 에지 그라인딩 모듈(200)이 배치된 방향으로 이동시킴과 아울러 제1 승하강 유닛(220)을 하강시켜 패널(1)의 좌측에 형성된 각각의 단위 PCB(5)들에 제1 면취부를 형성한다.(S1110)When the panel on which the chamfering process is to be performed is placed on the
패널(1)에 좌측에 제1 면취부들이 형성되면, 이미지 생성 모듈(300)의 제2 구동부(324)를 구동시킨다. 그러면, 카메라 모듈(340)이 제2 가이드부(322)를 따라 X 방향으로 이동하면서 패널(1)의 좌측에 형성된 단위 PCB(5)들의 제1 면취부들을 단속적으로 촬영하여 제1 면취부들에 대응하는 제1 이미지들을 생성한다.(S1120)When the first chamfered portions are formed on the left side of the
이후, 제1 에지 그라인딩 블록(120)을 상승시켜 패널로부터 제1 스핀들 피트(122)들을 분리시키며, 쉬프트 유닛(260)의 제1 구동부(264)를 구동시켜 제1 및 2 승하강 유닛(220,240)을 X 방향, 예를 들어 로더(600)가 배치된 방향으로 이송시킨다.The first
그러면, 제1 및 제2 승하강 유닛(220, 240)에 고정된 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록(120,140))이 패널(1)을 따라 쉬프트되어 제2 에지 그라인딩 블록(140)의 하단에 배치된 제2 스핀들 비트(142)들이 패널(1)의 단위 PCB(7)들의 단자들 부분에 정렬된다The first and second
이어서, 패널 이송 유닛(500)의 구동 유닛(540)을 다시 구동시켜 제1 면취부가 형성된 패널(1)이 놓여진 지지 플레이트(520)를 Y 방향, 예를 들어, 에지 그라인딩 모듈(200)이 배치된 방향과 반대되는 방향으로 이동시킴과 아울러 제2 승하강 유닛(240)을 하강시켜 패널(1)의 우측에 형성된 각각의 단위 PCB(7)들에 제2 면취부를 형성한다.(S1130)The driving
패널(1)에 우측에 제2 면취부들이 형성되면, 이미지 생성 모듈(300)의 제2 구동부(324)를 다시 구동시킨다. 그러면, 카메라 모듈(340)이 제2 가이드부(322)를 따라 X 방향으로 이동하면서 패널(1)의 우측에 형성된 단위 PCB(7)들의 제2 면취부들을 단속적으로 촬영하여 제2 면취부들에 대응하는 제2 이미지들을 생성한다.(S1140)When the second chamfered portions are formed on the right side of the
카메라 모듈(340)에 의해 생성된 제1 및 제2 면취부들의 이미지는 판별 모듈(400)로 전송되고, 판별 모듈(400)은 입력된 제1 및 제2 면취부들의 이미지를 분석하여 제1 및 제2 면취부들의 불량 유무를 판별한다.(S1150)The images of the first and second chamfered portions generated by the
판별 모듈(400)은 제1 및 제2 면취부들의 불량 유무뿐 아니라, 제1 및 제2 스핀들 비트(122,142)의 마모 상태 및 제1 및 제2 스핀들 비트(122,142)들이 교체 유무 등도 판별할 수도 있다.The
제1 및 제2 면취부들의 불량 유무가 판별된 패널(1)은 언로더(700) 또는 불량품 적재함(750)으로 자동 이송된다.The
이상에서 상세하게 설명한 바에 의하면, 에지 그라인딩 시스템의 로더, 패널 이송 유닛, 에지 그라인딩 모듈, 이미지 생성 모듈, 판별 모듈 및 언로더 등을 자동화시켜 패널의 단위 PCB들에 면취부를 형성하고 면취부의 상태를 분석하여 패널의 불량 여부를 자동으로 판별함으로써, 패널의 에지 그라인딩 공정 시간을 단축시킬 수 있고 생산성을 향상시킬 수 있다.As described in detail above, the chamfered portion is formed on the unit PCBs of the panel by automating the loader, the panel transfer unit, the edge grinding module, the image generating module, the discriminating module and the unloader of the edge grinding system, By automatically determining whether the panel is defective, the edge grinding process time of the panel can be shortened and the productivity can be improved.
또한, 에지 그라인딩 시스템은 에지 그라인딩 모듈을 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록으로 나누고, 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록에 제 1 및 제2 승하강 유닛을 설치하여 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록을 선택하여 면취 공정을 진행함으로써, 패널의 중심을 기준으로 양쪽에 서로 대칭 형상으로 단위 PCB들이 다배열 패널이 투입되더라도 면취 공정에 소요되는 시간을 크게 단축할 수 있다.In addition, the edge grinding system divides the edge grinding module into first and second edge grinding blocks, and first and second edge grinding blocks are installed in the first and second edge grinding blocks to form first and second edge grinding blocks The chamfering process is performed so that the time required for the chamfering process can be greatly shortened even if multiple array panels are inserted in symmetrical shapes on both sides of the center of the panel.
또한, 에지 그라인딩 시스템은 패널의 단위 PCB들에 형성된 면취부들의 상태를 작업자가 육안으로 확인하지 않고 카메라 모듈을 이용하여 패널의 단위 PCB에 형성된 면취부들의 촬영하고 판별 모듈에서 촬영된 이미지를 분석하여 면취부들의 불량 여부를 판단함으로써, 패널의 불량 여부를 쉽고, 빠르고 정확하게 판별할 수 있다.In addition, the edge grinding system photographs the chamfered portions formed on the unit PCB of the panel using the camera module without analyzing the state of the chamfered portions formed on the unit PCBs of the panel by the operator, and analyzes the photographed image by the discrimination module It is possible to easily, quickly, and accurately determine whether or not the panel is defective by judging whether or not the chamfered portions are defective.
또한, 면취 공정이 진행될 때마다 카메라 모듈 및 판별 모듈을 통하여 면취부들의 불량 여부를 판단함으로써, 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록에 설치된 스핀들 비트 등의 손상에 따라 지속적인 면취 불량이 발생되는 것을 방지 수 있다.Also, every time the chamfering process is performed, whether or not the chamfered portions are defective is determined through the camera module and the discrimination module, thereby preventing the occurrence of continuous chamfering defects due to damage of the spindle bit or the like installed in the first and second edge grinding blocks have.
한편, 본 도면에 개시된 실시예는 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시예 이외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형예들이 실시 가능하다는 것은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게는 자명한 것이다.It should be noted that the embodiments disclosed in the drawings are merely examples of specific examples for the purpose of understanding, and are not intended to limit the scope of the present invention. It will be apparent to those skilled in the art that other modifications based on the technical idea of the present invention are possible in addition to the embodiments disclosed herein.
1....패널 100....에지 그라인딩 모듈
200....승하강 모듈 300....이미지 생성 모듈
400....판별 모듈 500....패널 이송 유닛
600....로더 700....언로더
750....불량품 적재함 800....에지 그라인딩 시스템1 ....
200 .... ascending /
400 ....
600 ....
750 ....
Claims (10)
상기 제1 에지 그라인딩 블록을 승하강 시키는 제1 승하강 유닛 및 상기 제2 에지 그라인딩 블록을 승하강 시키는 제2 승하강 유닛을 포함하는 승하강 모듈;
상기 패널의 이송 경로와 교차하는 방향으로 이동하면서 상기 제1 면취부 및 상기 제2 면취부를 촬영하여 이미지를 생성하는 이미지 생성 모듈; 및
상기 이미지를 이용하여 상기 제1 및 제2 면취부들의 불량 여부를 판별하는 판별 모듈을 포함하는 에지 그라인딩 시스템.An edge grinding machine including a first edge grinding block disposed on a transfer path of the panel to form a first chamfered portion in a first region of the panel and a second edge grinding block forming a second chamfered portion in a second region of the panel, module;
An up-down module including a first up-down unit for moving up and down the first edge grinding block and a second up-down unit for moving up and down the second edge grinding block;
An image generation module for capturing an image of the first planar mounting portion and the second planar portion while moving in a direction intersecting the conveying path of the panel to generate an image; And
And a determination module for determining whether the first and second chamfered portions are defective using the image.
상기 이미지 생성 모듈은 상기 이송 경로와 교차하는 방향으로 형성되며 상기 패널로부터 이격된 가이드 부재 및 상기 가이드 부재를 따라 이동하는 카메라 모듈을 포함하는 에지 그라인딩 시스템.The method according to claim 1,
Wherein the image generation module includes a guide member spaced from the panel and formed in a direction crossing the transport path, and a camera module moving along the guide member.
상기 이미지 생성 모듈의 상기 카메라 모듈은 상기 패널을 왕복하면서 상기 이미지를 생성하는 에지 그라인딩 시스템.3. The method of claim 2,
Wherein the camera module of the image generation module generates the image while reciprocating the panel.
상기 제1 면취부는 상기 이송 경로와 교차하는 방향으로 복수개가 나란하게 형성되고, 상기 제2 면취부는 각각 상기 이송 경로와 교차하는 방향으로 복수개가 나란하게 형성된 에지 그라인딩 시스템.The method according to claim 1,
Wherein the first chamfered portions are formed in parallel to each other in a direction intersecting with the conveyance path, and the second chamfered portions are each provided in parallel in a direction crossing the conveyance path.
상기 판별 모듈에 의하여 상기 제1 및 제2 면취부들 중 적어도 하나가 불량일 경우 상기 패널을 분리 배출하기 위한 분리 배출 유닛을 더 포함하는 에지 그라인딩 시스템.The method according to claim 1,
Further comprising a separation and discharge unit for separating and discharging the panel when at least one of the first and second chamfered portions is defective by the determination module.
상기 승하강 모듈에는 상기 제1 및 제2 에지 그라인딩 블록들을 상기 패널에 대하여 쉬프트 시키는 쉬프트 유닛이 포함되는 에지 그라인딩 시스템.The method according to claim 1,
Wherein the elevating and lowering module includes a shift unit for shifting the first and second edge grinding blocks with respect to the panel.
상기 제1 에지 그라인딩 블록에는 상기 패널에 상기 제1 면취부를 형성하기 위한 제1 스핀들 비트가 장착되고, 상기 제2 에지 그라인딩 블록에는 상기 제2 면취부를 형성하기 위한 제2 스핀들 비트가 장착된 에지 그라인딩 시스템.The method according to claim 1,
Wherein the first edge grinding block is provided with a first spindle bit for forming the first chamfered portion on the panel, and the second edge grinding block is provided with an edge grinding having a second spindle bit for forming the second chamfered portion, system.
상기 패널을 상기 이송 경로로 유입시키는 패널 이송 유닛의 일측에는 상기 패널을 상기 패널 이송 유닛으로 제공하는 로더가 배치되고, 상기 패널 이송 유닛의 상기 일측과 대향하는 타측에는 상기 제1 및 제2 면취부들이 형성된 상기 패널을 수용하는 언로더가 배치된 에지 그라인딩 장치.The method according to claim 1,
A panel transfer unit for introducing the panel into the conveyance path is provided with a loader for providing the panel to the panel transfer unit, and on the other side opposite to the one side of the panel transfer unit, the first and second chamfers And an unloader for receiving the panel formed with the unloader.
상기 패널을 상기 제1 수평방향과 반대 방향인 제2 수평방향으로 이동시키면서 상기 패널의 제2 영역에 제2 면취부를 형성하는 단계;
상기 제1 및 제2 수평방향과 교차하는 방향으로 카메라를 이송시키면서 상기 제1 및 제2 면취부들을 단속적으로 촬영하여 상기 제1 및 제2 면취부들에 대응하는 제1 및 제2 이미지들을 생성하는 단계; 및
상기 제1 및 제2 이미지들을 분석하여 상기 제1 및 제2 면취부들의 불량 여부를 판단하는 판별 단계를 포함하는 에지 그라인딩 검사 방법.Forming a first chamfered portion in a first region of the panel while moving the panel in a first horizontal direction;
Forming a second chamfered portion in a second region of the panel while moving the panel in a second horizontal direction opposite to the first horizontal direction;
The first and second chamfered portions are intermittently photographed while the camera is transferred in a direction crossing the first and second horizontal directions to generate first and second images corresponding to the first and second chamfered portions step; And
And determining whether the first and second chamfered portions are defective by analyzing the first and second images.
상기 제1 수평방향과 교차하는 방향으로 카메라를 이송시키면서 상기 제1 면취부를 단속적으로 촬영하여 제1 이미지를 생성하는 단계;
상기 패널을 상기 제1 수평방향과 반대 방향인 제2 수평방향으로 이동시키면서 상기 패널의 제2 영역에 제2 면취부를 형성하는 단계;
상기 제2 수평방향과 교차하는 방향으로 상기 카메라를 이송시키면서 상기 제2 면취부를 단속적으로 촬영하여 제2 이미지를 생성하는 단계; 및
상기 제1 및 제2 이미지를 분석하여 상기 제1 및 제2 면취부의 불량 여부를 판단하는 판별 단계를 포함하는 에지 그라인딩 검사 방법.Forming a first chamfered portion in a first region of the panel while moving the panel in a first horizontal direction;
Intermittently photographing the first chamfered part while transferring the camera in a direction crossing the first horizontal direction to generate a first image;
Forming a second chamfered portion in a second region of the panel while moving the panel in a second horizontal direction opposite to the first horizontal direction;
Intermittently photographing the second chamfered part while transferring the camera in a direction crossing the second horizontal direction to generate a second image; And
And judging whether or not the first and second surface mounting portions are defective by analyzing the first and second images.
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Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100832297B1 (en) * | 2002-12-17 | 2008-05-26 | 엘지디스플레이 주식회사 | Polishing amount measuring device and measuring method of liquid crystal display panel |
JP4923746B2 (en) * | 2006-05-31 | 2012-04-25 | 坂東機工株式会社 | Glass plate grinding equipment |
-
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Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20100038594A (en) | 2008-10-06 | 2010-04-15 | 박운용 | Appratus for chamfering the terminal part of printed circuit board |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112405170A (en) * | 2020-10-19 | 2021-02-26 | 绍兴上虞锴达电子有限公司 | Multi-functional environment-friendly circuit board manufacture equipment |
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