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KR20160025199A - X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템, 방법 및 그 방법을 기록한 기록매체 - Google Patents

X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템, 방법 및 그 방법을 기록한 기록매체 Download PDF

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KR20160025199A
KR20160025199A KR1020140112088A KR20140112088A KR20160025199A KR 20160025199 A KR20160025199 A KR 20160025199A KR 1020140112088 A KR1020140112088 A KR 1020140112088A KR 20140112088 A KR20140112088 A KR 20140112088A KR 20160025199 A KR20160025199 A KR 20160025199A
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ray
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ray apparatus
distance
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김희중
이영진
최성훈
이행화
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연세대학교 원주산학협력단
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Abstract

X선 장치에서 방사되는 방사선의 산란선 분포를 측정하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템 및 그의 산란선 분포 측정 방법이 개시된다.
본 발명에서는 X선 조사와 관계되는 형상 변수(상기 X선 장치의 X선관에서 X선이 발생하는 지점인 초점 (Focus)과 빔스탑 어레이가 놓여있는 지점간의 거리(FOD), 빔스탑 어레이와 영상검출기 (image)간의 거리(OID) 및 상기 빔스탑 어레이에서 임의의 빔스탑 (A)과 인접한 빔스탑 (B)간의 거리(d))를 입력받는다. 다음, 제어부가 상기 형상 변수를 메모리에 저장하고, 표시부에 촬영해야할 영상 정보를 표시한다. 이후, 사용자가 X선 조사를 선택하여 X선 장치에서 조사가 되면, 영상 검출기가 빔스탑 영상을 획득하여 출력하고, 상기 제어부가 빔스탑 영상을 수신하고, 상기 제어부가 상기 빔스탑 영상에서 예상 중심점을 계산하여 상기 표시부에 표시한다.

Description

X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템, 방법 및 그 방법을 기록한 기록매체{X-ray scattering measurement system, Method thereof and Saving device saving that method}
본 발명은 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템, 방법 및 그 방법을 기록한 기록매체에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 선원과 피사체 또는 검출기간의 거리 등을 고려하여 산란선의 위치나 분포 등을 정확하게 찾아줌으로써 산란선 값 측정을 용이하게 해주는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템, 방법 및 그 방법을 기록한 기록매체에 관한 것이다.
일반적으로, X-선을 이용한 의료용 영상화에는 10 keV 내지 200 keV의 X-선 에너지를 사용하는데, X-선 광자의 에너지 일부만이 전자(electron)로 전달되는 콤프턴 효과(Compton effect) 또는 모든 에너지가 전자로 전달되고 X-선이 완전히 흡수되는 광전 효과를 통해 피사체 물질을 촬상한다.
X-선 영상을 구하기 위한 디지털 엑스레이(X-ray) 촬영장치는, 피사체를 통과한 X-선이 감광판(scintillator)에 부딪혀 가시광선을 만들어내고 이를 CCD(Charge Coupled Devise)나 Photodiode가 설치된 TFT(Thin FilmTransistor) 등을 통해 화상신호로 바꾸는 간접방식의 장비와, 피사체를 통과한 X-선이 Photoconductor(혹은 Photoresistor)가 설치된 TFT에 직접적으로 조사되어 화상 신호화하여 영상을 획득하는 직접방식의 장비로 구분된다.
이러한 X-선 촬영장치는 X-선관으로부터 방사되는 X-선의 원뿔 형태로 일시에 넓은 면적에 조사되므로 X-선의 산란에 의한 영상의 왜곡이 문제가 된다. 따라서 이러한 왜곡을 보정 또는 제거하는 작업이 필요하다.
이를 위해 산란선의 분포를 측정하는 것이 필수적이다.
종래에는 X선 장치의 산란선 성분 분포를 측정하고자 할 때 빔스탑 어레이를 사용한다.
그러나, 검출기에 입사되는 X선은 팬빔의 형태이므로, 위치에 따라 입사되는 각도가 달라지며, 빔스탑에 의해 완전히 차단되는 위치 또한 X선 선원과 검출기간의 거리 등의 변수에 따라 달라진다.
따라서, 빔스탑 어레이를 이용하여 영상을 획득한 후 산란선 분포를 측정할 때 마다 이들 변수에 따라 측정하여야 할 위치가 달라지므로 전체적인 분포를 확인하는데 많은 시간이 걸린다.
또한, 기존의 빔스탑은 원통형이므로 수직으로 입사된 X선에 대해서만 정확한 산란선 값을 측정할 수 있지만, 팬빔의 경우 중심에서 벗어난 부분에서는 어느 정도의 각도를 가지고 검출기에 입사되므로 가장자리로 갈수록 부정확한 값을 가지는 문제가 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 종래의 문제점을 해결하고자 하는 것으로, 선원과 피사체 또는 검출기간의 거리 등을 고려하여 산란선의 위치나 분포 등을 정확하게 찾아줌으로써 산란선 값 측정을 용이하게 해주는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템, 방법 및 그 방법을 기록한 기록매체를 제공하는 것이다.
이러한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 특징에 따른 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템은,
X선 장치에서 방사되는 방사선의 산란선 분포를 측정하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템으로서,
상기 X선 장치에서 방사되는 X선을 차폐하기 위한 빔스탑이 규칙적으로 배열된 빔스탑 어레이;
상기 빔스탑 어레이 하단에 위치하여 빔스탑 영상을 획득하기 위한 영상 검출기;
정보를 표시하는 표시부;
형상변수 정보를 입력하기 위한 입력부;
상기 빔스탑 영상과 상기 형상변수 정보를 이용하여 산란선 분포를 계산하여 상기 표시부에 표시하는 제어부를 포함한다.
상기 형상변수 정보는 상기 X선 장치의 X선관에서 X선이 발생하는 지점인 초점 (Focus)과 빔스탑 어레이가 놓여있는 지점간의 거리(FOD), 상기 빔스탑 어레이와 영상검출기 (image)간의 거리(OID) 및 상기 빔스탑 어레이에서 임의의 빔스탑 (A)과 인접한 빔스탑 (B)간의 거리(d)를 포함한다.
정보를 저장하기 위한 메모리를 더 포함하고,
상기 제어부는 상기 형상 변수를 메모리에 저장하고, 표시부에 촬영해야할 영상 정보를 표시하며,
사용자가 X선 조사를 선택하여 X선 장치에서 조사가 되면, 상기 영상 검출기가 빔스탑 영상을 획득하여 출력하고, 상기 제어부가 빔스탑 영상을 수신하고,
상기 제어부가 상기 빔스탑 영상에서 예상 중심점을 계산하여 상기 표시부에 표시하는 것을 특징으로 한다.
상기 제어부는,
상기 입력부를 통해 사용자가 그래픽을 이용하여 중심점의 위치를 최종 보정한 후 측정 버튼을 누르면 상기 제어부가 빔스탑 어레이의 빔스탑 각각의 위치에서 측정된 값을 숫자 형태로 상기 메모리에 저장하고, 산란선의 분포를 상기 표시부에 표시하는 것을 특징으로 한다.
상기 제어부는 상기 영상 검출기상에 보여지는 빔스탑간의 거리를 다음 수학식에 의해 계산하는 것을 특징으로 한다.
Figure pat00001

여기서, FOD는 X선 장치의 X선관에서 X선 선원이 발생하는 지점의 초점(Focus)과 빔스탑 어레이가 놓여있는 지점간의 거리이고, OID는 상기 빔스탑 어레이와 영상검출기 (image)간의 거리이고, 거리 d는 상기 빔스탑 어레이에서 임의의 빔스탑 (A)과 인접한 빔스탑 (B)간의 거리(d)를 포함한다.
이러한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 특징에 따른 X선 장치의 산란선 분포 측정 방법은,
X선 장치에서 방사되는 방사선의 산란선 분포를 측정하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템의 산란선 분포 측정 방법으로서,
X선 조사와 관계되는 형상 변수(상기 X선 장치의 X선관에서 X선이 발생하는 지점인 초점 (Focus)과 빔스탑 어레이가 놓여있는 지점간의 거리(FOD), 빔스탑 어레이와 영상검출기 (image)간의 거리(OID) 및 상기 빔스탑 어레이에서 임의의 빔스탑 (A)과 인접한 빔스탑 (B)간의 거리(d))를 입력받는 단계;
제어부가 상기 형상 변수를 메모리에 저장하고, 표시부에 촬영해야할 영상 정보를 표시하는 단계;
사용자가 X선 조사를 선택하여 X선 장치에서 조사가 되면, 영상 검출기가 빔스탑 영상을 획득하여 출력하고, 상기 제어부가 빔스탑 영상을 수신하는 단계;
상기 제어부가 상기 빔스탑 영상에서 예상 중심점을 계산하여 상기 표시부에 표시하는 단계를 포함한다.
상기 방법은,
상기 입력부를 통해 사용자가 그래픽을 이용하여 중심점의 위치를 최종 보정한 후 측정 버튼을 누르면 상기 제어부가 빔스탑 어레이의 빔스탑 각각의 위치에서 측정된 값을 숫자 형태로 상기 메모리에 저장하고, 산란선의 분포를 상기 표시부에 표시하는 단계를 포함한다.
이러한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 특징에 따른 X선 장치의 산란선 분포 측정 방법을 기록한 기록매체는,
X선 장치에서 방사되는 방사선의 산란선 분포를 측정하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템의 산란선 분포 측정 방법을 기록한 기록매체로서,
X선 조사와 관계되는 형상 변수(상기 X선 장치의 X선관에서 X선이 발생하는 지점인 초점 (Focus)과 빔스탑 어레이가 놓여있는 지점간의 거리(FOD), 빔스탑 어레이와 영상검출기 (image)간의 거리(OID) 및 상기 빔스탑 어레이에서 임의의 빔스탑 (A)과 인접한 빔스탑 (B)간의 거리(d))를 입력받는 기능;
제어부가 상기 형상 변수를 메모리에 저장하고, 표시부에 촬영해야할 영상 정보를 표시하는 기능;
사용자가 X선 조사를 선택하여 X선 장치에서 조사가 되면, 영상 검출기가 빔스탑 영상을 획득하여 출력하고, 상기 제어부가 빔스탑 영상을 수신하는 기능;
상기 제어부가 상기 빔스탑 영상에서 예상 중심점을 계산하여 상기 표시부에 표시하는 기능이 구현된 프로그램을 포함한다.
본 발명의 실시예에서는 선원과 피사체 또는 검출기간의 거리 등을 고려하여 산란선의 위치나 분포 등을 정확하게 찾아줌으로써 산란선 값 측정을 용이하게 해주는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템, 방법 및 그 방법을 기록한 기록매체를 제공할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템의 구성도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 X선 장치의 산란선 분포 측정 방법의 동작 흐름도이다.
도 3은 X선 선원과 검출기간의 거리 또는 선원의 위치가 달라졌을 때의 X선이 빔스탑 어레이를 통과한 상태를 보인 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템에서 형상 변수를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템의 빔스탑 어레이를 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템에서 달라진 형상 변수의 예를 나타낸 도면이다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 "…부", "…기", "모듈" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템은,
X선 장치에서 방사되는 방사선의 산란선 분포를 측정하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템으로서, 상기 X선 장치에서 방사되는 X선을 차폐하기 위한 빔스탑이 규칙적으로 배열된 빔스탑 어레이(110); 상기 빔스탑 어레이(110) 하단에 위치하여 빔스탑 영상을 획득하기 위한 영상 검출기(120); 정보를 표시하는 표시부(140); 형상변수 정보를 입력하기 위한 입력부(160); 상기 빔스탑 영상과 상기 형상변수 정보를 이용하여 산란선 분포를 계산하여 상기 표시부(140)에 표시하는 제어부(130)를 포함한다.
상기 형상변수 정보는 상기 X선 장치의 X선관에서 X선이 발생하는 지점인 초점 (Focus)과 빔스탑 어레이(110)가 놓여있는 지점간의 거리(FOD ), 상기 빔스탑 어레이(110)와 영상검출기 (image)간의 거리(OID) 및 상기 빔스탑 어레이(110)에서 임의의 빔스탑 (A)과 인접한 빔스탑 (B)간의 거리(d)를 포함한다.
정보를 저장하기 위한 메모리(150)를 더 포함하고,
상기 제어부(130)는 상기 형상 변수를 메모리(150)에 저장하고, 표시부(140)에 촬영해야할 영상 정보를 표시하며, 사용자가 X선 조사를 선택하여 X선 장치에서 조사가 되면, 상기 영상 검출기(120)가 빔스탑 영상을 획득하여 출력하고, 상기 제어부(130)가 빔스탑 영상을 수신하고, 상기 제어부(130)가 상기 빔스탑 영상에서 예상 중심점을 계산하여 상기 표시부(140)에 표시하는 것을 특징으로 한다.
상기 제어부(130)는,
상기 입력부(160)를 통해 사용자가 그래픽을 이용하여 중심점의 위치를 최종 보정한 후 측정 버튼을 누르면 상기 제어부(130)가 빔스탑 어레이(110)의 빔스탑 각각의 위치에서 측정된 값을 숫자 형태로 상기 메모리(150)에 저장하고, 산란선의 분포를 상기 표시부(140)에 표시하는 것을 특징으로 한다.
빔스탑 어레이(110)에는 다수개의 빔스탑이 소정의 간격으로 배치되는데, 빔스탑은 지름 6mm의 납공(lead ball)을 이용한다. 납공을 일정한 간격으로 아크릴판에 배치하여 어레이를 형성한다.
이러한 구성을 가진 본 발명의 실시예에 따른 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템의 동작에 관하여 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 X선 장치의 산란선 분포 측정 방법의 동작 흐름도이고, 도 3은 X선 선원과 검출기간의 거리 또는 선원의 위치가 달라졌을 때의 X선이 빔스탑 어레이(110)를 통과한 상태를 보인 도면이고, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템에서 형상 변수를 나타낸 도면이고, 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템의 빔스탑 어레이(110)를 나타낸 도면이고, 도 6은 본 발명의 실시예에 따른 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템에서 달라진 형상 변수의 예를 나타낸 도면이다.
먼저, 빔스탑 어레이(110)를 피사체 위나 아래에 놓고 디지털 방사선 장치 즉 X선 장치를 이용하여 촬영하면 획득된 영상에 빔스탑의 투영상이 얻어진다.
빔스탑이 있는 부분에서 중심부 (지름1mm)의 값을 측정하면 그 부위의 산란선 값을 측정할 수 있다.
그러나, 이 경우 1차 엑스선이 빔스탑의 중심을 정확히 투과하여 검출기에 도달하는 위치는 선원과 영상 검출기(120)의 거리, 피사체와 빔스탑 어레이(110)의 거리, 그리고 빔스탑 어레이(110)와 영상 검출기(120)의 거리에 따라 다양하게 변화한다. 특히, 단층영상 합성 시스템의 경우에는 영상을 획득하는 각도에 따라 그 변수가 좀 더 다양해진다. 따라서, 그 측정을 위해서는 앞서 말한 변수에 따라 다른 위치에서의 값을 측정하여야만 한다.
이를 용이하게 하기 위한 수단으로, 이러한 변수들을 입력하면 적절한 위치를 지정하여 측정을 편리하게 하는 본 발명의 실시예의 프로그램을 고안하여 PC등의 매체에 기록하고 측정하고자 하는 영상을 읽어서 산란선 분포를 보여줄 수 있다.
도 3에서 (1)은 선원과 검출기간의 거리가 달라졌을 때 lead ball 타입의 빔스탑의 중심을 통과하는 X선이 영상 검출기(120)에 도달하는 위치가 달라지는 모습을 나타낸다.
그리고 (2)는 단층영상 합성 장치의 예로써 선원의 위치가 달라진 경우 위치가 달라진 모습을 보여준다.
따라서, 빔스탑 어레이(110)의 경우, 이러한 결과가 누적되어 각각의 변수가 변할 때 어레이의 형태가 변화하게 되므로, 변수를 충분히 고려하여 산란선 값을 측정할 필요가 있다.
이하에서 이러한 산란선 측정 과정을 상세히 설명하기로 한다.
도 2를 참조하면, 사용자는 미리 X선 조사와 관계되는 형상 변수(상기 X선 장치의 X선관에서 X선이 발생하는 지점인 초점 (Focus)과 빔스탑 어레이(110)가 놓여있는 지점간의 거리(FOD), 빔스탑 어레이(110)와 영상검출기 (image)간의 거리(OID) 및 상기 빔스탑 어레이(110)에서 임의의 빔스탑 (A)과 인접한 빔스탑 (B)간의 거리(d))를 입력부(160)로 입력한다(S210).
그러면 제어부(130)는 상기 형상 변수를 메모리(150)에 저장하고, 표시부(140)에 촬영해야할 영상 정보를 표시한다(S220).
이때, 사용자가 X선 조사를 선택하여 X선 장치에서 조사가 되면(S230), 영상 검출기(120)가 빔스탑 영상을 획득하여 출력하고, 상기 제어부(130)가 빔스탑 영상을 수신한다(S240).
이때, 상기 제어부(130)가 상기 빔스탑 영상에서 예상 중심점을 계산하여 상기 표시부(140)에 표시한다(S250).
그리고 필요에 따라서는 입력부(160)를 통해 사용자가 그래픽을 이용하여 중심점의 위치를 최종 보정한 후(S260) 입력부(160)의 측정 버튼을 누르면 상기 제어부(130)가 빔스탑 어레이(110)의 빔스탑 각각의 위치에서 측정된 값을 숫자 형태로 상기 메모리(150)에 저장하고, 산란선의 분포를 상기 표시부(140)에 표시할 수도 있다(S270).
상기 과정에서 제어부(130)가 예상 중심점을 계산하는 과정(S250)을 좀 더 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 4를 참조하면, X선관에서 X선이 발생하는 지점인 초점 (Focus)과 피사체 (Object)가 놓여있는 지점간의 거리를 FOD (Focus-object distance)라고 하고, 피사체와 영상검출기 (image)간의 거리를 OID (Object-image distance)라고 한다.
또한, FOD와 OID를 합친 초점에서 영상검출기간의 총 거리를 FID (Focus-image distance)라고 칭한다.
도 4의 빔스탑 어레이에서 임의의 빔스탑 (A)과 인접한 빔스탑 (B)은 일정한 거리를 유지하고 있으며, 이 거리를 d라고 표현하기로 한다. 일반적으로 빔스탑 어레이(110)에서 d는 20mm 정도로 항상 일정하게 유지된다.
평행한 X선 빔이 조사된다면 영상검출기상에서 측정되는 d 또한 빔스탑 어레이(110)의 그것과 동일하다. 그러나, 선원에서 발생되는 X선은 그 진행방향이 서로 평행하지 않고 팬빔의 형태로 뻗어나간다.
따라서, 실제 영상검출기상에서 보여지는 빔스탑의 위치는 그림에서와 같이 A'와 B'으로 달라진다. 이 거리를 d'이라 하고, 이 값은 FOD나 OID에 따라 선형적으로 변화한다.
도 4에서는 빔스탑 A의 위치가 초점과 동일 선상 (영상의 중심)에 있다고 가정한다. 따라서, A'의 위치는 A와 동일하지만, 중심에서 벗어난 지점에 있는 B의 경우에는 B'에 맺히므로 위치가 달라진다.
앞서 설명한 투영된 빔스탑간의 거리를 예측하기 위해서는 다음과 같은 수학식 1의 적용이 가능하다.
Figure pat00002
수학식 1에서 d'는 영상검출기 상에서 보여지는 빔스탑 간의 거리를 나타내며, 이것을 알아내기 위해서는 본래 빔스탑 어레이(110) 상에서의 d와 FOD, OID를 알면 예측 가능하다. 즉, 이 세 가지의 파라메터만이 영향을 미치므로 실제 예측시에는 영상의 중심이 어디인지 알 필요는 없다. 다만, d'가 일정하다 하더라도 중심점이 바뀌면 영상이 맺히는 위치가 변경될 수 있다. 따라서, 정확한 측정을 위하여 초점으로부터 조사되는 X선의 중심 방향은 영상검출기의 중심을 향하도록 하는 것을 전제 조건으로 한다.
앞서 설명한 예시는 1차원 선상에 팬빔이 조사될 때의 경우로 설명된 것이다. 그러나, 실제 얻어지는 영상은 2차원 평면상에 팬빔이 조사되는 경우를 다루는 것이다. 도 5와 같이 초점의 중심이 빨간색 원에 있다고 가정한다.
실선으로 표시된 X, Y축 선상의 빔스탑에 대해서는 1차원 선상에서와 마찬가지로 빔스탑간의 거리만으로 표시된다. (ex. 20mm) 그러나, 점선으로 표시된 중심점으로부터 대각선상에 있는 빔스탑까지의 거리는 피타고라스 정리에 의해 계산되어질 수 있다.
예를 들어, 빔스탑 간의 거리가 20mm로 일정하다고 가정할 때, X축 방향으로 한 칸, Y 축 방향으로 두 칸 떨어져 있는 A지점까지의 거리를 계산한다면,
Figure pat00003
mm로 계산할 수 있다.
여기에 FOD가 1800mm, OID가 70mm라고 가정한다면 영상검출기에서 측정되는 중심점으로부터 A 지점까지의 거리는 약 46.46mm가 된다.
빔스탑 어레이(110)의 형태는 X, Y축 방향 모두 일정한 간격을 유지하는 바둑판 모양으로 배열되어 있다. 따라서, 앞의 방법과 같이 복잡하게 계산하지 않더라도 단순히 d'만 계산할 수 있다면 보정된 위치를 곧바로 찾을 수 있다.
예를 들어, 앞의 방법과 동일한 FOD와 OID를 가지는 경우라면, 수학식 1에서 제시한 계산 수식에 의해 d'가 20.78mm가 됨을 알 수 있다.
단층합성영상장치에서의 산란선 측정이나, 각도 촬영 (ex. pelvis inlet, outlet..) 등 X선이 영상검출기에 수직으로 입사하지 않는 조건인 경우라 하더라도 팬빔은 초점으로부터 방사형으로 뻗어나가는 형태이므로 중심점의 위치만 변경된 것으로 생각할 수 있다.
단, 이 경우 도 6과 같이 OID는 일반적인 경우와 동일하다고 생각하고, FID가 새롭게 계산되어질 필요가 있으며, 다음의 수학식 2로 표현된다.
Figure pat00004
FID'는 X선 선원이 위치하는 높이이며, 그 높이를 알고 있다면 수식에 의해 따로 계산할 필요는 없다.
이상의 과정에서 선원과 피사체 또는 검출기간의 거리 등을 고려하여 산란선의 위치나 분포 등을 정확하게 찾아줌으로써 산란선 값 측정을 용이하게 할 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명의 실시예는 장치 및 방법을 통해서만 구현이 되는 것은 아니며, 본 발명의 실시예의 구성에 대응하는 기능을 실현하는 프로그램 또는 그 프로그램이 기록된 기록 매체를 통해 구현될 수도 있으며, 이러한 구현은 앞서 설명한 실시예의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술 분야의 전문가라면 쉽게 구현할 수 있는 것이다.
이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.

Claims (8)

  1. X선 장치에서 방사되는 방사선의 산란선 분포를 측정하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템으로서,
    상기 X선 장치에서 방사되는 X선을 차폐하기 위한 빔스탑이 규칙적으로 배열된 영상 검출기(120);
    상기 빔스탑 어레이 하단에 위치하여 빔스탑 영상을 획득하기 위한 영상 검출기;
    정보를 표시하는 표시부;
    형상변수 정보를 입력하기 위한 입력부;
    상기 빔스탑 영상과 상기 형상변수 정보를 이용하여 산란선 분포를 계산하여 상기 표시부에 표시하는 제어부를 포함하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 형상변수 정보는 상기 X선 장치의 X선관에서 X선이 발생하는 지점인 초점 (Focus)과 빔스탑 어레이가 놓여있는 지점간의 거리(FOD), 상기 빔스탑 어레이와 영상검출기 (image)간의 거리(OID) 및 상기 빔스탑 어레이에서 임의의 빔스탑 (A)과 인접한 빔스탑 (B)간의 거리(d)를 포함하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    정보를 저장하기 위한 메모리(150)를 더 포함하고,
    상기 제어부는 상기 형상 변수를 메모리에 저장하고, 표시부에 촬영해야할 영상 정보를 표시하며,
    사용자가 X선 조사를 선택하여 X선 장치에서 조사가 되면, 상기 영상 검출기가 빔스탑 영상을 획득하여 출력하고, 상기 제어부가 빔스탑 영상을 수신하고,
    상기 제어부가 상기 빔스탑 영상에서 예상 중심점을 계산하여 상기 표시부에 표시하는 것을 특징으로 하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 입력부를 통해 사용자가 그래픽을 이용하여 중심점의 위치를 최종 보정한 후 측정 버튼을 누르면 상기 제어부가 빔스탑 어레이의 빔스탑 각각의 위치에서 측정된 값을 숫자 형태로 상기 메모리에 저장하고, 산란선의 분포를 상기 표시부에 표시하는 것을 특징으로 하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제어부는 상기 영상 검출기상에 보여지는 빔스탑간의 거리를 다음 수학식에 의해 계산하는 것을 특징으로 하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템.
    Figure pat00005


    여기서, FOD는 X선 장치의 X선관에서 X선 선원이 발생하는 지점의 초점(Focus)과 빔스탑 어레이가 놓여있는 지점간의 거리이고, OID는 상기 빔스탑 어레이와 영상검출기 (image)간의 거리이고, 거리 d는 상기 빔스탑 어레이에서 임의의 빔스탑 (A)과 인접한 빔스탑 (B)간의 거리(d)임
  6. X선 장치에서 방사되는 방사선의 산란선 분포를 측정하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템의 산란선 분포 측정 방법으로서,
    X선 조사와 관계되는 형상 변수(상기 X선 장치의 X선관에서 X선이 발생하는 지점인 초점 (Focus)과 빔스탑 어레이가 놓여있는 지점간의 거리(FOD), 빔스탑 어레이와 영상검출기 (image)간의 거리(OID) 및 상기 빔스탑 어레이에서 임의의 빔스탑 (A)과 인접한 빔스탑 (B)간의 거리(d))를 입력받는 단계;
    제어부가 상기 형상 변수를 메모리에 저장하고, 표시부에 촬영해야할 영상 정보를 표시하는 단계;
    사용자가 X선 조사를 선택하여 X선 장치에서 조사가 되면, 영상 검출기가 빔스탑 영상을 획득하여 출력하고, 상기 제어부가 빔스탑 영상을 수신하는 단계;
    상기 제어부가 상기 빔스탑 영상에서 예상 중심점을 계산하여 상기 표시부에 표시하는 단계를 포함하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 입력부를 통해 사용자가 그래픽을 이용하여 중심점의 위치를 최종 보정한 후 측정 버튼을 누르면 상기 제어부가 빔스탑 어레이의 빔스탑 각각의 위치에서 측정된 값을 숫자 형태로 상기 메모리에 저장하고, 산란선의 분포를 상기 표시부에 표시하는 단계를 포함하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 방법.
  8. X선 장치에서 방사되는 방사선의 산란선 분포를 측정하는 X선 장치의 산란선 분포 측정 시스템의 산란선 분포 측정 방법을 기록한 기록매체로서,
    X선 조사와 관계되는 형상 변수(상기 X선 장치의 X선관에서 X선이 발생하는 지점인 초점 (Focus)과 빔스탑 어레이가 놓여있는 지점간의 거리(FOD), 빔스탑 어레이와 영상검출기 (image)간의 거리(OID) 및 상기 빔스탑 어레이에서 임의의 빔스탑 (A)과 인접한 빔스탑 (B)간의 거리(d))를 입력받는 기능;
    제어부가 상기 형상 변수를 메모리에 저장하고, 표시부에 촬영해야할 영상 정보를 표시하는 기능;
    사용자가 X선 조사를 선택하여 X선 장치에서 조사가 되면, 영상 검출기가 빔스탑 영상을 획득하여 출력하고, 상기 제어부가 빔스탑 영상을 수신하는 기능;
    상기 제어부가 상기 빔스탑 영상에서 예상 중심점을 계산하여 상기 표시부에 표시하는 기능이 구현된 프로그램을 포함하는 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체.
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