KR20120123388A

KR20120123388A - 비행 시간 범위 확인 시스템을 위한 다수의 동기화된 광원

Info

Publication number: KR20120123388A
Application number: KR1020127020213A
Authority: KR
Inventors: 사이러스 밤지
Original assignee: 마이크로소프트 코포레이션
Priority date: 2010-02-01
Filing date: 2011-02-01
Publication date: 2012-11-08
Also published as: CN102741651A; JP2013519092A; US8891067B2; IL220786A; CA2786626C; CN102741651B; EP2531812B1; WO2011094762A3; CA2786626A1; US20150036119A1; EP2531812A2; US20110188027A1; KR101804590B1; WO2011094762A2; US10113868B2; EP2531812A4; JP5898631B2

Abstract

TOF 시스템 광 전력은 무선(WOE), 또는 플러그 와이어(PWOE)일 수 있는 보조 광학 방출기 유닛을 이용하여 증대된다. WOE 유닛은 WOE에 의해 수신되는 바와 같이 방출된 TOF 시스템 광학 에너지(S_out)를 감지하며 S_out에 대한 주파수 및 위상에 바람직하게 동적으로 동기화되는 광학 에너지(S_out _-n)를 방출한다. 각 WOE는 S_out를 검출하는 적어도 하나의 광학 센서, 및 WOE 방출 S_out _-n 광학 에너지의 주파수 및 위상이 TOF 방출 S_out 광학 에너지의 주파수 및 위상과 동적으로 동기화되는 것을 보증하는 내부 피드백을 포함한다. PWOE 유닛은 내부 피드백을 필요로 하지 않지만 TOF 시스템 1차 광원에 의해 방출되는 것으로 PWOE 방출 광학 에너지의 주파수와 위상 사이의 정밀한 일치를 야기시키기 위해 TOF 시스템에 의해 교정된다. PWOE가 분리에 이용되면, PWOE와 TOF 1차 광학 에너지 소스 사이의 지연 차이가 소프트웨어 보상될 수 있다.

Description

비행 시간 범위 확인 시스템을 위한 다수의 동기화된 광원{MULTIPLE SYNCHRONIZED OPTICAL SOURCES FOR TIME-OF-FLIGHT RANGE FINDING SYSTEMS}

본 발명은 일반적으로 위상 기반 비행 시간(TOF(time-of-flight)) 범위 확인 시스템에 관한 것으로, 특히 1차 광학 에너지의 소스에 동적으로 주파수 동기화 및 위상 동기화되는 적어도 하나의 추가적인 광원을 갖는 그러한 시스템에 의해 이용되는 광학 에너지의 소스를 증대시키는 것이다. 그러한 추가적인 광원은 TOF 시스템으로부터 무선으로 원격 위치될 수 있거나, TOF 시스템 그 자체에 제거 가능하며 플러그 연결 가능하게 부착될 수 있다.

TOF(Time-of-flight) 시스템은 당해 기술분야에 알려져 있으며, 미국 특허 제6,323,942호 "CMOS 호환 3차원 이미지 센서 IC(CMOS-Compatible Three-Dimensional Image Sensor IC)"(2001)에 기재된 것과 같은 비위상 기반 시스템, 및 미국 특허 제6,580,496호 "양자 효율 변조를 이용한 CMOS 호환 3차원 이미지 센싱 시스템(Systems for CMOS-Compatible Three-Dimensional Image Sensing Using Quantum Efficiency Modulation)"(2003)에 기재된 것과 같은 위상 기반 시스템 둘 다를 포함하며, 이들 특허는 참조함으로써 추가적 배경 자료로서 본 명세서에 통합된다.

도 1a는 위상 기반 TOF 시스템(100), 예를 들어 미국 특허 제6,580,496호에 기재된 것과 같은 시스템을 예시한다. TOF 시스템(100)은 이동 부품을 갖지 않으면서 비교적 소수의 오프칩 소자를 가지고 단일 IC(110) 상에 구현될 수 있다. 시스템(100)은 검출기(또는 센서는)(140)의 2차원 어레이(130)를 포함하며, 그 각각은 결합된 검출기에 의한 검출 전하 출력을 처리하기 위한 전용 회로(150)를 갖는다. 집합적으로 검출기(140) 및 그 회로(150)는 픽셀(155)을 포함한다. 전형적인 응용에서, 어레이(130)는 100x100 픽셀(155)을 포함할 수 있다. 또한, IC(110)는 마이크로프로세서 또는 마이크로컨트롤러 유닛(160), 메모리(170)(랜덤 액세스 메모리 또는 RAM 및 읽기 전용 메모리 또는 ROM을 포함하는 것이 바람직한), 고속 분배가능 클록(180), 및 각종 컴퓨팅과 입/출력(I/O) 회로(190)를 포함한다.

마이크로프로세서(160)의 제어 하에, 발진기(115)에 의해 광학 에너지의 소스(120)는 주기적으로 전력을 공급받고 물체 대상(20)을 향해 렌즈(125)를 통해 광학 에너지(S_out)를 방출한다. 통상, 광학 에너지는 예를 들어 레이저 다이오드 또는 LED 장치(120)에 의해 방출되는 광이다. S_out는 가능하면 200 MHz의 변조 주파수 성분과 주기적 신호인 것이 바람직하다. 편의를 위해, S_out는 Aㆍcos(ωt)로 표현될 수 있다. S_out는 통상 수십 mW 범위에서 낮은 평균 및 피크 전력을 가지며, 그것은 방출기(120)가 비교적 좁은 대역폭, 예를 들어 수백 KHz를 갖는 저렴한 광원이 되게 할 수 있다. 방출된 광학 에너지(S_out) 중 일부는 에너지(S_in)의 복귀에 따라 대상 물체(20) 상에 반사될 것이며, 그것은 S_in = Aㆍcos(ωt + Φ)로 표현될 수 있고, 여기서 Φ는 상대 위상 시프트이다. 에너지(S_in)의 복귀(returning)는 개구 필드 스톱 및 렌즈(집합적으로 135)를 통과하고, 이미지가 형성되는 픽셀 검출기(140)의 2차원 어레이(130)와 마주친다. S_in은 활성으로 방출된 S_out 성분에 더하여 주위 에너지 성분을 포함할 수 있는 것에 주목한다.

각 픽셀(155)은 수신된 S_in의 강도(또는 진폭), 및 시스템(100)과 대상 물체(20) 사이의 왕복 이동 거리(Z)의 측정을 나타내는 수신된 S_in과 방출된 S_out 사이의 상대 위상 시프트(Φ)를 측정한다. 방출기(120)에 의해 전달되는 광학 에너지의 각 펄스에 대해서는, 대상 물체(20)의 일부의 3차원 이미지가 획득되며, 여기서 위상 시프트(Φ)는 거리(Z)를 결정하기 위해 분석된다.

시스템(100)을 향해 반사되기 전에 대상 물체(20)의 더 먼 표면 영역으로 이동하는 방출된 광학 에너지(S_out)는 대상 물체(또는 더 가까운 대상 물체)의 더 가까운 표면 부분에 도달하여 반사되는 방사보다 긴 비행 시간을 규정할 것이다. 게다가, 거리(Z)의 상이한 값은 상대 위상 시프트(Φ)의 상이한 크기로 나타날 것이다. 따라서, 상대적인 위상 시프트 위상(Φ)은 시스템(100)과 대상 물체(20) 사이의 거리(Z)의 측정을 제공할 수 있다. 픽셀 어레이(130)의 다수의 위치에 걸친 S_in 신호의 검출은 깊이 이미지로서 지칭되는 신호를 측정한다. 획득된 데이터는 대상 물체(20)의 표면 영역에 대한 거리(Z) 값을 결정하기 위해 명도 데이터(예를 들어, 신호 진폭 A), 및 정확한 TOF 상대 위상 시프트(Φ)를 포함한다.

시스템(100')에서 방출기(120)에 의해 방출되어 거리(z)를 가로질러 대상 물체(20)에 전달되는 에너지(S₁ = cos(ωt)), 및 어레이(130')에서 광 검출기(140')에 의해 검출되는 복귀 에너지(S₂ = Aㆍcos(ωt + Φ))에 요구되는 TOF(time-of-flight)로 인한 위상 시프트(Φ)가 존재할 것이며, 여기서 A는 검출된 반사 신호의 밝기를 나타내며 픽셀 검출기에 의해 수신되는 동일한 복귀 신호를 이용하여 측정될 수 있다. 도 1b 및 1c는 위상 시프트(Φ)와 비행 시간 사이의 관계를 도시하며, 설명의 용이함을 위해 주기 T = 2π/ω를 갖는 정현 파형을 가정한다.

비행 시간으로 인한 위상 시프트(Φ)는 하기와 같다:

여기서, C는 300,000 Km/sec의 광속이다. 따라서, 에너지 방출기로부터(그리고 검출기 어레이로부터) 대상 물체로의 거리(z)는 하기와 같이 제공된다:

3차원 이미징 데이터 획득 TOF 시스템을 포착 및 처리하는 각종 기술은 당해 기술분야에 알려져 있다. 예를 들어, Bamji 등의 미국 특허 제6,522,395호(2003)는 CMOS-호환 이미지 센서 IC로 획득가능한 3차원 정보에 적당한 잡음 감소 기술을 개시한다.

대상 물체(120)에 의해 보여지는 S_out에 의해 제공되는 유효 조명은 Z의 제곱에 반비례해서 변화한다. 따라서, 방출기(120)로부터 출력 전력의 크기를 증가시키는 것은 Z의 증가하는 크기를 통해 더 정확한 측정을 제공해서 시스템(100) 성능을 증대시킬 수 있다. 그러나, 일부 시스템에서 방출기(120)는 IC(110)에 접합될 수 있어, 방출기를 더 강력한(고와트수) 장치로 교체하는 것이 곤란해질 수 있다.

따라서, 대상 물체에 의해 보여지는 S_out 조명의 강도를 증대시키기 위해 하나 이상의 추가적인 광원이 제공될 수 있는 방법이 요구된다. 그러한 추가적인 광원은 가능하면 시스템(100)에 인접하게 위치하는 비교적 고전력 방출기, 및/또는 광 전력의 TOF 1차 소스보다 대상 물체에 더 가까이 위치하는 저전력의 방출기를 포함할 수 있다. 그러나, 최종 시스템의 적절한 동작은 각각의 추가적인 광원으로부터의 광학 에너지가 광학 에너지(S_out)와 동기화될 것을 요구한다.

본 발명은 소스 에너지(S_out)로서의 방출기(120)에 의해 발생되는 광학 에너지와 동기화되는 적어도 하나의 추가적인 광원을 제공하는 방법 및 시스템을 제공한다. 그러한 추가적인 광원은 TOF 시스템 1차 광원에 무선 동기화될 수 있으며, 및/또는 TOF 시스템 하우징에 제거 가능하게 부착되므로 무선보다는 오히려 유선일 수도 있다.

본 발명은 다수의 응용에서 적어도 대상 물체의 영역을 향해 더 많은 광학 에너지를 보내도록 위상 기반 TOF 시스템에 의해 방출되는 유효 광 전력을 증대하는 것이 바람직하다고 인지한다. 유효 광 전력 증대는 일 실시예에 있어서 TOF 시스템으로부터의 S_out 방출에 대한 변조 주파수 및 위상에 바람직하게는 광학적으로 그리고 무선으로 동적으로 동기화되는 적어도 하나의 보조 WOE(wireless optical emitter) 유닛을 포함함으로써 달성된다. WOE 유닛은 그 방출된 광학 에너지로 대상 물체의 적어도 일부를 조명하도록 배치된다. 그러한 유닛에 의해 방출되는 광 전력은 TOF 시스템에 의해 방출되는 S_out 광 전력보다 작거나, 크거나, 심지어 동일할 수 있다. 비교적 저전력 WOE 유닛의 장점은 상당히 적은 비용 및 폼 팩터와, 그것을 대상 물체에 비교적 가까이 배치하는 능력이다. 대상 물체에 가까이 배치된 그러한 유닛에 의해 제공되는 유효 광학 에너지 조명은 매우 실질적이다. 바람직하게는 각 보조 광학 방출기는 독립형 유닛이며, 배터리 동작될 수 있지만, 배터리 동작될 필요는 없다.

언급된 바와 같이, TOF 시스템에 의해 획득되는 깊이 이미지의 품질은 유입 반사 S_in 광학 에너지의 함수이다. 적절한 깊이 이미지의 생성은 모든 S_out 광학 에너지의 소스, 즉 TOF 시스템 광학 방출기 및 모든 WOE가 TOF 시스템 S_out 방출 광학 에너지에 관한 변조 주파수 및 위상에 대해 둘 다 동적으로 동기화되는 것을 필요로 한다. 바람직하게는 각 WOE 유닛은 TOF 시스템에 의해 방출되는 유입 S_out 광학 에너지에 응하는 제 1 광학 센서, 광학 에너지를 출력하는 광학 방출기, TOF 발진기의 주파수에서 명목상 동작하는 프리 러닝(free running) VCO(voltage controlled oscillator), WOE에 의해 방출되는 광학 에너지에 응하는 제 2 광학 센서, 및 WOE에 의해 방출되는 광학 에너지의 주파수 및 위상을 유입 TOF 광학 에너지(S_out)의 것과 일치시키기 위해 폐루프 피드백에서 동작하는 바람직하게는 PLL(phase lock loop) 시스템을 포함한다.각 WOE 내에서 VCO의 주파수는 바람직하게는 PLL 회로를 이용하여 TOF 시스템 S_out 주파수에 동적으로 동기화되며, 주파수 동기화는 WOE 유닛 방출 광학 에너지를 샘플링함으로써 확인된다. WOE 유닛 방출 광학 에너지의 위상은 TOF 시스템 S_out 위상과 동기화되며, 위상 동기화는 WOE 유닛 방출 광학 에너지를 샘플링함으로써 확인된다. 바람직하게는, 각 WOE 유닛 내의 제 1 광학 센서 및 광학 방출기는 착신 S_out 광학 에너지를 더 잘 검출하며 대상 물체를 향해 유닛의 방출 광학 에너지를 더 잘 보내도록 기계적으로 선회 가능하다. 바람직하게는, TOF 시스템 내에서, 바람직하게는 하드웨어 지원으로 실행되는 소프트웨어는 S_in 신호의 초기 시간 영역을 무시할 수 있으며, 그 시간 영역 사이에 동기화 고정이 아직 달성되지 않는다. 게다가, TOF 시스템 내에서 실행되는 소프트웨어는 필요에 따라 S_in 정보를 처리하고, 필요에 따라 WOE 유닛에 대한 주파수 및 시간을 동적으로 동기하는데 필요한 시간, FOV, 출력 전력, 및 개별 WOE 유닛의 다른 특성을 고려하는 것을 지능적으로 지원할 수 있다. 바람직하게는, S_out 광학 에너지는 주파수 및/또는 위상이 변하므로 각 WOE 유닛 내의 메모리는 재동기화를 잠재적으로 촉진하기 위해 가장 최근의 PLL 동기화 파라미터를 저장할 수 있다.

제 2 실시예에 있어서, 적어도 하나의 보조 PWOE(plug-wired optical emitter) 유닛은 TOF 시스템의 하우징에, 바람직하게는 짧은 와이어 길이가 전파 지연을 최소화하는 플러그 접속에 의해 물리적으로 제거 가능하게 부착가능하다. 플러그 접속은 매우 짧은 와이어 길이가 이 PWOE를 구동 신호를 위해 TOF 1차 광학 방출기에 연결할 수 있게 한다. TOF 시스템 내의 회로는 하나씩 그러한 PWOE 유닛만을 이용하여 획득된 이미지에서 지연 래그를 검사하며, TOF 1차 광학 방출기만을 이용하여 획득된 이미지를 비교한다. TOF 시스템 회로는 분리에 이용되는 각 PWOE 유닛으로부터 광학 에너지를 이용하여 그리고 1차 광학 유닛으로부터의 광학 에너지없이 획득되는 데이터와 관련된 지연 래그를 보상할 수 있다. 대안으로, TOF 회로는 1차 광학 유닛의 지연을 일치시키기 위해 각 PWOE의 지연을 조정할 수 있다. 이와 같이 적절히 지연 보상되거나 선택된 임의의 수의 PWOE는 이 때 대상 물체와 마주치는 광학 에너지의 양을 증가시키기 위해 TOF 시스템 1차 광원과 동시에 사용될 수 있다. TOF 시스템은 필요에 따라 적어도 하나의 WOE 및 적어도 하나의 PWOE 유닛을 이용할 수 있다.

본 발명의 다른 특징 및 장점은 바람직한 실시예가 첨부 도면과 함께 상세히 설명된 이하의 설명으로부터 나타나게 될 것이다.

도 1a는 종래 기술에 따른 범용 위상 기반 TOF 시스템의 블록도이다.
도 1b는 종래 기술에 따른 도 1a의 시스템에 의해 송신되는 고주파 성분과 송신된 주기적 S_out 신호를 도시한다.
도 1c는 종래 기술에 따른 도 1b의 송신된 신호에 대한 위상 지연과 복귀 S_in 파형을 도시한다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 보조 WOE(wireless optical emitter) 유닛, 및 보조 PWOE(plug-wired optical emitter) 유닛이 구비된 범용 위상 기반 TOF 시스템의 블록도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 WOE 유닛의 예시적 상세한 설명을 도시하는 블록도이다.

TOF 시스템에 의해 획득되는 깊이 이미지 및 데이터의 품질 및 분해능은 TOF 시스템에 의해 방출되는 광학 에너지(S_out)의 크기에 부분적으로 의존한다. S_out의 에너지 크기가 증가함에 따라, 유효 Z 범위가 증가하며, 소정의 깊이(Z)에서의 획득된 깊이 데이터의 분해능이 증가한다. 일부 응용에서, 대상 물체의 일부만을 조명하는 유효 S_out 광 전력을 증가시키는 것이 바람직하거나 필요할 수 있다. 유효 S_out 광 전력 조명의 크기는 S_out 소스와 대상 물체를 분리하는 거리(Z)의 제곱에 반비례해서 변화한다. 따라서, 유효 광 전력을 증가시키는 하나의 해결법은 거리(Z)를 감소시키는 것이다. 이것은 대상 물체 가까이에 적어도 하나의 추가적인 보조 광학 에너지 유닛(WOE)을 배치함으로써 달성될 수 있다. 그러나, 이 목표는 각 WOE로부터의 방출의 주파수 및 위상이 TOF 방출기(120)로부터의 TOF 100' S_out 방출의 주파수 및 위상과 동적으로 동기화되는 것을 보증하는 것이며, 그것은 TOF 주 발진기(115)에 의해 제어된다. 이 목표는 TOF 시스템(100')에 의해 발생되는 광학 에너지(S_out)가 확산 스펙트럼 특성을 나타낼 수 있다는 점에서 벅찰 수 있다.

본 발명의 실시예는 보조 PWOE(plug-wired optical energy) 유닛 및/또는 보조 WOE(wireless optical energy) 유닛을 TOF 시스템에 제공할 수 있다. PWOE 유닛은 먼저 도 2에 관해서 설명될 것이다. TOF 시스템(100')은 하나 이상의 PWOE 유닛(210-1, 210-2), 하나 이상의 WOE 유닛(220-1, 220-2 등), 또는 적어도 하나의 PWOE 유닛 및 적어도 하나의 WOE 유닛으로 그 1차 방출기(120)로부터의 광학 에너지를 증대시킬 수 있다. PWOE 유닛 또는 WOE 유닛으로부터의 출력 광학 에너지는 TOF 시스템 1차 소스(120)에 의해 방출되는 광학 에너지(S_out)의 전력보다 크거나, 같거나, 작을 수 있다. 필요에 따라, 하나 이상의 PWOE 유닛은 방출기(120) 대신에 시스템(100') 광 전력을 발생시키기 위해 이용될 수 있다.

먼저 보조 PWOE(plug-wired optical emitter) 유닛을 참조하면, 도 2에 도시된 바와 같이, 도 2의 TOF 시스템(100')은 210-1, 210-2와 같은 적어도 하나의 보조 PWOE(plug-wired optical emitter) 유닛으로 증대되며 그리고/또는 이 유닛에 의해 대체될 수 있는 방출된 광학 에너지의 내부 1차 소스(120)를 갖는다. PWOE 유닛은 커넥터(220-1, 220-2)로 메이팅하게(matingly) 플러그되는(또는 로부터 언플러그되는) 것이 바람직하며, 그 커넥터(220-n)는 1차 광학 방출기 소스(120)에 매우 근접해 있지 않으면 인접한 TOF 시스템(100')의 하우징 상에 장착된다.

TOF 시스템(100')이 제조될 때, 1차 광학 방출기 소스(120)는 시스템에 대해 교정되었을 것이다. 개별 PWOE 유닛이 교정되지 않으면, 그리고 TOF 시스템(100') 내의 유닛과 회로 사이의 상대적 와이어 길이가 짧을지라도, 교정되지 않은 지연 시간이 내재한다. 교정되지 않았다면, PWOE 유닛 중 다수와 관련된 지연 시간은 부정확한 Z 값을 갖는 깊이 데이터를 획득할 것이다.

일 실시예에 있어서, PWOE 유닛은 다음과 같이 그 고유 지연 시간에 대해 교정된다. 초기에 TOF 시스템(100')은 1차 광학 에너지 소스(120)에 의해 방출되는 S_out 에너지만을 이용하여 알려진 대상 물체(20)로부터 깊이 데이터를 획득한다. 그 다음, 소스(120)는 일시적으로 기능 억제되며, TOF 시스템(100') 또는 대상 물체(20)를 이동시키지 않고, 새로운 깊이 데이터는 S_out210 _-1을 이용하여 획득되며, 그것은 PWOE 유닛(210-1)에 의해 단독으로 방출된다. 단일 PWOE가 1차 광학 유닛(120) 없이 이용될 때, TOF 시스템 내에서 바람직한 소프트웨어는 임의의 추가적인 회로를 필요로 하지 않고 지연 차이를 보상할 수 있다.

이와 달리, TOF 시스템(100') 내의 소프트웨어 및/또는 하드웨어(177)는 이 때 그 획득된 데이터를 1차 소스(120)만을 이용할 때 획득된 데이터와 일치시키기 위해 PWOE 유닛(210-1)에 대한 지연을 미세조정할 수 있다. 그렇게 교정되면, PWOE 유닛(210-1)에 의해 방출되는 광학 에너지는 1차 소스(120)에 의해 방출되는 광학 에너지로부터 대상 물체(20)와 실질적으로 구별하기 어렵다. 각종 광원으로부터 대상 물체(20)에 의해 관찰되는 에너지는 공통 위상 및 공통 주파수를 갖는 것으로 나타날 것이다. 이러한 동일 교정 절차는 TOF 시스템(100')이 이용될 수 있는 각 PWOE 유닛에 대한 지연을 개별적으로 보상하기 위해 반복될 수 있으며, 여기서 바람직하게는 TOF 시스템(100') 내의 모듈(177)은 그와 같이 보상된다.

PWOE 유닛이 교정되면, 그 출력 광학 에너지는 1차 소스(120)의 것과 동시에 효과적으로 결합된다. 실제로 일부 응용에서, 1차 소스(120)를 이용하는 대신에 하나 이상의 PWOE 유닛을 이용하는 것이 바람직할 수 있다. 하나 이상의 PWOE 유닛은 예를 들어 1차 소스(120)보다 실질적으로 더 많은 광 전력을 출력할 수 있다. 물론, PWOE 유닛에 의한 전력 출력은 1차 소스(120)에 의한 전력 출력과 동일하거나 보다 작을 수 있다.

이제, TOF 시스템(100') 1차 소스(120)에 의해 발생되는 광학 에너지를 증대하거나 심지어 교체하기 위해 220-1, 220-2, 220-3 등과 같은 보조 WOE(wireless optical emitter) 유닛이 사용되는 본 발명의 실시예를 고려한다. 앞서 설명된 PWOE 유닛이 통상 1차 광원(120)에 매우 가까이 장착되므로, WOE 유닛은 통상 TOF 시스템(100')으로부터 떨어져서 배치될 것이다.

그 다음, 보조 WOE(wireless optical emitter) 유닛의 이용을 고려한다. 본 발명에 따른 WOE 유닛은 PWOE 유닛보다 더 복잡하다. 도 2에 의해 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예는 TOF 시스템(100)으로부터 S_out 방출에 대한 주파수 및 위상에 바람직하게는 무선으로 그리고 바람직하게는 광학적으로 그리고 동적으로 동기화되는 적어도 하나의 WOE 유닛(220-1, 220-2, 220-3, 220-4)을 배치함으로써 TOF 시스템(100')에 의해 방출되는 유효 광 전력을 증대한다. 언급된 바와 같이, 그러한 유닛에 의해 방출되는 광 전력은 TOF 시스템에 의해 방출되는 S_out 광 전력보다 작거나, 크거나, 같을 수 있다. 비교적 저전력 WOE의 장점은 상당히 적은 비용 및 폼 팩터와, 그것을 대상 물체에 비교적 가까이 배치하는 능력이다. 바람직하게는 각 WOE는 독립형 유닛이며, 배터리 동작될 수 있다. 각 WOE는 상이한 특성을 갖는 유닛과 다를 수 있는 출력 광학 에너지 FOV(field-of-view)를 가질 것이다. 일부 실시예는 TOF 시스템(100')으로부터 일부 S_out 에너지를 차단하며 동일한 것을 WOE 유닛으로 반사하기 위해 미러(185)와 같은 반사면을 포함할 수 있다. 당연하게도 일부 응용에서, 각종 WOE 유닛의 이상적인 위치 선정은 곤란해질 수 있으며, 반사면은 WOE 유닛의 이상적인 배치보다 보다 더 작게 수신할 수 있다.

당연하게도, 트레이드 오프는 WOE 유닛의 위치 선정 또는 위치와 그 개별 FOV 사이에 존재한다. 예를 들어 WOE 유닛(220-3)이 비교적 저출력, 가능하면 150 mW를 가질 수 있다면, 비교적 넓은 FOV만을 갖는다. 필요에 따라 더 좁은 유효 FOV 내에서 더 많은 광학 에너지를 집중하기 위해 WOE 유닛(220-3) 내의 광학 방출기에 콜리메이터를 추가할 수 있다. FOV가 너무 작으면, 방출된 광을 확장 및 확산하기 위해 광학 방출기에 확산기를 추가해서 FOV를 효과적으로 증대시킬 수 있다. 대부분, TOF 시스템(100')은 도 1a 내의 TOF 시스템(100)과 동일하지만, 프로세서, 예를 들어 프로세서(160)에 의해 실행가능한 메모리(170)에 저장되거나 저장될 수 있는 적어도 하나의 소프트웨어 루틴(175)을 포함하는 것이 바람직할 것이다. 루틴(175)의 실행은 여기에 설명된 바와 같이 하나 이상의 WOE 유닛으로 TOF 시스템(100') 동작을 쉽게 한다.

WOE 유닛에 대한 일부 위치 선정은 다른 것보다 더 좋다. 도 2에서, 명백히 TOF 100'로부터 대상 물체(20)로 직접 광학 에너지에 의해 취해지는 경로는 TOF 100'로부터 WOE 유닛(220-1)으로, 그리고 WOE 220-1로부터 대상 물체로 광학 에너지에 의해 취해지는 결합된 경로보다 더 작다. 더 좋은 수행은 WOE 유닛이 TOF 100'와 대상 물체(20) 사이의 방사상 구조 상에 배치될 수 있으면 실현된다. WOE 유닛이 TOF 100'에 비교적 가까이 배치될 때, 방사상 배열의 이상적인 조건은 일반적으로 대략 만족된다. 실제로, 내재 방사상 배열이 발생될 수 없으며, 바람직하게는 TOF 100'와 바람직하게 관련된 소프트웨어는 적절한 교정이 이루어지게 할 수 있다.

TOF 시스템의 동작 특성은 통상 수행될 응용에 의해 결정된다. 범용 TOF 시스템(100')에 대한 예시적 시스템 특성은 가능하면 방출기(120)로부터의 1 W 광 전력 출력일 수 있으며, TOF 시스템 변조 주파수(ω)는 데이터가 30-60 프레임/초에서 획득된 상태로 가능하면 50 MHz-100 MHz와 비슷할 수 있다. 최종 TOF 시스템은 가능하면 3 M의 유효 범위를 가질 것이다. 예시적 WOE 유닛은 물론 동일한 시스템 변조 주파수에 동적으로 동기화되며 TOF S_out 방출과 동일한 위상을 갖도록 동적으로 동기될 수도 있다. 개별 WOE로부터의 예시적 광 전력 출력은 가능하면 100 mW만큼 낮거나 수 와트만큼 높을 수 있다.

도 3은 도 2의 예시적 WOE 220-n, 예를 들어 유닛(220-1, 또는 220-2, 또는 220-3, 220-4 등)을 도시한다. 각 WOE 220-n은 착신 신호(S_in)로서 TOF 시스템(100')에 의해 방출되는 S_out 광학 에너지의 적어도 일부를 수신하며, 착신 신호(S_in)와 주파수(ω) 및 위상(φ)에 동기되는 광학 에너지(S_out _-n)를 출력하도록 기능한다. 이 기능은 바람직하게는 PLL(phase lock loop) 시스템(230)을 각 WOE 유닛(220-n)에 바람직하게 제공함으로써 구현된다. PLL 230은 제 1 입력으로 S_in 주파수(ω) 및 위상(φ) 정보를 포함하는 신호를 수신하며, 제 2 입력으로서 S_out _-n ω 및 위상(φ) 정보를 포함하는 신호를 수신한다. 폐루프 피드백은 WOE 220-n에 의해 방출되는 S_out _-n 광학 에너지의 주파수(ω) 및 위상(φ)이 검출된 TOF 방출 S_in의 주파수(ω) 및 위상(φ)에 동기되게 한다. 따라서, 각 WOE 유닛에 의해 방출되는 S_out-n 광학 에너지는 주파수 및 위상에서 TOF 시스템(100')에 의해 방출되는 검출된 유입 광학 에너지(S_in)를 복제한다. 이득은 S_out _-n의 크기가 S_in의 크기보다 클 수 있으며 WOE 유닛이 TOF 시스템(100')보다 대상 물체에 아주 근접해서 위치될 수 있다는 점에서 실현된다.

도 3에서, TOF 시스템(100')으로부터의 광학 에너지(S_out)(신호(S_in)로 표시되는)는 적어도 하나의 광학 센서(240-A, 240-A')에 의해 검출된다. 각종 240-A 센서는 TOF 시스템(100')에 조준하는 것을 쉽게 하며, S_out 방출을 보다 좋게 검출하기 위해 선회 기구(250)로 기계적으로 장착되는 것이 바람직하다. 도 3의 우측부를 보면, WOE 방출기(260)에 의해 방출되는 광학 에너지는 직접 또는 파이버 옵틱스(270) 등의 이용을 통해 WOE 센서(240-B)에 의해 검출된다. 바람직하게는 방출기(260)는 대상 물체(20), 또는 그 위의 영역을 향해 S_out _-n 광학 에너지의 조준을 쉽게 하기 위해 선회 기구(swivel mechanism)(280)로 기계적으로 장착된다. 선회 기구(250, 280) 등은 WOE 유닛이 더 좋게 TOF 시스템으로부터 유입 S_out 광학 에너지의 크기를 증대 및 가능하게 최대화하며, 그리고/또는 대상 물체 상에 있는 WOE 유닛으로부터 방출된 광학 에너지(S_out _-n)의 크기를 증대 및 가능하게 최대화할 수 있게 한다. 대상 물체에 마주치는 광학 에너지의 크기를 증가시키는 것이 바람직하며, 광학 에너지의 증대된 크기는 큰 진폭 S_in 신호가 검출을 위한 TOF 시스템으로 다시 반사되는 것을 의미한다. 물론 각종 WOE 모듈로부터의 광학 에너지(S_out _-n) 기여는 TOF 시스템에 의해 방출된 것에 대하여 적당한 변조 주파수 및 위상을 갖기를 원한다. 센서(240-B)로부터의 신호는 WOE 방출 광학 에너지(S_out _-n)에 관한 주파수(ω) 및 위상(φ) 정보를 포함하는 것에 주목한다.

PLL 230 내에서, 비교기 유닛(290)은 입력으로서 S_in 및 S_out _-n 신호 둘 다를 수신하며 따라서 유입 광학 에너지(S_in) 및 WOE 복제 출력 광학 에너지(S_out _-n) 둘 다에 관한 주파수(ω) 및 위상(φ)을 수신한다. 이 신호는 비교기(290) 내에서 비교되며, 비교기 출력 신호는 저역 통과 필터(300)에 연결된다. 필터(300)로부터의 출력 신호는 바람직하게는 전압 제어 발진기(310)를 구동하며, 그의 출력 주파수(ω) 및 출력 위상(φ)은 S_in의 주파수 및 위상에 동기되도록 피드백에 의해 강요된다. 방출기(260)로부터의 전력 출력은 TOF 시스템 방출기(120)에 의해 방출되는 광 전력과 다를 수도 있다(도 1a 참조).

이러한 방식으로, 각 WOE 유닛(220-n)은 TOF 방출 광학 에너지 신호(S_out)에 대한 주파수 및 위상에서 동적으로 동기화되는 광학 에너지(S_out _-n)를 출력한다.TOF 센서 어레이(130)(도 1a 참조)에 관한 한, 모든 유입 광학 에너지(S_in)는 TOF 방출기(120)에 의해 방출될지라도 고려될 수 있다. 본래, 각 WOE 220-n은 TOF 시스템(100)으로부터 입력 파면 S_out를 사용하며, 입력 파면에 대한 주파수 및 위상에서 동기화되는 출력 파면 S_out _-n을 발생시킴으로써 파면을 복제한다.

도 3에도 도시된 바와 같이, 각 WOE 유닛(220-n)은 전원(Vcc), 예를 들어 배터리뿐만 아니라, 메모리(300) 및 메모리에 저장된 적어도 하나의 루틴을 선택적으로 실행하도록 연결된 프로세서(310)를 포함하는 것이 바람직하다. 일부 실시예에 있어서, 메모리(300)는 WOE 유닛(220-n)을 위한 최신 PLL 동기 파라미터를 저장할 수 있다. 이것은 동기 조건을 위한 각 유닛의 최신 PLL 파라미터를 동적으로 저장함으로써 각 WOE 내의 주파수 및 위상 동기화가 촉진될 수 있다는 점에서 유리하다. 프로세서(310)는 가장 최근에 저장된 동기 데이터에 액세스해서 이 정보를 PLL 시스템(250)에 제공하는 것이 바람직하다. PLL 시스템(250)은 그 자체의 주파수 및 위상 동기를 달성하지만, 가장 최근에 저장된 동기 파라미터로부터의 개시는 각 WOE 내에서 동기의 달성을 신속하게 할 수 있다. TOF 시스템(100') 내에서 좋은 깊이 데이터를 발생시키는 것은 모든 S_in 신호가 TOF 방출 S_out 신호에 대한 주파수 및 위상에서 동기화되는 것을 필요로 한다. 실제로, 각 WOE 유닛은 TOF S_out 광 방출의 주파수(ω) 및 위상(φ)에 대해 안정적으로 동기화되는 S_out _-n을 발생시키는데 한정된 시간이 걸린다. 바람직하게는 메모리(170)(도 2 참조) 내의 루틴(175)은 WOE에 대해 가장 긴, 즉 최적으로 안정된 그러한 동기 시간 정보를 저장할 수 있다. 이 정보는 TOF 시스템(100')에게 안정된 동기 정보가 획득되기 전에 WOE로부터 정보를 포함하는 S_in 신호의 일부를 무시하라고 효과적으로 지시하기 위해 프로세서(160)(도 1a 참조)에 의해 사용가능하다.

당연하게도, 실제로 203 및 따라서 유닛(220-1)에 도달하는 광학 에너지(S_out)는 어쩌면 가까운 부근에서 동작하는 다른 TOF 시스템으로부터 다중 경로 및/또는 기여로 인해 다수의 위상을 갖는 광학 에너지를 포함할 수도 있다. S_out 광학 에너지는 예를 들어 유닛(220-1)에 도달하기 전에 국부 환경에서 벽 또는 가구에 반사될 수 있다. 일 실시예에 있어서, 유입 S_out 광학 에너지는 예를 들어 렌즈, 예를 들어 도 3의 렌즈(232)에 통과됨으로써 공간적으로 구별된다. 렌즈(232)의 존재는 소정의 조준선으로부터 나오는 유입 TOF 시스템 광학 에너지 광선만이 240-A 상에 초점을 맺게 한다. 다른 실시예에 있어서, 다수의 센서(240-A, 240-A')가 제공될 수 있으며, 각각은 그 자체의 조준선을 갖는 것이 바람직하다. 이 복수의 센서는 공통 렌즈, 예를 들어 232'를 공유할 수 있거나, 센서(240-A)와 함께 도시된 렌즈(232)와 같은 개별 렌즈를 가질 수 있다. 이 센서는 어레이 형상으로 공통 기판 상에 구현될 수 있으며, 캘리포니아주 서니베일의 Canesta, Inc.에 수여되고 현재 Microsoft, Inc.에 양도된 다수의 미국 특허에 기재된 바와 같이 위치 기반 픽셀일 수 있는 것이 바람직하다. 복수의 센서(240-A)는 기본 깊이 이미지(234)를 형성하기 위해 이용될 수 있다. 예를 들어 WOE 220-1과 결합된 메모리(300)에 저장된 소프트웨어 루틴은 이미지(234)로부터 최적의 센서(240-A, 240-A' 등)를 지능적으로 식별 및 선택할 수 있는 것이 바람직하며, 그 광 출력 신호는 PLL 250에 의해 이용될 것이다. 대안으로, WOE 220-1로, 그 내부로, 및 그로부터의 광학 또는 전자기 에너지는 한정없이 파이버 옵틱스, 전기 케이블링 등을 포함하는 다른 기술을 이용하여 조종될 수 있다.

각종 실시예에 있어서, PLL 250 내에서 동기를 달성하는 것은 동시에 발생하지 않는 것이 이해된다. 따라서, 고유 지연을 보상하기 위해, TOF 시스템(100') 내에서, 1차 광학 에너지 방출기 또는 소스(120)로부터의 광 출력의 개시를 명령하는 클록 모듈(180) 신호는 어레이(130) 내에서 신호 통합 및 광학 에너지 검출을 제어하는 클록 신호보다 더 이른 시간에 발행될 것이다. 다른 실시예에 있어서, 각종 WOE 내에서, 내부 메모리, 예를 들어 300은 이전에 조우되고 관찰된 주파수 위상 레짐(regime)을 저장할 수 있고, 따라서 이 정보에 신속히 액세스해서 주파수 및 위상을 동기하는데 필요한 시간을 단축할 수 있다. 일부 응용에서, 적어도 하나의 WOE가 제로 위상 이외의 위상을 갖는 적어도 일부 광학 에너지를 방출하게 하고, 예를 들어 의도적으로 WOE가 반사된 광학 에너지 또는 전자기 방사선을 인지할 수 있게 하는 것이 바람직할 수 있다.

설명된 것 이외의 실시예가 또한 이용될 수 있다. 예를 들어, 도 1a 및 도 2를 참조하면, WOE로부터 착신 S_out 에너지를 샘플링하기 위해 픽셀 어레이(130) 내에서 제 1 픽셀(155)을 이용할 수 있다. 어레이 내의 제 2 픽셀(155)은 가능하면 270과 같은 파이버 옵틱스를 이용하여 TOF 시스템(100') S_out를 샘플링하기 위해 이용될 수 있다. 이 2개의 픽셀 출력으로부터 출력 신호들 사이의 에러는 동기화를 구동하기 위해 신호를 발생시킬 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 각종 WOE는 배터리 동작될 수도 있으며(그러나 동작될 필요는 없으며), 바람직하게는 어떤 광학 에너지 또는 전자기 유입 에너지가 검출되지 않을 때, 각종 WOE는 동작 전력을 보존하기 위해 정지될 수 있다. 물론, 이 유닛은 유입 에너지의 검출이 WOE로 하여금 완전히 다시 파워 온 되게 하도록 저전력 소비 대기 모드에 있을 것이다. 선택적으로, 각종 WOE 동작 파라미터는 케이블을 통해 또는 무선으로, 예를 들어 RF, 또는 가능하면 TOF 시스템(100')으로부터의 특수 변조를 이용하여 개별 유닛으로 다운로드될 수 있다.

개시된 실시예에 대한 수정 및 변화가 이하의 청구범위에 의해 정의된 바와 같은 본 발명의 주제와 사상을 벗어나지 않으면서 이루어질 수 있다.

Claims

변조 주파수(ω) 및 위상(φ)을 갖는 광학 에너지(S_out)를 방출하는 1차 광원을 포함하고 거리(Z)만큼 떨어진 대상 물체에 의해 반사되어 오는 방출된 상기 광학 에너지의 적어도 일부인 S_in을 검출하며, S_in 내의 상기 위상(φ)의 시프트로부터 상기 거리(Z)를 결정하는 위상 기반 TOF(time-of-flight) 시스템으로서,
출력 광학 에너지가 상기 대상 물체에게 상기 TOF 시스템에 의해 방출되는 광학 에너지와 실질적으로 구별하기 어려운 적어도 하나의 보조 광 방출 유닛을 더 포함하고,
상기 보조 광 방출 유닛은 WOE(wireless optical emitting) 유닛 및 PWOE(plug-wired optical emitting) 유닛 중 적어도 하나를 포함하며,
상기 보조 광 방출 유닛 각각에 의해 방출되는 광학 에너지는 상기 대상 물체에게 변조 주파수 및 위상이 상기 TOF 시스템에 의해 방출되는 광학 에너지(S_out)와 실질적으로 구별하기 어려운
위상 기반 TOF 시스템.
제 1 항에 있어서,
상기 적어도 하나의 보조 광 방출 유닛은 상기 TOF 시스템에 의해 발생되는 방출된 상기 광학 에너지(S_out)의 일부를 수신하도록 배치된 WOE 유닛이고, 상기 S_out는 상기 WOE 유닛에 의해 수신된 변조 주파수 및 위상 시프트를 가지며, 상기 WOE 유닛은 상기 WOE 유닛에 의해 수신된 광학 에너지에 대해 변조 주파수 및 위상(φ) 중 적어도 하나에 동적으로 동기된 출력 광학 에너지(S_out _-n)를 발생시키며,
상기 적어도 하나의 WOE 유닛의 동작은 상기 대상 물체에 의해 상기 TOF 시스템을 향해 반사되어 오는 광학 에너지의 유효 전력을 증가시키는
위상 기반 TOF 시스템.
제 1 항에 있어서,
상기 적어도 하나의 WOE 유닛은 (a) 상기 TOF 시스템의 외부에 배치되는 것, 및 (b) 상기 대상 물체로부터 상기 거리(Z)보다 작은 거리에 배치되는 것으로 구성되는 그룹으로부터 선택된 적어도 하나의 위치에 배치되는
위상 기반 TOF 시스템.
제 1 항에 있어서,
상기 적어도 하나의 WOE 유닛은
방출된 상기 S_out 광학 에너지의 일부를 수신하는 수단, 및
변조 주파수 및 위상 중 적어도 하나가 상기 WOE에 의해 수신된 TOF가 발생한 상기 S_out 광학 에너지와 동기화 가능한 광학 에너지(S_out _-n)를 발생시키는 수단을 포함하는
위상 기반 TOF 시스템.
제 1 항에 있어서,
상기 적어도 하나의 WOE 유닛은
VCO(voltage controlled oscillator), 및
상기 S_out와 S_out _-n 사이에서 상기 변조 주파수의 에러 및 상기 위상의 에러 중 적어도 하나를 나타내는 에러 신호를 발생시키는 PLL(phase-lock-loop) 유닛- 상기 에러 신호는 상기 S_out의 변조 주파수 및 위상에 S_out _-n의 변조 주파수 및 위상 중 적어도 하나를 동기시키기 위해 발생 수단에 폐루프 피드백으로 연결됨 -을 포함하는
위상 기반 TOF 시스템.
제 1 항에 있어서,
상기 적어도 하나의 WOE는 상기 WOE에 의해 수신되는 S_out로부터의 유입 광학 에너지의 양 및 상기 대상 물체에 도달하는 상기 WOE에 의해 방출된 S_out _-n 광학 에너지의 양 중 적어도 하나를 증가시키도록 상기 TOF 시스템에 대해 상기 WOE 유닛을 재위치시키는 수단을 포함하는
위상 기반 TOF 시스템.
제 1 항에 있어서,
상기 적어도 하나의 보조 광 방출 유닛은 상기 TOF 시스템에 제거 가능하게 연결가능한, 상기 1차 광원에 인접한 PWOE 유닛이며,
상기 TOF 시스템은 상기 1차 광원에 대한 지연에 대해 상기 PWOE 유닛을 교정하는 수단을 포함하는
위상 기반 TOF 시스템.
제 7 항에 있어서,
상기 교정 수단은
상기 1차 광원에 의해 방출되는 광학 에너지(S_out)만을 이용하여 상기 대상 물체의 1차 깊이 이미지를 획득하는 수단,
한번에 하나의 유닛씩 상기 PWOE 유닛 각각에 의해 방출되는 광학 에너지만을 이용하여 상기 대상 물체의 깊이 이미지를 획득하는 수단,
상기 1차 깊이 이미지와 상기 PWOE 유닛 각각에 의해 방출되는 광학 에너지를 이용하여 획득된 깊이 이미지를 하나씩 비교하는 수단, 및
상기 1차 깊이 이미지와 상기 PWOE 유닛 각각에 의해 방출되는 광학 에너지로 획득된 깊이 이미지 사이의 차이를 보상 후에 최소화하기 위해 상기 PWOE 유닛 각각과 관련된 지연을 보상하되, PWOE 유닛의 지연을 조정하지 않고 소프트웨어를 이용하는 수단을 포함하는
위상 기반 TOF 시스템.
제 7 항에 있어서,
상기 교정 수단은
상기 1차 광원에 의해 방출되는 광학 에너지(S_out)만을 이용하여 상기 대상 물체의 1차 깊이 이미지를 획득하는 수단,
한번에 하나의 유닛씩 상기 PWOE 유닛 각각에 의해 방출되는 광학 에너지만을 이용하여 상기 대상 물체의 깊이 이미지를 획득하는 수단,
상기 1차 깊이 이미지와 상기 PWOE 유닛 각각에 의해 방출되는 광학 에너지를 이용하여 획득된 깊이 이미지를 비교하는 수단, 및
각각 획득된 깊이 이미지의 적어도 하나의 픽셀들 사이에서 깊이 데이터의 차이가 최소화되도록 상기 PWOE 유닛의 지연을 변경하는 수단을 포함하는
위상 기반 TOF 시스템.
제 5 항에 있어서,
광학 에너지(S_out)의 적어도 일부를 수신하는 센서를 포함하는 적어도 하나의 WOE 유닛을 포함하며, 상기 WOE 유닛은
상기 WOE 유닛 내에서 적어도 제 1 센서 및 제 2 센서에 의해 획득하는 데이터를 이용해서 깊이 이미지를 형성하는 수단, 및
상기 센서 각각으로부터의 출력 신호에서 상기 PLL을 구동할 시에 이용하는 센서 출력을 식별하는 수단을 포함하는
위상 기반 TOF 시스템.
제 10 항에 있어서,
상기 적어도 하나의 WOE는 상기 PLL을 동기화하는데 사용하는 최상의 동기 데이터를 저장하는 메모리를 더 포함하는
위상 기반 TOF 시스템.
변조 주파수(ω) 및 위상(φ)을 갖는 광학 에너지(S_out)를 방출하며 거리(Z)만큼 떨어진 대상 물체에 의해 반사되어 오는 방출된 상기 광학 에너지의 적어도 일부인 S_in을 검출하며, S_in 내의 상기 위상(φ)의 시프트로부터 상기 거리(Z)를 결정하는 위상 기반 TOF(time-of-flight) 시스템의 검출 성능을 동적으로 증대시키는 방법으로서,
출력 광학 에너지가 상기 TOF 시스템에 의해 방출되는 광학 에너지로부터 상기 대상 물체와 구별하기 어려운 적어도 하나의 보조 광 방출 유닛으로부터 광학 에너지를 이용하는 단계를 포함하고,
상기 보조 광 방출 유닛은 WOE(wireless optical emitting) 유닛, 및 PWOE(plug-wired optical emitting) 유닛 중 적어도 하나를 포함하며,
상기 보조 광 방출 유닛 각각에 의해 방출되는 광학 에너지는 상기 TOF 시스템에 의해 방출되는 광학 에너지(S_out)와 변조 주파수 및 위상에서 상기 대상 물체와 구별하기 어려운
방법.
제 12 항에 있어서,
상기 TOF 시스템에 의해 발생되는 방출된 상기 광학 에너지(S_out)의 일부를 수신하도록 상기 적어도 하나의 보조 광 방출(WOE) 유닛을 배치하는 단계- 상기 S_out는 상기 WOE 유닛에 의해 수신된 변조 주파수 및 위상 시프트를 갖고, 상기 WOE 유닛은 상기 WOE 유닛에 의해 수신되는 광학 에너지에 대해 변조 주파수 및 위상(φ) 중 적어도 하나에 동적으로 동기된 출력 광학 에너지(S_out _-n)를 발생시킴 -를 포함하고,
상기 적어도 하나의 WOE 유닛의 동작은 상기 대상 물체에 의해 상기 TOF 시스템을 향해 반사되어 오는 광학 에너지의 유효 전력을 증가시키는
방법.
제 12 항에 있어서,
(a) 상기 TOF 시스템의 외부에 배치되는 것, 및 (b) 상기 대상 물체로부터 상기 거리(Z)보다 작은 거리에 배치되는 것으로 구성되는 그룹으로부터 선택된 적어도 하나의 위치에 상기 적어도 하나의 WOE 유닛을 배치하는 단계를 더 포함하는
방법.
제 12 항에 있어서,
방출된 상기 S_out 광학 에너지의 일부를 수신하는 수단, 및
상기 WOE에 의해 수신되는 TOF가 발생시킨 상기 S_out 광학 에너지와 변조 주파수 및 위상 중 적어도 하나에 있어 동기화 가능한 광학 에너지(S_out _-n)를 발생시키는 수단을 상기 적어도 하나의 WOE 유닛에 제공하는 단계를 더 포함하는
방법.
제 10 항에 있어서,
상기 S_out의 변조 주파수 및 위상에 S_out _-n의 변조 주파수 및 위상 중 적어도 하나를 동기화시키기 위해 폐루프 피드백 시스템을 상기 적어도 하나의 WOE 유닛에 제공하는 단계를 더 포함하는
방법.
제 16 항에 있어서,
상기 폐루프 피드백 시스템은
VCO(voltage controlled oscillator), 및
상기 S_out와 S_out _-n 사이에서 상기 변조 주파수의 에러 및 상기 위상의 에러 중 적어도 하나를 나타내는 에러 신호를 발생시키는 PLL(phase-lock-loop) 유닛- 상기 에러 신호는 상기 S_out의 변조 주파수 및 위상에 S_out _-n의 변조 주파수 및 위상 중 적어도 하나를 동기시키기 위해 상기 발생 수단에 폐루프 피드백으로 연결됨 -을 포함하는
방법.
제 12 항에 있어서,
상기 WOE에 의해 수신되는 S_out로부터의 유입 광학 에너지의 양 및 상기 대상 물체에 도달하는 상기 WOE에 의해 방출되는 S_out _-n 광학 에너지의 양 중 적어도 하나를 증가시키도록 상기 TOF 시스템에 대해 상기 WOE 유닛을 재위치시키는 단계를 더 포함하는
방법.
제 12 항에 있어서,
상기 적어도 하나의 보조 광 방출 유닛은 상기 TOF 시스템에 제거 가능하게 연결가능한, 상기 1차 광원에 인접한 PWOE(plug-wired optical emitting) 유닛이며,
상기 1차 광원에 대한 지연에 대해 상기 PWOE를 교정하는 수단을 상기 TOF 시스템에 제공하는 단계를 포함하는
방법.
제 19 항에 있어서,
상기 교정 수단은
상기 1차 광원에 의해 방출되는 광학 에너지(S_out)만을 이용하여 상기 대상 물체의 1차 깊이 이미지를 획득하는 것,
한번에 하나의 유닛씩 상기 PWOE 유닛 각각에 의해 방출되는 광학 에너지만을 이용하여 상기 대상 물체의 깊이 이미지를 획득하는 것,
상기 1차 깊이 이미지와 상기 PWOE 유닛 각각에 의해 방출되는 광학 에너지를 이용하여 획득된 깊이 이미지를 비교하는 것, 및
각각 획득된 깊이 이미지의 적어도 하나의 픽셀들 사이에서 깊이 데이터의 차이가 최소화되도록 상기 PWOE 유닛 각각과 관련된 지연을 보상하는 것을 포함하는
방법.
제 17 항에 있어서,
상기 TOF 시스템은 광학 에너지(S_out)의 적어도 일부를 수신하는 센서를 갖는 적어도 하나의 WOE 유닛을 포함하며, 상기 WOE 유닛은
상기 WOE 유닛 내에서 적어도 제 1 센서 및 제 2 센서에 의해 획득하는 데이터를 이용하여 깊이 이미지를 형성하는 단계, 및
상기 센서 각각으로부터의 출력 신호에서 상기 PLL을 구동할 시에 사용하는 센서 출력을 식별하는 단계를 수행하는
방법.
제 19 항에 있어서,
상기 교정 수단은
상기 1차 광원에 의해 방출되는 광학 에너지(S_out)만을 이용하여 상기 대상 물체의 1차 깊이 이미지를 획득하는 단계,
한번에 하나의 유닛씩 상기 PWOE 유닛 각각에 의해 방출되는 광학 에너지만을 이용하여 상기 대상 물체의 깊이 이미지를 획득하는 단계,
상기 1차 깊이 이미지와 상기 PWOE 유닛 각각에 의해 방출되는 광학 에너지를 이용하여 획득된 깊이 이미지를 비교하는 단계, 및
각각 획득된 깊이 이미지의 적어도 하나의 픽셀들 사이에서 깊이 데이터의 차이가 최소화되도록 상기 PWOE 유닛의 지연을 변경하는 단계를 수행하는
방법.
제 12 항에 있어서,
상기 보조 광 방출 유닛은 적어도 하나의 상기 PWOE 유닛이며,
상기 1차 소스가 광학 에너지를 출력할 수 없게 하는 단계, 및
적어도 하나의 상기 PWOE 유닛에 의한 광학 에너지 출력만을 이용하여 데이터를 획득하도록 상기 TOF 시스템을 동작시키는 단계를 더 포함하는
방법.
제 17 항에 있어서,
상기 TOF 시스템은 광학 에너지(S_out)의 적어도 일부를 수신하는 센서를 포함하는 적어도 하나의 WOE 유닛을 포함하며,
상기 방법은,
상기 WOE 유닛 내에서 적어도 제 1 센서 및 제 2 센서에 의해 획득되는 데이터를 이용하여 깊이 이미지를 상기 적어도 하나의 WOE 유닛 내에 형성하는 단계, 및
상기 센서 각각으로부터의 출력 신호에서 상기 PLL을 구동할 시에 사용하는 센서 출력을 상기 적어도 하나의 WOE 유닛 내에서 식별하는 단계를 더 포함하는
방법.
제 24 항에 있어서,
상기 PLL을 동기화할 시에 사용하는 최상의 동기 데이터를 상기 WOE 유닛 각각 내에 저장하는 단계를 더 포함하는
방법.