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KR20070071341A - 액정표시장치 및 이의 테스트 방법 - Google Patents

액정표시장치 및 이의 테스트 방법 Download PDF

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KR20070071341A
KR20070071341A KR1020050134693A KR20050134693A KR20070071341A KR 20070071341 A KR20070071341 A KR 20070071341A KR 1020050134693 A KR1020050134693 A KR 1020050134693A KR 20050134693 A KR20050134693 A KR 20050134693A KR 20070071341 A KR20070071341 A KR 20070071341A
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KR
South Korea
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liquid crystal
signal
gate
data
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Application number
KR1020050134693A
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Inventor
이동주
Original Assignee
삼성전자주식회사
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Publication date
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Abstract

본 발명은 COG 형태의 액정표시장치에서 게이트 및 데이터 구동신호를 테스트하기 위한 테스트 포인트가 형성된 액정표시장치 및 이의 테스트 방법에 관한 것이다.
이를 위하여, 본 발명은 게이트트 라인 및 데이터 라인이 형성된 액정패널과, 상기 액정패널 상에 칩온글라스 형태로 실장되고, 화상신호, 제어신호 및 전원신호가 입력되는 다수의 입력단과 상기 액정패널의 게이트 라인 및 데이터 라인에 게이트 및 데이터 구동신호를 출력하는 다수의 출력단을 구비하며, 적어도 하나의 출력단과 접속된 더미 범프가 형성된 패널구동회로부 및 상기 더미 범프와 접속된 테스트 포인트를 구비한 액정표시장치 및 이의 테스트 방법을 제공한다.

Description

액정표시장치 및 이의 테스트 방법{LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND TEST METHOD THEREOF}
도 1은 종래 액정표시장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3은 도 2에 도시된 패널구동회로부를 확대한 확대도이다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 테스트 방법을 순차적으로 도시한 흐름도이다.
<도면부호의 간단한 설명>
100: 액정패널 110: 박막 트랜지스터 기판
120: 컬러 필터 기판 130: 패널구동회로부
131: 단자연결라인 140: 출력단
150: 입력단 160: 더미 범프
170: 타이밍 컨트롤러 180: 전원부
200: 테스트 포인트 210: 연결라인
250: 가요성 인쇄회로
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 COG 형태의 액정표시장치에서 게이트 및 데이터 구동신호를 테스트하기 위한 테스트 포인트가 형성된 액정표시장치 및 이의 테스트 방법에 관한 것이다.
통상의 액정표시장치는 전계를 이용하여 유전율 이방성을 갖는 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시하게 된다. 이를 위하여, 액정표시장치는 액정셀들이 매트릭스형으로 배열된 액정 표시 패널과 액정 표시 패널을 구동하기 위한 구동 회로를 구비한다.
액정 표시 패널은 액정셀들이 화소 신호에 따라 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시한다.
도 1은 종래 액정표시장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 1을 참조하면, 액정표시장치는 액정패널(10)과, 액정패널(10)을 구동하는 패널구동회로부(20)와 구동회로 전원신호 및 제어신호를 공급하기 위한 전원부 및 타이밍 컨트롤러와, 전원부 및 타이밍 컨트롤러가 실장되며 액정패널과 접속된 가요성 인쇄회로(30)를 구비한다.
구체적으로, 액정패널(10)은 액정을 사이에 두고 합착된 컬러 필터 기판(12) 과 박막 트랜지스터 기판(11)을 구비한다. 이러한 액정패널(10)은 데이터 라인(DL) 및 게이트 라인(GL)의 교차부에 매트릭스 형태로 배치되는 다수개의 액정셀(Clc)을 구비한다. 액정셀(Clc)의 각각에 형성된 박막 트랜지스터(TFT)는 게이트 라인(GL)으로부터 공급되는 스캔 신호에 응답하여 데이터 라인(DL)으로부터 공급되는 화상 신호를 액정셀(Clc)에 충전한다. 액정셀(Clc)은 충전된 화상 신호에 따라 유전 이방성을 갖는 액정을 구동하여 광투과율을 조절한다.
패널구동회로부(20)는 박막 트랜지스터 기판(11) 상에 COG(Chip On Glass) 방식으로 실장된 게이트 구동칩 및 데이터 구동칩을 포함한다. 게이트 구동칩은 게이트 라인(GL)으로 스캔 신호를 공급하고 데이터 구동칩은 데이터 라인(DL)으로 화상 신호를 공급한다.
타이밍 컨트롤러는 외부로부터 입력된 적색, 녹색, 청색의 디지털 비디오 데이터와, 제어신호를 생성하여 패널구동회로부(20)에 공급한다.
전원부는 패널구동회로부(20) 및 타이밍 컨트롤러에 전원신호를 공급한다.
타이밍 컨트롤러와 전원부에서 입력된 데이터 신호, 제어신호 및 전원신호가 패널구동회로부(20)에 공급되면 패널구동회로부(20)에서는 액정패널(10)의 게이트 라인(GL)에 공급되는 게이트 온 전압(Von) 및 게이트 오프 전압(Voff)을 생성하여 게이트 라인(GL)에 순차적으로 공급하고, 게이트 라인(GL)에 공급된 스캔신호에 응답하여 데이터 라인에 화상신호를 공급한다. 이 때, 패널구동회로에서 액정패널로 공급되는 데이터 신호를 테스트하게 된다.
그러나, 데이터 신호의 패턴 및 데이터 신호의 레벨을 측정하기 위해서는 공 간이 협소하므로 액정패널을 일부 파손하고 데이터 신호를 테스트해야 하는 문제점이 발생한다. 또한, 패널구동회로부에서 액정패널로 공급되는 게이트 라인 및 데이터 라인은 서로 인접하게 형성되어 데이터 라인에서 출력되는 데이터 신호의 테스트에 어려움이 있으며, 측정된 값의 신뢰도가 떨어지는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명의 목적은 COG 형태의 액정표시장치에서 게이트 및 데이터 구동신호를 테스트하는 테스트 포인트를 FPC 상에 형성한 액정표시장치 및 이의 테스트 방법을 제공하는 데 있다.
상기의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 게이트 라인 및 데이터 라인이 형성된 액정패널과, 상기 액정패널 상에 칩온글라스 형태로 실장되고, 화상신호, 제어신호 및 전원신호가 입력되는 다수의 입력단과 상기 액정패널의 게이트 라인 및 데이터 라인에 게이트 및 데이터 구동신호를 출력하는 다수의 출력단을 구비하며, 적어도 하나의 출력단과 접속된 더미 범프가 형성된 패널구동회로부 및 상기 더미 범프와 접속된 테스트 포인트를 구비한 것을 특징으로 하는 액정표시장치를 제공한다.
상기 액정패널에 접속된 가요성 인쇄회로를 더 구비한 것을 특징으로 한다.
상기 테스트 포인트는 상기 가요성 인쇄회로상에 형성된 것을 특징으로 한 다.
상기 더미 범프는 패널구동회로부의 내부를 통해 상기 출력단 중 어느 하나와 연결된 것을 특징으로 한다.
상기 가요성 인쇄회로는 상기 패널구동회로부에 데이터 신호 및 제어신호를 공급하는 타이밍 컨트롤러 및 상기 패널구동회로부 및 타이밍 컨트롤러에 전원신호를 공급하는 전원부를 더 구비한 것을 특징으로 한다.
상기 테스트 포인트와 상기 더미 범프를 연결하는 연결라인을 추가로 구비한 것을 특징으로 한다.
상기 테스트 포인트는 상기 패널구동회로의 게이트 구동신호가 출력되는 출력단과 상기 더미 범프 및 상기 연결라인을 경유하여 접속된 것을 특징으로 한다.
상기 테스트 포인트는 상기 패널구동회로의 데이터 구동신호가 출력되는 출력단과 상기 더미 범프 및 상기 연결라인을 경유하여 접속된 것을 특징으로 한다.
그리고 상기의 목적을 달성하기 위하여, 패널구동회로부에 화상신호, 제어신호 및 전원신호를 공급하는 단계와, 테스트 포인트에 계측장비의 프로브를 접속하는 단계와, 상기 패널구동회로부에서 발생되는 게이트 구동신호 또는 데이터 구동신호 중 적어도 어느 하나의 신호를 검출하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 테스트 방법을 제공한다.
본 발명의 다른 특징들은 첨부한 도면들을 참조한 실시예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.
이하, 도 2 내지 도 4을 참조하여 본 발명에 따른 구체적인 실시 예를 설명한다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 3은 도 2에 도시된 패널구동회로부를 확대한 확대도이다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 본 발명의 액정표시장치는 게이트 라인(GL) 및 데이터 라인(DL)이 형성된 액정패널(100)과, 액정패널(100) 상에 칩온글라스 형태로 실장되고, 화상신호, 제어신호 및 전원신호가 입력되는 다수의 입력단(150)과 액정패널(100)의 게이트 라인(GL) 및 데이터 라인(DL)에 게이트 및 데이터 구동신호를 출력하는 다수의 출력단(140)을 구비하며, 적어도 하나의 출력단(140)과 접속된 더미 범프(160)가 형성된 패널구동회로부(130) 및 상기 더미 범프(160)와 접속된 테스트 포인트(200)를 구비한다.
그리고 타이밍 컨트롤러(170)와 전원부(180)가 실장된 가요성 인쇄회로(250)는 액정패널(100)에 접속된다.
구체적으로, 액정패널(100)은 액정을 사이에 두고 합착된 컬러 필터 기판(120)과 박막 트랜지스터 기판(110)을 구비한다. 이러한 액정패널(100)은 데이터 라인(DL) 및 게이트 라인(GL)의 교차부에 매트릭스 형태로 배치되는 다수개의 액정셀(Clc)을 구비한다. 액정셀(Clc)의 각각에 형성된 박막 트랜지스터(TFT)는 게이트 라인(GL)으로부터 공급되는 스캔 신호에 응답하여 데이터 라인(DL)으로부터 공급되는 화상 신호를 액정셀(Clc)에 충전한다. 액정셀(Clc)은 충전된 화상 신호에 따라 유전 이방성을 갖는 액정을 구동하여 광투과율을 조절한다.
패널구동회로부(130)는 박막 트랜지스터 기판(110) 상에 COG(Chip On Glass) 방식으로 실장된 게이트 구동칩 및 데이터 구동칩을 포함한다. 게이트 구동칩은 게이트 라인(GL)으로 게이트 온 전압 및 게이트 오프 전압을 순차적으로 공급하고 데이터 구동칩은 데이터 라인(DL)으로 화상 신호를 공급한다.
도 3에 도시된 바와 같이, 패널구동회로부(130)는 다수의 입력단(150)과 다수의 출력단(140)이 구비되어 입력단(150)을 통해 화상신호, 제어신호 및 전원신호가 입력되고, 출력단(140)을 통해 게이트 라인(GL) 및 데이터 라인(DL)에 게이트 온 전압(Von) 및 게이트 오프 전압(Voff)의 게이트 구동신호를 순차적으로 공급하며, 데이터 라인(DL)에 화상 데이터 전압을 공급한다. 이러한 입력단(150)과 출력단(140)은 파인 피치되어 형성된다. 이 때, 패널구동회로부(130)는 적어도 하나 이상의 더미 범프(160)를 구비한다. 더미 범프는 패널구동회로부(130) 내부에서 출력단(140)과 연결된다. 다시 말하면, 출력단(140)과 더미 범프(160)가 일대일로 대응되어 패널구동회로부(130)의 내부에서 단자연결라인(131)을 통해 연결되며, 이러한 더미 범프(160)는 적어도 하나 이상 형성된다.
가요성 인쇄회로(250)는 타이밍 컨트롤러(170) 및 전원부(180)가 실장된다. 그리고 가요성 인쇄회로(250)의 소정영역에 더미 범프(160)와 연결되어 게이트 구동신호 또는 데이터 구동신호를 검출하는 테스트 포인트(200)를 구비한다. 또한, 패널구동회로부에 형성된 더미 범프(160)와 테스트 포인트(200)를 연결하는 연결라인(210)이 더 형성된다.
타이밍 컨트롤러(170)는 외부로부터 입력된 적색, 녹색, 청색의 디지털 비디 오 데이터와, 클럭신호(CK), 다음 게이트 라인을 선택하는 신호(CPV), 게이트 스타트 펄스(GPS) 및 출력 제어신호(OE) 등의 패널구동회로부(130)를 제어하는 제어신호를 생성하여 다수의 입력단과 연결된 신호라인을 통해 패널구동회로부(130)에 공급한다.
전원부(180)는 패널구동회로부(130)에 디지털 구동전압(VDD) 및 아날로그 구동전압(AVDD)을 공급하고, 타이밍 컨트롤러(170)에 디지털 구동전압(VDD) 등을 공급한다.
테스트 포인트(200)는 상술한 패널구동회로부(130)에 형성된 더미 범프(160)와 연결라인(210)을 통해 연결된다. 이러한 테스트 포인트(200)는 소정의 면적을 갖고 외부로 노출되어 형성되며 테스터기 또는 계측장비의 프로브가 접촉된다. 연결라인(210)은 가요성 인쇄회로(250) 상에 형성된 다수의 신호라인들과 중첩되지 않도록 형성되는 것이 바람직하다.
이러한 가요성 인쇄회로(250)는 이방성도전필름(Anisotropic Conductive Film; 이하 'ACF' 라 함)에 의해 액정패널(100)과 접속된다.
예를 들어, 데이터 구동신호의 출력단(140) 중 어느 하나와 연결된 더미 범프(160)는 연결라인(210)을 통해 가요성 인쇄회로(250)에 형성된 테스트 포인트(200)와 연결된다. 그리고 테스트 포인트(200)에 데이터 구동신호를 검출하기 위한 테스터기 또는 계측장비의 프로브를 연결한다. 그리고 데이터 구동신호의 파형 및 전압레벨 등의 신호특성을 측정한다. 데이터 구동신호의 파형은 일반적으로 공통 전압을 중심으로 교번하는 직사각형 파형을 나타낸다. 이때, 신호 파형의 찌그 러짐의 여부 및 공통 전압을 중심으로 피크 레벨의 교번하는 타이밍 등을 측정하여 패널구동회로부의 동작특성을 테스트한다.
이와 마찬가지로 게이트 구동신호의 출력단과 접속된 테스트 포인트에서 계측장비를 통해 게이트 구동신호를 측정할 수 있다. 게이트 구동신호 중 게이트 온 전압이 공급되는 동안의 게이트 온 전압의 피크 전압과 전압 파형을 측정하여 게이트 구동신호의 특성을 통해 패널구동회로부(130)의 동작특성을 테스트할 수 있다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 테스트 방법을 순차적으로 도시한 흐름도이다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 테스트방법은 패널구동회로부에 화상신호, 제어신호 및 전원신호를 공급하는 단계(S1)와, 테스트 포인트에 계측장비의 프로브를 접속하는 단계(S2)와, 상기 패널구동회로부에서 발생되는 게이트 구동신호 또는 데이터 구동신호 중 적어도 어느 하나의 신호를 검출하는 단계(S3)를 포함한다.
구체적으로, 화상신호, 제어신호 및 전원신호가 입력되는 다수의 입력단과 액정패널의 게이트 라인 및 데이터 라인에 게이트 및 데이터 구동신호를 출력하는 다수의 출력단을 구비하며, 적어도 하나의 출력단과 접속된 더미 범프가 형성된 패널구동회로부가 실장된 액정패널을 구비한다. 더미 범프는 가요성 인쇄회로에 형성된 테스트 포인트와 접속된다. 이 때, 더미 범프와 테스트 포인트는 연결라인을 통해 서로 연결된다. 여기서, 액정패널과 가요성 인쇄회로를 ACF를 통해 접속하므로써 더미 범프와 연결라인이 서로 접속된다.
가요성 인쇄회로는 타이밍 컨트롤러 및 전원부가 실장되어 패널구동회로부에 외부로부터 입력된 적색, 녹색, 청색의 디지털 비디오 데이터와, 클럭신호(CK), 다음 게이트 라인을 선택하는 신호(CPV), 게이트 스타트 펄스(GPS) 및 출력 제어신호(OE) 등의 패널구동회로부(130)를 제어하는 다수의 입력단과 연결된 신호라인을 통해 패널구동회로부(130)에 공급한다. 전원부에서 패널구동회로부에 디지털 구동전압(VDD) 및 아날로그 구동전압(AVDD)을 공급하고, 타이밍 컨트롤러에 디지털 구동전압(VDD) 등을 공급한다.
이렇게 화상신호, 제어신호 및 전원신호가 공급되면 패널구동회로부에서는 게이트 라인에 게이트 구동신호를 공급하고, 데이터 라인에 데이터 구동신호를 공급한다.
다음으로, 데이터 구동신호의 출력단과 연결된 테스트 포인트에 데이터 구동신호를 검출하기 위한 테스터기 또는 계측장비의 프로브를 연결한다.
다음으로 데이터 구동신호의 파형 및 전압레벨 등의 신호특성을 측정한다. 데이터 구동신호의 파형은 일반적으로 공통 전압을 중심으로 교번하는 직사각형 파형을 나타낸다. 이때, 신호 파형의 찌그러짐의 여부 및 공통 전압을 중심으로 피크 레벨의 교번하는 타이밍 등을 측정하여 패널구동회로부에서 정상적인 데이터 신호를 발생하는지의 여부를 테스트하게 된다.
이와 마찬가지로 게이트 구동신호의 출력단과 접속된 테스트 포인트에서 계측장비를 통해 게이트 구동신호를 측정할 수 있다. 게이트 구동신호 중 게이트 온 전압이 공급되는 동안의 게이트 온 전압의 피크 전압과 전압 파형을 측정하여 게이 트 구동신호의 특성을 통해 패널구동회로부의 동작특성을 테스트한다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정표시장치 및 이의 테스트 방법은 COG 형태의 액정표시장치에서 게이트 및 데이터 구동신호를 테스트하는 테스트 포인트를 FPC 상에 형성하여 테스트를 용이하게 할 수 있도록 한다.
이를 통해 구동신호를 측정함에 있어서 액정패널의 파손을 방지할 수 있다.
이상에서 상술한 본 발명은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다 할 것이다. 따라서 본 발명은 상술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정하지 않고 청구범위에 의해 그 권리가 정해져야 할 것이다.

Claims (9)

  1. 게이트 라인 및 데이터 라인이 형성된 액정패널과;
    상기 액정패널 상에 칩온글라스 형태로 실장되고, 화상신호, 제어신호 및 전원신호가 입력되는 다수의 입력단과 상기 액정패널의 게이트 라인 및 데이터 라인에 게이트 및 데이터 구동신호를 출력하는 다수의 출력단을 구비하며, 적어도 하나의 출력단과 접속된 더미 범프가 형성된 패널구동회로부; 및
    상기 더미 범프와 접속된 테스트 포인트를 구비한 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 액정패널에 접속된 가요성 인쇄회로를 더 구비한 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 테스트 포인트는 상기 가요성 인쇄회로상에 형성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 더미 범프는 패널구동회로부의 내부를 통해 상기 출력단 중 어느 하나 와 연결된 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  5. 제 2 항에 있어서,
    상기 가요성 인쇄회로는
    상기 패널구동회로부에 데이터 신호 및 제어신호를 공급하는 타이밍 컨트롤러; 및
    상기 패널구동회로부 및 타이밍 컨트롤러에 전원신호를 공급하는 전원부를 더 구비한 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  6. 제 2 항에 있어서,
    상기 테스트 포인트와 상기 더미 범프를 연결하는 연결라인을 추가로 구비한 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 테스트 포인트는 상기 패널구동회로의 게이트 구동신호가 출력되는 출력단과 상기 더미 범프 및 상기 연결라인을 경유하여 접속된 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 테스트 포인트는 상기 패널구동회로의 데이터 구동신호가 출력되는 출 력단과 상기 더미 범프 및 상기 연결라인을 경유하여 접속된 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  9. 패널구동회로부에 화상신호, 제어신호 및 전원신호를 공급하는 단계와;
    테스트 포인트에 계측장비의 프로브를 접속하는 단계와;
    상기 패널구동회로부에서 발생되는 게이트 구동신호 또는 데이터 구동신호 중 적어도 어느 하나의 신호를 검출하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 테스트 방법.
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