KR102300851B1 - 엘이디칩 전사헤드 및 이를 포함하는 엘이디칩 전사장비 - Google Patents
엘이디칩 전사헤드 및 이를 포함하는 엘이디칩 전사장비 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102300851B1 KR102300851B1 KR1020170048104A KR20170048104A KR102300851B1 KR 102300851 B1 KR102300851 B1 KR 102300851B1 KR 1020170048104 A KR1020170048104 A KR 1020170048104A KR 20170048104 A KR20170048104 A KR 20170048104A KR 102300851 B1 KR102300851 B1 KR 102300851B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- led chip
- donor
- panel
- chip transfer
- transfer head
- Prior art date
Links
- 238000012546 transfer Methods 0.000 title claims abstract description 121
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 134
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 24
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 23
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 23
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 14
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 14
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 12
- 230000008569 process Effects 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 5
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000009407 construction method and process Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000001338 self-assembly Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H01L33/005—
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/01—Manufacture or treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6838—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/075—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H10H20/00
- H01L25/0753—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H10H20/00 the devices being arranged next to each other
-
- H01L33/48—
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/80—Constructional details
- H10H20/85—Packages
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
- H01L2924/1204—Optical Diode
- H01L2924/12041—LED
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
Abstract
Description
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 베이스와 3축 구동기구를 도시한 사시도이다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 베이스와 3축 구동기구를 도시한 측면도이다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 엘이디칩 전사헤드가 도시된 사시도이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 엘이디칩 전사헤드가 도시된 측면도이다.
도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 엘이디칩 전사헤드의 저면도이다.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 엘이디칩 전사헤드의 분해 사시도이다.
도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 틸팅기구가 제1 모터 방향으로 도시된 사시도이다.
도 9는 본 발명의 실시 예에 따른 틸팅기구가 제2 모터 방향으로 도시된 사시도이다.
도 10은 본 발명의 실시 예에 따른 VCM 모터의 단면도이다.
도 11은 본 발명의 실시 예에 따른 에어 자이로의 단면도이다.
도 12는 본 발명의 실시 예에 따른 흡착판이 상판과 하판으로 분리된 사시도이다.
도 13은 도 12에 도시된 하판에 형성된 센서 삽입공 및 측정공이 확대 도시된 도면이다.
도 14는 도 12에 도시된 하판의 저면이 도시된 사시도이다.
도 15는 본 발명의 실시 예에 따른 거리측정센서가 도시된 사시도이다.
도 16은 본 발명의 실시 예에 따른 엘이디칩 전사장비의 동작 방법을 나타내기 위한 블록도이다.
도 17은 본 발명의 실시 예에 따른 엘이디칩 전사장비가 도너에 전사된 엘이디칩을 패널에 전사시키는 방법을 나타내는 순서도이다.
3: 3축 구동기구 4: 도너 스테이지
5: 패널 스테이지 6: 비전 센서
7: 패널 8: 제어부
10: 엘이디칩 전사헤드 20: 흡착판
30: 승강기구 40: 틸팅기구
50: 거리측정센서 70: 도너
Claims (10)
- 베이스와;
도너(Donor)에 전사된 엘이디칩을 패널에 전사하는 엘이디칩 전사헤드와;
상기 베이스에 올려지고, 상기 엘이디칩 전사헤드가 장착되며, 상기 엘이디칩 전사헤드를 3축 구동시키는 3축 구동기구와;
상기 엘이디칩 전사헤드를 제어하는 제어부를 포함하고,
상기 엘이디칩 전사헤드는
엘이디칩이 전사된 도너가 흡착되는 흡착판;
상기 흡착판이 연결되고 상기 흡착판을 승강시키는 승강기구와;
상기 승강기구가 연결되고 상기 승강기구를 틸팅시키는 틸팅기구와;
상기 흡착판의 복수의 영역에 장착되어 상기 흡착판의 상기 복수의 영역과 상기 패널의 대응하는 영역 사이의 거리를 측정하는 복수의 거리측정센서를 포함하고,
상기 제어부는,
상기 복수의 거리측정센서에서 측정된 복수의 거리를 상호 비교하여 상기 복수의 거리 사이의 차이값을 획득하고,
상기 획득된 복수의 차이값을 바탕으로 상기 도너와 상기 패널의 평행 여부를 판단하고,
상기 도너와 상기 패널이 평행하지 않은 경우, 상기 도너와 상기 패널이 평행하게 상기 틸팅기구를 구동한 후, 상기 승강기구를 하강시키는 엘이디칩 전사장비. - 제1항에 있어서,
상기 도너가 안착된 도너 스테이지와;
상기 패널이 안착된 패널 스테이지와;
상기 도너 스테이지와 패널 스테이지 사이에 배치되고 상기 도너에 형성된 마킹 위치를 인식하는 비전 센서를 더 포함하고,
상기 엘이디칩 전사헤드의 이동 방향을 따라 상기 도너 스테이지, 상기 비전 센서 및 상기 패널 스테이지이 순서로 배치되는 엘이디칩 전사장비. - 제2항에 있어서,
상기 제어부는 상기 비전 센서의 감지 결과에 따라 상기 도너의 마킹(Marking) 위치를 인식하고, 상기 인식된 마킹 위치에 기초하여 상기 도너가 상기 패널에 얼라인(align)되게 상기 3축 구동기구 및 엘이디칩 전사헤드를 제어하는 엘이디칩 전사장비. - 제1항에 있어서,
상기 패널은 상기 엘이디칩과 접착되는 접착제를 포함하고,
상기 엘이디칩과 접착제간의 접착력은 상기 도너와 상기 엘이디칩간의 접착력 보다 큰 엘이디칩 전사장비. - 제4항에 있어서,
상기 흡착판은
상기 도너와 상기 엘이디칩간의 접착력을 감소시키는 열원을 포함하고,
상기 제어부는,
상기 도너가 상기 패널에 접촉되면, 상기 도너와 상기 엘이디칩간이 접착력을 감소시키기 위해 상기 열원을 구동하는 엘이디칩 전사장비. - 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020170048104A KR102300851B1 (ko) | 2017-04-13 | 2017-04-13 | 엘이디칩 전사헤드 및 이를 포함하는 엘이디칩 전사장비 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020170048104A KR102300851B1 (ko) | 2017-04-13 | 2017-04-13 | 엘이디칩 전사헤드 및 이를 포함하는 엘이디칩 전사장비 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20180115584A KR20180115584A (ko) | 2018-10-23 |
KR102300851B1 true KR102300851B1 (ko) | 2021-09-13 |
Family
ID=64101612
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020170048104A KR102300851B1 (ko) | 2017-04-13 | 2017-04-13 | 엘이디칩 전사헤드 및 이를 포함하는 엘이디칩 전사장비 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102300851B1 (ko) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102189680B1 (ko) | 2018-11-22 | 2020-12-11 | 한국광기술원 | 마이크로 led의 선택 전사방법 |
KR20200109493A (ko) * | 2019-03-13 | 2020-09-23 | (주)큐엠씨 | 반도체 칩을 전사하는 전사 장치 및 방법 |
WO2021054508A1 (ko) | 2019-09-19 | 2021-03-25 | 엘지전자 주식회사 | 반도체 발광소자의 자가조립 장치 |
KR102323256B1 (ko) | 2019-09-19 | 2021-11-08 | 엘지전자 주식회사 | 반도체 발광소자의 자가조립 장치 |
WO2020117032A2 (ko) * | 2019-09-19 | 2020-06-11 | 엘지전자 주식회사 | 반도체 발광소자의 자가조립용 기판 척 |
WO2021054507A1 (ko) | 2019-09-19 | 2021-03-25 | 엘지전자 주식회사 | 반도체 발광소자의 자가조립 장치 |
WO2021054550A1 (en) | 2019-09-19 | 2021-03-25 | Lg Electronics Inc. | Device for self-assembling semiconductor light-emitting diodes |
WO2021054548A1 (en) | 2019-09-19 | 2021-03-25 | Lg Electronics Inc. | Substrate chuck for self-assembling semiconductor light-emitting diodes |
KR20210040684A (ko) | 2019-10-04 | 2021-04-14 | (주)포인트엔지니어링 | 마이크로 led 디스플레이 제조장치 및 마이크로 led 디스플레이 제조방법 |
KR102409486B1 (ko) * | 2020-04-21 | 2022-06-16 | (주)하드램 | 마이크로 엘이디 제조 장치 |
CN111599732A (zh) * | 2020-06-30 | 2020-08-28 | 厦门名大科技有限公司 | 一种可自定义排列方案的led芯片移印装置 |
JP7471190B2 (ja) * | 2020-09-30 | 2024-04-19 | 三菱電機株式会社 | 半導体素子特性検査装置 |
KR102486319B1 (ko) * | 2021-02-04 | 2023-01-10 | (주)하드램 | 마이크로 엘이디 선택적 공기층 전사 프린트 장치 |
KR102292225B1 (ko) * | 2021-03-31 | 2021-08-23 | 주식회사 톱텍 | 다이 본딩헤드 구조 |
KR102602309B1 (ko) * | 2021-08-04 | 2023-11-16 | (주)아이엔티에스 | 반도체 패키지 칩 스팀 세정장치 |
KR20230064115A (ko) | 2021-11-03 | 2023-05-10 | 엘지전자 주식회사 | 엘이디 전사 장치 및 그 제어방법 |
KR20230075706A (ko) * | 2021-11-23 | 2023-05-31 | 삼성전자주식회사 | 칩 본딩 장치 및 칩 본딩 방법 |
CN117038802B (zh) * | 2023-08-10 | 2024-06-04 | 深圳市优界科技有限公司 | 一种芯片转移装置的工作方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5804302B2 (ja) | 2006-02-21 | 2015-11-04 | 株式会社ニコン | 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6872635B2 (en) * | 2001-04-11 | 2005-03-29 | Sony Corporation | Device transferring method, and device arraying method and image display unit fabricating method using the same |
KR101233221B1 (ko) * | 2008-12-17 | 2013-02-15 | 세메스 주식회사 | 다이 본더용 피커 헤드 |
KR101543042B1 (ko) * | 2009-12-31 | 2015-08-07 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 장착 장치 및 방법 |
-
2017
- 2017-04-13 KR KR1020170048104A patent/KR102300851B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5804302B2 (ja) | 2006-02-21 | 2015-11-04 | 株式会社ニコン | 露光装置及び露光方法、並びにデバイス製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20180115584A (ko) | 2018-10-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102300851B1 (ko) | 엘이디칩 전사헤드 및 이를 포함하는 엘이디칩 전사장비 | |
JP6422499B2 (ja) | 実装装置および測定方法 | |
US8863808B2 (en) | Pair of substrate holders, substrate holder, substrate bonding apparatus and method for manufacturing device | |
JP5580163B2 (ja) | 実装装置の平行度調整方法および平行度調整装置 | |
CN107665847B (zh) | 一种键合对准设备和方法 | |
TW202335043A (zh) | 基板貼合裝置及基板貼合方法 | |
JP2000133684A (ja) | ボンディング装置 | |
EP3062333B1 (en) | Normal temperature bonding device | |
JP5080861B2 (ja) | ピックアップ装置およびピックアップ方法 | |
JP6275632B2 (ja) | 常温接合装置及び常温接合方法 | |
JP7107675B2 (ja) | 半導体実装装置および半導体実装方法 | |
JP5873988B2 (ja) | 部品移載装置 | |
JP5185886B2 (ja) | 倣い機構 | |
KR101733044B1 (ko) | 고속 자동 부품 본딩 시스템 | |
CN116859526B (zh) | 一种光器件贴装耦合设备及贴装方法 | |
JP6125804B2 (ja) | 部品実装装置、部品実装装置による部品の実装方法及びプログラム | |
JP2008078213A (ja) | 精密部品の組み付け装置 | |
WO2015056720A1 (ja) | 撮像モジュールの製造方法及び撮像モジュールの製造装置 | |
KR101475430B1 (ko) | 인코더용 지그 | |
KR102456887B1 (ko) | 칩 핸들링 장치 및 그의 정렬 방법 | |
JP6122280B2 (ja) | 部品実装装置、部品実装装置による部品の実装方法及びプログラム | |
CN114179002A (zh) | 晶片自动定位装置及晶片自动定位方法 | |
KR101669052B1 (ko) | 부품 실장기 | |
KR20210078355A (ko) | 카메라 틸팅 구조를 가진 박막 증착 장치 | |
JP2021190489A (ja) | 保護部材形成装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20170413 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20200116 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20170413 Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20210305 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20210614 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20210906 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20210907 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20240822 Start annual number: 4 End annual number: 4 |