KR101403640B1 - 반도체 발광소자 및 이를 봉지하는 방법 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 149
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 45
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 30
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 30
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims abstract description 17
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims abstract description 11
- 239000008393 encapsulating agent Substances 0.000 claims description 30
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 238000005215 recombination Methods 0.000 claims description 10
- 230000006798 recombination Effects 0.000 claims description 10
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 238000007743 anodising Methods 0.000 claims description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 9
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
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- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- H01L33/483—Containers
- H01L33/486—Containers adapted for surface mounting
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- H01L33/52—Encapsulations
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
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- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/49105—Connecting at different heights
- H01L2224/49107—Connecting at different heights on the semiconductor or solid-state body
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0033—Processes relating to semiconductor body packages
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0033—Processes relating to semiconductor body packages
- H01L2933/005—Processes relating to semiconductor body packages relating to encapsulations
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0033—Processes relating to semiconductor body packages
- H01L2933/0066—Processes relating to semiconductor body packages relating to arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body
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- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
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Abstract
본 개시는 산화막, 산화막에 의해 전기적으로 분리된 제1 도전부, 및 제2 도전부를 구비하며, 제1 면과 제1 면에 대향하는 제2 면을 가지고, 산화막이 제1 면으로부터 제2 면으로 이어진 금속 기판; 제1 면에서 제1 도전부와 접합되는 제1 전극, 및 제1 면에서 제2 도전부와 접합되는 제2 전극을 구비하는 반도체 발광소자 칩; 그리고, 반도체 발광소자 칩을 덮으며, 제1 면 전체에 형성된 봉지제;를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자 및 이를 봉지하는 방법에 관한 것이다.
Description
본 개시(Disclosure)는 전체적으로 반도체 발광소자 및 이를 봉지하는 방법에 관한 것으로, 특히 플립 칩의 봉지(Encapsulation)와 외부 전극 형성을 일체화한 반도체 발광소자 및 이를 봉지하는 방법에 관한 것이다.
여기서, 반도체 발광소자는 전자와 정공의 재결합을 통해 빛을 생성하는 반도체 광소자를 의미하며, 3족 질화물 반도체 발광소자를 예로 들 수 있다. 3족 질화물 반도체는 Al(x)Ga(y)In(1-x-y)N (0=x=1, 0=y=1, 0=x+y=1)로 된 화합물로 이루어진다. 이외에도 적색 발광에 사용되는 GaAs계 반도체 발광소자 등을 예로 들 수 있다.
여기서는, 본 개시에 관한 배경기술이 제공되며, 이들이 반드시 공지기술을 의미하는 것은 아니다(This section provides background information related to the present disclosure which is not necessarily prior art).
도 1은 종래의 반도체 발광소자의 일 예(Lateral Chip)를 나타내는 도면으로서, 반도체 발광소자는 기판(100), 기판(100) 위에, 버퍼층(200), 제1 도전성을 가지는 제1 반도체층(300), 전자와 정공의 재결합을 통해 빛을 생성하는 활성층(400), 제1 도전성과 다른 제2 도전성을 가지는 제2 반도체층(500)이 순차로 증착되어 있으며, 그 위에 전류 확산을 위한 투광성 도전막(600)과, 본딩 패드로 역할하는 전극(700)이 형성되어 있고, 식각되어 노출된 제1 반도체층(300) 위에 본딩 패드로 역할하는 전극(800)이 형성되어 있다. 버퍼층(200)은 생략될 수 있다.
도 2는 종래의 반도체 발광소자의 다른 예(Flip Chip)를 나타내는 도면으로서, 반도체 발광소자는 기판(100), 기판(100) 위에, 제1 도전성을 가지는 제1 반도체층(300), 전자와 정공의 재결합을 통해 빛을 생성하는 활성층(400), 제1 도전성과 다른 제2 도전성을 가지는 제2 반도체층(500)이 순차로 증착되어 있으며, 그 위에 기판(100) 측으로 빛을 반사시키기 위한 3층으로 된 전극막(901), 전극막(902) 및 전극막(903)이 형성되어 있고, 식각되어 노출된 제1 반도체층(300) 위에 본딩 패드로 기능하는 전극(800)이 형성되어 있다.
도 3은 종래의 반도체 발광소자의 또 다른 예(Vertical Chip)를 나타내는 도면으로서, 반도체 발광소자는 제1 도전성을 가지는 제1 반도체층(300), 전자와 정공의 재결합을 통해 빛을 생성하는 활성층(400), 제1 도전성과 다른 제2 도전성을 가지는 제2 반도체층(500)이 순차로 증착되어 있으며, 제2 반도체층(500)에 제1 반도체층(300)으로 빛을 반사시키기 위한 금속 반사막(910)이 형성되어 있고, 지지 기판(930) 측에 전극(940)이 형성되어 있다. 금속 반사막(910)과 지지 기판(930)은 웨이퍼 본딩층(920)에 의해 결합된다. 제1 반도체층(300)에는 본딩 패드로 기능하는 전극(800)이 형성되어 있다.
도 4는 미국 등록특허공보 제6,650,044호에 도시된 반도체 발광소자의 일 예를 나타내는 도면으로서, 반도체 발광소자는 플립 칩의 형태로, 기판(100), 기판(100) 위에, 제1 도전성을 가지는 제1 반도체층(300), 전자와 정공의 재결합을 통해 빛을 생성하는 활성층(400), 제1 도전성과 다른 제2 도전성을 가지는 제2 반도체층(500)이 순차로 증착되어 있으며, 그 위에 기판(100) 측으로 빛을 반사시키기 위한 반사막(950)이 형성되어 있고, 식각되어 노출된 제1 반도체층(300) 위에 본딩 패드로 기능하는 전극(800)이 형성되어 있으며, 기판(100) 및 반도체층(300,400,500)을 둘러싸도록 봉지제(1000)가 형성되어 있다. 반사막(950)은 도 2에서와 같이 금속층으로 이루어질 수 있지만, 도 5에 도시된 바와 같이, SiO2/TiO2로 된 DBR(Distributed Bragg Reflector)과 같은 절연체 반사막으로 이루어질 수 있다. 반도체 발광소자는 전기 배선(820,960)이 구비된 PCB(1200; Printed Circuit Board)에 도전 접착제(830,970)를 통해 장착된다. 봉지제(1000)에는 주로 형광체가 함유된다. 여기서 반도체 발광소자는 봉지제(1000)를 포함하므로, 구분을 위해, 봉지제(1000)를 제외한 반도체 발광소자 부분을 반도체 발광소자 칩이라 부를 수 있다. 이러한 방법으로 도 4에 도시된 바와 같이 반도체 발광소자 칩에 봉지제(1000)가 도포될 수 있다.
도 5는 종래의 반도체 발광소자의 또 다른 예를 나타내는 도면으로서, 반도체 발광소자는 기판(100), 기판(100) 위에 성장되는 버퍼층(200), 버퍼층(200) 위에 성장되는 n형 반도체층(300), n형 반도체층(300) 위에 성장되는 활성층(400), 활성층(400) 위에 성장되는 p형 반도체층(500), p형 반도체층(500) 위에 형성되며, 전류 확산 기능을 하는 투광성 도전막(600), 투광성 도전막(600) 위에 형성되는 p측 본딩 패드(700) 그리고 식각되어 노출된 n형 반도체층(300) 위에 형성되는 n측 본딩 패드(800)를 포함한다. 그리고 투광성 도전막(600) 위에는 분포 브래그 리플렉터(900; DBR: Distributed Bragg Reflector)와 금속 반사막(904)이 구비되어 있다.
도 6 및 도 7은 미국 등록특허공보 제6,650,044호에 도시된 반도체 발광소자의 제조 방법의 일 예를 나타내는 도면으로서, 먼저 필름 또는 플레이트로 된 장착면(10) 위에, 반도체 발광소자 칩(20)이 놓인다. 다음으로, 격벽(82; Partition)과 개구부(81)가 구비된 스텐실 마스크(80)를, 반도체 발광소자 칩(20)이 노출되도록 장착면(10) 위에 놓는다. 다음으로, 봉지제(40)를 개구부(81)에 투입한 다음, 일정 시간 봉지제(40)를 경화한 후, 스텐실 마스크(80)를 장착면(10)으로부터 분리한다. 스텐실 마스크(80)는 주로 금속 재질로 이루어진다.
도 8은 종래의 반도체 발광소자의 또 다른 일 예를 나타내는 도면으로서, 도 1에 도시된 반도체 발광소자(1)가 장착된 패키지를 도시하고 있다. 패키지는 리드 프레임(4,5), 리드 프레임(4,5)을 고정하고 오목부(7)를 형성하는 몰드(6)를 구비한다. 반도체 발광소자(1; 반도체 발광소자 칩)가 리드 프레임(4)에 장착되어 있으며, 반도체 발광소자 칩(1)을 덮도록 봉지제(1000)가 오목부(7)를 채우고 있다. 주로 봉지제(1000)는 형광체를 포함한다. 이 경우에, 기판(100)이 아래에 놓이게 되며, 기판(100)의 두께가 80~150um에 이르게 되므로, 빛을 생성하는 활성층(400)이 이보다 높은 위치에 놓이게 되어, 오목부(7) 내에서 빛을 전체적으로 고르게 발광할 수 있게 되며, 봉지제(1000)에 형광체가 구비되는 경우에 이 형광체를 잘 여기할 수 있게 된다. 그러나 도 2에 도시된 반도체 발광소자가 패키지에 장착되는 경우에, 기판(100)이 위를 향하게 되므로, 빛을 생성하는 활성층(400)이 패키지 바닥으로부터 20um를 넘지 않는 범위내에 위치하게 되며, 오목부(7) 내에서 빛을 전체적으로 고르게 발광하기가 쉽지 않으며, 봉지제(1000)에 형광체가 구비되는 경우에 이 형광체를 잘 여기하기가 쉽지 않게 된다. 따라서 도 2에 도시된 것과 같은 플립 칩이 사용되는 경우에, 도 8에서와 같이 디스펜서를 이용한 봉지제의 형성보다는 도 4에서와 같이 봉지제(1000)가 반도체 발광소자 칩을 균일하게 덮을 수 있는 방안이 고려되어야 한다.
이에 대하여 '발명의 실시를 위한 구체적인 내용'의 후단에 기술한다.
여기서는, 본 개시의 전체적인 요약(Summary)이 제공되며, 이것이 본 개시의 외연을 제한하는 것으로 이해되어서는 아니된다(This section provides a general summary of the disclosure and is not a comprehensive disclosure of its full scope or all of its features).
본 개시에 따른 일 태양에 의하면(According to one aspect of the present disclosure), 산화막, 산화막에 의해 전기적으로 분리된 제1 도전부, 및 제2 도전부를 구비하며, 제1 면과 제1 면에 대향하는 제2 면을 가지고, 산화막이 제1 면으로부터 제2 면으로 이어진 금속 기판; 제1 도전성을 가지는 제1 반도체층, 제1 도전성과 다른 제2 도전성을 가지는 제2 반도체층, 제1 반도체층과 제2 반도체층 사이에 개재되며 전자와 정공의 재결합을 이용해 빛을 생성하는 활성층, 제1 반도체층에 전기적으로 연결되며 제1 면에서 제1 도전부와 접합되는 제1 전극, 및 제2 반도체층에 전기적으로 연결되며 제1 면에서 제2 도전부와 접합되는 제2 전극을 구비하는 반도체 발광소자 칩; 그리고, 반도체 발광소자 칩을 덮으며, 제1 면 전체에 형성된 봉지제;를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자가 제공된다.
본 개시에 따른 또 다른 태양에 의하면(According to another aspect of the present disclosure), 반도체 발광소자를 봉지하는 방법에 있어서, 산화막, 산화막에 의해 전기적으로 분리된 제1 도전부, 및 제2 도전부를 구비하며, 제1 면과 제1 면에 대향하는 제2 면을 가지고, 산화막이 제1 면으로부터 제2 면으로 이어진 금속 기판을 준비하는 단계; 제1 도전성을 가지는 제1 반도체층, 제1 도전성과 다른 제2 도전성을 가지는 제2 반도체층, 제1 반도체층과 제2 반도체층 사이에 개재되며 전자와 정공의 재결합을 이용해 빛을 생성하는 활성층, 제1 반도체층에 전기적으로 연결되는 제1 전극, 및 제2 반도체층에 전기적으로 연결되는 제2 전극을 구비하는 반도체 발광소자 칩을, 제1 면 상에서, 제1 전극을 제1 도전부와 제2 전극을 제2 도전부와 접합하는 단계; 반도체 발광소자 칩을 포함하여, 제1 면 전체를 봉지제로 덮는 단계; 그리고, 반도체 발광소자 칩이 놓인 금속 기판의 외측면과, 반도체 발광소자 칩을 덮은 봉지제의 외측면을 함께 절단하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자를 봉지하는 방법이 제공된다.
이에 대하여 '발명의 실시를 위한 구체적인 내용'의 후단에 기술한다.
도 1은 종래의 반도체 발광소자의 일 예(Lateral Chip)를 나타내는 도면,
도 2는 종래의 반도체 발광소자의 다른 예(Flip Chip)를 나타내는 도면,
도 3은 종래의 반도체 발광소자의 또 다른 예(Vertical Chip)를 나타내는 도면,
도 4는 미국 등록특허공보 제6,650,044호에 도시된 반도체 발광소자의 일 예를 나타내는 도면,
도 5는 종래의 반도체 발광소자의 또 다른 예를 나타내는 도면,
도 6 및 도 7은 미국 등록특허공보 제6,650,044호에 도시된 반도체 발광소자의 제조 방법의 일 예를 나타내는 도면,
도 8은 종래의 반도체 발광소자의 또 다른 일 예를 나타내는 도면,
도 9 및 도 10은 본 개시에 따른 반도체 발광소자의 일 예를 나타내는 도면,
도 11 내지 도 15는 본 개시에 따라 반도체 발광소자를 봉지하는 방법의 일 예를 설명하는 도면.
도 2는 종래의 반도체 발광소자의 다른 예(Flip Chip)를 나타내는 도면,
도 3은 종래의 반도체 발광소자의 또 다른 예(Vertical Chip)를 나타내는 도면,
도 4는 미국 등록특허공보 제6,650,044호에 도시된 반도체 발광소자의 일 예를 나타내는 도면,
도 5는 종래의 반도체 발광소자의 또 다른 예를 나타내는 도면,
도 6 및 도 7은 미국 등록특허공보 제6,650,044호에 도시된 반도체 발광소자의 제조 방법의 일 예를 나타내는 도면,
도 8은 종래의 반도체 발광소자의 또 다른 일 예를 나타내는 도면,
도 9 및 도 10은 본 개시에 따른 반도체 발광소자의 일 예를 나타내는 도면,
도 11 내지 도 15는 본 개시에 따라 반도체 발광소자를 봉지하는 방법의 일 예를 설명하는 도면.
이하, 본 개시를 첨부된 도면을 참고로 하여 자세하게 설명한다(The present disclosure will now be described in detail with reference to the accompanying drawing(s)).
도 9 및 도 10은 본 개시에 따른 반도체 발광소자의 일 예를 나타내는 도면으로서, 반도체 발광소자는 금속 기판(10), 반도체 발광소자 칩(20), 그리고 봉지제(40)를 포함한다. 금속 기판(10)은 산화막(11), 산화막(11)에 의해 전기적으로 분리된 제1 도전부(12), 및 제2 도전부(13)를 구비하며, 제1 면(14)과 제1 면(14)에 대향하는 제2 면(15)을 가지고, 산화막(11)이 제1 면(14)으로부터 제2 면(15)으로 이어져 있다. 반도체 발광소자 칩(20)은 도 2, 도 4 및 도 5에 예시된 형태의 플립 칩이 사용되며, 도 2, 도 4 및 도 5를 참조하면, 제1 도전성(예: n형)을 가지는 제1 반도체층(300), 제1 도전성과 다른 제2 도전성(예: p형)을 가지는 제2 반도체층(500), 제1 반도체층(300)과 제2 반도체층(500) 사이에 개재되며 전자와 정공의 재결합을 이용해 빛을 생성하는 활성층(400), 제1 반도체층(300)에 전기적으로 연결되며 제1 면(14)에서 제1 도전부(12)와 접합되는 제1 전극(800), 및 제2 반도체층(500)에 전기적으로 연결되며 제1 면(14)에서 제2 도전부(13)와 접합되는 제2 전극(901,902,903,950,700)을 구비한다. 두 개의 전극이 각각 제1 도전부(12)와 제2 도전부(13)에 접합되는 형태의 정션-다운(Junction-Down) 형태의 칩이라면 어떠한 형태의 반도체 발광소자 칩이라도 좋다. 봉지제(40)에는 주로 형광체가 포함된다. 제1 전극(800) 및 제2 전극(903 등)으로부터 금속 기판(10)으로의 열전달 면적을 넓힌다는 관점에서는, 제1 전극(800) 및 제2 전극(903 등) 중의 적어도 하나가 산화막(11) 위로 걸쳐서 위치하는 것이 바람직하다.
금속 기판(10)은 도전성 기판이라면 특별한 제한이 없으며, 산화막(11)의 형성이 가능해야 한다. 이런한 금속으로 Al, Zn, Ti 등을 들 수 있으며, 전기 전도성, 열 전도성, 반사율 그리고 산화막 형성의 용이성 등을 고려할 때, 알루미늄(Al)을 적합한 예로 들 수 있다. 산화막(11)은 예를 들어, 아노다이징을 통해 형성이 가능하며, 알루미늄의 선택적 아노다이징(Selective Anodizing)은 이미 널리 알려진 공지의 기술이다.
도 11 내지 도 15는 본 개시에 따라 반도체 발광소자를 봉지하는 방법의 일 예를 설명하는 도면으로서, 도 11에 도시된 바와 같이, 먼저 산화막(11)이 형성된 금속 기판(10)을 준비한다. 알루미늄으로 된 금속 기판(10)을 아노다이징하는 것을 예로 하면, 산화막(11)은 산화막 형성 마스크(16)를 금속 기판(10)에 형성한 후, 아노다이징함으로써 형성될 수 있다. 산화막 형성 마스크(16)로는 포토 레지스트, SiN, SiO2 등의 비도전성 산화막 형성 마스크가 사용될 수도 있지만, 알루미늄 아노다이징 전해질액에 대해 마스크로 기능할 수 있는 도전성 산화막 형성 마스크(예: Cr, Au, Ti, Ni 등)를 사용하는 것도 가능하다. 이러한 기술에 대해서는 미국 등록특허공보 제3,671,819호에 제시된 바와 같이, 오래 전부터 공지되어 있다. 도전성 산화막 형성 마스크를 사용하는 경우에, 전극(800,903 등)과 도전부(12,13)의 접합에 있어서, 필요에 따라 산화막 형성 마스크(16)를 제거하지 않아도 되는 이점을 가진다. 산화막(11)이 제1 면(14)으로부터 제2 면(15)으로 이어지도록 형성할 수도 있지만, 금속 기판(10)의 두께가 두꺼운 경우 등, 공정 조건의 제약에 따라 도시와 같이, 산화막(11)이 제2 면(15)에 이르지 않도록 형성될 수도 있다. 다음으로, 도 12에 도시된 바와 같이, 제1 면(14) 상에서, 제1 전극(800)을 제1 도전부(12)와 제2 전극(903 등)을 제2 도전부(13)와 접합시킨다. 이 접합에는 Ag 페이스트를 이용하거나, 유테틱 본딩을 이용하는 등 반도체 발광소자 분야에 이미 알려진 다양한 방법이 사용될 수 있다. 도 12에서, 제1 전극(800) 및 제2 전극(903 등)은 산화막(11)에 걸쳐 있지 않다. 다음으로, 도 13에 도시된 바와 같이, 반도체 발광소자 칩(20)을 포함하여, 제1 면(14) 전체를 봉지제(40)로 덮어 봉지한다. 산화막 형성 마스크(16)가 제거되지 않는 경우에, 이는 금속 기판(10)의 일부로 볼 수 있다. 산화막(11)이 제2 면(15)에 이르지 않은 경우에는, 도 14에 도시된 바와 같이, 제2 면(15)을 연마 및/또는 랩핑하여 산화막(11)이 제2 면(15)에까지 이르도록 한다. 예를 들어, 금속 기판(10)은 250~300um의 두께를 가질 수 있으며, 랩핑을 통해 50um 정도의 두께로 될 수 있다. 다음으로, 블레이드(17)와 같은 절단 수단을 이용하여, 봉지제(40)와 금속 기판(10)을 절단함으로써, 반도체 발광소자 칩(20)을 필요한 갯수 만큼으로 분리하여, 반도체 발광소자를 형성한다. 이러한 절단에 의해, 도 11에 도시된 바와 같이, 봉지제(40)의 외측면(18)과 금속 기판(10)의 외측면(19)이 절단면으로 된 연속면을 형성하게 된다. 도 11에서, 제1 면(14)은 평편한 면으로 되어있지만, 필요에 따라, 에칭을 통해, 제1 면(14)에 반도체 발광소자 칩(20)이 놓이는 오목부를 형성할 수도 있다.
이하 본 개시의 다양한 실시 형태에 대하여 설명한다.
(1) 봉지제의 외측면이 금속 기판의 외측면과 연속적으로 이어지는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자.
(2) 봉지제의 외측면과 금속 기판의 외측면은 절단면인 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자.
(3) 봉지제의 외측면은 절단면인 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자.
(4) 제1 면은 평편한 면이며, 평편한 제1 면 전체를 봉지제가 덮고 있는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자.
(5) 금속 기판은 알루미늄으로 이루어지며, 산화막은 아노다이징 막인 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자.
(6) 봉지제가 형광체를 함유하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자.
(7) 제1 전극 및 제2 전극 중 적어도 하나가 산화막 위에 걸쳐서 놓이는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자.
(8) 제1 전극 및 제2 전극과, 제1 도전부 및 제2 도전부 사이에, 도전성 산화막 형성 마스크가 구비되는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자.
(9) 봉지제의 외측면이 알루미늄 금속 기판의 외측면과 연속적으로 이어지는 절단면이며, 제1 면은 평편한 면이고, 평편한 제1 면 전체를 봉지제가 덮고 있으며, 봉지제가 형광체를 함유하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자.
(10) 반도체 발광소자를 봉지하는 방법에 있어서, 산화막, 산화막에 의해 전기적으로 분리된 제1 도전부, 및 제2 도전부를 구비하며, 제1 면과 제1 면에 대향하는 제2 면을 가지고, 산화막이 제1 면으로부터 제2 면으로 이어진 금속 기판을 준비하는 단계; 제1 도전성을 가지는 제1 반도체층, 제1 도전성과 다른 제2 도전성을 가지는 제2 반도체층, 제1 반도체층과 제2 반도체층 사이에 개재되며 전자와 정공의 재결합을 이용해 빛을 생성하는 활성층, 제1 반도체층에 전기적으로 연결되는 제1 전극, 및 제2 반도체층에 전기적으로 연결되는 제2 전극을 구비하는 반도체 발광소자 칩을, 제1 면 상에서, 제1 전극을 제1 도전부와 제2 전극을 제2 도전부와 접합하는 단계; 반도체 발광소자 칩을 포함하여, 제1 면 전체를 봉지제로 덮는 단계; 그리고, 반도체 발광소자 칩이 놓인 금속 기판의 외측면과, 반도체 발광소자 칩을 덮은 봉지제의 외측면을 함께 절단하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자를 봉지하는 방법.
(11) 금속 기판은 알루미늄으로 이루어지며, 산화막은 아노다이징 막인 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자를 봉지하는 방법.
(12) 준비 단계에서, 제1 도전부 및 제2 도전부 위에 도전성 산화막 형성 마스크가 구비되는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자를 봉지하는 방법.
(13) 덮는 단계에서, 봉지제가 형광체를 함유하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자를 봉지하는 방법.
(14) 접합 단계에서, 제1 전극 및 제2 전극 중 적어도 하나가 산화막 위에 걸쳐서 놓이도록 접합되는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자를 봉지하는 방법.
본 개시에 따른 하나의 반도체 발광소자 및 이를 봉지하는 방법에 의하면, 용이하게 플립 칩을 형성할 수 있게 된다.
본 개시에 따른 다른 하나의 반도체 발광소자 및 이를 봉지하는 방법에 의하면, 플립 칩의 봉지(Encapsulation)와 외부 전극 형성을 일체화한 반도체 발광소자를 제조할 수 있게 된다.
300: 제1 반도체층, 400: 활성층, 500: 제2 반도체층
Claims (15)
- 산화막, 산화막에 의해 전기적으로 분리된 제1 도전부, 및 제2 도전부를 구비하며, 제1 면과 제1 면에 대향하는 제2 면을 가지고, 산화막이 제1 면으로부터 제2 면으로 이어진 금속 기판;
제1 도전성을 가지는 제1 반도체층, 제1 도전성과 다른 제2 도전성을 가지는 제2 반도체층, 제1 반도체층과 제2 반도체층 사이에 개재되며 전자와 정공의 재결합을 이용해 빛을 생성하는 활성층, 제1 반도체층에 전기적으로 연결되며 제1 면에서 제1 도전부와 접합되는 제1 전극, 및 제2 반도체층에 전기적으로 연결되며 제1 면에서 제2 도전부와 접합되는 제2 전극을 구비하는 반도체 발광소자 칩; 그리고,
반도체 발광소자 칩을 덮으며, 제1 면 전체에 형성된 봉지제;를 포함하며,
제1 전극 및 제2 전극 중 적어도 하나가 산화막 위에 걸쳐서 놓이는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자. - 청구항 1에 있어서,
봉지제의 외측면이 금속 기판의 외측면과 연속적으로 이어지는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자. - 청구항 2에 있어서,
봉지제의 외측면과 금속 기판의 외측면은 절단면인 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자. - 청구항 1에 있어서,
봉지제의 외측면은 절단면인 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자. - 청구항 1에 있어서,
제1 면은 평편한 면이며,
평편한 제1 면 전체를 봉지제가 덮고 있는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자. - 청구항 1에 있어서,
금속 기판은 알루미늄으로 이루어지며,
산화막은 아노다이징 막인 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자. - 청구항 1에 있어서,
봉지제가 형광체를 함유하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자. - 삭제
- 청구항 1에 있어서,
제1 전극 및 제2 전극과, 제1 도전부 및 제2 도전부 사이에, 도전성 산화막 형성 마스크가 구비되는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자. - 청구항 1에 있어서,
봉지제의 외측면이 알루미늄 금속 기판의 외측면과 연속적으로 이어지는 절단면이며,
제1 면은 평편한 면이고,
평편한 제1 면 전체를 봉지제가 덮고 있으며,
봉지제가 형광체를 함유하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자. - 반도체 발광소자를 봉지하는 방법에 있어서,
산화막, 산화막에 의해 전기적으로 분리된 제1 도전부, 및 제2 도전부를 구비하며, 제1 면과 제1 면에 대향하는 제2 면을 가지고, 산화막이 제1 면으로부터 제2 면으로 이어진 금속 기판을 준비하는 단계;
제1 도전성을 가지는 제1 반도체층, 제1 도전성과 다른 제2 도전성을 가지는 제2 반도체층, 제1 반도체층과 제2 반도체층 사이에 개재되며 전자와 정공의 재결합을 이용해 빛을 생성하는 활성층, 제1 반도체층에 전기적으로 연결되는 제1 전극, 및 제2 반도체층에 전기적으로 연결되는 제2 전극을 구비하는 반도체 발광소자 칩을, 제1 면 상에서, 제1 전극을 제1 도전부와 제2 전극을 제2 도전부와 접합하는 단계;
반도체 발광소자 칩을 포함하여, 제1 면 전체를 봉지제로 덮는 단계; 그리고,
반도체 발광소자 칩이 놓인 금속 기판의 외측면과, 반도체 발광소자 칩을 덮은 봉지제의 외측면을 함께 절단하는 단계;를 포함하며,
접합 단계에서, 제1 전극 및 제2 전극 중 적어도 하나가 산화막 위에 걸쳐서 놓이도록 접합되는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자를 봉지하는 방법. - 청구항 11에 있어서,
금속 기판은 알루미늄으로 이루어지며,
산화막은 아노다이징 막인 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자를 봉지하는 방법. - 청구항 11에 있어서,
준비 단계에서, 제1 도전부 및 제2 도전부 위에 도전성 산화막 형성 마스크가 구비되는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자를 봉지하는 방법. - 청구항 11에 있어서,
덮는 단계에서, 봉지제가 형광체를 함유하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광소자를 봉지하는 방법. - 삭제
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120131369A KR101403640B1 (ko) | 2012-11-20 | 2012-11-20 | 반도체 발광소자 및 이를 봉지하는 방법 |
PCT/KR2013/010565 WO2014081190A1 (ko) | 2012-11-20 | 2013-11-20 | 반도체 발광소자 및 이를 봉지하는 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120131369A KR101403640B1 (ko) | 2012-11-20 | 2012-11-20 | 반도체 발광소자 및 이를 봉지하는 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20140064252A KR20140064252A (ko) | 2014-05-28 |
KR101403640B1 true KR101403640B1 (ko) | 2014-06-05 |
Family
ID=50776304
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020120131369A KR101403640B1 (ko) | 2012-11-20 | 2012-11-20 | 반도체 발광소자 및 이를 봉지하는 방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101403640B1 (ko) |
WO (1) | WO2014081190A1 (ko) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101747846B1 (ko) * | 2015-01-30 | 2017-06-15 | 금호전기주식회사 | 투명 전광 장치 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3671819A (en) | 1971-01-26 | 1972-06-20 | Westinghouse Electric Corp | Metal-insulator structures and method for forming |
JP2005026276A (ja) * | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Hitachi Aic Inc | 発光デバイス用基板および発光デバイス |
KR100593943B1 (ko) | 2005-04-30 | 2006-06-30 | 삼성전기주식회사 | 발광 다이오드 패키지의 제조 방법 |
KR100703218B1 (ko) * | 2006-03-14 | 2007-04-09 | 삼성전기주식회사 | 발광다이오드 패키지 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5440010B2 (ja) * | 2008-09-09 | 2014-03-12 | 日亜化学工業株式会社 | 光半導体装置及びその製造方法 |
-
2012
- 2012-11-20 KR KR1020120131369A patent/KR101403640B1/ko active IP Right Grant
-
2013
- 2013-11-20 WO PCT/KR2013/010565 patent/WO2014081190A1/ko active Application Filing
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3671819A (en) | 1971-01-26 | 1972-06-20 | Westinghouse Electric Corp | Metal-insulator structures and method for forming |
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KR100593943B1 (ko) | 2005-04-30 | 2006-06-30 | 삼성전기주식회사 | 발광 다이오드 패키지의 제조 방법 |
KR100703218B1 (ko) * | 2006-03-14 | 2007-04-09 | 삼성전기주식회사 | 발광다이오드 패키지 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2014081190A1 (ko) | 2014-05-30 |
KR20140064252A (ko) | 2014-05-28 |
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